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JP7581819B2 - Current Detector - Google Patents

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JP7581819B2
JP7581819B2 JP2020204444A JP2020204444A JP7581819B2 JP 7581819 B2 JP7581819 B2 JP 7581819B2 JP 2020204444 A JP2020204444 A JP 2020204444A JP 2020204444 A JP2020204444 A JP 2020204444A JP 7581819 B2 JP7581819 B2 JP 7581819B2
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shunt resistor
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健了 鈴木
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Description

本発明は、バスバーに当該バスバーよりも抵抗温度係数が小さい抵抗体が配置されたシャント抵抗体を有する電流検出装置に関するものである。 The present invention relates to a current detection device having a shunt resistor in which a resistor with a smaller temperature coefficient of resistance than the busbar is arranged on the busbar.

従来より、バスバーに当該バスバーよりも抵抗温度係数が小さい抵抗体が配置されたシャント抵抗体を有する電流検出装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。具体的には、この電流検出装置では、平板状の第1部材および第2部材を有するバスバーを有し、抵抗体を挟むように第1部材および第2部材が配置されてシャント抵抗体が構成されている。また、第1部材には、第1端子部が配置され、第2部材には、第2端子部が配置されている。つまり、第1端子部および第2端子部は、抵抗体を挟むように配置されている。なお、第1部材および第2部材は、抵抗体よりも抵抗温度係数が大きい銅板等で構成される。 Current detection devices have been proposed that have a shunt resistor in which a resistor with a smaller temperature coefficient of resistance than the busbar is arranged on a busbar (see, for example, Patent Document 1). Specifically, this current detection device has a busbar with a flat first member and a flat second member, and the first member and the second member are arranged to sandwich the resistor to form a shunt resistor. A first terminal is arranged on the first member, and a second terminal is arranged on the second member. In other words, the first terminal and the second terminal are arranged to sandwich the resistor. The first member and the second member are made of a copper plate or the like that has a larger temperature coefficient of resistance than the resistor.

このような電流検出装置では、第1端子部と第2端子部との間の電圧を測定することにより、シャント抵抗体に流れる電流が検出される。 In such a current detection device, the current flowing through the shunt resistor is detected by measuring the voltage between the first terminal and the second terminal.

独国特許出願公開第102017003111号明細書DE 102017003111 A1

しかしながら、上記電流検出装置では、第1部材に第1端子部が配置されていると共に第2部材に第2端子部が配置されているため、第1端子部と第2端子部との間に第1部材および第2部材(すなわち、バスバー)の一部が配置されることになる。この場合、第1部材および第2部材が抵抗体より抵抗温度係数の高い材料で構成されるため、第1端子部と第2端子部との間の電圧は、温度に依存して変化し易くなる。したがって、上記電流検出装置において第1端子部と第2端子部との間に電圧に基づいて電流を検出する場合、検出精度が低下する可能性がある。 However, in the above current detection device, the first terminal is disposed on the first member and the second terminal is disposed on the second member, so that parts of the first and second members (i.e., the bus bar) are disposed between the first and second terminals. In this case, because the first and second members are made of a material with a higher resistance temperature coefficient than the resistor, the voltage between the first and second terminals is more likely to change depending on the temperature. Therefore, when the above current detection device detects a current based on the voltage between the first and second terminals, the detection accuracy may decrease.

本発明は上記点に鑑み、検出精度が低下することを抑制できる電流検出装置を提供することを目的とする。 In view of the above, the present invention aims to provide a current detection device that can prevent a decrease in detection accuracy.

上記目的を達成するための請求項1、4、6では、バスバー(20)に抵抗体(30)が配置されたシャント抵抗体(10)を備える電流検出装置であって、一面(201a、202a)を有する平板状とされた第1部材(201)および第2部材(202)を有するバスバーと、一面(30a)を有する平板状とされ、バスバーよりも抵抗温度係数が小さい材料で構成された抵抗体と、を有し、電流の流れ方向が第1部材、第2部材、および抵抗体の一面に沿った方向となるように、抵抗体が第1部材と第2部材との間に配置されたシャント抵抗体と、第1部材の一面に配置された第1端子部(41)、および第2部材の一面に配置された第2端子部(42)と、シャント抵抗体上に配置され、第1温度検出部(71)および第2温度検出部(72)が配置された配線基板(50)と、所定の処理を行う制御部(80)と、を備えている。そして、第1温度検出部および第2温度検出部は、配線基板のうちの温度差が発生する部分にそれぞれ配置され、制御部は、第1温度検出部で測定された第1温度(T1)と第2温度検出部で測定された第2温度(T2)との差に基づいてシャント抵抗体の温度(Ts)を推定し、推定したシャント抵抗体の温度を用いてシャント抵抗体に流れる電流を検出し、第1温度検出部は、配線基板のうちの第2温度検出部が配置される部分より高温となる部分に配置され、制御部は、第1温度に対し、第1温度と第2温度との差に所定の補正係数を乗算した値を加算してシャント抵抗体の温度を推定する。
そして、請求項1は、配線基板は、シャント抵抗体の熱を伝える伝熱部(51)が形成され、第1温度検出部は、シャント抵抗体と配線基板との積層方向において、伝熱部と重なる状態で配置され、第2温度検出部は、積層方向において、伝熱部と離れた部分に配置されている。
請求項4は、第1温度検出部は、配線基板のうちの第2温度検出部が配置される部分より高温となる部分に配置され、制御部は、第1温度に対し、第1温度と第2温度との差に所定の補正係数を乗算した値を加算してシャント抵抗体の温度を推定し、第1温度検出部は、配線基板のうちのシャント抵抗体と対向する部分に配置され、第2温度検出部は、配線基板のうちのシャント抵抗体と対向する部分と異なる部分に配置されている。
請求項6は、第1温度検出部および第2温度検出部は、シャント抵抗体に電流が流れた際、シャント抵抗体の温度と第1温度との差が、第1温度と第2温度との差より小さくなる状態で配置されている。
In claims 1 , 4 and 6 for achieving the above object, a current detection device is provided having a shunt resistor (10) in which a resistor (30) is arranged on a busbar (20), the current detection device comprising: a busbar having a first member (201) and a second member (202) each having a flat plate shape with one surface (201a, 202a); a resistor having a flat plate shape with one surface (30a) and made of a material having a smaller temperature coefficient of resistance than the busbar; a shunt resistor in which the resistor is arranged between the first member and the second member such that the direction of current flow is along the first member, the second member, and one surface of the resistor; a first terminal portion (41) arranged on one surface of the first member and a second terminal portion (42) arranged on one surface of the second member; a wiring board (50) arranged on the shunt resistor and on which a first temperature detection portion (71) and a second temperature detection portion (72) are arranged; and a control portion (80) for performing a predetermined process. The first temperature detection unit and the second temperature detection unit are each disposed in a portion of the wiring board where a temperature difference occurs, and the control unit estimates the temperature (Ts) of the shunt resistor based on the difference between the first temperature (T1) measured by the first temperature detection unit and the second temperature (T2) measured by the second temperature detection unit, and detects the current flowing through the shunt resistor using the estimated temperature of the shunt resistor, and the first temperature detection unit is disposed in a portion of the wiring board which is hotter than the portion where the second temperature detection unit is disposed, and the control unit estimates the temperature of the shunt resistor by adding to the first temperature a value obtained by multiplying the difference between the first temperature and the second temperature by a predetermined correction coefficient.
In claim 1, the wiring board is formed with a heat transfer section (51) that transfers heat from the shunt resistor, the first temperature detection section is arranged so as to overlap the heat transfer section in the stacking direction of the shunt resistor and the wiring board, and the second temperature detection section is arranged in a portion separated from the heat transfer section in the stacking direction.
In claim 4, the first temperature detection unit is arranged in a portion of the wiring board which is hotter than the portion where the second temperature detection unit is arranged, and the control unit estimates the temperature of the shunt resistor by adding to the first temperature a value obtained by multiplying the difference between the first and second temperatures by a predetermined correction coefficient, and the first temperature detection unit is arranged in a portion of the wiring board which faces the shunt resistor, and the second temperature detection unit is arranged in a portion of the wiring board which faces the shunt resistor.
Claim 6 provides that the first temperature detection unit and the second temperature detection unit are arranged in a state in which, when a current flows through the shunt resistor, the difference between the temperature of the shunt resistor and the first temperature is smaller than the difference between the first temperature and the second temperature.

これによれば、制御部は、第1サーミスタの第1温度と第2サーミスタの第2温度との温度差に基づいてシャント抵抗体の温度を推定し、推定したシャント抵抗体の温度を用いてシャント抵抗体に流れる電流を検出する。このため、検出精度の向上を図ることができる。 According to this, the control unit estimates the temperature of the shunt resistor based on the temperature difference between the first temperature of the first thermistor and the second temperature of the second thermistor, and detects the current flowing through the shunt resistor using the estimated temperature of the shunt resistor. This makes it possible to improve detection accuracy.

なお、各構成要素等に付された括弧付きの参照符号は、その構成要素等と後述する実施形態に記載の具体的な構成要素等との対応関係の一例を示すものである。 The reference symbols in parentheses attached to each component indicate an example of the correspondence between the component and the specific components described in the embodiments described below.

第1実施形態における電流検出装置の平面模式図である。1 is a schematic plan view of a current detection device according to a first embodiment. FIG. 図1中のII-II線に沿った断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II-II in FIG. 温度と抵抗値変化率との関係を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing the relationship between temperature and the rate of change in resistance value. 実際の時間と温度との関係を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing the relationship between actual time and temperature. 温度補正を行った際の時間と温度との関係を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing the relationship between time and temperature when temperature correction is performed. 第1実施形態の変形例における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 4 is a schematic plan view of a current detection device according to a modified example of the first embodiment. 第2実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 11 is a schematic plan view of a current detection device according to a second embodiment. 第3実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 11 is a schematic plan view of a current detection device according to a third embodiment. 第4実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 13 is a schematic plan view of a current detection device according to a fourth embodiment. 図9中のX-X線に沿った断面図である。10 is a cross-sectional view taken along line XX in FIG. 9. 温度と抵抗値との関係を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing the relationship between temperature and resistance value. 抵抗値比率と温度との関係を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing the relationship between resistance value ratio and temperature. 制御部の作動を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing the operation of a control unit. 第5実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 13 is a schematic plan view of a current detection device according to a fifth embodiment. 第6実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 13 is a schematic plan view of a current detection device according to a sixth embodiment. 第7実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a seventh embodiment. 第8実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to an eighth embodiment. 第8実施形態の変形例における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a modified example of the eighth embodiment. 第8実施形態の変形例における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a modified example of the eighth embodiment. 第8実施形態の変形例における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a modified example of the eighth embodiment. 第9実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 13 is a schematic plan view of a current detection device according to a ninth embodiment. 第10実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a tenth embodiment. 第11実施形態における電流検出装置の断面図である。FIG. 23 is a cross-sectional view of a current detection device according to an eleventh embodiment. 第12実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a twelfth embodiment. 第12実施形態の変形例における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device in a modified example of the twelfth embodiment. 第13実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a thirteenth embodiment. 第14実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a fourteenth embodiment. 図27中のXXVIII-XXVIII線に沿った断面図である。28 is a cross-sectional view taken along line XXVIII-XXVIII in FIG. 27. 第15実施形態における電流検出装置の平面模式図である。FIG. 23 is a schematic plan view of a current detection device according to a fifteenth embodiment. 図29中のXXX-XXX線に沿った断面図である。This is a cross-sectional view taken along the line XXX-XXX in Figure 29.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。 The following describes embodiments of the present invention with reference to the drawings. In the following embodiments, parts that are the same or equivalent to each other are denoted by the same reference numerals.

(第1実施形態)
第1実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、本実施形態の電流検出装置は、電気自動車等を駆動するモータ電流等を検出するのに利用されると好適である。
First Embodiment
A first embodiment will be described with reference to the drawings. The current detection device of the present embodiment is suitable for use in detecting a motor current that drives an electric vehicle or the like.

本実施形態の電流検出装置は、図1および図2に示されるように、シャント抵抗体10、第1端子部41、第2端子部42、配線基板50、および制御部80等を有する構成とされている。 As shown in Figures 1 and 2, the current detection device of this embodiment includes a shunt resistor 10, a first terminal portion 41, a second terminal portion 42, a wiring board 50, and a control unit 80.

シャント抵抗体10は、バスバー20および抵抗体30を有している。バスバー20は、一面201aおよび一面201aと反対側の他面201bを有する平板状とされた第1部材201と、一面202aおよび一面202aと反対側の他面202bを有する平板状とされた第2部材202とを有している。そして、第1部材201および第2部材202には、被取付部材に取り付けられるための取付穴201c、202cが形成されている。 The shunt resistor 10 has a busbar 20 and a resistor 30. The busbar 20 has a first member 201 having a flat plate shape with one surface 201a and another surface 201b opposite to the first surface 201a, and a second member 202 having a flat plate shape with one surface 202a and another surface 202b opposite to the first surface 202a. The first member 201 and the second member 202 have mounting holes 201c, 202c formed therein for mounting to a mounting member.

なお、第1部材201および第2部材202は、例えば、銅等で構成されており、厚さが等しくされている。また、取付穴201cは、第1部材201のうちの第1端子部41が取り付けられる部分を挟んで抵抗体30と反対側に形成されている。取付穴202cは、第2部材202のうちの第2端子部42が取り付けられる部分を挟んで抵抗体30と反対側に形成されている。 The first member 201 and the second member 202 are made of, for example, copper or the like, and have the same thickness. The mounting hole 201c is formed on the opposite side of the resistor 30 from the portion of the first member 201 where the first terminal portion 41 is attached. The mounting hole 202c is formed on the opposite side of the resistor 30 from the portion of the second member 202 where the second terminal portion 42 is attached.

抵抗体30は、一面30aおよび一面30aと反対側の他面30bを有する平板状とされ、バスバー20よりも抵抗温度係数が小さいマンガニン(登録商標)等で構成されている。なお、本実施形態の抵抗体30は、厚さが第1部材201および第2部材202の厚さよりも薄くされている。 The resistor 30 is flat and has one surface 30a and another surface 30b opposite to the first surface 30a, and is made of Manganin (registered trademark) or the like, which has a smaller temperature coefficient of resistance than the busbar 20. The resistor 30 in this embodiment is thinner than the first member 201 and the second member 202.

そして、抵抗体30は、第1部材201と第2部材202との間に配置され、溶接等によって第1部材201および第2部材202と一体化されている。本実施形態では、抵抗体30、第1部材201、および第2部材202は、それぞれの他面30b、201b、202bが同一平面上に位置するように一体化されている。これにより、第1部材201、抵抗体30、および第2部材202の一面201a、30a、202aに沿った方向に電流が流れるシャント抵抗体10が構成されている。 The resistor 30 is disposed between the first member 201 and the second member 202, and is integrated with the first member 201 and the second member 202 by welding or the like. In this embodiment, the resistor 30, the first member 201, and the second member 202 are integrated so that their other surfaces 30b, 201b, and 202b are located on the same plane. This forms a shunt resistor 10 in which a current flows in a direction along the first member 201, the resistor 30, and the one surfaces 201a, 30a, and 202a of the second member 202.

