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JP2018156787A - Electrode and power storage device - Google Patents

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JP2018156787A
JP2018156787A JP2017051807A JP2017051807A JP2018156787A JP 2018156787 A JP2018156787 A JP 2018156787A JP 2017051807 A JP2017051807 A JP 2017051807A JP 2017051807 A JP2017051807 A JP 2017051807A JP 2018156787 A JP2018156787 A JP 2018156787A
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active material
particles
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electrode
insulating layer
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JP2017051807A
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Japanese (ja)
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太一 中溝
Taichi Nakamizo
太一 中溝
木下 恭一
Kyoichi Kinoshita
恭一 木下
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Toyota Industries Corp
Original Assignee
Toyota Industries Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrode having low internal resistance, capable of suppressing peeling of an insulation layer of an active material layer more effectively and also to provide a power storage device equipped with this electrode.SOLUTION: An electrode 1 includes: a current collector made of metal; an active material layer 3 which is made of a porous body containing a plurality of active material particles 31 and arranged on the current collector; and an insulation layer which is made of the porous body containing a plurality of insulator particles and covers an active material particles 311 exposed on the surface of the active material layers 3. Moreover, when the geometric mean diameter of the insulator particles obtained by performing measurement on the cross section in the thickness direction is D[μm], and when the center distance between the active material particles 31 in contact with the insulator particles is L[μm], a value of D/Lis 190 to 560 ppm.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、電極及び蓄電装置に関する。   The present invention relates to an electrode and a power storage device.

例えばフォークリフト、ハイブリッド自動車、電気自動車等の車両には、リチウムイオン二次電池やニッケル水素蓄電池等の蓄電装置が組み込まれていることがある。この種の蓄電装置は、正極と負極とがセパレータを介して積層され、あるいは巻き回された電極組立体を有している。正極や負極は、金属からなる集電体と、集電体の片面または両面上に設けられた活物質層とを有している。また、正極と負極とを絶縁するセパレータとしては、主にポリオレフィンなどの樹脂からなる微多孔質フィルムが用いられている。   For example, vehicles such as forklifts, hybrid vehicles, and electric vehicles may incorporate power storage devices such as lithium ion secondary batteries and nickel metal hydride storage batteries. This type of power storage device has an electrode assembly in which a positive electrode and a negative electrode are stacked or wound via a separator. The positive electrode and the negative electrode have a current collector made of metal and an active material layer provided on one side or both sides of the current collector. Moreover, as a separator which insulates a positive electrode and a negative electrode, the microporous film mainly consisting of resin, such as polyolefin, is used.

この種の蓄電装置においては、高熱が発生してセパレータが溶融しても正極と負極とが短絡することを抑制し、蓄電装置の信頼性を高める目的で、絶縁体粒子と、絶縁体粒子同士を結着させるバインダとを含む多孔質体からなる絶縁層が活物質層上に設けられることがある。絶縁層は、通常、絶縁体粒子やバインダが溶媒中に分散されたスラリーを活物質層上に塗布した後、熱を加えることでスラリーを乾燥させて溶媒を除去するとともに、バインダの溶融を促進して絶縁層と活物質層との結着を強固にすることにより形成されている。   In this type of power storage device, for the purpose of suppressing the short circuit between the positive electrode and the negative electrode even when high heat is generated and the separator is melted, In some cases, an insulating layer made of a porous material including a binder that binds to the active material layer is provided on the active material layer. Insulating layers usually apply a slurry in which insulator particles and a binder are dispersed in a solvent, and then apply heat to dry the slurry to remove the solvent and promote the melting of the binder. Thus, the bonding between the insulating layer and the active material layer is strengthened.

この種の蓄電装置の例として、特許文献1には、リチウムイオンを吸蔵・放出する活物質を主成分とする正極板および負極板と、この正極板と負極板とが相対向する面に設けた多孔質耐熱層とを備えたリチウムイオン二次電池が記載されている。正極板と負極板との間には、液状やゲル状の電解質が存在している。   As an example of this type of power storage device, Patent Document 1 discloses that a positive electrode plate and a negative electrode plate mainly composed of an active material that absorbs and releases lithium ions, and a surface on which the positive electrode plate and the negative electrode plate face each other. A lithium ion secondary battery provided with a porous heat-resistant layer is described. A liquid or gel electrolyte is present between the positive electrode plate and the negative electrode plate.

特開2008−27634号公報JP 2008-27634 A

活物質層と絶縁層との密着性が低いと、絶縁層の一部が活物質層から剥離し、活物質層が点状に露出することがある。正極と負極との間にはセパレータが介在しているため、絶縁層の一部が剥離しても直ちに問題になることはないが、蓄電装置の信頼性を高める観点からは、活物質層からの絶縁層の剥離を抑制するために、活物質層と絶縁層との密着性を高めることが好ましい。   When the adhesiveness between the active material layer and the insulating layer is low, part of the insulating layer may be peeled off from the active material layer, and the active material layer may be exposed in the form of dots. Since a separator is interposed between the positive electrode and the negative electrode, even if a part of the insulating layer is peeled off, there is no immediate problem, but from the viewpoint of improving the reliability of the power storage device, from the active material layer In order to suppress peeling of the insulating layer, it is preferable to improve the adhesion between the active material layer and the insulating layer.

活物質層と絶縁層との密着性を高める方法としては、例えば、絶縁層に含まれるバインダの量を増やす方法が考えられる。しかし、バインダの量を増やすと、絶縁層の空隙率が低下するため、電解質中のイオンの移動が妨げられる、あるいは、電解質が絶縁層内の空隙に浸入しにくくなる等の問題が生じるおそれがある。また、導電性の低いバインダによって活物質層における電子の移動を伴う電極反応が妨げられ、蓄電装置の内部抵抗の増大を招くおそれがある。   As a method for improving the adhesion between the active material layer and the insulating layer, for example, a method of increasing the amount of the binder contained in the insulating layer can be considered. However, when the amount of the binder is increased, the porosity of the insulating layer is decreased, which may hinder the movement of ions in the electrolyte, or may cause problems such as the electrolyte becoming difficult to enter the voids in the insulating layer. is there. In addition, an electrode reaction that accompanies the movement of electrons in the active material layer is hindered by a binder having low conductivity, which may increase the internal resistance of the power storage device.

このように、蓄電装置に用いられる電極においては、蓄電装置の内部抵抗の増大を抑制しつつ、活物質層からの絶縁層の剥離を抑制することが求められている。   Thus, in an electrode used for a power storage device, it is required to suppress the peeling of the insulating layer from the active material layer while suppressing an increase in internal resistance of the power storage device.

本発明は、かかる背景に鑑みてなされたものであり、活物質層からの絶縁層の剥離をより効果的に抑制でき、内部抵抗の低い電極及びこの電極を備えた蓄電装置を提供しようとするものである。   The present invention has been made in view of such a background, and is intended to provide an electrode having a low internal resistance and a power storage device including the electrode, which can more effectively suppress peeling of the insulating layer from the active material layer. Is.

本発明の一態様は、金属からなる集電体と、
多数の活物質粒子を含む多孔質体からなり、上記集電体上に配置された活物質層と、
多数の絶縁体粒子を含む多孔質体からなり、上記活物質層の表面に露出した上記活物質粒子を覆う絶縁層とを有し、
厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、上記絶縁体粒子の幾何平均径をD[μm]、上記絶縁体粒子に接触している上記活物質粒子の中心間距離をL[μm]としたときに、D/Lの値が190〜560ppmである、電極にある。
One embodiment of the present invention is a current collector made of metal;
An active material layer comprising a porous body containing a large number of active material particles, and disposed on the current collector;
An insulating layer covering the active material particles exposed on the surface of the active material layer, comprising a porous body containing a large number of insulator particles;
Di i [μm] is the geometric mean diameter of the insulator particles obtained by measuring in the cross section in the thickness direction, and L a [μm] is the distance between the centers of the active material particles in contact with the insulator particles. when a], the value of D i / L a is 190~560Ppm, located in the electrode.

本発明の他の態様は、正極と負極とがセパレータを介して交互に積層された電極組立体と、
上記正極と上記負極との間に介在する液状またはゲル状の電解質とを有し、
上記正極及び上記負極のうち少なくとも一方が上記の態様の電極である、蓄電装置にある。
Another aspect of the present invention is an electrode assembly in which positive electrodes and negative electrodes are alternately stacked via separators,
A liquid or gel electrolyte interposed between the positive electrode and the negative electrode;
In the power storage device, at least one of the positive electrode and the negative electrode is the electrode of the above embodiment.

上記電極は、集電体上に配置された活物質層と、活物質層の表面に露出した活物質粒子を覆う絶縁層とを有している。また、厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、絶縁体粒子の幾何平均径をD[μm]、絶縁体粒子に接触している上記活物質粒子の中心間距離をL[μm]としたときに、D/Lの値が190〜560ppmである。 The electrode includes an active material layer disposed on the current collector and an insulating layer that covers the active material particles exposed on the surface of the active material layer. Also obtained by measuring the thickness direction of the cross section, the geometric mean diameter of the insulator particles D i [μm], the distance between the centers of the active material particles in contact with the insulating particles L a [[mu] m when a], the value of D i / L a is 190~560Ppm.

