FI111757B - Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa - Google Patents
Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa Download PDFInfo
- Publication number
- FI111757B FI111757B FI991072A FI991072A FI111757B FI 111757 B FI111757 B FI 111757B FI 991072 A FI991072 A FI 991072A FI 991072 A FI991072 A FI 991072A FI 111757 B FI111757 B FI 111757B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- paper
- board
- measuring arrangement
- camera
- pixel
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 25
- 239000000123 paper Substances 0.000 claims description 83
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 81
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 60
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 claims description 31
- 239000011111 cardboard Substances 0.000 claims description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 238000004439 roughness measurement Methods 0.000 claims description 8
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 claims description 5
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000012086 standard solution Substances 0.000 description 1
- 229940081330 tena Drugs 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
111757
Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa
Keksinnön ala
Keksinnön mukaisella ratkaisulla mitataan paperin tai kartongin pintaominaisuutta. Paperin tai kartongin pintaa valaistaan ja valaistu paperin tai 5 kartongin pinta kuvataan kameralla mittausta varten.
Keksinnön tausta
Paperin ja kartongin pintaominaisuuksia kuvaamaan käytetään mm. karheutta ja kiiltoa, joiden avulla arvioidaan esimerkiksi paperin painettavuutta. Ehkä yleisin tapa mitata paperin karheutta perustuu ilmanvuotomittausmene-10 telmiin, joita käyttävät hyväksi esimerkiksi Bendtsen-, Parker-Prit-Surf- Sheffield-, Bekk- ja Gurley-Hill 'laitteistot. Näissä ratkaisuissa paperin tai kartongin pintaan painetaan tietyllä voimalla sylinterimäinen elementti, jonka sisälle aiheutetaan paine-ero suhteessa ympäröivään ilmaan ja sylinterimäisen elementin reunan ja paperin tai kartongin pinnan välisestä raosta kulkeva ilmavir-15 taus mitataan. Näihin mittauksiin liittyy useita ongelmia. Karheutta kuvaavaan parametriin vaikuttaa myös paperin huokoisuus. Lisäksi mittaus kohdistuu in-tegroivasti laajaan pinta-alueeseen, jolloin paperin pinnan yksityiskohtaisesta rakenteesta ei saada tarkkaa tietoa. Tämä taas puolestaan haittaa mm. pai-nettavuuden arviointia. Epäkohtana on myös virhetekijä, joka aiheutuu mitta- • · 20 ustuloksen ja sylinterimäistä elementtiä paperin tai kartongin pintaa vasten • *·· painavan voiman välisestä riippuvuudesta.
Paperin ja kartongin pintaominaisuuksia voidaan mitata myös opti-·:··· sesti. Profilometrisessa karheuden mittauksessa paperin pintaa tutkitaan yksi- ./r. ulotteisesti käyttäen fokusoitua sädettä samaan tapaan kuin CD-levyä luetta- 25 essa. Ongelmia aiheuttaa huokoisuus, paperin läpinäkyvyys ja mahdollinen voimakas heijastavuus, joiden takia profiili vääristyy. Lisäksi mittauksen yksi-ulotteisuus on haitta. Karheutta mitataan myös käyttäen hyväksi valon siron-•>t;* taa. Tunnetun tekniikan mukaisessa ratkaisussa paperin pintaa tavanomaises-
• I
··' ti valaistaan vinossa kulmassa (45° - 85°) pinnan normaaliin nähden ja kar- : 30 heuden määrittämiseksi mitataan spekulaariheijastuksen suunnasta säteilyn : · · ·. intensiteettijakauma. Tällaista ratkaisua kuvattu tarkemmin esimerkiksi suoma laisessa patenttijulkaisussa 56453, joka otetaan tähän viitteeksi. Myös kiillon • > » ·**! mittauksessa mitataan tyypillisesti spekulaarista heijastusta. Tunnetun teknii- kan mukaisessa standardoidussa ratkaisussa mitataan paperin tai kartongin 35 kiiltoa siten, että valaistaan paperin tai kartongin pintaa suuresta kulmasta 2 111757 (esim. 75°) pinnannormaaliin nähden ja detektoidaan pinnasta heijastunutta optista säteilyä heijastuskulmasta. Tätä ratkaisua on puolestaan kuvattu tarkemmin standardissa T 480 om-92, joka otetaan tähän viitteeksi. Tunnetun tekniikan mukaisilla mittausjärjestelyillä kiilto ja karheus mitataan integroivasti 5 laajalta alueelta, joka on tavallisesti kymmenien neliömillimetrien alue. Laajalta alueelta mitattu keskiarvo ei anna paperin pinnan rakenteesta tarkkaa tietoa eikä siten esimerkiksi painettavuutta voida arvioida luotettavasti. Suuri mitta-uskulma edelleen heikentää mittaustarkkuutta. Ongelmana on lisäksi se, että pinnan karheus ja kiilto sekoittuvat toisiinsa eikä niitä onnistuta varmuudella 10 määrittämään erikseen.
Keksinnön lyhyt selostus
Keksinnön tavoitteena on siten toteuttaa menetelmä ja menetelmän toteuttava laitteisto siten, että yllä mainitut ongelmat saadaan ratkaistua. Tämä saavutetaan keksinnön mukaisella ratkaisulla, jonka kohteena on menetelmä 15 paperin tai kartongin pintaominaisuuden määrittämiseksi, jossa menetelmässä valaistaan paperin tai kartongin pintaa yhdensuuntaistetulla valolla oleellisesti paperin tai kartongin pinnan normaalin suuntaisesti ja valaistu paperin tai kartongin pinta kuvataan kameran detektoripinnan pikseleille. Edelleen keksinnön mukaisessa menetelmässä ainakin kiillon mittaamiseksi mikropintaominaisuu- , . 20 tena kontrolloidaan heijastunutta optista säteilyä halutun kokoisella aukolla * * ennen kameraa; tarkennetaan paperin tai kartongin pinnan kuva syvyyssuun- : ’*· nassa eri etäisyyksille kameran ja paperin tai kartongin pinnan välistä optista etäisyyttä muuttamalla; muodostetaan heijastuneen optisen säteilyn avulla :paperin tai kartongin pinnasta kuva eri optisilla etäisyyksillä kameran detekto-T: 25 ripinnan pikseleille, joista kukin pikseli kuvaa mikrometrien kokoluokassa ole- van alan paperin tai kartongin pinnasta; ja mitataan ainakin paperin tai kartongin kiilto perustuen kameran detektoripinnan pikselien intensiteetteihin eri op-: ·. *. tisilla etäisyyksillä muodostetuissa kuvissa.