なお、本実施形態では、それぞれの他面30b、201b、202bが同一平面上に位置するように、第1部材201、抵抗体30、および第2部材202が一体化されている。このため、抵抗体30の一面30aは、第1部材201の一面201aおよび第2部材202の一面202aよりも凹んだ状態となっている。また、本実施形態では、抵抗体30は、第1部材201、抵抗体30、第2部材202の配列方向において、抵抗体30の中心が第1部材201、抵抗体30、第2部材202の中心と一致するように配置されている。そして、第1部材201および第2部材202は、配列方向に沿った長さが等しくされている。 In this embodiment, the first member 201, the resistor 30, and the second member 202 are integrated so that the other surfaces 30b, 201b, and 202b are located on the same plane. Therefore, the surface 30a of the resistor 30 is recessed more than the surface 201a of the first member 201 and the surface 202a of the second member 202. In this embodiment, the resistor 30 is arranged so that the center of the resistor 30 coincides with the centers of the first member 201, the resistor 30, and the second member 202 in the arrangement direction of the first member 201, the resistor 30, and the second member 202. The first member 201 and the second member 202 have the same length along the arrangement direction.

第1端子部41は、本実施形態では、銅等で構成された第1棒状部材41aで構成されている。第2端子部42は、本実施形態では、銅等で構成された第2棒状部材42aで構成されている。そして、第1端子部41および第2端子部42は、抵抗体30を挟むように、第1部材201の一面201aおよび第2部材202の一面202aにそれぞれ備えられている。なお、第1端子部41および第2端子部42は、溶接、リベット、はんだづけ等によって第1部材201および第2部材202に備えられている。 In this embodiment, the first terminal portion 41 is composed of a first rod-shaped member 41a made of copper or the like. In this embodiment, the second terminal portion 42 is composed of a second rod-shaped member 42a made of copper or the like. The first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are provided on one surface 201a of the first member 201 and one surface 202a of the second member 202, respectively, so as to sandwich the resistor 30. The first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are provided on the first member 201 and the second member 202 by welding, riveting, soldering, or the like.

配線基板50は、一面50aおよび他面50bを有するプリント基板等で構成されており、特に図示しないが、配線パターンや増幅回路等の信号処理回路が適宜形成されている。また、本実施形態の配線基板50は、略中央部に、一面50a側と他面50b側との温度差を低減するための伝熱部51が形成されている。言い換えると、配線基板50には、略中央部に、他面50b側の熱を一面50a側へ伝熱するための伝熱部51が形成されている。 The wiring board 50 is composed of a printed circuit board or the like having one surface 50a and the other surface 50b, and although not shown, wiring patterns and signal processing circuits such as amplifier circuits are appropriately formed. Furthermore, the wiring board 50 of this embodiment has a heat transfer section 51 formed in the approximate center for reducing the temperature difference between the one surface 50a side and the other surface 50b side. In other words, the wiring board 50 has a heat transfer section 51 formed in the approximate center for transferring heat from the other surface 50b side to the one surface 50a side.

伝熱部51は、本実施形態では、配線基板50の厚さ方向に積層された複数の銅板51aと、各銅板51aと熱的に接続されると共に配線基板50の厚さ方向に沿って形成されたサーマルビア51bとを有する構成とされている。なお、図2では、銅板51aを省略して示してある。 In this embodiment, the heat transfer section 51 is configured to have multiple copper plates 51a stacked in the thickness direction of the wiring board 50, and thermal vias 51b that are thermally connected to each copper plate 51a and formed along the thickness direction of the wiring board 50. Note that the copper plates 51a are omitted in FIG. 2.

また、配線基板50は、第1端子部41および第2端子部42と対応する位置に貫通ビア52が形成され、第1端子部41および第2端子部42が貫通ビア52を貫通すると共に、伝熱部51がシャント抵抗体10上に位置するように配置されている。そして、配線基板50と第1端子部41および第2端子部42とは、貫通ビア52に配置されたはんだ等の導電部材60によって電気的、機械的に接続されている。なお、本実施形態の配線基板50は、他面50bがシャント抵抗体10と対向するように配置されている。また、貫通ビア52は、貫通孔に、配線基板50の配線パターン等と電気的に接続されるスルーホール電極等が形成されて構成されている。 The wiring board 50 is arranged so that a through via 52 is formed at a position corresponding to the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42, the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 pass through the through via 52, and the heat transfer portion 51 is located on the shunt resistor 10. The wiring board 50 and the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are electrically and mechanically connected by a conductive member 60 such as solder arranged in the through via 52. The wiring board 50 of this embodiment is arranged so that the other surface 50b faces the shunt resistor 10. The through via 52 is configured by forming a through hole electrode or the like in the through hole, which is electrically connected to the wiring pattern of the wiring board 50.

配線基板50の一面50a上には、第1温度検出部としての第1サーミスタ71および第2温度検出部としての第2サーミスタ72が配置されている。具体的には、第1サーミスタ71および第2サーミスタ72は、配線基板50の一面50aのうちの温度差が発生する部分に配置されている。本実施形態では、第1サーミスタ71が配線基板50の一面50aのうちの高温となる部分に配置され、第2サーミスタ72が配線基板50の一面50aのちの第1サーミスタ71が配置される部分より低温となる部分に配置されている。 A first thermistor 71 as a first temperature detection unit and a second thermistor 72 as a second temperature detection unit are disposed on one surface 50a of the wiring board 50. Specifically, the first thermistor 71 and the second thermistor 72 are disposed in a portion of the one surface 50a of the wiring board 50 where a temperature difference occurs. In this embodiment, the first thermistor 71 is disposed in a portion of the one surface 50a of the wiring board 50 that is hotter, and the second thermistor 72 is disposed in a portion of the one surface 50a of the wiring board 50 that is colder than the portion where the first thermistor 71 is disposed.

詳しくは、本実施形態の配線基板50は、上記のように伝熱部51が形成されているため、一面50aのうちの伝熱部51と対向する部分が伝熱部51と対向しない部分よりも高温となり易い。このため、本実施形態では、シャント抵抗体10と配線基板50との積層方向(以下では、単に積層方向ともいう)において、第1サーミスタ71が伝熱部51と重なる状態で配置され、第2サーミスタ72が伝熱部51と離れた部分に配置されている。つまり、第2サーミスタ72は、積層方向において、伝熱部51と重ならないように配置されている。なお、積層方向においてとは、言い換えると、配線基板50の一面50aに対する法線方向から視たときということもできる。 In more detail, since the wiring board 50 of this embodiment has the heat transfer portion 51 formed as described above, the portion of the surface 50a facing the heat transfer portion 51 is more likely to become hotter than the portion not facing the heat transfer portion 51. For this reason, in this embodiment, in the stacking direction (hereinafter simply referred to as the stacking direction) of the shunt resistor 10 and the wiring board 50, the first thermistor 71 is arranged so as to overlap the heat transfer portion 51, and the second thermistor 72 is arranged in a portion away from the heat transfer portion 51. In other words, the second thermistor 72 is arranged so as not to overlap the heat transfer portion 51 in the stacking direction. In other words, in the stacking direction, it can be said that when viewed from the normal direction to the surface 50a of the wiring board 50.

制御部80は、配線基板50と接続されており、図示しないCPUや、ROM、RAM、フラッシュメモリ、HDD等の非遷移的実体的記憶媒体で構成される記憶部等を備えたマイクロコンピュータ等で構成される。CPUは、Central Processing Unitの略であり、ROMは、Read Only Memoryの略であり、RAMは、Random Access Memoryの略であり、HDDはHard Disk Driveの略である。なお、制御部80は、配線基板50に搭載されていてもよい。 The control unit 80 is connected to the wiring board 50 and is composed of a microcomputer or the like equipped with a CPU (not shown) and a storage unit composed of non-transient physical storage media such as ROM, RAM, flash memory, and HDD. CPU stands for Central Processing Unit, ROM stands for Read Only Memory, RAM stands for Random Access Memory, and HDD stands for Hard Disk Drive. The control unit 80 may be mounted on the wiring board 50.

そして、制御部80は、CPUがROM等の記憶部からプログラム(すなわち、後述の各ルーチン)を読み出して実行することで各種の制御作動を実現する。具体的には、制御部80は、第1端子部41と第2端子部42との間の電圧に基づいてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。なお、ROM等の記憶部には、プログラムの実行の際に用いられる各種のデータ(例えば、初期値、ルックアップテーブル、マップ等)が予め格納されており、本実施形態では、後述の補正係数、および後述の図3に関する抵抗値変化率データが記憶されている。 The control unit 80 realizes various control operations by having the CPU read and execute a program (i.e., each routine described below) from a storage unit such as a ROM. Specifically, the control unit 80 detects the current flowing through the shunt resistor 10 based on the voltage between the first terminal 41 and the second terminal 42. Note that the storage unit such as a ROM stores in advance various data (e.g., initial values, lookup tables, maps, etc.) used when executing the program, and in this embodiment, stores a correction coefficient described below and resistance value change rate data related to FIG. 3 described below.

以下、制御部80の具体的な作動について説明する。まず、上記のような電流検出装置では、第1部材201に第1端子部41が配置され、第2部材202に第2端子部42が配置されている。このため、第1端子部41と第2端子部42との間には、抵抗体30より抵抗温度係数の高いバスバー20(すなわち、第1部材201および第2部材202)の一部が配置された状態となる。したがって、上記のような電流検出装置では、図3に示されるように、第1端子部41と第2端子部42との間の抵抗値が温度によって変化する。この場合、第1端子部41と第2端子部42との間の抵抗値の変化率は、第1端子部41と第2端子部42との間隔が長くなるほど第1端子部41と第2端子部42との間に含まれるバスバー20が多くなるため、大きくなる。 The specific operation of the control unit 80 will be described below. First, in the current detection device as described above, the first terminal 41 is arranged on the first member 201, and the second terminal 42 is arranged on the second member 202. Therefore, a part of the busbar 20 (i.e., the first member 201 and the second member 202) having a higher resistance temperature coefficient than the resistor 30 is arranged between the first terminal 41 and the second terminal 42. Therefore, in the current detection device as described above, as shown in FIG. 3, the resistance value between the first terminal 41 and the second terminal 42 changes with temperature. In this case, the rate of change in the resistance value between the first terminal 41 and the second terminal 42 increases as the distance between the first terminal 41 and the second terminal 42 increases, because the busbar 20 included between the first terminal 41 and the second terminal 42 increases.

したがって、上記のような電流検出装置では、シャント抵抗体10の温度に基づいて第1端子部41と第2端子部42との間の抵抗値変化率を導出し、抵抗値変化率を用いて第1端子部41と第2端子部42との間の実際の抵抗値を算出することにより、電流の検出精度を向上できる。このため、例えば、配線基板50上にサーミスタ等の温度検出部を1つ配置し、サーミスタで検出された温度をシャント抵抗体10の温度とすることが考えらえる。しかしながら、配線基板50上にサーミスタを配置し、サーミスタで検出された温度をシャント抵抗体10の温度とした場合、サーミスタとシャント抵抗体との間には空気等の熱抵抗体が存在しているため、サーミスタと抵抗体との間に温度差が発生する可能性がある。 Therefore, in the current detection device as described above, the rate of change in resistance between the first terminal 41 and the second terminal 42 is derived based on the temperature of the shunt resistor 10, and the actual resistance between the first terminal 41 and the second terminal 42 is calculated using the rate of change in resistance, thereby improving the current detection accuracy. For this reason, for example, it is conceivable to arrange one temperature detection unit such as a thermistor on the wiring board 50 and use the temperature detected by the thermistor as the temperature of the shunt resistor 10. However, if a thermistor is arranged on the wiring board 50 and the temperature detected by the thermistor is used as the temperature of the shunt resistor 10, a temperature difference may occur between the thermistor and the resistor because a thermal resistor such as air exists between the thermistor and the shunt resistor.

このため、本実施形態では、上記のように、配線基板50に第1サーミスタ71および第2サーミスタ72を配置すると共に、第1サーミスタ71が配置される部分と第2サーミスタ72が配置される部分との間に温度差が発生するようにしている。この場合、図4に示されるように、シャント抵抗体10の温度と、第1サーミスタ71の第1測定結果としての第1温度、および第2サーミスタ72の第2測定結果としての第2温度との間には温度差が発生する。 For this reason, in this embodiment, as described above, the first thermistor 71 and the second thermistor 72 are arranged on the wiring board 50, and a temperature difference is generated between the portion where the first thermistor 71 is arranged and the portion where the second thermistor 72 is arranged. In this case, as shown in FIG. 4, a temperature difference is generated between the temperature of the shunt resistor 10 and the first temperature as the first measurement result of the first thermistor 71 and the second temperature as the second measurement result of the second thermistor 72.

そして、第1サーミスタ71の第1測定結果の温度を第1温度T1とし、第2サーミスタ72の第2測定結果の温度を第2温度T2とし、シャント抵抗体10の温度を温度Tsとする。この場合、抵抗体30と第1サーミスタ71との間の熱抵抗をR1[K/W]とし、第1サーミスタ71と第2サーミスタ72との間の熱抵抗をR2[K/W]とし、シャント抵抗体10から大気へ放出される熱量をQ[W]とすると、下記数式1および数式2が成立する。 The temperature of the first measurement result of the first thermistor 71 is the first temperature T1, the temperature of the second measurement result of the second thermistor 72 is the second temperature T2, and the temperature of the shunt resistor 10 is the temperature Ts. In this case, if the thermal resistance between the resistor 30 and the first thermistor 71 is R1 [K/W], the thermal resistance between the first thermistor 71 and the second thermistor 72 is R2 [K/W], and the amount of heat released from the shunt resistor 10 to the atmosphere is Q [W], the following formulas 1 and 2 are established.

(数1)Ts-T1=QR1
(数2)T1-T2=QR2
そして、下記数式1および数式2より、下記数式3が導かれる。
(Equation 1) Ts-T1=QR1
(Equation 2) T1-T2=QR2
Then, from the following formulas 1 and 2, the following formula 3 is derived.

(数3)Ts=(R1/R2)×(T1-T2)+T1
したがって、実験等により、補正係数としてのR1/R2を予め算出しておくことにより、第1サーミスタ71の第1温度T1および第2サーミスタ72の第2温度T2を用いてシャント抵抗体10の温度Tsを高精度に推定できる。例えば、図4に示される例では、図5に示されるように、補正係数としてのR1/R2を0.5とすることにより、シャント抵抗体10の温度を高精度に推定できる。したがって、本実施形態では、記憶部には、予め算出された補正係数(例えば、0.5)が記憶されている。そして、制御部80は、補正係数に基づいてシャント抵抗体10の温度を推定する。
(Equation 3) Ts = (R1/R2) x (T1-T2) + T1
Therefore, by calculating R1/R2 as a correction coefficient in advance through experiments or the like, the temperature Ts of the shunt resistor 10 can be estimated with high accuracy using the first temperature T1 of the first thermistor 71 and the second temperature T2 of the second thermistor 72. For example, in the example shown in Fig. 4, the temperature of the shunt resistor 10 can be estimated with high accuracy by setting R1/R2 as the correction coefficient to 0.5 as shown in Fig. 5. Therefore, in this embodiment, a correction coefficient (e.g., 0.5) calculated in advance is stored in the memory unit. Then, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 based on the correction coefficient.

