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TW527273B - Biaxially oriented polyester film and magnetic recording medium - Google Patents

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TW527273B
TW527273B TW89111333A TW89111333A TW527273B TW 527273 B TW527273 B TW 527273B TW 89111333 A TW89111333 A TW 89111333A TW 89111333 A TW89111333 A TW 89111333A TW 527273 B TW527273 B TW 527273B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
film
patent application
load
temperature
magnetic recording
Prior art date
Application number
TW89111333A
Other languages
English (en)
Inventor
Ieyasu Kobayashi
Toshifumi Osawa
Original Assignee
Teijin Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=26490899&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=TW527273(B) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Teijin Ltd filed Critical Teijin Ltd
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Publication of TW527273B publication Critical patent/TW527273B/zh

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Description

527273 A7 B7 五、發明説明(彳) 技術領域 本發明爲關於磁記錄媒體用,特別爲數位數據貯存帶用 雙軸配向聚酯薄膜,及以彼等作爲基底薄膜之磁記錄媒體。 先前之技術 聚酯薄膜因爲具有優良之熱、機械特性,故於磁記錄 媒體用、電絕緣用等廣泛領域中使用。磁記錄媒體,特別是 數據貯存用磁記錄媒體,隨著磁帶之高容量化、高密度化,而 伴隨著對於基底薄膜的特性要求嚴格。對於QIC、DLT、及 高容量超DLT、LT〇之採用線性循跡方式之數據貯存用磁 記錄媒體,爲了實現磁帶之高容量化,乃將軌跡齒距作成非常 狹窄,因此,若磁帶寬度方向發生標度變化,則引起軌跡不齊, 具有發生錯誤之問題。於此等標度變化上,有溫濕度變化所 造成者、及高張力下以高溫高濕狀態下重覆行走時所發生 之寬度方向的時效收縮者。此標度變化若大,則引起軌跡不 齊,並且發生電磁轉換時的錯誤,特S!J,後者之情況,於伴隨著 磁帶記錄高容量而令磁帶厚度變薄時變爲顯著,此標度變 化之改善乃成爲新的課題。此寬度方向之時效收縮,雖可令 基底薄膜之縱方向楊氏模量變大而加以改善,但另一方面由 聚合物特性及製膜性之觀點而言,若縱方向之楊氏模量愈大, 則橫方向之楊氏模量的上限變小,其結果,令前者之溫濕度變 化所造成的標度變化變大,其狀況爲難令兩者同時成立。 於特開平5 - 2 1 2 7 8 7號公報中,揭示縱方向之 楊氏模量(E Μ )及橫方向之楊氏模量(E T )分別爲 5 5 0 k g / m m 2以上及7 0 〇 k g / m m 2以上,兩楊 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
527273 A7 B7 五 '發明説明( 2 氏模量之比(E T / E Μ )爲1 · 1〜2 · 〇 ,7 0 °C相 對濕度爲6 5 %且無負重下保持1小時之縱方向的收縮率 爲0 . 0 2 %以下’縱方向之溫度膨脹率(α t )爲1〇 x 1 0 _ 6 / °C以下,縱方向之濕度膨脹係數(α h )爲 〇 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) %RH以下之雙軸配向聚乙烯一 2 ,6 萘二羧酸酯薄膜。 於國際公開W〇9 9/2 9 4 8 8號中,揭示橫方向 之熱膨脹係數a t ( X 1 〇 - 6 / t:)、橫方向之濕度膨脹 係數a h ( X 1 0 — 6 / % R Η )及縱方向負重時相對於該 負重之橫方向收縮率P ( p p m/ g )之間,成立下述式 {at + ah') 厚度未滿7 // m之雙軸配向聚酯薄膜。 發明之揭示 本發明之目的爲解決上述問題,並且提供特別作爲線 性循跡方式之數位數據貯存用磁記錄媒體之基底薄膜,難 因磁帶寬之標度變化所造成之軌跡不齊而發生錯誤,且可 令輸出功率特性提高之雙軸配向聚酯薄膜。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明之其他目的爲在於提供以本發明之雙軸配向聚 酯薄膜作爲基底薄膜之磁記錄媒體,特別爲數位數據貯存 用磁記錄媒體。 本發明之再其他目的及優點可由如下之說明而闡明。 若根據本發明,則本發明之上述目的及優點第一可藉由 (1 )於薄膜厚度方向之單位截面積每1 m m 2負以 2 · 7公斤負重且4 9 °C,9 0 % R Η下處理7 2小時, -5- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X 297公釐) 527273 A7 B7 ...... · ' ' ' .. - - _ _ — 1 — 丨_ ' """ 五、發明説明(3 ) 處理前後之薄膜面中,與上述負重負荷方向呈直角方向之 標度變化爲0 · 4 0 %以下, (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) (2 )結晶化度爲2 7〜4 5 %, (3 )於薄膜面中’與上述負重負荷方向呈直角方向 之溫度膨賬係數a t爲一 5x 1 〇- 6〜+2〇x 1 0_6/ °C之範圍,於薄膜面中’與上述負重負荷方向呈直角方向 之濕度膨脹係數a h爲+ 5 X 1 〇 - 6〜+ 2 0 X 1 0 一 6 / %RH之範圍且(a t + 2ah)之値爲+ 4 5x 1 0_6以 下, (4 )於薄膜面中’與上述負重負荷方向呈直角方向 之熱收縮率爲0〜0.7%之範圍,和 (5 )薄膜厚度爲3〜7 // m之範圍 爲其特徵之磁記錄媒體用雙軸配向聚酯薄膜而達成。 