JP2003002768A - セラミック部材、接合体、及び真空スイッチ用容器 - Google Patents
セラミック部材、接合体、及び真空スイッチ用容器Info
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Abstract
ク部材、接合体、真空スイッチ用容器を提供すること。 【解決手段】 アルミナを主成分とするセラミック部材
1とコバール製の金属部材3とが、銀ロー製のロー材5
により接合されて接合体7が形成されている。詳しく
は、セラミック部材1は、アルミナ製の焼結体であるセ
ラミック基材9上に、モリブデンを主成分とするメタラ
イズ層11が形成されたものであり、このメタライズ層
11上にNiからなるメッキ層13が形成されている。
そして、メッキ層13と金属部材3とがロー材5により
接合されることにより、セラミック部材1と金属部材3
とが接合一体化されている。
Description
基板、外囲器、半導体パッケージなどの各種の用途に利
用できるものであり、例えば金属とセラミックやセラミ
ック同士をメタライズにより接合したセラミック部材、
接合体、真空スイッチ用容器に関するものである。
の表面にメタライズを施す方法として、高融点金属法
(Mo−Mn法;テレフンケン法)が知られている。こ
のテレフンケン法は、WやMo等の高融点金属の粉末
に、Mn粉末、Ti粉末、ガラス成分(SiO2)等の
接合助剤を添加し、有機バインダと混合してペーストと
したメタライズインクを、セラミック基材上に塗布し焼
き付ける方法(焼成方法)である。
て、金属層(メタライズ層)の接着強度を向上させる目
的で、多くの手法が開発されている。例えば特開昭56
−96794号公報等などには、メタライズ層形成のた
めのメタライズペーストの組成を規定する技術が開示さ
れており、また、特開昭59−132194号公報等に
は、メタライズペースト中の金属粉末の粒径や焼成温度
等を規定する技術が開示されている。
た従来技術では、メタライズ層を介した接合体の接合強
度が向上するという効果はあるものの、必ずしも十分で
はない。つまり、実際には、メタライズペーストの組成
や粒径、焼成温度等を規定しても、常に安定して高い接
合強度を有する製品が得られる訳ではないという問題が
あった。
された接合体を用いて真空スイッチ用容器を製造した場
合には、その接合強度がばらつくことがあるため、気密
性が十分でない製品が発生することがあり、一層の改善
が望まれていた。本発明は前記課題を解決するためにな
されたものであり、その目的は、安定して高い接合強度
が得られる、セラミック部材、接合体、真空スイッチ用
容器を提供することにある。
ズ層の形成及びメタライズ層を介した接合におけるメタ
ライズ層の構造は、3次元網目構造の金属粒子の焼成体
とその空隙に充填されたガラス成分で形成されている。
度)に影響するのは、金属成分自体の焼結度と、セラミ
ック母材と融合し金属粒子間に拡散したガラス成分のア
ンカー効果であると考えられる。従って、メタライズペ
ースト時の材料の粒径や組成を規定しても、印刷、乾
燥、焼成、メッキ、ロー付け等の工程の条件によって
は、メタライズ層中の組織は一定とは限らない。
切な範囲にあることにより、セラミック/メタライズ層
間の接合、メタライズ層自体の強度、メタライズ/金属
層(メッキ層、ロー材層)間の接合など、全てにおいて
最適な状態となり、メタライズ層を介したセラミック部
材の接合強度が高く安定したものとなる。
のである。以下各請求項毎に説明する。 (1)請求項1の発明は、(セラミック焼成体である)
セラミック基体上にメタライズ層を形成したセラミック
部材において、前記(焼成後の)メタライズ層の断面の
10μm四方の測定範囲における金属成分の面積占有率
が45〜75%である部分(特定部分)が、全メタライ
ズ層の80%以上であることを特徴とするセラミック部
材を要旨とする。
ける特定部分が、全体の80%以上を占めているので、
安定して高い接合強度を実現できる。従って、このセラ
ミック部材を用いた製品のばらつきが少ない。つまり、
上述した測定範囲において、金属成分の面積占有率が4
5%未満の場合は、メタライズ層上に(他の部材との接
合のために)形成されるメッキ層やロー材層との密着強
度が不十分であり、また、メタライズ層自体の強度が不
十分になり、一方、75%を超えると、金属部分が多す
ぎて、セラミックとメタライズ層との接合強度が低下す
