RU2007139436A - Солнечный элемент и способ его изготовления - Google Patents
Солнечный элемент и способ его изготовления Download PDFInfo
- Publication number
- RU2007139436A RU2007139436A RU2007139436/28A RU2007139436A RU2007139436A RU 2007139436 A RU2007139436 A RU 2007139436A RU 2007139436/28 A RU2007139436/28 A RU 2007139436/28A RU 2007139436 A RU2007139436 A RU 2007139436A RU 2007139436 A RU2007139436 A RU 2007139436A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- diffusion layer
- coating
- conductivity
- alloying
- diffusion
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract 27
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract 49
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract 24
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract 24
- 238000005275 alloying Methods 0.000 claims abstract 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 16
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract 8
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 claims abstract 8
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims abstract 8
- IJKVHSBPTUYDLN-UHFFFAOYSA-N dihydroxy(oxo)silane Chemical compound O[Si](O)=O IJKVHSBPTUYDLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims abstract 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 3
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims 2
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F10/00—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
- H10F10/10—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F10/00—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/121—The active layers comprising only Group IV materials
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/20—Electrodes
- H10F77/206—Electrodes for devices having potential barriers
- H10F77/211—Electrodes for devices having potential barriers for photovoltaic cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
1. Способ изготовления солнечного элемента путем формирования р-n-перехода в полупроводниковой подложке, причем способ включает следующие операции: ! наносят на указанную подложку покрытие из содержащего допант материала и осуществляют термодиффузионное легирование из паровой фазы для формирования одновременно первого диффузионного слоя в области, на которую нанесено покрытие, и второго диффузионного слоя, образованного смежно с первым диффузионным слоем путем термодиффузионного легирования из паровой фазы и имеющего меньшую проводимость, чем проводимость первого диффузионного слоя. ! 2. Способ изготовления солнечного элемента путем формирования р-n-перехода в полупроводниковой подложке, имеющей первый тип проводимости, причем способ включает следующие операции: ! наносят на указанную подложку покрытие из содержащего допант материала и осуществляют термодиффузионное легирование из паровой фазы для формирования одновременно второго диффузионного слоя в области, на которую нанесено покрытие, и первого диффузионного слоя, образованного смежно со вторым диффузионным слоем путем термодиффузионного легирования из паровой фазы и имеющего большую проводимость, чем проводимость второго диффузионного слоя. ! 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что материал указанного покрытия содержит соединение кремния. ! 4. Способ по п.2, отличающийся тем, что материал указанного покрытия содержит соединение кремния. ! 5. Способ по п.3, отличающийся тем, что соединение кремния представляет собой силикатный гель или прекурсор оксида кремния. ! 6. Способ по п.4, отличающийся тем, что соединение кремния представляет собой силикатны
Claims (21)
1. Способ изготовления солнечного элемента путем формирования р-n-перехода в полупроводниковой подложке, причем способ включает следующие операции:
наносят на указанную подложку покрытие из содержащего допант материала и осуществляют термодиффузионное легирование из паровой фазы для формирования одновременно первого диффузионного слоя в области, на которую нанесено покрытие, и второго диффузионного слоя, образованного смежно с первым диффузионным слоем путем термодиффузионного легирования из паровой фазы и имеющего меньшую проводимость, чем проводимость первого диффузионного слоя.
2. Способ изготовления солнечного элемента путем формирования р-n-перехода в полупроводниковой подложке, имеющей первый тип проводимости, причем способ включает следующие операции:
наносят на указанную подложку покрытие из содержащего допант материала и осуществляют термодиффузионное легирование из паровой фазы для формирования одновременно второго диффузионного слоя в области, на которую нанесено покрытие, и первого диффузионного слоя, образованного смежно со вторым диффузионным слоем путем термодиффузионного легирования из паровой фазы и имеющего большую проводимость, чем проводимость второго диффузионного слоя.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что материал указанного покрытия содержит соединение кремния.
4. Способ по п.2, отличающийся тем, что материал указанного покрытия содержит соединение кремния.
5. Способ по п.3, отличающийся тем, что соединение кремния представляет собой силикатный гель или прекурсор оксида кремния.
6. Способ по п.4, отличающийся тем, что соединение кремния представляет собой силикатный гель или прекурсор оксида кремния.
7. Способ по п.1, отличающийся тем, что поверх указанного покрытия наносят дополнительное покрытие, после чего осуществляют термодиффузионное легирование.
