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WO2004095699A1 - 弾性境界波装置 - Google Patents

弾性境界波装置 Download PDF

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WO2004095699A1
WO2004095699A1 PCT/JP2004/000762 JP2004000762W WO2004095699A1 WO 2004095699 A1 WO2004095699 A1 WO 2004095699A1 JP 2004000762 W JP2004000762 W JP 2004000762W WO 2004095699 A1 WO2004095699 A1 WO 2004095699A1
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WO
WIPO (PCT)
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acoustic wave
boundary
wave device
boundary acoustic
medium layer
Prior art date
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Ceased
Application number
PCT/JP2004/000762
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English (en)
French (fr)
Inventor
Hajime Kando
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
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Priority to US10/549,888 priority patent/US7453184B2/en
Priority to DE112004000499T priority patent/DE112004000499B4/de
Publication of WO2004095699A1 publication Critical patent/WO2004095699A1/ja
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Ceased legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/0222Details of interface-acoustic, boundary, pseudo-acoustic or Stonely wave devices

Definitions

  • the present invention relates to a boundary acoustic wave device using a boundary acoustic wave propagating along a boundary between first and second media eyebrows having different sound velocities, and more specifically, a structure for suppressing an unwanted spurious is provided.
  • the boundary acoustic wave device is not limited to a boundary acoustic wave device.
  • a surface acoustic wave device using a surface acoustic wave such as a Rayleigh wave or a first leaky wave can be made smaller and lighter and requires no adjustment. Therefore, surface acoustic wave devices are widely used for RF filters or IF filters for mobile phones, resonators for VCO, VIF filters for televisions, and the like.
  • a boundary acoustic wave device has been proposed as a device that does not require a package having the above cavity.
  • Fig. 15 is a front sectional view and a schematic view showing an example of a conventional boundary acoustic wave device. It is a perspective view.
  • first and second medium layers 102 and 103 having different sound velocities are stacked.
  • an IDT 104 as an electroacoustic transducer is arranged on the boundary A between the first and second medium layers 102 and 103.
  • Reflectors (not shown) are arranged on both sides of the IDT 104 in the propagation direction of the boundary acoustic wave.
  • a boundary acoustic wave is excited by applying an input signal to the IDT 104.
  • the boundary acoustic wave propagates along the boundary A of the boundary acoustic wave device 101 as schematically shown by an arrow B in FIG.
  • FIGS. 16 and 17 are diagrams for explaining the problems of the conventional boundary acoustic wave device.
  • FIG. 16 is a schematic perspective view showing the appearance of the boundary acoustic wave device, and
  • FIG. It is a figure showing a characteristic.
  • FIG. 1 As shown in 6, Y force Tsu preparative X on L i N b 0 3 single crystal substrate 1 1 2 propagation, I DT 1 1 3 and the reflectors consisting of A u film having a thickness of 0. 05 lambda 1 1 4 and 1 1 5 were formed. Also, I DT 1 1 3 and the reflectors 1 14, 1 1 5 so as to cover, L i N b 0 3 on the single crystal substrate 1 1 2, the thickness of 3.3 e of S
  • the film was formed at 200 ° C.
  • the number of electrode fingers of IDT 113 was 50 pairs, the width of intersection was 30 and the duty ratio of the electrode fingers was 0.6.
  • the number of electrode fingers of the reflectors 114 and 115 was 50, respectively, and the I of the reflectors 114 and 115 and the wavelength ⁇ of the IDT 113 were matched. Also, I DT 1 1 3 and The interval between the reflectors 114 and 115 was 0.5 ⁇ as the distance between the electrode finger centers. Note that thin Ti layers were formed above and below the Au film by vapor deposition in order to enhance the adhesion.
  • FIG. 17 shows the frequency characteristics of the boundary acoustic wave device 111 configured as described above. As is evident from FIG. 17, in the boundary acoustic wave device 111, a plurality of spurious components are generated with a considerable magnitude near the anti-resonance frequency and on the higher frequency side than the anti-resonance frequency.
  • An object of the present invention is to provide a boundary acoustic wave device that can effectively suppress unwanted spurious signals and obtain good frequency characteristics in view of the above-mentioned state of the art. It is in.
  • a boundary acoustic wave device is a boundary acoustic wave device using a boundary acoustic wave propagating on a boundary between a first medium layer and a second medium layer, wherein the second medium The sound speed is lower than the sound speed of the first medium, and the thickness of the second medium layer is set to 7 ⁇ or more when the wavelength of the boundary acoustic wave is represented by. That is, in the first invention, the sound velocity is relatively slow.
  • the thickness of the second medium layer By setting the thickness of the second medium layer to a specific thickness, it is possible to effectively suppress unwanted spurious.
  • a second invention of the present application is directed to a boundary acoustic wave device using an elastic boundary wave propagating on the boundary surface between the first and second medium layers, wherein the boundary surface between the first and / or second medium layers is A structure to scatter elastic waves is provided on the opposite surface. It is characterized by that.
  • an undesirable spurious is suppressed by providing a structure for scattering elastic waves.
  • a structure in which the sound speed of the second medium layer is lower than the sound speed of the first medium layer, and the second medium layer scatters the elastic waves. I have.
  • a concave portion and / or a convex portion provided on a surface of the structural medium layer that scatters the elastic wave, the surface being opposite to the boundary surface.
  • the depth of the groove of the concave portion or the height of the convex portion is set to 0.05 or more.
  • the pitch of the concave portion and the convex portion or the convex portion is at least one when the wavelength of the boundary acoustic wave is represented by:
  • the thickness of the medium layer provided with the structure that scatters the elastic waves is a thickness between the boundary surface and a surface opposite to the boundary surface,
  • the wavelength of the boundary acoustic wave is increased, it is set to 7 ⁇ or less. That is, when the thickness of the first medium layer having a low sound velocity is less than 7, it is difficult to suppress spurious.
  • the use of the structure that scatters elastic waves suppresses spurious.
  • the second medium layer is made of S i 0 2, wherein the first medium layer is made of L I containing a piezoelectric substrate, comprising the S i 0 2 Concave portions and / or convex portions are formed on the surface of the second medium layer.
  • the first and second medium layers In addition, an electroacoustic transducer for exciting a boundary wave is formed.
  • a reflector provided at a boundary between the first medium layer and the second medium layer is further provided.
  • an outer layer material provided on the surface of the medium layer where the concave portions and the Z or convex portions are formed is further formed.
  • FIG. 1 (a) and 1 (b) are a schematic front sectional view showing a main part of a boundary acoustic wave device according to a first embodiment of the present invention, and a schematic perspective view showing an appearance.