る。しかも、特定部分が全体の80%未満の場合には、
組成のばらつきが大きく、例えば(金属が過度に少な
い)不適切な部分を起点として、接合不具合が生じ易
い。
す構成を備えることにより、例えばセラミック部材に他
の部材を接合して製品を製造する場合に、その接合強度
(従って製品)のバラツキが少なく、接合強度の低減に
起因する気密性の低下などを防止することができる。
ズ組織と接合強度との因果関係を定量的に示すことがで
きるので、安定した高い接合強度を有する接合体を製造
する際の基準とすることができる。尚、メタライズ層の
厚みとしては、例えば平均厚みとして3〜50μmの範
囲のものを採用できるが、このうち、メタライズ層に、
5μm以上の箇所が存在している場合には、金属成分が
分散し易く、規定する面積占有率を得易いので、好適で
ある。
しては、例えばモリブデン、タングステンなどの高融点
金属などが挙げられる。 (2)請求項2の発明は、(焼成体である)セラミック
基体上にメタライズ層を形成したセラミック部材におい
て、前記(焼成後の)メタライズ層の断面の5μm四方
の測定範囲における金属成分の面積占有率が20〜90
%である部分(特定部分)が、全メタライズ層の80%
以上であることを特徴とするセラミック部材を要旨とす
る。
る金属成分の面積占有率が20〜90%であり、しか
も、その特定部分が全体の80%以上であるので、安定
して高い接合強度を実現できる。従って、このセラミッ
ク部材を用いた製品のばらつきが少ない。
成分の面積占有率が20%未満の場合は、メタライズ層
上に(他の部材との接合のために)形成されるメッキ層
やロー材層との密着強度が不十分であり、また、メタラ
イズ層自体の強度が不十分になり、一方、90%を超え
ると、金属部分が多すぎて、セラミックとメタライズ層
との接合強度が低下する。しかも、特定部分が全体の8
0%未満の場合には、組成のばらつきが大きく、例えば
(金属が過度に少ない)不適切な部分を起点として、接
合不具合が生じ易い。
す構成を備えることにより、例えばセラミック部材に他
の部材を接合して製品を製造する場合に、その接合強度
(従って製品)のバラツキが少なく、接合強度の低減に
起因する気密性の低下などを防止することができる。
ズ組織と接合強度との因果関係を定量的に示すことがで
きるので、安定した高い接合強度を有する接合体を製造
する際の基準とすることができる。尚、メタライズ層の
厚みとしては、例えば平均厚みとして3〜50μmの範
囲のものを採用できるが、このうち、メタライズ層に、
5μm以上の箇所が存在している場合には、金属成分が
分散し易く、規定する面積占有率を得易いので、好適で
ある。
しては、例えばモリブデン、タングステンなどの高融点
金属などが挙げられる。ここで、前記請求項1と請求項
2の発明の関係について説明する。請求項1の発明に対
して請求項2の発明は、より金属成分が分散しているこ
とを意味する。また、金属成分が分散しているほど「安
定した強度」につながるので、請求項2の発明の方がよ
り安定した強度を実現することができる。
散は見かけ以上不均一となるため、適正範囲の数値は広
がるが、この微視的視界での分散が、実質強度に影響す
るからである。 (3)請求項3の発明は、前記請求項1又は2に記載の
セラミック部材に、前記メタライズ層及びロー材層を介
して、金属部材を接合したことを特徴とする接合体を要
旨とする。
に金属部材を接合した接合体を示したものである。この
接合体は、安定した高い接合強度を有しているので、こ
の接合体を用いた製品の気密性等のバラツキが少なく好
適である。
安定した高い接合強度を実現することが困難であった
が、本発明により、高く安定した接合強度を実現するこ
とができ、これにより優れた製品を製造することができ
る。尚、前記ロー材層を構成する材料としては、例えば
Ag、Cu、Au、Ni、Cd、及びそれらの化合物が
挙げられる。
は2に記載のセラミック部材に、前記メタライズ層及び
ロー材層を介して、他のセラミック部材(通常はセラミ
ック基体)を接合したことを特徴とする接合体を要旨と
する。本発明は、上述した構成のセラミック部材に他の
セラミック部材を接合した接合体を示したものである。
しているので、この接合体を用いた製品の気密性等のバ
ラツキが少なく好適である。尚、前記ロー材層を構成す
る材料としては、例えばAg、Cu、Au、Ni、C
d、及びそれらの化合物が挙げられる。
層とロー材層との間に、メッキ層を備えたことを特徴と
