[go: up one dir, main page]

RU2005101370A - Подложка для реализации метода комплексных действий с материалами, способ ее изготовления, способ изготовления материалов на подложке и устройства для работы с ней - Google Patents

Подложка для реализации метода комплексных действий с материалами, способ ее изготовления, способ изготовления материалов на подложке и устройства для работы с ней Download PDF

Info

Publication number
RU2005101370A
RU2005101370A RU2005101370/12A RU2005101370A RU2005101370A RU 2005101370 A RU2005101370 A RU 2005101370A RU 2005101370/12 A RU2005101370/12 A RU 2005101370/12A RU 2005101370 A RU2005101370 A RU 2005101370A RU 2005101370 A RU2005101370 A RU 2005101370A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
substrate
fragments
materials
acting
fragment
Prior art date
Application number
RU2005101370/12A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2384832C2 (ru
Inventor
Михаил Евгеньевич Гиваргизов (RU)
Михаил Евгеньевич Гиваргизов
Original Assignee
Михаил Евгеньевич Гиваргизов (RU)
Михаил Евгеньевич Гиваргизов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Михаил Евгеньевич Гиваргизов (RU), Михаил Евгеньевич Гиваргизов filed Critical Михаил Евгеньевич Гиваргизов (RU)
Priority to RU2005101370/12A priority Critical patent/RU2384832C2/ru
Priority to EP06716844A priority patent/EP1855098A1/en
Priority to CNA2006800089095A priority patent/CN101163954A/zh
Priority to PCT/RU2006/000014 priority patent/WO2006078194A1/ru
Publication of RU2005101370A publication Critical patent/RU2005101370A/ru
Priority to US11/780,431 priority patent/US20080026132A1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2384832C2 publication Critical patent/RU2384832C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/2813Producing thin layers of samples on a substrate, e.g. smearing, spinning-on

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Claims (24)

