[go: up one dir, main page]

KR101191120B1 - 점착제 조성물, 점착 시트 및 반도체 웨이퍼 이면연삭 방법 - Google Patents

점착제 조성물, 점착 시트 및 반도체 웨이퍼 이면연삭 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101191120B1
KR101191120B1 KR1020090042231A KR20090042231A KR101191120B1 KR 101191120 B1 KR101191120 B1 KR 101191120B1 KR 1020090042231 A KR1020090042231 A KR 1020090042231A KR 20090042231 A KR20090042231 A KR 20090042231A KR 101191120 B1 KR101191120 B1 KR 101191120B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
meth
acrylate
pressure
sensitive adhesive
weight
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020090042231A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20090118881A (ko
Inventor
김세라
백윤정
김장순
이재관
박현우
Original Assignee
주식회사 엘지화학
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지화학 filed Critical 주식회사 엘지화학
Publication of KR20090118881A publication Critical patent/KR20090118881A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101191120B1 publication Critical patent/KR101191120B1/ko
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/20Adhesives in the form of films or foils characterised by their carriers
    • C09J7/22Plastics; Metallised plastics
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J133/00Adhesives based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides, or nitriles thereof; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J133/04Homopolymers or copolymers of esters
    • C09J133/06Homopolymers or copolymers of esters of esters containing only carbon, hydrogen and oxygen, the oxygen atom being present only as part of the carboxyl radical
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J133/00Adhesives based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides, or nitriles thereof; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J133/04Homopolymers or copolymers of esters
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J133/00Adhesives based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides, or nitriles thereof; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J133/04Homopolymers or copolymers of esters
    • C09J133/06Homopolymers or copolymers of esters of esters containing only carbon, hydrogen and oxygen, the oxygen atom being present only as part of the carboxyl radical
    • C09J133/08Homopolymers or copolymers of acrylic acid esters
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J133/00Adhesives based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides, or nitriles thereof; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J133/04Homopolymers or copolymers of esters
    • C09J133/06Homopolymers or copolymers of esters of esters containing only carbon, hydrogen and oxygen, the oxygen atom being present only as part of the carboxyl radical
    • C09J133/10Homopolymers or copolymers of methacrylic acid esters
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J4/00Adhesives based on organic non-macromolecular compounds having at least one polymerisable carbon-to-carbon unsaturated bond ; adhesives, based on monomers of macromolecular compounds of groups C09J183/00 - C09J183/16
    • C09J4/06Organic non-macromolecular compounds having at least one polymerisable carbon-to-carbon unsaturated bond in combination with a macromolecular compound other than an unsaturated polymer of groups C09J159/00 - C09J187/00
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/30Adhesives in the form of films or foils characterised by the adhesive composition
    • C09J7/38Pressure-sensitive adhesives [PSA]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L21/6836Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/12Esters of monohydric alcohols or phenols
    • C08F220/16Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms
    • C08F220/18Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms with acrylic or methacrylic acids
    • C08F220/1802C2-(meth)acrylate, e.g. ethyl (meth)acrylate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/12Esters of monohydric alcohols or phenols
    • C08F220/16Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms
    • C08F220/18Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms with acrylic or methacrylic acids
    • C08F220/1804C4-(meth)acrylate, e.g. butyl (meth)acrylate, isobutyl (meth)acrylate or tert-butyl (meth)acrylate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/12Esters of monohydric alcohols or phenols
    • C08F220/16Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms
    • C08F220/18Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms with acrylic or methacrylic acids
    • C08F220/1811C10or C11-(Meth)acrylate, e.g. isodecyl (meth)acrylate, isobornyl (meth)acrylate or 2-naphthyl (meth)acrylate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2203/00Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils
    • C09J2203/326Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils for bonding electronic components such as wafers, chips or semiconductors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2301/00Additional features of adhesives in the form of films or foils
    • C09J2301/30Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the chemical, physicochemical or physical properties of the adhesive or the carrier
    • C09J2301/302Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the chemical, physicochemical or physical properties of the adhesive or the carrier the adhesive being pressure-sensitive, i.e. tacky at temperatures inferior to 30°C
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2423/00Presence of polyolefin
    • C09J2423/006Presence of polyolefin in the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2427/00Presence of halogenated polymer
    • C09J2427/006Presence of halogenated polymer in the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2433/00Presence of (meth)acrylic polymer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2467/00Presence of polyester
    • C09J2467/006Presence of polyester in the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2475/00Presence of polyurethane
    • C09J2475/006Presence of polyurethane in the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68327Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/6834Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used to protect an active side of a device or wafer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/14Layer or component removable to expose adhesive
    • Y10T428/1476Release layer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/26Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
    • Y10T428/263Coating layer not in excess of 5 mils thick or equivalent
    • Y10T428/264Up to 3 mils
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/26Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
    • Y10T428/266Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension of base or substrate
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/28Web or sheet containing structurally defined element or component and having an adhesive outermost layer
    • Y10T428/2852Adhesive compositions
    • Y10T428/2878Adhesive compositions including addition polymer from unsaturated monomer
    • Y10T428/2891Adhesive compositions including addition polymer from unsaturated monomer including addition polymer from alpha-beta unsaturated carboxylic acid [e.g., acrylic acid, methacrylic acid, etc.] Or derivative thereof

Landscapes

  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

본 발명은 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 포함하는 단량체 혼합물의 중합체를 함유하는 점착제 조성물, 점착 시트 및 반도체 웨이퍼의 이면연삭 방법에 관한 것이다. 본 발명에서는 하드 타입의 단량체이면서, 낮은 친수성을 가지는 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 사용함으로써, 탁월한 내수성을 나타내면서도, 박리 특성, 재박리성 및 웨이퍼로의 젖음성이 우수한 점착제 조성물, 상기를 사용하여 제조된 점착 시트 및 이를 사용한 이면연삭 방법을 제공할 수 있다.
이소보닐 (메타)아크릴레이트, 점착제 조성물, 반도체 웨이퍼, 이면연삭, 보호 필름, 점착 시트

