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WO2004096679A1 - 基板浮上装置 - Google Patents

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WO2004096679A1
WO2004096679A1 PCT/JP2004/006000 JP2004006000W WO2004096679A1 WO 2004096679 A1 WO2004096679 A1 WO 2004096679A1 JP 2004006000 W JP2004006000 W JP 2004006000W WO 2004096679 A1 WO2004096679 A1 WO 2004096679A1
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WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
substrate
glass substrate
contact
floating
back surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2004/006000
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hiroyuki Okahira
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2005504478A priority Critical patent/JP4418428B2/ja
Priority to CN2004800004365A priority patent/CN1697768B/zh
Priority to KR1020047020899A priority patent/KR101053770B1/ko
Publication of WO2004096679A1 publication Critical patent/WO2004096679A1/ja
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Ceased legal-status Critical Current

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    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
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Definitions

  • the present invention relates to a substrate floating method for floating a glass substrate used for a front panel display (FPD) such as a liquid crystal display (LCD), for example.
  • FPD front panel display
  • LCD liquid crystal display
  • Publication 8-3 1 3 8 1 5 discloses a positioning device for glass substrates.
  • a holding stage for holding the glass substrate by suction is placed on the XY stage via the pole caster, and this holding stage is moved by the urging of the pressing cylinder. Press the edge of the glass substrate directly against each reference pin to align.
  • the size of the holding stage and the X-Y stage that hold the glass substrate by suction also increase.
  • the XY stage requires four times the installation space of the glass substrate to move the glass substrate in the XY direction and observe the entire surface of the glass substrate with a microscope, and the entire apparatus is large.
  • the weight of the weight holding stage increases due to the increase in size of the holding stage, the holding stage is moved and when the side edge of the glass substrate is pressed directly against each reference pin, the glass is impacted by the impact. The substrate may be damaged.
  • the operation of the cylinder is performed with the glass substrate placed on a large number of rollers of the filtration conveyance unit.
  • a technique is disclosed in which a glass substrate is pressed against a positioning pin and aligned. In such an alignment, as the size of the glass substrate is increased, the frictional resistance between the glass substrate and the large number of rollers is increased, and the glass substrate is used as a positioning pin by means of a cylinder. It becomes difficult to press o Also, when the glass substrate is pressed in the direction perpendicular to the direction of rotation of the many rollers, the glass substrate slides on the many rollers and moves. For this reason, there is a possibility that a trace of friction may occur on the back surface of the glass substrate.
  • the force is large, and the glass substrate may be damaged o Also, by floating the glass substrate by electrostatic force etc., the distance between the surface of the floating stage and the surface of the glass substrate Because the friction force is extremely small, there is a problem that the glass substrate is transferred by small external force or its own inertial force during delivery of the glass substrate or glass substrate.
  • a floating means for floating a substrate, a contact member capable of contacting the back surface of the substrate, and a tip member A substrate floating apparatus comprising: a support member provided on the substrate; and an elevating mechanism which raises the support member and brings the contact member into contact with the back surface of the substrate floating by the floating means to restrict the movement of the substrate.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a first substrate floating apparatus according to the present invention.
  • FIG. 2 is a block diagram of a second substrate floating apparatus according to the present invention.
  • FIG. 3 is a block diagram showing the substrate levitation system of the LCD production line to which the same system is applied.
  • Fig. 4 shows the configuration of each transport unit in the LCD manufacturing line.
  • Figure 5 shows the same device regulating the movement of the glass substrate.
  • Figure 6 shows the appearance of the floating stage used in the board inspection system to which the same system is applied.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a second embodiment of a substrate floating apparatus according to the present invention.
  • FIG. 8 shows another holding mechanism of the contact film in the same device.
  • Fig. 1 shows the entire configuration of the first substrate floating apparatus.
  • the surface 1 a of the floating stage 1 is regularly provided with a plurality of air blowout holes 1 h for blowing out air at a constant pressure of air.
  • This levitation stage 1 has a glass substrate 2 on the surface 1 a. 0
  • the floatation stage 1 floats the glass substrate 2 such as electrostatic levitation or ultrasonic levitation from the stage surface, not limited to air levitation, and floats the glass substrate 1 on the surface of the levitation stage 1. As long as it
  • the floating stage 1 is provided with a first substrate holding mechanism 3A.
  • the first substrate holding mechanism 3 A is HX-embedded in a cylindrical hole 4 vertically penetrating the floating stage 1.
  • a U-shaped supporting member 5 is disposed below the U-shaped bottom plate 5 a to form a gru
  • an air pressure cylinder 6 is provided which can be attached by an actuator o
  • the telescopic port 7 of the pneumatic cylinder 6 projects from the telescopic rod 7 of the pneumatic cylinder 6 which protrudes above the U-shaped base plate 5 a through the hole provided in the u-shaped base plate 5 a At the tip, the screw
  • the substrate holding member 10 is connected via a connecting portion consisting of 8 and 9.
  • the substrate holding member 10 is provided with a support base 1 1 and a support rod 1 2 coaxially with the telescopic rod 7.
  • the support base 1 1 is formed in a cylindrical shape, and is connected to the tip of the telescopic rod 7 via a screw 8 and a nut 9.
  • the support rod 1 2 is provided on the support base 1 1 and formed in a cylindrical shape having an outer diameter smaller than the outer diameter of the support base 1 1.
  • a cylindrical contact member 1 3 made of a wear resistant resin is attached to the tip of the support rod 1 2. This contact point 04 00600
  • the material 13 is provided with a hole 13a in the lower surface 15 of the rod 13 slightly larger than the outer diameter of the support rod 12.
  • a support rod 12 is inserted into the hollow portion of the contact member 13 through the hole 13a.
  • a contact member 1 3 is rotatably provided on the support rod 1 2 in the direction of arrow A via a cylindrical ball support 1 6 and a pole bearing 1 7.
  • An elastic member such as, for example, a spring 8 is provided on the outer periphery of the support rod 12 between the lower surface 15 of the contact member 13 and the upper surface 1 1 a of the support base 1.
  • the biasing force of the coil spring 1 8 squeezing the material 1 3 upward (the elastic force> represents the contact force of the contact member 1 3 against the back surface of the glass substrate 2 that floats and draws). That is, the inertia is caused by the external force or the weight which is smaller than the contact pressure to the glass substrate 2 when the floating glass substrate 2 is pressed or the contact pressure to the glass substrate 2 when the transfer portions 32 to 35 are not attracted.
  • the contact member 1 3 is set to contact the back surface of the glass substrate 2 with a small contact force that does not move or with a slight application force that does not affect the glass substrate 2 with friction marks and deformation.
  • This contact member 1 3 is supported via coil spring 1 8 It is supported for vertical movement in the direction of arrow B 1 2 of the tip.
  • the expansion stroke of the expansion lock K 7 by the pneumatic cylinder 6 is the upper surface 14 of the contact member 1 3 when the expansion port 7 is compressed, and the glass substrate floated on the floating stage 1
  • the contact member 13 is brought into contact with the lower surface of the glass substrate 2 which floats up to the lower surface of the contact member, and the contact resistance is generated to such an extent that the glass substrate 2 is not moved. It is preset to the total length of the minute distance of.
  • FIG. 2 is an overall block diagram of a second substrate floating apparatus.
  • the floating stage 1 is provided with a second substrate holding mechanism 3B.
  • a support housing 20 is connected to a tip end of the expansion / contraction opening 7 of the pneumatic cylinder 6 of the second substrate holding mechanism 3 B via a reinforcement PP 8 and a nut 9 and is drawn.
  • the support case 20 is formed, for example, in a cylindrical shape, and a suction pad mounting hole 21 is provided in the inside. Inside the suction pad mounting hole 21 is formed an annular lateral groove portion 2 3 that restricts the vertical movement of the suction pad 2 2.
  • the lateral groove portion 2 3 has an inner diameter larger than the inner diameter of the suction pad mounting hole 2 1.
  • the suction pad 2 2 is P via the bellows 25 which is a suction pad supporting member made of an elastic member such as rubber, resin or metal which expands and contracts in the vertical direction. I'm sorry.
  • the suction pad 2 2 doubles as a contact member formed of a friction-resistant resin, for example, in a disk shape.
  • the suction pad 22 is formed with, for example, a circular patch groove 26 at the upper portion, and a locking ring 27 ⁇ that restricts vertical movement at the lower portion.
  • the locking ring 27 is mounted in the lateral groove 23.
  • Air flow passages 2 8 a to 2 8 c are provided in communication between the suction pads 2 2, the bellows 2 5, and the support housing 2 0.
  • the air flow passage 2 8 c is bent in the support housing 20 to reach the outer wall surface of the support housing 20, and the air suction port 2 9 is formed in the outer wall surface.
  • a suction pump is connected to the air suction port 2 9 via a suction tube 2 4 or the like.
