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JP2004006065A - 電気接続用嵌合型接続端子 - Google Patents

電気接続用嵌合型接続端子 Download PDF

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JP2004006065A
JP2004006065A JP2002134387A JP2002134387A JP2004006065A JP 2004006065 A JP2004006065 A JP 2004006065A JP 2002134387 A JP2002134387 A JP 2002134387A JP 2002134387 A JP2002134387 A JP 2002134387A JP 2004006065 A JP2004006065 A JP 2004006065A
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electrical connection
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alloy
connection
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Takeshi Suzuki
鈴木 竹四
Shinei Sato
佐藤 進英
Tadao Sakakibara
榊原 直男
Tetsuto Mori
森 哲人
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Mitsubishi Shindoh Co Ltd
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Mitsubishi Shindoh Co Ltd
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    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
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Abstract

【課題】電気接続用嵌合型接続端子において、安定した接触抵抗を有すると共に小さい挿抜力、さらには優れた耐熱性を得ること。
【解決手段】めっきCu合金薄板で造られ互いに嵌合可能な一対の雄端子1及び雌端子2を備えた電気接続用嵌合型接続端子であって、前記雄端子1及び前記雌端子2の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが60〜700HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが20〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が15HV以上である。
【選択図】   図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、純金属又は合金を仕上げめっきした金属薄板で製造した、自動車等のコネクタとして用いられる電気接続用嵌合型接続端子に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に自動車等に用いられる電気配線のコネクタ等の電気接続用嵌合型接続端子は、Cu(銅)合金薄板等をプレス加工、打ち抜き加工又は曲げ加工等を施すことによって作製されている。この場合、得られた端子の良好な電気接続特性等を得るために、純金属あるいは合金めっき、特にSn(錫)めっきあるいはSn合金めっき等を施した金属薄板が多く行われいる。そして、これらの電気接続用嵌合型接続端子は、上記金属薄板から加工され互いに嵌合可能な雄端子及び雌端子で構成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記コネクタ等の電気接続用嵌合型接続端子の技術には、以下の課題が残されている。
近年、電気・電子回路部品は、多機能化に伴って回路数が増大し、これら回路を供給するコネクタも多極化が進んで多ピンコネクタの需要が増大してきている。例えば、自動車の組み立て工程では、人力によるコネクタの装着工程が必要とされるが、多ピン化に伴う挿入力の増大が作業員の疲労をもたらし、その軽減が求められている。そのため、挿抜力の小さな多ピンコネクタが求められている。さらに、これら多ピンコネクタは、自動車のエンジン廻りのような高温で振動のある環境下で使用されることがあるが、高温に長時間さらされても、接触抵抗が増大することがなく、さらに把持力が変化せず、エンジンなどの振動により外れることのない安定した装着を確保できるコネクタも求められている。
上記従来のSnめっきされたCu合金薄板からなる端子では、雄端子及び雌端子の表面層が互いに同様の比較的柔らかいSnめっき層であるため、コネクタ結合時などで端子どうしの滑りがあまりよくなく、高い挿抜力を必要としている。また、エンジン廻りの高温状態では、Snめっき層と基材のCu合金とが互いに熱拡散して表面状態が経時変化し易く、接触抵抗や把持力が変動してしまうおそれもあった。
【0004】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたもので、安定した接触抵抗を有すると共に挿抜力が小さく、さらに耐熱性に優れた電気接続用嵌合型接続端子を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記課題を解決するために以下の構成を採用した。すなわち、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、めっきCu合金薄板で造られ互いに嵌合可能な一対の雄端子及び雌端子を備えた電気接続用嵌合型接続端子であって、前記雄端子及び前記雌端子の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが60〜700HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが20〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が15HV以上であることを特徴とする。