1. Подложка для реализации комплексных действий с материалами, содержащая массивную часть - держатель, предметный столик для фрагментов материалов, по крайней мере, одно средство для действия с фрагментами, отличающаяся тем, что предметный столик представляет собой тонкую пленку, по крайней мере, часть которой представлена мембраной, которая состоит, по крайней мере, из одного материала, обе поверхности которой свободны, крепление которой к массивному держателю осуществляется, по крайней мере, вдоль части ее периметра.
2. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что тонкая пленка выполнена из двух или более материалов.
3. Подложка согласно п.2, отличающаяся тем, что, по крайней мере, два из указанных материалов отличаются друг от друга структурой и/или химическим составом.
4. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что она содержит, по крайней мере, одно средство для формирования, по крайней мере, одного фрагмента, которое может быть затем удалено на любом этапе, и/или, по крайней мере, одно средство для поддержания состояния фрагментов в исходном состоянии.
5. Подложка согласно п.4, отличающаяся тем, что средство для формирования, по крайней мере, одного фрагмента, содержит, по крайней мере, один рельефный элемент.
6. Подложка согласно п.4, отличающаяся тем, что, по крайней мере, одно средство для поддержания состояния, по крайней мере, одного фрагмента в исходном состоянии может представлять собой, по крайней мере, одну тонкую пленку другого фрагмента и/или фрагмента другого материала.
7. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что она содержит, по крайней мере, одно средство для размещения и/или, по крайней мере, одно средство для позиционирования и/или, по крайней мере, одно средство для фиксации в держателе устройства, содержащего, по крайней мере, одно средство для действия с фрагментами, причем одно из перечисленных средств может быть совмещенным с другим.
8. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что она имеет, по крайней мере, одно средство для позиционирования средств устройства, содержащего, по крайней мере, одно средство для действия с фрагментами.
9. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что она содержит, по крайней мере, один электрод, и/или, по крайней мере, одно аналитическое средство, и/или, по крайней мере, одно преобразующее средство.
10. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что она содержит, по крайней мере, одно средство, обеспечивающее возможность ее размещения в/на транспортном контейнере и/или в держателе устройства, содержащего, по крайней мере, одно средство для действия с фрагментами.
11. Подложка для образцов согласно п.10, отличающаяся тем, что транспортный контейнер и/или держатель устройства содержат, по крайней мере, одно средство для поддержания состояния фрагмента в исходном состоянии.
12. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что подложка имеет конструкцию, позволяющую осуществить действия с фрагментами, по крайней мере, на двух пространственно разнесенных устройствах, каждый из которых содержит, по крайней мере, одно средство для такого действия и позволяет достичь разрешения, достаточного для осуществления действия с объектом, имеющим размеры, по крайней мере, не более 100 нм.
13. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что, по крайней мере, один сформированный ранее на ней фрагмент материала используется для реализации комплексных действий, по крайней мере, еще с одним фрагментом этого материала и/или, по крайней мере, еще с одним фрагментом другого материала.
14. Подложка согласно п.1, отличающаяся тем, что на лицевой и/или обратной стороне мембраны имеется покрытие, которое обеспечивает частичное или полное отражение какого-либо излучения и/или является проводящим.
15. Устройство, содержащее, по крайней мере, одно средство для действия с подложкой, по крайней мере, одно средство для действия с фрагментами материалов, отличающееся тем, что оно содержит держатель, позволяющий работать с подложкой, имеющей конструкцию согласно пп.1-14.
16. Способ изготовления подложки, состоящий в изготовлении массивного держателя, в изготовлении предметного столика, отличающийся тем, что предметный столик изготавливается в виде тонкой пленки, по крайней мере, часть которой представлена мембраной, обе поверхности которой свободны, крепление к массивному держателю которой формируется, по крайней мере, вдоль части ее периметра.
17. Способ согласно п.16, отличающийся тем, что используется композитная пластина, содержащая, по крайней мере, два слоя, причем, по крайней мере, один из них массивный слой.
18. Способ согласно п.16, отличающийся тем, что, по крайней мере, один этап формирования предметного столика и/или его удаление осуществляется после размещения каких-либо фрагментов материалов, по крайней мере, на части предметного столика.
19. Способ изготовления материала, по крайней мере, часть которого содержит кристаллическую структуру, отличающийся тем, что используется, по крайней мере, одно средство для контролируемого использования силы гравитационного тяготения и/или, по крайней мере, одно контролируемое средство для реализации аналога сил гравитационного тяготения в качестве средств для направленного формирования, по крайней мере, одного фрагмента материала
20. Устройство, содержащее, по крайней мере, одно средство для действия с подложкой, по крайней мере, одно средство для действия с фрагментами материалов, отличающееся тем, что оно содержит, по крайней мере, одно средство, обеспечивающее направленное кристаллографическое формирование, по крайней мере, одного фрагмента материала в виде тонкой пленки.
21. Устройство согласно п.20, отличающееся тем, что оно содержит, по крайней мере, одно средство для контролируемого использования силы гравитационного тяготения в качестве средства для направленного формирования, по крайней мере, одного фрагмента материала.
22. Устройство согласно п.20, отличающееся тем, что оно содержит, по крайней мере, одно контролируемое средство для реализации аналога сил гравитационного тяготения в качестве средства для направленного формирования, по крайней мере, одного фрагмента материала.
23. Устройство согласно любого из пп.20-22, отличающееся тем, что оно содержит, по крайней мере, одно средство, позволяющее осуществить действие с подложкой, имеющей конструкцию согласно пп.1-14.
24. Устройство согласно любого из пп.20-22, отличающийся тем, что оно содержит, по крайней мере, одно средство для действия, по крайней мере, с одной подложкой, причем подложка может содержать, по крайней мере, один электрод и/или, по крайней мере, одно аналитическое средство, и/или, по крайней мере, одно преобразующее средство.
RU2005101370/12A 2005-01-21 2005-01-21 Подложка для реализации метода комплексных действий с материалами, способ ее изготовления, способ изготовления материалов на подложке и устройства для работы с ней RU2384832C2 (ru)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005101370/12A RU2384832C2 (ru) 2005-01-21 2005-01-21 Подложка для реализации метода комплексных действий с материалами, способ ее изготовления, способ изготовления материалов на подложке и устройства для работы с ней
EP06716844A EP1855098A1 (en) 2005-01-21 2006-01-20 Substrate for carrying method for comprehensively acting with materials, method for producing said substrate, method for producing a material on a substrate and a device for operating therewith
CNA2006800089095A CN101163954A (zh) 2005-01-21 2006-01-20 用于实现与材料复合动作的基片及其制备方法和工作设备
PCT/RU2006/000014 WO2006078194A1 (en) 2005-01-21 2006-01-20 Substrate for carrying method for comprehensively acting with materials, method for producing said substrate, method for producing a material on a substrate and a device for operating therewith
US11/780,431 US20080026132A1 (en) 2005-01-21 2007-07-19 Substrate for realization of actions with samples of materials, and method for its manufacturing