8. Способ по п.2, отличающийся тем, что поверх указанного покрытия наносят дополнительное покрытие, после чего осуществляют термодиффузионное легирование.
9. Способ по п.3, отличающийся тем, что поверх указанного покрытия наносят дополнительное покрытие, после чего осуществляют термодиффузионное легирование.
10. Способ по п.4, отличающийся тем, что поверх указанного покрытия наносят дополнительное покрытие, после чего осуществляют термодиффузионное легирование.
11. Способ по п.5, отличающийся тем, что поверх указанного покрытия наносят дополнительное покрытие, после чего осуществляют термодиффузионное легирование.
12. Способ по п.6, отличающийся тем, что поверх указанного покрытия наносят дополнительное покрытие, после чего осуществляют термодиффузионное легирование.
13. Способ по любому из пп.1-12, отличающийся тем, что поверхность диффузионного слоя, сформированного посредством термодиффузионного легирования, подвергают травлению.
14. Способ по любому из пп.1-12, отличающийся тем, что поверхность диффузионного слоя, сформированного посредством термодиффузионного легирования, подвергают окислению.
15. Способ по п.13, отличающийся тем, что поверхность диффузионного слоя, сформированного посредством термодиффузионного легирования, подвергают окислению.
16. Способ по любому из пп.1-12, отличающийся тем, что первый диффузионный слой и второй диффузионный слой формируют на светоприемной и/или тыльной стороне полупроводниковой подложки.
17. Способ по п.13, отличающийся тем, что первый диффузионный слой и второй диффузионный слой формируют на светоприемной и/или тыльной стороне полупроводниковой подложки.
18. Способ по п.14, отличающийся тем, что первый диффузионный слой и второй диффузионный слой формируют на светоприемной и/или тыльной стороне полупроводниковой подложки.
19. Способ по п.15, отличающийся тем, что первый диффузионный слой и второй диффузионный слой формируют на светоприемной и/или тыльной стороне полупроводниковой подложки.
20. Солнечный элемент, изготовленный способом в соответствии с любым из пп.1-12 и содержащий
первый диффузионный слой, имеющий проводимость противоположного типа по отношению к типу проводимости полупроводниковой подложки, и
второй диффузионный слой, имеющий меньшую проводимость, чем проводимость первого диффузионного слоя, при этом
первый диффузионный слой и второй диффузионный слой сформированы на светоприемной поверхности полупроводниковой подложки.
21. Солнечный элемент по п.21, отличающийся тем, что дополнительно содержит диффузионный слой, сформированный на тыльной стороне подложки и имеющий проводимость типа, совпадающего с типом проводимости подложки.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005127898A JP2006310368A (ja) | 2005-04-26 | 2005-04-26 | 太陽電池の製造方法及び太陽電池 |
| JP2005-127898 | 2005-04-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2007139436A true RU2007139436A (ru) | 2009-06-10 |
Family
ID=37307779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2007139436/28A RU2007139436A (ru) | 2005-04-26 | 2006-04-07 | Солнечный элемент и способ его изготовления |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20090020156A1 (ru) |
| EP (1) | EP1876650A1 (ru) |
| JP (1) | JP2006310368A (ru) |
| KR (1) | KR20080014751A (ru) |
| CN (1) | CN101164173A (ru) |
| AU (1) | AU2006243111A1 (ru) |
| NO (1) | NO20076105L (ru) |
| RU (1) | RU2007139436A (ru) |
| TW (1) | TW200703699A (ru) |
| WO (1) | WO2006117975A1 (ru) |
Families Citing this family (73)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101394739A (zh) * | 2006-02-28 | 2009-03-25 | 西巴控股公司 | 抗微生物化合物 |