なお、上記数式3を用いてシャント抵抗体10の温度を推定する場合、上記数式3より、第1温度T1が温度Tsに近いほど誤差を小さくできる。このため、第1サーミスタ71および第2サーミスタ72は、温度Tsと第1温度T1との温度差が、第1温度T1と第2温度T2との温度差より小さくなるように配置されることが好ましい。 When estimating the temperature of the shunt resistor 10 using the above formula 3, the error can be reduced as the first temperature T1 is closer to the temperature Ts, according to the above formula 3. Therefore, it is preferable that the first thermistor 71 and the second thermistor 72 are arranged so that the temperature difference between the temperature Ts and the first temperature T1 is smaller than the temperature difference between the first temperature T1 and the second temperature T2.

そして、制御部80は、シャント抵抗体10の温度を推定した後、第1端子部41と第2端子部42との間の温度に応じた実際の抵抗値を推定する。具体的には、制御部80は、第1端子部41と第2端子部42との間隔が既知であるため、推定したシャント抵抗体10の温度から図3に関する抵抗値変化率データを参照し、第1端子部41と第2端子部42との間の温度に応じた実際の抵抗値を推定する。その後、制御部80は、第1端子部41と第2端子部42との間の電圧と、推定した抵抗値に基づいてシャント抵抗体10に流れる電流を算出する。 Then, after estimating the temperature of the shunt resistor 10, the control unit 80 estimates the actual resistance value according to the temperature between the first terminal 41 and the second terminal 42. Specifically, since the distance between the first terminal 41 and the second terminal 42 is known, the control unit 80 refers to the resistance change rate data in FIG. 3 from the estimated temperature of the shunt resistor 10 and estimates the actual resistance value according to the temperature between the first terminal 41 and the second terminal 42. The control unit 80 then calculates the voltage between the first terminal 41 and the second terminal 42 and the current flowing through the shunt resistor 10 based on the estimated resistance value.

以上説明した本実施形態によれば、第1サーミスタ71および第2サーミスタ72は、温度差が発生する部分に配置されている。そして、制御部80は、第1サーミスタ71の第1温度T1と第2サーミスタ72の第2温度T2との温度差に基づいてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定したシャント抵抗体10の温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出している。このため、検出精度の向上を図ることができる。 According to the present embodiment described above, the first thermistor 71 and the second thermistor 72 are disposed in a portion where a temperature difference occurs. The control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 based on the temperature difference between the first temperature T1 of the first thermistor 71 and the second temperature T2 of the second thermistor 72, and detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the estimated temperature of the shunt resistor 10. This allows for improved detection accuracy.

(1)本実施形態では、制御部80は、第1温度T1と第2温度T2との差に所定の補正係数を乗算した値を第1温度T1に加算してシャント抵抗体10の温度を推定する。このため、シャント抵抗体10の温度の推定精度を向上できる。 (1) In this embodiment, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 by multiplying the difference between the first temperature T1 and the second temperature T2 by a predetermined correction coefficient and adding the result to the first temperature T1. This improves the accuracy of estimating the temperature of the shunt resistor 10.

(2)本実施形態では、配線基板50に伝熱部51が備えられている。そして、積層方向において、第1サーミスタ71が伝熱部51と重なるように配置され、第2サーミスタ72が伝熱部51と重ならないように配置されている。このため、第1サーミスタ71と第2サーミスタ72とを容易に温度差が配置する部分に配置できる。 (2) In this embodiment, the wiring board 50 is provided with a heat transfer section 51. In the stacking direction, the first thermistor 71 is arranged so as to overlap the heat transfer section 51, and the second thermistor 72 is arranged so as not to overlap the heat transfer section 51. Therefore, the first thermistor 71 and the second thermistor 72 can be easily arranged in a portion where a temperature difference occurs.

(3)本実施形態では、シャント抵抗体10の温度Tsと第1温度T1との差が第1温度T1と第2温度T2との差より小さくなるように、第1サーミスタ71および第2サーミスタ72が配置されている。このため、シャント抵抗体10の温度の推定精度を向上できる。 (3) In this embodiment, the first thermistor 71 and the second thermistor 72 are arranged so that the difference between the temperature Ts of the shunt resistor 10 and the first temperature T1 is smaller than the difference between the first temperature T1 and the second temperature T2. This improves the accuracy of estimating the temperature of the shunt resistor 10.

(第1実施形態の変形例)
上記第1実施形態の変形例について説明する。上記第1実施形態において、第2サーミスタ72は、図6に示されるように、第1部材201と対向するように配置されていてもよい。また、特に図示しないが、第2サーミスタ72は、第2部材202と対向するように配置されていてもよい。このような電流検出装置としても、法線方向において、第1サーミスタ71が伝熱部51と重なるように配置されているため、第1サーミスタ71の方が第2サーミスタ72よりも高温となる部分に配置される。したがって、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
(Modification of the first embodiment)
A modified example of the first embodiment will be described. In the first embodiment, the second thermistor 72 may be disposed so as to face the first member 201 as shown in FIG. 6. Although not particularly shown, the second thermistor 72 may be disposed so as to face the second member 202. In such a current detection device, the first thermistor 71 is disposed so as to overlap the heat transfer portion 51 in the normal direction, so that the first thermistor 71 is disposed in a portion where the temperature is higher than that of the second thermistor 72. Therefore, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

(第2実施形態)
第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、第2サーミスタ72を配置する場所を変更したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Second Embodiment
A second embodiment will be described. In this embodiment, the location of the second thermistor 72 is changed from that of the first embodiment. As the rest of the configuration is the same as that of the first embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置では、図7に示されるように、配線基板50は、シャント抵抗体10と配線基板50との積層方向において、シャント抵抗体10より突出する部分を有する構成とされている。つまり、配線基板50は、シャント抵抗体10と対向しない部分を有する構成とされている。なお、シャント抵抗体10と配線基板50との積層方向においてとは、配線基板50の一面50aに対する法線方向から視たときということもできる。 In the current detection device of this embodiment, as shown in FIG. 7, the wiring board 50 is configured to have a portion that protrudes from the shunt resistor 10 in the stacking direction of the shunt resistor 10 and the wiring board 50. In other words, the wiring board 50 is configured to have a portion that does not face the shunt resistor 10. Note that the stacking direction of the shunt resistor 10 and the wiring board 50 can also be referred to as when viewed from the normal direction to one surface 50a of the wiring board 50.

そして、第2サーミスタ72は、積層方向において、配線基板50のうちのシャント抵抗体10から突出する部分に配置されている。つまり、第2サーミスタ72は、シャント抵抗体10と対向する部分と異なる部分に配置されている。 The second thermistor 72 is disposed in a portion of the wiring board 50 that protrudes from the shunt resistor 10 in the stacking direction. In other words, the second thermistor 72 is disposed in a portion different from the portion facing the shunt resistor 10.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、第1温度T1と第2温度T2とを用いてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定した温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。このため、本実施形態の電流検出装置は、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 using the first temperature T1 and the second temperature T2, and detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the estimated temperature. Therefore, the current detection device of this embodiment can obtain the same effect as the first embodiment.

(1)本実施形態では、第2サーミスタ72は、配線基板50のうちのシャント抵抗体10から突出する部分に配置されている。言い換えると、第2サーミスタ72は、熱源となるシャント抵抗体10から離れて配置されている。このため、第2サーミスタ72を配線基板50のうちのシャント抵抗体10と対向する部分に配置する場合と比較して、第2サーミスタ72が配置される部分の温度を低くし易くなる。したがって、第1サーミスタ71が配置される部分と第2サーミスタ72が配置される部分に容易に温度差を発生させることができる。 (1) In this embodiment, the second thermistor 72 is disposed in a portion of the wiring board 50 that protrudes from the shunt resistor 10. In other words, the second thermistor 72 is disposed away from the shunt resistor 10, which serves as a heat source. For this reason, it is easier to lower the temperature of the portion where the second thermistor 72 is disposed, compared to the case where the second thermistor 72 is disposed in a portion of the wiring board 50 that faces the shunt resistor 10. Therefore, a temperature difference can be easily generated between the portion where the first thermistor 71 is disposed and the portion where the second thermistor 72 is disposed.

(第3実施形態)
第3実施形態について説明する。本実施形態は、第2実施形態に対し、第1サーミスタ71を配置する場所を変更したものである。その他に関しては、第2実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Third Embodiment
A third embodiment will be described. In this embodiment, the location of the first thermistor 71 is changed from that of the second embodiment. As the rest of the configuration is the same as that of the second embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置では、図8に示されるように、配線基板50に伝熱部51が形成されていない。そして、第1サーミスタ71は、第1部材201と対向するように形成されている。また、第2サーミスタ72は、積層方向において、配線基板50のうちのシャント抵抗体10から突出する部分に配置されている。 In the current detection device of this embodiment, as shown in FIG. 8, the heat transfer section 51 is not formed on the wiring board 50. The first thermistor 71 is formed so as to face the first member 201. The second thermistor 72 is disposed in a portion of the wiring board 50 that protrudes from the shunt resistor 10 in the stacking direction.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、第1温度T1と第2温度T2とを用いてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定した温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。このため、本実施形態の電流検出装置は、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 using the first temperature T1 and the second temperature T2, and detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the estimated temperature. Therefore, the current detection device of this embodiment can obtain the same effect as the first embodiment.

(1)本実施形態のように、第1サーミスタ71と第2サーミスタ72の配置場所を変更するのみにより、第1サーミスタ71が配置される部分と第2サーミスタ72が配置される部分との間に温度差が発生するようにしてもよい。これによれば、配線基板50に伝熱部51を備えなくてもよいため、配線基板50の構成を簡略化できる。 (1) As in this embodiment, a temperature difference may be generated between the portion where the first thermistor 71 is disposed and the portion where the second thermistor 72 is disposed, simply by changing the locations of the first thermistor 71 and the second thermistor 72. This eliminates the need to provide the heat transfer section 51 on the wiring board 50, and therefore simplifies the configuration of the wiring board 50.

なお、特に図示しないが、第1サーミスタ71は、抵抗体30と対向するように配置されていてもよいし、第2部材202と対向するように配置されていてもよい。 Although not specifically shown, the first thermistor 71 may be arranged to face the resistor 30 or the second member 202.

(第4実施形態)
第4実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、制御部80の作動を変更したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Fourth Embodiment
A fourth embodiment will be described. In this embodiment, the operation of the control unit 80 is changed from that of the first embodiment. As the rest is similar to the first embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図9および図10に示されるように、シャント抵抗体10と制御部80とを有する構成とされている。本実施形態のシャント抵抗体10は、バスバー20、抵抗体30、第1~第4端子部41~44を有する構成とされている。なお、本実施形態では、上記第1実施形態における配線基板50は配置されていない。 As shown in Figures 9 and 10, the current detection device of this embodiment has a shunt resistor 10 and a control unit 80. The shunt resistor 10 of this embodiment has a bus bar 20, a resistor 30, and first to fourth terminals 41 to 44. Note that in this embodiment, the wiring board 50 in the first embodiment is not provided.

第1端子部41および第2端子部42は、上記第1実施形態と同様に、第1部材201および第2部材202に配置されている。第3端子部43および第4端子部44は、第1端子部41および第2端子部42と同様に、銅等の第3棒状部材43aおよび第4棒状部材44aで構成されている。 The first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are disposed on the first member 201 and the second member 202, as in the first embodiment. The third terminal portion 43 and the fourth terminal portion 44 are formed of a third rod-shaped member 43a and a fourth rod-shaped member 44a, such as copper, as in the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42.

そして、第3端子部43は、第1部材201の一面201aのうちの第1端子部41を挟んで抵抗体30と反対側に配置されている。第4端子部44は、第2部材202の一面202aのうちの第2端子部42を挟んでシャント抵抗体10と反対側に配置されている。より詳しくは、本実施形態の第1~第4端子部41~44は、第3端子部43、第1端子部41、第2端子部42、第4端子部44の順に直線状に配置されている。このため、第1~第4端子部41~44は、抵抗体30を含んで異なる2つの間隔が構成されるように配置された状態となっている。本実施形態では、第1~第4端子部41~44は、第1端子部41と第2端子部42との間隔と、第3端子部43と第4端子部44との間隔が異なるように配置されている。そして、本実施形態ではこのように第1~第4端子部41~44が配置されることにより、第1端子部41と第3端子部43との間の抵抗値と、第2端子部42と第4端子部44との間の抵抗値とが異なっている。 The third terminal 43 is disposed on the opposite side of the resistor 30 across the first terminal 41 on the surface 201a of the first member 201. The fourth terminal 44 is disposed on the opposite side of the shunt resistor 10 across the second terminal 42 on the surface 202a of the second member 202. More specifically, the first to fourth terminals 41 to 44 of this embodiment are linearly arranged in the order of the third terminal 43, the first terminal 41, the second terminal 42, and the fourth terminal 44. Therefore, the first to fourth terminals 41 to 44 are arranged so that two different intervals are formed including the resistor 30. In this embodiment, the first to fourth terminals 41 to 44 are arranged so that the interval between the first terminal 41 and the second terminal 42 and the interval between the third terminal 43 and the fourth terminal 44 are different. In this embodiment, by arranging the first to fourth terminals 41 to 44 in this manner, the resistance value between the first terminal 41 and the third terminal 43 is different from the resistance value between the second terminal 42 and the fourth terminal 44.

なお、本実施形態では、第1端子部41と第3端子部43との間の抵抗値、および第2端子部42と第4端子部44との間の抵抗値が実効抵抗値に相当している。また、第3端子部43および第4端子部44は、第1端子部41および第2端子部42と同様に、溶接、リベット、はんだづけ等によって第1部材201および第2部材202に備えられている。 In this embodiment, the resistance value between the first terminal portion 41 and the third terminal portion 43 and the resistance value between the second terminal portion 42 and the fourth terminal portion 44 correspond to the effective resistance value. Similarly to the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42, the third terminal portion 43 and the fourth terminal portion 44 are provided to the first member 201 and the second member 202 by welding, riveting, soldering, or the like.

