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WO2009110162A1 - 微細構造物の製造方法 - Google Patents

微細構造物の製造方法 Download PDF

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WO2009110162A1
WO2009110162A1 PCT/JP2009/000062 JP2009000062W WO2009110162A1 WO 2009110162 A1 WO2009110162 A1 WO 2009110162A1 JP 2009000062 W JP2009000062 W JP 2009000062W WO 2009110162 A1 WO2009110162 A1 WO 2009110162A1
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WO
WIPO (PCT)
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pattern
film
compound
resin composition
mpa
Prior art date
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Ceased
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PCT/JP2009/000062
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English (en)
French (fr)
Inventor
三宅弘人
伊吉就三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daicel Corp
Original Assignee
Daicel Chemical Industries Ltd
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Publication date
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Priority to EP09718005A priority patent/EP2261007A1/en
Priority to US12/920,601 priority patent/US20110008577A1/en
Publication of WO2009110162A1 publication Critical patent/WO2009110162A1/ja
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Ceased legal-status Critical Current

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    • Y10T428/24479Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness

Definitions

  • the present invention relates to a method of manufacturing a fine structure using a fine pattern forming method suitable for forming a fine pattern with high accuracy by nanoimprint processing in the field of microlithography, and a fine structure manufactured by this method. Concerning structures.
  • the nanoimprint method is expected as an alternative method.
  • the nanoimprint method after heating and softening the thermoplastic resin, the mold is pressed to create a pattern, and after applying the photocurable compound to the substrate, the mold is pressed and the composition is exposed by exposure.
  • the UV-nanoimprint method in which a pattern is formed by curing, is mainly known. Although both are excellent methods, the UV-nanoimprint method is cured by light, and since there is no heating and cooling process in the thermal nanoimprint method, it is expected that a higher throughput can be expected. In addition, since a transparent mold is used, it is a great feature that higher positional accuracy can be easily obtained. Further, the composition by the UV-nanoimprint method is mainly composed of a combination of liquid monomers, and one of the major features is that a pattern can be formed at a very low transfer pressure as compared with the thermal nanoimprint method.
  • Patent Document 1 describes a nanoimprint method based on thermoplastic deformation caused by a relief present on a rigid stamp of a resist adhered to the entire surface of a substrate.
  • a thermoplastic resin polymethyl methacrylate, PMMA
  • PMMA polymethyl methacrylate
  • a rigid stamp is used because of the normal fluctuation width of about 100 nm thickness over the entire wafer surface. It is impossible to structure 6, 8 and 12 inch wafers in one step. Thus, a complicated “step and repeat” method must be used, which is inadequate for reheating adjacent regions that have already been structured.
  • Patent Document 2 Patent Document 3 and Patent Document 4, the stamp is wetted with a UV curable resist (self-assembled monolayer, such as alkylsiloxane) and then pressed onto a smooth substrate. Similar to the conventional stamp process, when the stamp is raised from the substrate surface, a structured resist material remains. The resist material used exhibits sufficient wetting with respect to the substrate, but is not suitable for a peeling method and does not have sufficient etching resistance. Moreover, since the dimension of the structure is in the region of 1 ⁇ m, it is too large exceeding one order of size.
  • a UV curable resist self-assembled monolayer, such as alkylsiloxane
  • Patent Document 5 describes a pattern forming method using a dry film. Although an excellent pattern shape can be easily obtained at a transfer pressure of 2.5 MPa, the entire film thickness is as large as 10 ⁇ m or more, and the remaining film after transfer is large, so that it is not suitable as an alternative to photolithography.
  • Another object of the present invention is to provide a microstructure manufactured by the method for manufacturing a microstructure.
  • the present inventors have used a specific transfer condition as a transfer resist (nanoimprint resist), so that defects such as pattern deformation and pattern omission are also applied to a thin film by a mechanical transfer stamping method.
  • the inventors have found that an excellent fine pattern with a small remaining film thickness and a small thickness can be stably formed, and the present invention has been completed.
  • a coating film comprising a photocurable resin composition for nanoimprinting containing a curable compound containing a cationic polymerizable compound and / or a radical polymerizable compound is provided on a support.
  • a step of transferring the pattern to the film by pressing at a pressure of 5 to 100 MPa using a nano stamper, and (2) curing the film to which the pattern is transferred to obtain a microstructure. It is the manufacturing method of the fine structure which gives a fine structure by giving a nanoimprint process to a resin composition.
  • the present invention includes a fine structure obtained by the above manufacturing method.
  • the fine structure include a semiconductor material, a flat screen, an optical member (a diffractive condensing film, a polarizing film, etc.), a hologram, a waveguide, a structure for media, a precision mechanical component, and a sensor.
  • nanoimprint refers to a normal nanoimprint (nanoimprint in a narrow sense) that transfers a pattern by pressing a nanostamper on a coating provided on a support, and a mold in which a fine pattern is formed as a nanostamper. It is used to mean including a fine pattern transfer technique (in a broad sense, nanoimprint) using a mold in which a resin composition is poured onto the mold, a support is stacked on the mold, and pressing is performed from the uppermost surface.
  • a cation curing system and / or a radical curable system is used as a resist for fine structuring such as a semiconductor material, a flat screen, a hologram, a structure for media, a precision mechanical component, and a sensor.
  • a transfer pressure in the range of 5 MPa to 100 MPa, an excellent pattern shape with few defects can be obtained.
  • the method for producing a fine structure of the present invention when used for lithography, it is possible to stably obtain a pattern formation with a small residual film thickness that is particularly important.
  • the fine structure manufacturing method of the present invention the photolithographic method capable of obtaining an excellent aspect ratio with high resolution is substantially superior in line edge roughness, and more economical in microstructuring methods such as electronic parts.
  • a method for manufacturing a microstructure is provided.
  • the coating film / support film laminate is peeled from the nano stamper (including the mold) after curing of the coating film of the photocurable resin composition is excellent in pattern accuracy.
  • pattern deformation and pattern omission on the support film are, for example, 1 to 10 or less, and in particular, a fine structure of 1 or less can be obtained.
  • the method for producing a fine structure by subjecting the resin composition of the present invention to nanoimprint processing (1) A film made of a photocurable resin composition for nanoimprinting containing a curable compound containing a cationically polymerizable compound and / or a radically polymerizable compound is formed on a support, and 5 to 100 MPa using a nanostamper A step in which the pattern is transferred to the film by pressure pressing; and (2) a step in which the film to which the pattern has been transferred is cured to obtain a fine structure.
  • Step (1) As the curable compound, a photo cation curing type, a photo radical curing type, or a combination type thereof can be used. Moreover, the compound which has a cationic polymerizable compound which has hardening expansibility, and a radiation sensitive cationic polymerization initiator, or a compound which has an unsaturated group and an acid group can be used.
  • cationic curable monomer cationic polymerizable compound
  • examples of the cationic curable monomer include epoxy compounds, vinyl ether compounds, oxetane compounds, carbonate compounds, dithiocarbonate compounds, and the like.
  • Examples of the compound having an epoxy group include an alicyclic epoxy resin (for example, Celoxide 2000, 2021, 3000, EHPE3150CE manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd .; Epoxy VG-3101 manufactured by Mitsui Petrochemical Co., Ltd .: E-1031S manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd .; TETRAD-X, TETRAD-C manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd .; EPB-13, EPB-27 manufactured by Nippon Soda Co., Ltd., etc.) It is done.
  • the hybrid compound which has an epoxy group and a (meth) acryl group can be used. Examples thereof include 3,4-epoxycyclohexylmethyl (meth) acrylate, glycidyl methacrylate, vinyl glycidyl ether and the like. These can be used alone or in combination.
  • the vinyl group-containing compound (vinyl ether compound or the like) is not particularly limited as long as it is a compound having a vinyl group.
  • Commercially available products include 2-hydroxyethyl vinyl ether (HEVE), diethylene glycol monovinyl ether (DEGV), 2-hydroxybutyl vinyl ether (HBVE), triethylene glycol divinyl ether manufactured by Maruzen Petrochemical Co., Ltd., RAPI-CURE series manufactured by ISP, V-PYROL (trademark) ⁇ (N-Viny-2-Pyrrolidone), V-CAPTM (N-Vinyl-2-Caprolactam) and the like.
  • vinyl compounds having a substituent such as alkyl or allyl at the ⁇ and / or ⁇ positions can be used.
  • the vinyl ether compound containing cyclic ether groups, such as an epoxy group and / or an oxetane group can be used. Examples thereof include oxynorbornene divinyl ether and 3,3-dimethanol oxetane divinyl ether.
  • the hybrid compound which has a vinyl group and a (meth) acryl group can be used. Examples of commercially available products include 2- (2-vinyloxyethoxy) ethyl (VEEA, VEEM) manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd. These can be used alone or in combination.
  • the oxetanyl group-containing compound is not particularly limited as long as it is a compound having an oxetanyl group.
  • Commercially available products include 3-ethyl-3- (phenoxymethyl) oxetane (POX), di [1-ethyl (3-oxetanyl)] methyl ether (DOX), 3-ethyl-3- (2 -Ethylhexyloxymethyl) oxetane (EHOX), 3-ethyl-3- ⁇ [3- (triethoxysilyl) propoxy] methyl ⁇ oxetane (TESOX), oxetanylsilsesquioxane (OX-SQ), phenol novolac oxetane ( PNOX-1009) and the like.
  • POX 3-ethyl-3- (phenoxymethyl) oxetane
  • DOX di [1-ethyl (3-oxetanyl)] methyl
  • a hybrid compound (1-ethyl-3-oxetanylmethyl (meth) acrylate) having an oxetanyl group and a (meth) acryl group can be used.
  • These oxetane compounds may be used alone or in combination.
  • the carbonate compound and dithiocarbonate compound are not particularly limited as long as they are compounds having a carbonate group or a dithiocarbonate group in the molecule.
  • the photocurable resin composition in this invention can control cure shrinkage by making a hardening expansible compound into one component, and it becomes possible to produce the outstanding pattern shape.
  • the cationically polymerizable compound having a curable expansion property include a cyclic ether compound and a carbonate compound.
  • the following compound 1 is exemplified as a typical cyclic ether compound
  • the following compound 2 is exemplified as a carbonate-based compound.
  • Compound 1 has the following general formula (1) (Wherein R 1 to R 18 are the same or different and each represents a hydrogen atom, a halogen atom, an oxygen atom or an alkyl group that may contain a halogen atom, or an alkoxy group that may have a substituent) It is an epoxy compound which has a bicyclo ring represented by these.
  • Compound 2 has the following general formula (2) Wherein R 19a is the same or different and is a hydrogen atom, a monovalent or polyvalent hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, a monovalent or polyvalent alkyl ester, or a monovalent or polyvalent alkyl ether.
  • R 19b represents a hydrogen atom or an alkyl group
  • R 20 to R 23 are the same or different and represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group or an alkoxy group
  • p represents an integer of 1 to 6.
  • M and n each represents an integer of 0 to 3
  • X, Y and Z each represents an oxygen atom or a sulfur atom, provided that when p is 1, R 19a is a hydrogen atom or a monovalent group having 1 to 10 carbon atoms.
  • Indicate It is a carbonate type compound represented by these.
  • the above compound preferably has a structure having a functional group having photocationic polymerizability.
  • an ideal photocurable composition for nanoimprinting can be obtained in which cure shrinkage can be controlled and volume shrinkage does not occur.
  • radical curable monomer examples include (meth) acrylic acid ester compounds, styrene compounds, acrylic silane compounds, and polyfunctional monomers.
  • (meth) acrylic acid ester compounds include (meth) acrylates such as methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, and hexyl (meth) acrylate. ) Acrylic acid alkyl esters, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) acrylate, hydroxybutyl (meth) acrylate, caprolactone modified 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, etc.
  • (meth) acrylic having a hydroxyl group Acid esters, methoxydiethylene glycol (meth) acrylate, ethoxydiethylene glycol (meth) acrylate, isooctyloxydiethylene glycol (meth) acrylate, phenoxytrie Glycol (meth) acrylate, methoxy triethylene glycol (meth) acrylate, etc. (meth) acrylates such as methoxy polyethylene glycol (meth) acrylate.
  • styrene compound examples include styrene and methylstyrene.
  • acrylic silane compounds include ⁇ -acryloxypropyltrimethoxysilane, ⁇ -acryloxypropyltriethoxysilane, ⁇ -acryloxypropylmethyldimethoxysilane, ⁇ -acryloxypropylmethyldiethoxysilane, and acryloxyethoxypropyl.
  • examples include trimethoxysilane, acryloxyethoxypropyltriethoxysilane, acryloxydiethoxypropyltrimethoxysilane, and acryloxydiethoxypropyltriethoxysilane.
  • a compound containing a radically polymerizable unsaturated group and having at least one acid group can be used. Specifically, (meth) acrylic acid; vinylphenol; modified unsaturated monocarboxylic acid chain-extended between an unsaturated group and a carboxylic acid, such as ⁇ -carboxyethyl (meth) acrylate, 2-acryloyloxyethyl Succinic acid, 2-acryloyloxyethyl phthalic acid, 2-acryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid, unsaturated monocarboxylic acid having an ester bond such as lactone modification, modified unsaturated monocarboxylic acid having an ether bond; or maleic acid, etc.
  • (meth) acrylic acid; vinylphenol; modified unsaturated monocarboxylic acid chain-extended between an unsaturated group and a carboxylic acid such as ⁇ -carboxyethyl (meth) acrylate, 2-acryloyloxyethyl Succinic
  • those containing two or more carboxylic acid groups in the molecule may be used alone or in combination.
  • particularly preferred is a modified unsaturated monocarboxylic acid chain-extended with a lactone between the unsaturated group and the carboxylic acid.
  • Compound 3 has the following general formula (3) (In the formula, R 31 represents a hydrogen atom or a methyl group. R 32 and R 33 each represents a hydrogen atom, a methyl group or an ethyl group. Q is an integer of 4 to 8, and s is an integer of 1 to 10.) Represents.) A compound obtained by modifying (meth) acrylic acid with a lactone.