【0006】
この電気接続用嵌合型接続端子では、摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが60〜700HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが20〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が15HV以上であるので、挿入力(挿抜力)の低減効果が得られると共に、両者が同程度に硬い場合に比べて接触安定性に優れ、人力による挿抜時の負担が少なくなる。
すなわち、雌端子に雄端子を挿入する過程で、両端子の摺動部に「けずれ」が生じるが、両端子のめっき表面の硬さが同じ程度に軟らかいと変形抵抗が高まり挿入力が大きくなる。一方、両端子のめっき表面の硬さが同程度に硬い場合も、けずれに対する抵抗が大きくなり、挿入力が大きくなる。また、両端子のめっき表面の高さに差がある場合、軟らかい方がけずれ易くなり、挿入力が小さくなり、その場合、両者のビッカース硬さの差が15以上ある場合に挿入力低減の効果が得られるようになる。
また、一方の端子のビッカ−ス硬さを60〜700HVの範囲としたのは、60HV未満になると両端子の硬さの差が15HV以上であっても、端子挿入時の変形抵抗が大きくなり、望ましい挿入力が得難くなると共に、700HVを越えると挿入力が小さくなり過ぎる場合もでてきて、端子の接触安定性の観点から好ましくないためである。
また、他方の端子のビッカ−ス硬さを20〜150HVの範囲としたのは、20HV未満では軟らか過ぎて挿入時の遊び(クリアランス)に対し、変形抵抗が大きくなり過ぎると共に、150HVを越えるとめっき表面が軟らかいことによる効果が発揮し難くなるためである。
なお、本発明及び本明細書中において、ビッカース硬さHVは、荷重98.07×10−3ニュートン(10g)における値である。
【0007】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが80〜300HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが40〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が20HV以上であることが好ましい。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子は、両者のビッカ−ス硬さの差が20HV以上であるので、より挿入力の低減効果を得ることができる。
【0008】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが100〜250HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが40〜130HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が30HV以上であることが好ましい。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、両者のビッカ−ス硬さの差が30HV以上であるので、さらに挿入力の低減効果を顕著に得ることができる。
【0009】
さらに、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが120〜250HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが40〜110HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が50HV以上であることが好ましい。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、両者のビッカ−ス硬さの差が50HV以上であるので、非常に高い挿入力の低減効果を得ることができる。
【0010】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記ビッカ−ス硬さが高い方の端子が、雄端子であり、前記ビッカ−ス硬さが低い方の端子が、雌端子であることが好ましい。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子は、ビッカ−ス硬さが高い方の端子が、雄端子であり、ビッカ−ス硬さが低い方の端子が、雌端子であるので、挿入力低減効果が大きくなる。すなわち、通常、雄端子は、挿入し易いように平坦な形状をしているのに対し、雌端子は内面上下の一方あるいは両方に曲げ加工を有し、ばねの役割を持たせた形状を有している。このため、雄端子はめっきした平板をそのまま打ち抜いて製造する場合が多いのに対し、雌端子は、曲げ加工を行って製造する場合が多いため、雌端子の方が加工し易さの点でめっき素材の硬さを雄端子に比べて低くする方が好ましい。特に、近年の小型化に対応するために製造工程において厳しい曲げ加工を伴う場合には、加工し易い雌端子を有する本発明が好適である。
【0011】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、Cu合金の基材表面に、Sn、Cu,Ag,Ni,Pb,Zn,P,B,Cr,Mn,Fe,Co,Pd,Pt,Ti,Zr,Hf,V,Nb,Ta,Mo,W,In,C,S,Au,Al,Si,Sb,Bi,およびTeの中から選ばれる1種又は2種以上の金属を含んだめっき処理を施した金属薄板で作製されていることを特徴とする。
【0012】