Keksinnön kohteena on myös mittausjärjestely paperin tai kartongin *;* 30 pintaominaisuuden määrittämiseksi, joka mittausjärjestely käsittää optisen te- ·*,·,! hon lähteen kollimoivan optisen lohkon ja osittain läpäisevän peilin optisen säteilyn suuntaamiseksi yhdensuuntaisena oleellisesti paperin tai kartongin , | , pinnan normaalin suuntaisessa paperin tai kartongin pinnalle, ja sekä kuvaa-
• I I
van optisen lohkon että kameran kuvan muodostamiseksi heijastuneen opti-35 sen säteilyn avulla kameran detektoripinnan pikseleille valaistusta paperin tai kartongin pinnasta. Keksinnön mukainen mittausjärjestely käsittää ainakin yh- 3 111757 den mikropintaominaisuuden mittausta varten halutun kokoisen aukon kontrolloida heijastunutta optista säteilyä ja mittausjärjestely on sovitettu muuttamaan kameran ja paperin tai kartongin pinnan välistä optista etäisyyttä fokuspisteen muuttamiseksi paperin tai kartongin pinnalla ja mittaamaan ainakin paperin tai 5 kartongin kiillon kameran detektoripinnan pikselien intensiteetteihin perustuen eri optisilla etäisyyksillä.
Keksinnön edulliset suoritusmuodot ovat epäitsenäisten patenttivaatimusten kohteena.
Keksinnön mukainen ratkaisu perustuu siis siihen, että yhdensuun-10 täisellä optisella säteilyllä valaistaan paperin tai kartongin pintaa pinnannor-maalin suunnasta. Aukolla säädetään mitattavan mikropintaominaisuuden laatua. Kiiltoa mitattaessa aukolla säädetään kameralle tulevan optisen säteilyn suuntaa. Karheutta mitattaessa aukolla säädetään kameran detektoripinnan pikseleille muodostetun kuvan syvyysterävyyttä. Kummassakin tapauksessa 15 mikropintaominaisuudet mitataan kameran detektoripinnan pikseleiden vastaanottamien intensiteettien avulla.
Keksinnön mukaisella mittausjärjestelyllä ja menetelmällä saavutetaan useita etuja. Keksintö mahdollistaa paperin tai kartongin pintaominaisuuden mittaamisen mikrometrien pinta-alalta, jolloin pintaominaisuudet voidaan 20 määrittää mikropintaominaisuuksina. Tällöin voidaan kiilto ja karheus erotella . . hyvin toisistaan. Edellä mainitun ansiosta paperin tai kartongin painettavuutta ’ voidaan arvioida tarkasti. Tämän ansiosta saavutetaan merkittäviä kustannus- :it*‘ säästöjä erilaisten painotuotteiden tuottamisessa, koska on mahdollista kont- ' · rolloida paperin tai kartongin prosessointia valmistuksen aikana. Tämä merkit- 25 see konkreettisesti esimerkiksi painamisessa käytettävän musteen kulutuksen v : optimointia, ja täten voidaan taata hyvä tekstin ja kuvan laatu.
Kuvioiden lyhyt selostus
Keksintöä selostetaan nyt lähemmin edullisten toteutusmuotojen ‘; yhteydessä, viitaten oheisiin piirroksiin, joissa 30 kuvio 1 esittää mittausjärjestelyä paperin tai kartongin pinnan mik- ·*,·,: ropintaominaisuuksien mittaamiseksi, kuvio 2 esittää mittausjärjestelyä paperin tai kartongin pinnan kiillon _ mittaamiseksi, »tl kuvio 3 esittää optisen aukon ja pinnasta heijastuneen optisen sä-35 teilyn välistä riippuvuutta, 4 111757 kuvio 4 esittää mittausjärjestelyä paperin tai kartongin pinnan karheuden mittaamiseksi, kuvio 5 esittää syvyysterävyyden määräytymistä,
Kuvio 6A esittää pyöritettävää kiekkoa, 5 kuvio 7 esittää mittausjärjestelyä paperin tai kartongin pinnan mik- ropintaominaisuuksien määrittämiseksi.
Keksinnön yksityiskohtainen selostus
Keksinnön mukaisella mittausjärjestelyllä ja menetelmällä mitataan paperin tai kartongin pinnan mikropintaominaisuus, jota voidaan käyttää hy-10 väksi paperin tai kartongin painettavuutta arvioitaessa. Mitattavana mikropin-taominaisuutena on kiilto. Myös karheus voidaan mitata samalla mittausjärjestelyllä.
Yksinkertaisimmillaan kiilto ja karheus voidaan ajatella erotettavan siten, että karheus edustaa suurempia epätasaisuuksia mitattavalla pinnalla 15 kuin kiiltoon vaikuttavat epätasaisuudet. Tällöin karheutta edustavat optisessa mittauksessa (reilusti) aallonpituutta suuremmat epätasaisuudet, kun taas kiiltoon vaikuttaa isolta osalta aallonpituuden suuruusluokassa olevat epätasaisuudet. Sironnut optinen säteily koostuu siis pinnan muodon mukaan eri suuntaan heijastuneista säteistä ja pinnan pienistä epätasaisuuksista diffraktoitu-20 neista säteistä.
’*: Tarkastellaan nyt lähemmin kuvion 1 avulla keksinnöllistä ratkaisua.
