RU2037854C1 - Микроскоп для работы в проходящем и (или) отраженном свете - Google Patents
Микроскоп для работы в проходящем и (или) отраженном светеInfo
- Publication number
- RU2037854C1 RU2037854C1 SU864027989A SU4027989A RU2037854C1 RU 2037854 C1 RU2037854 C1 RU 2037854C1 SU 864027989 A SU864027989 A SU 864027989A SU 4027989 A SU4027989 A SU 4027989A RU 2037854 C1 RU2037854 C1 RU 2037854C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- paragraphs
- microscope according
- vertical
- tripod
- microscope
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 35
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 9
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000009993 protective function Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/18—Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61K—PREPARATIONS FOR MEDICAL, DENTAL OR TOILETRY PURPOSES
- A61K51/00—Preparations containing radioactive substances for use in therapy or testing in vivo
- A61K51/02—Preparations containing radioactive substances for use in therapy or testing in vivo characterised by the carrier, i.e. characterised by the agent or material covalently linked or complexing the radioactive nucleus
- A61K51/04—Organic compounds
- A61K51/08—Peptides, e.g. proteins, carriers being peptides, polyamino acids, proteins
- A61K51/10—Antibodies or immunoglobulins; Fragments thereof, the carrier being an antibody, an immunoglobulin or a fragment thereof, e.g. a camelised human single domain antibody or the Fc fragment of an antibody
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61K—PREPARATIONS FOR MEDICAL, DENTAL OR TOILETRY PURPOSES
- A61K51/00—Preparations containing radioactive substances for use in therapy or testing in vivo
- A61K51/02—Preparations containing radioactive substances for use in therapy or testing in vivo characterised by the carrier, i.e. characterised by the agent or material covalently linked or complexing the radioactive nucleus
- A61K51/04—Organic compounds
- A61K51/0474—Organic compounds complexes or complex-forming compounds, i.e. wherein a radioactive metal (e.g. 111In3+) is complexed or chelated by, e.g. a N2S2, N3S, NS3, N4 chelating group
- A61K51/0476—Organic compounds complexes or complex-forming compounds, i.e. wherein a radioactive metal (e.g. 111In3+) is complexed or chelated by, e.g. a N2S2, N3S, NS3, N4 chelating group complexes from monodendate ligands, e.g. sestamibi
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61K—PREPARATIONS FOR MEDICAL, DENTAL OR TOILETRY PURPOSES
- A61K51/00—Preparations containing radioactive substances for use in therapy or testing in vivo
- A61K51/02—Preparations containing radioactive substances for use in therapy or testing in vivo characterised by the carrier, i.e. characterised by the agent or material covalently linked or complexing the radioactive nucleus
- A61K51/04—Organic compounds
- A61K51/08—Peptides, e.g. proteins, carriers being peptides, polyamino acids, proteins
- A61K51/10—Antibodies or immunoglobulins; Fragments thereof, the carrier being an antibody, an immunoglobulin or a fragment thereof, e.g. a camelised human single domain antibody or the Fc fragment of an antibody
- A61K51/1045—Antibodies or immunoglobulins; Fragments thereof, the carrier being an antibody, an immunoglobulin or a fragment thereof, e.g. a camelised human single domain antibody or the Fc fragment of an antibody against animal or human tumor cells or tumor cell determinants
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61K—PREPARATIONS FOR MEDICAL, DENTAL OR TOILETRY PURPOSES
- A61K51/00—Preparations containing radioactive substances for use in therapy or testing in vivo
- A61K51/02—Preparations containing radioactive substances for use in therapy or testing in vivo characterised by the carrier, i.e. characterised by the agent or material covalently linked or complexing the radioactive nucleus
- A61K51/04—Organic compounds
- A61K51/08—Peptides, e.g. proteins, carriers being peptides, polyamino acids, proteins
- A61K51/10—Antibodies or immunoglobulins; Fragments thereof, the carrier being an antibody, an immunoglobulin or a fragment thereof, e.g. a camelised human single domain antibody or the Fc fragment of an antibody
- A61K51/1093—Antibodies or immunoglobulins; Fragments thereof, the carrier being an antibody, an immunoglobulin or a fragment thereof, e.g. a camelised human single domain antibody or the Fc fragment of an antibody conjugates with carriers being antibodies
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/088—Condensers for both incident illumination and transillumination
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61K—PREPARATIONS FOR MEDICAL, DENTAL OR TOILETRY PURPOSES
- A61K2123/00—Preparations for testing in vivo
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Proteomics, Peptides & Aminoacids (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Pharmacology & Pharmacy (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Oncology (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Actuator (AREA)
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Optical Filters (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Использование: оптическое приборостроение. Сущность изобретения: микроскоп для работы в проходящем и (или) отраженном свете с замкнутой или открытой конструкцией вертикального рамного штатива с вертикально расположенной поверхностью предметного столика и горизонтальной оптической осью, направленной перпендикулярно предметному столику. Корпус микроскопа включает в себя по меньшей мере две вертикальные части штатива, которые связаны между собой основанием штатива и расположены одна за другой, если смотреть со стороны оператора. Между обеими частями штатива находится вертикальный предметный столик, относительно которого горизонтальная оптическая ось сохраняет перпендикулярное положение. Угловая разница между вертикальной плоскостью и поверхностью предметного столика и угол между горизонтальной линией и оптической осью может составлять до 30°. Для всех форм осуществления обеспечена за счет действующего в зоне объекта ламинарного потока воздуха возможность работы с объектами большой площади, в особенности с пластинами, без опасности их загрязнения. Оператор имеет возможность выполнять все необходимые функции по микроскопированию объекта и работе с ним с пультов управления, сконструированных исходя из принципов эргономики и расположенных за пределами критической зоны объекта. Указанная система может применяться в качестве центрального блока в полностью автоматизированных линиях для контроля, измерения с использованием управляющих ЭВМ. 1 с.п. ф-лы, 22 ил.