  • FIG. 2 is a diagram showing a main mode displacement distribution of a boundary acoustic wave in the conventional boundary acoustic wave device shown in FIGS. 15 and 16.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of a spurious mode displacement distribution under the same conditions as those shown in FIG.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of a spurious mode displacement distribution under the same conditions as those shown in FIG.
  • FIG. 5 is a diagram showing an example of a spurious mode displacement distribution under the same conditions as those shown in FIG.
  • FIG. 6 is a diagram showing an example of the displacement distribution of the spurious mode under the same conditions as those shown in FIG.
  • FIG. 7 is a diagram showing an example of a spurious mode displacement distribution under the same conditions as those shown in FIG.
  • FIG. 8 is a diagram showing an example of a spurious mode displacement distribution under the same conditions as those shown in FIG.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating impedance characteristics of the boundary acoustic wave device according to the first embodiment.
  • FIG. 10 is a diagram showing a change in the impedance ratio of the spurious mode when the depth of the groove forming the unevenness is changed in the first embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram showing a change in the impedance ratio of the spurious mode when the pitch of the grooves forming the unevenness is changed.
  • FIG. 12 is a schematic perspective view for explaining a configuration of a groove in a modified example of the boundary acoustic wave device of the first embodiment.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining the second embodiment of the present invention, and illustrates a change in the impedance ratio of the spurious mode when the film thickness of the SiO 2 film having a relatively low sound speed is changed.
  • FIG. 14 is a schematic partial front sectional view showing a main part of a boundary acoustic wave device according to a modified example of the boundary acoustic wave device of the first embodiment.
  • FIG. 15 is a schematic partial cutaway front sectional view for explaining a conventional boundary acoustic wave device.
  • FIG. 16 is a schematic perspective view for explaining a conventional boundary acoustic wave device.
  • FIG. 17 is a diagram illustrating impedance characteristics of the boundary acoustic wave device illustrated in FIG. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • Fig. 2 shows the main mode displacement distribution of the boundary acoustic wave when the thickness of the SiO 2 film is 2.5 ⁇
  • Figs. 3 to 8 show the spurious mode displacement distributions under the same conditions.
  • 11 ⁇ is the ⁇ wave component of the displacement
  • U 2 is the SH wave component
  • U 3 is the SV wave component
  • the horizontal axis is the displacement normalized by the maximum value
  • the vertical axis is the depth direction Is shown. (One side is downward.)
  • the main mode of the boundary acoustic wave is an SH boundary acoustic wave whose main component is an SH boundary component. It can be seen from FIGS.
  • the spurious mode is roughly classified into two modes: a mode mainly composed of SH wave components, and a mode mainly composed of P wave and SV wave components. Then, two spurious modes propagate between the upper surface of the S I_ ⁇ 2 film, the boundary between the I DT consisting of S i O 2 film and Au. In addition, since multiple higher-order modes of the above two spurious modes occur, it is considered that a large number of spurs are generated as shown in FIG.
  • the boundary acoustic wave device according to the present invention is designed to suppress such a plurality of spurious components.
  • 1 (a) and 1 (b) are a schematic front sectional view and a schematic perspective view for explaining a first embodiment of a boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • first and second medium layers 2 and 3 are stacked.
  • the first medium layer 2 is made of L i Nb 0 3 single crystal substrate of Y force Tsu preparative X propagation
  • the second medium layer 3 is constituted by S i 0 2 film.
  • I DT 4 is arranged as an electroacoustic transducer Have been.
  • FIG. 1 (a) only the portion where the IDT 4 is arranged is shown. However, as shown in FIG.
  • grating-type reflectors 5 and 6 are arranged on both sides of the IDT 4 in the boundary acoustic wave propagation direction.
  • I DT4 and reflection unit 5, 6 is formed by depositing a thickness of 0. 05 lambda of Au on L i Nb 0 3 single crystal substrate 2.
  • S I_ ⁇ 2 film 3 be formed in I DT4 and reflectors 5, 6 after forming, thickness 3.0 S i 0 Wafer heated 2 film by RF magnetron sputtering 200 ° C Formed.
  • the number of pairs of electrode fingers of IDT4 was 50, the width of intersection was 30, and the duty ratio of the electrode fingers constituting IDT4 was 0.6.
  • the number of electrode fingers for reflectors 5 and 6 was set to 50.
  • the wavelengths of the IDT 4 and the reflectors 5 and 6 were matched, and the interval between the IDT and the reflector was set to 0.5 ⁇ as the distance between the electrode finger centers.
  • FIG. 9 shows the impedance characteristics of the boundary acoustic wave device 1 thus obtained.
  • the spurious generated at 130 OMHz is suppressed from 22.9 dB to 6.6 dB, that is, suppressed to one third, when expressed as the impedance ratio of the resonance frequency to the anti-resonance frequency. It can be understood that it can be done.
  • the characteristic of the boundary acoustic wave device 1 of the present embodiment is that, as described above, the Sio 2 film That is, a plurality of grooves 3b are formed on the upper surface 3a, which is the surface opposite to the boundary surface A of No. 3, and thereby a concave portion is provided. It is considered that the formation of the concave portion scatters the spurious mode, thereby suppressing the spurious as described above.
  • the inventor of the present application further considered the depth and shape of the concave portion in consideration of the results of the boundary acoustic wave device 1 described above.
  • a boundary acoustic wave device 1 was produced.
  • the grooves 3 b after forming a resist pattern by off O preparative lithography process on S I_ ⁇ 2 film 3, the dilution Fu One acid By etching, a plurality of grooves 3b were formed so as to form an angle of 45 ° with the direction in which the electrode fingers of IDT 4 extended.
  • the depth and arrangement pitch of the plurality of grooves 3b were varied to obtain a plurality of types of boundary acoustic wave devices.
  • FIG. 10 is a diagram showing a relationship between the depth of the groove 3b, that is, the depth of the concave portion, and the spurious impedance ratio obtained as described above.
  • the depth of the concave portion is preferably at least 0.05, more preferably at least 0.6.
  • FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the pitch of the plurality of grooves 3b and the spurious impedance ratio. As is clear from Fig. 11, if the pitch of the plurality of grooves 3b is set to 1 ⁇ or more, the impedance ratio of the spurious is It can be seen that it can be improved to 10 dB or less. Therefore, it is preferable that the pitch of the grooves 3b is 1 or more.
  • the plurality of grooves 3b are positioned in parallel with each other so as to form a predetermined angle with the direction in which the electrode fingers extend.
