JP2002526362A - 固体ガスセンサーおよびそのための化合物 - Google Patents
固体ガスセンサーおよびそのための化合物Info
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Abstract
(57)【要約】
式(MWO4)X(ZO2)1-X の化合物(ここで、MはMg,Mn,Fe,Co,Ni,Cuおよび/またはZnから選ばれ、そしてZはSnおよびTiから選ばれ、0<X<1である)は、ウォルフラマイトにもとづく固溶体であり、一酸化炭素、アンモニア、メタンを検出するための固体ガスセンサーとして有用である。
Description
【0001】 本発明は、ウォルフラマイト(鉄マンガン重石)(Wolframite)に
もとづく固溶体化合物、それから製造されるガスセンサー、およびそのようなセ
ンサーによる種々のガスの濃度の検出もしくは測定に関する。
もとづく固溶体化合物、それから製造されるガスセンサー、およびそのようなセ
ンサーによる種々のガスの濃度の検出もしくは測定に関する。
【0002】 半導体酸化物ガスセンサーは一酸化炭素および炭化水素のような燃焼ガスの検
出に主として用いられている。ほかで(たとえば[1,2])詳細に述べられて
いるように、応答のメカニズムは電子トラップとして作用するイオン吸収(io
nosorbed)酸素種に主として依存する多孔質固体のバルク抵抗による。
このように、これらの表面種とのガスの相互作用は、表面濃度における変化を生
じさせ、したがって固体抵抗に作用する。表面化学につながるガス応答メカニズ
ムを理解する方法として固溶体物質における系統的なカチオン置換が、Cr2-y
Tiy O2+X[3,4],Ba6 FeX Nb10-X O30[5],(CrNbO4)X(
Sn1-y Sby O2)1-X[6]、およびFeNbO4 −CrNbO4 −TiO2[7
]について従来、研究され、そして化学量論、微細構造、ガス濃度勾配、および
ガス感度についての表面偏析が観察された。反応性ガス濃度による種々の導電度
の分析は、表面トップ状態が外形的にO2- adsであることを意味する。我々は、
この状態は表面酸素空孔−還元カチオン複合体として説明されうることを最近示
した[8]。酸化物は、還元ガスへの抵抗変化のシグナルにより、「n」(抵抗
低下)もしくは「p」(抵抗増加)として分類されうる。バルクドナードーピン
グの効果を合理的に説明するモデルが開発され[9]、バルクドナー密度に依存
する表面アクセプター状態のある値で、nからp型への応答の切替えおよびコン
ダクタンス最小値を予測する。
出に主として用いられている。ほかで(たとえば[1,2])詳細に述べられて
いるように、応答のメカニズムは電子トラップとして作用するイオン吸収(io
nosorbed)酸素種に主として依存する多孔質固体のバルク抵抗による。
このように、これらの表面種とのガスの相互作用は、表面濃度における変化を生
じさせ、したがって固体抵抗に作用する。表面化学につながるガス応答メカニズ
ムを理解する方法として固溶体物質における系統的なカチオン置換が、Cr2-y
Tiy O2+X[3,4],Ba6 FeX Nb10-X O30[5],(CrNbO4)X(
Sn1-y Sby O2)1-X[6]、およびFeNbO4 −CrNbO4 −TiO2[7
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ガス感度についての表面偏析が観察された。反応性ガス濃度による種々の導電度
の分析は、表面トップ状態が外形的にO2- adsであることを意味する。我々は、
この状態は表面酸素空孔−還元カチオン複合体として説明されうることを最近示
した[8]。酸化物は、還元ガスへの抵抗変化のシグナルにより、「n」(抵抗
低下)もしくは「p」(抵抗増加)として分類されうる。バルクドナードーピン
グの効果を合理的に説明するモデルが開発され[9]、バルクドナー密度に依存
する表面アクセプター状態のある値で、nからp型への応答の切替えおよびコン
ダクタンス最小値を予測する。
【0003】 従来の研究[3,8]は、高酸化状態にある遷移金属を有する固溶体系列を考
慮した。本研究は低酸化状態にある遷移金属を有する固溶体系列を考慮する。2
価遷移金属タングステン酸塩、AWO4(A=Mn,Fe,Co,Ni,Cu、お
よびZn)は、NiWO4 型タングステン酸塩ともいわれるが、ウォルフラマイ
ト構造で結晶化する小さなカチオンを有する、大きな系統群の構造的に関連した
化合物の一員である[10]。その構造は、単斜晶系で、Z=2および空間群P
2/c(C4 2h)を有する。純FeWO4(フェベライト)(feberite)に
ついては、a=4.730Å,b=5.703Å,c=4.952Å、そしてβ
=90°05′である[11]。その構造は六方晶系の最密充填酸素配列からな