  • the back surface of the glass substrate 2 is adsorbed and fixed to the suction pad 2 2 by suctioning the suction pump with a suction pump through each of the first-class passages 2 8 a to 2 8 c. .
  • the suction pressure by the suction pump is the suction pad to the back of the glass substrate 2 that is rising, 2 2
  • suction pressure it is also possible to set the suction pressure to such an extent that the friction force between (contact member) and the glass substrate 2 does not move due to a small external force or self weight.
  • the biasing force (elastic force) of the base 2 5 is the optimum value of the contact pressure of the suction pad 2 2 against the back surface of the glass substrate 2 which is floating, that is, the pressing pin for which the glass substrate 2 which is floating is described later Four
  • the expansion / shrinkage of expansion / shrink port 7 by pneumatic cylinder 6 is the lower surface of glass substrate 2 floating on the upper surface of floating stage 1 from the upper surface of suction pad 2 2 when expansion / contraction 7 is shrunk.
  • the distance is set in advance to such a length that a minute distance that causes contact resistance to move the glass substrate 2 in contact with the lower surface of the glass substrate 2 on which the suction pad 2 2 floats is generated. .
  • Figure 3 applies the first and second substrate holding mechanisms 3A and 3B.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a substrate floating device of a line made of L C D.
  • a plurality of air blowing holes 1 h are regularly provided in the vertical and horizontal directions on the surface 1 a of the floating stage 1 for transfer.
  • Guide rails 3 0 and 3 1 in linear form are provided on both sides of the floating stage 1. These guide rails 3
  • each of 0 and 3 for example, two sets of transport units 3 2 3 3 and 3 4 3 5 5 driven by a re-air motor are provided movably.
  • Each of the transport units 32 and 33 in one set reciprocates on each guide rail 30 and 31 in the direction of arrow C in synchronization with each other, and each transport unit 34 and 35 in the other set also Each guide rail 3 0, synchronized with each other
  • FIG. 4 is a block diagram of each of the transport sections 3 2 to 3 5. Since the transport units 32 to 35 have the same configuration, only the configuration of the transport unit 3 2 will be described.
  • a suction table 3 8 is provided on the transfer section 32 via the raising and lowering support members 3 6 and 3 7. Each raising and lowering support member 3 6, 3 7 synchronizes the suction mounting table 3 8 in the vertical direction
  • a plurality of, for example, five substrate suction devices 3 9 are provided on the suction mounting table 38 in the same direction as the transport direction E of the glass substrate 2.
  • the number of installed substrate suction devices 3 9 is not limited to five, and any number may be provided.
  • Each substrate suction device 3 9 sucks and holds the back of the glass substrate 2 by suction of air.
  • a substrate delivery part S for delivering the glass substrate 2 conveyed from the upstream side to the downstream detection part S 2 and the substrate delivery part And an inspection unit S 2 provided downstream of the sensor.
  • a plurality of cylindrical holes 4 are provided in the floating stage 1 at the substrate delivery portion S, and a first substrate holding mechanism 3A shown in FIG. 1 is provided in each of the holes 4 as a substrate holding mechanism. It is These first substrate holding mechanisms 3A are provided, for example, at four positions corresponding to the respective corner positions of a rectangle having a longitudinal direction in the L CD manufacturing line direction.
  • the first substrate holding mechanism 3 A can raise the glass substrate 2 almost horizontally by the air on the floating stage 1, so for example, at one place corresponding to the approximate center position of the glass substrate 2. It is also possible to provide it.
  • the inspection section S 2 is provided with reference pins 4 2 fixedly provided and pressing pins 4 3 movable in the direction of pressing the edge of the glass substrate 2 (arrow G direction).
  • a portal arm 4 4 is provided across the floating stage 1 in the inspection section S 2 .
  • the portal arm 4 4 is movable in the same direction (arrow F direction) as the transport direction E of the glass substrate 2.
  • a microscope head 4 5 is provided on the portal arm 4 4 so as to be movable in a direction perpendicular to the transport direction E (direction of arrow J>)
  • the portal arm 4 4 floats the glass substrate 2. It may be fixedly installed if it is moved at a predetermined pitch in the direction of arrow E by the transport sections 34 and 35 in a state of being floated on the stage 1.
  • An air layer is formed between 1 a and the glass substrate 2, and the glass substrate 2 floats on the surface 1 a of the floating stage 1.
  • the respective substrate suction devices 3 9 of the transport sections 32 3 and 3 3 adsorb and hold the leading edge of the glass substrate 2 on which the air is floated in the transport direction E.
  • These transport units 32 and 33 move on the respective guide rails 30 and 31 in synchronization in the transport direction E of the LCD manufacturing line while holding the glass substrate 2 by suction. ⁇ . As a result, the glass substrate 2 floated by air is transferred to each
  • each first substrate holding mechanism 3 A is synchronized with each other and each expansion / contraction port of each pneumatic cylinder 6, 7 is a predetermined expansion / contraction opening Extend upwards.
  • the contact members 13 are raised along the support rods 12 along with the extension of the extension arms 7.
  • the extension heights of the extension arms 7 are predetermined. When the height is reached, each pneumatic cylinder 6 stops the expansion of each telescopic port 7 respectively.
  • each contact member 13 of each pneumatic cylinder 6 comes in contact with the back surface of the glass substrate 2 that is air-floated as shown in FIG.
  • the contact of the upper surface 14 of each contact member 1 3 with the back surface of the glass substrate 2 is determined by the biasing force of each coil spring 1 8.
  • Each contact member 1 3 is made of resin, is rotatable with respect to each support rod 1 2 via the Bonoring 1 7, and is biased by the biasing force of each of the Coinole Springs 1 8. Since it is provided so as to be movable in the direction, it can rotate or move up and down according to the posture of the glass substrate 2 and the contact members 1 3 when it contacts the back surface of the glass substrate 2. Contact the back side of the glass substrate 2.
  • each contact member 1 3 is stopped at the same height position by the extension of each expansion / contraction V to the pre-set height of each pneumatic cylinder 6. By this, the glass substrate 2 is transferred in the horizontal state. It is held without movement.
  • each of the transport units 32 3 stops the adsorption holding on the glass substrate 2 and returns to the loading side (upstream side) of the glass substrate 2.
  • the transport units 34 and 35 move to the top side of the transport direction E of the glass substrate 2 in the substrate delivery unit S, and these transport units 34 , 35 each substrate suction device 3 9 starts the suction operation.
  • the first substrate holding mechanisms 3 A synchronize each other with the expansion and contraction rods 7 of the pneumatic cylinders 6. Shrink.
  • Each first substrate holding mechanism 3 A is separated from the back surface of the glass substrate 2, and the glass substrate 2 floats on the floating stage 1.
  • the transfer units 34 and 35 move on the respective guide rails 30 and 31 in synchronization with the downstream side of the LCD manufacturing line in a state where the glass substrate 2 is adsorbed and held, and the glass substrate 2 is moved. fast transport up inspection unit S 2.
  • each second substrate holding mechanism 3B shown in FIG. 2 in the inspection section S 2 synchronizes each other with the expansion and contraction ports 7 of each pneumatic cylinder 6 in synchronization with each other.
  • Stretch upward by a preset stretch stroke Along with the expansion of the expansion rod 7, the suction pad 2 2 provided on the support housing 20 rises.
  • the pneumatic cylinder 6 stops stretching the stretch rod 7. By this, each suction pad 2 2 is in contact with the back surface of the glass substrate 2 that is air-floating.
  • each suction pad 2 2 is determined by the pressing force of the pressing pin 4 3 or the dead weight of the glass substrate 2 air-floating by the biasing force of the bellows 25. It contacts the back of the glass substrate 2 with a small frictional force that does not move further, and regulates the movement of the glass substrate 2 floating on the air. That is, each suction pad 2 2 temporarily moves the glass substrate 2 by the frictional force that acts on the back surface of the glass substrate 2 so that the glass substrate 2 can move following the movement of each pressing pin 43. Stop.
  • each pressing pin 4 3 when each pressing pin 4 3 is pressed against the edge of the glass substrate 2, the glass substrate 2 follows the pressing pin 4 3 (a state in which the glass substrate 2 does not separate from each pressing pin 4 3 The two adjacent sides of the glass substrate 2 abut each reference pin 4 2 and are aligned to the reference position. Before this alignment is started, each of the transport units 3 4 and 3 5 stops adsorption and holding of the glass substrate 2 and moves to the substrate delivery unit S side.
  • Suction pad 2 2 descends.
  • the suction pad 2 2 has its lower end in the annular lateral groove portion 2 3 abutted with the locking ring 2 7 of the suction pad 2 2 so that the descent is restricted.
  • the portal arm 4 2 is in the same direction as the transport direction E of the glass substrate 2 (arrow As the microscope head 4 3 moves on the portal arm 4 2 in the direction perpendicular to the transport direction E (in the direction of the arrow J) while moving in the direction F), the inspection on the glass substrate 2 is performed. It takes place.