Description
Изобретение касается микроскопа для работы в проходящем (или) отраженном свете, имеющего корпус, опорную плиту, вертикальный рамный штатив с одной передней и одной задней частями, вертикально расположенный предметный столик.
Микроскоп предназначен для исследования объектов с большой поверхностью, таких как маски или рельефные пластины.
Известен прибор, содержащий дополнительный корпус, дополнительную камеру, надеваемую на объектив корпус. В дополнительный корпус направляется воздух, выходящий через кольцеобразное отверстие (концентрично оптической оси объектива камеры).
Особенностью этого решения является решетка, размещенная приблизительно перпендикулярно оптической оси подлежащей защите оптической системы. Решетчатый растр не должен выходить за пределы определенных измерений, что ограничивает регулирование и приводит к нежелательным нарушениям, в изображении.
Кроме того, ламинарный поток проходит перпендикулярно оптической оси микроскопа. Это обуславливает то, что поток воздуха получается в направлении оптической оси, так что фронтальная поверхность объектива оптического прибора остается ненагруженной.
Таким образом, известное решение не позволяет защищать от загрязнения объекты с большой поверхностью, поскольку поток воздуха проходит перпендикулярно оптической оси микроскопа, т. е. нельзя избежать оседания частичек пыли.
Цель изобретения создание микроскопа для работы в проходящем (или) отраженном свете в особенности для исследования двухмерных объектов с большой поверхностью, который обеспечивал бы в рабочем положении оптимальные в эргономическом отношении условия обслуживания прибора, возможность контроля и перемещения объекта при отсутствии опасности его загрязнения и обладал бы стабильной компактной конструкцией даже для объекта с экстремально большой поверхностью, а также мог быть использован в качестве блока, встраиваемого в поточную линию для изготовления рельефных пластин.
Это достигается тем, что у предложенного микроскопа рамный штатив содержит дополнительно верхнюю плату, причем опорная плата и (или) верхняя плата рамного штатива выполнены со сквозными отверстиями, соединенными с устройством для подачи и всасывания воздуха.
Кроме того, корпус выполнен по меньшей мере из двух самостоятельных частей, закрепленных на опорной плате, а также корпус и (или) части корпуса могут быть выполнены в виде станин прямоугольного сечения или порталов, или круглого, или углового бугеля, а отдельные части корпуса закреплены на опорной плате наклонно.
При этом в частях корпуса или в вертикальном рамном штативе размещены оптические элементы, а все элементы управления размещены в основании вертикального рамного штатива и (или) на его передней части или на передней части корпуса.
Кроме того, микроскоп снабжен приспособлениями для крепления путем вдвигания стандартных сменных модулей для освещения, наблюдения, измерения и регистрации.
Между передней (передними) и задней (задними) частями штатива находится предметный столик для размещения или удержания объектов большой площадки, который имеет возможность продольного смещения.
Вертикальный рамный штатив размещен с возможностью продольного перемещения относительно предметного столика, а с закрепленным на нем предметным столиком установлен с возможностью вращения относительно окуляра микроскопа, причем вертикальный рамный штатив может быть выполнен в продольном сечении прямоугольной или квадратной формы, а опорная плата удлинена и выполнена с пультом ручного управления, а также вертикальный рамный штатив может быть выполнен в продольном сечении в форме трапеции или параллелограмма со скошенной передней частью.
Кроме того, корпус микроскопа выполнен в виде полого тела, протяженного поперек оптической оси окуляра в соответствии с геометрией продольного сечения рамы, а сам микроскоп снабжен средствами для установки и присоединения специальных микроскопных модулей, а также средствами для дистанционного манипулирования и управления.
На фиг.1 изображен микроскоп с вертикальным столиком, выполненный с открытым вертикальным рамным штативом, вид сбоку; на фиг.2 то же, вид сверху; на фиг.3 то же, вид спереди; на фиг.4 микроскоп с вертикальным столиком, выполненный с замкнутым вертикальным рамным штативом с четырехугольным продольным вырезом с изображением имеющихся в ходах частичных лучей оптических, механических и электронных конструктивных элементов и модулей, вид сбоку; на фиг. 5-8 конструкции с замкнутым вертикальным рамным штативом с различной геометрией вырезов и разным положением плоскости предметных столиков; на фиг. 9 первый пример выполнения с вращающимся замкнутым рамным штативом, вид сбоку; на фиг.10 второй пример выполнения вертикального рамного штатива замкнутой конструкции с неподвижным креплением предметного столика и перемещающейся рамой, вид сбоку; на фиг.11-15 конструкции с открытой рамной конструкцией и различной геометрией сечения рамы, различным положением плоскости предметного столика, а также различным положением выреза в раме, вид сбоку; на фиг.16-18 комбинации вертикальных штативов и стенок, вид сверху; на фиг. 19 пример выполнения с замкнутым рамным штативом, но с экстремальным удлинением в направлении поперек к оптической оси по типу полупрофильного туннеля.
