DE4110633A1 - Gate-treiberschaltung fuer eine isolierte gate-halbleitervorrichtung und blitzlichtsteuerung, welche die schaltung verwendet - Google Patents
Gate-treiberschaltung fuer eine isolierte gate-halbleitervorrichtung und blitzlichtsteuerung, welche die schaltung verwendetInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Verbesserung einer Gate-
Treiberschaltung zum Ein- und Aus-Treiben einer isolierte
Gate-Halbleitervorrichtung (Halbleitervorrichtung mit isolier
tem Gate) wie beispielsweise einen Leistungs-MOSFET, einen
Bipolartransistor mit isoliertem Gate und einen MOSGTO, und
bezieht sich auf eine Blitzlichtsteuerung für die Fotografie
usw., welche die verbesserte Gate-Treiberschaltung verwendet.
Fig. 9 zeigt einen Typ einer bislang verwendeten Gate-Treiber
schaltung. Im folgenden wird der Aufbau der Gate-Treiberschal
tung auf der Grundlage des Beispieles gemäß Fig. 9 beschrie
ben. In Fig. 9 bezeichnet die Bezugsziffer 100 eine Gate-
Treiberschaltung zum Empfangen eines Steuereingangs V1, welche
zwei Schalttransistoren 101 und 102 aufweist, die in Serie
zwischen einer Gate-Treiberleistungsquelle VGG und Masse ver
bunden sind, einen zwischen einem Ausgangsanschluß und einem
Mittelpunkt der Verbindung zwischen den beiden Schalttran
sistoren 101 und 102 verbundenen Gatewiderstand 110, sowie
Logikschaltungen 103 und 104 zum Steuern der beiden
Schalttransistoren 101 und 102 durch den Steuereingang V1 auf
weist. Ein Ausgang der Gate-Treiberschaltung 100 ist mit einem
Abschnitt zwischen dem Gate und der Source eines Leistungs-
MOSFET 3 verbunden, welche einen Typ einer isolierte Gate-
Halbleitervorrichtung darstellt. Der Leistungs-MOSFET 3 stellt
zusammen mit einer Last 4 und einer Leistungsquelle 5 einen
Hauptschaltkreis dar.
Fig. 10 zeigt die Kurvenformen während des Betriebes der in
Fig. 9 dargestellten Treiberschaltung 100. Unter Bezugnahme
auf dieses Kurvendiagramm wird im folgenden die Betriebsweise
dieser Gate-Treiberschaltung erläutert. Als Reaktion auf den
Steuereingang V1 schalten die Logikschaltungen 103 und 104 je
weils komplementär die Schalttransistoren 101 und 102 ein/aus.
Wenn der Steuereingang V1 niedrig ist, ist der Schalttran
sistor 101 ein und der Schalttransistor 102 aus. Dementspre
chend ist eine Mittelpunktspannung v2 der beiden Schalttran
sistoren 101 und 102 niedrig (V2L), und es ergibt sich eine
Gatespannung vG des Leistungs-MOSFET 3 bei einem niedrigen Pe
gel (VGL), welcher im wesentlichen gleich ist mit dem Masse
pegel. Wenn der Steuereingang V1 hoch ist, ist der Schalttran
sistor 101 an, und der Schalttransistor 102 ist aus. Demen
sprechend befindet sich die Mittelpunktspannung v2 der beiden
Schalttransistoren 101 und 102 bei einem hohen Pegel (V2H),
welcher im wesentlichen gleich ist mit VGG. Aufgrund dieses
hohen Pegels wird ein Gatestrom iG über den Gatewiderstand 110
an das Gate des Leistungs-MOSFET 3 angelegt.
Was den Leistungs-MOSFET 3 betrifft, so sind dessen Kapazi
tätseigenschaften des Gates wohlbekannt. Wenn eine Gate-
Source-Kapazität CGS und eine Gate-Drain-Kapazität CGD
aufgeladen werden, wird die Gatespannung vG angehoben. Die Ka
pazität CGD des Leistungs-MOSFET 3 variiert im weiten Rahmen
ensprechend den Gate- und Drainspannungen, und bringt be
trächtliche Probleme bei den Auflade- und Entladevorgängen mit
sich, teilweise verursacht durch den sogenannten Miller-
Effekt. Zur einfachen Analyse wird die Kapazität CGD unter der
Annahme behandelt, daß sie derart beträchtlich groß ist, daß
sie gleich ist mit der Kapazität CGS und eine Gateeingangska
pazität aufweist, welche einen konstanten Wert Ciss parallel
zur Kapazität CGS darstellt. Aufgrund dieser Vereinfachung
kann der Anstieg der Gatespannung des Leistungs-MOSFET 3 durch
eine exponentielle Kurvenform angenähert werden, welche eine
Zeitkonstante (τ = R×Ciss) aufweist, welches das Produkt
eines Widerstandswertes R des Gatewiderstandes 110 und von
Ciss des Leistungs-MOSFET 3 ist.
Unter der Voraussetzung, daß ein Stromfluß des Drainstromes iD
beginnt, wenn die Gatespannung vG den Wert VGS(OFF) über
steigt, und der Drainstrom (beziehungsweise ein Ladestrom) iD
mit einem Stromwert ID fließen kann, wenn die Gatespannung vG
gleich ist mit VGS(ON), kann bei dem Leistungs-MOSFET 3 der
Drainstrom iD von 0 bis ID variieren, während die Gatespannung
vG von VGS(OFF) bis VGS(ON) angehoben wird. Falls diese Zeit
periode als Anstiegszeit tr definiert wird, wird die folgende
Gleichung erhalten:
Falls beispielsweise R = 10 Ω, Ciss = 10 nF, VGG = 10 V,
VGS(OFF) = 2 V, und VGS(ON) = 8 V beträgt, ergibt sich:
Diese Aufladeeigenschaft ist durch das Beispiel der Nichtreso
nanz in den Fig. 11(a) und (b) dargestellt. Im Verlauf der
Zeit steigt die Gatespannung vG bis zu dem Wert VGH an, wel
cher im wesentlichen gleich ist der Gate-Treiber-
Leitungsquellenspannung VGG. Wenn der Steuereingang V1 auf den
niedrigen Pegel geschalten wird, wird daran anschließend die
Gateeingangskapazität Ciss des MOSFET 3, welche aufgeladen
wurde, über den Gatewiderstand 110 und den Schalttransistor
102 entladen, und die Gatespannung vG verringert sich. Die Ab
falleigenschaft hierbei wird auch von der Exponentialfunktion
mit der Zeitkonstanten τ = R ×Ciss bestimmt, und weist eine
Abfallzeit tf auf, welche durch dieselbe Gleichung wie Glei
chung (1) ausgedrückt wird.
Fig. 12 zeigt in einem Schaltungsdiagramm eine Blitzlicht
steuerung, welche die in Fig. 9 gezeigte Gate-Treiberschaltung
verwendet. In Fig. 12 bezeichnet das Bezugszeichen 1 eine
Hochspannungs-Leistungsquelle (obwohl in der Praxis die Span
nung der Batterie oftmals durch einen DC-DC-Wandler angehoben
wird), 2 bezeichnet einen Hauptkondensator, welcher durch die
Hochspannungs-Leisungsquelle 1 aufgeladen wird, 6 bezeichnet
einen Bipolartransistor mit isoliertem Gate (IGBT), welcher
einen Typ einer isolierte Gate-Halbleitervorrichtung dar
stellt, 7 bezeichnet eine Blitzlichtentladungsröhre, 100 be
zeichnet die Gate-Treiberschaltung mit demselben Aufbau wie in
Fig. 9 zum Ein- und Aus-Treiben des Bipolartransistors mit
isoliertem Gate 6, und 200 bezeichnet eine Triggerschaltung.
Der Bipolartransistor mit isoliertem Gate 6 und die Blitzlich
tentladungsröhre 7 sind in Serie miteinander verbunden, und
dieser serienverbundene Körper ist parallel mit dem Haupkon
densator 2 verbunden. Die Triggerschaltung 200 weist einen
Triggerumformer 8, einen Triggerkondensator 9 und einen Lade
widerstand 10 auf. An die Triggerschaltung 200 wird Triggerim
pulsenergie entsprechend der Variation einer Kollektorspannung
des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 angelegt.
Unter Bezugnahme auf das Kurvendiagramm gemäß Fig. 13 wird im
folgenden die Betriebsweise der Schaltung erläutert. Der
Steuereingang V1 ist niedrig. Eine Spannung von etwa 30V wird
an die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG angelegt, und eine
Spannung von etwa 300V wird an die Hochspannungs-Leistungs
quelle 1 angelegt. Die Gatespannung vG des Bipolartransistors
mit isoliertem Gate 6 wird bei etwa Massepegel gehalten, da
der Schalttransistor 101 aus, und der Schalttransistor 102 ein
ist. Sowohl die Kollektorspannung des Bipolartransistors mit
isoliertem Gate 6, als auch der Triggerkondensators 9 wird auf
etwa 300 V durch den Ladewiderstand 100 in der Triggerschal
tung 200 aufgeladen.
Wenn in einem derartigen Zustand der Steuereingang V1 auf
einen hohen Pegel geschaltet wird, wird der Schalttransistor
101 eingeschaltet, und der Schalttransistor 102 wird ausge
schaltet. Dementsprechend wird die Gateeingangskapazität Ciss
durch die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG über den
Schalttransistor 101 und den Gatewiderstand 110 aufgeladen,
wodurch die Gatespannung vG des Bipolartransistors mit iso
liertem Gate 6 angehoben wird. Wenn die Gatespannung vG bis zu
einem Wert angehoben wird, durch den der Bipolartransistor mit
isoliertem Gate 6 genügend eingeschaltet werden kann, fällt
die Kollektorspannung des Bipolartransistors mit isoliertem
Gate 6 schnell ab, und der aufgeladene Triggerkondensator 6
wird über eine Primärwindung des Triggerumformers 8 an den
Kollektor des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 entla
den, wodurch ein Hochspannungsimpuls von einigen KV bei einer
Sekundärwindung des Triggerumformers 8 erzeugt werden. Auf
diese Weise wird das Gate der Blitzlichtentladungsröhre 7 ge
triggert, und die Blitzlichtentladungsröhre 7 leitet. Der auf
geladene Hauptkondensator 2 wird über die Blitzlichtentla
dungsröhre 7 und den Bipolartransistor mit isoliertem Gate 6
entladen, und die Blitzlichtentladung beginnt.