り、そこでは八面体孔の1/2が占有されている。八面体間隙におけるカチオン
分布は、C−軸に沿って延長する。ねじれエッジ(Skew−edge)に連結
された八面体のジグザグ鎖を生じ、いかなる単一鎖においてもただ1つの型のカ
チオンがあるにすぎない。ジグザグ鎖は、a方向に垂直な交互層に配置されてい
る。層間に、その鎖は隅共有の(corner−sharing)八面体により
連結されるので、1つの型の鎖のカチオンはもう1つの同じカチオンに連結され
ない。ウォルフラマイトおよびルチル間の構造類似性は、遷移金属タングステン
酸塩を有するSnO2 もしくはTiO2 の固溶体系列の可能性を意味し、ガス感
度についてのd−電子集団の効果を系統的に研究させる。このような研究は、早
期に与えられるガス応答についての一般的モデルのさらなる試験を与え、異なる
ガスの効果を比較することにより、ある具体的な表面化学作用に帰する特定の効
果を明らかにするであろう。本洽分はこの研究を報告する。
慮した。本研究は低酸化状態にある遷移金属を有する固溶体系列を考慮する。2
価遷移金属タングステン酸塩、AWO4(A=Mn,Fe,Co,Ni,Cu、お
よびZn)は、NiWO4 型タングステン酸塩ともいわれるが、ウォルフラマイ
ト構造で結晶化する小さなカチオンを有する、大きな系統群の構造的に関連した
化合物の一員である[10]。その構造は、単斜晶系で、Z=2および空間群P
2/c(C4 2h)を有する。純FeWO4(フェベライト)(feberite)に
ついては、a=4.730Å,b=5.703Å,c=4.952Å、そしてβ
=90°05′である[11]。その構造は六方晶系の最密充填酸素配列からな
り、そこでは八面体孔の1/2が占有されている。八面体間隙におけるカチオン
分布は、C−軸に沿って延長する。ねじれエッジ(Skew−edge)に連結
された八面体のジグザグ鎖を生じ、いかなる単一鎖においてもただ1つの型のカ
チオンがあるにすぎない。ジグザグ鎖は、a方向に垂直な交互層に配置されてい
る。層間に、その鎖は隅共有の(corner−sharing)八面体により
連結されるので、1つの型の鎖のカチオンはもう1つの同じカチオンに連結され
ない。ウォルフラマイトおよびルチル間の構造類似性は、遷移金属タングステン
酸塩を有するSnO2 もしくはTiO2 の固溶体系列の可能性を意味し、ガス感
度についてのd−電子集団の効果を系統的に研究させる。このような研究は、早
期に与えられるガス応答についての一般的モデルのさらなる試験を与え、異なる
ガスの効果を比較することにより、ある具体的な表面化学作用に帰する特定の効
果を明らかにするであろう。本洽分はこの研究を報告する。
【0004】 タングステン酸塩は、他の技術的な応用について研究された。タングステン酸
亜鉛の単結晶が、シンチレーション検出管、光アノードおよびメーザーのような
用途での潜在的な技術的重要性のためにとくに大いに注目された。いくつかの研
究がこれらの材料の広い範囲の特性を報告した。WaHerichら[12]は
電子照射により生じた、ZnWO4 単結晶における常磁性欠陥の性質を研究した
。未ドープのタングステン酸亜鉛における固有常磁性欠陥は、電子照射後にES
Rにより観察された。ただ1つの孔型欠陥は亜鉛空孔の近くでO2-イオンでトラ
ップされた孔によるものであった。2つの電子過剰中心は酸素空孔でトラップさ
れた単一電子によるものであり、そこで欠陥は酸素空孔位置とは異なっていた。
還元ZnWO4 −Ti単結晶におけるTi(III)中心も、ESR法で試験され、
[Ti3+−H]として表わされる新しいTi3+中心の特徴を生じた。
亜鉛の単結晶が、シンチレーション検出管、光アノードおよびメーザーのような
用途での潜在的な技術的重要性のためにとくに大いに注目された。いくつかの研
究がこれらの材料の広い範囲の特性を報告した。WaHerichら[12]は
電子照射により生じた、ZnWO4 単結晶における常磁性欠陥の性質を研究した
。未ドープのタングステン酸亜鉛における固有常磁性欠陥は、電子照射後にES
Rにより観察された。ただ1つの孔型欠陥は亜鉛空孔の近くでO2-イオンでトラ
ップされた孔によるものであった。2つの電子過剰中心は酸素空孔でトラップさ
れた単一電子によるものであり、そこで欠陥は酸素空孔位置とは異なっていた。
還元ZnWO4 −Ti単結晶におけるTi(III)中心も、ESR法で試験され、
[Ti3+−H]として表わされる新しいTi3+中心の特徴を生じた。
【0005】 CuWO4 の直流電気伝導度および熱電力が、単結晶および多結晶ペレットに
ついて、300〜700Kの温度範囲で測定された[14]。CuWO4 はn型
半導体であることが見出された。その化合物の固有の性質が、多結晶ペレットに
ついて活性化エネルギー1.06eVで455K超で観察される。他の著者はCu
