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WO2007018118A1 - Procédé de mesure du décentrage de l’axe optique sur les surfaces avant et arrière d’une lentille - Google Patents

Procédé de mesure du décentrage de l’axe optique sur les surfaces avant et arrière d’une lentille Download PDF

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Mitaka Kohki Co Ltd
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  • the laser beam L is applied to the surface la including the apex Pa of the aspherical lens 1 in the Y-Z plane. Irradiated and reflected.

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Abstract

Une sonde laser est utilisée pour mesurée la forme de la section transversale dans une première et une seconde direction à chacun des sommets sur la surface avant et arrière d’une lentille asphérique. La forme de la section transversale de la surface avant et arrière de la lentille asphérique est décrite dans un système de coordonnées commun déterminé en fonction de la position tridimensionnelle du trou d'épingle mesuré (point de référence commun). En fonction de la forme de la section transversale mesurée, chacun des sommets est détecté afin d’obtenir la proportion de décentrage relatif de la surface avant et arrière de la lentille asphérique avec une précision de l'ordre du micromètre ou inférieure.
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JP2007529527A JP4767255B2 (ja) 2005-08-05 2006-08-03 レンズにおける表裏面の光軸偏芯量の測定方法
CN2006800281259A CN101233386B (zh) 2005-08-05 2006-08-03 透镜表背面的光轴偏心量的测定方法

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Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008067561A3 (fr) * 2006-11-30 2008-07-17 Kam C Lau Sonde de mesure de contour intérieur
EP2090861A1 (fr) * 2008-02-18 2009-08-19 Mitutoyo Corporation Procédé pour mesurer le devant le derrière d'un objet
EP2253931A1 (fr) * 2009-05-19 2010-11-24 Mitutoyo Corporation Instrument et procédé de mesure de forme et programme
WO2011129068A1 (fr) * 2010-04-13 2011-10-20 コニカミノルタオプト株式会社 Méthode de mesure d'excentricité
CN101576641B (zh) * 2008-05-07 2011-12-28 亚洲光学股份有限公司 光学系统中的嵌合式镜片组及其嵌合精度补正方法
WO2012001929A1 (fr) * 2010-07-01 2012-01-05 パナソニック株式会社 Appareil de mesure d'aberration de front d'onde et procédé de mesure d'aberration de front d'onde
WO2012075013A1 (fr) 2010-11-30 2012-06-07 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Système de métrologie à capteur confocal à laser
US8810784B2 (en) 2012-02-10 2014-08-19 Johnson & Johnson Vision Care Inc. Method and apparatus for determining a thickness profile of an ophthalmic lens using a single point thickness and refractive index measurements
