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WO2002023276A1 - Composition photosensible de polyimide pour negatif et procede de formation d'image associee - Google Patents

Composition photosensible de polyimide pour negatif et procede de formation d'image associee Download PDF

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Publication number
WO2002023276A1
WO2002023276A1 PCT/JP2001/007876 JP0107876W WO0223276A1 WO 2002023276 A1 WO2002023276 A1 WO 2002023276A1 JP 0107876 W JP0107876 W JP 0107876W WO 0223276 A1 WO0223276 A1 WO 0223276A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
polyimide
composition
mmol
minutes
negative
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2001/007876
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hiroshi Itatani
Shunichi Matsumoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
PI R&D Co Ltd
Original Assignee
PI R&D Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by PI R&D Co Ltd filed Critical PI R&D Co Ltd
Priority to US10/380,221 priority Critical patent/US7648815B2/en
Priority to EP01963583.8A priority patent/EP1326138B1/en
Priority to JP2002527863A priority patent/JP5216179B2/ja
Publication of WO2002023276A1 publication Critical patent/WO2002023276A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L79/00Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon only, not provided for in groups C08L61/00 - C08L77/00
    • C08L79/04Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain; Polyhydrazides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • C08L79/08Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/032Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders
    • G03F7/037Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders the binders being polyamides or polyimides
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
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    • G03F7/004Photosensitive materials
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    • G03F7/0387Polyamides or polyimides
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    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/114Initiator containing
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    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/114Initiator containing
    • Y10S430/117Free radical

Definitions

  • Negative photosensitive polyimide composition and image forming method using the same
  • the present invention relates to a negative photosensitive polyimide composition, an insulating film formed therefrom, and a method for forming an insulating film pattern using the same.
  • Polyimide has excellent heat resistance, electrical insulation, mechanical properties, and chemical resistance, so it is applied to electricity, electronic components, semiconductors, and peripheral circuits.
  • the photosensitive resin composition has two types: A) a polarity-change type in which the polarity of the exposed portion changes, resulting in a difference in solubility; B) a cutting type in which the chemical bond is broken by exposure and the exposed portion is solubilized; C) a frame. It is classified into a crosslinked type in which the bridge reaction proceeds and the exposed portion becomes insoluble.
  • the polarity change type can be used as a positive type or a negative type depending on the composition of the developer.
  • the cutting type can be used as a positive type, and the cross-linked type can be used as a negative type in principle.
  • crosslinked photosensitive materials have been said to be disadvantageous in performing high-resolution fine processing because swelling of exposed portions occurs due to organic solvent development.
  • overcoat materials for flexible wiring boards, interlayer insulating films for multilayer substrates, insulating materials for solid-state devices and molding materials for passivation films in the semiconductor industry, and interlayer insulating films for semiconductor integrated circuits and multilayer printed wiring boards Materials are required to have high heat resistance, and heat-resistant materials having photosensitivity are demanded due to demands for higher density and higher integration.
  • the semiconductor substrate which will be a semiconductor integrated component of the microelectronics industry, is covered with photoresist.
  • a photoresist relief structure is created by imaging and developing the photoresist layer. This relief structure is used as a mask for forming a circuit pattern on a semiconductor substrate. With this processing cycle, the relief structure of the microchip can be transferred to the substrate.
  • positive photoresist There are two different types of photoresists: positive photoresist and negative photoresist. The difference is that the exposed areas of the positive photoresist are removed by the development process, leaving undeveloped areas on the substrate. On the other hand, a negative type The irradiation area of the resist remains as a relief structure.
  • Positive photoresists have high image resolution and are used in the manufacture of very large scale integrated circuits (VLSI).
  • VLSI very large scale integrated circuits
  • Conventionally used positive photoresists contain a kind of nopolak-type resin that is soluble in aqueous solvent and a photosensitive quinonediazide that reduces the solubility of this resin in alkali.
  • the characteristics of photoresist compositions required for industrial implementation include solubility of the photoresist in the coating solvent, exposure speed of the photoresist, development contrast, solubility of the developer that is environmentally acceptable, and adhesiveness of the photoresist. Dimensional stability at high temperature and abrasion resistance.
  • the structure of the photoresist relief obtained by exposure and development is usually subjected to a heat treatment (postbaking) in the range of 120 ° C to 180 ° C.
  • postbaking in the range of 120 ° C to 180 ° C. The purpose is to remove the volatile components which still remain to improve the adhesion of the photoresist to the substrate, to cure the photoresist structure and to reduce erosion due to subsequent etching.
  • a photoresist based on a stabilizing modifier in a novolak resin cannot be thermally stabilized at more than 180 ° C.
  • Polyimide resin withstands high temperatures of about 400 ° C and is stable against chemicals. Therefore, it is effective for forming a heat-resistant photoresist layer.
  • polyimide photoresists act negatively.
  • the basic system of this negative photoresist consists of a polyamic acid polymer having photoreactive side chains.
  • this substrate has the disadvantages of poor storage stability, extremely low photosensitivity, and excessive structural shrinkage (shrinkage after post-baking of about 60%) after development and curing. .
  • a material of this composition requires about 10 minutes of exposure treatment to obtain a structure with a high degree of decomposition, and requires a high-concentration solution for coating a thick film. Is particularly poor in storage stability (A. Yamaoka et al .; Polyfile 2, 14 (1990).
  • polyimide solution composition forms a positive image by light irradiation in the presence of a photoacid generator, followed by alkali development (PCT application: JP98045777).
  • a polyimide composition having a weight average molecular weight of about 100,000 is dissolved in an alkaline solution and changed to a composition having a weight average molecular weight of about 3,000.
  • An object of the present invention is to improve the characteristics of a highly sensitive negative type photoresist which is soluble in an organic solvent, has excellent adhesiveness, heat resistance, mechanical properties and flexibility, and is soluble by light irradiation.
  • the purpose of the present invention is to provide a photosensitive polyimide composition as described below.
  • the inventors of the present invention have obtained a highly sensitive negative-type photosensitive polyimide solution composition which becomes soluble in light upon irradiation with light by combining a solvent-soluble polyimide with a photoradical generator.
  • an insulating film composed of the negative photosensitive polyimide solution composition was excellent in adhesiveness, heat resistance, mechanical properties and flexibility, and completed the present invention.
  • the present invention provides a negative photosensitive polyimide composition comprising a photoradical generator and a solvent-soluble polyimide exhibiting negative photosensitivity in the presence of the photoradical generator.
  • the present invention also provides a method of applying the composition of the present invention on a substrate, heating the composition to 70 to 110 ° C. to form a film, and then irradiating light through a pattern mask to form a film.
  • a method for forming a negative-type image comprising forming the negative-type image made of polyimide by immersing and developing in a negative electrode.
  • a negative photosensitive polyimide composition which becomes hardly soluble in alkali by light irradiation.
  • the negative photosensitive polyimide composition has a high sensitivity and an extremely good image resolution can be obtained. Further, a high-purity negative-type polyimide insulating film can be obtained.
  • the insulating film composed of the negative photosensitive polyimide composition of the present invention is excellent in adhesiveness, heat resistance, mechanical properties and flexibility. Therefore, the insulating film has high heat resistance. It is a polyimide insulating film having properties, electrical insulation and adhesiveness, and can be widely used in the fields of manufacturing semiconductors and electronic components.
  • the negative photosensitive polyimide composition of the present invention is a solvent-soluble polyimide which exhibits negative photosensitivity in the presence of a radical generator.
  • the radical generator is a compound that generates free radicals when irradiated with a light beam or an electron beam. Under the action of free radicals, polyimides are cross-linked and become sparingly soluble in alkali.
  • the radical generator employed in the present invention is not particularly limited, and any compound that generates free radicals when irradiated with a light beam or an electron beam can be used.
  • Various photoradical generators are commercially available, and these commercial products can be preferably used.
  • Preferred radical generators can be exemplified bis one azide compound, among others, the azide to two aromatic rings (single N 3) can be exemplified bis one azide compound combined binding, respectively.
  • bis-azidide compounds include 4,4'-diazidostilbene, 2,6-di (4-azidobenzylidene) cyclohexane, and 2,6-di (4-azidobenzylidene) 4-Methoxycyclohexane, 4,4'-diazido 3,3'-dimethoxydiphenyl, and the like.
  • the content of the photoradical generator is not particularly limited, but is preferably about 10 to 30% by weight based on the total amount of the composition.
  • the polyimide contained in the polyimide composition of the present invention is produced by a direct imidization reaction of a diamine, preferably an aromatic diamine, with tetracarboxylic dianhydride.
  • Preferred examples of the aromatic diamine constituting the polyimide contained in the polyimide composition of the present invention include 4,4′-diaminodiphenyl ether and 3,4′-diaminodiphenyl. Ether, bis (4-phenoxy)
  • 1,4-I-benzene bis (3-phenoxy) 1,4-benzene, bis (3-phenoxy) 1,3-benzene, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 1,1,1,3 , 3,3-hexafluoro-2-bis (4-aminophenyl) propa 4,4,1-diaminodiphenylmethane, bis (4-aminophenoxy) 4,4'-diphenyl, 2,2-bis ⁇ (4-aminophenoxy) phenyl ⁇ propane, 2,2-bis ⁇ ( 4-Aminophenoxy) phenyl ⁇ hexafluoropropane, 1,3-diaminobenzene, 1,4-diaminobenzene, 2,4-diaminotoluene, 3,3,1-dimethyl-4,4,1-diaminobiphenyl, 2 , 2,1-bis (trifluoromethyl) benzidine, bis (4-aminophenoxy) -11,3- (2,
  • aromatic diamine components can be employed alone or in combination.
  • Preferred examples of the aromatic acid component constituting the polyimide contained in the polyimide composition of the present invention include 3, 4, 3 ′, and 4 ′ monobenzophenone tetracarboxylic dianhydride, , 4,3 ', 4'-Biphenyltetracarboxylic dianhydride, pyromellitic dianhydride, 2,3,3', 4'-Biphenylethertetracarboxylic dianhydride, 1,2,5 , 6-Naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,5,6-Pyridinetetracarboxylic dianhydride, 3,4,3,4,1-biphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, bicyclo ( 2,2,2) -oct-1-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 4,4,1- ⁇ 2 and
  • aromatic diamine constituting the polyimide those having a carbonyl group, a nitro group, a methoxy group, a sulfone group, a sulfide group, an anthracene group or a fluorene group introduced therein (hereinafter referred to as “photosensitized aromatic diamine”). Is preferred, because when a radical generator is added and ultraviolet irradiation is performed, photoexcitation can be easily performed and a high-sensitivity, high-resolution image can be formed with a small dose.
  • the photosensitizing aromatic diamine first, 3,3′-dimethyl-4,4′-diamino-biphenylsulfone and 3,3′-dimethoxy-1,4,4′diaminobiphenylsulfone, 4 'diaminodiphenyl sulfide, 4,4,1-diaminodiphenyl disulfide, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluor Len, 1,4-diamino_2-nitrobenzene, 1,5-diamino-12-nitrobenzene, 3-nitro-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dinitro-1,4'-diaminobiph Enyl, 2,4-diaminoacetophenone, 2,4-diaminobenzophenone, 2-amino-1 4'-aminobenzophenone, 2-amino-5-aminofluorenone, 3,3,1-di
  • the various photosensitized aromatic diamines described above can be used alone or in combination of two or more.
  • the aromatic diamine constituting the polyimide has a hydroxyl group, a pyridin group, an oxycarbonyl group or a tertiary amine group introduced therein (hereinafter referred to as “alkali solubility enhanced aromatic diamine” for convenience).
  • alkali solubility enhanced aromatic diamine for convenience.
  • a negative type image is easily formed by interacting with an alkaline developer and becoming soluble easily by the alkaline processing.
  • Preferred examples of the aromatic diamine having increased alkali solubility include 2,6-diaminopyridine, 3,5-diaminopyridine, 3,5-diamino 2,4-dimethylpyridine, 1,4-diamino 2-hydroxybenzene, and 3,3. '-Dihydroxy-4,4, diaminobiphenyl and 3,3'-dimethoxy-4,4'-diaminobiphenyl, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 3,5- Diaminobenzoic acid and 2-hydroxy-1,4-diaminobenzene can be mentioned.
  • the various photosensitized aromatic diamines described above can be used alone or in combination of two or more. Can also be employed.
  • the polyimide in the composition of the present invention is solvent-soluble.
  • solvent soluble means
  • NMP N-methyl-2-pyrrolidone
  • the polyimide molecular weight in the polyimide composition of the present invention is preferably 30,000 to 400,000 as a weight average molecular weight in terms of polystyrene.
  • the weight average molecular weight is in the range of 30,000 to 400,000, good solvent solubility, film forming properties, film strength and insulating properties can be achieved. Further, it is preferable from the viewpoint of heat resistance that the above-mentioned molecular weight range is satisfied and the thermal decomposition initiation temperature is 450 ° C. or higher.
  • the polyimide contained in the composition of the present invention is preferably a polyimide formed by polycondensation of an acid dianhydride and an aromatic diamine in an organic polar solvent in the presence of an acid catalyst.
  • the acid catalyst is a catalyst composed of a lactone and a base
  • the polyimide may be obtained by removing water generated during the reaction to the outside of the reaction system by azeotropic distillation of toluene or xylene.
  • preferred examples of the organic polar solvent include at least one selected from the group consisting of N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetoamide, sulfolane, and tetramethylurea. be able to.
  • the polyimide is preferably a block copolymer polyimide.
  • a block copolymer By using a block copolymer, an arbitrary region providing desired properties can be included in the polyimide in an arbitrary amount, and the properties of the polyimide can be variously adjusted.
  • Such a block copolymerized polyimide is prepared by preparing a polyimide oligomer by enriching either component of dicarboxylic sulfonic acid dianhydride or aromatic diamine, and then adding aromatic diamine or and tetracarboxylic dianhydride.
  • a block copolymerized polyimide produced by heating and dehydration, in which the molar ratio of wholly aromatic diamine to all tetracarboxylic dianhydride is 1.05 to 0.95.
  • the method for producing the polyimide will be described later in detail.
  • the composition of the present invention is preferably in the form of a solution, and the solvent for the solution is preferably the above-mentioned organic polar solvent.
  • the organic polar solvent used for polycondensation can be used as it is as the solvent for the solution composition.
  • the concentration of the polyimide in the solution composition is preferably 5% by weight or more, more preferably 10% by weight or more.
  • the composition of the present invention also contains an olefin compound.
  • an olefin compound When the composition containing the olefin compound is irradiated with light, an olefin polymer is formed, and the solubility in an alkaline solution is reduced in coexistence with the polyimide molecule, so that a clearer image is easily formed.
