[go: up one dir, main page]

JP5849970B2 - 低反射膜を有する物品 - Google Patents

低反射膜を有する物品 Download PDF

Info

Publication number
JP5849970B2
JP5849970B2 JP2012549889A JP2012549889A JP5849970B2 JP 5849970 B2 JP5849970 B2 JP 5849970B2 JP 2012549889 A JP2012549889 A JP 2012549889A JP 2012549889 A JP2012549889 A JP 2012549889A JP 5849970 B2 JP5849970 B2 JP 5849970B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lower layer
layer
sio
refractive index
low
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012549889A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2012086806A1 (ja
Inventor
洋平 河合
洋平 河合
米田 貴重
貴重 米田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP2012549889A priority Critical patent/JP5849970B2/ja
Publication of JPWO2012086806A1 publication Critical patent/JPWO2012086806A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5849970B2 publication Critical patent/JP5849970B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • C03C17/3411Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
    • C03C17/3417Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials all coatings being oxide coatings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/11Anti-reflection coatings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/11Anti-reflection coatings
    • G02B1/113Anti-reflection coatings using inorganic layer materials only
    • G02B1/115Multilayers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F77/00Constructional details of devices covered by this subclass
    • H10F77/30Coatings
    • H10F77/306Coatings for devices having potential barriers
    • H10F77/311Coatings for devices having potential barriers for photovoltaic cells
    • H10F77/315Coatings for devices having potential barriers for photovoltaic cells the coatings being antireflective or having enhancing optical properties
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2217/00Coatings on glass
    • C03C2217/40Coatings comprising at least one inhomogeneous layer
    • C03C2217/43Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a dispersed phase in a continuous phase
    • C03C2217/46Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a dispersed phase in a continuous phase characterized by the dispersed phase
    • C03C2217/47Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a dispersed phase in a continuous phase characterized by the dispersed phase consisting of a specific material
    • C03C2217/475Inorganic materials
    • C03C2217/478Silica
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2217/00Coatings on glass
    • C03C2217/70Properties of coatings
    • C03C2217/73Anti-reflective coatings with specific characteristics
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B2207/00Coding scheme for general features or characteristics of optical elements and systems of subclass G02B, but not including elements and systems which would be classified in G02B6/00 and subgroups
    • G02B2207/113Fluorescence
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