する前記請求項3又は4に記載の接合体を要旨とする。
本発明では、メタライズ層とロー材層との間にメッキ層
を備えているので、メタライズ層とロー材層との接合強
度が増加し、ひいては、セラミック部材と金属部材との
接合強度や、セラミック部材同士の接合強度が向上す
る。
は、例えばNi、Cu、Au、Ag、Pdなどが挙げら
れる。 (6)請求項6の発明は、前記請求項3〜5のいずれか
の接合体を備えたことを特徴とする真空スイッチ用容器
を要旨とする。
イッチ用容器である。この真空スイッチ用容器とは、真
空スイッチを収容する真空容器(例えば絶縁バルブ)で
あり、この真空容器内に電極などを配置することによ
り、真空スイッチ(電気回路開閉器)を形成することが
できる。尚、真空スイッチは、特に高電圧、大電流の開
閉に好適なものである。
材、接合体、真空スイッチ用容器の実施の形態の例(実
施例)を、図面を参照して説明する。 (実施例1)ここでは、セラミック部材と金属部材の接
合体を例に挙げる。
は、アルミナを主成分とするセラミック部材1とコバー
ル製の金属部材3とが、銀ロー製のロー材5により接合
されて接合体7が形成されている。詳しくは、セラミッ
ク部材1は、アルミナ製の焼結体であるセラミック基材
9上に、モリブデンを主成分とするメタライズ層11が
形成されたものであり、このメタライズ層11上にNi
からなるメッキ層13が形成されている。そして、メッ
キ層13と金属部材3とがロー材5により接合されるこ
とにより、セラミック部材1と金属部材3とが接合一体
化されている。
形のテストピースの製造方法を、セラミック部材の製造
方法とともに説明する。 まず、平均粒径φ1μmの、Mo粉:71体積%、M
n粉:9体積%、SiO2粉:18体積%、TiH2粉:
2体積%と、溶剤に溶解したエチルセルロース:30外
体積%とを混合し、メタライズペーストを製造した。
ミック基体であるアルミナ製(例えばアルミナ92重量
%)のセラミック基材9の表面に、厚さ12μm程度に
塗布した。つまり、図2に示す様に、例えば外径φ60
mm×厚み5mm×長さ90mmの円筒形のセラミック
基体9の表面(図2の上端面)に、メタライズペースト
を塗布した。
たセラミック基材9を炉中に入れ、ウエッター雰囲気
(露点40℃)のH2/N2(1:1)のガス雰囲気に
て、例えば1350〜1400℃の焼成温度にて焼成し
た。これにより、セラミック基材9の表面に(焼成され
た)メタライズ層11を備えたセラミック部材1が得ら
れた。
イズ面)に、電解メッキによりNiメッキを施して、厚
さ1〜5μmのメッキ層13を形成した。その後、H2
雰囲気中、温度830℃にて、メッキ層13を焼成(シ
ンタリング)した。 次に、図2に示す様に、セラミック部材1の上端面に
コバール製(Fe−Ni−Co)の金属部材3を、5本
ロー付けした。
材3(例えば外径φ2.5×長さ100mmの円柱のコ
バール部材)との間に、銀ロー材(BAg−8)5の箔
をそれぞれ配置して、所定のロー付け温度にて加熱して
冷却することにより、セラミック部材1と金属部材3と
をロー付け接合して接合体7を完成した。
に行った実験例について説明する。 (i)接合体のテストピースの製造方法 まず、前記実施例の製造方法にて、本発明の範囲の接合
体(テストピース)を製造した。
て、接合体を製造する際に、の製造工程において、焼
成条件を違えて、試料No.2、3のセラミック部材を製
造した。具体的には、焼成昇温速度を2℃/分とし、ピ
ーク温度1350℃で45分間焼成して、試料No.2の
セラミック部材を製造した。また、同じ焼成昇温速度に
て、ピーク温度1400℃で45分間焼成して、試料N
o.3のセラミック部材を製造した。
均粒径φ2.5μmの、Mo粉:67体積%、Mn粉:
8体積%、SiO2粉:23体積%、TiH2粉:2体積
%と、溶剤に溶解したエチルセルロース:30外体積%
とを混合し、メタライズペーストを製造した。
て、試料No.1のセラミック部材を製造した。但し、焼
成昇温速度は4℃/分とし、ピーク温度1380℃で4
5分間焼成した。更に、本発明の範囲外の他の比較例と
して、前記実施例と同様にしてメタライズペーストを製
造し、印刷し焼成して、試料No.4のセラミック部材を
製造した。但し、焼成昇温速度は2℃/分とし、ピーク
温度1420℃で90分間焼成した。
ック部材に対して、前記及びの製造工程によって、
金属部材を接合して、試料No.1〜4の接合体を製造し