Description

점착제 조성물, 점착 시트 및 반도체 웨이퍼 이면연삭 방법{Pressure-sensitive adhesive composition, pressure-sensitive adhesive sheet and semiconductor wafer backgrinding method using the same}
본 발명은 점착제 조성물, 상기를 사용하여 제조된 점착 시트 및 이면연삭 방법에 관한 것이다.
최근 전자 제품의 소형화 및 경량화가 급격히 진행되고 있으며, 이에 따라 반도체 패키지의 리드레스(leadless)화, 박형화 및 고집적화에 대한 요구도 증가하고 있다. 이와 함께, 반도체 패키지에 포함되는 웨이퍼의 대구경화 및 박형화에 대한 요구 역시 증가하고 있다.
반도체 웨이퍼의 대구경화 및 초박형화 추세에 효과적으로 대응하기 위해서는, 웨이퍼 연마공정인 이면연삭(back grinding) 공정 및 개편화 공정인 다이싱(dicing) 공정의 정밀한 제어가 중요하며, 이를 위해서는 상기 공정들을 제어할 수 있는 고성능 기술이 필요하다. 상기 중 이면연삭 공정은 고집적 배선회로를 갖 는 웨이퍼의 표면을 기계적 또는 화학적으로 연마하여 얇게 하는 공정이다. 통상적으로, 이면연삭 공정 시에는 웨이퍼 보호를 위한 보호 필름을 사용하고, 예를 들어 8 인치 웨이퍼의 경우 이면연삭 공정을 통하여 공정 전의 절반 가량인 약 200 ㎛ 내지 400 ㎛ 정도까지 연마를 수행하는 것이 일반적이었다. 그러나, 전술한 박형화의 요구에 따라 현재는 웨이퍼를 200 ㎛ 이하로 연마하는 것이 요구되고, 이에 따라 연마 시에 웨이퍼의 보호에 추가로 박형 웨이퍼를 핸들링하기 위한 보강 용도로도 보호 필름을 사용하는 경우가 발생하고 있다. 또한, 대구경화의 진행에 따라 이면연삭 공정 중 오염 및 균열 발생과 같은 웨이퍼의 손상이 빈번히 발생하고 있으며, 이에 따라 웨이퍼 가공용 보호 필름의 역할이 더욱 중요시되고 있다.
일본특허공개공보 제2006-169496호는 지지체 상에 아크릴계 에멀젼형 중합체를 주성분으로 하고, 탄성률, 최대 강도 및 겔 분율 등의 물성이 한정된 점착제를 포함하는 재박리용 수분산형 아크릴계 점착 시트를 개시하고 있다.
또한, 일본특허공개공보 평06-77193호는 실리콘계 단량체를 포함하는 단량체 혼합물에 반응성 계면활성제를 첨가한 후, 중합하여 에멀젼형 점착제를 제조하고, 이를 기재에 도포한 웨이퍼 가공용 테이프를 개시하고 있으며, 일본특허공개공보 평06-77194호 및 평06-73347호는 각각 불소계 계면활성제 및 실리콘 계면활성제가 첨가된 에멀젼형 아크릴계 수지로 제조된 웨이퍼 가공용 테이프를 개시하고 있다.
상기 종래 기술들은 모두 수계 점착제를 사용한 것으로서, 점착제 조성 내에서 계면활성제, 단량체 또는 가교제 등을 제어하거나, 기타 물성 제어를 통해 내수성을 부여하는 것을 특징으로 하고 있다.
그러나, 상기 기술에서 개시된 사항은 모두 수성 내지는 에멀젼계 점착제에만 국한되는 것으로서, 용제계 점착제에는 적용이 어렵다는 단점이 있다. 이에 따라, 유성 및 수성 점착제를 구분하지 않고, 어떤 유형의 점착제에도 적용될 수 있는 것으로서, 점착제에 탁월한 내수성, 박리 특성 및 젖음성 등을 부여할 수 있는 기술의 개발이 필요하다.
본 발명은 전술한 종래 기술의 문제점을 고려하여 된 것으로, 탁월한 내수성을 나타내면서도, 박리 특성, 재박리성 및 웨이퍼로의 젖음성이 우수한 점착제 조성물, 상기를 사용하여 제조된 점착 시트 및 이를 사용한 이면연삭 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 수단으로서, 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 함유하는 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체; 및 히드록시기, 카복실기 및 질소 함유 관능기로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 관능기를 포함하는 가교성 단량체를 함유하는 단량체 혼합물의 중합체를 포함하는 점착제 조성물을 제공한다.
본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 다른 수단으로서, 기재 필름; 및 상기 기재 필름의 일면 또는 양면에 형성되고, 본 발명에 따른 점착제 조성물의 경화물을 함유하는 점착층을 포함하는 점착 시트를 제공한다.
본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 또 다른 수단으로서, 반도체 웨이퍼에 본 발명에 따른 점착 시트를 부착하는 제 1 단계; 및 점착 시트가 부착된 반도체 웨이퍼의 이면을 연삭하는 제 2 단계를 포함하는 이면연삭 방법을 제공한다.
본 발명에서는 하드 타입이면서, 낮은 친수성을 가지는 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 사용함으로써, 탁월한 내수성을 나타내면서도, 우수한 박리 특성, 재박리성 및 젖음성을 가지는 점착제 조성물, 상기를 사용하여 제조된 점착 시트 및 이를 사용한 이면연삭 방법을 제공할 수 있다. 본 발명의 점착제 조성물은, 예를 들면, 반도체 가공 공정의 보호 필름으로 적용될 경우에, 이면 연삭 공정에서 가해지는 물 또는 기타 이물에 의한 웨이퍼 표면의 오염 또는 손상을 방지할 수 있고, 연삭 후 재박리가 용이하며, 생산성을 현저히 개선할 수 있다.
본 발명은, 이소보닐 (메타)아크릴레이트(isobonyl (meth)acrylate)를 함유하는 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체; 및
히드록시기, 카복실기 및 질소 함유 관능기로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 관능기를 포함하는 가교성 단량체를 함유하는 단량체 혼합물의 중합체를 포함하는 점착제 조성물에 관한 것이다.
이하, 본 발명의 점착제 조성물을 상세히 설명한다.
본 발명의 점착제 조성물에 포함되는 중합체는 단량체 성분으로서 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 포함하고, 또한 그 유리전이온도가 -50℃ 내지 15℃인 것이 바람직하다. 중합체의 유리전이온도가 -50℃ 미만이면, 박리 속도에 따라서, 박리력이 크게 증가하여, 예를 들면, 웨이퍼 가공 공정에서의 통상적인 박리속도(약 1.0 m/min)에서의 박리력이 지나치게 높아져서 웨이퍼에 손상 등이 발생할 우려가 있다. 또한, 유리전이온도가 15℃를 초과하면, 반도체 웨이퍼와 같은 피착체로의 젖음성이 저하되거나, 들뜸 현상이 발생할 우려가 있다.
또한, 본 발명에서 상기 중합체는 중량평균분자량이 5만 내지 70만인 것이 바람직하다. 중합체의 중량평균분자량이 5만 미만이면, 점착제의 응집력 저하로 인해 전사로 인한 오염이 발생할 우려가 있고, 70만을 초과하면, 점착 특성이 저하될 우려가 있다.
본 발명의 중합체는, 전술한 바와 같이 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 포함하는 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체를 단량체 성분으로서 포함한다. 이 때 사용하는 용어 「이소보닐 (메타)아크릴레이트를 포함하는 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체」은 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 단독으로 포함하거나, 또는 이소보닐 (메타)아크릴레이트와 함께 다른 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체(이하, 「제 2 단량체」로 칭하는 경우가 있다.)를 포함하는 단량체 또는 단량체 혼합물을 의미한다. 이소보닐 (메타)아크릴레이트는 유리전이온도가 높은 하드(hard) 타입의 단량체로서, 친수성이 낮은 특성을 가진다. 이에 따라, 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 포함하는 점착성 중합체는, 점착제 조성물에 포함되어, 점착제의 박리력을 적 절한 수준으로 저감시키는 동시에, 탁월한 내수성이 유지되게 할 수 있다. 즉, 전술한 점착성 중합체는, 점착제에 높은 가교 밀도를 부여하여, 점착력을 최적의 수준으로 유지하면서도, 탁월한 내수성을 부여할 수 있다.