  • the glass substrate 2 in the good power sale to the substrate transfer portion S of LCD production line for air transport is provided a first substrate holding mechanism 3 A, it provided the second substrate holding mechanism 3 B to the inspection unit S 2.
  • the substrate delivery unit S i each transport unit 3 2 to the glass substrate 2,
  • the glass substrate 2 is temporarily held by the first substrate holding mechanism 3 A and can be stopped without moving. In the case of a flat state only by air floating, the glass substrate 2 is moved by an external force such as slight inclination or downflow, for example. However, the first substrate holding mechanism 3 A and the glass substrate The movement of the glass substrate 2 can be regulated by the friction force with 2.
  • the biasing force of the coil spring 18 is set to the optimum value even when the first substrate holding mechanism 3 A contacts the back surface of the glass substrate 2 that is air-floating at the substrate delivery portion S.
  • the sliding movement of the glass substrate 2 on the first substrate holding mechanism 3 A does not affect the back surface of the glass substrate 2.
  • the first substrate holding mechanism 3 A is configured to raise and lower the substrate holding member 10 supporting the contact member 13 by the pneumatic cylinder 6, and the second substrate holding mechanism 3 B is a suction pad 2. Since 2 configurations for elevating Ri by the air pressure silica Sunda 6, can the first and second substrate holding Organization 3 a, 3 B both miniaturization, passed City section S 1 test each receiving substrate of the LCD production line there is easy and this incorporated into part S 2.
  • the glass substrate 2 air-conveyed to the LCD manufacturing line is With the glass substrate 2 air-floating at the plate delivery section S, the delivery is performed between the transport sections 32, 3 3 and 34, 35 so that air can be transported at high speed.
  • the time required for the inspection process can be shortened, and the inspection time can be shortened.
  • Fig. 6 is an external view of the floating stage used in the substrate inspection apparatus.
  • the first substrate holding mechanism 3A shown in Fig. 1 is provided at four places on the rectangular floating stage 100, for example.
  • the first substrate holding mechanism 3A is provided at four places corresponding to the respective corner positions of, for example, a rectangle at places where the floating glass substrate 2 can be supported from the back side.
  • Each reference pin 50 constituting the positioning mechanism is fixedly provided on each side of XY on the outer periphery of floating stage 1, and each pressing pin 5 1 is arranged on the side opposite to these sides. It is provided to be movable.
  • each contact member 1 3 of each pneumatic cylinder 6 contacts the back surface of the force substrate 2.
  • Contact members 1 3 are each coil spring
  • a biasing force of 1 8 prevents the air floating glass substrate 2 from moving with a smaller external force than the pressing force of the pressing pin 5 1, and has a small contact force that does not affect the back surface of the glass substrate 2.
  • the back surface of the glass substrate 2 that is floating on the air contacts the Hold the raised glass substrate 2 horizontally without moving it. In such a state, when the glass substrate 2 is pressed against each reference pin 50 by pressing each pressing pin 51, the glass substrate 2 is aligned in the reference position with good stability.
  • each pneumatic cylinder 6 contracts the expansion rod 1 4.
  • the glass substrate 2 floats on the floating stage 100 while maintaining the alignment state.
  • the portal arm 4 4 mounted with the microscope head 45 etc. shown in FIG. 3 moves in the X direction
  • the microscope head 4 5 moves in the Y direction to inspect the glass substrate 2 Is done.
  • the movement of the air-floating glass substrate 2 is restricted by the frictional resistance due to the contact of each contact member 13, and each pressing pin 5 1 Since it can be pressed against each reference pin 50 following the operation, the glass substrate 2 can be positioned to the reference position with stability, etc., and it is applied to the substrate inspection process of the LCD manufacturing line. You can achieve the same effect as when you
  • Fig. 7 is a block diagram of the substrate holding mechanism.
  • a ring-shaped support member 60 is provided at the opening of the cylindrical hole 4 provided in the floating stage 1.
  • the ring-like support member 60 has a pair of ring-like holding pieces 60 a and 6 O b in the vertical direction. This The contact film 6 1 is held in a stretched state by the holding pieces 6 0 a 6 0 b on the ring-shaped support member 6 0 o
  • the contact film 61 formed by the ring-shaped support member 60 is provided with two ring sandwiching pieces 60a and 60b of different outer diameters in the lateral direction in the inside and outside in double layers. It is good to hold it.
  • a pipe 6 3 is provided via a connecting member 6 2. The other end of the pipe 6 3 of o is connected to a squeeze-feeder 6 4.
  • This compressed air supply unit 6 4 is a compressed air
  • air pressure regulator 6 5 is installed in piping 6 3
  • the pressure control valve 65 regulates the flow rate of the air supplied into the hole 4 by adjusting the opening degree, or turns on the gas supply by the opening operation and closing operation. Go off.
  • the pressure control valve 65 in the air pressure control valve 65 is expanded upward when the contact film 61 is expanded upward.
  • the frictional resistance between the contact film 6 1 and the back surface of the floating glass substrate 2 restricts the movement of the glass substrate 2, and the amount of supplied air does not affect the back surface of the glass substrate 2 or the like. Adjust 0
  • the pressure in the hole 4 is gradually increased because the hole 4 is airtightly formed, and the pressure applied to the contact film 61 is also gradually according to the pressure. It gets higher.
  • the contact film 61 swells upward as shown by the dotted line in FIG. In this bulge, the contact film 61 is formed to have a uniform film thickness, so the rising height of the central portion of the contact film 61 becomes the highest, and the height gradually decreases as the central portion of the contact film 61 moves away from the central portion.
  • the small friction resistance between the glass substrate 2 and the contact film 6 1 causes the glass substrate 2 to move without moving. It will be held on one.
  • the contact film 1 is resiliently expanded by the supply of compressed air, the contact film 1 abuts against the glass substrate 2 flexibly, and the back surface of the glass substrate 2 is affected by damage or the like.
  • There is a substrate holding mechanism such as that shown in FIG. 3, for example, in the substrate transfer section S 1 of the floating stage 1 of the LCD line.
  • the first substrate holding mechanism 3 A provided at the loss or the first substrate holding mechanism 3 provided on the floating stage 100 of the substrate inspection apparatus shown in FIG. 6
  • the contact film 61 can be expanded simply by a simple configuration.
  • the present invention is not limited to the embodiments of the first to third embodiments and the present invention is not limited to the first to third embodiments.
  • Good 0 For example, in each of the above embodiments, the case has been described in which the present invention is applied to the floating stage 1 of the LCD manufacturing fan or the floating stage 100 of the substrate inspection apparatus. The present invention may be applied to each floating stage 100 on the loading and unloading side in various substrate manufacturing apparatuses.
  • the loading side of the floating stage 1 is provided with a loading port o
  • Each The first substrate holding mechanism 3 A lifts the contact members 13 by the driving of the pneumatic cylinder 6 from the suction hand of the loading side ⁇ -hom to the glass plate 2.
  • the loading port pops down the suction plate so that the glass substrate 2 is raised on the contact members 13 of the first plate holding mechanism 3A on the floating stage 1.
  • ascent stage 1 blows air from multiple air blowout holes 1h.
  • the pneumatic cylinder 6 lowers the first substrate holding mechanism 3A and stops at a position slightly higher than the position where the glass substrate 2 floats at the end o,
  • the glass substrate 2 is placed on each contact member 1 3 in a state of being floated up, so it does not move even in a state of being floated up.
  • it is arranged by the alignment mechanism composed of the reference pin 4 2 and the pressing pin 4 3 like
  • Each of the first and second substrate holding mechanisms 3 A and 3 B in the substrate delivery section S or inspection section S 2 of the LCD manufacturing line is not limited to four each, for example, each apex of a triangle Or three or more points where the glass substrate 2 is held stably and the frictional resistance between the glass substrate 2 and each contact member 13 does not increase.
  • the elastic support of the contact member 1 3 is not limited to the core spring 1 8, and a cylindrically formed rubber may be used.
  • the contact member 13 and the suction pad 22 may change the size of the contact area to the back surface of the glass substrate 2 to adjust the size of the frictional resistance generated with the glass substrate 2.
  • the weight of the glass substrate 2 changes according to the size, and therefore, according to the weight of the glass substrate 2.
  • the present invention has been described, for example, in the case where it is applied to the transport of a large glass substrate 1 of a liquid crystal display, but it can also be applied to the transport of various kinds of semiconductor materials.

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Abstract

基板(2)を浮上させた状態で、昇降機構(6)により支持部材(10)の先端に設けられた接触部材(13)を上昇させて、この接触部材(13)を基板(2)の裏面に接触させ、浮上している基板(2)の移動を規制する。

Description

基板浮上装置
技術分野
本発明は、 例えば液晶デイ スプレイ ( L C D ) 等の フ フ ク トパネルディ ス プ レィ ( F P D ) などに用い られるガラス基 板を浮上させる基板浮上装明置に関する
背景技術
例えば L C Dのガラス基板の検査を行う場 は 、 ガラス基 書
板を基準位置にァラィ メ ン トする必要がある 例えば特開平
8 - 3 1 3 8 1 5 号公報は、 ガラ ス基板の位置決め装置を開 示する。 こ の位置決め装置は、 X Yステージ上にポールキャ スタ を介 してガラス基板を吸着保持する保持ステ一ジを載置 し、 こ の保持ス テ ンを押付シリ ンダの付勢によ り移動 し 、 ガラス基板の側縁を各基準ピンに直接押し当ててァラィ メ ン トする。
ガラス基板の大型化に伴ないガラス基板を吸着保持する保 持ス テージと X Yステ一ジも大型化する。 特に 、 X Y ステ一 ジは、 ガラス基板を X Y方向に移動してガラス基板全面を顕 微鏡で観察するためガラ ス基板の 4倍の設置スぺ ―スが必要 にな り 、 装置全体が大型化する ノゝ 保持ステ ジの大型化 に伴ない重量が重 < な り 、 保持ス テージを移動 してガラス基 板の側縁を各基準ピンに直接押 し当てる と、 その衝撃によ り ガラス基板が破損するおそれがある。
又、 特開 2 0 0 0 ― 9 6 6 1 号公報には、 ろ搬送部の多 数のころ上にガラス基板 載置した状態で、 シリ- ンダの動作 によ り ガラス基板を位置決めピンに押 し当ててァライ メ ン ト する技術が開示されている。 このよ う なァラィ メ ン トでは、 ガラス基板の大型化に伴ないガラス基板と多数のころ と の間 の摩擦抵抗が大き く な り 、 シ V ンダを用いてガラス基板を位 置決めピンに押し付ける こ とが困難になる o 又、 ガラス基板 が多数のころの回転方向 と直交する方向に押される と、 ガラ ス基板は多数のころ上を摺って移動して しま う。 このため、 ガラス基板の裏面にこ ろの摩擦痕が生じるおそれがある。
れらの問題を解決するためにガラス基板をエアーの吹き 上げによ り 浮上させてガラス基板の位置決めを行う こ とが考 え られている。 ガラス基板は 、 僅かな外力が加わるだけで移 動 して基準ピンに衝突して跳ね 7&るためにヽ 直ぐに停止でき ないこ と力 らァライ メ ン トの安定性に欠ける 。 又、 エアー浮 上ステージ面と ガラス基板面と の間の摩擦力が極めて小さい ために、 ガラス基板の大型化に伴なつガラス基板自体の重量 が重く なる こ と によ り 基準ピンに衝突する衝撃力が大き く な り 、 ガラス基板が破損するおそれがある o 又 、 ガラス基板を ェァ一ゃ静電等によ り 浮上させる こ と によ り 、 浮上ステージ 面とガラス基板面と の間の摩擦力が極めて小さ く なるために、 ァラィ メ ン ト又はガラス基板の受け渡しの際にガラス基板が 小さな外力や自体の慣性力によ り移 して しま う 問題が生じ ス o
発明の開示
本発明の主要な観点によれば 、 基板を浮上させる浮上手段 と、 基板の裏面に接触可能な接触部材とヽ 接触部材を先端部 に設けた支持部材と、 支持部材を上昇させて、 浮上手段によ り 浮上している基板の裏面に接触部材を接触させて基板の移 動を規制させる昇降機構と を具備 した基板浮上装置が提供さ れる o
図面の簡単な説明
図 1 は本発明に係わる第 1 の基板浮上装置の第 1 の実施の 形態を示す構成図。
図 2 は本発明に係わる第 2 の基板浮上装置の構成図。
図 3 は同装置を適用 した L C D製造ライ ンの基板浮上装置 を示す構成図。
図 4 は L C D製造ライ ンにおける各搬送部の構成図。
図 5 は同装置によ り ガラス基板の移動を規制 している状態 を示す図。
図 6 は同装置を適用 した基板検査装置に用いられる浮上ス テージの外観図。
図 7は本発明に係わる基板浮上装置の第 2 の実施の形態を 示す構成図。
図 8 は同装置における接触膜の別の保持機構を示す図 ο 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の第 1 の実施の形態について図面を参照 して 説明する。
図 1 は第 1 の基板浮上装置の全体構成図でめる 。 浮上ステ ージ 1 の表面 1 a には、 例えば一定のエア一圧力でエア一 ^ 吹き 出す複数のエアー吹き出 し孔 1 hが規則的に設け られて いる。 この浮上ステージ 1 は、 表面 1 a 上にガラス基板 2 を 0
4 載置 し 、 各エア一吹き出 し孔 1 h 力 らェァ一を吹き出すこ と によ り 、 浮上ステ一ジ 1 の表面 1 a とガラス基板 2 と の間に ェァ 層を形成 し、 ガラス基板 1 を浮上ステージ 1 の表 ¾ 1 a 上に浮上させ なお、 浮上ステージ 1 は、 エア一浮上に 限らず 、 静電浮上又は超音波浮上な どのガラ ス基板 2 をステ 一ジ面から浮上させる ものであればよい o
浮上ステージ 1 には、 第 1 の基板保持機構 3 Aが設け られ ている 。 こ の第 1 の基板保持機構 3 Aは 浮上ステ一ジ 1 を 上下方向に貫通する円筒状の孔 4 内に HXけ られている。 この 孔 4 を設けた浮上ステージ 1 の下面 1 b には、 U字状支持部 材 5 が U字底板 5 a を下方に配置 して gru
BXけ られている。 この
U字状支持部材 5 の U字底板 5 a の下面には、 ァクチュェ一 タでめる例えば空気圧シリ ンダ 6 が設け られている o
- の空気圧シリ ンダ 6 の伸縮口 ッ ド 7 は 、 u字底板 5 a に 設け られた孔を通して U字底板 5 a の上方に突出 している o この空気圧シリ ンダ 6 の伸縮ロ ッ ド 7 の先端部には 、 ねじ部
8及ぴナツ ト 9 からなる連結部を介して基板保持部材 1 0 が 接続されている。 この基板保持部材 1 0 は、 伸縮ロ ッ ド 7 と 同軸上に支持台 1 1 及び支持棒 1 2 を設けてなる。 支持台 1 1 は、 円柱状に形成され、 伸縮ロ ッ ド 7 の先端部にね じ部 8 及びナッ ト 9 を介して連結されている。 支持棒 1 2 は、 支持 台 1 1 上に設け られ、 支持台 1 1 の外径よ り も小さい外径を 有する円柱状に形成されている。
支持棒 1 2 の先端部には、 耐摩耗性の樹脂によ り形成され た円筒状の接触部材 1 3 が取り 付け られている。 この接触部 04 006000
材 1 3 はヽ 下部面 1 5 に支持棒 1 2 の外径よ り も僅かに大き い孔 1 3 a が設け られている。 この接触部材 1 3 の中空部内 には、 孔 1 3 a を通 して支持棒 1 2 が揷入されている
支持棒 1 2 にはヽ 円筒状のボール支持体 1 6 、 ポールベァ リ ング 1 7 を介して接触部材 1 3 が矢印 A方向に回転自在に 設け られている。
接触部材 1 3 の下部面 1 5 と支持台 1 1 の上部面 1 1 a と の間に ける支持棒 1 2 の外周には、 弾性部材と して例えば コィノレばね 1 8 が設け られ、 接触郭材 1 3 を上方向に付勢し て ヽる のコィルばね 1 8 の付勢力 (弾性力 > は、 浮上し てレヽるガラス基板 2 の裏面に対する接触部材 1 3 の当て付け 力を取適値 、 すなわち浮上しているガラス基板 2 が後述する 押付けピン 4 3 の押付け圧又は各搬送部 3 2 〜 3 5 の非吸着 時のガラス基板 2 に対する接触圧よ り も小さな外力又は自重 による慣性によ り 移動 しない程度の小さな摩擦力で、 つガ ラス基板 2 に摩擦痕及び変形等の影響を与えない僅かな当て 付け力で接触部材 1 3 をガラス基板 2 の裏面に接触させる よ う に設定されている 。 この接触部材 1 3 は、 コィルばね 1 8 を介して支持棒 1 2 の先端部に支持されて矢印 B方向に上下 移動する。
