JP2005275199A - 3次元共焦点顕微鏡システム - Google Patents
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Abstract
【課題】 試料の深さによる画像の明るさの変化を補正し、深さ方向に対しても像の明るさを均一にする3次元共焦点顕微鏡システムを実現する。
【解決手段】 共焦点スキャナから出力された試料のスライス画像の撮像データに基づいて画像処理を行い前記試料の3次元画像を得る3次元共焦点顕微鏡システムであって、
前記試料の深さに基づき前記スライス画像の明るさを補正する補正手段を有する構成とする。
【選択図】 図1
【解決手段】 共焦点スキャナから出力された試料のスライス画像の撮像データに基づいて画像処理を行い前記試料の3次元画像を得る3次元共焦点顕微鏡システムであって、
前記試料の深さに基づき前記スライス画像の明るさを補正する補正手段を有する構成とする。
【選択図】 図1
Description
本発明は、3次元共焦点顕微鏡システムに関し、詳しくは、共焦点画像における試料の深さ方向の明るさの補正を行い、正確な明るさで試料の3次元観察を行うための改良に関するものである。
共焦点顕微鏡は、試料を薄切片にすることなくスライス画像が得られ、そのスライス画像から試料の正確な3次元立体像を構築できるので、生物やバイオテクノロジーなどの分野における生きた細胞の生理反応観察や形態観察あるいは半導体市場におけるLSIの表面観察などに使用されている(例えば、特許文献1参照)。
図4は特許文献1に記載の共焦点顕微鏡の構成図である。ビデオカメラ1、共焦点スキャナ2、顕微鏡3、アクチュエータ4および対物レンズ5は、同じ光軸上に配置されている。共焦点スキャナ2は、多数のピンホールを持つニポウディスクと、それに対応するマイクロレンズアレイを有するもので、シンプルな光学系から成るニポウディスク方式を採用したコンパクトなアドオンタイプである。
この共焦点スキャナ2は顕微鏡3のカメラポートに取り付けられる。共焦点顕微鏡は、レーザ光を使用して、対物レンズ5、アクチュエータ4および顕微鏡3を経由して、試料の像を共焦点スキャナ2に入力する。共焦点スキャナ2は、試料の共焦点画像を得て、ビデオカメラ1に入力する。
図5は、図4の共焦点顕微鏡が取り扱う各種信号のタイムチャートである。ビデオカメラ1は、共焦点画像をビデオ信号101に変換し、共焦点スキャナ2、同期インターフェイスボックス9の信号入力端子および画像処理装置6の画像入力端子にビデオ信号101を入力する。共焦点スキャナ2は、ビデオ信号101に同期して、ニポウディスクの回転同期制御を行う。
同期インターフェイスボックス9は、ビデオ信号101の偶数側パルス列または奇数側パルス列の何れか一方を抽出し、内部A信号を作成する。任意波形発生器7は、Hレベルのパルス信号であるトリガ信号102を発生し、同期インターフェイスボックス9のトリガ入力端子に入力して、焦点面の走査の開始タイミングに利用する。
同期インターフェイスボックス9は、トリガ信号102の立下りに同期して、内部B信号を作成する。内部B信号は、Hレベルのパルス幅時間が35msec程度であり、ビデオカメラ1のビデオレートの時間に比して若干長いパルス信号である。同期インターフェイスボックス9は、内部A信号の反転信号と内部B信号とを論理積演算することにより、開始信号103を発生し、画像処理装置6および任意波形発生器7の同期入力端子に入力する。
画像処理装置6は、同期入力端子からの開始信号103の立上りに同期して、ビデオ信号101を画像データに変換し記録するキャプチャを開始する。同期インターフェイスボックス9は、信号入力端子からのビデオ信号101に基づいて、共焦点スキャナ2によるニポウディスクの回転同期制御、画像処理装置6によるビデオ信号の取得の開始タイミング、および光学制御系による対物レンズの焦点位置の走査開始のタイミングを全て同期させる。
任意波形発生器7は、開始信号103の立上りに同期して、光学制御系による対物レンズ5の焦点位置の走査を開始する。任意波形発生器7は、走査信号104を発生し、コントローラ8に入力する。走査信号104は、LレベルからHレベルまで一定時間で直線的に増加するノコギリ波状の信号である。コントローラ8は、走査信号104をアクチュエータ4に入力する。アクチュエータ信号105は実際のアクチュエータの位置信号であり、伸びきってから一気に原点に戻ったあとにオーバーシュートがあり、この間は不感帯となる。