본 발명의 일 태양에서는, (메타)아크릴산 에스테르계 단량체가 이소보닐 (메타)아크릴레이트와 함께 제 2 단량체를 포함할 경우에 사용될 수 있는 단량체의 종류는 특별히 제한되지 않는다. 본 발명에서는, 예를 들면, 상기 제 2 단량체로서, 알킬 (메타)아크릴레이트를 사용할 수 있다. 이 때, 제 2 단량체에 포함되는 알킬기가 지나치게 장쇄가 되면, 점착제의 응집력이 저하되고, 유리전이온도(Tg)나 점착성의 조절이 어려워질 우려가 있으므로, 탄소수가 1 내지 12인 알킬기를 갖는 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체를 사용하는 것이 바람직하다. 이와 같은 단량체의 예로는 메틸 (메타)아크릴레이트, 에틸 (메타)아크릴레이트, n-프로필 (메타)아크릴레이트, 이소프로필 (메타)아크릴레이트, n-부틸 (메타)아크릴레이트, t-부틸 (메타)아크릴레이트, sec-부틸 (메타)아크릴레이트, 펜틸 (메타)아크릴레이트, 2-에틸헥실 (메타)아크릴레이트, 2-에틸부틸 (메타)아크릴레이트, n-옥틸 (메타)아크릴레이트, 이소옥틸 (메타)아크릴레이트, 이소노닐 (메타)아크릴레이트, 라우릴 (메타)아크릴레이트 및 테트라데실 (메타)아크릴레이트를 들 수 있으며, 본 발명에서는 상기 중 일종 또는 이종 이상의 혼합을 사용할 수 있다.
본 발명의 일 태양에서는, 예를 들면, 제 2 단량체는 상기 이소보닐 (메타)아크릴레이트에 비하여 유리전이온도가 상대적으로 낮은 공중합성 단량체일 수 있 다. 이와 같은 단량체를 이소보닐 (메타)아크릴레이트와 혼합하여 사용함으로써, 점착제의 웨이퍼 표면에 대한 젖음성, 내수성 및 재박리성을 보다 상승시킬 수 있다. 그러나, 상기는 본 발명의 중합체를 제조하기 위한 단량체 조성의 일 예시에 불과하며, 본 발명에서는 중합체가 이소보닐 (메타)아크릴레이트를 단량체 성분으로서 함유하고, 전술한 범위의 유리전이온도를 만족할 수 있다면, 그 단량체 조성은 특별히 제한되는 것은 아니다.
본 발명에서, (메타)아크릴산 에스테르계 단량체가, 이소보닐 (메타)아크릴레이트 및 상기 제 2 단량체를 포함할 경우, 이소보닐 (메타)아크릴레이트 1 중량부 내지 30 중량부 및 제 2 단량체 60 중량부 내지 98.9 중량부를 포함할 수 있으며, 바람직하게는 이소보닐 (메타)아크릴레이트 5 중량부 내지 25 중량부 및 상기 제 2 단량체 65 중량부 내지 93.9 중량부를 포함할 수 있다. 상기에서 이소보닐 (메타)아크릴레이트의 함량이 1중량부 미만이면, 내수성 개선 효과가 저하될 우려가 있고, 30중량부를 초과하면, 박리 시에 부드러운 박리가 이루어지지 않거나, 스틱-슬립(stick-slip) 현상이 발생할 우려가 있다.
또한, 상기에서 제 2 단량체의 함량이 60 중량부보다 작으면, 점착제의 초기 접착력이 저하될 우려가 있고, 98.9 중량부를 초과하면, 응집력 저하로 인해 내구성에 문제가 발생할 우려가 있다.
본 발명의 단량체 혼합물에 포함되는 상기 가교성 단량체는, 예를 들면 후술하는 다관능성 가교제 등과 반응할 수 있는 관능기를 점착성 중합체에 부여함으로 써, 열경화에 의해 가교 구조를 형성하여, 점착제의 내구신뢰성, 점착력 및 응집력을 조절하는 역할을 할 수 있다. 즉, 본 발명의 점착제 조성물은, 전술한 가교성 단량체 및 후술하는 가교제를 포함하여, 열경화 방식으로 조제될 수 있다.
이 때 상기 가교성 단량체에 포함될 수 있는 가교성 관능기의 종류는, 열경화 방식에 의해 가교 구조를 형성할 수 있는 것이라면 특별히 한정되지 않으며, 그 예로는 히드록시기, 카복실기 및 질소 함유 관능기 등을 들 수 있다. 즉, 본 발명의 일 태양에서, 상기 가교성 단량체는 히드록시기 함유 단량체, 카복실기 함유 단량체 및 질소 함유 단량체 일 수 있다. 상기에서 히드록시기 함유 단량체의 예로는, 2-히드록시에틸 (메타)아크릴레이트, 2-히드록시프로필 (메타)아크릴레이트, 4-히드록시부틸 (메타)아크릴레이트, 6-히드록시헥실 (메타)아크릴레이트, 8-히드록시옥틸 (메타)아크릴레이트, 2-히드록시에틸렌글리콜 (메타)아크릴레이트 또는 2-히드록시프로필렌글리콜 (메타)아크릴레이트를 들 수 있고, 카복실기 함유 단량체의 예로는 (메타)아크릴산, 2-(메타)아크릴로일옥시 아세트산, 3-(메타)아크릴로일옥시 프로필산, 4-(메타)아크릴로일옥시 부틸산, 아크릴산 이중체, 이타콘산, 말레산 및 말레산 무수물을 들 수 있으며, 질소 함유 단량체의 예로는 (메타)아크릴아미드, N-비닐 피롤리돈 또는 N-비닐 카프로락탐을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 본 발명에서는 상기 중 일종 또는 이종 이상의 혼합을 사용할 수 있다.
본 발명의 단량체 혼합물은 전술한 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 90 중량부 내지 99.9 중량부 및 상기 가교성 단량체 0.1 중량부 내지 10 중량부를 포함 하는 것이 바람직하다. 상기에서 가교성 단량체의 함량이 0.1 중량부 미만이면, 점착제의 내구 신뢰성이 저하될 우려가 있고, 10 중량부를 초과하면, 점착성 및/또는 박리력이 저하될 우려가 있다.
본 발명의 단량체 혼합물은 또한, 추가적인 점착력 및 응집력 향상의 관점에서, 유리전이온도가 상대적으로 높은 공중합성 단량체를 추가로 포함할 수 있다. 이 때 포함될 수 있는 공중합성 단량체의 종류는 점착제의 점착력 및 응집력을 향상시키는 작용을 수행하는 한, 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 하기 화학식 1로 표시되는 화합물일 수 있다.
[화학식 1]
Figure 112009029032717-pat00001
상기 식에서, R1 내지 R3는 각각 독립적으로 수소 또는 알킬을 나타내고, R4는 시아노; 알킬로 치환 또는 비치환된 페닐; 아세틸옥시; 또는 COR5를 나타내며, 이 때 R5는 알킬 또는 알콕시알킬로 치환 또는 비치환된 아미노 또는 글리시딜옥시를 나타낸다.
화학식 1의 R1 내지 R5의 정의에서 알킬 또는 알콕시는 탄소수 1 내지 8의 알킬 또는 알콕시를 의미할 수 있고, 바람직하게는 메틸, 에틸, 메톡시, 에톡시, 프로폭시 또는 부톡시일 수 있다.
화학식 1의 단량체의 구체적인 예로는 메틸 (메타)아크릴레이트 또는 에틸 (메타)아크릴레이트 등의 알킬 (메타)아크릴레이트; (메타)아크릴로니트릴, (메타)아크릴아미드, N-메틸 (메타)아크릴아미드 또는 N-부톡시메틸 (메타)아크릴아미드와 같은 질소 함유 단량체; 스티렌 또는 메틸 스티렌과 같은 스티렌계 단량체; 글리시딜 (메타)아크릴레이트; 또는 비닐 아세테이트와 같은 카르본산 비닐 에스테르 등의 일종 또는 이종 이상을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 상기와 같은 공중합성 단량체가 단량체 혼합물에 포함될 경우에는, 그 함량은 20 중량부 이하인 것이 바람직하다. 상기 함량이 20 중량부를 초과하면, 점착제의 유연성 및/또는 박리력이 저하될 우려가 있다.
본 발명에서 상기와 같은 단량체 혼합물의 점착성 중합체를 제조하는 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 용액 중합, 광중합, 벌크 중합, 서스펜션 중합 또는 에멀션 중합과 같은 일반적인 중합법을 사용할 수 있다. 본 발명에서는 바람직하게는, 열개시제를 사용한 용액 중합법으로 상기 중합체를 제조할 수 있다. 이와 같은 방식으로 중합체를 제조할 경우, 공정이 보다 용이해지고, 중합체가 우수한 균일성을 가질 수 있는 이점이 있다. 상기에서 용액 중합은 단량체 혼합물이 균일하게 혼합된 상태에서 개시제를 혼합하여, 50℃ 내지 140℃의 중합 온도로 수행하는 것이 바람직하다. 사용될 수 있는 개시제의 예로는 아조비스 이소부티로니트릴 또는 아조비스시클로헥산 카르보니트릴과 같은 아조계 중합 개시제; 및/또는 과산화 벤조일 또는 과산화 아세틸과 같은 과산화물 등의 통상의 개시제를 들 수 있고, 상기 중 일종 또는 이종 이상의 혼합을 사용할 수 있다.
본 발명의 점착제 조성물은 또한 전술한 성분과 함께, 중합체 100 중량부에 대하여 0.1 중량부 내지 10 중량부의 가교제(경화제)를 추가로 포함할 수 있다. 상기 가교제는 사용량에 따라 점착제의 점착 특성을 조절할 수 있으며, 경우에 따라서는 점착성 중합체 내에 포함되어 있는 가교성 관능기와 반응하여, 점착제의 응집력을 향상시키는 작용을 할 수 있다.
본 발명에서 사용될 수 있는 구체적인 가교제의 종류는 열경화 방식에 의해 가교구조를 형성할 수 있는 것이라면, 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 이소시아네이트계 화합물, 에폭시계 화합물, 아지리딘계 화합물 및 금속 킬레이트계 화합물 등을 사용할 수 있다.
