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TW200911871A - Epoxy resin composition for semiconductor sealing and semiconductor apparatus - Google Patents

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TW200911871A
TW200911871A TW097127210A TW97127210A TW200911871A TW 200911871 A TW200911871 A TW 200911871A TW 097127210 A TW097127210 A TW 097127210A TW 97127210 A TW97127210 A TW 97127210A TW 200911871 A TW200911871 A TW 200911871A
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TW
Taiwan
Prior art keywords
epoxy resin
formula
resin composition
semiconductor
sealing
Prior art date
Application number
TW097127210A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Kuboki
Katsuhiko Oshimi
Takao Sunaga
Masataka Nakanishi
Koichi Kawai
Original Assignee
Nippon Kayaku Kk
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kayaku Kk filed Critical Nippon Kayaku Kk
Publication of TW200911871A publication Critical patent/TW200911871A/zh

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    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
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Description

200911871 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於-種阻燃性及耐濕性優異的半 置、以及用於得到該半導體裝置的半導體密封用環裝 組成物。 a樹月旨 【先前技術】 近年來,隨著半導航件的高性能似及應 壤境的多樣化,在半導體封裝中對小型化、輕量化、^域· 化=狀的要求和對高溫或高濕條件下㈣久_要求型 盈提,。另外,由於最近對環境問題的意識有所提高,二 為性能之-,要求軟釺蟬的無织匕及封裝的無鹵素. 燃化。在日本專利第3349963號公報中記載著:環^ 和硬化劑均具有芳燒基祕(Phenol aralkyl)結構的環急: ,组成物的硬化物無鹵素、無私表現⑽紐,而 使用一裱戊二烯.苯酚聚合物的縮水甘油化物的環氧樹月1 或硬化劑的環氧樹脂組成物的硬化物的阻燃性非常差。曰 ^專利特開平2GG4·迎94號公報巾記㈣湘二環戊: 缔.苯驗聚合物的縣難和緣.聯苯練基魏樹脂Γ 用n芳燒基細旨作為硬化#丨的組合,而實施例 兄载著.雖然上述組合中無鹵素.無銻,但無機埴 ^ I V-0 a 2004;3^944 2载著··當相對於絲聯苯狄基環氧樹腊使用 =篁或等量以上的二環戍二稀.