制御部80は、上記第1実施形態と同様の構成とされており、第1~第4端子部44と接続されている。そして、本実施形態の制御部80は、第1端子部41と第2端子部42との間の第1電圧V1、および第3端子部43と第4端子部44との間の第2電圧V2に基づいてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。なお、本実施形態では、後述の図11に関する抵抗値推定データおよび後述の図12に関する温度推定データが記憶されている。 The control unit 80 has the same configuration as in the first embodiment, and is connected to the first to fourth terminals 44. The control unit 80 in this embodiment detects the current flowing through the shunt resistor 10 based on the first voltage V1 between the first terminal 41 and the second terminal 42, and the second voltage V2 between the third terminal 43 and the fourth terminal 44. In this embodiment, resistance value estimation data related to FIG. 11 and temperature estimation data related to FIG. 12 are stored.

以下、本実施形態における制御部80のシャント抵抗体10に流れる電流の検出方法について説明する。まず、上記のように第1~第4端子部41~44が配置されており、第1端子部41と第2端子部42との間隔と、第3端子部43と第4端子部44との間隔が異なっている。つまり、第1端子部41と第2端子部42との間に含まれるバスバー20の長さと、第3端子部43と第4端子部44との間に含まれるバスバー20の長さとが異なっている。そして、バスバー20は、抵抗温度係数が高い銅等で構成されている。このため、図11に示されるように、第1端子部41と第2端子部42との間に構成される抵抗体を第1抵抗体とし、第3端子部43と第4端子部44との間に構成される抵抗体を第2抵抗体とすると、第1抵抗体と第2抵抗体とは、温度依存性が異なる。具体的には、第2抵抗体は、第1抵抗体よりバスバー20の長さが長くなるために抵抗温度係数が大きくなり、抵抗値が温度に応じて変化し易くなる。 The following describes a method for detecting the current flowing through the shunt resistor 10 of the control unit 80 in this embodiment. First, the first to fourth terminals 41 to 44 are arranged as described above, and the interval between the first terminal 41 and the second terminal 42 is different from the interval between the third terminal 43 and the fourth terminal 44. In other words, the length of the bus bar 20 included between the first terminal 41 and the second terminal 42 is different from the length of the bus bar 20 included between the third terminal 43 and the fourth terminal 44. The bus bar 20 is made of copper or the like having a high resistance temperature coefficient. For this reason, as shown in FIG. 11, if the resistor configured between the first terminal 41 and the second terminal 42 is the first resistor, and the resistor configured between the third terminal 43 and the fourth terminal 44 is the second resistor, the first resistor and the second resistor have different temperature dependencies. Specifically, the second resistor has a larger resistance temperature coefficient because the busbar 20 is longer than the first resistor, making the resistance value more susceptible to change with temperature.

そして、第1抵抗体の抵抗値を第1抵抗値R1とし、第2抵抗体の抵抗値を第2抵抗値R2とすると、第1抵抗値R1に対する第2抵抗値R2の抵抗値比率(すなわち、R2/R1)は、図12に示されるように、温度に対して正の傾きを有する直線となる。このため、シャント抵抗体10の温度が均一であるとした場合、オームの法則より、第1電圧V1に対する第2電圧V2の比率であるV2/V1は、抵抗値比率であるR/R1となる。つまり、V2/V1=R2/R1となる。したがって、制御部80は、図13に示す作動を行ってシャント抵抗体10の電流を検出する。 If the resistance value of the first resistor is the first resistance value R1 and the resistance value of the second resistor is the second resistance value R2, then the resistance value ratio of the second resistance value R2 to the first resistance value R1 (i.e., R2/R1) is a straight line with a positive slope with respect to temperature, as shown in FIG. 12. Therefore, if the temperature of the shunt resistor 10 is uniform, according to Ohm's law, the ratio of the second voltage V2 to the first voltage V1, V2/V1, is the resistance value ratio R/R1. In other words, V2/V1=R2/R1. Therefore, the control unit 80 detects the current of the shunt resistor 10 by performing the operation shown in FIG. 13.

すなわち、制御部80は、ステップS100にて、第1端子部41と第2端子部42との間の第1電圧V1を取得すると共に、第3端子部43と第4端子部44との間の第2電圧V2を取得する。 That is, in step S100, the control unit 80 acquires the first voltage V1 between the first terminal 41 and the second terminal 42, and acquires the second voltage V2 between the third terminal 43 and the fourth terminal 44.

次に、制御部80は、ステップS101にて、V2/V1を算出する。その後、制御部80は、ステップS102にて、V2/V1=R2/R1であるため、図12に関する温度推定データを参照し、抵抗値比率からシャント抵抗体10の温度を推定する。 Next, in step S101, the control unit 80 calculates V2/V1. After that, in step S102, since V2/V1=R2/R1, the control unit 80 refers to the temperature estimation data in FIG. 12 and estimates the temperature of the shunt resistor 10 from the resistance value ratio.

そして、制御部80は、ステップS103にて、推定した温度を用い、図11に関する抵抗値推定データを参照して第1抵抗値R1および第2抵抗値R2を推定する。 Then, in step S103, the control unit 80 uses the estimated temperature and estimates the first resistance value R1 and the second resistance value R2 by referring to the resistance value estimation data related to Figure 11.

その後、制御部80は、ステップS104にて、オームの法則を用い、V1、V2、R1、R2に基づいてシャント抵抗体10に流れる電流を算出する。この場合、制御部80は、V1とR1とを用いてシャント抵抗体10に流れる電流を算出するようにしてもよいし、V2とR2とを用いてシャント抵抗体10に流れる電流を算出するようにしてもよい。また、制御部80は、V1とR1とを用いて算出した電流と、V2とR2とを用いて算出した電流との平均をシャント抵抗体10に流れる電流としてもよい。 Then, in step S104, the control unit 80 uses Ohm's law to calculate the current flowing through the shunt resistor 10 based on V1, V2, R1, and R2. In this case, the control unit 80 may calculate the current flowing through the shunt resistor 10 using V1 and R1, or may calculate the current flowing through the shunt resistor 10 using V2 and R2. The control unit 80 may also determine the average of the current calculated using V1 and R1 and the current calculated using V2 and R2 as the current flowing through the shunt resistor 10.

なお、制御部80は、V1とR1とを用いてシャント抵抗体10に流れる電流を算出する場合、ステップS103では、第2抵抗値R2を推定しないようにしてもよい。同様に、制御部80は、V2とR2とを用いてシャント抵抗体10に流れる電流を算出する場合、ステップS103では、第1抵抗値R1を推定しないようにしてもよい。 When the control unit 80 calculates the current flowing through the shunt resistor 10 using V1 and R1, the control unit 80 may not estimate the second resistance value R2 in step S103. Similarly, when the control unit 80 calculates the current flowing through the shunt resistor 10 using V2 and R2, the control unit 80 may not estimate the first resistance value R1 in step S103.

以上説明した本実施形態によれば、第1電圧V1および第2電圧V2を用いてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定したシャント抵抗体10の温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出している。このため、検出精度の向上を図ることができる。 According to the present embodiment described above, the temperature of the shunt resistor 10 is estimated using the first voltage V1 and the second voltage V2, and the current flowing through the shunt resistor 10 is detected using the estimated temperature of the shunt resistor 10. This makes it possible to improve the detection accuracy.

(1)本実施形態では、V2/V1=R2/R1を用いてシャント抵抗体10の温度を推定している。このため、シャント抵抗体10の温度を容易に推定できる。また、本実施形態の構成によれば、サーミスタ等の温度検出部を備える必要がなく、構成の簡略化を図ることができる。 (1) In this embodiment, the temperature of the shunt resistor 10 is estimated using V2/V1=R2/R1. This makes it easy to estimate the temperature of the shunt resistor 10. In addition, the configuration of this embodiment does not require a temperature detection unit such as a thermistor, which simplifies the configuration.

(第5実施形態)
第5実施形態について説明する。本実施形態は、第4実施形態に対し、第4端子部44を備えないものである。その他に関しては、第4実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Fifth Embodiment
A fifth embodiment will be described. This embodiment differs from the fourth embodiment in that it does not include the fourth terminal portion 44. As the rest is similar to the fourth embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図14に示されるように、シャント抵抗体10に第1~第3端子部43が備えられており、第4端子部44が備えられていない。なお、本実施形態では、第1端子部41と第2端子部42との間隔と、第2端子部42と第3端子部43との間隔が異なる間隔となる。 As shown in FIG. 14, the current detection device of this embodiment has a shunt resistor 10 provided with first to third terminals 43, but does not have a fourth terminal 44. Note that in this embodiment, the distance between the first terminal 41 and the second terminal 42 is different from the distance between the second terminal 42 and the third terminal 43.

制御部80は、第1端子部41と第2端子部42との間の電圧を第1電圧V1とし、第2端子部42と第3端子部43との間の電圧を第2電圧V2として取得する。そして、制御部80は、取得した第1電圧V1および第2電圧V2を用い、上記第4実施形態と同様の作動を行ってシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。 The control unit 80 acquires the voltage between the first terminal 41 and the second terminal 42 as the first voltage V1, and the voltage between the second terminal 42 and the third terminal 43 as the second voltage V2. The control unit 80 then uses the acquired first voltage V1 and second voltage V2 to perform the same operation as in the fourth embodiment described above to detect the current flowing through the shunt resistor 10.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、第1電圧V1および第2電圧V2を用いてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定したシャント抵抗体10の温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。このため、本実施形態の電流検出装置は、上記第4実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 using the first voltage V1 and the second voltage V2, and detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the estimated temperature of the shunt resistor 10. Therefore, the current detection device of this embodiment can obtain the same effect as the fourth embodiment.

(1)本実施形態では、上記第4実施形態と比較すると、第4端子部44を備えない構成とされる。このため、上記第4実施形態と比較すると、部品点数の削減を図ることができる。 (1) In this embodiment, compared to the fourth embodiment described above, the fourth terminal portion 44 is not provided. Therefore, compared to the fourth embodiment described above, it is possible to reduce the number of parts.

(第6実施形態)
第6実施形態について説明する。本実施形態は、第5実施形態に対し、第3端子部43を配置する場所を変更したものである。その他に関しては、第5実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Sixth Embodiment
A sixth embodiment will be described. In this embodiment, the location of the third terminal portion 43 is changed from that of the fifth embodiment. As the rest of the configuration is the same as that of the fifth embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図15に示されるように、第1部材201、抵抗体30、第2部材202の配列方向において、抵抗体30が中心から当該配列方向にずれて配置されている。本実施形態では、抵抗体30は、第2部材202側にずれて配置されている。そして、第1部材201は、第2部材202よりも配列方向に沿った長さが長くされている。 As shown in FIG. 15, in the current detection device of this embodiment, the resistor 30 is arranged offset from the center in the arrangement direction of the first member 201, resistor 30, and second member 202. In this embodiment, the resistor 30 is arranged offset toward the second member 202. The first member 201 is longer in the arrangement direction than the second member 202.

第3端子部43は、上記第5実施形態と同様に、第1部材201に配置されている。但し、第3端子部43は、上記第5実施形態より第1端子部41と第3端子部43との間隔が長くなるように配置されている。 The third terminal portion 43 is disposed on the first member 201, as in the fifth embodiment. However, the third terminal portion 43 is disposed such that the distance between the first terminal portion 41 and the third terminal portion 43 is longer than in the fifth embodiment.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、第1電圧V1および第2電圧V2を用いてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定したシャント抵抗体10の温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。このため、本実施形態の電流検出装置は、上記第4実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 using the first voltage V1 and the second voltage V2, and detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the estimated temperature of the shunt resistor 10. Therefore, the current detection device of this embodiment can obtain the same effect as the fourth embodiment.

(1)本実施形態では、上記第5実施形態より第1端子部41と第3端子部43との間隔が長くされている。このため、第3端子部43と第2端子部42との間に位置するバスバー20が増加し、第3端子部43と第2端子部42との間の第2抵抗値R2における温度依存性を大きくできる。したがって、第1抵抗値R1と第2抵抗値R2との差を大きくでき、検出精度の向上を図ることができる。 (1) In this embodiment, the distance between the first terminal 41 and the third terminal 43 is longer than in the fifth embodiment. This increases the number of bus bars 20 located between the third terminal 43 and the second terminal 42, and increases the temperature dependency of the second resistance R2 between the third terminal 43 and the second terminal 42. This increases the difference between the first resistance R1 and the second resistance R2, improving detection accuracy.

(第7実施形態)
第7実施形態について説明する。本実施形態は、第5実施形態に対し、バスバー20にスリットを形成したものである。その他に関しては、第5実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Seventh Embodiment
A seventh embodiment will be described. In this embodiment, slits are formed in the bus bar 20 in comparison with the fifth embodiment. As the rest is similar to the fifth embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図16に示されるように、バスバー20のうちの第1部材201の一面201aにスリット201dが形成されている。具体的には、第1部材201の一面201aには、第1端子部41が配置される部分と第3端子部43が配置される部分との間にスリット201dが形成されている。 As shown in FIG. 16, in the current detection device of this embodiment, a slit 201d is formed on one surface 201a of a first member 201 of a busbar 20. Specifically, a slit 201d is formed on one surface 201a of the first member 201 between a portion where the first terminal portion 41 is arranged and a portion where the third terminal portion 43 is arranged.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、第1電圧V1および第2電圧V2を用いてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定したシャント抵抗体10の温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。このため、本実施形態の電流検出装置は、上記第4実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 using the first voltage V1 and the second voltage V2, and detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the estimated temperature of the shunt resistor 10. Therefore, the current detection device of this embodiment can obtain the same effect as the fourth embodiment.

(1)本実施形態では、第1部材201のうちの第1端子部41が配置される部分と第3端子部43が配置される部分との間にスリット201dが形成されている。このため、シャント抵抗体10のうちのスリット201dが形成されている部分では、スリット201dを迂回して電流が流れる。したがって、第1端子部41と第3端子部43との間の電流経路を長くできる。これにより、上記第6実施形態と同様に、第3端子部43と第2端子部42との間の第2抵抗値R2における温度依存性を大きくできる。したがって、第1抵抗値R1と第2抵抗値R2との差を大きくでき、検出精度の向上を図ることができる。 (1) In this embodiment, a slit 201d is formed between the portion of the first member 201 where the first terminal 41 is disposed and the portion of the third terminal 43 is disposed. Therefore, in the portion of the shunt resistor 10 where the slit 201d is formed, current flows around the slit 201d. Therefore, the current path between the first terminal 41 and the third terminal 43 can be lengthened. As a result, similar to the sixth embodiment, the temperature dependency of the second resistance value R2 between the third terminal 43 and the second terminal 42 can be increased. Therefore, the difference between the first resistance value R1 and the second resistance value R2 can be increased, and the detection accuracy can be improved.

(第8実施形態)
第8実施形態について説明する。本実施形態は、第4実施形態に対し、配線基板50を備えたものである。その他に関しては、第4実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Eighth embodiment
An eighth embodiment will be described. This embodiment is different from the fourth embodiment in that it includes a wiring board 50. As the rest is similar to the fourth embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図17に示されるように、配線基板50を有する構成とされている。配線基板50は、上記第1実施形態と同様の構成とされたプリント基板で構成されており、第1端子部41および第2端子部42と対応する位置に貫通ビア52が形成されている。そして、配線基板50は、第1端子部41および第2端子部42が貫通ビア52を貫通するように配置されている。配線基板50と第1端子部41および第2端子部42とは、貫通ビア52に配置されたはんだ等の導電部材60によって電気的、機械的に接続されている。 The current detection device of this embodiment is configured to have a wiring board 50, as shown in FIG. 17. The wiring board 50 is configured as a printed circuit board configured similarly to the first embodiment, and has through vias 52 formed at positions corresponding to the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42. The wiring board 50 is arranged so that the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 pass through the through vias 52. The wiring board 50 and the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are electrically and mechanically connected by conductive members 60, such as solder, arranged in the through vias 52.