本發明之上述目的及優點第二可藉由本發明之雙軸配. 向聚酯薄膜及其單側表面上之磁性層所構成之磁記錄媒體 而達成。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖面之簡單說明 圖1爲測定薄膜橫方向之收縮率裝置之說明圖。 元件對照表 1:發光部,2:受光部,3:計測器LS-3100 4:類比器/數位轉換器HP3457A,5:個人電腦 6:光感應器,7 :玻璃板,8:自由滾筒,9:激光,1 〇:試料 1 1:自由滾筒,1 2:負重,1 3 :類比輸出功率 -6 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527273 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(4) 發明之較佳的實施態樣 聚酯— 本發明雙軸配向聚酯薄膜的素材聚酯’可列舉例如聚 對苯二甲酸乙二酯、聚間苯二甲酸乙二酯、聚對苯二甲酸 丁二酯、聚乙烯一 2,6 —萘二羧酸酯、聚乙烯一 ^,A 一雙(2 -氯苯氧基)乙烷一 4,4’ 一二羧酸酯及彼等 聚酯之重覆單位之二種以上所構成的共聚物等。其中以聚 對苯二甲酸乙二酯、聚乙烯一 2,6 —萘二羧酸酯、聚乙 烯一 α,0 —雙(2 —氯苯氧基)乙烷—4,4’ 一二羧 酸酯爲佳,且以聚乙烯一 2,6 -萘二羧酸酯爲特佳。 本發明之聚酯可爲先前所列舉之聚合物中之單獨一種 及二種以上之聚酯混合體。又,若爲不阻礙本發明效果之 範圍,則即使添加各種添加劑亦無妨。 前述聚酯於鄰-氯苯酚中之溶液型式之於3 5 °c下測 定的固有粘度較佳爲0 · 4〜〇 · 9,更佳爲〇 · 5〜 〇.7,特佳爲〇.51〜0.65。 表面粗度及添加粒子 本發明之雙軸配向聚酯薄膜可爲單層薄膜且亦可爲層 合薄膜。此些薄膜於設置磁性層側之表面粗度w R a (中 心面平均粗度)爲1〜1 Q n m,較佳爲2〜1 0 n m, 特別以2〜8 n m爲佳。且W R z ( 1 0點平均粗度)爲 30〜25〇nm,較佳爲3〇〜2〇〇nm,特別以 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) ------訂·---— II--線· (請先閱讀背面之注意事項再填iml頁) 527273 A7 B7 五、發明說明(5 ) 3 0〜1 5 0 nm爲佳。此表面粗度WR a若大於1〇 n m,或W R z若大於1 5 0 n m,則磁性層之表面變粗 ,且無法取得令人滿足的電磁轉換特性。另一方面,此表 面粗度WR a若未滿1 nm ’或WR z若未滿3 0 nm, 則表面過於平坦,令軌道滾筒或砑光機之滑動變差,發生 皺摺,使得磁性層無法塗佈、或者難架於砑光機上。 前述雙軸配向聚酯薄膜之非磁性層側(例如,背塗層 塗佈側)之表面粗度W R a (中心面平均粗度),W R z (1 0點平均粗度)爲單層薄膜時,與前述設置磁性層側 之表面粗度WRa、WRz爲實質上相同。此時,表面粗 度W R a、W R z之値爲選擇可滿足電磁轉換特性及行走 性。 又,於層合薄膜之情況中,非磁性層側之薄膜表面粗 度WRa (中心面平均粗度)爲5〜2 0 nm,較佳爲5 〜15nm,特別以8〜12nm爲佳。且WRz (10 點平均粗度)爲1〇0〜3 0 Onm,較佳爲1 〇〇〜 2 0 0,特別以1 5 0〜2〇〇n m爲佳。此表面粗度 WRa若大於20nm、或WRz若大於300nm,則 平坦層(磁性層)側表面之突起堆高,且磁帶捲取時表面 凹凸對於磁性層表面的轉印變大,磁性層面變粗,無法取 得可令人滿足的電磁轉換特性。另一方面,此表面粗度 WRa若未滿5 nm,或WR z若未滿1 〇 〇 nm,則薄 膜之滑動變差,或擠氣性變差,薄膜裂開時,發生縱皺褶 ,無法取得令人滿足的捲取性。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填頁: ΙΛ__^--------訂---------線* 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -8 - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527273 A7 _____ B7 五、發明說明(6) 前述之表面粗度WR a、WRz可藉由令薄膜中含有 惰性微粒子例如周期表第I I A、第I I B、第I V A、 第Γ V B元素之無機微粒子(例如,高嶺土、氧化鋁、氧 化鈦、碳酸鈣、二氧化矽等)、交聯聚矽氧烷樹脂、交聯 聚苯乙烯、交聯丙烯酸樹脂粒子等之耐熱性高之聚合物所 構成的微粒子等,或者以形成微細凹凸之表面處理劑例如 易滑塗劑之覆層處理則可調整。含有惰性微粒子時,微粒 子之平均粒徑較佳爲0 · 0 5〜〇 · 8 //m、更佳爲 0 · 1〜〇· 6//m、特佳爲〇· 1〜〇· 4#m。又, 其份量較佳爲0 · 00 1〜1 · 〇重量% (對聚合物)、 更佳爲0 · 01〜0 · 5重量% (對聚合物)、特佳爲 〇· 02〜0 · 3重量% (對聚合物)。薄膜中所含有之 惰性微粒子可爲單成分系及多成分系,但特別於非磁性層 側之聚合物中,由磁帶之電磁轉換特性及薄膜之捲取性兩 者成立而言,則以含有2成分系或其以上之多成分系之惰 性微粒子爲佳。薄膜表面之W R a和W R z可令微粒子之 平均粒徑、添加量由上述範圍中適當選擇而進行調整。又 ,W R z之調整較佳使用令微粒子之粒徑銳利,並且除去 粗大粒子之手段等進行調整。 · 本發明之雙軸配向聚酯薄膜可爲單層薄膜,且亦可爲 層合薄膜,但由磁帶之電磁轉換特性和薄膜之捲取性兩者 容易成立之觀點而言,則以層合薄膜爲更佳。此層合薄膜 可爲將二種以上之聚酯予以疊層者。尙,將二種以上之聚 酯疊層之層合薄膜的各層聚酯可爲相同或相異’但以相同 ---^------------------訂---------線 j (請先閱讀背面之注意事項再填 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格m〇 X 297公釐) -9- 527273 A7 B7 五、發明說明(7 ) 者爲較佳。 