苯齡聚合物的環氧樹脂 、,硬化物的阻燃性下降。另外,在曰本專利第3349963 200911871 ::::: 量少的製品赫I户拉",、法解決越疋咼價製品即上市絕對 2002-3別號公報P2的困境4日本專利特開平 齡聚合物的環氧‘在二環戍二稀·苯 化劑的組合纽細旨作為硬 實施例中還使的阻燃性優異,在其 【發明内容】氧樹s和二氧化録作為阻燃劑。 合物目供—種不使用_素化合物和娣化 成成物及使用該半導體密封用環氧樹脂- 濕性於上ϊ實況,謀求可得到具阻燃性及耐 組成物的半導體穿用環氧樹贿成物以及使用該 明。f㈣裝以進仃了深人研究,結果完成了本發 即,本發明之要旨構成如下。 環氧樹脂和無機填充劑,不的_樹脂、式⑺表示的 200911871
(式中’ η為平均值’滿足ι<η$3的關係。) (式中,複數存在的R各自獨立表示氫原子或碳原 1〜4的絲^為平均值,滿足1如4的關係。)數4 〇cs2c^»2 該環氧樹脂組成物的特徵在於:上 點⑻(。〇滿足下述式(1)的關係、: 乳樹月曰之軟化 80SA+B 各 150 …(I)。 2.如上述1所記載之半導體 其特徵在於:上述式⑴矣_ AA、衣氣樹月曰組成物, 4〇t〜m:。 ()表不的祕_的軟化點(A)為 3. 如上述1或2所記载之 徵在於:上述式门彳本-^ »卜 用組成物,其特 6〇t:。 )表不的裱氧樹脂的軟化點(B)為4CTC〜 4. 如上述1〜3由也 _ 榷m組成物,其特徵^一項所記載之半導體密封用環氧 重量百分比在於·上述無機填充劑的含量為75 ^ (Wt/°)〜85重量百分比(wt。/。)。 中任;置’該半導縣置是使縣上述1〜4 導體元件。 丁導體密封用環氧樹脂組成物來密封半 半導己載之半導體裝置,其特徵在於:上述 件搭栽在鋼系導線架0—)上。 200911871 合物樹脂組成物不使_化 下具有高可;,在錢 為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優f 明如下。芈㈣貫_,魏合__,作.詳細說 【實施方式】 以下’詳細說明本發明。本發明之半 樹脂組成物的特徵在於:含有在封用環氧 式⑴衣不的酚醛樹脂之軟化點 明之半導體密封用環氧樹腊組成物能角提供阻燃性及低 有足2== 之碳化層之柔軟性,形成具 氣體向外部擴散的水準的交聯密 度而達成。另外’本發明之半導體密封用 高的上述式⑴表示的祕樹脂的縮水甘=】 了棱兩硬化物之阻燃性.,因此 =明之半導體密封用環氧樹脂的適當:二:上 述式(1)衣不的酚醛樹脂的縮水甘湳化物。 本發明之半㈣密_縣獅組絲含有上述式⑴ 不的祕齡。上述式⑴的祕細 酸性催化劑的存在下,使笨驗態代甲基聯 200911871 氧基曱基聯苯類等反應而得到。在式⑴中,R可 乳原子、甲基、乙基、丙基、丁基等碳原子數為】〜4的卜 基等’R各自可以相同也可以不同。n以平均值表干1 求其滿足Kng的關係。需要說明的是,式⑴中的η,
可以由祕翻旨的錢膠滲透層析G 聚苯乙烯換算之數平均分子量值而算出。疋而衣件的 上述式(1)表示的酚醛樹脂的软化點低,則環氧 成物的流動性及硬化物之阻燃性提高,但上述式⑴表= 驗=掠m的軟化點高則硬化物之耐熱性變高,因此從兩者 之均衡的肖度考慮’上述軟化_^桃〜⑽^ 、〜巧。這裏所說的軟化點是指按照依據‘ 、法測疋的值。上述式(1)表示的酚醛樹脂的軟化 =決於式⑴中的η值、即上述式⑴表示賴_脂的= 子:’匕酚醛樹脂的分子量低則其軟化點也變低 ;反之:齡· 的分子量高則軟化點也變高。因此,藉由控制上述 不崎轉脂的分子量,可以得到具所需軟化點的 I t °具體而言’為了得到軟化點低的齡藤樹脂,只 可.5苯?與雙鹵代甲基聯苯類反應時使用過剩的苯’ :了得到軟化點高的酚醛樹脂,只要在上述反應時減 少笨酚用量即可。 有上1 ΐ的疋本發明之半導體密封用環氧樹脂組成物含 / 表示的盼輕樹脂,使酚醛樹脂的羥基當量(χ) 氧樹脂的環氧當量⑺(咖.)的關係(χ/γ)為〇.s *的關。