また、配線基板50は、第1部材201と第3端子部43としての第3ボンディングワイヤ43bを介して電気的に接続されており、第2部材202と第4端子部44としての第4ボンディングワイヤ44bを介して電気的に接続されている。具体的には、第3端子部43としての第3ボンディングワイヤ43bは、第1部材201の一面201aのうちの第1端子部41を挟んで抵抗体30と反対側と接続されている。第4端子部44としての第4ボンディングワイヤ44bは、第2部材202の一面202aのうちの第2端子部42を挟んでシャント抵抗体10と反対側と接続されている。 The wiring board 50 is electrically connected to the first member 201 via a third bonding wire 43b as the third terminal 43, and is electrically connected to the second member 202 via a fourth bonding wire 44b as the fourth terminal 44. Specifically, the third bonding wire 43b as the third terminal 43 is connected to the side opposite the resistor 30 across the first terminal 41 of the surface 201a of the first member 201. The fourth bonding wire 44b as the fourth terminal 44 is connected to the side opposite the shunt resistor 10 across the second terminal 42 of the surface 202a of the second member 202.

制御部80は、第1端子部41と第2端子部42との間の電圧を第1電圧V1として取得する。また、制御部80は、第3端子部43と第4端子部44との間の電圧を第2電圧V2として取得する。そして、制御部80は、第1電圧V1と第2電圧V2とを用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。 The control unit 80 obtains the voltage between the first terminal 41 and the second terminal 42 as a first voltage V1. The control unit 80 also obtains the voltage between the third terminal 43 and the fourth terminal 44 as a second voltage V2. The control unit 80 then detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the first voltage V1 and the second voltage V2.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、第1電圧V1および第2電圧V2を用いてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定したシャント抵抗体10の温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。このため、本実施形態の電流検出装置は、上記第4実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 using the first voltage V1 and the second voltage V2, and detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the estimated temperature of the shunt resistor 10. Therefore, the current detection device of this embodiment can obtain the same effect as the fourth embodiment.

(第8実施形態の変形例)
上記第8実施形態の変形例について説明する。上記第8実施形態において、図18に示されるように、シャント抵抗体10と配線基板50とは、第1~第4端子部41~44として、はんだ等で構成される第1~第4接続部材41c~44cを介して電気的、機械的に接続されるようにしてもよい。なお、第1、第3接続部材41c、43cは、第1部材201の一面201a上に配置されると共に、第1接続部材41cが抵抗体30側に配置される。第2、第4接続部材42c、44cは、第2部材202の一面202a上に配置されると共に、第2接続部材42cが抵抗体30側に配置される。そして、制御部80は、第1接続部材41cと第2接続部材42cとの間の電圧を第1電圧V1とし、第3接続部材43cと第4接続部材44cとの間の電圧を第2電圧V2としてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。
(Modification of the eighth embodiment)
A modified example of the eighth embodiment will be described. In the eighth embodiment, as shown in FIG. 18, the shunt resistor 10 and the wiring board 50 may be electrically and mechanically connected to each other via the first to fourth connection members 41c to 44c made of solder or the like as the first to fourth terminals 41 to 44. The first and third connection members 41c and 43c are disposed on one surface 201a of the first member 201, and the first connection member 41c is disposed on the resistor 30 side. The second and fourth connection members 42c and 44c are disposed on one surface 202a of the second member 202, and the second connection member 42c is disposed on the resistor 30 side. The control unit 80 detects the current flowing through the shunt resistor 10 by setting the voltage between the first connection member 41c and the second connection member 42c as the first voltage V1 and the voltage between the third connection member 43c and the fourth connection member 44c as the second voltage V2.

同様に、図19に示されるように、第1端子部41としての第1棒状部材41aが配置されると共に第2端子部42としての第2棒状部材42aが配置され、第3端子部43としての第3接続部材43cが配置されると共に第4端子部44としての第4接続部材44cが配置されるようにしてもよい。 Similarly, as shown in FIG. 19, a first rod-shaped member 41a may be arranged as the first terminal portion 41, a second rod-shaped member 42a may be arranged as the second terminal portion 42, a third connecting member 43c may be arranged as the third terminal portion 43, and a fourth connecting member 44c may be arranged as the fourth terminal portion 44.

また、図20に示されるように、第1端子部41としての第1接続部材41cが配置されると共に第2端子部42としての第2接続部材42cが配置され、第3端子部43としての第3ボンディングワイヤ43bが配置されると共に第4端子部44としての第4ボンディングワイヤ44bが配置されるようにしてもよい。つまり、上記第8実施形態と図18を組み合わせるようにしてもよい。すなわち、第1~第4端子部41~44の構成は、適宜変更可能である。 Also, as shown in FIG. 20, a first connection member 41c may be arranged as the first terminal portion 41, a second connection member 42c may be arranged as the second terminal portion 42, a third bonding wire 43b may be arranged as the third terminal portion 43, and a fourth bonding wire 44b may be arranged as the fourth terminal portion 44. In other words, the eighth embodiment may be combined with FIG. 18. That is, the configurations of the first to fourth terminal portions 41 to 44 may be changed as appropriate.

(第9実施形態)
第9実施形態について説明する。本実施形態は、第4実施形態に対し、シャント抵抗体10の形状を変更すると共に、第1~第4端子部41~44の配置の仕方を変更したものである。その他に関しては、第4実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Ninth embodiment
A ninth embodiment will be described. This embodiment is different from the fourth embodiment in that the shape of the shunt resistor 10 is changed and the arrangement of the first to fourth terminals 41 to 44 is changed. As the rest is the same as the fourth embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置では、図21に示されるように、シャント抵抗体10は、第1部材201の一面201a、抵抗体30の一面30a、第2部材202の一面202aと、第1部材201の他面201b、抵抗体30の他面30b、第2部材202の他面30bとを繋ぐ一対の側面10c、10dを有している。なお、ここでの側面10c、10dとは、シャント抵抗体10の側面のうちの第1部材201、抵抗体30、第2部材202の配列方向に沿った面であるともいえる。 In the current detection device of this embodiment, as shown in FIG. 21, the shunt resistor 10 has a pair of side surfaces 10c and 10d that connect one surface 201a of the first member 201, one surface 30a of the resistor 30, and one surface 202a of the second member 202 to the other surface 201b of the first member 201, the other surface 30b of the resistor 30, and the other surface 30b of the second member 202. Note that the side surfaces 10c and 10d here can also be said to be the surfaces of the shunt resistor 10 that are aligned along the arrangement direction of the first member 201, the resistor 30, and the second member 202.

そして、シャント抵抗体10は、側面10cのうちの抵抗体30を含む部分に、抵抗体30の面方向に沿って凹んだ凹部11が形成されている。また、シャント抵抗体10は、側面10dのうちの抵抗体30を含む部分に、抵抗体30の面方向と平行な方向に突出する凸部12が形成されている。なお、凸部12は、第1部材201、抵抗体30、第2部材202に渡って形成されている。 The shunt resistor 10 has a recess 11 formed in the side surface 10c that includes the resistor 30, the recess 11 being recessed along the surface direction of the resistor 30. The shunt resistor 10 also has a protrusion 12 formed in the side surface 10d that includes the resistor 30, the protrusion 12 protruding in a direction parallel to the surface direction of the resistor 30. The protrusion 12 is formed across the first member 201, the resistor 30, and the second member 202.

第1端子部41および第2端子部42は、シャント抵抗体10のうちの側面10c側に配置されている。第3端子部43および第4端子部44は、シャント抵抗体10のうちの凸部12に配置されている。そして、本実施形態では、第1端子部41と第2端子部42との間隔と、第3端子部43と第4端子部44との間隔とが等しくされている。 The first terminal 41 and the second terminal 42 are disposed on the side surface 10c of the shunt resistor 10. The third terminal 43 and the fourth terminal 44 are disposed on the protruding portion 12 of the shunt resistor 10. In this embodiment, the distance between the first terminal 41 and the second terminal 42 is equal to the distance between the third terminal 43 and the fourth terminal 44.

以下、本実施形態における制御部80のシャント抵抗体10に流れる電流の検出方法について説明する。まず、上記のような電流検出装置では、シャント抵抗体10に電流を流した場合、シャント抵抗体10に凹部11および凸部12が形成されているため、部分毎に電流密度が変化する。具体的には、凹部11側では、電流が集中するために電流密度が高くなり易く、凸部12側では、凸部12に電流が回り込むことによって電流密度が低くなり易い。このため、第1端子部41と第2端子部42との間の第1抵抗体における見かけ上の抵抗値と、第3端子部43と第4端子部44との間の第2抵抗体における見かけ上の抵抗値とが異なり、図11のような関係となる。なお、本実施形態では、第1端子部41と第2端子部42との間の第1抵抗体における見かけ上の抵抗値、および第3端子部43と第4端子部44との間の第2抵抗体における見かけ上の抵抗値が実効抵抗値に相当する。 The following describes a method for detecting the current flowing through the shunt resistor 10 of the control unit 80 in this embodiment. First, in the current detection device as described above, when a current flows through the shunt resistor 10, the current density changes for each part because the shunt resistor 10 has a recess 11 and a protrusion 12. Specifically, the current density tends to be high on the recess 11 side because the current is concentrated, and the current density tends to be low on the protrusion 12 side because the current flows around the protrusion 12. For this reason, the apparent resistance value of the first resistor between the first terminal 41 and the second terminal 42 is different from the apparent resistance value of the second resistor between the third terminal 43 and the fourth terminal 44, resulting in a relationship as shown in FIG. 11. In this embodiment, the apparent resistance value of the first resistor between the first terminal 41 and the second terminal 42 and the apparent resistance value of the second resistor between the third terminal 43 and the fourth terminal 44 correspond to the effective resistance value.

そして、制御部80は、第1接続部材41cと第2接続部材42cとの間の電圧を第1電圧V1とすると共に、第3接続部材43cと第4接続部材44cとの間の電圧を第2電圧V2とし、上記図13の処理を行ってシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。 Then, the control unit 80 sets the voltage between the first connection member 41c and the second connection member 42c as a first voltage V1, sets the voltage between the third connection member 43c and the fourth connection member 44c as a second voltage V2, and performs the process shown in Figure 13 above to detect the current flowing through the shunt resistor 10.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、第1電圧V1および第2電圧V2を用いてシャント抵抗体10の温度を推定し、推定したシャント抵抗体10の温度を用いてシャント抵抗体10に流れる電流を検出する。このため、本実施形態の電流検出装置は、上記第4実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 estimates the temperature of the shunt resistor 10 using the first voltage V1 and the second voltage V2, and detects the current flowing through the shunt resistor 10 using the estimated temperature of the shunt resistor 10. Therefore, the current detection device of this embodiment can obtain the same effect as the fourth embodiment.

(1)本実施形態では、抵抗体30の形状を変更することにより、第1端子部41と第2端子部42との間隔と、第3端子部43と第4端子部44との間隔を等しくできる。したがって、第1~第4端子部41~44を配置する際に詳細な位置管理が不要となり、製造工程の簡略化を図ることができる。 (1) In this embodiment, by changing the shape of the resistor 30, the distance between the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 and the distance between the third terminal portion 43 and the fourth terminal portion 44 can be made equal. Therefore, detailed position management is not required when arranging the first to fourth terminal portions 41 to 44, and the manufacturing process can be simplified.

(第9実施形態の変形例)
上記第9実施形態の変形例について説明する。上記第9実施形態において、シャント抵抗体10には、凹部11または凸部12の一方のみが形成されるようにしてもよい。また、第3端子部43および第4端子部44は、凸部12ではなく、凸部12側となる部分に配置されていてもよい。つまり、シャント抵抗体10の形状、および第1~第4端子部41~44は、第1端子部41と第2端子部42との間と、第3端子部43と第4端子部44との間を流れる電流の密度が異なるのであれば、適宜変更可能である。
(Modification of the ninth embodiment)
A modified example of the ninth embodiment will be described. In the ninth embodiment, the shunt resistor 10 may be formed with only one of the recess 11 and the protrusion 12. The third terminal 43 and the fourth terminal 44 may be disposed on the protrusion 12 side, not on the protrusion 12. In other words, the shape of the shunt resistor 10 and the first to fourth terminals 41 to 44 can be appropriately changed as long as the density of the current flowing between the first terminal 41 and the second terminal 42 and between the third terminal 43 and the fourth terminal 44 is different.

(第10実施形態)
第10実施形態について説明する。本実施形態は、第5実施形態に対し、シャント抵抗体10に流れる電流の検出方法を変更したものである。その他に関しては、第5実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Tenth embodiment
A tenth embodiment will be described. This embodiment is different from the fifth embodiment in that the method of detecting the current flowing through the shunt resistor 10 is changed. As the rest of the embodiment is the same as the fifth embodiment, the description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図22に示されるように、制御部80とシャント抵抗体10との間に差動増幅部100が配置されている。差動増幅部100は、本実施形態では、上記第1実施形態のような配線基板50に形成されているが、図22中では配線基板50を簡略化して示している。そして、配線基板50は、特に図示しないが、第1~第3端子部41~43が貫通ビア52に挿入されると共に、導電部材60を介して第1~第3端子部41~43と電気的、機械的に接続されている。なお、差動増幅部100は、配線基板50とは別の回路基板等に形成されていてもよい。 As shown in FIG. 22, the current detection device of this embodiment has a differential amplifier 100 disposed between the control unit 80 and the shunt resistor 10. In this embodiment, the differential amplifier 100 is formed on the wiring board 50 as in the first embodiment, but the wiring board 50 is shown in a simplified form in FIG. 22. Although not specifically shown, the first to third terminals 41 to 43 of the wiring board 50 are inserted into the through vias 52, and are electrically and mechanically connected to the first to third terminals 41 to 43 via the conductive member 60. The differential amplifier 100 may be formed on a circuit board or the like separate from the wiring board 50.