於本發明之雙軸配向聚酯薄膜中,爲了提高粘合性或 易滑性,亦包含於單面或兩面覆蓋塗佈層者。塗佈層例如 爲固形成分中含有50重量%以上之聚酯系、聚胺基甲酸 酯系或聚丙烯酸系之水性樹脂(例如水溶性樹脂、水分散 性樹脂等)爲佳。前述水性樹脂使用公知作爲形成塗膜的 水性樹脂。又,爲了提高易滑性’亦可於塗佈層中含有惰 性粒子。此惰性粒子可列舉例如膠體矽等無機粒子、或交 聯丙烯酸樹脂粒子、聚砂氧院樹脂粒子、聚苯乙烯粒子等 有機粒子◦其中,由耐削性之觀點而言’以有機粒子較無 機粒子爲佳。此粒子之平均粒徑較佳爲5〜1 0 0 n m ’ 更佳爲5〜5 0 nm,特佳爲5〜3 0 nm。粒子之含量 於塗劑固形成分中,較佳爲0 · 5〜4 0重量%,較佳爲 1〜3 0重量%,特佳爲5〜2 0重量%。粒子以接近球 形爲更佳。且粒徑亦以一致爲更佳。又’於塗佈層中期望 令固形成分中含有1〜3 0重量%,較佳爲5〜2 0重量 %,特佳爲5〜1 5重量%之界面活性劑。塗佈層之厚度 (固形成分)較佳爲1〜5 0 nm、更佳爲1〜3 0 nm 、特佳爲3〜2〇nm。 尙,塗佈層之形成可爲以聚酯薄膜之製膜工程予以單 軸延拉後塗佈、並在上述延拉方向呈直角方向上延拉時將 其乾燥形成之線上(丨n 1 i n e )塗佈方式,或者, 對雙軸配向薄膜塗佈之線外(0 f f 1 i n e )塗佈方 式均可,但由形成塗膜之觀點而言,則以線上塗佈方式爲 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -10^ 丨丨1!#.! (請先閱讀背面之注意事項再填: 訂· _ --線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527273 A7 B7 五、發明說明(8) 較佳。 (請先閲讀背面之注意事項再填 薄膜厚度 本發明之雙軸配向聚酯薄膜其薄膜令體厚度爲3〜7 //m,較佳爲4〜6//m。其厚度若超過7//m,則磁帶 厚度過厚,例如放入卡匣之磁帶長度變短,無法取得充分 的磁記錄容量。另一方面,未滿3 // m則薄膜厚度薄,因 而在薄膜製膜時多發生薄膜斷裂,且薄膜之捲取性不良, 無法取得良好之薄膜滾筒。 負重下溫濕度處理所造成之負重負荷方向呈直角方向的標 度變化 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明之雙軸配向聚酯薄膜爲在薄膜厚度方向之單位 截面積每1mm2負荷2 · 7公斤之負重且於4 9 °C,9〇 % R Η處理7 2小時,於處理前後之薄膜面中,與上述負 重負荷方向呈直角方向(寬度方向)之標度變化爲 〇· 4 0 %以下。標度變化較佳爲〇 · 3 5 %以下,特佳 爲0 · 3 %以下。此標度變化若大於〇 · 4 %,則在高張 力下且高溫高濕狀態下,令磁帶重覆行走時’於寬度方向 的標度變化變大,引起軌跡不齊,並發生記錄、放送之錯 誤。 結晶度 本發明雙軸配向聚酯薄膜之結晶度爲2 7〜4 5 %, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -11 - 527273 A7 B7 五、發明說明(9 ) ---^----------•丨· (請先閱讀背面之注意事項再填: 較佳爲3 0〜4 0 %,特佳爲3 0〜4 5 %。其結晶度若 未滿2 7 %,則前述縱方向負重所造成之寬度方向的標度 變化變大,且產生軌跡不齊,故爲不佳。另一方面,結晶 度若超過4 5 %,則隨著溫濕度變化而令可逆性的寬度方 向之標度變化變大,且產生軌跡不齊、故爲不佳。 熱收縮率 本發明之雙軸配向聚酯薄膜之上述寬度方向的熱收縮 率爲0〜0 · 7%,較佳爲0〜〇 · 5%,特佳爲0〜 〇· 3%。其熱收縮率爲0%以下時,薄膜成爲延拉方向 ,令薄膜起伏打浪,無法良好捲起,且於製膜工程等中發 生削落。另一方面,若超過0 · 7%,則寬度方向之標度 變化大,且發生軌跡不齊,故爲不佳。 線!· 膨脹係數 本發明之雙軸配向聚酯薄膜其薄膜面中之上述寬度方 向的溫度膨脹係數a t爲—5 X 1 0 — 6〜+ 2 0 X 1 〇 - 6 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 / °C之範圍,於薄膜面中,上述寬度方向的濕度膨脹係數 ah爲+ 5 X 1〇—6〜+ 2 〇x 1〇—6/%RH之範圍且 (at+2ah)之値爲+45χ10 6以下。(at+ 2 a h )之値較佳爲+ 4 0 X 1 0 — 6以下,且較佳爲 + 35\1〇一6以下。(“七+2“11)之値若大於 4 5 X 1 0 — 6,則溫濕度變化所造成之標度變化變大,引 起軌跡不齊,且發生記錄、放送之錯誤。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -12 · 527273 A7 B7 五、發明說明(i〇) 吸熱波峯 ---J----------_ (請先閱讀背面之注意事項再填 本發明之雙軸配向聚酯薄膜較佳爲在差示掃描型熱量 計(D S C )測定中,於1 2 0〜1 6 0 °C之溫度範圍中 具有0 · 0 5 m J / m g以上的熱量吸熱波峯。此吸熱波 峯若未滿0 · 0 5 m J / m g,則無法改良磁帶的蠕變, 於高張力下且高溫高濕狀態下重覆行走時,寬度方向之標 度變化變大,則引起軌跡不齊,發生記錄、放送之錯誤。 此吸熱波峯較佳顯示0 · 1 m J / m g以上,更佳爲 〇· 2mJ/mg以上之熱量。 楊系模量 -% 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明之雙軸配向聚酯薄膜於上述負重負荷方向(縱 方向)之楊系模量爲6 G P a以上,較佳爲.7 G P a以上 ,特佳爲8 G P a以上。縱方向之楊系模量若未滿6 G P a ,則磁帶的縱方向強度變弱,於記錄、放送時若在 縱方向加以強力,則容易斷裂。又,與上述負重負荷方向 呈直角方向(橫方向)之楊系模量爲4 G P a以上’較佳 爲5 G P a以上,特別以6 G P a以上爲佳。橫方向之楊 系模量若未滿4 G P a ,則作爲線性循跡方式之磁帶時’ 溫濕度變化時之寬度方向的標度變化變大’且因軌跡不齊 而發生記錄、放送之錯誤。 又,縱方向之楊系模量與橫方向之楊系模量之和爲 10〜20GPa ,且以12〜l6GPa爲佳。更且’ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) _ 13 - 527273 A7 B7 五、發明說明(11) 1!!!#.! (請先閱讀背面之注意事項再填: 供於作爲線性循跡方式之磁帶時’由縱方向之延伸不大之 觀點而言,較佳令縱方向之楊系模量大於橫方向之楊系模 量。縱方向之楊系模量與橫方向之楊系模量之和若未滿 1 0 G P a ,則磁帶之強度變弱,磁帶容易斷裂,且溫濕 度變化時之標度變化變大,因軌跡不齊而發生記錄、放送 之錯誤,無法取得令人滿足的高密度磁媒體。另一方面, 若超過2 0 G P a ,則薄膜製膜時之延拉倍率變高,且多 變生薄膜斷裂,令製品產率顯著變差。 製膜方法 本發明之雙軸配向聚酯薄膜較佳依下列方法製造。 單層薄膜之情況,令熔融聚酯由型板中壓出薄膜狀’ 且較佳在聚酯熔點(T m : °C )至(T m + 7 0 ) °C之溫 線 度下壓出,急冷固化作成未延拉薄膜,且再將該未延拉薄 膜於單軸方向(縱方向或橫方向)以(T g — 1 〇 )〜( T g + 7 0 ) T:之溫度(但,T g :聚酯之玻璃態化溫度 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 )下延拉至指定之倍率,其次與上述延拉方向呈直角方向 (第一段爲縱方向時,第二段爲橫方向)以T g〜(T g + 7 0 ) °C之溫度下延拉至指定之倍率,再使用熱處理方 法則可製造。此時延拉倍率、延拉溫度、熱處理條件等可 由上述薄膜之特性而選擇、決定。面積延拉倍率爲1 5〜 3 5倍,且以2 0〜3 0倍爲佳。熱固定溫度可由1 9 0 〜2 5 0 °C之範圍內決定、處理時間可由1〜6 0秒之範 圍內決定。 -14- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527273 A7 __B7 五、發明說明(12) 除了此類逐次雙軸延拉法以外,亦可使用同時雙軸延 拉法。又,於逐次雙軸延拉法中,縱方向、橫方向之延拉 次數並非限於1次’可將縱、橫延拉進行數次之延拉處理 ,且其次數並無限定。例如,於欲提高機械特性之情形中 ,對於熱固定處理前之上述雙軸延拉薄膜可在(τ g + 20)〜(Tg + 7 0) °C之溫度下進行熱處理,並再於 局於此熱處理溫度1 0〜4 0 °C下,於縱方向或橫方向上 延拉,其後再於高於此延拉溫度2 0〜5 0。(:之溫度下, 於橫方向或縱方向上延拉,令縱方向之總延拉倍率爲 4 · 0〜6 · 0倍,橫方向之總延拉倍率爲3 · 〇〜 6 . 0倍爲佳。 依據共同擠壓法製造層合薄膜時,將二種以上之熔融 聚酯於型板內疊層後壓出薄膜狀,且較佳以各聚酯熔點( Tm : °C)至(Tm+7〇) °c之溫度下壓出,或者將二 種以上之熔融聚酯由型板內壓出後予以疊層,急冷固化作 成層合未延拉薄膜,其次以單層薄膜之相同方法、條件, 進行雙軸延拉、熱處理作成層合雙軸配向薄膜。 又’依據塗佈法製造層合薄膜時,較佳在前述(層合 )未延拉薄膜或(層合)單軸延拉薄膜之單面或兩面塗佈 所欲的塗佈液則可取得。 磁記錄媒體 若根據本發明,則同樣提供以本發明之上述雙軸配向 聚酯薄膜作爲基底薄膜,且於其單面具有磁性層之磁記錄 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -15- (請先閱讀背面之注意事項再填: ·
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527273 A7 B7 五、發明說明(13) 媒體。 (請先閱讀背面之注意事項再填: 磁記錄媒體若爲以上述本發明之雙軸配向聚酯薄膜作 爲基底薄膜,則無特別限定,則可列舉例如Q I C和 D L T及更高容量類型之S - D L T和L T〇等之線性循 跡方式之數據貯存帶等。尙,因爲基底薄膜爲經由溫濕度 變化所造成之標度變化、及高張力下且高溫高濕狀態下重 覆行走時所產生之縱方向的時效延拉(蠕變)所造成之寬 度方向的時效延拉(蠕變)之標度變化極小,故爲了確保 磁帶之高容量化,乃作成適於即使軌跡齒距狹窄亦難引起 軌跡不齊之高密度高容量的磁記錄媒體。 實施例 以下,根據實施例進一步說明本發明。尙,本發明中 的各種物性値及特性爲如下測定、且定義。 (1 )楊氏模量 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 將薄膜切成試料寬1 〇 m m、長度1 5 c m,且以卡 盤間隔1 0 Omm、拉引速度1 〇mm/m i η ,圖表速 度5 0 Onim / m i η下,以英斯特朗(Instron )型萬能 拉引試驗機予以拉引,並由所得之負重-延伸曲線之開始 部的連接線計算出楊氏模量。 (2)表面粗度(WRa、WRz) 使用W Y K 0公司製非接觸式三維粗度計(Ν τ 一 16 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527273 A7 B7 五、發明說明(14) 2 0 0 0 )以測定倍率2 5倍,測定面積2 4 6 · 6 // m
(請先閱讀背面之注音3事項再填imK X187 · 5//m (〇 ·〇462mm2)之條件,以測定 數(η ) 1 0以上進行測定,並且經由該粗度計內藏的表 面解析軟體,求出中心面平均粗度(W R a )、及1 0點 平均粒度(W R z )。 (A )中心面平均粗度(W R a ) 777 η _ WRa= ΣΣ丨· η) k=\ j=\ 此處,z = · n) /=i y=i
Zjk爲測定方向(246 · 6//m)、與其呈直角方 向(187 · 5//m)之各m比例,n比例時之各方向之 第j、第k位置中之三維粗度圖表上的高度。 (B ) 1 0點平均粗度(W R z ) 由波峯(Hp)高者取出5點並且谷(Hv)之低者 取出5點,並將其平均粗度視爲W R ζ。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ( +你2 +你3 +姻+觸一(你1 +观+洲+洲+调 WRz=----- (3 )惰性粒子之平均粒徑 使用島津製作所製C P — 5 0型Centrifugal Particle Size Analyzer進行測定。根據所得之離心沈激曲線所算出 之各粒子粒徑及其存在量之累積曲線,讀取相當於5 0質 -17- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527273 A7 ____ 五、發明說明(15) 量% ( m a s s p e r c e n t )之粒徑,並以此値視爲上述平均粒徑 〇 (4 )寬度方向之熱收縮率 於設定在溫度1 0 5 °C之恆溫室中,將事先測定正確 長度之薄膜之於寬度方向切出長度約30公分、寬1公分 之薄膜,於無負重下放入,保持3 0分鐘後取出,恢復至 室溫後讀取其標度之變化。由熱處理前之長度(L 0 )與 熱處理後之長度(L 1 ),依下式算出熱收縮率。 熱收縮率=(L◦一Ll)/L〇xl〇0 〔%〕 (5 )溫度膨脹係數(a t ) 將薄膜樣品於薄膜寬度方向切出長度1 5 m m、寬度 5mm,並安裝於真空理工製TMA300 0,於氮氛圍 氣下,6 0 °C中前處理3 0分鐘,其後降溫至室溫。其後 由2 5 °C以2 °C / m i η升溫至7 0 °C爲止,並測定各溫 度下之樣品長度,由下式算出濫度膨脹係數(α t )。 -!!!.#! (請先閱讀背面之注意事項再填頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 T △ ) )X m m1 mm) L c c°c數 彳} 度度 o 係 \ 注長長 4 脹 } { 品品 | 膨 ^~_ 樣 樣 ο 度 L ο 之之 6 、溫 | 1 時時 |一 之 2 xpocc 璃 L 5 ο ο ο 玻 ( · 4 6 2 英 Γ1 πυ ·. ·. ·.一一 1—I 2T t L L △注 α , 處 b -18- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS^A4規格GW X 297公釐) 527273 A7 B7 五、發明說明(16) (6 )濕度膨脹係數 將薄膜樣品於薄膜寬度方向切出長度1 5 m m、寬度 5mm,並安裝於真空理工製TMA3000 ,並由氮氛 圍氣下,於濕度3 0%RH、及濕度7 0%RH保持一定 ,並測定此時之樣品長度,以下式算出濕度膨脹係數。 a h = { (L2 — Ll)//(LlxAH) } 此處,L 1 :濕度3 Ο % R Η時之樣品長度(m m ) L 2 :濕度7 Ο % R H時之樣品長度(m m ) △ H:40( = 7〇 — 30%RH) (7 )薄膜之縱方向外加負荷後之寬度方向的殘留收縮 於溫度2 3 °C,濕度5 0 %之氛圍氣下,將切出狹縫 寬12 · 65mm (1/2吋)之薄膜(長度30公分) 如圖1所示安裝。尙,爲了可令切出狹縫1 2 · 6 5 m m 之樣品可在檢測器中測定寬度方向之標度,乃事先於表面 將金予以濺鍍澱積。於此狀態下,將薄膜之單側(另一側 爲固定)加以薄膜厚度方向每單位截面積以2 · .7公斤之 重量,並以Keyence製激光外徑測定器(本體:3 1 0 0型 、感應器:3 0 6 0型)測定此時薄膜寬度(L 1 )。 其後,於49°C (120°F) x90%RH之高溫高 濕下,於單側(另一側爲固定)加以薄膜厚度方向每單位 截面積以2 · 7公斤之重量,且處理7 2小時(3日)後 ,移除重物,並於溫度2 3 °C,濕度5 0 %之氛圍氣下調 濕2 4小時後,再於薄膜之單側(另一側爲固定)加以 (請先閱讀背面之注意事項再填 I) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -19- 527273 五、發明說明(17) 170克(6oz)之重量,並以Keyence製激光外徑、測定 器(本體:3 1 0 0型、感應器:3 0 6 〇型)測定此時 薄膜寬度(L 2 )。 由上述測定之溫濕度處理前後之標度,以下式算;m 重下溫濕度處理前後之寬度標度變化(a W )。 x 1 〇 0 ( % ) (8 )結晶度 以密度梯度管測定聚酯薄膜之密度,並依下式算出結 晶度。 結晶度=~ ~ X 1 0 0 dc-da 此處d :薄膜之.密度,d a :非晶密度,d c ··結 密度。尙,聚乙烯一 2,6 -萘二羧酸酯之情況,d a 非晶密度=1 · 3 1 . 4 0 7 g / c (9 )軌跡不齊(錯誤速率) 使用Medialogic公司製ML4500B、QIC用系 統,以下述條件測定錯誤速率。 電流=15·42mA 頻率:0 · 2 5 Μ Η z 位置二0 閾値:4 0 · 0
Bad/Good/MAX: 1/1/1 請 先 閱 讀 背 之 注 { ( L 2 — L 1 )
W
L 曰曰 g / c m 3、d c :結晶密度 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 項 再 填 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -20 - 527273 A7 B7 五、發明說明(1S) 軌跡:2 8 尙,錯誤速率數目爲以測定之軌跡數(二2 8 )之平 均値表示。 條件1及條件2之測定爲如下進行。 條件1 :於1 0 °C、 1 0 % R Η之溫濕度下記錄後, 於4 5 t、8 0 % R Η之溫濕度下放送,測定溫濕度變化 所造成之軌跡不齊量。 條件2 ··於2 3 °C、5 0 % R Η之溫濕度下記錄後, 於4 0 °C、6 0 % R Η之溫濕度下重覆行走6 〇小時,且 恢復至2 3 °C,5 0 % R Η之溫濕度下,保持2 4小時後 ,將記錄放送,測定較高溫高濕度下行走之寬度收縮所造 成的軌跡不齊量。 評價基準爲如下。 ◎:無錯誤速率 〇:雖有錯誤速率,但實用上無問題 X ··錯誤速率多,實用上有問題 (1 0 )玻璃態化溫度(τ g ) 將薄膜1 〇毫克於3 3 0 °C下熔融5分鐘後,妥裝至 精工電子工業(株)製熱分析系統(差示掃描熱量計) SSC5200、DSC220,且於氮氣流中以20°C / m i η之升溫速度下加熱,並以基線出現不連續區域之 中點溫度視爲T g。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -21 - (請先閱讀背面之注意事項再填: 訂·· -線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527273 A7 - ____ B7 五、發明說明(19) (1 1 )吸熱波峯之吸熱能量 將薄膜1 0毫克安裝於精工電子工業(株)製熱分析 系統(差示掃描熱量計)SSC5200、D S C 2 2 0 ’且於氮氣流中以2 0 °C /分鐘之升溫速度下加熱,並由 對應之D S C圖表上之吸熱側面積求出薄膜的吸熱能量。 此面積隨著升溫而由基線於吸熱側分岐,再繼續升溫經過 吸熱波峯後,恢復至基線位置爲止爲吸熱側之面積,由吸 熱開始溫度位置至終了溫度位置以直線連結,求出面積( A )。以相同之D S C測定條件測定I η (銦),並以其 面積(Β)爲28 · 5mJ/mg,以下式求出。 吸熱能量=(A/B) X2 8 · 5mJ/mg 實施例1 將含有平均粒徑0 · 6 // m碳酸鈣粒子〇 · 〇 2重量 %,平均粒徑0 · 1 // m矽石粒子〇 · 2重量%之聚乙烯 一 2,6 -萘二竣酸酯,於1 8 0 °C下乾燥5小時後,供 給至擠壓機漏斗中,以3 0 0 °C熔融,並使用T型擠出型 板予以壓出,於保持表面整飾0 · 3 S、表面溫度6 0 °C 之澆鑄鼓上急冷固化,取得未延拉薄膜。 將此未延拉薄膜於7 5 °C中預熱,再於低速、高速之 滾筒間,由1 4 m m上方以8 3 0 °C表面溫度之紅外線加 熱器予以加熱且延拉5 · 1倍,急冷,並繼續供給至展幅 機,於1 2 5 °C中於橫方向延拉4 · 8倍。再繼續於 2 4 0 °C下熱固定1 0秒鐘後,於1 2 0 °C中於橫方向施 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -22 - ——:----------! (請先閱讀背面之注意事項再填: · 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527273 A7 B7 五、發明說明(20) (請先閱讀背面之注意事項再填ίΐφ頁: 以1 · 0 %鬆驰處理,取得厚度4 · 5 // m之雙軸配向薄 膜。所得薄膜之楊氏模量爲縱方向8 G P a、橫方向 6 · 5 G P a。 另一方面,將下述所示之組成物放入球磨中,混練、 分散1 6小時後,加入異氰酸酯化合物(Bial公司製之 Dismodule L ) 5重量份,並高速剪斷分散1小時,取得磁 性塗料。 磁性塗料之組成: 針狀鐵粒子 1 0 0重量份 氯乙烯-醋酸乙烯酯共聚物 (積水化學製S L E X 7 A 熱塑性聚胺基甲酸酯樹脂 氧化鉻 碳黑 卵磷脂 脂肪酸酯 甲苯 經濟部智慧財產局員Κ消費合作社印製 1 5重量份 5重量份 5重量份 5重量份 2重量份 1重量份 5 0重量份 5 0重量份 5 0重量份 5 —萘二羧酸酯 其次於 甲基乙基酮 環己酮 將此磁性塗料,於上述聚乙烯- 2, 薄膜 2, 下加 N / 之單面上塗佈成塗佈厚度0 · 5 //m 5 0 0高斯之直流磁場中進行配向處理,於1 0 0 t 熱乾燥後,進行超砑光機處理(線壓2,0 0 0 c m、溫度8 0 t ),並且捲取。將此捲取之滾筒於 没週用中國國家標準(CNS)A4規格(210 χ 297公釐) -23 527273 A7 B7 五、發明說明(21) 5 5 °C之烤爐中放置3曰。 再將下述組成之背塗層塗料塗佈成厚度1 ’並且 (請先閱讀背面之注意事項再填: 乾燥,再截斷成1 2 · 6 5 m m ( = 1 / 2吋),取得磁 mb 市 ° 背塗層塗料之組成: 碳黑 1 0 0重量份 熱塑性聚胺基甲酸酯樹脂 6 0重量份 異氰酸酯化合物 1 8重量份 (曰本 Dolyurethane 工業公司製 Chlorate L ) 矽油 0 · 5重量份 甲基乙基丽 250重里份 甲苯 5 0重量份 所得薄膜及磁帶之特性示於表1。如此表所闡明般’ 爲錯誤速率少,且輸出功率特性亦爲良好。 實施例2 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 作成含有平均粒徑0 · 3 // m交聯聚矽氧烷樹脂粒子 0 . 1 3重量%、平均粒徑0 · 1 # m球狀矽石粒子 0 · 25重量%之A層用聚乙烯—2,6 —萘二羧酸酯; 及含有平均粒徑〇 . 1 // m球狀矽石粒子0 · 1重量%之 B層用聚乙烯一 2 ,6 —萘二羧酸酯。將此聚乙烯一 2, 6 一萘二羧酸酯之九狀物於1 8 0 °C下乾燥5小時後,分 別供給至2台擠壓機之漏斗中,並以熔融溫度3 0 0 °C予 以熔融’使用多支管型共同擠壓型板將A層與]6層疊層並 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -24 - 527273 A7
五、發明說明(22) 擠壓,於保持表面整飾〇 · 3 S,表面溫度6 0 °C之澆鑄 歧上急冷固化’取得未延拉薄膜。 (請先閱讀背面之注意事項再填^|^負) 將此未延拉薄膜於7 5 °C中預熱,再於低速、高速之 滾筒間’由1 4 m m上方以8 3 0 t表面溫度之紅外線加 熱器予以加熱且延拉5 · 4倍,急冷,並繼續供給至展幅 機,於1 2 5 °C中於橫方向延拉3 · 9倍。再繼續於 2 2 0 °C下熱固定1 0秒鐘後,於1 2 0 °C中於橫方向施 以4 · 0 %鬆弛處理,取得厚度4 · 5 // m之雙軸配向薄 膜。所得薄膜之楊氏模量爲縱方向9 G P a、橫方向6 G P a。 以下爲以實施例1同樣之方法熱處理後,將實施例1 相同之磁性塗料塗佈B層面,且於反面之A層面塗佈實施 例1相同之背塗料,取得磁帶並且評價。其結果示於表1 。取得與實施例1同樣良好之結果。 實施例3 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 除了將實施例2之A層用惰性粒子變更成平均粒徑 〇.3//m之球狀矽石粒子〇 . 2 5重量%,平均粒徑 〇· l//m之球狀矽石粒子0 · 23重量%,且於B層用 惰性粒子爲使用平均粒徑0 · 1 # m之球狀矽石〇 ·◦ 1 重量%,又,熱固定溫度爲2 0 0 °C,且橫鬆弛率爲 2 · 0 %以外,同實施例2處理,取得厚度4 · 5 // m之 雙軸配向薄膜。所得薄膜之楊氏模量爲縱方向9 G P a、 橫方向6 G P a。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -25- 527273 A7 B7 五、發明說明(23) 將此雙軸配向薄膜同實施例加工取得磁帶。其結果示 於表1。取得與實施例1同樣良好之結果。 比較例1及2 以實施例2同樣之方法取得未延拉薄膜’並將此未延 拉薄膜以實施例2同樣之方法延拉’且以表1所示之熱固 定溫度處理1 0秒鐘’取得厚度4 · 5 // m之雙軸配向薄 膜。又,磁帶爲同實施例2處理取得。 於表1所示之條件1或條件2中的軌跡不齊大,爲不 佳之結果。 比較例3〜5 以實施例2同樣之方法取得未延拉薄膜’並將此未延 拉薄膜以表1所示之楊氏模量調整縱延拉倍率及橫延拉倍 率,且於2 0 5 °C下熱固定處理1 0秒鐘,取得4 · 5 // m之雙軸配向薄膜。又,磁帶爲同實施例2處理取得。 於表1所示之條件1或條件2中的軌跡不齊大,爲不 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 頁 果 結 之 佳 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) _ 26 - 527273 A7 __Β7 五、發明說明(枓) 寸·0 ίί ο 袞 0·6 0.9UMM 函 gi s-
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N_ I csl#=· It:· «lil 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐)^ 527273 A7 B7 五、發明說明(25) 實施例4 (請先閱讀背面之注意事項再填—頁: 將含有平均粒徑0 · 6 // m碳酸鈣粒子〇 · 〇 2重量 %及平均粒徑0 · 1 V m矽石粒子〇 . 2重量%之聚乙烯
一 2 ,6 —萘二羧酸酯(固有粘度:0 · 6 )於1 8 0 °C 乾燥5小時後,於3 0 0 °C熔融擠壓,且於保持在6 0 °C 之澆鑄鼓上急冷固化,取得未延拉薄膜。將此未延拉薄膜 於具有速度差之二個滾筒間,以1 2 0 °C之溫度延拉 5 · 5倍,再以展幅機於橫方向延拉4 · 1倍,其後於 2 0 5 t:下熱固定1 0秒鐘,取得厚度5 · 0 // m之雙軸 配向薄膜。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 將所得之雙軸配向薄膜切出寬1,0 0 0 m m、長度 5,0 0 〇 m之縫隙,作成樣品滾筒。於此狀態下,歷 2 4小時升溫至1 2 0 t爲止,並且保持2 4小時後,歷 2 4小時降溫至溫度並進行熱處理。對於熱處理後之薄膜 ,以D S C測定觀察與顯示結晶熔解熱波峯不同之另外的 吸熱波峯,並且其吸熱能量爲1 · 7mJ/mg。又,所 得薄膜之楊氏模量爲縱方向9 0 0 k g /m m 2,橫方向 6〇0kg/mm2。 以實施例1所準備之相同磁性染料,於上述雙軸配向 薄膜之單面塗佈成塗佈厚度0 · 5 //m,其次於 2,5 0 〇高斯之直流磁場中進行配向處理,於1 〇 〇 °C 下加熱乾燥後,進行超砑光機處理(線壓2 0 0 N / c m 、溫度8 0 t ),並且捲取。將此捲取之滾筒於5 5 °C之 烤爐中放置3曰。 -28- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527273 A7 B7 五、發明說明(26) (請先閱讀背面之注意事項再填: 再以實施例1所同樣準備之背塗層塗料於該薄膜之另 一面(非磁性層側之面),塗佈成厚度1 // m,乾燥,並 再裁斷成12 · 65mm (=1/2吋),取得磁帶。 所得薄膜及磁帶之特性示於表2。如此表所闡明般, 所得之磁帶爲錯誤率少,且輸出功率特性亦爲良好。 比較例6 除了未將樣品滾筒熱處理以外,同實施例4處理,取 得磁帶。所得薄膜及磁帶之特性示於表2。如此表所闡明 般,所得之磁帶爲條件2之軌道不齊大,爲有問題。 比較例7及8 除了變更雙軸配向薄膜製膜時之延拉倍率,且變更成 表2所示之楊氏模量以外,同比較例6處理,取得磁帶。 所得磁帶之特性示於表2,比較例7於條件1之軌道不齊 大,又,比較例8於條件2之軌道不齊大,爲有問題。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 實施例5 準備含有平均粒徑〇 · 3 # m交聯聚砂氧院樹脂粒子 〇· 1 3重量%,平均粒徑〇 · 1 # m球狀砂石粒子 〇 · 25重量層用聚乙烯一 2 ’ 6 —奈一殘酸酯( 固有粘度:〇 · 6 ),及含有平均粒徑〇 · 1 V m球狀砂 石粒子ϋ · 1重量%之A層用聚乙烯一 2,6 —萘一竣酸 酯(固有粘度:0 · 6 ),並將此些聚乙烯一 2 ,6 —萘 29 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527273 A7 B7 五、發明說明(27) 二羧酸酯之九狀物於1 8 0 °C下乾燥5小時後,供給至2 台擠壓機之漏斗中,並以熔融溫度3 0 0 °C予以熔融,使 用多支管型共同擠壓型板,於B層之單側令A層疊層,並 於表面整飾加工0 · 3 S程度,表面溫度6 0 °C之澆鑄鼓 上壓出,取得層合未延拉薄膜。尙,層厚度之構成爲以2 台擠壓機之吐出量調整成表1之表面粗度。 將此層合未延拉薄膜於具有速度差之二個滾筒間,以 1 2 0 °C之溫度延拉5 · 5倍,再以展幅機於橫方向延拉 4 · 1倍,其後於2 0 5 °C下熱固定1 0秒鐘。 將所得之雙軸配向薄膜切出寬1,0 0 0 m m、長度 5,0 0 0 m之縫隙,作成樣品滾筒。於此狀態下,歷 2 4小時升溫至1 0 0 °C爲止,並且保持2 4小時後,歷 2 4小時降溫至溫度並進行熱處理。對於熱處理後之薄膜 ,以D S C測定觀察與顯示結晶熔解熱波峯不同之另外的 吸熱波峯,並且其吸熱能量爲1 · OmJ/mg。又,所 得薄膜之楊氏模量爲縱方向9 0 0 k g /m m 2,橫方向 600kg/mm2。 於此薄膜之A層(磁性層側)表面塗佈磁性塗料,於 B層(非磁性層側)表面將背塗層塗料同實施例4塗佈, 並且乾燥,再裁斷成12 .65mm (=1/2吋),取 得磁帶。 所得層合薄膜及磁帶之特性示於表2。如此表所闡明 般,所得磁帶爲錯誤速率少,且輸出功率特性亦爲良好。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -30 - (請先閲讀背面之注意事項再填: 訂·· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527273 A7 B7 五、發明說明(28) 實施例6 除了將層合聚酯薄膜中所含有之惰性粒子’於β層用 聚乙烯一 2,6 —萘二羧酸酯變更成平均粒徑0 · 3 # m 球狀砂石粒子0 · 2 5重量%及平均粒徑〇 · 1 # m球狀 矽石粒子0 · 2 3重量%,且於A層用聚乙烯一 2 ’ 6-萘二羧酸酯變更成平均粒徑〇 · 1 # m球狀砂石粒子 〇· 0 1重量%,且所得雙軸配向薄膜之滾筒樣品的熱處 理溫度變更成8 0 °C以外,同實施例5處理’取得磁帶樣
PP (請先閱讀背面之注意事項再填1 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 所得層合薄膜及磁帶之特性示於表2 °如此表所闡明 般,所得磁帶爲錯誤速率少,且輸出功率特性亦爲良好。 實施例7 除了將聚酯中所含有之惰性粒子變更成平均粒徑 0 · 3 // m之球狀矽石粒子〇 · 1 5重量%,且將滾筒樣 品之熱處理溫度變更成6 0 °C以外,同實施例1處理’取 得薄膜及磁帶。 所得薄膜及磁帶之特性示於表2。如此表所闡明般’ 所得磁帶錯誤速率少,且輸出功率特性亦爲良好。 訂 ▲ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -31 - 527273 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五 明 說 明 發 (29) ο.ς ys
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SAVfl益M 1}M劍驷 «ΓΝ1Φ}擧 I#:· 0S0 w—1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -32- 527273 A7 _____B7_____ 五、發明說明(30) 若根據本發明,則可提供無軌跡不齊所發生之錯誤速 磁 之 帶 存 貯 據 數 位 數 之 優 性。 特膜 率薄 功酯 出聚 輸向 爲配 作軸 於雙 用用 可體 且媒 , 錄 率記 (請先閱讀背面之注意事項再填: I I I I II I 訂--— II---. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -33- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 527273 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 第89 1 1 1 33 3號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國9 1年11月&日修正 1 . 一種磁記錄媒體用雙軸配向聚酯薄膜,其特徵爲 (1 )於薄膜厚度方向之單位截面積每1 rn m 2負以 2 · 7公斤負重且49°C、90%RH下處理72小時, 處埋前後之薄膜面上,與該負重負荷方向呈直角方向之尺 寸變化爲0 · 4 0 %以下, · (2 )結晶化度爲2 7〜4 5 %, (3 )於薄膜面上,與該負重負荷方向呈直角方向之 溫度膨脹係數a t爲一 5 X 1 0 - 6〜+ 2 Ο X 1 0 — 6 /t 之範圍,於薄膜面上,與該負重負荷方向呈直角方向之濕 度膨脹係數ah爲+5x 1〇一6〜+20x 10 一 6/% RH之範圍,且(a t + 2ah)之値爲+4 5x 1〇—6 以下, (4 )於薄膜面上,與該負重負荷方向呈直角方向之 熱收縮率爲0〜0 · 7 %之範圍,和 (5 )薄膜厚度爲3〜7 // m之範圍。 2 ·如申請專利範圍第1項之薄膜,其爲於差示掃描 型熱量計(D S C )測定之2 〇〜1 6 0 °C之溫度範圍 內’具有0 · 0 5niJ/nig以上熱墓之吸熱波峯。 3 .如申請專利範圍第1項之薄膜’其爲由單層構造 所組成且至少一露出表面的中心面平均粗f造度W R a爲1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210χ297公楚) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527273 A8 B8 C8 ________ D8 六、申請專利範圍 〜1〇η m,且1 〇點平均粗糙度w R Z爲3 0〜2 5 0 n m 〇 4 ·如申請專利範圍第1項之薄膜,其爲由至少二層 之層合構造所組成,且一露出表面之WR a爲1〜1〇 n m、且W R z爲3 〇〜2 5 0 n m,另一露出表面之 WRa 爲 5 〜20nm、且 WRz 爲 1 〇〇 〜30〇nm 〇 5 .如申請專利範圍第1項之薄膜,其中該負重負荷 方向之楊氏模數至少爲6 G P a ,與該負重負荷方向呈直 角方向之楊氏模數至少爲4 G P a ,且此呈直角之二方向 的楊氏模數和爲1 0〜2 OGP a。 6 .如申請專利範圍第5項之薄膜,其中該負重負荷 方向之楊氏模數係大於與其呈直角方向之楊氏模數。 7 ·如申請專利範圍第1項之薄膜,其爲以聚2,6 -萘二羧酸乙二酯作爲素材。 8 · —種磁記錄媒體,其爲由如申請專利範圍第1項 之雙軸配向聚酯薄膜及其單側表面上之磁性層所構成。 9 .如申請專利範圍第8項之磁記錄媒體,其中雙軸 配向聚酯薄膜爲由單層構造所組成,至少一露出表面之中 心面平均粗糙度W R a爲1〜1 0 n m,且1 〇點平均粗 糙度WR z爲3 0〜2 5 0,且於該露出表面上係存在該 之磁性層。 ]_ 〇 .如申請專利範圍第8項之磁記錄媒體,其中雙 軸配向聚酯薄膜爲由至少二層之層合構造所組成,一露出 本^張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ~ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
    經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527273 A8 B8 C8 D8 ^、申請專利乾圍 表面之WRa爲1〜1〇nm、且WRz爲3 0〜25〇 n m,另一露出表面之W R a爲5〜2 Ο n m、且W R ζ 爲1〇〇〜3〇0 n m ,並且於W R a爲1〜1 〇 n m且 WR ζ爲3 0〜2 5 0 nm之該露出表面上係存在該之磁 性層。 1 1 .如申請專利範圍第8項之磁記錄媒體,其爲數 位記錄型磁記錄媒體。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -3- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐)
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