認為若上述關係(X/Y)偏離此範圍,則在硬 200911871 化物中過_環氧基或絲 構,因此吸濕性或耐熱性等諸牲欠應而形成殘留的交聯結 本發明之半導體密封用广^性差。 表示的環氧樹脂。上述式户樹脂組成物含有上述式(2) 月旨與環氧氯丙燒進行脫鹽氧樹脂例如藉由使祕樹 使苯紛與二環戊二稀^ =得到,上述祕樹脂是 平均值表示1要求其滿足】〈催^化劑進行聚合而得到。n以 式⑺中的η值可以、由 ^ f 3的關係。需要說明的是, 測定而求得的聚苯乙 、經凝轉透層析法(GPC) 上逑式⑺表示的^氣;^平均分子量值而算出。 成物之流動性及硬化物之點低,則環氧樹脂组 環氧樹月旨的軟化點高,列硬化、,兩;而上述式⑺表示的 者之均衡的角度考π匕物之辦熱性變高,因此從兩 佳的是4(TC〜6〇t i :化點通常為40°C〜80°C,較 咖4的方法測定的值。^^軟化點是指按照依據® 同,上述式(2)表示的環氧樹)^的_樹月旨的情形相 量,因此藉由將相射认氧樹的軟化點也取決於其分子 合的相對於二環戊二婦使用過剩的苯紛進行聚 化,可用量進行聚合的祕_進行環氧 了侍到軟化點高的環氧樹脂。 ㈣ 述式發I之半導體密封周環氧樹腊組成物中,要求上 翻旨之敗_)⑺與上述式⑺表示 的是U0。二C(c)的總計為8(rc〜15(rc,較佳 L。上迎軟化點總計小於8〇t:時,由於環 200911871 的魏點核,魏表面魏,在作 2 而上述軟化點的總計若超過150。(:,則; ==果=燒時生成的硬化物表面之- 劑。=二含== =、氧化銘、碳酸約、石夕酸舞、氫氧化鎂、氫氧化錯、碎 氧η、黏土、氧化鎂、氧化鋁、氧化鈹、氧化鐵: ϊ:ί、r二呂、氮切、氮化硼、雲母、玻璃、石英、 =專,^並不限於這些。上述無機填充劑中,較 -^化t靠性也良好的嫁融二氧化石夕或結晶二氧化石夕等 :=是=:是’上述無機填充劑可以單』 := 環氧樹脂組成物中’上述無機填充劑 為^ :〜90感的範圍,較佳的是75游〇〜85㈣的 二=無:t劑的含量太低,則有可能無法得到 丰二t 述無機填充劑的含量太高,則由於 ί 載的銅系導線架與_樹脂的線膨w不 不佳狀況有可I產生由熱衝擊(heat sh。峨熱應力引起的 誠ί外’在本發明之半導體密封賴氧樹齡成物中, 要可以使用硬化促進劑。可使關硬 二 :可以列舉出:2_甲基唯唑、2•乙綱、2•乙基= >圭尋㈣類;2仁甲胺基曱基)苯m氮雜二環 12 200911871 十-石炭參7等第3級胺類;三 重^ 用除ί= 表半導:密封用環氧樹赌組成物中’可以倂 劑。可併用的環氧樹脂用硬化劑可^^氣=用硬化 _系化合物、醯胺系化合物、:系:合物、 Γ 雙氰; 醯胺樹脂;齠贫-田綠r丞一妝合成的聚 來酸酐鄰 偏苯三酸野、苯均四酸酐、$ ΐ=Γ鄰苯二甲_、甲基四氣化鄰苯二甲酸軒 酸ί3 (me%i福化anhydride)'六氫化鄰苯二尹 其乐、Γ基六風化鄰苯二甲酸野;雙_;_(苯紛, ς =祕、芳香族取代苯酴H烧基取代萘紛、二 苯、絲取代二錄苯、二縣料)和各祕(甲駿、 駿、烧絲、苯㈣、燒基取代苯甲·、誠苯甲輕、 ^甲駿、戊二酸、鄰苯二甲駿、巴豆駿、肉桂搭等)的縮聚 g,酚類與各種二烯化合物(二環戊二烯、烯類、乙烯義
巧烯、降沐片二烯、乙稀基降冰片稀、θ氫茚、二乙J $,、一乙烯基聯苯、二異丙烯基聯苯、丁二烯、異戊二 ,等)的聚合物;酚類與酮類(丙酮、丁酮、甲基異丁基_、 苯乙_、二苯曱酉同等)的縮聚物;龄類與雙氯曱基苯的縮聚 13 200911871 物;雙酚類與各種醛的縮聚物;雙酚類以及它們的改性物; 、bf3«•胺錯合物、M衍生物等。f要制的是,上述 環氧樹墙用硬化劑可以單獨使用,也可以是兩種或兩種 上組合使用。 t述可併用的環氧樹脂用硬化劑只要是通常使用的環 氧樹脂用硬化劑即可,並不限於上述具體例子,但本發明 之目的在於不必使用鹵素化合物和銻化合物,而得到阻燃 性優異的環氧樹脂組成物,因此應極力避免使用含有南素、 二:,。