本発明は、透明基材の上に低反射膜を有する物品に関する。
透明基材の表面に低反射膜を有する物品は、太陽電池のカバーガラス、各種ディスプレイおよびそれらの前面板、各種窓ガラス、タッチパネルのカバーガラス等として用いられている。
低反射膜としては、たとえば、下記のものが知られている。
(1)中空SiO微粒子とマトリックスとを含む単層の低反射膜(特許文献1)。
(2)3層以上の薄膜層からなり、各層の屈折率が1.0〜2.5の範囲内で最表層から基材に向かって段階的に大きくされた低反射膜(特許文献2)。
しかし、(1)の低反射膜には、下記の問題がある。
・斜めから入射する光(入射角の大きい光)に対して波長400〜1200nmにおける平均反射率が高い。
・反射率を低く抑えるためには、屈折率を低くする、すなわち空隙率を高くする必要があるが、最表面から透明基材にわたって連通した空孔が形成されやすい。そのため、透明基材まで水分等が浸透しやすく、耐候性が低い。
また、(2)の低反射膜には、下記の問題がある。
・3層以上の薄膜層からなるため、層間の界面の数が多くなる。界面の数が多い分、界面における層間剥離の頻度が高くなりやすく、摩耗耐久性が低い。
日本特開2001−233611号公報 日本特開2007−052345号公報
本発明は、広い波長領域において反射率が低く、入射角の大きい光の反射率が比較的低く、かつ耐候性および耐久性が良好である低反射膜を有する物品を提供する。
本発明の物品は、透明基材の上に低反射膜を有する物品であって、前記低反射膜が、前記透明基材側の下層および該下層の上に形成された上層の2層からなり、前記下層の屈折率が、1.30〜1.44であり、前記上層の屈折率が、1.10〜1.29であり、前記下層が、独立した空孔を有し、かつ当該下層の前記上層側から透明基材側にわたって連通した空孔を有さず 前記下層が、中空SiO 微粒子を含むことを特徴とする。
記下層は、SiOを主成分とする層であることが好ましい。
前記上層は、SiOを主成分とする層であることが好ましい。
前記上層は、中空SiO微粒子を含むことが好ましい。
前記下層の屈折率と前記上層の屈折率との差は、0.10〜0.30であることが好ましい。
前記下層の空隙率は、10〜30体積%であることが好ましい。
前記下層の厚さは、50〜150nmであることが好ましい。
前記上層の厚さは、50〜300nmであることが好ましい。
前記下層は、独立した空孔を有し、前記独立した空孔の平均空孔径は、10〜100nmであることが好ましい。
本発明の物品は、太陽電池用カバーガラスであることが好ましい。
上記した数値範囲を示す「〜」とは、その前後に記載された数値を下限値及び上限値として含む意味で使用され、特段の定めがない限り、以下本明細書において「〜」は、同様の意味をもって使用される。
本発明の物品は、広い波長領域において反射率が低く、入射角の大きい光の反射率が比較的低く、かつ耐候性および耐久性が良好である。
本発明の物品の一例を示す断面図である。 例1の物品の断面の一部の走査型電子顕微鏡写真である。
図1は、本発明の物品の一例を示す断面図である。物品10は、透明基材12と、透明基材12の表面に形成された低反射膜14とを有する。
(透明基材)
透明基材における透明とは、400〜1200nmの波長領域の光を平均して80%以上透過することを意味する。
透明基材の形状としては、板、フィルム等が挙げられる。
透明基材の表面には、本発明のアルカリバリア層、接着改善層、耐久性改善層、あるいはその他の機能層等の低反射膜以外の層が、低反射膜を有する物品の性能に影響を及ぼさない範囲において、あらかじめ形成されていてもよい。
透明基材の材料としては、ガラス、樹脂等が挙げられる。
ガラスとしては、たとえば、ソーダライムガラス、ホウケイ酸ガラス、アルミノケイ酸塩ガラス、無アルカリガラス等が挙げられる。また、フロート法等により成形された平滑なガラスであってもよく、表面に凹凸を有する型板ガラスであってもよい。
樹脂としては、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、トリアセチルセルロース、ポリメタクリル酸メチル等が挙げられる。
透明基材が建築用または車両用の窓ガラスの場合、下記の組成を有するソーダライムガラスが好ましい。
酸化物基準の質量百分率表示で、
SiO :65〜75%、
Al:0〜10%、
CaO :5〜15%、
MgO :0〜15%、
NaO :10〜20%、
O :0〜3%、
LiO :0〜5%、
Fe:0〜3%、
TiO :0〜5%、
CeO :0〜3%、
BaO :0〜5%、
SrO :0〜5%、
:0〜15%、
ZnO :0〜5%、
ZrO :0〜5%、
SnO :0〜3%、
SO :0〜0.5%、を含む。
透明基材が無アルカリガラスの場合、下記の組成を有するものが好ましい。
酸化物基準の質量百分率表示で、
SiO :39〜70%、
Al:3〜25%、
:1〜30%、
MgO :0〜10%、
CaO :0〜17%、
SrO :0〜20%、
BaO :0〜30%、を含む。
透明基材が混合アルカリ系ガラスの場合、下記の組成を有するものが好ましい。
酸化物基準の質量百分率表示で、
SiO :50〜75%、
Al:0〜15%、
MgO+CaO+SrO+BaO+ZnO:6〜24%、
NaO+KO:6〜24%、を含む。
透明基材が太陽電池用カバーガラスの場合、表面に凹凸をつけた梨地模様の型板ガラスが好ましい。型板ガラスとしては、通常の窓ガラス等に用いられるソーダライムガラス(青板ガラス:若干青味を帯びたソーダライムガラスの通称名)よりも鉄の成分比が少なく、透明度が高い高透過ガラス(白板ガラス)が好ましい。ここで謂う通称名、白板ガラスとは、波長400〜800nmにおける透過率が普通のソーダライムガラスより高いガラスをいう。例えば、ガラス板が4mmで波長400〜800nmのときの透過率が90%以上のガラスをいう。
(低反射膜)
低反射膜14は、透明基材12側の下層16および下層16の上に下層16面と接して形成された上層18の2層からなり、下層16の屈折率が1.30〜1.44であり、上層18の屈折率が1.10〜1.29であることを特徴とする。
低反射膜14を構成する各層の屈折率nは、屈折率を求めたい層の単層膜を透明基材の表面に形成し、該単層膜について分光光度計で測定した波長300〜1200nmの範囲内における最低反射率(いわゆるボトム反射率)Rminと、透明基材の屈折率nsとから下式(1)によって算出する。
Rmin=(n−ns)/(n+ns) ・・・(1)。
下層16の屈折率と上層18の屈折率との差は、0.10〜0.30が好ましく、0.14〜0.24がより好ましい。屈折率の差が0.10以上であれば、入射角の大きい光に対する反射が十分に抑えられる。屈折率の差が0.30以下であれば、下層16と上層18との界面における反射が充分に抑えられる。
(下層)
