JP5849970B2 - 低反射膜を有する物品 - Google Patents
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Description
(1)中空SiO2微粒子とマトリックスとを含む単層の低反射膜(特許文献1)。
(2)3層以上の薄膜層からなり、各層の屈折率が1.0〜2.5の範囲内で最表層から基材に向かって段階的に大きくされた低反射膜(特許文献2)。
・斜めから入射する光(入射角の大きい光)に対して波長400〜1200nmにおける平均反射率が高い。
・反射率を低く抑えるためには、屈折率を低くする、すなわち空隙率を高くする必要があるが、最表面から透明基材にわたって連通した空孔が形成されやすい。そのため、透明基材まで水分等が浸透しやすく、耐候性が低い。
・3層以上の薄膜層からなるため、層間の界面の数が多くなる。界面の数が多い分、界面における層間剥離の頻度が高くなりやすく、摩耗耐久性が低い。
前記上層は、SiO2を主成分とする層であることが好ましい。
前記上層は、中空SiO2微粒子を含むことが好ましい。
前記下層の空隙率は、10〜30体積%であることが好ましい。
前記下層の厚さは、50〜150nmであることが好ましい。
前記上層の厚さは、50〜300nmであることが好ましい。
前記下層は、独立した空孔を有し、前記独立した空孔の平均空孔径は、10〜100nmであることが好ましい。
本発明の物品は、太陽電池用カバーガラスであることが好ましい。
上記した数値範囲を示す「〜」とは、その前後に記載された数値を下限値及び上限値として含む意味で使用され、特段の定めがない限り、以下本明細書において「〜」は、同様の意味をもって使用される。
透明基材における透明とは、400〜1200nmの波長領域の光を平均して80%以上透過することを意味する。
透明基材の形状としては、板、フィルム等が挙げられる。
透明基材の表面には、本発明のアルカリバリア層、接着改善層、耐久性改善層、あるいはその他の機能層等の低反射膜以外の層が、低反射膜を有する物品の性能に影響を及ぼさない範囲において、あらかじめ形成されていてもよい。
ガラスとしては、たとえば、ソーダライムガラス、ホウケイ酸ガラス、アルミノケイ酸塩ガラス、無アルカリガラス等が挙げられる。また、フロート法等により成形された平滑なガラスであってもよく、表面に凹凸を有する型板ガラスであってもよい。
樹脂としては、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、トリアセチルセルロース、ポリメタクリル酸メチル等が挙げられる。
酸化物基準の質量百分率表示で、
SiO2 :65〜75%、
Al2O3:0〜10%、
CaO :5〜15%、
MgO :0〜15%、
Na2O :10〜20%、
K2O :0〜3%、
Li2O :0〜5%、
Fe2O3:0〜3%、
TiO2 :0〜5%、
CeO2 :0〜3%、
BaO :0〜5%、
SrO :0〜5%、
B2O3 :0〜15%、
ZnO :0〜5%、
ZrO2 :0〜5%、
SnO2 :0〜3%、
SO3 :0〜0.5%、を含む。
酸化物基準の質量百分率表示で、
SiO2 :39〜70%、
Al2O3:3〜25%、
B2O3 :1〜30%、
MgO :0〜10%、
CaO :0〜17%、
SrO :0〜20%、
BaO :0〜30%、を含む。
酸化物基準の質量百分率表示で、
SiO2 :50〜75%、
Al2O3:0〜15%、
MgO+CaO+SrO+BaO+ZnO:6〜24%、
Na2O+K2O:6〜24%、を含む。
低反射膜14は、透明基材12側の下層16および下層16の上に下層16面と接して形成された上層18の2層からなり、下層16の屈折率が1.30〜1.44であり、上層18の屈折率が1.10〜1.29であることを特徴とする。
Rmin=(n−ns)2/(n+ns)2 ・・・(1)。
下層16の屈折率は、1.30〜1.44であり、1.31〜1.42が好ましく、1.32〜1.38がより好ましい。下層16の屈折率が1.30未満では、下層16の空隙率が高くなりやすく、透明基板12まで水分等が浸透しやすくなり、耐候性が低下する。下層16の屈折率が1.44を超えると、下層16の空隙率が低くなりすぎ、下層16が密になって透明基板12に反りが発生しやすくなる。