WO4 がバンドギャップ1.52eVを有する真性(intrinsic)半導体
として考えられうることを報告した[15]。
ついて、300〜700Kの温度範囲で測定された[14]。CuWO4 はn型
半導体であることが見出された。その化合物の固有の性質が、多結晶ペレットに
ついて活性化エネルギー1.06eVで455K超で観察される。他の著者はCu
WO4 がバンドギャップ1.52eVを有する真性(intrinsic)半導体
として考えられうることを報告した[15]。
【0006】 タングステン酸ニッケルの交流および直流電気伝導度の測定は、NiWO4 は
2.10eVのバンドギャップを有することを示した[16]。500Kを超える
伝導メカニズム(高比抵抗)≒109 Ω・cmおよびEa=1.5eVを有する)は
、1つのNi2+から隣接のNi2+イオンへの電子移動として提案された。このよ
うな移動はNi3+イオンの生成(Ni2++Ni2+→Ni3++Ni+)を生じさせて
、Ni3+もNi+ イオンもNi2+よりも安定でないので高エネルギーを必要とす
る。
2.10eVのバンドギャップを有することを示した[16]。500Kを超える
伝導メカニズム(高比抵抗)≒109 Ω・cmおよびEa=1.5eVを有する)は
、1つのNi2+から隣接のNi2+イオンへの電子移動として提案された。このよ
うな移動はNi3+イオンの生成(Ni2++Ni2+→Ni3++Ni+)を生じさせて
、Ni3+もNi+ イオンもNi2+よりも安定でないので高エネルギーを必要とす
る。
【0007】 CoWO4 単結晶における伝導度測定は、タングステン酸コバルトがp型半導
体であることを示した[17]。その固体は、750K(EA=0.64eV)まで
の外因性挙動、そしてバンドギャップ2.80eVを示すこの温度を超える(EA=
1.4eV)固有挙動を示した。 FeWO4 の単結晶および多結晶試料がSieberらにより調製され、特徴
づけられた[18]。高温常磁性データから、高スピン状態の鉄(II)3d6 の
存在が確認された。定量ゼーベック(Seebech)測定はp型伝導を示し、
単結晶の室温抵抗は≒100Ωcmであり、活性化エネルギーは0.16eVであっ
た。p型伝導度はFeWO4 とともに固溶体を形成しうる少量のFe2 WO6 の
生成により存在する少量の鉄(III)により生じると解釈された。Bharati
らによるもう1つの研究は、その固体が、不純物もしくは欠陥により支配される
伝導度の900K(EA=0.27eV)までの外因的な挙動特性、ならびにこの温
度(EA=0.64eV)を超える固有の挙動を示すことを提案した。
体であることを示した[17]。その固体は、750K(EA=0.64eV)まで
の外因性挙動、そしてバンドギャップ2.80eVを示すこの温度を超える(EA=
1.4eV)固有挙動を示した。 FeWO4 の単結晶および多結晶試料がSieberらにより調製され、特徴
づけられた[18]。高温常磁性データから、高スピン状態の鉄(II)3d6 の
存在が確認された。定量ゼーベック(Seebech)測定はp型伝導を示し、
単結晶の室温抵抗は≒100Ωcmであり、活性化エネルギーは0.16eVであっ
た。p型伝導度はFeWO4 とともに固溶体を形成しうる少量のFe2 WO6 の
生成により存在する少量の鉄(III)により生じると解釈された。Bharati
らによるもう1つの研究は、その固体が、不純物もしくは欠陥により支配される
伝導度の900K(EA=0.27eV)までの外因的な挙動特性、ならびにこの温
度(EA=0.64eV)を超える固有の挙動を示すことを提案した。
【0008】 300〜1200Kの温度範囲におけるMnWO4 単結晶の電気伝導度が報告
された[20]。顕著な電荷キャリアは検討された全温度範囲にわたる孔(p型
物質)であることが見出された。アレニウスプロット(σ対1/T)の破壊は約
600Kで出現した。この破壊温度の下および上での活性化エネルギーは、それ
ぞれ0.53および0.57eVと評価された。
された[20]。顕著な電荷キャリアは検討された全温度範囲にわたる孔(p型
物質)であることが見出された。アレニウスプロット(σ対1/T)の破壊は約
600Kで出現した。この破壊温度の下および上での活性化エネルギーは、それ
ぞれ0.53および0.57eVと評価された。
【0009】 A(II)B(VI)O4 タングステン酸塩は日光を用いる水の光分解のための光
電極として、ならびにガス検出器として、の使用のための潜在的な化合物である
。なぜなら、これらの物質はp型もしくはn型半導体のいずれでもある可能性を
有するからである。p型挙動は、少量の1つの遷移金属が酸化されるとき、たと
えば鉄(II)タングステン酸塩にFe2 WO6 として少量の鉄(III)の導入、で
観察される。さらに、n型挙動は、構造中の1つの金属が比較的低い酸化状態、