이 때 이소시아네이트계 화합물의 예로는 톨리렌 디이소시아네이트, 크실렌 디이소시아네이트, 디페닐메탄 디이소시아네이트, 헥사메틸렌 디이소시아네이트, 이소보론 디이소시아네이트, 테트라메틸크실렌 디이소시아네이트, 나프탈렌 디이소시아네이트 및 상기 중 어느 하나의 폴리올(ex. 트리메틸롤 프로판)과의 반응물로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 들 수 있고; 에폭시계 화합물의 예로는 에틸렌글리콜 디글리시딜에테르, 트리글리시딜에테르, 트리메틸올프로판 트리글리시딜에테르, N,N,N',N'-테트라글리시딜 에틸렌디아민 및 글리세린 디글리시딜에테르로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 들 수 있으며; 아지리딘계 화합물의 예로는 N,N'-톨루엔-2,4-비스(1-아지리딘카르복사미드), N,N'-디페닐메탄-4,4'-비스(1-아지리딘카르복사미드), 트리에틸렌 멜라민, 비스이소프로탈로일-1-(2-메틸아지리딘) 및 트리-1-아지리디닐포스핀옥시드로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 들 수 있다. 또한, 상기 금속 킬레이트계 화합물의 예로는, 알루미늄, 철, 아연, 주석, 티탄, 안티몬, 마그네슘 및/또는 바나듐과 같은 다가 금속이 아세틸 아세톤 또는 아세토초산 에틸 등에 배위하고 있는 화합물을 사용할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
이와 같은 가교제는 점착성 중합체 100 중량부에 대하여 0.1 중량부 내지 10 중량부의 양으로 포함되는 것이 바람직하다. 상기 함량이 0.1 중량부보다 작으면, 점착제의 응집력이 떨어져서 고온 또는 고습 조건 하에서 응집 파괴가 일어날 우려가 있고, 10 중량부를 초과하면, 층간 박리나 들뜸 현상이 발생하는 등 내구신뢰성이 저하되거나, 또는 상용성이나 유동 특성이 감소될 우려가 있다.
본 발명의 점착제 조성물은 또한, 발명의 효과에 영향을 미치지 않는 범위 내에서, 상기 성분에 추가로 점착성 부여 수지, 개시제, 저분자량체, 에폭시 수지, 경화제, 자외선 안정제, 산화 방지제, 조색제, 보강제, 소포제, 계면 활성제, 발포제, 유기염, 증점제 및 난연제로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 첨가제를 추가로 포함할 수 있다.
본 발명은 또한, 기재 필름; 및 상기 기재 필름의 일면 또는 양면에 형성되고, 전술한 본 발명에 따른 점착제 조성물의 경화물을 함유하는 점착층을 포함하는 점착 시트에 관한 것이다.
첨부된 도 1은 본 발명의 일 태양에 따라 기재 필름(20)의 일면에 점착층(10)이 형성된 점착 시트를 나타내는 단면도이다.
본 발명의 점착 시트는, 예를 들면, 반도체 웨이퍼 이면 연삭 시의 보호 필름 등과 같은 반도체 가공용 시트로 이용될 수 있다. 특히, 본 발명의 점착 시트는 전술한 특징적인 점착제 조성물로부터 제조되어, 웨이퍼로의 젖음성 및 재박리성이 우수하며, 특히 탁월한 내수성을 가져 이면 연삭 시의 물 또는 이물 등에 의한 웨이퍼의 오염이나 손상을 효과적으로 방지할 수 있는 이점을 가진다.
본 발명의 점착 시트에 사용되는 기재 필름의 종류는 특별히 한정되지 않고, 예를 들면, 23℃, 바람직하게는 20℃ 내지 25℃, 보다 바람직하게는 15℃ 내지 30℃의 온도에서 측정된 인성값(toughness)이 240 Kg?mm 미만, 바람직하게는 내지 210 Kg?mm 이하인 기재 필름을 사용할 수 있다. 본 발명에서 사용하는 용어 「인성(toughness)값」은 인장 시험을 통해 측정되는 물성으로서, 재료의 강성과 연성의 정도를 나타내는 수치를 의미한다.
이와 같은 인성값은, 예를 들면, 하기 방법으로 측정될 수 있다. 우선, 인성값을 측정할 기재 필름으로 소정 크기의 필름 형상의 시편을 제작한다. 이 때 상기 시편은, 예를 들면, 필름상의 시편으로서, 세로의 길이가 약 15 mm이고, 가로의 길이가 약 15 mm일 수 있다. 상기에서 시편의 크기는 테스트 시 시편의 고정을 위해 테이핑되는 부분을 제외한 크기를 의미한다.
상기와 같은 조건의 시편을 제조한 후, 시편의 세로 방향을 기계(인장 시험기) 방향과 직교하는 방향으로 설치하고, 세로방향으로 약 180 mm/min 내지 약 220 mm/min, 바람직하게는 약 200 mm/min의 인장 속도로 가하면서, 시편이 절단될 때까지의 거리(distance)에 따라 측정된 하중(force) 그래프를 필름(시편)의 넓이 및 두께를 적용하여 연신율(elongation) 및 인장 강도(tensile strength)의 그래프(X축: elongation, Y축: tensile strength)로 나타낸다. 상기와 같은 방식으로 인장 곡선을 작성할 경우, 상기 곡선의 초기 기울기를 통해 시편의 인장 탄성계수(tensile modulus)를, 그리고 상기 곡선의 면적을 통해 시편의 인성값을 측정할 수 있다.
본 발명에서 상기와 같은 인성값이 240 Kg?mm 이상이면, 기재 필름의 탄성률 증가로 인해, 지나치게 딱딱한 성질을 나타내고, 필름의 절단성이 저하될 우려가 있다. 또한, 기재 필름의 인성값이 지나치게 증가할 경우, 쿠션성이 약화되어, 예를 들어 본 발명의 점착 필름을 웨이퍼의 이면 연삭 공정에 적용할 경우, 웨이퍼에 가해지는 스트레스를 완화시켜 주는 점착 필름의 효과가 떨어져서 연마 정밀도의 감소 또는 웨이퍼 손상이 발생할 우려가 있다. 본 발명에서 기재 필름의 인성값이 상기 범위에 속하는 한, 그 하한은 특별히 한정되지 않는다. 다만, 기재 필름의 인성값이 지나치게 작아질 경우, 필름의 연화가 지나치게 발생하여, 필름을 롤에 귄취하거나, 권취된 롤에서 필름을 풀면서 웨이퍼에 부착할 시에, 웨이퍼의 균열 또는 손상이 발생할 우려가 있다. 이에 따라서, 본 발명에서는, 예를 들면, 상기 기재 필름의 인성값이 60 Kg?mm 이상의 범위에서 적절히 조절될 수 있다.
본 발명에서 사용할 수 있는 구체적인 기재 필름의 종류는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면, 합성 고무, 합성 수지 또는 천연 수지 등의 일반적인 소재를 제한 없이 사용할 수 있다. 상기 기재 필름의 보다 구체적인 예에는, 폴리에틸렌 필름, 에틸렌-초산비닐 공중합체 필름, 에틸렌-알킬(메타)아크릴레이트 공중합체 필름(상기에서, 알킬기의 바람직한 탄소수는 1 내지 4이다), 에틸렌-α-올레핀 공중합체 필름, 프로필렌-α-올레핀 공중합체 필름, 폴리올레핀계 필름(ex. 폴리프로필렌), 폴리에스테르계 필름(ex. 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 또는 폴리부틸렌테레프탈레이트 필름 등), 폴리염화비닐 필름, 폴리에스테르계 엘라스토머 또는 우레탄계 필름 등의 일종 또는 이종 이상일 수 있다. 상기에서 이종 이상의 기재 필름이란, 전술한 각 기재 필름이 이종 이상 적층되어 이루어지거나, 또는 상기 중 2 이상의 수지의 블렌드물로부터 제조되는 필름을 의미할 수 있다. 상기와 같은 기재 필름은 이 분야에서 공지된 일반적인 방법에 의해 제조할 수 있으며, 대표적인 제조 방법의 예로는, T-다이 압출법, 인플레이션법 또는 카렌다법 등을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
본 발명에서 기재 필름의 두께는 그 용도에 따라 적절히 선택되는 것으로 특별히 한정되는 것은 아니며, 예를 들면, 10 ㎛ 내지 500 ㎛, 바람직하게는 50 ㎛ 내지 300 ㎛일 수 있다. 또한, 본 발명의 기재 필름은 반도체 가공 공정의 효율성 측면에서 적절한 저장 탄성률을 가지는 것이 바람직하며, 예를 들면, -10℃ 내지 100℃의 온도, 바람직하게는 약 20℃의 온도에서 1 × 107 Pa 내지 1 × 109 Pa의 저장 탄성률을 가질 수 있다.
상기와 같은 본 발명의 기재 필름은 또한 점착층과의 밀착성 향상의 관점에서 일면 또는 양면에 프라이머 처리 또는 코로나 처리 등과 같은 표면 처리가 되어 있을 수 있으며, 반도체 공정의 효율성을 위하여 적절한 색상이 부여되어 있을 수도 있다.
상기와 같은 기재 필름 상에 점착층을 형성하는 방법은 특별히 한정되지 않는다. 본 발명에서는, 예를 들면, 전술한 점착제 조성물을 기재 필름에 도포한 후, 경화시켜 점착층을 형성할 수 있으며, 경우에 따라서는, 점착제 조성물을 우선 박리성 기재에 도포하여 점착층을 형성한 후, 이를 기재 필름에 전사하는 방법을 사용할 수도 있다. 본 발명에서 기재 필름 또는 박리성 기재의 표면에 점착제 조성물을 도포하는 방법은 특별히 제한되지 않고, 예를 들면, 바코트, 나이프 코트, 롤 코트, 스프레이 코트, 그라비어 코트, 커튼 코트, 콤마 코트 및/또는 립 코트 등의 수단을 사용하여 수행할 수 있다. 또한, 본 발멸에서 점착제 조성물을 경화시키는 방법 역시 특별히 제한되지 않고, 일반적인 열경화 또는 광경화 방식을 채용할 수 있으나, 바람직하게는 열경화 방식을 사용할 수 있다. 이와 같이 열경화 방식을 사용하여 점착제를 형성시킴으로써, 광경화 방식에 비하여 공정 효율성을 보다 개선할 수 있을 뿐만 아니라, 제조된 점착제가 보다 탁월한 균일성을 가질 수 있다.
