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WO2009059586A1 - Einzelplattenförderer, endloseinzelplattenförderer und anordnung aus wenigstens zwei endloseinzelplattenförderern - Google Patents

Einzelplattenförderer, endloseinzelplattenförderer und anordnung aus wenigstens zwei endloseinzelplattenförderern Download PDF

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Publication number
WO2009059586A1
WO2009059586A1 PCT/DE2008/001810 DE2008001810W WO2009059586A1 WO 2009059586 A1 WO2009059586 A1 WO 2009059586A1 DE 2008001810 W DE2008001810 W DE 2008001810W WO 2009059586 A1 WO2009059586 A1 WO 2009059586A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
plate conveyor
endless
plate
conveyor
endless single
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/DE2008/001810
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Heinz F. Odenthal
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HENNECKE SYSTEMENTWICKLUNG
Original Assignee
HENNECKE SYSTEMENTWICKLUNG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HENNECKE SYSTEMENTWICKLUNG filed Critical HENNECKE SYSTEMENTWICKLUNG
Priority to DE112008003604T priority Critical patent/DE112008003604A5/de
Publication of WO2009059586A1 publication Critical patent/WO2009059586A1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/74Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
    • B65G47/90Devices for picking-up and depositing articles or materials
    • B65G47/91Devices for picking-up and depositing articles or materials incorporating pneumatic, e.g. suction, grippers
    • B65G47/911Devices for picking-up and depositing articles or materials incorporating pneumatic, e.g. suction, grippers with air blasts producing partial vacuum
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G15/00Conveyors having endless load-conveying surfaces, i.e. belts and like continuous members, to which tractive effort is transmitted by means other than endless driving elements of similar configuration
    • B65G15/30Belts or like endless load-carriers
    • B65G15/58Belts or like endless load-carriers with means for holding or retaining the loads in fixed position, e.g. magnetic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67784Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations using air tracks

Definitions

  • the invention relates to continuous conveyors, as described, for example, in DE 199 17 657 A1, DE 34 06 858 A1, DE 28 37 092 A1, DE 94 10 970 A1, FR 1 159 336, EP 0 696 538 A1, EP 0 331 210 A2, US 3,425,184 and US 3,352,404.
  • the invention relates to endless single piece product conveyors as disclosed in DE 28 37 092 A1, FR 1 159 336, US 3,425,184 and US 3,352,404, while DE 199 17 657 A1, DE 34 06 858 A1, DE 94 10 970 U1, EP 0 696 538 A1 and EP 0 331 210 A2 additionally disclose endless conveyors for stranded, non-rigid bags with loose material.
  • the invention relates in particular to endless single plate conveyors, as disclosed, for example, in DE 28 37 092 A1 and FR 1 159 336, for example EP 1 355 838 B1 discloses an endless single plate conveyor in which the Bernoulli principle is used.
  • the term "bernoullic vacuum chamber” refers to a vacuum chamber in which a significant portion of the negative pressure is provided by a dynamic negative pressure, other than negative pressure chambers which operate with vacuum and in which relatively low volume flows and the negative pressure essentially provided by a static pressure, Bernoulli vacuum chambers have a relatively large volume flow, which is retained to a great extent also during the suction, and due to its flow velocity, has a lower flow rate. pressure generated. It is understood that by sucking in the volume flow, a static negative pressure can be additionally provided.
  • a Bernoulli vacuum chamber can be defined in particular by the fact that more than 20% of the negative pressure is due to flow movement of the corresponding medium, in particular of air.
  • a Bernoulli vacuum chamber has the particular advantage that pressure differences are relatively low, so that both pumps and the transported goods are only slightly loaded. This applies in particular surprisingly for rigid plates, which bend only very slightly through a Bernoulli vacuum chamber and thus are only very slightly loaded. In particular, remain in interaction with rigid plates very many spaces through which medium can flow, so that it is somewhat surprised that nevertheless sufficient suction force can be applied. However, it has been found that the suction force provided in this way is very uniform and extremely gentle on the plates.
  • a Bernoulli vacuum chamber according to the present invention is a spatially limited structure and communicates only via openings, in particular preferably over a large number of openings, with the environment and exerts the negative pressure on a workpiece by a Air flow or a flow of the negative pressure medium forming on at least one, preferably a plurality of these openings, passes to provide in this way at the opening a negative pressure caused by the flow.
  • a Bernoulli vacuum chamber is to be distinguished from arrangements in which a gap remains between a workpiece and a suction or blow-out opening and the air stream passing through this gap forms a corresponding negative pressure, which then acts correspondingly on the respective workpiece, so that itself the workpiece itself forms a wall of the flow channel, which provides the flow-induced negative pressure.
  • the negative pressure provided by the bernoullic vacuum chamber according to the invention can act in a corresponding manner on a workpiece by leaving a gap between the corresponding workpiece and the bernoullic vacuum chamber, for example by a corresponding spacer or by a circumferential Carrier, the suitable openings or free surfaces in contact with the workpiece, can be provided.
  • a small air flow or a small flow can form through this gap, but the actual suppression is still provided by the flow velocity in the bernoullic vacuum chamber parallel to the opening surfaces in the bernoulli vacuum chamber.
  • the subject of the present invention differs from the subject of EP 1 355 838 Bl, that in this document, although the Bernoulli principle is used to fix plates on a support.
  • this conveyor has two parallel belts, between which nozzles for generating the flow are arranged such that a gap remains between the nozzles and the plates, through which an air flow flowing parallel to the plates can form. Accordingly, the plates then form part of the flow channel, which is responsible for the negative pressure caused by the flow velocity, and thus part of the wall of the space responsible for the negative pressure.
  • Such a bernoullic vacuum chamber may, for example, be attached to a support arm, e.g. on a robot arm.
  • a support plane is preferably formed by a perforated plate.
  • this may be formed of rubber or plastic, so that the risk of damage to the plates and a lateral Verrut- see can be further minimized.
  • a Bernoulli vacuum chamber can also be arranged under an endless conveyor.
  • the endless conveyor such as a perforated belt or a metallic, surrounding tissue can be supported on a perforated plate.
  • a gap formed by two endless conveyors such as two belts, chains or belts, can be used to form a Bernoulli flow.
  • such a Bernoulli vacuum chamber is particularly format-independent, since the support plane does not necessarily have to be completely covered in order to ensure a sufficient vacuum.