'·· Mittausjärjestely käsittää näytteenä 11 paperin tai kartongin, optisen tehon lähteen 14 optisen säteilyn 15 lähettämiseksi paperin tai kartongin 11 pintaan *·! 10 sekä kollimoivan optisen lohkon 16 optisen säteilyn 15 yhdensuuntaistami- ; 25 seksi ja peilin 18 yhdensuuntaistetun säteilyn 15 suuntaamiseksi näytteen 11 pinnalle oleellisesti näytteen 11 pinnan normaalin suunnassa. Pienet poikkeamat pinnannormaalin suunnassa, esimerkiksi alle 10 astetta, ovat mahdol- .. . lisiä keksinnön mukaisessa ratkaisussa. Keksinnöllisessä ratkaisussa peili on • » osittain läpäisevä peili 18, jollainen on esimerkiksi puoliläpäisevä peili. Paperi • · ' 30 tai kartonki 11 on edullisesti tasaisella ja tukevalla alustalla 12. Lisäksi mittaus- : järjestely käsittää halutun kokoisen aukon 20. Heijastunut optinen säteily 17 käsittää peiliheijastuneen optisen säteilyn ja osan sironneesta optisesta sätei- t | » ', lystä. Mitattaessa kiiltoa aukko 20 rajoittaa kameralle 22 tulevan säteilyn vas- ’ *: ‘ ’ taanottokulmaa (tätä on esitetty tarkemmin kuviossa 3) eli rajoittaa sironneen 35 säteilyn pääsyä kameran 22 detektoripinnalle. Mitattaessa karheutta aukon 20 suuruus määrittää syvyysterävyyden (esitetty tarkemmin kuvion 5 yhteydessä).
5 111757
Mittausjärjestely käsittää edullisesti myös tietokoneen 50 tietokonepohjaista kuva-analyysiä varten. Kollimoiva optinen lohko 16 ja kuvaava optinen lohko 13 käsittävät ainakin yhden linssin. Kuvaava optinen lohko 13 on mitoitettu siten, että kameran 22 detektoripinnalle muodostuvassa kuvassa erottuu pa-5 perin tai kartongin 11 pinnasta 10 mikrometriluokassa olevia yksityiskohtia, jolloin pinnasta 10 voidaan mitata mikropintaominaisuuksia. Kuvaavan optisen lohkon 13, osittain läpäisevän peilin 18 sekä halutun kokoisen aukon 20 välinen järjestys heijastuneen optisen säteilyn 17 kulkureitillä ei ole keksinnön kannalta oleellinen, vaan järjestys voi olla erilainen kuin kuviossa 1 esitetty. 10 Kamera 22 on esimerkiksi sinällään tunnettu CCD-kamera (Charge Coupled Device), jonka detektoripintana on pikseleistä koostuva matriisi. Kameran 22 muodostamaa kuvaa käsitellään tietokoneessa 50 edullisimmin harmaasävyinä, joten kamera voi olla mustavalkokamera.
Optisen tehon lähteenä 14 käytetään edullisesti riittävän leveän op-15 tisen kaistan omaavaa optisen tehon lähdettä, jolloin vältytään speckle-ilmiön mahdollisesti aiheuttamilta ongelmilta. Speckle-ilmiö on erityisesti monokromaattisille optisen säteilyn lähteille kuten laserille tyypillinen ilmiö. Mitä leveämpi optisen säteilyn kaista on, sitä vähemmän speckle-kuviot häiritsevät keksinnön mukaista mittausta. Keksinnön mukaisessa ratkaisussa toimivia opti-20 sen tehon lähteitä ovat esimerkiksi hehkulanka- ja kaasupurkauslamput ja puolijohdekomponentit, jollaisia ovat esimerkiksi xenon-lamppu tai LED (Light » · · '* Emitting Diode). Optisella säteilyllä tarkoitetaan tässä hakemuksessa säteilyä, t 4 " joka sijoittuu optiselle kaistalle ultravioletista infrapuna-alueelle (vastaa suurin ..·* piirtein aluetta 40 nm -1 mm). Kameran 22 vastaanottama optinen säteily 19 25 muodostaa detektoripintansa pikseleille kuvan, jonka sisältämän informaation : perusteella määritetään paperin tai kartongin 11 pinnan 10 mikropintaominai- suus.
Kuviossa 2 esitetään keksinnön mukainen mittausjärjestely paperin ;v, 11 tai kartongin 11 pinnan 10 mikrokiillon määrittämiseksi. Tämä mittausjärjes- , 30 tely käsittää vastaavat osat kuin kuvion 1 esittämä mittausjärjestely, mutta täs- * » sä ratkaisussa aukon 30 kokoa voidaan säätää ohjauslohkoila 23. Lisäksi ero-na on se, että optisen säteilyn lähteestä 14 tuleva säteily ohjataan paperin tai : ’ ’ ’: kartongin 11 pinnalle peilin 35 avulla. Tästä syystä kollimoiva optinen lohko on . X jakautunut kuviossa 2 kahdeksi linssiksi 16. Muuttamalla aukon 30 kokoa voi- ” . 35 daan säätää kameran 22 detektoripinnalle tulevan säteilyn tulokulmaa. Näin voidaan säätää sitä, kuinka paljon sironnutta säteilyä otetaan mukaan kuhunkin mittaukseen.
111757 β
Kiiltävän paperin 11 tai kartongin 11 pinnan 10 peiliheijastus on suuri. Mitä vähemmän kiiltoa paperin 11 tai kartongin 11 pinnassa 10 on, sitä enemmän pinta 10 sirottaa optista säteilyä. Kuten kuvio 3 esittää pinnasta 10 sironnut optinen säteily 31 etenee vinosti pinnannormaaliin 33 nähden eikä 5 osu aukkoon 30, kun taas pinnasta 10 oleellisesti peiliheijastunut optinen säteily 32 tulee aukkoon 30 lähes kohtisuorasti ja etenee aukon 30 läpi kameraan 22. Suurempaa aukkoa 30 käytettäessä myös säde 31 voisi edetä kameran detektoripinnalle. Hyvin pienikokoinen aukko 30 päästää kameran 22 de-tektoripinnalle vain oleellisesti peiliheijastuneen optisen säteilyn 32. Täten ka-10 meran 22 detektoripinnalle pääsee sitä enemmän optista säteilyä, mitä kiiltä-vämpi paperin 11 tai kartongin 11 pinta 10 on kyseessä. Mitä kiiltävämpi paperi on, sitä enemmän peiliheijastuneita säteitä vastaanottaneita pikseleitä on. Oleellista kiillon mittauksessa on sironneen säteilyn (tummat tai pieni-inten-siteettiset pikselit) ja peiliheijastuneen säteilyn (kirkkaat tai suuri-intensi-teet-15 tiset pikselit) suhde. Aukon 30 edullinen sijaintipaikka kiillon mittauksessa on optisen lohkon 13 polttopisteessä, jolloin aukko voi olla hyvin pieni. Tällöin kamera 22 tarvitsee objektiivin, jolla kameran 22 detektoripinnalle muodostetaan kuva paperin tai kartongin 11 pinnasta.