この電気接続用嵌合型接続端子では、雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、Cu合金の基材表面に、上記の金属から選ばれる1種又は2種以上を含んだめっき処理を施した金属薄板で作製されているので、めっき処理によりCu合金の基材と選ばれた上記金属とが一部合金化されてめっき表面を所定の硬度に硬化させ易い。
【0013】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記めっき処理が、前記選ばれる1種又は2種以上の金属以外の残部がSnからなるSn合金めっき処理であることを特徴とする。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、めっき処理が、上記選ばれる1種又は2種以上の金属以外の残部がSnからなるSn合金めっき処理であるので、上記選ばれた金属をSnへの添加金属とすることにより、めっき表面の硬度調整がより制御し易くなる。
【0014】
さらに、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、前記選ばれる1種又は2種以上の金属を0.01〜75重量%含むことが好ましい。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、雄端子及び雌端子の少なくとも一方が、上記選ばれる1種又は2種以上の金属を0.01〜75重量%含むので、めっき表面の硬化処理が容易になり、めっき表面の適切な硬度、電気抵抗及び接触抵抗を得ることができる。すなわち、上記選ばれる1種又は2種以上の金属の添加量が0.01重量%未満では、めっき表面を所定の硬度に硬化させる作用が不十分であり、また、添加量が75重量%を越えるようになると、実用に必要なレベルに対して、Sn合金めっきそのものの電気抵抗が高くなると共に接触抵抗等も大きくなってしまうためである。また、添加量が75重量%を越える場合、加工性も悪くなると共に耐食性も低下する不都合がある。
【0015】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、0.1〜10重量%のCuを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるCu−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されている技術が採用される。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、雄端子及び雌端子の少なくとも一方が、0.1〜10重量%のCuを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるCu−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されているので、表面硬化処理がしやすい。Cu分0.1%未満では、その効果が小さく、Cu分10%超では、安定的なめっき性状が得難く、硬化処理時の硬さのバラツキが大きくなる。
【0016】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、0.1〜40重量%のNiを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるNi−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されている技術が採用される。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、0.1〜40重量%のNiを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるNi−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されているので、めっき状態で所望の表面硬さが得られる。さらに熱処理により、非常に大きな硬さが得られる。Ni分0.1%未満では、その効果が小さく、Ni分40%超では、硬さの制御が難しくなる。
【0017】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、0.1〜10重量%のAgを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるAg−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されている技術が採用される。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、0.1〜10重量%のAgを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるAg−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されているので、硬化処理により、安定した表面硬さが得られる。Ag分0.1%未満では、その効果が小さく、一方Ag分10%以上では、めっき液の管理が難しくなると共に、硬化処理後の硬さのバラツキも大きくなる。
【0018】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、Cu合金の基材上に直接又はCu層を介して、電気Snめっき若しくはそれをリフロ−処理したSnめっき、又は溶融めっきして得たSnめっきのSnめっきCu合金薄板で作製されている技術が採用される。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、Cu合金の基材上に直接又はCu層を介して、電気Snめっき若しくはそれをリフロ−処理したSnめっき、又は溶融めっきして得たSnめっきのSnめっきCu合金薄板で作製されているので、SnめっきとCu層又は基材との間に両者の拡散が起こり、硬いCu−Sn合金層(CuとSnとの金属間化合物層。例えばCuSn、CuSn等))が発達し、硬度の高い表面を有することができる。なお、Cu−Sn合金層の発達の程度、すなわち残存する純Sn層の層厚が厚いとSn表面の硬さが得難い。また、純Sn層に比べてCu−Sn合金層は硬度の経時変化が小さいため、接触抵抗の経時変化が抑制される。