アクチュエータ4は、顕微鏡3の対物レンズレボルバーと対物レンズ5との間に取り付けられ、ピエゾ駆動により走査信号104のレベルに比例して画像の焦点方向の長さが変化し、対物レンズ5の焦点位置を制御する。共焦点顕微鏡は、走査信号104に基づいて、焦点面を走査することにより、試料のスライス画像を取得する。
このような構成によれば、ニポウディスクの回転同期制御、画像処理装置によるビデオ信号の取得の開始タイミングおよび光学制御系によるレンズの焦点位置の走査開始のタイミングが、すべてビデオ信号に同期することにより、共焦点画像の位置精度が向上し、複数のスライス画像を取得する際に個々の取得時間のバラツキがなくなるので、信頼性の高いスライス画像が得られる。
上述した3次元共焦点顕微鏡システムで物体を観察した場合、物体の明るさが均一であっても、その撮像結果は明るさが不均一な画像として得られる現象が発生する。このような現象の原因の一つとしてシェーディングがある。シェーディングとは、ビデオカメラをはじめとする撮像光学系の特性によって、画像の中心では光量が多く、周辺では少なくなることにより、明るさが均一の物体を観察した場合でも、画像の中心は明るく、周辺は暗くなる現象である。
図6は、シェーディングを説明する説明図である。
図6(a)は、共焦点顕微鏡により撮像されたスライス画像の一例である。
図6(a)に示すように、被写体の明るさが均一であっても撮像した結果は、中心部と周辺部とでは明るさの分布に不均一性があらわれる。図6(b)は、図6(a)の実線で示した位置(断面位置)における像の明るさの分布を示したものである。縦軸に像の明るさ、横軸に像高(画面中心からの距離)を示している。像高0(図6(a)における一点鎖線と実線が交差する部分。)がスライス画像の中心部である。この中心から離れるに従い画像の明るさが減衰していく。通常、このようなシェーディングによる問題を解決するために、シェーディング補正処理を行う。
図6(a)は、共焦点顕微鏡により撮像されたスライス画像の一例である。
図6(a)に示すように、被写体の明るさが均一であっても撮像した結果は、中心部と周辺部とでは明るさの分布に不均一性があらわれる。図6(b)は、図6(a)の実線で示した位置(断面位置)における像の明るさの分布を示したものである。縦軸に像の明るさ、横軸に像高(画面中心からの距離)を示している。像高0(図6(a)における一点鎖線と実線が交差する部分。)がスライス画像の中心部である。この中心から離れるに従い画像の明るさが減衰していく。通常、このようなシェーディングによる問題を解決するために、シェーディング補正処理を行う。
図7はシェーディング補正処理を説明する説明図である。
図7に示すように、シェーディング補正とは、予め明るさが均一の試料を撮影して得られた図7(a)に示した画像の明るさ分布(像高と明るさの関数)と、図7(b)に示す図7(a)の逆数の関係にあたる補正関数を求め、その補正関数を実際の観察対象を観察して得られた画像の明るさと乗算することである。これにより、図7(c)に示した様に像高の明るさの分布が均一となる。
図7に示すように、シェーディング補正とは、予め明るさが均一の試料を撮影して得られた図7(a)に示した画像の明るさ分布(像高と明るさの関数)と、図7(b)に示す図7(a)の逆数の関係にあたる補正関数を求め、その補正関数を実際の観察対象を観察して得られた画像の明るさと乗算することである。これにより、図7(c)に示した様に像高の明るさの分布が均一となる。
しかしながら、従来の3次元共焦点顕微鏡システムにおいて、均一な明るさの物体を撮像した場合に、上述のシェーディングだけでなく、撮像結果に明るさの不均一性が生じることがある。これは、共焦点顕微鏡は、所定の波長のレーザ(励起光)を観察する試料に照射してその蛍光波長により、試料の観察を行う蛍光顕微鏡であるため、この蛍光顕微鏡を用いて試料を観察したとき、試料に深さ(光軸方向の距離)があると、励起光がその深い場所に到達した時、励起光の強度が減少し、それによって励起される蛍光の明るさが試料表面に比べて弱くなる。さらに、試料の深い場所から発した蛍光は表面に達した時にはその明るさも減少している。
このように、深さのある試料を観察した時、深い場所にある蛍光が本来の明るさより弱くなってしまい、本来均一の明るさをもつ試料でもその深さによって、観察される蛍光像の明るさに差が現れ、試料の識別を困難にしてしまうという問題があった。