Корпус микроскопа (см. фиг.1-3) состоит из передней вертикальной части 1 рамного штатива, задней вертикальной части 2 рамного штатива, которые неподвижно смонтированы на общей опорной плате 3 или выполнены в виде самостоятельных блоков. Обе части 1 и 2 рамного штатива, а также опорная плата 3 образуют открытый рамный штатив 4, в отличие от изображенного на фиг.2 замкнутого рамного штатива 5. Открытый рамный штатив 4 имеет вертикальное конструкционное исполнение, т.е. плоскость его продольного сечения находится в плоскости чертежа и расположена перпендикулярно к горизонтальной опорной поверхности 6. На передней части 1 рамного штатива укреплен блок визуального наблюдения, включающий бинокуляр 7 и револьверную головку 8 для объектива; на задней части 2 рамного штатива смонтирован предметный столик для размещения объекта 9. В рассматриваемом случае оптическая ось микроскопа расположена горизонтально, а поверхность предметного столика вертикально по отношению к поверхности 6 в дальнейшем указания на положение оптической оси будут относиться лишь к тому участку оптической оси микроскопа, который проходит от находящегося в положении наблюдения объектива в револьверной головке 8 до объекта 9 или до предметного столика 10. Хотя в рассматриваемом случае показано осветительное устройство для работы в отраженном свете, это не исключает возможности монтирования на задней части 2 рамного штатива известных осветительных устройств (источник света, конденсоры, бленда) для получения хода лучей, освещающих объект в комбинации проходящего и отраженного света.
На чертеже не показаны также места крепления внешних фонарей освещения или иных применяемых в технике микроскопирования модулей для специальных целей. Важным конструкционным признаком является расположенная на боковой поверхности передней части 1 рамного штатива панели управления 11, с которой может выполняться большое число функций управления. Эта панель управления может находиться и непосредственно на обращенной к оператору передней стороне части 1 рамного штатива.
Другие функции управления могут осуществляться с пульта управления 12. Для оператора отсутствует необходимость выполнения каких-либо манипуляций поблизости от объекта. Смена объективов, перемещение координатного предметного столика, фокусировка, смена рода освещения, прифланцовка внешних или замена встроенных модулей, даже смена объекта могут выполняться автоматически. Вследствие вертикального положения предметного столика ограничивается кроме того, возможность осаждения загрязняющих объект частиц пыли из воздуха помещения. В качестве дополнительной меры, направленной на предотвращение оседания частиц пыли, предусмотрен непрерывный ламинарный поток воздуха, омывающий плоский объект, осуществляемый с использованием отверстия 13 для подачи воздуха и имеющихся в верхней части опорной платы 3 отверстий 14 для прохода воздуха. Существует возможность замены устройства для подачи воздуха устройством для отсасывания воздуха.
Хотя при строго вертикальном расположении плоскости предметного столика и объекта 9, например кремниевой пластины диаметром 200 мм, возможность оседания частиц пыли на его поверхности является минимальной, обеспечивается также возможность перевода предметного столика 10 на некоторый угол в наклонное положение подобно нотному пульту. При этом угол α не должен выходить за пределы диапазона 00 ≅ α ≅ 30o. Наклон предметного столика на угол α1 относительно вертикального положения соответствует отклонению примыкающего к объекту участка 15 оптической оси микроскопа от горизонтального положения также на указанный угол α1, поскольку примыкающий к объекту участок 15 должен постоянно находиться под прямым углом по отношению к объекту 9. Предназначенные для этого средства могут быть реализованы с использованием механических передающих и связующих элементов.
Вертикальный рамный штатив 5 имеет "замкнутое" исполнение (см. фиг.4); передняя часть 1 рамного штатива и задняя часть 2 рамного штатива соединены с основанием штатива и его верхней частью. Рама четырехугольной формы выполнена в виде неразъемной детали. Опорная плата 3 снабжена выступом в сторону оператора, на котором размещен пульт управления 12. Устройство для обдувания объекта ламинарным потоком воздуха отличается наличием отверстий 14 для прохода воздуха в верхней части рамы, отверстий 16 для всасывания воздуха в опорной плате (в обоих случаях в виде матриц) и шланга 13. Вертикальный рамный штатив 5 снабжен расположенными на его вертикальных частях 1, 2 со стороны, противоположной объекту 10, поверхностями 17 для прифланцовывания внешних модулей, например фонаря 18 или блока с оптическими элементами 19, 20, на который может надеваться бинокулярный тубус, снабженный, например, фотоштуцером 21.