  • a plurality of grooves 3c may be arranged so as to intersect the grooves 3b. Also in this case, it has been confirmed that by setting the depth of the grooves 3b and 3c to 0.05 or more, the impedance ratio of the spurious can be improved as described above.
  • the SiO 2 film that is, the plurality of grooves 3 b or the plurality of grooves 3 b and 3 c was formed on the upper surface of the first medium.
  • a curved groove or a groove of another shape may be formed. That is, the unevenness in the present invention is not limited to a plurality of linear grooves extending parallel to each other.
  • the depth of the concave portion is If L s Z 4 X sin 0 s, the phases of the spurious reflected by the concave portion 3 b and the upper surface 3 a are opposite to each other, and cancel each other out. Therefore, it is considered that spurious reception by IDT 4 can be more effectively prevented.
  • the recess it is desirable to form a large number of grooves 3b. However, if one or more grooves 3b are formed, the same effect as in the above embodiment can be obtained. Fruit can be obtained. Further, instead of the concave portion, a dot-like convex portion may be provided, and both the concave portion and / or the convex portion may be provided.
  • the boundary acoustic wave device according to the second embodiment has the same structure as the boundary acoustic wave device 1 according to the first embodiment. Therefore, for the boundary acoustic wave device of the second embodiment, the description given for the boundary acoustic wave device of the first embodiment is referred to.
  • the boundary acoustic wave device according to the second embodiment is different from the boundary acoustic wave device according to the first embodiment in that (1) a groove is not provided on the upper surface of the SiO 2 film 3, and ( 2) The thickness of the SiO 2 film is set to 7 or more.
  • the grooves 3b or the grooves 3b, 3c are formed to have irregularities to suppress spurious.
  • the thickness of the S 1 0 2 film 3 is a 7 tut above, spurious is suppressed. This will be described based on specific experimental examples.
  • a boundary acoustic wave device 1 was manufactured in the same manner as in the experimental example of the first embodiment. However, irregularities on the surface of the S i 0 2 film 3 is not applied, was variously changing the thickness of the S I_ ⁇ 2 film 3. The thickness of the S io 2 film in this way, a plurality of types of boundary acoustic wave device obtained by the relationship between the impedance ratio of the spurious mode shown in FIG 3.
  • the impedance ratio of the spurious mode can be 5 dB or less.
  • the thickness of the SiO 2 film 3, which is a second medium layer having a relatively low sound velocity and capable of confining an elastic wave serving as a spurious member, must be sufficiently thick. Suppression of spurious by the above elastic wave
  • the boundary acoustic wave device 1 of the first embodiment that is, in structure to sio 2 recesses and Z or protrusions on the upper surface of the film is provided, further a thickness of S i 0 2 film If the thickness is increased according to the second embodiment, the above spurious can be further effectively suppressed. Therefore, it is preferable to configure a boundary acoustic wave device provided with both spurious suppression structures of the first and second embodiments.
  • FIG. 14 is a schematic front sectional view showing a modified example of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • the outer layer member 1 One may be formed.
  • the outer layer material 11 even if the surface 11a of the outer layer material 11 is flat, the upper surface 3a of the SiO 2 film 3 as the second medium layer has irregularities. However, as in the first embodiment, spurious components can be effectively suppressed.
  • an appropriate material such as A1N can be used.
  • the outer layer material 11 By forming the outer layer material 11, the mechanical strength of the boundary acoustic wave device can be increased, and the intrusion of corrosive gas can be suppressed. That is, since the outer layer material 11 can function as such a protective layer, an insulating material such as titanium oxide, aluminum nitride or aluminum oxide, or a metal material such as Au, A1, or W is used. Can be constituted by
  • the spurious mode is confined and propagates between the boundary and the boundary layer that propagates to the boundary acoustic wave as in the case of the conventional boundary acoustic wave device.
  • the spurious mode can be suppressed by forming the concave portions and / or the convex portions according to the mode.
  • a third medium layer having a lower sound velocity than the first and second medium layers may be disposed between the first and second medium layers, and the third medium layer may be used as a boundary layer.
  • an electrode such as an IDT may be formed between the first medium layer and the third medium layer.
  • the spurious mode propagating through the first medium layer or the second medium layer is generated at the same time when the boundary wave is excited.
  • the spurious mode can be suppressed similarly. Even when the third and fourth medium layers are formed between the first and second media, the spurious mode can be suppressed by forming a recess between any of the layers.
  • the IDT 4 and the reflectors 5 and 6 are constituted by Au.
  • the electrode material of the boundary acoustic wave device is not limited to Au, but may be Ag. , Cu or A 1 may be used.
  • a thin layer such as Ti, Cr, or NiCr may be laminated on the electrode layer in order to enhance the electrode adhesion / power durability.
  • the present invention may be applied not only to the resonator but also to a horizontal coupling type filter, a vertical coupling type filter in which a reflector is arranged outside two or more IDTs, a ladder type filter or a lattice type filter.
  • the first, for the material constituting the second medium layer is not limited to the S i O 2 and L i N b 0 3, L i T a 0 3, L i 2 B 4 ⁇ 7, quartz, Various piezoelectric materials, such as lead zirconate titanate-based ceramics, and various dielectric materials, such as glass or sapphire, can be used. Industrial applicability
  • the first sound having a relatively low sound velocity Since the thickness of the medium layer is set to 7 or more, it is clear from the experimental example described above that the boundary surface where the boundary acoustic wave propagates and the boundary surface of the second medium layer are opposite to each other. It is possible to effectively suppress spurious signals propagating between the two, and to provide a boundary acoustic wave device having excellent resonance characteristics and filter characteristics.
  • the structure for scattering the elastic wave is provided on the surface of the first and / or the second medium layer opposite to the boundary surface that propagates to the boundary acoustic wave, the elastic wave is provided. Undesired spurious due to waves can be effectively suppressed, and good resonance characteristics and filter characteristics can be obtained.
  • the boundary acoustic wave device uses the boundary acoustic wave between the first and second medium layers as described above, it does not require a complicated package structure having a cavity. It can be manufactured inexpensively. Further, the size and weight can be reduced as compared with the surface acoustic wave device, and therefore, a smaller acoustic wave device suitable for high-density mounting can be provided.
  • the second invention when a structure that scatters elastic waves is provided in the second medium layer, suppression of spurious modes in the second medium layer having a relatively low sound velocity, in which spurious signals are easily propagated, is provided. It can be performed effectively.
  • the structure for scattering the ⁇ wave is constituted by a concave portion and a convex portion provided on the surface of the medium layer opposite to the surface on which the boundary acoustic wave propagates, the concave portion and the convex portion The spurious modes are reliably scattered by the projections.