従来行われてきたシェーディング補正は、全て平面で行うものであって、試料の深さ方向について像の明るさを補正をする手段は無かった。
従来行われてきたシェーディング補正は、全て平面で行うものであって、試料の深さ方向について像の明るさを補正をする手段は無かった。
本発明は、このような従来の共焦点顕微鏡システムが有していた問題を解決しようとするものであり、試料の深さによる画像の明るさの変化を補正し、深さ方向に対しても像の明るさを均一にする3次元共焦点顕微鏡システムを実現することを目的とする。
本発明は次の通りの構成になった3次元共焦点顕微鏡システムである。
(1)共焦点スキャナから出力された試料のスライス画像の撮像データに基づいて画像処理を行い前記試料の3次元画像を得る3次元共焦点顕微鏡システムであって、
前記試料の深さに基づき前記スライス画像の明るさを補正する補正手段を有することを特徴とする3次元共焦点顕微鏡システム。
前記試料の深さに基づき前記スライス画像の明るさを補正する補正手段を有することを特徴とする3次元共焦点顕微鏡システム。
(2)前記補正手段は、前記試料の深さと前記スライス画像の明るさを補正する補正係数との関係を示す補正関数に基づき、前記スライス画像の明るさを補正することを特徴とする(1)に記載の3次元共焦点顕微鏡システム。
(3)前記補正関数は、基準となる試料の深さとこの試料のスライス画像の明るさとの関係を示す関数の逆数であることを特徴とする(2)に記載の3次元共焦点顕微鏡システム。
(4)前記基準となる試料は、蛍光ビーズであることを特徴とする(3)に記載の3次元共焦点顕微鏡システム。
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項1乃至請求項3に記載の発明によれば、試料の深さによる画像の明るさの変化を補正し、深さ方向に対しても像の明るさを均一にする3次元共焦点顕微鏡システムを実現することができる。
つまり、明るさ補正を行うことにより、試料本来の明るさに近い3次元像が得られると共に、明るさの不正確さを起因とする色の識別への影響を排除できるので分光による試料の識別が正確になる。
つまり、明るさ補正を行うことにより、試料本来の明るさに近い3次元像が得られると共に、明るさの不正確さを起因とする色の識別への影響を排除できるので分光による試料の識別が正確になる。
請求項4に記載の発明によれば、蛍光ビーズを用いることにより、基準となる試料の深さ対明るさのデータを得ることができる
以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。図1は本発明に係る3次元共焦点顕微鏡システムの一実施例を示す構成図である。なお、図1において図4と同等部分には同一符号を付し、その説明は省略する。
図1において、10は信号制御器、11は波形計算装置、12はアクチュエータドライバ、20は試料である。
信号制御器10は、ビデオカメラ(以下単にカメラという)1から出力されるビデオ信号を受けて、そのビデオ信号をそのまま出力すると共に、ビデオ信号から垂直同期信号を抽出しこれを基に各種のトリガ信号を生成する。
任意波形発生器7は、信号制御器10からの走査波形発生トリガ信号を受信すると、あらかじめ波形計算装置11から送られ記憶した走査波形を発生して、アクチュエータドライバ12へ送る。
信号制御器10は、ビデオカメラ(以下単にカメラという)1から出力されるビデオ信号を受けて、そのビデオ信号をそのまま出力すると共に、ビデオ信号から垂直同期信号を抽出しこれを基に各種のトリガ信号を生成する。
任意波形発生器7は、信号制御器10からの走査波形発生トリガ信号を受信すると、あらかじめ波形計算装置11から送られ記憶した走査波形を発生して、アクチュエータドライバ12へ送る。
波形計算装置11は、試料20を観察する際の対物レンズ5の走査周期と光軸方向の走査距離から、三角波(直線的に増加して元のレベルに戻る波形)やステップ波(段階的に増加して元のレベルにもどる波形)を計算によって求め、それを走査波形として任意波形発生器7に出力する。
アクチュエータドライバ12は、任意波形発生器7から出力される走査波形信号に基づいて、アクチュエータ4を駆動するための駆動信号を発生する。