Прохождение лучей изображено на фиг. 4 в виде хода лучей освещения в проходящем свете. Луч 22 освещения на отражение проходит от источника 23 света в фонаре 18 через откидывающееся зеркало 24 в качестве преломленного хода луча к объективу 25, действующему как конденсатор, после того как он прошел вначале оптическую систему 26 освещения на отражение, затем отклоняющий элемент 27, который может являться поворотной отклоняющей призмой, однако в рассматриваемом случае изображен в виде (второго) откидывающегося зеркала, далее следующий отклоняющий элемент 28, затем вторую оптическую систему 29 освещения на отражение, вслед за ней устройство 30 контрастирования интерференционной картины (поляризатор) 30, поток λ-плату, затем автофокусную систему и следующие за ней диафрагмы и, наконец, оснащенный частично проницаемой поверхностью разделения светового пучка отклоняющий элемент, и оттуда на объект, рассматриваемый в отраженном свете, например рельефную пластину. Исходящий от объекта пучок отображающих или измерительных лучей попадает через объектив 25 после прохождения поверхности разделения светового пучка 31 и анализатора 32 на светоделительный кубик, от которого происходит ответвление частичного пучка измерительных лучей, который после прохождения через тубусную линзу 33 еще одной оптической системы 34, включаемой по выбору системы для измерения длины или системы 36 для измерения углов и еще одной оптической системы, попадает, например, к смонтированному в виде модуля прибору для определения интенсивности или спектра.
Проходящий через светоделительный кубик 37 частичный пучок лучей освещения на отражение пропускается через тубусную линзу 20 и отклоняющую призму 19 к предусмотренной в корпусе бинотубуса отклоняющей светодительной призме 38, после чего отображающий пучок лучей поступает в окуляр (окуляр) 7, а регистрирующий пучок лучей в фотоштуцер 21.
Ход лучей освещения проходящим светом обеспечивается за счет того, что исходящий от источника света 23 пучок освещающих лучей 39 проходит, минуя выведенное из хода лучей откидывающееся зеркало 24, вначале через апертурную диафрагму 40 и затем через оптическую систему 41 освещения проходящим светом, чтобы в заключение пройти сквозь, например, объект 9 большой площади, предназначенный для рассматривания в проходящем свете.
Рассмотренные оптические системы могут модифицироваться известным образом. Например, освещение проходящим (или) отраженным светом может быть достигнуто за счет того, что от фонаря 18 исходит описанный выше ход лучей освещения проходящим светом, в то время как от второго фонаря, находящегося на расположенном ближе к опорной плате втором месте для прифланцовывания внешних модулей, начинается ход луча освещения на отражение, причем для этого достаточно лишь вывести из действия второе откидывающееся зеркало 27.
На верхней поверхности предметного столика 10 видны в схематическом изображении всасывающие или вакуум-каналы 42, которые могут располагаться, например, по радиальным лучам или/и концентрически и соединены вакуумпроводом 43 с вакуумирующим устройством. Двухразмерный высокочувствительный к механическому воздействию прецизионный объект 9 может удерживаться с помощью регулируемого вакуумного устройства. В дополнение к этому на поверхности предметного столика могут быть предусмотрены прижимные цапфы или линейные, или в виде круговых сегментов направляющие, или зажимные элементы в качестве вспомогательных средств и для позиционирования, удержания или юстировки положения объекта.
Подача и удаление объекта, в особенности хрупкой крупноформатной рельефной пластины, находящегося в вертикальном или слегка отклоняющемся от вертикального положении, достигается безопасным для объекта, предохраняющим от загрязнения, легко доступным для глаз оператора, рациональным в отношении аппаратного обеспечения способом. Вращающийся (ср. вид по круговой стрелке 44) предметный столик 10 может перемещаться также в направлении оси, указанной двойной стрелкой 45, обеспечивая тем самым возможность получения необходимого фокусного расстояния. Возможно также оснащение револьверного устройства 8 для объектива приспособлением для смещения в осевом направлении. Эти перемещения могут выполняться предпочтительно встроенной автофокусировочной системой 46 автоматически. В первую очередь обеспечивается вращение с помощью двигателя револьверного устройства для объектива, чтобы исключить необходимость в каких бы то ни было манипуляциях поблизости от объекта, которые могли бы повлечь за собой микрозагрязнение сложной интегральной схемы (объекта).
На фиг. 5-8 показаны примеры конструкций вертикальных рамных штативов, которые по оснащению чисто оптическим оборудованием принципиально не отличаются от представленного на фиг.4 примера, в частности могут обнаруживать комбинированные ходы луча. В принципе они могут иметь места присоединения модулей путем прифланцовывания или насадки. В отношении их эргономических конструкционных особенностей (вертикальные панели управления, выведенные вперед пульты управления, устройства для обдувания ламинарным потоком воздуха) они не отличаются от конструкций, изображенных на фиг.1-4.
На фиг.5 приведен продольный разрез рамного штатива квадратной конфигурации с вертикально расположенной поверхностью предметного столика и горизонтальной оптической осью.
Пример выполнения, изображенный на фиг.6, отличается от примера на фиг.5 лишь тем, что предметный столик 10 имеет фиксированное наклонное положение, а оптическая ось соответствующее отклонение от горизонтального положения. Такое наклонное положение объекта (на чертеже не показан) на предметном столике 10 целесообразно в тех случаях, когда проходится отказаться от удержания объекта на столике путем вакуумирования или когда объект, например, решетчатая плата с большим количеством отверстий или плоский объект с сетчатой или пористой структурой, не может удерживаться на столике путем вакуумирования. Известные выступы для укладки или выемки в нижней части предметного столика обеспечивают в этом случае устойчивое положение объекта.