【0019】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、ビッカ−ス硬さが硬い方の前記端子は、Cu合金の基材上に直接又はCu層を介して、純Sn層を形成し、さらに該純Sn層の厚さが0.6μm未満になるまで熱処理により前記純Sn層と前記基材又は前記Cu層とを互いに熱拡散させてCu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されている技術が採用される。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、純Sn層の厚さが0.6μm未満になるまで熱処理によりCu層と基材又は純Sn層とを互いに熱拡散させてCu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されているので、挿入時に良好な低い挿入力を得ることができる。なお、純Sn層の厚さが0.6μm以上であると低い挿入力が得難くなる。
【0020】
さらに、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記純Sn層の厚さが0.3μm未満になるまで熱処理により前記Cu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されていることが好ましい。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、前記純Sn層の厚さが0.3μm未満になるまで熱処理によりCu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されているので、より低い挿入力を得ることができる。
【0021】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記純Sn層の厚さが0になるまで熱処理により前記Cu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されていることがより好ましい。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、純Sn層の厚さが0になるまで熱処理によりCu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されているので、さらに低い挿入力を得ることができる。また、表面までCu−Sn合金層で形成されるので、接触抵抗の経時変化がほとんど生じない。
【0022】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、電気めっきしたSnめっき条をリフロ−処理して前記Cu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されている技術が採用される。
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、電気めっきしたSnめっき条若しくはリフロ−処理したSnめっき条又は溶融めっきしたSnめっき条を、あらためて焼鈍し、前記Cu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されている技術が採用される。
これらの電気接続用嵌合型接続端子では、Snめっき条からなるSnめっきCu合金薄板で作製されているので、取り扱い性及び量産性に優れている。
【0023】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、プレス加工されたものである技術が採用される。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方がプレス加工されたものであるので、厳しい曲げ加工等を行った後にめっき硬化処理を施すことにより、所望の表面硬さ、挿抜性を得ることが可能となる。
【0024】
また、本発明の電気接続用嵌合型接続端子は、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、前記プレス加工後に前記Snめっき処理されたものである技術が採用される。すなわち、この電気接続用嵌合型接続端子では、前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方が、プレス加工後にSnめっき処理されたものであるので、めっきが硬いことによる曲げ加工不具合は起こりにくく、また、摺動部など局所的なめっき及び硬化処理が可能になる。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る電気接続用嵌合型接続端子の一実施形態を、図1を参照しながら説明する。
【0026】
本実施形態の電気接続用嵌合型接続端子は、例えば自動車の車載用コネクタであって、図1に示すように、めっきCu合金薄板で造られ互いに嵌合可能な少なくとも一対の雄端子1及び雌端子2から構成されている。
これらの雄端子1及び雌端子2は、互いの摺動部分において、雄端子1のビッカ−ス硬さが60〜700HVの範囲にあり、雌端子2のビッカ−ス硬さが20〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が15HV以上に設定されている。
【0027】
なお、好ましくは、雄端子1のビッカ−ス硬さが80〜300HVの範囲にあり、雌端子2のビッカ−ス硬さが40〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が20HV以上とされる。また、より好ましくは、雄端子1のビッカ−ス硬さが100〜250HVの範囲にあり、雌端子2のビッカ−ス硬さが40〜130HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が30HV以上とされる。さらに好ましくは、雄端子1のビッカ−ス硬さが120〜250HVの範囲にあり、雌端子2のビッカ−ス硬さが40〜110HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が50HV以上とされる。