Yksittäisen pikselin erottaessa pinnasta 10 esimerkiksi 3 mikromet-20 riä * 3 mikrometriä pinta-alayksikön voidaan keksinnöllisessä ratkaisussa ky-: seiset mikropinta-alat detektoida yksitellen ja määrittää kunkin pinta-alayksikön .! _ ' kiilto mikrokiiltona. Yhden pikselin sijasta pinnan 10 kuvaa voidaan tarkastella :,.Γ myös pikselijoukon avulla. Mikrokiillon mittausalue voi olla kokonaisuudessaan ··’ esimerkiksi 2.6 mm * 2 mm ja resoluutio 3 mikrometriä. Tämä resoluutio on 25 yksittäisen pikselin tai tunnetun pikselijoukon erottama pinnan 10 mikroalue. v : Tyypillisiä pikselijoukkoja voivat olla 5x5 pikselimatriisi tai ristin muotoinen :,: : pikselijoukko, johon kuuluu esimerkiksi 5 tai 9 pikseliä.
Paperin tai kartongin 11 pinnan 10 kuvia otetaan samasta pinnan 10 alueesta edullisesti eri aukkokoilla käyttäen säädettävää aukkoa 30. Kuvia . *". 30 analysoidaan esimerkiksi tietokonepohjaisella kuva-analyysillä, jossa verrataan intensiteettieroja eri aukkokoilla samasta pinnan 10 alueesta otettujen kuvien kesken ja vertailun perusteella määritetään paperin 11 tai kartongin 11 pinnan :... 10 kiilto. Intensiteettierojen vertailu suoritetaan pikselikohtaisesti eli jollain auk- : : : kokoolla muodostetun kuvan yksittäisellä pikselillä tai tunnetulla pikselijoukolla 35 saatua intensiteettiä verrataan eri aukkokoolla muodostetun kuvan samalla pikselillä tai tunnetulla pikselijoukolla saatuun intensiteettiarvoon. Täten onnistutaan määrittämään pikselin tai pikselijoukon tarkkuudella, miten kuvattavan 7 111757 pinnan 10 alueen kukin pistemäisen pieni pinta-alue on heijastanut optista säteilyä 15 eli voidaan määrittää tietokoneavusteisesti kuvankäsittelyohjelmalla mikrometrikokoisten alueiden kiilto eli mikrokiilto.
Kiillon mittauksessa on mahdollista tarkkuuden kustannuksella suo-5 riitaa kiillon arviointi myös ainoastaan yhdellä aukkokoolla otetun kuvan perusteella. Tällöin yhdellä aukkokoolla otetun ainakin yhden kuvan yksittäisen pik-selin tai tunnetun pikselijoukon intensiteetistä määritetään kiilto. Näin käydään läpi edullisesti koko kuvattu alue, jolloin saadaan koko kuva-alueen kiillosta mikrometrien tarkkuudella tietoa. Kun tarvitaan kiillon mittauksessa hyvää 10 tarkkuutta esimerkiksi silloin, kun kyseessä erittäin tasainen ja kiiltävä paperin pinta, on kyseisen pinnan kiilto määritettävä useammalla kuin yhdellä aukko-koolla otettujen kuvien perusteella.
Kuviossa 4 esitetään keksinnön mukainen mittausjärjestely paperin tai kartongin 11 pinnan 10 karheuden määrittämiseksi. Tämä mittausjärjestely 15 käsittää vastaavat osat kuin kuvion 1 esittämä mittausjärjestely, mutta kameran 22 detektoripinnalle kuvan muodostavan optisen lohkon 13 fokuspistettä voidaan muuttaa syvyyssuunnassa, mikä yksinkertaisimmillaan voidaan toteuttaa siten, että kamera 22 liikkuu ylös ja alas. Lisäksi erona on se, että optisen säteilyn lähteestä 14 tuleva säteily ohjataan paperin tai kartongin 11 pinnalle 20 peilin 35 avulla. Tästä syystä kollimoiva optinen lohko on jakautunut kuviossa .·, ; 4 kahdeksi linssiksi 16. Paperi tai kartonki 11 on edullisesti tasaisella ja tuke- • " * ‘ valla alustalla 12. Menetelmässä paperin 11 tai kartongin 11 pintaa 10 valais- taan optisen tehon lähteellä 14 kollimoivan optisen lohkon 16 sekä osittain
* I
’] läpäisevän peilin 18 kautta. Kollimoiva optinen lohko 16 yhdensuuntaistaa sä- : 25 teilyn 15, ja osittain läpäisevä peili 18 ohjaa säteilyn 15 paperin 11 tai karton- v : gin 11 pintaan 10 oleellisesti paperin 11 tai kartongin 11 pinnannormaalin v : suuntaisesti. Paperin 11 tai kartongin 11 pinnasta 10 säteilyn 15 johdosta hei jastuva (peiliheijastus ja siroava säteily) optinen säteily 17 kulkee osittain lä- :**; päisevän peilin 18 ja kuvaavan optisen lohkon 13 kautta halutun kokoiseen » · 30 aukkoon 20, joka päästää ainakin osan pinnasta 10 heijastuneesta optisesta ·, säteilystä 17 kameralle 22. Näin kameran 22 detektoripinnalle muodostuu pin- nan 10 kuva samaan tapaan kuin mikrokiiltoa mitattaessa. Karheuden mitta-uksessa suurikokoinen aukko antaa tarkan syvyyserottelun. Aukon kokoa on ; ;·; mahdollista tarpeen mukaan säätää ohjauslohkolla 23. Myös tässä mittauk- 35 sessa on tärkeää, että kuvausoptiikka mahdollistaa pinnan 10 kuvasta mikro-metrikokoisien yksityiskohtien (yksi pikseli vastaa esim. 3 μιτι x 3 pm alaa) erottamisen.