Wenn daran anschließend die für die Fotografie usw. benötigte
Blitzlichtmenge erhalten worden ist und dann der Steuereingang
V1 erneut auf den niedrigen Pegel geschaltet wird, wird der
Schalttransistor 101 ausgeschaltet, und der Schalttransistor
102 wird eingeschaltet. Dementsprechend wird die Gateeingangs
kapazität Ciss des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6,
welche aufgeladen worden ist, über den Gatewiderstand 110 und
den Schalttransistor 102 entladen. Wenn die Gatespannung vG
des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 verringert wird
und niedriger ist als die Spannung, aufgrund derer der Bipo
lartransistor mit isoliertem Gate 6 den EIN-Zustand halten
kann, beginnt ein Abfall eines Kollektorstromes ic. Daran an
schließend verringert sich der Kollektorstrom ic des Bipo
lartransistors mit isoliertem Gate 6 mit dem Abfall der Gate
spannung vG, und schließlich wird der Bipolartransistor mit
isoliertem Gate 6 ausgeschaltet. Dadurch ist die Blitzlicht
emission der Blitzlichtentladungsröhre 4 beendet. Die ge
wünschte Lichtmenge, welche für die Fotografie usw. benötigt
wird, kann somit durch Steuern der leitenden Periode erhalten
werden. Für die Blitzlichtsteuerung durch den Bipolartransi
stor mit isoliertem Gate ist es notwendig, einen großen Strom
mit einem Spitzenwert von 100 bis 200 A in einer praktikablen
Blitzlichtentladungsröhre zu verarbeiten. Für die Belange
einer ökonomischen Vorrichtung muß die Gatespannung beträcht
lich höher sein als bei anderen Anwendungen.
Da bei der in Fig. 9 gezeigten Gate-Treiberschaltung 100 die
Gateeingangskapazität Ciss des Leistungs-MOSFET 3 durch den
Gatewiderstand 110 aufgeladen und entladen wird, variiert die
Ausgangsspannung der Schaltung lediglich exponentiell zwischen
Masse und VGG. Für einen Hochgeschwindigkeitsbetrieb des Lei
stungs-MOSFET 3 muß der Widerstandswert des Gatewiderstandes
110 klein sein. Dementsprechend wächst der Spitzenwert (IGP1 ≒
IGP2 = VGG/R) des Stromes, der über die Schalttransistoren 101
und 102 fließt, stark an. Als Ergebnis müssen Schalttransisto
ren 101 und 102 mit großen Stromkapazitäten verwendet werden,
und die Schaltung ist schwierig zu integrieren. Zusätzlich
steigen die Schaltverluste der Schalttransistoren 101 und 102
an, und ein Anstieg der Treiberverluste ist leicht möglich.
Wenn ein Strom zum Aufladen und Entladen der Gateeingangskapa
zität Ciss des Leistungs-MOSFET 3 fließt, erzeugt der Gatewi
derstand 110 einen Leistungsverlust Pd, der sich durch Glei
chung (3) ergibt.
Pd = f×Ciss×VGG 2 (3)
Wenn beispielsweise f = 1 MHz, Ciss = 10 nF und VGG = 10 V be
trägt, wird Pd = 1 W erhalten, was einen Wert darstellt, der
als Treiberverluste nicht mehr vernachlässigt werden kann.
Auf der anderen Seite wird bei der in Fig. 12 gezeigten Blitz
lichtsteuerung eine hohe Spannung (etwa 30 V bei den bisheri
gen Vorrichtungen) für die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG
benötigt, welche ein ausreichendes Treiben des Bipolartran
sistor mit isoliertem Gate 6 in den EIN-Zustand ermöglicht. Im
allgemeinen weist eine Blitzlichtvorrichtung für eine Kamera
eine Leistungsquelle von 3 bis 6 Volt in Form einer Batterie,
und eine Hochspannungsleistungsquelle von etwa 300 V, welche
erhalten wird durch Anheben der Spannung der 3 bis 6 V Lei
stungsquelle mittels des DC-DC-Wandlers, als Leistungsquellen
auf. Jedoch weist die Vorrichtung keine Leistungsquelle von
etwa 30 V auf, welche geeignet ist zum Treiben des Gate des
Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6. Eine derartige Lei
stungsquelle muß als separate Schaltung vorgesehen werden.
Viele derzeitige AF-Kameras enthalten 12 V Leistungsquellen
für den Antrieb der CCD. In derartigen Fällen ist es möglich,
einen Strom von etwa 130 A durch direktes Treiben des Bipolar
transistors mit isoliertem Gate 6 aufgrund der 12 V Leistungs
quelle zu steuern, falls der Bipolartransistor mit isoliertem
Gate mit einer geringen Gate-Treiberspannung verwendet wird.
Bisher wurde die getrennte Leistungsquelle VGG von etwa 30 V
durch Herstellen eines Abgriffes von einer Ausgangswindung des
DC-DC-Wandlers zum Erzeugen einer Hochspannungs-Leistungs
quelle zum Gleichrichten und Glätten der Spannung des Abgrif
fes, oder durch Teilen der 300 V Spannung der Hochspannungs-
Leistungsquelle unter Verwendung eines Schaltelementes wie
beispielsweise eines Transistors mit hoher Durchbruchsspannung
zum Erzeugen einer zeitweisen Leistungsquelle vorgesehen.
Die in Fig. 14 gezeigte Leistungsschaltung entspricht der
letztgenannten Leistungsschaltung, welche mit einer 3 bis 6 V
Leistungsquelle 301 bestehend aus einer Batterie, einem DC-DC-
Wandler 300 aufweisend einen Transistor 302 und einen Stufen
wandler 303, einer Glättungsschaltung für eine Hochspannungs-
Leistungsquelle VCM mit einer Diode 304 und dem Hauptkondensa
tor 2, und einer Glättungsschaltung für die Gate-Treiber-Lei
stungsquelle VGG mit einer Diode 305 und einem Kondensator 306
ausgestattet ist. Bei einer Blitzlichtvorrichtung, bei der VGG
gleichzeitig erzeugt wird, während der DC-DC-Wandler 300 in
Betrieb ist, und bei der der Betrieb des DC-DC-Wandlers 300
beendet wird, wenn die Hochspannungs-Leistungsquelle VCM die
spezifizierte Ausgangsspannung erreicht (was ein gängiges Ver
fahren zur Verringerung des Batterieverbrauchs darstellt),
endet das Aufladen der Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG ent
sprechend dem Oszillationsstop des DC-DC-Wandlers 300, wobei
der Verbrauch des Stromes der Gate-Treiberschaltung 100 und
der Leckstrom des Kondensators 306 die Ausgangsspannung des
Kondensators 306 verringert. Bei solchen Anwendungen, bei
denen insbesondere ein großer Strom wie beispielsweise bei der
Blitzlichtsteuerung verwendet wird, muß, da ein Kurzschluß der
Gatespannung des Bipolartransistors mit isoliertem Gate fatal
wäre und eine Zerstörung der Elemente verursachen würde, der
Abfall in der Ausgangsspannung auf ein Minimum gesteuert wer
den. Daher ist es notwendig, die Kapazität des Kondensators
306 ausreichend zu vergrößern, oder den verbrauchten Strom der
Gate-Treiberschaltung 100 ausreichend zu verringern. Bei
spielsweise beträgt die benötigte Kapazität des Kondensators
306 gleich 120 µF, wenn die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG
bei 33 V bis 28 V für eine Minute gehalten wird, wenn der ver
brauchte Strom der Gate-Treiberschaltung 100 gleich 10 µA be
trägt. Ein Kondensator mit einer derartigen Kapazität und
einer Durchbruchsspannung von ca. 50 V ist beträchtlich groß
und kostenintensiv, so daß die wirtschaftlichen Nachteile der
Blitzlichtsteuerung, für welche die Notwendigkeit geringer
Kosten besteht, zu groß sind.
Die in Fig. 15 dargestellte Leistungsschaltung entspricht der
erstgenannten. Bei dieser Leistungsschaltung werden Transisto
ren 406 und 402 aufgrund eines Emissions-Startsignales von
einer Kamera eingeschaltet, und dadurch wird ein Kondensator
400, der über einen Widerstand 401 durch die Hochspannungs
Leistungsquelle VCM aufgeladen wurde, über den Hochspannungs-
Transistor 402 und einen Widerstand 403 auf eine konstante
Spannungsdiode 404 entladen. Ein Kondensator 405 wird mit die
ser Spannung aufgeladen, welche für die Gate-Treiber-Lei
stungsquelle VGG verwendet wird. Bei dieser Leistungsschaltung
kann der Transistor 101 und die Logikschaltung 103 gemäß Fig.
12 weggelassen sein. Dieser Typ von Leistungsschaltung benö
tigt einen Transistor mit hoher Durchbruchsspannung von mehr
als 300 V und eine große Anzahl von Komponenten, so daß die
wirtschaftlichen Nachteile der Blitzlichtsteuerung, für die
geringe Kosten erheblich gewünscht sind, ebenfalls zu groß
sind.