アクチュエータドライバ12は、任意波形発生器7から出力される走査波形信号に基づいて、アクチュエータ4を駆動するための駆動信号を発生する。
詳細な動作は、以下の通りである。
カメラ1から制御信号器10にビデオ信号(垂直同期信号が含まれる)が送られると、信号制御器10では、そのビデオ信号をそのまま画像処理装置6aへ送ると同時に、ビデオ信号から垂直同期信号を抽出して、共焦点スキャナ2へ同期信号を送ると共に、各種トリガ信号すなわち走査波形発生トリガ信号、画像取込トリガ信号を生成する。
カメラ1から制御信号器10にビデオ信号(垂直同期信号が含まれる)が送られると、信号制御器10では、そのビデオ信号をそのまま画像処理装置6aへ送ると同時に、ビデオ信号から垂直同期信号を抽出して、共焦点スキャナ2へ同期信号を送ると共に、各種トリガ信号すなわち走査波形発生トリガ信号、画像取込トリガ信号を生成する。
信号制御器10では、画像取込スタート信号を受信すると、画像取込スタート信号がLOWになった後の最初の垂直同期信号を走査波形発生トリガ信号として任意波形発生器7へ送ると共に、垂直同期信号を画像取込トリガ信号として画像処理装置6aへ送る。なお、画像取込スタート信号は、操作者が上位コントローラ例えばパーソナルコンピュータ(以下、PCという。)から、任意のタイミングに信号制御器に入力する信号であり、そのパルス幅はビデオ信号の垂直同期信号の周期の2倍以上である。
任意波形発生器7では、信号制御器10から走査波形発生トリガ信号を受信すると、あらかじめ波形計算装置11から入力され記憶してある走査波形を発生し、これをアクチュエータドライバ12に送る。
アクチュエータ4はアクチュエータドライバ12からの駆動信号によって駆動され、走査波形に従って対物レンズ5を光軸方向に走査する。画像処理装置6aでは、これに同期して試料20のスライス画像を取得する。
なお、画像処理装置6aおよび波形計算装置11は例えばPCにより構成される。
なお、画像処理装置6aおよび波形計算装置11は例えばPCにより構成される。
本発明では、画像処理装置6aに試料の深さにおける明るさを補正する補正手段61を追加している。このことを以下に説明する。
予め、標準試料として蛍光ビーズを用い、異なる深さにおける複数枚の共焦点スライス画像を撮影する。そして、試料の深さと像の明るさの関係を求める。明るさは、蛍光が発している画像領域の光強度の平均値または最大値とすることができる。
そして、求めた試料の深さと画像の明るさの関係から、試料の深さを変数とする明るさの補正係数の補正関数を作成する。補正関数は、試料の深さと明るさの関係の逆数に相当する。この補正関数から補正係数を求め実際のスライス画像の明るさに乗じることにより一定の明るさに補正される。
予め、標準試料として蛍光ビーズを用い、異なる深さにおける複数枚の共焦点スライス画像を撮影する。そして、試料の深さと像の明るさの関係を求める。明るさは、蛍光が発している画像領域の光強度の平均値または最大値とすることができる。
そして、求めた試料の深さと画像の明るさの関係から、試料の深さを変数とする明るさの補正係数の補正関数を作成する。補正関数は、試料の深さと明るさの関係の逆数に相当する。この補正関数から補正係数を求め実際のスライス画像の明るさに乗じることにより一定の明るさに補正される。
図2は、試料の深さ対する明るさの関係について説明する説明図である。
図2(a)において、蛍光ビーズ21は、ガラスベース22とカバーガラス23の間で培養液24に浸されている。この様に構成された試料に対して励起光25(太線矢印)が共焦点顕微鏡(図示せず)より照射される。この励起光25が蛍光ビーズ21に当たることで蛍光ビーズ21から蛍光26(細線矢印)が発生し、共焦点顕微鏡に取り付けられたカメラで撮像される。蛍光ビーズ21は、直径数十nmから数百μmの高精度の球体であり、この蛍光ビーズ21のスライス画像の明るさ(撮像信号の強度)は、本来どの点であっても均一であるとみなせるので、この明るさデータを基準とすることができる。
図2(a)において、蛍光ビーズ21は、ガラスベース22とカバーガラス23の間で培養液24に浸されている。この様に構成された試料に対して励起光25(太線矢印)が共焦点顕微鏡(図示せず)より照射される。この励起光25が蛍光ビーズ21に当たることで蛍光ビーズ21から蛍光26(細線矢印)が発生し、共焦点顕微鏡に取り付けられたカメラで撮像される。蛍光ビーズ21は、直径数十nmから数百μmの高精度の球体であり、この蛍光ビーズ21のスライス画像の明るさ(撮像信号の強度)は、本来どの点であっても均一であるとみなせるので、この明るさデータを基準とすることができる。