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005101370/12A RU2384832C2 (ru) 2005-01-21 2005-01-21 Подложка для реализации метода комплексных действий с материалами, способ ее изготовления, способ изготовления материалов на подложке и устройства для работы с ней

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2005101370A true RU2005101370A (ru) 2006-07-10
RU2384832C2 RU2384832C2 (ru) 2010-03-20

Family

ID=36692504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2005101370/12A RU2384832C2 (ru) 2005-01-21 2005-01-21 Подложка для реализации метода комплексных действий с материалами, способ ее изготовления, способ изготовления материалов на подложке и устройства для работы с ней

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20080026132A1 (ru)
EP (1) EP1855098A1 (ru)
CN (1) CN101163954A (ru)
RU (1) RU2384832C2 (ru)
WO (1) WO2006078194A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2561243C2 (ru) * 2009-09-14 2015-08-27 Дцс Инновативе Диагностик-Системе Др. Христиан Сартори Гмбх Унд Ко. Кг Держатель предметного стекла

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8358815B2 (en) * 2004-04-16 2013-01-22 Validity Sensors, Inc. Method and apparatus for two-dimensional finger motion tracking and control

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU86874A1 (ru) * 1949-08-13 1949-11-30 Е.Г. Тюрк-Эйгес Способ определени зрелости и крепости хлопкового волокна
GB1459584A (en) * 1973-03-15 1976-12-22 Perkin Elmer Corp Microscope slide holder
SU758952A1 (ru) * 1979-04-27 1981-09-07 Ордена Трудового Красного Знамени Институт Кристаллографии Им. А.В.Шубникова Температурно-градиентна камера дл электронного микроскопа
SU1155897A1 (ru) * 1983-09-28 1985-05-15 Коммунарский Горнометаллургический Институт Установка дл автоматического контрол физико-химических свойств сыпучих материалов
SU1284946A1 (ru) * 1983-12-08 1987-01-23 Ростовский Научно-Исследовательский Институт Медицинской Паразитологии Приспособление дл исследовани образцов биологической ткани под микроскопом
SU1330524A1 (ru) * 1985-10-25 1987-08-15 Институт Геологии Рудных Месторождений,Петрографии,Минералогии И Геохимии Ан Ссср Способ определени энантиоморфных кристаллов
SU1725107A2 (ru) * 1989-07-03 1992-04-07 Харьковский Институт Механизации И Электрификации Сельского Хозяйства Способ определени качества обработки поверхности образца
SU1763958A1 (ru) * 1990-07-05 1992-09-23 Московский Геологоразведочный Институт Им.Серго Орджоникидзе Держатель образца дл проведени рентгенофлуоресцентного анализа жидких проб
US5981400A (en) * 1997-09-18 1999-11-09 Cornell Research Foundation, Inc. Compliant universal substrate for epitaxial growth
US6406795B1 (en) * 1998-11-25 2002-06-18 Applied Optoelectronics, Inc. Compliant universal substrates for optoelectronic and electronic devices
JP2001318197A (ja) * 2000-05-08 2001-11-16 Nissin High Voltage Co Ltd 電子線照射装置の遮蔽搬送構造
CN1441902A (zh) * 2000-07-14 2003-09-10 生命扫描有限公司 用于测定化学反应速度的电化学方法
RU2226288C2 (ru) * 2001-07-10 2004-03-27 ОПТИВА, Инк. Многослойное оптическое покрытие
US7384742B2 (en) * 2002-08-16 2008-06-10 Decision Biomarkers, Inc. Substrates for isolating reacting and microscopically analyzing materials