  • an endless single piece product conveyor having a circulating support and fixed means for producing a pulp upwardly acting force can be combined with an endless single piece product conveyor disposed below the piece goods carried thereby so as to spread, interpose, singulate , Repositioning or similar can be realized correspondingly fast and reliable.
  • an endless single piece product conveyor may be combined with a circulating support and stationary means for producing a force acting upwards on a unit load with a workstation which should be equipped from above.
  • the support plane can be formed by at least two parallel encircling beams, such as at least two parallel belts, chains or belts. Particularly advantageous is the formation of the support plane by at least one circumferential, openings having surface support, such as a circumferential, openings perforating punched tape and / or fabric, which ensures a particularly gentle wearing of the respective plates, so that in particular very sensitive plates can be promoted. If two or more parallel encircling carrier used, it is recommended for the above reason, a small distance.
  • the carrier may form the wall of the bernoullic vacuum chamber, which forms the openings providing the negative pressure, which, however, is generally not advantageous in itself, since then the carrier has to be sufficiently inherently rigid.
  • the bernoulli vacuum chamber is a spatially defined structure, which independently and without moving parts forms a flow channel, which can provide a conditional by flow rate of a corresponding medium negative pressure at corresponding openings.
  • a difference from the subject matter of EP 1 355 838 Bl is to be seen, in which a negative pressure due to flow can build up only in the presence of a plate, since only then does the corresponding, forming the negative pressure flow forms. The latter leads to a delayed picking up of the workpieces to be conveyed and usually requires more complex measures to ensure a targeted and precise shedding.
  • the support plane is arranged below a circulating carrier, so that the plates can be transported overhead.
  • a single-plate conveyor according to the invention it is readily possible with a single-plate conveyor according to the invention to pick up plates from one surface, for example from the support plane of another conveyor or else from a support surface and place them elsewhere, so that a very gentle transfer of the plates is possible ,
  • an arrangement of at least two endless single plate conveyors in which one endless single plate conveyor has a support plane disposed below a revolving carrier and the other endless single plate conveyor has a support plane disposed above a revolving carrier also independent of the other features of the present invention advantageous.
  • Such an arrangement makes it possible, in particular, to achieve a very gentle spacing alignment of successive plates, a very gentle distribution of plates on different paths, or a corresponding merging.
  • a shelf, a cache or the like can be easily and gently realized for the plates.
  • the present invention is particularly suitable for fracture-sensitive plates, such as wafers and their successors, as there are cells built on a wafer, cells connected in strings to strings, or strings assembled into a module.
  • Other flat objects can also be used, in particular in connection with punched bands and / or an overhead or overhead conveyor.
  • FIG. 1 shows a first single plate conveyor according to the invention in section
  • Figure 2 shows a second single plate conveyor according to the invention in section
  • FIG. 3 shows a third single plate conveyor according to the invention as an endless single plate conveyor
  • FIG. 4 is a perspective view of the third single plate conveyor
  • FIG. 5 is a fourth endless single plate conveyor according to the invention as an endless single plate conveyor
  • Figure 6 shows an arrangement of two endless single plate conveyors for adjusting a
  • FIG. 7 shows a carrier loader in a schematic plan view
  • FIG. 8 shows the carrier loader according to FIG. 6 in a schematic side view
  • Figure 9 is a buffer or memory in a schematic side view.
  • the single-plate conveyor 10 according to FIG. 1 has a Bernoulli vacuum chamber 1, which essentially represents a parallelepiped-shaped cavity bounded by walls 2 (numbered as an example).
  • One of the walls 2 has a multiplicity of openings 3 (numbered as an example) and forms a support plane 4.
  • the openings 3 each have opening surfaces which are formed parallel to the support plane 4 and delimited by the wall 2 forming the support plane 4, wherein the latter wall and the respective openings 3 form a continuous surface, which bounds the Bernoulli vacuum chamber 1 in the region of this wall 2.
  • the bernoulli vacuum chamber 1 also has an intake 5, through which air can be sucked through a blower not shown here. Depending on the specific volume flow rate required for air, it is also possible to provide a plurality of suction openings 5.
  • a separate inlet opening 6 is provided in order to ensure sufficient flow through the bernoullic vacuum chamber 1.
  • the area of the wall 2 having the openings 3 can be chosen to be smaller than or equal to the plates or wafers to be conveyed, even if this exemplary embodiment has seals 22 (numbered as an example) which respectively surround the openings 3 and an appreciable air flow through the openings 3 with recorded plate or recorded wafer prevent.
  • the seals 22 are made of rubber and also serve as anti-slip.
  • Such an anti-slip device is additionally advantageous in particular when the single-plate conveyors 10, 20 are fastened to a robot arm or a similar arrangement and are therefore subject to relatively high accelerations.
  • Such attachment can be made, for example, to a holder 11, which is shown as an example in Figure 1, wherein the attachment can also be done in any other arbitrary manner.
  • the wall 2 which forms the support plane 4 and has the openings 3 be made of appropriate material, such as rubber.
  • this wall 2 or the seals 22 made of other plastics or materials.
  • the seals 22 furthermore require, as can be seen directly from FIG. 2, that the support plane 4 is formed so as to be spaced from the wall 2. If, instead of the seals 22, only spacers are used which ensure a sufficient flow of air between the received plates or wafers and the wall 2 having the openings 3, the inlet opening 6 can be dispensed with in an alternative embodiment to the embodiment according to FIG become.
  • the endless single-plate conveyor 30 shown in Figs. 3 and 4 also includes a Bernoulli vacuum chamber 1, but provided with three suction ports 5.
  • the bernoulli vacuum chamber 1 of the endless single plate conveyor 30 cooperates with a perforated belt 7, which rotates around the bernoulli vacuum chamber 1 by means of rollers 9 and has holes 8 (numbered as an example).
  • the circumferential perforated belt 7 can then promote plates which are sucked by the Bernoulli vacuum chamber 1 in the circumferential direction.
  • the perforated belt 7 of the endless single-plate conveyor 30 according to FIGS. 3 and 4 is formed of a textile fabric so that a sufficient air flow rate is guaranteed even when the plate is sucked in order to provide a sufficiently high flow at the openings 3.
  • other air-permeable structures such as metal mesh or knitted fabric can be used. If the material of the selected rotating carrier is very permeable to air, it may be possible to omit the holes 8 in their entirety, since then sufficient other openings are already present. On the other hand, if a material is used, since it is not permeable to air, the holes 8 must be suitable to get voted.
