RU2020139751A -
Method for X-Ray Fluorescent Determination of Metal Impurity Content in Thin Metal Foils
- Google Patents
Method for X-Ray Fluorescent Determination of Metal Impurity Content in Thin Metal Foils
Download PDF
Info
Publication number
RU2020139751A
RU2020139751ARU2020139751ARU2020139751ARU2020139751ARU 2020139751 ARU2020139751 ARU 2020139751ARU 2020139751 ARU2020139751 ARU 2020139751ARU 2020139751 ARU2020139751 ARU 2020139751ARU 2020139751 ARU2020139751 ARU 2020139751A
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ)"
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ)"filedCriticalФедеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ)"
Publication of RU2020139751ApublicationCriticalpatent/RU2020139751A/en
Application grantedgrantedCritical
Publication of RU2781625C2publicationCriticalpatent/RU2781625C2/en
Способ рентгенофлуоресцентного определения содержания примесей металлов в тонких металлических фольгах, заключающийся в измерение интенсивностей аналитических линий определяемых металлов в одноэлементном образце со 100% содержанием контролируемого элемента и в известном исследуемом материале, отличающийся тем, что в качестве контролируемого элемента при определении примесей металлов в тонких металлических фольгах берут контрольный образец с содержанием основного элемента фольги 100%, последовательно измеряют скорость счета аналитической линии этого элемента на контрольном образце и на анализируемой фольге, при этом силу анодного тока рентгеновской трубки подбирают до значения, обеспечивающего линейную зависимость интенсивности от силы тока, после чего, рассчитывают экспериментальное отношение этих скоростей счета по формулеA method for X-ray fluorescence determination of the content of metal impurities in thin metal foils, which consists in measuring the intensities of the analytical lines of the metals being determined in a single-element sample with 100% content of the controlled element and in a known test material, characterized in that as a controlled element in the determination of metal impurities in thin metal foils take a control sample with a content of the main element of the foil 100%, successively measure the counting rate of the analytical line of this element on the control sample and on the analyzed foil, while the anode current of the X-ray tube is selected to a value that provides a linear dependence of the intensity on the current strength, after which, calculate the experimental ratio of these count rates according to the formula
где Ii0 и IiF - скорости счета аналитических линий элемента на контрольном образце и на анализируемой фольге,where I i0 and I iF are the count rates of the analytical lines of the element on the control sample and on the analyzed foil,
- экспериментальное отношение этих скоростей счета,
is the experimental ratio of these count rates,рассчитывают теоретическую зависимость этого отношения Ki для различных толщин фольги, устанавливают численное значение толщины фольги dF при совпадении экспериментального значения отношения и теоретического, рассчитанного для этого значения толщины фольги, рассчитывают толщину насыщенного слоя di99 для аналитических линий элементов в фольге, и для элементов, для которых толщина фольги превышает толщину насыщенного слоя, рассчитывают содержания примесей металлов по формулеcalculate the theoretical dependence of this ratio K i for different foil thicknesses, set the numerical value of the foil thickness d F if the experimental value of the ratio and the theoretical value calculated for this value of the foil thickness coincide, calculate the thickness of the saturated layer d i99 for the analytical lines of the elements in the foil, and for the elements , for which the foil thickness exceeds the thickness of the saturated layer, the content of metal impurities is calculated by the formula
где
- содержания примесей металлов, для которых толщина фольги превышает толщину насыщенного слоя,where
- the content of metal impurities, for which the foil thickness exceeds the thickness of the saturated layer,Рi - параметр поглощения,P i - absorption parameter,для элементов, толщина насыщенного слоя которых превышает толщину фольги, рассчитывают теоретические значения Ki для определяемых элементов в фольге при установленных значениях dF и определяют содержания примесей металлов в фольге по формулеfor elements, the thickness of the saturated layer of which exceeds the thickness of the foil, the theoretical values of K i are calculated for the elements to be determined in the foil at the established values of d F and the content of metal impurities in the foil is determined by the formula
где
- содержания примесей металлов, для которых толщина насыщенного слоя превышает толщину фольги,where
- the content of metal impurities, for which the thickness of the saturated layer exceeds the thickness of the foil,Ki - теоретическое отношение скоростей счета аналитических линий элемента на контрольном образце и на анализируемой фольге толщиной dF.K i is the theoretical ratio of the count rates of the analytical lines of the element on the control sample and on the analyzed foil of thickness d F .
RU2020139751A2020-12-02Method for x-ray-fluorescent determination of content of metal impurities in thin metal foils
RU2781625C2
(en)
Determination concentration of heavy metals in cage silver catfish from Sungai Pahang and Sungai Tembeling by using energy dispersive x-ray fluorescent (EDXRF)