JP2001261766A - フォトレジスト用フェノール樹脂 - Google Patents
フォトレジスト用フェノール樹脂Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明により、従来の方法では得られなかった
2核体成分の少ないフォトレジスト用フェノ−ル樹脂を
提供することができるようになった。LCD製造におい
て、本発明のフェノ−ル樹脂を用いたフォトレジストを
使用することにより、生産ラインの汚染が低減し歩留ま
りの向上が期待される。 【解決手段】2官能性以上のフェノ−ル類(P1)及び
アルデヒド類(A)を塩基性触媒の存在下、pH7−1
2で反応(一次反応)させて得たレゾ−ル樹脂に、フェ
ノ−ル類(P2)と酸触媒を添加してpH1−6に調整
し、さらに反応(二次反応)させて得られるノボラック
型フェノ−ル樹脂で、GPC測定によるポリスチレン換
算の重量平均分子量が、1500−20000であり、
2核体成分が8%以下であることを特徴とするフォトレ
ジスト用ノボラック型フェノ−ル樹脂
2核体成分の少ないフォトレジスト用フェノ−ル樹脂を
提供することができるようになった。LCD製造におい
て、本発明のフェノ−ル樹脂を用いたフォトレジストを
使用することにより、生産ラインの汚染が低減し歩留ま
りの向上が期待される。 【解決手段】2官能性以上のフェノ−ル類(P1)及び
アルデヒド類(A)を塩基性触媒の存在下、pH7−1
2で反応(一次反応)させて得たレゾ−ル樹脂に、フェ
ノ−ル類(P2)と酸触媒を添加してpH1−6に調整
し、さらに反応(二次反応)させて得られるノボラック
型フェノ−ル樹脂で、GPC測定によるポリスチレン換
算の重量平均分子量が、1500−20000であり、
2核体成分が8%以下であることを特徴とするフォトレ
ジスト用ノボラック型フェノ−ル樹脂
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体やLCDな
どを製造する際のリソグラフィ−に使用されるフォトレ
ジストのベ−ス樹脂として使用され、高耐熱性、高残膜
率、高感度なフォトレジストの製造を可能にするフォト
レジスト用ノボラック型フェノ−ル樹脂に関するもので
ある。
どを製造する際のリソグラフィ−に使用されるフォトレ
ジストのベ−ス樹脂として使用され、高耐熱性、高残膜
率、高感度なフォトレジストの製造を可能にするフォト
レジスト用ノボラック型フェノ−ル樹脂に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】一般にポジ型フォトレジストにはナフト
キノンジアジド化合物等のキノンジアジド基を有する感
光剤とアルカリ可溶性樹脂(例えばノボラック型フェノ
−ル樹脂)が用いられている。このような組成からなる
ポジ型フォトレジストは、露光後にアルカリ溶液による
現像によって高い解像力を示し、IC、LSI等の半導
体製造、LCDなどの回路基材の製造に利用されてい
る。またノボラック型フェノ−ル樹脂はプラズマドライ
エッチングに対し、芳香環を多く持つ構造に起因する高
い耐熱性も有しており、これまでノボラック型フェノ−
ル樹脂とナフトキノンジアジド系感光剤とを含有する数
多くのポジ型フォトレジストが開発、実用化され、大き
な成果を挙げてきている。
キノンジアジド化合物等のキノンジアジド基を有する感
光剤とアルカリ可溶性樹脂(例えばノボラック型フェノ
−ル樹脂)が用いられている。このような組成からなる
ポジ型フォトレジストは、露光後にアルカリ溶液による
現像によって高い解像力を示し、IC、LSI等の半導
体製造、LCDなどの回路基材の製造に利用されてい
る。またノボラック型フェノ−ル樹脂はプラズマドライ
エッチングに対し、芳香環を多く持つ構造に起因する高
い耐熱性も有しており、これまでノボラック型フェノ−
ル樹脂とナフトキノンジアジド系感光剤とを含有する数
多くのポジ型フォトレジストが開発、実用化され、大き
な成果を挙げてきている。
【0003】ポジ型フォトレジストには、メタ・パラク
レゾ−ルとホルムアルデヒドを酸触媒の存在下で反応さ
せて得られたノボラック型フェノ−ル樹脂が一般に使用
されている。そして、フォトレジストの特性を調整また
は向上させるために、フェノ−ル樹脂中のメタ・パラク
レゾ−ルの比率や分子量、分子量分布などの検討がなさ
れてきた。しかし、メタ・パラクレゾールとホルムアル
デヒドから一般的方法により得られた樹脂を適用したフ
ォトレジストでは、LCD製造において、フォトレジス
ト中のレジン成分が昇華(主に2核体成分)することに
より、生産ラインを汚染し、歩留まり低下を引き起こす
原因となっている。そこで、ベースレジンのフェノール
樹脂の2核体成分の低減要求が非常に高いが、今まで満