【0028】
また、雄端子1及び雌端子2は、図2に示すように、Cu合金の基材3表面に、Cu,Ag,Ni,Pb,Zn,P,B,Cr,Mn,Fe,Co,Pd,Pt,Ti,Zr,Hf,V,Nb,Ta,Mo,W,In,C,S,Au,Al,Si,Sb,Bi,およびTeの中から選ばれる1種又は2種以上の金属を含んだめっき処理を施してめっき層4とした金属薄板5で作製されている。
【0029】
なお、上記めっき処理は、上記選ばれる1種又は2種以上の金属以外の残部がSnからなるSn合金めっき処理であり、めっき層4は、Sn合金又はSnである。また、雄端子1及び雌端子2のめっき層は、上記選ばれる1種又は2種以上の金属を0.01〜75重量%含むように設定されている。例えば、雄端子1及び雌端子2は、0.1〜10重量%のCuを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるCu−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されている。また他の例として、雄端子1及び雌端子2は、0.1〜40重量%のNiを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるNi−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されていてもよい。さらに他の例として、雄端子1及び雌端子2は、0.1〜10重量%のAgを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるAg−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されていてもよい。
【0030】
雄端子1及び雌端子2の層構造を純Snをめっき処理する場合で詳しく説明すると、これらの端子は、Cu合金の基材3上にCu層6を介して、電気Snめっき若しくはそれをリフロ−処理したSnめっき、又は溶融めっきして得たSnめっきの純Sn層7を有するSnめっきCu合金薄板で作製されている。
なお、Cu合金の基材3上に、直接上記Snめっきのいずれかを施してもよい。
【0031】
上記雄端子1は、純Sn層7の厚さが0.6μm未満になるまで熱処理により純Sn層7と基材3又はCu層6とを互いに熱拡散させてCu−Sn合金層8を形成させている。なお、好ましくは、雄端子1における純Sn層7の厚さが0.3μm未満とし、より好ましくは、図3に示すように、雄端子1における純Sn層7の厚さが0になるまで熱処理を行い、表面をCu−Sn合金層8とする。
【0032】
また、雄端子1及び雌端子2は、電気めっきしたSnめっき条をリフロ−処理してCu−Sn合金層8を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製してもよい。
また。雄端子1及び雌端子2は、電気めっきしたSnめっき条若しくはリフロ−処理したSnめっき条又は溶融めっきしたSnめっき条を、あらためて焼鈍し、Cu−Sn合金層8を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製してもよい。
なお、雄端子1及び雌端子2は、プレス加工された基材3上に、上記めっき処理のいずれかを施したものでもよい。
【0033】
このように、本実施形態の電気接続用嵌合型接続端子では、摺動部分において、雄端子1のビッカ−ス硬さが60〜700HVの範囲にあり、雌端子2のビッカ−ス硬さが20〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が15HV以上であるので、変形抵抗が小さく挿入力の低減効果が得られると共に、両者が同程度に硬い場合に比べて接触安定性に優れ、人力による挿抜時の負担が少なくなる。
【0034】
また、雄端子1及び雌端子2が、Cu合金の基材3表面に、上記の金属から選ばれる1種又は2種以上を含んだめっき処理を施した金属薄板で作製されているので、めっき処理によりCu合金の基材と選ばれた上記金属とが一部合金化されてめっき表面を所定の硬度に硬化させ易い。特に、Snの合金とすることにより、基材3のCuと反応させてCu−Sn合金層8を形成して表面硬度の制御が容易となると共に、接触抵抗の経時変化が抑制される。
【0035】
【実施例】
次に、本発明に係る電気接続用嵌合型接続端子を、実施例により表1から表11を参照して具体的に説明する。
【0036】
〔実施例1〕
実施例1に示す雄端子1及び雌端子2は、以下のように作製した。
表1に示す銅合金板(基材3)A、Bをアルカリ脱脂、電解脱脂および活性化処理し、下記の条件により、Cu下地めっきでCu層6を形成した後、Sn仕上げめっきで純Sn層7を形成してSnめっきCu合金薄板を得た。ついで還元雰囲気中、250および300℃、10〜80secで連続通板し、リフロ−処理を行い、Cu−Sn合金層8を発達させ、表2に示す表面硬化を付与しためっきCu合金薄板を得た。
【0037】
【表1】
Figure 2004006065
【表2】
Figure 2004006065
【0038】
表2において、純Sn層7の厚さ、Cu−Sn合金層8の厚さについては、主として電解式膜厚計および蛍光X線測定により求めたが、必要に応じて、SEMおよびEPMA観察なども併用して平均的な値で表示した。
なお、上記各めっき層の条件を、以下に示す。
a.Cu下地めっき条件(Cu層6)
めっき浴組成:硫酸銅200g/l、硫酸55g/l、めっき浴温度30℃、電流密度2A/dm2。
b.Sn仕上げめっき条件(純Sn層7)
めっき浴組成:硫酸第一錫40g/l、硫酸110g/l、クレゾ−ルスルホン酸25g/l、添加剤7g/l、めっき浴温度20℃、電流密度3A/dm2。