Falls ein Bipolartransistor mit isoliertem Gate mit der gerin
gen Gate-Treiberspannung entwickelt wird und als der Bipolar
transistor mit isoliertem Gate 6 gemäß Fig. 12 verwendet wird,
fällt der untere Grenzwert VGG(OFF) der Gatespannung vG (be
ziehungsweise eine Gate-Emitter-Schwellenspannung VGE(th)) zum
Halten des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 in den
AUS-Zustand herunter auf etwa ein Drittel im Vergleich zu dem
Fall, bei dem der normale Bipolartransistor mit isoliertem
Gate verwendet wird. Daher muß die Gatespannung vG geringer
sein als die Schwellenspannung für den Ausschalt-Antrieb. Da
jedoch die Gatespannung vG bei der in Fig. 12 gezeigten Span
nung einen exponentiellen Abfall zeigt, wird das Aus-Treiben
des Gates mit der Verringerung der Gatespannung vG verlang
samt. Wenn das AUS-Treiben des Gates zu langsam ist, wird das
Ausschalten des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 eben
falls verlangsamt, und die Menge an Blitzlicht wächst größer
an als erwartet, wodurch die Möglichkeit der Überbelichtung
bei der Fotografie besteht, insbesondere bei der Aufnahme
naher Gegenstände.
Dementsprechend liegt der vorliegenden Erfindung die Aufgabe
zugrunde, eine Gate-Treiberschaltung zur Verfügung zu stellen,
welche das Schalten einer isolierte Gate-Halbleitervorrichtung
bei hoher Geschwindigkeit mit geringeren Leistungsverlusten
ermöglicht.
Der vorliegenden Erfindung liegt ferner die Aufgabe zugrunde,
eine Blitzlichtsteuerung mit geringer Größe und niedrigen
Kosten zur Verfügung zu stellen.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt erfindungsgemäß durch die im
Anspruch 1 und 8 angegebenen Merkmale.
Eine Gate-Treiberschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung
zum EIN- und AUS-Treiben einer isolierte Gate-Halbleitervor
richtung weist auf: einen ersten und einen zweiten Leistungs
anschluß, erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende
Schalter, welche in Serie zwischen dem ersten und dem zweiten
Leistungsanschluß verbunden sind, ein Induktanzelement, wel
ches zwischen einem Verbindungspunkt der ersten und zweiten in
Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der iso
lierte Gate-Halbleitervorrichtung verbunden ist, und eine
Steuerschaltung zum EIN- und AUS-Treiben der isolierte Gate-
Halbleitervorrichtung durch EIN- und AUS-Steuern der ersten
und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter, wobei
das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche aus
reicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zusanmenhang mit
einer Gateeingangskapazität der isolierte Gate-Halbleitervor
richtung.
Des weiteren ist gemäß der vorliegenden Erfindung eine Blitz
lichtsteuerung vorgesehen, welche eine derartige Gate-Treiber
schaltung verwendet. Gemäß der Erfindung weist eine Blitz
lichtsteuerung auf: einen ersten und einen zweiten Hochspan
nungsleistungsanschluß, eine isolierte Gate-Halbleitervorrich
tung, welche durch eine Gate-Treiberschaltung EIN- und AUS-
treibbar ist, eine Blitzlichtentladungsröhre, welche in Serie
mit der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung zwischen dem er
sten und dem zweiten Hochspannungs-Leistunganschluß verbunden
ist, einen Kondensator zur Speicherung von Blitzlichtenergie,
welcher parallel zu einem serienverbundenen Körper bestehend
aus der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung und der Blitz
lichtentladungsröhre verbunden ist, und eine Triggerschaltung
zum Triggern der Blitzlichtentladungsröhre zum Starten der
Blitzlichtentladung, wobei die Gatesteuerschaltung aufweist:
einen ersten und einen zweiten Leistungsanschluß, erste und
zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter, welche in
Serie zwischen dem ersten und dem zweiten Leistungsanschluß
verbunden sind, ein Induktanzelement, welches zwischen einem
Verbindungspunkt der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung
sperrenden Schalter und einem Gate der isolierte Gate-Halblei
tervorrichtung verbunden ist, und eine Steuerschaltung zum
EIN- und AUS-Treiben der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung
durch EIN- und AUS-Steuern der ersten und zweiten in Rück
wärtsrichtung sperrenden Schalter, wobei das Induktanzelement
eine Induktivität aufweist, welche ausreicht zum Erzeugen
einer LC-Resonanz im Zusammenhang mit einer Gate
eingangskapazität der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung.
Bei der Gate-Treiberschaltung für die isolierte Gate-Halblei
tervorrichtung entsprechend der vorliegenden Erfindung wird
anstelle eines Widerstandes das Induktanzelement als ein Ele
ment zum Begrenzen der Gateladung und des Entladungsstromes
verwendet. Die LC-Resonanz wird durch die Induktivität des
Induktanzelementes und die Gateeingangskapazität der isolierte
Gate-Halbleitervorrichtung induziert. Die ersten und zweiten
Schalter zum Schalten des Gate-Treiberstromes sind mit in
Rückwärtsrichtung sperrenden Eigenschaften vorgesehen. Danach
kann während der Steuerung der Stromspitzenwerte der ersten
und zweiten Schalter bei niedrigen Pegeln ein Hochgeschwindig
keitsschalten der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung er
reicht werden. Im Ergebnis kann eine Gate-Treiberschaltung er
halten werden, welche ein Schalten bei hoher Geschwindigkeit
und geringeren Leistungsverlusten ermöglicht.
Bei der Blitzlichtsteuerung entsprechend der vorliegenden Er
findung wird die in eine Blitzlichthauptschaltung eingesetzte
isolierte Gate-Halbleitervorrichtung aufgrund der Verwendung
der Gate-Treiberschaltung mit den obig erwähnten aus
gezeichneten Eigenschaften EIN- und AUS-getrieben. Daher kann
eine Blitzlichtsteuerung mit einer kleinen Größe und geringen
Kosten erhalten werden, bei der keine großdimensionierten
Teile mit hohen Durchbruchsspannungen benötigt werden.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus
den Unteransprüchen.
Weitere Einzelheiten, Aspekte und Vorteile der vorliegenden
Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung un
ter Bezugnahme auf die Zeichnung.
Es zeigt:
Fig. 1 ein Schaltungsdiagramm eines bevorzugten Ausfüh
rungsbeispieles einer Gate-Treiberschaltung ent
sprechend der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs
weise der in Fig. 1 gezeigten Gate-Treiberschal
tung;
Fig. 3 ein Schaltungsdiagramm eines weiteren bevorzugten
Ausführungsbeispieles der Gate-Treiberschaltung
entsprechend der vorliegenden Erfindung;
Fig. 4 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs
weise der in Fig. 3 gezeigten Gate-Treiberschal
tung;
Fig. 5 ein Schaltungsdiagramm eines bevorzugten Ausfüh
rungsbeispieles einer Blitzlichtsteuerung entspre
chend der vorliegenden Erfindung;
Fig. 6 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs
weise der in Fig. 5 gezeigten Steuerung;
Fig. 7 ein Schaltungsdiagramm eines weiteren bevorzugten
Ausführungsbeispieles der Blitzlichtsteuerung ent
sprechend der vorliegenden Erfindung;
Fig. 8 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs
weise der in Fig. 7 gezeigten Steuerung;
Fig. 9 ein Schaltungsdiagramm einer Gate-Treiberschaltung;
Fig. 10 ein Kurvendiagranm zur Erläuterung der Betriebs
weise der in Fig. 9 gezeigten Schaltung;
Fig. 11 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung von idealen
Resonanz- und Nichtresonanz-Treiberkurvenformen
eines Gatestromes und einer Gatespannung;
Fig. 12 ein Schaltungsdiagramm einer Blitzlichtsteuerung;
Fig. 13 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs
weise der in Fig. 12 gezeigten Steuerung;
Fig. 14 und 15 Schaltungsdiagramme von Gate-Treiber-Leistungs
quellen in der Blitzlichtsteuerung;
Fig. 16 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der resonanten
und nichtresonanten Treiberkurvenformen des
Gatestromes und der Gatespannung beim Ein- und Aus
schalten im Zusammenhang einer tatsächlichen äqui
valenten Serienwiderstandes; und
Fig. 17 ein Schaltungsdiagramm eines weiteren bevorzugten
Ausführungsbeispieles der Gate-Treiberschaltung
entsprechend der vorliegenden Erfindung.
Fig. 1 zeigt ein Schaltungsdiagramm eines bevorzugten Ausfüh
rungsbeispieles einer Gate-Treiberschaltung für eine isolierte
Gate-Halbleitervorrichtung entsprechend der vorliegenden Er
findung, und Fig. 2 zeigt ein Kurvendiagramm zur Erläuterung
von Kurvenformen bei der Betriebsweise der in Fig. 1 darge
stellten Schaltung. Bei der Gate-Treiberschaltung 100 gemäß
Fig. 1 wird anstelle des Gatewiderstandes 110 ein Induktanz
element 108 verwendet. Dioden 105 und 106 sind jeweils in
Serie mit den Schalttransistoren 101 und 102 verbunden. Ein
erster in Rückwärtsrichtung sperrender Schalter setzt sich aus
dem Schalttransistor 101 und der Diode 105, und ein zweiter in
Rückwärtsrichtung sperrender Schalter setzt sich aus dem
Schalttransistor 102 und der Diode 106 zusammen. Der Rest ist
ähnlich im Aufbau wie bei der in Fig. 9 dargestellten Gate-
Treiberschaltung.