下層16の屈折率は、1.30〜1.44であり、1.31〜1.42が好ましく、1.32〜1.38がより好ましい。下層16の屈折率が1.30未満では、下層16の空隙率が高くなりやすく、透明基板12まで水分等が浸透しやすくなり、耐候性が低下する。下層16の屈折率が1.44を超えると、下層16の空隙率が低くなりすぎ、下層16が密になって透明基板12に反りが発生しやすくなる。
下層16は、独立した空孔を有し、かつ上層18から透明基材12にわたって連通した空孔を有さないことが好ましい。下層16における空孔が、下層16の上層18の面側から透明基材12の面側にわたって連通した空孔ではなく、ほとんどが独立した空孔であれば、透明基板12まで水分等が浸透しにくくなり、耐候性が向上する。
下層16の空孔の平均空孔径は、10〜100nmが好ましく、20〜70nmがより好ましい。平均空孔径が10nm以上であれば、下層16の屈折率を1.44以下にしやすくなる。平均空孔径が100nm以下であれば、透明基板12まで水分等が浸透しにくくなり、耐候性が向上する。
平均空孔径は、下層膜の断面を走査型電子顕微鏡にて観察して得られる像から計測した100個の空孔の直径を平均して得られる。
下層16の空隙率は、10〜30体積%が好ましく、13〜20体積%がより好ましい。空隙率が10体積%以上であれば、下層16の屈折率を1.44以下にしやすくなる。空隙率が30体積%以下であれば、透明基板12まで水分等が浸透しにくくなり、耐候性が向上する。
空隙率は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡で観察して得られる像より空隙の面積を計測した値から算出される。
下層16の厚さは、50〜150nmが好ましく、60〜140nmがより好ましい。下層16の厚さが50nm以上であれば、透明基板12まで水分等が浸透しにくくなり、耐候性が向上する。下層16の厚さが150nm以下であれば、波長が400〜1200nmの光に対して反射率を低く抑えることができる。
下層16の厚さは、低反射膜の断面を走査型電子顕微鏡にて観察して得られる像から計測される。
下層16としては、比較的屈折率が低く、化学的安定性に優れ、ガラスとの密着性に優れる点から、SiOを主成分とする層が好ましく、実質的にSiOからなる層がより好ましい。SiOを主成分とする層とは、SiOの割合が下層16(100質量%)のうち90質量%以上であることを意味し、実質的にSiOからなる層とは、不可避不純物を除いてSiOのみから構成されていることを意味する。
下層16は、SiO微粒子およびマトリックスから構成されていることが好ましい。
SiO微粒子としては、中空SiO微粒子または中実SiO微粒子が挙げられ、独立した空孔を有し、かつ上層18から透明基材12にわたって連通した空孔を有さない下層16を形成できる点から、中空SiO微粒子が好ましい。
中空SiO微粒子は、各粒子が独立した状態で存在していてもよく、各粒子が鎖状に連結していてもよく、各粒子が凝集していてもよい。
中空SiO微粒子の平均一次粒子径は、5〜150nmが好ましく、50〜100nmがより好ましい。中空SiO微粒子の平均一次粒子径が5nm以上であれば、低反射膜14の反射率が充分に低くなる。中空SiO微粒子の平均一次粒子径が150nm以下であれば、低反射膜14のヘイズが低く抑えられる。
中実SiO微粒子は、各粒子が独立した状態で存在していてもよく、各粒子が鎖状に連結していてもよく、各粒子が凝集していてもよい。
中実SiO微粒子の平均一次粒子径は、5〜150nmが好ましく、50〜100nmがより好ましい。中実SiO微粒子の平均一次粒子径が5nm以上であれば、低反射膜14の反射率が充分に低くなる。中実SiO微粒子の平均一次粒子径が150nm以下であれば、低反射膜14のヘイズが低く抑えられる。
平均一次粒子径は、電子顕微鏡写真から100個の微粒子を無作為に選び出し、各微粒子の粒子径を測定し、100個の微粒子の粒子径を平均して求める。
マトリックスとしては、アルコキシシランの加水分解物(ゾルゲルシリカ)の焼成物、シラザンの焼成物等が挙げられるが、アルコキシシランの加水分解物の焼成物がより好ましい。アルコキシシランの加水分解に用いる触媒としては、中空SiO微粒子の分散を妨げないものが好ましい。
アルコキシシランとしては、テトラアルコキシシラン(例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラブトキシシラン等)、パーフルオロポリエーテル基を有するアルコキシシラン(例えば、パーフルオロポリエーテルトリエトキシシラン等)、パーフルオロアルキル基を有するアルコキシシラン(例えば、パーフルオロエチルトリエトキシシラン等)、ビニル基を有するアルコキシシラン(例えば、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン等)、エポキシ基を有するアルコキシシラン(例えば、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン等)、アクリロイルオキシ基を有するアルコキシシラン(例えば、3−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン等)等が挙げられる。
アルコキシシランの加水分解は、テトラアルコキシシランの場合、アルコキシシランの4倍モル以上の水、および触媒として酸またはアルカリを用いて行う。酸としては、無機酸(例えば、HNO、HSO、HCl等)、有機酸(例えば、ギ酸、シュウ酸、モノクロル酢酸、ジクロル酢酸、トリクロル酢酸等)が挙げられる。アルカリとしては、アンモニア、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等が挙げられる。触媒としては、アルコキシシランの加水分解物の長期保存性の点から、酸が好ましい。
(上層)
上層18の屈折率は、1.10〜1.29であり、1.12〜1.27が好ましく、1.15〜1.25がより好ましい。上層18の屈折率が1.10未満では、上層18が疎になりすぎ、耐久性が低下する。上層18の屈折率が1.29を超えると、低反射膜の反射率が高くなる。
上層18の厚さは、50〜300nmが好ましく、100〜250nmがより好ましい。上層18の厚さが50nm以上であれば、波長が400〜1200nmの光に対して反射率を低く抑えることができる。上層18の厚さが300nm以下であれば、実用的な耐摩耗性が確保できる。
上層18の厚さは、低反射膜の断面を走査型電子顕微鏡にて観察して得られる像から計測される。
上層18としては、比較的屈折率が低く、化学的安定性に優れ、下層16との密着性に優れる点から、SiOを主成分とする層が好ましく、実質的にSiOからなる層がより好ましい。
上層18は、SiO微粒子およびマトリックスから構成されていることが好ましい。
SiO微粒子としては、中空SiO微粒子または中実SiO微粒子が挙げられ、上層18には低い屈折率が要求される点から、中空SiO微粒子が好ましい。