図2(b)は、蛍光ビーズ21の深さと、蛍光ビーズ21が発する蛍光26の明るさとの関係を示したものである。図2(b)において、点Aから点Fまでの値が蛍光ビーズ21の各深さでのスライス画像の明るさを示しており、このデータをもとに撮像範囲(カバーガラス23からガラスベース22の間)の深さにおける明るさの関係を求める。
具体的には、蛍光ビーズ21の深さデータに対するスライス画像の明るさデータ間の内挿補間および外挿補間を行うために、例えば指数関数による近似式を求め、近似式を正規化する。ここで正規化とは、試料の一番浅い部分の像(最も明るいスライス画像)の明るさの値を1として、この比に応じて他のスライス画像の明るさを表すことをいう。
この様にして求めた試料の深さと明るさの関係から、試料の深さを変数として明るさの補正係数を求めるための補正関数を作成する。この補正関数は、上述の近似式の逆数とすればよい。
この様にして求めた試料の深さと明るさの関係から、試料の深さを変数として明るさの補正係数を求めるための補正関数を作成する。この補正関数は、上述の近似式の逆数とすればよい。
図3は試料の深さと明るさの関数と補正関数の関係を説明する説明図である。
図3(a)は前出の図2(b)で示したものと同様の試料の深さと明るさの関数のグラフである。図3(b)は、試料の深さに対する補正係数の関係を示す補正関数のグラフである。図3(c)は補正後の試料の深さと明るさの関係を示したグラフである。
つまり、図3(a)の所定の深さの明るさに、図3(b)の関数から求められるその所定の深さの補正係数を掛けることにより、図3(c)に示すように補正後の試料の深さに対する明るさは一定となる。
図3(a)は前出の図2(b)で示したものと同様の試料の深さと明るさの関数のグラフである。図3(b)は、試料の深さに対する補正係数の関係を示す補正関数のグラフである。図3(c)は補正後の試料の深さと明るさの関係を示したグラフである。
つまり、図3(a)の所定の深さの明るさに、図3(b)の関数から求められるその所定の深さの補正係数を掛けることにより、図3(c)に示すように補正後の試料の深さに対する明るさは一定となる。
これにより、試料の深さ方向においても、明るさが均一なスライス画像が得られ、試料本来の明るさに近い3次元画像が得られる。また、明るさは色の認識に影響を及ぼすため、明るさの補正を行うことにより、分光による試料の識別が正確になる。
なお、本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
1 ビデオカメラ
2 共焦点スキャナ
3 顕微鏡
4 アクチュエータ
5 対物レンズ
6a 画像処理装置
7 任意波形発生器
10 信号制御器
11 波形計算装置
12 アクチュエータドライバ
20 試料
61 補正手段
2 共焦点スキャナ
3 顕微鏡
4 アクチュエータ
5 対物レンズ
6a 画像処理装置
7 任意波形発生器
10 信号制御器
11 波形計算装置
12 アクチュエータドライバ
20 試料
61 補正手段
Claims (4)
- 共焦点スキャナから出力された試料のスライス画像の撮像データに基づいて画像処理を行い前記試料の3次元画像を得る3次元共焦点顕微鏡システムであって、
前記試料の深さに基づき前記スライス画像の明るさを補正する補正手段を有することを特徴とする3次元共焦点顕微鏡システム。 - 前記補正手段は、前記試料の深さと前記スライス画像の明るさを補正する補正係数との関係を示す補正関数に基づき、前記スライス画像の明るさを補正することを特徴とする請求項1に記載の3次元共焦点顕微鏡システム。
- 前記補正関数は、基準となる試料の深さとこの試料のスライス画像の明るさとの関係を示す関数の逆数であることを特徴とする請求項2に記載の3次元共焦点顕微鏡システム。
- 前記基準となる試料は、蛍光ビーズであることを特徴とする請求項3に記載の3次元共焦点顕微鏡システム。
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|---|---|---|---|
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