Unter Bezugnahme auf das in Fig. 2 dargestellte Kurvendiagramm
wird im folgenden die Betriebsweise der in Fig. 1 dargestell
ten Schaltung erläutert. Wenn sich ein Steuereingang V1 auf
einen hohen Pegel bei dem anfänglichen Zustand, bei dem eine
Gatespannung vG eines Leistungs-MOSFETs 3 gleich Null beträgt,
ändert, wird der Schalttransistor 101 eingeschaltet und der
Schalttransistor 102 ausgeschaltet. Dementsprechend wird eine
Eingangskapazität Ciss des MOSFET 3 durch eine Gate-Treiber-
Leistungsquelle VGG über den Schalttransistor 101, die Diode
105 und das Induktanzelement 108 aufgeladen. Dabei ergibt sich
eine schwingende Kurvenform, falls eine Induktivität L der
folgenden Beziehung genügt:
wobei der äquivalente Serienwiderstand RS die Summe eines in
ternen Serienwiderstandes der Gate-Treiberschaltung 100 und
eines äquivalenten Eingangswiderstandes des Leistungs-MOSFET 3
darstellt. Falls L ausreichend vergrößert wird, kann ein halb
sinusförmig ausgebildeter Gatestrom iG erhalten werden. Wenn
beispielsweise Ciss = 10 nF und RS = 5 Ω ist, ist L » 83 nH
ausreichend. Aufgrund dieses Resonanzphänomens kann die Gate
spannung vG des MOSFET 3 bis zu einem höheren Wert als die
Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG aufgeladen werden. Insbeson
dere gilt, daß je größer der Wert auf der linken Seite in dem
Ausdruck (4) (bzw. Q) ist, desto größer ist ein Ladungswert
VGH1 der Gatespannung vG bei einem anfänglichen Zyklus, so daß
sich dieser (VGG-VF)×2 annähert, wobei VF einen Vorwärts
spannungsabfall der Diode 105 darstellt.
Wenn der Steuereingang V1 auf einen niedrigen Pegel bei diesem
Zustand geschaltet wird, wird der Schalttransistor 101 ausge
schaltet, und der Schalttransistor 102 wird eingeschaltet.
Dementsprechend wird die aufgeladene Gateeingangskapazität
Ciss des MOSFET 3 über das Induktanzelement 108, die Diode 106
und den Schalttransistor 102 entladen. Dabei kann der Gate
strom iG wie oben erwähnt die Gestalt einer Sinuswelle haben.
Da die Variation einer Spannung v2 durch (V2H1-VF) bei diesem
Zyklus ausgedrückt wird, ist eine Spannungsamplitude größer
als (VGG-VF) der anfänglichen Resonanz. Als Ergebnis wird die
Gatespannung vG des Leistungs-MOSFET 3 auf eine negative Span
nung (VGL1) aufgeladen. Auf ähnliche Weise ist der absolute
Wert eines Gatestromspitzenwertes IGP2 bei diesem Zyklus
größer als derjenige eines Gatestromspitzenwertes IGP1 bei dem
anfänglichen Zyklus.
Wenn des weiteren der Steuereingang V1 auf den hohen Pegel ge
schaltet wird, werden die Schalttransistoren 101 und 102 je
weils invertiert werden, und die Gatespannung vG des MOSFET 3
wird erneut auf die positive Polarität aufgeladen aufgrund der
durch die Leistungsquelle von (VGG-VF-V2L) erzeugten Resonanz
zum Erreichen von VGH2, welcher höher ist als die Ladungsspan
nung VGH1 bei dem anfänglichen Zyklus.
Durch die Wiederholung derartiger Schaltvorgänge wächst die
Gatespannung vG des Leistungs-MOSFET 3 aufeinanderfolgend zu
größeren Werten hin für jeden Zyklus. Falls jedoch ein ge
eigneter Parallelwiderstand zwischen dem Gate und der Source
des Leistungs-MOSFET 3 vorgesehen ist, kann die Gatespannung
vG auf eine geeignete Spannung gesteuert werden.
Wie es in Fig. 3 gezeigt ist, kann zusätzlich eine Diode 107,
deren Anode und Kathode jeweils mit dem Gate des Leistungs-
MOSFET 3 und der Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG verbunden
sind, vorgesehen sein zur Regenerierung der Gatespannung vG,
welche die Ausgangsspannung der Gate-Treiberschaltung 100 an
die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG darstellt. In Fig. 4 ist
ein Beispiel von Kurvenformen für die bei diesem Fall auftre
tenden Vorgänge darstellt. Somit kann eine übermäßige Aufla
dung der Gatespannung vG verhindert werden, und ein mittlerer
Versorgungsstrom von der Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG kann
im wesentlichen um die Hälfte, verglichen mit dem Fall gemäß
Fig. 1, verringert werden.
Die Gate-Treiberschaltung entsprechend der vorliegenden Erfin
dung wird im wesentlichen auf dieselbe Weise wie oben be
schrieben betrieben. Im folgenden wird die Schaltgeschwin
digkeit der zu treibenden isolierte Gate-Halbleitervorrichtung
untersucht. Ähnlich wie bei dem Fall der in Fig. 9 gezeigten
Gate-Treiberschaltung ist die Anstiegszeit tr und die Abfall
zeit tf bezüglich dem Schalten des Leistungs-MOSFET 3 als
Zeitperiode definiert, die jeweils benötigt werden für den An
stieg und den Abfall der Gatespannung vG zwischen VGS(OFF) und
VGS(ON). Falls eine Standardisierung durchgeführt wird, so daß
der Spitzenwert des Gatestromes iG im Falle der Aufladung der
Gateeingangskapazität Ciss mit der exponentiellen (nicht reso
nanten) Kurvenform gleich ist mit derjenigen im Falle des Auf
ladens der Gateeingangskapazität Ciss mit der halbsinusför
migen (resonanten) Kurvenform entsprechend der vorliegenden
Erfindung, sind die Kurvenformen des Gatestromes iG in Fig.
11(a) gezeigt. Dies bedeutet, daß im Falle der Gleichheit der
Spitzenwerte die Impulsweite des halbsinusförmigen Stromes π/2
mal so groß sein muß wie die Zeitkonstante τ des expo
nentiellen Stromes. Die Anstiegskurven der Gatespannung vG,
welche mit deraratigen Strömen aufgeladen wird, sind in Fig.
11(b) gezeigt, falls eine Standardisierung dahingehend durch
geführt wird, daß der Spitzenwert im Falle des nichtresonanten
Antriebs (wie beim eingangs beschriebenen Fall) gleich ist mit
demjenigen im Falle des resonanten Antriebes (gemäß der vor
liegenden Erfindung). Falls VG(OFF) gleich 20% der Aufla
dungsendspannung, und VG(ON) gleich 80% hiervon beträgt, be
trägt die Anstiegszeit tr des Leistungs-MOSFET 3 wie folgt:
beim resonanten Antreiben tr1 = 0,644 τ
beim nichtresonanten Antreiben tr2 = 1,386 τ.
beim nichtresonanten Antreiben tr2 = 1,386 τ.
Dementsprechend ist tr1/tr2 = 0,465 τ, und es wurde gefunden,
daß das Schalten bei der halbsinusförmigen Aufladung entspre
chend der vorliegenden Erfindung im wesentlichen doppelt so
schnell durchgeführt werden kann als bei der exponentiellen
Aufladung der eingangs beschriebenen Weise.
Die Kurvenformen gemäß Fig. 11 sind unter Berücksichtigung der
idealen sinusförmigen Aufladung berechnet. Bei einer prakti
scheren Betrachtung zeigt Fig. 16 ein Beispiel von Kurvenfor
men, welche für den Fall berechnet wurden, bei dem ein äquiva
lenter Serienwiderstand RS vorhanden ist, der die Summe des
internen Serienwiderstandes der Gate-Treiberschaltung 100 und
des äquivalenten Eingangswiderstandes des Leistungs-MOSFET 3
darstellt. Fig. 16 zeigt die Kurvenformen bei den Schaltvor
gängen beim Ein- und Ausschalten, da der zweite Zyklus den
Fall darstellt, bei dem die Simulation aufgrund der Verwendung
einer Resonanztreiberschaltung mit der regenerativen Diode 107
gemäß Fig. 3 mit den Konstanten VGG = 10 V, L = 0,5 µH, Ciss =
10 nF und RS = 5 Ω durchgeführt wurde. Die Kurvenformen des
resonanten Antriebs sind durch schwarze Punkte gezeichnet.
Entsprechend diesen Ergebnissen beträgt der Spitzenwert des
Gatestromes iG aufgrund des Resonanzantriebes gleich 1,03 A.
Im Hinblick auf die bisherige Lösung sind zum Vergleich die
Ergebnisse derselben Berechnung mit den Konstanten VGG = 10 V,
Ciss = 10 nF und RS = 10 Ω bei der nichtresonanten Treiber
schaltung gemäß Fig. 9 in Fig. 16 ebenfalls dargestellt. Die
Kurvenformen des nichtresonanten Antriebes sind mit hellen
Punkten dargestellt. Die Transfereigenschaften des MOSFET
VGS(OFF) = 2 V und VGS(ON) = 8 V, sind ebenfalls auf die Er
gebnisse angewendet, wobei die Anstiegszeit tr und die Ab
fallzeit tf wie folgt sind:
Beim resonanten Antreiben tr = 65 ns
tf = 70 ns
Beim nichtresonanten Antreiben tr = 140 ns
tf = 140 ns.
tf = 70 ns
Beim nichtresonanten Antreiben tr = 140 ns
tf = 140 ns.
Es wurde gefunden, daß der Schaltvorgang des resonanten An
treibens entsprechend der vorliegenden Erfindung zweimal so
schnell ist wie bei dem bisherigen nichtresonanten Antreiben
unter denselben Gatestrombedingungen, auch falls der äquiva
lente Serienwiderstand RS als näher zur Praxis liegend berück
sichtigt ist.
Normalerweise ist die für das Induktanzelement 108 benötigte
Induktivität klein, nämlich einige hunderte von Nanohenries,
so daß eine Spule mit Luftkern und eine Ferrit-Perle anwendbar
sind, und somit die Packungsfläche klein gehalten ist.
Bei der Gate-Treiberschaltung für die isolierte Gate-Halblei
tervorrichtung entsprechend der vorliegenden Erfindung ist das
obig beschriebene Induktanzelement als ein Stromrestriktions
element verwendet, und es werden, wie erwähnt, Treiberschalter
vom in Rückwärtsrichtung sperrenden Typ verwendet, wodurch die
Resonanz durch die Gatekapazität der isolierte Gate-Halblei
tervorrichtung und der Induktivität des Induktanzelementes bei
dem Ein- und Ausschalten erzeugt wird. Daher können die fol
genden praktikablen Effekte erhalten werden:
- 1) Im Falle der Verwendung von Treiberschaltern mit den selben Stromdaten kann die Schaltgeschwindigkeit mit der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung im wesent lichen um das Doppelte im Vergleich zur bisherigen Lö sung schneller sein.