中空SiO微粒子、中実SiO微粒子およびマトリックスとしては、下層16に用いたものと同様のものを用いればよい。
(物品の製造方法)
本発明の物品は、たとえば、透明基材の上に、各層を形成するための塗布液を順次、塗布、必要に応じて予熱し、最後に焼成することによって製造できる。本発明において、「焼成」とは、透明基材面上に塗布液を塗布することによって得られた塗布膜を加熱して硬化処理することも含めるものとする。
塗布液としては、SiO微粒子の分散液とマトリックス前駆体の溶液(例えば、アルコキシシランの加水分解物の溶液、シラザンの溶液等)との混合物等が挙げられる。
塗布液は、レベリング性向上のための界面活性剤、塗膜の耐久性向上のための金属化合物等を含んでいてもよい。
SiO微粒子の分散液の分散媒としては、水、アルコール類、ケトン類、エーテル類、セロソルブ類、エステル類、グリコールエーテル類、含窒素化合物、含硫黄化合物等が挙げられる。
アルコキシシランの加水分解物の溶液の溶媒としては、水とアルコール類(例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ジアセトンアルコール等)との混合溶媒が好ましい。
塗布方法としては、公知のウェットコート法(例えば、スピンコート法、スプレーコート法、ディップコート法、ダイコート法、カーテンコート法、スクリーンコート法、インクジェット法、フローコート法、グラビアコート法、バーコート法、フレキソコート法、スリットコート法、ロールコート法等)等が挙げられる。
塗布温度は、室温〜200℃が好ましく、室温〜150℃がより好ましい。
焼成温度は、30℃以上が好ましく、透明基材、微粒子またはマトリックスの材料に応じて適宜決定すればよい。
たとえば、透明基材の材料が樹脂の場合、焼成温度は樹脂の耐熱温度以下になるが、その温度であっても充分な反射防止効果が得られる。
透明基材がガラスの場合、焼成温度は200℃〜ガラスの軟化点温度以下が好ましい。焼成温度が200℃以上であれば、下層が緻密化して耐久性が向上する。焼成温度が、ガラスの軟化点温度以下(例えば、800℃以下)であれば、低反射膜中の空孔が消失することなく、低反射膜の反射率が充分に低くなる。
(作用効果)
以上説明した本発明の物品にあっては、低反射膜が透明基材側から順に、屈折率が1.30〜1.44の下層と、屈折率が1.10〜1.29の上層との2層構成からなるため、広い波長領域において反射率が低く、また、入射角の大きい光の反射率が単層の低反射膜に比べ低い。
また、本発明の物品にあっては、下層の屈折率が1.30〜1.44である。すなわち下層が緻密な層であるため、透明基材まで水分等が浸透しにくく、耐候性が良好である。
また、本発明の物品にあっては、低反射膜が2層からなるため、3層以上の低反射膜に比べ摩擦耐久性が良好である。
反射率の波長依存性については、具体的には、5°入射の光に対する波長400〜1200nmの平均反射率が、0.1〜1.2%であることが好ましい。
反射率の入射角依存性については、具体的には、70°入射の光に対する波長400〜1200nmの平均反射率が、3.0〜9.0%であることが好ましい。
耐候性については、具体的には、0°入射の光に対する波長400〜1200nmの平均透過率の変化が、後述する耐湿試験前後で1.0%以下であることが好ましい。
摩耗耐久性については、具体的には、0°入射の光に対する波長400〜1200nmの平均透過率の変化が、後述する摩耗試験前後で1.0%以下であることが好ましい。
以下、実施例により本発明をさらに詳しく説明する。
例1〜5は実施例であり、例6〜10は比較例である。
(微粒子の平均一次粒子径)
中空微粒子の平均一次粒子径は、中空微粒子の分散液をエタノールで0.1質量%に希釈した後、コロジオン膜上にサンプリングして透過型電子顕微鏡(日立製作所社製、H−9000)にて観察し、100個の中空微粒子を無作為に選び出し、各微粒子の粒子径を測定し、100個の微粒子の粒子径を平均して、中空微粒子の平均一次粒子径を求めた。
中空微粒子以外の微粒子の平均一次粒子径は、球形粒子が担体に均一に分散されていると仮定して、BET法により測定した比表面積と球形粒子の体積から換算して算出した。
(中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径)
中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径は、中空微粒子の分散液をエタノールで0.1質量%に希釈した後、コロジオン膜上にサンプリングして透過型電子顕微鏡(日立製作所社製、H−9000)にて観察し、100個の中空微粒子を無作為に選び出し、各中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径を測定し、100個の中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径をそれぞれ平均して、中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径を求めた。
(屈折率)
低反射膜の屈折率は、低反射膜付き透光性基体をエリプソメーター(J.A.Woollam社製、型式:M−2000DI)で測定し、波長550nmの屈折率を求めた。
(空隙率)
低反射膜の空隙率は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡(日立製作所社製、型式:S−4300)で観察して得られる像より空隙の面積を計測した値から算出した。
(空孔形態)
低反射膜の空孔形態は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡(日立製作所社製、型式:S−4300)で観察して得られる像より特定した。(平均空孔直径)
低反射膜の平均空孔直径は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡(日立製作所社製、型式:S−4300)で観察して得られる像より計測した。
(膜厚)
低反射膜の膜厚は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡(日立製作所社製、型式:S−4300)で観察して得られる像より計測した。
(反射率)
低反射膜付き透光性基体の反射率は分光光度計(日立製作所社製、型式:U−4100)を用いて測定した。なお、反射率は、波長400〜1200nmの平均反射率である。
(透過率)
低反射膜付き透光性基体の透過率は分光光度計(日立製作所社製、型式:U−4100)を用いて測定した。なお、透過率は、波長400〜1200nmの平均透過率である。
(耐湿試験)
低反射膜付き透光性基体を80℃90%の恒温恒湿槽に投入し、1000時間保持した後、透過率を測定して波長400〜1200nmの平均透過率を求めた。試験前後の平均透過率から耐湿試験による変化を求めた。