  • Compound 4 has the following general formula (4) (In the formula, R 31 , R 32 and R 33 are the same as above.
  • R 34 is a divalent aliphatic saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, divalent fat having 3 to 6 carbon atoms. Represents a cyclic saturated or unsaturated hydrocarbon group, p-xylene, phenylene group, etc. q and s are the same as above.)
  • the photocurable resin composition for nanoimprint used in the method for producing a microstructure according to the present invention is preferably a cationically polymerizable compound having curing expandability (for example, the formula (1), (Compound represented by (2)) at least.
  • the content of the compound is, for example, from 1 to 80 parts by weight, preferably from 5 to 70 parts by weight, more preferably from 10 to 60 parts by weight, and particularly preferably from 25 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the cationic polymerizable compound. 50 parts by weight. Thereby, hardening shrinkage
  • the photocurable resin composition for nanoimprint used in the method for producing a microstructure of the present invention is preferably at least selected from the group consisting of an epoxy compound, a vinyl ether compound and an oxetane compound as a cationic polymerizable compound.
  • the content of the epoxy compound (the former) and at least one compound selected from the group consisting of a vinyl ether compound and an oxetane compound (the latter) is such that the former / the latter (weight ratio) is, for example, 20/80 to 99/1, It is preferably 30/70 to 95/5, more preferably 40/60 to 90/10.
  • the reaction rate can be greatly improved, curing can be performed with weak exposure, and an excellent pattern shape can be obtained with high throughput.
  • the photocurable resin composition for nanoimprint used in the method for producing a microstructure of the present invention preferably contains a compound having an unsaturated group and an acid group as a radical polymerizable compound.
  • the content of this compound is, for example, 1 to 50 parts by weight, preferably 2 to 40 parts by weight, and more preferably 2 to 15 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the radical polymerizable compound.
  • the photocurable resin composition for nanoimprint used in the method for producing a microstructure of the present invention preferably contains both a cationic polymerizable compound and a radical polymerizable compound.
  • the content of the cationic polymerizable compound (the former) and the radical polymerizable compound (the latter) is such that the former / the latter (weight ratio) is, for example, 1/99 to 99/1, preferably 10/90 to 95/5, and more preferably Is 30/70 to 90/10.
  • An excellent pattern can be obtained by transferring a pattern by pressing a nanostamper on the film of the photocurable resin composition, for example, at a pressure of 5 to 100 MPa, preferably 10 to 100 MPa, particularly preferably higher than 10 MPa and 100 MPa or less.
  • a fine structure having a shape and pattern accuracy can be obtained, and can be suitably used for microlithography.
  • the nanostamper is pressed to a film of the above resin composition at a pressure lower than 5 MPa to transfer the pattern, sufficient pattern accuracy cannot be obtained.
  • binder resin examples of the binder resin that can be used in the photocurable resin composition in the present invention include polymethacrylic acid ester or a partially hydrolyzed product thereof, polyvinyl acetate, or a hydrolyzed product thereof, polyvinyl alcohol, or a partially acetalized product thereof, and triacetyl.
  • Cellulose Polyisoprene, polybutadiene, polychloroprene, silicone rubber, polystyrene, polyvinyl butyral, polychloroprene, polyvinyl chloride, polyarylate, chlorinated polyethylene, chlorinated polypropylene, poly-N-vinylcarbazole, or derivatives thereof, poly-N -Vinylpyrrolidone, or derivatives thereof, copolymers of styrene and maleic anhydride, or half esters thereof, acrylic acid, acrylic ester, methacrylic acid, methacrylic ester, acrylamide, Krill nitrile, ethylene, propylene, vinyl chloride, and copolymers and at least one polymerizable component copolymerizable monomers groups such as vinyl acetate or mixtures thereof, are used.
  • an oligomer type curable resin can be used as the binder resin.
  • examples thereof include epoxidized resins containing unsaturated groups such as epoxidized polybutadiene and epoxidized butadiene styrene block copolymer.
  • Commercially available products include Epolide PB and ESBS manufactured by Daicel Chemical Industries.
  • a binder resin a copolymerization type epoxy resin (for example, CP-50M, CP-50S, manufactured by Nippon Oil & Fats Co., Ltd., which is a copolymer of glycidyl methacrylate and styrene, a copolymer of glycidyl methacrylate, styrene, and methyl methacrylate).
  • a copolymer of glycidyl methacrylate and cyclohexylmaleimide for example, CP-50M, CP-50S, manufactured by Nippon Oil & Fats Co., Ltd., which is a copolymer of glycidyl methacrylate and styrene, a copolymer of glycidyl methacrylate, styrene, and methyl methacrylate.
  • a copolymer of glycidyl methacrylate and cyclohexylmaleimide
  • a cationic curable resin having a special structure for example, 3,4-epoxycyclohexylmethyl (meth) acrylate, 1-ethyl-3-oxetanylmethyl (meth) acrylate, 2- (2-vinyloxy)) (Ethoxy) ethyl (meth) acrylate), for example, a copolymer of 3,4-epoxycyclohexylmethyl (meth) acrylate and styrene, 3,4-epoxycyclohexyl (meth) acrylate and butyl acrylate Copolymer of 3,4-epoxycyclohexylmethyl (meth) acrylate, a copolymer of styrene and methyl methacrylate, manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd. Cell Top, 3,4-epoxycyclohexylmethyl (meth) acrylate and 1 -Ethyl-3-oxe And
  • a binder resin for example, a novolak type epoxy resin (for example, novolaks obtained by reacting phenols such as phenol, cresol, halogenated phenol and alkylphenol with formaldehyde in the presence of an acidic catalyst, epichlorohydrin and / or methyl epichlorohydrin is used. It is also possible to use what is obtained by reaction etc. As a commercial item, Nippon Kayaku Co., Ltd.
  • a binder resin for example, a bisphenol type epoxy resin (for example, a resin obtained by reacting bisphenols such as bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S and tetrabromobisphenol A with epichlorohydrin, or diglycidyl ether of bisphenol A and the bisphenol is used. It is also possible to use a product obtained by reacting a condensate of a kind with epichlorohydrin, etc.
  • the commercially available products include Yuka Shell Co., Ltd., Epicoat 1004, Epicoat 1002; 330, DER-337 and the like.
  • the binder resin it is also possible to use a resin obtained by reacting epichlorohydrin and / or methyl epichlorohydrin such as trisphenol methane and tris-resole methane.
  • a resin obtained by reacting epichlorohydrin and / or methyl epichlorohydrin such as trisphenol methane and tris-resole methane.
  • examples of the commercially available products include EPPN-501 and EPPN-502 manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. Tris (2,3-epoxypropyl) isocyanurate, biphenyldiglycidyl ether, and the like can also be used. These epoxy resins may be used alone or in combination.
  • the binder resin is used in an amount of, for example, 0 to 100 parts by weight (about 1 to 100 parts by weight), preferably 3 to 80 parts by weight, and more preferably 5 to 40 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the total amount of the curable compound. it can.
  • the photocurable resin composition in the present invention may further contain a radiation-sensitive cationic polymerization initiator.
  • a radiation-sensitive cationic polymerization initiator can be used without particular limitation as long as it generates an acid upon irradiation with a known active energy ray. Examples thereof include sulfonium salts, iodonium salts, phosphonium salts, and pyridinium salts. be able to.
  • sulfonium salt examples include triphenylsulfonium hexafluorophosphate, triphenylsulfonium hexafluoroantimonate, bis (4- (diphenylsulfonio) -phenyl) sulfide-bis (hexafluorophosphate), bis (4- (diphenylsulfo).
  • iodonium salt examples include diphenyliodonium hexafluorophosphate, diphenyliodonium hexafluoroantimonate, bis (dodecylphenyl) iodonium tetrakis (pentafluorophenyl) borate, JP-A-6-184170, US Pat. No. 4,256,828, etc. And aromatic iodonium salts described in the above.
  • Examples of the phosphonium salt include tetrafluorophosphonium hexafluorophosphate, tetrafluorophosphonium hexafluoroantimonate, and aromatic phosphonium salts described in JP-A-6-157624.
  • pyridinium salts examples include pyridinium salts described in Japanese Patent No. 2519480, Japanese Patent Laid-Open No. 5-222112, and the like.
  • the anion of the radiation-sensitive cationic polymerization initiator is SbF 6 ⁇ or the following formula (5) (Each X1 to X4 in the formula represents an integer of 0 to 5, and the total of all is 1 or more.)
  • the borates represented by (Compound 5) are preferred because of high reactivity. More preferred examples of the borates include tetrakis (pentafluorophenyl) borate.
  • Sulfonium salts and iodonium salts can be easily obtained from the market.
  • radiation-sensitive cationic polymerization initiators that can be easily obtained from the market include UVI-6990 and UVI-6974 manufactured by Union Carbide, Adeka Optomer SP-170 and Adeka manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.
  • examples thereof include sulfonium salts such as optomer SP-172 and iodonium salts such as PI 2074 manufactured by Rhodia.
  • the addition amount of these radiation-sensitive cationic polymerization initiators is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 15 parts by weight, more preferably 1 to 12 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the cationic curable polymer.
  • the photocurable resin composition in the present invention may further contain a radiation-sensitive radical polymerization initiator.
  • Radiation sensitive radical polymerization initiators include benzoin / benzoin alkyl ethers such as benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether; acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxy -2-phenylacetophenone, 1,1-dichloroacetophenone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- ( Acetophenones such as 4-morpholinophenyl) -butan-1-one; 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2-tertiarybutylanthraquinone, 1-chloroan
  • thioxanthones such as 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, and 2,4-isopropylthioxanthone
  • ketals such as acetophenone dimethyl ketal and benzyldimethyl ketal
  • benzophenones such as benzophenone Xanthones
  • known and commonly used photopolymerization initiators such as 1,7-bis (9-acridinyl) heptane may be used alone or in combination of two or more.
  • photopolymerization initiators include tertiary amines such as N, N-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester, N, N-dimethylaminobenzoic acid isoamyl ester, pentyl-4-dimethylaminobenzoate, triethylamine, and triethanolamine.
  • tertiary amines such as N, N-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester, N, N-dimethylaminobenzoic acid isoamyl ester, pentyl-4-dimethylaminobenzoate, triethylamine, and triethanolamine.
  • tertiary amines such as N, N-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester, N, N-dimethylaminobenzoic acid isoamyl ester, pentyl-4-dimethylaminobenzoate, triethylamine, and
  • initiators include Irgacure® 184 (1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone), Irgacure® 500 (1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, benzophenone) available from Ciba, And other photoinitiators of the Irgacure® type; Darocur® 1173, 1116, 1398, 1174 and 1020 (available from Merck) and the like.
  • a thermal initiator can also be used in combination with the photoinitiator.
  • Suitable thermal initiators are inter alia organic peroxides in the form of diacyl peroxides, peroxydicarbonates, alkyl peresters, dialkyl peroxides, perketals, ketone peroxides and alkyl hydroperoxides.
  • organic peroxides in the form of diacyl peroxides, peroxydicarbonates, alkyl peresters, dialkyl peroxides, perketals, ketone peroxides and alkyl hydroperoxides.
  • thermal initiators are dibenzoyl peroxide, t-butyl perbenzoate and azobisisobutyronitrile.
  • the photocurable resin composition in the present invention may contain a sensitizer.
  • sensitizers that can be used include anthracene, phenothiazene, perylene, thioxanthone, and benzophenone thioxanthone.
  • sensitizing dyes include thiopyrylium salt dyes, merocyanine dyes, quinoline dyes, styrylquinoline dyes, ketocoumarin dyes, thioxanthene dyes, xanthene dyes, oxonol dyes, cyanine dyes, rhodamine dyes. And pyrylium salt pigments.
  • anthracene-based sensitizer when used in combination with a cationic curing catalyst (radiation sensitive cationic polymerization initiator), the sensitivity is drastically improved and also has a radical polymerization initiation function.
  • a cationic curing catalyst radiation sensitive cationic polymerization initiator
  • the catalyst species can be simplified.
  • dibutoxyanthracene, dipropoxyanthraquinone As specific anthracene compounds, dibutoxyanthracene, dipropoxyanthraquinone (Anthracure (trademark) UVS-1331, 1221 manufactured by Kawasaki Kasei Co., Ltd.) and the like are effective.
  • the sensitizer is used in a proportion of, for example, 0.01 to 20 parts by weight, preferably 0.01 to 10 parts by weight, with respect to 100 parts by weight of the curable monomer.
  • nanoscale particles can be added to the photocurable resin composition in the present invention.
  • the following formula (6) SiU 4 (6) (Wherein the groups U are the same or different and are hydrolyzable groups or hydroxyl groups) and / or the following formula (7) R 41 a R 42 b SiU (4-ab) (7)
  • R 41 is a non-hydrolyzable group
  • R 42 is a group having a functional group
  • U has the above meaning
  • a and b have the values 0, 1, 2 or 3.
  • the sum (a + b) has the values 1, 2 or 3)
  • a polymerizable silane such as a compound represented by the formula (Compound 7) and / or a condensate derived therefrom can be added.
  • Nanoscale particles include oxides, sulfides, selenides, tellurides, halides, carbides, arsenides, antimonides, nitrides, phosphides, carbonates , Carboxylates, phosphates, sulfates, silicates, titanates, zirconates, aluminates, stannates, leadates and mixed oxides thereof. Particles.
  • the volume fraction (content) of the nanoscale particles in the nanoimprinting composition added as necessary is, for example, 0 to 50% by volume, preferably 0 to 30% by volume, based on the entire photocurable resin composition. Particularly preferred is 0 to 20% by volume.
  • the nanoscale particles usually have a particle size of about 1 to 200 nm, preferably about 2 to 50 nm, particularly preferably about 2 to 20 nm.
  • nanoscale inorganic particles such as those known from WO 96/31572 are, for example, CaO, ZnO, CdO, SiO 2 , TiO 2 , ZrO 2 , CeO 2 , SnO 2 , PbO, Al 2 O.