空気圧シリ ンダ 6 による伸縮ロ ッ K 7 の伸縮ス ト ローク は、 伸縮口 ッ ド 7 を縮めた と き の接触部材 1 3 の上部面 1 4 力、ら 浮上ステージ 1 上に浮上したガラス基板 2 の下面までの距離 に、 接触部材 1 3 を浮上したガラス基板 2 の下面に接触 しガ ラス基板 2 を移動させない程度の接触抵抗を生じさせる程度 の微小距離を合わせた長さ に予め設定されている。
図 2 は第 2 の基板浮上装置の全体構成図である。 なお、 図 1 と 同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略す る。 浮上ステージ 1 には、 第 2 の基板保持機構 3 Bが設けら れている。 この第 2 の基板保持機構 3 Bの空気圧シリ ンダ 6 の伸縮口 ク ド 7 の先端部には、 ね レ PP 8及びナツ 卜 9 を介し て支持筐体 2 0 が接続されてレヽる。 こ の支持筐体 2 0 は、 例 えば円筒状に形成され、 内部に吸着パッ ド取付け穴 2 1 が設 け られている。 この吸着パッ ド取付け穴 2 1 内には 、 吸着パ ッ ド、 2 2 の上下動を規制する環状の横溝部 2 3 が け られて いる。 この横溝部 2 3 は、 吸着パッ ド取付け穴 2 1 の内径よ り も大きい内径を有する。
吸着パ V ド取付け穴 2 1 の底面には 、 上下方向に伸縮する ゴム、 樹脂 、 金属などの弾性部材からなる吸着パッ ド支持部 材であるベローズ 2 5 を介して吸着パッ ド 2 2 が Pスけ られて いる。
吸着パッ ド 2 2 は、 耐摩擦性の樹脂を例えば円板状に形成 した接触部材を兼ねる。 この吸着パッ ド 2 2 は、 上部に例え ば円形のパッ ト溝 2 6 が形成され、 下部に上下動を規制する 係止環 2 7·が形成されている。 この係止環 2 7は、 横溝部 2 3 内に取 り 付け られている。
吸着パッ ド 2 2 とべローズ 2 5 と支持筐体 2 0 との間には、 各エアー流通路 2 8 a 〜 2 8 c が連通 して設けられている。 エアー流通路 2 8 c は、 支持筐体 2 0 内で屈曲 して支持筐体 2 0 の外壁面に到達し、 この外壁面にエアー吸引 口 2 9 を形 P2004/006000
7 成している。 このエア一吸引 口 2 9 には、 吸引チューブ 2 4 等を介して吸引ポンプが接続されている。
各ェァ一流通路 2 8 a〜 2 8 c を通 して吸引ポンプによ り ェァ を吸引する こ と によ り 、 ガラス基板 2 の裏面が吸着パ ッ ド、 2 2 に吸着固定される。 吸引ポンプによ る吸引圧力は、 浮上 している ガラ ス基板 2 の裏面に対する吸着パ ッ ド、 2 2
(接触部材) と の間の摩擦力がガラス基板 2 に対する小さな 外力又は自重の' I 性によ り移動しない程度の吸引圧力に設定 する こ と も可能である
ベ ーズ 2 5 の付勢力 (弾性力 ) は、 浮上しているガラス 基板 2 の裏面に対する吸着パッ ド 2 2 の当て付け力を最適値、 すなわち浮上しているガラス基板 2 が後述する押付けピン 4
3 の押付け圧又は各搬送部 3 2〜 3 5 の非吸着時のガラス基 板 2 に対する接触圧よ り も小さな外力又は自重による慣性に よ り移動しない程度の小さな摩擦力で、 かつガラス基板 2 に 摩擦痕及び変形等の影響を与えない僅かな当て付け力で吸着 パッ ド、 2 2 をガラス基板 2 の裏面に接触させる よ う にョ ni
BX定さ れている。
空気圧シリ ンダ 6 による伸縮口 ッ ド 7 の伸縮ス ト ロ一ク は、 伸縮 ッ ド 7 を縮めたと きの吸着パッ ド 2 2 の上部面から浮 上ステージ 1 上に浮上したガラス基板 2 の下面までの距離に、 吸着パッ ド 2 2 を浮上したガラス基板 2 の下面に接触しガラ ス基板 2 を移動させない程度の接触抵抗を生じさせる程度の 微小距離を合わせた長さに予め設定されている。
次に 、 上記の如く 構成された各基板保持機構の動作を L C P2004/006000
8
D製造ライ ンの基板検査工程に適用 した場合について説明す る。
図 3 は 1及ぴ第 2 の基板保持機構 3 A、 3 B を適用 した
L C D製 ライ ンの基板浮上装置を示す構成図である。 搬送 用の浮上ステージ 1 の表面 1 a には、 複数のエアー吹き出 し 孔 1 hが縦横方向に規則的に設け られている。
浮上ステージ 1 の両側面には、 それぞれ直線状の各ガイ ド レール 3 0 、 3 1 が設け られている。 これらガイ ドレール 3
0 、 3 1 には、 例えばリ エアモータで駆動する各 2組の各搬 送部 3 2 、 3 3 と 3 4 、 3 5 が移動可能に設けられている。 一方の組の各搬送部 3 2、 3 3 は 、 互いに同期 して各ガイ ド レール 3 0 、 3 1 上を矢印 C方向に往復移動し、 他方の組の 各搬送部 3 4、 3 5 も互いに同期 して各ガイ ド レール 3 0、
3 1 上を矢印 D方向に往復移動する。
図 4 は各搬送部 3 2 〜 3 5 の構成図である。 これら搬送部 3 2 〜 3 5 は、 同一構成を有するので、 搬送部 3 2 について のみ構成を説明する。 搬送部 3 2上には、 各昇降支持部材 3 6 、 3 7 を介して吸着载置台 3 8 が設け られている。 各昇降 支持部材 3 6 、 3 7 は、 吸着載置台 3 8 を同期して上下方向
( Z方向) に昇降させる。 この吸着載置台 3 8上には、 複数、 例えば 5 つ基板吸着装置 3 9 がガラス基板 2 の搬送方向 E と 同一方向に設け られている。 なお、 基板吸着装置 3 9 の設置 数は、 5 つに限らず、 任意の個数設けても よい。 各基板吸着 装置 3 9 は、 エアーの吸引 によ り ガラ ス基板 2 の裏面を吸着 保持する。 P T/JP2004/006000
9
L C D製造ライ ンの浮上ステージ 1 には、 上流側から搬送 されて く るガラス基板 2 を下流側の検查部 S 2に受け渡 しす る基板受け渡 し部 S と 、 こ の基板受け渡し部 S ェの下流側 に設けられた検査部 S 2 と を有する。
基板受け渡 し部 S における浮上ステージ 1 には、 複数の 円筒状の孔 4が設け られ、 これら孔 4 内にそれぞれ基板保持 機構と して図 1 に示す第 1 の基板保持機構 3 Aが設け られて いる。 これら第 1 の基板保持機構 3 Aは、 例えば L C D製造 ライ ン方向に長手方向を有する長方形の各コーナ位置に対応 する 4箇所に設け られている。 第 1 の基板保持機構 3 Aは、 浮上ステージ 1 上にエアーによ り ガラス基板 2 をほぼ水平に 浮上させる こ と ができ るので、 例えばガラス基板 2 のほぼ中 央位置に対応する 1 箇所に設ける こ と も可能である。
検査部 S 2には、 固定して設け られた各基準ピン 4 2 と、 ガラス基板 2 の縁を押 し付ける方向 (矢印 G方向) に移動可 能な各押付けピン 4 3 と が設け られている。 こ の検査部 S 2 には、 門型アーム 4 4 が浮上ステージ 1 を跨いで設け られて いる。 この門型アーム 4 4 は、 ガラス基板 2 の搬送方向 E と 同一方向 (矢印 F方向) に移動可能である。 この門型アーム 4 4 には、 顕微鏡へッ ド 4 5 が搬送方向 E に対して垂直方向 (矢印 J 方向 > に移動可能に設け られている。 門型アーム 4 4 は、 ガラス基板 2 を浮上ステージ 1 上に浮上させた状態で 各搬送部 3 4、 3 5 によ り 矢印 E方向に所定のピッチで移動 する よ う にすれば、 固定設置しても よい。
検査部 S 2における浮上ステージ 1 にも例えば L C D製造 ラィ ン方向に長手方向を有する長方形の各コーナ位置に対応 する 4箇所にそれぞれ各孔 4が設けられ、 こ ;|τら孔 4 内にそ れぞれ基板保持機構と して図 2 に示す第 2 の基板保持機構 3
Bが設け られている。
次に、 上記 L C D製造ラィ ンにおけるガラス基板 2 の受け 渡し及び基板検査の動作について説明する。
浮上ス テージ 1 は、 複数のエアー吹き出 し孔 1 hから均一 なェァー圧力でエアーを吹 出すと、 浮上ステージ 1 の表面
1 a とガラス基板 2 と の間にエアー層が形成されて、 ガラス 基板 2 は浮上ス テージ 1 の表面 1 a 上に浮上する。
各搬送部 3 2、 3 3 の各基板吸着装置 3 9 は、 エア一浮上 しているガラス基板 2 における搬送方向 Eの先頭側の両縁を 吸着保持する。 これら搬送部 3 2、 3 3 は、 ガラ ス基板 2 を 吸着保持した状態で、 L C D製造ライ ンの搬送方向 E に向つ て同期して各ガイ ド レール 3 0、 3 1 上をそれぞれ移動す ό。 これによ り 、 エアーで浮上したガラス基板 2 は、 各搬送部 3
2、 3 3 の移動に引っ張られて搬送方向 Eに高速で搬送され ガラ ス基板 2 が基板受け渡 し部 S 1に到 する と 、 各搬送 部 3 2、 3 3 は 、 移動を停止する。 ガラス基板 2 をェァー浮 上させた状態で 、 各第 1 の基板保持機構 3 Aはヽ 互いに同期 して各空気圧シリ ンダ 6 の各伸縮口 ッ ド、 7 を予め 定された 伸縮ス ト 口一クだけ上方に伸ばす。 これら伸縮 ク 7 の伸 びに伴なつて各支持棒 1 2 に沿って各接触部材 1 3 が上昇す 各伸縮 y ド 7 の伸ぴによ る上昇高さが予め 定された 高さ に達する と、 各空気圧シリ ンダ 6 は各伸縮口 ッ ド 7 の伸 ぴをそれぞれ停止する。
この結果、 各空気圧シリ ンダ 6 の各接触部材 1 3 の上部面 1 4 は、 図 5 に示すよ う にエアー浮上しているガラス基板 2 の裏面に接触する。 こ の と き の各接触部材 1 3 の上部面 1 4 のガラス基板 2 の裏面に対する接触は、 各コイルばね 1 8 の 付勢力によって、 エアー浮上しているガラス基板 2 が各搬送 部 3 2 、 3 3 の非吸着時のガラス基板 2 に対する接触圧よ り 小さ な外力又は自重による慣性によ り移動 しない程度の小さ な摩擦力で、 かつガラス 板 2 に摩擦痕ゃ変形等の影響を与 えない僅かな当て付け力で接触する。
各接触部材 1 3 は、 樹脂によ り 形成され、 各支持棒 1 2 に 対してボーノレべ ァ リ ング 1 7 を介して回転可能で、 かつ各コ ィノレばね 1 8 の付勢力によつて上下方向に移動可能に設け ら れている ので、 ガラス基板 2 の裏面に接触する と きのガラス 基板 2 と各接触部材 1 3 と の互いの傾き等の姿勢に応じて回 転した り 、 上下動してガラス基板 2 の裏面に接触する。
このよ う にガラス基板 2 をェァー浮上させた状態でガラス 基板 2 の裏面に各接触部材 1 3 を接触させるので、 各接触部 材 1 3 に加わる重量が小さ < なる。 これによつて、 ガラス基 板 2 と各接触部材 1 3 の上面部 1 4 との間の摩擦抵抗は、 外 力が加わらない限り ガラス基板 2 を移動させない程度に小さ く なる 。 又、 各接触部材 1 3 は 、 各空気圧シリ ンダ 6 の予め s Λ£された高さへの各伸縮 V ド 7 の伸ぴによ り 同一高さ位 置で停止する。 これによ り 、 ガラス基板 2 は、 水平状態で移 動せずに保持される。
この後、 各搬送部 3 2、 3 3 は、 ガラス基板 2 に対する吸 着保持を停止 し、 ガラス基板 2 の搬入側 (上流側) に戻る。
各搬送部 3 2、 3 3 が搬入側に戻る と 同時に、 各搬送部 3 4、 3 5 が基板受け渡し部 S におけるガラ ス基板 2 の搬送 方向 Eの先頭側に移動し、 これら搬送部 3 4、 3 5 における 各基板吸着装置 3 9 が吸着動作を開始する。 各搬送部 3 2、 3 3 がガラス基板 2 に対して吸着を完了する と、 各第 1 の基 板保持機構 3 Aは、 互いに同期 して各空気圧シリ ンダ 6 の各 伸縮ロ ッ ド 7 を縮める。 各第 1 の基板保持機構 3 Aは、 ガラ ス基板 2 の裏面から離れ、 ガラス基板 2が浮上ステージ 1 上 に浮上する。
これら搬送部 3 4、 3 5 は、 ガラス基板 2 を吸着保持した 状態で、 L C D製造ライ ンの下流側に同期 して各ガイ ド レー ル 3 0、 3 1 上をそれぞれ移動し、 ガラス基板 2 を検査部 S 2まで高速搬送する。
ガラス基板 2 が検査部 S 2に到達する と、 各搬送部 3 4、 3 5 は、 移動を停止する。 ガラス基板 2 をエアー浮上させた 状態で、 検査部 S 2における図 2 に示す各第 2 の基板保持機 構 3 Bは、 互いに同期 して各空気圧シリ ンダ 6 の各伸縮口 ッ ド 7· を予め設定された伸縮ス ト ローク だけ上方に伸ばす。 こ の伸縮ロ ッ ド 7 の伸びに伴なつて支持筐体 2 0 に設け られて いる吸着パッ ド 2 2 が上昇する。 伸縮ロ ッ ド 7 の伸ぴが予め 設定された伸縮ス ト ローク に達する と、 空気圧シリ ンダ 6 は 伸縮ロ ッ ド 7 の伸びを停止する。 これによ り 、 各吸着パッ ド 2 2 は、 エアー浮上しているガラス基板 2 の裏面に接触する。 この と きの各吸着パッ ド 2 2 と ガラス基板 2 と の接触圧は、 ベローズ 2 5 の付勢力によ ってエアー浮上 しているガラス基 板 2 が押付けピン 4 3 の押付け圧又は自重によ り 移動しない 程度の小さな摩擦力でガラス基板 2 の裏面に接触 し、 エアー 浮上しているガラス基板 2 の移動を規制する。 すなわち、 各 吸着パッ ド 2 2 は、 各押付けピン 4 3 の移動に追従してガラ ス基板 2 が移動でき る程度の摩擦力がガラス基板 2の裏面に 作用する摩擦力でガラス基板 2 を仮止めする。
この状態で、 ガラス基板 2 の縁に各押し付けピン 4 3 が押 し付け られる と、 ガラス基板 2 は、 各押し付けピン 4 3 に追 従 (ガラ ス基板 2が各押し付けピン 4 3 から離れない状態) して移動 し、 ガラス基板 2 の隣接する 2辺が各基準ピン 4 2 に当接し、 基準位置にァライ メ ン ト される。 このァライ メ ン トが開始される前に各搬送部 3 4 、 3 5 は、 ガラス基板 2 に 対する吸着保持を停止 し、 基板受け渡し部 S 側に移動する。
次に、 エアー流通路 2 8 a 〜 2 8 c のエアー吸引 口 2 9、 吸引チューブを介して吸引ポンプによ りエアー吸引が行われ る。 これによ り 、 各吸着パッ ド 2 2からエアーが吸い込まれ、 このエアーがベローズ 2 5 、 支持部材 2 4 、 支持筐体 2 0 の 間に連通するエアー流通路 2 8 a 〜 2 8 c 内を通して吸引 さ れる。 こ のエアー吸引によ り各吸着パッ ド 2 2 と ガラス基板 2 の裏面との間が塞がる と、 吸着パッ ド 2 2 のパッ ト溝 2 6 からべローズ 2 5、 支持部材 2 4、 支持筐体 2 0 の間に連通 するエアー流通路 2 8 a 〜 2 8 c 内は負圧にな り 、 ベローズ 2 5 が潰れて各吸着パッ ド 2 2 がガラス基板 2 の裏面に吸着 する。 これによ り 、 ガラス基板 2 は、 固定保持される。
吸着パッ ド 2 2 が下降する。 吸着パッ ド 2 2 は、 環状の横 溝部 2 3 内の下端に吸着パッ ド 2 2 の係止環 2 7 が当接して 下降が規制される。
こ の よ う にガラス基板 2 が各吸着パッ ド 2 2 に よ り 浮上ス テージ 1 上に固定保持された状態で、 門型アーム 4 2 をガラ ス基板 2 の搬送方向 E と 同一方向 (矢印 F方向) に移動する と共に、 顕微鏡へッ ド 4 3 が門型アーム 4 2上を搬送方向 E に対して垂直方向 (矢印 J 方向) に移動する こ と によ り ガラ ス基板 2 に対する検査が行なわれる。
ガラス基板 2 の検査が終了する と、 下流側から別の各搬送 部が検査部 S 2に移動 し、 ガラス基板 2 の先頭側を吸着保持 して下流側に搬送する。
このよ う にガラス基板 2 をエアー搬送する L C D製造ライ ンの基板受け渡し部 S に第 1 の基板保持機構 3 Aを設け、 検査部 S 2に第 2 の基板保持機構 3 B を設けた。 基板受け渡 し部 S iにおいては、 ガラス基板 2 に対する各搬送部 3 2 、