(摩耗試験)
低反射膜付き透光性基体の表面を、フェルトにて1kg荷重で1000回往復磨耗した後、透過率を測定して波長400〜1200nmの平均透過率を求めた。試験前後の平均透過率から摩耗試験による変化を求めた。
(中空状SiO微粒子分散液(A))
エタノールの59gを撹拌しながら、ZnO微粒子水分散液(固形分濃度:20質量%、平均一次粒子径:30nm)の30g、テトラエトキシシラン(SiO換算固形分量:29質量%)の10gを加えた後、28質量%のアンモニア水溶液の1gを加え、分散液のpHを10に調整し、20℃で6時間撹拌して、コア−シェル型微粒子分散液(固形分濃度:6質量%)の100gを得た。
得られたコア−シェル型微粒子分散液に、強酸性カチオン交換樹脂(三菱化学社製、ダイヤイオン、総交換量:2.0mseq/mL以上)の100gを加え、1時間撹拌してpHが4となった後、ろ過により強酸性カチオン樹脂を除去し、該分散液を限外ろ過することでSiO換算固形分濃度が15質量%の中空状SiO微粒子分散液(A)を得た。中空状SiO微粒子の外殻厚さは8nmであり、空孔径は26nmであり、平均一次粒子径は42nmであった。
(中空状SiO微粒子分散液(B))
エタノールの49.5gを撹拌しながら、ZnO微粒子(水分散液(固形分濃度:20質量%、平均一次粒子径:80nm)の45g、テトラエトキシシラン(SiO換算固形分量:29質量%)の5gを加えた後、28質量%のアンモニア水溶液の0.5gを加え、分散液のpHを10に調整し、20℃で6時間撹拌して、コア−シェル型微粒子分散液(固形分濃度:10.5質量%)の100gを得た。
得られたコア−シェル型微粒子分散液に、強酸性カチオン交換樹脂(三菱化学社製、ダイヤイオン、総交換量:2.0mseq/mL以上)の200gを加え、1時間撹拌してpHが4となった後、ろ過により強酸性カチオン樹脂を除去し、SiO換算固形分濃度が15質量%の中空状SiO微粒子分散液(B)を得た。中空状SiO微粒子の外殻厚さは4nmであり、空孔径は66nmであり、平均一次粒子径は74nmであった。
(鎖状中実SiO微粒子分散液(C))
日産化学工業社製、IPA−ST−UP(商品名)、SiO換算固形分濃度:15質量%、一次粒子径:5〜40nm、分散媒:イソプロパノール。
(マトリックス前駆体の溶液(D))
コルコート社製、コルコートP(商品名)、アルコキシシランの加水分解物の溶液、SiO換算固形分濃度:2質量%、エタノール:4質量%、イソプロパノール:40質量%、n−ブタノール:50質量%、水:4質量%。
〔例1〕
エタノールの78.0gを撹拌しながら、これに中空状SiO微粒子分散液(A)の12.0gおよびマトリックス前駆体の溶液(D)の10.0gを加え、固形分濃度が2.0質量%の上層用塗布液を調製した。この組成を表1に示す。また、ガラス板(屈折率ns:1.53)の表面に、後述の上層形成条件と同じ条件にて上層用塗布液を塗布、焼成して単層膜を形成し、屈折率、膜厚、反射率、透過率、耐湿試験後および摩耗試験後の透過率の変化、その他の性状等を求めた。結果を表2に示す。
エタノールの66.4gを撹拌しながら、これに中空状SiO微粒子分散液(A)の5.6gおよびマトリックス前駆体の溶液(D)の28.0gを加え、固形分濃度が1.4質量%の下層用塗布液を調製した。組成を表1に示す。また、ガラス板(屈折率ns:1.53)の表面に、後述の下層形成条件と同じ条件にて下層用塗布液を塗布、焼成して単層膜を形成し、屈折率、膜厚を求めた。結果を表2に示す。
透明基材として型板ガラス(旭硝子社製、Solite、低鉄分で高透過ガラスであるソーダライムガラス(通称名:白板ガラス)、サイズ:100mm×100mm、厚さ:3.2mm)を用意し、酸化セリウム水分散液で型板ガラスの表面を研磨し、水で酸化セリウムを洗い流した後、イオン交換水でリンスし、乾燥させた。
上記型板ガラスの表面に下層用塗布液をスピンコート(500rpm、20秒間)にて塗布した。塗布後の型板ガラスを予熱炉にて予熱した後、さらに上層用塗布液をスピンコート(500rpm、20秒間)にて塗布した。その後、650℃で10分間焼成し、低反射膜が形成された物品を得た。該物品を評価した。結果を表2に示す。
〔例2〜9〕
塗布液の組成を表1に示す組成に変更した以外は、例1と同様にして低反射膜が形成された物品を得た。該物品を評価した。結果を表2に示す。
また、例1の物品の断面の走査型電子顕微鏡写真を図2に示す。
〔例10〕
表1に示す3種類の下層用、中間層用および上層用の塗布液を調製し、上層と下層との間に中間層を形成する以外は、例1と同様にして低反射膜が形成された物品を得た。該物品を評価した。結果を表2に示す。
Figure 0005849970
Figure 0005849970
例6は、低反射膜が単層であるため、70°入射の光に対する波長400〜1200nmにおける平均反射率が高い。また、透明基材まで水分等が浸透しやすく、耐候性が低い。
例7は、下層の屈折率が低すぎるため、70°入射の光に対する波長400〜1200nmにおける平均反射率が高い。また、透明基材まで水分等が浸透しやすく、耐候性が低い。
例8は、下層の屈折率が高すぎるため、70°入射の光に対する波長400〜1200nmにおける平均反射率が高い。また、透明基材に反りが生じる。
例9は、下層が、上層に連通した空孔を有するため、透明基材まで水分等が浸透しやすく、耐候性が低い。
例10は、低反射膜が3層であるため、摩耗耐久性が低い。
本発明の低反射膜を有する物品は、太陽電池用カバーガラスをはじめ、車両用透明部品(ヘッドライトカバー、サイドミラー、フロント透明基板、サイド透明基板、リア透明基板等。) 、車両用透明部品(インスツルメントパネル表面等。) 、各種メーター、建築窓、ショーウインドウ、ディスプレイ(ノート型パソコン、モニター、LCD、PDP 、ELD、CRT、PDA等。)、LCDカラーフィルター、タッチパネル用基板、ピックアップレンズ、光学レンズ、眼鏡レンズ、カメラ部品、ビデオ部品、CCD用カバー基板、光ファイバー、プロジェクター部品、複写機部品、太陽電池用透明基板、携帯電話窓、バックライトユニット部品(たとえば、導光板、冷陰極管等。)、バックライトユニット部品液晶輝度向上フィルム(たとえば、プリズム、半透過フィルム等。)、液晶輝度向上フィルム、有機EL発光素子部品、無機EL発光素子部品、蛍光体発光素子部品、光学フィルター、その他各種光学部品、照明ランプ、照明器具のカバー、増幅レーザー光源、反射防止フィルム、偏光フィルム、農業用フィルム等として有用である。
なお、2010年12月24日に出願された日本特許出願2010−288134号の明細書、特許請求の範囲、図面及び要約書の全内容をここに引用し、本発明の開示として取り入れるものである。
10 物品
12 透明基材
14 低反射膜
16 下層
18 上層