8 111757
Koska tässä mikrokarheuden mittausmenetelmässä on tärkeätä tarkka syvyyserottelu, käytetään menetelmässä mahdollisimman suurikokoista aukkoa. Suurikokoisella aukolla on pieni syvyysterävyys, mistä syystä suuri aukko on edullinen karheuden mittauksessa. Keskimääräinen syvyysterävyys 5 Df määräytyy esimerkiksi seuraavien kaavojen mukaisesti, joiden kaavojen tekijöitä on esitetty kuviossa 5:
Df = ———y (2 N A)2 Φ NA = nsin0 = — λ Äf2
Df = —,-r = —τ~ 4φ2/4f2 φ 10
Kaavojen tekijät ovat: λ = optisen säteilyn aallonpituus, NA = numeerinen aukko, n = väliaineen taitekerroin, Θ = kulma, jossa optinen säteily saapuu objektiiviin, ψ = aukon halkaisija ja f = linssin polttoväli. Kuten kaavasta nähdään syvyysterävyys on aukon halkaisijan käänteisluvun neliön funktio ja siten suuri 15 aukko mahdollistaa tarkan karheuden mittauksen.
Kuvion 4 esittämässä keksinnön mukaisessa ratkaisussa muutetaan kameran 22 ja paperin tai kartongin 11 pinnan 10 välistä optista etäisyyttä kameran 22 liikuttamisen sijasta ja otetaan kuvia eri optisilla etäisyyksillä. Näin kameran 22 detektoripinnalle voidaan fokusoida eli tarkentaa karheuden kor-!*'·. 20 keuserojen mukaan. Kameran 22 ja paperin tai kartongin 11 pinnan 10 välistä : ' optista etäisyyttä voidaan muuttaa esimerkiksi käyttämällä pinnasta 10 heijas- ··; tuneen optisen säteilyn 17 kulkureitillä eri paksuisia läpinäkyviä levyjä, mikä :·. voidaan toteuttaa esimerkiksi kuvion 6 esittämän mukaisesti pyöritettävällä kiekolla 60, jossa on eri paksuisia sektoreita 61-63. Kiekon 60 tulee luonnolli-25 sesti olla optista säteilyä hyvin läpäisevää ja optisesti viatonta. Materiaalina voi . olla esimerkiksi lasi tai muovi, mutta muutkin optiset materiaalit käyvät. Kuvio l"]‘ 6A esittää kiekon 60 ylhäältä päin, ja kuvio 6B esittää kiekon 60 kohtisuoraan *···* sivulta päin. Kuvia analysoidaan esimerkiksi tietokonepohjaisella kuva-analyy- : sillä, jossa vertaillaan pikselien intensiteettimuutoksia eri fokusointisyvyyksillä . ” ’. 30 (optisilla etäisyyksillä) muodostettujen kuvien välillä, minkä perusteella voidaan muodostaa esimerkiksi korkeuskartta paperin 11 tai kartongin 11 pinnasta 10. ] Mittaus perustuu siihen, että kunkin pikselin intensiteetti on maksimissaan sil- : loin, kun pikselille lankeava kuva on fokusoitu. Epäfokuksessa olevien pikseli en intensiteetti pienenee fokusoinnin huonontuessa. Kuva-analyysissä etsi-35 tään intensiteettimaksimeja tai reunojen määriä kuvankäsittelyohjelmalla. Tällä 9 111757 keksinnön toisen edullisen toteutusmuodon mukaisella menetelmällä voidaan määrittää paperin 11 tai kartongin 11 pinnan 10 karheus parhaimmillaan jopa mikrometrin tarkkuudella. Aukon 20 suuruus määrää kuitenkin tarkkuuden.
Käsitellään nyt hieman tarkemmin karheuden määrittämistä otettu-5 jen kuvien perusteella. Haluttu määrä kuvia otetaan esimerkiksi vakiosuuruisil-la syvyystarkennuseroilla. Laadun parantamiseksi ja häiriöiden vähentämiseksi voidaan ottaa useita kuvia samalla syvyystarkennuksella ja muodostaa tietokoneella digitoitujen kuvien keskiarvo. Muodostetaan pikselien tai pikselijoukon intensiteettien ero peräkkäisten eri syvyystarkennuksella otettujen kuvien välil-10 lä. Muodostetaan tietokoneella pinnan karheuskartta tai muu karheustulos käyttäen hyväksi tietoa, että pikselin tai pikselijoukon intensiteetti on suurimmillaan fokuksessa. Koko kuva-alaa, joka on kuvattuna kameran detektoripin-nalle, ei tarvitse välttämättä käsitellä näin, vaan riittää, että käytössä on kuvatusta alasta edustava otos. Tällaista kuvankäsittelyalgoritmia on sovellettu me-15 tallipintojen karheusmittauksiin julkaisussa Steurer, J., H. Giebel, and W. Alinen Ein lichtmikroskopisches Verfahren zur zweienhalbdimensionalen Aus-wertung von Oberflächen, In Proc. 8. DAGM-Symp. Mustererkennung, 1986, Informatik Fachberichte 125, edited by G. Hartmann, pp.66-70, Springer, Berlin, joka otetaan tähän viitteeksi.
20 Kuvio 7 esittää keksinnön mukaisen mittausjärjestelyn, joka on muuten vastaavanlainen kuin kuvion 1 esittämä mittausjärjestely, mutta ku- :· " vaava optinen lohko 13 ja halutun kokoinen aukko 20 on integroitu kameraan •» i ’·· 40. Mittausjärjestely on mahdollista toteuttaa edellä mainitusti sekä keksinnön • * * ensimmäisessä että toisessa toteutusmuodossa.
•f: 25 Keksinnön mukaisessa ratkaisussa sekä kiilto että karheus voidaan mitata samalla mittausjärjestelyllä peräkkäisinä mittauksina tai jopa samoista kuvista voidaan päätellä sekä karheus että kiilto. Karheuden ja/tai kiillon mittauksilla voidaan ohjata esimerkiksi paperikoneen valmistusprosessia siten, että
Vf valmistuvan paperin/kartongin laatu pysyy haluttuna. Tiedot pintaominaisuu- < · 30 desta tai pintaominaisuusmittauksista johtuvat ohjauskorjaukset voidaan syöt-;·’ tää paperikoneen ohjausjärjestelyyn automaattisesti tai manuaalisesti. Keksin- nön mukaista ratkaisua voidaan soveltaa myös paperin 11 tai kartongin 11 : ‘ ‘ : jatkuvaan on line -mittaukseen.