На фиг.7 изображен вертикальный рамный штатив 5, имеющий форму параллелограмма. Наклонное положение обеих частей рамного штатива, определяемое углом между вертикальной линией 47 и поверхностью задней части штатива, соответствует положению предметного столика 10.
На фиг. 8 изображена имеющая форму трапеции рама в продольном разрезе с предпочтительным в эргономическом отношении наклоном передней части рамного штатива. Хотя речь шла лишь о вертикальных рамных штативах, действительная конструкция аппарата должна иметь такую ширину, которая превращала бы его в компактный, предохраняющий от внешних помех, стабильный и оснащенный всеми известными оптическими приспособлениями для микроскопов корпус.
На фиг.19 представлена производная от изображенной на фиг.8 конструкция с полым профилем 48. Элементы управления целиком сосредоточены в установленном спереди снизу пульте 12 управления или на нем. При закрытии поперечного канала, образованного корпусом микроскопа, обеспечивается возможность получения контролируемой подачи и отвода воздуха с использованием отверстий 14 и 16 в рамках замкнутой внутренней системы вентилирования или получения атмосферы защитного газа. Но в первую очередь проходящий поперек оптической оси прибора трубчатый туннельный корпус 48 может выполнять защитную функцию в отношении исследуемой пластины при ее подаче и удалении. Все остальные приведенные сечения различной геометрии могут в принципе служить в качестве полых туннелей. Это относится также и к рассматриваемым ниже конструкциям рамных штативов в открытом исполнении.
На фиг.9 изображен еще один пример выполнения. Внутрь замкнутого рамного штатива 5 пропущен через заднюю часть 2 рамного штатива цилиндрический держатель 49 предметного столика, закрепленный на вертикальной поверхности 50 крепления, например на стенке неподвижно или с обеспечением возможности вращения около своей оси (круговая стрелка 51). Оптическая ось 15 микроскопа проходит горизонтально и направлена перпендикулярно вертикальной поверхности предметного столика. При соответствующем расположении, соединении или разъединении перемещающихся относительно друг друга частей 49 и/или 10, и/или 5 может достигаться поворот или шаговое вращение, например, на 60о вокруг оси 15 при неподвижном предметном столике 10. С другой стороны, обеспечивается возможность вращения рамного штатива 1 вместе с предметным столиком 10. Эти возможности приобретают исключительное значение в тех случаях, когда изображенный на фиг.9 прибор устанавливается и используется при наличии лишь поверхности крепления и является центральной контрольно-измерительной станцией, окруженной расположенными в виде звезды линиями подачи и отвода, которые находятся в плоскости технологических линий, расположенных параллельно поверхности 50. За счет шагового (например, с использованием управления от микропроцессора) вращения рамного штатива 5 может быть получено устройство, напоминающее стрелочное, с помощью которого штатив переводится по заранее заданной программе для приема и отвода серийных объектов, подлежащих контролю, в первую очередь рельефных пластин. При этом в любом случае обеспечивается свободное от вибрации прочное крепление оптических узлов, используемых в микроскопе.
На фиг.10 показана другая форма относительного перемещения вертикального предметного столика 10 по отношению к рамному штативу 5. Рамный штатив 5 перемещается вместе со своим основанием на шарикоподшипниках по горизонтальной опорной поверхности 6, в то время как стойка для предметного столика 10 неподвижно закреплена на поверхности 6. В этом случае может обеспечиваться смещение стойки для предметного столика в осевом направлении.
На фиг.11-15 изображены примеры "открытой" конструкции вертикальных рамных штативов с различной геометрией продольного сечения рамы, с различным положением поверхности предметных столиков, а также с различным положением рамного "выреза".
На фиг. 11 представлена конструкция с рамным вырезом, обращенным к горизонтальной опорной поверхности 6. В верхней части этого штатива могут быть предусмотрены отверстия 14 для прохода воздуха и отверстия 16 для всасывания воздуха. Дополнительно могут иметься также источники света для косого освещения соответствующего объекта отраженным светом. Кроме того, обеспечивается возможность неподвижного крепления предметного столика 10 (см. фиг. 10) к горизонтальной опорной поверхности 6 и "надевания" подвижной части 4 на находящийся в вертикальном положении предметный столик 10. При очень большом удлинении рамного штатива 4 поперек оптической оси 15 и наличии цепочки расположенных один за другим конвейеров с большим числом вертикальных держателей объектов, которые по очереди подаются в положение для микроскопирования, изображенная форма исполнения может использоваться также и для контрольного терминала в пределах закрытой линии для транспортирования пластины.
На фиг.16-18 изображены комбинации вертикальных штативов и стенки. Устройство, изображенное на фиг.16, состоит из двух передних раздельных частей штатива, которые совместно несут собственно визуальную систему, состоящую из окуляра и объектива. На фиг.17 задняя часть штатива 58 расширена в виде вертикальной стенки. Альтернативными конструкционными формами являются портал, круглый бугель, угловой бугель и т.п. Конструкция может предусматривать более чем две передние или задние раздельные части 57 и 58 штатива, снабженные основанием 59 штатива и/или верхней платой штатива. Возникает также дополнительная возможность предусмотреть более одного бинокулярного блока (примерно по типу многокамерного мостика) или более одного предметного столика (примерно по принципу сравнивающего микроскопа).
Claims (15)
1. МИКРОСКОП ДЛЯ РАБОТЫ В ПРОХОДЯЩЕМ И (ИЛИ) ОТРАЖЕННОМ СВЕТЕ, содержащий корпус, опорную плиту, вертикальный рамный штатив с одной передней и одной задними частями, размещенный между передней и задней частями рамного штатива, вертикально расположенный предметный столик, плоскость которого перпендикулярна вертикальной плоскости рамного штатива, отличающийся тем, что рамный штатив дополнительно содержит верхнюю плату, причем опорная плата и (или) верхняя плата рамного штатива выполнены со сквозными отверстиями, соединенными с устройством для подачи и всасывания воздуха.
2. Микроскоп по п.1, отличающийся тем, что корпус выполнен по меньшей мере из двух самостоятельных частей, закрепленных на опорной плате.
3. Микроскоп по пп. 1 и 2, отличающийся тем, что корпус и (или) части корпуса выполнены в виде станин прямоугольного сечения или порталов, круглого или углового бугеля.
4. Микроскоп по пп. 1 3, отличающийся тем, что отдельные части корпуса закреплены на опорной плате наклонно.
5. Микроскоп по пп. 1 4, отличающийся тем, что в частях корпуса или в вертикальном рамном штативе размещены оптические элементы.
6. Микроскоп по пп. 1 5, отличающийся тем, что все элементы управления размещены в основании вертикального рамного штатива и (или) на его передней части, или на передней части корпуса.
7. Микроскоп по пп. 1 6, отличающийся тем, что снабжен приспособлениями для крепления путем вдвигания стандартных сменных модулей для освещения, наблюдения, измерения и регистрации.
8. Микроскоп по пп. 1 7, отличающийся тем, что предметный столик размещен с возможностью продольного смещения.
9. Микроскоп по пп. 1 7, отличающийся тем, что вертикальный рамный штатив размещен с возможностью продольного перемещения относительно предметного столика.
10. Микроскоп по пп. 1 8, отличающийся тем, что вертикальный рамный штатив с закрепленным на нем предметным столиком установлен с возможностью вращения относительно окуляра микроскопа.
11. Микроскоп по пп. 1 10, отличающийся тем, что вертикальный рамный штатив выполнен в продольном сечении прямоугольной квадратной формы, а опорная плита удлинена и выполнена с пультом ручного управления.
12. Микроскоп по пп. 1 11, отличающийся тем, что вертикальный рамный штатив выполнен в продольном сечении в форме трапеции или параллелограмма со скошенной передней частью.
13. Микроскоп по пп. 1 12, отличающийся тем, что корпус выполнен в виде полого тела, протяженного в направлении поперек оптической оси окуляра в соответствии с геометрией продольного сечения рамы.
14. Микроскоп по пп. 1 13, отличающийся тем, что он снабжен средствами для установки и присоединения специальных микроскопных модулей.
15. Микроскоп по пп. 1 14, отличающийся тем, что он снабжен средствами для дистанционного манипулирования и управления.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEP3447128.6 | 1984-12-22 | ||
| DE19843447128 DE3447128A1 (de) | 1984-12-22 | 1984-12-22 | Durchlicht- und/oder auflichtmikroskop |
| PCT/DE1985/000526 WO1986003847A1 (fr) | 1984-12-22 | 1985-12-14 | Microscope a eclairage incident et/ou a eclairage par transmission |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2037854C1 true RU2037854C1 (ru) | 1995-06-19 |
Family
ID=6253691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU864027989A RU2037854C1 (ru) | 1984-12-22 | 1986-08-21 | Микроскоп для работы в проходящем и (или) отраженном свете |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4784481A (ru) |
| EP (1) | EP0207106B1 (ru) |
| JP (1) | JPH0662305B2 (ru) |
| KR (1) | KR910006736B1 (ru) |
| AT (1) | ATE44830T1 (ru) |
| DE (2) | DE3447128A1 (ru) |
| RU (1) | RU2037854C1 (ru) |
| WO (1) | WO1986003847A1 (ru) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2201591C2 (ru) * | 2001-02-20 | 2003-03-27 | Всероссийский научно-исследовательский институт гельминтологии им. К.И. Скрябина | Устройство для трихинеллоскопии в полевых условиях |
| RU2315342C1 (ru) * | 2006-07-03 | 2008-01-20 | Институт физики полупроводников Сибирского отделения Российской академии наук | Штатив для подложки |
| RU2419114C2 (ru) * | 2009-06-24 | 2011-05-20 | Открытое акционерное общество "ЛОМО" | Микроскоп проходящего и отраженного света |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3640616A1 (de) * | 1986-11-27 | 1988-06-09 | Standard Elektrik Lorenz Ag | Justiervorrichtung |
| GB8721878D0 (en) * | 1987-09-17 | 1987-10-21 | Buxton Micrarium Ltd | Microscope viewing arrangements |
| JPH0810174B2 (ja) * | 1987-11-10 | 1996-01-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 液晶表示体の検査装置 |
| US5331458A (en) * | 1989-09-11 | 1994-07-19 | Kensington Laboratories, Inc. | Compact specimen inspection station |
| US5446584A (en) * | 1989-09-11 | 1995-08-29 | Kensington Laboratories, Inc. | Compact specimen processing station |
| WO1991007683A1 (en) * | 1989-11-09 | 1991-05-30 | Insystems, Inc. | Specimen review station |
| MX9200720A (es) * | 1992-02-21 | 1993-09-01 | Invest Y Centro | Mejoras a microscopio metalografico util para la caracterizacion de dados de estirado de conductores. |
| US5768033A (en) * | 1996-06-14 | 1998-06-16 | Brock; Dennis | Microscope assembly comprising a supported and movable specimen wheel and fine adjustment means |
| JPH10339845A (ja) * | 1997-06-09 | 1998-12-22 | Olympus Optical Co Ltd | モニタ観察型顕微鏡 |
| US6285498B1 (en) * | 1997-10-17 | 2001-09-04 | Accumed International, Inc. | High-precision computer-aided microscope system |
| US6201639B1 (en) | 1998-03-20 | 2001-03-13 | James W. Overbeck | Wide field of view and high speed scanning microscopy |
| US6185030B1 (en) | 1998-03-20 | 2001-02-06 | James W. Overbeck | Wide field of view and high speed scanning microscopy |
| CA2243090A1 (en) | 1998-07-10 | 2000-01-10 | Timothy M. Richardson | Inverted darkfield contrast microscope and method |
| JP4598255B2 (ja) * | 2000-10-06 | 2010-12-15 | オリンパス株式会社 | クリーンカバー |
| DE10159221B4 (de) * | 2001-11-27 | 2006-01-19 | Siemens Ag | Mikroskop |
| DE10305258A1 (de) * | 2002-02-08 | 2003-08-21 | Creo Inc | Verfahren und Vorrichtung zum Schutz von optischen Elementen |
| JP4526308B2 (ja) * | 2004-06-09 | 2010-08-18 | フルタ電機株式会社 | 異物混入対策型ピッキング台 |
| DE102004029212B4 (de) * | 2004-06-16 | 2006-07-13 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Auf- und/oder Durchlichtinspektion von Mikrostrukturen im IR |
| JP4885545B2 (ja) * | 2006-01-12 | 2012-02-29 | オリンパス株式会社 | 観察装置 |
| US9144709B2 (en) | 2008-08-22 | 2015-09-29 | Alton Reich | Adaptive motor resistance video game exercise apparatus and method of use thereof |
| US9272186B2 (en) | 2008-08-22 | 2016-03-01 | Alton Reich | Remote adaptive motor resistance training exercise apparatus and method of use thereof |
| JP2010181254A (ja) * | 2009-02-05 | 2010-08-19 | Ushio Inc | スクリーン製版の検査装置 |
| JP5550262B2 (ja) * | 2009-05-29 | 2014-07-16 | キヤノン株式会社 | 試料観察システム及び試料観察方法 |
| US20120307355A1 (en) * | 2011-06-01 | 2012-12-06 | Streamline Automation, Llc | Microscope slide heating and mounting apparatus and method of operation therefor |
| US9989748B1 (en) * | 2013-06-28 | 2018-06-05 | Discover Echo Inc. | Upright and inverted microscope |
| CA2917028A1 (en) * | 2013-06-28 | 2014-12-31 | Echo Laboratories | Upright and inverted microscope |
| US10114202B2 (en) * | 2016-06-30 | 2018-10-30 | Hayong E. LIM | Dual purpose microscope |
| EP4258037A1 (en) * | 2022-04-07 | 2023-10-11 | Merck Patent GmbH | Sheath gas flow system |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB191206087A (en) * | 1911-03-11 | 1912-08-29 | Oskar Heimstaedt | Improvements in or relating to Microscopy. |
| FR551673A (fr) * | 1922-04-03 | 1923-04-11 | Asahi Glass Co Ltd | Appareil servant à examiner les substances transparentes telles que le verre, etc. |
| US1973066A (en) * | 1932-11-11 | 1934-09-11 | Zeiss Carl Fa | Microscope for examining the profiles of surfaces |
| US2128394A (en) * | 1937-08-27 | 1938-08-30 | Leitz Ernst Gmbh | Microscope |
| US2967458A (en) * | 1957-05-16 | 1961-01-10 | Jr William Stone | Instrument for use by a surgeon in viewing the field of operation under magnification |
| DE1109400B (de) * | 1958-03-03 | 1961-06-22 | Jenoptik Jena Gmbh | Mikroskoptisch, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren |
| US3186296A (en) * | 1960-12-09 | 1965-06-01 | Richard T Erban | Method and apparatus for microscopic inspection using colored illumination |
| US3170383A (en) * | 1961-09-26 | 1965-02-23 | Temescal Metallurgical Corp | High vacuum observation apparatus |
| CH396445A (de) * | 1962-02-10 | 1965-07-31 | Zeiss Carl Fa | Mikroskop zur Beobachtung von Schwebekörpern |
| US3848150A (en) * | 1973-03-14 | 1974-11-12 | Itt | Discharge lamp with baffle plates |
| JPS5087944U (ru) * | 1973-12-15 | 1975-07-25 | ||
| DE2440958C2 (de) * | 1974-08-27 | 1984-03-01 | J.D. Möller Optische Werke GmbH, 2000 Wedel | Mikroskop für die Mikrochirurgie |
| CA1044379A (en) * | 1974-12-28 | 1978-12-12 | Sony Corporation | Wafer transfer device |
| GB1516219A (en) * | 1975-12-18 | 1978-06-28 | Stanton M | Microscope |
| US4248498A (en) * | 1978-06-29 | 1981-02-03 | Georges Michael P | Automatic microscope slide |
| US4206966A (en) * | 1978-10-23 | 1980-06-10 | Redken Laboratories, Inc. | Projection microscope with film holder |
| US4277133A (en) * | 1979-03-22 | 1981-07-07 | Western Publishing Company | Microscope |
| US4405202A (en) * | 1981-03-30 | 1983-09-20 | Kimball Leonard L | Protective microscope container with remote control mechanism |
| US4453807A (en) * | 1981-06-17 | 1984-06-12 | Smithkline Beckman Corp | System for handling slides |
| US4482221A (en) * | 1982-06-07 | 1984-11-13 | Bausch & Lomb Incorporated | Microscope fine focus control mechanism |
-
1984
- 1984-12-21 JP JP60500268A patent/JPH0662305B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-22 DE DE19843447128 patent/DE3447128A1/de not_active Withdrawn
-
1985
- 1985-11-12 KR KR1019850008442A patent/KR910006736B1/ko not_active Expired
- 1985-12-14 WO PCT/DE1985/000526 patent/WO1986003847A1/de not_active Ceased
- 1985-12-14 DE DE8686900060T patent/DE3571702D1/de not_active Expired
- 1985-12-14 EP EP86900060A patent/EP0207106B1/de not_active Expired
- 1985-12-14 AT AT86900060T patent/ATE44830T1/de not_active IP Right Cessation
- 1985-12-14 US US06/897,759 patent/US4784481A/en not_active Expired - Fee Related
-
1986
- 1986-08-21 RU SU864027989A patent/RU2037854C1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Патент Великобритании N 1138451, кл. G 02B 23/16, 1969. * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2201591C2 (ru) * | 2001-02-20 | 2003-03-27 | Всероссийский научно-исследовательский институт гельминтологии им. К.И. Скрябина | Устройство для трихинеллоскопии в полевых условиях |
| RU2315342C1 (ru) * | 2006-07-03 | 2008-01-20 | Институт физики полупроводников Сибирского отделения Российской академии наук | Штатив для подложки |
| RU2419114C2 (ru) * | 2009-06-24 | 2011-05-20 | Открытое акционерное общество "ЛОМО" | Микроскоп проходящего и отраженного света |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62501731A (ja) | 1987-07-09 |
| US4784481A (en) | 1988-11-15 |
| WO1986003847A1 (fr) | 1986-07-03 |
| ATE44830T1 (de) | 1989-08-15 |
| DE3571702D1 (en) | 1989-08-24 |
| EP0207106B1 (de) | 1989-07-19 |
| EP0207106A1 (de) | 1987-01-07 |
| JPH0662305B2 (ja) | 1994-08-17 |
| DE3447128A1 (de) | 1986-06-26 |
| KR860005236A (ko) | 1986-07-21 |
| KR910006736B1 (ko) | 1991-09-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2037854C1 (ru) | Микроскоп для работы в проходящем и (или) отраженном свете | |
| EP0488023B1 (en) | Microscope having a focus-adjusting mechanism | |
| USRE37445E1 (en) | Modular microscope system | |
| US2552238A (en) | Profile projector and optical comparator | |
| KR20070039604A (ko) | 대형 기판 평탄 패널의 검사 시스템 | |
| CN111141732A (zh) | 一种多方位视觉检测装置 | |
| CN106471878A (zh) | 检测装置 | |
| EP0969484B1 (en) | Sample holder apparatus | |
| CN111710639B (zh) | 高密度阵列结构的非硅基薄膜器件制备用对准装置 | |
| HK1048044A1 (en) | Inspection device for components | |
| KR102387134B1 (ko) | 5축 광학 검사 시스템 | |
| US2552280A (en) | Episcopic illuminator for optical projection comparators | |
| JPH07151522A (ja) | 電子部品検査装置 | |
| CN217384663U (zh) | 一种光电系统综合检测平台 | |
| US7016108B2 (en) | Microscope | |
| JP2001305064A (ja) | 基板検査装置 | |
| US6853448B2 (en) | Multi-directional mirror device and method for optical inspection and autofocus measurement of objects | |
| JPH0720650Y2 (ja) | 偏射照明式倒立顕微鏡 | |
| JP2013145123A (ja) | 広角反射同軸照明付光学系 | |
| KR930016796A (ko) | 현미경 시스템 | |
| US4235536A (en) | Microfilm reader | |
| US3695769A (en) | Optical comparators | |
| CN223021505U (zh) | 一种超透镜微结构及其光学性能检测装置 | |
| CN205120555U (zh) | 一种光源装置和设有该光源装置的光学检测仪 | |
| CN215640821U (zh) | 镜筒组件、检测装置及检测设备 |