差動増幅部100は、第1オペアンプ101と、第1オペアンプ101の出力端子101aと非反転入力端子101bとの間に備えられた第1帰還抵抗体111とを有している。また、差動増幅部100は、第2オペアンプ102と第2オペアンプ102の出力端子102aと非反転入力端子102bとの間に備えられた第2帰還抵抗体112とを有している。さらに、差動増幅部100は、第1オペアンプ101の非反転入力端子101bと接続される第1調整抵抗体121を有している。差動増幅部100は、第2オペアンプ102の非反転入力端子102bと接続される第2調整抵抗体122を有している。 The differential amplifier 100 has a first operational amplifier 101 and a first feedback resistor 111 provided between the output terminal 101a and the non-inverting input terminal 101b of the first operational amplifier 101. The differential amplifier 100 also has a second operational amplifier 102 and a second feedback resistor 112 provided between the output terminal 102a and the non-inverting input terminal 102b of the second operational amplifier 102. Furthermore, the differential amplifier 100 has a first adjustment resistor 121 connected to the non-inverting input terminal 101b of the first operational amplifier 101. The differential amplifier 100 has a second adjustment resistor 122 connected to the non-inverting input terminal 102b of the second operational amplifier 102.

そして、差動増幅部100は、第2端子部42が、第1オペアンプ101の反転入力端子101cと接続されていると共に第2オペアンプ102の反転入力端子102cと接続されている。差動増幅部100は、第1端子部41が第1調整抵抗体121を介して第1オペアンプ101の非反転入力端子101bと接続されている。差動増幅部100は、第3端子部43が第2調整抵抗体122を介して第2オペアンプ102の非反転入力端子102bと接続されている。そして、差動増幅部100は、第1オペアンプ101の出力端子101aおよび第2オペアンプ102の出力端子102aが制御部80に接続されている。 The second terminal 42 of the differential amplifier 100 is connected to the inverting input terminal 101c of the first operational amplifier 101 and to the inverting input terminal 102c of the second operational amplifier 102. The first terminal 41 of the differential amplifier 100 is connected to the non-inverting input terminal 101b of the first operational amplifier 101 via the first adjustment resistor 121. The third terminal 43 of the differential amplifier 100 is connected to the non-inverting input terminal 102b of the second operational amplifier 102 via the second adjustment resistor 122. The output terminal 101a of the first operational amplifier 101 and the output terminal 102a of the second operational amplifier 102 of the differential amplifier 100 are connected to the control unit 80.

なお、本実施形態では、第1オペアンプ101の非反転入力端子101bが第1オペアンプの第1入力端子に相当し、第1オペアンプ101の反転入力端子101cが第1オペアンプの第2入力端子に相当している。同様に、第2オペアンプ102の非反転入力端子102bが第2オペアンプの第1入力端子に相当し、第2オペアンプ102の反転入力端子102cが第2オペアンプの第2入力端子に相当している。 In this embodiment, the non-inverting input terminal 101b of the first operational amplifier 101 corresponds to the first input terminal of the first operational amplifier, and the inverting input terminal 101c of the first operational amplifier 101 corresponds to the second input terminal of the first operational amplifier. Similarly, the non-inverting input terminal 102b of the second operational amplifier 102 corresponds to the first input terminal of the second operational amplifier, and the inverting input terminal 102c of the second operational amplifier 102 corresponds to the second input terminal of the second operational amplifier.

第1オペアンプ101および第2オペアンプ102は、同じ構成のものが用いられることで同じ温度依存性を有する構成とされ、同じ配線基板50に配置されている。第1帰還抵抗体111および第1調整抵抗体121は、抵抗温度係数が同じ極性となるように構成され、同じ配線基板50に配置されている。同様に、第2帰還抵抗体112および第2調整抵抗体122とは、抵抗温度係数が同じ極性とされ、同じ配線基板50に配置されている。例えば、これらの各抵抗体111、112、121、122は、ネットワーク抵抗器によって構成されて配線基板50に配置されている。 The first operational amplifier 101 and the second operational amplifier 102 are configured to have the same temperature dependency by using the same configuration, and are arranged on the same wiring board 50. The first feedback resistor 111 and the first adjustment resistor 121 are configured to have the same polarity of resistance temperature coefficients, and are arranged on the same wiring board 50. Similarly, the second feedback resistor 112 and the second adjustment resistor 122 are configured to have the same polarity of resistance temperature coefficients, and are arranged on the same wiring board 50. For example, each of these resistors 111, 112, 121, and 122 is configured as a network resistor and arranged on the wiring board 50.

ここで、抵抗体30の抵抗値をR0とし、抵抗体30と第2端子部42との間隔をL1とし、抵抗体30と第1端子部41との間隔をL2とし、第3端子部43と第1端子部41との間隔をL3とする。また、第1端子部41と第2端子部42との間の電圧を第1電圧V1とし、第3端子部43と第2端子部42との間の電圧を第2電圧V2とする。この場合、シャント抵抗体10に流れる電流は、シャント抵抗体10に流れる電流をIとすると、下記数式4で示される。 Here, the resistance value of resistor 30 is R0, the distance between resistor 30 and second terminal 42 is L1, the distance between resistor 30 and first terminal 41 is L2, and the distance between third terminal 43 and first terminal 41 is L3. Furthermore, the voltage between first terminal 41 and second terminal 42 is a first voltage V1, and the voltage between third terminal 43 and second terminal 42 is a second voltage V2. In this case, the current flowing through shunt resistor 10 is expressed by the following formula 4, where I is the current flowing through shunt resistor 10.

Figure 0007581819000001
なお、抵抗体30は、上記のように抵抗温度係数の低い材料で構成されており、ここではR0の温度依存性を無視している。
Figure 0007581819000001
As described above, the resistor 30 is made of a material with a low temperature coefficient of resistance, and the temperature dependency of R0 is ignored here.

また、第1オペアンプ101から出力される第1出力電圧Vaは、第1調整抵抗体121の抵抗値をR1a、第1帰還抵抗体111の抵抗値をR2aとすると、Va=(R2a/R1a)×V1となる。同様に、第2オペアンプ102から出力される第2出力電圧Vbは、第2調整抵抗体122の抵抗値をR1b、第2帰還抵抗体112の抵抗値をR2bとすると、Vb=(R2b/R1b)×V2となる。 The first output voltage Va output from the first operational amplifier 101 is Va = (R2a/R1a) x V1, where R1a is the resistance of the first adjustment resistor 121 and R2a is the resistance of the first feedback resistor 111. Similarly, the second output voltage Vb output from the second operational amplifier 102 is Vb = (R2b/R1b) x V2, where R1b is the resistance of the second adjustment resistor 122 and R2b is the resistance of the second feedback resistor 112.

そして、本実施形態では、第1調整抵抗体121の抵抗値R1aおよび第1帰還抵抗体111の抵抗値R2aは、(R2a/R1a)={(L1+L2+L3)/L3}を満たすように形成されている。つまり、第1調整抵抗体121の抵抗値R1aおよび第1帰還抵抗体111の抵抗値R2aは、シャント抵抗体10に流れる電流Iを抵抗体30の抵抗値R0に基づいて示した数式4において、第1電圧V1に乗算される第1係数を満たすように形成されている。なお、ここでの第1係数は、{(L1+L2+L3)/L3}である。 In this embodiment, the resistance value R1a of the first adjustment resistor 121 and the resistance value R2a of the first feedback resistor 111 are formed to satisfy (R2a/R1a) = {(L1+L2+L3)/L3}. In other words, the resistance value R1a of the first adjustment resistor 121 and the resistance value R2a of the first feedback resistor 111 are formed to satisfy the first coefficient by which the first voltage V1 is multiplied in Equation 4, which shows the current I flowing through the shunt resistor 10 based on the resistance value R0 of the resistor 30. The first coefficient here is {(L1+L2+L3)/L3}.

同様に、第2調整抵抗体122の抵抗値R1bおよび第2帰還抵抗体112の抵抗値R2bは、(R2b/R1b)={(L1+L2)/L3}を満たすように形成されている。つまり、第2調整抵抗体122の抵抗値R1bおよび第2帰還抵抗体112の抵抗値R2bは、シャント抵抗体10に流れる電流Iを抵抗体30の抵抗値R0に基づいて示した数式4において、第2電圧V2に乗算される第2係数を満たすように形成されている。なお、ここでの第2係数は、{(L1+L2)/L3}である。 Similarly, the resistance value R1b of the second adjustment resistor 122 and the resistance value R2b of the second feedback resistor 112 are formed to satisfy (R2b/R1b) = {(L1+L2)/L3}. In other words, the resistance value R1b of the second adjustment resistor 122 and the resistance value R2b of the second feedback resistor 112 are formed to satisfy the second coefficient by which the second voltage V2 is multiplied in Equation 4, which shows the current I flowing through the shunt resistor 10 based on the resistance value R0 of the resistor 30. The second coefficient here is {(L1+L2)/L3}.

そして、第1出力電圧Vaと第2出力電圧Vbとの差分は、下記数式5で示される。 The difference between the first output voltage Va and the second output voltage Vb is expressed by the following formula 5.

Figure 0007581819000002
したがって、制御部80は、第1オペアンプ101から出力される第1出力電圧Vaと第2オペアンプ102から出力される第2出力電圧Vbとを用い、下記数式6を算出することにより、シャント抵抗体10に流れる電流Iを検出できる。
Figure 0007581819000002
Therefore, the control unit 80 can detect the current I flowing through the shunt resistor 10 by using the first output voltage Va output from the first operational amplifier 101 and the second output voltage Vb output from the second operational amplifier 102 and calculating the following equation 6.

(数6)I=(1/R0)×(Va-Vb)
この際、抵抗体30の抵抗値であるR0の温度依存性を無視でき、第1電圧V1および第2電圧V2がシャント抵抗体10の温度に応じた値となるため、数式6より、シャント抵抗体10の温度に応じた電流を検出できる。なお、本実施形態では、抵抗体30を温度依存性の低い材料で構成しているが、上記第1~9実施形態のようにシャント抵抗体10の温度を推定して抵抗体30の抵抗値R0を補正することにより、さらに検出精度の向上を図ることができる。
(Equation 6) I=(1/R0)×(Va−Vb)
In this case, the temperature dependency of the resistance value R0 of the resistor 30 can be ignored, and the first voltage V1 and the second voltage V2 have values according to the temperature of the shunt resistor 10, so that a current according to the temperature of the shunt resistor 10 can be detected from Equation 6. Note that in this embodiment, the resistor 30 is made of a material with low temperature dependency, but by estimating the temperature of the shunt resistor 10 and correcting the resistance value R0 of the resistor 30 as in the first to ninth embodiments, the detection accuracy can be further improved.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、上記数式6を算出することでシャント抵抗体10に流れる電流を検出している。したがって、シャント抵抗体10の温度に応じた電流を検出でき、電流の検出精度を向上できる。また、本実施形態では、第1出力電圧Vaと第2出力電圧Vbとの差を演算することにより、シャント抵抗体10の温度に応じた電流を算出している。したがって、本実施形態の構成によれば、サーミスタ等の温度検出部を備える必要がなく、構成の簡略化を図ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 detects the current flowing through the shunt resistor 10 by calculating the above formula 6. Therefore, the current corresponding to the temperature of the shunt resistor 10 can be detected, and the current detection accuracy can be improved. Furthermore, in this embodiment, the current corresponding to the temperature of the shunt resistor 10 is calculated by calculating the difference between the first output voltage Va and the second output voltage Vb. Therefore, according to the configuration of this embodiment, there is no need to provide a temperature detection unit such as a thermistor, and the configuration can be simplified.

(1)本実施形態では、第1オペアンプ101と第2オペアンプ102とは、同じ温度特性を有しており、同じ配線基板50に配置されている。このため、上記数式6のように、第1出力電圧Vaと第2出力電圧Vbとの差を算出することにより、第1オペアンプ101および第2オペアンプ102の温度に関する影響を低減できる。 (1) In this embodiment, the first operational amplifier 101 and the second operational amplifier 102 have the same temperature characteristics and are arranged on the same wiring board 50. Therefore, by calculating the difference between the first output voltage Va and the second output voltage Vb as in Equation 6 above, the effects of temperature on the first operational amplifier 101 and the second operational amplifier 102 can be reduced.

(2)本実施形態では、第1帰還抵抗体111および第1調整抵抗体121は、抵抗温度係数が同じ極性となるように構成され、同じ配線基板50に配置されている。同様に、第2帰還抵抗体112および第2調整抵抗体122とは、抵抗温度係数が同じ極性とされ、同じ配線基板50に配置されている。このため、各抵抗体111、112、121、122が適宜除算されることにより、温度に関する影響を低減できる。 (2) In this embodiment, the first feedback resistor 111 and the first adjustment resistor 121 are configured to have the same polarity of resistance temperature coefficients and are arranged on the same wiring board 50. Similarly, the second feedback resistor 112 and the second adjustment resistor 122 are configured to have the same polarity of resistance temperature coefficients and are arranged on the same wiring board 50. Therefore, by appropriately dividing each resistor 111, 112, 121, 122, the effects of temperature can be reduced.

(第10実施形態の変形例)
上記第10実施形態の変形例について説明する。上記第10実施形態において、第2部材202のうちの第2端子部42を挟んで抵抗体30側と反対側に第4端子部44を備え、第3端子部43と第4端子部44の間の電圧を第2電圧V2とするようにしてもよい。なお、このような構成とした場合、第1係数および第2係数が変化するため、各抵抗体111、112、121、122の抵抗値R1a、R2a、R1b、R2bは、第1係数または第2係数に応じて適宜変更される。
(Modification of the tenth embodiment)
A modified example of the tenth embodiment will be described. In the tenth embodiment, the second member 202 may be provided with a fourth terminal 44 on the opposite side to the resistor 30 side across the second terminal 42, and the voltage between the third terminal 43 and the fourth terminal 44 may be set as the second voltage V2. In this configuration, the first and second coefficients change, and therefore the resistance values R1a, R2a, R1b, and R2b of the resistors 111, 112, 121, and 122 are appropriately changed according to the first or second coefficient.

(第11実施形態)
第11実施形態について説明する。本実施形態は、上記第10実施形態に対し、配線基板50とシャント抵抗体10との間に保護部材を配置したものである。その他に関しては、第10実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Eleventh Embodiment
An eleventh embodiment will be described. In this embodiment, a protective member is disposed between the wiring substrate 50 and the shunt resistor 10 in comparison with the tenth embodiment. As the rest is the same as the tenth embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態では、図23に示されるように、配線基板50とシャント抵抗体10との間に保護部材130が配置されている。保護部材130は、絶縁材料で構成され、絶縁性接着剤、絶縁ワッシャー、ゴムシート等で構成される。なお、図23は、第1端子部41および第3端子部43の近傍の断面図である。 In this embodiment, as shown in FIG. 23, a protective member 130 is disposed between the wiring board 50 and the shunt resistor 10. The protective member 130 is made of an insulating material, and is made of an insulating adhesive, an insulating washer, a rubber sheet, etc. FIG. 23 is a cross-sectional view of the vicinity of the first terminal portion 41 and the third terminal portion 43.

以上説明した本実施形態によれば、制御部80は、上記数式6を算出することでシャント抵抗体10に流れる電流を検出しているため、検出精度の向上を図ることができる。 According to the present embodiment described above, the control unit 80 detects the current flowing through the shunt resistor 10 by calculating the above formula 6, thereby improving the detection accuracy.