| ATE441156T1 (de) * | 2006-05-04 | 2009-09-15 | Elektrobit Wireless Comm Ltd | Verfahren zum betrieb eines rfid-netzwerks |
| PL2165371T3 (pl) * | 2007-07-18 | 2012-08-31 | Imec | Sposób wytwarzania struktur emitera i struktury emitera wytwarzane tym sposobem |
| JP5236914B2 (ja) * | 2007-09-19 | 2013-07-17 | シャープ株式会社 | 太陽電池の製造方法 |
| JP2009231595A (ja) * | 2008-03-24 | 2009-10-08 | Oki Data Corp | 半導体素子製造方法 |
| US20090239363A1 (en) * | 2008-03-24 | 2009-09-24 | Honeywell International, Inc. | Methods for forming doped regions in semiconductor substrates using non-contact printing processes and dopant-comprising inks for forming such doped regions using non-contact printing processes |
| US7833808B2 (en) * | 2008-03-24 | 2010-11-16 | Palo Alto Research Center Incorporated | Methods for forming multiple-layer electrode structures for silicon photovoltaic cells |
| CN101960617B (zh) * | 2008-03-27 | 2014-06-11 | 三菱电机株式会社 | 光电动势装置及其制造方法 |
| CN103400898B (zh) * | 2008-03-27 | 2016-01-20 | 三菱电机株式会社 | 光电动势装置的制造方法 |
| DE102008019402A1 (de) * | 2008-04-14 | 2009-10-15 | Gebr. Schmid Gmbh & Co. | Verfahren zur selektiven Dotierung von Silizium sowie damit behandeltes Silizium-Substrat |
| US8053867B2 (en) * | 2008-08-20 | 2011-11-08 | Honeywell International Inc. | Phosphorous-comprising dopants and methods for forming phosphorous-doped regions in semiconductor substrates using phosphorous-comprising dopants |
| US7951696B2 (en) | 2008-09-30 | 2011-05-31 | Honeywell International Inc. | Methods for simultaneously forming N-type and P-type doped regions using non-contact printing processes |
| US7820532B2 (en) * | 2008-12-29 | 2010-10-26 | Honeywell International Inc. | Methods for simultaneously forming doped regions having different conductivity-determining type element profiles |
| US8518170B2 (en) | 2008-12-29 | 2013-08-27 | Honeywell International Inc. | Boron-comprising inks for forming boron-doped regions in semiconductor substrates using non-contact printing processes and methods for fabricating such boron-comprising inks |
| TWI420679B (zh) * | 2008-12-31 | 2013-12-21 | Mosel Vitelic Inc | 太陽能電池 |
| US20100180939A1 (en) * | 2009-01-22 | 2010-07-22 | Sharma Pramod K | Heat treatable magnesium fluoride inclusive coatings, coated articles including heat treatable magnesium fluoride inclusive coatings, and methods of making the same |
| KR101142861B1 (ko) * | 2009-02-04 | 2012-05-08 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 및 그 제조 방법 |
| KR101110304B1 (ko) | 2009-02-27 | 2012-02-15 | 주식회사 효성 | 반응성 이온식각을 이용한 태양전지의 제조방법 |
| KR101145928B1 (ko) * | 2009-03-11 | 2012-05-15 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 및 태양 전지의 제조 방법 |
| EP2409331A4 (en) * | 2009-03-20 | 2017-06-28 | Intevac, Inc. | Advanced high efficiency crystalline solar cell fabrication method |
| CA2759708C (en) * | 2009-04-21 | 2019-06-18 | Tetrasun, Inc. | High-efficiency solar cell structures and methods of manufacture |
| SM200900034B (it) * | 2009-05-05 | 2012-05-03 | Antonio Maroscia | Metodo per la realizzazione di un dispositivo fotovoltaico e dispositivo fotovoltaico ottenuto con tale metodo |
| US8420517B2 (en) * | 2009-07-02 | 2013-04-16 | Innovalight, Inc. | Methods of forming a multi-doped junction with silicon-containing particles |
| US20110003466A1 (en) * | 2009-07-02 | 2011-01-06 | Innovalight, Inc. | Methods of forming a multi-doped junction with porous silicon |
| US7888158B1 (en) * | 2009-07-21 | 2011-02-15 | Sears Jr James B | System and method for making a photovoltaic unit |
| US8324089B2 (en) | 2009-07-23 | 2012-12-04 | Honeywell International Inc. | Compositions for forming doped regions in semiconductor substrates, methods for fabricating such compositions, and methods for forming doped regions using such compositions |
| KR101597825B1 (ko) * | 2009-07-24 | 2016-02-25 | 엘지전자 주식회사 | 태양전지, 태양전지의 제조방법 및 열확산용 열처리 장치 |
| JP2011187858A (ja) * | 2010-03-11 | 2011-09-22 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | 太陽電池の製造方法及び太陽電池 |
| FR2959870B1 (fr) * | 2010-05-06 | 2012-05-18 | Commissariat Energie Atomique | Cellule photovoltaique comportant une zone suspendue par un motif conducteur et procede de realisation. |
| WO2012012167A1 (en) * | 2010-06-30 | 2012-01-26 | Innovalight, Inc | Methods of forming a floating junction on a solar cell with a particle masking layer |
| CN102339876B (zh) * | 2010-07-23 | 2014-04-30 | 上海凯世通半导体有限公司 | 太阳能晶片及其制备方法 |
| DE102010035582B4 (de) * | 2010-08-27 | 2017-01-26 | Universität Konstanz | Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle mit einer texturierten Frontseite sowie entsprechende Solarzelle |
| US8669169B2 (en) | 2010-09-01 | 2014-03-11 | Piquant Research Llc | Diffusion sources from liquid precursors |
| CN102386247B (zh) * | 2010-09-03 | 2013-07-31 | 上海凯世通半导体有限公司 | 太阳能晶片及其制备方法 |
| CN102412335B (zh) * | 2010-09-21 | 2014-11-05 | 上海凯世通半导体有限公司 | 太阳能晶片及其制备方法 |
| KR20130129919A (ko) * | 2010-11-17 | 2013-11-29 | 히타치가세이가부시끼가이샤 | 태양 전지의 제조 방법 |
| KR101145472B1 (ko) * | 2010-11-29 | 2012-05-15 | 현대중공업 주식회사 | 태양전지의 제조방법 |
| KR101198430B1 (ko) | 2010-12-31 | 2012-11-06 | 현대중공업 주식회사 | 양면 수광형 국부화 에미터 태양전지 및 그 제조 방법 |
| KR101114198B1 (ko) | 2010-12-31 | 2012-03-13 | 현대중공업 주식회사 | 국부화 에미터 태양전지 및 그 제조 방법 |
| KR20120084104A (ko) * | 2011-01-19 | 2012-07-27 | 엘지전자 주식회사 | 태양전지 |
| KR101668402B1 (ko) * | 2011-03-30 | 2016-10-28 | 한화케미칼 주식회사 | 태양 전지 제조 방법 |
| KR20120137821A (ko) | 2011-06-13 | 2012-12-24 | 엘지전자 주식회사 | 태양전지 |
| KR101406339B1 (ko) * | 2011-07-25 | 2014-06-16 | 한국에너지기술연구원 | 선택적 에미터층 제조방법, 이에 의하여 제조된 선택적 에미터층 및 이를 포함하는 실리콘 태양전지 |
| US8629294B2 (en) | 2011-08-25 | 2014-01-14 | Honeywell International Inc. | Borate esters, boron-comprising dopants, and methods of fabricating boron-comprising dopants |
| KR101969032B1 (ko) * | 2011-09-07 | 2019-04-15 | 엘지전자 주식회사 | 태양전지 및 이의 제조방법 |
| JP2013093563A (ja) * | 2011-10-04 | 2013-05-16 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ホウ素拡散用塗布剤 |
| US8975170B2 (en) | 2011-10-24 | 2015-03-10 | Honeywell International Inc. | Dopant ink compositions for forming doped regions in semiconductor substrates, and methods for fabricating dopant ink compositions |
| JP5599379B2 (ja) * | 2011-11-04 | 2014-10-01 | 信越化学工業株式会社 | 太陽電池素子の製造方法 |
| US9493357B2 (en) | 2011-11-28 | 2016-11-15 | Sino-American Silicon Products Inc. | Method of fabricating crystalline silicon ingot including nucleation promotion layer |
| TWI424584B (zh) * | 2011-11-30 | 2014-01-21 | Au Optronics Corp | 製作太陽能電池之方法 |
| KR101838278B1 (ko) * | 2011-12-23 | 2018-03-13 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 |
| US20130199604A1 (en) * | 2012-02-06 | 2013-08-08 | Silicon Solar Solutions | Solar cells and methods of fabrication thereof |
| JP6076615B2 (ja) * | 2012-04-27 | 2017-02-08 | 東京エレクトロン株式会社 | 不純物拡散方法、基板処理装置及び半導体装置の製造方法 |
| KR101387718B1 (ko) | 2012-05-07 | 2014-04-22 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 및 이의 제조 방법 |
| JP2013235942A (ja) * | 2012-05-08 | 2013-11-21 | Hitachi Chemical Co Ltd | 不純物拡散層形成組成物、不純物拡散層の製造方法、太陽電池素子の製造方法、及び太陽電池 |
| KR101879781B1 (ko) * | 2012-05-11 | 2018-08-16 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지, 불순물층의 형성 방법 및 태양 전지의 제조 방법 |
| KR101871273B1 (ko) * | 2012-05-11 | 2018-08-02 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 및 이의 제조 방법 |
| KR101921738B1 (ko) * | 2012-06-26 | 2018-11-23 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 |
| KR101956734B1 (ko) * | 2012-09-19 | 2019-03-11 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 및 그의 제조 방법 |
| US20150349156A1 (en) * | 2012-12-18 | 2015-12-03 | Pvg Solutions Inc. | Solar battery cell and method of manufacturing the same |
| US9530923B2 (en) * | 2012-12-21 | 2016-12-27 | Sunpower Corporation | Ion implantation of dopants for forming spatially located diffusion regions of solar cells |
| NL2010941C2 (en) * | 2013-06-07 | 2014-12-09 | Stichting Energie | Photovoltaic cell and method for manufacturing such a photovoltaic cell. |
| US9960287B2 (en) | 2014-02-11 | 2018-05-01 | Picasolar, Inc. | Solar cells and methods of fabrication thereof |
| JP2016092238A (ja) * | 2014-11-05 | 2016-05-23 | 信越化学工業株式会社 | 太陽電池及びその製造方法 |
| JP6502651B2 (ja) * | 2014-11-13 | 2019-04-17 | 信越化学工業株式会社 | 太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュールの製造方法 |
| GB2535495A (en) * | 2015-02-18 | 2016-08-24 | Oclaro Tech Plc | Dither free bias control |
| WO2016136474A1 (ja) * | 2015-02-25 | 2016-09-01 | 東レ株式会社 | p型不純物拡散組成物、それを用いた半導体素子の製造方法ならびに太陽電池およびその製造方法 |
| JP6410951B2 (ja) * | 2015-08-28 | 2018-10-24 | 三菱電機株式会社 | 太陽電池セルおよび太陽電池セルの製造方法 |
| JP2017050520A (ja) * | 2015-08-31 | 2017-03-09 | 株式会社島津製作所 | 半導体装置及びその製造方法 |
| JP6270889B2 (ja) * | 2016-03-16 | 2018-01-31 | 三菱電機株式会社 | 太陽電池の製造方法 |
| WO2018021117A1 (ja) * | 2016-07-26 | 2018-02-01 | 東レ株式会社 | 半導体素子の製造方法および太陽電池の製造方法 |
| JP2017059835A (ja) * | 2016-10-14 | 2017-03-23 | 日立化成株式会社 | 不純物拡散層形成組成物、不純物拡散層の製造方法、太陽電池素子の製造方法、及び太陽電池 |
| CN113169248B (zh) * | 2018-12-07 | 2024-10-01 | 东丽株式会社 | 半导体元件的制造方法和太阳能电池的制造方法 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4374391A (en) * | 1980-09-24 | 1983-02-15 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Device fabrication procedure |
| JPS6366929A (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-25 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | アンチモン拡散用シリカ系被膜形成組成物 |
| JPH06105694B2 (ja) * | 1987-08-13 | 1994-12-21 | 富士電機株式会社 | ボロンの固相拡散方法 |
| JPH05283352A (ja) * | 1992-04-03 | 1993-10-29 | Rohm Co Ltd | 半導体装置の製造法 |
| JPH08283100A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-10-29 | Mitsubishi Materials Corp | リン拡散用組成物 |
| JPH09283458A (ja) * | 1996-04-12 | 1997-10-31 | Toshiba Corp | 半導体用塗布拡散剤 |
| US6552414B1 (en) * | 1996-12-24 | 2003-04-22 | Imec Vzw | Semiconductor device with selectively diffused regions |
| US6180869B1 (en) * | 1997-05-06 | 2001-01-30 | Ebara Solar, Inc. | Method and apparatus for self-doping negative and positive electrodes for silicon solar cells and other devices |
| JP3639423B2 (ja) * | 1997-12-26 | 2005-04-20 | 新日本無線株式会社 | 半導体熱拡散層の形成方法 |
| JP2000091254A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Oki Electric Ind Co Ltd | Zn固相拡散方法およびこれを用いた発光素子 |
| JP2000183379A (ja) * | 1998-12-11 | 2000-06-30 | Sanyo Electric Co Ltd | 太陽電池の製造方法 |
| DE19910816A1 (de) * | 1999-03-11 | 2000-10-05 | Merck Patent Gmbh | Dotierpasten zur Erzeugung von p,p+ und n,n+ Bereichen in Halbleitern |
| JP2002124692A (ja) * | 2000-10-13 | 2002-04-26 | Hitachi Ltd | 太陽電池およびその製造方法 |
| JP4996025B2 (ja) * | 2001-09-27 | 2012-08-08 | 三菱電機株式会社 | 太陽電池の製造方法 |
| JP2004172271A (ja) * | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池の製造方法及び太陽電池 |
| JP2004221149A (ja) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Hitachi Ltd | 太陽電池の製造方法 |
| JP2005072120A (ja) * | 2003-08-21 | 2005-03-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
-
2005
- 2005-04-26 JP JP2005127898A patent/JP2006310368A/ja active Pending
-
2006
- 2006-04-07 US US11/918,899 patent/US20090020156A1/en not_active Abandoned
- 2006-04-07 AU AU2006243111A patent/AU2006243111A1/en not_active Abandoned
- 2006-04-07 KR KR1020077024718A patent/KR20080014751A/ko not_active Withdrawn
- 2006-04-07 EP EP06731376A patent/EP1876650A1/en not_active Withdrawn
- 2006-04-07 CN CNA2006800139145A patent/CN101164173A/zh active Pending
- 2006-04-07 WO PCT/JP2006/307429 patent/WO2006117975A1/ja not_active Ceased
- 2006-04-07 RU RU2007139436/28A patent/RU2007139436A/ru unknown
- 2006-04-14 TW TW095113482A patent/TW200703699A/zh unknown
-
2007
- 2007-11-26 NO NO20076105A patent/NO20076105L/no not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20080014751A (ko) | 2008-02-14 |
| NO20076105L (no) | 2008-01-25 |
| US20090020156A1 (en) | 2009-01-22 |
| JP2006310368A (ja) | 2006-11-09 |
| AU2006243111A1 (en) | 2006-11-09 |
| TW200703699A (en) | 2007-01-16 |
| EP1876650A1 (en) | 2008-01-09 |
| WO2006117975A1 (ja) | 2006-11-09 |
| CN101164173A (zh) | 2008-04-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2007139436A (ru) | Солнечный элемент и способ его изготовления | |
| RU2007139437A (ru) | Солнечный элемент, способ его изготовления и способ изготовления полупроводникового устройства | |
| US9196483B1 (en) | Carrier channel with element concentration gradient distribution and fabrication method thereof | |
| WO2009140117A3 (en) | Solar cell having a high quality rear surface spin-on dielectric layer | |
| MX2010009367A (es) | Célula solar que tiene homounión p-n de silicio cristalino y heterouniones de silio amorfo para pasivación de superficie. | |
| MY145709A (en) | Method of manufacturing crystalline silicon solar cells with improved surface passivation | |
| WO2007130188A3 (en) | Solar cell having doped semiconductor heterojunction contacts | |
| EP0993050A3 (en) | Substrate for producing semiconductor device, method for producing the substrate, photoelectric conversion device and method for producing the photoelectric conversion device | |
| JP2009520369A5 (ru) | ||
| WO2011157422A3 (de) | Verfahren zur herstellung einer photovoltaischen solarzelle | |
| JP2012530361A (ja) | 半導体装置および半導体装置のための製造方法 | |
| WO2009140116A3 (en) | Solar cell spin-on based process for simultaneous diffusion and passivation | |
| CN100423302C (zh) | 硅发光装置和制造此装置的方法 | |
| TW200633277A (en) | Method for producing a nanostructured pn junction light-emitting diode and diode obtained by such a method | |
| WO2009038323A3 (en) | Solar cell and method for manufacturing the same | |
| KR20040042209A (ko) | 박막형 실리콘 태양 전지 | |
| JP2009272453A5 (ru) | ||
| JP2005303150A5 (ru) | ||
| JP2011523219A5 (ru) | ||
| FR3058264B1 (fr) | Procede de fabrication de cellules photovoltaiques a contacts arriere. | |
| CN201017889Y (zh) | 采用psg掺杂技术的vdmos、igbt功率器件 | |
| JP2004111821A5 (ru) | ||
| US9040401B1 (en) | Method for forming patterned doping regions | |
| RU2009105792A (ru) | Полупроводниковый фотоэлектрический генератор и способ его изготовления | |
| RU2009111577A (ru) | Полупроводниковый фотопреобразователь и способ его изготовления |