구체적으로, 본 발명에서는 전술한 방법으로 점착제 조성물을 기재 필름에 도포 및 건조 후 숙성하거나, 또는 박리성 기재 표면에 점착제 조성물을 도포하고 건조한 후, 상기 박리성 기재 표면에 형성된 점착제 층을 기재 표면에 전사하고 숙성시키는 방법 등을 사용할 수 있다.
본 발명에서는 상기와 같은 점착층의 형성 단계에서 적절한 건조 및 숙성 과정을 거쳐, 점착층의 가교 구조를 조절하는 것이 바람직하다. 이와 같은 가교 구조의 조절을 통하여, 탄성을 가지고, 응집력이 강한 점착층을 얻을 수 있으며, 이에 따라 점착 시트의 내구신뢰성 등의 점착물성 및 절단성을 향상시킬 수 있다. 구체적으로, 본 발명의 점착 시트의 점착층은 80 내지 99%의 가교 밀도를 가지는 것이 바람직하다. 상기 가교밀도가 80% 미만이면, 점착층의 응집력이 저하되고, 점착층 성분이 웨이퍼 등 피착체로 전사되어 잔사가 남게 될 우려가 있다. 또한, 상기 점착층의 가교 밀도가 99%를 초과하면, 박리력이 저하되어 웨이퍼 가공 시 수분사에 의한 수침이 발생할 우려가 있다.
본 발명의 점착 시트에서 상기와 같은 점착층의 두께는 0.5 ㎛ 내지 50 ㎛인 것이 바람직하고, 1 ㎛ 내지 30 ㎛인 것이 보다 바람직하다. 점착층의 두께가 상기 범위를 벗어나는 경우 균일한 점착층을 얻기 어려워 필름의 물성이 불균일해 질 우려가 있다.
본 발명의 점착 시트에서는 또한 점착층으로의 이물 유입의 방지 등의 관점에서, 점착층 상에 박리 필름을 형성하여 두는 것이 바람직하다. 첨부된 도 2은 본 발명의 일 태양에 따라 기재 필름(20)의 일면에 점착층(10)이 형성되고, 상기 점착 층(10) 상에 박리 필름(30)이 형성된 점착 시트를 나타내는 단면도이다. 상기와 같은 박리 필름의 구체적인 종류는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름 또는 올레핀계 필름 등의 일면 또는 양면을 실리콘 또는 알키드 계열의 이형제로 이형처리한 필름을 사용할 수 있다. 상기와 같은 박리 필름의 두께는 그 용도에 따라 적절히 설정되는 것으로 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 10 ㎛ 내지 70 ㎛의 범위에서 적절히 선택될 수 있다.
본 발명은 또한, 반도체 웨이퍼에 전술한 본 발명에 따른 점착 시트를 부착하는 제 1 단계; 및
점착 시트가 부착된 반도체 웨이퍼의 이면을 연삭하는 제 2 단계를 포함하는 이면연삭(backgrinding) 방법에 관한 것이다.
상기 이면연삭 방법은 전술한 본 발명의 점착 시트를 웨이퍼 가공용 보호 필름으로 사용한 것을 특징으로 하며, 그 외의 구체적인 공정 조건은 특별히 한정되지 않는다. 예를 들면, 본 발명에서는 점착 시트를 프레스법 또는 핫 롤 라미네이트법 등의 수단으로 웨이퍼에 합판하고, 이를 연마기와 같은 연삭 공구에 고정시킨 후 이면연삭 공정을 수행할 수 있다. 상기한 바와 같이 본 발명의 점착 시트는 웨이퍼에 대한 젖음성, 박리성 및 내수성 등이 우수하여 상기 이면연삭 공정에 효과적으로 적용될 수 있다. 본 발명의 방법에서는 또한 상기 이면연삭 공정을 수행한 후, 웨이퍼의 다이싱, 다이본딩, 와이어 본딩 및 몰딩 등과 같은 일반적인 반도체 패키징 공정을 연속하여 수행할 수 있고, 그 구체적인 조건은 특별히 한정되지 않 는다.
이하 본 발명에 따르는 실시예 및 본 발명에 따르지 않는 비교예를 통하여 본 발명을 보다 상세히 설명하나, 본 발명의 범위가 하기 제시된 실시예에 의해 제한되는 것은 아니다.
실시예 1
이소보닐 아크릴레이트(IBOA) 5중량부를 포함하고, 점착성 중합체의 유리전이온도가 -25℃가 되도록, 이소보닐 아크릴레이트, 메틸 아크릴레이트, 에틸 아크릴레이트, n-부틸 아크릴레이트 및 2-히드록시 에틸아크릴레이트의 단량체 혼합물(100중량부)를 제조한 후, 중합 공정을 거쳐 고형분 함량이 45 중량%인 점착성 중합체를 제조하였다. 이어서, 점착성 중합체 100 중량부 대비 2중량부의 이소시아네이트 가교제를 첨가한 후, 두께 80㎛의 에틸렌-초산비닐 공중합체 필름에 도포 및 건조하여 점착층(두께: 20㎛)을 형성함으로써 점착 시트를 제조하였다. 이어서, 제조된 점착 시트를 50℃의 온도에서 2 동안 숙성하고, 후술하는 평가 공정에 적용하였다.
실시예 2
이소보닐 아크릴레이트(IBOA) 10중량부를 포함하고, 점착성 중합체의 유리전 이온도가 -9℃가 되도록 이소보닐 아크릴레이트, 메틸 아크릴레이트, 에틸 아크릴레이트, n-부틸 아크릴레이트 및 2-히드록시 에틸아크릴레이트를 혼합하여 단량체 혼합물(100중량부)을 제조, 사용한 것을 제외하고, 실시예 1과 동일한 방법으로 점착 시트를 제조하였다.
실시예 3
이소보닐 아크릴레이트(IBOA) 20중량부를 포함하며, 점착성 중합체의 유리전이온도가 -1℃가 되도록 이소보닐 아크릴레이트, 메틸 아크릴레이트, 에틸 아크릴레이트, n-부틸 아크릴레이트 및 2-히드록시 에틸아크릴레이트를 혼합하여 단량체 혼합물(100중량부)을 제조, 사용한 것을 제외하고, 실시예 1과 동일한 방법으로 점착 시트를 제조하였다.
실시예 4
이소보닐 아크릴레이트(IBOA) 25중량부를 포함하며, 점착성 중합체의 유리전이온도가 13℃가 되도록 이소보닐 아크릴레이트, 메틸 아크릴레이트, 에틸 아크릴레이트, n-부틸 아크릴레이트 및 2-히드록시 에틸아크릴레이트를 혼합하여 단량체 혼합물(100중량부)을 제조, 사용한 것을 제외하고, 실시예 1과 동일한 방법으로 점착 시트를 제조하였다.
비교예 1
점착성 중합체의 유리전이온도가 -27℃가 되도록 메틸 아크릴레이트, 에틸 아크릴레이트, n-부틸 아크릴레이트 및 2-히드록시에틸 아크릴레이트를 혼합하여 제조된 단량체 혼합물(100중량부)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 점착 시트를 제조하였다.
비교예 2
점착성 중합체의 유리전이온도가 -2℃가 되도록 메틸 아크릴레이트, 에틸 아크릴레이트, n-부틸 아크릴레이트 및 2-히드록시에틸아크릴레이트를 혼합하여 제조된 단량체 혼합물(100중량부)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 점착 시트를 제조하였다.
상기와 같이 제조된 실시예 및 비교예의 점착 시트를 사용하여 하기 제시된 방법으로 물성을 평가하였다.
1. 보호필름 부착성
웨이퍼 마운터(Wafer Mounter; DS Precision Inc. DYWMDS-8')를 사용하여, 8인치의 실리콘 웨이퍼에 점착 시트를 부착하고, 부착된 웨이퍼의 표면을 관찰하여 라미 기포가 발생된 부분을 계수한 후, 발생된 기포의 수가 3개 이하이면 ○, 4 내지 7개이면 △, 8개 이상이면 ×로 평가하였다.
2. 180도 박리력
JIS Z 0237에 의거하여, 점착 시트를 실리콘 웨이퍼에 2 ㎏의 롤러를 사용하여 부착한 후, 23℃의 온도 및 55%의 상대 습도 조건 하에서 1 시간 동안 보관한 다음, 인장 시험기를 사용하여 1.0 m/min의 박리 속도로 박리력을 평가하였다. 이 때 시료의 크기는 2.5 cm×24 cm(가로×세로)로 절단하여 사용하였다.
3. 연삭성
웨이퍼 마운터(Wafer Mounter)로 8인치의 실리콘 웨이퍼에 점착 시트를 부착한 후, 익스텐더(Expender)에서 시트를 웨이퍼 형상에 맞추어 절단한 후, 웨이퍼 이면 연삭기(SVG-502MKII8)를 사용하여, 웨이퍼의 손상 및 균열의 횟수를 평가하였다. 구체적으로, 연삭을 5회 실시하여 웨이퍼 손상의 횟수가 0회이면 ○, 1회이면 △, 2회 이상이면 ×로 평가하였다.
4. 내수성
들뜸 현상을 측정하여, 이를 근거로 점착 시트의 내수성을 평가하였다. 구체적으로, 점착 시트를 8인치의 실리콘 웨이퍼에 부착하고, 익스텐더(Expender)에서 시트를 웨이퍼 모양에 따라 절단한 후, 웨이퍼 이면 연삭기(SVG-502MKII8)를 사용한 이면연삭 공정 후에, 웨이퍼 표면 및 점착 시트 사이로의 물의 침투 여부 및 들뜸 현상을 하기 기준으로 평가하였다.
○: 들뜸 또는 박리 현상 없음
△: 들뜸 또는 박리 현상 다소 있음
×: 들뜸 또는 박리 현상 다량 발생
5. 재박리성
8 in의 실리콘 웨이퍼를 150 ㎛까지 연삭한 후, 상온에서 24 시간 동안 보관한 다음, 평평한 면에 점착 시트가 부착된 면이 위로 향하게 놓고, 연삭된 웨이퍼를 안전하게 지지하면서 점착 시트를 박리하였다. 박리 시에 웨이퍼에 발생하는 균열 및 파손 정도를 평가하여 하기 기준에 따라 재박리성을 평가하였다.
○: 웨이퍼에 균열 및 파손 발생 없음
△: 웨이퍼에 균열 및 파손 다소 발생
×: 웨이퍼에 균열 및 파손 다량 발생
상기 방법에 따라 측정한 결과를 하기 표 1에 정리하여 기재하였다.
[표 1]