  • the openings 3 can vary in their diameter and also in their shape over the conveying length in order to be able to vary the negative pressure in this way.
  • a lower negative pressure can be ensured, for example, in a discharge area, which causes a detachment of the plate or wafer from a certain position.
  • the support plane 4 is located below the Bernoulli vacuum chamber 1 so that the plates or wafers are suspended. It is understood that even a horizontal transport is possible at a bernoulli vacuum chamber arranged below the carrying plane, in which case the negative pressure mainly serves a safe, non-slip transport.
  • the endless single-plate conveyor 40 illustrated in FIG. 5 essentially corresponds to the endless single-plate conveyor 30 according to FIGS. 3 and 4, wherein by way of the endless single-plate conveyor 40 is exemplified how suction openings 5 of bernoullic vacuum chambers 1 can be connected to the suction side of a fan 44 via a suction line system 43 ,
  • the endless single-plate conveyor 40 unlike the endless single-plate conveyor 30, has three bernoullic vacuum chambers 1, a lifting chamber 45, a transporting chamber 46 and a storage chamber 47. Wafers 48 can thus be targeted and very carefully moved from a lifting position 50 into a raised position 51 lifted transported to a Abwagfeposition 52 and stored there in a storage position 53. This can already be realized by the fact that by the pipe diameter or by in relation to the chambers 45, 46 and 47 individual delivery rate of the suction line 43 different pressures in the chambers 45, 46 and 47 set and the perforated belt 47 are moved continuously.
  • a relatively high pressure can be selected in the lifting chamber 45, which ensures a corresponding lifting operation, while a vacuum is selected in the transport chamber 46, which ensures the holding of the wafers 48 on the perforated belt 7 in a reliable manner.
  • a relatively low vacuum can be selected, which ensures a controlled discharge.
  • the pressure may optionally be varied in the Habetting 45, if this appears necessary.
  • blower in particular as a fan 44, in particular standard radial ventilators can be used which have a high throughput, ie a high volume of air delivered.
  • FIGS. 6 to 10 represent, by way of example only, ways in which overhead conveying conveyors can be combined with storage systems, storage or buffers or conventional, horizontally conveying conveyors.
  • the single plate conveyors or endless single plate conveyors according to the invention can be used, which applies in particular to overhead conveyors.
  • the conveyor arrangement 60 according to FIG. 6 is particularly suitable for adapting the spacing of wafers 48 in a conveyor line.
  • wafers 48 can be lifted off and decelerated or accelerated again by a conventional belt or belt conveyor 61, which conveys the wafers 48 in the direction of the arrow 62.
  • an endless single-plate conveyor 30 can be used.
  • wafers 48 can be suspended in a carrier loader 70 and placed on a sliding plate 71 or other tray, for example via an endless single-plate conveyor 30.
  • the endless single-plate conveyor 30 throws or any other conveyor that will convey the wafer 48 when the sliding table 71 has reached a corresponding position. If enough wafers 48 are stacked, a corresponding carrier 72 can then be removed.
  • buffers 80, 91 or intermediate stores with hanging endless single plate conveyors can easily and reliably be realized.
  • a hanging endless single-plate conveyor for example by means of an endless single-plate conveyor 30 or 40, wafers 49 can be deposited on lifting plates 82 and 92, respectively.
  • the lifting plate 82, 92 can lower correspondingly, so that further feeding of other wafers 48 or further destacking is readily possible.
  • a decrease of the wafer 48 from the stack or a corresponding separation can be ensured via a nozzle 93.
  • By appropriate conventional conveyor 84, 85, 94 then preferably takes place an increase or decrease of the wafer 48th
  • a wafer 48 is fed by a conventional conveyor 84, picked up by an endless single-plate conveyor 40, and further conveyed and discharged on another conventional conveyor 85.
  • the endless single-plate conveyor 40 bridges a space between the two conventional conveyors 84 and 85 in which the lift table 82 is disposed. If a wafer 48 has to be intermediately stored, the endless single-plate conveyor 40 deposits it on the lifting plate 82, which may be shifted to below to allow unimpeded transport of additional wafers 48 through the endless single plate conveyor 40.
  • the lift plate 82 is raised until the endless single plate conveyor 40 can remove the top wafer 48 and deposit it on the off-take conventional conveyor 85.
  • the buffers 91 of the wet-line unloader 90 of FIG. 10 operate with a plurality of endless single-plate conveyors 30 so that more complex sorting operations can be implemented through the conventional conveyor 94 to the exit.

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Abstract

Einzelplattenförderer bzw. Endloseinzelplattenförderer (40) kann durch eine jenseits einer Trageebene angeordnete bernoullische Unterdruckkammer eine besonders schonende Förderung realisiert werden.

Description

Einzelplattenförderer, Endloseinzelplattenförderer und Anordnung aus wenigstens zwei End- loseinzelplattenförderern
[01] Die Erfindung betrifft Endlosförderer, wie Sie beispielsweise aus der DE 199 17 657 Al, der DE 34 06 858 Al, der DE 28 37 092 Al, der DE 94 10 970 Ul, der FR 1 159 336, der EP 0 696 538 Al, der EP 0 331 210 A2, US 3,425,184 und der US 3,352,404 bekannt sind.
[02] Insbesondere betrifft die Erfindung Endloseinzelstückgutförderer, wie sie in der DE 28 37 092 Al, der FR 1 159 336, der US 3,425,184 und der US 3,352,404 offenbart sind, während die DE 199 17 657 Al, die DE 34 06 858 Al, die DE 94 10 970 Ul, die EP 0 696 538 Al und die EP 0 331 210 A2 ergänzend noch Endlosförderer für strangweise geförderte, nicht eigensteife Beutel mit Losgut offenbaren. Ebenso betrifft die Erfindung insbesondere Endloseinzelplattenförderer, wie diese beispielsweise in der DE 28 37 092 Al und der FR 1 159 336 offenbart sind, wobei beispielsweise die EP 1 355 838 Bl einen Endloseinzelplattenförderer offenbart, bei welchem das bernoullische Prinzip zu Anwendung kommt.
[03] Es ist Aufgabe vorliegender Erfindung, einen Förderer bereitzustellen, der ein Stückgut besonders schonend behandelt.
[04] Als Lösung wird einerseits ein Einzelplattenförderer bzw. Endloseinzelplattenförderer vorgeschlagen, welcher sich durch eine jenseits einer Trageebene angeordnete bernoullische Unterdruckkammer auszeichnet.
