TW201314233A - 測試卡 - Google Patents
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Abstract
一種測試卡包括一電源介面、一控制器、一測試介面及至少一測試點,測試介面包括一電源引腳、一啟動引腳及一資料訊號引腳,電源介面連接控制器及電源引腳,還用於連接一外部電源以接收一工作電壓後輸出工作電壓至控制器及電源引腳,控制器用於發送一啟動訊號至啟動引腳,資料訊號引腳連接至測試點,當待測主機板的連接介面與測試介面插接後,電源引腳、啟動引腳及資料訊號引腳分別與待測主機板的連接介面的相應引腳對應連接,當待測主機接收到啟動訊號後運行系統,並透過待測主機板的連接介面及測試介面輸出一資料訊號至測試點。
Description
本發明係關於一種測試卡。
高密度模組連接器具備高互連密度和高速訊號完整性的特點,被廣泛應用於刀片伺服器中。通常高密度模組連接器設置於刀片伺服器的背板上來連接複數主機板。當需要對主機板上的訊號進行測試時,由於高密度模組連接器的介面不便於接線測試,而需要直接對插接於背板的高密度模組連接器上的主機板上的相應的訊號點進行測試。惟,該等主機板均插接於背板上,主機板與主機板之間的間隔比較小,且測試時主機板均設置一箱體內,從而不方便直接對主機板上的訊號點進行測試。
鑒於上述內容,有必要提供一種測試卡,以輔助對一伺服器內的主機板進行輸出訊號測試。
一種測試卡,用於輔助對一伺服器內的待測主機板進行測試,該測試卡包括一電源介面、一控制器、一測試介面及至少一測試點,該測試介面包括一電源引腳、一啟動引腳及至少一資料訊號引腳,該電源介面連接該控制器及該電源引腳,該電源介面用於連接一外部電源以接收工作電壓並將該工作電壓提供給該控制器及該電源引腳,該控制器用於發送一啟動訊號至該啟動引腳,該資料訊號引腳一一對應連接至該測試點,當該待測主機板的連接介面與該測試介面插接後,該電源引腳、啟動引腳及資料訊號引腳分別與該待測主機板的連接介面的相應引腳對應連接,當該待測主機接收到該啟動訊號後運行系統,並透過該待測主機板的連接介面及該測試介面輸出一資料訊號至該測試點。
相較習知技術,本發明測試卡透過該電源介面來給該待測主機提供工作電壓,透過該控制器發送該啟動訊號至該待測主機,當該待測主機接收到該啟動訊號後運行系統,並透過該待測主機板的連接介面及該測試介面輸出一資料訊號至該測試點,從而實現對該待測主機板輸出訊號的測試,方便快捷。
請參照圖1至圖3,本發明測試卡100用於輔助對一刀片伺服器內的一待測主機板200的輸出訊號進行測試。本發明測試卡100的較佳實施方式包括一殼體10、一電源介面20、一控制器30、一測試介面40、一組測試點50、一指示燈60及一開關70。該電源介面20、該測試介面40、該組測試點50、該指示燈60及該開關70均設置在該殼體10上。該控制器30設置於該殼體10內。在本實施方式中,該測試介面40為高密度模組介面。在其他實施方式中,該測試介面40可以根據需要為其他介面。
該測試介面40包括一電源引腳42、一啟動引腳44及複數資料訊號引腳46(圖中只顯示一個資料訊號引腳46)。
該電源介面20用於連接一外部電源80來接收一工作電壓。該電源介面20還連接至該控制器30、該指示燈60及該測試介面40的電源引腳42,以提供工作電壓至該控制器30、該指示燈60及該測試介面40的電源引腳42。
該指示燈60用於指示該控制器30是否被上電,當該指示燈60接收到工作電壓,則該指示燈60處於點亮狀態,表明該控制器30被上電,可以被啟動。當該指示燈60未接收到工作電壓,則該指示燈60處於熄滅狀態時,表明該控制器30未被上電,無法被啟動。
該開關70用於啟動該控制器30。
該控制器30用於發送一啟動訊號至該測試介面40的啟動引腳44。
該測試介面40的資料訊號引腳46分別連接至相應的測試點50。且每一測試點50下方均注有標識(未示出)以便使測試者得知測試的是哪一資料訊號。
在測試時,將該待測主機板200的高密度模組連接器220連接至該測試卡100的測試介面40。該測試介面40的電源引腳42、啟動引腳44及資料訊號引腳46分別與該高密度模組連接器220的相應引腳對應連接。將該測試卡100的電源介面20連接至該外部電源80來接收工作電壓,並將接收到的工作電壓提供給該控制器30及該指示燈60,還透過該測試介面40及該高密度模組連接器220提供給該待測主機板200。該指示燈60處於被點亮狀態,表明該控制器30可以被啟動。按下該開關70,該控制器30識別到該開關70被按下後透過該測試介面40及該高密度模組連接器220發送啟動訊號至該待測主機板200來啟動該待測主機板200。該待測主機板200被啟動後運行系統,並透過該高密度模組連接器220及該測試介面40輸出相應的資料訊號至該測試卡100上的相應的測試點50。透過一示波器90連接至所需測試的資料訊號對應的測試點50即可對該待測主機板200輸出的相應的資料訊號進行測試。
在其他實施中,該指示燈60也可以省略。該開關70也可以省略,在該控制器30被上電後即對該待測主機板200發送啟動訊號。該組測試點50也可以只包括一個測試點,即該測試卡100只針對該待測主機板200輸出的一個資料訊號進行測試。
本發明測試卡100透過該電源介面20來給該待測主機板200提供工作電壓,透過該控制器30發送該啟動訊號至該待測主機板200來啟動該待測主機板200使該待測主機運行系統,再透過該測試介面40將該待測主機板200輸出的資料訊號輸出至該測試卡100上的相應的測試點50,使用者可以直接將該示波器90連接至該測試點50即可實現對該待測主機板200的資料訊號進行測試,方便快捷。
綜上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施例,舉凡熟悉本案技藝之人士,在爰依本發明精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10...殼體
20...電源介面
30...控制器
40...測試介面
42...電源引腳
44...啟動引腳
46...資料訊號引腳
50...測試點
60...指示燈
70...開關
80...外部電源
90...示波器
100...測試卡
200...待測主機板
220...高密度模組連接器
圖1係本發明測試卡的較佳實施方式的示意圖。
圖2係圖1的測試卡測試一待測主機板時的示意圖。
圖3係圖1的測試卡測試一待測主機板時的原理框圖。
10...殼體
20...電源介面
40...測試介面
50...測試點
60...指示燈
200...待測主機板
Claims (5)