上記電極は、集電体上に活物質層を形成する作業と、活物質層上に絶縁層を形成する作業とを順次行うことにより、作製することができる。活物質層を形成するに当たっては、まず、集電体上に活物質粒子を含むスラリーを塗布する。このスラリーを乾燥させて溶媒を除去することにより、活物質粒子を含む多孔質体からなる活物質層を形成することができる。活物質層の表面には活物質粒子が露出しており、活物質粒子によって活物質層の表面に凹凸が形成されている。   The electrode can be manufactured by sequentially performing an operation of forming an active material layer on a current collector and an operation of forming an insulating layer on the active material layer. In forming the active material layer, first, a slurry containing active material particles is applied onto the current collector. By drying this slurry and removing the solvent, an active material layer made of a porous material containing active material particles can be formed. Active material particles are exposed on the surface of the active material layer, and irregularities are formed on the surface of the active material layer by the active material particles.

活物質層を形成する作業の後、活物質層の表面上に絶縁体粒子を含むスラリーを塗布する。このスラリーを乾燥させて溶媒を除去することにより、絶縁層を形成することができる。このとき、D/Lの値を上記特定の範囲とすることにより、スラリーを活物質層上に塗布した際に、スラリー中の絶縁体粒子を活物質層の表面の凹部に進入させることができる。それ故、スラリーを乾燥させて溶媒を除去することにより、活物質層の表面に露出した活物質粒子を絶縁層で被覆することができる。 After the operation of forming the active material layer, a slurry containing insulator particles is applied on the surface of the active material layer. By drying this slurry and removing the solvent, an insulating layer can be formed. At this time, by a range of values of D i / L a particular above, when applied to slurry the active material layer, thereby advancing the insulator particles in the slurry in the recess of the surface of the active material layer Can do. Therefore, the active material particles exposed on the surface of the active material layer can be covered with the insulating layer by drying the slurry and removing the solvent.

このように、上記電極は、D/Lの値を上記特定の範囲とすることにより、活物質層の表面に露出した活物質粒子を絶縁層で被覆し、活物質層と絶縁層との隙間を小さくすることができる。それ故、上記電極は、活物質層からの絶縁層の剥離を抑制することができる。 Thus, the electrode is a value of D i / L a by the range specified above, the active material particles exposed on the surface of the active material layer was covered with an insulating layer, and the active material layer and the insulating layer The gap can be reduced. Therefore, the electrode can suppress peeling of the insulating layer from the active material layer.

また、上記電極は、上記特定の構造を有することによって、活物質層からの絶縁層の剥離を抑制することができるため、活物質層からの絶縁層の剥離を抑制する作用効果を得つつ、バインダの量を低減することができる。   In addition, since the electrode has the specific structure described above, it is possible to suppress the peeling of the insulating layer from the active material layer, thereby obtaining the effect of suppressing the peeling of the insulating layer from the active material layer, The amount of the binder can be reduced.

更に、D/Lの値を上記特定の範囲とすることにより、絶縁体粒子が活物質粒子同士の隙間を通って活物質層の内部へ進入することを抑制するとともに、絶縁層の空隙率が小さくなることを抑制することができる。それ故、上記電極においては、絶縁層による電極反応の抑制を回避することができる。 Furthermore, by setting a range of values of D i / L a particular above, as well as prevent the insulating particles from entering through the gap between the active material particles into the interior of the active material layer, an insulating layer void It can suppress that a rate becomes small. Therefore, in the above electrode, suppression of the electrode reaction by the insulating layer can be avoided.

これらの結果、上記電極は、活物質層からの絶縁層の剥離を抑制するとともに、蓄電装置の内部抵抗の増大を抑制することができる。   As a result, the electrode can suppress peeling of the insulating layer from the active material layer and suppress increase in internal resistance of the power storage device.

実施例1における、電極の要部を示す一部断面図である。FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing a main part of an electrode in Example 1. 図1における、活物質層と絶縁層との境界の拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view of a boundary between an active material layer and an insulating layer in FIG. 1. 図1における、絶縁体粒子の長径の算出方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the calculation method of the major axis of the insulator particle | grains in FIG. 図1における、活物質粒子の中心間距離の算出方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the calculation method of the center distance of the active material particle in FIG. 実施例2における、蓄電装置の要部を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a main part of a power storage device in Example 2. 実施例2における、電極組立体の分解斜視図である。FIG. 5 is an exploded perspective view of an electrode assembly in Example 2. 実験例における、テストピース上に滴下したスラリーの液滴の一例を示す写真である。It is a photograph which shows an example of the droplet of the slurry dripped on the test piece in an experiment example. 実験例における、負極活物質上に絶縁層が保持されたテストピースの一例を示す写真である。It is a photograph which shows an example of the test piece by which the insulating layer was hold | maintained on the negative electrode active material in an experiment example. 実験例における、テストピース上に滴下したスラリーの液滴の一例を示す写真である。It is a photograph which shows an example of the droplet of the slurry dripped on the test piece in an experiment example. 実験例における、絶縁層が剥離したテストピースの一例を示す写真である。It is a photograph which shows an example of the test piece which the insulating layer peeled in the experiment example.

上記電極は、集電体の片面または両面上に正極活物質層が設けられた正極として構成されていてもよく、集電体の片面または両面に負極活物質層が設けられた負極として構成されていてもよい。また、上記電極を、集電体の表側面上に正極活物質層を有し、裏側面上に負極活物質層を有するバイポーラ電極として構成することもできる。   The electrode may be configured as a positive electrode in which a positive electrode active material layer is provided on one side or both sides of a current collector, and is configured as a negative electrode in which a negative electrode active material layer is provided on one side or both sides of a current collector. It may be. Moreover, the said electrode can also be comprised as a bipolar electrode which has a positive electrode active material layer on the surface side of a collector, and has a negative electrode active material layer on a back side surface.

集電体としては、箔、シート、フィルム、線状、棒状、メッシュなどの形態を有する、蓄電装置用として公知の集電体を採用することができる。集電体が金属箔の場合には、例えば、厚み5〜100μmの金属箔を採用することができる。集電体の材料としては、例えば、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、銅、銀、金、白金、鉄、チタン、ニッケル、コバルト、ステンレスなどの、蓄電装置用の集電体として公知の金属を採用することができる。特に、電気伝導性、加工性、価格の面から、集電体の材料としてはアルミニウム又は銅が好ましい。   As the current collector, a known current collector for a power storage device having a form such as a foil, a sheet, a film, a linear shape, a rod shape, or a mesh can be employed. When the current collector is a metal foil, for example, a metal foil having a thickness of 5 to 100 μm can be employed. As a material for the current collector, for example, a metal known as a current collector for a power storage device, such as aluminum, magnesium, zinc, copper, silver, gold, platinum, iron, titanium, nickel, cobalt, and stainless steel, is employed. be able to. In particular, aluminum or copper is preferable as the current collector material from the viewpoints of electrical conductivity, workability, and cost.

集電体上には、活物質粒子を含む多孔質体からなる活物質層が設けられている。活物質層の厚みは、例えば、60〜150μmとすることができる。また、活物質層の空隙率は、例えば、8〜17%とすることができる。活物質粒子の形状には特に制限は無い。   An active material layer made of a porous body containing active material particles is provided on the current collector. The thickness of the active material layer can be set to 60 to 150 μm, for example. Moreover, the porosity of the active material layer can be 8 to 17%, for example. There is no particular limitation on the shape of the active material particles.

活物質粒子としては、例えば、黒鉛、コークス、気相成長炭素繊維、ピッチ系炭素繊維、PAN系炭素繊維、高配向性グラファイト、メソカーボンマイクロビーズ、ハードカーボン、ソフトカーボン等のカーボン、リチウム、ナトリウム等のアルカリ金属、金属化合物、SiOx(0.5≦x≦1.5)等の金属酸化物、ホウ素添加炭素等から構成された粒子を使用することができる。黒鉛としては、例えば天然黒鉛、人造黒鉛、球晶黒鉛(黒鉛化メソフェーズカーボン小球体)、グラファイト炭素材料等の粉末が挙げられる。グラファイト炭素材料としては、例えばピッチ、コークス等の縮合多環炭化水素化合物の熱分解物等が挙げられる。活物質層は、これらの粒子のうち1種類の粒子を活物質粒子として含んでいてもよく、2種以上の粒子を活物質粒子として含んでいてもよい。   Examples of the active material particles include graphite, coke, vapor-grown carbon fiber, pitch-based carbon fiber, PAN-based carbon fiber, highly oriented graphite, mesocarbon microbead, hard carbon, soft carbon, and other carbon, lithium, sodium, and the like. Particles composed of alkali metals such as, metal compounds, metal oxides such as SiOx (0.5 ≦ x ≦ 1.5), boron-added carbon, and the like can be used. Examples of graphite include powders such as natural graphite, artificial graphite, spherulitic graphite (graphitized mesophase carbon microspheres), and graphite carbon material. Examples of the graphite carbon material include thermal decomposition products of condensed polycyclic hydrocarbon compounds such as pitch and coke. The active material layer may contain one kind of particles among these particles as active material particles, or may contain two or more kinds of particles as active material particles.

活物質粒子の体積平均粒径は、例えば、80〜220μmとすることができる。ここで、体積平均粒径は、体積基準で表示した活物質粒子の粒子径分布におけるメジアン径(50%累積径)である。   The volume average particle diameter of the active material particles can be set to 80 to 220 μm, for example. Here, the volume average particle diameter is a median diameter (50% cumulative diameter) in the particle diameter distribution of the active material particles displayed on a volume basis.