  • examples of the olefin compound include, but are not particularly limited to, methacrylic acid and its ester, acrylic acid and its ester, and styrene monomer.
  • examples of the group forming an ester include an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms and a hydroxyalkyl group.
  • (meth) in the present specification and claims, "(meth) ⁇ click acrylic acid” means methacrylic acid and or acrylic acid) acrylate; C 1 _ C may be mentioned and styrene; 6 Al kill (meth) Akurireto; 2-hydroxy-E chill methacrylate and ethylene glycol dimethacrylate Ta click relays Bok like ⁇ ⁇ one C 6 t mud alkoxyalkyl (meth) Akurire Bok!.
  • the addition ratio of these olefin compounds is not particularly limited, but is usually preferably 10 to 40% by weight based on the polyimide.
  • the olefin compound may be added to the composition immediately before using the composition.
  • the polyimide in the composition of the present invention can be produced by a direct imidization reaction with diamine, preferably aromatic diamine, and tetracarboxylic dianhydride.
  • a conventionally used negative-type polyimide photoresist uses a polyamic acid having a photoreactive side chain. This polyamic acid decomposes easily in air and has poor storage stability.
  • the polyamic acid photosensitive material is heated at 250 ° C after development.
  • Heating to ⁇ 350 ° C requires an imidization reaction.
  • the composition of the present invention The polyimide inside is directly produced by the imidization reaction of aromatic diamine and tetracarboxylic dianhydride without passing through the polyamic acid.
  • the polyimide is significantly different from the conventional negative photosensitive polyimide. different.
  • the direct imidization reaction between aromatic diamine and tetracarboxylic dianhydride can be carried out using a catalyst system utilizing the following equilibrium reaction between lactone, base and water.
  • ⁇ Lactone ⁇ + ⁇ base ⁇ + ⁇ water ⁇ ⁇ acid group) + ⁇ base ⁇ one (acid group) + ⁇ base ⁇ —system as catalyst, 150—200 ° C., preferably 16 Heating to 0-180 ° C gives a polyimide solution.
  • Water generated by the imidization reaction is removed from the reaction system by azeotropic distillation with toluene or xylene.
  • the ⁇ acid group ⁇ + ⁇ base) — becomes a lactone and a base, loses catalytic activity and is simultaneously removed from the reaction system with toluene. Since the above catalyst substance is not contained in the polyimide solution after the reaction, the polyimide solution obtained by this method can be used industrially as it is as a high-purity polyimide solution.
  • a polar organic solvent is used in addition to the above toluene or xylene.
  • organic solvents include N-methyl-12-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethylsulfoxide, sulfolane, tetramethylurea and the like.
  • r-valerolactone is preferable as the lactone
  • pyridin and / or methylmorpholine is preferable as the base.
  • the mixing ratio (acid diamine) of the acid dianhydride and the aromatic diamine to be subjected to the imidization reaction is preferably about 1.05 to 0.95 in molar ratio.
  • the concentration of the acid dianhydride in the whole reaction mixture is preferably about 4 to 16% by weight
  • the concentration of the lactone is preferably about 0.2 to 0.6% by weight
  • the concentration of the base is about 0%.
  • the concentration is preferably about 3 to 0.9% by weight
  • the concentration of toluene is preferably about 6 to 15% by weight.
  • the reaction time is not particularly limited, and varies depending on the molecular weight of the polyimide to be produced and the like, but is usually about 2 to 10 hours.
  • the reaction is preferably carried out by stirring in a nitrogen stream.
  • a method for producing polyimide using a two-component catalyst consisting of lactone and base It is known per se and is described, for example, in US Pat. No. 5,502,143.
  • a block copolymerized polyimide By performing the above imidation reaction sequentially in two steps using different acid dianhydrides and / or different diamines, a block copolymerized polyimide can be produced. That is, an excess mole of either tetracarboxylic dianhydride or aromatic diamine is used and heated to 150 ° C. to 200 ° C. in the presence of a catalyst to perform polycondensation to form an oligomer. Add tetracarboxylic dianhydride and di- or aromatic diamine (in this case, the molar ratio of total tetracarboxylic dianhydride to total aromatic diamine is 1.05-0.995) and heat. By dehydrating, a copolymerized polyimide solution composition can be prepared.
  • any acid and any Z or diamine component can be selected to produce a block copolymerized polyimide, so that any desired properties or functions such as adhesion, dimensional stability, and low dielectric constant can be provided. Can be applied to the polyimide.
  • the photosensitive polyimide composition of the present invention can be in the form of a solution suitable for application on a substrate.
  • a polar solvent such as N-methyl-2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethylsulfoxide, sulfolane, or tetramethylurea, which is used as a solvent for the imidization reaction, may be used. it can.
  • concentration of the polyimide in the solution is preferably 5% by weight to 40% by weight, more preferably 10% by weight to 30% by weight.
  • Diluents include solvents that do not significantly reduce solubility, for example, dioxane, dioxolan, ganmaptylolactone, cyclohexanone, propylene glycol monomethyl ate Examples include, but are not limited to, teracetate, methyl lactate, anisol, and ethyl acetate.
  • the composition of the present invention can be added with a photosensitizer to the photosensitive polyimide of the present invention to increase the sensitivity of pattern resolution in order to suit each end use.
  • the photosensitizer is not particularly limited, but, for example, Michler's ketone, benzoin ether, 2-methylanthraquinone, benzophenone and the like are used.
  • a modifier added to the ordinary photosensitive polyimide for example, a coupling agent, a plasticizer, a film-forming resin, a surfactant, a stabilizer, a spectral sensitivity adjuster, and the like may be added.
  • composition of the present invention is coated on a substrate, heated to 70 to 110 ° C. to form a film, irradiated with light through a pattern mask, immersed in an alkaline solution, and developed.
  • a negative image composed of polyimide can be formed.
  • the obtained negative image can be washed with water and heat-treated at 250 ° C. or lower to obtain a polyimide insulating film having a negative image formed thereon.
  • a polyimide film having an arbitrary pattern can be formed on a substrate by applying the photosensitive polyimide composition of the present invention in the form of a solution on the substrate, drying, selectively exposing, and developing. .
  • a polyimide film is formed from a polyimide composition by an ordinary method such as an extrusion method, and the polyimide film is adhered to a substrate, selectively exposed, and developed to have an arbitrary pattern on the substrate.
  • a polyimide film can be formed.
  • Such a polyimide film has heat resistance and insulating properties, and can be used as it is as an insulating film or a dielectric layer of a semiconductor device, or as a photoresist for selectively exposing a base material. Can also be used.
  • Examples of the substrate on which the photosensitive polyimide of the present invention is used include a semiconductor disk, a silicon wafer, germanium, gallium arsenide, glass, ceramic, copper foil, and a printed substrate.
  • Coating is usually performed by a method such as dipping, spraying, rolling, or spin coating.
  • the adhesive film is usually made by thermo-compression It can be a coated product.
  • the thickness is preferably about 0.1 to 5 microns.
  • a thickness of 10 to 200 microns it is preferred to have a thickness of 10 to 200 microns to protect the semiconductor storage element from alpha-radiation.
  • the photosensitive polyimide After applying the photosensitive polyimide to the substrate, it is preferable to pre-dry the photosensitive polyimide in a temperature range of 70 to 120 ° C. In this case, an oven or a heating plate is used, but heating with an infrared heater is preferred. In this case, the drying time may be about 5 to 20 minutes.
  • the photosensitive polyimide layer receives radiation.
  • Ultraviolet light is usually used, but high-energy radiation, such as X-rays or electron beams or the high-power oscillating lines of ultra-high pressure mercury lamps, can also be used. Irradiation or exposure is performed through a mask, but a radiation beam can be applied to the surface of the photosensitive polyimide layer.
  • the radiation is carried out using an ultraviolet lamp emitting a wavelength in the range 250-450 nm, preferably in the range 300-400 nm.
  • the exposure may use a monochromatic or polychromatic method. It is desirable to use commercially available radiation equipment, such as contact and interlayer exposure equipment, scanning projection equipment, or wafer steppers.
  • the pattern can be removed from the irradiated area of the photoresist layer by treating the photosensitive layer with an aqueous alkaline developer.
  • aqueous alkaline developer is not particularly limited, but may be an amino alcohol such as aminoethanol, methyl morpholine, potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, dimethylaminoethanol, or tetramethylammonium hydroxide.
  • concentration in the alkaline developer is not particularly limited, but is usually about 30 to 5% by weight.
  • the aqueous solution can be accelerated by adding a polar solvent such as NMP.
  • the development time depends on the exposure energy, the strength of the developer, the type of development, the pre-drying temperature, and the processing temperature of the developer. Generally, it takes about 2 to 20 minutes in immersion development, and about 1 to 10 minutes in spray development. Development is stopped by immersion in or spraying on an inert solvent such as isopropanol, or deionized water.
  • the negative-working photosensitive polyimide composition of the present invention can be used to make polyimide coatings having a layer thickness of 0.5 to 200 microns and relief structures with sharp contours.
  • the polyimide in the composition of the present invention is made of a completely linear polyimide, it does not change with water or heat and has good storage stability. Therefore, it can be used as a photosensitive film. After the pattern is developed, heat treatment at a postbaking temperature of 250 to 450 ° C, unlike the conventional polyamic acid molecules, is not necessary. All that is required is to disperse the solvent. In addition, the polyimide film after pattern formation is tough, excellent in high temperature heat resistance, and excellent in mechanical properties.
  • a negative-working image can be formed by adding a radical polymerizable radical compound to the polyimide solution composition of the present invention.
  • a olefin compound and a radical generator are mixed with the polyimide solution composition, and the mixture is irradiated with light through a pattern mask. Due to the generated free radicals, the olefin compound becomes a radical polymer and coexists with the polyimide, thereby reducing the solubility in an alkali developing solution and forming a negative image.
  • a high molecular weight polyamic acid solution is prepared by reacting an acid dianhydride and an aromatic diamine at a low temperature in an polar solvent under anhydrous conditions.
  • Polyamic acid is easily decomposed by adding water or heating. Decomposition is promoted by an alkaline aqueous solution.
  • the quality assurance of polyamic acid is generally specified by the intrinsic viscosity, it is not sufficient to indicate the characteristics of polyamic acid and reproducibility is difficult. You. Attempts to measure molecular weight and molecular weight distribution by GPC cannot be generally adopted because the composition of the polyamic acid changes. This unstable methacrylate of polyamic acid is formed and radically polymerized to form a negative image as being hardly soluble in an alkaline solution.
  • the method of forming a negative image using the polyimide solution composition of the present invention is characterized in that an acid dianhydride and an aromatic diamine are polycondensed in a polar solvent in the presence of a catalyst to directly produce a polyimide composition.
  • an acid dianhydride and an aromatic diamine are polycondensed in a polar solvent in the presence of a catalyst to directly produce a polyimide composition.
  • polyimide molecules do not decompose due to addition of water or heating. Also, there is no exchange reaction between molecules. Therefore, the molecular weight and molecular weight distribution of the polyimide are measured by measuring the GPC, and the polyimide can be produced with good reproducibility, and the quality is guaranteed.
  • a polyamic acid becomes a random copolymer due to an intermolecular exchange reaction, and it is difficult to modify the polyimide molecule.
  • the direct imidization reaction according to the method of the present invention is adopted, the block copolymerized polyimide is obtained by the sequential addition method, and the modification of the polyimide is facilitated.
  • reaction format is shown in the following chart.
  • a radical generator preferably a bis-radical generator
  • the generated radicals are crosslinked between polyimide molecules to polymerize and reduce the solubility in an alkaline solution. . Therefore, when light is irradiated through the exposure mask, the polyimide layer in the non-irradiated portion is dissolved in the alkaline solution to form a negative image.
  • the olefin compound methacrylic acid and a methacrylic acid derivative and / or styrene are added to the polyimide solution composition, and a radical generator is added thereto, light irradiation is performed, and an olefin polymer is formed, and a polyimide is formed. Coexist with molecules and reduce solubility in alkaline solutions. Thus, a negative image is formed.
  • the polyimide solution composition containing olefin is useful as a negative photoresist.
  • a polyimide composition that forms a negative-type image with a radical generator A polyimide composition that forms a negative-type image with a radical generator
  • Polyimide has a high sensitivity and a high resolution negative image because it easily dissolves in an alkaline solution.
  • the weight average molecular weight in terms of polystyrene is 50,000 or less, especially 30,000 or less, the insulation, tensile strength, and heat resistance of the polyimide film are poor.
  • the weight average molecular weight of the polyimide composition is preferably 50,000 or more.
  • a photoacid generator is added to the polyimide solution composition, and the polyimide is irradiated with light.
  • the molecule is cleaved to a low molecular weight and becomes soluble in alkaline solution. Therefore, by irradiating light through the exposure mask, the light irradiating portion is dissolved in the alkaline solution to form a positive image.
  • a positive-working image with the polyimide composition is developed in a short time.
  • the negative type image formed by the polyimide composition has an advantage that the impurities contained in the polyimide are small and a high-purity insulating film is formed.
  • a negative type image, a negative type image formed by adding acrylic acid or styrene, and a positive type image formed by adding a photoacid generator are compared by using the same polyimide composition.
  • a photosensitive block copolymerized polyimide having characteristics can be obtained by a combination of various acid dianhydrides and aromatic diamines.
  • a 50 Om I separable three-necked flask equipped with a stainless steel anchor stirrer was fitted with a cooling tube with a ball equipped with a water separation trap.
  • BTDA 3, 4, 3 ', 4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride
  • NMP N-methylpyrrolidone
  • the mixture was stirred at room temperature under a nitrogen atmosphere at 180 rpm for 1 hour.
  • the temperature was raised to 180 ° C, and the mixture was stirred at 180 rpm for 1 hour.
  • the azeotropic content of toluene / water was removed.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 15% by weight.
  • the molecular weight of this polyimide was measured by high-performance liquid chromatography (Tosoichi Products).
  • the photosensitive composition was prepared by adding 20 g of the polyimide solution of Example 1 (15% by weight of polyimide) to which the radical generator 2,6-bis (9-azidobenzylidene) -14-methylcyclohexane (hereinafter BAC) was added.
  • BAC radical generator 2,6-bis (9-azidobenzylidene) -14-methylcyclohexane
  • BAC radical generator 2,6-bis (9-azidobenzylidene) -14-methylcyclohexane
  • the above photosensitive composition was spin-coated on the surface of a surface-treated copper foil having a diameter of 5 cm (manufactured by Mitsui Kinzoku Mining Co., Ltd., 18 ⁇ m thick). Then, it was dried in an infrared hot air dryer at 90 ° C for 10 minutes. The thickness of this photosensitive film was about 8 microns.