[05] In diesem Zusammenhang bezeichnet der Begriff einer „bernoullischen Unterdruckkammer" eine Unterdruckkammer, in welcher ein nennenswerter Teil des Unterdrucks durch einen dynamischen Unterdruck bereitgestellt wird. Anderes als bei Unterdruckkammern, die mit Vakuum arbeiten und bei denen verhältnismäßig geringe Volumenströme bewegt sowie der Unterdruck im Wesentlichen durch einen statischen Druck bereitgestellt wird, haben bernoullische Unterdruckkammern einen verhältnismäßig großen Volumenstrom, der auch beim Ansaugen zu großen Teilen erhalten bleibt und durch seine Strömungsgeschwindigkeit einen Unter- druck erzeugt. Hierbei versteht es sich, dass durch das Ansaugen des Volumenstroms auch ein statischer Unterdrück ergänzend bereitgestellt werden kann. Diesbezüglich kann eine bernoulli- sche Unterdruckkammer insbesondere dadurch definiert werden, dass über 20 % des Unterdrucks durch Strömungsbewegung des entsprechenden Mediums, insbesondere also von Luft, bedingt sind.
[06] Eine bernoullische Unterdruckkammer hat insbesondere den Vorteil, dass Druckunterschiede verhältnismäßig gering sind, so dass sowohl Pumpen als auch die transportierten Güter nur wenig belastet werden. Dieses gilt insbesondere in überraschender Weise für starre Platten, die sich durch eine bernoullische Unterdruckkammer nur sehr wenig durchbiegen und somit nur sehr wenig belastet werden. Insbesondere verbleiben im Zusammenspiel mit starren Platten sehr viele Zwischenräume, durch welche Medium strömen kann, so dass es einigermaßen überrascht, dass dennoch eine ausreichende Ansaugkraft aufgebracht werden kann. Es hat sich jedoch herausgestellt, dass die auf diese Weise bereitgestellte Ansaugkraft sehr gleichmäßig wirkt und äußerst schonend für die Platten ist.
[07] Hierbei ist jedoch zu betonen, dass eine bernoullische Unterdruckkammer entsprechend der vorliegenden Erfindung ein an sich räumlich begrenztes Gebilde darstellt und lediglich über Öffnungen, insbesondere vorzugsweise über sehr viele Öffnungen, mit der Umgebung kommuniziert und den Unterdruck auf eine Werkstück ausübt, indem ein Luftstrom bzw. eine Strömung des den Unterdruck ausbildendem Medium an wenigstens einer, vorzugsweise einer Vielzahl dieser Öffnungen, vorbeistreicht, um auf diese Weise an der Öffnung einen durch die Strömung bedingten Unterdruck bereitzustellen. Insoweit ist eine bernoullische Unterdruckkammer von Anordnungen zu unterscheiden, bei welchem zwischen einem Werkstück und einer Ansaug- oder einer Ausblasöffnung ein Spalt verbleibt und der durch diesen Spalt streichende Luftstrom einen entsprechenden Unterdruck bildet, der dann auf dass jeweilige Werk- stück entsprechend wirkt, so dass an sich das Werkstück selbst eine Wandung des Strömungskanals bildet, der den strömungsbedingten Unterdruck bereitstellt. Hierbei versteht es sich, dass der durch die erfindungsgemäße bernoullische Unterdruckkammer bereitgestellte Unterdruck in entsprechender Weise auf ein Werkstück einwirken kann, indem zwischen dem entsprechenden Werkstück und der bernoullische Unterdruckkammer ein Spalt belassen wird, der beispielswei- se durch einen entsprechenden Abstandhalter oder aber durch einen umlaufenden Träger, der geeignete Öffnungen oder Freiflächen bei einem Kontakt mit dem Werkstück aufweist, bereitgestellt werden kann. Bei einer derartigen Anordnung versteht es sich, dass durch diesen Spalt ein geringer Luftstrom bzw. eine geringe Strömung sich ausbilden kann, wobei jedoch der eigentliche Unterdrück nach wie vor durch die Strömungsgeschwindigkeit in der bernoullische Unterdruckkammer parallel zu den Öffnungsflächen in der bernoullische Unterdruckkammer bereitgestellt wird.
[08] Insoweit unterscheidet sich der Gegenstand der vorliegenden Erfindung vom Gegenstand der EP 1 355 838 Bl, dass in dieser Druckschrift zwar das bernoullische Prinzip genutzt wird, um Platten an einem Träger zu fixieren. Jedoch weist dieser Förderer zwei parallel lau- fende Bänder auf, zwischen welchen Düsen zum Erzeugen der Strömung derart angeordnet sind, dass zwischen den Düsen und den Platten ein Spalt verbleibt, durch welchen sich eine parallel zu den Platten strömende Luftströmung ausbilden kann. Dementsprechend bilden die Platten dann einen Teil des Strömungskanals, der für den durch die Strömungsgeschwindigkeit bedingten Unterdruck verantwortlich ist, und somit einen Teil der Wandung des für den Unter- druck verantwortlichen Raumes.
[09] Eine derartige bernoullische Unterdruckkammer kann beispielsweise an einem Tragarm, wie z.B. an einem Roboterarm, angeordnet werden. Hierbei wird eine Tragebene vorzugsweise durch eine Lochplatte gebildet. Insbesondere kann diese aus Gummi oder Kunststoff gebildet sein, sodass die Gefahr einer Beschädigung der Platten sowie ein seitliches Verrut- sehen weiter minimiert werden kann.
[10] Insbesondere kann eine bernoullische Unterdruckkammer auch unter einem Endlosförderer angeordnet werden. Hierbei kann sich gegebenenfalls der Endlosförderer, wie beispielsweise ein Lochband oder ein metallisches, umlaufendes Gewebe auf einer Lochplatte abstützen. Ebenso kann jedoch ein Zwischenraum, der durch zwei Endlosförderer, wie zwei Riemen, Ket- ten oder Bänder, gebildet wird, zur Ausbildung einer bernoullischen Strömung genutzt werden.
[11] Während durch den bernoullische Unterdruck die Gefahr eines seitlichen Verrutschens bereits minimiert wird, kann diese durch eine geeignete Wahl des Endlosförderers, beispielsweise aus Gummi, noch weiter minimiert werden. [12] Bei geeigneter Ausgestaltung ist eine derartige bernoullische Unterdruckkammer insbesondere auch formatunabhängig, da die Trageebene nicht zwingend zur Gänze abgedeckt sein muss, um ein ausreichendes Vakuum zu gewährleisten.