また、厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる活物質粒子の幾何平均径は、例えば、100〜210μmとすることができる。ここで、活物質粒子の幾何平均径は、以下の方法により算出される値である。まず、アルゴンイオンビームを用いたクロスセクションポリッシャ法(CP法)等の方法により活物質層を厚さ方向に切断し、厚み方向における断面を露出させる。この断面をFE−SEM(電解放出型走査型電子顕微鏡)を用いて観察し、縦500μm、横800μmの視野のSEM像を取得する。観察位置を変えて複数の視野のSEM像を取得した後、SEM像中に存在する個々の活物質粒子の長径を算出する。このようにして得られた活物質粒子の長径の幾何平均を、活物質粒子の幾何平均径とする。   Moreover, the geometric average diameter of the active material particles obtained by measuring in the cross section in the thickness direction can be set to 100 to 210 μm, for example. Here, the geometric mean diameter of the active material particles is a value calculated by the following method. First, the active material layer is cut in the thickness direction by a method such as a cross section polisher method (CP method) using an argon ion beam to expose a cross section in the thickness direction. This cross section is observed using an FE-SEM (Electrolytic Emission Scanning Electron Microscope), and an SEM image with a field of view of 500 μm in length and 800 μm in width is acquired. After obtaining SEM images of a plurality of fields of view by changing the observation position, the major axis of each active material particle present in the SEM image is calculated. The geometric mean of the major axis of the active material particles obtained in this way is taken as the geometric mean diameter of the active material particles.

活物質層には、活物質粒子以外に、通常、活物質粒子同士を結着させるバインダが含まれている。バインダの含有量が過度に少ない場合には電極の成形性の低下を招き、バインダの含有量が過度に多い場合には電極のエネルギー密度の低下を招くおそれがある。これらの問題を回避する観点から、バインダの含有量は、例えば、活物質粒子100質量部に対して0.5〜5質量部とすることができる。   In addition to the active material particles, the active material layer usually contains a binder that binds the active material particles. When the binder content is excessively low, the moldability of the electrode may be reduced, and when the binder content is excessively high, the energy density of the electrode may be decreased. From the viewpoint of avoiding these problems, the binder content can be, for example, 0.5 to 5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the active material particles.

バインダとしては、例えば、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)等のフッ素系ポリマー、ポリプロピレン、ポリエチレン等の熱可塑性樹脂、スチレンブタジエンゴム(SBR)等のゴム、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミドイミドシリカハイブリッド等のイミド系ポリマー、アルコキシルシリル基含有樹脂、ポリアクリル酸、ポリメタクリル酸、ポリイタコン酸を使用することができる。また、バインダとして、アクリル酸と、メタクリル酸、イタコン酸、フマル酸、マレイン酸などの酸モノマーとの共重合物を用いることもできる。活物質層は、これらの化合物から選択される1種の化合物をバインダとして含んでいてもよく、2種以上の化合物をバインダとして含んでいてもよい。   Examples of the binder include fluorine-based polymers such as polyvinylidene fluoride (PVDF) and polytetrafluoroethylene (PTFE), thermoplastic resins such as polypropylene and polyethylene, rubbers such as styrene butadiene rubber (SBR), polyimide, polyamideimide, Imide polymers such as polyamide-imide silica hybrid, alkoxysilyl group-containing resins, polyacrylic acid, polymethacrylic acid, and polyitaconic acid can be used. As the binder, a copolymer of acrylic acid and an acid monomer such as methacrylic acid, itaconic acid, fumaric acid, maleic acid or the like can be used. The active material layer may contain one kind of compound selected from these compounds as a binder, and may contain two or more kinds of compounds as a binder.

また、活物質層には、導電助剤が含まれていてもよい。導電助剤としては、例えば、カーボンナノファイバー等の短繊維状の炭素繊維、アセチレンブラック、カーボンブラック、グラファイト、ケッチェンブラック(登録商標)等を使用することができる。活物質層は、これらの物質から選択される1種類の物質を導電助剤として含んでいてもよく、2種類以上の物質を導電助剤として含んでいてもよい。   The active material layer may contain a conductive additive. As the conductive auxiliary agent, for example, short fiber carbon fibers such as carbon nanofibers, acetylene black, carbon black, graphite, Ketjen Black (registered trademark) and the like can be used. The active material layer may contain one kind of substance selected from these substances as a conductive assistant, and may contain two or more kinds of substances as a conductive assistant.

活物質層を形成するに当たっては、まず、上述した活物質粒子等が溶媒中に分散したスラリーを準備する。スラリーの溶媒としては、例えば、N−メチルピロリドン、メタノール、メチルイソブチルケトン等の有機溶剤や水を使用することができる。スラリーは、これらの溶媒から選択される1種類の溶媒を含んでいてもよく、2種類以上の溶媒を含んでいてもよい。また、スラリー中には、例えば、カルボキシメチルセルロース等の増粘剤が添加されていてもよい。   In forming the active material layer, first, a slurry in which the above-described active material particles and the like are dispersed in a solvent is prepared. As the solvent for the slurry, for example, an organic solvent such as N-methylpyrrolidone, methanol, methyl isobutyl ketone, or water can be used. The slurry may contain one type of solvent selected from these solvents, and may contain two or more types of solvents. Further, for example, a thickener such as carboxymethyl cellulose may be added to the slurry.

スラリーを集電体上に塗布した後、スラリーを乾燥させて溶媒を除去することにより、集電体上に活物質層を形成することができる。スラリーを乾燥させた後に、活物質層にプレスを施し、活物質層と集電体とを密着させてもよい。   After applying the slurry on the current collector, the slurry is dried to remove the solvent, whereby an active material layer can be formed on the current collector. After the slurry is dried, the active material layer may be pressed to adhere the active material layer and the current collector.

活物質層上には、絶縁体粒子を含む多孔質体からなる絶縁層が配置されている。絶縁層の厚みは特に制限はないが、例えば、1〜7μmとすることができる。また、絶縁層の空隙率は、例えば、40〜60%とすることができる。絶縁層の空隙率は、例えば、以下の方法により測定することができる。即ち、アルゴンイオンビームを用いたクロスセクションポリッシャ法(CP法)等の方法により絶縁層を厚さ方向に切断し、厚み方向における断面を露出させる。この断面をFE−SEM(電解放出型走査型電子顕微鏡)を用いて観察し、得られたSEM像における空隙の割合を絶縁層の空隙率とすることができる。なお、SEM像中の空隙の割合は、例えば、画像処理装置を用いて算出することができる。   On the active material layer, an insulating layer made of a porous body containing insulating particles is disposed. Although there is no restriction | limiting in particular in the thickness of an insulating layer, For example, it can be set as 1-7 micrometers. Moreover, the porosity of an insulating layer can be 40 to 60%, for example. The porosity of the insulating layer can be measured, for example, by the following method. That is, the insulating layer is cut in the thickness direction by a method such as a cross section polisher method (CP method) using an argon ion beam to expose a cross section in the thickness direction. This cross section is observed using an FE-SEM (electrolytic emission scanning electron microscope), and the void ratio in the obtained SEM image can be set as the void ratio of the insulating layer. In addition, the ratio of the space | gap in a SEM image can be calculated using an image processing apparatus, for example.

絶縁体粒子としては、例えば、酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化セリウム、酸化クロム等の金属酸化物、コージェライト、βスポンジューメン、チタン酸アルミニウム、チタン酸バリウム、ムライト、スピネル等の複合酸化物、炭化珪素等の金属炭化物、窒化アルミニウム、窒化ホウ素等の金属窒化物、酸化ニッケル、酸化鉄等の遷移金属酸化物、ランタンマンガネート、ランタンコバルタイト、ランタンクロマイト等のペロブスカイト構造酸化物等から構成された粒子を使用することができる。絶縁層は、これらの粒子から選択される1種類の粒子を絶縁体粒子として含んでいてもよく、2種類以上の粒子を絶縁体粒子として含んでいてもよい。   Examples of the insulator particles include metal oxides such as aluminum oxide, silicon oxide, titanium oxide, zirconium oxide, cerium oxide, and chromium oxide, cordierite, β sponge clay, aluminum titanate, barium titanate, mullite, and spinel. Perovskite structures such as composite oxides such as silicon carbide, metal carbides such as silicon carbide, metal nitrides such as aluminum nitride and boron nitride, transition metal oxides such as nickel oxide and iron oxide, lanthanum manganate, lanthanum cobaltite and lanthanum chromite Particles composed of oxides or the like can be used. The insulating layer may contain one type of particles selected from these particles as insulator particles, and may contain two or more types of particles as insulator particles.

絶縁体粒子の体積平均粒径は、例えば、0.020〜0.080μmとすることができる。ここで、体積平均粒径は、体積基準で表示した絶縁体粒子の粒子径分布におけるメジアン径(50%累積径)である。   The volume average particle diameter of the insulator particles can be set to 0.020 to 0.080 μm, for example. Here, the volume average particle diameter is a median diameter (50% cumulative diameter) in the particle diameter distribution of the insulator particles displayed on a volume basis.