3 3 の吸着保持が停止されても、 ガラス基板 2 は、 第 1 の基 板保持機構 3 Aによ り 仮保持されて移動せずに停止でき る。 エアー浮上だけのフ リ 一な状態であれば、 ガラス基板 2 は、 例えば僅かな傾きやダウンフロー等の外力によ り移動 して し ま う が、 第 1 の基板保持機構 3 A とガラス基板 2 との摩擦力 と によ り ガラス基板 2 の移動を規制できる。
基板受け渡し部 S において、 エアー浮上しているガラス 基板 2 を第 1 の基板保持機構 3 Aの接触によ る摩擦抵抗によ つて移動を規制 した状態で、 下流側の各搬送部 3 4、 3 5 に ガラス基板 2 を安定して受け渡すこ とができ る。
基板受け渡 し部 S において、 エアー浮上しているガラス 基板 2 の裏面に第 1 の基板保持機構 3 Aが接触したと き も、 コイルばね 1 8 の付勢力が最適値に設定されているので、 ガ ラ ス基板 2 が第 1 の基板保持機構 3 A上を摺つて移動 しても ガラス基板 2 の裏面に影響を与えない。
検査部 S 2においては、 エアー浮上しているガラス基板 2 を各吸着パッ ド 2 2 上に載置して第 2 の基板保持機構 3 B と の摩擦力によ り ガラス基板 2 を仮止め し、 この状態で各押付 けピン 4 3 の押付けによってガラス基板 2 を各基準ピン 4 2 に押 し当てる こ とができ るので、 ガラス基板 2 を安定性よ く 基準位置にァライ メ ン トする こ と ができ る。 又、 ァライ メ ン ト してから各吸着パッ ド 2 2 によ り ガラス基板 2 を吸着固定 する こ と ができ るので、 ガラス基板 2 に位置ずれを起こ さず に、 ガラス基板 2 の検査ができ る。
第 1 の基板保持機構 3 Aは接触部材 1 3 を支持する基板保 持部材 1 0 を空気圧シリ ンダ 6 によ り 昇降させる構成であ り 、 第 2 の基板保持機構 3 Bは吸着パッ ド 2 2 を空気圧シリ ンダ 6 によ り 昇降させる構成なので、 第 1 及び第 2 の基板保持機 構 3 A、 3 B共に小型化が可能で、 それぞれ L C D製造ライ ンの基板受け渡 し部 S 1 検査部 S 2に組み込むこ と が容易 ある。
L C D製造ライ ンにエアー搬送されるガラス基板 2 は、 基 板受け渡し部 S においてガラス基板 2 をエアー浮上させた 状態で各搬送部 3 2、 3 3 と 3 4、 3 5 と の間で受け渡しを 行 う ので、 高速でエアー搬送でき 、 カ ラス基板 2 の検査ェ程 に要する時間を短縮し、 検查タ タ トタイ ムを短く でき る
次に 、 基板保持機構を基板検查装置に用い られる浮上ステ 一ジに適用 した場合について説明する。
図 6 は基板検査装置に用いられる浮上ステージの外観図で め 矩形状の浮上ス テージ 1 0 0上にはヽ 例えば 4箇所に 図 1 に示す各第 1 の基板保持機構 3 Aが設け られている れら第 1 の基板保持機構 3 Aを設ける箇所は 、 浮上している ガラス基板 2 を裏面から支持可能な箇所でヽ 例えば長方形の 各コーナ位置に対応する 4 箇所に設け られている。
浮上ス テージ 1 の外周部には 、 位置決め機構を構成する各 基準ピン 5 0 が X Yの各辺上に固定して設け られる と共に 、 これら辺に対向する辺上に各押 し付けピン 5 1 が移動可能に 設け られている。
ガラス基板 2 を、 浮上ス テージ 1 上でェァ一浮上させた状 態で、 各第 1 の基板保持機構 3 Aの伸縮口 シ ド 7 を予め設定 された伸縮ス ト ローク だけ上方に伸ばすと 図 5 に示すよ に各空気圧シリ ンダ 6 の各接触部材 1 3 の上部面 1 4 が力ラ ス基板 2 の裏面に接触する。 接触部材 1 3 は 、 各コィルばね
1 8 の付勢力によって、 エアー浮上しているガラス基板 2が 押付けピン 5 1 の押付け圧よ り 小さな外力で移動させず 、 か っガラス基板 2 の裏面に影響を与えない小さ な当て付け力で エアー浮上しているガラス基板 2 の裏面に接触し、 ェァ 浮 上しているガラス基板 2 を水平状態で移動せずに保持する。 このよ う な状態で、 各押 し付けピン 5 1 の押付けによって ガラス基板 2 を各基準ピン 5 0 に押し当てる と、 ガラス基板 2 は、 安定性よ く 基準位置にァライ メ ン ト される。
ガラス基板 2 のァライ メ ン トが完了する と、 各空気圧シリ ンダ 6 は、 伸縮ロ ッ ド 1 4 を縮める。 伸縮ロ ッ ド 1 4 が縮ま る と、 ガラス基板 2 は、 ァライ メ ン ト された状態を保って浮 上ステージ 1 0 0上にエアー浮上する。
この状態で、 例えば図 3 に示す顕微鏡へッ ド 4 5等を搭載 した門型アーム 4 4 が X方向に移動する と共に、 顕微鏡へッ ド 4 5 が Y方向に移動してガラス基板 2 の検査が行なわれる。 このよ う に基板検査装置の浮上ステージ 1 0 0 に適用 して も、 エアー浮上しているガラス基板 2 を各接触部材 1 3 の接 触による摩擦抵抗によって移動を規制 し、 各押し付けピン 5 1 に追従して各基準ピン 5 0 に押し当てる こ とができ るので、 ガラス基板 2 を安定性よ く 基準位置に位置決めする こ と がで き るなど、 L C D製造ライ ンの基板検査工程に適用 した場合 と 同様の効果を奏する こ と ができ る。
次に、 本発明の第 2 の実施の形態について説明する。 なお、 図 1 と 同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略 する。
図 7 は基板保持機構の構成図である。 浮上ステージ 1 に設 けられた円筒状の孔 4 の開口部には、 リ ング状支持部材 6 0 が設けられている。 この リ ング状支持部材 6 0 は、 上下方向 に一対の リ ング状の各挟持片 6 0 a 、 6 O b を有する。 この リ ング状支持部材 6 0 には、 各挟持片 6 0 a 6 0 b によつ て接触膜 6 1 が張られた状態で挟持されている o この接触膜
6 1 は 、 耐摩耗性の樹脂によ り 均一な膜厚に形成され、 伸縮 可能でめる。 なお、 リ ング状支持部材 6 0 による接触膜 6 1 は、 図 8 に示すよ う に異なる外径の 2枚の リ ング挟持片 6 0 a 、 6 0 b を横方向に内外 2重に設けて挟持 してあ よい。 孔 4 の下部には、 連結部材 6 2 を介 して配管 6 3 が設けら れている o の配管 6 3 の他端には、 圧搾ェァ一供給部 6 4 が接続されている。 この圧搾エアー供給部 6 4 は 、 圧搾エア
—を配管 6 3 を通 して孔 4 内に供給する。
又、 配管 6 3 には 、 エアー圧力調節弁 6 5 が けられてい
Ο D のェァ 圧力調節弁 6 5 は、 開度の調整によ り 孔 4 内 に供給するェァ ―の流量を調節 した り 、 開放動作と閉鎖動作 と によ り ェァ 供給のオン ' オフを行 う。 このェァー圧力調 節弁 6 5 は、 孔 4 内への圧搾エアーの供給量を 、 圧搾エアー の供給によ り 孔 4 内の圧力が上昇し、 接触膜 6 1 が上方に膨 らんだと き の接触膜 6 1 と浮上しているガラス基板 2 の裏面 との摩擦抵抗がガラス基板 2 の移動を規制する と共に、 ガラ ス基板 2 の裏面に損傷等の影響を与えないェァ一供給量に調 節する 0
次にヽ 上記の如く 構成された基板保持機構によ るガラス基 板 2 の移動の規制の動作について説明する。
ガラス基板 2 が浮上ステージ 1 上にエアー浮上してレヽる状 態で、 圧搾ェァ一が配管 3 3 を通して孔 4 内に供給される。 このと きヽ ェァ一圧力調節弁 6 5 は、 弁を開放する と共に、 弁の開度の調整によ り 孔 4 内に供給するエアーの流量を、 孔
4 内の圧力が上昇し、 接触膜 6 1 が上方に膨らんだと さの接 触膜 6 1 と浮上しているガラス基板 2 の裏面と の摩擦抵抗が ガラス基板 2 の移動を規制する と共に、 ガラス基板 2 の裏面 に損 等の影響を与えないエアー供給量に調節する。