另外’若上述可併用的環氧樹脂用硬化劑的添 加=夕,則有可能損及本發明之目的。因此,當本 ί:外:環氧樹脂含有除上述式⑴表示的酚_ 硬化劑在硬化劑時,上述可併用的環氧樹脂用 樹脂用硬化劑的總計中所占的比例較=:t用,氧 wt%,特難的是小於2Q wt%。 ^小於30 在本發明之半導體密封用環氧樹脂組 用除上述式(2)表示的環氧樹腊以外的氧樹 可以併 環氧獅的具體例子可以列舉出:軸可併用的 驗、芳麵取代苯齡、雜、燒基取燒基取代苯 ,取代,基苯、二幾基萘等)與各“(‘經基苯、 炫基駿、本甲搭、院基取代苯甲輕 -乙駿、 戊二駿、鄰苯二甲酸、巴豆•、肉桂心:駿、萘盤、 與各種二稀化合物(箱烯類、乙稀基、‘聚物;驗類 乙烯基降冰片稀、四氫節、二乙烯:、降冰片二烯、 Γ二烯、異戊二 14 200911871 婦等)的聚合物;_ 苯乙酮、二苯甲 ^_(丙酮、丁酉同、曱基異丁基酉同、 物;雙_與各種聚物;紛類與雙氯甲基苯的縮聚 水甘油峻系環氧播、丨1物,將醇類4縮水甘油化的縮 3,4-環氧基環己基曰甚烯基+環己烯二環氧化物或 的脂環式環氧樹^t 土],4’-環氧基環己烷羧酸酯等為代表 (TGDDM)t四縮水甘油基二胺基二苯基甲燒 油胺系環氧翻旨;縮水n胺絲_為代表的縮水甘 是,上述環氧樹環,,。需要說明的 上組合使用。 钱彳d也可〜兩種或兩種以 可,要枝纽⑽環氧樹脂即 應極力避免使用^;從本發明之目姻角度考慮, 併用的環氧樹磨的。另外,若上述可 式⑺l 明之半導體密朗環氧雛含有除上述 氧樹月旨I上的環氧樹脂時’上述可併用的環 ==:占的比例較佳的是小—,特別二 ,本發明之半導體密封用環氧樹磨組成物中,為了在 I使與金屬模的離型變得良好,可以添加離型劑。作 二剎,可以使用以往習知的任一種物質,可以列舉如: 示櫚蠛、褐煤蝶等醋系蠟;硬脂酸、棕櫚酸等月旨肪酸 1及及些脂肪酸的金屬鹽、氧化聚乙婦、非氧化聚乙稀等 15 200911871 聚烯烴系蠟等。上述離型劑可以單獨使用,也可以是兩種 或兩種以上併用。相對於全部有機成分,上述離型=的添 加量較佳的是小於等於3 wt%。若離型劑的添加量太多, 則與導線架等的黏接變差。 在本發明之半導體密封用環氧樹脂組成物中,為了提 高樹脂成分與無機填充劑的黏接性,可以添加耦合劑。作 為耦合劑,可以使用以往習知的任一種物質,可以列舉如: 乙婦基燒氧基魏、基絲基魏、苯乙烯基院氧基 石夕燒、甲基丙觸氧纽氧基魏、丙_氧纽氧基石夕 _基_ 1基贱基魏、異氰酸醋燒氧基 石夕院τ各種絲基魏化合物;綠基錢合物、链整入 上^合以單獨使用,也可以是兩種或 =! 將預先以上_合劑進行表面處理的益機 混:可_合劑混合酬分 根據=可封=樹脂組成物中, 例子可以列舉忠:i 丁的可使用的添加劑的具體 的改性物、聚苯及f性物、丙稀猜共聚物 ==⑽氰酸_物、 只要ΐ習知的酞菁綠等著色劑等。可使⑽添加劑 於^=3=^#並不限於上述具體例子,但由 得到_性優異的環氧樹化合物或錄化合物,而 虱樹脂組成物,因此應極力避免添加 16 200911871 銻系阻燃劑。在本發明之 中,上述添加劑的添加量只 封用環氧樹脂組成物 密封半導體時的作業‘,及_性、且不妨礙 本發明之半導體 均勾分散混合各轉成分的以往習知日3物太可以採用可 ::丄:!明之半_密封用環氧樹脂組各 種成分全部粉碎並使用亨舍物藉由將各 倾合,__上述各種核二當= 卜1本發明之半導體裝置’可以藉由使用上述半導 旨組成物,利用傳遞成形等對搭載在導線 j的传體TL件進行樹絲封來製I本發明之半導 =裝1是用上述半導體密封用環氧樹脂組成物來密封半導 體兀件、,包括該半導體密封用環氧樹脂的硬化物。