\ Vaikka keksintöä on edellä selostettu viitaten oheisten piirustusten ", 35 mukaiseen esimerkkiin, on selvää, ettei keksintö ole rajoittunut siihen, vaan sitä voidaan muunnella monin tavoin oheisten patenttivaatimusten esittämän keksinnöllisen ajatuksen puitteissa.
Claims (26)
1. Menetelmä paperin tai kartongin (11) pintaominaisuuden määrittämiseksi, jossa menetelmässä valaistaan paperin tai kartongin (11) pintaa yhdensuuntaistetulla valolla oleellisesti paperin tai kartongin (11) pinnan nor-5 maalin suuntaisesti ja valaistu paperin tai kartongin (11) pinta kuvataan kameran (22) detektoripinnan pikseleille, tunnettu siitä, että ainakin kiillon mittaamiseksi mikropintaominaisuutena kontrolloidaan heijastunutta optista säteilyä (17) halutun kokoisella aukolla (20, 30) ennen kameraa (22); 10 tarkennetaan paperin tai kartongin pinnan (11) kuva syvyyssuun nassa eri etäisyyksille kameran (22) ja paperin tai kartongin (11) pinnan välistä optista etäisyyttä muuttamalla; muodostetaan heijastuneen optisen säteilyn (17) avulla paperin tai kartongin (11) pinnasta kuva eri optisilla etäisyyksillä kameran (22) detektori-15 pinnan pikseleille, joista kukin pikseli kuvaa mikrometrien kokoluokassa olevan alan paperin tai kartongin (11) pinnasta; ja mitataan ainakin paperin tai kartongin (11) kiilto perustuen kameran (22) detektoripinnan pikselien intensiteetteihin eri optisilla etäisyyksillä muodostetuissa kuvissa. ’/] 20
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitataan lisäksi paperin tai kartongin (11) karheus kameran (22) detekto-:'1 ’; ripinnan pikselien intensiteetteihin perustuen. » 4 * ‘, t'
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että aukolla (20, 30) rajoitetaan heijastuneen optisen säteilyn tulokulmia kame-v : 25 ran (22) detektoripinnalle kiillon mittaamiseksi.
4. Patenttivaatimuksen 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, » että aukolla (20, 30) määritetään kuvauksen syvyysterävyys karheuden mitta- » ; ’ uksessa.
,··. 5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 30 että kiilto mitataan paperin tai kartongin (11) pinnasta peiliheijastuneen sätei-lyn ja sironneen säteilyn avulla määrittämällä peiliheijastuneita säteitä vas-taanottaneiden pikselien määrä suhteessa muihin pikseleihin peiliheijastuneen säteilyn intensiteetin ollessa suurempaa kuin sironneen säteilyn intensiteetin. 11 111757
6. Patenttivaatimuksen 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että karheuden mittaus käsittää menetelmäaskeleet: otetaan kameralla (22) kuvia erilaisilla syvyystarkennuksilla; muodostetaan pikselikohtainen tai pikselijoukkokohtainen intensi-5 teettien ero peräkkäisten eri syvyystarkennuksella otettujen kuvien välillä; määritetään pinnan korkeuserot käyttäen hyväksi tietoa, että pikse-lin tai pikselijoukon intensiteetti on suurimmillaan fokuksessa ja määritetään pinnan korkeuseroista paperin tai kartongin (11) karheus.
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että otetaan useita kuvia samalla syvyystarkennuksella ja muodostetaan digitoitujen kuvien keskiarvo häiriöiden vähentämiseksi.
8. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että aukko (20, 30) on säädettävä aukko.
9. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valaistus ohjataan paperin tai kartongin (11) pinnalle osittain läpäisevän peilin (18) kautta.
10. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että otetuttuja kuvia verrataan toisiinsa tietokonepohjaisessa kuva-analyy- :·. 20 sissä.
• * · • | * . · 11. Patenttivaatimuksen 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, ' että otettujen kuvien avulla muodostetaan karheutta kuvaava korkeuskartta v : paperin tai kartongin (11) pinnasta.
10 111757
12. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 25 että määritetään paperin tai kartongin (11) painettavuus ainakin kiillon mittauk- * · < \ ·' seen. , t\
13. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, !:; että suoritetaan paperin (11) tai kartongin (11) on line -mittausta.
. .·. 14. Mittausjärjestely paperin tai kartongin (11) pintaominaisuuden 30 määrittämiseksi, joka mittausjärjestely käsittää optisen tehon lähteen (14), kol-limoivan optisen lohkon (16) ja osittain läpäisevän peilin (18) optisen säteilyn suuntaamiseksi yhdensuuntaisena oleellisesti paperin tai kartongin (11) pin- 12 111757 nan normaalin suuntaisessa paperin tai kartongin (11) pinnalle, ja sekä kuvaavan optisen lohkon (13) että kameran (22) kuvan muodostamiseksi heijastuneen optisen säteilyn avulla kameran (22) detektoripinnan pikseleille valaistusta paperin tai kartongin (11) pinnasta, tunnettu siitä, että mittausjär-5 jestely käsittää ainakin yhden mikropintaominaisuuden mittausta varten halutun kokoisen aukon (20, 30) kontrolloida heijastunutta optista säteilyä ja mittausjärjestely on sovitettu muuttamaan kameran (22) ja paperin tai kartongin (11) pinnan välistä optista etäisyyttä fokuspisteen muuttamiseksi paperin tai kartongin (11) pinnalla ja mittaamaan ainakin paperin tai kartongin 10 (11) kiillon kameran (22) detektoripinnan pikselien intensiteetteihin perustuen eri optisilla etäisyyksillä.
15. Patenttivaatimuksen 14 mukainen mittausjärjestely, tunnettu siitä, että mittausjärjestely on sovitettu mittaamaan lisäksi paperin tai karton- 15 gin (11) karheuden kameran (22) detektoripinnan pikselien intensiteetteihin perustuen.
