SU1464064A1 - Устройство дл деформировани образцов при проведении микроанализа их структуры - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к испытательной технике, а именно к исследованию структуры материала образцов в процессе их нагружени . Целью изобретени   вл етс  повышение точности испытаний. Устройство состоит из основани  1, пассивного захвата 2, активного захвата Т2, тарированной пружины 9, установленной на центрирующих конусных опорах 10 . и 11, одна из которых св зана с активным захватом 12, и средства сжати  пружины. Образец деформируетс  . усилием сжати  или изгиба, пропорциональным измер емому перемещению сжа ти  пружины. 2 ил.

Description

фиг. г

Claims (1)

1. Формула изобретения

   Устройство для деформирования образцов при проведении микроанализа их структуры, содержащее предназначенное для размещения на предметном столе микроскопа основание, установленные на нем пассивный и активный захваты и нагружатель, отличающееся тем, что, с целью повышения точности за счет нагружения образца контролируемым усилием сжатия или изгиба, нагружатель выполнен в виде двух соединенных между собой колоннами траверс, одна из которых жестко закреплена на основании, а другая имеет привод ее перемещения вдоль колонн, двух соосных конусных упоров, один из которых установлен на подвижной траверсе, и размещенной между конусными упорами цилиндрической тарированной пружины, устройство снабжено установленной на неподвижной траверсе направляющей втулкой, ось которой совпадает с осью конусных упоров, а активный захват размещен в полости втулки и соединен с вторым конусным упором.

   1 Ή, 4Oh4