たとえばW(VI)のW(V)への還元、に還元されるときにつくりだされる。こ
のように、ABO4 タングステン酸塩は、水の光分解における光カソードもしく
は光アノードのいずれとしても潜在的な用途を有する[21,22]。ある金属
タングステン酸塩およびそれらの炭酸塩との複合体も、高温で窒素酸化物を検出
しうる半導体型検出器への使用のために研究されている[23]。
電極として、ならびにガス検出器として、の使用のための潜在的な化合物である
。なぜなら、これらの物質はp型もしくはn型半導体のいずれでもある可能性を
有するからである。p型挙動は、少量の1つの遷移金属が酸化されるとき、たと
えば鉄(II)タングステン酸塩にFe2 WO6 として少量の鉄(III)の導入、で
観察される。さらに、n型挙動は、構造中の1つの金属が比較的低い酸化状態、
たとえばW(VI)のW(V)への還元、に還元されるときにつくりだされる。こ
のように、ABO4 タングステン酸塩は、水の光分解における光カソードもしく
は光アノードのいずれとしても潜在的な用途を有する[21,22]。ある金属
タングステン酸塩およびそれらの炭酸塩との複合体も、高温で窒素酸化物を検出
しうる半導体型検出器への使用のために研究されている[23]。
【0010】 本発明者は新規なウォルフラマイトにもとづく酸化物を合成し、それらがガス
に鋭敏な抵抗器として有用であることがわかった。それらは特に、一酸化炭素、
アンモニアおよびメタンを検知する作用を有する。 本発明は、特許請求の範囲により規定される。 これらの新規な酸化物は式(MWO4)X(ZO2)1-X を有し、ここでMはMg,
Mn,Fe,Co,Ni,Cuおよび/またはZnから選ばれ、そしてZはSn
およびTiから選ばれる。MはMn,Fe,Co,Ni,CuおよびZnの1つ
より多くてもよく、そしてZは同一化合物中にSnおよびTiでありうる。
に鋭敏な抵抗器として有用であることがわかった。それらは特に、一酸化炭素、
アンモニアおよびメタンを検知する作用を有する。 本発明は、特許請求の範囲により規定される。 これらの新規な酸化物は式(MWO4)X(ZO2)1-X を有し、ここでMはMg,
Mn,Fe,Co,Ni,Cuおよび/またはZnから選ばれ、そしてZはSn
およびTiから選ばれる。MはMn,Fe,Co,Ni,CuおよびZnの1つ
より多くてもよく、そしてZは同一化合物中にSnおよびTiでありうる。
【0011】 ウォルフラマイトMWO4 は、タングステン酸アンモニアを添加することによ
り水性金属硝酸塩溶液から製造されうる。それらはSnO2 およびTiO2 と固
体で混和しうる。したがって、新規な酸化物は、タングステン酸塩をSnO2 も
しくはTiO2 の混合粉末から固相合成により、通常1000〜1300℃の温
度で仮焼され、製造されうる。
り水性金属硝酸塩溶液から製造されうる。それらはSnO2 およびTiO2 と固
体で混和しうる。したがって、新規な酸化物は、タングステン酸塩をSnO2 も
しくはTiO2 の混合粉末から固相合成により、通常1000〜1300℃の温
度で仮焼され、製造されうる。
【0012】 焼結酸化物は、本発明者の先のWO95/04926に記載されるように、固
体ガスセンサー、たとえば不活性基板上に厚い膜として使用され得、高温安定化
を付与する。通常、膜は300μmまでである。 本発明の好適な態様が、図面とともに実施例により説明される。 本明細書において、ガスの%は容積による。
体ガスセンサー、たとえば不活性基板上に厚い膜として使用され得、高温安定化
を付与する。通常、膜は300μmまでである。 本発明の好適な態様が、図面とともに実施例により説明される。 本明細書において、ガスの%は容積による。
【0013】 ウォルフラマイトMWO4(MはMg,Mn,Fe,Co,Ni,CuおよびZ
n)は、タングステン酸アンモニウム溶液の添加により、水性金属硝酸塩溶液か
ら沈澱させることにより製造される。正しい製造は、CuKα放射を用いるX線
粉末回折法(入射光線モノモノクロメーターを用いる透過においてSiemen
s D5000)により確認された。これらの製造の電気伝導度は高温(>50
0℃)で非常に高く、R>109 Ω・cmであった。ウォルフラマイトは固体でS
NO2 およびTiO2 と混和し得た。固溶体(MWO4)X([Sn−Ti]O2)1- X (0<X<1,MはMg,Mn,Fe,Co,Ni,CuおよびZn)の完全な
範囲は、タングステン酸塩とSnO2 もしくはTiO2 の混合粉末から典型的な
固相合成により、1000<T<1300℃の仮焼温度範囲でうまく製造され、
X線粉末回折で確認された。全体として、少量(<5%)の不純物相含量Fe2
WO6 およびCu2 WO4 は、FeWO4 −およびCuWO4 −置換物質中に検
出された。
n)は、タングステン酸アンモニウム溶液の添加により、水性金属硝酸塩溶液か