실시예 비교예
1 2 3 4 1 2
IBOA 함량(중량%) 5 10 20 25 - -
중합체 유리전이온도(℃) -25 -9 -1 13 -27 -2
부착성
180도 박리력(g/mm) 46 42 35 27 87 71
연삭성
내수성 ×
재박리성 ×
상기 표 1의 결과로부터 알 수 있는 바와 같이, 단량체 성분으로서 이소보닐 아크릴레이트를 포함하는 점착성 중합체를 사용한 본 발명의 실시예의 경우, 탁월한 부착성, 연삭성, 내수성 및 재박리성을 나타내면서, 180도 박리력도 적정한 수준으로 유지되었다. 반면, 이소보닐 아크릴레이트를 포함하지 않는 비교예의 경우, 지나치게 높은 박리력을 나타내면서, 기타 물성 및 각 물성의 밸런스도 현저히 떨어지는 것을 알 수 있었다.
도 1은 본 발명의 일 태양에 따른 점착 시트의 단면도를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 다른 태양에 따른 점착 시트의 단면도를 나타내는 도면이다.
<도면 부호의 설명>
10: 기재 필름
20: 점착층
30: 박리 필름

Claims (18)

  1. 이소보닐 (메타)아크릴레이트 1 중량부 내지 30 중량부 및 이소보닐 (메타)아크릴레이트와는 다른 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 60 중량부 내지 98.9 중량부를 포함하는 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 혼합물; 및 히드록시기, 카복실기 및 질소 함유 관능기로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 관능기를 포함하는 가교성 단량체를 포함하는 단량체 혼합물의 중합체 100 중량부 및 가교제 0.1 중량부 내지 10 중량부를 포함하고, 상기 가교제와 상기 히드록시기, 카복실기 및 질소 함유 관능기로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 관능기의 열경화 반응에 의해서만 가교 구조를 형성하며, 가교 구조를 형성한 후에 가교 밀도가 80% 내지 99%인 점착제 조성물.
  2. 제 1 항에 있어서, 중합체는 유리전이온도가 -50℃ 내지 15℃인 점착제 조성물.
  3. 제 1 항에 있어서, 중합체는 중량평균분자량이 5만 내지 70만인 점착제 조성물.
  4. 제 1 항에 있어서, 이소보닐 (메타)아크릴레이트와는 다른 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체는, 메틸 (메타)아크릴레이트, 에틸 (메타)아크릴레이트, n-프로필 (메타)아크릴레이트, 이소프로필 (메타)아크릴레이트, n-부틸 (메타)아크릴레이트, t-부틸 (메타)아크릴레이트, sec-부틸 (메타)아크릴레이트, 펜틸 (메타)아크릴레이트, 2-에틸헥실 (메타)아크릴레이트, 2-에틸부틸 (메타)아크릴레이트, n-옥틸 (메타)아크릴레이트, 이소옥틸 (메타)아크릴레이트, 이소노닐 (메타)아크릴레이트, 라우릴 (메타)아크릴레이트 및 테트라데실 (메타)아크릴레이트로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 점착제 조성물.
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서, 가교성 단량체가, 2-히드록시에틸 (메타)아크릴레이트, 2-히드록시프로필 (메타)아크릴레이트, 4-히드록시부틸 (메타)아크릴레이트, 6-히드록시헥실 (메타)아크릴레이트, 8-히드록시옥틸 (메타)아크릴레이트, 2-히드록시에틸렌글리콜 (메타)아크릴레이트, 2-히드록시프로필렌글리콜 (메타)아크릴레이트, (메타)아크릴산, 2-(메타)아크릴로일옥시 아세트산, 3-(메타)아크릴로일옥시 프로필산, 4-(메타)아크릴로일옥시 부틸산, 아크릴산 이중체, 이타콘산, 말레산, 말레산 무수물, (메타)아크릴아미드, N-비닐 피롤리돈 및 N-비닐 카프로락탐으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 점착제 조성물.
  7. 제 1 항에 있어서, 단량체 혼합물은 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 혼합물 90 중량부 내지 99.9 중량부 및 가교성 단량체 0.1 중량부 내지 10 중량부를 포함하는 점착제 조성물.
  8. 제 1 항에 있어서, 단량체 혼합물은 하기 화학식 1로 표시되는 화합물을 추가로 포함하는 점착제 조성물:
    [화학식 1]
    Figure 112011038155389-pat00002
    상기 식에서, R1 내지 R3는 각각 독립적으로 수소 또는 알킬을 나타내고, R4는 시아노; 알킬로 치환 또는 비치환된 페닐; 아세틸옥시; 또는 COR5를 나타내며, 이 때 R5는 알킬 또는 알콕시알킬로 치환 또는 비치환된 아미노 또는 글리시딜옥시를 나타낸다.
  9. 삭제
  10. 제 1 항에 있어서, 가교제가 이소시아네이트계 화합물, 에폭시계 화합물, 아지리딘계 화합물 및 금속 킬레이트계 화합물로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 점착제 조성물.
  11. 제 1 항에 있어서, (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 혼합물은 이소보닐 (메타)아크릴레이트 5 중량부 내지 25 중량부 및 이소보닐 (메타)아크릴레이트와는 다른 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 65 중량부 내지 93.9 중량부를 포함하는 점착제 조성물.
  12. 기재 필름; 및 상기 기재 필름의 일면 또는 양면에 형성되고, 제 1 항 내지 제 4 항, 제 6 항 내지 제 8 항, 제 10항 또는 제 11 항 중 어느 한 항에 따른 점착제 조성물의 경화물을 함유하는 점착층을 포함하는 점착 시트.
  13. 제 12 항에 있어서, 기재 필름이 폴리에틸렌 필름, 에틸렌-초산비닐 공중합체 필름, 에틸렌-알킬(메타)아크릴레이트 공중합체 필름, 에틸렌-α-올레핀 공중합체 필름, 프로필렌-α-올레핀 공중합체 필름, 폴리올레핀계 필름, 폴리에스테르계 필름, 폴리염화비닐 필름, 폴리에스테르계 엘라스토머 또는 우레탄계 필름인 점착 시트.
  14. 제 12 항에 있어서, 기재 필름은 두께가 10 ㎛ 내지 500 ㎛인 점착 시트.
  15. 제 12 항에 있어서, 기재 필름은 -10℃ 내지 100℃의 온도에서 저장 탄성률이 1 × 107 Pa 내지 1 × 109 Pa인 점착 시트.
  16. 제 12 항에 있어서, 점착층은 두께가 0.5 ㎛ 내지 50 ㎛인 점착 시트.
  17. 제 12 항에 있어서, 점착층 상에 형성된 박리 필름을 추가로 포함하는 점착 시트.
  18. 반도체 웨이퍼에 제 12 항에 따른 점착 시트를 부착하는 제 1 단계; 및
    점착 시트가 부착된 반도체 웨이퍼의 이면을 연삭하는 제 2 단계를 포함하는 이면연삭 방법.
KR1020090042231A 2008-05-14 2009-05-14 점착제 조성물, 점착 시트 및 반도체 웨이퍼 이면연삭 방법 Active KR101191120B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080044494 2008-05-14
KR20080044494 2008-05-14