16. Patenttivaatimuksen 14 mukainen mittausjärjestely, tun nettu siitä, että aukko (20, 30) on sovitettu kontrolloimaan heijastunutta optista säteilyä rajoittamalla heijastuneen optisen säteilyn tulokulmia kameran 20 (22) detektoripinnalle kiillon mittauksen parantamiseksi.
17. Patenttivaatimuksen 15 mukainen mittausjärjestely, tun- n ettu siitä, että aukko (20, 30) on sovitettu kontrolloimaan heijastunutta op- ' ’ tista säteilyä rajoittamalla kuvauksen syvyysterävyyttä karheusmittauksessa v ; halutulla tavalla.
18. Patenttivaatimuksen 14 mukainen mittausjärjestely, tun- ; Vi n e 11 u siitä, että mittausjärjestely käsittää ohjauslohkon (23) säätää aukkoa. I I i
19. Patenttivaatimuksen 14 mukainen mittausjärjestely, tun- . , *. n e 11 u siitä, että mittausjärjestely on sovitettu mittaamaan kiillon peiliheijas- , > , tuneen säteilyn ja sironneen säteilyn suhteesta määrittämällä peiliheijastuneita * I 30 säteitä vastaanottaneiden pikselien määrän suhteessa muihin pikseleihin pei-liheijastuneen säteilyn intensiteetin ollessa suurempaa kuin sironneen säteilyn ’: ”: intensiteetin. 13 111757
20. Patenttivaatimuksen 15 mukainen mittausjärjestely, tunnettu siitä, että mittausjärjestely on sovitettu: ottamaan kuvia erilaisilla syvyystarkennuksilla; muodostamaan pikselikohtainen tai pikselijoukkokohtainen intensi-5 teettien ero peräkkäisten eri syvyystarkennuksella otettujen kuvien välillä; määrittämään pinnan korkeuserot käyttäen hyväksi tietoa, että pik-selin tai pikselijoukon intensiteetti on suurimmillaan fokuksessa ja määrittämään pinnan korkeuseroista paperin tai kartongin karheus.
21. Patenttivaatimuksen 20 mukainen mittausjärjestely, tun nettu siitä, että mittausjärjestely on sovitettu ottamaan useita kuvia samalla syvyystarkennuksella ja muodostamaan digitoitujen kuvien keskiarvon häiriöiden vähentämiseksi.
22. Patenttivaatimuksen 14 mukainen mittausjärjestely, tun-15 n e 11 u siitä, että kamera (22) on CCD-kamera.
23. Patenttivaatimuksen 14 mukainen mittausjärjestely, tunnettu siitä, että mittausjärjestely käsittää kuvankäsittelylaitteen (50), joka on sovitettu käyttämään kuva-analyysiohjelmaa pintaominaisuuden määrittämiseksi. * · · * 1 1 ’ 20
24. Patenttivaatimuksen 20 mukainen mittausjärjestely, tun- * »· n ett u siitä, että tietokone (50) on sovitettu muodostamaan kuvista korkeus- ·1,’ kartan.
25. Patenttivaatimuksen 14 mukainen mittausjärjestely, tun- :T; nettu siitä, että mittausjärjestely on sovitettu määrittämään paperin tai kar- 25 tongin (11) painettavuuden ainakin yhden mikropintaominaisuuden avulla. ·' ·1
26. Patenttivaatimuksen 14 mukainen mittausjärjestely, tun- nettu siitä, että mittausjärjestely on sovitettu suorittamaan paperin (11) tai kartongin (11) on line -mittausta. • , f t I I , t 1 t l I l 1 I 14 111757
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI991072A FI111757B (fi) | 1999-05-10 | 1999-05-10 | Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa |
| PCT/FI2000/000411 WO2000068666A1 (en) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
| JP2000616401A JP2002544475A (ja) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | 紙表面を測定するための方法および測定装置 |
| CA002373682A CA2373682C (en) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
| EP00925331A EP1181533A1 (en) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
| AU44087/00A AU4408700A (en) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
| US09/953,384 US6504617B2 (en) | 1999-05-10 | 2001-09-14 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI991072 | 1999-05-10 | ||
| FI991072A FI111757B (fi) | 1999-05-10 | 1999-05-10 | Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI991072A0 FI991072A0 (fi) | 1999-05-10 |
| FI991072L FI991072L (fi) | 2000-11-11 |
| FI111757B true FI111757B (fi) | 2003-09-15 |
Family
ID=8554637
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI991072A FI111757B (fi) | 1999-05-10 | 1999-05-10 | Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6504617B2 (fi) |
| EP (1) | EP1181533A1 (fi) |
| JP (1) | JP2002544475A (fi) |
| AU (1) | AU4408700A (fi) |
| CA (1) | CA2373682C (fi) |
| FI (1) | FI111757B (fi) |
| WO (1) | WO2000068666A1 (fi) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4227351B2 (ja) * | 2002-04-12 | 2009-02-18 | キヤノン株式会社 | 記録材の種別判別装置および画像形成装置 |
| EP1620712A1 (en) * | 2003-04-29 | 2006-02-01 | Surfoptic Limited | Measuring a surface characteristic |
| JP2007506072A (ja) | 2003-09-16 | 2007-03-15 | ペイパー オーストラリア ピーティーワイ リミテッド | シート表面の分析装置と分析方法 |
| JP4797593B2 (ja) * | 2005-03-10 | 2011-10-19 | 富士ゼロックス株式会社 | 光沢測定装置及びプログラム |
| SE530070C2 (sv) * | 2006-09-11 | 2008-02-26 | Stora Enso Ab | Förfarande för att förutsäga tryckbarheten hos en pappers-, kartong- eller pappyta |
| US7619740B2 (en) * | 2007-10-11 | 2009-11-17 | Honeywell International Inc. | Microgloss measurement of paper and board |
| JP5999305B2 (ja) * | 2012-02-20 | 2016-09-28 | 株式会社リコー | 光学センサ及び画像形成装置 |
| US9459206B2 (en) * | 2012-05-02 | 2016-10-04 | Datacolor Holding Ag | System and apparatus for measurement of light scattering from a sample |
| FI20126126A7 (fi) | 2012-10-30 | 2014-05-01 | Metso Automation Oy | Menetelmä ja laite kiillon mittaamiseksi |
| EP3007133B1 (en) * | 2014-10-08 | 2018-06-20 | OCE-Technologies B.V. | Apparatus and method for defect detection in a printing system |