た。 (ii)実験方法 ・強度試験 前記テストピースの接合体に対して、金属部材の接合強
度を測定した。
端面を治具21で抑え、この状態で、金属部材の上部を
保持部材23で1本づつチャッキングし、この保持部材
23を上方に0.5mm/minの速度で引張った。そ
して、この際に、金属部材が剥がれるまでの強度(接合
強度)を、それぞれ島津製作所製オートグラフにより測
定した。この測定結果を、下記表1に記す。
含む様に切り取り、その切り取った部分を熱可塑性樹脂
によりモールドし、鏡面断面サンプルを作成した。
大撮影し、その画像を色調二値化することにより、10
μm平方(試料No.1〜4)における金属部分とガラス
部分との面積比率(金属成分の面積占有率)を測定し
た。そして、前記金属成分の面積占有率の測定を、任意
の箇所にて合計10箇所にて実施した。その結果を、下
記表1に記す。
の試料No.2、3のテストピース、即ち、メタライズ層
の断面の10μm四方の測定範囲における金属成分の面
積占有率が45〜75%である部分が、全メタライズ層
の80%以上であるものは、接合強度が高く、しかも、
その接合強度が揃っていることが分かる。
テストピースは、接合強度が低い箇所があり好ましくな
い。 (iii)また、前記(i)接合体のテストピースの製造方法と
同様にして、本発明の範囲の接合体(テストピース)と
して、試料No.6、7のセラミック部材を製造した。
し、ピーク温度1350℃で45分間焼成して、試料N
o.6のセラミック部材を製造した。また、同じ焼成昇温
速度にて、ピーク温度1400℃で45分間焼成して、
試料No.7のセラミック部材を製造した。
記と同様にして、試料No.5のセラミック部材を製造し
た。但し、焼成昇温速度は4℃/分とし、ピーク温度1
380℃で45分間焼成した。更に他の比較例として、
前記と同様にして、試料No.8のセラミック部材を製造
した。但し、焼成昇温速度は2℃/分とし、ピーク温度
1420℃で90分間焼成した。
部材に対して金属部材を接合して、試料No.5〜8の接
合体を製造した。次に、前記(ii)実験方法と同様にし
て、強度試験及び接合部分の観察を行った。尚、ここで
は、5μm平方(試料No.5〜8)における金属部分と
ガラス部分との面積比率(金属成分の面積占有率)を測
定した。
を、任意の箇所にて合計10箇所にて実施した。その結
果を、下記表2に記す。
囲の試料No.6、7のテストピース、即ち、メタライズ
層の断面の5μm四方の測定範囲における金属成分の面
積占有率が20〜90%である部分が、全メタライズ層
の80%以上であるものは、接合強度が高く、しかも、
その接合強度が揃っていることが分かる。
テストピースは、接合強度が低い箇所があり好ましくな
い。この様に、本発明の範囲内の接合体は、高く安定し
た接合強度を有するので好適である。また、本発明の接
合体の構成により、焼成後のメタライズ組織と接合強度
との因果関係を定量的に得ることができるので、安定し
て高い接合強度を有する接合体を製造する上での基準と
することができ、製造方法の改良に寄与するという効果
を奏する。 (実施例2)次に、実施例2について説明するが、前記
実施例1と同様な箇所の説明は省略する。
接合体を例に挙げる。 a)図4に模式的に示す様に、本実施例では、アルミナ
製の第1のセラミック部材31と同様なアルミナ製の第
2のセラミック部材33とがロー材35により接合され
て接合体37が形成されている。
第1のセラミック基材39上に第1のメタライズ層41
が形成されたものであり、この第1のメタライズ層41
上にはNiメッキにより第1のメッキ層43が形成され
ている。一方、第2のセラミック部材33は、第2のセ
ラミック基材45上に第2のメタライズ層47が形成さ
れたものであり、この第2のメタライズ層47上にはN
iメッキにより第2のメッキ層49が形成されている。
そして、第1メッキ層43と第2のメッキ層49とがロ
ー材35により接合されることにより、第1のセラミッ
ク部材31と第2のセラミック部材33とが接合されて
一体となっている。
る。 前記実施例1にて説明した様に(以下省略した内容は
前記実施例1と同様である)、メタライズペースト成分
の粉末を使用して、メタライズペーストを製造した。
のセラミック基材39と第2のセラミック基材45の表
面に塗布した。 次に、前記メタライズペーストを塗布した第1、2の
セラミック基材39、45を、それぞれ炉中に入れ、1
350〜1400℃の温度にて焼成し、第1、2のセラ