(1)本実施形態では、配線基板50とシャント抵抗体10との間に保護部材130が配置されている。このため、第1~第3端子部41~43と配線基板50とを接続する導電部材60がシャント抵抗体10に垂れて付着することを抑制できる。すなわち、上記第10実施形態のような電流検出装置では、間隔L1~L3に基づいてシャント抵抗体10に流れる電流を算出するため、導電部材60がシャント抵抗体10に付着すると、間隔L1~L3にずれが発生し、検出精度が低下する。このため、本実施形態のように保護部材130を配置することにより、導電部材60がシャント抵抗体10に付着することを抑制でき、検出精度が低下することを抑制できる。 (1) In this embodiment, the protective member 130 is disposed between the wiring board 50 and the shunt resistor 10. This prevents the conductive member 60 connecting the first to third terminals 41 to 43 and the wiring board 50 from dripping onto the shunt resistor 10. That is, in a current detection device such as the tenth embodiment, the current flowing through the shunt resistor 10 is calculated based on the intervals L1 to L3. If the conductive member 60 adheres to the shunt resistor 10, the intervals L1 to L3 are shifted, and the detection accuracy decreases. Therefore, by disposing the protective member 130 as in this embodiment, the conductive member 60 can be prevented from adhering to the shunt resistor 10, and the detection accuracy can be prevented from decreasing.

(第12実施形態)
第12実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、第1端子部41および第2端子部42を配置する場所を変更したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Twelfth Embodiment
A twelfth embodiment will be described. This embodiment is different from the first embodiment in that the locations of the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are changed. As the rest of the configuration is the same as the first embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図24に示されるように、第1端子部41および第2端子部42が抵抗体30に配置されている。この場合、抵抗体30が温度抵抗係数の低い材料で構成されているため、第1端子部41と第2端子部42との間に構成される抵抗体の温度依存性を低い状態とできる。したがって、本実施形態の制御部80は、第1端子部41と第2端子部42との間の電圧に基づき、そのままシャント抵抗体10に流れる電流を検出できる。 As shown in FIG. 24, in the current detection device of this embodiment, the first terminal 41 and the second terminal 42 are arranged on the resistor 30. In this case, since the resistor 30 is made of a material with a low temperature coefficient of resistance, the temperature dependency of the resistor formed between the first terminal 41 and the second terminal 42 can be made low. Therefore, the control unit 80 of this embodiment can directly detect the current flowing through the shunt resistor 10 based on the voltage between the first terminal 41 and the second terminal 42.

また、第1端子部41および第2端子部42は、第1部材201、抵抗体30、第2部材202の配列方向と交差する方向であって、抵抗体30の面方向と平行な交差方向(以下では、単に交差方向ともいう)において、オフセットされて配置されている。なお、第1部材201、抵抗体30、第2部材202の配列方向とは、電流の流れ方向ということもできる。また、図24中では、配列方向が図24中の紙面左右方向となり、交差方向が図24中の紙面上下方向となる。 The first terminal 41 and the second terminal 42 are offset in a direction that intersects with the arrangement direction of the first member 201, the resistor 30, and the second member 202 and is parallel to the surface direction of the resistor 30 (hereinafter, simply referred to as the intersecting direction). The arrangement direction of the first member 201, the resistor 30, and the second member 202 can also be referred to as the direction of current flow. In FIG. 24, the arrangement direction is the left-right direction on the paper in FIG. 24, and the intersecting direction is the up-down direction on the paper in FIG. 24.

以上説明した本実施形態によれば、第1端子部41と第2端子部42とが抵抗体30に配置されており、抵抗体30は抵抗温度係数の低い材料で構成されている。このため、第1端子部41と第2端子部42との間に構成される抵抗体の温度依存性が低くなっている。したがって、第1端子部41と第2端子部42との電圧に基づき、シャント抵抗体10に流れる電流をそのまま検出できる。 According to the present embodiment described above, the first terminal 41 and the second terminal 42 are disposed on the resistor 30, and the resistor 30 is made of a material with a low temperature coefficient of resistance. Therefore, the temperature dependency of the resistor formed between the first terminal 41 and the second terminal 42 is low. Therefore, the current flowing through the shunt resistor 10 can be detected directly based on the voltage between the first terminal 41 and the second terminal 42.

(1)本実施形態によれば、第1端子部41および第2端子部42が交差方向にオフセットされて配置されている。このため、第1端子部41および第2端子部42が交差方向において同じ場所に配置されている場合と比較して、第1端子部41および第2端子部42の周囲に空間を確保し易くなり、製造を容易にできる。 (1) According to this embodiment, the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are arranged offset in the intersecting direction. Therefore, compared to a case where the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are arranged in the same place in the intersecting direction, it is easier to ensure space around the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42, making manufacturing easier.

(第12実施形態の変形例)
上記第12実施形態の変形例について説明する。上記第12実施形態において、電流検出装置は、図25に示されるように、上記第1実施形態のような配線基板50を備えていてもよい。
(Modification of the twelfth embodiment)
A modification of the twelfth embodiment will now be described. In the twelfth embodiment, the current detection device may include a wiring board 50 as in the first embodiment, as shown in FIG.

(第13実施形態)
第13実施形態について説明する。本実施形態は、第12実施形態に対し、第1端子部41としての第1ボンディングワイヤおよび第2端子部42としての第2ボンディングワイヤを備えたものである。その他に関しては、第12実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Thirteenth Embodiment
A thirteenth embodiment will be described. This embodiment is different from the twelfth embodiment in that it includes a first bonding wire as a first terminal portion 41 and a second bonding wire as a second terminal portion 42. As the rest is similar to the twelfth embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図26に示されるように、シャント抵抗体10上に配線基板50が備えられている。なお、シャント抵抗体10と配線基板50とは、図示しない接着剤等を介して接合されている。 As shown in FIG. 26, the current detection device of this embodiment includes a wiring board 50 on a shunt resistor 10. The shunt resistor 10 and the wiring board 50 are joined together via an adhesive or the like (not shown).

配線基板50は、抵抗体30と対向する部分を含む部分に貫通孔53が形成されている。そして、配線基板50は、第1端子部41としての第1ボンディングワイヤ41bを介して抵抗体30と接続され、第2端子部42としての第2ボンディングワイヤ42bを介して抵抗体30と接続されている。なお、第1ボンディングワイヤ41bおよび第2ボンディングワイヤ42bのうちの抵抗体30と接続される部分は、交差方向においてオフセットされて配置されている。 The wiring board 50 has a through hole 53 formed in a portion including a portion facing the resistor 30. The wiring board 50 is connected to the resistor 30 via a first bonding wire 41b as a first terminal portion 41, and is connected to the resistor 30 via a second bonding wire 42b as a second terminal portion 42. The portions of the first bonding wire 41b and the second bonding wire 42b that are connected to the resistor 30 are offset in the cross direction.

以上説明した本実施形態によれば、第1端子部41と第2端子部42とが抵抗体30に配置されているため、上記第12実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are disposed on the resistor 30, so that the same effect as in the twelfth embodiment can be obtained.

(第14実施形態)
第14実施形態について説明する。本実施形態は、第12実施形態に対し、第1端子部41および第2端子部42の構成を変更したものである。その他に関しては、第12実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Fourteenth Embodiment
A fourteenth embodiment will be described. In this embodiment, the configurations of the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are changed from those in the twelfth embodiment. As the rest of the fourteenth embodiment is the same as the twelfth embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図27および図28に示されるように、第1端子部41および第2端子部42の構成が変更されている。具体的には、本実施形態では、抵抗体30、第1部材201、および第2部材202は、それぞれの一面201a、30a、202aが同一面上に位置するように一体化されている。 As shown in Figures 27 and 28, the current detection device of this embodiment has a modified configuration of the first terminal 41 and the second terminal 42. Specifically, in this embodiment, the resistor 30, the first member 201, and the second member 202 are integrated so that their respective surfaces 201a, 30a, and 202a are located on the same plane.

そして、第1部材201から抵抗体30のうちの第1部材201側の部分に渡って第1絶縁膜141が配置されている。第1絶縁膜141上には、抵抗体30と接続されるように第1端子部41としての第1導電膜41dが配置されている。同様に、第2部材202から抵抗体30のうちの第2部材202側の部分に渡って第2絶縁膜142が配置されている。第2絶縁膜142上には、抵抗体30と接続されるように第2端子部42としての第2導電膜42dが配置されている。 A first insulating film 141 is disposed from the first member 201 to the portion of the resistor 30 on the first member 201 side. A first conductive film 41d is disposed on the first insulating film 141 as the first terminal portion 41 so as to be connected to the resistor 30. Similarly, a second insulating film 142 is disposed from the second member 202 to the portion of the resistor 30 on the second member 202 side. A second conductive film 42d is disposed on the second insulating film 142 as the second terminal portion 42 so as to be connected to the resistor 30.

なお、第1導電膜41dと第2導電膜42dとは、交差方向にオフセットされて配置されている。また、上記の第1絶縁膜141、第2絶縁膜142、第1導電膜41d、および第2導電膜42dは、例えば、それぞれCVD(chemical vapor depositionの略)法等で形成された後、図示しないマスクを用いてパターニングされることにより、上記形状とされる。 The first conductive film 41d and the second conductive film 42d are offset in the intersecting direction. The first insulating film 141, the second insulating film 142, the first conductive film 41d, and the second conductive film 42d are each formed by, for example, a CVD (short for chemical vapor deposition) method, and then patterned using a mask (not shown) to form the above shape.

以上説明した本実施形態によれば、第1端子部41と第2端子部42とが抵抗体30に配置されているため、上記第11実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are disposed on the resistor 30, so that the same effect as in the eleventh embodiment can be obtained.

(1)本実施形態では、第1絶縁膜141、第2絶縁膜142、第1導電膜41d、および第2導電膜42dは、パターニングされることで構成される。このため、微細加工が行い易く、製造工程の簡略化を図ることができる。 (1) In this embodiment, the first insulating film 141, the second insulating film 142, the first conductive film 41d, and the second conductive film 42d are configured by patterning. This makes it easy to perform microfabrication, and simplifies the manufacturing process.

(第15実施形態)
第15実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、第1端子部41および第2端子部42を配置する場所を変更したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
Fifteenth embodiment
A fifteenth embodiment will be described. This embodiment is different from the first embodiment in that the locations of the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are changed. As the rest of the configuration is the same as the first embodiment, a description thereof will be omitted here.

本実施形態の電流検出装置は、図29および図30に示されるように、抵抗体30、第1部材201、および第2部材202は、それぞれの一面201a、30a、202aが同一面上に位置するように一体化されている。そして、抵抗体30と第1部材201との間に第1溶接部211が構成され、抵抗体30と第2部材202との間に第2溶接部212が構成されている。 As shown in Figures 29 and 30, in the current detection device of this embodiment, the resistor 30, the first member 201, and the second member 202 are integrated so that their respective surfaces 201a, 30a, and 202a are located on the same plane. A first welded portion 211 is formed between the resistor 30 and the first member 201, and a second welded portion 212 is formed between the resistor 30 and the second member 202.

第1端子部41は、第1溶接部211の少なくとも一部と接続されるように配置され、第2端子部42は、第2溶接部212の少なくとも一部と接続されるように配置されている。本実施形態では、第1端子部41の全体が第1溶接部211と接続されるように配置され、第2端子部42の全体が第2溶接部212と接続されるように配置されている。 The first terminal portion 41 is arranged so as to be connected to at least a portion of the first welded portion 211, and the second terminal portion 42 is arranged so as to be connected to at least a portion of the second welded portion 212. In this embodiment, the first terminal portion 41 is arranged so as to be connected entirely to the first welded portion 211, and the second terminal portion 42 is arranged so as to be connected entirely to the second welded portion 212.

以上説明した本実施形態によれば、第1端子部41が第1溶接部211に配置されていると共に、第2端子部42が第2溶接部212に配置されている。このため、上記第12実施形態と同様に、第1端子部41と第2端子部42との間に構成される抵抗体の温度依存性を低くでき、第1端子部41と第2端子部42との電圧に基づいてシャント抵抗体10に流れる電流をそのまま検出できる。 According to the present embodiment described above, the first terminal 41 is disposed at the first welded portion 211, and the second terminal 42 is disposed at the second welded portion 212. Therefore, similar to the twelfth embodiment, the temperature dependency of the resistor formed between the first terminal 41 and the second terminal 42 can be reduced, and the current flowing through the shunt resistor 10 can be detected directly based on the voltage between the first terminal 41 and the second terminal 42.

(1)本実施形態では、第1端子部41が第1溶接部211に配置されていると共に、第2端子部42が第2溶接部212に配置されている。このため、第1端子部41および第2端子部42を抵抗体30に配置する場合と比較して、第1端子部41と第2端子部42との間隔を広くし易くなる。したがって、第1端子部41と第2端子部42とを交差方向にオフセットしなくても、第1端子部41と第2端子部42との配置をし易くできる。さらに、第1端子部41および第2端子部42を抵抗体30に配置する場合と比較して、配置する際の機械的な応力等によって抵抗体30の抵抗値が変動することを抑制でき、検出精度が低下することを抑制できる。 (1) In this embodiment, the first terminal portion 41 is disposed at the first welded portion 211, and the second terminal portion 42 is disposed at the second welded portion 212. Therefore, compared to the case where the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are disposed at the resistor 30, it is easier to widen the interval between the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42. Therefore, it is easier to arrange the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 without offsetting them in the cross direction. Furthermore, compared to the case where the first terminal portion 41 and the second terminal portion 42 are disposed at the resistor 30, it is possible to suppress fluctuations in the resistance value of the resistor 30 due to mechanical stress during arrangement, etc., and suppress deterioration of detection accuracy.

(他の実施形態)
本開示は、実施形態に準拠して記述されたが、本開示は当該実施形態や構造に限定されるものではないと理解される。本開示は、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態、さらには、それらに一要素のみ、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範疇や思想範囲に入るものである。
Other Embodiments
Although the present disclosure has been described based on the embodiment, it is understood that the present disclosure is not limited to the embodiment or structure. The present disclosure also encompasses various modifications and modifications within the equivalent range. In addition, various combinations and forms, as well as other combinations and forms including only one element, more than one element, or less than one element, are also within the scope and concept of the present disclosure.

例えば、上記各実施形態において、抵抗体30は、第1部材201および第2部材202と同じ厚さとされていてもよい。また、上記第1~第12実施形態において、抵抗体30、第1部材201、および第2部材202は、それぞれの一面201a、30a、202aが同一面上に位置するように一体化されていてもよい。 For example, in each of the above embodiments, the resistor 30 may be of the same thickness as the first member 201 and the second member 202. Also, in the first to twelfth embodiments, the resistor 30, the first member 201, and the second member 202 may be integrated such that their respective surfaces 201a, 30a, and 202a are located on the same plane.

さらに、上記各実施形態において、配線基板50を備える場合には、制御部80が適宜配線基板50に備えられていてもよい。 Furthermore, in each of the above embodiments, when a wiring board 50 is provided, the control unit 80 may be provided on the wiring board 50 as appropriate.

