JP4586967B2 - 発光半導体被覆保護材及び発光半導体装置 - Google Patents
発光半導体被覆保護材及び発光半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4586967B2 JP4586967B2 JP2004191266A JP2004191266A JP4586967B2 JP 4586967 B2 JP4586967 B2 JP 4586967B2 JP 2004191266 A JP2004191266 A JP 2004191266A JP 2004191266 A JP2004191266 A JP 2004191266A JP 4586967 B2 JP4586967 B2 JP 4586967B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- emitting semiconductor
- light emitting
- sio
- units
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 0 CCN(CN(CCIC[*+]C(I)=O)I)I Chemical compound CCN(CN(CCIC[*+]C(I)=O)I)I 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/32257—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic the layer connector connecting to a bonding area disposed in a recess of the surface of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48257—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Description
(A)下記一般式(1)
で表される一分子中に2個以上の脂肪族不飽和結合を有し、粘度が25℃で10〜1,000,000mPa・sであるオルガノポリシロキサン、
(B)SiO2単位、R3 nR4 pSiO0.5単位及びR3 qR4 rSiO0.5単位からなるレジン構造のオルガノポリシロキサン(但し、上記式において、R3はビニル基又はアリル基、R4は脂肪族不飽和結合を含まない一価炭化水素基であり、nは2又は3、pは0又は1で、n+p=3、qは0、rは3で、q+r=3である。)
(C)一分子中に2個以上のケイ素原子に結合する水素原子を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサン、
(D)白金族金属系触媒
を含有してなり、前記(B)成分は、前記(A)及び(B)成分の合計量に対して20〜70質量%の量で配合されていると共に、(C)成分が、そのSiH基が(A)成分及び(B)成分中のアルケニル基の合計量当たり0.1〜4.0のモル比となる量で配合されているシリコーンゴム組成物からなる透明な発光半導体被覆保護材を提供する。
(A)成分のオルガノポリシロキサンとしては、一分子中に2個以上のビニル基、アリル基等の炭素数2〜8、特に2〜6のアルケニル基で代表される脂肪族不飽和結合を有し、粘度が25℃で10〜1,000,000mPa・s、特に100〜100,000mPa・sであれば、いずれのものでも使用することができるが、なかでも下記一般式(1)で表される分子鎖両末端のケイ素原子上にそれぞれ少なくとも1個のアルケニル基を有する直鎖状オルガノポリシロキサンで、上記でも述べた通り、25℃における粘度が10〜1,000,000mPa・sのものが作業性、硬化性などから望ましいものである。なお、この直鎖状オルガノポリシロキサンは少量の分岐状構造(三官能性シロキサン単位)を分子鎖中に含有するものであってもよい。
また、R2の一価炭化水素基としても、炭素数1〜10、特に1〜6のものが好ましく、上記R1の具体例と同様のものが例示できるが、但しアルケニル基は含まない。
k,mは、一般的には5≦k+m≦10,000を満足する0又は正の整数であり、好ましくは10≦k+m≦2,000で、0<k/(k+m)≦0.2を満足する整数である。
本発明組成物の重要な構成成分であるレジン構造(即ち、三次元網状構造)のオルガノポリシロキサンは、SiO2単位、R3 nR4 pSiO0.5単位及びR3 qR4 rSiO0.5単位からなるレジン構造のオルガノポリシロキサン(但し、上記式において、R3はビニル基又はアリル基、R4は脂肪族不飽和結合を含まない一価炭化水素基であり、nは2又は3、pは0又は1で、n+p=3、qは0又は1、rは2又は3で、q+r=3である。)である。
なお、R4の一価炭化水素基としては、上記R2と同様の炭素数1〜10、特に1〜6のものが挙げられる。
(b+c)/a=0.3〜3、特に0.7〜1
c/a=0.01〜1、特に0.07〜0.15
であることが好ましく、またこの(B)成分のオルガノポリシロキサンは、GPCによるポリスチレン換算の重量平均分子量が500〜10,000の範囲であるものが好適である。
(C)成分のオルガノハイドロジェンポリシロキサンは架橋剤として作用するものであり、該成分中のSiH基と(A)及び(B)成分中のビニル基とが付加反応することにより硬化物を形成するものである。かかるオルガノハイドロジェンポリシロキサンは、一分子中にケイ素原子に結合した水素原子(即ち、SiH基)を2個以上有するものであればいずれのものでもよいが、特に下記平均組成式(2)
Ha(R5)bSiO(4-a-b)/2 (2)
(式中、R5は脂肪族不飽和結合を含有しない同一又は異種の非置換又は置換の一価炭化水素基であり、a及びbは、0.001≦a<2、0.7≦b≦2、かつ0.8≦a+b≦3を満たす数である。)
で表され、一分子中にケイ素原子に結合した水素原子(SiH基)を少なくとも2個、好ましくは3個以上有するものが挙げられる。
また、下記構造で示されるような化合物も使用することができる。