[13] In vorliegendem Zusammenhang beziehen sich die Begriffe unterhalb und oberhalb bzw. nach oben gerichtet jeweils auf die Vertikale bzw. auf die Ausrichtung der Schwerkraft und bezeichnen Anordnungen und Richtungen mit wenigstens einer entsprechend gerichteten Komponente.
[14] Insbesondere kann ein Endloseinzelstückgutförderer mit einem umlaufenden Träger und ortsfesten Mitteln zum Erzeugen einer auf ein Stückgut nach oben wirkenden Kraft mit einem Endloseinzelstückgutförderer, welcher unterhalb des von ihm getragenen Stückguts angeordnet ist, kombiniert werden, so dass sich ein Verteilen, Zwischenlagern, Vereinzeln, Umpositionieren oder ähnliches entsprechend schnell und betriebssicher realisieren lässt. Ebenso vorteilhaft kann entsprechend ein Endloseinzelstückgutförderer mit einem umlaufenden Träger und ortsfesten Mitteln zum Erzeugen einer auf ein Stückgut nach oben wirkenden Kraft mit einer Arbeitsstation, welcher von oben bestückt werden sollte, kombiniert werden. Dieses gilt zwar auch unabhängig von der Verwendung einer bernoullische Unterdruckkammer, wobei dieses sich jedoch insbesondere im Zusammenspiel mit einer erfindungsgemäßen bernoullische Unterdruckkammer vorteilhaft ist.
[15] Die Trageebene kann durch wenigstens zwei parallel umlaufende Träger, wie wenigs- tens zwei parallele Riemen, Ketten oder Bänder, gebildet werden. Besonders vorteilhaft ist die Bildung der Trageebene durch wenigstens einen umlaufenden, Öffnungen aufweisenden Flächenträger, wie beispielsweise ein umlaufendes, Öffnungen aufweisendes Lochband und/oder Gewebe, was ein besonders schonendes Tragen der jeweiligen Platten gewährleistet, so dass insbesondere auch sehr empfindliche Platten gefördert werden können. Werden zwei oder mehr parallel umlaufende Träger verwendet, empfiehlt sich aus dem vorgenannten Grund ein geringer Abstand.
[16] Gegebenenfalls kann der Träger die Wandung der bernoullische Unterdruckkammer bilden, welche die den Unterdruck bereitstellenden Öffnungen bildet, was jedoch an sich in der Regel nicht vorteilhaft ist, da dann der Träger ausreichend eigensteif ausgebildet sein muss. Vorzugsweise ist die bernoullische Unterdruckkammer jedoch ein räumlich definiertes Gebilde, was eigenständig und ohne bewegte Teile einen Strömungskanal bildet, der einen durch Strömungsgeschwindigkeit eines entsprechenden Mediums bedingten Unterdruck an entsprechenden Öffnungen bereitstellen kann. Insbesondere hierin ist ein Unterschied zum Gegenstand der EP 1 355 838 Bl zu sehen, bei welchem ein durch Strömung bedingter Unterdruck erst beim Vorhandensein einer Platte sich aufbauen kann, da sich erst dann die entsprechende, den Unterdruck bildende Strömung ausbildet. Letzteres führt zu einem verzögerten Aufgreifen der zu fördernden Werkstücke und bedingt in der Regel komplexere Maßnahmen um ein zielgerichtetes und präzises Abwerfen zu gewährleisten.
[17] Vorzugsweise ist die Trageebene unterhalb eines umlaufenden Trägers angeordnet, so dass die Platten über Kopf transportiert werden können. Auf diese Weise ist es ohne Weiteres möglich, mit einem erfindungsgemäßen Einzelplattenförderer Platten von einer Oberfläche, beispielsweise von der Trägeebene eines anderen Förderers oder aber, von einer Ablagefläche aufzunehmen und an anderer Stelle abzulegen, so dass hierdurch eine sehr schonende Über- nähme der Platten möglich.
[18] Insbesondere ist somit aus den vorgenannten Gründen eine Anordnung aus wenigstens zwei Endloseinzelplattenförderern, bei welcher der eine Endloseinzelplattenförderer eine unterhalb eines umlaufenden Trägers angeordnete Trageebene und der andere Endloseinzelplattenförderer eine oberhalb eines umlaufenden Trägers angeordnete Trageebene aufweist, auch unabhängig von den übrigen Merkmalen vorliegender Erfindung vorteilhaft. Eine derartige Anordnung ermöglicht insbesondere einen sehr schonenden Abstandsaugleich von aufeinander folgenden Platten, eine sehr schonende Verteilung von Platten auf verschieden Bahnen oder auch ein entsprechendes Zusammenführen. Ebenso kann eine Ablage, ein Zwischenspeicher oder ähnliches einfach und schonend für die Platten realisiert werden.
[19] Wie bereits vorstehend erläutert, eignet sich vorliegende Erfindung insbesondere für bruchempfindliche Platten, wie beispielsweise Wafer und deren Nachfolgeprodukte, als da sind auf einen Wafer aufgebaute Zellen, zu Strings in Reihe geschaltete Zellen bzw. zu einem Modul zusammengefügte Strings. Auch andere flächige Gegenstände können, insbesondere in Verbindung mit Lochbändern und/oder einem über Kopf bzw. hängend arbeitenden Förderer, entspre- chend geeignet gefördert werden, wie beispielsweise Folien oder Bahnen, wenn ergänzende Maßnahmen, wie geeignete Aufgabeeinrichtungen u.a. vorgesehen sind.
[20] Weitere Vorteile, Ziele und Eigenschaften vorliegender Erfindung werden anhand der nachfolgenden Beschreibung anliegender Zeichnung erläutert. In der Zeichnung zeigen: Figur 1 einen ersten erfindungsgemäßen Einzelplattenförderer im Schnitt;
Figur 2 einen zweiten erfindungsgemäßen Einzelplattenförderer im Schnitt;
Figur 3 einen dritten erfindungsgemäßen Einzelplattenförderer als Endloseinzelplatten- förderer;
Figur 4 den dritten Einzelplattenförderer in perspektivischer Darstellung Figur 5 einen vierten erfindungsgemäßen Endloseinzelplattenförderer als Endloseinzel- plattenförderer;
Figur 6 eine Anordnung aus zwei Endloseinzelplattenförderern zum Anpassen eines
Abstandes zwischen zwei transportierten Wafern in schematischer Seitenansicht; Figur 7 einen Carrier-Belader in schematischer Aufsicht;
Figur 8 den Carrier-Belader nach Figur 6 in schematischer Seitenansicht;
Figur 9 einen Puffer oder Speicher in schematischer Seitenansicht; und
Figur 10 einen Entlader einer Nasslinie.