ら沈澱させることにより製造される。正しい製造は、CuKα放射を用いるX線
粉末回折法(入射光線モノモノクロメーターを用いる透過においてSiemen
s D5000)により確認された。これらの製造の電気伝導度は高温(>50
0℃)で非常に高く、R>109 Ω・cmであった。ウォルフラマイトは固体でS
NO2 およびTiO2 と混和し得た。固溶体(MWO4)X([Sn−Ti]O2)1- X (0<X<1,MはMg,Mn,Fe,Co,Ni,CuおよびZn)の完全な
範囲は、タングステン酸塩とSnO2 もしくはTiO2 の混合粉末から典型的な
固相合成により、1000<T<1300℃の仮焼温度範囲でうまく製造され、
X線粉末回折で確認された。全体として、少量(<5%)の不純物相含量Fe2
WO6 およびCu2 WO4 は、FeWO4 −およびCuWO4 −置換物質中に検
出された。
【0014】 ガス感度および選択性の測定が前述のように[3〜7]、圧縮、焼結ペレット
(13mm径、≒2m厚さ)について検討された。ペレットの電気抵抗はまず、乾
燥空気中で400℃、2時間安定化された。空気中の一酸化炭素、アンモニアお
よびメタンが低濃度で装置内に導入され、ペレット抵抗が400および500℃
で測定された。図1は、用いられた典型的な実験手順および得られた結果を示す
。ガス感度Sは、S=△σ/σ0 =(R0−R)/Rとして計算され、σは伝導度
、そしてRは抵抗(σ0 ,R0 は乾燥純空気中)を示す。ここで、抵抗減少応答
は正の値として記録され、そして抵抗増加応答は負の値として記録される。
(13mm径、≒2m厚さ)について検討された。ペレットの電気抵抗はまず、乾
燥空気中で400℃、2時間安定化された。空気中の一酸化炭素、アンモニアお
よびメタンが低濃度で装置内に導入され、ペレット抵抗が400および500℃
で測定された。図1は、用いられた典型的な実験手順および得られた結果を示す
。ガス感度Sは、S=△σ/σ0 =(R0−R)/Rとして計算され、σは伝導度
、そしてRは抵抗(σ0 ,R0 は乾燥純空気中)を示す。ここで、抵抗減少応答
は正の値として記録され、そして抵抗増加応答は負の値として記録される。
【0015】 X線光電子分光法(XPS)は集中(300μmスポット大きさ)モノクロム
Al−Kα放射を用いて実施された(VGESCALAB220iXL)。走査
は100meV の間隔で行なわれ、スペクトルメータのパスエネルギーは20meV
であった。結合エネルギーは、284.80eVで炭化水素Clsピークに対照さ
れ、試料装入は3eVフラッドガンで制御された。
Al−Kα放射を用いて実施された(VGESCALAB220iXL)。走査
は100meV の間隔で行なわれ、スペクトルメータのパスエネルギーは20meV
であった。結合エネルギーは、284.80eVで炭化水素Clsピークに対照さ
れ、試料装入は3eVフラッドガンで制御された。
【0016】 検討された化合物は、末端メンバーとしてTiO2(d0)およびSnO2(d10)
を有する d5〜d10の範囲にわたった。図2は400℃における組成の関数とし
て電気伝導度を示す。 TiもしくはSn(X=0.1)の小さな置換でさえ、抵抗率を測定しうる範
囲(5.104≦ρ(Ω・cm)≦2.106)にした。TiO2 もしくはSnO2 へ
のFeWO4 の小さな置換は抵抗率を非常に減少させたことは注目に値する。そ
の挙動は著しい抵抗率増加をもたらすFeの直接置換の作用と対照をなす。Ti
O2 およびSnO2 へのNiWO4 の小さな置換に対して、比抵抗は2つの要因
により増加し、さらに置換しても高いままである。他のタングステン酸塩の置換
は、これらの両極端のいずれかからよく離れたかなり狭いバンドに、比抵抗集合
させた。
を有する d5〜d10の範囲にわたった。図2は400℃における組成の関数とし
て電気伝導度を示す。 TiもしくはSn(X=0.1)の小さな置換でさえ、抵抗率を測定しうる範
囲(5.104≦ρ(Ω・cm)≦2.106)にした。TiO2 もしくはSnO2 へ
のFeWO4 の小さな置換は抵抗率を非常に減少させたことは注目に値する。そ
の挙動は著しい抵抗率増加をもたらすFeの直接置換の作用と対照をなす。Ti
O2 およびSnO2 へのNiWO4 の小さな置換に対して、比抵抗は2つの要因
により増加し、さらに置換しても高いままである。他のタングステン酸塩の置換
は、これらの両極端のいずれかからよく離れたかなり狭いバンドに、比抵抗集合
させた。
【0017】 伝導のための活性化エネルギーEA の概略の評価は400および500℃にお
ける物質の比抵抗から計算された(図3)。全体として、活性化エネルギーは、
TiO2 よりもSnO2 置換物質について高かったが、純TiO2 およびSnO 2 のバンドギャップがそれぞれ3.0eVおよび3.6eVであると考えられるのと
一致する。NiWO4 −およびFeWO4 −置換物質はそれぞれ最高および最低
