FI116699B

FI116699B - Förfarande och mätanordning för mätning av suspension

Info

Publication number: FI116699B
Application number: FI20000126A
Authority: FI
Inventors: Pasi Kaerki; Antti Kemppainen; Arvo Rahikkala
Original assignee: Metso Automation Oy
Priority date: 2000-01-21
Filing date: 2000-01-21
Publication date: 2006-01-31
Also published as: FI20000126A7; CA2398232C; US6703618B2; US20030030005A1; WO2001053810A1; CA2398232A1; JP5067995B2; FI20000126A0; JP2003520960A; AU2001230272A1; EP1252502A1

Claims

1. Förfarande för mätning av en suspension, vilken omfattar träfibrer och i vilket förfarande mot en massa riktas optisk strälning och den frän massan utgäende optiska strälningen mäts, kännetecknat avatti förfaran- 5 det mäts ätminstone en av följande tvä egenskaper: kappatal och blekhet; och i förfarandet - förändras massans grumlighet inom ett önskat grumlighetsomräde, som börjar vid en önskad begynnelsegrumlighet och siutar vid en önskad slut-grumlighet; 10. mäts massans grumlighet; - mäts ur den optiska strälningen en önskad väglängds styrka vid olika grumligheter inom ett önskat grumlighetsomräde; - modellges mätpunkterna med en funktion (200) av önskad typ ge-nom att man anpassar funktionens parametrar enligt mätpunkterna; och 15. definieras med hjälp av en modellgivande funktion ätminstone en av massans tvä följande egenskaper: kappatal och blekhet.

2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att med förfarandet mäts massans kappatal sä att med hjälp av en modellgivande funk- 20 tion (200) definieras tvä mätpunkter som motsvarar en förutbestämd grumlighet, med hjälp av vilka massans kappatal definieras.

3. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att kap- patalet mäts med hjälp av ultraviolett strälning. : 25

4. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att med förfarandet mäts massans blekhet sä att med hjälp av en modellgivande funktion (200) definieras en mätpunkt som motsvarar ett förutbestämt grumlighets-värde, med hjälp av vilken mätpunkt massans blekhet definieras. \ 30 i

5. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att blek- * heten mäts pä ett väglängdsband, vars medelväglängd är 457 nm.

6. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att med 35 förfarandet mäts en tili sinä egenskaper förutbestämd referensmassa för kalib- rering av mätresultaten. 15 1 1 6699

7. Förfarande enligt patentkrav 1,kännetecknat avatt mas-sans grumlighet ändras sa att massans grumlighet kontinuerligt gar igenom alla grumligheter i det önskade grumlighetsomrädet. 5

8. Förfarande enligt patentkrav 1,kännetecknat av att mät- punkterna modellges med en kontinuerlig funktion (200).

9. Förfarande enligt patentkrav 1,kännetecknat av att mät-punkterna modellges med en polynomfunktion av andra graden. 10

10. Mätapparat för mätning av en suspension, vilken omfattar träfib-rer, och vilken mätapparat omfattar en källa (302, 402) för optisk effekt för rikt-ning av optisk straining mot suspensionen och ätminstone en detektor (308 -316, 408 - 412) för mätning av optisk straining som kommer frän suspensio- 15 nen, kännetecknad av att mätapparaten är anordnad att mätä ätminstone en av följande tvä egenskaper: kappatal och blekhet; och mätapparaten är anordnad att - förändra massans grumlighet inom ett önskat grumlighetsomräde, som börjar vid en önskad begynnelsegrumlighet och slutar vid en önskad slut- 20 grumlighet; och mätapparaten är anordnad att - mätä massans grumlighet; ·* - mätä ur den optiska strälningen en önskad väglängds styrka vid » • i olika grumligheter inom ett önskat grumlighetsomräde; '·* - modellge mätpunkterna med en funktion av önskad typ genom att 25 anpassa funktionens parametrar enligt mätpunkterna; och - definiera med hjälp av en modellgivande funktion ätminstone en av : 1 i massans tvä följande egenskaper: kappatal och blekhet.

11. Mätapparat enligt patentkrav 10, kännetecknad av att I > ; .* 30 mätapparaten är anordnad att för mätning av kappatalet definiera med hjälp av en modellgivande funktion tvä mätpunkter som motsvarar en förutbestämd : grumlighet, med hjälp av vilka mätapparaten är anordnad att definiera mas- ; sans kappatal. ,35

12. Mätapparat enligt patentkrav 10, kännetecknad av att mät apparaten är anordnad att mätä kappatalet med hjälp av ultraviolett strälning. 116699

13. Mätapparat enligt patentkrav 10, kännetecknad avatt mätapparaten är anordnad att för mätning av blekheten definiera med hjälp av en modellgivande funktion en mätpunkt som motsvarar en förutbestämd grum- 5 lighet, med hjälp av vilken mätpunkt mätapparaten är anordnad att definiera massans blekhet.

14. Mätapparat enligt patentkrav 10, kännetecknad av att mätapparaten är anordnad att mätä blekheten pä ett väglängdsband, vars me- 10 delvaglängd är457 nm.

15. Mätapparat enligt patentkrav 10, kännetecknad av att mätapparaten är anordnad att mätä en tili sinä egenskaper förutbestämd refe-rensmassa för kalibrering av mätresultaten. 15

16. Mätapparat enligt patentkrav 10, kännetecknad av att mätapparaten är anordnad att ändra massans grumlighet sä att massans grumlighet kontinuerligt gär igenom alla grumligheter i det önskade grumlig-hetsomrädet. 20

17. Mätapparat enligt patentkrav 10, kännetecknad av att mätapparaten är anordnad att modellge mätpunkter med en kontinuerlig funk- : tion. 25

18. Mätapparat enligt patentkrav 10, kännetecknad av att mätapparaten är anordnad att modellge mätpunkter med en polynomfunktion av andra graden.