【0039】
これらのめっき銅合金薄板を用いて、図1に示す形状の雄端子1及び雌端子2を作製し、それぞれの雄端子1及び雌端子2の摺動部分について、ビッカ−ス硬さ(HV)と両者の硬さの差ΔHVを求めた。この結果を表2に示す。なお、種々の組み合わせについて、雄端子1を雌端子2に挿入する時の最大荷重をそれぞれ10回測定し、その平均値を挿入力(N)として、表2に本発明端子(No.1〜8)として示す。なお、比較端子として、両者の硬さの差ΔHVが本発明の範囲よりも小さいもの(No.9、11)及びビッカ−ス硬さHVが150を越えるもの(No.10)について、測定した結果についても表2に示す。なお、比較端子No.11は、純Sn層7の厚さが0.6μmを超えるものである。
このように、表2の結果に示すように、本発明では、比較端子に比べて低い挿入力を得ることができた。
【0040】
〔実施例2〕
実施例2に示す雄端子1及び雌端子2は、以下のように作製した。
表1に示す電気SnめっきによるCu合金薄板C、D、リフロ−SnめっきによるCu合金薄板E、Fおよび溶融SnめっきによるCu合金薄板G、Hについて、それぞれ200〜220℃で30〜10000secの焼鈍を行い、Cu−Sn合金層8を発達させることによって硬化処理を行った。硬化処理後の純Sn層7の厚さ、Cu−Sn合金層8の厚さは表3に示す通りである。
【0041】
【表3】
Figure 2004006065
【0042】
これらのめっきCu合金薄板を用いて、図1に示す形状の雄端子1および雌端子2を作製し、それぞれの雄端子および雌端子の摺動部分について、ビッカ−ス硬さと両者の硬さの差ΔHVを求めた。この結果を表3に示す。なお、種々の組み合わせについて、雄端子1を雌端子2に挿入する時の最大荷重をそれぞれ10回測定し、その平均値を挿入力(N)として、表3に本発明端子(No.21〜33)として示す。なお、比較端子として、両者の硬さの差ΔHVが本発明の範囲よりも小さいもの(No.34〜37)及びビッカ−ス硬さHVが150を越えるもの(No.38)について、測定した結果についても表3に示す。なお、比較端子のNo.34、35は純Sn層7の厚さが0.6μmを超えるものであり、No.37はビッカ−ス硬さHVが60未満である。
このように、表3の結果に示すように、本発明では、比較端子に比べて低い挿入力を得ることができた。
【0043】
〔実施例3〕
実施例3に示す雄端子1及び雌端子2は、以下のように作製した。
SnめっきされたCu合金薄板からプレス加工された端子について、それぞれ150℃〜700℃の温度で0.1〜600min焼鈍し、挿入力および離脱力を測定した。評価に用いた端子素材のCu合金(表1のI〜N)の成分組成及び硬さを表1に示す。嵌合端子の種類として、3種類の形式、それぞれ090型(雄端子の幅が2.3mm)、040型(同1.0mm)および025型(同0.63mm)を選び、評価を行った。それぞれの端子について、硬化処理後の純Sn層7の厚さ及びCu−Sn合金層8の厚さを測定し、さらに端子摺動部の硬さ(HV)を求めた。なお、一組の雄端子及び雌端子の硬さの差及び挿入力と離脱力との評価結果も含めて、本発明端子については、表4〜6に、本発明の条件範囲外である比較端子については、表7〜9に示す。なお、1種類の組み合わせについて、それぞれ10回づつ測定を行い、その平均値で挿入力及び離脱力を表した。
このように、表4〜9の結果に示すように、本発明では、比較端子に比べて低い挿入力を得ることができた。
【0044】
【表4】
Figure 2004006065
【表5】
Figure 2004006065
【表6】
Figure 2004006065
【0045】
【表7】
Figure 2004006065
【表8】
Figure 2004006065
【表9】
Figure 2004006065
【0046】
〔実施例4〕
実施例4に示す雄端子1及び雌端子2は、以下のように作製した。
表1に示すCu合金板A、Bをアルカリ脱脂、電解脱脂および活性化処理し、下地めっきとしてNiめっきとCuめっきとの2層めっき又はCuめっきを施し、さらに仕上げめっきとして、Niめっき、Agめっき、Sn−Cuめっき、Sn−Niめっき、又はSn−Agめっき等を行った。これらに関するめっき条件は、実施例1及び表10に示す通りである。
【0047】
【表10】
Figure 2004006065
「実施例4 めっき条件」
〔Niめっき条件〕
めっき浴組成:硫酸ニッケル240g/L、塩化ニッケル:45g/L、硼酸:30g/L
めっき浴温度:35℃、電流密度:2A/dm
〔Sn−2%Cu合金めっき条件〕
めっき浴組成:硫酸第一錫50g/L、硫酸:45g/L、トップフリートSC−S:1g/L
トップフリートSC−R:10mL/L  トップフリートSC−1:0.3mL/L
めっき浴温度:20℃、電流密度:2A/dm
〔Sn−19%Ni合金めっき条件〕
めっき浴組成:ピロアロイSNスターター:500mL/L、
ピロアロイSNメイクアップ:20mL/L、ピロリン酸錫:25g/L
めっき浴温度:40℃、電流密度:1A/dm
〔Sn−26%Ni合金めっき条件〕
めっき浴組成:ピロアロイSNスターター:500mL/L、
ピロアロイSNメイクアップ:20mL/L
めっき浴温度:40℃、電流密度:1A/dm
〔Agめっき条件〕
めっき浴組成:シアン化銀10g/L、シアン化カリウム20g/L
炭酸カリウム10g/L
めっき浴温度:25℃、電流密度:2A/dm
〔Sn−2%Ag合金めっき条件〕
めっき浴組成:UTBTS−140BASE:1000mL/L、
添加剤TS−AG:2g/L
めっき浴温度:25℃、電流密度:2A/dm
なお、得られた本発明のめっきCu合金薄板および比較めっきCu合金薄板のCu下地めっき、Niめっき、合金層、および表層めっき(仕上げめっき)の厚さはおもに蛍光X線膜厚計、および電解式膜厚計により計測し、補助的に断面のSEM観察及びEPMAによる観察なども併用して最終的な厚さとした。
【0048】