活性化エネルギー値を示したが、これは前述の文献値と一致する。残りの置換物
質についてのすべての活性化エネルギーはこれらの値の間に集まった。すべての
化合物についての組成に、明白で、非常に一般的なEA 変動のパターンがあった
:系列のいずれの端でも小さい置換で活性化エネルギーの著しい変化、ならびに
これらの範囲での組成の、一本調子であるが、比較的小さい変動である。
ける物質の比抵抗から計算された(図3)。全体として、活性化エネルギーは、
TiO2 よりもSnO2 置換物質について高かったが、純TiO2 およびSnO 2 のバンドギャップがそれぞれ3.0eVおよび3.6eVであると考えられるのと
一致する。NiWO4 −およびFeWO4 −置換物質はそれぞれ最高および最低
活性化エネルギー値を示したが、これは前述の文献値と一致する。残りの置換物
質についてのすべての活性化エネルギーはこれらの値の間に集まった。すべての
化合物についての組成に、明白で、非常に一般的なEA 変動のパターンがあった
:系列のいずれの端でも小さい置換で活性化エネルギーの著しい変化、ならびに
これらの範囲での組成の、一本調子であるが、比較的小さい変動である。
【0018】 表1は、ぬれた空気、すなわち空気中の1%CO,0.1%NH3 および1%
CH4 、にさらされたときの(MWO4)X(M′O2)1-X(M=Mn,Fe,Co,
Ni,Cu,Zn、そしてM′=Sn,Ti)の抵抗変化の兆候を示す(「+」
は乾燥からぬれた空気へ、または乾燥空気から試験ガスを含む乾燥空気へ、のガ
スの変化にもとづく抵抗増加を意味する)。表1はさらに、|SH2O |=|(Rd ry −Rwet)/Rwet |として計算される水蒸気に対する感度の大きさを示し、こ
こでRwet は室温(≒20℃)で水蒸気で飽和された空気中での抵抗を示す。反
応性ガスCO,CH4 およびアンモニアはnもしくはp型として物質の分類に一
致した(図4〜6、ここで Sgas=(R0−Rgas)/Rgas は抵抗減少はSに対す
る正の兆候を与えることを意味する)。しかし、水蒸気への応答の兆候は、必ず
しも一致するとは限らなかった。タングステン酸塩の小さい置換の作用は水蒸気
へのSnO2 の感度を非常に低下させることであり、すべてのタングステン酸塩
物質に対して通常1.4から0.2未満にシフトした。水蒸気への応答の大きさ
は、遷移系列:Mn<Fe,Co<Ni,Cu<Znにそって系統的に変動した
。水への電気応答の兆候が他のガスよりも困難である場合は、水への応答メカニ
ズムが他のガスのそれよりも困難でありうることが示される。
CH4 、にさらされたときの(MWO4)X(M′O2)1-X(M=Mn,Fe,Co,
Ni,Cu,Zn、そしてM′=Sn,Ti)の抵抗変化の兆候を示す(「+」
は乾燥からぬれた空気へ、または乾燥空気から試験ガスを含む乾燥空気へ、のガ
スの変化にもとづく抵抗増加を意味する)。表1はさらに、|SH2O |=|(Rd ry −Rwet)/Rwet |として計算される水蒸気に対する感度の大きさを示し、こ
こでRwet は室温(≒20℃)で水蒸気で飽和された空気中での抵抗を示す。反
応性ガスCO,CH4 およびアンモニアはnもしくはp型として物質の分類に一
致した(図4〜6、ここで Sgas=(R0−Rgas)/Rgas は抵抗減少はSに対す
る正の兆候を与えることを意味する)。しかし、水蒸気への応答の兆候は、必ず
しも一致するとは限らなかった。タングステン酸塩の小さい置換の作用は水蒸気
へのSnO2 の感度を非常に低下させることであり、すべてのタングステン酸塩
物質に対して通常1.4から0.2未満にシフトした。水蒸気への応答の大きさ
は、遷移系列:Mn<Fe,Co<Ni,Cu<Znにそって系統的に変動した
。水への電気応答の兆候が他のガスよりも困難である場合は、水への応答メカニ
ズムが他のガスのそれよりも困難でありうることが示される。
【0019】
【表1】
【0020】 いくつかの点が、感度についての組成の影響に関して注目に値する。予期され
るように、著しい特徴は、2つの系列にそう組成における変化とともに、ある物
質の挙動は「n型」(還元ガスの存在下で抵抗減少)から「p型」(ガスは抵抗
増加を生じさせる)に変化することである。NiおよびCuにもとづく物質のみ
が、2つの系列(SnO2 およびTiO2)に沿ってn型にとどまる。これらの2
組の物質は、その範囲を渡る感度の最小値を示した。Ni系列については、最小
値はTiO2 側にあったが、一方Cu系列はSnO2 側にあった。n型化合物は
、CH4 がなければp型物質よりも、COに対するずっと高い感度を示し、nお
よびp型物質の間の差異はそんなに著しくなかった。Co系列は、n−pトラン
ジションの直前に、SnO2 部分上でCH4 に対するやや強い感度を示すことが
注目された。n−pトランジションはすべての反応性ガスに対して同一組成範囲