電極の厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、絶縁体粒子の幾何平均径は、例えば、0.020〜0.110μmの範囲で適宜設定することができる。絶縁体粒子の幾何平均径は、SEM像の視野を縦0.200μm、横0.300μmに変更する以外は、活物質粒子の幾何平均径と同様の方法により算出することができる。   The geometric average diameter of the insulator particles obtained by measuring in the cross section in the thickness direction of the electrode can be appropriately set in the range of 0.020 to 0.110 μm, for example. The geometric average diameter of the insulator particles can be calculated by the same method as the geometric average diameter of the active material particles, except that the field of view of the SEM image is changed to 0.200 μm in length and 0.300 μm in width.

また、絶縁層には、絶縁体粒子の他に、通常、絶縁体粒子同士を結着させるとともに、絶縁層を活物質層の表面に保持するバインダが含まれている。バインダの含有量が過度に少ない場合には電極の成形性の低下を招き、バインダの含有量が過度に多い場合には電極のエネルギー密度の低下を招くおそれがある。これらの問題を回避する観点から、バインダの含有量は、例えば、絶縁体粒子100質量部に対して0.1〜25質量部とすることができる。   In addition to the insulating particles, the insulating layer usually contains a binder that binds the insulating particles together and holds the insulating layer on the surface of the active material layer. When the binder content is excessively low, the moldability of the electrode may be reduced, and when the binder content is excessively high, the energy density of the electrode may be decreased. From the viewpoint of avoiding these problems, the binder content can be, for example, 0.1 to 25 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the insulator particles.

バインダとしては、例えば、ポリフッ化ビニリデン、ポリテトラフルオロエチレン、フッ素ゴム等の含フッ素樹脂、芳香族ポリアミド、芳香族ポリイミド、芳香族ポリアミドイミド、ポリアクリル酸等の化合物を使用することができる。芳香族ポリアミドとしては、パラ配向芳香族ポリアミドや、メタ配向芳香族ポリアミドを使用することができる。芳香族ポリアミドとしては、絶縁層内に空隙を形成しやすいパラ配向芳香族ポリアミドを使用することが好ましい。   Examples of the binder that can be used include fluorine-containing resins such as polyvinylidene fluoride, polytetrafluoroethylene, and fluorine rubber, and compounds such as aromatic polyamide, aromatic polyimide, aromatic polyamideimide, and polyacrylic acid. As the aromatic polyamide, para-oriented aromatic polyamide or meta-oriented aromatic polyamide can be used. As the aromatic polyamide, it is preferable to use a para-oriented aromatic polyamide that easily forms voids in the insulating layer.

ここで、パラ配向芳香族ポリアミドとは、パラフェニレン骨格、4,4’−ビフェニレン骨格、1,5−ナフタレン骨格、2,6−ナフタレン骨格等の骨格構造を介してアミド基が結合されることにより、アミド基と骨格構造とが直線状に配置されたポリアミドをいう。パラ配向芳香族ポリアミドとしては、具体的には、ポリ(パラフェニレンテレフタルアミド)、ポリ(パラベンズアミド)、ポリ(4,4’−ベンズアニリドテレフタルアミド)、ポリ(パラフェニレン−4,4’−ビフェニレンジカルボン酸アミド)、ポリ(パラフェニレン−2,6−ナフタレンジカルボン酸アミド)、ポリ(2−クロロ−パラフェニレンテレフタルアミド)、パラフェニレンテレフタルアミド/2,6−ジクロロパラフェニレンテレフタルアミド共重合体等を使用することができる。   Here, the para-oriented aromatic polyamide has an amide group bonded through a skeleton structure such as a paraphenylene skeleton, a 4,4′-biphenylene skeleton, a 1,5-naphthalene skeleton, or a 2,6-naphthalene skeleton. Thus, it refers to a polyamide in which an amide group and a skeleton structure are linearly arranged. Specific examples of the para-oriented aromatic polyamide include poly (paraphenylene terephthalamide), poly (parabenzamide), poly (4,4′-benzanilide terephthalamide), and poly (paraphenylene-4,4′-). Biphenylene dicarboxylic acid amide), poly (paraphenylene-2,6-naphthalenedicarboxylic acid amide), poly (2-chloro-paraphenylene terephthalamide), paraphenylene terephthalamide / 2,6-dichloroparaphenylene terephthalamide copolymer Etc. can be used.

芳香族ポリイミドとしては、芳香族の二酸無水物とジアミンとを縮重合することにより得られる全芳香族ポリイミドを使用することができる。芳香族の二酸無水物としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2’−ビス(3,4―ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物等を使用することができる。また、ジアミンとしては、例えば、オキシジアニリン、パラフェニレンジアミン、ベンゾフェノンジアミン、3,3’−メチレンヂアニリン、3,3’−ジアミノベンソフェノン、3,3’−ジアミノジフェニルスルフォン、1,5’―ナフタレンジアミンを使用することができる。   As the aromatic polyimide, a wholly aromatic polyimide obtained by condensation polymerization of an aromatic dianhydride and a diamine can be used. Examples of the aromatic dianhydride include pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetra Carboxylic dianhydride, 2,2′-bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride and the like can be used. Examples of the diamine include oxydianiline, paraphenylenediamine, benzophenonediamine, 3,3′-methylenedianiline, 3,3′-diaminobenzophenone, 3,3′-diaminodiphenylsulfone, 1,5. '-Naphthalenediamine can be used.

絶縁層は、これらの化合物から選択される1種の化合物をバインダとして含んでいてもよく、2種以上の化合物をバインダとして含んでいてもよい。   The insulating layer may contain one kind of compound selected from these compounds as a binder, and may contain two or more kinds of compounds as a binder.

絶縁層を形成するに当たっては、まず、上述した絶縁体粒子等が溶媒中に分散したスラリーを準備する。スラリーの溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、2−プロパノール、1−ブタノール、1−ヘキサノール等のアルコール類、アセトン、2−ブタノン等のケトン類、ペンタン、ヘキサン、ヘプタン等の脂肪族炭化水素系溶媒、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒、クレゾール、o−クロロフェノール等のフェノール系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル等の酢酸エステル系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等の極性アミド系溶媒、テトラメチルウレア等の極性尿素系溶媒、ジメチルスルホキサイド等の有機溶媒及び水を使用することができる。スラリーは、これらの溶媒から選択される1種類の溶媒を含んでいてもよく、2種類以上の溶媒を含んでいてもよい。   In forming the insulating layer, first, a slurry in which the above-described insulator particles and the like are dispersed in a solvent is prepared. Examples of the solvent for the slurry include alcohols such as methanol, ethanol, 2-propanol, 1-butanol and 1-hexanol, ketones such as acetone and 2-butanone, and aliphatic hydrocarbons such as pentane, hexane and heptane. Solvents, aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene, xylene and ethylbenzene, phenol solvents such as cresol and o-chlorophenol, acetate solvents such as methyl acetate, ethyl acetate and butyl acetate, N, N-dimethyl A polar amide solvent such as formamide or N, N-dimethylacetamide, a polar urea solvent such as tetramethylurea, an organic solvent such as dimethyl sulfoxide, and water can be used. The slurry may contain one type of solvent selected from these solvents, and may contain two or more types of solvents.

また、スラリー中には、例えば、ポリエチレングリコール、ポリアクリル酸、ポリビニルアルコール、ビニルメチルエーテル−無水マレイン酸共重合体等の合成高分子、カルボキシメチルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロース等のセルロース誘導体、キサンタンガム、ウェランガム、ジェランガム、グアーガム、カラギーナン等の天然多糖類、デキストリン、アルファー化でんぷん等のでんぷん類、モンモリロナイト、ヘクトライト等の粘土鉱物、ヒュームドシリカ、ヒュームドアルミナ、ヒュームドチタニア等の無機酸化物類等の増粘剤が含まれていてもよい。スラリーは、これらの物質から選択される1種類の物質を増粘剤として含んでいてもよく、2種類以上の物質を増粘剤として含んでいてもよい。   In the slurry, for example, polyethylene glycol, polyacrylic acid, polyvinyl alcohol, synthetic polymers such as vinyl methyl ether-maleic anhydride copolymer, cellulose derivatives such as carboxymethyl cellulose, hydroxyethyl cellulose, hydroxypropyl cellulose, xanthan gum , Natural polysaccharides such as welan gum, gellan gum, guar gum and carrageenan, starches such as dextrin and pregelatinized starch, clay minerals such as montmorillonite and hectorite, inorganic oxides such as fumed silica, fumed alumina and fumed titania Or the like. The slurry may contain one kind of substance selected from these substances as a thickener, and may contain two or more kinds of substances as a thickener.

絶縁体粒子を含むスラリーを活物質層上に塗布した後、スラリーを乾燥させて溶媒を除去することにより、活物質層上に絶縁層を形成することができる。   After applying the slurry containing the insulator particles on the active material layer, the slurry is dried to remove the solvent, whereby the insulating layer can be formed on the active material layer.

厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、絶縁体粒子の幾何平均径をD[μm]、絶縁体粒子に接触している活物質粒子の中心間距離をL[μm]としたときに、D/Lの値は190〜560ppmとする。ここで、活物質粒子の中心間距離Lの値は、以下の方法により算出される値である。まず、FE−SEMを用いて活物質層と絶縁層との境界部分の厚み方向の断面を観察し、縦300μm、横480μmの視野のSEM像を取得する。観察位置を変えて複数の視野のSEM像を取得した後、絶縁体粒子と接触している活物質粒子の中心を決定する。 The geometric average diameter of the insulator particles obtained by measuring in the cross section in the thickness direction is D i [μm], and the distance between the centers of the active material particles in contact with the insulator particles is L a [μm]. when the value of D i / L a is a 190~560Ppm. Here, the value of the center-to-center distance La of the active material particles is a value calculated by the following method. First, a cross section in the thickness direction of the boundary portion between the active material layer and the insulating layer is observed using FE-SEM, and an SEM image having a field of view of 300 μm in length and 480 μm in width is acquired. After acquiring the SEM images of a plurality of fields of view by changing the observation position, the center of the active material particles in contact with the insulator particles is determined.

活物質粒子の中心を決定するに当たっては、まず、活物質粒子の長径に相当する線分を設定する。具体的には、上記断面に現れた活物質粒子の輪郭のうち、最も距離の離れた2点を選択し、この2点を結ぶ線分を活物質粒子の長径に相当する線分とする。そして、このようにして得られた長径に相当する線分の中点を活物質粒子の中心とする。   In determining the center of the active material particles, first, a line segment corresponding to the major axis of the active material particles is set. Specifically, out of the outlines of the active material particles appearing in the cross section, two points that are the farthest away are selected, and a line segment connecting these two points is defined as a line segment corresponding to the major axis of the active material particles. And the midpoint of the line segment corresponding to the long diameter obtained in this way is set as the center of the active material particles.

絶縁体粒子に接する全ての活物質粒子について上述の方法により中心を決定した後、活物質粒子の中心から当該活物質粒子の隣の活物質粒子の中心までの距離を算出する。以上により得られた活物質粒子の中心間距離の幾何平均を、活物質粒子の中心間距離とする。   After determining the center of all active material particles in contact with the insulator particles by the above-described method, the distance from the center of the active material particle to the center of the active material particle adjacent to the active material particle is calculated. The geometric average of the distance between the centers of the active material particles obtained as described above is defined as the distance between the centers of the active material particles.

/Lの値が560ppmを超える場合には、活物質粒子の中心間距離に対して絶縁体粒子の粒子径が大きくなる。この場合には、活物質層上に絶縁体粒子を含むスラリーを塗布した際に、スラリー中の絶縁体粒子が活物質層の表面の凹部内に進入しにくくなるため、活物質層と絶縁層との間に比較的大きな空隙が形成されやすい。それ故、D/Lの値が560ppmを超える場合には、絶縁層が活物質層から剥離しやすくなるおそれがある。 When the value of D i / L a exceeds 560 ppm, the particle diameter of the insulator particles increases with respect to the distance between the centers of the active material particles. In this case, when the slurry containing the insulator particles is applied on the active material layer, the insulator particles in the slurry are less likely to enter the recesses on the surface of the active material layer. A relatively large gap is easily formed between the two. Therefore, when the value of D i / L a exceeds 560 ppm, the insulating layer may be easily peeled from the active material layer.

一方、D/Lの値が190ppm未満の場合には、活物質粒子の中心間距離に対して絶縁体粒子の粒子径が小さくなる。この場合には、活物質層上に絶縁体粒子を含むスラリーを塗布した際に、絶縁体粒子が活物質層の表面にとどまらず、活物質粒子同士の隙間を通って活物質層の内部まで進入しやすくなる。そして、活物質層の内部に進入した絶縁体粒子によって活物質層同士の隙間が塞がれ、電解質中のイオンの移動が妨げられるおそれがある。 On the other hand, when the value of D i / L a is less than 190 ppm, the particle diameter of the insulator particles is small with respect to the distance between the centers of the active material particles. In this case, when the slurry containing the insulator particles is applied onto the active material layer, the insulator particles do not stay on the surface of the active material layer, but pass through the gaps between the active material particles to the inside of the active material layer. It becomes easy to enter. In addition, the gap between the active material layers may be blocked by the insulating particles that have entered the inside of the active material layer, which may hinder the movement of ions in the electrolyte.

また、この場合には、絶縁体粒子の粒子径が小さいため、絶縁体の空隙率が小さくなりやすい。そのため、電解質が活物質層の内部へ浸入しにくくなる。これらの結果、D/Lの値が190ppm未満の場合には、活物質層における電極反応が妨げられ、蓄電装置の内部抵抗の増大を招くおそれがある。 In this case, since the particle diameter of the insulator particles is small, the porosity of the insulator tends to be small. Therefore, it becomes difficult for the electrolyte to enter the active material layer. As a result, when the value of D i / L a is less than 190 ppm, the electrode reaction in the active material layer is hindered, which may increase the internal resistance of the power storage device.

従って、D/Lの値を190〜560ppmとすることにより、絶縁体粒子が活物質層の内部へ進入することを抑制し、蓄電装置の内部抵抗の増大を回避しつつ、活物質層からの絶縁層の剥離を抑制する効果を得ることができる。 Therefore, by setting the value of D i / L a to 190 to 560 ppm, the active material layer is suppressed while preventing the insulator particles from entering the active material layer and avoiding an increase in the internal resistance of the power storage device. The effect which suppresses peeling of the insulating layer from can be acquired.

活物質層からの絶縁層の剥離をより効果的に抑制する観点からは、厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、活物質層内への絶縁体粒子の進入深さの最大値をt[μm]としたときに、t/Lの値が0.5〜1であることが好ましい。ここで、活物質層内への絶縁体粒子の進入深さの最大値は、以下の方法により測定される値である。 From the viewpoint of more effectively suppressing exfoliation of the insulating layer from the active material layer, the maximum value of the depth of penetration of the insulator particles into the active material layer obtained by measuring in the cross section in the thickness direction is set. when the t [μm], the value of t / L a is preferably a 0.5 to 1. Here, the maximum value of the penetration depth of the insulator particles into the active material layer is a value measured by the following method.

まず、FE−SEMを用いて活物質層の厚み方向の断面を観察し、縦300μm、横480μmの視野のSEM像を取得する。観察位置を変えて複数の視野のSEM像を取得した後、多数の絶縁体粒子が連なり、面として白く認識された深さの最大値を絶縁体粒子の進入深さの最大値とすることができる。   First, a cross section in the thickness direction of the active material layer is observed using FE-SEM, and an SEM image with a field of view of 300 μm in length and 480 μm in width is acquired. After acquiring SEM images of a plurality of fields of view by changing the observation position, a number of insulator particles are connected, and the maximum depth recognized as white as the surface may be set as the maximum value of the penetration depth of the insulator particles. it can.

(実施例1)
上記電極の実施例について、図を用いて説明する。図1及び図2に示すように、電極1は、金属からなる集電体2と、多数の活物質粒子31を含む多孔質体からなり、集電体2上に配置された活物質層3と、多数の絶縁体粒子41を含む多孔質体からなり、活物質層3の表面に露出した活物質粒子311を覆う絶縁層とを有している。また、厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、絶縁体粒子41の幾何平均径をD[μm]、絶縁体粒子41に接触している活物質粒子31の中心間距離をL[μm]としたときに、D/Lの値が190〜560ppmである。
Example 1
Examples of the electrodes will be described with reference to the drawings. As shown in FIGS. 1 and 2, the electrode 1 is composed of a current collector 2 made of metal and a porous body including a large number of active material particles 31, and an active material layer 3 disposed on the current collector 2. And an insulating layer that covers the active material particles 311 that are exposed on the surface of the active material layer 3. Also obtained by measuring in the cross section in the thickness direction, the geometric mean diameter of the insulator particles 41 D i [μm], the distance between the centers of the active material particles 31 in contact with the insulating particles 41 L a When [μm] is set, the value of D i / L a is 190 to 560 ppm.

本例の電極1における集電体2は、具体的には、厚み20μmの銅箔である。   The current collector 2 in the electrode 1 of this example is specifically a copper foil having a thickness of 20 μm.

図には示さないが、活物質層3は、集電体2の両面に設けられている。活物質層3は、活物質粒子31と、バインダとを含む多孔質体から構成されている。図1に示すように、活物質層3の表面には活物質粒子311が露出しており、これらの活物質粒子311によって、活物質層3の表面に凹凸が形成されている。本例の活物質粒子31、311は、具体的には、天然黒鉛から構成された体積平均粒径180μmの粒子である。なお、便宜上、図1においては、バインダの記載を省略した。   Although not shown in the drawing, the active material layer 3 is provided on both surfaces of the current collector 2. The active material layer 3 is composed of a porous body containing active material particles 31 and a binder. As shown in FIG. 1, active material particles 311 are exposed on the surface of the active material layer 3, and unevenness is formed on the surface of the active material layer 3 by these active material particles 311. Specifically, the active material particles 31 and 311 in this example are particles made of natural graphite and having a volume average particle size of 180 μm. For convenience, the binder is not shown in FIG.

図1及び図2に示すように、活物質層3の表面に露出した活物質粒子311は、絶縁層4により覆われている。絶縁層4は、図2に示すように、絶縁体粒子41と、バインダとを含む多孔質体から構成されている。本例の絶縁体粒子41は、具体的には、酸化アルミニウムから構成された体積平均粒径0.06μmの粒子である。なお、便宜上、図1においては、絶縁層4を簡略化して記載した。また、図2においては、バインダの記載を省略するとともに、絶縁体粒子41を簡略化して記載した。絶縁体粒子41は、実際には、例えば図3に示すような不定形粒子である。   As shown in FIGS. 1 and 2, the active material particles 311 exposed on the surface of the active material layer 3 are covered with an insulating layer 4. As shown in FIG. 2, the insulating layer 4 is composed of a porous body including insulating particles 41 and a binder. Specifically, the insulator particles 41 in this example are particles made of aluminum oxide and having a volume average particle size of 0.06 μm. For convenience, the insulating layer 4 is simplified in FIG. Moreover, in FIG. 2, while omitting the description of the binder, the insulator particles 41 are simplified. Insulator particles 41 are actually irregular particles as shown in FIG. 3, for example.

厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、絶縁体粒子41の幾何平均径をD[μm]、絶縁体粒子41に接触している活物質粒子31の中心間距離をL[μm]としたときに、D/Lの値は190〜560ppmである。 Di i [μm] is the geometric mean diameter of the insulator particles 41 obtained by measurement in the cross section in the thickness direction, and L a [μm] is the distance between the centers of the active material particles 31 in contact with the insulator particles 41. ], The value of D i / L a is 190 to 560 ppm.

絶縁体粒子41の幾何平均径D[μm]は、以下の方法により算出することができる。まず、FE−SEMを用いて絶縁層4の厚み方向の断面を観察し、縦0.200μm、横0.300μmの視野のSEM像を取得する。2mm間隔で断面観察を行い、18視野分のSEM像を取得した後、SEM像中に存在する個々の絶縁体粒子41の長径d(図3参照)を算出する。そして、絶縁体粒子41の長径dの幾何平均を、絶縁体粒子41の幾何平均径Dとする。本例の絶縁体粒子41の幾何平均径Dは、0.05μmである。 The geometric average diameter D i [μm] of the insulator particles 41 can be calculated by the following method. First, a cross section in the thickness direction of the insulating layer 4 is observed using an FE-SEM, and an SEM image having a field of view of 0.200 μm in length and 0.300 μm in width is acquired. Cross-sectional observation is performed at intervals of 2 mm, and SEM images for 18 fields of view are acquired, and then the major diameter d i (see FIG. 3) of each insulator particle 41 present in the SEM image is calculated. Then, the geometric mean of the major axis d i of the insulating particles 41, and the geometric mean diameter D i of the insulator particles 41. The geometric average diameter D i of the insulator particles 41 in this example is 0.05 μm.

また、絶縁体粒子41に接触している活物質粒子31の中心間距離L[μm]は、以下の方法により算出することができる。まず、FE−SEMを用いて活物質層3と絶縁層4との境界部分の厚み方向の断面を観察し、縦300μm、横480μmの視野のSEM像を取得する。2mm間隔で断面観察を行い、18視野分のSEM像を取得した後、絶縁体粒子41と接触している活物質粒子31の中心Cを決定する。 Further, the center-to-center distance L a [μm] of the active material particles 31 in contact with the insulator particles 41 can be calculated by the following method. First, a cross section in the thickness direction of the boundary portion between the active material layer 3 and the insulating layer 4 is observed using FE-SEM, and an SEM image having a field of view of 300 μm in length and 480 μm in width is acquired. After observing the cross section at intervals of 2 mm and acquiring SEM images for 18 visual fields, the center C of the active material particles 31 in contact with the insulator particles 41 is determined.

活物質粒子31の中心Cを決定するに当たっては、図4に示すように、上記断面に現れた活物質粒子31の輪郭のうち、最も距離の離れた2点P1、P2を決定する。この2点P1、P2を結ぶ線分L1の中点を、活物質粒子の中心Cとする。   In determining the center C of the active material particles 31, as shown in FIG. 4, two points P1 and P2 that are farthest apart from each other in the outline of the active material particles 31 appearing in the cross section are determined. The midpoint of the line segment L1 connecting the two points P1 and P2 is defined as the center C of the active material particles.

絶縁体粒子41に接する全ての活物質粒子31について上述の方法により中心Cを決定した後、活物質粒子31の中心Cから当該活物質粒子31の隣の活物質粒子31の中心Cまでの距離l(図4参照)を算出する。以上により得られた活物質粒子31の中心間距離lの幾何平均を、活物質粒子31の中心間距離Lとする。本例の活物質粒子31の中心間距離Lは、180μmである。 The distance from the center C of the active material particle 31 to the center C of the active material particle 31 adjacent to the active material particle 31 after determining the center C by the above method for all the active material particles 31 in contact with the insulator particles 41 l a (see FIG. 4) is calculated. The geometric mean of the center distance l a of the active material particles 31 obtained by the above, the center distance L a of the active material particles 31. Center distance L a of the active material particles 31 of the present example is 180 [mu] m.

また、図2に示すように、絶縁層4における一部の絶縁体粒子41は、活物質層3の表面に形成された凹部32に進入している。厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、活物質層3内への絶縁体粒子41の進入深さの最大値をt[μm]としたときに、t/Lの値は0.5〜1である。 Further, as shown in FIG. 2, some of the insulating particles 41 in the insulating layer 4 have entered the recesses 32 formed on the surface of the active material layer 3. Obtained by performing a measurement in the cross section in the thickness direction, the maximum value of the penetration depth of the insulating particles 41 to the active material layer 3 is taken as t [[mu] m], the value of t / L a 0. 5-1.

次に、本例の電極1の作用効果を説明する。電極1は、集電体2上に配置された活物質
層3と、活物質層3の表面に露出した活物質粒子311を覆う絶縁層4とを有している。また、厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、絶縁体粒子41の幾何平均径をD[μm]、絶縁体粒子41に接触している活物質粒子31の中心間距離をL[μm]としたときに、D/Lの値が190〜560ppmである。そのため、絶縁体粒子41を含むスラリーを活物質層3上に塗布した際に、スラリー中の絶縁体粒子41を活物質層3の表面の凹部32に進入させることができる。
Next, the effect of the electrode 1 of this example is demonstrated. The electrode 1 includes an active material layer 3 disposed on the current collector 2 and an insulating layer 4 that covers the active material particles 311 exposed on the surface of the active material layer 3. Also obtained by measuring in the cross section in the thickness direction, the geometric mean diameter of the insulator particles 41 D i [μm], the distance between the centers of the active material particles 31 in contact with the insulating particles 41 L a When [μm] is set, the value of D i / L a is 190 to 560 ppm. Therefore, when the slurry containing the insulator particles 41 is applied on the active material layer 3, the insulator particles 41 in the slurry can enter the recesses 32 on the surface of the active material layer 3.

そして、スラリーを乾燥させて溶媒を除去することにより、活物質層3の表面に露出した活物質粒子311に沿って絶縁体粒子41を配置し、これらの活物質粒子311を絶縁層4で被覆することができる。その結果、活物質層3と絶縁層4との隙間を小さくし、活物質層3からの絶縁層4の剥離を抑制することができる。   Then, by drying the slurry and removing the solvent, the insulator particles 41 are arranged along the active material particles 311 exposed on the surface of the active material layer 3, and these active material particles 311 are covered with the insulating layer 4. can do. As a result, the gap between the active material layer 3 and the insulating layer 4 can be reduced, and peeling of the insulating layer 4 from the active material layer 3 can be suppressed.

また、電極1は、上記特定の構造を有することによって、活物質層3からの絶縁層4の剥離を抑制することができるため、活物質層3からの絶縁層4の剥離を抑制する作用効果を得つつ、バインダの量を低減することができる。   Moreover, since the electrode 1 can suppress the peeling of the insulating layer 4 from the active material layer 3 by having the specific structure, the effect of suppressing the peeling of the insulating layer 4 from the active material layer 3 is achieved. Thus, the amount of binder can be reduced.

更に、D/Lの値が上記特定の範囲内であるため、絶縁体粒子41が活物質粒子31同士の隙間を通って活物質層3の内部へ進入することを抑制するとともに、絶縁層4の空隙率が小さくなることを抑制することができる。それ故、絶縁層4による電極反応の抑制を回避することができる。 Furthermore, since the value of D i / L a is within the specific range, the insulating particles 41 are prevented from entering the inside of the active material layer 3 through the gaps between the active material particles 31 and are insulated. It can suppress that the porosity of the layer 4 becomes small. Therefore, suppression of the electrode reaction by the insulating layer 4 can be avoided.

これらの結果、電極1は、活物質層3からの絶縁層4の剥離を抑制するとともに、蓄電装置の内部抵抗の増大を抑制することができる。   As a result, the electrode 1 can suppress peeling of the insulating layer 4 from the active material layer 3 and can suppress increase in internal resistance of the power storage device.

(実施例2)
本例は、電極を備えた蓄電装置5の例である。なお、本実施例以降において用いる符号のうち、既出の実施例において用いた符号と同一のものは、特に説明のない限り、既出の実施例における構成要素等と同様の構成要素を示す。本例の蓄電装置5は、例えば、リチウムイオン二次電池として構成することができる。
(Example 2)
This example is an example of the power storage device 5 including electrodes. Of the reference numerals used in and after the present embodiment, the same reference numerals as those used in the above-described embodiments indicate the same constituent elements as those in the above-described embodiments unless otherwise specified. The power storage device 5 of this example can be configured as, for example, a lithium ion secondary battery.