- 2) Die vorliegende Erfindung ist äußerst geeignet zum Aus schalten der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung mit insbesondere geringer VGS(OFF) bei einer hohen Ge schwindigkeit, da die Gatesperrspannung automatisch er zeugt wird.
- 3) Da der Strom nicht durch den Widerstand, sondern durch das Induktanzelement begrenzt wird, wird der elektri sche Leistungsverbrauch in diesen Teil verringert.
- 4) Da die Anstiegsrate des in die Treiberschalter fließen den Stromes durch die Induktivität des Induktanzelemen tes beschränkt wird, können die aufgrund der Anstiegs geschwindigkeit beim Einschalten der Treiberschalter verursachten Schaltverluste verringert werden. In Kom bination mit dem obigen Effekt (1) wird die Hochfre quenzanpassung durch die integrierte Schaltung erleich tert.
Die vorliegende Erfindung wurde soweit auf der Grundlage der
bevorzugten Ausführungsbeispiele gemäß den Fig. 1 und 3 be
schrieben. Es sind jedoch verschiedene Modifikationen möglich,
wie sie im folgenden beschrieben werden.
- 1) Die übermäßige Aufladung der Gatespannung kann auch dann verhindert werden, falls die regenerative Diode 107 gemäß Fig. 3 parallel zwischen dem Gate und der Source des Leistungs-MOSFET 3 verbunden ist, wie es in Fig. 17 gezeigt ist. Jedoch kann in diesem Fall der Ga tesperrspannungs-Effekt nicht ausreichend erhalten wer den.
- 2) Eine in Rückwärtsrichtung sperrende Durchbruchsspannung von etwa 2 bis 3 V der jeweiligen in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter, welche aus der Konbination des Schalttransistors 101 und der Diode 105 und der Kombi nation des Schalttransistors 102 und der Diode 106 zu sammengesetzt sind, kaum manchmal ausreichen in dem Fall, bei dem Q der Resonanzschaltung klein ist oder die regenerative Diode 107 verwendet ist. Wenn bipolare Transistoren als Schalttransistoren innerhalb der in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter verwendet werden, wie es in den Fig. 1 und 3 gezeigt ist, brauchen die in Rückwärtsrichtung sperrenden Dioden 105 und 106 in einigen Fällen nicht teilweise vorgesehen zu sein, falls die benötigte in Rückwärtsrichtung sperrende Durchbruchsspannung wesentlich geringer ist als die Durchbruchsspannung des Basis-Emitter-Übergangs der bi polaren Transistoren.
Fig. 5 zeigt in einem Schaltungsdiagramm ein bevorzugtes Aus
führungsbeispiel einer Blitzlichtsteuerung entsprechend der
vorliegenden Erfindung, und Fig. 6 zeigt als Kurvendiagramm
die entsprechende Betriebsweise. Bei der Blitzlichtsteuerung
gemäß Fig. 5 weist eine Gate-Treiberschaltung 100 für das Ein-
und Aus-Treiben eines bipolaren Transistors mit isoliertem
Gate 6, welcher einen Typ der isolierte Gate-Halbleitervor
richtung darstellt, denselben Aufbau wie bei der in Fig. 1
dargestellten Gate-Treiberschaltung 100 auf, außer daß ein
Gate-Spannungs-Entladungswiderstand 109 zwischen Gate und
Emitter des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 ver
bunden ist. Die restlichen Bestandteile sind ähnlich im Aufbau
wie bei der in Fig. 12 dargestellten Blitzlichtsteuerung.
Unter Bezugnahme auf das Kurvendiagramm gemäß Fig. 6 wird im
folgenden die Betriebsweise der in Fig. 5 dargestellten Blitz
lichtsteuerung erläutert. Falls die Induktivität L des Induk
tanzelementes 108 die folgende Beziehung erfüllt:
ist der Gatestrom iG des bipolaren Transistors mit isoliertem
Gate 6 oszillatorisch, wenn die Schalttransistoren 101 oder
102 ein-/ausgeschaltet werden, wobei der äquivalente Serienwi
derstand RS die Summe des internen Serienwiderstandes der
Gate-Treiberschaltung 100 und des äquivalenten Eingangswider
standes des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 ist,
und Ciss die Gate-Eingangskapaziät des bipolaren Transistors
mit isoliertem Gate 6 darstellt. Der Gatestrom iG zeigt den
halbsinusförmigen Kurvenverlauf entsprechend der in
Rückwärtsrichtung sperrenden Eigenschaften der jeweiligen
Schalter, welche zusammengesetzt sind aus der Kombination des
Transistors 101 und der Diode 105, und der Kombination des
Transistors 102 und der Diode 106. Wenn dementsprechend bei
spielsweise die Induktivität L ausreichend groß ist, kann die
Gate-Spannung vG beim Ein-Treiben des bipolaren Transistoren
mit isoliertem Gate 6 zu etwa dem Doppelten der Gate-Treiber-
Leistungsquelle VGG durch die LC-Resonanz gesteppt werden, wie
oben beschrieben wurde (V2H ≒ 2×VGG). Folglich beträgt der
für die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG benötigte Spannungs
wert lediglich etwa die Hälfte von dem Wert VGE(ON), welcher
für das Ein-Treiben des bipolaren Transistoren mit isoliertem
Gate 6 benötigt wird.
Wie oben erwähnt wurde, wurde ein bipolarer Transistor mit
isoliertem Gate entwickelt, der eine Steuerung eines Spitzen
stromes von etwa 130 A mit einer Gate-Spannung von etwa 10 V
ermöglicht. Falls ein solcher als der bipolare Transistor mit
isoliertem Gate 6 verwendet ist, ist die Blitzlichtsteuerung
möglich durch direktes Verwenden einer 6 V Batterie als die
Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG in der Schaltung gemäß Fig.
5.
Wie oben dargestellt wurde, wird die LC-Resonanz ebenso beim
Aus-Treiben des bipolaren Transistoren mit isoliertem Gate 6
verwendet, wobei das Gate des bipolaren Transistoren mit iso
liertem Gate 6 negativ vorgespannt ist (V2L ≒ -V2H). Dadurch
kann auch im Falle des bipolaren Transistors mit isoliertem
Gate mit geringem VGE(th), bei dem die Gate-Treiberspannung
verringert ist, bei einer hohen Geschwindigkeit ausgeschaltet
werden, da die Gate-Spannung vG rapide in der Umgebung des
Schwellenwertes variiert.
Bei der Schaltung gemäß Fig. 5 wird die negativ aufgeladene
Gate-Eingangskapazität Ciss des bipolaren Transistors mit iso
liertem Gate 6 durch den Entladungswiderstand 106 entladen.
Falls das nächste Ein-Treiben durchgeführt wird, wenn die Ent
ladung beendet ist, kann die obige Betriebsweise wiederholt
werden. Falls jedoch das nächste Ein-Treiben durchgeführt
wird, bevor die negative Entladung beendet ist, steigt die po
sitive Gate-Treiberspannung manchmal bis zu einem Maximum von
4×VGG an, so daß gewisse Sorgfalt unternommen werden muß, um
die positive Gate-Treiberspannung unterhalb des Gate-Durch
bruchs-Spannungskennwertes des bipolaren Transistors mit iso
liertem Gate 6 zu halten. Falls es nicht unbedingt notwendig
ist, eine große Gatesperrspannung anzulegen, können stabile
Wiederholungsvorgänge durch paralleles Verbinden der Diode zwi
schen dem Gate und dem Emitter des bipolaren Transistors mit
isoliertem Gate 6 (beziehungsweise Verbinden der Kathode mit
dem Gate und der Anode mit dem Emitter) erzielt werden.
Fig. 7 zeigt in einem Schaltungsdiagramm ein weiteres bevor
zugtes Ausführungsbeispiel der Blitzlichtsteuerung entspre
chend der vorliegenden Erfindung, und Fig. 8 zeigt in einem
Kurvendiagramm die entsprechenden Kurvenformen beim Betrieb
desselben. Bei der Blitzlichtsteuerung gemäß Fig. 7 ist die
Gate-Treiberschaltung 100 zum EIN- und AUS-Treiben des bipola
ren Transistors mit isoliertem Gate 3 dieselbe wie bei Fig. 5.
Der Unterschied zu Fig. 5 liegt im Aufbau jedoch darin, daß
ein Thyristorschalter 11 separat als Vorrichtung zum Liefern
von Triggerenergie für die Triggerschaltung 200 einer
Blitzlichtentladungsröhre 4 verwendet ist, wobei ein
Emissions-Startsignal von einer Kamera oder dergleichen an den
Thyrsitorschalter 11 geliefert wird. Das Emissions-Stopsignal
wird durch Anlegen eines negativen Pegels an den Steuereingang
V1 der Gate-Treiberschaltung 100 geliefert.
Unter Bezugnahme auf das Kurvendiagramm gemäß Fig. 8 wird die
Betriebsweise der in Fig. 7 dargestellten Schaltung im folgen
den erläutert. Bei einer Haltebedingung, wenn das Emissions-
Startsignal TRIG möglicherweise von der Kamera ausgegeben
wird, wird die Gate-Spannung vG hochgehalten, so daß der bipo
lare Transistor mit isoliertem Gate 6 ständig einen vorbe
stimmten Blitzlichtentladungsröhrenstrom passieren kann. Wenn
der Steuereingang V1 der Gate-Treiberschaltung 100 zwischen
den niedrigen und hohen Pegeln geschaltet wird, steigt die
Spannung mit hohem Pegel des Gates des bipolaren Transistoren
mit isoliertem Gate 6 durch die LC-Resonanz beim Schalten mit
dem Anstieg der Anzahl von Schaltvorgängen an, wie es oben be
schrieben wurde. Falls der Steuereingang V1 hochgehalten wird,
wenn die Gate-Spannung niedriger ist als der Gate-Durch
bruchsspannungs-Kennwert des bipolaren Transistors mit iso
liertem Gate 6 und einen ausreichenden Wert erreicht, wird die
Gate-Spannung vG des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate
6 bei einem Wert gehalten, der größer ist als die Gate-Span
nung VGE(ON), welche für die Leitung des bipolaren Transistors
mit isoliertem Gate 6 für eine Zeitdauer durch die Gate-Ein
gangskapazität Ciss benötigt wird. Diese Spannung kann durch
eine Spannungssteuerschaltung 111 überwacht werden und inner
halb eines benötigten Gate-Spannungs-Bereiches gesteuert wer
den. Die Spannungssteuerschaltung 111 kann einfach zusam
mengesetzt sein, beispielsweise aus einem Spannungskomparator
und einer Oszillatorschaltung.