WO2014177632A1 (fr) * 2013-05-02 2014-11-06 Carl Zeiss Vision International Gmbh Procédé et système pour déterminer la structure spatiale d'un objet
WO2015146634A1 (fr) * 2014-03-28 2015-10-01 コニカミノルタ株式会社 Procédé de mesure de quantité d'excentricité de surface asphérique et procédé d'analyse de forme de surface asphérique
DE102013219838B4 (de) * 2013-09-30 2015-11-26 Carl Zeiss Ag Verfahren und System für das Ermitteln der räumlichen Struktur eines Gegenstands
JP2016194435A (ja) * 2015-03-31 2016-11-17 富士フイルム株式会社 レンズの形状測定方法及び形状測定装置
JP2017529524A (ja) * 2014-08-15 2017-10-05 ザイゴ コーポレーションZygo Corporation レンズ及びレンズ金型の光学評価
EP2467672A4 (fr) * 2009-08-19 2017-11-15 Benz Research And Development Corporation Procédé et appareil d'alignement et de positionnement de surface
CN108896276A (zh) * 2017-05-11 2018-11-27 纳卢克斯株式会社 位置测定方法以及部件
WO2019021931A1 (fr) 2017-07-26 2019-01-31 株式会社ダイセル Composant optique et son procédé de fabrication
US10352817B2 (en) 2014-05-19 2019-07-16 Taylor Hobson Ltd. Device and method for geometrically measuring an object
DE102018201481A1 (de) 2018-01-31 2019-08-01 Carl Zeiss Vision Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der dreidimensionalen Oberflächengeometrie von Objekten
WO2019187422A1 (fr) * 2018-03-30 2019-10-03 浜松ホトニクス株式会社 Unité de mesure de distance et dispositif d'irradiation de lumière
JP2022024683A (ja) * 2020-07-28 2022-02-09 株式会社ミツトヨ 形状測定方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010237189A (ja) * 2009-03-11 2010-10-21 Fujifilm Corp 3次元形状測定方法および装置
JP2010281792A (ja) * 2009-06-08 2010-12-16 Fujifilm Corp 非球面体測定方法および装置
KR102028699B1 (ko) * 2018-02-21 2019-11-04 지메스소프트 주식회사 렌즈의 3차원 형상 측정 방법 및 이를 위한 시스템
CN109764817A (zh) * 2019-01-14 2019-05-17 南京信息工程大学 非接触式透镜中心厚测量系统及方法
CN113310455B (zh) * 2021-04-08 2023-07-11 超丰微纳科技(宁波)有限公司 一种检测模压成型加工双面镜偏心量的方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001324309A (ja) * 2000-05-15 2001-11-22 Canon Inc 三次元形状測定装置
JP2003083739A (ja) * 2001-09-14 2003-03-19 Minolta Co Ltd 三次元形状計測装置
JP2004028672A (ja) * 2002-06-24 2004-01-29 Olympus Corp 非球面偏心測定装置及び非球面偏心測定方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3725817B2 (ja) * 2001-11-20 2005-12-14 オリンパス株式会社 非球面レンズの偏心測定方法及び偏心測定装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001324309A (ja) * 2000-05-15 2001-11-22 Canon Inc 三次元形状測定装置
JP2003083739A (ja) * 2001-09-14 2003-03-19 Minolta Co Ltd 三次元形状計測装置
JP2004028672A (ja) * 2002-06-24 2004-01-29 Olympus Corp 非球面偏心測定装置及び非球面偏心測定方法

