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WO2008133089A1 - Unité de contact conducteur - Google Patents

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WO2008133089A1
WO2008133089A1 PCT/JP2008/057290 JP2008057290W WO2008133089A1 WO 2008133089 A1 WO2008133089 A1 WO 2008133089A1 JP 2008057290 W JP2008057290 W JP 2008057290W WO 2008133089 A1 WO2008133089 A1 WO 2008133089A1
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WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
conductive
conductive contact
conductive contacts
holding
contact unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2008/057290
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Inventor
Koji Ishikawa
Kazuya Soma
Jun Tominaga
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
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Priority to TW097114080A priority patent/TW200848743A/zh
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Ceased legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G01R1/06722—Spring-loaded

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)

Abstract

L'invention concerne une unité de contact conducteur, qui peut être appliquée de manière appropriée même à un intervalle d'agencement réduit entre des électrodes ou bornes devant être testées au moyen d'une configuration simple, et obtient un contact sûr avec l'électrode ou la borne. L'unité de contact conducteur est dotée d'une pluralité de contacts conducteur dont chacun a une forme de plaque et applique/reçoit un signal électrique entre différentes structures de circuit par connexion électrique entre les structures de circuit ; et un support de contacts conducteurs pour stocker et tenir les contacts conducteurs. Le support de contacts conducteurs comporte une pluralité de sections de support pour tenir une partie de chacun des contacts conducteurs par l'agencement des contacts conducteurs dans une rangée avec leurs directions d'épaisseur de plaque dans le même sens. Les directions dans lesquelles les sections de support tiennent les contacts conducteurs dans une rangée sont parallèles entre elles.
PCT/JP2008/057290 2007-04-20 2008-04-14 Unité de contact conducteur Ceased WO2008133089A1 (fr)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007112340 2007-04-20
JP2007-112340 2007-04-20

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WO2008133089A1 true WO2008133089A1 (fr) 2008-11-06

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