[21] Der Einzelplattenförderer 10 nach Figur 1 weist eine bernoullische Unterdruckkammer 1 auf, die im Wesentlichen einen quaderförmigen Hohlraum darstellt, der durch Wandungen 2 (exemplarisch beziffert) begrenzt ist. Eine der Wandungen 2 weist eine Vielzahl an Öffnungen 3 (exemplarisch beziffert) und bildet eine Trageebene 4. Wie unmittelbar nachvollziehbar weisen die Öffnungen 3 jeweils Öffnungsflächen auf, die parallel zur Trageebene 4 ausgebildet und von der die Trageebene 4 bildenden Wandung 2 umgrenzt sind, wobei letztere Wandung und die jeweiligen Öffnungen 3 eine zusammenhängende Fläche bilden, welche die bernoullische Unterdruckkammer 1 im Bereich dieser Wandung 2 umgrenzt.
[22] Die bernoullische Unterdruckkammer 1 weist darüber hinaus eine Ansaugöffnung 5 auf, durch welche Luft über ein hier nicht näher dargestelltes Gebläse abgesaugt werden kann. Je nach konkret erforderlichem Volumendurchsatz an Luft können auch mehrere Ansaugöffnungen 5 vorgesehen sein.
[23] Wird an der Ansaugöffnung 5 nunmehr Luft in hohem Maße abgesaugt, entsteht eine Luftströmung, die an den Öffnungen 3 eine wesentliche Strömungskomponente aufweist, wel- che parallel zur Öffnungsfläche der Öffnungen 3, also parallel zur die Öffnungen 3 aufweisenden Wandung 2, ausgerichtet ist. Diese Strömungskomponente bedingt einen Unterdruck, welcher geeignet ist, eine Platte, wie insbesondere auch eine Wafer, anzusaugen und zu halten, wobei bei diesem Ausführungsbeispiel die Fläche der die Öffnungen 3 aufweisenden Wandung 2 so groß gewählt ist, dass auch bei aufgenommener Platte oder bei aufgenommenem Wafer eine ausreichende Strömung, insbesondere parallel zu der die Öffnungen 3 aufweisenden Wandung 2, gewährleistet ist.
[24] Bei dem in Figur 2 dargestellten Einzelplattenförderer 20 ist eine separate Einlassöffnung 6 vorgesehen, um eine ausreichende Strömung durch die bernoullische Unterdruckkammer 1 zu gewährleisten. Insofern kann bei diesem Ausführungsbeispiel die Fläche der die Öff- nungen 3 aufweisenden Wandung 2 kleiner oder gleich der zu fördernden Platten oder Wafer gewählt werden, auch wenn dieses Ausführungsbeispiel Dichtungen 22 (exemplarisch beziffert) aufweist, die jeweils die Öffnungen 3 umgeben und einen nennenswerten Luftstrom durch die Öffnungen 3 bei aufgenommener Platte oder aufgenommenem Wafer verhindern. Die Dichtungen 22 sind hierbei aus Gummi gebildet und dienen auch als Rutschsicherung.
[25] Eine derartige Rutschsicherung ist insbesondere dann ergänzend von Vorteil, wenn die Einzelplattenförderer 10, 20 an einem Roboterarm oder einer ähnlichen Anordnung befestigt sind und somit verhältnismäßig hohen Beschleunigungen unterliegen. Eine derartige Befestigung kann beispielsweise an einer Halterung 11 erfolgen, die in Figur 1 exemplarisch dargestellt ist, wobei die Befestigung auch auf jede andere beliebige Weise erfolgen kann.
[26] Andererseits kann als Rutschsicherung bereits die Wandung 2, welche die Trageebene 4 bildet und die Öffnungen 3 aufweist, aus entsprechendem Material, wie Gummi, gebildet sein. Ebenso ist es in einer alternativen Ausführungsform möglich, diese Wandung 2 oder auch die Dichtungen 22 aus anderen Kunststoffen oder Materialen bereitzustellen. [27] Die Dichtungen 22 bedingen des Weiteren, wie unmittelbar aus Figur 2 ersichtlich, dass die Trageebene 4 von der Wandung 2 beabstandet ausgebildet ist. Werden statt der Dichtungen 22 lediglich Abstandhalter verwendet, die einen ausreichenden Luftstrom zwischen den aufgenommenen Platten bzw. Wafern und der die Öffnungen 3 aufweisenden Wandung 2 gewährleis- ten, so kann in einer alternativen Ausführungsform zu dem Ausführungsbeispiel nach Figur 2 auch auf die Einlassöffnung 6 verzichtet werden. Es versteht sich, dass auch hier in der ber- noullische Unterdruckkammer 1 eine ausreichend hohe Luftströmung gewährleistet bleiben muss, so dass ein ausreichender Unterdruck in den Öffnungen 3 gewährleistet bleibt, so dass gerade ein Verzicht auf Dichtungen, die bei herkömmlichen Vakuumförderern zwingend not- wendig sind, möglich ist. Letzteres führt insbesondere zu einer schonenden Behandlung der Platten bzw. Wafer, so dass auch sehr dünne und empfindliche Platten oder Wafer gefördert werden können.
[28] Der in Figuren 3 und 4 dargestellte Endloseinzelplattenförderer 30 umfasst ebenfalls eine bernoullische Unterdruckkammer 1, die jedoch mit drei Ansaugöffnungen 5 versehen ist. Die bernoullische Unterdruckkammer 1 des Endloseinzelplattenförderers 30 arbeitet mit einem Lochgurt 7 zusammen, der um die bernoullische Unterdruckkammer 1 mittels Walzen 9 umläuft und Löcher 8 (exemplarisch beziffert) aufweist. Der umlaufende Lochgurt 7 kann dann Platten, die von der bernoullische Unterdruckkammer 1 angesaugt werden, in Umlaufrichtung fördern.
[29] Auch bei dem Ausführungsbeispiel nach Figuren 3 und 4 ergibt sich ein Abstand zwi- sehen der Trageebene 4 und der die Öffnungen 3 aufweisenden Wandung 2 der bernoullische Unterdruckkammer 1, welcher der Stärke des Lochbandes 7 entspricht.
[30] Der Lochgurt 7 des Endloseinzelplattenförderers 30 nach Figuren 3 und 4 ist aus einem textilen Gewebe gebildet, so dass auch bei angesaugter Platte ein ausreichende Luftdurchsatz gewährleistet ist, um eine ausreichend hohe Strömung an den Öffnungen 3 bereitzustellen. An- dererseits können in alternativen Ausführungsformen auch andere luftdurchlässige Gebilde, wie beispielsweise Metallgewebe oder textile Gewirke zu Anwendung kommen. Ist das Material des gewählten umlaufenden Trägers sehr luftdurchlässig, kann ggf. auf die Löcher 8 zur Gänze verzichtet werden, da dann genügend sonstige Öffnungen bereits vorhanden sind. Kommt andererseits ein Material zur Anwendung, da nicht luftdurchlässig ist, müssen die Löcher 8 geeignet gewählt werden. Letzteres gilt insbesondere auch im Zusammenspiel mit den Öffnungen 3 der bernoullischen Unterdruckkammer 1, der Größen, je nach Erfordernissen, entsprechend ange- passt werden sollten, so dass zu allen Zeiten entsprechende Strömungsverhältnisse gewährleistet sind, wenn der Lochgurt 7 um die bernoullische Unterdruckkammer 1 umläuft.
[31] Andererseits können die Öffnungen 3 in ihrem Durchmesser und auch in ihrer Form über die Förderlänge variieren, um auf diese Weise den Unterdruck variieren zu können. Selbiges gilt für den Querschnitt oder den Durchmesser der bernoullischen Unterdruckkammer 1, so dass die Strömungsgeschwindigkeiten über die Förderlänge variieren, was dementsprechend ebenfalls einen entsprechenden Einfluss auf den Unterdruck an den einzelnen Öffnungen 3 hat. Auf diese Weise kann beispielsweise in einem Abwurfbereich ein geringere Unterdruck gewährleistet werden, der ab einer bestimmten Position ein Ablösen der Platte oder des Wafers bedingt.
[32] Wie unmittelbar ersichtlich, ist bei dem Endloseinzelplattenförderer 30 nach Figuren 3 und 4 die Trageebene 4 unterhalb der bernoullischen Unterdruckkammer 1 angeordnet, so dass die Platten oder Wafer hängend transportiert werden. Es versteht sich, dass auch ein liegender Transport bei einer unterhalb der Trageebene angeordneten bernoullischen Unterdruckkammer möglich ist, wobei dann der Unterdruck hauptsächlich einem sicheren, rutschfreien Transport dient.
[33] Der in Figur 5 dargestellte Endloseinzelplattenförderer 40 entspricht im Wesentlichen dem Endloseinzelplattenförderer 30 nach Figuren 3 und 4, wobei anhand des Endloseinzelplattenförderer 40 exemplarisch dargestellt ist, wie Ansaugöffnungen 5 bernoullischer Unterdruckkammern 1 über ein Saugleitungssystem 43 mit der Saugseite eines Gebläses 44 verbunden sein können.
[34] Hierbei weist der Endloseinzelplattenförderer 40 in Abweichung von dem Endlosein- zelplattenförderer 30 drei bernoullische Unterdruckkammern 1 auf, eine Hebekammer 45, eine Transportkammer 46 und eine Ablagekammer 47. Hierdurch können gezielt und sehr schonend Wafer 48 von einer Hebeposition 50 in eine angehobene Position 51 angehoben zu einer Ab- wurfposition 52 transportiert und dort in einer Ablageposition 53 abgelegt werden. Dieses kann schon dadurch realisiert werden, dass durch die Rohrdurchmesser bzw. durch die in Bezug auf die Kammern 45, 46 und 47 individuelle Förderleistung des Saugleitungssystems 43 unterschiedliche Drücke in den Kammern 45, 46 und 47 eingestellt und der Lochgurt 47 kontinuierlich bewegt werden. So kann in der Hebekammer 45 ein verhältnismäßig hoher Druck gewählt werden, der einen entsprechenden Hebevorgang gewährleistet, während in der Transportkam- mer 46 ein Unterdruck gewählt ist, der gerade betriebssicher ein Halten der Wafer 48 auf an dem Lochgurt 7 gewährleistet. In der Ablagekammer 47 kann ein verhältnismäßig geringer Unterdruck gewählt werden, der einen kontrollierten Abwurf gewährleistet.
[35] Je nachkonkreten Erfordernissen können auch komplexere Druckverhältnisse gewählt werden. So kann über Ventile oder Zusatzgebläse beispielsweise in der Ablagekammer 47 zum Abwerfen gezielt eine kurzzeitige Druckerhöhung vorgenommen werden, um auf diese Weise einen Wafer 48 zunächst in ausreichend angesaugtem Zustand bis zur Abwurfposition 53 zu fördern. Erfolgt dann die Druckerhöhung, fällt der Wafer 48 gleichförmig nach unten, so dass ein Verbiegen des Wafers 48, was möglicherweise beim Übergang zwischen Transportkammer 46 und Ablagekammer 47 auftreten kann, wenn unterschiedlich Drücke in den beiden Kammern 46 und 47 vorliegen, zuverlässig vermieden werden kann.
[36] Ebenso kann durch eine Druckänderung mittels Ventilen und/oder Zusatzgebläsen der Druck gegebenenfalls in der Habekammer 45 variiert werden, wenn diese erforderlich erscheint.
[37] Als Gebläse, insbesondere als Gebläse 44, können insbesondere serienmäßig erhältliche Radialventilätoren zur Anwendung kommen, die einen hohen Durchsatz, also eine hohes gefördertes Luftvolumen, aufweisen.