にわたってみられた。n−pトランジションが生じるタングステン酸塩のモル分
率Xを考慮すると、TiO2 に沿う配列はZn<Mn,Co<Feであり、そし
てSnO2 に沿うのはCO<Mn<Zn,Feであり、したがって亜鉛化合物は
両端メンバーに関して非対称の挙動を示すことが注目された。Fe,Ni,Cu
およびZn系列に関して(MnもしくはCo系列に関してではなく)、SnO2
部分に沿ってy=0.3〜0.5でCOへの感度の著しい最大値があった。Ti
O2 に沿うこのような最大値はそんなに著しくはなかった。メタンに対する感度
については、同様な最大値がみられたが、Ni系列についてだけであった。Sn
O2 側上のNi系列は、小さな置換はCOおよびCH4 双方に対する感度を低下
させ、さらなる置換は最大値に対する感度(n型)を著しく増加させるので、興
味深いものであった。
るように、著しい特徴は、2つの系列にそう組成における変化とともに、ある物
質の挙動は「n型」(還元ガスの存在下で抵抗減少)から「p型」(ガスは抵抗
増加を生じさせる)に変化することである。NiおよびCuにもとづく物質のみ
が、2つの系列(SnO2 およびTiO2)に沿ってn型にとどまる。これらの2
組の物質は、その範囲を渡る感度の最小値を示した。Ni系列については、最小
値はTiO2 側にあったが、一方Cu系列はSnO2 側にあった。n型化合物は
、CH4 がなければp型物質よりも、COに対するずっと高い感度を示し、nお
よびp型物質の間の差異はそんなに著しくなかった。Co系列は、n−pトラン
ジションの直前に、SnO2 部分上でCH4 に対するやや強い感度を示すことが
注目された。n−pトランジションはすべての反応性ガスに対して同一組成範囲
にわたってみられた。n−pトランジションが生じるタングステン酸塩のモル分
率Xを考慮すると、TiO2 に沿う配列はZn<Mn,Co<Feであり、そし
てSnO2 に沿うのはCO<Mn<Zn,Feであり、したがって亜鉛化合物は
両端メンバーに関して非対称の挙動を示すことが注目された。Fe,Ni,Cu
およびZn系列に関して(MnもしくはCo系列に関してではなく)、SnO2
部分に沿ってy=0.3〜0.5でCOへの感度の著しい最大値があった。Ti
O2 に沿うこのような最大値はそんなに著しくはなかった。メタンに対する感度
については、同様な最大値がみられたが、Ni系列についてだけであった。Sn
O2 側上のNi系列は、小さな置換はCOおよびCH4 双方に対する感度を低下
させ、さらなる置換は最大値に対する感度(n型)を著しく増加させるので、興
味深いものであった。
【0021】 400℃で測定されたすべての化合物の一酸化炭素−メタン選択性は7図に示
され、そしてMn,FeおよびZn化合物についての一酸化炭素−アンモニア選
択性は図8に示される。Mn,Co,NiおよびCu化合物は、Mnについての
1から、Cuについての5まで変動する2つの部分(図7)にそって非常に安定
なCO/CH4 選択性を示した。FeおよびZnについては、選択性はTiO2
部分にそって安定のままであったが、SnO2 部分にそって強い最大値を生じ、
10までの数値に増加した。MnおよびFe化合物は双方の系列にそって安定な
CO/NH3 選択性(0<Sco/SNH3 <1)を示した。しかしZn化合物はT
iO2 部分にそって高い選択性(7まで)の異なる挙動を示した。
され、そしてMn,FeおよびZn化合物についての一酸化炭素−アンモニア選
択性は図8に示される。Mn,Co,NiおよびCu化合物は、Mnについての
1から、Cuについての5まで変動する2つの部分(図7)にそって非常に安定
なCO/CH4 選択性を示した。FeおよびZnについては、選択性はTiO2
部分にそって安定のままであったが、SnO2 部分にそって強い最大値を生じ、
10までの数値に増加した。MnおよびFe化合物は双方の系列にそって安定な
CO/NH3 選択性(0<Sco/SNH3 <1)を示した。しかしZn化合物はT
iO2 部分にそって高い選択性(7まで)の異なる挙動を示した。
【0022】 図9および10はFeおよびCoにもとづく物質に関してXPS表面分析によ
り得られた表面濃度(原子%)対TiO2 およびSnO2 モル比を示す。n型か
らp型ガス感度への転換は、TiおよびSn表面濃度が有意に低下しはじめると
きに生じるようにみえることはこれらの図から明白である。双方の系列に関して
、他のカチオン、特に遷移金属カチオンに相当する表面へのWの明白な偏析があ
った。この偏析は純MWO4 ではみられなかった。チタンはバルク組成から予測
されるよりも多くの、もしくは少ない濃度で表面に存在するようにみえる。n型
の範囲で、Snは、Fe系列で表面から追い払われた;その作用はCo系列では
そんなに著しくはなかった。
り得られた表面濃度(原子%)対TiO2 およびSnO2 モル比を示す。n型か
らp型ガス感度への転換は、TiおよびSn表面濃度が有意に低下しはじめると
きに生じるようにみえることはこれらの図から明白である。双方の系列に関して
、他のカチオン、特に遷移金属カチオンに相当する表面へのWの明白な偏析があ
った。この偏析は純MWO4 ではみられなかった。チタンはバルク組成から予測
されるよりも多くの、もしくは少ない濃度で表面に存在するようにみえる。n型
の範囲で、Snは、Fe系列で表面から追い払われた;その作用はCo系列では
そんなに著しくはなかった。
【0023】
【表2】
【0024】
【表3】
【図1】 1%COおよび CH4/空気中に、420および510℃でさらすことによる
(FeWO4)0.1(SnO2)0.9 センサーの時間に対する抵抗を示す図である。
(FeWO4)0.1(SnO2)0.9 センサーの時間に対する抵抗を示す図である。
【図2】 400℃でTiO2 およびSnO2 濃度を変えた、本発明の種々の酸化物につ
いて、比抵抗を示す図である。
いて、比抵抗を示す図である。
【図3】 400〜500℃の温度範囲でTiO2 およびSnO2 濃度を変えた、本発明
の種々の酸化物についてのコンダクタンス活性化エネルギーを示す。
の種々の酸化物についてのコンダクタンス活性化エネルギーを示す。
【図4】 400℃でTiO2 およびSnO2 濃度を変えた、1%一酸化炭素/乾燥空気
中に対する本発明酸化物の選択性Sco(上述のように定義される)を示す。
中に対する本発明酸化物の選択性Sco(上述のように定義される)を示す。
【図5】 400℃でTiO2 およびSnO2 濃度を変えた、1%メタン/乾燥空気中に
対する本発明酸化物の選択性SCH4 を示す。
対する本発明酸化物の選択性SCH4 を示す。
【図6】 400℃でTiO2 およびSnO2 濃度を変えた、1%アンモニア/乾燥空気
中に対する本発明酸化物の選択性SNH3 を示す。
中に対する本発明酸化物の選択性SNH3 を示す。
【図7】 400℃でTiO2 およびSnO2 濃度を変えた、Sco/SCH4 で表わされる
一酸化炭素/メタン選択性(乾燥空気中)を示す。
一酸化炭素/メタン選択性(乾燥空気中)を示す。
【図8】 図7に類似するが、一酸化炭素/アンモニア選択性を示す、
【図9】 TiO2 およびSnO2 濃度を変えた、(FeWO4)x(ZO2)1-X についての
全表面カチオン濃度の分率(%)として表面カチオン濃度を示し、X線光電子分
光法で測定された。
全表面カチオン濃度の分率(%)として表面カチオン濃度を示し、X線光電子分
光法で測定された。
【図10】 図9に類似するが、(CoWO4)x(ZO2)1-X について示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01N 27/12 G01N 27/12 C Fターム(参考) 2G046 AA10 AA11 AA19 BA01 BA09 FB02 FE09 FE11 FE12 FE20 FE21 FE25 FE40 FE44 FE48 4G002 AA06 AA10 AD02 AE05 4G048 AA03 AC08 AD02 AD06 AE03
Claims (10)
- 【請求項1】 式:(MWO4)X(ZO2)1-X (ここで、MはMg,Mn,Fe,Co,Ni,Cuおよび/またはZnから選
ばれ、そしてZはSnおよびTiから選ばれ、0<X<1である) の化合物。 - 【請求項2】 ウォルフラマイトにもとづく固溶体の形態である請求項1記
載の化合物。 - 【請求項3】 MがMg,Mn,Fe,Co,Ni,CuもしくはZnのた
だ1つである請求項1記載の化合物。 - 【請求項4】 ZがSnもしくはTiのただ1つである請求項1〜3のいず
れかに記載の化合物。 - 【請求項5】 請求項1〜3のいずれかに記載の化合物と接触する少くとも
一対の電極を有するガスセンサー。 - 【請求項6】 化合物が不活性基体上の膜として配置される請求項5記載の
ガスセンサー。 - 【請求項7】 膜が300μmまでの厚さを有する請求項5もしくは6記載
のガスセンサー。 - 【請求項8】 ガス混合物中のガス濃度を検出もしくは測定するための、請
求項5〜7のいずれかに記載のガスセンサーの使用。 - 【請求項9】 ガスが一酸化炭素、メタンもしくはアンモニアである請求項
8記載のガスセンサーの使用。 - 【請求項10】 ガス混合物が空気を含む請求項8記載のガスセンサーの使
用。
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- 1999-09-22 EP EP99949126A patent/EP1115660A1/en not_active Withdrawn
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