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2561243C2 (ru) * 2009-09-14 2015-08-27 Дцс Инновативе Диагностик-Системе Др. Христиан Сартори Гмбх Унд Ко. Кг Держатель предметного стекла

Also Published As

Publication number Publication date
CN101163954A (zh) 2008-04-16
EP1855098A1 (en) 2007-11-14
US20080026132A1 (en) 2008-01-31
WO2006078194A1 (en) 2006-07-27
RU2384832C2 (ru) 2010-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Castellanos-Gomez et al. Deterministic transfer of two-dimensional materials by all-dry viscoelastic stamping
US8906245B2 (en) Material trivial transfer graphene
TW582099B (en) Method of adhering material layer on transparent substrate and method of forming single crystal silicon on transparent substrate
EP1950813A4 (en) TRANSPARENT CONDUCTIVE SUBSTRATE FOR SOLAR CELL AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
WO2002084708A3 (en) Method of forming semiconductor compound film for fabrication of electronic device and film produced by same
NO20082281L (no) Pastamateriale og solcelleelement hvor dette anvendes
WO2006113785A3 (en) Laser modification and functionalization of substrates
GB0317854D0 (en) Method of manufacturing diamond substrates
WO2006081315A3 (en) Method of eliminating curl for devices on thin flexible substrates, and devices made thereby
Fraga et al. Ecologic ceramic substrates for CIGS solar cells
Papazoglou et al. A direct transfer solution for digital laser printing of CVD graphene
RU2005101370A (ru) Подложка для реализации метода комплексных действий с материалами, способ ее изготовления, способ изготовления материалов на подложке и устройства для работы с ней
JP2007123859A5 (ru)
Kang et al. Direct growth of ferroelectric oxide thin films on polymers through laser-induced low-temperature liquid-phase crystallization
Reddy et al. Deposition rate dependant formation and properties of Sn2S3 and SnS thin films by co-evaporation
TW200608555A (en) Metal thin film and method of manufacturing the same, dielectric capacitor and method of manufacturing the same, and semiconductor device
Wu et al. Effects of ZnO buffer layer on characteristics of ZnO: Ga films grown on flexible substrates: investigation of surface energy, electrical, optical, and structural properties
EP1895567A3 (en) Method, tool, and apparatus for manufacturing a semiconductor device
EP1739754A3 (en) Semiconductor device and method for fabricating the same
Dekhil et al. Study of CuSbS2 thin films nanofibers prepared by spin coating technique using ultra pure water as a solvent
Lai et al. Mechanical properties of CIGS film with different metallic composition by co-evaporation method
Mitu et al. Ferrocene pixels by laser-induced forward transfer: towards flexible microelectrode printing
Kovalchuk et al. Direct patterning of nitrogen-doped chemical vapor deposited graphene-based microstructures for charge carrier measurements employing femtosecond laser ablation
Salavei et al. Analysis of CdTe activation treatment with a novel approach
Kawasuso et al. Atomic Scale Study of Surface Structures and Phase Transitions with Reflection High-Energy Positron Diffraction

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20150122