そして、上記各実施形態を適宜組み合わせるようにしてもよい。例えば、上記第1~第3実施形態を各実施形態に適宜組み合わせ、第1サーミスタ71の第1温度T1および第2サーミスタ72の第2温度T2に基づいてシャント抵抗体10に流れる電流を検出するようにしてもよい。第4~第9実施形態を各実施形態に組み合わせ、第1電圧V1と第2電圧V2とに基づいてシャント抵抗体10に流れる電流を検出するようにしてもよい。上記第10、第11実施形態を各実施形態に組み合わせ、第1出力電圧Vaと第2出力電圧Vbとの差に基づいてシャント抵抗体10に流れる電流を検出するようにしてもよい。 The above embodiments may be combined as appropriate. For example, the first to third embodiments may be combined as appropriate with each embodiment to detect the current flowing through the shunt resistor 10 based on the first temperature T1 of the first thermistor 71 and the second temperature T2 of the second thermistor 72. The fourth to ninth embodiments may be combined with each embodiment to detect the current flowing through the shunt resistor 10 based on the first voltage V1 and the second voltage V2. The tenth and eleventh embodiments may be combined with each embodiment to detect the current flowing through the shunt resistor 10 based on the difference between the first output voltage Va and the second output voltage Vb.

本開示に記載の制御部及びその手法は、コンピュータプログラムにより具体化された一つ乃至は複数の機能を実行するようにプログラムされたプロセッサ及びメモリーを構成することによって提供された専用コンピュータにより、実現されてもよい。あるいは、本開示に記載の制御部及びその手法は、一つ以上の専用ハードウエア論理回路によってプロセッサを構成することによって提供された専用コンピュータにより、実現されてもよい。もしくは、本開示に記載の制御部及びその手法は、一つ乃至は複数の機能を実行するようにプログラムされたプロセッサ及びメモリーと一つ以上のハードウエア論理回路によって構成されたプロセッサとの組み合わせにより構成された一つ以上の専用コンピュータにより、実現されてもよい。また、コンピュータプログラムは、コンピュータにより実行されるインストラクションとして、コンピュータ読み取り可能な非遷移有形記録媒体に記憶されていてもよい。 The control unit and the method described in the present disclosure may be realized by a dedicated computer provided by configuring a processor and a memory programmed to execute one or more functions embodied in a computer program. Alternatively, the control unit and the method described in the present disclosure may be realized by a dedicated computer provided by configuring a processor with one or more dedicated hardware logic circuits. Alternatively, the control unit and the method described in the present disclosure may be realized by one or more dedicated computers configured by combining a processor and a memory programmed to execute one or more functions with a processor configured with one or more hardware logic circuits. In addition, the computer program may be stored in a computer-readable non-transient tangible recording medium as instructions executed by the computer.

10 シャント抵抗体
20 バスバー
30 抵抗体
30a 一面
50 配線基板
71 第1温度検出部
72 第2温度検出部
80 制御部
201 第1部材
201a 一面
202 第2部材
202a 一面
T1 第1温度
T2 第2温度
REFERENCE SIGNS LIST 10 Shunt resistor 20 Bus bar 30 Resistor 30a One surface 50 Wiring board 71 First temperature detector 72 Second temperature detector 80 Control unit 201 First member 201a One surface 202 Second member 202a One surface T1 First temperature T2 Second temperature

Claims (6)

バスバー(20)に抵抗体(30)が配置されたシャント抵抗体(10)を備える電流検出装置であって、
一面(201a、202a)を有する平板状とされた第1部材(201)および第2部材(202)を有する前記バスバーと、一面(30a)を有する平板状とされ、前記バスバーよりも抵抗温度係数が小さい材料で構成された前記抵抗体と、を有し、電流の流れ方向が前記第1部材、前記第2部材、および前記抵抗体の一面に沿った方向となるように、前記抵抗体が前記第1部材と前記第2部材との間に配置された前記シャント抵抗体と、
前記第1部材の一面に配置された第1端子部(41)、および前記第2部材の一面に配置された第2端子部(42)と、
前記シャント抵抗体上に配置され、第1温度検出部(71)および第2温度検出部(72)が配置された配線基板(50)と、
所定の処理を行う制御部(80)と、を備え、
前記第1温度検出部および前記第2温度検出部は、前記配線基板のうちの温度差が発生する部分にそれぞれ配置され、
前記制御部は、前記第1温度検出部で測定された第1温度(T1)と前記第2温度検出部で測定された第2温度(T2)との差に基づいて前記シャント抵抗体の温度(Ts)を推定し、推定した前記シャント抵抗体の温度を用いて前記シャント抵抗体に流れる電流を検出し、
前記第1温度検出部は、前記配線基板のうちの前記第2温度検出部が配置される部分より高温となる部分に配置され、
前記制御部は、前記第1温度に対し、前記第1温度と前記第2温度との差に所定の補正係数を乗算した値を加算して前記シャント抵抗体の温度を推定し、
前記配線基板は、前記シャント抵抗体の熱を伝える伝熱部(51)が形成され、
前記第1温度検出部は、前記シャント抵抗体と前記配線基板との積層方向において、前記伝熱部と重なる状態で配置され、
前記第2温度検出部は、前記積層方向において、前記伝熱部と離れた部分に配置されている電流検出装置。
A current detection device including a shunt resistor (10) having a resistor (30) disposed on a bus bar (20),
the busbar having a first member (201) and a second member (202) each having a flat plate shape with one surface (201a, 202a); and the resistor having a flat plate shape with one surface (30a) and made of a material having a smaller temperature coefficient of resistance than the busbar, the shunt resistor being disposed between the first member and the second member such that a current flow direction is along the first member, the second member, and one surface of the resistor;
A first terminal portion (41) arranged on one surface of the first member, and a second terminal portion (42) arranged on one surface of the second member;
a wiring board (50) arranged on the shunt resistor and having a first temperature detection unit (71) and a second temperature detection unit (72) arranged thereon;
A control unit (80) that performs a predetermined process,
the first temperature detection unit and the second temperature detection unit are disposed in a portion of the wiring board where a temperature difference occurs,
the control unit estimates a temperature (Ts) of the shunt resistor based on a difference between a first temperature (T1) measured by the first temperature detection unit and a second temperature (T2) measured by the second temperature detection unit, and detects a current flowing through the shunt resistor using the estimated temperature of the shunt resistor ;
the first temperature detection unit is disposed in a portion of the wiring board that is hotter than a portion of the wiring board in which the second temperature detection unit is disposed;
the control unit estimates the temperature of the shunt resistor by adding, to the first temperature, a value obtained by multiplying a difference between the first temperature and the second temperature by a predetermined correction coefficient;
The wiring board is formed with a heat transfer section (51) for transferring heat from the shunt resistor,
the first temperature detection unit is disposed so as to overlap the heat transfer unit in a stacking direction of the shunt resistor and the wiring board,
The second temperature detection portion is disposed in a portion away from the heat transfer portion in the stacking direction .
前記第2温度検出部は、前記積層方向において、前記抵抗体と重なる状態で配置されている請求項1に記載の電流検出装置。The current detection device according to claim 1 , wherein the second temperature detection portion is disposed so as to overlap the resistor in the stacking direction. 前記第1温度検出部は、前記配線基板のうちの前記シャント抵抗体と対向する部分に配置され、
前記第2温度検出部は、前記配線基板のうちの前記シャント抵抗体と対向する部分と異なる部分に配置されている請求項1に記載の電流検出装置。
the first temperature detection unit is disposed in a portion of the wiring board facing the shunt resistor,
The current detection device according to claim 1 , wherein the second temperature detection portion is disposed in a portion of the wiring board different from a portion facing the shunt resistor.
バスバー(20)に抵抗体(30)が配置されたシャント抵抗体(10)を備える電流検出装置であって、
一面(201a、202a)を有する平板状とされた第1部材(201)および第2部材(202)を有する前記バスバーと、一面(30a)を有する平板状とされ、前記バスバーよりも抵抗温度係数が小さい材料で構成された前記抵抗体と、を有し、電流の流れ方向が前記第1部材、前記第2部材、および前記抵抗体の一面に沿った方向となるように、前記抵抗体が前記第1部材と前記第2部材との間に配置された前記シャント抵抗体と、
前記第1部材の一面に配置された第1端子部(41)、および前記第2部材の一面に配置された第2端子部(42)と、
前記シャント抵抗体上に配置され、第1温度検出部(71)および第2温度検出部(72)が配置された配線基板(50)と、
所定の処理を行う制御部(80)と、を備え、
前記第1温度検出部および前記第2温度検出部は、前記配線基板のうちの温度差が発生する部分にそれぞれ配置され、
前記制御部は、前記第1温度検出部で測定された第1温度(T1)と前記第2温度検出部で測定された第2温度(T2)との差に基づいて前記シャント抵抗体の温度(Ts)を推定し、推定した前記シャント抵抗体の温度を用いて前記シャント抵抗体に流れる電流を検出し、
前記第1温度検出部は、前記配線基板のうちの前記第2温度検出部が配置される部分より高温となる部分に配置され、
前記制御部は、前記第1温度に対し、前記第1温度と前記第2温度との差に所定の補正係数を乗算した値を加算して前記シャント抵抗体の温度を推定し、
前記第1温度検出部は、前記配線基板のうちの前記シャント抵抗体と対向する部分に配置され、
前記第2温度検出部は、前記配線基板のうちの前記シャント抵抗体と対向する部分と異なる部分に配置されている電流検出装置。
A current detection device including a shunt resistor (10) having a resistor (30) disposed on a bus bar (20),
the busbar having a first member (201) and a second member (202) each having a flat plate shape with one surface (201a, 202a); and the resistor having a flat plate shape with one surface (30a) and made of a material having a smaller temperature coefficient of resistance than the busbar, the shunt resistor being disposed between the first member and the second member such that a current flow direction is along the first member, the second member, and one surface of the resistor;
A first terminal portion (41) arranged on one surface of the first member, and a second terminal portion (42) arranged on one surface of the second member;
a wiring board (50) arranged on the shunt resistor and having a first temperature detection unit (71) and a second temperature detection unit (72) arranged thereon;
A control unit (80) that performs a predetermined process,
the first temperature detection unit and the second temperature detection unit are disposed in a portion of the wiring board where a temperature difference occurs,
the control unit estimates a temperature (Ts) of the shunt resistor based on a difference between a first temperature (T1) measured by the first temperature detection unit and a second temperature (T2) measured by the second temperature detection unit, and detects a current flowing through the shunt resistor using the estimated temperature of the shunt resistor ;
the first temperature detection unit is disposed in a portion of the wiring board that is hotter than a portion of the wiring board in which the second temperature detection unit is disposed;
the control unit estimates the temperature of the shunt resistor by adding, to the first temperature, a value obtained by multiplying a difference between the first temperature and the second temperature by a predetermined correction coefficient;
the first temperature detection unit is disposed in a portion of the wiring board facing the shunt resistor,
The current detection device, wherein the second temperature detection unit is disposed in a portion of the wiring board different from a portion facing the shunt resistor .
前記第1温度検出部および前記第2温度検出部は、前記シャント抵抗体に電流が流れた際、前記シャント抵抗体の温度と前記第1温度との差が、前記第1温度と前記第2温度との差より小さくなる状態で配置されている請求項ないしのいずれか1つに記載の電流検出装置。 A current detection device as described in any one of claims 1 to 4, wherein the first temperature detection unit and the second temperature detection unit are arranged in a state in which, when a current flows through the shunt resistor, the difference between the temperature of the shunt resistor and the first temperature is smaller than the difference between the first temperature and the second temperature. バスバー(20)に抵抗体(30)が配置されたシャント抵抗体(10)を備える電流検出装置であって、
一面(201a、202a)を有する平板状とされた第1部材(201)および第2部材(202)を有する前記バスバーと、一面(30a)を有する平板状とされ、前記バスバーよりも抵抗温度係数が小さい材料で構成された前記抵抗体と、を有し、電流の流れ方向が前記第1部材、前記第2部材、および前記抵抗体の一面に沿った方向となるように、前記抵抗体が前記第1部材と前記第2部材との間に配置された前記シャント抵抗体と、
前記第1部材の一面に配置された第1端子部(41)、および前記第2部材の一面に配置された第2端子部(42)と、
前記シャント抵抗体上に配置され、第1温度検出部(71)および第2温度検出部(72)が配置された配線基板(50)と、
所定の処理を行う制御部(80)と、を備え、
前記第1温度検出部および前記第2温度検出部は、前記配線基板のうちの温度差が発生する部分にそれぞれ配置され、
前記制御部は、前記第1温度検出部で測定された第1温度(T1)と前記第2温度検出部で測定された第2温度(T2)との差に基づいて前記シャント抵抗体の温度(Ts)を推定し、推定した前記シャント抵抗体の温度を用いて前記シャント抵抗体に流れる電流を検出し、
前記第1温度検出部は、前記配線基板のうちの前記第2温度検出部が配置される部分より高温となる部分に配置され、
前記制御部は、前記第1温度に対し、前記第1温度と前記第2温度との差に所定の補正係数を乗算した値を加算して前記シャント抵抗体の温度を推定し、
前記第1温度検出部および前記第2温度検出部は、前記シャント抵抗体に電流が流れた際、前記シャント抵抗体の温度と前記第1温度との差が、前記第1温度と前記第2温度との差より小さくなる状態で配置されている電流検出装置。
A current detection device including a shunt resistor (10) having a resistor (30) disposed on a bus bar (20),
the busbar having a first member (201) and a second member (202) each having a flat plate shape with one surface (201a, 202a); and the resistor having a flat plate shape with one surface (30a) and made of a material having a smaller temperature coefficient of resistance than the busbar, the shunt resistor being disposed between the first member and the second member such that a current flow direction is along the first member, the second member, and one surface of the resistor;
A first terminal portion (41) arranged on one surface of the first member, and a second terminal portion (42) arranged on one surface of the second member;
a wiring board (50) arranged on the shunt resistor and having a first temperature detection unit (71) and a second temperature detection unit (72) arranged thereon;
A control unit (80) that performs a predetermined process,
the first temperature detection unit and the second temperature detection unit are disposed in a portion of the wiring board where a temperature difference occurs,
the control unit estimates a temperature (Ts) of the shunt resistor based on a difference between a first temperature (T1) measured by the first temperature detection unit and a second temperature (T2) measured by the second temperature detection unit, and detects a current flowing through the shunt resistor using the estimated temperature of the shunt resistor ;
the first temperature detection unit is disposed in a portion of the wiring board that is hotter than a portion of the wiring board in which the second temperature detection unit is disposed;
the control unit estimates the temperature of the shunt resistor by adding, to the first temperature, a value obtained by multiplying a difference between the first temperature and the second temperature by a predetermined correction coefficient;
A current detection device in which the first temperature detection unit and the second temperature detection unit are arranged in a state in which, when a current flows through the shunt resistor, the difference between the temperature of the shunt resistor and the first temperature is smaller than the difference between the first temperature and the second temperature .
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