  • the surface on which the boundary acoustic wave propagates and the surface scatters the elastic wave When the distance from the surface on which the structure is provided is 7 ⁇ or less, the spurious is suppressed by the thickness of the medium layer because the thickness of the medium layer on which the structure that scatters elastic waves is provided is relatively thin.
  • the spurious can be effectively suppressed by providing the concave portions and / or the convex portions.
  • the outer layer material can increase the mechanical strength of the boundary acoustic wave device or increase the power durability.

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Abstract

 弾性境界波が伝搬する境界面と媒質層の表面との間で閉じ込められる弾性波に起因するスプリアスを効果的に抑圧することができ、良好な共振特性やフィルタ特性を得ることを可能とする弾性境界波装置を提供する。相対的に音速が速い第1の媒質層としてのLiNbO3基板と、相対的に音速が遅い第2の媒質層としてのSiO2膜との境界に、電気音響変換器としてのIDTと、反射器とが配置されており、SiO2膜の上面に、複数本の溝が形成されて凹部及び/または凸部が設けられている、弾性境界波装置。

Description

弾性境界波装置 技術分野
本発明は、 音速の異なる第 1, 第 2の媒質眉間の境界を伝搬する弾性 境界波を利用した弾性境界波装置に関し、 より詳細には、 所望でないス プリアスを抑制する構造が備明えられた弾性境界波装置に関する。 背景技術
レーリ一波や第 1漏洩波などの弾性表面書波を利用した弾性表面波装置 では、 小型化及ぴ軽量化を進めることができ、 かつ調整が不要である。 従って、 弾性表面波装置は、 携帯電話用 R Fフィルタもしくは I Fフ ィルタ、 V C O用共振子またはテレビ用 V I Fフィルタなどに広く用い られている。
もっとも、 弾性表面波は、 媒質表面を伝搬する性質を有するため、 媒 質の表面状態の変化に敏感である。 従って、 弾性表面波が伝搬するチッ プでは、 弾性表面波が伝搬するチップ表面を保護しなければならない。 そのため、 弾性表面波チップのチップ表面が空洞に臨むように、 空洞が 設けられたパッケージを用いて、 弾性表面波装置を気密封止する必要が あった。 このようなパッケージは一般にコストが高くつき、 かつパッケ ージの寸法が弾性表面波チップの寸法よりも大幅に大きくならざるを得 なかった。
上記のような空洞を有するパッケージを不要とするデバイスとして、 弾性境界波装置が提案されている。
図 1 5は、 従来の弾性境界波装置の一例を示す正面断面図及び模式的 斜視図である。 弾性境界波装置 101では、 音速が異なる第 1, 第 2の 媒質層 102, 103が積層されている。 第 1, 第 2の媒質層 102, 103の境界 Aに、 電気音響変換器としての I DT 104が配置されて いる。 また I DT 104の弹性境界波伝搬方向両側には、 反射器 (図示 せず) が配置されている。
弹性境界波装置 10 1では、 I D T 1 04に入力信号を印加すること により、 弾性境界波が励振される。 弾性境界波は、 図 15の矢印 Bで模 式的に示すように、 弾性境界波装置 10 1の境界 Aを伝搬する。
文献「 Piezoelectric Acoustic Boundary Waves Propagating Along the Interface Between S1O2 and LiTaOeJ IEEE Trans. Sonics and ultrason.,VOL.SU-25,No.6,1978IEEEには、このような弾性境界波装 置の一例が示されている。 ここでは、 1 26° 回転 Y板 X伝搬の L i T a O3基板上に I DTが形成されており、 さらに I DTを覆うように L i T a O3基板上に S i O2膜が所定の厚みに形成されている。 この構造 では、 ス トンリ一波と称されている SV+P型の弾性境界波が伝搬する こと力 不 ^れている。 「 Piezoelectric Acoustic Boundary Waves Propagating Along the Interface Between S1O2 and LiTaOeJ IEEE Trans. Sonics and ultrason.,VOL.SU-25,No.6, 1978IEEEでは、 S i o2膜の厚みを 1. 0 (但し、 λは弾性境界波の波長) とした場合に、 2%の電気機械結合係数が得られるとされている。
また、 文献 「Si/SiO2/LiNbO3構造を伝搬する高圧電性境界波」 (第 26回 EMシンポジウム, H9年 5月, ; p 53— 58 ) には、 〔00 1〕 - S i < 1 10 >/S i O2ZY力ット X伝搬 L i N b O3構造を伝 搬する SH型の弾性境界波が開示されている。 この SH型の弾性境界波 は、 ス トンリ一波と比べて電気機械結合係数 k2が大きいという利点を 有する。 また、 SH型の弾性境界波は、 SH型の波動であるため、 I D T反射器を構成する電極指の反射係数が、 ストンリー波の場合に比べて 大きいことが予想される。 従って、 SH型の弾性境界波を利用して共振 子や共振器型フィルタを構成した場合、 これらをより一層小型化するこ とができ、 かつ急峻な周波数特性の得られることが期待される。
文献「 Piezoelectric Acoustic Boundary Waves Propagating Along the Interface Between S1O2 and LiTaOeJ IEEE Trans. Sonics and ultrason.,VOL.SU-25,No.6,1978IEEE及び「Si/SiO2/LiNbO3構造を 伝搬する高圧電性境界波」 (第 26回 EMシンポジウム, H9年 5月, p p 5 3 - 58) に記載の各弾性境界波装置は、 弾性境界波を利用する ものであるため、 空洞を有するパッケージを必要としない。 従って、 弾 性波装置の小型化及びコストの低減を果たすことができる。 しかしなが ら、 実際に弾性境界波装置を構成した場合、 周波数特性において所望で ないスプリァスが発生しがちであるという問題のあることが、 本願発明 者の実験により新たに見出された。