これらのめっきCu合金薄板を用いて、図1に示す形状の雄端子1および雌端子2を作製し、それぞれの雄端子および雌端子の摺動部分について、ビッカ−ス硬さ(HV)と両者の硬さの差ΔHVを求め表11に示す。表11において、種々の組み合わせについて、雄端子1を雌端子2に挿入する時の最大荷重をそれぞれ10回測定し、その平均値を挿入力(N)として、表11に本発明端子(本発明端子No.1〜10)として示す。なお、比較端子として、両者の硬さの差ΔHVが本発明の範囲よりも小さいもの(比較端子No.1〜5)について、測定した結果についても表11に示す。なお、比較端子のNo.1はビッカ−ス硬さ(HV)が150以上である。
このように、表11の結果に示すように、本発明では、比較端子に比べて低い挿入力を得ることができた。
【0049】
【表11】
Figure 2004006065
【0050】
なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
【0051】
例えば、本発明はリフロ−処理の条件や後からの焼鈍(時効)条件に制限されるものではない。例えば、SnめっきやSn合金めっきのリフロ−温度としては、230℃〜1000℃、時間1sec〜10hrの範囲がありうる。また、処理雰囲気としては、大気中、H2、COなどの還元性雰囲気、N、Arなどの不活性雰囲気がありうる。
【0052】
また、本発明は下地めっきの構成に規制されない。例えば、下地めっきとしては、Cu下地、Ni下地、Ni下地後Cu下地、Sn下地、Ag下地などあり得るが、これらの範囲に制限されない。
また、本発明は基本的には、めっき全体の厚さに制限されない。しかし、例えば、Snめっきなどの場合、Snめっき全体の厚さが0.3μm以下等の薄い場合は、耐食性や耐熱性等の点で留意する必要がある。
また、本実施形態及び実施例において、焼鈍の雰囲気は、大気中、H、CO等の還元性雰囲気、ArやN等の不活性雰囲気あるいは真空焼鈍処理などでも構わない。
【0053】
なお、高温で振動のある環境下に対して、本発明のように雄端子と雌端子との両端子間に硬さの差があることは、長期的に接触安定性の観点からも好ましい。
また、両端子が同じように比較的軟らかい場合は、振動などで酸化生成物や異物等が取り込まれやすく、長期的な接触安定性という観点から好ましくない。
また、両端子が同様に比較的硬い場合は、振動などで両端子の接触面積が瞬間的に小さくなることが起こりやすくなり、この場合も長期的な接触安定性の観点から好ましくない。
特に、温度や振動などで厳しい環境下に置かれる場合、両端子の硬さの差が、ΔHVで15以上、20以上、30以上、50以上と大きくなるにつれて、長期的な接触安定性の観点からも好ましい状態になり得る。
【0054】
【発明の効果】
本発明によれば、以下の効果を奏する。
すなわち、本発明の電気接続用嵌合型接続端子によれば、摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが60〜700HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが20〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が15HV以上であるので、挿入力の低減効果が得られると共に、両者が同程度に硬い場合に比べて接触安定性に優れ、人力による挿抜時の負担が少なくなり、作業効率及び品質の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電気接続用嵌合型接続端子の一実施形態において、嵌合状態の雄端子及び雌端子を示す斜視図である。
【図2】本発明に係る電気接続用嵌合型接続端子の一実施形態において、めっきCu合金薄板を示す要部断面図である。
【図3】本発明に係る電気接続用嵌合型接続端子の一実施形態において、より好ましいめっきCu合金薄板の例を示す要部断面図である。
【符号の説明】
1 雄端子
2 雌端子
3 基材
4 めっき層
5 金属薄板
6 Cu層
7 純Sn層
8 Cu−Sn合金層

Claims (19)

  1. めっきCu合金薄板で造られ互いに嵌合可能な一対の雄端子及び雌端子を備えた電気接続用嵌合型接続端子であって、
    前記雄端子及び前記雌端子の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが60〜700HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが20〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が15HV以上であることを特徴とする電気接続用嵌合型接続端子。
  2. 請求項1に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが80〜300HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが40〜150HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が20HV以上であることを特徴とする電気接続用嵌合型接続端子。
  3. 請求項1に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが100〜250HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが40〜130HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が30HV以上であることを特徴とする電気接続用嵌合型接続端子。
  4. 請求項1に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の互いの摺動部分において、一方の端子のビッカ−ス硬さが120〜250HVの範囲にあり、他方の端子のビッカ−ス硬さが40〜110HVの範囲にあり、かつ両者のビッカ−ス硬さの差が50HV以上であることを特徴とする電気接続用嵌合型接続端子。