Claims (10)

  1. 透明基材の上に低反射膜を有する物品であって、
    前記低反射膜が、前記透明基材側の下層および該下層の上に形成された上層の2層からなり、
    前記下層の屈折率が、1.30〜1.44であり、
    前記上層の屈折率が、1.10〜1.29であり、
    前記下層が、独立した空孔を有し、かつ当該下層の前記上層側から透明基材側にわたって連通した空孔を有さず、
    前記下層が、中空SiO 微粒子を含む、物品。
  2. 前記下層が、SiOを主成分とする層である、請求項に記載の物品。
  3. 前記上層が、SiOを主成分とする層である、請求項1または2に記載の物品。
  4. 前記上層が、中空SiO微粒子を含む、請求項1〜のいずれか一項に記載の物品。
  5. 前記下層の屈折率と前記上層の屈折率との差が、0.10〜0.30である、請求項1〜のいずれか一項に記載の物品。
  6. 前記下層の空隙率が、10〜30体積%である、請求項1〜のいずれか一項に記載の物品。
  7. 前記下層の厚さが、50〜150nmである、請求項1〜のいずれか一項に記載の物品。
  8. 前記上層の厚さは、50〜300nmである、請求項1〜のいずれか一項に記載の物品。
  9. 前記下層が、独立した空孔を有し、
    前記独立した空孔の平均空孔径が、10〜100nmである、請求項1〜のいずれか一項に記載の物品。
  10. 太陽電池用カバーガラスである、請求項1〜のいずれか一項に記載の物品。
JP2012549889A 2010-12-24 2011-12-22 低反射膜を有する物品 Active JP5849970B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012549889A JP5849970B2 (ja) 2010-12-24 2011-12-22 低反射膜を有する物品