孔 4 内に圧搾エアーが供給される と 、 孔 4 内は気密に形成 されているので.、 孔 4 内部の圧力が次第に高く な り 、 れに 伴なつて接触膜 6 1 に加わる圧力も次第に高く なる。 れに よ り 接触膜 6 1 は、 図 7 の点線によ り 示すよ う に上方に向 つて膨らむ。 この膨らみは、 接触膜 6 1 が均一な膜厚に形成 されているので、 接触膜 6 1 の中央部の上昇高さが最あ高 < な り 、 中央部から離れるに従って順次高さが低く なる
の接触膜 6 1 の膨らみよ り その中央部がガラス基板 2 の 裏面に接触する と、 ガラス基板 2 と接触膜 6 1 との間の小さ な摩擦抵抗でガラス基板 2が移動せずに接触膜お 1 上に保持 される 。 この と き接触膜お 1 は、 圧搾エアーの供給によ り 弾 力性を持って膨らんでいるので、 ガラス基板 2 に対して柔軟 に当接し、 ガラス基板 2 の裏面に損傷等の影響を与えない - のよ う な基板保持機構は、 例えば図 3 に示す L C D製 ラィ ンの浮上ステージ 1 における基板受け渡し部 S 1にきu
ロスけ られた第 1 の基板保持機構 3 A、 又は図 6 に示す基板検查装 置の浮上ステージ 1 0 0 に設け られた第 1 の基板保持機構 3
Aに代つて設ける こ と によって、 それぞれ上記第 1 の実施の 形態と 同様の効果を奏するこ とができ る。 この基板保持機構 によれば、 接触膜 6 1 を膨らませるだけの簡単な構成でヽ 上 記第 1 の実施の形態と 様のタカ果を奏する こ とができ る o 本発明はヽ -t RQ 1 乃至第 3 の実施の形態に限定される も のではな < 、 各種変形してち よい 0 例えば、 上記各実施の形 態では、 L C D製造フィ ンの浮上ステージ 1 又は基板検查装 置の浮上ステージ 1 0 0 に適用 した場合について説明 したが、 これに限らず、 基板検查装置や各種基板製造装置における搬 入搬出側の各浮上ステ一ジ 1 0 0 に適用 してもよい。
例えば L C D製 ラィ ンに ける搬入側の浮上ステ一ジ
1 上に リ フ ト機能を備 X.た第 1 の 板保持機構 3 Aを設けた 場合について説明する O 浮上ステ一ジ 1 の搬入側には、 搬入 用ロポッ 卜が設け られている o 各第 1 の基板保持機構 3 Aは、 各接触部材 1 3 を空気圧シリ ンダ 6 の駆動によ り搬入側 πホ ク トの吸着ハ ン ドからガラス 板 2 を受け取 さまで上昇 する。 こ の状態で、 搬入用口ポッ 卜はヽ 吸着ノヽン を下降さ せ 、 ガラス基板 2 を浮上ス テ一ジ 1 上の各第 1 の 板保持機 構 3 Aの各接触部材 1 3上に載置する 0
次に、 浮上ステ一ジ 1 は、 複数のェァ一吹き出 し孔 1 hか らエアーを吹き出す 。 こ の状態でヽ 空 圧シリ ンダ 6 は 、 各 第 1 の基板保持機構 3 Aを下降させヽ ガラス基板 2 がェ了一 で浮上する位置よ り も若干高い位置で停止する o の と さ、 ガラス基板 2 は 、 ェァー浮上した状態で各接触部材 1 3 上に 載置されるのでヽ ェァー浮上している状態でも移動する こ と がない。 こ の後 、 図 3 に示すのと |B〗様に基準ピン 4 2 と押付 けピ ン 4 3 とで構成されるァラィ メ ン 卜機構によ り ァラィ メ ン ト される。 L C D製造ライ ンの基板受け渡 し部 S 又は検査部 S 2に おける第 1 、 第 2 の基板保持機構 3 A ヽ 3 B の各 ¾愈は、 それぞれ 4 箇所に限らず、 例えば三角形の各頂点となる 3箇 所、 又はガラス基板 2 を安定に保持し 、 かっガラス基板 2 と 各接触部材 1 3 との間の摩擦抵抗が増大しない複数箇所でも よい。
接触部材 1 3 を弾性的に支持するのはヽ コィノレばね 1 8 に 限らず、 円筒状に形成されたゴムを用いても よい
接触部材 1 3及ぴ吸着パッ ド 2 2 はヽ ガラ ス基板 2 の裏面 に対する接触面積の大き さ を変化させて 、 ガラス基板 2 との 間に生じる摩擦抵抗の大き さ を調整してあ よい。 これによ り エアーの吹き上げ力が同一であつてもヽ ガラ ス基板 2 のサイ ズが変更 した場 、 ガラス基板 2 の自重がサイズに応じて変 わるので、 このガラス基板 2 の自重に応じた対応が可能であ ガラス基板 3 を浮上させるのは 、 ェァ 浮上に限らず、 静 電浮上 、 超音波浮上によ り 浮上させたガラス基板の移動を規 制する場合にも適用でき る
産業上の利用可能性
本 明は、 例えば液晶ディ スプレィ の大型ガラス基板 1 の 搬送に適用 した場合について説明 したがヽ 半導体クェハゃ各 種部材の搬送にも適用でき る

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 基板を浮上させる浮上手段と 、
前記基板の裏面に接触可能な接触部材と、
前記接触部材を先端部に設けた支持部材と
前記支持部材を上昇させて、 前記浮上手段によ り浮上して いる前記基板の裏面に前記接触部材を接触させて前記基板の 移動を規制させる昇降機構と、
を具備 したこ と を特徴とする基板浮上装置。
2 .前記接触部材は、 耐摩耗性を有する樹脂によ り 形成され る こ と を特徴とする請求項 1 記載の基板浮上 置
3 . 前記接触部材は、 円筒状に形成され、 一方の開口部が前 記基板の裏面に接触する こ と を特徴とする請求項 1記載の基 板浮上装置。
4 . 前記接触部材は、 前記支持部材に対して弾性部材を介し て設け られたこ と を特徴とする請求項 1 記載の基板浮上
5 . 前記接触部材は、 前記支持部材に対してボールぺア リ ン グを介 して回転可能に設け られたこ と を特徴とする 5 求項 1 記載の基板浮上装置。
6 . 前記弾性部材は、 浮上している前記基板の移動を規制す る接触抵抗を生じさせる当て付ける力で前記接触部材を 記 基板の裏面に接触させる当て付け力を有する と を特徴とす る請求項 4記載の基板浮上装置。
7 . 前記弾性部材は、 コイルばね又は円筒状の ゴムでめ る と を特徴とする請求項 4記載の基板浮上装置
8 . 前記昇降機構は、 伸縮ロ ッ ドを有するァクチユエータを 有する こ と を特徴とする口 求項 1 記載の基板浮上装置
9 . 前記浮上手段は、 ェァ一吹き出す浮上ス テージを有し、 刖記ァク チユエータはヽ 前記伸縮口 ッ ドを縮めたと さの前 記接触部材の上部面から 記浮上ステージの上面までの距離 と、 前記基板の浮上高さ と 、 前記基板の移動を規制する m記 接触抵抗を生じさせる 記当て付ける力を生じるための距離 と を合わせたス ト ローク距離で前記伸縮口 ッ ドを伸縮させる こ と を特徴とする請求項 8記載の基板浮上装置。
1 0 . 前記接触部材は 、 m記基板の裏面に接触する吸差ノ 、ソ ドを形成 し、
前記支持部材は 、 前記吸着パッ ド、を上部に可動可能に取り 付ける取付け穴と 、 前記取付け穴内に前記吸着パ ドを支持 する弾性部材と 、 前記吸着パッ ドと刖記弾性部材と前記支持 部材との間に連通して設け られたェァー吸引通路と を有する、 こ と を特徴とする請求項 1 記載の基板浮上装置。
1 1 . 前記弾性部材は、 ベローズによ り形成される こ と を特 徴とする請求項 1 0記載の基板浮上 ύζ
Figure imgf000025_0001
1 2 . 前記エア一吸引通路を通 してエアーを吸引する と、 目 記吸着パッ ドは 、 前記基板を吸着固定する と を特徴とする 請求項 1 0記載の基板浮上装置。
1 3 . 基板を浮上させる浮上手段と 、
前記浮上手段に設け られた孔とヽ
前記孔の開口部に設けられた樹脂によ り なる接触膜と、 刖記孑しを通して前記接触膜に対して圧搾ェァ一を供給して 前記接触膜を膨らませ、 前記浮上手段によ り 浮上している前 記基板の裏面に前記接触膜を当て付けて前記基板の移動を規 制する圧搾エアー供給手段と、
を具備したこ と を特徴とする基板浮上装置。
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