  • a test pattern for negative photomask (15, 20, 25, ⁇ ⁇ ⁇ , 200-micron through-hole and line-and-space pattern) was placed on this photosensitive coating film, and a 2 kW ultra-high pressure mercury lamp irradiation device was used.
  • the wavelength range was from 320 to 390 nm, and the peak was at 360 nm (the same applies to the following examples).
  • the developer composition was 30 g of aminoethanol, 30 g of N-methylpyrrolidone, 3 g of water. It was a mixed solution of Og (hereinafter referred to as developer: AO).
  • this polyimide coating film In the through-hole pattern of this polyimide coating film, a hole with a diameter of 15 microns was confirmed by a sharply contoured round cut rero. In the line-and-space pattern, a line image of 15 microns was confirmed.
  • This polyimide film was heat-treated in an infrared dryer at 140 ° C. for 30 minutes and at 200 ° C. for 20 minutes to form a copper foil substrate having good adhesion.
  • Example 4 20 g of the polyimide solution of Example 1 was added thereto, followed by 6 g of radical generator BAC-MO. And 0.9 g of ethylene glycol methacrylate (hereinafter referred to as EGM) (30% by weight based on the polyimide resin) And mix. This mixed solution was produced by filtration through a 0.3 micron pore size filtration membrane. In the same manner as in Example 2, the through-hole pattern of the polyimide coating film was sharp, and a hole having a diameter of 15 ⁇ m was confirmed by a contour cutting rero. In the line and space pattern, a 15 micron line image was confirmed.
  • EGM ethylene glycol methacrylate
  • Example 2 20 g of the polyimide solution of Example 1 is added, and 0.6 g of a radical generator BAC-M and 0.9 g of styrene monomer (30% by weight based on the polyimide resin) are added and mixed. This mixed solution was produced by filtration through a filtration membrane having a pore diameter of 0.3 ⁇ m. In the same manner as in Example 2, the through-hole pattern of the polyimide coating film had a sharp cut edge and a hole having a diameter of 15 ⁇ m was confirmed. In the line and space pattern, a 15 micron line image was confirmed.
  • Example 1 20 g of the polyimide solution of Example 1 was added, and a radical generator NT-200 (2,3,4-trihydroxybenzophenone and 1-diazo-5,6-dihydro-5- Oxo-naphthalene-1-sulfonic acid ) Ester (Toyo Gosei Co., Ltd. product) 0.45 g (15% by weight based on polyimide resin) and 0.45 g of isopropyl benzoate (15% by weight based on polyimide resin) are added and mixed. This mixed solution was produced by filtration through a filtration membrane having a pore diameter of 0.3 ⁇ m. In the same manner as in Example 2, the through-hole pattern of this polyimide coating film was sharply contoured, and a hole of positive photosensitivity having a diameter of 15 ⁇ m was confirmed. Table 1 summarizes the above experimental conditions and experimental results.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 13% by weight.
  • BCD Bicyclo (2,2,2) -octane-1,3-ene 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride
  • BCD Biscyclo (2,2,2) -octane-1,3-ene 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride
  • BCD Biscyclo (2,2,2) -octane-1,3-ene 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride
  • B PDA 1 7.65 g (60 mmol), 3,3'-dimethyl-1,4,4'-diaminobiphenyl 4.25 g (20 mmol), bis (3-aminophenoxy) 1 , 6.5 g (22.5 mmol) of 4-benzene, 100 g of NMP and 40 g of toluene were added.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 15% by weight.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 13% by weight.
  • Example 5 Example 6—1 Example 6—2 Polyimide content 3 g 3 g 3 g Radical generator B AC-M B AC-M BAC— M Addition amount 0.6 g 0.6 g 0.6 g Additive ⁇ ⁇ EGM
  • Poly de, including right ⁇ 3 ⁇ 3 ⁇
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 20% by weight.
  • B PDA Bienyltetracarboxylic dianhydride 11.77 g (40 mmol), bis (4-aminophenyl) fluorene 20.41 g (60 mmol), r-valerolactone 1. 0 g (10 mmol), 1.6 g (20 mmol) of pyridine, 134 g of NMP, and 20 g of toluene were charged. The mixture was stirred at 180 ° C and 180 rpm for 1 hour. During the reaction, the azeotropic content of toluene / water was removed.
  • 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) 1-1,1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane (hereinafter referred to as 6 FDA) 26.
  • 6 FDA 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) 1-1,1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane
  • 6 FDA 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) 1-1,1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 20% by weight.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 20% by weight.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 10% by weight.
  • BCD Bicyclo (2, 2, 2) — Ok! ⁇ 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride
  • BCD 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 18% by weight.
  • UV irradiation dose (m j) 1 000 1 000
  • Post-stage temperature 1 80 ° C 1 80 ° C
  • Pre-stage temperature 90 C 90 ° C 90 ° C
  • B PDA 14.71 g (50 mmol), 2,4-diaminobenzoic acid 7.61 g (20 mmol), bis ⁇ 4- (3-aminophenoxy) phenyl ⁇ sulfone 21. 63 g (50 mmol), NMP 218 g and toluene 30 g were added.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 20% by weight.
  • BTDA 1 2.89 g (40 mmol), bis ⁇ 4_ (3-aminophenoxy) phenyl ⁇ sulfone 8.65 g (20 mmol) 2,4-diaminotoluene 6.1 1 g (50 mmol), r-one 0.8 g (8 mmol) of valerolactone, 1.3 g (16 mmol) of pyridine, 195 g of NMP, and 30 g of toluene were charged. The mixture was stirred at 180 ° C and 180 rpm for 1 hour. During the reaction, the azeotropic content of toluene / water was removed.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 10% by weight.
  • the molecular weight of this polyimide was measured in the same manner as in Example 1.
  • valerolactone 1.0 g (10 mmol), pyridine 1.6 g (20 mmol), NMP 312 g, and toluene 50 g are charged. After stirring at room temperature for 0.5 hour in a nitrogen atmosphere, the temperature was raised to 180 ° C, and the mixture was stirred at 180 rpm for 6 hours and 10 minutes. During the reaction, the azeotropic content of toluene / water was removed.
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 20% by weight.
  • the molecular weight of this polyimide was measured in the same manner as in Example 1, the molecular weight in terms of polystyrene was: number average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average molecular weight (Mn) 56,800, weight average mo
  • the polymer concentration of the polyimide solution thus obtained was 20% by weight.
  • the molecular weight of this polyimide was measured in the same manner as in Example 1, the polystyrene-equivalent molecular weight was as follows: number average molecular weight (Mn) 28,300, weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn),300, weight average molecular weight (Mn),300, weight average molecular weight (Mn),300, weight average molecular weight (Mn),300, weight average molecular weight (Mn),300, weight average molecular weight (Mn),300, weight average molecular weight (Mn),300, weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn), weight average molecular weight (Mn
  • Example 20 Preparation of Photosensitive Composition and Pattern Formation by Selective Exposure: According to Example 2, preparation of the photosensitive composition and image formation were performed.
  • Example 15-1 Comparative example 7
  • Example 16-1 Polyimide content 3 g 3 g 3 g 3 g 3 g
  • Example 17-1 Example 17-2
  • Example 17-3 Polyimide content 3 g 3 3 g 3 g Radical generator B AC— ⁇ B AC— MB AC— M Addition amount 06 ⁇ 0.6 g 0.6 g Additive PC-5
  • UV irradiation dose (m j) 600 600 330 330 Developer AO A 0 AO AO Development temperature 41 ° C 41 ° C 41 ° C 42 ° C Development time (minutes and seconds) 4/00 5Z10 2/35 3/30 After bake
  • First stage temperature 90 ° C 90 ° C 90 ° C 90 ° C 90 ° C First stage time 1 hour 30 minutes 2 hours 2 hours Second stage temperature 180 ° C