Cited By (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008067561A3 (fr) * 2006-11-30 2008-07-17 Kam C Lau Sonde de mesure de contour intérieur
EP2090861A1 (fr) * 2008-02-18 2009-08-19 Mitutoyo Corporation Procédé pour mesurer le devant le derrière d'un objet
US7701562B2 (en) 2008-02-18 2010-04-20 Mitutoyo Corporation Method of measuring front and back surfaces of target object
CN101576641B (zh) * 2008-05-07 2011-12-28 亚洲光学股份有限公司 光学系统中的嵌合式镜片组及其嵌合精度补正方法
EP2253931A1 (fr) * 2009-05-19 2010-11-24 Mitutoyo Corporation Instrument et procédé de mesure de forme et programme
US8290740B2 (en) 2009-05-19 2012-10-16 Mitutoyo Corporation Form measuring instrument, form measuring method, and program
EP2467672A4 (fr) * 2009-08-19 2017-11-15 Benz Research And Development Corporation Procédé et appareil d'alignement et de positionnement de surface
US8665425B2 (en) 2010-04-13 2014-03-04 Konica Minolta Advanced Layers, Inc. Eccentricity measuring method
WO2011129068A1 (fr) * 2010-04-13 2011-10-20 コニカミノルタオプト株式会社 Méthode de mesure d'excentricité
JP5582188B2 (ja) * 2010-04-13 2014-09-03 コニカミノルタ株式会社 偏心量測定方法
WO2012001929A1 (fr) * 2010-07-01 2012-01-05 パナソニック株式会社 Appareil de mesure d'aberration de front d'onde et procédé de mesure d'aberration de front d'onde
CN103229035B (zh) * 2010-11-30 2016-09-07 庄臣及庄臣视力保护公司 激光共焦传感器计量系统
WO2012075013A1 (fr) 2010-11-30 2012-06-07 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Système de métrologie à capteur confocal à laser
RU2584070C2 (ru) * 2010-11-30 2016-05-20 Джонсон Энд Джонсон Вижн Кэа, Инк. Измерительная система с лазерным конфокальным датчиком
US8953176B2 (en) 2010-11-30 2015-02-10 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Laser confocal sensor metrology system
AU2011336778B2 (en) * 2010-11-30 2015-07-09 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Laser confocal sensor metrology system
CN103229035A (zh) * 2010-11-30 2013-07-31 庄臣及庄臣视力保护公司 激光共焦传感器计量系统
US8810784B2 (en) 2012-02-10 2014-08-19 Johnson & Johnson Vision Care Inc. Method and apparatus for determining a thickness profile of an ophthalmic lens using a single point thickness and refractive index measurements
WO2014177632A1 (fr) * 2013-05-02 2014-11-06 Carl Zeiss Vision International Gmbh Procédé et système pour déterminer la structure spatiale d'un objet
AU2014261378B2 (en) * 2013-05-02 2017-02-16 Carl Zeiss Ag Method and system for determining the spatial structure of an object
US9797804B2 (en) 2013-05-02 2017-10-24 Carl Zeiss Vision International Gmbh Method and system for determining the spatial structure of an object
DE102013219838B4 (de) * 2013-09-30 2015-11-26 Carl Zeiss Ag Verfahren und System für das Ermitteln der räumlichen Struktur eines Gegenstands
WO2015146634A1 (fr) * 2014-03-28 2015-10-01 コニカミノルタ株式会社 Procédé de mesure de quantité d'excentricité de surface asphérique et procédé d'analyse de forme de surface asphérique
JPWO2015146634A1 (ja) * 2014-03-28 2017-04-13 コニカミノルタ株式会社 非球面の偏心量測定方法及び形状解析方法
US10352817B2 (en) 2014-05-19 2019-07-16 Taylor Hobson Ltd. Device and method for geometrically measuring an object
JP2017529524A (ja) * 2014-08-15 2017-10-05 ザイゴ コーポレーションZygo Corporation レンズ及びレンズ金型の光学評価
JP2017530341A (ja) * 2014-08-15 2017-10-12 ザイゴ コーポレーションZygo Corporation レンズ及びレンズ金型の光学評価
JP2016194435A (ja) * 2015-03-31 2016-11-17 富士フイルム株式会社 レンズの形状測定方法及び形状測定装置
CN108896276A (zh) * 2017-05-11 2018-11-27 纳卢克斯株式会社 位置测定方法以及部件
CN108896276B (zh) * 2017-05-11 2022-02-25 纳卢克斯株式会社 位置测定方法以及部件
KR20200032164A (ko) 2017-07-26 2020-03-25 주식회사 다이셀 광학 부품, 및 그의 제조 방법
WO2019021931A1 (fr) 2017-07-26 2019-01-31 株式会社ダイセル Composant optique et son procédé de fabrication
DE102018201481A1 (de) 2018-01-31 2019-08-01 Carl Zeiss Vision Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der dreidimensionalen Oberflächengeometrie von Objekten
CN111936817A (zh) * 2018-03-30 2020-11-13 浜松光子学株式会社 测距单元及光照射装置
JP2019178923A (ja) * 2018-03-30 2019-10-17 浜松ホトニクス株式会社 測距ユニット及び光照射装置
WO2019187422A1 (fr) * 2018-03-30 2019-10-03 浜松ホトニクス株式会社 Unité de mesure de distance et dispositif d'irradiation de lumière
JP7034803B2 (ja) 2018-03-30 2022-03-14 浜松ホトニクス株式会社 測距ユニット及び光照射装置
US11428520B2 (en) 2018-03-30 2022-08-30 Hamamatsu Photonics K.K. Distance measurement unit and light irradiation device
CN111936817B (zh) * 2018-03-30 2023-07-18 浜松光子学株式会社 测距单元及光照射装置
JP2022024683A (ja) * 2020-07-28 2022-02-09 株式会社ミツトヨ 形状測定方法
JP7537930B2 (ja) 2020-07-28 2024-08-21 株式会社ミツトヨ 形状測定方法

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