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090118881A KR20090118881A (ko) 2009-11-18
KR101191120B1 true KR101191120B1 (ko) 2012-10-15

Family

ID=41319167

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090042231A Active KR101191120B1 (ko) 2008-05-14 2009-05-14 점착제 조성물, 점착 시트 및 반도체 웨이퍼 이면연삭 방법

Country Status (7)

Country Link
US (2) US20110139347A1 (ko)
EP (1) EP2277964B1 (ko)
JP (2) JP5867921B2 (ko)
KR (1) KR101191120B1 (ko)
CN (1) CN102027085B (ko)
TW (1) TWI400311B (ko)
WO (1) WO2009139584A2 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101283484B1 (ko) 2012-03-30 2013-07-12 에이엠씨주식회사 반도체 다이싱용 점착테이프
KR101904340B1 (ko) 2017-12-28 2018-10-04 동우 화인켐 주식회사 점착제층, 이를 포함하는 광학부재 및 화상표시장치

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2444994B1 (en) * 2009-06-15 2021-05-26 LG Chem, Ltd. Wafer processing sheet
CN102234496B (zh) * 2010-05-01 2013-12-04 中国航天科技集团公司第四研究院第四十二所 一种表面保护膜用乳液压敏胶及其制备方法和应用
KR20130136431A (ko) * 2010-08-06 2013-12-12 아사히 가라스 가부시키가이샤 서포트 기판
EP2639275B1 (en) 2010-11-08 2023-10-18 LG Chem, Ltd. Pressure-sensitive adhesive composition
KR101768718B1 (ko) * 2010-11-24 2017-08-16 주식회사 엘지화학 터치패널용 점착제 조성물, 점착필름 및 터치패널
JP5623968B2 (ja) * 2011-01-20 2014-11-12 積水化学工業株式会社 粘着テープ
JP5841536B2 (ja) * 2011-06-17 2016-01-13 積水化学工業株式会社 透明粘着テープ、金属薄膜付フィルム積層体、カバーパネル−タッチパネルモジュール積層体、カバーパネル−ディスプレイパネルモジュール積層体、タッチパネルモジュール−ディスプレイパネルモジュール積層体、及び、画像表示装置
KR101595146B1 (ko) * 2011-07-19 2016-02-17 주식회사 엘지화학 터치 패널
JP5053455B1 (ja) * 2011-10-28 2012-10-17 古河電気工業株式会社 半導体加工用ダイシングテープ
KR101393895B1 (ko) * 2011-11-02 2014-05-13 (주)엘지하우시스 절단성이 우수한 반도체 웨이퍼 표면보호용 점착필름
KR101435252B1 (ko) * 2012-03-30 2014-08-28 주식회사 엘지화학 점착 테이프
KR20130131795A (ko) * 2012-05-24 2013-12-04 (주)엘지하우시스 유연도가 높은 점착 조성물
JP5650166B2 (ja) * 2012-07-19 2015-01-07 日東電工株式会社 粘着シート、電子機器部材積層体及び光学部材積層体
JP6125789B2 (ja) * 2012-10-04 2017-05-10 日本カーバイド工業株式会社 粘着剤組成物、粘着シート及び光学用積層シート
KR102070091B1 (ko) 2013-02-20 2020-01-29 삼성전자주식회사 기판 연마 방법 및 이를 이용한 반도체 발광소자 제조방법
CN105073931B (zh) * 2013-03-26 2017-03-08 三井化学东赛璐株式会社 叠层膜的制造方法、叠层膜以及使用该叠层膜的半导体装置的制造方法
CN104449486B (zh) * 2014-12-03 2016-09-21 新丰杰力电工材料有限公司 耐高温溶剂型丙烯酸酯压敏胶粘剂的制备方法及其应用
JP6127088B2 (ja) * 2015-03-26 2017-05-10 政廣 遠藤 接着剤及び基板の製造方法
JP6386969B2 (ja) * 2015-05-19 2018-09-05 東レ・ファインケミカル株式会社 粘着剤用アクリル樹脂およびそれを含む粘接着剤用アクリル樹脂組成物
JP6463664B2 (ja) * 2015-11-27 2019-02-06 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体及びウエハ加工方法
CN105602464B (zh) * 2015-12-30 2018-10-12 宁波大榭开发区综研化学有限公司 一种耐蚀刻保护膜
JP7069116B2 (ja) * 2017-03-14 2022-05-17 リンテック株式会社 バックグラインドテープ用基材
WO2019143076A1 (ko) * 2018-01-22 2019-07-25 주식회사 엘지화학 백 그라인딩 테이프
KR102165321B1 (ko) * 2018-01-22 2020-10-14 주식회사 엘지화학 백 그라인딩 테이프
KR102239210B1 (ko) * 2018-06-04 2021-04-09 주식회사 엘지화학 백 그라인딩 테이프
JPWO2022092090A1 (ko) * 2020-10-29 2022-05-05
KR102704565B1 (ko) * 2021-11-19 2024-09-09 (주)태산켐 아크릴 수지 조성물, 아크릴 필름 및 점착 시트
CN115197663B (zh) * 2022-08-15 2024-06-21 芊惠半导体科技(苏州)有限公司 晶圆用uv减粘胶及其制备方法、晶圆用uv减粘胶带
EP4335878A1 (en) * 2022-09-07 2024-03-13 Arkema France Copolymers, compositions and uses thereof

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006216721A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Sekisui Chem Co Ltd 半導体ウエハ研削用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法

