CN201369042Y - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种测试装置。测试装置包括连接部、供电电路、比较器、第一发光单元、开关模块以及光控制单元。测试装置通过连接部、供电电路、比较器、第一发光单元、开关模块以及光控制单元来对一主机板的显示卡连接器的测试点进行量测。当显示卡连接器内部出现短路时，测试装置自动对主机板开机进行保护动作，防止出现短路时，误开机烧毁主机板与显示卡。

Description

测试装置

技术领域

本实用新型是有关于一种测试装置，且特别是有关于一种测试显示卡相关技术领域的测试装置。

背景技术

随着科技的发达，电脑已成为人们在日常生活中越来越重要的工具。显示卡是电脑内最重要的部件之一，在很大程度上，显示卡性能的高低决定着系统在游戏与娱乐中的影像处理的表现。

在电脑装置中，电脑装置通常包括一主机板，这个主机板上包括有一显示卡连接器，而使用者可以任意插设各种品牌的显示卡，只要这个显示卡符合上述主机板的显示卡连接器。然而，在更换显示卡时，使用者通常都不知道所更换的显示卡的好坏。若更换的是有问题的显示卡，开机后则可能造成电子零件损坏，严重的则可能电路板烧毁。

因此，对于显示卡制造厂商而言，其必需保证其所生产的显示卡是良好没有问题的。一般而言，显示卡制造厂商可以通过测试显示卡连接器内部是否发生电路短接，来监测显示卡是否良好。

现有的测试方式，是采用人工手动方式进行测试，例如：使用万用电表来对显示卡连接器易形成短路的接点进行阻抗量测。然而，这种测试方式在产线生产测试过程中极不方便，且易发生误判。另外，在显示卡出现问题的时候，如果误触电脑装置的开机按钮，则有可能会造成主机板上的电子零件损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种显示卡连接器的测试装置，以改善现有技术的缺失。

本实用新型提供一种测试装置，耦接主机板。主机板包括显示卡连接器与开关单元，主机板并具有一个与显示卡连接器电性连接的测试点，其中主机板处于过电且未开机状态，且显示卡连接器插设有一显示卡。测试装置包括连接部、供电电路、比较器、第一发光单元、开关模块以及光控制单元。

连接部耦接测试点，且由测试点获得量测电压。供电电路提供预设电压。比较器分别耦接连接部和供电电路，且接收量测电压与预设电压来进行比较，并提供比较结果。第一发光单元耦接比较器，且接收比较结果，当比较结果为一第一状态时，表示显示卡测试失败，且第一发光单元不发光。开关模块耦接开关单元。光控制单元耦接开关模块，且设置于第一发光单元的一侧，当第一发光单元不发光时，光控制单元控制开关模块来控制主机板的开关单元，使得主机板无法开机。

本实用新型的显示卡连接器的测试装置可自动对与显示卡连接器电性连接的测试点进行测量，测试效率高。而且当出现短路时，测试装置自动对主机板开机进行限制保护动作，防止出现短路时，误开机烧毁主机板与显示卡，以保护设备与产品的安全。

为让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。

附图说明

图1所示为根据本实用新型一较佳实施例的显示卡连接器的测试装置连接一主机板的示意图。

图2所示为根据本实用新型另一较佳实施例的显示卡连接器的测试装置连接一主机板的示意图。

具体实施方式

图1所示为根据本实用新型一较佳实施例的显示卡连接器的测试装置连接一主机板的示意图。

如图1所示，测试装置20耦接主机板10。主机板10包括显示卡连接器101、开关单元102以及与显示卡连接器101电性连接的测试点103，且显示卡连接器101插设有显示卡104。在本实施例中，测试点103为电压测试点，然而本实用新型并不以此为限。

测试装置20包括连接部201、供电电路202、比较器203、第一发光单元204、开关模块205、光控制单元206以及第二发光单元207。连接部201耦接测试点103，且由测试点103获得量测电压Vtest。供电电路202提供预设电压Vcc。比较器203分别耦接连接部201和供电电路202，且接收量测电压Vtest与预设电压Vcc来进行比较，并提供比较结果。

第一发光单元204耦接比较器203和供电电路202，且接收比较结果，当比较结果为一第一状态时，第一发光单元204不发光。第二发光单元207耦接供电电路202。开关模块205耦接开关单元102和供电电路202。光控制单元206耦接开关模块205，且设置于第一发光单元204的一侧。在本实施例中，测试装置20还包括远离光控制单元206的第二发光单元207。当比较结果为第一状态且第一发光单元204不发光时，第二发光单元207发光；当比较结果为第二状态时，第一发光单元204发光且第二发光单元207不发光。

在本实施例中，第一发光单元204和第二发光单元207为发光二极管(LED)，光控制单元206为光电耦合器(属于无触点开关器件，是用LED或激光二极管作触发器件，以可控硅或晶体管作为开关器件)。本实施例中比较结果的第一状态和第二状态可用电位高低来区别，例如第一状态为高电位，则第二状态为低电位。

在本实施例中，主机板10还包括中央处理器(CPU)105、北桥芯片106、南桥芯片107、内存108、嵌入式控制器(EC)109、电源电路110以及电源供应单元111。

北桥芯片106耦接中央处理器105、内存108以及显示卡连接器101。南桥芯片107耦接北桥芯片106和嵌入式控制器109。开关单元102耦接嵌入式控制器(EC)109，而嵌入式控制器(EC)109耦接电源电路110。电源供应单元111耦接电源电路110。

当主机板10的电源供应单元111有220V交流电输入且未开机时，主机板10的电源电路110就有5V-Standby电压输出。此时，在本实施例中，是使用5V-Standby电压对测试装置20供电，即供电电路202接收电源电路110输出的5V-Standby电压。

当第一发光单元204不发光、第二发光单元207发光时，表示显示卡104测试失败，光控制单元206控制开关模块205使得主机板10的开关单元102断开，没有触发信号输出至嵌入式控制器(EC)109，则电源电路110不会输出电压至主机板10上的各电子零件，主机板10无法开机，即使此时误触电源开关(图未示)，这样可以防止烧毁主机板与显示卡，保护设备与产品的安全。

当第一发光单元204发光、第二发光单元207不发光时，表示显示卡104测试通过，光控制单元206控制开关模块205来控制主机板10的开关单元102接通，以触发开关模块205输出一触发信号至嵌入式控制器(EC)109，控制电源电路110输出电压至主机板10上的各电子零件，使得主机板10开机，主机板正常运行，以进行后续测试工作。

另外当显示卡测试通过时，主机板开机后开关模块205控制供电电路202停止供电至比较器203、第一发光单元204，即测试装置20停止工作。这样使用者可以通过第一发光单元204以及第二发光单元207的发光状态来判断显示卡104测试结果，而且可以保护设备与产品的安全。

图2所示为根据本实用新型另一较佳实施例的显示卡连接器的测试装置连接一主机板的示意图。

如图2所示，测试装置40通过转接板50耦接主机板30。主机板30包括显示卡连接器301、开关单元302以及与显示卡连接器301电性连接的测试点303，且显示卡连接器301插设有显示卡304。在本实施例中，测试点303为电压测试点，转接板50具有第一端501与一第二端502，第一端501与测试点303以焊接方式连接，第二端502与连接部401通过一可插拔连接器方式耦接，然而本实用新型并不以此为限。

在本实施例中，主机板30还包括中央处理器305、北桥芯片306、南桥芯片307、内存308、嵌入式控制器309、电源电路310以及电源供应单元311。上述各元件之间的连接关系和第一较佳实施例相同，在此不再赘述。当主机板30的电源供应单元311有220V交流电输入且未开机时，主机板30的电源电路310就有5V-Standby电压输出。

测试装置40包括连接部401、供电电路402、比较器403、第一发光单元404、开关模块405以及光控制单元406。连接部401通过转接板50耦接测试点303，且由测试点303获得量测电压Vtest’。供电电路402接收电源电路310输出的5V-Standby电压，并提供预设电压Vcc’。比较器403分别耦接连接部401和供电电路402，且接收量测电压Vtest’与预设电压Vcc来进行比较，并提供比较结果。

第一发光单元404耦接比较器403和供电电路402，且接收比较结果，当比较结果为一第一状态时，第一发光单元404不发光。本实施例中，开关模块405具有第一开关S1和第二开关S2，第一开关S1耦接开关单元302，第二开关S2耦接供电电路402。光控制单元406耦接开关模块405，且设置于第一发光单元404的一侧。

在本实施例中，第一发光单元404为发光二极管，光控制单元406为光电耦合器(属于无触点开关器件，是用LED或激光二极管作触发器件，以可控硅或晶体管作为开关器件)。本实施例中比较结果的第一状态和第二状态可用电位高低来区别，例如第一状态为高电位，则第二状态为低电位。

当第一发光单元404不发光时，表示显示卡404测试失败，光控制单元406控制开关模块405的第一开关S1使得主机板30的开关单元302断开，没有触发信号输出至嵌入式控制器(EC)309，则电源电路310不会输出电压至主机板30上的各电子零件，主机板30无法开机，即使此时误触电源开关(图未示)，这样可以防止烧毁主机板与显示卡，保护设备与产品的安全。

当第一发光单元404发光，表示显示卡304测试通过，光控制单元406控制开关模块405的第一开关S1来控制主机板30的开关单元302接通，输出一触发信号至嵌入式控制器(EC)309，控制电源电路310输出电压至主机板30上的各电子零件，使得主机板30开机，主机板30正常运行，以进行后续测试工作。另外，当显示卡测试通过时，开关模块405的第二开关S2控制供电电路402停止供电至比较器403、第一发光单元404，即测试装置40停止工作。这样使用者可以通过第一发光单元404的发光状态来判断显示卡304测试结果，而且可以保护设备与产品的安全。

综上所述，本实用新型的显示卡连接器的测试装置可自动对与显示卡连接器电性连接的测试点进行测量，测试效率高。而且当出现短路时，测试装置自动对主机板开机进行限制保护动作，防止出现短路时，误开机烧毁主机板与显示卡，以保护设备与产品的安全。

虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本实用新型的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

Claims (7)

1.一种测试装置，耦接主机板，上述主机板包括显示卡连接器与开关单元，上述主机板并具有一个与上述显示卡连接器电性连接的测试点，其中上述主机板处于过电且未开机状态，且上述显示卡连接器插设有显示卡，其特征是，上述测试装置包括：

连接部，耦接上述测试点，且由上述测试点获得量测电压；

供电电路，提供预设电压；

比较器，分别耦接上述连接部和上述供电电路，且接收上述量测电压与上述预设电压来进行比较，并提供比较结果；

第一发光单元，耦接上述比较器，且接收上述比较结果，当上述比较结果为第一状态时，表示上述显示卡测试失败，且上述第一发光单元不发光；

开关模块，耦接上述开关单元；以及

光控制单元，耦接上述开关模块，且设置于上述第一发光单元的一侧，当上述第一发光单元不发光时，上述光控制单元控制上述开关模块以控制上述主机板的上述开关单元，使得上述主机板无法开机。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试装置还包括第二发光单元，耦接上述比较器，以接收上述比较结果，且上述第二发光单元远离上述光控制单元，当上述比较结果为上述第一状态时，上述第二发光单元发光。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试装置还包括第二发光单元，耦接上述比较器，以接收上述比较结果，当上述比较结果为第二状态时，表示上述显示卡测试通过，上述第一发光单元发光且上述第二发光单元不发光。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征是，上述开关模块包括第一开关与第二开关，上述供电电路还耦接上述第一发光单元与上述第二发光单元，上述第一开关控制上述开关单元来使得上述主机板开机，上述第二开关控制上述供电电路停止供电至上述比较器、上述第一发光单元以及上述第二发光单元。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征是，上述供电电路还耦接上述第一发光单元、上述第二发光单元以及上述开关模块，上述光控制单元控制上述开关模块以控制上述供电电路停止供电至上述比较器、上述第一发光单元以及上述第二发光单元。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试点与上述连接部之间通过转接板耦接。

7.根据权利要求3所述的测试装置，其特征是，上述转接板具有第一端与第二端，上述第一端与上述测试点以焊接方式连接，上述第二端与上述连接部通过可插拔连接器方式耦接。

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