足する樹脂は得られなかった。
レゾ−ルとホルムアルデヒドを酸触媒の存在下で反応さ
せて得られたノボラック型フェノ−ル樹脂が一般に使用
されている。そして、フォトレジストの特性を調整また
は向上させるために、フェノ−ル樹脂中のメタ・パラク
レゾ−ルの比率や分子量、分子量分布などの検討がなさ
れてきた。しかし、メタ・パラクレゾールとホルムアル
デヒドから一般的方法により得られた樹脂を適用したフ
ォトレジストでは、LCD製造において、フォトレジス
ト中のレジン成分が昇華(主に2核体成分)することに
より、生産ラインを汚染し、歩留まり低下を引き起こす
原因となっている。そこで、ベースレジンのフェノール
樹脂の2核体成分の低減要求が非常に高いが、今まで満
足する樹脂は得られなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、LC
D製造における生産ラインの汚染の低減による歩留まり
向上を可能にする2核体成分の少ないフォトレジスト用
フェノ−ル樹脂を提供することである。
D製造における生産ラインの汚染の低減による歩留まり
向上を可能にする2核体成分の少ないフォトレジスト用
フェノ−ル樹脂を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、フェノール樹
脂の2核体成分を低下させる手法として、レゾール化反
応を経由させたノボラック樹脂の合成方法を鋭意研究を
行なった結果として得られたものである。具体的には、
2官能性以上のフェノ−ル類(P1)及びアルデヒド類
(A)を塩基性触媒の存在下、pH7−12で反応(一
次反応)させて得たレゾ−ル樹脂に、フェノ−ル類(P
2)と酸触媒を添加してpH1−6に調整し、さらに反
応(二次反応)させて得られるノボラック型フェノ−ル
樹脂で、GPC測定によるポリスチレン換算の重量平均
分子量が、1500−20000であり、2核体成分が
8%以下で、好ましくは6%以下であることを特長とす
るフォトレジスト用ノボラック型フェノ−ル樹脂であ
る。
脂の2核体成分を低下させる手法として、レゾール化反
応を経由させたノボラック樹脂の合成方法を鋭意研究を
行なった結果として得られたものである。具体的には、
2官能性以上のフェノ−ル類(P1)及びアルデヒド類
(A)を塩基性触媒の存在下、pH7−12で反応(一
次反応)させて得たレゾ−ル樹脂に、フェノ−ル類(P
2)と酸触媒を添加してpH1−6に調整し、さらに反
応(二次反応)させて得られるノボラック型フェノ−ル
樹脂で、GPC測定によるポリスチレン換算の重量平均
分子量が、1500−20000であり、2核体成分が
8%以下で、好ましくは6%以下であることを特長とす
るフォトレジスト用ノボラック型フェノ−ル樹脂であ
る。
【0006】以下に、本発明について詳細に説明する。
まず、原料について説明する。2官能性以上のフェノ−
ル類(P1)としてはフェノ−ル、メタクレゾ−ル、パ
ラクレゾール、2,3−キシレノール、2,5−キシレ
ノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノ−
ル、メタエチルフェノ−ル、ハイドロキノン、カテコ−
ル、レゾルシノ−ル、メタクロロフェノ−ル、メタフェ
ニルフェノ−ルなどがあげられ、アルデヒド類との反応
が可能な反応点が2個以上あるフェノ−ル類であれば特
に限定されることはなく、単品及び混合使用することが
できる。実用上、特に好ましい2官能性以上のフェノー
ル類(P1)としては、メタクレゾ−ル、パラクレゾー
ル、フェノ−ルが上げられる。アルデヒド類(A)とし
ては、ホルムアルデヒド(ホルマリン)、パラホルムア
ルデヒドやアセトアルデヒド、プロピルアルデヒド、ブ
チルアルデヒド、イソブチルアルデヒド、イソバレルア
ルデヒド、ヘキシルアルデヒド、オクチルアルデヒドな
どのアルキルアルデヒド類、アクロレイン、クロトンア
ルデヒドなどの不飽和アルキルアルデヒド類、サリチル
アルデヒド、パラヒドロキシベンズアルデヒドなどのヒ
ドロキシベンズアルデヒド類、ベンズアルデヒド、フタ
ルアルデヒドなどの芳香族アルデヒド類、グリオキサ−
ル、グルタルアルデヒドなどのジアルデヒド類があげら
れるが、これらに限定されることはなく、単独及び混合
使用することができる。実用上特に有効なアルデヒド類
としては、ホルムアルデヒド(ホルマリン)、パラホル
ムアルデヒドがあげられる。
まず、原料について説明する。2官能性以上のフェノ−
ル類(P1)としてはフェノ−ル、メタクレゾ−ル、パ
ラクレゾール、2,3−キシレノール、2,5−キシレ
ノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノ−
ル、メタエチルフェノ−ル、ハイドロキノン、カテコ−
ル、レゾルシノ−ル、メタクロロフェノ−ル、メタフェ
ニルフェノ−ルなどがあげられ、アルデヒド類との反応
が可能な反応点が2個以上あるフェノ−ル類であれば特
に限定されることはなく、単品及び混合使用することが
できる。実用上、特に好ましい2官能性以上のフェノー
ル類(P1)としては、メタクレゾ−ル、パラクレゾー
ル、フェノ−ルが上げられる。アルデヒド類(A)とし
ては、ホルムアルデヒド(ホルマリン)、パラホルムア
ルデヒドやアセトアルデヒド、プロピルアルデヒド、ブ
チルアルデヒド、イソブチルアルデヒド、イソバレルア
ルデヒド、ヘキシルアルデヒド、オクチルアルデヒドな
どのアルキルアルデヒド類、アクロレイン、クロトンア
ルデヒドなどの不飽和アルキルアルデヒド類、サリチル
アルデヒド、パラヒドロキシベンズアルデヒドなどのヒ
ドロキシベンズアルデヒド類、ベンズアルデヒド、フタ
ルアルデヒドなどの芳香族アルデヒド類、グリオキサ−
ル、グルタルアルデヒドなどのジアルデヒド類があげら
れるが、これらに限定されることはなく、単独及び混合
使用することができる。実用上特に有効なアルデヒド類
としては、ホルムアルデヒド(ホルマリン)、パラホル
ムアルデヒドがあげられる。
【0007】ノボラック化反応(二次反応)で使用され
るフェノ−ル類(P2)は、フェノ−ル、オルソクレゾ
−ル、メタクレゾ−ル、パラクレゾ−ル、2,3−キシ
レノ−ル、2,4−キシレノ−ル、2,5−キシレノ−
ル、2,6−キシレノ−ル、3,4−キシレノ−ル、
3,5−キシレノ−ル、2,3,5−トリメチルフェノ
−ル、2,3,6−トリメチルフェノ−ル、エチルフェ
ノ−ル、プロピルフェノ−ル、ブチルフェノ−ル、フェ
ニルフェノ−ル、ハロゲン化フェノ−ルなどが使用され
るが、アルデヒド類及びレゾ−ル型フェノ−ル樹脂のメ
チロ−ル基と反応する反応点を1個以上持つフェノ−ル
類であれば特に限定されることはなく、単独又は2種以
上を混合使用してもよい。実用上特に好ましいフェノー
ル類(P2)としては、メタクレゾール、パラクレゾ−
ル、キシレノ−ル類、トリメチルフェノ−ル類が上げら
れる。
るフェノ−ル類(P2)は、フェノ−ル、オルソクレゾ
−ル、メタクレゾ−ル、パラクレゾ−ル、2,3−キシ
レノ−ル、2,4−キシレノ−ル、2,5−キシレノ−
ル、2,6−キシレノ−ル、3,4−キシレノ−ル、
3,5−キシレノ−ル、2,3,5−トリメチルフェノ
−ル、2,3,6−トリメチルフェノ−ル、エチルフェ
ノ−ル、プロピルフェノ−ル、ブチルフェノ−ル、フェ
ニルフェノ−ル、ハロゲン化フェノ−ルなどが使用され
るが、アルデヒド類及びレゾ−ル型フェノ−ル樹脂のメ
チロ−ル基と反応する反応点を1個以上持つフェノ−ル
類であれば特に限定されることはなく、単独又は2種以
上を混合使用してもよい。実用上特に好ましいフェノー
ル類(P2)としては、メタクレゾール、パラクレゾ−
ル、キシレノ−ル類、トリメチルフェノ−ル類が上げら
れる。
【0008】一次反応におけるアルデヒド類(A)と2
官能性以上のフェノ−ル類(P1)のモル比率(A/P
1)は0.5−5.0であり、特に好ましくは0.7−
3.5である。5よりも高い場合は、一次反応後の遊離
アルデヒドが多いことなどから、二次反応時のコントロ
−ルが非常に困難になり、場合によってはゲル化してし
まう。二次反応時のモル比率(A/P1+P2)は、
0.2−1.5であり、特に好ましくは0.5−1.2
である。アルデヒド類(A)のモル比が0.2より少な
い場合は、分子量が小さすぎ、2核体成分が多くなる。
アルデヒド類(A)のモル比が1.5より多い場合は、
二次反応時にゲル化がおこり、製造に支障をきたすこと
がある。
官能性以上のフェノ−ル類(P1)のモル比率(A/P
1)は0.5−5.0であり、特に好ましくは0.7−
3.5である。5よりも高い場合は、一次反応後の遊離
アルデヒドが多いことなどから、二次反応時のコントロ
−ルが非常に困難になり、場合によってはゲル化してし
まう。二次反応時のモル比率(A/P1+P2)は、
0.2−1.5であり、特に好ましくは0.5−1.2
である。アルデヒド類(A)のモル比が0.2より少な
い場合は、分子量が小さすぎ、2核体成分が多くなる。
アルデヒド類(A)のモル比が1.5より多い場合は、
二次反応時にゲル化がおこり、製造に支障をきたすこと
がある。
【0009】2官能性以上のフェノール類(P1)とフ
ェノール類(P2)のモル比率(P1/P2)は、0.
1−5.0であり、特に好ましくは0.5−4.0であ
る。5.0よりもP1が多くなると分子量が高くなり、
生産に支障をきたすことがある。0.1よりP1が少な
くなると二次反応後の分子量が小さくなり、2核体成分
が増加することになる。
ェノール類(P2)のモル比率(P1/P2)は、0.
1−5.0であり、特に好ましくは0.5−4.0であ
る。5.0よりもP1が多くなると分子量が高くなり、
生産に支障をきたすことがある。0.1よりP1が少な
くなると二次反応後の分子量が小さくなり、2核体成分
が増加することになる。
【0010】一次反応時の塩基性触媒としてはトリメチ
ルアミン、トリエチルアミン、トリブチルアミンなどの
三級アミン類、ピリジン、ジメチルアミノピリジン、ピ
ロリジノピリジンなどの芳香族アミン類、ジアザビシク
ロノネン(DBN)、ジアザビシクロウンデセン(DB
U)などの脂環式アミン類を使用することができるが、
特に限定されることなく、レゾール化反応を行うに十分
な塩基性を有していれば使用することができる。製造上
特に有効なものは、三級アミン類であり、実用上トリエ
チルアミン、トリブチルアミンが最も好ましい。使用量
については、特に限定されることはないが、系内のpH
が7−12程度になる量であれば良い。実用上は、フェ
ノ−ル類に対して5重量%から20重量%が好ましく、
5重量%より少ない場合は反応の進行が遅くなり経済的
な観点から不適切であり、20重量%より多い場合には
反応が速すぎて制御が困難であり、最終的に得られたレ
ジンから塩基性触媒を除去することが難しくなり、フォ
トレジストの特性に悪影響を与える可能性がある。酸性
触媒としては、塩酸、硫酸、燐酸、ホウ酸などの無機酸
類、蓚酸、酢酸、安息香酸、パラトルエンスルホン酸な
どの有機酸類があげられ、特に限定されることなく単独
及び混合して使用することができる。好ましくは塩基性
触媒との中和により水洗水に可溶な塩を生じ、モノマ−
除去時に分解、昇華などにより反応系から容易に除去で
きるものの使用が好ましい。使用量については触媒の種
類にもよるが、塩基触媒を中和し、反応系内のpHが1
−6の範囲になる量を設定することが好ましい。
ルアミン、トリエチルアミン、トリブチルアミンなどの
三級アミン類、ピリジン、ジメチルアミノピリジン、ピ
ロリジノピリジンなどの芳香族アミン類、ジアザビシク
ロノネン(DBN)、ジアザビシクロウンデセン(DB
U)などの脂環式アミン類を使用することができるが、
特に限定されることなく、レゾール化反応を行うに十分
な塩基性を有していれば使用することができる。製造上
特に有効なものは、三級アミン類であり、実用上トリエ
チルアミン、トリブチルアミンが最も好ましい。使用量
については、特に限定されることはないが、系内のpH
が7−12程度になる量であれば良い。実用上は、フェ
ノ−ル類に対して5重量%から20重量%が好ましく、
5重量%より少ない場合は反応の進行が遅くなり経済的
な観点から不適切であり、20重量%より多い場合には
反応が速すぎて制御が困難であり、最終的に得られたレ
ジンから塩基性触媒を除去することが難しくなり、フォ
トレジストの特性に悪影響を与える可能性がある。酸性
触媒としては、塩酸、硫酸、燐酸、ホウ酸などの無機酸
類、蓚酸、酢酸、安息香酸、パラトルエンスルホン酸な
どの有機酸類があげられ、特に限定されることなく単独
及び混合して使用することができる。好ましくは塩基性
触媒との中和により水洗水に可溶な塩を生じ、モノマ−
除去時に分解、昇華などにより反応系から容易に除去で
きるものの使用が好ましい。使用量については触媒の種
類にもよるが、塩基触媒を中和し、反応系内のpHが1
−6の範囲になる量を設定することが好ましい。
【0011】続いて本発明における重量平均分子量につ
いて説明する。重量平均分子量は、ゲルパ−ミエ−ショ
ンクロマトグラフィ−(GPC測定)によりポリスチレ
ン標準物質を用いて作成した検量線をもとに計算された
ものである。GPC測定はテトラヒドロフランを溶出溶
媒として使用し、流量1.0ml/分、カラム温度40
℃の条件で実施した。装置は、本体:TOSOH製HL
C−8020、検出器:波長280nmにセットしたT
OSOH製UV−8011、分析用カラム:昭和電工製
SHODEX KF−802 1本、KF−803 1
本、KF−805 1本、を使用した。本発明における
フェノ−ル樹脂の重量平均分子量は、1500−200
00で、特に好ましくは2000−18000である。
1500より小さい場合は、耐熱性を損ね、場合によっ
てはフォトレジストの塗布が均一にできない場合があ
る。20000を越える場合は、耐熱性は良いものの感
度が低下し実用に向かない。
いて説明する。重量平均分子量は、ゲルパ−ミエ−ショ
ンクロマトグラフィ−(GPC測定)によりポリスチレ
ン標準物質を用いて作成した検量線をもとに計算された
ものである。GPC測定はテトラヒドロフランを溶出溶
媒として使用し、流量1.0ml/分、カラム温度40
℃の条件で実施した。装置は、本体:TOSOH製HL
C−8020、検出器:波長280nmにセットしたT
OSOH製UV−8011、分析用カラム:昭和電工製
SHODEX KF−802 1本、KF−803 1
本、KF−805 1本、を使用した。本発明における
フェノ−ル樹脂の重量平均分子量は、1500−200
00で、特に好ましくは2000−18000である。
1500より小さい場合は、耐熱性を損ね、場合によっ
てはフォトレジストの塗布が均一にできない場合があ
る。20000を越える場合は、耐熱性は良いものの感
度が低下し実用に向かない。
【0012】さらに、本発明を反応(製造)手順に沿っ
て説明する。反応は、攪拌機、温度計、熱交換機のつい
た反応釜に2官能性以上のフェノ−ル類(P1)、アル
デヒド類(A)、塩基性触媒を仕込み一次反応を開始す
る。反応温度や時間はモノマ−の反応性、目的とする特
性によって適宜設定できるが、安定かつ経済的に製造可
能なレベルとして反応時間で0.5−8時間、反応温度
で40−100℃が特に好ましい。反応終了後、フェノ
ール類(P2)と酸性触媒を添加し、二次反応を行う。
二次反応の反応温度や時間は、製造されるレジンの特性
やモノマ−の反応性により適宜選択できるが、安定かつ
経済的に製造可能なレベルとして反応時間で1−10時
間、反応温度で50−150℃が特に好ましい。また一
次反応・二次反応時において、必要によって反応溶媒を
添加使用することもでき、特に溶媒の種類は限定されな
いが、フェノ−ル樹脂を溶解する溶媒であれば使用でき
る。一例をあげるとメチルエチルケトン、メチルイソブ
チルケトンなどのケトン類、ブタノ−ルなどのアルコ−
ル類、エトキシエタノ−ルなどのエ−テルアルコ−ル類
などが上げられる。
て説明する。反応は、攪拌機、温度計、熱交換機のつい
た反応釜に2官能性以上のフェノ−ル類(P1)、アル
デヒド類(A)、塩基性触媒を仕込み一次反応を開始す
る。反応温度や時間はモノマ−の反応性、目的とする特
性によって適宜設定できるが、安定かつ経済的に製造可
能なレベルとして反応時間で0.5−8時間、反応温度
で40−100℃が特に好ましい。反応終了後、フェノ
ール類(P2)と酸性触媒を添加し、二次反応を行う。
二次反応の反応温度や時間は、製造されるレジンの特性
やモノマ−の反応性により適宜選択できるが、安定かつ
経済的に製造可能なレベルとして反応時間で1−10時
間、反応温度で50−150℃が特に好ましい。また一
次反応・二次反応時において、必要によって反応溶媒を
添加使用することもでき、特に溶媒の種類は限定されな
いが、フェノ−ル樹脂を溶解する溶媒であれば使用でき
る。一例をあげるとメチルエチルケトン、メチルイソブ
チルケトンなどのケトン類、ブタノ−ルなどのアルコ−
ル類、エトキシエタノ−ルなどのエ−テルアルコ−ル類
などが上げられる。
【0013】反応終了後、反応のために添加した酸及び
塩基触媒を除去するために、水を加えて水洗を実施する
ことが好ましい。水洗水の量と回数は特に限定されない
が、水洗回数は1−5回程度が残留触媒量と経済的な観
点から特に好ましい。また、水洗温度は特に限定されな
いが、触媒種除去の効率と作業性の観点から40−95
℃で行うのが好ましい。水洗中、樹脂と水洗水の分離が
悪い場合は、レジンの粘度を低下させる溶媒の添加や水
洗温度を上昇させることが効果的である。溶媒種は特に
限定されないが、フェノ−ル樹脂を溶解して粘度を低下
させるものであれば使用することができる。一例をあげ
ると、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチ
ルケトンなどのケトン類、メタノ−ル、エタノ−ル、ブ
タノ−ルなどのアルコ−ル類、エトキシエタノ−ルなど
のエ−テルアルコ−ル類などが上げられる。
塩基触媒を除去するために、水を加えて水洗を実施する
ことが好ましい。水洗水の量と回数は特に限定されない
が、水洗回数は1−5回程度が残留触媒量と経済的な観
点から特に好ましい。また、水洗温度は特に限定されな
いが、触媒種除去の効率と作業性の観点から40−95
℃で行うのが好ましい。水洗中、樹脂と水洗水の分離が
悪い場合は、レジンの粘度を低下させる溶媒の添加や水
洗温度を上昇させることが効果的である。溶媒種は特に
限定されないが、フェノ−ル樹脂を溶解して粘度を低下
させるものであれば使用することができる。一例をあげ
ると、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチ
ルケトンなどのケトン類、メタノ−ル、エタノ−ル、ブ
タノ−ルなどのアルコ−ル類、エトキシエタノ−ルなど
のエ−テルアルコ−ル類などが上げられる。
【0014】水洗終了後、常圧下及び減圧下で脱水・脱
モノマ−を行い、フォトレジスト用フェノ−ル樹脂を得
ることができる。脱水・脱モノマ−の条件は限定されな
いが、得られたフェノ−ル樹脂の安定性(バラツキ)や
粘度を考慮すると、減圧度は、0.00001MPaか
ら0.027MPa程度で行うのが特に好ましく、反応
釜からの取り出し温度は、150−250℃で行うのが
特に好ましい。
モノマ−を行い、フォトレジスト用フェノ−ル樹脂を得
ることができる。脱水・脱モノマ−の条件は限定されな
いが、得られたフェノ−ル樹脂の安定性(バラツキ)や
粘度を考慮すると、減圧度は、0.00001MPaか
ら0.027MPa程度で行うのが特に好ましく、反応
釜からの取り出し温度は、150−250℃で行うのが
特に好ましい。
【0015】
【実施例】以下本発明を実施例により詳細に説明する。
ここに記載されている「部」及び「%」はすべて「重量
部」及び「重量%」を示し、本発明はこれら実施例によ
り何ら制約されるものではない。
ここに記載されている「部」及び「%」はすべて「重量
部」及び「重量%」を示し、本発明はこれら実施例によ
り何ら制約されるものではない。
【0016】《実施例1》攪拌機、温度計、熱交換機の
ついた5Lの四つ口フラスコにパラクレゾ−ル600
部、37%のホルマリン1351.4部(A/P1=
3.0)トリエチルアミン60部を仕込み、pH9.
0、反応温度68〜72℃で3時間反応を行った。その
後、10%の蓚酸水330部を添加して中和(pH=
5.0)を行ない、メタクレゾ−ル1400部(A/P
1+P2=0.9,P1/P2=0.43)、蓚酸3
7.5部を添加してpH2.0、反応温度98〜102
℃で4時間反応させた。反応終了後、70℃まで冷却し
てアセトン60部、イオン交換水600部を添加して約
約70℃で攪拌・静置した。分離水を除去した後、アセ
トン60部、イオン交換水600部を使用して、再度水
洗操作を行った。その後、常圧下で内温160℃まで脱
水し、さらに0.008MPaの減圧下で195℃まで
脱水・脱モノマ−を行い、フォトレジスト用フェノ−ル
樹脂1900部を得た。得られた樹脂の重量平均分子量
は5000、2核体成分が5.4%、遊離モノマ−は
1.0%であった。
ついた5Lの四つ口フラスコにパラクレゾ−ル600
部、37%のホルマリン1351.4部(A/P1=
3.0)トリエチルアミン60部を仕込み、pH9.
0、反応温度68〜72℃で3時間反応を行った。その
後、10%の蓚酸水330部を添加して中和(pH=
5.0)を行ない、メタクレゾ−ル1400部(A/P
1+P2=0.9,P1/P2=0.43)、蓚酸3
7.5部を添加してpH2.0、反応温度98〜102
℃で4時間反応させた。反応終了後、70℃まで冷却し
てアセトン60部、イオン交換水600部を添加して約
約70℃で攪拌・静置した。分離水を除去した後、アセ
トン60部、イオン交換水600部を使用して、再度水
洗操作を行った。その後、常圧下で内温160℃まで脱
水し、さらに0.008MPaの減圧下で195℃まで
脱水・脱モノマ−を行い、フォトレジスト用フェノ−ル
樹脂1900部を得た。得られた樹脂の重量平均分子量
は5000、2核体成分が5.4%、遊離モノマ−は
1.0%であった。
【0017】《実施例2》攪拌機、温度計、熱交換機の
ついた5Lの四つ口フラスコにメタクレゾ−ル800
部、37%のホルマリン840.8部(A/P1=1.
4)トリエチルアミン40部を仕込み、pH8.5、反
応温度78〜82℃で3時間間反応を行った。その後、
10%の蓚酸水240gを添加して中和(pH=5.
6)を行ない、パラクレゾ−ル1520部(A/P1+
P2=1.48,P1/P2=1.9)、蓚酸30部を
添加してpH2.0、反応温度98〜102℃で4時間
反応させた。反応終了後、70℃まで冷却してアセトン
160部、イオン交換水800部を添加して約70℃で
攪拌・静置した。分離水を除去した後、アセトン160
部、イオン交換水800部を使用して、再度水洗操作を
行った。その後、常圧下で内温160℃まで脱水し、さ
らに0.008MPaの減圧下で195℃まで脱水・脱
モノマ−を行い、フォトレジスト用フェノ−ル樹脂13
00部を得た。得られた樹脂の重量平均分子量は680
0、2核体成分4.5%、遊離モノマ−は1.5%であ
った。
ついた5Lの四つ口フラスコにメタクレゾ−ル800
部、37%のホルマリン840.8部(A/P1=1.
4)トリエチルアミン40部を仕込み、pH8.5、反
応温度78〜82℃で3時間間反応を行った。その後、
10%の蓚酸水240gを添加して中和(pH=5.
6)を行ない、パラクレゾ−ル1520部(A/P1+
P2=1.48,P1/P2=1.9)、蓚酸30部を
添加してpH2.0、反応温度98〜102℃で4時間
反応させた。反応終了後、70℃まで冷却してアセトン
160部、イオン交換水800部を添加して約70℃で
攪拌・静置した。分離水を除去した後、アセトン160
部、イオン交換水800部を使用して、再度水洗操作を
行った。その後、常圧下で内温160℃まで脱水し、さ
らに0.008MPaの減圧下で195℃まで脱水・脱
モノマ−を行い、フォトレジスト用フェノ−ル樹脂13
00部を得た。得られた樹脂の重量平均分子量は680
0、2核体成分4.5%、遊離モノマ−は1.5%であ
った。
【0018】《実施例3》攪拌機、温度計、熱交換機の
ついた5Lの四つ口フラスコにメタクレゾ−ル750
部、パラクレゾール500部、37%のホルマリン93
8.4部(A/P1=1.0)トリエチルアミン62.
5部を仕込み、pH8.5、反応温度68〜72℃で4
時間反応を行った。その後、10%の蓚酸水350部を
添加して中和(pH=5.2)を行ない、メタクレゾー
ル175部、パラクレゾール1237.5部(A/P1
+P2=0.54,P1/P2=0.85)、蓚酸3
8.5部を添加してpH2.0、反応温度98〜102
℃で4時間反応させた。反応終了後、70℃まで冷却し
てアセトン125部、イオン交換水1250部を添加し
て約70℃で攪拌・静置した。分離水を除去した後、ア
セトン125部、イオン交換水1250部を使用して、
再度水洗操作を行った。その後、常圧下で内温160℃
まで脱水し、さらに0.008MPaの減圧下で195
℃まで脱水・脱モノマ−を行い、フォトレジスト用フェ
ノ−ル樹脂1300部を得た。得られた樹脂の重量平均
分子量は11000、2核体成分7.1%、遊離モノマ
−は3.3%であった。
ついた5Lの四つ口フラスコにメタクレゾ−ル750
部、パラクレゾール500部、37%のホルマリン93
8.4部(A/P1=1.0)トリエチルアミン62.
5部を仕込み、pH8.5、反応温度68〜72℃で4
時間反応を行った。その後、10%の蓚酸水350部を
添加して中和(pH=5.2)を行ない、メタクレゾー
ル175部、パラクレゾール1237.5部(A/P1
+P2=0.54,P1/P2=0.85)、蓚酸3
8.5部を添加してpH2.0、反応温度98〜102
℃で4時間反応させた。反応終了後、70℃まで冷却し
てアセトン125部、イオン交換水1250部を添加し
て約70℃で攪拌・静置した。分離水を除去した後、ア
セトン125部、イオン交換水1250部を使用して、
再度水洗操作を行った。その後、常圧下で内温160℃
まで脱水し、さらに0.008MPaの減圧下で195
℃まで脱水・脱モノマ−を行い、フォトレジスト用フェ
ノ−ル樹脂1300部を得た。得られた樹脂の重量平均
分子量は11000、2核体成分7.1%、遊離モノマ
−は3.3%であった。
【0019】《比較例1》実施例1と同様の反応装置に
メタクレゾ−ル400部、パラクレゾ−ル600部、3
7%ホルマリン405.4部(仕込みモル比0.5
4)、蓚酸2部を仕込み、98〜102℃で4時間還流
反応を行った後、常圧下で脱水を行い内温140℃まで
上昇させ、次いで0.011MPaの減圧下で内温19
5℃まで脱水・脱モノマ−を行ない、フォトレジスト用
フェノ−ル樹脂を得た。得られたものの重量平均分子量
は3600、2核体成分12.2%、遊離モノマ−3.
2%であった。
メタクレゾ−ル400部、パラクレゾ−ル600部、3
7%ホルマリン405.4部(仕込みモル比0.5
4)、蓚酸2部を仕込み、98〜102℃で4時間還流
反応を行った後、常圧下で脱水を行い内温140℃まで
上昇させ、次いで0.011MPaの減圧下で内温19
5℃まで脱水・脱モノマ−を行ない、フォトレジスト用
フェノ−ル樹脂を得た。得られたものの重量平均分子量
は3600、2核体成分12.2%、遊離モノマ−3.
2%であった。
【0020】《比較例2》実施例1と同様の反応装置に
メタクレゾ−ル400部、パラクレゾ−ル600部、3
7%ホルマリン435.4部(仕込みモル比0.5
8)、蓚酸7部を仕込み、96〜100℃で5時間還流
反応を行った後、常圧下で脱水を行い、内温150℃ま
で上昇させ、次いで0.011MPaの減圧下で内温1
90℃まで脱水・脱モノマ−を行ない、フォトレジスト
用フェノ−ル樹脂を得た。得られたものの重量平均分子
量は8000、2核体成分9.2%、遊離モノマ−2.
0%であった。
メタクレゾ−ル400部、パラクレゾ−ル600部、3
7%ホルマリン435.4部(仕込みモル比0.5
8)、蓚酸7部を仕込み、96〜100℃で5時間還流
反応を行った後、常圧下で脱水を行い、内温150℃ま
で上昇させ、次いで0.011MPaの減圧下で内温1
90℃まで脱水・脱モノマ−を行ない、フォトレジスト
用フェノ−ル樹脂を得た。得られたものの重量平均分子
量は8000、2核体成分9.2%、遊離モノマ−2.