ミック部材31、33を得た。
7の表面に、Niメッキを施して第1、2のメッキ層4
3,49を形成した。 次に、両メッキ層43、49の間に、銀ロー材35を
配置してロー付け接合し、両セラミック部材31、33
を接合して一体化して接合体37を完成した。
1,33同士を接合したものであるが、本実施例によっ
ても、安定して高い接合強度を有する接合体3が得られ
るという利点がある。 (実施例3)次に、実施例3について説明するが、前記
実施例1、2と同様な箇所の説明は省略する。
ック部材と金属部材からなる接合体を真空スイッチに用
いた例である。即ち、本実施例の真空スイッチは、真空
スイッチ用容器内に電極等を内蔵し、高電圧、大電流の
開閉に適した高負荷開閉器である。
器100は、真空スイッチ用容器(絶縁バルブ)101
と、絶縁バルブ101の端部を塞いで取り付けられた第
1及び第2の端蓋102、103と、第1の端蓋102
に取り付けられ絶縁バルブ101内に突出された固定電
極104と、第2の端蓋103に摺動自在に配置された
可動電極105とを備え、固定電極104と可動電極1
05により接点106を構成している。
量%のセラミック基体で形成され、内径80mm×肉厚
5mm程度×長さ100mmの略円筒形である。また、
絶縁バルブ101は、内径が一定の直胴部110及び内
周壁111の中間にて内側に突出して周設される凸状部
112を有している。更に、絶縁バルブ101の外周面
には、釉薬層115を備えている。
状のコバール(Fe−Ni−Co)板で形成され、各中
央部に固定電極104、ガイド131を固着するための
穴121、132が設けられている。このガイド131
は、可動電極105の可動軸151が摺動し易いように
設けられている。
固着される固定軸141となり、先端が絶縁バルブ10
1内に突出される円環状の電極142となっている。前
記可動電極105は、後端がガイド131内を摺動する
可動軸151となり、先端が固定電極104側の電極1
42に接触する電極152となっている。この可動電極
105は、電極152付近の可動軸151と第2の端蓋
103との間に設けられる蛇腹状の金属べローズ153
により、真空保持状態で開閉動作を可能とされている。
ー154で囲まれ、電流開閉時に、電極142,152
(即ちその先端の接触子143、155)から発生する
金属蒸気が直接触れるのを防いでいる。前記接点106
は、電極142,152の接触が行われる接触子14
3、155に、高融点のタングステン系の焼結金属を用
い、発生する真空アークにより溶着し難い構造となって
いる。
161が配置されている。このアークシールド161
は、前述の金属蒸気が絶縁バルブ101の内周壁111
に付着して絶縁が低下するのを防止するために、絶縁バ
ルブ101の凸状部112にロー付けにより接合されて
いる。
は、前記実施例1の接合体と同様に、セラミック部材で
ある絶縁バルブ101の凸状部112に、金属部材であ
るアークシールド161がロー材162によるロー付け
により接合されている。詳しくは、図6に要部を模式的
に示す様に、絶縁バルブ101の凸状部112の先端に
は、メタライズ層171が形成され、このメタライズ層
171上にNiメッキによりメッキ層173が形成さ
れ、このメッキ層173とアークシールド161とがロ
ー材162によるロー付けによって接合されているので
ある。
ルブ101(従って高負荷開閉器100)を実現するこ
とができる。また、本実施例では、絶縁バルブ101と
端蓋102,103との間に、端蓋102,103側よ
り、ロー材、メッキ層、メタライズ層(図示せず)の順
で配置されており、これにより、絶縁バルブ101と端
蓋102,103とは、高い強度で接合されて気密性が
確保される。 (実施例4)次に、実施例4について説明するが、前記
実施例3と同様な箇所の説明は省略する。
ック部材と金属部材からなる接合体を真空スイッチに用
いた例であるが、アークシールドと絶縁バルブの構造が
異なる。図7に要部を模式的に示す様に、本実施例の真
空スイッチ(高負荷開閉器)200は、真空スイッチ用
容器を構成する上絶縁バルブ201と下絶縁バルブ20
3との間に、無酸素銅からなる金属製の接続部材205
がロー付けされ、その接続部材205の先端側に、アー
クシールド207がロー付け接合されている。
バルブ203と接続部材205とが固定される部分(固
定部209)には、前記実施例1と同様な方法で、それ
ぞれメタライズ層211、213が形成され、各メタラ