  • Example 18-1 Example 18-2 Ning
  • Example 18-3 Polyimide content 3 g 3 g 3 g 3 g Radical generator B AC— MB AC— MB AC-M Additive NT-200 — EGA Styrene 0.6 g 0.9 g 0.9 g Pre-bake 90 ° C for 10 minutes 90 ° C for 10 minutes 90 ° C for 10 minutes 90 ° C for 10 minutes 90 ° C for 10 minutes.
  • a negative image can be formed by adding a radical generator to a polyimide solution composition and irradiating light through a pattern.
  • a negative image can also be formed by adding a olefin compound and a radical generator to the polyimide solution composition and irradiating with light.
  • the polyimide solution composition employs an acid-catalyzed block copolymerization method to make the polyimide molecules into a multi-component system, with high image resolution, adhesiveness, heat resistance, low dielectric properties, etc. Properties can be given.
  • the negative photosensitive copolymer polyimide of the present invention can be widely used in the field of manufacturing semiconductors and electronic components.

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Description

明細書
ネガ型感光性ポリイミド組成物及びそれを用いた画像の形成方法
技術分野
本発明は、 ネガ型感光性ポリイミド組成物、 それから形成された絶縁膜及びそれ を用いる絶縁膜パターンの形成方法に関する。 ポリイミドは優れた耐熱性、 電気 絶縁性、 機械的特性及び耐薬品性を有するので、 電気、 電子部品、 半導体及びそ の周辺回路に応用される。
背景技術
感光性樹脂組成物は、 A ) 露光した部分の極性が変化し、 溶解性に差の出る極 性変化型、 B ) 露光により化学結合が切れ、 露光部が可溶化する切断型、 C ) 架 橋反応が進み露光部分が不溶化する架橋型に分類される。 極性変化型は、 現像液 組成によって、 ポジ型としてもネガ型としても利用できる。 切断型はポジ型とし て、 架橋型は原理上ネガ型として利用可能である。 また、 架橋型感光材料は、 有 機溶媒現像によリ、 露光部の膨潤が起こるため高解度の微細加工を行う上で不利 と言われてきた。
近年、 フレキシブル配線板のオーバーコート材ゃ多層基板の層間絶縁膜、 半導 体工業における固体素子への絶縁膜やパッシベーシヨン膜の成型材料、 及び半導 体集積回路や多層プリント配線板等の層間絶縁材料は、 耐熱性に富むことが要請 され、 また高密度化、 高集積化の要求から感光性を有する耐熱材料が求められて いる。
ミクロ電子工業の半導体集積部品となる半導体基材は、 フォトレジス卜で被覆 する。 フォトレジスト層の画像形成及び現像によって、 フォトレジストレリーフ 構造を作り出す。 このレリーフ構造は、 回路パターンを半導体基材上に作るため のマスクとして使用する。 この加工サイクルによって、 マイクロチップのレリ一 フ構造を基材に移すことができる。
フォトレジストには、 異なる 2種のフォトレジスト (ポジ型フォトレジストと ネガ型フォトレジスト) がある。 この違いは、 ポジ型フォトレジストの露光域が 現像プロセスによって除去され、 未現像領域が基材上に残る。 一方、 ネガ型フォ トレジス卜の照射域はレリーフ構造として残る。 ポジ型フォトレジストは、 高い 画像分解能を有し、 V L S I (超大規模集積回路) の製造に用いられている。 従来よリ用いられているポジ型フォ卜レジストは、 水性アル力リに可溶な一種 のノポラック型樹脂と、 アルカリ中においてこの樹脂の溶解度を低減させる感光 性キノンジアジドを含有する。 このフォトレジスト層を照射するとキノンジアジ ドは光励起してカルボン酸に構造変換し、 露光域ではアル力リへの溶解度を増大 する。 従って、 水性アルカリ現像をして、 ポジ型フォトレジストレリーフ構造が 得られる (U S P 3 6 6 6 4 7 3 5他) 。
工業的実施に要するフォトレジスト組成物の特性は、 塗布溶剤中でのフォトレ ジス卜の溶解度、 フォトレジス卜の感光速度、 現像コントラス卜、 環境面で許さ れる現像液の溶解度、 フォトレジストの密着性、 高温での寸法安定性及び耐摩耗 性である。
露光、 現像によって得られたフォトレジストレリーフの構造は、 通常、 1 2 0 °C乃至 1 8 0 °Cの範囲内で熱処理 (ポストべ一ク) を受ける。 この目的は、 基材 に対するフォトレジストの接着性の向上、 フォトレジスト構造の硬化及びその後 に続くエッチングによる浸蝕の低減をもたらすために、 なお残る揮発成分を除去 することにある。
しかし、 プラズマエッチングでは 2 0 0 °Cを超える温度が基材に生じる。 ノボ ラック樹脂に安定化改質剤をベースにするフォトレジス卜を 1 8 0 °C以上に熱安 定化することはできない。
ポリイミ ド樹脂は、 約 4 0 0 °Cの高温に耐え、 かつ、 薬品に対しても安定であ る。 従って、 耐熱性フォトレジスト層の形成に有効である。
従来使用されているポリイミドのフォトレジストは、 ネガ型の作用をする。 こ のネガ型フォトレジストの基本系は光反応性側鎖を持つポリアミック酸ポリマー から成り立つ。 しかし、 この基材は、 貯蔵安定性が悪く、 感光速度が非常に遅く、 且つ現像、 硬化後に過大な構造収縮 (ポストべーク後の収縮率が 6 0 %程度) を 生じるという難点がある。 この組成の材料は、 高い分解度の構造体を得るために は 1 0分間程度の露光処理が必要であリ、 厚膜フィルムを塗布する高濃度溶液で は、 特に貯蔵安定性が悪い (山岡亜夫他; Po l yf i l e 2, 14 (1990)。
ポリイミド溶液組成物が光酸発生剤の存在下に光照射し、 ついでアルカリ現像 することによってポジ型画像を形成することが示された (P C T出願: J P 9 8 0 4 5 7 7 ) 。
ポジ型画像の形成の過程で、 約 1 0万の重量平均分子量を持つポリィミド組成 物がアル力リ性溶液に溶解して約 3, 0 0 0の重量平均分子量の組成物に変化し ていることが示された (福島誉史、 板谷博他;第 4 9回高分子学会予稿集 (2 0 0 0、 名古屋) 。
発明の開示
本発明の目的は、 有機溶剤に可溶で、 しかも接着性、 耐熱性、 機械的特性及び フレキシブル性に優れ、 光照射によってアル力リ可溶の高感度ネガ型フォ卜レジ ス卜の特性を示す感光性ポリイミド組成物を提供することである。
本願発明者らは、 鋭意研究の結果、 溶剤可溶なポリイミドと光ラジカル発生剤 とを組み合わせることにより、 光照射によってアル力リ可溶となる高感度のネガ 型感光性ポリイミド溶液組成物が得られ、 該ネガ型感光性ポリイミド溶液組成物 から構成される絶縁膜が接着性、 耐熱性、 機械的特性及びフレキシブル性に優れ ていることを見出し、 本発明を完成した。
すなわち、 本発明は、 光ラジカル発生剤と、 該光ラジカル発生剤の存在下にお いてネガ型感光性を示す溶剤可溶ポリィミ ドとを含むネガ型感光性ポリィミド組 成物を提供する。 また、 本発明は、 上記本発明の組成物を基板上に塗布し、 7 0 一 1 1 0 °Cに加熱して膜状にした後、 パターンマスクを介して光照射し、 アル力 リ溶液中に漬けて現像してポリイミドから成るネガ型画像を形成することを含む、 ネガ型画像の形成方法を提供する。
本発明により、 光照射によってアルカリに難溶となるネガ型感光性ポリイミド 組成物が提供された。 該ネガ型感光性ポリイミド組成物は、 感度が高く、 極めて 良好な画像解像度が得られる。 更に高純度ネガ型ポリイミド絶縁膜が得られる。 本発明のネガ型感光性ポリイミ ド組成物から構成される絶縁膜は接着性、 耐熱性、 機械的特性及びフレキシブル性に優れている。 従って、 該絶縁膜は、 高温度耐熱 性、 電気絶縁性、 接着性を有したポリイミド絶縁膜であり、 半導体や電子部品等 の製造分野に幅広く利用することができる。
発明を実施するための最良の形態
本発明のネガ型感光性ポリイミ ド組成物は、 ラジカル発生剤の存在下にネガ型 感光性を示す溶剤可溶のポリィミドである。
ここで、 ラジカル発生剤とは、 光線又は電子線の照射を受けると遊離ラジカル を発生する化合物である。 遊離ラジカルの作用により、 ポリイミ ドは架橋してァ ルカリ難溶性になる。 本発明で採用されるラジカル発生剤は特に限定されず、 光 線又は電子線の照射を受けると遊離ラジカルを発生するいずれの化合物をも用い ることができる。 種々の光ラジカル発生剤が市販されており、 これらの市販品を 好ましく用いることができる。 好ましいラジカル発生剤としてはビス一アジド化 合物を挙げることができ、 とりわけ、 2つの芳香環にアジド(一 N3)がそれぞれ結 合したビス一アジド化合物を挙げることができる。 このようなビス一アジド化合 物の好ましい例として、 4, 4 'ージアジドスチルベン、 2 , 6—ジ (4—アジ ドベンジリデン) シクロへキサン、 2 , 6—ジ (4—アジドベンジリデン) 一4 —メ トキシシクロへキサン、 4, 4 ' ージアジドー 3, 3 '—ジメ トキシジフエ 二ル等を挙げることができる。
光ラジカル発生剤の含有量は、 特に限定されないが、 組成物の全量に対し 1 0 〜 3 0重量%程度が好ましい。
本発明のポリィミド組成物中に含まれるポリィミ ドは、 ジァミン、 好ましく は芳香族ジァミンとテトラ力ルポン酸ジ無水物との直接的なィミ ド化反応によリ 製造されるものである。
本発明のポリイミ ド組成物中に含まれるポリイミドを構成する芳香族ジァミン 一成分の好ましい例(モノマーの形態で記載)として、 4, 4 'ージアミノジフエ二 ルェ一テル、 3, 4 '—ジアミノジフエニルエーテル、 ビス (4—フエノキシ)
1, 4一ベンゼン、 ビス (3 -フエノキシ) 1, 4—ベンゼン、 ビス (3—フエ ノキシ) 1, 3—ベンゼン、 2, 2—ビス (4—ァミノフエニル) プロパン、 1, 1, 1, 3, 3, 3—へキサフルオロー 2—ビス (4—ァミノフエニル) プロパ ン、 4, 4,一ジアミノジフエニルメタン、 ビス (4—アミノフエノキシ) 4, 4 '—ジフエニル、 2, 2—ビス { ( 4—アミノフエノキシ) フエ二ル} プロパ ン、 2, 2—ビス { ( 4一アミノフエノキシ) フエ二ル} へキサフルオルプロパ ン、 1, 3—ジァミノベンゼン、 1, 4—ジァミノベンゼン、 2, 4—ジァミノ トルエン、 3, 3,一ジメチルー 4, 4,一ジアミノビフエニル、 2, 2,一ビス ( トリフルォロメチル) ベンジジン、 ビス (4—アミノフエノキシ) 一 1, 3— ( 2, 2—ジメチル) プロパン及びジァミノシロキサンを挙げることができる。 こ れらの芳香族ジァミン成分は、 単独で又は組み合わせて採用することができる。 本発明のポリイミド組成物中に含まれるポリイミドを構成する芳香族酸成分の 好ましい例(モノマーの形態で記載)として、 3, 4, 3 ', 4 '一べンゾフエノン テトラカルボン酸ジ無水物、 3, 4, 3 ', 4 '—ビフエニルテトラカルボン酸ジ 無水物、 ピロメリット酸ジ無水物、 2, 3, 3 ', 4 '—ビフエ二ルエーテルテト ラカルボン酸ジ無水物、 1, 2, 5, 6—ナフタレンテトラ力ルポン酸ジ無水物、 2, 3 , 5, 6—ピリジンテ卜ラカルボン酸ジ無水物、 3, 4, 3,, 4,一ビフ ェニルスルホンテトラカルボン酸ジ無水物、 ビシクロ (2, 2 , 2 ) —ォクト一 7—ェン一 2, 3, 5 , 6—テトラカルボン酸ジ無水物、 4, 4,一 { 2及び 2, 2—トリフルオロー 1一 (トリフルォロメチル) ェチリデン} ビス (1, 2—ベ ンゼンジカルポン酸ジ無水物) を挙げることができる。 これらの芳香族酸成分は、 単独で又は組み合わせて採用することができる。
ポリイミ ドを構成する芳香族ジァミンとして、 カルボニル基、 ニトロ基、 メ ト キシ基、 スルホン基、 スルフィ ド基、 アントラセン基又はフルオレン基が導入さ れたもの(以下、 「光増感性芳香族ジァミン」 ということがある)を用いると、 ラ ジカル発生剤を添加して紫外線照射した際に、 容易に光励起して、 少ない線量で 高感度高解像度の画像を形成することができるので好ましい。
光増感性芳香族ジァミンの好ましい例として、 先ず、 3, 3 '—ジメチルー 4, 4 '—ジアミノービフエニルスルホン及び 3, 3 '—ジメ トキシ一 4, 4 'ージアミ ノービフエニルスルホン、 4, 4 'ージアミノジフエニルスルフイ ド、 4, 4,一 ジアミノジフエ二ルジスルフイ ド、 9, 9—ビス (4—ァミノフエ二ル) フルォ レン、 1, 4—ジァミノ _ 2—ニトロベンゼン、 1, 5—ジァミノ一 2—ニトロ ベンゼン、 3—ニトロ一 4, 4 '—ジアミノビフエニル、 3, 3 '—ジニトロ一 4, 4 '—ジアミノビフエニル、 2, 4—ジアミノアセトフエノン、 2, 4—ジアミ ノベンゾフエノン、 2—ァミノ一 4 '—ァミノべンゾフエノン、 2—アミノー 5 —ァミノフルォレノン、 3, 3,一ジアミノジフエニルスルホン、 4, 4,一ジァ ミノジフエニルスルホン、 ビス一 { 4一 (3—アミノフエノキシ) ビフエ二ル} スルホン及びビス一 { 4一 (4一アミノフエノキシ) ビフエニル } スルホン、 ビ ス { 4— ( 4—アミノフエノキシ) フエ二ル} スルホン、 ビス { 4— ( 3—アミ ノフエノキシ) フエ二ル} スルホン、 O—トリジンスルホン、 4, 4 '—ジアミ ノベンゾフエノン、 3, 3,ージァミノべンゾフエノン、 2—ニトロ一 1, 4— ジァミノベンゼン、 3, 3 '—ジニトロ一 4, 4 'ージアミノビフエニル、 3, 3 ' —ジメ トキシ一 4, 4 '—ジアミノビフエニル及び 1, 5—ジァミノナフタリン を挙げることができる。
上記した各種の光増感性芳香族ジァミンは、 単独でも 2種以上を組み合わせて も採用することができる。
また、 ポリイミ ドを構成する芳香族ジァミンとして、 ヒドロキシル基、 ピリジ ン基、 ォキシカルボニル基又は第 3級ァミン基が導入されたもの(以下、 便宜的 に 「アルカリ溶解性増大芳香族ジァミン」 ということがある)を用いると、 アル 力リ現像液と相互作用してアル力リ易溶解となり、 アル力リ処理によってネガ型 の画像を形成しやすくなる。
アルカリ溶解性増大芳香族ジァミンの好ましい例として、 2, 6—ジアミノビ リジン、 3 , 5—ジァミノピリジン、 3, 5—ジァミノー 2, 4—ジメチルピリ ジン、 1, 4—ジァミノー 2—ヒドロキシベンゼン、 3, 3 '—ジヒドロキシー 4, 4,ージアミノビフエニル及び 3, 3 '—ジメ トキシー 4, 4 '—ジアミノビフ ェニル、 ビス (3—アミノー 4—ヒドロキシフエニル) へキサフルォロプロパン、 3 , 5—ジァミノ安息香酸及び 2—ヒドロキシ一 1、 4—ジァミノベンゼンを挙 げることができる。
上記した各種の光増感性芳香族ジァミンは、 単独でも 2種以上を組み合わせて も採用することができる。
本発明の組成物中のポリイミドは、 溶剤可溶である。 ここで、 「溶剤可溶」とは、
N—メチルー 2—ピロリ ドン (N M P ) 中に、 5重量%以上、 好ましくは 1 0重 量%以上の濃度で溶解することを意味する。
本発明におけるポリイミド組成物中のポリイミド分子量は、 ポリスチレン換算 の重量平均分子量として 3万〜 4 0万が好ましい。 重量平均分子量が 3万〜 4 0 万の範囲内にあると、 良好な溶剤可溶性と膜形成性、 膜強度及び絶縁性を達成す ることができる。 また、 上記分子量範囲を満足すると共に、 熱分解開始温度が 4 5 0 °C以上であることが耐熱性の観点から好ましい。
本発明の組成物中に含まれるポリイミドは、 酸触媒の存在下、 有機極性溶媒中 酸ジ無水物と芳香族ジァミンの重縮合によリ生成したポリィミ ドであることが好 ましい。 ここで、 酸触媒は、 ラクトン及び塩基よりなる触媒であって、 前記ポリ イミドは、 反応中に生成する水をトルエン又はキシレンの共沸によって反応系外 に除いて得られたものであることが好ましい。 ここで、 有機極性溶媒の好ましい 例としては、 N—メチルピロリ ドン、 N, N—ジメチルホルムアミド、 N, N - ジメチルァセトアミド、 スルホラン及びテトラメチル尿素から成る群より選ばれ る少なくとも 1種を挙げることができる。
ポリイミドは、 ブロック共重合ポリイミドであることが好ましい。 ブロック共 重合体とすることにより、 所望の性質を与える任意の領域を任意の量だけポリィ ミド中に含ませることが可能になり、 ポリイミ ドの性質を種々調節することがで きる。 このようなブロック共重合ポリイミドは、 亍トラ力ルポン酸ジ無水物と芳 香族ジァミンのいずれかの成分を多量にして、 ポリイミドオリゴマーとし、 つい で芳香族ジァミン又は 及びテトラカルボン酸ジ無水物を加えて加熱、 脱水する ことによって生成した、 全芳香族ジァミンと全テトラカルボン酸ジ無水物のモル 比が 1 . 0 5— 0 . 9 5であるブロック共重合ポリイミドであることが好ましい。 なお、 ポリイミドの製造方法については後で詳しく述べる。