図 1 6及び図 1 7は、 従来の弾性境界波装置の問題点を説明するため の図であり、 図 1 6は弾性境界波装置の外観を示す模式的斜視図、 図 1 7はその周波数特性を示す図である。
図 1 6に示すように、 Y力ット X伝搬の L i N b 03単結晶基板 1 1 2上に、 厚さ 0. 05 λの A u膜からなる I DT 1 1 3及び反射器 1 1 4, 1 1 5を形成した。 また、 I DT 1 1 3及び反射器 1 14, 1 1 5 を覆うように、 L i N b 03単結晶基板 1 1 2上に、 厚さ 3. 3えの S
1 O2膜 1 1 6を R Fマグネト口ンスパッタによりウェハー加熱温度を
200°Cとして成膜した。 I DT 1 1 3の電極指の対数は 50対、 交差 幅 30え、 電極指のデューティー比は 0. 6とした。 また、 反射器 1 1 4, 1 1 5の電極指の本数はそれぞれ 50本とし、 反射器 1 14, 1 1 5の Iと、 I DT 1 1 3の波長 λは一致させた。また、 I DT 1 1 3と、 反射器 1 1 4 , 1 1 5の間隔は、 電極指中心間距離で 0 . 5 λとした。 なお、 A u膜の上下には、 密着性を高めるために薄い T i層を蒸着によ り形成した。
このようにして構成された弾性境界波装置 1 1 1の周波数特性を図 1 7に示す。 図 1 7から明らかなように、 弾性境界波装置 1 1 1では、 反 共振周波数近傍及び反共振周波数よりも高周波数側に複数のスプリアス がかなりの大きさで発生していることがわかる。
従って、 上記弾性境界波装置 1 1 1を共振子として利用した場合、 上 記スプリアスにより不要共振が生じ、 またフィルタとして利用した場合 には帯域外抑圧レベルが劣化する原因となり、 弾性境界波装置を実用化 する上の大きな障害となることがわかる。 発明の開示
本発明の目的は、 上述した従来技術の現状に鑑み、 所望でないスプリ ァスを効果的に抑圧することができ、 良好な周波数特性を得ることを可 能とする弾性境界波装置を提供することにある。
第 1の発明に係る弾性境界波装置は、 第 1の媒質層と、 第 2の媒質層 との間の境界を伝搬する弾性境界波を利用した弾性境界波装置において、 前記第 2の媒質の音速は、 第 1の媒質の音速に比べて遅く、 弾性境界波 の波長を としたときに、 第 2の媒質層の厚みが 7 λ以上とされている ことを特徴とする。 すなわち、 第 1の発明では、 相対的に音速が遅い第
2の媒質層の厚みを特定の厚みとすることにより所望でないスプリアス を効果的に抑圧することが可能とされる。
本願の第 2の発明は、 第 1 , 第 2の媒質層の境界面を伝搬する弾性境 界波を利用した弾性境界波装置において、 前記第 1及び または第 2の 媒質層の境界面とは反対側の面に弾性波を散乱する構造が設けられてい ることを特徴とする。
第 2の発明では、 弾性波を散乱する構造が備えられることにより、 所 望でないスプリアスが抑制される。
第 2の発明のある特定の局面では、 前記第 2の媒質層の音速が第 1の 媒質層の音速よりも遅く、 前記第 2の媒質層に前記弾性波を散乱する構 造が設けられている。
第 2の発明のさらに他の特定の局面では、 前記弾性波を散乱する構造 力 媒質層の前記境界面とは反対側の面に設けられた凹部及び/または 凸部である。
第 2の発明のさらに別の特定の局面では、 前記弾性境界波の波長を; L としたときに、 前記凹部の溝の深さまたは凸部の高さが 0 . 0 5 以上 とされている。
第 2の発明のさらに他の特定の局面では、 前記弾性境界波の波長を としたときに、 前記凹部及び Ζまたは凸部のピッチが 1え以上とされて いる。
第 2の発明のさらに別の特定の局面では、 前記弾性波を散乱する構造 が設けられている媒質層の前記境界面と該境界面と反対側の面との間の 寸法である厚みが、 弾性境界波の波長をえとしたときに 7 λ以下とされ ている。 すなわち、 音速が遅い第 1の媒質層の厚みが 7え未満の場合に は、 スプリアスの抑制が困難であるが、 上記弾性波を散乱する構造の採 用によりスプリアスの抑制が果たされる。
第 2の発明のさらに他の特定の局面では、前記第 2の媒質層が S i 02 からなり、 前記第 1の媒質層が L ί含有圧電体基板からなり、 前記 S i 02からなる第 2の媒質層の表面に凹部及び/または凸部が形成されて いる。
第 1, 第 2の発明のある特定の局面では、 前記第 1, 第 2の媒質層間 に、 境界波を励振するための電気音響変換器が形成されている。
第 1 , 第 2の発明のさらに他の特定の局面では、 前記第 1の媒質層と 第 2の媒質層との間の境界に設けられた反射器がさらに備えられる。 第 2の発明の弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、 前記媒質 層の凹部及び Zまたは凸部が形成されている面上に設けられた外層材が さらに形成されている。 図面の簡単な説明
図 1 ( a ) 及び (b ) は、 本発明の第 1の実施形態に係る弾性境界波 装置の要部を示す模式的正面断面図及び外観を示す模式的斜視図である。 図 2は、 図 1 5及び図 1 6に示した従来の弾性境界波装置における弹 性境界波のメインモードの変位分布を示す図である。
図 3は、 図 2に示した場合と同一条件におけるスプリアスモードの変 位分布の一例を示す図である。
図 4は、 図 2に示した場合と同一条件におけるスプリアスモードの変 位分布の一例を示す図である。
図 5は、 図 2に示した場合と同一条件におけるスプリアスモードの変 位分布の一例を示す図である。
図 6は、 図 2に示した場合と同一条件におけるスプリァスモードの変 位分布の一例を示す図である。
図 7は、 図 2に示した場合と同一条件におけるスプリアスモードの変 位分布の一例を示す図である。
図 8は、 図 2に示した場合と同一条件におけるスプリアスモードの変 位分布の一例を示す図である。
図 9は、 第 1の実施形態の弾性境界波装置のインピーダンス特性を示 す図である。 図 1 0は、 第 1の実施形態において、 凹凸を構成する溝の深さを変化 させた場合のスプリアスモードのインピーダンス比の変化を示す図であ る。
図 1 1は、 凹凸を構成する溝のピッチを変化させた場合のスプリアス モードのインピーダンス比の変化を示す図である。