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010288134 2010-12-24
JP2010288134 2010-12-24
PCT/JP2011/079922 WO2012086806A1 (ja) 2010-12-24 2011-12-22 低反射膜を有する物品
JP2012549889A JP5849970B2 (ja) 2010-12-24 2011-12-22 低反射膜を有する物品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2012086806A1 JPWO2012086806A1 (ja) 2014-06-05
JP5849970B2 true JP5849970B2 (ja) 2016-02-03

Family

ID=46314072

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012549889A Active JP5849970B2 (ja) 2010-12-24 2011-12-22 低反射膜を有する物品

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20130279007A1 (ja)
EP (1) EP2657011A4 (ja)
JP (1) JP5849970B2 (ja)
CN (1) CN103260870B (ja)
PH (1) PH12013501118A1 (ja)
TW (1) TW201231289A (ja)
WO (1) WO2012086806A1 (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140084686A (ko) * 2012-12-27 2014-07-07 코닝정밀소재 주식회사 투명 도전성 기재, 이의 제조방법, 및 이를 구비한 터치 패널
CN103218081B (zh) * 2013-04-12 2014-08-06 深圳欧菲光科技股份有限公司 双层触摸屏及其制备方法
JP6164906B2 (ja) * 2013-04-19 2017-07-19 株式会社翠光トップライン 太陽光発電モジュール
WO2015041257A1 (ja) * 2013-09-18 2015-03-26 旭硝子株式会社 低反射膜付き強化ガラス板およびその製造方法
JP6617699B2 (ja) * 2014-05-08 2019-12-11 Agc株式会社 ガラス物品
WO2016031780A1 (ja) * 2014-08-27 2016-03-03 旭硝子株式会社 擦傷防止膜付き基体およびその製造方法
CN105439459B (zh) * 2014-08-29 2019-02-05 北京有色金属研究总院 一种表面致密多孔减反射膜及其制备方法
CN104409552A (zh) * 2014-11-25 2015-03-11 合肥嘉伟装饰工程有限责任公司 荧光增透光伏玻璃
WO2016143297A1 (ja) * 2015-03-06 2016-09-15 日本板硝子株式会社 コーティング膜付きガラス板及びその製造方法
JP2017186205A (ja) * 2016-04-07 2017-10-12 旭硝子株式会社 低反射膜を有する物品
US10120111B2 (en) 2016-12-14 2018-11-06 Google Llc Thin ceramic imaging screen for camera systems
JP2019020723A (ja) 2017-07-12 2019-02-07 Hoya Candeo Optronics株式会社 導光板、画像表示装置
KR102642282B1 (ko) * 2017-07-12 2024-02-28 호야 가부시키가이샤 도광판 및 화상 표시 장치
JP6627828B2 (ja) * 2017-07-19 2020-01-08 日亜化学工業株式会社 薄膜の製造方法、薄膜形成材料、光学薄膜、及び光学部材
US20190033491A1 (en) * 2017-07-28 2019-01-31 Ppg Industries Ohio, Inc. Multi-layer antireflective coated articles
JP7229691B2 (ja) * 2018-07-26 2023-02-28 キヤノン株式会社 光学膜とその製造方法
EP3605189A1 (en) 2018-08-01 2020-02-05 Schott AG Optical layered composite having a coating thickness below a threshold and its application in augmented reality
DE102019211258A1 (de) 2018-08-01 2020-03-19 Schott Ag Geschichteter optischer verbundwerkstoff mit zwei gruppierungen von beschichtungsschichten und seine augmented-reality-anwendung
DE102019211256A1 (de) * 2018-08-01 2020-03-19 Schott Ag Geschichteter optischer verbundwerkstoff, der einen reduzierten gehalt an stark lichtbrechenden schichten aufweist, und seine augmented-reality-anwendung
JP7308475B2 (ja) * 2019-01-25 2023-07-14 パナソニックIpマネジメント株式会社 色変換素子
US12124068B2 (en) * 2019-03-29 2024-10-22 Lg Chem, Ltd. Reddening-resistant layer
EP3798687A1 (en) * 2019-09-27 2021-03-31 Schott AG Layered optical composite having a reduced content of highly refractive layers and its application in augmented reality
JP2020030435A (ja) * 2019-11-14 2020-02-27 日亜化学工業株式会社 薄膜形成材料、光学薄膜、及び光学部材
WO2021156023A1 (de) * 2020-02-06 2021-08-12 Saint-Gobain Glass France Fahrzeugscheibe mit verminderter emissivität und lichtreflexion
JP2023183326A (ja) * 2022-06-15 2023-12-27 株式会社ダイセル 光学素子及び光学モジュール
JP2024146004A (ja) * 2023-03-31 2024-10-15 ホヤ レンズ タイランド リミテッド 眼鏡レンズ及び眼鏡
WO2025179467A1 (zh) * 2024-02-28 2025-09-04 辰瑞光学(常州)股份有限公司 复合膜层结构