| CN106289118A (zh) * | 2016-09-06 | 2017-01-04 | 乐视控股（北京）有限公司 | 表面平整度的检测方法、装置及终端 |
| JP6667429B2 (ja) * | 2016-12-26 | 2020-03-18 | 株式会社ＰＳＭ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ | 長尺シート材の品質計測方法および品質計測装置 |
| JP2018140469A (ja) * | 2017-02-28 | 2018-09-13 | 株式会社ディスコ | 被加工物の検査方法、被加工物の検査装置及び加工装置 |
| JP6620827B2 (ja) * | 2017-04-14 | 2019-12-18 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 放射温度測定装置及び放射温度測定方法 |
| US11231363B2 (en) | 2018-05-31 | 2022-01-25 | Psm International, Inc. | Quality measurement method and quality measurement device for long sheet material |
| CN110987551A (zh) * | 2019-11-11 | 2020-04-10 | 陕西师范大学 | 一种上光液的制取及其效果测试方法 |
| WO2023055564A1 (en) | 2021-10-01 | 2023-04-06 | Sonoco Development, Inc. | Surface topography imaging system |
| KR20240168687A (ko) * | 2023-05-23 | 2024-12-02 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 두께 측정 시스템 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH552197A (de) | 1972-11-24 | 1974-07-31 | Bbc Brown Boveri & Cie | Einrichtung zum messen der rauhigkeit einer oberflaeche. |
| AT356935B (de) * | 1978-05-02 | 1980-06-10 | Vianova Kunstharz Ag | Anordnung zur messung der das glanzvermoegen von oberflaechen bestimmenden eigenschaften |
| IT1108255B (it) * | 1978-10-24 | 1985-12-02 | Fiat Spa | Procedimento e dispositivo per il controllo della rugosita della superficie di un pezzo che ha subito una lavorazione meccanica |
| DE3020044A1 (de) * | 1980-05-24 | 1981-12-10 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München | Geraet und verfahren zur beruehrungslosen pruefung der oberflaechenguete und zur messung der oberflaechenrauheit |
| US4806018A (en) | 1987-07-06 | 1989-02-21 | The Boeing Company | Angular reflectance sensor |
| US4878114A (en) * | 1988-05-10 | 1989-10-31 | University Of Windsor | Method and apparatus for assessing surface roughness |
| US5162660A (en) * | 1991-06-27 | 1992-11-10 | Macmillan Bloedel Limited | Paper roughness or glass sensor using polarized light reflection |
| US5689757A (en) * | 1994-07-18 | 1997-11-18 | Xerox Corporation | Method and apparatus for detecting substrate roughness and controlling print quality |
| US5686731A (en) * | 1996-04-30 | 1997-11-11 | Ati Systems, Inc. | Multi-parameter scanning system with moveable field mask |
| DE19733775A1 (de) * | 1997-08-05 | 1999-02-18 | Honeywell Ag | Verfahren zur Messung von Eigenschaften einer Materialoberfläche |
| DE69703487T2 (de) | 1997-08-22 | 2001-06-13 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Prüfung bewegter Oberflächen |
-
1999
- 1999-05-10 FI FI991072A patent/FI111757B/fi not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-05-09 AU AU44087/00A patent/AU4408700A/en not_active Abandoned
- 2000-05-09 CA CA002373682A patent/CA2373682C/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-05-09 EP EP00925331A patent/EP1181533A1/en not_active Withdrawn
- 2000-05-09 WO PCT/FI2000/000411 patent/WO2000068666A1/en not_active Ceased
- 2000-05-09 JP JP2000616401A patent/JP2002544475A/ja active Pending
-
2001
- 2001-09-14 US US09/953,384 patent/US6504617B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA2373682C (en) | 2006-12-19 |
| WO2000068666A1 (en) | 2000-11-16 |
| CA2373682A1 (en) | 2000-11-16 |
| AU4408700A (en) | 2000-11-21 |
| FI991072A0 (fi) | 1999-05-10 |
| US6504617B2 (en) | 2003-01-07 |
| EP1181533A1 (en) | 2002-02-27 |
| JP2002544475A (ja) | 2002-12-24 |
| US20020114494A1 (en) | 2002-08-22 |
| FI991072L (fi) | 2000-11-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI111757B (fi) | Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa | |
| US6549286B2 (en) | Method and measuring arrangement for measuring paper surface | |
| CA2605557C (en) | Method and apparatus for measuring fiber orientation of a moving web | |
| JP2518822B2 (ja) | 無接触反射率測定装置 | |
| US7012694B2 (en) | Apparatus and method for total internal reflection spectroscopy | |
| RU2153160C1 (ru) | Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления | |
| CA2608157C (en) | Method and apparatus for measurement of fiber orientation | |
| US6819886B2 (en) | Gloss/density measurement device with feedback to control gloss and density of images produced by an electrographic reproduction apparatus | |
| US4334780A (en) | Optical surface roughness detection method and apparatus | |
| US20070008538A1 (en) | Illumination system for material inspection | |
| JP2008157933A (ja) | 色測定ヘッドおよび色測定ヘッドが装備されているスキャナー装置 | |
| EP2198272B1 (en) | Microgloss measurement of paper and board | |
| US20030042438A1 (en) | Methods and apparatus for sensing degree of soiling of currency, and the presence of foreign material | |
| JP2007514219A (ja) | 紙幣検証装置のための反射式光学センサ | |
| AU2002243130A1 (en) | Apparatus and method for total internal reflection spectroscopy | |
| JP3646063B2 (ja) | 技術的表面における小さな周期的うねりを検出および測定するための装置 | |
| EP0338442B1 (en) | A method and apparatus for the inspection of specularly reflective surfaces | |
| KR20000033124A (ko) | 비접촉식 표면거칠기 측정장치 및 그 방법 | |
| KR100406425B1 (ko) | 분산 적외선 조명을 이용한 표면결함 검출장치 | |
| JPS61145436A (ja) | 塗膜外観性状評価方法および装置 | |
| GB2349210A (en) | Measuring thickness using fluorescence | |
| KR200146370Y1 (ko) | 반사광의 반사도 측정장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |