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WO2017199776A1 - 撮像ユニットおよび内視鏡 - Google Patents

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WO2017199776A1
WO2017199776A1 PCT/JP2017/017363 JP2017017363W WO2017199776A1 WO 2017199776 A1 WO2017199776 A1 WO 2017199776A1 JP 2017017363 W JP2017017363 W JP 2017017363W WO 2017199776 A1 WO2017199776 A1 WO 2017199776A1
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WO
WIPO (PCT)
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filler
connection electrode
semiconductor package
imaging unit
circuit board
Prior art date
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Ceased
Application number
PCT/JP2017/017363
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English (en)
French (fr)
Inventor
俊幸 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
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Priority to DE112017002531.1T priority patent/DE112017002531T5/de
Priority to JP2017554551A priority patent/JP6293391B1/ja
Publication of WO2017199776A1 publication Critical patent/WO2017199776A1/ja
Priority to US16/127,326 priority patent/US20190021582A1/en
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    • G02B23/24Instruments or systems for viewing the inside of hollow bodies, e.g. fibrescopes
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • HELECTRICITY
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    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/54Mounting of pick-up tubes, electronic image sensors, deviation or focusing coils
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/555Constructional details for picking-up images in sites, inaccessible due to their dimensions or hazardous conditions, e.g. endoscopes or borescopes

Definitions

  • the present invention relates to an imaging unit and an endoscope that are provided at a distal end of an insertion portion of an endoscope that is inserted into a subject and images the inside of the subject.
  • a medical endoscope apparatus incises a subject by inserting an elongated flexible insertion portion having an imaging element at the tip into the body cavity of the subject such as a patient. Without being able to acquire an in-vivo image inside the body cavity, and further, it is possible to perform a therapeutic treatment by projecting the treatment tool from the distal end of the insertion portion as necessary.
  • an image pickup device At the distal end of the insertion portion of such an endoscope apparatus, an image pickup device, a circuit board on which electronic components such as a capacitor and an IC chip constituting a drive circuit of the image pickup device and a cable are mounted, an image pickup device and a circuit board
  • An imaging unit including an electrical connection member such as a TAB tape is connected to each other, and a filler for the purpose of protection is filled around the imaging element and the electronic component.
  • Endoscopes used for medical purposes are autoclaved (115-138 ° C, atmospheric pressure + 0.2 MPa) for disinfection sterilization, but when heated to sterilization temperature, the TAB tape is expanded by expansion of the filler.
  • the TAB tape is expanded by expansion of the filler.
  • a CSP Chip Size Package
  • An imaging unit has been proposed in which a sensor electrode of a CSP and a connection electrode of a circuit board are directly connected by a bump or the like.
  • no study has been made on the filler used when directly connecting a semiconductor package and a circuit board. There wasn't.
  • the present invention has been made in view of the above, and an object thereof is to provide an imaging unit and an endoscope having high connection reliability while reducing the diameter.
  • an imaging unit includes a semiconductor package in which a light receiving portion of an imaging element is formed on the front surface and a sensor electrode is formed on the back surface, and the sensor electrode on the front surface. And a circuit board on which connection electrodes electrically and mechanically connected via bumps are formed, a surrounding member that covers the semiconductor package, and a first space that is filled in a space surrounded by the surrounding member A filler, and a second filler filled in a connection surface between the semiconductor package and the circuit board and having a linear expansion per unit length of a sterilization temperature smaller than that of the first filler.
  • the imaging unit according to the present invention is characterized in that, in the above invention, the viscosity of the second filler before curing is smaller than the viscosity of the first filler before curing.
  • the circuit board includes a first connection electrode and a second connection electrode formed on the front surface and the back surface, respectively, and the first connection electrode on the front surface side is the semiconductor.
  • a first substrate electrically and mechanically connected to the sensor electrode of the package; a third connection electrode on the surface; a cable connection electrode on the side surface; and the third connection electrode serving as the first substrate
  • a second substrate electrically and mechanically connected to the second connection electrode, and in a recess formed on the back surface of the first substrate or the surface of the second substrate.
  • the connecting portion between the first substrate and the second substrate and the concave portion are filled with the second filler in the above invention.
  • the circuit board may be connected to a main body portion on which the connection electrode is formed and a back surface of the main body portion with a cable on at least two opposing side surfaces.
  • an electronic component mounting area in which a plurality of electronic components are mounted is provided on the back surface of the main body, and the cable connection electrode is formed in the mounting portion.
  • Center surfaces of two opposing side surfaces shift from a center surface of a side surface parallel to the two side surfaces of the mounting portion of the semiconductor package and protrude from the main body portion, and the electronic component mounting region is formed on the back surface of the main body portion. It is characterized by being arranged side by side with the mounting portion.
  • the imaging unit according to the present invention is characterized in that, in the above-mentioned invention, the second filler is filled around the connection portion between the main body and the electronic component.
  • the circuit board includes a connection electrode connected to the sensor electrode on the front surface and a cable connection electrode connected to the cable arranged side by side, and is arranged on the back surface.
  • the semiconductor package has a concave portion on which an electronic component is mounted, and the light receiving portion of the imaging element is placed parallel to the optical axis direction.
  • the imaging unit according to the present invention is characterized in that, in the above-described invention, the second filler is filled around a connection portion between the circuit board and the electronic component.
  • an endoscope according to the present invention is characterized in that the imaging unit according to any one of the above is provided with an insertion portion provided at a distal end.
  • the second filler having a small linear expansion per unit length when heated from room temperature to a sterilization temperature in the connection portion between the semiconductor package and the circuit board, Reliability can be improved.
  • FIG. 1 is a diagram schematically illustrating the overall configuration of the endoscope system according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the imaging unit arranged at the endoscope distal end portion shown in FIG.
  • FIG. 3 is a perspective view of the imaging unit shown in FIG.
  • FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the temperature and linear expansion of the first filler and the second filler used in Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of the imaging unit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a perspective view of the imaging unit shown in FIG.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view of the imaging unit according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a perspective view of the imaging unit shown in FIG.
  • FIG. 9 is a side view of the imaging unit shown in FIG.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view of an imaging unit according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a perspective view from below of the imaging unit shown in FIG. 12 is a perspective view from above of the imaging unit shown in FIG.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining the positional relationship between the recesses of the circuit board of FIG. 10 and the sensor electrodes.
  • an endoscope system including an imaging unit will be described as a mode for carrying out the present invention (hereinafter referred to as “embodiment”). Moreover, this invention is not limited by this embodiment. Furthermore, the same code
  • FIG. 1 is a diagram schematically illustrating the overall configuration of the endoscope system according to the first embodiment of the present invention.
  • an endoscope system 1 according to the first embodiment includes an endoscope 2 that is introduced into a subject, images the inside of the subject, and generates an image signal in the subject.
  • An information processing device 3 that performs predetermined image processing on an image signal captured by the endoscope 2 and controls each part of the endoscope system 1, a light source device 4 that generates illumination light of the endoscope 2, and information And a display device 5 for displaying an image signal after image processing by the processing device 3.
  • the endoscope 2 includes an insertion unit 6 to be inserted into a subject, an operation unit 7 on the proximal end side of the insertion unit 6 and held by an operator, and a flexible universal extending from the operation unit 7. Code 8 is provided.
  • the insertion portion 6 is realized using an illumination fiber (light guide cable), an electric cable, an optical fiber, and the like.
  • the insertion portion 6 has a distal end portion 6a in which an imaging unit to be described later is incorporated, a bendable bending portion 6b constituted by a plurality of bending pieces, and a flexibility provided on the proximal end side of the bending portion 6b.
  • the distal end portion 6a includes an illumination unit that illuminates the inside of the subject via an illumination lens, an observation unit that images the inside of the subject, an opening that communicates the processing tool channel, and an air / water supply nozzle (not shown). Is provided.
  • the operation unit 7 includes a bending knob 7a that bends the bending portion 6b in the vertical direction and the left-right direction, a treatment instrument insertion portion 7b in which a treatment instrument such as a biological forceps and a laser knife is inserted into the body cavity of the subject, and an information processing device 3.
  • a plurality of switch units 7c for operating peripheral devices such as the light source device 4, the air supply device, the water supply device, and the gas supply device.
  • the treatment instrument inserted from the treatment instrument insertion portion 7b is exposed from the opening at the distal end of the insertion portion 6 through a treatment instrument channel provided therein.
  • the universal cord 8 is configured using illumination fibers, cables, and the like.
  • the universal cord 8 is branched at the base end, one end of the branch is the connector 8a, and the other base end is the connector 8b.
  • the connector 8a is detachable from the connector of the information processing apparatus 3.
  • the connector 8b is detachable from the light source device 4.
  • the universal cord 8 propagates the illumination light emitted from the light source device 4 to the distal end portion 6a via the connector 8b and the illumination fiber. Further, the universal code 8 transmits an image signal picked up by an image pickup unit described later to the information processing apparatus 3 via a cable and a connector 8a.
  • the information processing apparatus 3 performs predetermined image processing on the image signal output from the connector 8a and controls the entire endoscope system 1.
  • the light source device 4 includes a light source that emits light, a condensing lens, and the like.
  • the light source device 4 emits light from the light source under the control of the information processing device 3, and illuminates the inside of the subject, which is the subject, to the endoscope 2 connected via the connector 8b and the illumination fiber of the universal cord 8. Supply as light.
  • the display device 5 is configured using a display using liquid crystal or organic EL (Electro Luminescence).
  • the display device 5 displays various types of information including images that have been subjected to predetermined image processing by the information processing device 3 via the video cable 5a. Thereby, the surgeon can observe and characterize a desired position in the subject by operating the endoscope 2 while viewing the image (in-vivo image) displayed on the display device 5.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the imaging unit arranged at the endoscope distal end portion shown in FIG.
  • FIG. 3 is a perspective view of the imaging unit shown in FIG.
  • the holding frame 40, the heat shrinkable tube 50, the first filler 60, the second filler 70, and the centering cover glass 15 of the imaging unit 100 of FIG. It is shown in a state where it is rotated 90 ° so that the side surface f5 of 20 is on the near side.
  • the imaging unit 100 includes an imaging element 11 and protrudes from the semiconductor package 10 in which the sensor electrode 13 is formed on the f2 surface, which is the back surface, the main body portion 21 in which the connection electrode 23 is formed, and the back surface of the main body portion 21. It is a cover member that covers the circuit board 20 having the mounting portion 22, the aggregate cable 30 in which a plurality of signal cables 31 are twisted together, the holding frame 40 that holds the semiconductor package 10, and the base end portion of the holding frame 40.
  • a filler 70 is a filler 70.
  • the holding frame 40 and the heat shrinkable tube 50 function as a surrounding member.
  • the surrounding member is configured by the holding frame 40 and the heat shrinkable tube 50.
  • the configuration is not limited to this, and for example, a configuration in which another member is incorporated may be used. Alternatively, the configuration may include only the heat shrinkable tube 50.
  • the semiconductor package 10 is affixed so that the cover glass 12 protects the light receiving portion 11 a of the image sensor 11, and a centering cover glass 15 having a diameter larger than that of the semiconductor package 10 is attached to the front end side of the cover glass 12. ing.
  • the semiconductor package 10 is held by the holding frame 40 when the outer peripheral portion of the centering cover glass 15 that does not contact the semiconductor package 10 is brought into contact with the positioning portion 41 of the holding frame 40.
  • the light condensed by the lens unit enters the f1 surface (light receiving surface) of the image sensor 11 through the centering cover glass 15 and the cover glass 12.
  • a sensor electrode 13 and a bump 14 made of solder or the like are formed on the f2 surface of the image sensor 11.
  • the semiconductor package 10 is a CSP (Chip Size Package) in which the image pickup device chip in the wafer state is subjected to wiring, electrode formation, resin sealing, and dicing, and finally the size of the image pickup device chip becomes the size of the semiconductor package. ) Is preferable.
  • CSP Chip Size Package
  • the circuit board 20 has a main body portion 21 having a connection electrode 23 formed on the front surface, and protrudes from the back surface of the main body portion 21, and cable connection electrodes 24 are formed on two side surfaces f5 and f6 facing each other among the protruding side surfaces. And an attachment portion 22.
  • the main body portion 21 and the attachment portion 22 may be a substrate formed integrally or a combination of individually manufactured substrates.
  • the circuit board 20 is formed in a plate shape by laminating a plurality of substrates on which wiring is formed (a plurality of substrates parallel to the front surface f3 and the back surface f4 are laminated).
  • a substrate to be laminated As a substrate to be laminated, a ceramic substrate, a glass epoxy substrate, a flexible substrate, a glass substrate, a silicon substrate, or the like is used. A plurality of vias (not shown) are formed inside the circuit board 20 to conduct the wiring on the stacked boards.
  • a connection electrode 23 is formed on the surface f3 of the main body 21 of the circuit board 20, and is electrically and mechanically connected to the sensor connection 13 and the bump 14 of the semiconductor package 10.
  • the collective cable 30 is composed of 10 signal cables 31 that are single-wire cables, and the outer periphery of the signal cable 31 is covered with an overall shield and an overall covering. The total shield and the total covering are removed from the distal end portion of the collective cable 30.
  • the signal cable 31 includes a core wire 32 and an outer skin 33 provided on the outer periphery of the core wire 32. The outer end 33 of the signal cable 31 is removed so that the core wire 32 is exposed stepwise from the end.
  • the core wire 32 of the signal cable 31 is electrically and mechanically connected to the cable connection electrode 24 formed on the side surface f5 and the side surface f6 facing the mounting portion 22 of the circuit board 20 via solder (not shown). Connected.
  • the circuit board 20 and the plurality of signal cables 31 (collective cable 30) connected to the cable connection electrodes 24 on the side surface f5 and the side surface f6 of the circuit board 20 are arranged in the optical axis direction of the semiconductor package 10.
  • the size fits within the projection plane. Thereby, the diameter of the imaging unit 100 can be reduced.
  • the heat-shrinkable tube 50 covers the distal end side of the assembly cable 30 from the proximal end portion of the holding frame 40 and is closely fixed to the overall covering of the holding frame 40 and the assembly cable 30.
  • the space surrounded by the holding frame 40 and the heat shrinkable tube 50 is filled with an insulating first filler 60.
  • the first filler 60 is made of a highly moisture-proof material and can reduce the influence of humidity on the semiconductor package 10.
  • connection surface between the semiconductor package 10 and the circuit board 20, that is, the connection portion between the connection electrode 23 and the sensor electrode 13 is sealed with an insulating second filler 70.
  • the second filler 70 has a linear expansion per unit length smaller than that of the first filler 60 when heated from room temperature to sterilization temperature.
  • a second filler whose linear expansion per unit length at the sterilization temperature is smaller than the first filler 60 on the connection surface between the semiconductor package 10 and the circuit board 20 that require a small connection area and reliable connection.
  • the linear expansion per unit length of the sterilization temperature is 0 per unit length when the linear expansion at room temperature is 0 and the sterilization temperature is heated to the sterilization temperature (115 ° C. to 138 ° C.).
  • the filler is selected not by the linear expansion coefficient but by the linear expansion per unit length from room temperature to the sterilization temperature. It is preferable.
  • the viscosity of the second filler 70 before curing is preferably smaller than the viscosity of the first filler 60 before curing. This facilitates filling of the connection surface between the semiconductor package 10 and the circuit board 20 with the second filler 70.
  • the imaging unit 100 has a linear expansion per unit length smaller than that of the first filler 60 when the connection surface between the semiconductor package 10 and the circuit board 20 is heated from room temperature to sterilization temperature. Since the second filler 70 is filled, the influence on the connection portion due to thermal expansion during the sterilization process can be reduced. In addition, by using a highly moisture-proof material as the first filler 60, the influence of humidity on the semiconductor package 10 can be reduced. Further, the circuit board 20 and the plurality of signal cables 31 (collective cable 30) connected to the cable connection electrodes 24 on the side surface f5 and the side surface f6 of the circuit board 20 are within the projection plane of the semiconductor package 10 in the optical axis direction. Due to the size, the imaging unit 100 can be reduced in diameter.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of the imaging unit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a perspective view of the imaging unit shown in FIG. In FIG. 6, the holding frame 40, the heat shrinkable tube 50, the first filler 60, the second filler 70, and the centering cover glass 15 of the imaging unit 100A in FIG.
  • the circuit board 20A includes a first board 20A-1 and a second board 20A-2.
  • the first connection electrode 23A and the second connection electrode 25 are formed on the front surface f3 and the back surface f4, respectively, and the first connection electrode 23A on the front surface f3 side is the sensor electrode of the semiconductor package 10. 13 and the bumps 14 are electrically and mechanically connected.
  • the third connection electrode 27 is formed on the front surface f7
  • the cable connection electrode 24 is formed on the side surface f5 and the side surface f6, and the third connection electrode 27 is formed on the second substrate 20A-1.
  • the connection electrodes 25 are electrically and mechanically connected via the bumps 26.
  • the bumps 26 include solder balls, metal core solder balls, resin core balls, and gold bumps.
  • a recess 28 is provided on the back surface f4 of the first substrate 20A-1, and an electronic component 51 is mounted on a mounting land 29 formed in the recess 28 via a conductive member such as solder.
  • a second filler 70 is filled around the connection portion between the electronic component 51 and the mounting land 29, that is, between the bottom surface of the electronic component 51 and the recess 28.
  • the second filler 70 is filled between the back surface f4 of the first substrate 20A-1 and the front surface f7 of the second substrate 20A-2 and also in the recess 28.
  • the recess 28 is formed in the first substrate 20A-1, but the recess 28 may be formed in the second substrate 20A-2.
  • the second substrate 20A-2 is provided with stepped portions S1, S2, and S3 on the f5 surface and the side surface f6, which are the opposite side surfaces. Steps S1 to S3 are provided so that the side surface f5 and the side surface f6 are close to each other on the base end side of the semiconductor package 10 in the optical axis direction. Cable connection electrodes 24 are respectively arranged on the staircase portions S2 and S3, and the core wire 32 of the signal cable 31 is electrically and mechanically connected.
  • the imaging unit 100A includes a signal cable 31 (collective cable 30A) connected to the first substrate 20A-1, the second substrate 20A-2, and the cable connection electrode 24 in the optical axis direction of the semiconductor package 10.
  • the size is within the projection plane. Thereby, the diameter of the imaging unit 100A can be reduced.
  • the imaging unit 100A includes a connection surface between the semiconductor package 10 and the first substrate 20A-1, an f4 surface of the first substrate 20A-1, and an f7 surface of the second substrate 20A-2.
  • the recess 28 is filled with the second filler 70 having a linear expansion per unit length smaller than the first filler 60 when heated from room temperature to the sterilization temperature.
  • the influence on the connection part by thermal expansion can be reduced.
  • the influence of humidity on the semiconductor package 10 can be reduced.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view of the imaging unit according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a perspective view of the imaging unit shown in FIG.
  • FIG. 9 is a side view of the imaging unit shown in FIG. 8 and 9, illustration of the holding frame 40, the heat shrinkable tube 50, the first filler 60, the second filler 70, and the centering cover glass 15 of the imaging unit 100B in FIG. 7 is omitted. Yes.
  • an electronic component mounting area on which the electronic components 51 and 52 are mounted is provided on the back surface f4 of the circuit board 20B, and the attachment portion 22B that connects the signal cable 31 of the circuit board 20B.
  • the main body 21 are protruded from the main body 21 so that the center surfaces of the two opposing side surfaces f5 and f6 on which the cable connection electrode 24 is formed are shifted from the center surface of the semiconductor package 10.
  • the mounting portion 22B protrudes from the main body portion 21 in a stepped manner, and stepped portions S1 and S2 are provided on the side surface f5 and the side surface f6 that face each other.
  • the stepped portions S1 and S2 are provided so as to approach each other on the base end side of the semiconductor package 10 in the optical axis direction.
  • Cable connection electrodes 24 are respectively disposed on the step portions S1 and S2 on the side surface f5 side and the step portion S2 on the side surface f6 side, and the core wire 32 of the signal cable 31 is electrically and mechanically connected.
  • the cable connection electrode 24 formed on the side surface f5 side has the staircase portion S1 and the cable connection electrode 24 of the staircase portion S2 arranged in a staggered pattern (zigzag shape). Further, the cable connection electrodes 24 formed to face the stepped portions S2 on the side surface f5 and the side surface f6 are also arranged in a staggered pattern (zigzag shape). By disposing the cable connection electrodes 24 in a staggered pattern (zigzag), the mounting density of the signal cables 31 can be improved.
  • the attachment portion 22B has a side surface f5 formed opposite to the cable connection electrode 24 and a center surface a1 of the side surface f6 parallel to the side surface f5 and the side surface f6 of the attachment portion 22B of the semiconductor package 10. It is formed integrally with the main body portion 21 so as to shift from the central surface a2 of the side surface (shifted to the left side in FIG. 9) and protrude from the main body portion 21. Thereby, the one side of the back surface f4 of the main body 21 can be used as the electronic component mounting region R.
  • solder is supplied to the mounting land 29 from the upper side of the drawing with a dispenser needle.
  • the electronic component mounting region R is arranged on the one side of the back surface f4 of the main body portion 21 along with the mounting portion 22B. Therefore, when supplying solder with a dispenser needle, In particular, solder can be supplied accurately from above without interfering with the stepped portions S1 and S2, and the electronic components 51 and 52 can be easily and accurately mounted.
  • the electronic components 51 and 52 include capacitors (decoupling capacitors), it is possible to dispose the decoupling capacitors in the immediate vicinity of the image sensor 11 through the main body portion 21 close to the image sensor 11. Become. Therefore, the impedance between the image sensor 11 and the decoupling capacitor can be reduced, and the image sensor 11 can be stably driven and the image sensor 11 can be speeded up.
  • the second filler 70 is filled in the periphery of the connecting portion between the electronic components 51 and 52 and the mounting land 29, that is, between the bottom surfaces of the electronic components 51 and 52 and the back surface f4 of the main body portion 21. Further, the periphery of the electronic components 51 and 52 is sealed with the second filler 70.
  • the cable connection electrode 24 formed on the staircase portion S1 is formed apart from the main body portion 21, and the cable connection electrode 24 formed on the staircase portion S2 is formed separately from the staircase portion S1, and the staircase portion.
  • the cable connection electrode 24 formed in S1 is arranged so as to overlap the electronic components 51 and 52 in the optical axis direction.
  • the overlap with the electronic components 51 and 52 in the optical axis direction means that the length h1 from the end of the cable connection electrode 24 on the main body 21 side to the main body 21 is shorter than the height h2 of the electronic component 51. .
  • By forming the cable connection electrode 24 away from the main body portion 21 or the staircase portion S1 it is possible to reduce the risk of a short circuit due to solder flow. Further, by arranging the cable connection electrode 24 formed in the staircase portion S1 so as to overlap the electronic components 51 and 52 in the optical axis direction, the length of the mounting portion 22B in the optical axis direction is shortened.
  • the circuit board 20B, the electronic components 51 and 52, and the signal cable 31 (collective cable 30B) connected to the cable connection electrode 24 are within the projection plane of the semiconductor package 10 in the optical axis direction. It is a size. Thereby, the diameter of the imaging unit 100B can be reduced.
  • connection surface between the semiconductor package 10 and the circuit board 20B and the periphery of the connection part between the electronic components 51 and 52 and the mounting land 29 are heated from room temperature to a sterilization temperature. Since the second filler 70 whose linear expansion per unit length is smaller than the first filler 60 is filled, it is possible to reduce the influence on the connection portion due to thermal expansion during the sterilization process. In addition, by using a highly moisture-proof material as the first filler 60, the influence of humidity on the semiconductor package 10 can be reduced.
  • the main body portion 21 is provided with stepped portions S1 and S2 on two opposite side surfaces f5 and f6, but at least one side surface, preferably the side to be shifted (in the third embodiment, It is only necessary that the side surface f5) has the staircase portions S1 and S2, and the cable connection electrode 24 is provided on the staircase portions S1 and S2.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view of an imaging unit according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a perspective view from below of the imaging unit shown in FIG. 12 is a perspective view from above of the imaging unit shown in FIG.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining the positional relationship between the recesses of the circuit board of FIG. 10 and the sensor electrodes. 11 and 12, illustration of the holding frame 40, the heat shrinkable tube 50, the first filler 60, the second filler 70, and the centering cover glass 15 of the imaging unit 100D in FIG. 10 is omitted. Yes.
  • the imaging unit 100D includes a prism 16 that collects and reflects incident light, and the imaging element 11 receives the light incident from the prism 16.
  • the semiconductor package 10 is a so-called horizontal type in which the f1 surface, which is the light receiving surface of the image sensor 11, is placed parallel to the optical axis direction.
  • connection electrode 23 connected to the sensor electrode 13 and the cable connection electrode 24 connected to the signal cable 31 are arranged side by side on the front surface f3, and the wall portion 28-1 is arranged on the entire periphery of the back surface f4. , 28-2, 28-3, and 28-4 are formed. If the circuit board 20D is thinned to reduce the diameter of the imaging unit 100D, the circuit board 20D is warped, and the reliability of the connection between the semiconductor package 10 and the circuit board 20D may be reduced. By forming the wall portions 28-1, 28-2, 28-3, and 28-4 on the back surface of the 20D, it is possible to reduce warpage of the circuit board 20D.
  • connection electrode 23 connected to the sensor electrode 13 and a cable connection electrode 24 connected to the signal cable 31 extend in a direction in which the signal cable 31 extends (hereinafter referred to as an optical axis direction). ) are arranged side by side.
  • the cable connection electrodes 24 are arranged in a staggered pattern (zigzag) in order to reduce the diameter of the imaging unit 100D while improving the mounting density of the signal cables 31.
  • a mounting land 29 is formed in a region where the semiconductor package 10 on the back surface f4 is mounted, and an electronic component 51 is mounted on the mounting land 29 via a conductive member such as solder.
  • a region where the mounting land 29 is formed is surrounded by wall portions 28-1, 28-2, 28-3, and 28-4.
  • a second filler 70 is filled around the connection portion between the electronic component 51 and the mounting land 29, that is, between the bottom surface of the electronic component 51 and the back surface f4 of the circuit board 20D.
  • the second filler 70 is also filled in the recesses surrounded by the wall portions 28-1, 28-2, 28-3, 28-4.
  • the height h3 of the wall portions 28-1, 28-2, 28-3, and 28-4 is such that when the electronic component 51 is mounted on the mounting land 29, the upper surface of the electronic component 51 from the back surface f4 of the circuit board 22D. It is formed so as not to protrude, that is, to be higher than the height h4 of the electronic component 51. Further, the height h3 of the wall portions 28-1, 28-2, 28-3, and 28-4 is 0.2 to 0.00 when the thickness of the circuit board 20D is about 0.4 to 0.5 mm. The thickness is preferably about 3 mm, that is, about half the thickness of the circuit board 20D.
  • the size of the recess surrounded by the wall portions 28-1, 28-2, 28-3, 28-4 is such that the sensor electrode 13 (bump 14) of the semiconductor package 10 and the wall portion 28 are as shown in FIG. -1, 28-2, 28-3, and 28-4 have such a length that they overlap in the vertical direction.
  • the outer periphery of the sensor electrode 13 (bumps 14) and the four corners of the sensor electrode 13 (bumps 14) are warped of the circuit board 20D.
  • the size of the concave portion is set so that the wall portions 28-1, 28-2, 28-3, 28-4 overlap the sensor electrode 13 (bump 14) of the semiconductor package 10. Since the thickness of the circuit board 20D at the outer periphery of the sensor electrode 13 (bump 14) and the four corners of the sensor electrode 13 (bump 14) can be increased, the warp of the circuit board 20D can be effectively reduced.
  • the imaging unit 100D has a unit length when the connection surface between the semiconductor package 10 and the circuit board 20D and the periphery of the connection portion between the electronic component 51 and the mounting land 29 are heated from normal temperature to sterilization temperature. Since the second filler 70 having a smaller linear expansion than the first filler 60 is filled, it is possible to reduce the influence on the connection portion due to thermal expansion during the sterilization process. In addition, by using a highly moisture-proof material as the first filler 60, the influence of humidity on the semiconductor package 10 can be reduced.
  • wall portions 28-1, 28-2, 28-3, 28-4 are formed on all four sides on the back surface of the circuit board 20D, and the wall portions 28-1, 28-2, 28-4 are formed. -3, 28-4, the electronic component 51 is mounted in the recess surrounded by the wall 28-1, 28-2, 28-3, 28-4, at least in two opposing directions. Then, the warp of the circuit board 20D can be reduced.
  • the imaging unit and the endoscope of the present invention are useful for an endoscope system that requires high-quality images and a thin tip.

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Abstract

細径化を図りながら、接続信頼性の高い撮像ユニットおよび内視鏡を提供する。本発明における撮像ユニット100は、表面に撮像素子11の受光部が形成され、裏面にセンサ電極13が形成された半導体パッケージ10と、表面にセンサ電極13とバンプ14を介して接続されている接続電極23が形成される回路基板20と、半導体パッケージ10を覆う保持枠40および熱収縮チューブ50と、保持枠40および熱収縮チューブ50とにより囲繞された空間に充填されている第1の充填剤60と、半導体パッケージ10と回路基板20との接続面に充填され、滅菌温度の単位長さ当たりの線膨張が前記第1の充填剤60より小さい第2の充填剤70と、を備えることを特徴とする。

Description

撮像ユニットおよび内視鏡
 本発明は、被検体内に挿入される内視鏡の挿入部の先端に設けられて被検体内を撮像する撮像ユニットおよび内視鏡に関する。
 従来、医療分野および工業分野において、各種検査のために内視鏡装置が広く用いられている。このうち、医療用の内視鏡装置は、患者等の被検体の体腔内に、先端に撮像素子が設けられた細長形状をなす可撓性の挿入部を挿入することによって、被検体を切開せずとも体腔内の体内画像を取得でき、さらに、必要に応じて挿入部先端から処置具を突出させて治療処置を行うことができるため、広く用いられている。
 このような内視鏡装置の挿入部先端には、撮像素子と、該撮像素子の駆動回路を構成するコンデンサやICチップ等の電子部品やケーブルが実装された回路基板と、撮像素子と回路基板とを接続するTABテープ等の電気接続部材とを含む撮像ユニットが嵌め込まれ、撮像素子や電子部品の周囲には保護を目的とした充填剤が充填されている。
 医療用に用いられる内視鏡では、消毒滅菌のためにオートクレーブ滅菌(115~138℃、大気圧+0.2MPa程度)を行っているが、滅菌温度に加熱する際、充填剤の膨張によりTABテープや電子部品の接続部が破壊されるおそれがあるため、線膨張係数が異なる2種の封止樹脂を使用する撮像ユニットが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特許第4578913号公報
 近年、内視鏡のさらなる細径化の観点から、撮像素子チップの大きさがそのまま半導体パッケージの大きさとなるCSP(Chip Size Package)が撮像ユニットに使用され、TABテープ等を使用することなく、CSPのセンサ電極と回路基板の接続電極とをバンプ等により直接接続した撮像ユニットが提案されているが、半導体パッケージと回路基板とを直接接続する際に使用する充填剤については、何ら検討されていなかった。
 本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、細径化を図りながら、接続信頼性の高い撮像ユニットおよび内視鏡を提供することを目的とする。
 上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる撮像ユニットは、表面に撮像素子の受光部が形成され、裏面にセンサ電極が形成された半導体パッケージと、表面に前記センサ電極とバンプを介して電気的および機械的に接続されている接続電極が形成される回路基板と、前記半導体パッケージを覆う囲繞部材と、前記囲繞部材により囲繞された空間に充填されている第1の充填剤と、前記半導体パッケージと前記回路基板との接続面に充填され、滅菌温度の単位長さ当たりの線膨張が前記第1の充填剤より小さい第2の充填剤と、を備えることを特徴とする。
 また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第2の充填剤の硬化前の粘度は、前記第1の充填剤の硬化前の粘度より小さいことを特徴とする。
 また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記回路基板は、表面および裏面に第1の接続電極および第2の接続電極がそれぞれ形成され、表面側の第1の接続電極が前記半導体パッケージのセンサ電極と電気的および機械的に接続されている第1の基板と、表面に第3の接続電極、側面にケーブル接続電極が形成され、前記第3の接続電極が前記第1の基板の前記第2の接続電極と電気的および機械的に接続されている第2の基板と、を有し、前記第1の基板の裏面または前記第2の基板の表面に形成された凹部内に電子部品が実装され、前記第1の基板、前記第2の基板、および前記ケーブル接続電極に接続されたケーブルは、前記半導体パッケージの光軸方向に沿って見たとき、該光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする。
 また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第1の基板と前記第2の基板との接続部、および前記凹部内には、前記第2の充填剤が充填されていることを特徴とする。
 また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記回路基板は、前記接続電極が形成された本体部と、前記本体部の裏面に突出し、突出する側面のうち少なくとも対向する2側面にケーブル接続電極が形成された取付け部と、を有し、前記回路基板、および前記ケーブル接続電極に接続された複数のケーブルは、前記半導体パッケージの光軸方向に沿って見たとき、該光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする。
 また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記本体部の裏面には複数の電子部品が実装される電子部品実装領域が設けられ、前記取付け部は、前記ケーブル接続電極が形成された対向する2側面の中心面が、前記半導体パッケージの前記取付け部の2側面と平行な側面の中心面からシフトして前記本体部から突出し、前記電子部品実装領域は、前記本体部の裏面に前記取付け部と並べて配置されていることを特徴とする。
 また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記本体部と前記電子部品との接続部周辺には、前記第2の充填剤が充填されていることを特徴とする。
 また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記回路基板は、表面に前記センサ電極と接続される接続電極と、ケーブルが接続されるケーブル接続電極とが並べて配置されるとともに、裏面に電子部品が実装される凹部を有し、前記半導体パッケージは、前記撮像素子の受光部が光軸方向と平行に載置されることを特徴とする。
 また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記回路基板と前記電子部品との接続部周辺には、前記第2の充填剤が充填されていることを特徴とする。
 また、本発明にかかる内視鏡は、上記のいずれか一つに記載の撮像ユニットが先端に設けられた挿入部を備えたことを特徴とする。
 本発明によれば、半導体パッケージと回路基板との接続部に、常温から滅菌温度まで加熱した際の、単位長さ当たりの線膨張が小さい第2の充填剤を使用することにより、接続部の信頼性を向上することができる。
図1は、本発明の実施の形態1にかかる内視鏡システムの全体構成を模式的に示す図である。 図2は、図1に示す内視鏡先端部に配置される撮像ユニットの断面図である。 図3は、図2に示す撮像ユニットの斜視図である。 図4は、本発明の実施の形態1で使用する第1の充填剤と第2の充填剤の温度と線膨張との関係を示す図である。 図5は、本発明の実施の形態2にかかる撮像ユニットの断面図である。 図6は、図5に示す撮像ユニットの斜視図である。 図7は、本発明の実施の形態3にかかる撮像ユニットの断面図である。 図8は、図7に示す撮像ユニットの斜視図である。 図9は、図7に示す撮像ユニットの側面図である。 図10は、本発明の実施の形態4にかかる撮像ユニットの断面図である。 図11は、図10に示す撮像ユニットの下方からの斜視図である。 図12は、図10に示す撮像ユニットの上方からの斜視図である。 図13は、図10の回路基板の凹部とセンサ電極の位置関係を説明する図である。
 以下の説明では、本発明を実施するための形態(以下、「実施の形態」という)として、撮像ユニットを備えた内視鏡システムについて説明する。また、この実施の形態により、この発明が限定されるものではない。さらに、図面の記載において、同一部分には同一の符号を付している。さらにまた、図面は、模式的なものであり、各部材の厚みと幅との関係、各部材の比率等は、現実と異なることに留意する必要がある。また、図面の相互間においても、互いの寸法や比率が異なる部分が含まれている。
(実施の形態1)
 図1は、本発明の実施の形態1にかかる内視鏡システムの全体構成を模式的に示す図である。図1に示すように、本実施の形態1にかかる内視鏡システム1は、被検体内に導入され、被検体の体内を撮像して被検体内の画像信号を生成する内視鏡2と、内視鏡2が撮像した画像信号に所定の画像処理を施すとともに内視鏡システム1の各部を制御する情報処理装置3と、内視鏡2の照明光を生成する光源装置4と、情報処理装置3による画像処理後の画像信号を画像表示する表示装置5と、を備える。
 内視鏡2は、被検体内に挿入される挿入部6と、挿入部6の基端部側であって術者が把持する操作部7と、操作部7より延伸する可撓性のユニバーサルコード8と、を備える。
 挿入部6は、照明ファイバ(ライトガイドケーブル)、電気ケーブルおよび光ファイバ等を用いて実現される。挿入部6は、後述する撮像ユニットを内蔵した先端部6aと、複数の湾曲駒によって構成された湾曲自在な湾曲部6bと、湾曲部6bの基端部側に設けられた可撓性を有する可撓管部6cと、を有する。先端部6aには、照明レンズを介して被検体内を照明する照明部、被検体内を撮像する観察部、処理具用チャンネルを連通する開口部および送気・送水用ノズル(図示せず)が設けられている。
 操作部7は、湾曲部6bを上下方向および左右方向に湾曲させる湾曲ノブ7aと、被検体の体腔内に生体鉗子、レーザメス等の処置具が挿入される処置具挿入部7bと、情報処理装置3、光源装置4、送気装置、送水装置および送ガス装置等の周辺機器の操作を行う複数のスイッチ部7cと、を有する。処置具挿入部7bから挿入された処置具は、内部に設けられた処置具用チャンネルを経て挿入部6先端の開口部から表出する。
 ユニバーサルコード8は、照明ファイバ、ケーブル等を用いて構成される。ユニバーサルコード8は、基端で分岐しており、分岐した一方の端部がコネクタ8aであり、他方の基端がコネクタ8bである。コネクタ8aは、情報処理装置3のコネクタに対して着脱自在である。コネクタ8bは、光源装置4に対して着脱自在である。ユニバーサルコード8は、光源装置4から出射された照明光を、コネクタ8b、および照明ファイバを介して先端部6aに伝播する。また、ユニバーサルコード8は、後述する撮像ユニットが撮像した画像信号を、ケーブルおよびコネクタ8aを介して情報処理装置3に伝送する。
 情報処理装置3は、コネクタ8aから出力される画像信号に所定の画像処理を施すとともに、内視鏡システム1全体を制御する。
 光源装置4は、光を発する光源や、集光レンズ等を用いて構成される。光源装置4は、情報処理装置3の制御のもと、光源から光を発し、コネクタ8bおよびユニバーサルコード8の照明ファイバを介して接続された内視鏡2へ、被写体である被検体内に対する照明光として供給する。
 表示装置5は、液晶または有機EL(Electro Luminescence)を用いた表示ディスプレイ等を用いて構成される。表示装置5は、映像ケーブル5aを介して情報処理装置3によって所定の画像処理が施された画像を含む各種情報を表示する。これにより、術者は、表示装置5が表示する画像(体内画像)を見ながら内視鏡2を操作することにより、被検体内の所望の位置の観察および性状を判定することができる。
 次に、内視鏡システム1で使用する撮像ユニットについて詳細に説明する。図2は、図1に示す内視鏡先端部に配置される撮像ユニットの断面図である。図3は、図2に示す撮像ユニットの斜視図である。なお、図3では、図2の撮像ユニット100の保持枠40、熱収縮チューブ50、第1の充填剤60、第2の充填剤70、芯出しカバーガラス15の図示を省略するとともに、回路基板20の側面f5が手前側になるように90°回転した状態で示している。
 撮像ユニット100は、撮像素子11を有し、裏面であるf2面にセンサ電極13が形成された半導体パッケージ10と、接続電極23が形成された本体部21と、本体部21の裏面に突出する取付け部22と、を有する回路基板20と、複数の信号ケーブル31を撚り合せた集合ケーブル30と、半導体パッケージ10を保持する保持枠40と、保持枠40の基端部分を覆うカバー部材である熱収縮チューブ50と、保持枠40と熱収縮チューブ50とにより囲繞された空間に充填される第1の充填剤60と、半導体パッケージ10と回路基板20との接続面に充填される第2の充填剤70と、を備える。本実施の形態1において、保持枠40および熱収縮チューブ50が囲繞部材として機能する。なお、本実施の形態1では、囲繞部材が保持枠40と熱収縮チューブ50とから構成されているが、構成はこれに限ったものでなく、例えば、他の部材が組み入れられた構成としたり、熱収縮チューブ50だけの構成であってもよい。
 半導体パッケージ10は、カバーガラス12が撮像素子11の受光部11aを保護するように貼り付けられ、カバーガラス12の先端部側には半導体パッケージ10より大きな径を有する芯出しカバーガラス15が張り付けられている。半導体パッケージ10は、芯出しカバーガラス15の半導体パッケージ10と接しない外周部が、保持枠40の位置決め部41に当接されることにより、保持枠40により保持される。レンズユニットが集光した光は芯出しカバーガラス15、カバーガラス12を介して、撮像素子11のf1面(受光面)に入射する。撮像素子11のf2面には、センサ電極13、および、はんだ等からなるバンプ14が形成されている。半導体パッケージ10は、ウエハ状態の撮像素子チップに、配線、電極形成、樹脂封止、およびダイシングをして、最終的に撮像素子チップの大きさがそのまま半導体パッケージの大きさとなるCSP(Chip Size Package)であることが好ましい。
 回路基板20は、表面に接続電極23が形成された本体部21と、本体部21の裏面に突出し、突出する側面のうち対向する2つの側面f5および側面f6にケーブル接続電極24が形成された取付け部22と、を有する。本体部21と取付け部22とは一体形成された基板であっても、個別で作製した基板を組み合わせたものであってもよい。回路基板20は、配線が形成された複数の基板が積層されて板状をなしている(表面f3および裏面f4に平行な基板が複数積層)。積層される基板は、セラミックス基板、ガラエポ基板、フレキシブル基板、ガラス基板、シリコン基板等が用いられる。回路基板20の内部には、積層される基板上の配線を導通させる複数のビア(図示せず)が形成されている。
 回路基板20の本体部21の表面f3には接続電極23が形成され、半導体パッケージ10のセンサ接続13とバンプ14を介して電気的、および機械的に接続されている。
 集合ケーブル30は、10本の単線ケーブルである信号ケーブル31からなり、信号ケーブル31の外周は総合シールドおよび総合被覆によって覆われている。集合ケーブル30の先端部は、総合シールドおよび総合被覆が除去されている。また、信号ケーブル31は、芯線32と、芯線32の外周に設けられる外皮33と、を備える。信号ケーブル31の先端部は、芯線32が先端部から段階的に露出するよう外皮33が除去されている。本実施の形態1では、信号ケーブル31の芯線32は、回路基板20の取付け部22の対向する側面f5および側面f6に形成されたケーブル接続電極24に図示しない半田等を介して電気的および機械的に接続されている。また、実施の形態1において、回路基板20および回路基板20の側面f5および側面f6のケーブル接続電極24にそれぞれ接続された複数の信号ケーブル31(集合ケーブル30)は、半導体パッケージ10の光軸方向の投影面内に収まる大きさである。これにより、撮像ユニット100の細径化が可能となる。
 熱収縮チューブ50は、保持枠40の基端部から集合ケーブル30の先端側を覆い、保持枠40および集合ケーブル30の総合被覆に密着固定される。保持枠40と熱収縮チューブ50とにより囲繞された空間には、絶縁性の第1の充填剤60が充填される。第1の充填剤60は、防湿性が高い材料からなり、半導体パッケージ10への湿度による影響を低減することができる。
 半導体パッケージ10と回路基板20との接続面、すなわち接続電極23とセンサ電極13との接続部は、絶縁性の第2の充填剤70により封止されている。半導体パッケージ10と回路基板20との接続面を第2の充填剤70により封止することにより、接続強度を向上することができる。第2の充填剤70は、常温から滅菌温度まで加熱した際の、単位長さ当たりの線膨張が第1の充填剤60より小さい。接続面積が小さく、接続の信頼性が要求される半導体パッケージ10と回路基板20との接続面に、滅菌温度における単位長さ当たりの線膨張が第1の充填剤60より小さい第2の充填剤70を充填することにより、滅菌処理の際の熱膨張による接続部への影響を低減することができる。
 なお、滅菌温度の単位長さ当たりの線膨張とは、図4に示すように、常温時の線膨張を0とし、滅菌温度(115℃~138℃)まで加熱した際の単位長さ当たりの線膨張を意味する。図4に示すように、線膨張率は、ガラス転移点Tg1、Tg2で変化してしまうため、線膨張率ではなく、常温から滅菌温度までの単位長さ当たりの線膨張により充填剤を選定することが好ましい。第2の充填剤70として、常温から滅菌温度までの単位長さ当たりの線膨張が第1の充填剤60より小さいものを選択することにより、滅菌処理の際の熱膨張による接続部への影響を効果的に低減することができる。
 また、第2の充填剤70の硬化前の粘度は、第1の充填剤60の硬化前の粘度よりも小さいものであることが好ましい。これにより、半導体パッケージ10と回路基板20との接続面への第2の充填剤70の充填が容易となる。
 実施の形態1にかかる撮像ユニット100は、半導体パッケージ10と回路基板20との接続面に、常温から滅菌温度まで加熱した際の、単位長さ当たりの線膨張が第1の充填剤60より小さい第2の充填剤70を充填するため、滅菌処理の際の熱膨張による接続部への影響を低減することができる。また、第1の充填剤60として防湿性の高い材料を使用することにより、半導体パッケージ10への湿度による影響を低減することができる。さらに、回路基板20および回路基板20の側面f5および側面f6のケーブル接続電極24にそれぞれ接続された複数の信号ケーブル31(集合ケーブル30)は、半導体パッケージ10の光軸方向の投影面内に収まる大きさとするため、撮像ユニット100の細径化が可能となる。
(実施の形態2)
 図5は、本発明の実施の形態2にかかる撮像ユニットの断面図である。図6は、図5に示す撮像ユニットの斜視図である。なお、図6では、図5の撮像ユニット100Aの保持枠40、熱収縮チューブ50、第1の充填剤60、第2の充填剤70、芯出しカバーガラス15の図示を省略している。
 実施の形態2にかかる撮像ユニット100Aにおいて、回路基板20Aは、第1の基板20A-1と、第2の基板20A-2と、を有する。第1の基板20A-1は、表面f3および裏面f4に第1の接続電極23Aおよび第2の接続電極25がそれぞれ形成され、表面f3側の第1の接続電極23Aが半導体パッケージ10のセンサ電極13と、バンプ14を介して電気的および機械的に接続されている。第2の基板20A-2は、表面f7に第3の接続電極27、側面f5および側面f6にケーブル接続電極24が形成され、第3の接続電極27が第1の基板20A-1の第2の接続電極25と、バンプ26を介して電気的および機械的に接続されている。なお、バンプ26としては、はんだボールや金属コアはんだボール、樹脂コアボール、金バンプ等がある。
 第1の基板20A-1の裏面f4には、凹部28が設けられ、凹部28内に形成された実装ランド29に電子部品51が半田等の導電部材を介して実装されている。電子部品51と実装ランド29との接続部周辺、すなわち、電子部品51の底面と凹部28との間には、第2の充填剤70が充填されている。また、第1の基板20A-1の裏面f4と第2の基板20A-2の表面f7の間、および凹部28内にも、第2の充填剤70が充填されている。なお、本実施の形態2では、凹部28は、第1の基板20A-1に形成されているが、第2の基板20A-2に凹部28を形成してもよい。
 第2の基板20A-2は、対向する側面であるf5面と側面f6面に階段部S1、S2、およびS3が設けられている。側面f5と側面f6は半導体パッケージ10の光軸方向の基端側で互いに近づくように階段部S1~S3が設けられる。階段部S2、およびS3にはケーブル接続電極24がそれぞれ配置され、信号ケーブル31の芯線32が電気的および機械的に接続される。
 また、撮像ユニット100Aは、第1の基板20A-1、第2の基板20A-2、およびケーブル接続電極24に接続された信号ケーブル31(集合ケーブル30A)は、半導体パッケージ10の光軸方向の投影面内に収まる大きさである。これにより、撮像ユニット100Aの細径化が可能となる。
 実施の形態2にかかる撮像ユニット100Aは、半導体パッケージ10と第1の基板20A-1との接続面、第1の基板20A-1のf4面と第2の基板20A-2のf7面との間、および凹部28内に、常温から滅菌温度まで加熱した際の、単位長さ当たりの線膨張が第1の充填剤60より小さい第2の充填剤70を充填するため、滅菌処理の際の熱膨張による接続部への影響を低減することができる。また、第1の充填剤60として防湿性の高い材料を使用することにより、半導体パッケージ10への湿度による影響を低減することができる。
(実施の形態3)
 図7は、本発明の実施の形態3にかかる撮像ユニットの断面図である。図8は、図7に示す撮像ユニットの斜視図である。図9は、図7に示す撮像ユニットの側面図である。なお、図8および図9では、図7の撮像ユニット100Bの保持枠40、熱収縮チューブ50、第1の充填剤60、第2の充填剤70、芯出しカバーガラス15の図示を省略している。
 実施の形態3にかかる撮像ユニット100Bにおいて、回路基板20Bの裏面f4には、電子部品51および52が実装される電子部品実装領域が設けられ、回路基板20Bの信号ケーブル31を接続する取付け部22Bは、ケーブル接続電極24が形成された対向する2つの側面f5および側面f6の中心面が、半導体パッケージ10の中心面からシフトするよう本体部21から突出する。
 取付け部22Bは、本体部21から階段状に突出し、対向する側面f5と側面f6面に階段部S1、およびS2が設けられている。階段部S1およびS2は、半導体パッケージ10の光軸方向の基端側で互いに近づくように設けられる。側面f5側の階段部S1およびS2、ならびに側面f6側の階段部S2にはケーブル接続電極24がそれぞれ配置され、信号ケーブル31の芯線32が電気的および機械的に接続されている。
 図8に示すように、側面f5側に形成されるケーブル接続電極24は、階段部S1と階段部S2のケーブル接続電極24が千鳥格子状(ジグザグ状)に配置される。また、側面f5および側面f6の階段部S2に対向して形成されるケーブル接続電極24も、千鳥格子状(ジグザグ状)に配置される。ケーブル接続電極24を千鳥格子状(ジグザグ状)に配置することにより、信号ケーブル31の実装密度を向上することができる。
 取付け部22Bは、図9に示すように、ケーブル接続電極24が対向して形成される側面f5および側面f6の中心面a1が、半導体パッケージ10の取付け部22Bの側面f5、側面f6と平行な側面の中心面a2からシフト(図9では左側にシフト)して本体部21から突出するように、本体部21と一体的に形成されている。これにより、本体部21の裏面f4の一辺側を、電子部品実装領域Rとして使用することができる。電子部品51、52を本体部21の実装ランド29に実装する際、ディスペンサーニードルで図面上部側から実装ランド29にハンダを供給する。本実施の形態3では、電子部品実装領域Rを、本体部21の裏面f4の一辺側に、取付け部22Bと並べて配置するため、ディスペンサーニードルでハンダを供給する際、ディスペンサーニードルと取付け部22B、特に、階段部S1、S2と干渉することなく、上方から正確にハンダを供給することができ、電子部品51、52を簡易かつ精度よく実装することができる。
 また、電子部品51、52にコンデンサ(デカップリングコンデンサ)が含まれていた場合、撮像素子11に近接する本体部21を介して、撮像素子11の直近にデカップリングコンデンサを配置することが可能となる。そのため、撮像素子11とデカップリングコンデンサとの間のインピーダンスを低減することができ、撮像素子11の安定駆動、撮像素子11の高速化が可能となる。
 電子部品51および52と実装ランド29との接続部周辺、すなわち、電子部品51および52の底面と本体部21の裏面f4との間には、第2の充填剤70が充填されている。また、電子部品51および52の周囲を、第2の充填剤70で封止している。
 階段部S1に形成されるケーブル接続電極24は、本体部21から離間して形成されるとともに、階段部S2に形成されるケーブル接続電極24は、階段部S1から離間して形成され、階段部S1に形成されるケーブル接続電極24は、電子部品51、52と光軸方向に重なるように配置される。電子部品51、52と光軸方向に重なるとは、ケーブル接続電極24の本体部21側の端部から本体部21までの長さh1が、電子部品51の高さh2より短いことを意味する。ケーブル接続電極24を、本体部21または階段部S1から離間して形成することにより、はんだ流れによるショート等のリスクを低減できる。また、階段部S1に形成されるケーブル接続電極24を電子部品51、52と光軸方向に重なるように配置することにより、取付け部22Bの光軸方向の長さが短くなる。
 また、撮像ユニット100Bは、回路基板20B、電子部品51、および52、ならびにケーブル接続電極24に接続された信号ケーブル31(集合ケーブル30B)は、半導体パッケージ10の光軸方向の投影面内に収まる大きさである。これにより、撮像ユニット100Bの細径化が可能となる。
 実施の形態3にかかる撮像ユニット100Bは、半導体パッケージ10と回路基板20Bとの接続面、および電子部品51および52と実装ランド29との接続部周辺に、常温から滅菌温度まで加熱した際の、単位長さ当たりの線膨張が第1の充填剤60より小さい第2の充填剤70を充填するため、滅菌処理の際の熱膨張による接続部への影響を低減することができる。また、第1の充填剤60として防湿性の高い材料を使用することにより、半導体パッケージ10への湿度による影響を低減することができる。
 実施の形態3では、本体部21は、対向する2つの側面f5および側面f6に階段部S1およびS2が設けられているが、少なくとも1つの側面、好ましくはシフトされる側(実施の形態3では側面f5)の側面が階段部S1、S2をなし、階段部S1およびS2にケーブル接続電極24が設けられていればよい。
(実施の形態4)
 図10は、本発明の実施の形態4にかかる撮像ユニットの断面図である。図11は、図10に示す撮像ユニットの下方からの斜視図である。図12は、図10に示す撮像ユニットの上方からの斜視図である。図13は、図10の回路基板の凹部とセンサ電極の位置関係を説明する図である。なお、図11および図12では、図10の撮像ユニット100Dの保持枠40、熱収縮チューブ50、第1の充填剤60、第2の充填剤70、芯出しカバーガラス15の図示を省略している。
 撮像ユニット100Dは、入射光を集光し反射するプリズム16を備え、プリズム16から入射された光を撮像素子11が受光する。半導体パッケージ10は、撮像素子11の受光面であるf1面が光軸方向と平行に載置される、いわゆる横置き型である。
 回路基板20Dは、表面f3にセンサ電極13と接続される接続電極23と、信号ケーブル31が接続されるケーブル接続電極24とが並べて配置されるとともに、裏面f4の全周に壁部28-1、28-2、28-3、28-4が形成されている。撮像ユニット100Dの細径化のために回路基板20Dを薄くすると、回路基板20Dにそりが生じ、半導体パッケージ10と回路基板20Dとの間の接続の信頼性が低下するおそれがあるが、回路基板20Dの裏面に壁部28-1、28-2、28-3、28-4を形成することにより、回路基板20Dのそりを低減することができる。
 回路基板20Dの表面f3には、センサ電極13と接続される接続電極23と、信号ケーブル31が接続されるケーブル接続電極24とが、信号ケーブル31が延出する方向(以後、光軸方向という)に並べて配置されている。ケーブル接続電極24は、信号ケーブル31の実装密度を向上しながら撮像ユニット100Dを細径化するために、千鳥格子状(ジグザグ状)に配置されている。
 回路基板20Dは、裏面f4の半導体パッケージ10が実装される領域に、実装ランド29が形成され、この実装ランド29に電子部品51が半田等の導電部材を介して実装されている。実装ランド29が形成される領域は、壁部28-1、28-2、28-3、28-4で囲われている。電子部品51と実装ランド29との接続部周辺、すなわち、電子部品51の底面と回路基板20Dの裏面f4との間には、第2の充填剤70が充填されている。また、壁部28-1、28-2、28-3、28-4で囲われる凹部内にも、第2の充填剤70が充填されている。
 壁部28-1、28-2、28-3、28-4の高さh3は、実装ランド29に電子部品51が実装された際に、回路基板22Dの裏面f4から電子部品51の上面が突出しない高さ、すなわち、電子部品51の高さh4より高くなるように形成されている。また、壁部28-1、28-2、28-3、28-4の高さh3は、回路基板20Dの厚さが0.4~0.5mm程度である場合、0.2~0.3mm程度、すなわち、回路基板20Dの厚さの半分程度とすることが好ましい。
 また、壁部28-1、28-2、28-3、28-4で囲われる凹部の大きさは、図13に示すように、半導体パッケージ10のセンサ電極13(バンプ14)と壁部28-1、28-2、28-3、28-4が、鉛直方向に重なる程度の長さを有している。
 センサ電極13(バンプ14)がマトリックス状に配置された半導体パッケージ10の場合、センサ電極13(バンプ14)の外周部やセンサ電極13(バンプ14)の4つの角部が回路基板20Dの反りに与える影響が大きいが、凹部の大きさを、壁部28-1、28-2、28-3、28-4が半導体パッケージ10のセンサ電極13(バンプ14)に重なる程度の大きさとすることにより、センサ電極13(バンプ14)の外周部やセンサ電極13(バンプ14)の4つの角部の回路基板20Dの厚みを厚くできるため、回路基板20Dの反りを効果的に低減できる。
 実施の形態4にかかる撮像ユニット100Dは、半導体パッケージ10と回路基板20Dとの接続面、および電子部品51と実装ランド29との接続部周辺に、常温から滅菌温度まで加熱した際の、単位長さ当たりの線膨張が第1の充填剤60より小さい第2の充填剤70を充填するため、滅菌処理の際の熱膨張による接続部への影響を低減することができる。また、第1の充填剤60として防湿性の高い材料を使用することにより、半導体パッケージ10への湿度による影響を低減することができる。
 なお、実施の形態4では、回路基板20Dの裏面に、四方すべてに壁部28-1、28-2、28-3、28-4を形成し、壁部28-1、28-2、28-3、28-4により囲われる凹部内に電子部品51を実装しているが、壁部28-1、28-2、28-3、28-4は、少なくとも対向する2方向に形成されていれば、回路基板20Dの反りを低減することができる。
 本発明の撮像ユニット、および内視鏡は、高画質な画像、および先端部の細径化が要求される内視鏡システムに有用である。
 1 内視鏡システム
 2 内視鏡
 3 情報処理装置
 4 光源装置
 5 表示装置
 6 挿入部
 6a 先端部
 6b 湾曲部
 6c 可撓管部
 7 操作部
 7a 湾曲ノブ
 7b 処置具挿入部
 7c スイッチ部
 8 ユニバーサルコード
 8a、8b コネクタ
 10 半導体パッケージ
 11 撮像素子
 12 カバーガラス
 13 センサ電極
 14、26 バンプ
 15 芯出しカバーガラス
 16 プリズム
 20、20B、20D 回路基板
 20A-1 第1の基板
 20A-2 第2の基板
 21 本体部
 22 取付け部
 23 接続電極
 23A 第1の接続電極
 24 ケーブル接続電極
 25 第2の接続電極
 27 第3の接続電極
 28 凹部
 30 集合ケーブル
 31 信号ケーブル
 32 芯線
 33 外皮
 40 保持枠
 50 熱収縮チューブ
 51、52 電子部品
 60 第1の充填剤
 70 第2の充填剤
 100、100A、100B、100D 撮像ユニット

Claims (10)

  1.  表面に撮像素子の受光部が形成され、裏面にセンサ電極が形成された半導体パッケージと、
     表面に前記センサ電極とバンプを介して電気的および機械的に接続されている接続電極が形成される回路基板と、
     前記半導体パッケージを覆う囲繞部材と、
     前記囲繞部材により囲繞された空間に充填されている第1の充填剤と、
     前記半導体パッケージと前記回路基板との接続面に充填され、滅菌温度の単位長さ当たりの線膨張が前記第1の充填剤より小さい第2の充填剤と、
     を備えることを特徴とする撮像ユニット。
  2.  前記第2の充填剤の硬化前の粘度は、前記第1の充填剤の硬化前の粘度より小さいことを特徴とする請求項1に記載の撮像ユニット。
  3.  前記回路基板は、
     表面および裏面に第1の接続電極および第2の接続電極がそれぞれ形成され、表面側の第1の接続電極が前記半導体パッケージのセンサ電極と電気的および機械的に接続されている第1の基板と、
     表面に第3の接続電極、側面にケーブル接続電極が形成され、前記第3の接続電極が前記第1の基板の前記第2の接続電極と電気的および機械的に接続されている第2の基板と、
     を有し、
     前記第1の基板の裏面または前記第2の基板の表面に形成された凹部内に電子部品が実装され、
     前記第1の基板、前記第2の基板、および前記ケーブル接続電極に接続されたケーブルは、前記半導体パッケージの光軸方向に沿って見たとき、該光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする請求項1または2に記載の撮像ユニット。
  4.  前記第1の基板と前記第2の基板との接続部、および前記凹部内には、前記第2の充填剤が充填されていることを特徴とする請求項3に記載の撮像ユニット。
  5.  前記回路基板は、前記接続電極が形成された本体部と、前記本体部の裏面に突出し、突出する側面のうち少なくとも対向する2側面にケーブル接続電極が形成された取付け部と、を有し、
     前記回路基板、および前記ケーブル接続電極に接続された複数のケーブルは、前記半導体パッケージの光軸方向に沿って見たとき、該光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする請求項1または2に記載の撮像ユニット。
  6.  前記本体部の裏面には複数の電子部品が実装される電子部品実装領域が設けられ、
     前記取付け部は、前記ケーブル接続電極が形成された対向する2側面の中心面が、前記半導体パッケージの前記取付け部の2側面と平行な側面の中心面からシフトして前記本体部から突出し、
     前記電子部品実装領域は、前記本体部の裏面に前記取付け部と並べて配置されていることを特徴とする請求項5に記載の撮像ユニット。
  7.  前記本体部と前記電子部品との接続部周辺には、前記第2の充填剤が充填されていることを特徴とする請求項6に記載の撮像ユニット。
  8.  前記回路基板は、表面に前記センサ電極と接続される接続電極と、ケーブルが接続されるケーブル接続電極とが並べて配置されるとともに、裏面に電子部品が実装される凹部を有し、
     前記半導体パッケージは、前記撮像素子の受光部が光軸方向と平行に載置されることを特徴とする請求項1または2に記載の撮像ユニット。
  9.  前記回路基板と前記電子部品との接続部周辺には、前記第2の充填剤が充填されていることを特徴とする請求項8に記載の撮像ユニット。
  10.  請求項1~9のいずれか一つに記載の撮像ユニットが先端に設けられた挿入部を備えたことを特徴とする内視鏡。
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