イズ層211、213上にはそれぞれNiメッキにより
メッキ層215、217が形成されている。
続部材205とが、それぞれロー材219、221によ
り接合されることにより、両絶縁バルブ201、203
と接続部材205とが接合一体化されている。尚、両絶
縁バルブ201、203の外周面には 前記実施例3と
同様の釉薬層223、225がそれぞれ形成されてい
る。
な効果を奏する。また、本実施例では、上絶縁バルブ2
01と接続部材205との間に、メタライズ層211、
メッキ層215、及びロー材219が設けられ、下絶縁
バルブ203と接続部材205との間に、メタライズ層
213、メッキ層217、及びロー材221が設けられ
て、それらにより、上絶縁バルブ201と接続部材20
5と下絶縁バルブ203とが強固に接続されており、高
い気密性も確保できる。
203と、それぞれの端蓋との間は、前記実施例3と同
様に、端蓋側より、ロー材、メッキ層、メタライズ層
(図示せず)の順で配置されており、これにより、高い
強度で接合されて気密性が確保される。
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲におい
て種々の態様で実施しうることはいうまでもない。
図である。
す説明図である。
図である。
図である。
す説明図である。
す説明図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 セラミック基体上にメタライズ層を形成
したセラミック部材において、 前記メタライズ層の断面の10μm四方の測定範囲にお
ける金属成分の面積占有率が45〜75%である部分
が、全メタライズ層の80%以上であることを特徴とす
るセラミック部材。 - 【請求項2】 セラミック基体上にメタライズ層を形成
したセラミック部材において、 前記メタライズ層の断面の5μm四方の測定範囲におけ
る金属成分の面積占有率が20〜90%である部分が、
全メタライズ層の80%以上であることを特徴とするセ
ラミック部材。 - 【請求項3】 前記請求項1又は2に記載のセラミック
部材に、前記メタライズ層及びロー材層を介して、金属
部材を接合したことを特徴とする接合体。 - 【請求項4】 前記請求項1又は2に記載のセラミック
部材に、前記メタライズ層及びロー材層を介して、他の
セラミック部材を接合したことを特徴とする接合体。 - 【請求項5】 前記メタライズ層とロー材層との間に、
メッキ層を備えたことを特徴とする前記請求項3又は4
に記載の接合体。 - 【請求項6】 前記請求項3〜5のいずれかの接合体を
備えたことを特徴とする真空スイッチ用容器。
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| JP2001189788A JP4428890B2 (ja) | 2001-06-22 | 2001-06-22 | セラミック部材、接合体、及び真空スイッチ用容器 |
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1587120A1 (en) * | 2004-04-14 | 2005-10-19 | Ngk Spark Plug Co., Ltd | Switch container for hermetically encapsulating switch members and method for producing the same |
| CN114649655A (zh) * | 2022-02-18 | 2022-06-21 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种同轴型陶瓷封装绝缘界面结构 |
| JP2023023729A (ja) * | 2021-08-06 | 2023-02-16 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 接合体の製造方法および接合体 |
| JPWO2023190484A1 (ja) * | 2022-03-28 | 2023-10-05 |
-
2001
- 2001-06-22 JP JP2001189788A patent/JP4428890B2/ja not_active Expired - Lifetime
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