0%であった。
【0021】《評価例1》昇華性試験評価方法 25%のエチルセロソルブアセテート溶液を調製し、3
インチのシリコンウエハ上に約1マイクロメーターの厚
みになるようにスピンコーターで塗布し、110℃で1
00秒間ホットプレートで乾燥させた。この乾燥時に、
シリコンウエハをシャーレで覆い昇華物を捕集した。こ
の作業をシリコンウエハ10枚分行い、シャーレに付着
した物質の重量を測定した。
インチのシリコンウエハ上に約1マイクロメーターの厚
みになるようにスピンコーターで塗布し、110℃で1
00秒間ホットプレートで乾燥させた。この乾燥時に、
シリコンウエハをシャーレで覆い昇華物を捕集した。こ
の作業をシリコンウエハ10枚分行い、シャーレに付着
した物質の重量を測定した。
【0022】
【表1】
【0023】
【発明の効果】本発明により、従来の方法では得られな
かった2核体成分の少ないフォトレジスト用フェノ−ル
樹脂を提供することができるようになった。LCD製造
において、本発明のフェノ−ル樹脂を用いたフォトレジ
ストを使用することにより、生産ラインの汚染が低減し
歩留の向上が期待される。
かった2核体成分の少ないフォトレジスト用フェノ−ル
樹脂を提供することができるようになった。LCD製造
において、本発明のフェノ−ル樹脂を用いたフォトレジ
ストを使用することにより、生産ラインの汚染が低減し
歩留の向上が期待される。
フロントページの続き Fターム(参考) 2H025 AA02 AA04 AA09 AA10 AB16 AB17 AC08 AD03 BE00 BJ10 CB29 CB51 CB55 FA17 FA41 4J033 CA01 CA02 CA03 CA05 CA11 CA12 CA13 CA26 CA29 CB01 CB02 CB03 CB04 CB21 CC03 CC07 CC08 CC09 CC12 CC14 CD02 CD03 HA02 HA12 HB10
Claims (5)
- 【請求項1】 2官能性以上のフェノ−ル類(P1)及
びアルデヒド類(A)を塩基性触媒の存在下、pH7−
12で反応(一次反応)させて得たレゾ−ル樹脂に、フ
ェノ−ル類(P2)と酸触媒を添加してpH1−6に調
整し、さらに反応(二次反応)させて得られるノボラッ
ク型フェノ−ル樹脂で、GPC測定によるポリスチレン
換算の重量平均分子量が、1500−20000であ
り、2核体成分が8%以下であることを特徴とするフォ
トレジスト用ノボラック型フェノ−ル樹脂。 - 【請求項2】 2官能性以上のフェノール類(P1)が
フェノ−ル、メタクレゾ−ル、パラクレゾール、2,3
−キシレノ−ル、2,5−キシレノール、3,4−キシ
レノールのうち1種以上からなり、フェノール類(P
2)がフェノ−ル、メタクレゾ−ル、パラクレゾ−ル、
2,3−キシレノ−ル、2,4−キシレノ−ル、2,5
−キシレノ−ル、2,6−キシレノ−ル、3,4−キシ
レノ−ル、3,5−キシレノ−ル、2,3,5−トリメ
チルフェノ−ル、2,3,6−トリメチルフェノ−ルの
うち1種以上からなり、アルデヒド類(A)がホルムア
ルデヒド及び/又はパラホルムアルデヒドからなる請求
項1記載のフォトレジスト用ノボラック型フェノ−ル樹
脂。 - 【請求項3】 一次反応時の塩基性触媒が第3級アミン
類で、二次反応時の酸触媒が有機カルボン酸であること
を特徴とする請求項1又は2記載のフォトレジスト用ノ
ボラック型フェノ−ル樹脂。 - 【請求項4】 2官能性以上のフェノール類(P1)と
フェノール類(P2)のモル比率(P1/P2)が0.
2−3.0であることを特徴とする請求項1、2又は3
記載のフォトレジスト用ノボラック型フェノ−ル樹脂。 - 【請求項5】 一次反応時のアルデヒド類(A)と2官
能性以上のフェノ−ル類(P1)のモル比率(A/P
1)が0.5−5.0であり、二次反応時のモル比率
(A/P1+P2)が0.2−1.5であることを特徴
とする請求項1、2、3又は4記載のフォトレジスト用
ノボラック型フェノ−ル樹脂。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000075782A JP2001261766A (ja) | 2000-03-17 | 2000-03-17 | フォトレジスト用フェノール樹脂 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000075782A JP2001261766A (ja) | 2000-03-17 | 2000-03-17 | フォトレジスト用フェノール樹脂 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001261766A true JP2001261766A (ja) | 2001-09-26 |
Family
ID=18593619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000075782A Pending JP2001261766A (ja) | 2000-03-17 | 2000-03-17 | フォトレジスト用フェノール樹脂 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001261766A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015196707A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-09 | 明和化成株式会社 | ノボラック型フェノール樹脂、その製造方法及びそれを用いたフォトレジスト組成物 |
| JP2021091798A (ja) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | 住友ベークライト株式会社 | フォトレジスト用のノボラック型フェノール樹脂およびその製造方法、ならびにフォトレジスト用の感光性樹脂組成物 |
-
2000
- 2000-03-17 JP JP2000075782A patent/JP2001261766A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015196707A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-09 | 明和化成株式会社 | ノボラック型フェノール樹脂、その製造方法及びそれを用いたフォトレジスト組成物 |
| JP2021091798A (ja) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | 住友ベークライト株式会社 | フォトレジスト用のノボラック型フェノール樹脂およびその製造方法、ならびにフォトレジスト用の感光性樹脂組成物 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091020 |