平均空孔径は、下層膜の断面を走査型電子顕微鏡にて観察して得られる像から計測した100個の空孔の直径を平均して得られる。
空隙率は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡で観察して得られる像より空隙の面積を計測した値から算出される。
下層16の厚さは、低反射膜の断面を走査型電子顕微鏡にて観察して得られる像から計測される。
SiO2微粒子としては、中空SiO2微粒子または中実SiO2微粒子が挙げられ、独立した空孔を有し、かつ上層18から透明基材12にわたって連通した空孔を有さない下層16を形成できる点から、中空SiO2微粒子が好ましい。
中空SiO2微粒子の平均一次粒子径は、5〜150nmが好ましく、50〜100nmがより好ましい。中空SiO2微粒子の平均一次粒子径が5nm以上であれば、低反射膜14の反射率が充分に低くなる。中空SiO2微粒子の平均一次粒子径が150nm以下であれば、低反射膜14のヘイズが低く抑えられる。
中実SiO2微粒子の平均一次粒子径は、5〜150nmが好ましく、50〜100nmがより好ましい。中実SiO2微粒子の平均一次粒子径が5nm以上であれば、低反射膜14の反射率が充分に低くなる。中実SiO2微粒子の平均一次粒子径が150nm以下であれば、低反射膜14のヘイズが低く抑えられる。
上層18の屈折率は、1.10〜1.29であり、1.12〜1.27が好ましく、1.15〜1.25がより好ましい。上層18の屈折率が1.10未満では、上層18が疎になりすぎ、耐久性が低下する。上層18の屈折率が1.29を超えると、低反射膜の反射率が高くなる。
上層18の厚さは、低反射膜の断面を走査型電子顕微鏡にて観察して得られる像から計測される。
SiO2微粒子としては、中空SiO2微粒子または中実SiO2微粒子が挙げられ、上層18には低い屈折率が要求される点から、中空SiO2微粒子が好ましい。
本発明の物品は、たとえば、透明基材の上に、各層を形成するための塗布液を順次、塗布、必要に応じて予熱し、最後に焼成することによって製造できる。本発明において、「焼成」とは、透明基材面上に塗布液を塗布することによって得られた塗布膜を加熱して硬化処理することも含めるものとする。
塗布液としては、SiO2微粒子の分散液とマトリックス前駆体の溶液(例えば、アルコキシシランの加水分解物の溶液、シラザンの溶液等)との混合物等が挙げられる。
塗布液は、レベリング性向上のための界面活性剤、塗膜の耐久性向上のための金属化合物等を含んでいてもよい。
アルコキシシランの加水分解物の溶液の溶媒としては、水とアルコール類(例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ジアセトンアルコール等)との混合溶媒が好ましい。
焼成温度は、30℃以上が好ましく、透明基材、微粒子またはマトリックスの材料に応じて適宜決定すればよい。
たとえば、透明基材の材料が樹脂の場合、焼成温度は樹脂の耐熱温度以下になるが、その温度であっても充分な反射防止効果が得られる。
透明基材がガラスの場合、焼成温度は200℃〜ガラスの軟化点温度以下が好ましい。焼成温度が200℃以上であれば、下層が緻密化して耐久性が向上する。焼成温度が、ガラスの軟化点温度以下(例えば、800℃以下)であれば、低反射膜中の空孔が消失することなく、低反射膜の反射率が充分に低くなる。
以上説明した本発明の物品にあっては、低反射膜が透明基材側から順に、屈折率が1.30〜1.44の下層と、屈折率が1.10〜1.29の上層との2層構成からなるため、広い波長領域において反射率が低く、また、入射角の大きい光の反射率が単層の低反射膜に比べ低い。
また、本発明の物品にあっては、下層の屈折率が1.30〜1.44である。すなわち下層が緻密な層であるため、透明基材まで水分等が浸透しにくく、耐候性が良好である。
また、本発明の物品にあっては、低反射膜が2層からなるため、3層以上の低反射膜に比べ摩擦耐久性が良好である。