この触媒成分は、本発明の組成物の付加硬化反応を生じさせるために配合されるものであり、白金系、パラジウム系、ロジウム系のものがあるが、コスト等の見地から白金、白金黒、塩化白金酸などの白金系のもの、例えば、H2PtCl6・mH2O,K2PtCl6,KHPtCl6・mH2O,K2PtCl4,K2PtCl4・mH2O,PtO2・mH2O(mは、正の整数)等や、これらと、オレフィン等の炭化水素、アルコール又はビニル基含有オルガノポリシロキサンとの錯体等を例示することができ、これらは単独でも、2種以上の組み合わせでも使用することができる。これらの触媒成分の配合量は、所謂触媒量でよく、通常、前記(A)〜(C)成分の合計量に対して白金族金属換算(質量)で0.1〜1,000ppm、好ましくは0.5〜200ppmの範囲で使用される。
本発明の組成物には、これを硬化して得られる硬化物の接着性を向上させるため、ケイ素原子結合アルコキシ基を有するオルガノシラン、オルガノポリシロキサン等の有機ケイ素化合物などの接着助剤を任意成分として必要に応じて添加配合してもよい。このような有機ケイ素化合物としては、例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、メチルフェニルジメトキシシラン、メチルフェニルジエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、アリルトリメトキシシラン、アリルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン等のアルコキシシラン化合物及び一分子中にケイ素原子に結合した水素原子(SiH基)、ケイ素原子に結合したアルケニル基(例えばSi−CH=CH2基)、アルコキシシリル基(例えばトリメトキシシリル基等のトリアルコキシシリル基など)、エポキシ基(例えばグリシドキシプロピル基、3,4−エポキシシクロヘキシルエチル基)から選ばれる官能性基を少なくとも2種、好ましくは2又は3種含有する、通常、ケイ素原子数4〜30、特には4〜20程度の、直鎖状又は環状構造のシロキサン化合物(オルガノシロキサンオリゴマー)が挙げられる。
下記式(i)
実施例1で用いたVF70部、実施例1で用いたVMQ30部(VFとVMQの合計量として、SiVi結合を0.043mol/100g含有)、実施例1で用いたオルガノハイドロジェンポリシロキサン(SiH結合を0.74mol/100g含有)4.3部、塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液0.05部を混合し、実施例1と同様にしてシリコーンゴム組成物を調製し、硬化物を形成し、実施例1と同様に測定した結果を表1に示した。
実施例1において、使用したVMQレジンをSiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位42.5モル%及びVi2MeSiO0.5単位7.5モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)50部、SiH基量が前記VF及びVMQ成分中のビニル基の合計量当り1.5倍モルとなる量の上記式(ii)のオルガノハイドロジェンポリシロキサンを使用した以外は、実施例1と同様にしてシリコーンゴム組成物を調製し、硬化物を形成し、実施例1と同様に測定した結果を表1に示した。
上記式(i)で示されるポリシロキサン(VF)50部に、SiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位40モル%及びVi3SiO0.5単位10モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)50部、SiH基量が前記VF及びVMQ成分中のビニル基の合計量当り1.5倍モルとなる量の上記式(ii)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン及び塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液0.05部を加え、よく撹拌し、シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を150℃/4hrにて加熱成型して硬化物を形成し、実施例1と同様に測定した結果を表1に示した。
上記式(iii)で示されるポリシロキサン(VF)50部に、SiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位42.5モル%及びViMe2SiO0.5単位7.5モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)50部、SiH基量が前記VF及びVMQ成分中のビニル基の合計量当り1.5倍モルとなる量の上記式(ii)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン及び塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液0.05部を加え、よく撹拌し、シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を150℃/4hrにて加熱成型して硬化物を形成し、実施例1と同様に測定した結果を表2に示した。
上記式(i)で示されるポリシロキサン(VF)50部に、SiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位42.5モル%及びViMe2SiO0.5単位7.5モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)50部、SiH基量が前記VF及びVMQ成分中のビニル基の合計量当り1.5倍モルとなる量の上記式(ii)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン及び塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液0.05部を加え、よく撹拌し、シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を150℃/4hrにて加熱成型して硬化物を形成し、実施例1と同様に測定した結果を表2に示した。