  • oxides such as In 2 O 3 and La 2 O 3 ; sulfides such as CdS and ZnS; selenides such as GaSe, CdSe or ZnSe; tellurides such as ZnTe or CdTe; NaCl, KCl, carbides such as CeC 2;; BaCl 2, AgCl , AgBr, AgI, CuCl, CuBr, halides such as CdI 2 or PbI 2 AlAs, arsenic compound such as GaAs or CEAS; antimonide such as InSb; BN , nitrides such AlN, etc.
  • Nano colloidal sols of stabilized colloidal inorganic particles for example, silica sol manufactured by BAYER, SnO 2 sol manufactured by Goldschmidt, TiO 2 sol manufactured by MERCK, SiO 2 manufactured by Nissan Chemicals, ZrO 2 , Particularly preferred are A1 2 O 3 and Sb 2 O 3 sols or Aerosil dispersions from DEGUSSA.
  • a preferred photocurable resin composition for nanoimprinting is further represented by the following formula (8): R 43 (U 1 ) 3 Si (8) Wherein R 43 is a partially fluorinated or perfluorinated C 2 -C 20 -alkyl and U 1 is C 1 -C 3 -alkoxy, methyl, ethyl or chlorine.
  • the fluorosilane (compound 8) represented by these is included.
  • Partially fluorinated alkyl means an alkyl group in which at least one hydrogen atom has been replaced by a fluorine atom.
  • Preferred groups R 43 are CF 3 CH 2 CH 2 , C 2 F 5 CH 2 CH 2 , C 4 F 9 CH 2 CH 2 , n-C 6 F 13 CH 2 CH 2 , n-C 8 F 17 CH 2.
  • fluorosilanes of formula (8) examples are tridecafluoro-1,1,2,2-tetrahydrooctyl-1-triethoxysilane, CF 3 CH 2 CH 2 SiCl 2 CH 3 , CF 3 CH 2 CH 2 SiCl ( CH 3) 2, CF 3 CH 2 CH 2 Si (CH 3) (OCH 3) 2, i-C 3 F 7 O- (CH 2) 3 SiCl 2 CH 3, n- C 6 F 13 CH 2 CH 2 SiCl 2 CH 3 and n-C 6 F 13 CH 2 CH 2 SiCl (CH 3) 2.
  • the fluorosilane of the formula (8) is, for example, 0 to 3% by weight, preferably 0.05 to 3% by weight, more preferably 0.1 to 2.5% by weight based on the total weight of the photocurable resin composition for nanoimprinting. It can be present in an amount of% by weight, particularly preferably 0.2-2% by weight. In particular, when a glass stamp or a silica glass stamp is used as a transfer imprint stamp, it is preferable that fluorosilane is present.
  • the support to which the resin composition is applied for example, glass, silica glass, film, plastic, silicon wafer or the like can be used. These supports may have an adhesion promoting coating formed on the surface.
  • the adhesion promoting coating can be formed of an organic polymer that ensures sufficient wetting of the resin composition with respect to the support. Examples of the organic polymer for forming such an adhesion promoting film include aromatic compounds-containing polymers or copolymers containing novolaks, styrenes, (poly) hydroxystyrenes and / or (meth) acrylates, and the like. Is mentioned.
  • the adhesion promoting film can be formed by applying a solution containing the organic polymer on a support by a known method such as spin coating.
  • the photocurable resin composition for nanoimprinting can be attached by itself or as a solution of an organic solvent.
  • the organic solvent used in the composition in the present invention is used to make a paste by diluting the composition, enabling an easy coating process, then drying to form a film, and enabling contact exposure.
  • ketones such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone; aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene and tetramethylbenzene; cellosolve, methyl cellosolve, carbitol, methyl carbitol, butyl carbitol, propylene glycol monomethyl ether, di Glycol ethers such as propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monoethyl ether, triethylene glycol monoethyl ether; ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, butyl cellosolve acetate, carbitol acetate, butyl carbitol acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate Acetic acid esters such as ethanol, propanol, ethylene glycol, propylene glycol Alcohols such as; aliphatic hydrocarbons such as octane and decane;
  • the film made of the photocurable resin composition for nanoimprinting is applied to the support by a known method such as spin coating, slit coating, spray coating, or roller coating. Can be formed.
  • the viscosity of the coating is preferably about 1 mPas to 10 Pas, more preferably about 5 mPas to 5 Pas, and particularly preferably about 5 mPas to 1000 mPas.
  • the thickness of the film (the film before transfer) of the photocurable resin composition for nanoimprint formed by the above method (narrow imprint) is, for example, about 50 to 1000 nm, preferably about 100 to 500 nm.
  • the film made of the photocurable resin composition for nanoimprinting is pressed from the uppermost surface by pouring the resin composition onto the mold, overlaying the support thereon, as a method other than the above. It is also possible to form by a method. Such a method may be used particularly for the production of a diffractive condensing film.
  • the film thickness of the photocurable resin composition for nanoimprint (film before transfer) formed by the above method is, for example, about 0.1 ⁇ m to 10 mm, preferably about 1 ⁇ m to 1 mm.
  • the nano stamper used in the step (1) is a nanoimprint transfer stamp having a concavo-convex transfer pattern formed on the surface, and is made of transparent Teflon (registered trademark) resin, silicone rubber, cycloolefin polymer resins, glass, quartz, silica Glass, Ni-P, or the like can be used as the material.
  • the silicone rubber stamper is advantageous in that the resin separation after the pattern transfer is good even when the resin composition to which the fluorosilane of the formula (8) is not added is used.
  • the nano stamper placed on the film is, for example, 5 to 100 MPa, preferably 10 to 100 MPa, more preferably more than 10 MPa and a pressure of 100 MPa or less, for example, 0.1 to 300 seconds.
  • the pressing is preferably performed for a duration of about 0.2 to 100 seconds, particularly preferably about 0.5 to 30 seconds.
  • the thickness of the film after pattern transfer (before curing) is, for example, about 50 to 1000 nm, preferably about 100 to 500 nm.
  • the thickness of the film after pattern transfer (before curing) when used in the production of a diffractive condensing film is, for example, about 0.1 ⁇ m to 10 mm, preferably about 1 ⁇ m to 1 mm.
  • the layer thickness of the cured product after transfer is, for example, 50 to 1000 nm, and it meets the high requirements of resolution, wall slope and aspect ratio (height to resolution ratio) at a layer thickness of several hundred nm. Therefore, a transfer pressure of 5 MPa or more is necessary. Specifically, when the transfer pressure is less than 5 MPa, the pattern edge rectangle tends to collapse, and pattern deformation and omission on the substrate increase. When the pressure is greater than 100 MPa, it is difficult to peel off the transfer stamp from the coating film, and the pattern is liable to collapse during peeling.
  • the pressure is less than 5 MPa
  • the fine pattern of the transfer stamp is not sufficiently transferred to the coating film of the photocurable resin composition, and the adhesion to the substrate cannot be sufficiently obtained.
  • the transfer pressure is less than 5 MPa
  • the apex angle of the chevron shape of the diffractive condensing film becomes less than 44 degrees, resulting in insufficient transfer.
  • pattern deformation and omission on the substrate increase.
  • the pressure is greater than 100 MPa, it is difficult to peel off the transfer stamp from the coating film, and the pattern is liable to collapse during peeling.
  • the curing treatment may be performed in a state where the nano stamper is allowed to stand on the film, or may be performed after removing the nano stamper.
  • a nano stamper is applied to the coating, for example, 5 to 100 MPa, preferably 10 to 100 MPa, more preferably higher than 10 MPa and not more than 100 MPa, for example 0.1 to 300 seconds, preferably 0.
  • a step of transferring the pattern by pressing for 2 to 100 seconds, particularly preferably 0.5 to 30 seconds, and at the same time applying heat or UV irradiation to cure the coating and obtaining a fine structure is provided.
  • Step (2) The curing process in the step (2) can be performed by heating, UV irradiation, or the like. When performing UV irradiation, it is also possible to use heat together as necessary. For example, after heating at about 80 to 150 ° C. for about 1 to 10 minutes, UV irradiation for about 0.1 seconds to 2 minutes can be performed to cure the coating material. After the coating is cured, the nano stamper (transfer imprint stamp) can be removed to obtain an imprinted microstructure.
  • UV irradiation it is also possible to use heat together as necessary. For example, after heating at about 80 to 150 ° C. for about 1 to 10 minutes, UV irradiation for about 0.1 seconds to 2 minutes can be performed to cure the coating material. After the coating is cured, the nano stamper (transfer imprint stamp) can be removed to obtain an imprinted microstructure.
  • the thickness of the cured film after the curing treatment is, for example, about 50 to 1000 nm, preferably about 100 to 500 nm, for a film formed by narrowly-defined nanoimprints, and for example, 0.1 ⁇ m to 10 mm for a film formed by broadly-defined nanoimprints.
  • the thickness is preferably about 1 ⁇ m to 1 mm.
  • the method for producing a fine structure of the present invention can preferably include (3) a step of etching the cured film.
  • the fine structure can be etched by oxygen plasma or CHF 3 / O 2 gas mixture.
  • the manufacturing method including the step of doping the semiconductor material in the etched region and / or the step of etching the semiconductor material is fine. It is an effective means for producing structured semiconductor materials.
  • the resist coating can be removed with a conventional solvent such as tetramethylammonium hydroxide.
  • the cationic curable monomer has advantages such as (i) small cure shrinkage, (ii) no oxygen damage, but (i) slow reaction rate, and (ii) large influence of alkali and the like.
  • radical curable monomers are (i) high storage stability, (ii) fast polymerization rate, (iii) less affected by moisture, etc., (iv) thick film curing is possible, (v) monomer
  • it has disadvantages such as (i) large cure shrinkage, (ii) oxygen disorder, and (iii) large monomer odor and skin irritation.
  • the photo-curable resin compound used in the present invention preferably contains a cationically polymerizable compound having curing expandability.
  • a cationically polymerizable compound having curing expandability With photo-curable resin compounds containing a large amount of this compound, it is possible to obtain an ideal photo-curable resin composition for nanoimprinting that can control cure shrinkage and does not cause volume shrinkage at all, but improves adhesion to the substrate. It is hoped that In the present invention, sufficient adhesion to a substrate can be obtained by using a method for producing a fine structure that transfers a pattern in a range of transfer pressure of 5 MPa to 100 MPa.
  • a pattern shape is formed by using a method for producing a fine structure in which a film made of a radically curable monomer resin composition is formed on a support and pattern transfer is performed in a range of transfer pressure of 5 MPa to 100 MPa.
  • the cationic / radical curing combined composition containing a cationic curable monomer and a radical curable monomer is a curing system in which the curing speed and the curing shrinkage are balanced, and in the present invention, the transfer pressure is in the range of 5 MPa to 100 MPa.
  • a film can be entirely uniformed by transferring a pattern within a transfer pressure range of 5 MPa or more and 100 MPa or less, and a uniform pattern covering a wide area.
  • a formed body can be obtained.
  • a fine structure having excellent pattern accuracy with a film thickness smaller than 10 ⁇ m, for example, a thickness of 0.01 to 1 ⁇ m, and almost no pattern deformation or pattern omission. Is obtained. Further, even when the nano stamper is peeled off after UV curing, a fine structure having excellent pattern accuracy with no pattern deformation and almost no pattern deformation or pattern omission is obtained.
  • a thick film exceeding 10 ⁇ m for example, a thick film exceeding 50 ⁇ m is required by pattern transfer at a transfer pressure in the range of 5 MPa to 100 MPa. It is possible to obtain a resist for fine structuring of flat screens, holograms, waveguides, precision mechanical parts and sensors.
  • Nanoscale particle dispersion (E-1) 236.1 g (1 mol) of acroyloxypropyltrimethoxysilane (GPTS) was refluxed with 26 g (1.5 mol) of water for 24 hours. The formed methanol was removed by a rotary evaporator at 70 ° C. to obtain a GPTS condensate. While stirring 345 g of zirconium oxide (ZrO 2 average particle size 20 nm, concentration of about 5% by weight methyl ethyl ketone dispersion, manufactured by Kitamura Chemical Industry Co., Ltd.), the nanoscale particle dispersion (E-1) is obtained. It was.
  • zirconium oxide ZrO 2 average particle size 20 nm, concentration of about 5% by weight methyl ethyl ketone dispersion, manufactured by Kitamura Chemical Industry Co., Ltd.
  • Examples 1 to 16, Comparative Examples 1 to 3 Coating film preparation method ⁇ Si substrate> As a Si substrate, a 25 ⁇ 25 mm square silicon wafer pretreated with hexamethyldisilazane was used. ⁇ Photocurable resin composition for nanoimprint> The photocurable resin composition for nanoimprinting is shown in Table 1, which includes a cationic curable monomer (A), a radical curable monomer (B), an initiator (C), a sensitizer (D), and nanoscale particles (E). Using a binder resin (film-forming auxiliary: F) and a solvent (G), a spin coater was prepared by a known method. Specific compounds of each component in Table 1 are shown below.
  • Cationic curable monomer A-1 3,4-cyclohexylmethyl-3,4-cyclohexanecarboxylate / Daicel Chemical Industries
  • A-3 Triethylene glycol divinyl ether / manufactured by Maruzen Petrochemical Co., Ltd.
  • A-4 3,3-bis (vinyloxymethyl) oxetane / developed by Daicel Chemical Industries, Ltd.
  • A-5 bicyclohexyl diepoxide / Daicel Chemical Industries, Ltd.
  • a coating film of the above composition for nanoimprinting was formed on each of the above silicon wafers by spin coating (3000 rpm, 30 seconds). Those using a solvent were dried at about 95 ° C. for 5 minutes in order to remove the solvent. The layer thickness of the dry coating film after drying was about 500 nm.
  • ⁇ Preparation of fine structure pattern> Specifically, a silicon wafer spin-coated with the nanoimprinting composition prepared by the above method is placed on the stage, and then a quartz mold having a fine pattern is placed, and then transferred to a predetermined pressure over 30 seconds. The pressure was increased and UV irradiation was performed from the quartz mold side while maintaining the transfer pressure to cure the composition.
  • Table 1 shows the transfer pressure (press pressure) used in Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 to 3.