本発明の組成物は溶液の形態にあることが好ましく、 溶液の溶媒としては、 上 記した有機極性溶媒が好ましい。 有機溶媒極性中での重縮合によりポリィミドを 製造した場合には、 溶液組成物の溶媒として、 重縮合に用いた有機極性溶媒をそ のまま用いることができる。 溶液組成物中のポリイミドの濃度は 5重量%以上が 好ましく、 1 0重量%以上がさらに好ましい。
本発明の組成物はまた、 ォレフィン化合物を含有することが好ましい。 ォレフ イン化合物を含む組成物を光り照射すると、 ォレフィン重合体が生成し、 ポリイ ミド分子と共存してアルカリ性溶液に対する溶解度が減少するので、 より鮮明な 画像を形成しやすくなる。
ここで、 ォレフィン化合物としては、 特に限定されないがメタアクリル酸及び そのエステル、 アクリル酸及びそのエステル、 スチレン単量体等を挙げることが できる。 ここで、 エステルを形成する基としては炭素数 1〜6のアルキル基及び ヒドロキシアルキル基を挙げることができる。 好ましいォレフィン化合物の例と して、 (メタ) アクリル酸 (本明細書及び請求の範囲において、 「 (メタ) ァク リル酸」 はメタアクリル酸及び 又はアクリル酸を意味する) ; C 1 _ C 6アル キル (メタ) ァクリレート; 2—ヒドロキシェチルメタクリレート及びエチレン グリコールジメタァクリレー卜のような〇■!一 C 6 tドロキシアルキル (メタ) ァクリレー卜;及びスチレンを挙げることができる。
これらのォレフィン化合物の添加割合は、 特に限定されないが、 通常、 ポリイ ミドに対して 1 0— 4 0重量%が好ましい。 なお、 ォレフィン^合物は、 組成物 を使用する直前に組成物に添加してもよい。
ォレフィン重合体を含有するポリイミド膜は、 絶縁膜として利用する場合、 ォ レフイン化合物を加熱、 分解して除去する必要がある。 この場合、 2 0 0 °C以上 の熱処理が行われ、 3 0— 4 0重量%の膜減リが生ずる。
本発明の組成物中のポリイミドは、 ジァミン、 好ましくは芳香族ジァミンと、 亍トラカルボン酸ジ無水物により直接イミ ド化反応によって製造することができ る。 従来から用いられているネガ型ポリイミドフォトレジストは、 光反応性側鎖 をもつポリアミック酸を使用する。 このポリアミック酸は、 空気中で容易に分解 し、 貯蔵安定性が悪い。 更に、 このポリアミック酸感光物は、 現像後に 2 5 0 °C
〜3 5 0 °Cに加熱してイミド化反応を必要とする。 これに対し、 本発明の組成物 中のポリイミ ドは、 ポリアミック酸を経由せずに芳香族ジァミンとテトラカルボ ン酸ジ無水物とのイミド化反応により直接製造されるものであり、 この点で従来 のネガ型感光性ポリイミドとは大きく異なる。
芳香族ジァミンとテトラカルボン酸ジ無水物との直接イミド化反応は、 ラクト ンと塩基と水との次の平衡反応を利用した触媒系を用いて行なう.ことができる。
{ラクトン } + ί塩基 } + {水} = {酸基) + {塩基 } 一 この ί酸基) + {塩基 } —系を触媒として、 1 5 0— 2 0 0 °C、 好ましくは 1 6 0 - 1 8 0 °Cに加熱してポリイミド溶液を得ることができる。 イミド化反応に より生成する水は、 トルエン又はキシレンと共沸させて反応系外へ除く。 反応系 のイミ ド化が終了した時点で、 {酸基】 + {塩基) —はラクトンと塩基になり、 触媒作用を失うと同時にトルェンと共に反応系外へ除かれる。 この方法によるポ リイミ ド溶液は、 上記触媒物質が、 反応後のポリイミド溶液に含まれないため高 純度のポリイミ ド溶液として、 そのまま工業的に使用可能となる。
上記イミ ド化反応に使われる反応溶媒は、 上記したトルエン又はキシレンに加 え、 極性の有機溶媒が使用される。 これらの有機溶媒としては、 N—メチル一 2 —ピロリ ドン、 ジメチルホルムアミド、 ジメチルァセトアミド、 ジメチルスルホ キシド、 スルホラン、 テトラメチル尿素等があげられる。
また、 ラク トンとしては r一バレロラクトンが好ましく、 塩基としてはピリジ ン及び 又はメチルモルフォリンが好ましい。
上記イミド化反応に供する酸ジ無水物と芳香族ジァミンとの混合比率 (酸 ジ ァミン)は、 モル比で 1 . 0 5 ~ 0 . 9 5程度が好ましい。 また、 反応開始時に おける反応混合物全体中の酸ジ無水物の濃度は 4〜 1 6重量%程度が好ましく、 ラクトンの濃度は 0 . 2〜0 . 6重量%程度が好ましく、 塩基の濃度は 0 . 3〜 0 . 9重量%程度が好ましく、 トルエンの濃度は 6 ~ 1 5重量%程度が好ましい。 また、 反応時間は特に限定されず、 製造しょうとするポリイミドの分子量等によ リ異なるが、 通常 2〜1 0時間程度である。 また、 反応は窒素気流中撹拌して行 うことが好ましい。
なお、 ラクトン及び塩基から成る 2成分系触媒を用いたポリイミドの製造方法 自体は公知であリ、 例えば米国特許第 5, 502, 143に記載されている。
上記のイミド化反応を、 異なる酸ジ無水物及び 又は異なるジァミンを用いて 逐次的に 2段階で行なうことにより、 ブロック共重合ポリイミ ドを製造すること ができる。 すなわち、 テトラカルボン酸ジ無水物と芳香族ジァミンのいずれかを 過剰モル用いて、 触媒の存在下、 1 5 0 °C〜2 0 0 °Cに加熱して重縮合してオリ ゴマーとし、 ついでテトラ力ルポン酸ジ無水物及びノ又は芳香族ジァミンを加え (この場合、 全テ卜ラカルボン酸ジ無水物と全芳香族ジァミンのモル比は 1 . 0 5 - 0 . 9 5である) 、 加熱脱水することにより、 共重合ポリイミド溶液組成物 をつくることができる。
従来のポリアミック酸を経由するポリィミドの製造方法によれば、 共重合体は ランダム共重合体しか製造できなかった。 本発明では任意の酸及び Z又はジアミ ン成分を選択してブロック共重合ポリイミドを製造することができるので、 接着 性や寸法安定性の付与、 低誘電率化等の任意の所望の性質又は機能をポリイミド に付与することができる。 本発明の組成物では、 このような共重合ポリイミ ドを 採用するが好ましい。
本発明の感光性ポリイミド組成物は、 基材上に適用するのに適した、 溶液の形 態にあることができる。 この場合、 溶剤としては、 イミ ド化反応の溶媒として用 いられる、 N—メチルー 2 _ピロリ ドン、 ジメチルホルムアミ ド、 ジメチルァセ トアミド、 ジメチルスルホキシド、 スルホラン、 テトラメチル尿素等の極性溶媒 を用いることができる。 溶液中のポリイミ ドの濃度は 5重量%〜4 0重量%が好 ましく、 さらに好ましくは 1 0重量%〜3 0重量%である。 なお、 上記のラクト ンと塩基から成る触媒系を用いた直接イミ ド化反応により得られるポリイミドは、 極性溶媒中に溶解された溶液の形態で得られ、 しかも、 ポリイミ ドの濃度も上記 の好ましい範囲内で得られるので、 上記方法により製造されたポリイミド溶液を そのままで好ましく用いることができる。 もっとも、 所望により、 製造されたポ リイミド溶液を希釈剤により、 さらに希釈することができる。 希釈剤としては、 溶解性を著しく減じないような溶剤、 例えば、 ジォキサン、 ジォキソラン、 ガン マープチロラク トン、 シクロへキサノン、 プロピレングリコールモノメチルエー テルアセテート、 乳酸メチル、 ァニソール、 酢酸ェチル等があげられるが、 特に これらに限定されない。
本発明の組成物は、 それぞれの最終用途に適合するために、 本発明の感光性ポ リイミドに光増感剤を付与してパターン解像の感度を高めることができる。 この 光增感剤としては、 特に限定されないが、 例えば、 ミヒラーケトン、 ベンゾイン エーテル、 2—メチルアントラキノン、 ベンゾフエノン等が用いられる。 さらに、 通常の感光性ポリイミドの中に添加される改質剤、 例えば、 カップリング剤、 可 塑剤、 膜形成樹脂、 界面活性剤、 安定剤、 スペクトル感度調節剤等を添加しても よい。
上記した本発明の組成物を基板上に塗布し、 7 0〜1 1 0 °Cに加熱して膜状に した後、 パターンマスクを介して光照射し、 アルカリ溶液中に漬けて現像するこ とにより、 ポリイミ ドから成るネガ型画像を形成することができる。 さらに、 得 られたネガ型画像を水洗し、 2 5 0 °C以下で熱処理してネガ型画像を形成したポ リイミド絶縁膜とすることができる。
以下、 ネガ型画像の形成方法についてさらに説明する。
溶液の形態にある本発明の感光性ポリイミド組成物を基材上に塗布し、 乾燥し、 選択露光し、 現像することにより、 基材上に任意のパターンを有するポリイミド 膜を形成することができる。 あるいは、 ポリイミド組成物から押出し法等の常法 によりポリイミ ドフィルムを形成し、 これを基材上に接着し、 選択露光し、 現像 することによつても、 基材上に任意のパターンを有するポリイミド膜を形成する ことができる。 このようなポリイミ ド膜は、 耐熱性及び絶縁性を有するので、 半 導体装置等の絶縁膜又は誘電層としてそのまま利用することができるし、 また、 基材を選択露光するためのフ才トレジストとして利用することもできる。
本発明の感光性ポリイミ ドが使用される基材としては、 半導体ディスク、 シリ コンウェハー、 ゲルマニウム、 ガリウム砒素、 ガラス、 セラミック, 銅箔、 プリ ン卜基板等を例示することができる。
被覆は、 通常、 浸漬、 噴霧、 ロール塗り、 又はスピンコーティング等の方法に よって行われる。 また、 接着フィルムは、 通常熱圧着することによって、 均一な 被膜製品とすることができる。 これらの方法によって、 本発明の感光性ポリイミ ドは、 0 . 1乃至 2 0 0ミクロンの厚さを有する塗膜層、 及びレリーフ構造を作 るのに有効に使用できる。
多層回路における薄膜は、 例えば一時の間に合わせ用のフォ卜レジストとして、 または絶縁膜層もしくは誘電層として使用される場合、 厚さは 0 . 1乃至 5ミク ロン程度が好ましい。 厚い層、 例えば、 不動層としての使用のためには、 半導体 記憶要素をアルファ一放射線から保護するために 1 0〜 2 0 0ミクロンの厚さを 有することが好ましい。
感光性ポリイミドを基材に塗布した後、 これを 7 0乃至 1 2 0 °Cの温度範囲で 予備乾燥することが好ましい。 この場合、 オーブン又は加熱プレートが使用され るが、 赤外線ヒーターによる加熱が望ましい。 この場合の乾燥時間は、 5〜2 0 分間程度でよい。
この後、 感光性ポリイミド層は、 輻射を受ける。 普通の場合、 紫外線が用いら れるが、 高エネルギー放射線、 例えば、 X線または電子ビーム或いは超高圧水銀 灯の高出力発振線等を使用することもできる。 照射又は露光はマスクを介して行 うが、 輻射線ビームを感光性ポリイミド層の表面に当てることもできる。 普通、 輻射は、 2 5 0〜 4 5 0 n m、 好ましくは 3 0 0〜 4 0 0 n mの範囲における波 長を発する紫外線ランプを用いて行われる。 露光は単色、 又は多色的な方法を用 いても良い。 市販で入手できる輻射装置、 例えば接触および層間露光器、 走査投 光型装置、 またはウェハーステッパーを使用することが望ましい。
露光後、 パターンはフォトレジスト層の照射域を、 アルカリ水溶液性の現像液 で感光性層を処理することにより、 照射域の部分を取り除く事ができる。 これら 処理は、 例えば、 浸潰するか又は加圧噴霧することによリ基材の露光部分を溶出 させることによって可能となる。 現像液として用いるアル力リとしては、 特に限 定されないが、 アミノエタノ一ルのようなァミノアルコール、 メチルモルホリン、 水酸化カリウム、 水酸化ナトリウム、 炭酸ナトリウム、 ジメチルアミノエタノ一 ル、 水酸化テトラメチルアンモニゥム等を挙げることができ、 また、 これらのァ ルカリ現像液中の濃度は、 特に限定されないが、 通常 3 0〜5重量%程度である。 このアル力リ水溶液は N M Pのような極性溶媒を加えて現像速度を加速すること ができる。
これらの現像時間は、 露光エネルギー、 現像液の強さ、 現像の形式、 予備乾燥 温度、 及び現像剤の処理温度等に依存する。 一般には、 浸漬現像においては、 2 — 2 0分間程度であり、 噴霧現像処理では 1 —1 0分間程度である。 現像は、 不 活性溶剤、 例えばイソプロパノール、 又は脱イオン水中への浸漬又はそれらの噴 霧によって停止される。
本発明のネガ型感光性ポリイミド組成物を用い、 0 . 5〜2 0 0ミクロンの層 の厚さを有するポリイミ ド被膜、 及び鋭い輪郭のつけられたレリーフ構造を作る ことができる。
本発明の組成物中のポリイミ ドは、 完全な線状ポリイミドから出来ているため 水や熱に対して変化せず、 保存安定性が良い。 従って、 感光性フィルムとして使 用可能である。 また、 パターンの現像後は、 従来のポリアミック酸分子のような ポス卜ベーク温度 2 5 0〜 4 5 0 °Cの加熱処理は必要でなく、 1 6 0〜2 5 0 °C の加熱乾燥によって、 溶剤を飛散させるだけでよい。 また、 パターン形成後のポ リイミ ド膜は、 強靭で高温度耐熱性、 機械的特性に優れている。
本発明のポリイミ ド溶液組成にラジカル重合するォレフイン化合物を添加して、 ネガ型画像を形成することができる。
ポリイミ ド溶液組成物にォレフィン化合物、 ラジカル発生剤を混合し、 パター ンマスクを通して光照射する。 発生した遊離ラジカルによって、 ォレフィン化合 物がラジカル重合体となりポリイミ ドと共存して、 アルカリ現像液に対する溶解 性を減少し、 ネガ型画像を形成する。
ポリイミド溶液組成物によるネガ型画像の形成について考察する。
従来法によるネガ型画像は、 酸ジ無水物と芳香族ジァミンとを無水の条件下、 極 性溶媒中低温で反応させて高分子量のポリアミック酸溶液を調整する。 ポリアミ ック酸は、 水の添加や加熱によって容易に分解する。 また、 アルカリ性水溶液で 分解が促進される。 ポリアミック酸の品質保証は、 一般的に固有粘度によって規 定しているが、 ポリアミック酸の特性表示としては不十分で、 再現性が困難であ る。 G P Cによる分子量、 分子量分布の測定を試みてもポリアミック酸組成が変 化するため一般には採用できない。 この不安定なポリアミック酸のメタァクリル 酸エステルを作り、 ラジカル重合してアルカリ溶液に難溶としてネガ型画像を形 成する。
本発明のポリイミド溶液組成物によるネガ型画像の形成法は、 酸ジ無水物と芳 香族ジァミンとを極性溶媒中、 触媒の存在下で重縮合して、 直接ポリイミド組成 物にすることに特徴がある。 保存安定性が良く、 水の添加や加温のよってポリイ ミ ド分子は分解しない。 また、 分子間の交換反応は行われない。 したがって、 G P Cの測定によってポリイミドの分子量、 分子量分布の測定が行われ、 再現性よ くポリイミ ドの製造が可能となり、 品質の保証が行われるという利点がある。 多成分系のポリイミドを合成する場合は、 ポリアミック酸では分子間交換反応 のためランダム共重合体となり、 ポリイミ ド分子の改質が困難である。 本発明の 方法による直接イミ ド化反応を採用すると、 逐次添加方法によって、 ブロック共 重合ポリイミ ドとなりポリイミ ドの改質が容易となる。
反応形式を下記チヤ一卜に示す。
チヤ—卜
酸ジ無水物
Figure imgf000016_0001
H2N— B广 NH2 ジァミン
縮合反応
Figure imgf000016_0002
アミド酸
分子間
交換反応
Figure imgf000016_0003
Figure imgf000016_0004
他方、 ポリイミ ド溶液組成物にラジカル発生剤、 好ましくはビス一ラジカル発 生剤を添加して、 光照射すると発生したラジカルがポリイミド分子間で架橋して 高分子化し、 アルカリ性溶液に対する溶解度を減少する。 従って、 露光マスクを 通して光照射すると非照射部のポリイミド層がアルカリ性溶液に溶解して、 ネガ 型画像を形成する。
また、 ポリイミ ド溶液組成物にォレフィン化合物一メタアクリル酸及びノ又は アクリル酸誘導体、 及ぴ 又はスチレン一を添加し、 ラジカル発生剤を加えて光 照射すると、 ォレフィン重合体が生成し、 ポリ.イミド分子と共存してアルカリ性 溶液に対する溶解度を減少する。 かくして、 ネガ型画像が形成される。 ォレフィ ン含有のポリイミ ド溶液組成物は、 ネガ型フォトレジストとして有用である。 し かし、 耐熱性絶縁膜として使用する場合は熱処理によってォレフィン化合物の除 去が必要であリ、 膜減りも大きい。
ラジカル発生剤によるネガ型画像を形成するポリイミド組成物は、
( 1 ) 一 N H―、 C H 3—, 一 C H 2—、 = C H—, 一 C O O H、 一O H 等の水素結合を有する化合物が容易にラジカル、 好ましくはビスラ ジカルによって架橋し、 高感度、 高解像度のネガ型画像を形成する。
( 2 ) ァミノ基の隣接した位置に、 メチル基、 ニトロ基トリフルォロメチ ル基を持つポリイミド、 電子吸引基 (ニトロ基、 カルポニル基、 ト リフルォロメチル基、 スルホン基) を持つポリイミド、 水酸基ゃォ キシアルボニル基を持つポリイミドはアル力リ性溶液に溶解し易い ため、 高感度、 高解像度のネガ型画像を形成する。
( 3 ) ポリイミド分子量及び分子量分布の影響がある。 分子量が大きいポ リイミ ドは、 アルカリ現像の時間が長いため低分子量のポリイミド が高感度である。 ポリスチレン換算の重量平均分子量が 5万以下特 に 3万以下では、 ポリイミド膜の絶縁性、 引っ張り強さ、 耐熱性に 乏しい。 絶縁膜として利用する場合、 ポリイミド組成物の重量平均 分子量は、 5万以上が好ましい。
また、 ポリイミ ド溶液組成物に光酸発生剤を添加し、 光照射するとポリイミ 1 フ
ド分子が切断され低分子量となり、 アルカリ性溶液に可溶となる。 従って、 露光 マスクを通して光照射することによって、 光照射部がアル力リ性溶液に溶解して ポジ型画像を形成する。
一般に、 ポリイミ ド組成物によるポジ型画像は短時間で現像される。 ポリイ ミド組成物によるネガ型画像は、 ポリイミド中に含有される不純物が少なく高純 度の絶縁膜を生ずる利点がある。
実施例に、 同一組成のポリイミド組成物を用いて、 ネガ型画像の形成、 ァク リル酸又はスチレン添加によるネガ型画像の形成、 光酸発生剤添加によるポジ型 画像の形成について比較する。
実施例
以下いくつかの実施例及び比較例をあげて本発明を詳しく説明する。 なお、 種 々の酸ジ無水物、 芳香族ジァミンの組み合わせによって、 特性のある感光性プロ ック共重合ポリイミドが得られるから、 本発明はこれらの実施例のみに限定され るのもではない。 ,
実施例 1
ステンレススチール製の碇型攪拌器を取り付けた 50 Om Iのセパラブル 3つ 口フラスコに、 水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取リ付けた。
3, 4, 3 '、 4' —ベンゾフエノンテトラカルボン酸ジ無水物 (以後 BT D Aという) 1 9. 33 g (60ミリモル) 、 2, 4—ジァミノ トルエン 3. 66 g (30ミリモル) 、 r—バレロラクトン 1. 2 g (1 2ミリモル) 、 ピリジン 1. 9 g (24ミリモル) 、 N—メチルピロリ ドン (以後 NM Pという) 1 50 g、 トルエン 50 gを仕込んだ。
室温で窒素雰囲気下、 1 80 r pmで 1時間攪拌した。 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 1時間撹拌した。 反応後、 トルエン一水の共沸分を除いた。
ついで、 3, 4, 3 '、 4 ' ービフエ二ルテ卜ラカルボン酸ジ無水物 (以後 B
PDAという) 1 7. 65 g (60ミリモル) 、 ビス {4— (4—ァモノフエノ キシ) フエ二ル} スルホン 1 2. 98 g (30ミリモル) 、 3, 4 '—ジァミノ ジフエニルエーテル 6. 01 g (30ミリモル) 、 ビス (3—アミノフエノキシ ) — 1, 4一ベンゼン 8. 77 g (30ミリモル) 、 NMP 97 g、 トルエン 3 0 gを加えた。
室温で窒素雰囲気下、 1 80 r pmで 0. 5時間攪拌した後、 1 80°Cに昇温 し、 1 80 r pmで 2時間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。 ついで、 NMP 1 03 gを加えた。
このようにして得られたポリイミド溶液のポリマー濃度は、 1 5重量%であつ た。 このポリイミドの分子量を、 高速液体クロマトグラフィー (東ソ一製品) で 測定したところ、 ポリスチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 25, 80 0、 重量平均分子量 (Mw) 84, 900、 Z平均分子量 (Mz) 225, 00 0、 Mw/M n =3. 29、 M z /M n = 8. 72であった。
実施例 2 感光性組成物の調製及び選択露光によるパターン形成
(1)感光性組成物の調製
感光性組成物は、 実施例 1のポリイミド溶液 (ポリイミド 1 5重量%) 20 g をとリ、 これにラジカル発生剤 2, 6—ビス (9—アジドベンジリデン) 一 4— メチルシクロへキサン (以後 BAC— Mという) (東洋合成工業株式会社製品) 0. 6 g (ポリイミ ド樹脂に対し 20重量%) を加え混合した。 この混合溶液を 0. 3ミクロン細孔径の濾過膜で濾過して製造した。
(2)画像形成
上記の感光性組成物を、 表面処理した直径 5 cmの銅箔 (三井金属鉱業株式会 社製品、 1 8ミクロン厚さ) の表面上に、 スピンコート法で塗布した。 ついで、 赤外線熱風乾燥機中で 90 °C1 0分間乾燥した。 この感光性膜の厚さは、 約 8ミ クロンであった。
この感光性塗布膜上に、 ネガ型フォトマスク用のテストパターン (1 5、 20、 25、 ■ ■ ■、 200ミクロンのスルーホール及びラインアンドスペースパター ン) を置き、 2 kw超高圧水銀灯照射装置 (オーク製作所製品: J P— 2000 G) を用いて、 画像が得られる露光量で照射した。 なお、 波長領域は 320〜3 90 nmで、 ピークは 360 nmであった (以下の実施例においても同じ) 。 現像液組成は、 アミノエタノール 30 g、 N—メチルピロリ ドン 30 g、 水 3 O gの混合液 (以後、 現像液: AOという) であった。 超音波洗浄器中に置かれ、 超音波振動を加えた AO液中に、 上記照射後の塗布膜を 40 °C、 20分間浸潰し た後、 脱イオン水で水洗し、 赤外線ランプで乾燥後、 解像度を観察した。 このポ リイミ ド塗布膜の 90°C、 30分間の乾燥処理におけるポリィミド膜厚は、 約 6 ミクロンであった。
このポリイミ ド塗布膜のスルーホールパターンは、 鋭く輪郭の丸みの切リロで 1 5ミクロン口径の孔が確認された。 ラインアンドスペースパターンでは、 1 5 ミクロンの線像が確認された。 このポリイミ ド膜は、 1 40°Cで 30分間、 及び 200°Cで 20分間赤外線乾燥機中で熱処理すると密着性の良い銅箔基板となつ た。
実施例 3
実施例 1のポリイミド溶液 20 gをとリ、 これにラジカル発生剤 BAC— MO. 6 gとエチレングリコールメタァクリレート (以後 EGMという) 0. 9 g (ポ リイミ ド樹脂に対し 30重量%) を加え混合する。 この混合溶液を 0. 3ミクロ ン細孔径の濾過膜で濾過して製造した。 実施例 2と同様にしてポリイミド塗布膜 のスルーホールパターンは、 鋭く輪郭切リロで 1 5ミクロン口径の孔が確認され た。 ラインアンドスペースパターンでは、 1 5ミクロンの線像が確認された。 実施例 4
実施例 1のポリイミド溶液 20 gをとリ、 これにラジカル発生剤 B AC— M0. 6 gとスチレンモノマー 0. 9 g (ポリイミド樹脂に対し 30重量%) を加え混 合する。 この混合溶液を 0. 3ミクロン細孔径の濾過膜で濾過して製造した。 実 施例 2と同様にしてポリイミド塗布膜のスルーホールパターンは、 鋭く輪郭切り 口で 1 5ミクロン口径の孔が確認された。 ラインアンドスペースパターンでは、 1 5ミクロンの線像が確認された。
比較例 1
実施例 1のポリイミド溶液 20 gをとリ、 これにポジ型感光剤としてラジカル 発生剤 NT— 200 (2, 3, 4一トリヒドロキシベンゾフエノンと 1 —ジァゾ —5, 6—ジヒドロ一 5—ォキソ一ナフタレンー1—スルホン酸の (モノートリ ) エステル (東洋合成工業株式会社製品) 0. 45 g (ポリイミド樹脂に対し 1 5重量%) と安息香酸イソプロピル 0. 45 g (ポリイミド樹脂に対し 1 5重量 %) を加え混合する。 この混合溶液を 0. 3ミクロン細孔径の濾過膜で濾過して 製造した。 実施例 2と同様にして、 このポリイミド塗布膜のスルーホールパター ンは、 鋭く輪郭切リロで 1 5ミクロン口径のポジ型感光性による孔が確認された。 上記実験条件及び実験結果をまとめて表 1に示す。
表 1 :ポリイミ ドレジストの実験条件及び実験結果
レジス卜
項目 実施例 2 室施你13 室 倾 4 比車父例 1
ポリイミ ド含有量 3 g r> a 3 g
ラ- カル発生剤 B A C— M R Δ c— M R A C— Μ
カ0雷 0 6 ε 0 6 0 6 e
添カロ斉 Ij F G M ス千レ N T— 200
添カロ雷 0 9 s 0 9 e 0. 45 g
プリべ一 9 Ω°Π 1 0分間 固左 同左
BalS. ( η ΓΓ ) 8 1 0 o 1 0
U V照射量 (m i ) 33 Ω 1 000 1 000 330
現像液 A 0 Δ n A 0
現像温度 45°C 4 R °C 45°C 40°C
現像時間 24分間 1 5リ分ノ J間 I J 20リ分ノ J間 IBJ 1 1分間
アフターへーク
: B |=&= 90°C 90°C 90°C 90°C
時 ISJ 30分間 1時間 45分間
Figure imgf000022_0001
分間
膜厚 (Aim) 6 7 6 /
解像度 (A«m) 1 5 1 5 20 1 5
ネガ型 ネガ型 ネガ型 ポジ型
◎ ◎ 〇 ◎
密着性 ◎ ◎ 〇 〇
解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 厶少し悪い
実施例 5
実施例 1 と同様に操作した。
BTDA 1 6. 1 1 g (50ミリモル) 、 2 4 ジァミノ トルエン 3. 00 g (25ミリモル) 、 r一バレロラク トン 1. 0 g (1 0ミリモル) 、 ピリジン 1. 6 g (20ミリモル) 、 NMP200 g、 トルエン 30 gを仕込んだ。 窒素雰囲気下、 1 80 »" 01で0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r p mで 1時間攪拌した。
室温に冷却した後、 B PDA 1 4. 71 g (50ミリモル) 、 2, 2—ビス { 4— (4一アミノフエノキシ) フエニルプロパン 205. 3 g (50ミリモル) 、 1, 4一ビス (3—アミノフエノキシ) ベンゼン 7. 31 g (25ミリモル) 、 NMP 1 80 g、 トルエン 20 gを加えた。
窒素雰囲気下で 1時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 1時 間 30分間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。 ついで、 1 80 °C、 1 00 r p mで 30分間攪拌した。
このようにして得られたポリイミド溶液のポリマー濃度は、 1 3重量%であつ た。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1と同様にして測定したところ、 ポリス チレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 33, 900、 重量平均分子量 (M w) 74, 500、 Z平均分子量 (Mz) 1 46, 000、 MwZMn = 2. 1 9、 M z/M n = 4. 31であった。
実施例 6
実施例 1と同様に操作した。
ビシクロ (2, 2, 2) —ォク i·一 7—ェン 2, 3, 5, 6—テトラカルボン 酸ジ無水物 (以後 BCDという) 9. 93 g (40ミリモル) 、 4, 4—ジアミ ノジフエ二ルェ一テル 1 2. 01 g (60ミリモル) 、 r—バレロラクトン 1. 0 g (1 0ミリモル) 、 N—メチルモルホリン 2. 0 g (20ミリモル) 、 NM P 1 50 g、 トルエン 20 gを仕込む。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。 窒素雰囲気下、 1 80「 1^で0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r p mで 1時間攪拌した。
室温に冷却した後、 B PDA 1 7. 65 g (60ミリモル) 、 3, 3 '—ジメ チル一 4, 4' —ジアミノビフエニル 4. 25 g (20ミリモル) 、 ビス ( 3— アミノフエノキシ) 1, 4—ベンゼン 6. 5 g (22. 5ミリモル) 、 NMP 1 00 g、 トルエン 40 gを加えた。
窒素雰囲気下で 1時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 1時 間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。 ついで、 フタル酸無水物 0. 74 g (5ミリモル) 、 NM P 1 5 gを加え、 1 80°C、 1 80 r pmで 7 0分間攪袢した。
このようにして得られたポリイミド溶液のポリマー濃度は、 1 5重量%であつ た。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリス チレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 23, 600、 重量平均分子量 (M w) 42, 900、 Z平均分子量 (Mz) 68, 200、 MwZMn = 1. 81、 Mz/Mn = 2. 89であった。
実施例 7
実施例 1 と同様に操作した。
BCD 1 9. 86 g (80ミリモル) 、 3, 4 '—ジアミノジフエニルエーテ ル 24. 02 g (1 20ミリモル) 、 r—バレロラクトン 2. 0 g (20ミリモ ル) 、 ピリジン 3. 2 g (40ミリモル) 、 NMP200 g、 トルエン 40 gを 仕込む。 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 1時間攪袢した後、 トルエン一水の 共沸分を除いた。
室温に冷却した後、 BTDA38. 67 g (1 20ミリモル) 、 ビス (3—ァ ミノフエノキシ) 一1, 3—ベンゼン 23. 38 g (80ミリモル) 、 NMP4 58 g、 トルエン 40 gを加えた。
窒素雰囲気下で 1時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 4時 間 20分間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリイミド溶液のポリマー濃度は、 1 3重量%であつ た。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリス チレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 84, 1 00、 重量平均分子量 (M w) 1 33, 600、 Z平均分子量 (M z) 200, 500、 Mw/M n = 1. 59、 MzZMn = 2. 38であった。
実施例 8
感光性組成物の調製及び選択露光によるパターン形成:実施例 2に準じて、 感光性組成物の調製及び画像形成を行った。 上記実験条件及び実験結果をまとめて表 2、 3に示す c
表 2 :ポリイミドレジス卜の実験条件及び実験結果
レジス卜
項目 実施例 5 実施例 6— 1 実施例 6— 2 ポリイミド含有量 3 g 3 g 3 g ラジカル発生剤 B AC-M B AC-M BAC— M 添加量 0. 6 g 0. 6 g 0. 6 g 添加剤 ― ― EGM
添加量 一 - 0. 9 g プリべーク 90°C8分間 90°C 1 0分間 90°C 1 0分間 厚 m) 1 0 1 0 1 0 UV照射量 (m j ) 700 1 000 1 000 現像液 AO AO AO 現像温度 42°C 43°C 45°C 現像時間 1 2分間 50分間 39分間 アフターベーク
前段温度 90°C 90°C 90°C
前段時間 30分間 30分間 30分間 後段温度 1 80°C
後段時間 30分間
膜厚 ( m) 8 7
解像度 (" m) 1 5 1 5 20
ネガ型 ネガ型 ネガ型
◎ ◎ 〇 密着性 ◎ ◎ 〇 解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 △少し悪い 表 3 :ポリイミ ドレジス卜の実験条件及び実験結果 レ z、 5八ス k「
I百日 ¾tfe-fB| 7-1 室 "fife佝 17—? し平乂 1ク1 J
ポリイ:: ド、含右晕 3 σ 3 σ
= ル 牛吝 II R A C— -M R Λ C— Μ
加暈 0 6 s 0 6 0 fi e 添カロ斉 lj EGA N T— 200 添 /ijft力□暈^. Ω 9 ε Π 6 s プリベークミnu /度 80°C 90°C 90°C プリベーク時間 1 0分間 1 Π分間 1 0分間
Figure imgf000026_0001
Μ \ 昭射畳 fm ί ) 500 500 300 王目 A Π Δ n 現像温度 45°C 45°C 40°C 現像時間 (分 Z秒) 1 2/00 1 5/00 9/30 ァフ々一べーク
前段温度 90°C 90°C 90°C 前 H'J段 B w^j間 \ \ 30分間 30分間 1時間 後段 rX / 庶 ( V,°c) ISO 180
後 間 45分間 3 u o分 J間 | J
腾匿 ( u m) 2 6 4 解像度 (Ai m) 20 30 1 5
ネガ型 ネガ型 ポジ型
〇 〇 ◎ 密着性 ◎ Δ 〇 解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 厶少し悪い
実施例 9
実施例 1 と同様に操作した c BCD 44. 67 g (1 80ミリモル) 、 3, 3 '一ジヒドロォキシ一 4, 4 —ジアミノビフエニール 1 9. 46 g (90ミリモル) 、 r—バレロラク トン 2. 7 g (27ミリモル) 、 ピリジン 4. 3 g (53ミリモル) 、 NMP250 g、 トルエン 30 gを仕込んだ。
窒素雰囲気下、 1 80 r pmで0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 1時間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
室温に冷却した後、 B PDA26. 48 g (90ミリモル) 、 3, 4 '—ジァ ミノジフエニルエーテル 1 8. 02 g (90ミリモル) 、 ビス- (3-アミノフエノ キシ) -1,4-ベンゼン 26. 31 g (90ミリモル) 、 "τ—バレロラクトン 251 g、 トルエン 40 gを加えた。
窒素雰囲気下で 1時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 1時 間 30分間攪拌、 ついで 1 00 r pmで 1時間 1 4分間攪袢した。 反応中、 トル ェン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリイミド溶液のポリマー濃度は、 20重量%であつ た。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリス チレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 26, 700、 重量平均分子量 (M w) 57, 900、 Z平均分子量 (Mz) 1 09, 000、 Mw/Mn = 2. 1 7、 M zZMn = 4. 09であった。
実施例 1 0
実施例 1 と同様に操作した。
ビエニルテトラカルボン酸ジ無水物 (以後 B PDAという) 1 1. 77 g (4 0ミリモル) 、 ビス (4—ァミノフエ二ル) フルオレン 20. 41 g (60ミリ モル) 、 r—バレロラクトン 1. 0 g (1 0ミリモル) 、 ピリジン 1. 6 g (2 0ミリモル) 、 NMP 1 34 g、 トルエン 20 gを仕込んだ。 1 80°C、 1 80 r pm, 1時間撹拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
室温に冷却した後、 2, 2—ビス (3, 4—ジカルボキシフエ二ル) 一 1, 1 , 1, 3, 3, 3—へキサフルォロプロパン (以後 6 FDAという) 26. 66 g (60ミリモル) 、 2, 2 '—ジメチルー 4, 4' —ジアミノビフエニル 4. 2 4 g (20ミリモル) 、 ビス (3—アミノー 4—ヒドロキシフエニル) へキサフ ルォロプロパン 7. 33 g (20ミリモル) 、 NMP 1 35 g、 トルエン 30 g を加えた。
窒素雰囲気下で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r p mで 2時間 45分間攪袢した。
このようにして得られたポリィミ ド溶液のポリマー濃度は、 20重量%であ つた。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 33, 700、 重量平均分子量 ( Mw) 74, 700、 Z平均分子量 (Mz) 1 28, 000、 Mw/Mn = 2. 21、 Mz/Mn = 3. 78であった。
実施例 1 1
実施例 1 と同様に操作した。
BTDA32. 23 g (1 00ミリモル) 、 2, 4—ジァミノ トルエン 6. 1 1 g (50ミリモル) 、 r一バレロラクトン 2. 0 g (20ミリモル) 、 ピリジ ン 3. 2 g (20ミリモル) 、 NMP 1 92 g、 トルエン 30 gを仕込んだ。 1 80°C、 1 80 r pm、 1時間撹拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除い 室温に冷却した後、 BPDA29. 42 g (1 00ミリモル) 、 3, 3 '—ジ ヒドロキシー 4, 4' —ジアミノビフエニル 1 0. 81 g (50ミリモル) 、 ビ ス (3—アミノフエノキシ)一1, 4一ベンゼン 1 4. 62 g (50ミリモル) 、 3, 4 'ージアミノジフエニルエーテル 1 0· CM g (50ミリモル) 、 NMP 1 92 g、 トルエン 30 gを加えた。
窒素雰囲気下で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 1時間攪拌した。 ついで、 1 80°C、 1 00 r pmで 45分間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリイミ ド溶液のポリマー濃度は、 20重量%であ つた。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 24, 600、 重量平均分子量 ( Mw) 79, 600、 Z平均分子量 (Mz) 21 2, 000、 MwZMn = 3. 24、 Mz/Mn = 8. 62であった。
実施例 1 2
実施例 1 と同様に操作した。
BTDA25. 78 g (80ミリモル) 、 2, 4—ジァミノ トルエン 4. 87 g (40ミリモル) 、 r—バレロラクトン" I . 6 g (16ミリモル) 、 ピリジン 2. 6 g (32ミリモル) 、 NMP267 g、 トルエン 60 gを仕込んだ。 1 8 0°C、 1 80 r pms 1時間撹拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。 '室温に冷却した後、 BPDA23. 54 g (80ミリモル) 、 3, 3 '—ジヒ ドロキシ一 4, 4' ージアミノビフエニル 8. 65 g (40ミリモル) 、 3, 4 '—ジアミノジフエニルエーテル 8. 01 g (40ミリモル) 、 ビス {4一 (4 —アミノフエノキシ) フエニル } スルホン 1 7. 3 g (40ミリモル) 、 NMP 200 g、 トルエン 50 gを加えた。
窒素雰囲気下で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 2時間攪拌した。 ついで、 NMP275 gを加え、 1 80°C、 l O O r pmで 2 時間 40分間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリイミド溶液のポリマー濃度は、 1 0重量%であ つた。 このポリイミ ドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 36, 500、 重量平均分子量 ( Mw) 1 98, 800、 Z平均分子量 (Mz) 283, 600、 Mw/Mn = 1 5. 4、 MzZMn = 1 6であった。
実施例 1 3
実施例 1 と同様に操作した。
ビシクロ (2, 2, 2) —ォク! ^一 2, 3, 5, 6—テトラカルボン酸ジ無水 物 (以後 BCDという) 29. 78 g (1 20ミリモル) 、 3, 3 '—ジヒドロ キシ一 4, 4 ' —ジアミノビフエニル 1 2. 97 g (60ミリモル) 、 バレ ロラクトン 1. 8 g (1 8ミリモル) 、 ピリジン 2. 9 g (36ミリモル) 、 N MP 250 g, トルエン 30 gを仕込んだ。 1 80°C、 1 80 r p m、 1時間撹 拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
室温に冷却した後、 BPDA1 7. 65 g (60ミリモル) 、 ビス {4— (3 —アミノフエノキシ) フエ二ル} スルホン 25. 95 g (60ミリモル) 、 2, 2—ビス {4— (4—アミノフエノキシ) フエニル } プロパン 24. 63 g (6 0ミリモル) 、 NMP226 g、 トルエン 30 gを加えた。
窒素雰囲気下で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 3時間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリイミ ド溶液のポリマー濃度は、 1 8重量%であ つた。 このポリイミ ドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 26, 300、 重量平均分子量 ( Mw) 44, 200、 Z平均分子量 (M z ) 66, 000、 Mw/M n = 1. 6 8、 MzZMn = 2. 50であった。
実施例 1 4
感光性組成物の調製及び選択露光によるパターン形成:実施例 2に準じて、 感光性組成物の調製及び画像形成を行った。
上記実験条件及び実験結果をまとめて表 4、 表 5、 表 6、 表 7に示す。
3 O
表 4 :ポリイミ ドレジス卜の実験条件及び実験結
レジス卜
項目 実施例 9 比較例 3 実施例 1 0— 1 ポリイミド含有量 3 g 3 g 3 g ラジカル発生剤 B AC- B AC-M 添加量 0. 6 g 0. 6 g 添加剤 ― NT— 200 ― 添加量 ― 0. 45 g ― プリべーク 90°C1 0分間 90°C1 0分間 90°C1 0分間 膜厚 (^m) 9 1 2 8 U V照射量 (m j ) 700 300 330 現像液 AO A 0 AO 現像温度 43°C 40°C 44°C 現像時間 (分 Z秒) 1 0ノ00 2/20 1 5/00 アフターベーク 前段温度 90°C 90°C 90°C 前段時間 30分間 30分間 30分間 後段温度 1 80°C
後段時間 30分間
膜厚 (Aim) 6 1 0 6 解像度 ( um) 1 5 1 5 1 5 ネガ型 ポジ型 ネガ型 © ◎ ◎ 密着性 ◎ ◎ 〇 解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 △少し悪い 表 5 :ポリイミ ドレジス卜の実験条件及び実験結果 レジス卜
項目 実施例 1 0—2実施例 1 1—1 実施例 1 1—2 ポリイミド含有量 3 g 3 g 3 g ラジカル発生剤 B AC-M B AC-M B AC-M 添加量 0. 6 g 0. 6 g 0. 6 g 添加剤 EGA ― EGA 添加量 0. 9 g ― 0. 9 g プリべーク 90°C1 0分間 90 °C 1 0分間 9 0°C1 0分間 膜厚 (; um) 8 1 0 1 5 U V照射量 (m j ) 1 000 1 000 1 000 現像液 A 0 AO AO 現像温度 45°C 45°C 40°C 現像時間 (分 秒) 1 9 00 1 0/00 9/00 アフターベーク
前段温度 90°C 90°C 90°C 前段時間 30分間 30分間 30分間
"^段/皿 &■ 1 80°C
後段時間 3時間
膜厚 ( um) 6 8 7 解像度 ( m) 1 5 1 5 1 5 ネガ型 ネガ型 ネガ型 〇 ◎ ◎ 密着性 〇 Δ ◎ 解像度、 密着性: ©非常に良い、 〇良い、 厶少し悪い 表 6 :ポリイミ ドレジス卜の実験条件及び実験
レジス卜
項目 比較例 4 実施例 1 2—
ポリイミド含有量 3 g 3 g
ラジカル発生剤 B AC-M
添加量 0. 6 g
添加剤 PC— 5
添加量 0. 6 g
プリべーク 90°C1 0分間 90°C1 0分間
膜厚 ( m) 1 0 1 0
U V照射量 (m j ) 1 000 1 000
現像液 A 0 AO
現像温度 40°C 46°C
現像時間 (分 秒) 1 0/00 1 4 00
アフターべ一ク
前段温度 90°C 90°C
前段時間 30分間 30分間
後段温度 1 80°C 1 80°C
後段時間 30分間 30分間
膜厚 ( um) 8 23
解像度 ( m) 1 5 7
ポジ型 ネガ型
〇 ◎
密着性 Δ ◎
解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 △少し悪い
PC— 5 : 1 , 2—ナフトキノン一 2—ジアジドー 5—スルホン酸パラクレゾ- ルエステル (ポジ型感光性材料) 表 7 :ポリイミ ドレジス卜の実験条件及び実験結果
レジス卜
項目 比較例 5 実施例 1 3— 1 比較例 6
ポリイミド含有 j 3 g 3 g 3 g
ラジカル発生剤 ― B AC-M
添加量 一 0. 6 g
添加剤 PC- 5 ― PC— 5
添加量 0. 6 g ― 0. 6 g
プリべーク 90°C1 0分間 90 °C 1 0分間 90 °C 1 0分間 膜 、μ m 25 33 27
U V照射 (m j ) 300 1 000 1 000
現像液 A 0 A 0 AO
現像温度 40°C 43°C 40°C
現像時間 (分 秒) 4/00 7ノ 51 4/00
アフターベーク
前段温度 90。C 90°C 90°C
前段時間 1時間 1時間 1時間
膜厚 (jum) 20 1 3 23
解像度 (" m) 1 5 1 5 1 5
ポジ型 ネガ型 ポジ型
◎ ◎ ◎
密着性 〇 ◎ ◎
解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 △少し悪い 実施例 1 5
実施例 1 と同様に操作した。
BTDA32. 23 g (1 00ミリモル) 、 2, 4—ジァミノ トルエン 6. 1 1 g (50ミリモル) 、 r一バレロラクトン 1. 5 g (1 5ミリモル)、 ピリジ ン 2. 4 g (30ミリモル) 、 NMP21 8 g、 トルエン 30 gを仕込んだ。 1 80°C、 1 80 r pm、 1時間撹拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除い た。
室温に冷却した後、 B PDA 1 4. 71 g (50ミリモル) 、 2, 4ージアミ ノ安息香酸 7. 61 g (20ミリモル) 、 ビス {4一 (3—アミノフエノキシ) フエ二ル} スルホン 21. 63 g (50ミリモル) 、 NM P 21 8 g、 トルエン 30 gを加えた。
窒素雰囲気下で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 1時間攪拌した。 ついで、 1 80°C、 1 00 r pmで 4時間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリイミド溶液のポリマー濃度は、 20重量%であ つた。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 30, 900、 重量平均分子量 ( Mw) 93, 800、 Z平均分子量 (Mz) 230、 000、 Mw/Mn = 3. 04、 MzZMn = 7. 45であった。
実施例 1 6
実施例 1と同様に操作した。
BCD 29. 79 g (1 20ミリモル) 、 2, 4ージァミノ安息香酸 9. 1 3 g (60ミリモル) 、 r一バレロラクトン 2. 4 g (24ミリモル) 、 ピリジン 3. 84 g (48ミリモル) 、 NMP21 5 g、 トルエン 30 gを仕込んだ。 1 80°C、 1 80 r pm, 1時間撹拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除い た。
室温に冷却した後、 B PDA35. 31 g (1 20ミリモル) 、 1, 3— (3 一アミノフエノキシ) ベンゼン 1 7. 54 g (60ミリモル) 、 3, 4 '一ジァ ミノジフエ二ルェ一テル 24. 02 g (1 20ミリモル) 、 NMP21 4 g、 ト ルェン 30 gを加えた。
窒素雰囲気下で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 3時間攪拌した。 ついで、 1 80°C、 1 00 r pmで 50分間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリイミ ド溶液のポリマー濃度は、 20重量0 /0であ つた。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 34, 000、 重量平均分子量 ( Mw) 63, 200、 Z平均分子量 (M z ) 1 04、 000、 MwZM n = 1. 86、 z/Mn = 3. 05であった。
実施例 1 7
実施例 1 と同様に操作した。
BTDA 1 2. 89 g (40ミリモル) 、 ビス {4_ (3—アミノフエノキシ ) フエ二ル} スルホン 8. 65 g (20ミリモル) 2, 4—ジァミノ トルエン 6. 1 1 g (50ミリモル) 、 r一バレロラクトン 0. 8 g (8ミリモル) 、 ピリジ ン 1. 3 g (1 6ミリモル) 、 NMP 1 95 g、 トルエン 30 gを仕込んだ。 1 80°C、 1 80 r pm、 1時間撹拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除い た。
室温に冷却した後、 BPDA1 1. 77 g (40ミリモル) 、 2, 4—ジアミ ノ安息香酸 3· 04 g (20ミリモル) 、 ビス一 1, 4一 (3—アミノフエノキ シ) 一ェンゼン 5. 85 g (20ミリモル) 、 3, 4 'ージアミノジフエニルェ 一テル 4. 00 g (20ミリミル) 、 NMP1 95、 トルエン 20 gを加えた。 窒素雰囲気下で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 2時間 45分間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。 反応後、 N MPを 41 g加えた。
このようにして得られたポリイミ ド溶液のポリマー濃度は、 1 0重量%であ つた。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1 と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 25, 900、 重量平均分子量 ( Mw) 72, 300、 Z平均分子量 (Mz) 1 60, 400、 Mw/Mn = 2. 79、 MzZMn = 6. 1 9であった。
実施例 1 8
実施例 1 と同様に操作した。 4, 4 '― {2, 2, 2—トリフルオロー 1 — (トリフルォロメチル) ェチリ デン } ビス 1, 2—ベンゼンジカルボン酸ジ無水物 44. 43 g (1 00ミリモ ル) 、 (3—アミノー 4ーヒドロキシフエニル) へキサフルォロプロパン 36.
63 g (1 00ミリモル) 、 一バレロラクトン 1. 0 g (1 0ミリモル) 、 ピ リジン 1. 6 g (20ミリモル) 、 NMP 31 2 g、 トルエン 50 gを仕込む。 窒素雰囲気下で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 6 時間 1 0分間攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリイミド溶液のポリマ一濃度は、 20重量%であ つた。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 56, 800、 重量平均分子量 (
Mw) 1 70, 000、 Z平均分子量 (M z) 307, 000、 Mw/Mn = 2.
99、 M z/M n = 5. 40であった。
実施例 1 9
実施例 1と同様に操作した。
4, 4 '一 {2, 2, 2—トリフルオロー 1 — (卜リフルォロメチル) ェチリ デン } ビス 1, 2—ベンゼンジカルポン酸ジ無水物 44. 43 g (1 00ミリモ ル) 、 (3—アミノー 4—ヒドロキシフエニル) へキサフルォロプロパン 1 8.
31 g (50ミリモル) 4, 4—ジアミノジフエニルエーテル 1 0. 01 g (5
0ミリモル) 、 r—バレロラクトン 1. O g (1 0ミリモル) 、 ピリジン 1 . 6 g (20ミリモル) 、 NMP277 g、 トルエン 50 gを仕込む。 窒素雰囲気下 で 0. 5時間室温で攪拌後、 1 80°Cに昇温し、 1 80 r pmで 3時間 25分間 攪拌した。 反応中、 トルエン一水の共沸分を除いた。
このようにして得られたポリィミド溶液のポリマ一濃度は、 20重量%であ つた。 このポリイミドの分子量を、 実施例 1と同様にして測定したところ、 ポリ スチレン換算分子量は、 数平均分子量 (Mn) 28, 300、 重量平均分子量 (
Mw) 77, 500、 Z平均分子量 (Mz) 1 37, 700、 Mw/Mn = 2.
74、 MzZM n = 4. 86であった。
実施例 20 感光性組成物の調製及び選択露光によるパターン形成:実施例 2に準じて、 感光性組成物の調製及び画像形成を行った。
上記実験条件及び実験結果をまとめて表 8、 表 9、 表 1 0、 表 1 1に示す。 表 8 :ポリイミ ドレジス卜の実験条件及び実験結果
レジス卜
項目 実施例 15-1 比較例 7 実施例 16-1 実施例 16 - 2 ポリイミド含有量 3 g 3 g 3 g 3g
ラジカル発生剤 B AC-M B AC-M B AC-M
添加量 0. 6 g 0. 6 g 0. 6 g
添加剤 PC— 5 スチレン
添加量 0. 6 g 0. 9 g
プリべーク 90°C10分間 90°C10分間 90°C10分間 90°C10分間
膜厚 (Aim) 12 17 10 10
U V照射量 (m j ) 700 330 660 1000
現像液 A 0 A 0 A 0 A 0
現像温度 43°C 40°C 40°C 41 °C
現像時間 (分 秒) 3/00 2/00 4/00 6/00
アフターベーク
前段温度 90°C 90°C 90°C 90°C
前段時間 1時間 1時間 1時間 2時間 後段温度 150°C 150°C 180°C
後段時間 30分間 30分間 30分間
膜厚 ( m) 7 14 3 6
解像度 ( m) 15 15 15 15
ネガ型 ポジ型 ネガ型 ネガ型
〇 ◎ 〇 ◎ 密着性 〇 ◎ Δ 〇
解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 △少し悪い 表 9 :ポリイミ ドレジス卜の実験条件及び実験結果
レジス卜
項目 比較例 8 実施例 17-1実施例 17 - 2 実施例 17 - 3 ポリイミ ド含有量 3 g 3 3 g 3g ラジカル発生剤 B AC— Μ B AC— M B AC— M 添加量 06 ε 0.6g 0.6g 添加剤 PC— 5 EGA スチレン 添カロ: H 0.6g 0. 9 g 0. 9 g プリべーク 90°C10分間 90°C10分間 90°C10分間 90°C10分間 膜厚 (" m) 10 10 8 8
U V照射量 (m j ) 600 600 330 330 現像液 AO A 0 AO AO 現像温度 41 °C 41 °C 41 °C 42°C 現像時間 (分 秒) 4/00 5Z10 2/35 3/30 アフターベーク
前段温度 90°C 90°C 90°C 90°C 前段時間 1時間 30分間 2時間 2時間 後段温度 180°C
後段時間 30分間
膜厚 ( m) 7 4 2 2 解像度 (Aim) 15 15 15 15 ポジ型 ネガ型 ネガ型 ネガ型
◎ ◎ 〇 〇 密着性 ◎ ◎ 〇 〇 解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 △少し悪い 表 1 0 :ポリイミドレジス卜の実験条件及び実験結
レジス、ト
項目 比較例 9 実施例 18-1 実施例 18-2 寧施例 18— 3 ポリイミド含有量 3 g 3 g 3 g 3g ラジカル発生剤 B AC— M B AC— M B AC-M 添加剤 N T -200 ― EGA スチレン 添加量 0.6g 0.9g 0.9g プリべーク 90°C10分間 90°C10分間 90°C10分間 90°C10分間 腾厦 ( u m) 3 4 8 8
U v昭射鼉 Cm ί、 330 600 330 1000 現像液 AO ΤΜΑΗ5% ΤΜΑΗ5% ΤΜΑΗ5%
現像温度 40°C 30°C 37 C 28°C 現像時間 (分 秒) 1/15 0/30 0Z70 1/55 アフターベーク 前段温度 90°C 90°C 90°C 90°C 前段時間 30分間 30分間 2時間 3分間
150°C 150°C 180°C 後段時間 30分間 30分間 3時間 膜厚 ( um) 2 1 2 3 解像度 ( um) 15 15 25 15
ポジ型 ネガ型 ネガ型 ネガ型
◎ 〇 △ 〇 密着性 ◎ 厶 厶 〇 解像度、 密着性:◎非常に良い.、 〇良い、 △少し悪い
TMAH 5% :テトラメチルァンモニゥム水酸化物 5 %水溶液 表 1 1 :ポリイミドレジス卜の実験条件及び実験結果
レ ス卜
I買目 比較例 10 実施例 19 - 1 t卜 糊 1 1 ポリ ι ミドι '含倉 π鼋 "^Ε· 3 s 3 σ 3 a
s
ジカル癸牛斉 Ij B A C—
添加量 0' 6 w s σ
添カロ斉 |J p C— 5 p C— 5
)恭カ π暈 0 6 °- 0. 6 g
プリべ—ク 90°C10 、間 90°C10分間 90 C10分間
膜厚 ( " m) 8 10 9
U V PS射暈 (m i ) 330 330 330
現像液 TMAH5% TMAH5% TMAH5%
I 像^度 33°C 40°C 35°C
現像時間 (分/秒) 0/50 14Z15 8 Z01
アフターベーク
前段温度 90°C 90°C 90°C
前段時間 30分 J間 |t=*J 30分間 30分間
後 1 段1 P /潟度 180°C 180°C 180°C
後段時間 30分間 30分間 30分 J間 1 »J
膜厚 (" m) 10 3 6
解像度 (ju m) 4 20 15
ポジ型 ネガ型 ポジ型
◎ 厶 ◎
密着性 ◎ △ ◎
解像度、 密着性:◎非常に良い、 〇良い、 Δ少し悪い
産業上の利用可能性
本発明によれば、 ポリイミ ド溶液組成物にラジカル発生剤を加え、 パターン を通して光照射することにより、 ネガ型画像を形成することができる。 この際、 ポリイミド溶液組成物に、 ォレフィン系化合物とラジカル発生剤を添加して光照 射してもネガ型画像を形成することができる。 ポリイミド溶液組成物は、 酸触媒 によるブロック共重合法を採用して、 ポリイミド分子を多成分系にすることによ リ、 高度の画像解像能と共に、 接着性、 耐熱性、 低誘電性などの特性を付与する ことができる。 本発明のネガ型感光性共重合ポリイミドは、 半導体や電子部品等 の製造分野に幅広く利用することができる。

Claims

請求の範囲
1 . 光ラジカル発生剤と、 該光ラジカル発生剤の存在下においてネガ型感光性 を示す溶剤可溶ポリィミドとを含むネガ型感光性ポリィミド組成物。
2 . 前記ポリイミ ドは、 酸触媒の存在下、 有機極性溶媒中酸ジ無水物と芳香族 ジァミンの重縮合により生成したものであり、 該有機極性溶媒を前記組成物の溶 媒として含む請求項 1記載の組成物。
3 . 前記酸触媒は、 ラクトン及び塩基よりなる触媒であって、 前記ポリイミド は、 反応中に生成する水をトルエン又はキシレンの共沸によって反応系外に除い て得られたものである請求項 2記載の組成物。
4 . 前記有機極性溶媒は、 N—メチルピロリ ドン、 N, N—ジメチルホルムァ ミド、 N, N—ジメチルァセトアミド、 スルホラン及びテトラメチル尿素から成 る群より選ばれる少なくとも 1種であり、 前記ポリイミドが 5重量%以上溶解し た請求項 2記載の組成物。
5 . 前記ポリイミ ドは、 テトラカルボン酸ジ無水物と芳香族ジァミンのいずれ かの成分を多量にして、 ポリイミドオリゴマーとし、 ついで芳香族ジァミン又は κ及びテトラカルボン酸ジ無水物を加えて加熱、 脱水することによって生成した、 全芳香族ジァミンと全テトラカルボン酸ジ無水物のモル比が 1 . 0 5— 0 . 9 5 であるブロック共重合ポリイミ ドである請求項 1ないし 4のいずれか 1項に記載 の組成物。
6 . 前記ブロック共重合ポリイミ ドのポリスチレン換算の重量平均分子量が 3 万〜 4 0万である請求項 1ないし 5のいずれか 1項に記載の組成物。
7 . 前記光ラジカル発生剤が、 4, 4 ' —ジアジドスチルベン、 2, 6—ジ ( 4一アジドベンジリデン) シクロへキサン、 2, 6—ジ (4—アジドベンジリデ ン) ー4ーメ トキシシクロへキサン及び 4, 4 ' ージアジドー 3, 3 ' 一ジメ ト キシジフエニルから成る群より選ばれる少なくとも 1種である請求項 1ないし 5 のいずれか 1項に記載の組成物。
8 . ォレフィン化合物をさらに含む請求項 1〜 7のいずれか 1項に記載の組成 物。
9 . 前記ォレフィン化合物が、 (メタ) アクリル酸、 (メタ) アクリル酸エス テル、 (メタ) アクリル酸アミ ド及びスチレンから成る群より選ばれる少なくと も 1種である請求項 8記載の組成物。
1 0 . 請求項 1ないし 9のいずれか 1項に記載の組成物を基板上に塗布し、 7 0〜1 1 0 °Cに加熱して膜状にした後、 パターンマスクを介して光照射し、 アル カリ溶液中に漬けて現像してポリイミドから成るネガ型画像を形成することを含 む、 ネガ型画像の形成方法。
1 1 . 得られたネガ型画像を水洗し、 2 5 0 °C以下で熱処理してネガ型画像を 形成したポリイミド絶縁膜とすることをさらに含む請求項 1 0記載の方法。
1 2 . 前記アルカリ現像液が、 エタノールァミン及び 又はその誘導体を含む アルカリ溶液である請求項 1 0又は 1 1記載の方法。
1 3 . 前記アルカリ現像液が、 テトラメチルアンモニゥムヒドロォキシド及び 又は水酸化ナトリウムの水溶液である請求項 1 0又は 1 1記載の方法。
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