- 一種測試卡,用於輔助對一伺服器內的待測主機板進行測試,該測試卡包括一電源介面、一控制器、一測試介面及至少一測試點,該測試介面包括一電源引腳、一啟動引腳及至少一資料訊號引腳,該電源介面連接該控制器及該電源引腳,該電源介面用於連接一外部電源以接收工作電壓並將該工作電壓提供給該控制器及該電源引腳,該控制器用於發送一啟動訊號至該啟動引腳,該資料訊號引腳一一對應連接至該測試點,當該待測主機板的連接介面與該測試介面插接後,該電源引腳、啟動引腳及資料訊號引腳分別與該待測主機板的連接介面的相應引腳對應連接,當該待測主機接收到該啟動訊號後運行系統,並透過該待測主機板的連接介面及該測試介面輸出一資料訊號至該測試點。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試卡,還包括一殼體,該控制器設置於該殼體內,該電源介面、該測試介面及該測試點設置於該殼體上。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試卡,還包括一指示燈,該指示燈用於指示該控制器是否被上電,該指示燈連接至該電源介面以接收工作電壓,當該指示燈接收到工作電壓,則該指示燈處於點亮狀態,表明該控制器已被上電,當該指示燈未接收到工作電壓,則該指示燈處於熄滅狀態,表明該控制器未被上電。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試卡,還包括一開關,該開關連接至該控制器,用於啟動該控制器,當該控制器識別到該開關被按下後發送該啟動訊號至該啟動引腳從而啟動該待測主機板。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試卡,其中該測試介面為一高密度模組介面。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201110281684.3A CN103019896B (zh) | 2011-09-21 | 测试卡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201314233A true TW201314233A (zh) | 2013-04-01 |
Family
ID=47880094
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW100134674A TW201314233A (zh) | 2011-09-21 | 2011-09-26 | 測試卡 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8723539B2 (zh) |
| JP (1) | JP2013068609A (zh) |
| TW (1) | TW201314233A (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| TWI806153B (zh) * | 2021-09-10 | 2023-06-21 | 英業達股份有限公司 | 測試卡體及測試用顯示卡 |
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| CN103389933A (zh) * | 2012-05-08 | 2013-11-13 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 测试卡及具有该测试卡的测试用电子装置 |
| US20160328306A1 (en) * | 2015-05-08 | 2016-11-10 | Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. | Interface test device |
| CN108897653A (zh) * | 2018-07-06 | 2018-11-27 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种服务器及其板卡 |
Family Cites Families (14)
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| US4922191A (en) * | 1988-11-30 | 1990-05-01 | General Dynamics Corporation, Electronics Division | Electronic testing equipment interconnection assembly |
| US6437586B1 (en) * | 1997-11-03 | 2002-08-20 | Micron Technology, Inc. | Load board socket adapter and interface method |
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| WO2009048618A1 (en) * | 2007-10-11 | 2009-04-16 | Veraconnex, Llc | Probe card test apparatus and method |
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2011
- 2011-09-26 TW TW100134674A patent/TW201314233A/zh unknown
- 2011-10-27 US US13/282,664 patent/US8723539B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-08-24 JP JP2012185074A patent/JP2013068609A/ja active Pending
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103019896A (zh) | 2013-04-03 |
| US20130069681A1 (en) | 2013-03-21 |
| JP2013068609A (ja) | 2013-04-18 |
| US8723539B2 (en) | 2014-05-13 |
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