  5. 請求項1から4のいずれかに記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記ビッカ−ス硬さが高い方の端子は、雄端子であり、
    前記ビッカ−ス硬さが低い方の端子は、雌端子であることを特徴とする電気接続用嵌合型接続端子。
  6. 請求項1から5のいずれかに記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、Cu合金の基材表面に、Sn、Cu,Ag,Ni,Pb,Zn,P,B,Cr,Mn,Fe,Co,Pd,Pt,Ti,Zr,Hf,V,Nb,Ta,Mo,W,In,C,S,Au,Al,Si,Sb,Bi,およびTeの中から選ばれる1種又は2種以上の金属を含んだめっき処理を施した金属薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  7. 請求項6に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記めっき処理は、前記選ばれる1種又は2種以上の金属以外の残部がSnからなるSn合金めっき処理であることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  8. 請求項7に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、前記選ばれる1種又は2種以上の金属を0.01〜75重量%含むことを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  9. 請求項8に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、0.1〜10重量%のCuを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるCu−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  10. 請求項8に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、0.1〜40重量%のNiを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるNi−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  11. 請求項8に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、0.1〜10重量%のAgを含み、その残部がSn及び不可避不純物からなるAg−Sn合金めっき処理をしたCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  12. 請求項1から7のいずれかに記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、Cu合金の基材上に直接又はCu層を介して、電気Snめっき若しくはそれをリフロ−処理したSnめっき、又は溶融めっきして得たSnめっきのSnめっきCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  13. 請求項1から7のいずれかに記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    ビッカ−ス硬さが硬い方の前記端子は、Cu合金の基材上に直接又はCu層を介して、純Sn層を形成し、さらに該純Sn層の厚さが0.6μm未満になるまで熱処理により前記純Sn層と前記基材又は前記Cu層とを互いに熱拡散させてCu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  14. 請求項13に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記純Sn層の厚さが0.3μm未満になるまで熱処理により前記Cu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  15. 請求項13に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記純Sn層の厚さが0になるまで熱処理により前記Cu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  16. 請求項13から15のいずれかに記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、電気めっきしたSnめっき条をリフロ−処理して前記Cu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  17. 請求項13から15のいずれかに記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、電気めっきしたSnめっき条若しくはリフロ−処理したSnめっき条又は溶融めっきしたSnめっき条を、あらためて焼鈍し、前記Cu−Sn合金層を形成させたSnめっきCu合金薄板で作製されていることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  18. 請求項6から17のいずれかに記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、プレス加工されたものであることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
  19. 請求項18に記載の電気接続用嵌合型接続端子において、
    前記雄端子及び前記雌端子の少なくとも一方は、前記プレス加工後に前記めっき処理されたものであることを特徴とした電気接続用嵌合型接続端子。
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