半導體 裝置可以列舉如··雙啦插式封裝(Dual In_line Package, DIP)、四方扁平封裝(Quad Flat Package,QFP)、球栅陣列 封裝(Ball Grid Array Package,BGA)、晶片級封裝(Chip Scale Package ’ CSP)、小尺寸封裝(Small Outline Package, S〇P)、薄型小尺寸封裳(Thin Small Outline Package, TSOP)、薄型四方扁平封裝(Thin Quad Flat pack,TQFp) 寸0 在本發明之半導體裝置中,從散熱性或高速電特性問 題的角度考慮,較佳的是,使用銅系導線架。銅系導線架 17 200911871 是指以銅合金為原料,實施了各種電鍍加卫的導線架。 «實施例》 、下利用5成例、實施例及比較例來具體說明本發 明。 x (合成例) 在8〇 C下,在2小時中邊加熱攪拌邊向2〜5莫耳的 苯射連續添加1莫耳的雙氯甲基聯苯。添加結束後,再 於80C下反應3小時’反應結束後在加誠Μ下除去過剩 的苯齡。向溶融狀態的樹脂中加人約3倍量的甲基異丁基 酮亚溶解,反覆進行水洗。之後,藉由在加熱減壓下館去 甲基異丁基酮,得到下述式⑶表示的化合物(m〜H3): 士 QB ___ (3) 藉由凝膠滲透層析法測定而求得的(Η1)〜(Η3)之式⑺中的 η如下0 (Η1) (Η2) (Η3) 1.5 η 与 2.0 η与23 如上所述’(HI)〜(Η3)中的η值的不同源於合成例中 使用的苯_莫耳數的不同。苯關莫耳數越大,η變得 越小,本紛的莫耳數越小,η變得越大。 (實施例及比較例) …按衣j所不配方(重量份)添加各種成分,用混合輕進 ’亚$成片劑’之後藉由傳遞成形來製備樹鹿成形 18 200911871 物,在160°C下硬化2小時、進一井 法測定硬化物的物性(吸咖續: (1) 吸濕率 在121°C及濕度1〇〇%下測定24小時後 率。需要說明的是,試驗片為直 ^的^加 盤形。 度4mm的圓 (2) 阻燃性
HUL94垂直試驗來物。其巾,以 mmx長150 mm、厚度分為〇 8 為見12.S 試驗。殘炎時間是指對5個為一;^。随^種來進行 ”足以下所有條件:(i)各試驗片 卜=是 於等於1G秒;⑼5個為—_㈣机广㈣场間均小 樣品下端305 mm的棉線時沒有滴夹^具處;㈣點燃題 “ “ 職下未完全燃燒的顆粒; (v)取去第2 -人的火焰後繼續燃燒的時 V-1是指滿^以下所有條件.m 為3G &以内。而 pe- . ,·.Γ ()各甙驗片點火後的殘炎時 i :時Η料二5個為—組的試樣點火10次後的 殘炎%間總S十小於專於250秒· t x 办,(U1)未燃燒至夾具處;(访) 點燃距一下鳊305 _的棉線 顆粒;W取去第2次的火焰後痒?下未儿王燃燒釣 妇设龜續燃燒的時間為00秒以 内。 19 200911871 知、» W · Wfc w 表1 實施例 1 食施例 2 實施例 3 女施例 I 4 實施例 5 實施例 6 比較例 1 比較例 2 比較例 3 環氣樹脂(E1) 8.8 1 11.6 8.6 8^ 環砂脂(E2) 8.7 **_ 8.6 112 環氣樹脂(E3) 9.1 8.7 硬化劑(H1) 73 9.5 71 - 硬化劑(H2) Ί5 7.5 硬化劑(H3) 7,7 77 10 7.5 硬化促進劑 03 03 03 03 02 0*2 οι η 02 0.1 添加劑 83 78 83 83 83 83 83 78 83 離型劑 0.3 03 03 03 03 0.3 〇3 03 03 耦合刺 吸濕率(%) 03 0.19 0.3 Q21 03 ~m~ 03 ~"02 _ 03 03 03 03 __ 03 〇Ξ~ 0.19 02 〇7^ 025 厚度0.8 mm 阻燃性 殘炎時間(秒) V-0 28 V-0 34 V-0 35 V-0 39 V-0 40 V-0 39 V-1 56 V-1 74 V-1 62 厚度1.6 mm 阻燃性 殘炎時間(秒) V-0 19 V-0 23 24 V-0 25 V-0 26 V-0 24 V-0 31 V-1 53 V-0 47一 (El) : XD-1000-2L· (曰本化藥製.,式(2)中的n与1.4,環氧 當量為241 g/eq. ’軟化點為57。