反射率の入射角依存性については、具体的には、70°入射の光に対する波長400〜1200nmの平均反射率が、3.0〜9.0%であることが好ましい。
耐候性については、具体的には、0°入射の光に対する波長400〜1200nmの平均透過率の変化が、後述する耐湿試験前後で1.0%以下であることが好ましい。
摩耗耐久性については、具体的には、0°入射の光に対する波長400〜1200nmの平均透過率の変化が、後述する摩耗試験前後で1.0%以下であることが好ましい。
例1〜5は実施例であり、例6〜10は比較例である。
中空微粒子の平均一次粒子径は、中空微粒子の分散液をエタノールで0.1質量%に希釈した後、コロジオン膜上にサンプリングして透過型電子顕微鏡(日立製作所社製、H−9000)にて観察し、100個の中空微粒子を無作為に選び出し、各微粒子の粒子径を測定し、100個の微粒子の粒子径を平均して、中空微粒子の平均一次粒子径を求めた。
中空微粒子以外の微粒子の平均一次粒子径は、球形粒子が担体に均一に分散されていると仮定して、BET法により測定した比表面積と球形粒子の体積から換算して算出した。
中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径は、中空微粒子の分散液をエタノールで0.1質量%に希釈した後、コロジオン膜上にサンプリングして透過型電子顕微鏡(日立製作所社製、H−9000)にて観察し、100個の中空微粒子を無作為に選び出し、各中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径を測定し、100個の中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径をそれぞれ平均して、中空微粒子の外殻の厚さおよび空孔径を求めた。
低反射膜の屈折率は、低反射膜付き透光性基体をエリプソメーター(J.A.Woollam社製、型式:M−2000DI)で測定し、波長550nmの屈折率を求めた。
(空隙率)
低反射膜の空隙率は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡(日立製作所社製、型式:S−4300)で観察して得られる像より空隙の面積を計測した値から算出した。
(空孔形態)
低反射膜の空孔形態は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡(日立製作所社製、型式:S−4300)で観察して得られる像より特定した。(平均空孔直径)
低反射膜の平均空孔直径は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡(日立製作所社製、型式:S−4300)で観察して得られる像より計測した。
低反射膜の膜厚は、低反射膜付き透光性基体の断面を走査型電子顕微鏡(日立製作所社製、型式:S−4300)で観察して得られる像より計測した。
低反射膜付き透光性基体の反射率は分光光度計(日立製作所社製、型式:U−4100)を用いて測定した。なお、反射率は、波長400〜1200nmの平均反射率である。
低反射膜付き透光性基体の透過率は分光光度計(日立製作所社製、型式:U−4100)を用いて測定した。なお、透過率は、波長400〜1200nmの平均透過率である。
低反射膜付き透光性基体を80℃90%の恒温恒湿槽に投入し、1000時間保持した後、透過率を測定して波長400〜1200nmの平均透過率を求めた。試験前後の平均透過率から耐湿試験による変化を求めた。
低反射膜付き透光性基体の表面を、フェルトにて1kg荷重で1000回往復磨耗した後、透過率を測定して波長400〜1200nmの平均透過率を求めた。試験前後の平均透過率から摩耗試験による変化を求めた。
エタノールの59gを撹拌しながら、ZnO微粒子水分散液(固形分濃度:20質量%、平均一次粒子径:30nm)の30g、テトラエトキシシラン(SiO2換算固形分量:29質量%)の10gを加えた後、28質量%のアンモニア水溶液の1gを加え、分散液のpHを10に調整し、20℃で6時間撹拌して、コア−シェル型微粒子分散液(固形分濃度:6質量%)の100gを得た。