図 1 2は、 第 1の実施形態の弾性境界波装置の変形例における溝の構 成を説明するための模式的斜視図である。
図 1 3は、 本発明の第 2の実施形態を説明するための図であり、 相対 的に音速が遅い S i 02膜の膜厚を変化させた場合のスプリアスモード のインピーダンス比の変化を示す図である。
図 1 4は、 第 1の実施形態の弾性境界波装置の変形例の弹性境界波装 置の要部を示す模式的部分正面断面図である。
図 1 5は、 従来の弾性境界波装置を説明するための模式的部分切欠正 面断面図である。
図 1 6は、 従来の弾性境界波装置を説明するための模式的斜視図であ る。
図 1 7は、 図 1 6に示した弾性境界波装置のインピーダンス特性を示 す図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 図面を参照しつつ本発明の具体的な実施形態を説明することに より、 本発明を明らかにする。
まず、 図 1 7に示したスプリアスの原因を調査するために、 図 1 6に 示した弾性境界波装置 1 1 1において数値解析を行い、 弾性境界波の変 位分布とスプリアスモードの変位分布を求めた。 なお、 S i〇2膜と A uとの境界及び A uと L i N b 03基板との境界における変位と上下方 向の応力を連続とし、 短絡境界であるため電位を 0とし、 S i o2膜の 厚みを所定値とし、 L i Nb O3の厚みは無限とした。
図 2は、 S i O2膜の厚みを 2. 5 λとしたときの弾性境界波のメイ ンモードの変位分布を示し、 図 3〜図 8は、 同一条件におけるスプリア スモードの変位分布をそれぞれ示す図である。 図 2〜図 8において、 11丄 は変位の Ρ波成分、 U2は SH波成分、 U3は SV波成分を示し、 横軸は 最大値で規格化した変位を、 縦軸は深さ方向を示す。 (一側が下方向) 図 2から明らかなように、 弾性境界波のメインモードは SH型の成分 が主成分である SH型の弾性境界波であることがわかる。 そして、 図 3 〜図 8から、 スプリアスモードは S H波成分主体のモード、 P波及び S V波成分が主体のモードの 2種類のモードに大別されることがわかる。 そして、 2種類のスプリアスモードは、 S i〇2膜の上面と、 S i O2膜 と Auからなる I DTとの境界との間で伝搬する。 また、 上記 2種類の スプリアスモードの高次モードが複数発生するため、 図 1 7に示したよ うに多数のスプリアスが発生しているものと考えられる。
本発明に係る弾性境界波装置は、 このような複数のスプリアスの抑圧 を果たすべく考えられたものである。
(第 1の実施形態)
図 1 (a) 及び (b) は、 本発明の弾性境界波装置の第 1の実施形態 を説明するための模式的正面断面図及び模式的斜視図である。
弾性境界波装置 1では、第 1,第 2の媒質層 2, 3が積層されている。 ここでは、 第 1の媒質層 2が Y力ット X伝搬の L i Nb 03単結晶基板 からなり、 第 2の媒質層 3が S i 02膜により構成されている。 L i N b O3単結晶基板 2と S i 02膜 3との間には、 すなわち第 1, 第 2の媒 質層の境界 Aには、電気音響変換器としての I DT 4が配置されている。 なお、 図 1 (a) では、 I DT 4が配置されている部分のみが示されて いるが、 図 1 (b) に示すように、 I DT 4の弾性境界波伝搬方向両側 にグレーティング型の反射器 5 , 6が配置されている。 I DT4及び反 射器 5, 6は、 Auを L i Nb 03単結晶基板 2上に 0. 05 λの厚み に成膜することにより形成されている。
なお、 S i〇2膜 3は、 I DT4及び反射器 5, 6を形成した後に、 厚さ 3. 0 の S i 02膜を RFマグネトロンスパッタによりウェハー 加熱温度 200°Cで成膜することにより形成した。
なお、 I DT 4の電極指の対数は 50対、 交差幅は 30え、 I DT4 を構成する電極指のデューティー比を 0. 6とした。 反射器 5, 6の電 極指の本数は 50本とした。 また、 I DT 4と反射器 5, 6の波長 は 一致させ、 I DTと反射器間の間隔は電極指中心間距離で 0. 5 λとし た。
なお、 Au膜の上下には、 密着性を高める.ために、 0. 0005 λ程 度の薄い T i層を蒸着により形成した。
次に、 S i 02膜 3の上面 3 aに、 I D T 4の電極指に延びる方向に 対して 30° の角度をなすように、 深さ 1 μπιの複数本の溝 3 bを切削 により設け、 本実施形態の弾性境界波装置 1を得た。
このようにして得られた弾性境界波'装置 1のインピーダンス特性を図 9に示す。
図 9を、 図 1 7に示した弾性境界波装置 1 1 1のインピーダンス特性 と比較すれば明らかなように、 反共振周波数よりも高周波側に位置して いた複数のスプリアス応答が本実施形態によれば抑圧されていることが わかる。 例えば、 1 30 OMH zに生じていたスプリアスは、 共振周波 数と反共振周波数の比のインピーダンス比で表した場合に、 22. 9 d Bから 6.6 d Bに抑制、すなわち 3分の 1に抑制し得ることがわかる。 本実施形態の弾性境界波装置 1の特徴は、 上記のように、 S i o2膜 3の境界面 Aと反対側の面である上面 3 aに複数本の溝 3 bを形成し、 それによつて凹部を付与したことにある。 凹部の形成により、 スプリア スモードが散乱され、 それによつて上記のようにスプリアスが抑圧され たと考えられる。
本願発明者は、 上記弾性境界波装置 1の結果を考慮し、 凹部の深さ及 び形状についてさらに検討した。
上記と同様にして、 弾性境界波装置 1を作製した。 但し、 S i〇2膜 3の上面に凹部を付与するに際しては、 溝 3 bを、 S i〇2膜 3上にフ ォトリソグラフィー工程によりレジストパターンを形成した後、 希釈ふ つ酸によりウエットエッチングすることにより、 また I D T 4の電極指 の延びる方向と 4 5 ° の角度をなすように複数本の溝 3 bを形成した。 レジストパターンの変更及びエッチング条件の変更等により、 複数本の 溝 3 bの深さ及び配置ピッチを種々異ならせ、 複数種の弾性境界波装置 を得た。
このようにして得られた複数種の弾性境界波装置のインピーダンス特 性を測定し、上記と同様にしてスプリアスのインピーダンス比を求めた。 図 1 0は、 溝 3 bの深さ、 すなわち凹部の深さと、 上記のようにして 求められたスプリアスのインピーダンス比の関係を示す図である。 図 1 0から明らかなように、 凹部の深さが 0 . 0 5 以上では、 スプリアス のインピーダンス比が 1 0 d Β以下に改善され、 凹部の深さが 0 . 6 λ 以上では 5 d Β以下とさらに改善されることがわかる。 従って、 凹部の 深さは、 0 . 0 5 以上であることが好ましく、 より好ましくは 0 . 6 以上である。
図 1 1は、 上記複数本の溝 3 bのピッチと、 スプリアスのインピーダ ンス比との関係を示す図である。 図 1 1から明らかなように、 複数本の 溝 3 bのピッチを 1 λ以上とすれば、 スプリアスのインピーダンス比を 1 0 d B以下と改善し得ることがわかる。 従って、 好ましくは、 溝 3 b のピッチは 1 以上とすることが望ましい。
なお、 上記溝 3 bと I D Tの電極指の延びる方向の角度を 0 ° または 9 0 ° とした場合においても、 上記溝 3 bの深さを 0 . 0 5 λ以上とす れば、 スプリアスのインピーダンス比を改善し得ることが確かめられて いる。
なお、 上記実施形態では、 複数本の溝 3 bは、 電極指の延びる方向と 所定の角度をなすように平行に位置されていたが、 図 1 2に模式的斜視 図で示すように、 S i O 2膜 3の上面 3 aにおいて、 複数本の溝 3 bに 加えて、 複数本の溝 3 cが溝 3 bに交差するように配置されていてもよ い。 この場合においても、 溝 3 b, 3 cの深さを 0 . 0 5 以上とする ことにより、 上記と同様にスプリアスのィンピーダンス比を改善し得る ことが確かめられている。
なお、 図 1及び図 1 2では、 S i 02膜、 すなわち第 1の媒質の上面 に複数本の溝 3 bまたは複数本の溝 3 b, 3 cにより構成されていたが、 直線状の溝でなく、 曲線状の溝、 あるいは他の形状の溝が形成されてい てもよい。 すなわち、 本発明における凹凸は、 互いに平行に延びる直線 状の複数本の溝に限定されるものではない。
また、 上記凹部の形成に際しては、 スプリアスの波長を; I s、 上記ス プリアスモードが S i 02膜 3の上面 3 aに入射する角度を 0 s とした とき、 凹部の深さを、 ; L s Z 4 X s i n 0 sとすれば、 凹部 3 bと上面 3 aとで反射されるスプリアスの位相が逆相となり、 互いに打ち消し合 う。 従って、 スプリアスの I D T 4による受信をより効果的に防止し得 ると考えられる。
なお、 上記凹部の形成に際しては、 多数本の溝 3 bを形成することが 望ましいが、 1本以上の溝 3 bを形成すれば、 上記実施形態と同様の効 果を得ることができる。 また、 凹部に代えて、 ドット状のような凸部を 設けてもよく、 凹部及び/または凸部の双方が設けられていてもよい。
(第 2の実施形態)
第 2の実施形態の弾性境界波装置は、 第 1の実施形態の弾性境界波装 置 1と同様の構造を有する。 従って、 第 2の形態の弾性境界波装置につ いては、 第 1の実施形態の弾性境界波装置について行った説明を援用す ることとする。 第 2の実施形態の弾性境界波装置は、 第 1の実施形態の 弾性境界波装置と異なるところは、 (1 ) S i O 2膜 3の上面に溝が付 与されていないこと、 並びに (2 ) S i O 2膜の膜厚が 7 以上とされ ていることにある。
すなわち、 第 1の実施形態では、 上記溝 3 bまたは溝 3 b, 3 cの形 成により凹凸を付与し、 スプリアスの抑圧が図られていた。 これに対し て、 第 2の実施形態の弾性境界波装置では、 S 1 02膜3の膜厚が7ぇ 以上とされていることにより、 スプリアスが抑圧される。 これを、 具体 的な実験例に基づき説明する。
第 1の実施形態の実験例と同様にして弾性境界波装置 1を作製した。 但し、 S i 02膜 3の表面に凹凸は付与せず、 S i〇2膜 3の厚みを種々 変化させた。このようにして得られた複数種の弾性境界波装置の S i o 2 膜の膜厚と、 上記スプリアスモードのインピーダンス比との関係を図 1 3に示す。
図 1 3から明らかなように、 S i 02膜の膜厚を 7 以上とすれば、 スプリアスモードのインピーダンス比を 5 d B以下とし得ることがわか る。
第 2の実施形態の弾性境界波装置では、 スプリアスとなる弾性波が閉 じ込められる、 相対的に音速が遅い第 2の媒質層である S i 02膜 3の 厚みを十分に厚くすることにより、 上記弾性波によるスプリアスの抑圧
2 が果たされていると考えられる。
なお、より好ましくは、第 1の実施形態の弾性境界波装置 1において、 すなわち s i o2膜の上面に凹部及び Zまたは凸部が設けられている構 造において、 さらに S i 02膜の厚みを第 2の実施形態に従って厚くす れば、 より一層上記スプリアスを効果的に抑圧することができる。 従つ て、 好ましくは、 第 1, 第 2の実施形態の双方のスプリアス抑圧構造を 備えた弾性境界波装置を構成することが望ましい。
図 1 4は、 本発明に係る弾性境界波装置の変形例を示す模式的正面断 面図である。
第 1の実施形態の弾性境界波装置 1では、 S i o2膜の上面に複数本 の溝 3 bの形成により四部が形成されていたが、 この場合凹部を被覆す るように、 外層材 1 1を形成してもよい。 外層材 1 1を形成した場合、 外層材 1 1の表面 1 1 aが平坦であっても、 第 2の媒質層としての S i O 2膜 3の上面 3 aに凹凸が付与されているため、 第 1の実施形態と同 様にスプリアスを効果的に抑圧することができる。 なお外層材 1 1とし ては、 例えば A 1 Nなどの適宜の材料を用いることができる。
上記外層材 1 1の形成により、 弾性境界波装置の機械的強度を高めた り、 腐食性ガスの浸入を抑制したりすることができる。 すなわち、 外層 材 1 1は、 このような保護層としての作用を果たし得るため、 酸化チタ ン、 窒化アルミユウムまたは酸化アルミニウムなどの絶縁性材料、 ある いは A u、 A 1もしくは Wなどの金属材料により構成され得る。
また、 外層材 1 1の形成により、 第 2の媒質層である S i 02 の音響 インピーダンスと、 外層材 1 1の音響インピーダンスが大きく異なる場 合、 第 1の媒質層と外層材 1 1の境界と、 弾性境界波へ伝搬する境界層 との間にスプリアスモードが従来の弾性境界波装置の場合と同様に閉じ 込められて伝搬する。 しかしながら、 この場合においても、 第 1の実施
3 形態に従って、 上記凹部及び/または凸部を形成することによりスプリ ァスモードの抑制を果たすことができる。