  • Table 1 shows press temperatures, press times, and UV exposure amounts used in Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 to 3.
  • a 200 nm line and space pattern was transferred.
  • the nano stamper was peeled off to obtain a nano structure having a pattern formed on the silicon wafer.
  • the remaining film of this pattern was subjected to plasma etching using oxygen and then dry-etched with CHF 3 / O 2 (25:10 (volume ratio)) to produce a fine structure pattern on the silicon wafer.
  • the shape of the microstructure pattern on the silicon wafer after dry etching was observed using a scanning microscope, and the rectangular shape of the pattern edge was evaluated according to the following criteria.
  • the transfer pressure was 5.0, 10.0, 20.0, and 30.0 using the photo-curable resin composition for nanoimprint made of a cationic curable composition. , 50.0, and 100.0 MPa, a pattern was formed and cured to obtain a fine structure.
  • Each of these cationic curable compositions contains 40 parts by weight of a swellable compound (A-5: bicyclohexyl diepoxide), but the pattern shapes of the obtained fine structures are all rectangular in pattern edge. Was kept.
  • the accuracy of the pattern is excellent in a structure formed at a transfer pressure of 10.0 to 100.0 MPa, with pattern deformation and pattern omission on the silicon wafer being 1 or less, and even in a structure formed at a transfer pressure of 5.0 MPa.
  • the pattern deformation and pattern omission on the silicon wafer were as good as 1 to 10 locations.
  • a photocurable resin composition for nanoimprint comprising a cationically curable monomer containing 40 parts by weight of a curable expansive compound (A-5: bicyclohexyl diepoxide).
  • A-5 bicyclohexyl diepoxide
  • the pattern was formed and cured at a transfer pressure of 1.0 and 3.0 MPa, and the pattern was formed and cured to obtain a fine structure. Pattern deformation and pattern omission were more than 10 locations, and both pattern shape and pattern accuracy were inferior.
  • Examples 9 to 10 using a photo-curable resin composition for nanoimprints composed of a cationic curable monomer and a radical curable monomer, pattern transfer was performed at a transfer pressure of 10.0 MPa to form and cure a pattern. A fine structure was obtained. The pattern shapes of the obtained fine structures all had a rectangular pattern edge, and the pattern accuracy was excellent with pattern deformation and pattern omission on the silicon wafer being 1 or less.
  • Comparative Example 3 using a photo-curable resin composition for nanoimprint composed of a cationic curable monomer and a radical curable monomer, pattern transfer was performed at a transfer pressure of 1.0 MPa to form and cure the pattern. Although the fine structure was obtained, the rectangular shape of the obtained pattern was slightly broken, and there were more pattern deformations and pattern omissions on the silicon wafer than 10 locations, and both the pattern shape and pattern accuracy were inferior.
  • Examples 12 to 13 a photo-curable resin composition for nanoimprint made of a radical curable monomer was used to transfer a pattern at a transfer pressure of 10.0 and 20.0 MPa to form and cure a pattern. I got a thing.
  • the pattern shapes of the obtained fine structures all had a rectangular pattern edge, and the pattern accuracy was excellent with pattern deformation and pattern omission on the silicon wafer being 1 or less.
  • Examples 17 to 30 and Comparative Examples 4 to 6 ⁇ Manufacture of diffraction type condensing film> Types and amounts of cation curable monomers (A), radical curable monomers (B), initiators (C), sensitizers (D), nanoscale particles (E), binder resins (in Table 2) Film-forming auxiliary: F) and solvent (G) were mixed to prepare a photocurable resin composition for nanoimprinting.
  • each component is the same as that described in Table 1 except for the following.
  • Radical curable monomer B-4 Methyl methacrylate film-forming aid
  • F-11 3,4-epoxycyclohexylmethyl acrylate (A400 manufactured by Daicel Chemical Industries) and 1-ethyl-3-oxetanylmethyl methacrylate (manufactured by Toagosei Co., Ltd.) )
  • F-12 Epoxidized polybutadiene / EPL PB3600 manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.
  • F-13 Polyacrylate with a radically polymerizable vinyl group in the side chain / Cyclomer P (ACA300) manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.
  • a diffraction-type condensing film mold material Ni-P; pitch shape 5 ⁇ m, height 5.7 ⁇ m, apex angle 45 degrees, lattice pattern size 2 cm, width 1 cm; small size manufactured by Toshiba Machine Co., Ltd. Mold.
  • a coating film of the above resin composition was formed on the diffraction type condensing film mold.
  • the drying process prebaking which heats at about 95 degreeC for 5 minute (s) was given.
  • a support film material PET; manufactured by Toyobo Co., Ltd .; trade name “A4300”, film thickness: 75 ⁇ m
  • a predetermined pressure is further applied thereon, and the film is flattened using a roller. Turned into.
  • the mold / coating / support film laminate obtained above was exposed to cure the resin composition.
  • the exposure was performed using an ultra-high pressure mercury lamp (USH-3502MA, Ushio Electric Co., Ltd., model USH-3502MA, illuminance 16 mW / cm 2 ) with an integrated exposure of 1 J / cm 2 .
  • the coating film / support film laminate was peeled off from the mold to prepare a diffraction type condensing film.
  • Table 2 shows the press pressure, press temperature, and UV exposure amount used for the production of the diffractive condensing films in Examples 17 to 30 and Comparative Examples 4 to 6.
  • ⁇ Evaluation method> (Pattern shape) The transferability of the pattern shape was evaluated by confirming the apex angle of the chevron shape of each diffraction type condensing film with a metal microscope. The evaluation criteria are as follows. ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ Good (vertical angle 45 degrees) ⁇ : Insufficient transfer (vertical angle 40 to 44 degrees) ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ Not transferable
  • the coating film / support film laminate was peeled from the mold, and a 1 ⁇ m square pattern among the patterns formed on the support film was evaluated according to the following criteria.
  • Double-circle The pattern deformation
  • Pattern deformation and pattern omission on the support film were 1 to 10 or less.
  • X Pattern deformation and pattern omission on the support film were more than 10 locations.
  • the UV cured products of Examples 17 to 30 show a high refractive index and are effective as a diffraction type condensing film.
  • Examples 17 to 25 using a photo-curable resin composition for nanoimprints composed of various cationic curable compositions, diffraction type was performed at pressures of 5.0, 10.0, 20.0, and 100.0 MPa. A light collecting film was prepared.
  • the apex angle of the chevron shape of the obtained diffraction type condensing film was 45 degrees, which was good.
  • the accuracy of the pattern is excellent in that the pattern deformation and pattern omission on the support film is 1 or less, and even in a structure formed at a transfer pressure of 5.0 MPa, the pattern deformation and pattern omission on the support film is 1 to 10 It was as good as below.
  • a diffractive condensing film was prepared at pressures of 1.0 and 3.0 MPa using a photocurable resin composition for nanoimprint made of a cationic curable monomer.
  • the apex angle of the obtained film was 40 to 44 degrees, and the transfer was insufficient, the pattern deformation and pattern omission on the support film were more than 10 locations, and the pattern shape and pattern accuracy were inferior.
  • a diffractive condensing film was prepared at a pressure of 10.0 MPa using a photo-curable resin composition for nanoimprinting composed of a cationic curable monomer and a radical curable monomer.