エタノールの49.5gを撹拌しながら、ZnO微粒子(水分散液(固形分濃度:20質量%、平均一次粒子径:80nm)の45g、テトラエトキシシラン(SiO2換算固形分量:29質量%)の5gを加えた後、28質量%のアンモニア水溶液の0.5gを加え、分散液のpHを10に調整し、20℃で6時間撹拌して、コア−シェル型微粒子分散液(固形分濃度:10.5質量%)の100gを得た。
日産化学工業社製、IPA−ST−UP(商品名)、SiO2換算固形分濃度:15質量%、一次粒子径:5〜40nm、分散媒:イソプロパノール。
コルコート社製、コルコートP(商品名)、アルコキシシランの加水分解物の溶液、SiO2換算固形分濃度:2質量%、エタノール:4質量%、イソプロパノール:40質量%、n−ブタノール:50質量%、水:4質量%。
エタノールの78.0gを撹拌しながら、これに中空状SiO2微粒子分散液(A)の12.0gおよびマトリックス前駆体の溶液(D)の10.0gを加え、固形分濃度が2.0質量%の上層用塗布液を調製した。この組成を表1に示す。また、ガラス板(屈折率ns:1.53)の表面に、後述の上層形成条件と同じ条件にて上層用塗布液を塗布、焼成して単層膜を形成し、屈折率、膜厚、反射率、透過率、耐湿試験後および摩耗試験後の透過率の変化、その他の性状等を求めた。結果を表2に示す。
塗布液の組成を表1に示す組成に変更した以外は、例1と同様にして低反射膜が形成された物品を得た。該物品を評価した。結果を表2に示す。
また、例1の物品の断面の走査型電子顕微鏡写真を図2に示す。
表1に示す3種類の下層用、中間層用および上層用の塗布液を調製し、上層と下層との間に中間層を形成する以外は、例1と同様にして低反射膜が形成された物品を得た。該物品を評価した。結果を表2に示す。
例7は、下層の屈折率が低すぎるため、70°入射の光に対する波長400〜1200nmにおける平均反射率が高い。また、透明基材まで水分等が浸透しやすく、耐候性が低い。
例8は、下層の屈折率が高すぎるため、70°入射の光に対する波長400〜1200nmにおける平均反射率が高い。また、透明基材に反りが生じる。
例9は、下層が、上層に連通した空孔を有するため、透明基材まで水分等が浸透しやすく、耐候性が低い。
例10は、低反射膜が3層であるため、摩耗耐久性が低い。
なお、2010年12月24日に出願された日本特許出願2010−288134号の明細書、特許請求の範囲、図面及び要約書の全内容をここに引用し、本発明の開示として取り入れるものである。
12 透明基材
14 低反射膜
16 下層
18 上層
Claims (10)
- 透明基材の上に低反射膜を有する物品であって、
前記低反射膜が、前記透明基材側の下層および該下層の上に形成された上層の2層からなり、
前記下層の屈折率が、1.30〜1.44であり、
前記上層の屈折率が、1.10〜1.29であり、
前記下層が、独立した空孔を有し、かつ当該下層の前記上層側から透明基材側にわたって連通した空孔を有さず、
前記下層が、中空SiO 2 微粒子を含む、物品。 - 前記下層が、SiO2を主成分とする層である、請求項1に記載の物品。
- 前記上層が、SiO2を主成分とする層である、請求項1または2に記載の物品。
- 前記上層が、中空SiO2微粒子を含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の物品。
- 前記下層の屈折率と前記上層の屈折率との差が、0.10〜0.30である、請求項1〜4のいずれか一項に記載の物品。
- 前記下層の空隙率が、10〜30体積%である、請求項1〜5のいずれか一項に記載の物品。
- 前記下層の厚さが、50〜150nmである、請求項1〜6のいずれか一項に記載の物品。
- 前記上層の厚さは、50〜300nmである、請求項1〜7のいずれか一項に記載の物品。
- 前記下層が、独立した空孔を有し、
前記独立した空孔の平均空孔径が、10〜100nmである、請求項1〜8のいずれか一項に記載の物品。 - 太陽電池用カバーガラスである、請求項1〜9のいずれか一項に記載の物品。
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