Falls das Emissions-Startsignal TRIG von der Kamera empfangen
wurde, während die Gate-Spannung vG innerhalb des vorbestimm
ten Spannungsbereiches liegt, wird das Gate des Thyristor
schalters 11 zum Triggern durch die Spannungssteuerschaltung
111 getriggert, und dadurch kann die Blitzlichtentladung durch
die Blitzlichtentladungsröhre 7 starten. Um die Blitzlichtent
ladung durch die Blitzlichtentladungsröhre 7 zu beenden, nach
dem eine leitende Zeit tw verstrichen ist und eine gewünschte
Lichtmenge erhalten worden ist, sollte der Steuereingang V1
lediglich auf den niedrigen Pegel geschaltet werden. Nach
einigen ms, nachdem die Blitzlichtentladung beendet ist, wurde
Gas in der Blitzlichtentladungsröhre 7 ionisiert, so daß
leicht Fehlbeleuchtungen auftreten können. Daher muß die Gate-
Spannung vG des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6
mit einer AUS-Periode tOFF mit geeigneter Dauer vorgesehen
sein.
Falls das Emissions-Startsignal TRIG übertragen wird, während
die Gate-Spannung vG des bipolaren Transistors mit isoliertem
Gate 6 gering ist aufgrund seines Pumpenbetriebes, sollte der
Triggerimpuls an den Thyristorschalter zum Triggern 11 ange
legt werden, nachdem der Pumpvorgang beendet ist. Diese Zeit
verzögerung kann leicht unterhalb von Zehntel von Mikrosekun
den gesteuert werden, so daß es keinen Einfluß auf den Foto
grafiervorgang gibt.
Die Schaltung gemäß Fig. 7 weist den Vorteil auf, daß die
Batteriespannung für die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG be
liebig gewählt werden kann, da die Gate-Spannung vG in gewis
sen Grenzen beliebig für die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG
verstärkt werden kann.
Im Zusammenhang mit der Geschwindigkeit des Gate-Treiber-
Schaltvorganges wird im folgenden ein Vergleich zwischen der
bisher verwendeten Blitzlichtsteuerung gemäß Fig. 12 und der
Blitzlichtsteuerung vom Resonanzgate-Treibertyp entsprechend
der vorliegenden Erfindung gemäß den Fig. 5 und 7 durchge
führt. Wie es unter Bezugnahme auf Fig. 11 oben dargestellt
wurde, falls die Zeitperioden tr und tf betrachtet werden,
wenn die Gate-Spannung vG des bipolaren Transistors mit iso
liertem Gate 6 zwischen 20% und 80% der gesamten Amplitude
variiert, wurde gefunden, daß die Blitzlichtsteuerung vom Re
sonanzgate-Treibertyp entsprechend der vorliegenden Erfindung
etwa doppelt so schnell wie die bisher verwendete Blitzlicht
steuerung treibbar ist. Andererseits kann bei derselben
Schaltgeschwindigkeit die Induktivität des Induktanzelement
108 zur Begrenzung des Stromes vergrößert werden, und der
Spitzenwert des Schaltstromes kann um die Hälfte verringert
werden. Dementsprechend kann der Stromnennwert der aus den
Schalttransistoren 101 und 102 und den Dioden 105 und 106 zu
sammengesetzten Treiberschalter verringert werden, wodurch die
Wirtschaftlichkeit verbessert wird.
Die oben erläuterten bevorzugten Ausführungsbeispiele betref
fen den Fall des EIN- und AUS-Treibens des bipolaren Tran
sistors mit isoliertem Gate für ein Stroboskop unter Verwen
dung der Gate-Treiberschaltung vom Resonanztreibertyp entspre
chend der vorliegenden Erfindung. Jedoch kann derselbe Effekt
im Falle des EIN- und AUS-Treibens des Leistungs-MOSFET und
dergleichen mit derselben isolierte Gate-Struktur wie bei dem
bipolaren Transistor mit isoliertem Gate erhalten werden. Bei
den Anwendungen, bei denen der Anstieg der Gate-Spannung vG
oberhalb der Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG bedeutungslos
ist, kann die Gate-Spannung vG durch die Diode 107 auf die
Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG regeneriert werden, wie es in
Fig. 3 dargestellt ist. Somit kann insbesondere bei den Anwen
dungen von Hochfrequenz DC-DC-Wandlern und dergleichen der
verbrauchte Strom der Gate-Treiberschaltung 100 von einem An
stieg verhindert werden.
Die Blitzlichtsteuerung gemäß der vorliegenden Erfindung, in
welcher die in die Blitzlichthauptschaltung eingesetzte iso
lierte Gate-Halbleitervorrichtung aufgrund der Verwendung des
Induktanzelement resonant-treibbar ist, weist verschiedene
praktische Effekte auf, welche im folgenden beschrieben wer
den.
- 1) Da die Gate-Treiberspannung nach oben gesteppt werden kann, können Batterien als die Gate-Treiber-Leistungs quelle VGG verwendet werden. Somit kann eine Miniaturi sierung und eine Kostenreduktion der Schaltung erreicht werden.
- 2) Da die Gatesperrspannung beim AUS-Treiben angelegt wird, wird ein Hochgeschwindigkeits-Ausschalten auch bei der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung mit einem geringen Schwellenwert erreicht.
- 3) Die Schaltstromkenndaten können verringert werden, wo durch die Kosten der Gate-Treiberschaltung reduziert werden.
Claims (16)
1. Gate-Treiberschaltung zum EIN- und AUS-Treiben einer
Halbleitervorrichtung mit isoliertem Gate, welche auf
weist:
einen ersten und einen zweiten Leistungsanschluß;
erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schal ter, welche in Serie zwischen dem ersten und dem zwei ten Leistungsanschluß verbunden sind;
ein Induktanzelement, welches zwischen einem Verbin dungspunkt der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der isolierte Gate- Halbleitervorrichtung verbunden ist; und
eine Steuerschaltung zum Ein- und Aus-Treiben der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung durch EIN- und AUS- Steuern der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter,
wobei das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche ausreicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zu sammenhang mit einer Gate-Eingangskapazität der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung.
einen ersten und einen zweiten Leistungsanschluß;
erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schal ter, welche in Serie zwischen dem ersten und dem zwei ten Leistungsanschluß verbunden sind;
ein Induktanzelement, welches zwischen einem Verbin dungspunkt der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der isolierte Gate- Halbleitervorrichtung verbunden ist; und
eine Steuerschaltung zum Ein- und Aus-Treiben der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung durch EIN- und AUS- Steuern der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter,
wobei das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche ausreicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zu sammenhang mit einer Gate-Eingangskapazität der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung.
2. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen ersten Transistor mit einer mit dem ersten Leistungsan schluß verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem Ver bindungspunkt verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbunden Steuerelektrode, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen zweiten Transistor mit einer mit dem Verbindungs punkt verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem zwei ten Leistungsanschluß verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuer elektrode aufweist.
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen ersten Transistor mit einer mit dem ersten Leistungsan schluß verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem Ver bindungspunkt verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbunden Steuerelektrode, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen zweiten Transistor mit einer mit dem Verbindungs punkt verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem zwei ten Leistungsanschluß verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuer elektrode aufweist.
3. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine erste Diode mit einer mit der zweiten Elektrode des ersten Transistors verbundenen ersten Elektrode, und einer mit dem Verbindungspunkt verbun denen zweiten Elektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine zweite Diode mit einer mit dem Verbin dungspunkt verbundenen ersten Elektrode und einer mit der ersten Elektrode des zweiten Transistors verbun denen zweiten Elektrode aufweist.
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine erste Diode mit einer mit der zweiten Elektrode des ersten Transistors verbundenen ersten Elektrode, und einer mit dem Verbindungspunkt verbun denen zweiten Elektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine zweite Diode mit einer mit dem Verbin dungspunkt verbundenen ersten Elektrode und einer mit der ersten Elektrode des zweiten Transistors verbun denen zweiten Elektrode aufweist.
4. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß
die ersten Elektroden des ersten und zweiten Tran sistors Kollektoren darstellen,
die zweiten Elektroden des ersten und zweiten Tran sistors Emitter darstellen,
die ersten Elektroden der ersten und zweiten Dioden An oden darstellen, und
die zweiten Elektroden der ersten und zweiten Diode Kathoden darstellen.
die ersten Elektroden des ersten und zweiten Tran sistors Kollektoren darstellen,
die zweiten Elektroden des ersten und zweiten Tran sistors Emitter darstellen,
die ersten Elektroden der ersten und zweiten Dioden An oden darstellen, und
die zweiten Elektroden der ersten und zweiten Diode Kathoden darstellen.
5. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß
die Steuerschaltung eine mit der Steuerelektrode des
ersten Transistors verbundene erste Logikschaltung,
und eine mit der Steuerelektrode des zweiten Transistors
verbundene zweite Logikschaltung zum komplementären
Ein- und Ausschalten des ersten und des zweiten Tran
sistors aufweist.
6. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet durch
eine regenerative Diode mit einer Anode, die mit dem Gate der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung verbunden ist, und einer Kathode, die mit dem ersten Lei stungsanschluß verbunden ist, wobei
der erste Leistungsanschluß eine hohe Leistungsquellen spannung liefert.
eine regenerative Diode mit einer Anode, die mit dem Gate der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung verbunden ist, und einer Kathode, die mit dem ersten Lei stungsanschluß verbunden ist, wobei
der erste Leistungsanschluß eine hohe Leistungsquellen spannung liefert.
7. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Kathode und einer mit dem zweiten Leistungsanschluß verbundenen Anode, wobei
der zweite Leistungsanschluß eine geringe Leistungs quellenspannung liefert.
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Kathode und einer mit dem zweiten Leistungsanschluß verbundenen Anode, wobei
der zweite Leistungsanschluß eine geringe Leistungs quellenspannung liefert.
8. Blitzlichtsteuerung, welche eine Gate-Treiberschaltung
gemäß Anspruch 1 verwendet, welche aufweist:
einen ersten und einen zweiten Hochspannungs-Leistungs anschluß;
eine durch eine Gate-Treiberschaltung ein- und aus treibbare isolierte Gate-Halbleitervorrichtung;
eine Blitzlichtentladungsröhre, welche in Serie mit der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung zwischen dem ersten und dem zweiten Hochspannungsleistungsanschluß verbunden ist;
einen Kondensator zum Speichern von Blitzlichtenergie, der parallel verbunden ist mit einem serienverbundenen Körper, der zusammengesetzt ist aus der isolierte Gate- Halbleitervorrichtung und der Blitzlichtentla dungsröhre; und
eine Triggerschaltung zum Triggern der Blitzlichtentla dungsröhre zum Starten der Blitzlichtentladung,
wobei die Gate-Treiberschaltung aufweist:
einen ersten und einen zweiten Leistungsanschluß;
erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schal ter, welche in Serie verbunden sind zwischen dem ersten und dem zweiten Leistungsanschluß;
ein Induktanzelement, welches verbunden ist zwischen einem Verbindungspunkt der ersten und zweiten in Rück wärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung;
eine Steuerschaltung zum EIN- und AUS-Treiben der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung durch Ein- und Aus- Steuern der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter,
wobei das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche ausreicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zu sammenhang mit einer Gate-Eingangskapazität der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung.
einen ersten und einen zweiten Hochspannungs-Leistungs anschluß;
eine durch eine Gate-Treiberschaltung ein- und aus treibbare isolierte Gate-Halbleitervorrichtung;
eine Blitzlichtentladungsröhre, welche in Serie mit der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung zwischen dem ersten und dem zweiten Hochspannungsleistungsanschluß verbunden ist;
einen Kondensator zum Speichern von Blitzlichtenergie, der parallel verbunden ist mit einem serienverbundenen Körper, der zusammengesetzt ist aus der isolierte Gate- Halbleitervorrichtung und der Blitzlichtentla dungsröhre; und
eine Triggerschaltung zum Triggern der Blitzlichtentla dungsröhre zum Starten der Blitzlichtentladung,
wobei die Gate-Treiberschaltung aufweist:
einen ersten und einen zweiten Leistungsanschluß;
erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schal ter, welche in Serie verbunden sind zwischen dem ersten und dem zweiten Leistungsanschluß;
ein Induktanzelement, welches verbunden ist zwischen einem Verbindungspunkt der ersten und zweiten in Rück wärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung;
eine Steuerschaltung zum EIN- und AUS-Treiben der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung durch Ein- und Aus- Steuern der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter,
wobei das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche ausreicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zu sammenhang mit einer Gate-Eingangskapazität der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung.
9. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß
die Triggerschaltung aufweist:
einen zwischen dem ersten und dem zweiten Hochspan nungs-Leistungsanschluß verbundenen Triggerkondensator,
eine Schaltvorrichtung, welche als Reaktion auf ein ex tern vorgesehenes Emissions-Startsignal eingeschalten wird, und
einen Triggerumformer mit einer in einer Schleife mit dem Triggerkondensator und der Schaltvorrichtung ver bundenen primären Spule, und einer mit der Blitzlicht entladungsröhre verbundenen sekundären Spule,
wobei die Blitzlichtsteuerung ferner eine Vorrichtung zum Aufrechterhalten einer Gate-Spannung der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung bei einem derartigen Pegel aufweist, daß die isolierte Gate-Halbleitervorrichtung vor dem Vorsehen des Emissions-Startsignales einge schalten werden kann.
einen zwischen dem ersten und dem zweiten Hochspan nungs-Leistungsanschluß verbundenen Triggerkondensator,
eine Schaltvorrichtung, welche als Reaktion auf ein ex tern vorgesehenes Emissions-Startsignal eingeschalten wird, und
einen Triggerumformer mit einer in einer Schleife mit dem Triggerkondensator und der Schaltvorrichtung ver bundenen primären Spule, und einer mit der Blitzlicht entladungsröhre verbundenen sekundären Spule,
wobei die Blitzlichtsteuerung ferner eine Vorrichtung zum Aufrechterhalten einer Gate-Spannung der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung bei einem derartigen Pegel aufweist, daß die isolierte Gate-Halbleitervorrichtung vor dem Vorsehen des Emissions-Startsignales einge schalten werden kann.
10. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 9, dadurch gekenn
zeichnet, daß
die Schaltvorrichtung einen Thyristorschalter aufweist.
11. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen ersten Transistor mit einer mit dem ersten Leistungsan schluß verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem Ver bindungspunkt verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuerelektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen zweiten Transistor mit einer mit dem Verbindungs punkt verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem zwei ten Leistungsanschluß verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuer elektrode aufweist.
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen ersten Transistor mit einer mit dem ersten Leistungsan schluß verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem Ver bindungspunkt verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuerelektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen zweiten Transistor mit einer mit dem Verbindungs punkt verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem zwei ten Leistungsanschluß verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuer elektrode aufweist.
12. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 11, dadurch gekenn
zeichnet, daß
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine erste Diode mit einer mit der zweiten Elektrode des ersten Transistors verbundenen ersten Elektrode, und einer mit dem Verbindungspunkt verbun denen zweiten Elektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine zweite Diode mit einer mit dem Verbin dungspunkt verbundenen ersten Elektrode, und einer mit der ersten Elektrode des zweiten Transistors verbun denen zweiten Elektrode aufweist.
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine erste Diode mit einer mit der zweiten Elektrode des ersten Transistors verbundenen ersten Elektrode, und einer mit dem Verbindungspunkt verbun denen zweiten Elektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine zweite Diode mit einer mit dem Verbin dungspunkt verbundenen ersten Elektrode, und einer mit der ersten Elektrode des zweiten Transistors verbun denen zweiten Elektrode aufweist.
13. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß
die ersten Elektroden des ersten und des zweiten Tran sistors Kollektoren darstellen,
die zweiten Elektroden des ersten und des zweiten Tran sistors Emitter darstellen,
die ersten Elektroden der ersten und zweiten Diode An oden darstellen, und
die zweiten Elektroden der ersten und zweiten Diode Kathoden darstellen.
die ersten Elektroden des ersten und des zweiten Tran sistors Kollektoren darstellen,
die zweiten Elektroden des ersten und des zweiten Tran sistors Emitter darstellen,
die ersten Elektroden der ersten und zweiten Diode An oden darstellen, und
die zweiten Elektroden der ersten und zweiten Diode Kathoden darstellen.
14. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 11, dadurch gekenn
zeichnet, daß
die Steuerschaltung eine mit der Steuerelektrode des
ersten Transistor verbundene erste Logikschaltung und
eine mit der Steuerelektrode des zweiten Transistors
verbundene zweite Logikschaltung aufweist zum komple
mentären Ein- und Ausschalten des ersten und des zwei
ten Transistors.
15. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 8, gekennzeichnet
durch
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso lierten Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Anode, und einer mit dem ersten Leistungsanschluß verbundenen Kathode, wobei
der erste Leistungsanschluß eine hohe Leistungsquellen spannung liefert.
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso lierten Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Anode, und einer mit dem ersten Leistungsanschluß verbundenen Kathode, wobei
der erste Leistungsanschluß eine hohe Leistungsquellen spannung liefert.
16. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 8, gekennzeichnet
durch
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Kathode, und einer mit dem zweiten Leistungsanschluß verbundenen Anode, wobei der zweite Leistungsanschluß eine geringe Leistungs quellenspannung liefert.
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso lierte Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Kathode, und einer mit dem zweiten Leistungsanschluß verbundenen Anode, wobei der zweite Leistungsanschluß eine geringe Leistungs quellenspannung liefert.