〇。 (E2) : XD-1000-L (曰本化藥製,式(2)中的ngl 6,環氧當 量為245 g/eq. ’軟化點為66。〇。 (E3) : XD-1000 (曰本化藥製,式⑺中的n%1.8,環氧當量 為254 g/eq.,軟化點為74。〇。 (H1):合成例中得到的式⑺表示的酚醛樹脂(式(3)中的 η与1.5,羥基當量為199 g/eq·,軟化點為65。〇。 (H2):合成例中得到的式(3)表示的酚醛樹脂(式中的 H52.0,羥基當量為21〇 g/eq.,軟化點為77。〇)。 (H3) ·合成例中得到的式⑺表示的酚醛樹脂(式(3)中的 n=^2.3,羥基當量為219 g/eq.,軟化點為89〇C)。 硬化促進劑:三苯基膦(北興化學工業製)。 添加劑:MSR-2212(龍森製,熔融二氧化矽)。 離型劑:巴西棕櫊蠟1號(CERARICA野田製)。 20 200911871 耦合劑:ΚΒΜ-303 (信越化學工業製)。 由表1可知:使用了本發明之半導體密封用環氧樹月旨 組成物的實施例1〜6,即使不使用豳素或銻化合物,其阻 燃性也優異。特別是由實施例丨及實施例2的結果可知: 藉由將軟化點小於等於80°C的式(1)表示的酚醛樹脂和軟 化點小於等於6〇°C的式(2)表示的環氧樹脂組合,阻燃性進 一步提向。另外,由添加劑的添加量相同的實施例與比較 例的比較可知:與比較例相比,實施例之硬化物的吸濕率 低20°/。左右,可知:本發明之半導體密封用環氧樹脂組成 物之硬化物的耐濕性優異。 —雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以 限=本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神 =耗圍内,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為准。 【圖式簡單說明】 益。 【主要元件符號說明】 無。 21

Claims (1)

  1. 200911871 十、申請專利範圍: L一種半導體密封用環氧樹脂組成物’該環氧樹脂組 成物包括作為硬化劑而由式(1)表示的酚醛樹脂、由式(2) 表不的環氧樹脂以及無機填充劑,
    (1) (式中’複數存在的R各自獨立表示氫原子或碳原子數為 〜4的烷基;η為平均值,滿足1<η$4的關係);
    (式中’ n為平均值,滿足1<η$3的關係); 其中’上述式(1)表示的酚醛樹脂的軟化點(A) (。(^與 上述式(2)表示的環氧樹脂的軟化點(B) (。〇滿足下述 的關係: ^ μ^Α+Β$150 2.如申請專利範圍第1項所述之半導體密封用環氧泡 脂組成物,其特徵在於··上述式⑴表示_ 點(A)為40。(:〜80。(:。 欺价 3·如申請專利範圍第!項或第2項所述 用環氧樹脂組成物’其特徵在於: 脂的軟化點(B)為40。(:〜60。(:。 不的%、氧楼 4.如申請專利顧第1魅第3射任1所述之丰 22 200911871 導體密封用環氧樹脂組成物,其特徵在於:上述無機填充 劑的含量為75〜85重量百分比。 5. —種半導體裝置,該半導體裝置是使用如申請專利 範圍第1項至第4項中任一項所述之半導體密封用環氧樹 脂組成物來密封半導體元件。 6. 如申請專利範圍第5項所述之半導體裝置,其特徵 在於:上述半導體元件搭載在銅系導線架上。 23 200911871 七、 指定代表圖: (一) 本案指定代表圖為:無。 (二) 本代表圖之元件符號簡車說明: 無。 八、 本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵 的化學式: 無。
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