  • the apex angle of the chevron shape of the obtained film was 45 °, which was good, and excellent pattern accuracy was obtained with pattern deformation and pattern omission on the support film being 1 or less.
  • a diffractive condensing film was prepared at a pressure of 1.0 MPa using a photocurable resin composition for nanoimprints composed of a cationic curable monomer and a radical curable monomer.
  • the apex angle of the obtained film was 40 to 44 degrees and the transfer was insufficient, the pattern deformation and pattern omission on the support film were more than 10 locations, and the pattern shape and pattern accuracy were inferior.
  • a diffractive condensing film was prepared at a pressure of 10.0 MPa using a photocurable resin composition for nanoimprinting composed of a radical curable monomer.
  • the apex angle of the chevron shape of the obtained film was 45 °, which was good, and an excellent pattern accuracy was obtained with pattern deformation and pattern omission on the support film of 1 place or less.
  • fine structures such as electronic parts and optical parts that are excellent in line edge roughness and more economical can be manufactured with high accuracy, so that semiconductor materials, flat screens, holograms, and diffraction types can be manufactured.
  • the present invention is extremely useful in the fields of light-collecting films, waveguides, media structures, precision machine parts such as precision machine parts or sensors.

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Abstract

 (1)カチオン重合性化合物及び/又はラジカル重合性化合物を含む硬化性化合物を含有するナノインプリント用光硬化性樹脂組成物からなる被膜が、支持体上に形成され、かつナノスタンパを用いた5~100MPaの圧力のプレスによりパターンを転写される工程、及び(2)パターンが転写された被膜を硬化させて微細構造物を得る工程を含む、ナノインプリント用光硬化性樹脂組成物にナノインプリント加工を施して微細構造物を得る微細構造物の製造方法を提供する。

Description

微細構造物の製造方法
 本発明は、マイクロリソグラフィの分野で、ナノインプリント加工により微細なパターンを高い精度で形成するのに適した微細パターンの形成方法を用いて微細構造物を製造する方法、及びこの方法で製造される微細構造物に関する。
 1μm未満の範囲に到るまでの解像度が必要な電子部品の小型化は、実質上、フォトリソグラフィ技法により達成されてきた。より小さな構造の場合は、ArF及びその液浸技術の進展で達成されつつあるが、32nm辺りからは、用いる樹脂のサイズに近づいてきており、ラインエッジラフネス等の問題が顕在化してきている。他方では、解像度、壁面傾斜および縦横比(高さ対解像度比)に対するますます高い要求により、マスク、マスクアライナおよびステッパなどの、フォトリソグラフィ構造化用に必要な装置を使用する場合、コストの急増が生じている。特に最新のステッパは、その数10億円という価格のために、マイクロチップ製造におけるかなりのコスト要因となっている。更に、電子線およびX線などの短波の放射線を使用し、精細化を図る検討も行われているが、生産性の観点から多くの問題点を残している。
 これらに代わる手法として、ナノインプリント法が期待されている。ナノインプリント法としては、熱可塑性樹脂を加熱・軟化させた後、モールドを押し付け、パターンを作成する熱ナノインプリント法と、光硬化性化合物を基材に塗布後、モールドを押し当て、露光により組成物を硬化させてパターンを作成するUV-ナノインプリント法とが主に知られている。何れも優れた手法ではあるが、UV-ナノインプリント法は、光により硬化させる為、熱ナノインプリント法での加熱冷却過程が無いため、より高いスループットが望める事が期待されている。また、透明なモールドを使用するため、より高い位置精度を簡便に得られることもその大きな特徴である。更に、UV-ナノインプリント法による組成物は主に液状モノマーの組み合わせから出来ており、熱ナノインプリント法に比べ、非常に低い転写圧力でパターン作成が出来る事も大きな特徴の一つである。
 特許文献1には、基板の全表面に付着させたレジストの、剛性のスタンプ上に存在するレリーフによる熱可塑性変形に基づくナノインプリント法が記述されている。この方法では、熱スタンピング用レジストとして、熱可塑性樹脂(ポリメタクリル酸メチル、PMMA)が使用されるが、全ウェハ表面にわたる約100nmの厚さの通常の変動幅のために、剛性スタンプを用いて6、8および12インチウエハを1工程で構造化することは不可能である。したがって複雑な「ステップアンドリピート」法を使用しなければならないことになるが、これはすでに構造化された隣接する領域を再加熱するため不適当である。
 特許文献2、特許文献3および特許文献4では、スタンプをUV硬化性レジスト(自己組織化単膜、たとえばアルキルシロキサン)で濡らし、次いで平滑な基板上にプレスする。従来のスタンププロセスと同様に、スタンプを基板表面から上昇させると、構造化されたレジスト材料が残る。使用したレジスト材料は基板に対して十分な濡れを示すが、剥離方法には適しておらず、また十分なエッチング耐性を有していない。また、構造物の寸法は1μmの領域にあるため、大きさの1オーダーを超えて大き過ぎる。
 特許文献5には、ドライフイルムを用いたパターン形成方法が記載されている。転写圧力2.5MPaで優れたパターン形状が簡便に得られているが、全体の膜厚が10μm以上と大きく、転写後の残膜も大きいため、フォトリソグラフィ代替としては不適である。
 これらの方法はすべて、本発明の目的を実現するには不適当である。
米国特許第5,772,905号明細書 米国特許第5,900,160号明細書 米国特許第5,925,259号明細書 米国特許第5,817,242号明細書 特開2007-73696号公報
 本発明の目的は、欠陥の少ない、優れたパターン形状を得ることができ、また、リソグラフィー用途に使用する場合、特に重要となる残膜厚の小さいパターン形成を安定的に達成できる、微細構造物の製造方法を提供することにある。
 本発明の他の目的は、前記微細構造物の製造方法で製造される微細構造物を提供することにある。
 本発明者らは、鋭意検討の結果、転写レジスト(ナノインプリントレジスト)として特定の転写条件を用いる事により、薄膜に対しても、機械的な転写スタンピング方法により、パターン変形、パターン抜け等の欠陥が少なく、残膜厚の小さい優れた微細パターンが安定的に形成できることを見出し、本発明を完成した。
 すなわち、本発明の微細構造物の製造方法は、(1)カチオン重合性化合物及び/又はラジカル重合性化合物を含む硬化性化合物を含有するナノインプリント用光硬化性樹脂組成物からなる被膜が支持体上に形成され、かつナノスタンパを用いた5~100MPaの圧力のプレスによりパターンが被膜に転写される工程、及び(2)パターンが転写された被膜を硬化させて微細構造物を得る工程を含む、該樹脂組成物にナノインプリント加工を施して微細構造物を得る微細構造物の製造方法である。
 また、本発明は、上記製造方法で得られる微細構造物を含む。微細構造物には、例えば、半導体材料、フラットスクリーン、光学部材(回折型集光フィルム、偏光フィルムなど)、ホログラム、導波路、メディア用構造体、精密機械部品、およびセンサなどが含まれる。
 本明細書中、「ナノインプリント」とは、支持体上に設けた被膜にナノスタンパをプレスしてパターンを転写する通常のナノインプリント(狭義のナノインプリント)のほか、ナノスタンパとして微細パターンが形成された金型を用い、当該金型上に樹脂組成物を流し込み、その上に支持体を重ね、最上面からプレスする方法を用いた金型による微細パターン転写技術(広義のナノインプリント)をも含む意味に用いる。
 本発明の微細構造物の製造方法によれば、半導体材料、フラットスクリーン、ホログラム、メディア用構造体、精密機械部品およびセンサ等の微細構造化用レジストとして、カチオン硬化システム及び/又はラジカル硬化性システムを使用し、転写圧力を5MPaから100MPaの範囲で実施する事により、欠陥の少ない、優れたパターン形状を得ることができる。
 また、本発明の微細構造物の製造方法をリソグラフィー用途に使用する場合、特に重要となる残膜厚の小さいパターン形成を安定的に得る事ができる。本発明の微細構造物の製造方法によれば、高解像度と共に優れた縦横比が得られるフォトリソグラフィ法により、実質上、ラインエッジラフネスに優れ、より経済的な電子部品等の微細構造化法である微細構造物の製造方法が提供される。
 本発明の微細構造物の製造方法によれば、パターン精度に優れ、光硬化性樹脂組成物の塗膜の硬化終了後、ナノスタンパ(金型を含む)から塗膜/支持体フィルム積層物を剥離した後の、支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが、例えば1から10箇所以下であり、特に、1箇所以下の微細構造物を得ることができる。
 本発明の、樹脂組成物にナノインプリント加工を施すことによる微細構造物の製造方法は、
(1)カチオン重合性化合物及び/又はラジカル重合性化合物を含む硬化性化合物を含有するナノインプリント用光硬化性樹脂組成物からなる被膜が支持体上に形成され、かつナノスタンパを用いた5~100MPaの圧力のプレスによりパターンが被膜に転写される工程、及び
(2)パターンが転写された被膜を硬化させて微細構造物を得る工程
を含む。
 [工程(1)]
 硬化性化合物としては、光カチオン硬化タイプ、光ラジカル硬化タイプ、又はこれらの併用タイプを用いることができる。また、硬化膨張性を有するカチオン重合性化合物と感放射性カチオン重合開始剤である化合物、又は不飽和基と酸基とを有する化合物を用いることができる。
 [カチオン重合性化合物]
 カチオン硬化性システムに使用できるカチオン硬化性モノマー(カチオン重合性化合物)としては、エポキシ化合物、ビニルエーテル化合物、オキセタン化合物、カーボネート化合物、ジチオカーボネート化合物等が挙げられる。
 光カチオン重合性を示す官能基は、多く知られているが、特に実用性の高い物として、エポキシ基、ビニル基、オキセタニル基等が広く用いられている。
 エポキシ基を有する化合物(エポキシ化合物)としては、脂環式エポキシ樹脂(例えば、ダイセル化学工業(株)製のセロキサイド2000、2021、3000、EHPE3150CE;三井石油化学(株)製のエポミックVG-3101:油化シェルエポキシ(株)製のE-1031S;三菱ガス化学(株)製のTETRAD-X、TETRAD-C;日本曹達(株)製のEPB-13,EPB-27等がある)等が挙げられる。また、エポキシ基と(メタ)アクリル基を有するハイブリッド化合物を使用することができる。例えば、3,4-エポキシシクロヘキシルメチル(メタ)アクリレート、グリシジルメタクリレート、ビニルグリシジルエーテル等が挙げられる。これらは、単独でも混合しても使用することができる。
 ビニル基含有化合物(ビニルエーテル化合物等)としては、ビニル基を有する化合物であれば特に限定されない。市販品としては、丸善石油化学社製の2-ヒドロキシエチルビニルエーテル(HEVE)、ジエチレングリコールモノビニルエーテル(DEGV)、2-ヒドロキシブチルビニルエーテル(HBVE)、トリエチレングリコールジビニルエーテル、ISP社製 RAPI-CUREシリーズ、V-PYROL(商標) (N-Viny-2-Pyrrolidone)、V-CAPTM (N-Vinyl-2-Caprolactam)等々が挙げられる。また、α及び/又はβ位にアルキル、アリル等の置換基を有するビニル化合物も使用することができる。また、エポキシ基及び/又はオキセタン基等環状エーテル基を含むビニルエーテル化合物を使用することができる。例えば、オキシノルボルネンジビニルエーテル、3、3-ジメタノールオキセタンジビニルエーテルが挙げられる。また、ビニル基と(メタ)アクリル基を有するハイブリッド化合物を使用することができる。市販品としては日本触媒社製の(メタ)アクリル酸2-(2-ビニロキシエトキシ)エチル(VEEA,VEEM)等が挙げられる。これらは、単独でも混合しても使用することができる。
 オキセタニル基含有化合物(オキセタン化合物)としては、オキセタニル基を有する化合物であれば特に限定されない。市販品としては、東亞合成社製の3-エチル-3-(フェノキシメチル)オキセタン(POX)、ジ[1-エチル(3-オキセタニル)]メチルエーテル(DOX)、3-エチル-3-(2-エチルヘキシロキシメチル)オキセタン(EHOX)、3-エチル-3-{[3-(トリエトキシシリル)プロポキシ]メチル}オキセタン(TESOX)、オキセタニルシルセスキオキサン(OX-SQ)、フェノールノボラックオキセタン(PNOX-1009)等が挙げられる。また、オキセタニル基と(メタ)アクリル基を有するハイブリッド化合物(1-エチル-3-オキセタニルメチル(メタ)アクリレート)を使用することができる。これらのオキセタン系化合物は単独で用いても、混合して用いてもよい。
 カーボネート化合物、ジチオカーボネート化合物としては、分子内にカーボネート基、又はジチオカーボネート基を有する化合物であれば特に限定されない。
 [硬化膨張性を有するカチオン重合性化合物]
 なお、本発明における光硬化性樹脂組成物は、硬化膨張性化合物を一成分とする事により、硬化収縮をコントロールでき、優れたパターン形状を作製する事が可能となる。前記硬化膨張性を有するカチオン重合性化合物には、例えば、環状エーテル化合物及びカーボネート系化合物等が含まれる。
 具体的には、代表的な環状エーテル化合物として下記化合物1、カーボネート系化合物として下記化合物2が挙げられる。
 化合物1は、下記一般式(1)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
(式中、R1~R18は、同一又は異なって、水素原子、ハロゲン原子、酸素原子もしくはハロゲン原子を含んでよいアルキル基、又は置換基を有してよいアルコキシ基を示す)
で表されるビシクロ環を有するエポキシ化合物である。
 化合物2は、下記一般式(2)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
(式中、R19aは、同一又は異なって、水素原子、炭素数1~10の一価又は多価の炭化水素基、一価若しくは多価のアルキルエステル、又は一価若しくは多価のアルキルエーテルを示し、R19bは、水素原子、アルキル基を示し、R20~R23は、同一又は異なって、水素原子、ハロゲン原子、アルキル基又はアルコキシ基を示す。pは1~6の整数を示し、m及びnは0~3の整数を示し、X,Y,Zは酸素原子又は硫黄原子を示す。但し、pが1のとき、R19aは、水素原子又は炭素数1~10の一価のアルキル基、一価のアルキルエステル、又は一価のアルキルエーテルを示し、pが2以上のとき、R19aは単結合、p価の炭化水素基、p価のアルキル基又はp価のアルコキシ基を示す)
で表されるカーボネート系化合物である。
 また、上記の化合物は、前記光カチオン重合性を有する官能基を有する構造であることが好ましい。このように、反応性を有し膨張性を有する化合物を系内に共存させることにより、硬化収縮をコントロールでき、体積収縮の起こらない、理想的なナノインプリント用光硬化性組成物が得られる。
 [ラジカル重合性化合物]
 ラジカル硬化システム(ラジカル重合システム)に使用できるラジカル硬化性モノマー(ラジカル重合性化合物)としては、(メタ)アクリル酸エステル系化合物、スチレン系化合物、アクリル系シラン化合物、多官能モノマーなどが挙げられる。
 (メタ)アクリル酸エステル系化合物としては、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、ペンチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレートなどの(メタ)アクリル酸アルキルエステル類、2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、カプロラクトン変性2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートなどの、水酸基を有する(メタ)アクリル酸エステル類、メトキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、エトキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、イソオクチルオキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシトリエチレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシトリエチレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレートなどの(メタ)アクリレート類などが挙げられる。
 スチレン系化合物としては、スチレン、メチルスチレン等が挙げられる。
 アクリル系シラン化合物としては、例えば、γ-アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ-アクリロキシプロピルトリエトキシシラン、γ-アクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、γ-アクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、アクリロキシエトキシプロピルトリメトキシシラン、アクリロキシエトキシプロピルトリエトキシシラン、アクリロキシジエトキシプロピルトリメトキシシラン、アクリロキシジエトキシプロピルトリエトキシシランなどが挙げられる。
 多官能モノマーとしては、ジエチレングリコールジアクリレート、トリエチレングリコールジアクリレート、テトラエチレングリコールジアクリレート、ポリエチレングリコールジアクリレート、ポリウレタンジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、トリメチロールプロパンエチレンオキサイド変性トリアクリレート、トリメチロールプロパンプロピレンオキサイド変性トリアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート及び上記アクリレートに対応する各メタクリレート類、多塩基酸とヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートとのモノ-、ジ-、トリ-又はそれ以上のポリエステルなどがあり、これらを単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
 [不飽和基と酸基とを有する化合物]
 本発明におけるラジカル重合性化合物として、ラジカル重合性の不飽和基を含有し且つ少なくとも1個以上酸基を有する化合物を用いることができる。具体的には、(メタ)アクリル酸;ビニルフェノール;不飽和基とカルボン酸の間に鎖延長された変成不飽和モノカルボン酸、例えば、β-カルボキシエチル(メタ)アクリレート、2-アクリロイルオキシエチルコハク酸、2-アクリロイルオキシエチルフタル酸、2-アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸、ラクトン変成等エステル結合を有する不飽和モノカルボン酸、エーテル結合を有する変成不飽和モノカルボン酸;または、マレイン酸等のカルボン酸基を分子中に2個以上含む物などが挙げられる。これらは単独で用いても混合して用いても良い。中でも、特に好ましくは、不飽和基とカルボン酸の間にラクトンで鎖延長された変成不飽和モノカルボン酸が挙げられる。
 具体的な例としては、下記式(3)及び(4)に示した化合物3及び化合物4が挙げられる。
 化合物3は、下記一般式(3)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
(式中、R31は、水素原子又はメチル基を表す。R32及びR33は、各々水素原子、メチル基またはエチル基を表す。qは4~8の整数、sは1~10の整数を表す。)
で表される、(メタ)アクリル酸をラクトン変成した化合物である。
 化合物4は、下記一般式(4)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
(式中、R31、R32及びR33は、上記と同じ。R34は炭素数1~10の2価の脂肪族飽和又は不飽和炭化水素基、炭素数3~6の2価の脂環式飽和又は不飽和炭化水素基、p-キシレン、フェニレン基等を表す。q、sは上記と同じ。)
で表される末端水酸基を酸無水物により酸変性させたラクトン変成物である。具体的には、ダイセルサイテック社製のβ-CEA、東亞合成社製のアロニックスM5300、ダイセル化学工業社製のプラクセルFAシリーズ等がこれにあたる。
 [光硬化性樹脂組成物の好ましい態様]
 (i)本発明の微細構造物の製造方法で用いるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物は、好ましくは、カチオン重合性化合物として、硬化膨張性を有するカチオン重合性化合物(例えば、式(1),(2)で表される化合物)を少なくとも含む。該化合物の含有量は、カチオン重合性化合物の総量100重量部に対して、例えば、1~80重量部、好ましくは5~70重量部、さらに好ましくは10~60重量部、特に好ましくは25~50重量部である。これにより、硬化収縮を抑制することができ、優れたパターン形状を得ることができる。
 (ii)本発明の微細構造物の製造方法で用いるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物は、好ましくは、カチオン重合性化合物として、エポキシ化合物と、ビニルエーテル化合物及びオキセタン化合物からなる群より選択された少なくとも1種の化合物とを含む。エポキシ化合物(前者)と、ビニルエーテル化合物及びオキセタン化合物からなる群より選択された少なくとも1種の化合物(後者)の含有量は、前者/後者(重量比)が、例えば20/80~99/1、好ましくは30/70~95/5、さらに好ましくは40/60~90/10である。これにより、反応速度を大幅に向上でき、微弱露光で硬化ができ、高いスループットで優れたパターン形状を得ることができる。
 (iii)本発明の微細構造物の製造方法で用いるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物は、好ましくは、ラジカル重合性化合物として、不飽和基と酸基とを有する化合物を含む。この化合物の含有量は、ラジカル重合性化合物の総量100重量部に対して、例えば1~50重量部、好ましくは2~40重量部、さらに好ましくは2~15重量部である。酸基導入により、基材との密着性向上をさせることができ基材上に優れたパターン形状を得ることができる。また、硬化性樹脂によるナノモールド汚染時にアルカリにより洗浄が可能となる。
 (vi)本発明の微細構造物の製造方法で用いるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物は、好ましくは、カチオン重合性化合物とラジカル重合性化合物をともに含む。カチオン重合性化合物(前者)とラジカル重合性化合物(後者)の含有量は、前者/後者(重量比)が、例えば1/99~99/1、好ましくは10/90~95/5、さらに好ましくは30/70~90/10である。これにより、硬化収縮を抑制することができ、優れたパターン形状を得ることができる。
 上記の光硬化性樹脂組成物の被膜に、ナノスタンパを、例えば5~100MPa、好ましくは10~100MPa、特に好ましくは10MPaより高く100MPa以下の圧力でプレスしてパターンを転写することにより、優れたパターン形状とパターン精度を有する微細構造物を得ることができ、マイクロリソグラフィに好適に使用できる。上記の樹脂組成物の被膜に、ナノスタンパを5MPaよりも低い圧力でプレスしてパターンを転写した場合には、充分なパターン精度が得られない。
 [バインダー樹脂]
 本発明における光硬化性樹脂組成物に使用できるバインダー樹脂としては、ポリメタアクリル酸エステルまたはその部分加水分解物、ポリ酢酸ビニル、またはその加水分解物、ポリビニルアルコール、またはその部分アセタール化物、トリアセチルセルロース、ポリイソプレン、ポリブタジエン、ポリクロロプレン、シリコーンゴム、ポリスチレン、ポリビニルブチラール、ポリクロロプレン、ポリ塩化ビニル、ポリアリレート、塩素化ポリエチレン、塩素化ポリプロピレン、ポリ-N-ビニルカルバゾール、またはその誘導体、ポリ-N-ビニルピロリドン、またはその誘導体、スチレンと無水マレイン酸との共重合体、またはその半エステル、アクリル酸、アクリル酸エステル、メタクリル酸、メタクリル酸エステル、アクリルアミド、アクリルニトリル、エチレン、プロピレン、塩化ビニル、酢酸ビニル等の共重合可能なモノマー群の少なくとも1つを重合成分とする共重合体等、またはそれらの混合物が用いられる。
 また、バインダー樹脂として、オリゴマータイプの硬化性樹脂を使用することも可能である。例えば、エポキシ化ポリブタジエン、エポキシ化ブタジエンスチレンブロック共重合体等不飽和基含有エポキシ化樹脂等を挙げることができる。その市販品としては、ダイセル化学工業(株)製のエポリードPB,ESBS等がある。
 また、バインダー樹脂として、共重合型エポキシ樹脂(例えば、グリシジルメタクリレートとスチレンの共重合体、グリシジルメタクリレートとスチレンとメチルメタクリレートの共重合体である日本油脂(株)製CP-50M、CP-50S,或いはグリシジルメタクリレートとシクロヘキシルマレイミド等の共重合体等がある)も好適に使用できる。
 その他、バインダー樹脂として、特殊な構造を有するカチオン硬化性樹脂(例えば、3,4-エポキシシクロヘキシルメチル(メタ)アクリレート、1-エチル-3-オキセタニルメチル(メタ)アクリレート、2-(2-ビニロキシエトキシ)エチル(メタ)アクリレート)を1種類以上含む重合物、例えば、3,4-エポキシシクロヘキシルメチル(メタ)アクリレートとスチレンの共重合体、3,4-エポキシシクロヘキシル(メタ)アクリレートとブチルアクリレートとの共重合体、3,4-エポキシシクロヘキシルメチル(メタ)アクリレートとスチレンとメチルメタクリレートの共重合体であるダイセル化学工業(株)製 セルトップ、3,4-エポキシシクロヘキシルメチル(メタ)アクリレートと1-エチル-3-オキセタニルメチル(メタ)アクリレートの共重合物等を挙げることができる。
 また、バインダー樹脂として、ノボラック型エポキシ樹脂(例えば、フェノール、クレゾール、ハロゲン化フェノールおよびアルキルフェノール等のフェノール類とホルムアルデヒドとを酸性触媒下で反応して得られるノボラック類とエピクロルヒドリン及び/又はメチルエピクロルヒドリンとを反応して得られるもの等を使用することも可能である。その市販品としては、日本化薬(株)製EOCN-103,EOCN-104S,EOCN-1020,EOCN-1027,EPPN-201,BREN-S:ダウ・ケミカル社製、DEN-431,DEN-439:大日本インキ化学工業(株)製,N-73,VH-4150等が挙げられる。
 また、バインダー樹脂として、ビスフェノール型エポキシ樹脂(例えばビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS及びテトラブロムビスフェノールA等のビスフェノール類とエピクロルヒドリンとを反応させて得られるものや、ビスフェノールAのジグリシジルエーテルと前記ビスフェノール類の縮合物とエピクロルヒドリンとを反応させて得られるもの等を使用することも可能である。その市販品としては、油化シェル(株)製、エピコート1004、エピコート1002;ダウケミカル社製DER-330,DER-337等が挙げられる。
 また、バインダー樹脂として、トリスフェノールメタン、トリスクレゾールメタン等のエピクロルヒドリン及び/又はメチルエピクロルヒドリンとを反応させて得られるもの等を使用することも可能である。その市販品としては、日本化薬(株)製EPPN-501,EPPN-502等が挙げられる。また、トリス(2,3-エポキシプロピル)イソシアヌレート、ビフェニルジグリシジルエーテル等も使用することができる。これらのエポキシ樹脂は単独で用いても、混合して用いてもよい。
 バインダー樹脂は、硬化性化合物の総量100重量部に対して、例えば0~100重量部(1~100重量部程度)、好ましくは3~80重量部、さらに好ましくは5~40重量部用いることができる。
 [感放射線性カチオン重合開始剤]
 本発明における光硬化性樹脂組成物は、さらに、感放射線性カチオン重合開始剤を含んでもよい。感放射線性カチオン重合開始剤としては、公知の活性エネルギー線を照射して酸を発生するものであれば特に制限なく利用できるが、例えば、スルホニウム塩、ヨードニウム塩、ホスホニウム塩あるいはピリジニウム塩等を挙げることができる。
 スルホニウム塩としては、例えば、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロホスフェート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、ビス(4-(ジフェニルスルホニオ)-フェニル)スルフィド-ビス(ヘキサフルオロホスフェート)、ビス(4-(ジフェニルスルホニオ)-フェニル)スルフィド-ビス(ヘキサフルオロアンチモネート)、4-ジ(p-トルイル)スルホニオ-4′-tert-ブチルフェニルカルボニル-ジフェニルスルフィドヘキサフルオロアンチモネート、7-ジ(p-トルイル)スルホニオ-2-イソプロピルチオキサントンヘキサフルオロホスフェート、7-ジ(p-トルイル)スルホニオ-2-イソプロピルチオキサントンヘキサフルオロアンチモネート等や、特開平6-184170号公報、特開平7-61964号公報、特開平8-165290号公報、米国特許第4231951号、米国特許第4256828号等に記載の芳香族スルホニウム塩等を挙げることができる。
 ヨードニウム塩としては、例えば、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロホスフェート、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート、ビス(ドデシルフェニル)ヨードニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート等や、特開平6-184170号公報、米国特許第4256828号等に記載の芳香族ヨードニウム塩等を挙げることができる。
 また、ホスホニウム塩としては、例えば、テトラフルオロホスホニウムヘキサフルオロホスフェート、テトラフルオロホスホニウムヘキサフルオロアンチモネート等や、特開平6-157624号公報等に記載の芳香族ホスホニウム塩等を挙げることができる。
 ピリジニウム塩としては、例えば、特許第2519480号公報、特開平5-222112号公報等に記載のピリジニウム塩等を挙げることができる。
 また、感放射線性カチオン重合開始剤の陰イオンは、SbF6-、または下記式(5)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
(式中のそれぞれのX1~X4は0から5の整数を表し、全ての合計が1以上である。)
で表されるボレート類(化合物5)であると、反応性が高くなり好ましい。前記ボレート類のより好ましい例としては、テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートが挙げられる。
 スルホニウム塩およびヨードニウム塩は、市場より容易に入手することもできる。市場より容易に入手することができる感放射線性カチオン重合開始剤としては、例えば、ユニオンカーバイド社製のUVI-6990およびUVI-6974、旭電化工業(株)製のアデカオプトマーSP-170およびアデカオプトマーSP-172等のスルホニウム塩や、ローディア社製のPI 2074等のヨードニウム塩を挙げることができる。
 これら感放射線性カチオン重合開始剤の添加量は、特に制限されないが、前記カチオン硬化性ポリマー100重量部に対し0.1~15重量部が好ましく、より好ましくは1~12重量部である。
 [感放射線性ラジカル重合開始剤]
 本発明における光硬化性樹脂組成物は、さらに、感放射線性ラジカル重合開始剤を含んでいてもよい。感放射線性ラジカル重合開始剤としては、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテルなどのベンゾイン・ベンゾインアルキルエーテル類;アセトフェノン、2,2-ジメトキシ-2-フェニルアセトフェノン、2,2-ジエトキシ-2-フェニルアセトフェノン、1,1-ジクロロアセトフェノン、2-メチル-1-[4-(メチルチオ)フェニル]-2-モルフォリノ-プロパン-1-オン、2-ベンジル-2-ジメチルアミノ-1-(4-モルフォリノフェニル)-ブタン-1-オンなどのアセトフェノン類;2-メチルアントラキノン、2-エチルアントラキノン、2-ターシャリーブチルアントラキノン、1-クロロアントラキノン、2-アミルアントラキノンなどのアントラキノン類;2,4-ジメチルチオキサントン、2,4-ジエチルチオキサントン、2-クロロチオキサントン、2,4-イソプロピルチオキサントンなどのチオキサントン類;アセトフェノンジメチルケタール、ベンジルジメチルケタールなどのケタール類;ベンゾフェノンなどのベンゾフェノン類;キサントン類;1,7-ビス(9-アクリジニル)ヘプタンなどの公知慣用の光重合開始剤を単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
 また、これらの光重合開始剤は、N,N-ジメチルアミノ安息香酸エチルエステル、N,N-ジメチルアミノ安息香酸イソアミルエステル、ペンチル-4-ジメチルアミノベンゾエート、トリエチルアミン、トリエタノールアミンなどの三級アミン類のような公知慣用の光増感剤の1種あるいは2種以上と組み合わせて用いることができる。
 たとえば市販されている開始剤の例としては、Ciba社から入手可能なIrgacure(登録商標)184(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン)、Irgacure(登録商標)500(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、ベンゾフェノン)、およびIrgacure(登録商標)タイプのその他の光開始剤;Darocur(登録商標)1173、1116、1398、1174および1020(Merck社から入手可能)等が挙げられる。また、上記光開始剤と併用して熱開始剤も使用する事ができる。適した熱開始剤は、とりわけジアシルペルオキシド類、ペルオキシジカーボネート類、アルキルペルエステル類、ジアルキルペルオキシド類、ペルケタール類、ケトンペルオキシド類およびアルキルヒドロペルオキシドの形態の有機過酸化物である。こうした熱開始剤の具体例は、ジベンゾイルペルオキシド、過安息香酸t-ブチルおよびアゾビスイソブチロニトリルである。
 [増感剤,増感色素]
 本発明における光硬化性樹脂組成物は、増感剤を含んでいても良い。使用できる増感剤としては、アントラセン、フェノチアゼン、ぺリレン、チオキサントン、ベンゾフェノンチオキサントン等が挙げられる。更に、増感色素としては、チオピリリウム塩系色素、メロシアニン系色素、キノリン系色素、スチリルキノリン系色素、ケトクマリン系色素、チオキサンテン系色素、キサンテン系色素、オキソノール系色素、シアニン系色素、ローダミン系色素、ピリリウム塩系色素等が例示される。
 特に好ましいのは、アントラセン系の増感剤であり、カチオン硬化触媒(感放射性カチオン重合開始剤)と併用する事により、感度が飛躍的に向上すると共に、ラジカル重合開始機能も有しており、本発明のカチオン硬化システムとラジカル硬化システムを併用するハイブリッドタイプでは、触媒種をシンプルにできる。具体的なアントラセンの化合物としては、ジブトキシアントラセン、ジプロポキシアントラキノン(川崎化成社製 Anthracure(商標) UVS-1331、1221)等が有効である。
 増感剤は、硬化性モノマー100重量部に対して、例えば0.01~20重量部、好ましくは0.01~10重量部の割合で使用される。
 [ナノスケール粒子]
 本発明における光硬化性樹脂組成物には、必要に応じてナノスケール粒子を添加する事ができる。たとえば、下記式(6)
  SiU4                          (6)
(式中、基Uは同一、または異なり、加水分解性基またはヒドロキシル基である)で表される化合物(化合物6)、および/または、下記式(7)
  R41 a42 bSiU(4-a-b)                  (7)
(式中、R41は非加水分解性基であり、R42は官能基を有する基であり、Uは上記の意味を有し、aおよびbは値0、1、2または3を有し、合計(a+b)は値1、2または3を有する)
で表される化合物(化合物7)などの重合性シラン、および/またはそれらから誘導された縮合物を添加する事ができる。
 ナノスケール粒子としては、他に、酸化物類、硫化物類、セレン化物類、テルル化物類、ハロゲン化物類、炭化物類、ヒ化物類、アンチモン化物類、窒化物類、リン化物類、炭酸塩類、カルボン酸塩類、リン酸塩類、硫酸塩類、ケイ酸塩類、チタン酸塩類、ジルコン酸塩類、アルミン酸塩類、スズ酸塩類、鉛酸塩類およびこれらの混合酸化物からなる群から選択されるナノスケール粒子が挙げられる。
 必要に応じて添加するナノインプリント用組成物中のナノスケール粒子の体積分率(含有量)は、光硬化性樹脂組成物全体に対して、例えば0~50体積%、好ましくは0~30体積%、特に好ましくは0~20体積%である。
 ナノスケール粒子は、通常1~200nm程度、好ましくは2~50nm程度、特に好ましくは2~20nm程度の粒径を有する。
 たとえば国際公開第96/31572号から知られているものなどとしてのナノスケール無機粒子は、たとえばCaO、ZnO、CdO、SiO2、TiO2、ZrO2、CeO2、SnO2、PbO、Al23、In23およびLa23などの酸化物類;CdSおよびZnSなどの硫化物類;GaSe、CdSeまたはZnSeなどのセレン化物類;ZnTeまたはCdTeなどのテルル化物類;NaCl、KCl、BaCl2、AgCl、AgBr、AgI、CuCl、CuBr、CdI2またはPbI2などのハロゲン化物類;CeC2などの炭化物類;AlAs、GaAsまたはCeAsなどのヒ素化物類;InSbなどのアンチモン化物類;BN、AlN、Si34またはTi34などの窒化物類;GaP、InP、Zn32またはCd32などのリン化物類;Na2CO3、K2CO3、CaCO3、SrCO3およびBaCO3などの炭酸塩類;カルボン酸塩類、たとえばCH3COONaおよびPb(CH3COO)4などの酢酸塩類;リン酸塩類;硫酸塩類;ケイ酸塩類;チタン酸塩類;ジルコン酸塩類;アルミン酸塩類;スズ酸塩類;鉛酸塩類、およびその組成が好ましくは低熱膨張係数を有する通常のガラスの組成、たとえばSiO2、TiO2,ZrO2およびAl23の二成分、三成分または四成分の組合せに一致する、対応する混合酸化物類である。
 これらのナノスケール粒子類は、従来の方法、たとえば国際公開第96/31572号に記載された文献による火炎加水分解、火炎熱分解およびプラズマ法で作製することができる。安定化されたコロイド状無機粒子のナノ分散ゾル類、たとえばBAYER社製のシリカゾル、Goldschmidt社製のSnO2ゾル類、MERCK社製のTiO2ゾル類、Nissan Chemicals社製のSiO2、ZrO2、A123およびSb23ゾルまたはDEGUSSA社製のAerosil分散物類などが特に好ましい。
 好ましいナノインプリント用光硬化性樹脂組成物はさらに、下記式(8)
  R43(U1)3Si                    (8)
(式中、R43は部分的にフッ素化またはペルフルオロ化されたC2~C20-アルキルであり、U1はC1~C3-アルコキシ、メチル、エチル基または塩素である)
で表されるフルオロシラン(化合物8)を含む。
 部分的にフッ素化されたアルキルとは、少なくとも1個の水素原子がフッ素原子により置き換えられたアルキル基を意味する。
 好ましい基R43は、CF3CH2CH2、C25CH2CH2、C49CH2CH2、n-C613CH2CH2、n-C817CH2CH2、n-C1021CH2CH2およびi-C37O-(CH2)3である。
 式(8)のフルオロシランの例で、市販されているものは、トリデカフルオロ-1,1,2,2-テトラヒドロオクチル-1-トリエトキシシラン、CF3CH2CH2SiCl2CH3、CF3CH2CH2SiCl(CH3)2、CF3CH2CH2Si(CH3)(OCH3)2、i-C37O-(CH2)3SiCl2CH3、n-C613CH2CH2SiCl2CH3およびn-C613CH2CH2SiCl(CH32である。
 式(8)のフルオロシランは、ナノインプリント用光硬化性樹脂組成物の合計重量に対して例えば0~3重量%、好ましくは0.05~3重量%、さらに好ましくは0.1~2.5重量%、特に好ましくは0.2~2重量%の量で存在し得る。特に転写インプリントスタンプとしてガラススタンプまたはシリカガラススタンプが使用された場合は、フルオロシランが存在することが好ましい。
 [支持体]
 工程(1)において、樹脂組成物を塗布する支持体としては、たとえばガラス、シリカガラス、フィルム、プラスチックまたはシリコンウエハ等を用いることができる。これらの支持体は、表面に接着促進被膜が形成されていてもよい。前記接着促進被膜は、支持体に対して樹脂組成物の十分なぬれを確保する有機重合体で形成することができる。このような接着促進被膜を形成する有機重合体としては、例えばノボラック類、スチレン類、(ポリ)ヒドロキシスチレン類および/または(メタ)アクリレート類を含有する芳香族化合物含有重合体または共重合体等が挙げられる。接着促進被膜は、上記有機重合体を含む溶液をスピンコーティングなどの公知の方法で支持体上に塗布することにより形成できる。
 [溶媒(溶剤)]
 ナノインプリント用光硬化性樹脂組成物はそれ自体で、あるいは有機溶媒の溶液として付着させることができる。本発明において組成物に用いる有機溶媒は、組成物を希釈することによりペースト化し、容易に塗布工程を可能とし、次いで乾燥させて造膜し、接触露光を可能とするために用いられる。具体的には、メチルエチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン類;トルエン、キシレン、テトラメチルベンゼンなどの芳香族炭化水素類;セロソルブ、メチルセロソルブ、カルビトール、メチルカルビトール、ブチルカルビトール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、トリエチレングリコールモノエチルエーテルなどのグリコールエーテル類;酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテート、カルビトールアセテート、ブチルカルビトールアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートなどの酢酸エステル類;エタノール、プロパノール、エチレングリコール、プロピレングリコールなどのアルコール類;オクタン、デカンなどの脂肪族炭化水素;石油エーテル、石油ナフサ、水添石油ナフサ、ソルベントナフサなどの石油系溶剤が挙げられ、これらを単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
 工程(1)において、ナノインプリント用光硬化性樹脂組成物からなる被膜は、樹脂組成物を支持体上に、たとえばスピンコーティング、スリットコーティング、スプレーコーティング、またはローラーコーティングなどの公知の方法で塗布することにより形成できる。被膜(塗布時の樹脂組成物)の粘度は、好ましくは1mPas~10Pas、さらに好ましくは5mPas~5Pas、特に好ましくは5mPas~1000mPas程度である。上記方法(狭義のナノインプリント)で形成されるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物の被膜(転写前の被膜)の厚みは、例えば50~1000nm、好ましくは100~500nm程度である。
 また、工程(1)において、ナノインプリント用光硬化性樹脂組成物からなる被膜は、上記以外の方法として、金型上に樹脂組成物を流し込み、その上に支持体を重ね、最上面からプレスする方法で形成することも可能である。このような方法は、特に回折型集光フィルムの製造に用いられる場合がある。上記方法(広義のナノインプリント)で形成されるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物の被膜(転写前の被膜)の厚みは、例えば0.1μm~10mm、好ましくは1μm~1mm程度である。
 [ナノスタンパ]
 工程(1)に用いるナノスタンパは、表面に凹凸からなる転写パターンが形成されたナノインプリント用転写スタンプであって、透明テフロン(登録商標)樹脂、シリコーンゴム、シクロオレフィンポリマー樹脂類、ガラス、石英、シリカガラス、Ni―P等を素材とすることができる。なかでも、シリコーンゴムスタンパによれば、前記式(8)のフルオロシランを添加しない樹脂組成物を用いた場合にも、パターン転写後の樹脂離れが良好である点で有利である。また、本発明におけるナノスタンパとして、微細パターンが形成された金型を用いることも可能である。
 工程(1)におけるパターンの転写は、被膜上に置いたナノスタンパを、例えば5~100MPa、好ましくは10~100MPa、さらに好ましくは10MPaより高く100MPa以下の圧力下で、例えば0.1~300秒、好ましくは0.2~100秒、特に好ましくは0.5~30秒程度の持続時間、プレスする。パターン転写後の被膜(硬化前)の厚みは、例えば50~1000nm、好ましくは100~500nm程度である。また、回折型集光フィルムの製造に用いられる場合のパターン転写後の被膜(硬化前)の厚みは、例えば0.1μm~10mm、好ましくは1μm~1mm程度である。
 狭義のナノインプリントでの転写では、圧力が5MPaより小さいと、転写スタンプの有する微細パターンが十分に光硬化性樹脂組成物の塗膜に転写されず、構造化されていない残留層が多くなる。また、基板との密着性も充分に得られない。狭義のナノインプリントでの転写では、転写後の硬化物の層厚みが例えば50~1000nmで、数百nmの層厚みでの解像度、壁面傾斜および縦横比(高さ対解像度比)という高い要求に答えるため、5MPa以上の転写圧力が必要である。具体的には、転写圧力が5MPaより小さいと、パターンエッジの矩形が崩れやすくなり、基板上のパターン変形及び抜けが多くなる。圧力が100MPaより大きいと、転写スタンプを塗膜から剥離するのが困難となり、剥離の際にパターンが崩れやすくなる。
 広義のナノインプリントでの転写では、圧力が5MPaより小さいと、転写スタンプの有する微細パターンが十分に光硬化性樹脂組成物の塗膜に転写されず、基板との密着性も充分に得られない。転写圧力が5MPaより小さいと、回折型集光フィルムの山形形状の頂角が44度未満となり、転写が不十分となる。また、基板上のパターン変形及び抜けが多くなる。圧力が100MPaより大きいと、転写スタンプを塗膜から剥離するのが困難となり、剥離の際にパターンが崩れやすくなる。
 工程(1)において、硬化処理は、ナノスタンパが被膜上に静置させた状態で行っても良く、ナノスタンパを除去した後に行っても良い。好ましくは、工程(1)として、被膜にナノスタンパを、例えば5~100MPa、好ましくは10~100MPa、さらに好ましくは10MPaより高く100MPa以下の圧力下で、例えば0.1~300秒、好ましくは0.2~100秒、特に好ましくは0.5~30秒間プレスしてパターンを転写すると同時に、加熱又はUV照射を施して被膜を硬化させて微細構造物を得る工程が設けられる。
 [工程(2)]
 工程(2)の硬化処理は、加熱、UV照射等により行うことができる。UV照射を行う場合には、必要に応じて熱を併用することも可能である。たとえば、約80~150℃に約1~10分間の加熱後、約0.1秒~2分間のUV照射を行い、被膜材料を硬化させることができる。被膜を硬化させた後、ナノスタンパ(転写インプリントスタンプ)を取り除いて、インプリントされた微細構造物を得ることができる。
 硬化処理後の硬化被膜の厚みは、狭義のナノインプリントで形成された被膜では、例えば50~1000nm、好ましくは100~500nm程度であり、広義のナノインプリントで形成された被膜では、例えば0.1μm~10mm、好ましくは1μm~1mm程度である。
 この微細構造物を走査電子顕微鏡を用いて調査すると、標的基板上にインプリントされた微細構造だけでなく、30nm未満の厚さを有する、被膜の構造化されていない残留層も残っていることが示される。 次のマイクロエレクトロニクス中への使用では、急峻な壁面傾斜および高い縦横比(アスペクト比)を達成するために、残留層を取り除く必要が有る。
 [工程(3)]
 したがって、本発明の微細構造物の製造方法は、好ましくは、(3)硬化皮膜にエッチングを施す工程を含むことができる。上記微細構成物は、酸素プラズマ又はCHF3/O2ガス混合物によりエッチングすることができる。
 上記工程(1)(2)により支持体が構造化される半導体材料について、例えば、エッチングした領域中の半導体材料をドーピングする工程及び/又はその半導体材料をエッチングする工程を含む製造方法は、微細構造化された半導体材料を製造する有効な手段となる。
 エッチングの後、レジストコーティングを、たとえば水酸化テトラメチルアンモニウムなどの従来の溶媒により除去することができる。
 カチオン硬化性モノマーは、(i)硬化収縮が小さい、(ii)酸素障害が無いという長所を有する反面、(i)反応速度が遅い、(ii)アルカリ等の影響が大きい等の短所がある。これに対し、ラジカル硬化性モノマーは、(i)貯蔵安定性が高く、(ii)重合速度が速い、(iii)水分等の影響が少ない、(iv)厚膜硬化が可能、(v)モノマーの種類が豊富である等の長所があるが、(i)硬化収縮が大きい、(ii)酸素障害がある、(iii)モノマー臭気・皮膚刺激性が大きい等の短所を有する。
 本発明で使用される光硬化性樹脂化合物は、好ましくは、硬化膨張性を有するカチオン重合性化合物を含む。この化合物を多く含む光硬化性樹脂化合物では、特に、硬化収縮をコントロールでき、全く体積収縮の起こらない、理想的なナノインプリント用光硬化性樹脂組成物が得られるが、基板との密着性を向上させることが望まれる。本発明において、転写圧力が5MPa以上100MPa以下の範囲でパターン転写する微細構造物の製造方法を用いることにより、充分な基板との密着性が得られる。
 本発明では、カチオン硬化性モノマー樹脂組成物からなる被膜を支持体上に形成し、転写圧力が5MPa以上100MPa以下の範囲でパターン転写する微細構造物の製造方法を用いることにより、パターン形状、パターン精度に優れた微細構造物が得られる。
 また、本発明において、ラジカル硬化性モノマー樹脂組成物からなる被膜を支持体上に形成し、転写圧力が5MPa以上100MPa以下の範囲でパターン転写する微細構造物の製造方法を用いることにより、パターン形状、パターン精度に優れ、かつ、ラジカル硬化系の欠点である硬化収縮を抑制した、硬化収縮性も良好な微細構造物が得られる。
 また、本発明において、カチオン硬化性モノマーとラジカル硬化性モノマーとを含む組成物からなる被膜を支持体上に形成し、転写圧力が5MPa以上100MPa以下の範囲でパターン転写する微細構造物の製造方法を用いることにより、パターン形状、パターン精度に優れ、かつ、ラジカル硬化系の欠点である硬化収縮を抑制した、硬化収縮性も良好な微細構造物が得られる。
 カチオン硬化性モノマーとラジカル硬化性モノマーとを含むカチオン・ラジカル硬化併用系組成物は、硬化速度及び硬化収縮のバランスがとれた硬化系であり、本発明において、転写圧力が5MPa以上100MPa以下の範囲でパターン転写する微細構造物の製造方法を用いることにより、パターン形状、パターン精度に優れ、かつ、ラジカル硬化系の欠点である硬化収縮を抑制した、硬化収縮性も良好な微細構造物が得られる。
 本発明の微細構造物の製造方法によれば、転写圧力が5MPa以上100MPa以下の範囲でパターン転写することにより、膜を全面的に均一にすることができ、また、広い面積に及ぶ均一なパターン形成体を得ることができる。さらに、本発明の微細構造物の製造方法によれば、10μmよりも小さい膜厚、例えば0.01~1μmの厚さで、パターン変形やパターン抜けのほとんどない、パターン精度に優れた微細構造物が得られる。また、UV硬化後のナノスタンパの剥離によっても、パターン形状が崩れず、パターン変形やパターン抜けのほとんどない、パターン精度に優れた微細構造物が得られる。
 また、本発明の微細構造物の製造方法によれば、5MPa以上100MPa以下の範囲の転写圧力でパターン転写することにより、10μmを超えるような厚膜、例えば50μmを超えるような厚膜を必要とする用途であるフラットスクリーン、ホログラム、導波路、精密機械部品およびセンサの微細構造化用レジストを得ることができる。
 以下に本発明を実施例によってさらに具体的に説明する。ただし本発明はこの実施例により限定されるものではない。
 合成例1
 ナノスケール粒子分散液(E-1)
 236.1g(1モル)のアクロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(GPTS)を、26g(1.5モル)の水と共に24時間還流した。形成されたメタノールを回転蒸発器により70℃で取り除き、GPTS縮合物を得た。
 345gの酸化ジルコニウム(ZrO2 平均粒径20nm、濃度約5重量%メチルエチルケトン分散液 北村化学産業社製)を攪拌しながら、上記GPTS縮合物に加え、ナノスケール粒子分散液(E-1)を得た。
 実施例1~16、比較例1~3
1)塗膜調製法
<Si基材>
 Si基材として、ヘキサメチルジシラザンで前処理した25×25mm角のシリコンウエハを用いた。
<ナノインプリント用光硬化性樹脂組成物>
 ナノインプリント用光硬化性樹脂組成物は、表1に示す、カチオン硬化性モノマー(A)、ラジカル硬化性モノマー(B)、開始剤(C)、増感剤(D)、ナノスケール粒子(E)、バインダー樹脂(造膜助剤:F)、及び溶剤(G)を使用して、公知の方法により、スピンコータ中で調製した。表1中の各成分の具体的な化合物を以下に示す。
カチオン硬化性モノマー
 A-1:3,4-シクロヘキシルメチル-3,4-シクロヘキサンカルボキシレート/ダイセル化学工業社製 CEL2021P
 A-2:1,4-ビス[(3-エチル-3-オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン n=1
/東亞合成社製OXT-121
 A-3:トリエチレングリコールジビニルエーテル/丸善石油化学社製
 A-4:3,3-ビス(ビニロキシメチル)オキセタン/ダイセル化学工業社開発品
 A-5:ビシクロヘキシルジエポキサイド/ダイセル化学工業社製 CEL8000
ラジカル硬化性モノマー
 B-1:アクリル酸ラクトン付加物/東亞合成社製 M5300
 B-2:トリメチロールプロパントリアクリレート/ダイセルサイテック社製
 B-3:テトラエチレングリコールジアクリレート/共栄社製
開始剤
 C-1:4-メチルフェニル[4-(1-メチルエチル)フェニルヨウドニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート/ローデア製 PI2074
 C-2:2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニルエタン-1-オン/チバジャパン社製 Irgacure651
増感剤
 D-1:ジブトキシアントラセン/川崎化成 DBA
ナノスケール粒子
 E-1:合成例1にて調整したナノ粒子分散液
造膜助剤(バインダー樹脂)
 F-1:3,4-エポキシシクロヘキシルメチルアクリレート(ダイセル化学工業社製A400)と1-エチル-3-オキセタニルメチルメタクリレート(東亞合成社製)の共重合体
 F-2:側鎖にラジカル重合性ビニル基を有するポリアクリル酸エステル/ダイセル化学工業社製 サイクロマーP(ACA300)
溶剤
 G-1:プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート/ダイセル化学工業社製 MMPGAC
 <塗膜調製>
 上記のシリコンウエハに、スピンコーティング(3000回転、30秒)により、上記のナノインプリント用組成物の塗膜を、それぞれ形成した。溶剤を使用したものについては、溶媒を除去するために、約95℃で5分間乾燥させた。乾燥後のdry塗膜の層厚は約500nmであった。
 2)微細構造の標的基板上への転写およびインプリンティング
 微細構造の標的基板上への転写およびインプリンティングは、インプリンティング装置(明昌機工社製NM-0403モデル)を用いて行った。このインプリンティング装置は、コンピュータで制御された試験器であり、装荷、緩和速度、加熱温度等をプログラムすることにより、規定された圧力を特定の時間維持することが可能である。また、付帯する高圧水銀燈により、UV放射線により光化学的に硬化が開始される。
 <微細構造パターンの作製>
 具体的には、ステージの上に上記方法で調整したナノインプリント用組成物をスピンコートしたシリコンウエハを載せ、ついで微細パターンを有する石英製のモールドを載せた後、30秒かけて所定の圧力まで転写圧を高め、転写圧を維持したまま石英モールド側からUV照射を行い、組成物を硬化させた。実施例1~16、比較例1~3で用いた転写圧(プレス圧)を表1に示す。
 その他の条件として、実施例1~16、比較例1~3で用いたプレス温度、プレス時間、及びUV露光量を表1に示す。実施例1~16、比較例1~3では、200nmのライン&スペースのパターンを転写した。インプリント後、ナノスタンパを剥離し、シリコンウエハ上にパターンが形成されたナノ構造物を得た。このパターンの残存膜を、酸素を用いてプラズマエッチングした後、CHF3/O2(25:10(体積比))でドライエッチングして、シリコンウエハ上に微細構造パターンを作製した。
 <微細加工の評価>
 実施例1~16、比較例1~3の微細構造パターンの形状と精度について、以下に示す方法で評価を行った。その結果を表1に示した。
 (微細構造パターンの形状)
 ドライエッチング後のシリコンウエハ上の微細構造パターンの形状を、走査顕微鏡を用いて観察し、パターンエッジの矩形の形状を下記の基準により評価した。
 ○:パターンエッジの矩形を保っていた。
 △:パターンエッジの矩形がやや崩れていた。
 ×:パターンエッジの矩形が崩れていた。
 (微細構造パターンの精度)
 インプリント後、ナノスタンパを剥離して、シリコンウエハ上に形成されたパターンのうち1μm角のパターンを、以下の基準で評価した。
 ◎:シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが1箇所以下であった。
 ○:シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが1から10箇所以下であった。
 ×:シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが10箇所より多かった。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 なお、表1において、硬化性樹脂組成物の各成分量は、重量部で示す。
 実施例1~8,11,14~16では、カチオン硬化性組成物からなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、転写圧力が5.0,10.0,20.0,30.0,50.0,及び100.0MPaにてパターン転写して、パターンを形成、硬化し、微細構造物を得た。これらのカチオン硬化性組成物は、いずれも、硬化膨張性化合物(A-5:ビシクロヘキシルジエポキサイド)を40重量部含むが、得られた微細構造物のパターン形状は、いずれもパターンエッジは矩形を保っていた。パターンの精度は、転写圧力10.0~100.0MPaで形成した構造物では、シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが1箇所以下と優れており、転写圧力5.0MPaで形成した構造物でも、シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが1から10箇所以下と良好であった。
 これに対し、比較例1,2では、上記と同様に、硬化膨張性化合物(A-5:ビシクロヘキシルジエポキサイド)を40重量部含むカチオン硬化性モノマーからなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用い、転写圧力1.0,及び3.0MPaにてパターン転写して、パターンを形成、硬化し、微細構造物を得たところ、得られたパターンの矩形はやや崩れており、シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが10箇所より多く、パターン形状,パターン精度ともに、劣っていた。
 実施例9~10では、カチオン硬化性モノマーとラジカル硬化性モノマーとからなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、転写圧力10.0MPaにてパターン転写して、パターンを形成、硬化し、微細構造物を得た。得られた微細構造物のパターン形状は、いずれもパターンエッジは矩形を保っており、パターンの精度も、シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが1箇所以下と優れていた。
 これに対し、比較例3では、カチオン硬化性モノマーとラジカル硬化性モノマーからなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、転写圧力1.0MPaにてパターン転写して、パターンを形成、硬化し、微細構造物を得たが、得られたパターンの矩形はやや崩れており、シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが10箇所より多く、パターン形状,パターン精度ともに、劣っていた。
 実施例12~13では、ラジカル硬化性モノマーからなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、転写圧力10.0及び20.0MPaにてパターン転写して、パターンを形成、硬化し、微細構造物を得た。得られた微細構造物のパターン形状は、いずれもパターンエッジは矩形を保っており、パターンの精度も、シリコンウエハ上のパターン変形及びパターン抜けが1箇所以下と優れていた。
 実施例17~30および比較例4~6
<回折型集光フィルムの製造>
 表2に記載されている種類及び量のカチオン硬化性モノマー(A)、ラジカル硬化性モノマー(B)、開始剤(C)、増感剤(D)、ナノスケール粒子(E)、バインダー樹脂(造膜助剤:F)、及び溶剤(G)を混合して、ナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を調製した。表2中、各成分は表1に記載のものと、以下を除き、同様である。
ラジカル硬化性モノマー
 B-4:メタクリル酸メチル
造膜助剤
 F-11:3,4-エポキシシクロヘキシルメチルアクリレート(ダイセル化学工業社製A400)と1-エチル-3-オキセタニルメチルメタクリレート(東亞合成社製)の共重合体
 F-12:エポキシ化ポリブタジエン/ダイセル化学工業社製 EPL PB3600
 F-13:側鎖にラジカル重合性ビニル基を有するポリアクリル酸エステル/ダイセル化学工業社製 サイクロマーP(ACA300)
 ナノスタンパとして、回折型集光フィルム金型(材質Ni-P;山形形状のピッチ幅5μm、高さ5.7μm、頂角45度、格子パターンサイズ縦2cm、横1cm;東芝機械(株)製小型金型)を用いた。この回折型集光フィルム金型の上に上記の樹脂組成物の塗膜を形成した。ここで、溶剤を含む樹脂組成物を用いたものについては、被膜形成後に、溶媒を除去するため、約95℃で5分間加熱する乾燥処理(プレベイク)を施した。こうして形成された塗膜上に、支持体フィルム(材質PET;東洋紡(株)製;商品名「A4300」、膜厚75μm)を重ね、更にその上から所定の圧力をかけ、ローラーを用いて平坦化した。
 上記で得られた金型/塗膜/支持体フィルム積層物に露光を行い、樹脂組成物を硬化させた。露光は、超高圧水銀ランプ(ウシオ電機(株)製、型式USH-3502MA、照度16mW/cm2)を用い、積算露光量1J/cm2で行った。硬化終了後、金型から塗膜/支持体フィルム積層物を剥がし、回折型集光フィルムを作成した。実施例17~30および比較例4~6での回折型集光フィルム作成に用いたプレス圧、プレス温度、UV露光量を表2に示す。
 上記のようにして得られた実施例17~30および比較例4~6の回折型集光フィルムについて、後述の方法で、転写性(パターン形状)、パターン精度、及び屈折率を評価した。結果を表2に示す。
 <評価方法>
(パターン形状)
 パターン形状の転写性は、金属顕微鏡にて各回折型集光フィルムの山形形状の頂角を確認することで評価した。評価基準は以下のとおりである。 
 ○・・・良好(頂角45度)
 △・・・転写不十分(頂角40~44度)
 ×・・・転写不可
 (パターン精度)
 硬化終了後、金型から塗膜/支持体フィルム積層物を剥離し、支持体フィルム上に形成されたパターンのうち1μm角のパターンを以下の基準で評価した。
 ◎:支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが1箇所以下であった。
 ○:支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが1から10箇所以下であった。
 ×:支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが10箇所より多かった。
 (屈折率)
 実施例17~30および比較例4~6の光硬化性樹脂組成物について、UV硬化物を作成し、アッペの屈折率計を用いて各硬化物の屈折率を測定した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 なお、表2において、硬化性樹脂組成物の各成分量は、重量部で示す。
 表2から、実施例17~30のUV硬化物は、高い屈折率を示し、回折型集光フィルムとして有効である。
 実施例17~25では、種々のカチオン硬化性組成物からなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、5.0,10.0,20.0,及び100.0MPaの圧力にて回折型集光フィルムを作成した。
 得られた回折型集光フィルムの山形形状の頂角は45度で、良好であった。パターンの精度は、支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが1箇所以下と優れており、転写圧力5.0MPaで形成した構造物でも、支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが1から10箇所以下と良好であった。
 これに対し、比較例4,5では、カチオン硬化性モノマーからなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、1.0,及び3.0MPaにての圧力にて回折型集光フィルムを作成したが、得られたフィルムの頂角は40~44度で転写不十分であり、支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けは10箇所より多く、パターン形状,パターン精度ともに、劣っていた。
 実施例27~29では、カチオン硬化性モノマーとラジカル硬化性モノマーとからなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、10.0MPaの圧力にて回折型集光フィルムを作成した。得られたフィルムの山形形状の頂角は45度で、良好であり、支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが1箇所以下と優れたパターンの精度が得られた。
 これに対し、比較例6では、カチオン硬化性モノマーとラジカル硬化性モノマーからなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、1.0MPaの圧力にて回折型集光フィルムを作成したが、得られたフィルムの頂角は40~44度で転写不十分であり、支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが10箇所より多く、パターン形状,パターン精度ともに、劣っていた。
 実施例26,30では、ラジカル硬化性モノマーからなるナノインプリント用光硬化性樹脂組成物を用いて、10.0MPaの圧力にて回折型集光フィルムを作成した。得られたフィルムの山形形状の頂角は45度で、良好であり、支持体フィルム上のパターン変形及びパターン抜けが1箇所以下と優れたパターン精度が得られた。
 本発明の微細パターンの形成方法によれば、ラインエッジラフネスに優れ、より経済的な電子部品、光学部品等の微細構造物を高い精度で製造できるため、半導体材料、フラットスクリーン、ホログラム、回折型集光フィルム、導波路、メディア用構造体、精密機械部品又はセンサなどの精密機械部品等の分野で極めて有用である。

Claims (3)

  1.  (1)カチオン重合性化合物及び/又はラジカル重合性化合物を含む硬化性化合物を含有するナノインプリント用光硬化性樹脂組成物からなる被膜が支持体上に形成され、かつナノスタンパを用いた5~100MPaの圧力のプレスによりパターンが被膜に転写される工程、及び
    (2)パターンが転写された被膜を硬化させて微細構造物を得る工程
    を含む、該光硬化性樹脂組成物にナノインプリント加工を施して微細構造物を得る微細構造物の製造方法。
  2.  請求項1記載の製造方法で得られる微細構造物。
  3.  半導体材料、フラットスクリーン、光学部材、ホログラム、導波路、メディア用構造体、精密機械部品、およびセンサである、請求項2記載の微細構造物。
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