さらに、 本発明においては、 第 1 , 第 2の媒質層間に、 第 1 , 第 2の 媒質層よりも音速が遅い第 3の媒質層を配置し、 第 3の媒質層を境界層 としてもよい。 この場合、 第 1の媒質層と第 3の媒質層との間に、 I D Tなどの電極を形成すればよい。 このように、 第 3の媒質層を配置した 構造においても、 境界波の励振と同時に、 第 1の媒質層または第 2の媒 質層を伝搬するスプリアスモードが生成されるが、 第 1 , 第 2の実施形 態と同様に第 1の媒質層を構成することにより、 該スプリアスモードを 同様に抑圧することができる。 第 1 , 第 2の媒質間に第 3, 第 4の媒質 層とを形成した場合でも、 いずれかの層間に凹 ώを形成することでスプ リァスモードを抑圧できる。
なお、 上記第 1, 第 2の実施形態では、 A uにより I D T 4及び反射 器 5 , 6が構成されていたが、 弾性境界波装置の電極材料としては、 A uに限定されず、 A g、 C uまたは A 1などを用いてもよい。 また、 電 極の密着性ゃ耐電力性を高めるために、 T i、 C rまたは N i C rなど の薄い層を電極層に積層してもよい。 また、 共振子だけでなく、 横結合 型フィルタや 2個以上の I D Tの外側に反射器を配置した縦結合型フィ ルタ、 ラダー型フィルタやラチス型フィルタに本発明を用いてもよい。 また、 第 1, 第 2の媒質層を構成する材料については、 S i O 2及び L i N b 03に限定されず、 L i T a 03、 L i 2 B 47、 水晶、 チタン酸 ジルコン酸鉛系セラミックスのような様々な圧電材料、 並びにガラスも しくはサファイアなどの様々な誘電体材料を用いることができる。 産業上の利用可能性
第 1の発明に係る弾性境界波装置によれば、 音速が相対的に遅い第 1 の媒質層の厚みが 7 以上とされているため、 前述した実験例から明ら かなように弾性境界波が伝搬する境界面と第 2の媒質層の境界面とは反 対側の面との間を伝搬するスプリアスを効果的に抑圧することができ、 共振特性やフィルタ特性の良好な弾性境界波装置を提供することができ る。
第 2の発明によれば、 第 1及び Ζまたは第 2の媒質層の弾性境界波へ 伝搬する境界面とは反対側の面に、 弾性波を散乱する構造が設けられて いるので、 該弾性波による所望でないスプリアスを効果的に抑圧するこ とができ、 良好な共振特性及びフィルタ特性を得ることができる。
第 1 , 第 2の発明に係る弾性境界波装置は、 上記のように第 1, 第 2 の媒質層間の弾性境界波を利用するものであるため、 空洞を有する複雑 なパッケージ構造を必要とせず、 安価に製造され得る。 また、 弾性表面 波装置に比べて、 小型化及び軽量化を図ることができ、 従ってより小型 でありかつ高密度実装に適した弾性波装置を提供することができる。 第 2の発明において、 弾性波を散乱する構造が第 2の媒質層に設けら れている場合には、 スプリアスが伝搬しやすい相対的に音速の遅い第 2 の媒質層におけるスプリアスモードの抑圧を効果的に果たすことができ る。
上記弹性波を散乱する構造が、 媒質層の弾性境界波が伝搬する面とは 反対側の面に設けられた凹部及び Ζまたは凸部により構成されている場 合には、 該凹部及び ζまたは凸部によりスプリアスモードが確実に散乱 される。
上記凹凸の深さが 0 . 0 5 λ以上の場合、 あるいは凹部及び または 凸部のピッチが 1又以上の場合には、 それによつてスプリアスをより一 層効果的に抑圧することができる。
第 2の発明において、 弾性境界波が伝搬する面と、 弾性波を散乱する 構造が設けられている面との間の距離が 7 λ以下の場合には、 弾性波を 散乱する構造が設けられている媒質層の厚みが比較的薄いためスプリア スが媒質層の厚みによって抑制することはできないが、 第 2の発明に従 つて凹部及び //または凸部の付与によりスプリアスを効果的に抑圧する ことができる。
凹部及び または凸部を覆うように外層材がさらに設けられている場 合には、 外層材により弾性境界波装置の機械的強度を高めたり、 耐電力 性を高めることが可能となる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 第 1の媒質層と、 第 2の媒質層との間の境界を伝搬する弾性境 界波を利用した弾性境界波装置において、
前記第 2の媒質の音速は、 第 1の媒質の音速に比べて遅く、 弾性境界 波の波長を λとしたときに、 第 2の媒質層の厚みが 7 λ以上とされてい ることを特徴とする、 弾性境界波装置。
2 . 第 1 , 第 2の媒質層の境界面を伝搬する弾性境界波を利用した 弾性境界波装置において、
前記第 1及び/または第 2の媒質層の境界面とは反対側の面に弾性波 を散乱する構造が設けられていることを特徴とする、 弾性境界波装置。
3 . 前記第 2の媒質層の音速が第 1の媒質層の音速よりも遅く、 前 記第 2の媒質層に前記弾性波を散乱する構造が設けられている、 請求項 2に記載の弾性境界波装置。
4 . 前記弾性波を散乱する構造が、 媒質層の前記境界面とは反対側 の面に設けられた凹部及びノまたは凸部である、 請求項 2または 3に記 載の弾性境界波装置。
5 . 前記弾性境界波の波長を; Iとしたときに、 前記凹部の溝の深さ または凸部の高さが 0 . 0 5 λ以上である、 請求項 4に記載の弾性境界 波装置。
6 . 前記弾性境界波の波長を; Lとしたときに、 前記凹部及びノまた は凸部のピッチが 1 以上である、 請求項 4または 5に記載の弾性境界 波装置。
7 . 前記弾性波を散乱する構造が設けられている媒質層の前記境界 面と該境界面と反対側の面との間の寸法である厚みが、 弾性境界波の波 長を; Iとしたときに 7 λ以下である、 請求項 2〜 6のいずれかに記載の
7 弾性境界波装置。
8 . 前記第 1の媒質層が L i含有圧電体基板からなり、 前記第 2の 媒質層が S i 02からなり、前記 S i 02からなる第 2の媒質層の表面に 凹部及ぴ または凸部が形成されている、 請求項 2〜 7のいずれかに記 載の弾性境界波装置。
9 . 前記第 1, 第 2の媒質層間に、 境界波を励振するための電気音 響変換器が形成されている、 請求項 1〜 8のいずれかに記載の弾性境界 波装置。
1 0 . 前記第 1の媒質層と第 2の媒質層との間の境界に設けられた反 射器をさらに備える、 請求項 9に記載の弾性境界波装置。
1 1 . 前記媒質層の四部及びノまたは凸部が形成されている面上に設 けられた外層材をさらに備えることを特徴とする、 請求項 2〜 9のいず れかに記載の弾性境界波装置。
1 2 . 前記第 1 , 第 2の媒質層間に、 第 1 , 第 2の媒質層よりも音速 が遅い第 3の媒質層が設けられており、 該第 3の媒質層が弾性境界波が 伝搬する境界層とされている、 請求項 1〜 1 1のいずれかに記載の弾性 境界波装置。
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