Family Cites Families (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0677193A (ja) 1992-08-27 1994-03-18 Mitsui Toatsu Chem Inc ウエハ加工用テープおよびその使用方法
JPH0673347A (ja) 1992-08-27 1994-03-15 Mitsui Toatsu Chem Inc ウエハ加工用テープおよびその使用方法
JPH0677194A (ja) 1992-08-28 1994-03-18 Mitsui Toatsu Chem Inc ウエハ加工用テープおよびその使用方法
US5905099A (en) * 1995-11-06 1999-05-18 Minnesota Mining And Manufacturing Company Heat-activatable adhesive composition
JP3257391B2 (ja) * 1996-03-18 2002-02-18 東洋インキ製造株式会社 インクジェット記録液
JPH10176152A (ja) * 1996-10-14 1998-06-30 Nitto Denko Corp 塗膜保護用シート
US6861141B2 (en) * 1996-12-04 2005-03-01 Gina M. Buccellato Pavement marking article and raised pavement marker that uses pressure sensitive adhesive
US5817426A (en) * 1996-12-04 1998-10-06 Avery Dennison Corporation Acrylic pressure-sensitive adhesives for low-energy surfaces and corrugated board
JP3410371B2 (ja) * 1998-08-18 2003-05-26 リンテック株式会社 ウエハ裏面研削時の表面保護シートおよびその利用方法
JP2000090495A (ja) * 1998-09-14 2000-03-31 Nitto Denko Corp 光ディスク
KR100383092B1 (ko) * 1999-08-31 2003-05-12 주식회사 엘지화학 잔류응력 완화효과가 우수한 아크릴계 점착제 조성물
US6660354B2 (en) * 2000-02-29 2003-12-09 3M Innovative Properties Company Release material, release material article, and process for producing the release material article
JP4977286B2 (ja) * 2000-03-07 2012-07-18 日東電工株式会社 重合体の製造方法
US6686425B2 (en) * 2001-06-08 2004-02-03 Adhesives Research, Inc. High Tg acrylic polymer and epoxy-containing blend therefor as pressure sensitive adhesive
JP4054219B2 (ja) * 2002-05-22 2008-02-27 三井化学株式会社 半導体ウェハ表面保護用粘着フィルム及び該粘着フィルムを用いる半導体ウェハ保護方法
JP3877670B2 (ja) * 2002-11-08 2007-02-07 日東電工株式会社 粘着テープ又はシート
DE10256511A1 (de) * 2002-12-04 2004-06-24 Tesa Ag Haftklebemasse
KR100540448B1 (ko) * 2003-02-05 2006-01-10 최병권 수용성 점착제 조성물
JP3907611B2 (ja) * 2003-06-23 2007-04-18 日東電工株式会社 粘着剤組成物及び粘着製品
JP4666565B2 (ja) * 2003-10-06 2011-04-06 日東電工株式会社 半導体ウエハ加工用保護シート及び半導体ウエハの裏面研削方法
JP4443962B2 (ja) * 2004-03-17 2010-03-31 日東電工株式会社 ダイシング・ダイボンドフィルム
US7070051B2 (en) * 2004-03-26 2006-07-04 Atrion Medical Products, Inc. Needle counter device including troughs of cohesive material
JP2005314453A (ja) * 2004-04-27 2005-11-10 Sumitomo Chemical Co Ltd アクリル樹脂及び該樹脂を含有する粘着剤
US20050244631A1 (en) * 2004-04-28 2005-11-03 Mitsui Chemicals, Inc. Surface protecting film for semiconductor wafer and method of protecting semiconductor wafer using the same
JP4807965B2 (ja) 2004-05-12 2011-11-02 日東電工株式会社 再剥離用水分散型アクリル系粘着シートおよびそれに用いる粘着剤組成物
JP4574234B2 (ja) * 2004-06-02 2010-11-04 リンテック株式会社 半導体加工用粘着シートおよび半導体チップの製造方法
JP2006202926A (ja) * 2005-01-19 2006-08-03 Sekisui Chem Co Ltd ダイシングテープ
NL1028411C2 (nl) 2005-02-25 2006-08-29 Nat Starch & Chemical B V Pressure sensitive kleefmiddelsamenstelling alsmede werkwijzen voor het aanbrengen en de bereiding daarvan.
JP4841866B2 (ja) * 2005-06-01 2011-12-21 リンテック株式会社 接着シート
JP4711777B2 (ja) * 2005-08-11 2011-06-29 日東電工株式会社 粘着シートとその製造方法、及び、製品の加工方法
JP2007100064A (ja) * 2005-09-07 2007-04-19 Furukawa Electric Co Ltd:The ダイシング用粘着テープ
JP2007091773A (ja) * 2005-09-27 2007-04-12 Furukawa Electric Co Ltd:The 粘着テープ
JP5085028B2 (ja) * 2005-10-20 2012-11-28 日東電工株式会社 粘着型光学フィルムおよびその製造方法
JP5219359B2 (ja) * 2006-02-21 2013-06-26 日東電工株式会社 反射性及び/又は遮光性を有する粘着テープ又はシート、および液晶表示装置
JP2007238802A (ja) * 2006-03-09 2007-09-20 Sekisui Chem Co Ltd 電子部品の加工方法
JP2007269927A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Lintec Corp 高光沢粘着シート
US8932634B2 (en) * 2006-06-15 2015-01-13 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Ltd Hydrocolloid carrier beads with inert filler material
JP4781185B2 (ja) * 2006-07-18 2011-09-28 日東電工株式会社 耐熱ダイシングテープ又はシート
US7960015B2 (en) * 2007-03-23 2011-06-14 Oerlikon Trading Ag, Truebbach Wear resistant hard coating for a workpiece and method for producing the same
JP2009231629A (ja) * 2008-03-24 2009-10-08 Sekisui Chem Co Ltd 半導体ウエハの加工方法
WO2009131363A2 (ko) * 2008-04-21 2009-10-29 (주)Lg화학 점착 필름 및 이를 사용한 백그라인딩 방법
EP2295515B1 (en) * 2008-07-01 2013-09-11 LG Chem, Ltd. Adhesive composition, protective film for a polarizing plate, polarizing plate, and liquid crystal display

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006216721A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Sekisui Chem Co Ltd 半導体ウエハ研削用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101283484B1 (ko) 2012-03-30 2013-07-12 에이엠씨주식회사 반도체 다이싱용 점착테이프
KR101904340B1 (ko) 2017-12-28 2018-10-04 동우 화인켐 주식회사 점착제층, 이를 포함하는 광학부재 및 화상표시장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP6064261B2 (ja) 2017-01-25
EP2277964A4 (en) 2016-05-25
KR20090118881A (ko) 2009-11-18
CN102027085A (zh) 2011-04-20
US10844248B2 (en) 2020-11-24
JP5867921B2 (ja) 2016-02-24
JP2011521049A (ja) 2011-07-21
WO2009139584A3 (ko) 2010-01-21
EP2277964A2 (en) 2011-01-26
JP2014218672A (ja) 2014-11-20
TWI400311B (zh) 2013-07-01
WO2009139584A2 (ko) 2009-11-19
CN102027085B (zh) 2014-06-11
US20110139347A1 (en) 2011-06-16
EP2277964B1 (en) 2019-04-17
US20170290217A1 (en) 2017-10-05
TW201006900A (en) 2010-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101191120B1 (ko) 점착제 조성물, 점착 시트 및 반도체 웨이퍼 이면연삭 방법
JP6176432B2 (ja) 粘着フィルム及びこれを使用したバックグラインディング方法
US11945984B2 (en) Reinforcing film
KR101643793B1 (ko) 점착제 및 점착 시트
WO2018066408A1 (ja) 半導体加工用粘着テープおよび半導体装置の製造方法
KR20140061397A (ko) 유리 에칭용 보호 시트
US11492520B2 (en) Reinforcing film
US20110097576A1 (en) Re-peelable adhesive sheet
KR20120104450A (ko) 웨이퍼 가공 필름용 점착제 조성물
KR102368740B1 (ko) 반도체 가공용 점착 시트
CN113061401A (zh) 半导体加工用粘合片
KR101114358B1 (ko) 점착 필름 및 이를 사용한 백라인딩 방법
KR20090087704A (ko) 수성 점착제 조성물, 그의 제조 방법, 점착 시트 및 이를사용한 백그라인딩 방법
KR101342320B1 (ko) 점착제 조성물 및 상기를 포함하는 점착 필름
KR20220169929A (ko) 반도체 웨이퍼 가공용 점착 시트
KR101217907B1 (ko) 표면 보호막을 구비하는 반도체 웨이퍼의 백그라인딩용 점착필름
JP2022092836A (ja) 半導体加工用粘着シート及び半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20090514

PA0201 Request for examination
PG1501 Laying open of application
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20110221

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20120830

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20121009

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20121009

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150923

Year of fee payment: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20150923

Start annual number: 4

End annual number: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160928

Year of fee payment: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20160928

Start annual number: 5

End annual number: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170919

Year of fee payment: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20170919

Start annual number: 6

End annual number: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181002

Year of fee payment: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20181002

Start annual number: 7

End annual number: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20200928

Start annual number: 9

End annual number: 9

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20210927

Start annual number: 10

End annual number: 10

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20220926

Start annual number: 11

End annual number: 11