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003119052A (ja) * 2001-10-12 2003-04-23 Matsushita Electric Works Ltd 光透過シート、これを用いた発光装置、及び、光透過シートの製造方法
JP2006221144A (ja) * 2004-12-27 2006-08-24 Pentax Corp 防曇性反射防止膜を有する光学素子及び防曇性反射防止膜の製造方法
WO2010050263A1 (ja) * 2008-10-31 2010-05-06 旭硝子株式会社 中空粒子、その製造方法、塗料組成物および物品

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001042155A1 (fr) * 1999-12-13 2001-06-14 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Article en verre a faible reflexion
JP4046921B2 (ja) 2000-02-24 2008-02-13 触媒化成工業株式会社 シリカ系微粒子、該微粒子分散液の製造方法、および被膜付基材
US7212341B2 (en) * 2001-03-21 2007-05-01 Fujifilm Corporation Antireflection film, and image display device
CN100337131C (zh) * 2003-12-18 2007-09-12 同济大学 纳米多孔二氧化硅光学薄膜的制备方法
US20060154044A1 (en) * 2005-01-07 2006-07-13 Pentax Corporation Anti-reflection coating and optical element having such anti-reflection coating for image sensors
CN100468083C (zh) * 2005-02-16 2009-03-11 柯尼卡美能达精密光学株式会社 防反射膜、防反射膜的制法、偏振片及显示装置
JP2007052345A (ja) 2005-08-19 2007-03-01 Oji Paper Co Ltd 屈折率傾斜多層薄膜構造体及びその製造方法
DE102008006785B3 (de) * 2008-01-30 2009-06-10 Schott Ag Verfahren zur Herstellung einer wischfesten Antireflexionsschicht auf einem Borosilicatglaskörper und Verwendung des beschichteten Glaskörpers zur Herstellung von Lampenkolben von Entladungslampen
JP5313750B2 (ja) * 2008-07-31 2013-10-09 学校法人慶應義塾 反射防止膜及びこれを有する光学部品、交換レンズ及び撮像装置
JP5419144B2 (ja) 2009-06-12 2014-02-19 Necアクセステクニカ株式会社 電子装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003119052A (ja) * 2001-10-12 2003-04-23 Matsushita Electric Works Ltd 光透過シート、これを用いた発光装置、及び、光透過シートの製造方法
JP2006221144A (ja) * 2004-12-27 2006-08-24 Pentax Corp 防曇性反射防止膜を有する光学素子及び防曇性反射防止膜の製造方法
WO2010050263A1 (ja) * 2008-10-31 2010-05-06 旭硝子株式会社 中空粒子、その製造方法、塗料組成物および物品

Also Published As

Publication number Publication date
WO2012086806A1 (ja) 2012-06-28
TW201231289A (en) 2012-08-01
CN103260870A (zh) 2013-08-21
EP2657011A1 (en) 2013-10-30
PH12013501118A1 (en) 2019-06-03
CN103260870B (zh) 2016-04-27
EP2657011A4 (en) 2016-01-13
US20130279007A1 (en) 2013-10-24
JPWO2012086806A1 (ja) 2014-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5849970B2 (ja) 低反射膜を有する物品
US20090191406A1 (en) Coating composition for forming antireflective film, and article having antireflective film formed thereon
US8480989B2 (en) Hollow fine particles, production process thereof, coating composition and article having coating film formed
JP6586897B2 (ja) 防眩膜付き基材、膜形成用塗布液およびその製造方法
JP2016018068A (ja) 防眩膜付き基材および物品
WO2011027827A1 (ja) 基材の表面に低反射膜を有する物品
US20170291392A1 (en) Article having low reflection film
JP2016041481A (ja) 防眩性反射防止膜付き透明基材および物品
JP2016001200A (ja) 防汚性反射防止膜、物品およびその製造方法
JP6599666B2 (ja) 光散乱性被膜を有する透明スクリーン及び光散乱性被膜形成用塗布液
JP2015049319A (ja) 透明基材と防汚性反射防止膜とを備える物品およびその製造方法
WO2015163330A1 (ja) アンチグレア層付き基材および物品
EP2128090B1 (en) Hollow microparticle, method for production thereof, coating composition, and article having coating film formed thereon
WO2018199120A1 (ja) 膜付きガラス基板、物品、および膜付きガラス基板の製造方法
JP6164120B2 (ja) 反射防止膜付き基材および物品
JP2013122949A (ja) 低反射膜を有する物品および太陽電池モジュール
JP2004352524A (ja) 低反射物品及びその製法
JP2012148952A (ja) 低反射膜形成用塗布液およびその調製方法およびそれを用いた低反射部材
JP2015222277A (ja) 低反射膜を有する物品
JP2011119626A (ja) 低反射膜で被覆してなる太陽電池パネル用カバーガラス及びその製法
JP2005001900A (ja) 低光反射性皮膜被覆基材及びその製造方法、並びに該低光反射性皮膜用組成物
JP2016225225A (ja) 表示装置用の導光板
JP2012148951A (ja) 低反射膜形成用塗布液およびその調製方法およびそれを用いた低反射部材
WO2020039891A1 (ja) 透明スクリーン、及びその製造方法
JP2016225224A (ja) 表示装置用の導光板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140804

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150421

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150526

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20150527

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151104

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151117

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5849970

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250