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|---|---|---|---|
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4110633A1 true DE4110633A1 (de) | 1991-10-17 |
| DE4110633C2 DE4110633C2 (de) | 1994-02-03 |
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|---|---|---|---|
| DE4110633A Expired - Fee Related DE4110633C2 (de) | 1990-04-02 | 1991-04-02 | Gate-Ansteuerschaltung für eine Halbleiter-Schaltvorrichtung |
Country Status (3)
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|---|---|
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Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0666703A1 (de) * | 1994-02-08 | 1995-08-09 | HUANG, Wen-Liang | Leistungstransistor-Treiberschaltung für eine Vorrichtung zum induktiven Erwärmen |
| WO1996035260A1 (de) * | 1995-05-03 | 1996-11-07 | Teldix Gmbh | Ansteuerschaltung für feldeffekttransistoren |
| DE19524529A1 (de) * | 1995-07-05 | 1997-01-09 | Siemens Ag | Leistungsarme Treiberstufe |
| DE10306809A1 (de) * | 2003-02-18 | 2004-09-02 | Siemens Ag | Betrieb einer Halbbrücke, insbesondere einer Feldeffekttransistor-Halbbrücke |
| DE102009006618A1 (de) | 2009-01-29 | 2010-08-05 | Daimler Ag | Schaltungsanordnung zum Betreiben eines elektrischen Verbrauchers und Verfahren zum Schalten eines Halbleiterschalters, insbesondere eines MOSFETs |
| EP2618486A3 (de) * | 2012-01-17 | 2013-12-04 | Franc Zajc | Verfahren und Vorrichtung zum Ansteuern eines spannungsgesteuerten Leistungsschalters |
Families Citing this family (31)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5187410A (en) * | 1991-04-18 | 1993-02-16 | Konica Corporation | Electronic flash device |
| US5430405A (en) * | 1992-08-12 | 1995-07-04 | Lambda Electronics Inc. | Control circuit for converters operating in the discontinuous mode |
| JPH07245187A (ja) * | 1994-03-07 | 1995-09-19 | Olympus Optical Co Ltd | ストロボ装置 |
| US6208535B1 (en) * | 1994-10-31 | 2001-03-27 | Texas Instruments Incorporated | Resonant gate driver |
| US5552746A (en) * | 1995-04-07 | 1996-09-03 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Gate drive circuit |
| US6870405B2 (en) | 1999-02-24 | 2005-03-22 | Potchefstroom University For Christian Higher Education | Method for driving an insulated gate semiconductor device using a short duration pulse |
| WO2001063763A2 (en) * | 2000-02-23 | 2001-08-30 | Potchefstroom University For Christian Higher Education | Drive circuit and method for mosfet |
| US6441673B1 (en) * | 2000-11-06 | 2002-08-27 | General Electric Company | High-frequency resonant gate driver circuit for MOS-gated power switches |
| DE10065194A1 (de) * | 2000-12-20 | 2002-07-18 | Stribel Gmbh | Ansteuerschaltung |
| JP2004140977A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-13 | Canon Inc | ゲート駆動回路 |
| JP2004147409A (ja) * | 2002-10-23 | 2004-05-20 | Canon Inc | 電源装置 |
| EP1586120B1 (de) * | 2003-01-21 | 2016-04-27 | Ambixtra (Pty) Ltd. | Schnell-schaltleistungs-isoliertes-gate-halbleiterbauelement |
| JP4321330B2 (ja) * | 2003-07-02 | 2009-08-26 | 株式会社デンソー | ゲート駆動回路 |
| EP1665534A1 (de) * | 2003-09-08 | 2006-06-07 | Philips Intellectual Property & Standards GmbH | Hochfrequenzregelung eines halbleiter-schalters |
| DE102004010169B4 (de) | 2004-03-02 | 2010-09-02 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Reduzierung von Übersprechen sowie Verwendung derartiger Schaltungsanordnungen |
| US7612602B2 (en) * | 2005-01-31 | 2009-11-03 | Queen's University At Kingston | Resonant gate drive circuits |
| US7598792B2 (en) * | 2005-01-31 | 2009-10-06 | Queen's University At Kingston | Resonant gate drive circuits |
| JP4698298B2 (ja) * | 2005-06-24 | 2011-06-08 | スタンレー電気株式会社 | ストロボ装置 |
| US7449668B2 (en) * | 2005-11-14 | 2008-11-11 | General Electric Company | Optically powered drive circuit and method for controlling a semiconductor switch |
| JP2008042633A (ja) * | 2006-08-08 | 2008-02-21 | Toyota Motor Corp | 電圧制御型スイッチング素子の共振ゲート駆動回路 |
| JP2008306618A (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Nissan Motor Co Ltd | 電圧駆動型素子を駆動するための駆動回路 |
| JP5747445B2 (ja) * | 2009-05-13 | 2015-07-15 | 富士電機株式会社 | ゲート駆動装置 |
| JP5197658B2 (ja) | 2010-03-10 | 2013-05-15 | 株式会社東芝 | 駆動回路 |
| GB2508129B (en) * | 2012-09-19 | 2020-02-26 | Nidec Control Techniques Ltd | Semiconductor device driving unit |
| CN103199833B (zh) * | 2013-03-26 | 2016-03-30 | 四川长虹电器股份有限公司 | Pdp输出驱动电路中igbt开关速度的控制电路及方法 |
| WO2016154443A1 (en) * | 2015-03-25 | 2016-09-29 | Sunpower Corporation | Converter topologies for common mode voltage reduction |
| US9954462B2 (en) | 2016-06-30 | 2018-04-24 | Sunpower Corporation | Converter topologies and control |
| JP6623958B2 (ja) * | 2016-07-12 | 2019-12-25 | 株式会社デンソー | 駆動対象スイッチの駆動回路 |
| JP7068993B2 (ja) * | 2018-11-21 | 2022-05-17 | 三菱電機株式会社 | シミュレーション回路、および、シミュレーション方法 |
| US11206016B2 (en) * | 2019-09-27 | 2021-12-21 | Analog Devices International Unlimited Company | Gate driver with pulsed gate slew control |
| JP7757668B2 (ja) * | 2021-09-13 | 2025-10-22 | オムロン株式会社 | スイッチング回路および電力変換器 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4847538A (en) * | 1984-08-18 | 1989-07-11 | West Electric Company, Ltd. | Electronic flash equipment |
| US4873460A (en) * | 1988-11-16 | 1989-10-10 | California Institute Of Technology | Monolithic transistor gate energy recovery system |
| EP0372977A2 (de) * | 1988-12-09 | 1990-06-13 | Nikon Corporation | Elektronisches Blitzlichtgerät |
| DE4103100A1 (de) * | 1990-02-05 | 1991-08-08 | Mitsubishi Electric Corp | Elektronische blitzeinrichtung |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4032851A (en) * | 1976-05-07 | 1977-06-28 | Rca Corporation | Complementary symmetry fet mixer circuits |
| EP0053709B1 (de) * | 1980-12-04 | 1985-03-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltungsanordnung zum Ansteuern mindestens eines Leistungs-FET |
| US4491744A (en) * | 1982-08-02 | 1985-01-01 | Burroughs Corporation | Current source direct base drive for transistor power switches |
| DE3413208A1 (de) * | 1984-04-07 | 1985-10-17 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Schaltungsanordnung zum schalten eines stromes in einem transistor |
| US4687971A (en) * | 1984-11-08 | 1987-08-18 | Fuji Xerox Company, Limited | Power supply for discharge lamp |
| JPS6417033A (en) * | 1987-07-10 | 1989-01-20 | Minolta Camera Kk | Automatic dimming system flash device |
| US4970439A (en) * | 1989-04-28 | 1990-11-13 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Power supply circuit for a gaseous discharge tube device |
| US4967109A (en) * | 1989-12-08 | 1990-10-30 | General Electric Company | High efficiency gate driver circuit for a high frequency converter |
-
1990
- 1990-04-02 JP JP2088617A patent/JPH03286619A/ja active Pending
-
1991
- 1991-03-19 US US07/672,072 patent/US5140201A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-04-02 DE DE4110633A patent/DE4110633C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4847538A (en) * | 1984-08-18 | 1989-07-11 | West Electric Company, Ltd. | Electronic flash equipment |
| US4873460A (en) * | 1988-11-16 | 1989-10-10 | California Institute Of Technology | Monolithic transistor gate energy recovery system |
| EP0372977A2 (de) * | 1988-12-09 | 1990-06-13 | Nikon Corporation | Elektronisches Blitzlichtgerät |
| DE4103100A1 (de) * | 1990-02-05 | 1991-08-08 | Mitsubishi Electric Corp | Elektronische blitzeinrichtung |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| Power MOSFET Transistor Data. In: Motorola Datenbuch DL 135 Rev 3, 02/89, S.2-6-13 * |
| RYDER, J.D.: Networks Lines and Fields, Prentice Hall Inc., 1965, S.58/59 * |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0666703A1 (de) * | 1994-02-08 | 1995-08-09 | HUANG, Wen-Liang | Leistungstransistor-Treiberschaltung für eine Vorrichtung zum induktiven Erwärmen |
| WO1996035260A1 (de) * | 1995-05-03 | 1996-11-07 | Teldix Gmbh | Ansteuerschaltung für feldeffekttransistoren |
| DE19516138C1 (de) * | 1995-05-03 | 1996-12-19 | Teldix Gmbh | Ansteuerschaltung für Feldeffekttransistoren |
| DE19524529A1 (de) * | 1995-07-05 | 1997-01-09 | Siemens Ag | Leistungsarme Treiberstufe |
| DE10306809A1 (de) * | 2003-02-18 | 2004-09-02 | Siemens Ag | Betrieb einer Halbbrücke, insbesondere einer Feldeffekttransistor-Halbbrücke |
| US7332942B2 (en) | 2003-02-18 | 2008-02-19 | Siemens Aktiengesellschaft | Operation of a half-bridge, in particular a field-effect transistor half-bridge |
| DE102009006618A1 (de) | 2009-01-29 | 2010-08-05 | Daimler Ag | Schaltungsanordnung zum Betreiben eines elektrischen Verbrauchers und Verfahren zum Schalten eines Halbleiterschalters, insbesondere eines MOSFETs |
| EP2618486A3 (de) * | 2012-01-17 | 2013-12-04 | Franc Zajc | Verfahren und Vorrichtung zum Ansteuern eines spannungsgesteuerten Leistungsschalters |
| WO2013107832A3 (en) * | 2012-01-17 | 2013-12-19 | Franc Zajc | A method and apparatus for driving half bridge connected semiconductor power switches with a stable and extremely short interlock delay combined with a switching transition speed increase and a driving power consumption reduction |
| US8829949B2 (en) | 2012-01-17 | 2014-09-09 | Franc Zajc | Method and apparatus for driving a voltage controlled power switch device |
| US9496857B2 (en) | 2012-01-17 | 2016-11-15 | Franc Zajc | Method and apparatus for driving half bridge connected semiconductor power switches with a stable and extremely short interlock delay combined with a switching transition speed increase and a driving power consumption reduction |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4110633C2 (de) | 1994-02-03 |
| US5140201A (en) | 1992-08-18 |
| JPH03286619A (ja) | 1991-12-17 |
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