上記式(i)で示されるポリシロキサン(VF)50部に、SiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位42.5モル%及びVi3SiO0.5単位7.5モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)50部、下記式(iv)
VFとして上記式(iii)を使用した以外は実施例6と同じ組成にてシリコーンゴム組成物を調製し、硬化物を形成し、実施例6と同様に測定した結果を表3に示した。
上記式(i)で示されるポリシロキサン50部に、SiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位40モル%及びVi3SiO0.5単位10モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)50部、上記式(ii)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン3部、上記式(iv)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン5部、下記式(vii)
上記式(iii)で示されるポリシロキサン50部に、SiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位42.5モル%及びViMe2SiO0.5単位7.5モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)50部、上記式(iv)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン8部、上記式(v)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン5部、上記式(vi)で示される接着助剤0.3部及び塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液0.05部を加え、よく撹拌し、シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を150℃/4hrにて加熱成型して硬化物を形成し、実施例6と同様に測定した結果を表3に示した。
上記式(i)で示されるポリシロキサン50部に、SiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位42.5モル%及びViMe2SiO0.5単位7.5モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)50部、上記式(ii)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン3部、上記式(iv)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン5部、上記式(vii)で示される接着助剤0.2部及び塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液0.05部を加え、よく撹拌し、シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を150℃/4hrにて加熱成型して硬化物を形成し、実施例6と同様に測定した結果を表3に示した。
実施例9〜12と比較例6〜8の被覆保護材の評価方法は下記の通りである。
[評価方法]
シリコーン系ダイボンド材の調製
下記式(I)
発光素子として、InGaNからなる発光層を有し、主発光ピークが470nmのLEDチップを用いて、図1に示すような発光半導体装置を作製した。発光素子2をリード電極にシリコーン系ダイボンド材5を用い、180℃で10分間加熱して固定した。発光素子2とリード電極3,4を金線6にて接続させた後、被覆保護材7をポッティングし、180℃で1時間硬化し、発光半導体装置を作製した。
耐熱衝撃性の試験方法
作製した発光半導体装置を、低温側−40℃、高温側120℃の熱衝撃試験を1,000サイクル行って外観のクラックが発生した数を観察した。
表面埃付着性
作製した発光半導体装置に微粉末シリカをふりかけ表面に付着させた後、エアーを吹きかけることで半導体装置表面に付着した微粉末シリカを除去できるかどうか確認した。
下記式
VFとして下記式
実施例9において使用したポリシロキサン(VF)70部、VMQレジンとしてSiO2単位50モル%、(CH3)3SiO0.5単位42.5モル%及びVi2MeSiO0.5単位7.5モル%からなるレジン構造のビニルメチルシロキサン(VMQ)30部、下記式
下記式
下記式
下記式
市販シリコーンワニスKJR−632(信越化学工業(株)製)を同様に硬化させ、硬化物を形成し、実施例9と同様に測定した結果を表4に示した。硬化物は無色透明であった。このワニスを用いて発光半導体装置を作製した。
上記実施例9〜12及び比較例6〜8の被覆保護材の評価結果を表4に示す。
2 発光素子
3,4 リード電極
5 ダイボンド材
6 金線
7 被覆保護材
Claims (5)
- (A)下記一般式(1)
(式中、R 1 は互いに同一又は異種の非置換又は置換一価炭化水素基、R 2 は互いに同一又は異種の脂肪族不飽和結合を有さない非置換又は置換一価炭化水素基であり、k,mは0又は正の整数であり、k+mがこのオルガノポリシロキサンの25℃の粘度を10〜1,000,000mPa・sとする数である。)
で表される一分子中に2個以上の脂肪族不飽和結合を有し、粘度が25℃で10〜1,000,000mPa・sであるオルガノポリシロキサン、
(B)SiO2単位、R3 nR4 pSiO0.5単位及びR3 qR4 rSiO0.5単位からなるレジン構造のオルガノポリシロキサン(但し、上記式において、R3はビニル基又はアリル基、R4は脂肪族不飽和結合を含まない一価炭化水素基であり、nは2又は3、pは0又は1で、n+p=3、qは0、rは3で、q+r=3である。)
(C)一分子中に2個以上のケイ素原子に結合する水素原子を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサン、
(D)白金族金属系触媒
を含有してなり、前記(B)成分は、前記(A)及び(B)成分の合計量に対して20〜70質量%の量で配合されていると共に、(C)成分が、そのSiH基が(A)成分及び(B)成分中のアルケニル基の合計量当たり0.1〜4.0のモル比となる量で配合されているシリコーンゴム組成物からなる透明な発光半導体被覆保護材。 - 更に、(E)接着助剤を配合した請求項1記載の保護材。
- 発光半導体素子が開口部を有するセラミック及び/又はプラスチック筐体内に配置された発光半導体装置で、その筐体内部が請求項1〜3のいずれか1項記載の被覆保護材の硬化物で被覆保護された発光半導体装置。
- 発光半導体素子が開口部を有するセラミック及び/又はプラスチック筐体内のリード電極上に配置された発光半導体装置で、その筐体内部が請求項1〜3のいずれか1項記載の被覆保護材の硬化物で被覆保護された発光半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004191266A JP4586967B2 (ja) | 2003-07-09 | 2004-06-29 | 発光半導体被覆保護材及び発光半導体装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003194304 | 2003-07-09 | ||
| JP2003194969 | 2003-07-10 | ||
| JP2004191266A JP4586967B2 (ja) | 2003-07-09 | 2004-06-29 | 発光半導体被覆保護材及び発光半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005042099A JP2005042099A (ja) | 2005-02-17 |
| JP4586967B2 true JP4586967B2 (ja) | 2010-11-24 |
Family
ID=34279521
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004191266A Expired - Fee Related JP4586967B2 (ja) | 2003-07-09 | 2004-06-29 | 発光半導体被覆保護材及び発光半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4586967B2 (ja) |
Families Citing this family (56)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5705396B2 (ja) * | 2005-01-24 | 2015-04-22 | モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社 | 発光素子封止用シリコーン組成物及び発光装置 |
| JP4771046B2 (ja) * | 2005-03-11 | 2011-09-14 | 信越化学工業株式会社 | 硬化性シリコーンゴム組成物及び液晶ポリマーとシリコーンゴムとの複合成形体の製造方法 |
| JP4636242B2 (ja) * | 2005-04-21 | 2011-02-23 | 信越化学工業株式会社 | 光半導体素子封止材及び光半導体素子 |
| JP4954499B2 (ja) * | 2005-05-20 | 2012-06-13 | 信越化学工業株式会社 | Led用シリコーン樹脂レンズ及びその製造方法 |
| JP5138158B2 (ja) * | 2005-05-23 | 2013-02-06 | 信越化学工業株式会社 | Led発光装置用シリコーンレンズ成形材料 |
| JP2007002234A (ja) * | 2005-05-27 | 2007-01-11 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 硬化性シリコーンゴム組成物及び半導体装置 |
| JP5247979B2 (ja) * | 2005-06-01 | 2013-07-24 | モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社 | 透明な硬化物を与えるポリオルガノシロキサン組成物 |
| JP2007063538A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-03-15 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 発光ダイオード用付加硬化型シリコーン樹脂組成物 |
| JP4872296B2 (ja) * | 2005-09-30 | 2012-02-08 | 日亜化学工業株式会社 | シリコーンゴム封止型発光装置、及び該発光装置の製造方法 |
| JP4644129B2 (ja) | 2006-01-17 | 2011-03-02 | 信越化学工業株式会社 | 硬化性シリコーンゴム組成物及びその硬化物 |
| US20070269586A1 (en) * | 2006-05-17 | 2007-11-22 | 3M Innovative Properties Company | Method of making light emitting device with silicon-containing composition |
| JP4933179B2 (ja) * | 2006-07-14 | 2012-05-16 | 信越化学工業株式会社 | 硬化性シリコーンゴム組成物及びその硬化物 |
| JP4636275B2 (ja) * | 2006-07-18 | 2011-02-23 | 信越化学工業株式会社 | シリコーン樹脂組成物で封止された半導体装置及び該半導体装置封止用シリコーン樹脂タブレット |
| JP4519869B2 (ja) * | 2007-03-05 | 2010-08-04 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
| JP2009024077A (ja) * | 2007-07-19 | 2009-02-05 | Kaneka Corp | シリコーン系重合体粒子を含有するシリコーン系組成物およびその製造方法 |
| TWI458780B (zh) * | 2007-07-31 | 2014-11-01 | Dow Corning Toray Co Ltd | 提供高透明矽酮硬化物之硬化性矽酮組合物 |
| JP2009173773A (ja) | 2008-01-24 | 2009-08-06 | Toshiba Corp | シリコーン樹脂組成物および半導体装置 |
| JP5149022B2 (ja) * | 2008-01-25 | 2013-02-20 | モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社 | 光半導体封止用シリコーン組成物及びそれを用いた光半導体装置 |
| JP4947310B2 (ja) * | 2008-02-08 | 2012-06-06 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化型シリコーンゴム組成物及びその硬化物 |
| JP5131464B2 (ja) * | 2008-03-14 | 2013-01-30 | 信越化学工業株式会社 | 付加型シリコーン接着剤組成物 |
| JP5000566B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2012-08-15 | 信越化学工業株式会社 | 硬化性シリコーンゴム組成物、およびそれを封止材料として用いた光半導体装置 |
| CN102112556B (zh) | 2008-07-31 | 2014-01-01 | 道康宁东丽株式会社 | 多成分型海绵形成性液体硅橡胶组合物和硅橡胶海绵的制造方法 |
| WO2010052856A1 (ja) | 2008-11-06 | 2010-05-14 | パナソニック株式会社 | リード、配線部材、パッケージ部品、樹脂付金属部品及び樹脂封止半導体装置、並びにこれらの製造方法 |
| JPWO2010073660A1 (ja) | 2008-12-25 | 2012-06-07 | パナソニック株式会社 | リード、配線部材、パッケージ部品、樹脂付金属部品及び樹脂封止半導体装置、並びにこれらの製造方法 |
| JP5475295B2 (ja) | 2009-02-02 | 2014-04-16 | 東レ・ダウコーニング株式会社 | 高透明のシリコーン硬化物を与える硬化性シリコーン組成物 |
| JP5568240B2 (ja) | 2009-02-02 | 2014-08-06 | 東レ・ダウコーニング株式会社 | 硬化性シリコーンゴム組成物 |
| JP5475296B2 (ja) | 2009-02-02 | 2014-04-16 | 東レ・ダウコーニング株式会社 | 高透明のシリコーン硬化物を与える硬化性シリコーン組成物 |
| DE102009002231A1 (de) * | 2009-04-06 | 2010-10-07 | Wacker Chemie Ag | Bei Raumtemperatur selbsthaftende Pt-katalysierte additions-vernetzende Siliconzusammensetzungen |
| JP2011057755A (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | シリコーン組成物及びその硬化物 |
| EP2537899B1 (en) | 2010-02-19 | 2014-11-26 | Toray Industries, Inc. | Phosphor-containing cured silicone, process for production of same, phosphor-containing silicone composition, precursor of the composition, sheet-shaped moldings, led package, light -emitting device, and process for production of led-mounted substrate |
| CN103154144A (zh) * | 2010-10-14 | 2013-06-12 | 迈图高新材料日本合同公司 | 固化性聚有机硅氧烷组合物 |
| EP2653502A4 (en) | 2010-12-13 | 2014-04-30 | Toray Industries | PHOSPHORUS FILM, LED AND LIGHT EMITTING DEVICE AND METHOD FOR PRODUCING AN LED |
| JP5522111B2 (ja) | 2011-04-08 | 2014-06-18 | 信越化学工業株式会社 | シリコーン樹脂組成物及び当該組成物を使用した光半導体装置 |
| JP6057503B2 (ja) * | 2011-09-21 | 2017-01-11 | 東レ・ダウコーニング株式会社 | 光半導体素子封止用硬化性シリコーン組成物、樹脂封止光半導体素子の製造方法、および樹脂封止光半導体素子 |
| JP5422755B2 (ja) * | 2011-12-08 | 2014-02-19 | モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社 | ヒドロシリル化硬化型シリコーンゴム組成物 |
| JP6237880B2 (ja) * | 2013-04-04 | 2017-11-29 | エルジー・ケム・リミテッド | 硬化性組成物 |
| EP2960297B1 (en) * | 2013-04-04 | 2018-12-26 | LG Chem, Ltd. | Curable composition |
| WO2014163439A1 (ko) * | 2013-04-04 | 2014-10-09 | 주식회사 엘지화학 | 경화성 조성물 |
| CN105102540B (zh) | 2013-04-04 | 2017-09-05 | 株式会社Lg化学 | 可固化组合物 |
| WO2014163440A1 (ko) * | 2013-04-04 | 2014-10-09 | 주식회사 엘지화학 | 경화성 조성물 |
| TWI535792B (zh) * | 2013-10-24 | 2016-06-01 | 瓦克化學公司 | Led封裝材料 |
| JP6302866B2 (ja) * | 2015-04-15 | 2018-03-28 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化型シリコーン組成物および半導体装置 |
| JP6313722B2 (ja) * | 2015-04-15 | 2018-04-18 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化型シリコーン組成物および半導体装置 |
| JP6307470B2 (ja) * | 2015-04-15 | 2018-04-04 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化型シリコーン組成物および半導体装置 |
| JP6519305B2 (ja) * | 2015-05-11 | 2019-05-29 | 富士電機株式会社 | 封止材用シリコーン樹脂組成物及び該組成物を用いたパワー半導体モジュール |
| JP6393659B2 (ja) * | 2015-05-26 | 2018-09-19 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化型シリコーン組成物および半導体装置 |
| JP6657037B2 (ja) * | 2015-12-22 | 2020-03-04 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化性シリコーン樹脂組成物および半導体装置 |
| CN110651010A (zh) | 2017-06-02 | 2020-01-03 | 美国陶氏有机硅公司 | 具有减少的模具结垢的可固化有机硅组合物 |
| JP6958031B2 (ja) * | 2017-07-04 | 2021-11-02 | 信越化学工業株式会社 | シリコーンゲル組成物及びその硬化物並びにパワーモジュール |
| WO2020080348A1 (ja) * | 2018-10-18 | 2020-04-23 | ダウ・東レ株式会社 | 硬化性シリコーン組成物及びその硬化物、積層体及びその製造方法、並びに光学装置又は光学ディスプレイ |
| US12134717B2 (en) | 2018-10-18 | 2024-11-05 | Dow Toray Co., Ltd. | Curable silicone composition and cured product of same, multilayer body and method for producing same, and optical device or optical display |
| US11981776B2 (en) | 2018-10-18 | 2024-05-14 | Dow Toray Co., Ltd. | Curable silicone composition and cured product thereof, layered product and production method therefor, and optical device or optical display |
| JP6966411B2 (ja) * | 2018-11-02 | 2021-11-17 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化型シリコーン樹脂組成物、その硬化物、及び光半導体装置 |
| JP7297460B2 (ja) * | 2019-02-20 | 2023-06-26 | 旭化成株式会社 | 紫外線照射装置 |
| JP7390962B2 (ja) * | 2020-04-14 | 2023-12-04 | 信越化学工業株式会社 | 硬化性有機ケイ素樹脂組成物 |
| WO2022030235A1 (ja) * | 2020-08-06 | 2022-02-10 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化性シリコーンゴム組成物 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57137355A (en) * | 1981-02-17 | 1982-08-24 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Organopolysiloxane composition |
| JPS63265956A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-02 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 光通信フアイバ−用シリコ−ン組成物 |
| US4943601A (en) * | 1989-04-03 | 1990-07-24 | General Electric Company | Coating with improved adhesion |