蓄電装置5は、図5及び図6に示すように、正極1pと負極1nとがセパレータ13を介して交互に積層された電極組立体11を有している。正極1pと負極1nとの間には、液状またはゲル状の電解質14が介在している。本例の負極1nは、実施例1の電極1と同様の構成を有している。   As shown in FIGS. 5 and 6, the power storage device 5 includes an electrode assembly 11 in which positive electrodes 1 p and negative electrodes 1 n are alternately stacked with separators 13 interposed therebetween. A liquid or gel electrolyte 14 is interposed between the positive electrode 1p and the negative electrode 1n. The negative electrode 1n of this example has the same configuration as that of the electrode 1 of Example 1.

図6に示すように、正極1pは、長方形状を呈する正極集電体と、正極集電体の両面に設けられた正極活物質層3pと、正極集電体の一方の長辺から突出した正極タブ12pとを有している。正極集電体及び正極活物質層3pは、袋状に形成されたセパレータ13内に収容されている。正極タブ12pは、各正極1pにおいて、同一の位置に設けられている。   As shown in FIG. 6, the positive electrode 1p protrudes from one long side of the positive electrode current collector having a rectangular shape, the positive electrode active material layer 3p provided on both surfaces of the positive electrode current collector, and the positive electrode current collector. And a positive electrode tab 12p. The positive electrode current collector and the positive electrode active material layer 3p are accommodated in a separator 13 formed in a bag shape. The positive electrode tab 12p is provided at the same position in each positive electrode 1p.

負極1nは、長方形状を呈する負極集電体と、負極集電体の両面に設けられた負極活物質層と、負極活物質層上に設けられた絶縁層4と、負極集電体の一方の長辺から突出した負極タブ12nとを有している。負極タブ12nは、各負極1nにおいて、同一の位置に設けられている。また、負極タブ12nは、電極組立体11において、正極タブ12pから離間する位置に設けられている。   The negative electrode 1n includes a rectangular negative electrode current collector, a negative electrode active material layer provided on both sides of the negative electrode current collector, an insulating layer 4 provided on the negative electrode active material layer, and one of the negative electrode current collectors Negative electrode tab 12n protruding from the long side. The negative electrode tab 12n is provided at the same position in each negative electrode 1n. The negative electrode tab 12n is provided in the electrode assembly 11 at a position spaced from the positive electrode tab 12p.

図には示さないが、負極活物質層及び絶縁層4は、実施例1と同様の構成を有している。即ち、負極活物質層の表面に露出した負極活物質粒子は、絶縁層4により覆われている。また、厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、絶縁体粒子の幾何平均径をD[μm]、絶縁体粒子に接触している負極活物質粒子の中心間距離をL[μm]としたときに、D/Lの値が190〜560ppmである。 Although not shown in the drawing, the negative electrode active material layer and the insulating layer 4 have the same configuration as in Example 1. That is, the negative electrode active material particles exposed on the surface of the negative electrode active material layer are covered with the insulating layer 4. In addition, the geometric average diameter of the insulator particles obtained by measuring in the cross section in the thickness direction is D i [μm], and the distance between centers of the negative electrode active material particles in contact with the insulator particles is L a [μm. when a], the value of D i / L a is 190~560Ppm.

セパレータ13に収容された正極1pと負極1nとを交互に積層するにより、電極組立体11を得ることができる。電極組立体11においては、正極活物質層3pと負極活物質層とがセパレータ13を介して対面している。また、電極組立体11における複数の正極タブ12pは、互いに重ね合わされた状態で溶接されている。これらの正極タブ12pは、通電部材532pを介して正極端子531p(後述)に電気的に接続されている。また、電極組立体11における複数の負極タブ12nは、互いに重ね合わされた状態で溶接されている。これらの負極タブ12nは、通電部材532nを介して負極端子531n(後述)に電気的に接続されている。   By alternately laminating the positive electrode 1p and the negative electrode 1n accommodated in the separator 13, the electrode assembly 11 can be obtained. In the electrode assembly 11, the positive electrode active material layer 3 p and the negative electrode active material layer face each other through the separator 13. Moreover, the some positive electrode tab 12p in the electrode assembly 11 is welded in the state piled up mutually. These positive electrode tabs 12p are electrically connected to a positive electrode terminal 531p (described later) through a current-carrying member 532p. Further, the plurality of negative electrode tabs 12n in the electrode assembly 11 are welded in a state of being overlapped with each other. These negative electrode tabs 12n are electrically connected to negative electrode terminals 531n (described later) through current-carrying members 532n.

電極組立体11は、開口を有する箱状のケース51内に収容されている。また、ケース内には、電極組立体11とともに、液状またはゲル状の電解質14が収容されている。ケース51と電極組立体11との間には、絶縁性の樹脂シート52が介在している。また、ケース51の開口は、正極端子531p及び負極端子531nを備えた蓋部53により閉鎖されている。正極端子531pは、ケース51の内部において、通電部材532pを介して正極タブ12pに電気的に接続されている。同様に、負極端子531nは、ケース51の内部において、通電部材532nを介して負極タブ12nに電気的に接続されている。   The electrode assembly 11 is accommodated in a box-shaped case 51 having an opening. In addition, a liquid or gel electrolyte 14 is accommodated in the case together with the electrode assembly 11. An insulating resin sheet 52 is interposed between the case 51 and the electrode assembly 11. Further, the opening of the case 51 is closed by a lid portion 53 provided with a positive terminal 531p and a negative terminal 531n. The positive electrode terminal 531p is electrically connected to the positive electrode tab 12p through the energizing member 532p inside the case 51. Similarly, the negative electrode terminal 531n is electrically connected to the negative electrode tab 12n through the energizing member 532n inside the case 51.

本例の蓄電装置5は、負極活物質層と、負極活物質層上に設けられ、負極活物質層の表面に露出した負極活物質粒子を被覆する絶縁層4とを備え、D/Lの値が190〜560ppmである負極1nを有している。それ故、負極活物質層からの絶縁層4の剥離を抑制することができるとともに、蓄電装置5の内部抵抗の増大を抑制することができる。 The power storage device 5 of this example includes a negative electrode active material layer, and an insulating layer 4 provided on the negative electrode active material layer and covering the negative electrode active material particles exposed on the surface of the negative electrode active material layer, and D i / L It has the negative electrode 1n whose value of a is 190-560 ppm. Therefore, peeling of the insulating layer 4 from the negative electrode active material layer can be suppressed, and an increase in internal resistance of the power storage device 5 can be suppressed.

(実験例)
本例は、絶縁体粒子の幾何平均径D[μm]と、絶縁体粒子に接触している活物質粒子の中心間距離L[μm]との比であるD/Lの値を種々変更したときの、絶縁体粒子を含むスラリーの浸透しやすさ及び絶縁層の剥離しやすさを評価した例である。
(Experimental example)
In this example, the value of D i / L a which is the ratio of the geometric average diameter D i [μm] of the insulator particles to the center-to-center distance L a [μm] of the active material particles in contact with the insulator particles. It is the example which evaluated the ease of osmosis | permeation of the slurry containing an insulator particle and the ease of exfoliation of an insulating layer when changing variously.

本例においては、まず、負極を模擬したテストピースを準備した。本例のテストピースは、一辺30mmの正方形状を呈する銅箔と、銅箔の片面上に配置された負極活物質層とを有している。負極活物質層は、天然黒鉛から構成され、幾何平均径が150μmである負極活物質粒子100質量部と、バインダ2質量部とを含む多孔質体から構成されている。   In this example, first, a test piece simulating a negative electrode was prepared. The test piece of this example includes a copper foil having a square shape with a side of 30 mm, and a negative electrode active material layer disposed on one surface of the copper foil. The negative electrode active material layer is made of natural graphite, and is made of a porous body containing 100 parts by weight of negative electrode active material particles having a geometric average diameter of 150 μm and 2 parts by weight of a binder.

このテストピースとは別に、絶縁体粒子と、バインダとを含むスラリーを準備した。絶縁体粒子としては、表1に示す幾何平均径を有する酸化アルミニウム粒子を使用した。   Separately from this test piece, a slurry containing insulator particles and a binder was prepared. As the insulator particles, aluminum oxide particles having a geometric average diameter shown in Table 1 were used.

80℃に設定したホットプレート上にテストピースを載置し、温度が安定するまでテストピースを静置した。テストピースの温度が安定した状態において、絶縁体粒子を含むスラリー約0.05mLをテストピースの負極活物質層上に滴下し、スラリーの液滴の広がり方を目視観察した。この液滴の広がり方に基づいて、スラリーの浸透しやすさを評価した。   The test piece was placed on a hot plate set at 80 ° C., and the test piece was allowed to stand until the temperature was stabilized. In a state where the temperature of the test piece was stable, about 0.05 mL of the slurry containing the insulator particles was dropped on the negative electrode active material layer of the test piece, and how the slurry droplet spread was visually observed. The ease of penetration of the slurry was evaluated based on how the droplets spread.

スラリーを負極活物質層上に滴下した後に、スラリーの液滴が滴下直後から広がらなかった場合には、表1の「スラリーの浸透性」欄に記号Aを記載し、スラリーの液滴が滴下直後から広がった場合には、同欄に記号Bを記載した。スラリーの浸透しやすさの評価においては、スラリーの液滴が滴下直後から広がらなかった記号Aの場合を、スラリーが負極活物質層の表面に留まっているため合格と判断した。また、スラリーの液滴が滴下直後から広がった記号Bの場合を、スラリーの浸透性が過度に高く、負極活物質層の内部まで進入したため不合格と判断した。   After the slurry is dropped on the negative electrode active material layer, if the slurry droplet does not spread immediately after dropping, the symbol A is written in the “Slurry permeability” column of Table 1, and the slurry droplet is dropped. In the case of spreading immediately after, the symbol B is described in the same column. In the evaluation of the ease of penetration of the slurry, the case of symbol A in which the slurry droplets did not spread immediately after dropping was judged as acceptable because the slurry remained on the surface of the negative electrode active material layer. Further, in the case of the symbol B in which the slurry droplets spread immediately after the dropping, the permeability of the slurry was excessively high, and it was judged as rejected because it entered the inside of the negative electrode active material layer.

また、スラリーの滴下後、テストピースをホットプレート上に15分間静置し、スラリーを乾燥させて絶縁層を形成した。このテストピースを負極活物質層と鉛直面とが平行になるように立て、絶縁層の剥離の有無を目視観察した。   Further, after dropping the slurry, the test piece was left on a hot plate for 15 minutes, and the slurry was dried to form an insulating layer. The test piece was placed so that the negative electrode active material layer and the vertical plane were parallel, and the presence or absence of peeling of the insulating layer was visually observed.

テストピースを立てた際に、絶縁層が負極活物質層から剥離しなかった場合には、表1の「絶縁層の剥離しやすさ」の欄に記号Aを記載し、絶縁層の少なくとも一部が負極活物質層から剥離した場合には、同欄に記号Bを記載した。絶縁層の剥離しやすさの評価においては、絶縁層が負極活物質層から剥離しなかった記号Aの場合を、絶縁層の剥離を抑制できるため合格と判断した。また、絶縁層が負極活物質層から剥離した記号Bの場合を、絶縁層の剥離を抑制する効果が低いため不合格と判断した。   When the test piece is erected, if the insulating layer does not peel from the negative electrode active material layer, the symbol A is entered in the column “Ease of peeling of insulating layer” in Table 1, and at least one of the insulating layers. When the part peeled from the negative electrode active material layer, the symbol B was written in the same column. In the evaluation of the ease of peeling of the insulating layer, the case of symbol A where the insulating layer did not peel from the negative electrode active material layer was judged as acceptable because the peeling of the insulating layer could be suppressed. Moreover, since the effect which suppresses peeling of an insulating layer was low, the case of the symbol B which the insulating layer peeled from the negative electrode active material layer was judged to be disqualified.

表1に示したように、D/Lの値が190ppm以上の場合には、負極活物質層への滴下後にスラリーがほとんど広がらなかった。その一例として、図7に、D/Lの値が288ppmである場合の液滴の形状を示す。D/Lの値が190ppm以上の場合には、図7に示すように、上面視における液滴の輪郭が略円形を呈し、滴下直後の液滴形状が維持された。 As shown in Table 1, when the value of D i / L a is greater than or equal 190ppm, the slurry was little spread after instillation in the negative electrode active material layer. As an example, FIG. 7 shows the shape of a droplet when the value of D i / L a is 288 ppm. When the value of D i / L a was 190 ppm or more, as shown in FIG. 7, the outline of the liquid droplet in a top view was substantially circular, and the liquid droplet shape immediately after the liquid droplet was maintained.

一方、D/Lの値がD/Lの値が190ppm未満の場合には、スラリーが負極活物質層へ浸透しやすくなり、負極活物質層への滴下後にスラリーが広がった。その一例として、図8に、D/Lの値が57ppmである場合の液滴の形状を示す。D/Lの値が190ppm未満の場合には、図8に示すように、スラリーの液滴が不均一に広がったため、上面視における液滴の輪郭に凹凸が生じた。 On the other hand, the values of D i / L a is D i / L a is in the case of less than 190ppm, the slurry tends to penetrate into the negative electrode active material layer, the slurry is spread after instillation in the negative electrode active material layer. As an example, FIG. 8 shows the shape of a droplet when the value of D i / L a is 57 ppm. When the value of D i / L a was less than 190 ppm, as shown in FIG. 8, the slurry droplets spread non-uniformly, so that the contour of the droplets in the top view was uneven.

また、D/Lの値が560ppm以下の場合には、テストピースを立てた際に、負極活物質層からの絶縁層の剥離は起こらなかった。その一例として、図9に、D/Lの値が288ppmである場合のテストピースを示す。D/Lの値が560ppm以下の場合には、図9に示すように、上面視において略円形を呈する絶縁層が負極活物質層上に保持されていた。 Further, the value of D i / L a is when: 560ppm, when made a test piece, peeling of the insulating layer from the negative electrode active material layer did not occur. As an example, FIG. 9 shows a test piece when the value of D i / L a is 288 ppm. When the value of D i / L a was 560 ppm or less, as shown in FIG. 9, the insulating layer having a substantially circular shape when viewed from above was held on the negative electrode active material layer.

一方、D/Lの値が560ppmを超えた場合には、負極活物質層と絶縁層との間に比較的大きな隙間が形成されたため、テストピースを立てた際に、負極活物質層から絶縁層の少なくとも一部が剥離した。その一例として、図10に、D/Lの値が637ppmである場合のテストピースを示す。図10に示すように、D/Lの値が637ppmである場合には、負極活物質層から絶縁層全体が剥離した。また、図には示さないが、D/Lの値が751ppmの場合には、負極活物質層から絶縁層の一部が剥離した。更に、この場合には、絶縁層の剥離に伴って、負極活物質層の一部が集電体から剥離した。 On the other hand, when the value of D i / L a exceeds 560ppm, since a relatively large gap between the anode active material layer and the insulating layer is formed, when made a test piece, the anode active material layer At least part of the insulating layer was peeled off. As an example, FIG. 10 shows a test piece in case the value of D i / L a is 637Ppm. As shown in FIG. 10, when the value of D i / L a was 637 ppm, the entire insulating layer was peeled from the negative electrode active material layer. Although not shown in the figure, the value of D i / L a is in the case of 751ppm, a part from the anode active material layer of the insulating layer is peeled off. Further, in this case, part of the negative electrode active material layer was peeled off from the current collector as the insulating layer was peeled off.

これらの結果から、D/Lの値を上記特定の範囲内とすることにより、活物質層の内部へのスラリーの進入を抑制しつつ、活物質層からの絶縁層の剥離を抑制できることが理解できる。 From these results, it is possible to suppress the exfoliation of the insulating layer from the active material layer while suppressing the entry of the slurry into the active material layer by setting the value of D i / L a within the above specific range. Can understand.

1 電極
2 集電体
3 活物質層
31、311 活物質粒子
4 絶縁層
41 絶縁体粒子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electrode 2 Current collector 3 Active material layer 31, 311 Active material particle 4 Insulating layer 41 Insulator particle

Claims (5)

金属からなる集電体と、
多数の活物質粒子を含む多孔質体からなり、上記集電体上に配置された活物質層と、
多数の絶縁体粒子を含む多孔質体からなり、上記活物質層の表面に露出した上記活物質粒子を覆う絶縁層とを有し、
厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、上記絶縁体粒子の幾何平均径をD[μm]、上記絶縁体粒子に接触している上記活物質粒子の中心間距離をL[μm]としたときに、D/Lの値が190〜560ppmである、電極。
A current collector made of metal;
An active material layer comprising a porous body containing a large number of active material particles, and disposed on the current collector;
An insulating layer covering the active material particles exposed on the surface of the active material layer, comprising a porous body containing a large number of insulator particles;
Di i [μm] is the geometric mean diameter of the insulator particles obtained by measuring in the cross section in the thickness direction, and L a [μm] is the distance between the centers of the active material particles in contact with the insulator particles. when a], the value of D i / L a is 190~560Ppm, electrode.
上記活物質粒子の幾何平均径は、100〜210μmである、請求項1に記載の電極。   The electrode according to claim 1, wherein a geometric average diameter of the active material particles is 100 to 210 μm. 上記絶縁体粒子の幾何平均径は、0.020〜0.110μmである、請求項1または2に記載の電極。   The electrode according to claim 1 or 2, wherein a geometric average diameter of the insulator particles is 0.020 to 0.110 µm. 厚み方向の断面において測定を行うことにより得られる、上記活物質層内への上記絶縁体粒子の進入深さの最大値をt[μm]としたときに、t/Lの値が0.5〜1である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の電極。 Obtained by performing a measurement in the thickness direction of the cross section, the maximum penetration depth of the insulation particles to said active material layer is taken as t [[mu] m], the value of t / L a is 0. The electrode according to any one of claims 1 to 3, wherein the electrode is 5-1. 正極と負極とがセパレータを介して交互に積層された電極組立体と、
上記正極と上記負極との間に介在する液状またはゲル状の電解質とを有し、
上記正極及び上記負極のうち少なくとも一方の電極は請求項1〜4のいずれか1項に記載の電極である、蓄電装置。
An electrode assembly in which positive and negative electrodes are alternately stacked via separators;
A liquid or gel electrolyte interposed between the positive electrode and the negative electrode;
5. The power storage device, wherein at least one of the positive electrode and the negative electrode is the electrode according to claim 1.
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