[38] Die in den Figuren 6 bis 10 dargestellten Förder- und Sortieranordnungen stellen lediglich beispielhaft Möglichkeiten dar, wie über Kopf fördernde Förderer mit Ablagesystemen, Speichern bzw. Puffern oder herkömmlichen, liegend fördernden Förderern kombiniert werden können. Hierbei können insbesondere die erfindungsgemäßen Einzelplattenförderer oder End- loseinzelplattenförderer zur Anwendung kommen, was insbesondere für die über Kopf bzw. hängend fördernden Förderer gilt. [39] So ist die Fördereranordnung 60 nach Figur 6 insbesondere geeignet, den Abstand von Wafern 48 in einer Förderlinie anzupassen. Hierzu können beispielsweise über einen Endlos- einzelplattenförderer 40 (vergleiche Figur 5) Wafer 48 von einem herkömmlichen Riemen- oder Bandförderer 61, welcher die Wafer 48 in Richtung des Pfeils 62 fördert, abgehoben und ver- zögert bzw. beschleunigt wieder abgeworfen werden. Hierbei versteht es sich, dass ggf. statt des herkömmlichen Förderers 61 auch beispielsweise ein Endloseinzelplattenförderer 30 genutzt werden kann.
[40] Auch können, wie in Figuren 7 und 8 exemplarisch angedeutet, Wafer 48 in einem Car- rier-Belader 70 hängend zugeführt und auf einem Schiebeteller 71 oder einen sonstigen Ablage abgelegt werden, beispielsweise über einen Endloseinzelplattenförderer 30. Hierzu wirft der Endloseinzelplattenförderer 30 oder ein sonstiger, hängend fördernder Förderer den Wafer 48 dann ab, wenn der Schiebeteller 71 eine entsprechende Position erreicht hat. Sind genügend Wafer 48 gestapelt, kann ein entsprechender Carrier 72 dann entnommen werden.
[41] Wie anhand der Figuren 9 und 10 verdeutlicht, können auch Puffer 80, 91 bzw. Zwi- schenspeicher mit hängend arbeitenden Endloseinzelplattenförderern, insbesondere ggf. natürlich auch jeweils mit einer bernoullischen Unterdruckkammer, leicht und betriebssicher realisiert werden. Hierzu können mittels eines hängenden Endloseinzelplattenförderers, beispielsweise mittels eines Endloseinzelplattenförderer 30 oder 40, Wafer 49 auf Hubtellern 82 bzw. 92 abgelegt werden. Der Hubteller 82, 92 kann sich entsprechend absenken, so dass ein Weiterför- dem anderer Wafer 48 oder ein Weiteres Abstapeln ohne Weiteres möglich ist. Gegebenenfalls kann über eine Düse 93 eine Abnahme der Wafer 48 von dem Stapel bzw. eine entsprechende Vereinzelung gewährleistet werden. Durch entsprechende herkömmliche Förderer 84, 85, 94 erfolgt dann vorzugsweise ein Zu- bzw. Abfuhr der Wafer 48.
[42] So wird bei dem Puffer 80 nach Figur 9 ein Wafer 48 von einem herkömmlichen Förde- rer 84 zugefördert, von einem Endloseinzelplattenförderer 40 aufgenommen und weitergefördert und auf einem weiteren herkömmlichen Förderer 85 abgefördert. Hierbei überbrückt der Endloseinzelplattenförderer 40 einen Abstand zwischen den beiden herkömmlichen Förderern 84 und 85, in welchem der Hubteller 82 angeordnet ist. Muss ein Wafer 48 zwischengespeichert werden, so legt der Endloseinzelplattenförderer 40 diesen auf dem Hubteller 82 ab, der ggf. nach unter verlagert werden kann, um einen ungehinderten Transport weiterer Wafer 48 durch den Endloseinzelplattenförderer 40 zu ermöglichen. Wird ein Wafer 48 aus dem Puffer 80 benötigt., so wird der Hubteller 82 angehoben, bis der Endloseinzelplattenförderer 40 den obersten Wafer 48 abnehmen und auf dem abfördernden herkömmlichen Förderer 85 ablegen kann.
[43] In ähnlicher Weise arbeiten die Puffer 91 des Nasslinien-Entladers 90 nach Figur 10, wobei hier mehrere Endloseinzelplattenförderer 30 vorgesehen sind so dass komplexere Sortiervorgänge bis zum Ausgang über den herkömmlichen Förderer 94 umsetzbar sind.
B ezugszeichenhste :
1 bernoullische Unterdruckkammer 50 Hebeposition
2 Wandung 51 angehobene Position
3 Öffnung 52 Abwurfposition
5 4 Trageebene 53 Ablageposition
5 Ansaugöffnung 25 60 Fördereranordnung
6 Einlassöffnung 61 herkömmlicher Förderer
7 Lochgurt 62 Förderrichtung
10 Einzelplattenförderer 70 Carrier-Belader
10 11 Halterung 71 Schiebeteller
20 Einzelplattenförderer 30 72 Carrier
22 Dichtung 80 Puffer
30 Endloseinzelplattenförderer 82 Hubteller
40 Endloseinzelplattenförderer 84 herkömmlicher Förderer
15 43 Saugleitungssystem 85 herkömmlicher Förderer
44 Gebläse 35 90 Nasslinien-Entlader
45 Hebekammer 91 Puffer
46 Transportkammer 92 Hubteller
47 Ablagekammer 93 Düse
20 48 Wafer 94 herkömmlicher Förderer
40

Claims

Patentansprüche:
1. Einzelplattenförderer, gekennzeichnet durch eine jenseits einer Trageebene angeordnete bernoullische Unterdruckkammer.
2. Endloseinzelplattenförderer, gekennzeichnet durch eine jenseits einer Trageebene angeordnete bernoullische Unterdruckkammer.
3. Endloseinzelplattenförderer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Trageebene durch wenigstens zwei parallel umlaufende Träger, wie Riemen, Ketten oder Bänder, gebildet wird.
4. Endloseinzelplattenförderer nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Trageebene durch wenigstens einen umlaufenden, Öffnungen aufweisenden Flächenträger gebildet wird.
5. Endloseinzelplattenförderer nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Trageebene durch wenigstens ein umlaufendes, Öffnungen aufweisendes Lochband gebildet wird.
6. Endloseinzelplattenförderer nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Trageebene durch wenigstens ein umlaufendes, Öffnungen aufweisendes Gewebe aus Metall, Kunststoff oder Textil gebildet wird.
7. Endloseinzelplattenförderer nach einem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Trageebene unterhalb eines umlaufenden Trägers angeordnet ist.
8. Anordnung aus wenigstens zwei Endloseinzelplattenförderern, gekennzeichnet durch einen Endloseinzelplattenförderer nach Anspruch 7 und einen Endloseinzelplattenförderer mit einer oberhalb eines umlaufenden Trägers angeordneten Trageebene.
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