| JP3278253B2 (ja) * | 1993-08-17 | 2002-04-30 | 信越化学工業株式会社 | 硬化性シリコーンゴム組成物 |
| JP3241338B2 (ja) * | 1998-01-26 | 2001-12-25 | 日亜化学工業株式会社 | 半導体発光装置 |
| JP3523098B2 (ja) * | 1998-12-28 | 2004-04-26 | 信越化学工業株式会社 | 付加硬化型シリコーン組成物 |
| TW465123B (en) * | 2000-02-02 | 2001-11-21 | Ind Tech Res Inst | High power white light LED |
| JP3910080B2 (ja) * | 2001-02-23 | 2007-04-25 | 株式会社カネカ | 発光ダイオード |
| JP3909826B2 (ja) * | 2001-02-23 | 2007-04-25 | 株式会社カネカ | 発光ダイオード |
| JP2002314143A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-25 | Toshiba Corp | 発光装置 |
| JP2002314139A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-25 | Toshiba Corp | 発光装置 |
-
2004
- 2004-06-29 JP JP2004191266A patent/JP4586967B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2005042099A (ja) | 2005-02-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4586967B2 (ja) | 発光半導体被覆保護材及び発光半導体装置 | |
| KR100848861B1 (ko) | 실리콘 고무 조성물, 발광 반도체 피복/보호재 및 발광반도체 장치 | |
| JP4300418B2 (ja) | エポキシ・シリコーン混成樹脂組成物及び発光半導体装置 | |
| JP4803339B2 (ja) | エポキシ・シリコーン混成樹脂組成物及び発光半導体装置 | |
| US6806509B2 (en) | Light-emitting semiconductor potting composition and light-emitting semiconductor device | |
| JP4933179B2 (ja) | 硬化性シリコーンゴム組成物及びその硬化物 | |
| CN102627859B (zh) | 有机硅树脂组合物和由该组合物制备的光学半导体器件 | |
| KR101939408B1 (ko) | Led의 리플렉터용 열경화성 실리콘 수지 조성물, 및 이를 이용한 led용 리플렉터 및 광반도체 장치 | |
| JP5526823B2 (ja) | シリコーン樹脂で封止された光半導体装置 | |
| JP4636242B2 (ja) | 光半導体素子封止材及び光半導体素子 | |
| JP6096087B2 (ja) | 硬化性シリコーン樹脂組成物、その硬化物及び光半導体デバイス | |
| JP4684835B2 (ja) | シリコーンゴム硬化物の表面タック性を低減する方法、半導体封止用液状シリコーンゴム組成物、シリコーンゴム封止型半導体装置、及び該半導体装置の製造方法 | |
| JP4479882B2 (ja) | 砲弾型発光半導体装置 | |
| JP4766222B2 (ja) | 発光半導体被覆保護材及び発光半導体装置 | |
| JP2010121117A (ja) | 可視光遮光性シリコーンゴム組成物及びその硬化物並びに光半導体装置 | |
| JP4614075B2 (ja) | エポキシ・シリコーン混成樹脂組成物及びその製造方法、並びに発光半導体装置 | |
| JP2006321832A (ja) | 光半導体封止用樹脂組成物及びこれを用いた光半導体装置 | |
| JP4844732B2 (ja) | 発光半導体装置 | |
| JP4479883B2 (ja) | 発光半導体装置 | |
| JP2023132309A (ja) | 硬化性シリコーン組成物 | |
| TW201909454A (zh) | 可固化聚矽氧組合物及光學半導體裝置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060615 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080804 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080910 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081110 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091007 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091118 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100811 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100824 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4586967 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130917 Year of fee payment: 3 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |