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DE4110633A1 - Gate-treiberschaltung fuer eine isolierte gate-halbleitervorrichtung und blitzlichtsteuerung, welche die schaltung verwendet - Google Patents

Gate-treiberschaltung fuer eine isolierte gate-halbleitervorrichtung und blitzlichtsteuerung, welche die schaltung verwendet

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Publication number
DE4110633A1
DE4110633A1 DE4110633A DE4110633A DE4110633A1 DE 4110633 A1 DE4110633 A1 DE 4110633A1 DE 4110633 A DE4110633 A DE 4110633A DE 4110633 A DE4110633 A DE 4110633A DE 4110633 A1 DE4110633 A1 DE 4110633A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
gate
transistor
semiconductor device
electrode
flash
Prior art date
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Application number
DE4110633A
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English (en)
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DE4110633C2 (de
Inventor
Akio Uenishi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of DE4110633A1 publication Critical patent/DE4110633A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4110633C2 publication Critical patent/DE4110633C2/de
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/04Modifications for accelerating switching
    • H03K17/041Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/0412Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
    • H03K17/04123Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
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Landscapes

  • Discharge-Lamp Control Circuits And Pulse- Feed Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Stroboscope Apparatuses (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Verbesserung einer Gate- Treiberschaltung zum Ein- und Aus-Treiben einer isolierte Gate-Halbleitervorrichtung (Halbleitervorrichtung mit isolier­ tem Gate) wie beispielsweise einen Leistungs-MOSFET, einen Bipolartransistor mit isoliertem Gate und einen MOSGTO, und bezieht sich auf eine Blitzlichtsteuerung für die Fotografie usw., welche die verbesserte Gate-Treiberschaltung verwendet.
Fig. 9 zeigt einen Typ einer bislang verwendeten Gate-Treiber­ schaltung. Im folgenden wird der Aufbau der Gate-Treiberschal­ tung auf der Grundlage des Beispieles gemäß Fig. 9 beschrie­ ben. In Fig. 9 bezeichnet die Bezugsziffer 100 eine Gate- Treiberschaltung zum Empfangen eines Steuereingangs V1, welche zwei Schalttransistoren 101 und 102 aufweist, die in Serie zwischen einer Gate-Treiberleistungsquelle VGG und Masse ver­ bunden sind, einen zwischen einem Ausgangsanschluß und einem Mittelpunkt der Verbindung zwischen den beiden Schalttran­ sistoren 101 und 102 verbundenen Gatewiderstand 110, sowie Logikschaltungen 103 und 104 zum Steuern der beiden Schalttransistoren 101 und 102 durch den Steuereingang V1 auf­ weist. Ein Ausgang der Gate-Treiberschaltung 100 ist mit einem Abschnitt zwischen dem Gate und der Source eines Leistungs- MOSFET 3 verbunden, welche einen Typ einer isolierte Gate- Halbleitervorrichtung darstellt. Der Leistungs-MOSFET 3 stellt zusammen mit einer Last 4 und einer Leistungsquelle 5 einen Hauptschaltkreis dar.
Fig. 10 zeigt die Kurvenformen während des Betriebes der in Fig. 9 dargestellten Treiberschaltung 100. Unter Bezugnahme auf dieses Kurvendiagramm wird im folgenden die Betriebsweise dieser Gate-Treiberschaltung erläutert. Als Reaktion auf den Steuereingang V1 schalten die Logikschaltungen 103 und 104 je­ weils komplementär die Schalttransistoren 101 und 102 ein/aus. Wenn der Steuereingang V1 niedrig ist, ist der Schalttran­ sistor 101 ein und der Schalttransistor 102 aus. Dementspre­ chend ist eine Mittelpunktspannung v2 der beiden Schalttran­ sistoren 101 und 102 niedrig (V2L), und es ergibt sich eine Gatespannung vG des Leistungs-MOSFET 3 bei einem niedrigen Pe­ gel (VGL), welcher im wesentlichen gleich ist mit dem Masse­ pegel. Wenn der Steuereingang V1 hoch ist, ist der Schalttran­ sistor 101 an, und der Schalttransistor 102 ist aus. Demen­ sprechend befindet sich die Mittelpunktspannung v2 der beiden Schalttransistoren 101 und 102 bei einem hohen Pegel (V2H), welcher im wesentlichen gleich ist mit VGG. Aufgrund dieses hohen Pegels wird ein Gatestrom iG über den Gatewiderstand 110 an das Gate des Leistungs-MOSFET 3 angelegt.
Was den Leistungs-MOSFET 3 betrifft, so sind dessen Kapazi­ tätseigenschaften des Gates wohlbekannt. Wenn eine Gate- Source-Kapazität CGS und eine Gate-Drain-Kapazität CGD aufgeladen werden, wird die Gatespannung vG angehoben. Die Ka­ pazität CGD des Leistungs-MOSFET 3 variiert im weiten Rahmen ensprechend den Gate- und Drainspannungen, und bringt be­ trächtliche Probleme bei den Auflade- und Entladevorgängen mit sich, teilweise verursacht durch den sogenannten Miller- Effekt. Zur einfachen Analyse wird die Kapazität CGD unter der Annahme behandelt, daß sie derart beträchtlich groß ist, daß sie gleich ist mit der Kapazität CGS und eine Gateeingangska­ pazität aufweist, welche einen konstanten Wert Ciss parallel zur Kapazität CGS darstellt. Aufgrund dieser Vereinfachung kann der Anstieg der Gatespannung des Leistungs-MOSFET 3 durch eine exponentielle Kurvenform angenähert werden, welche eine Zeitkonstante (τ = R×Ciss) aufweist, welches das Produkt eines Widerstandswertes R des Gatewiderstandes 110 und von Ciss des Leistungs-MOSFET 3 ist.
Unter der Voraussetzung, daß ein Stromfluß des Drainstromes iD beginnt, wenn die Gatespannung vG den Wert VGS(OFF) über­ steigt, und der Drainstrom (beziehungsweise ein Ladestrom) iD mit einem Stromwert ID fließen kann, wenn die Gatespannung vG gleich ist mit VGS(ON), kann bei dem Leistungs-MOSFET 3 der Drainstrom iD von 0 bis ID variieren, während die Gatespannung vG von VGS(OFF) bis VGS(ON) angehoben wird. Falls diese Zeit­ periode als Anstiegszeit tr definiert wird, wird die folgende Gleichung erhalten:
Falls beispielsweise R = 10 Ω, Ciss = 10 nF, VGG = 10 V, VGS(OFF) = 2 V, und VGS(ON) = 8 V beträgt, ergibt sich:
Diese Aufladeeigenschaft ist durch das Beispiel der Nichtreso­ nanz in den Fig. 11(a) und (b) dargestellt. Im Verlauf der Zeit steigt die Gatespannung vG bis zu dem Wert VGH an, wel­ cher im wesentlichen gleich ist der Gate-Treiber- Leitungsquellenspannung VGG. Wenn der Steuereingang V1 auf den niedrigen Pegel geschalten wird, wird daran anschließend die Gateeingangskapazität Ciss des MOSFET 3, welche aufgeladen wurde, über den Gatewiderstand 110 und den Schalttransistor 102 entladen, und die Gatespannung vG verringert sich. Die Ab­ falleigenschaft hierbei wird auch von der Exponentialfunktion mit der Zeitkonstanten τ = R ×Ciss bestimmt, und weist eine Abfallzeit tf auf, welche durch dieselbe Gleichung wie Glei­ chung (1) ausgedrückt wird.
Fig. 12 zeigt in einem Schaltungsdiagramm eine Blitzlicht­ steuerung, welche die in Fig. 9 gezeigte Gate-Treiberschaltung verwendet. In Fig. 12 bezeichnet das Bezugszeichen 1 eine Hochspannungs-Leistungsquelle (obwohl in der Praxis die Span­ nung der Batterie oftmals durch einen DC-DC-Wandler angehoben wird), 2 bezeichnet einen Hauptkondensator, welcher durch die Hochspannungs-Leisungsquelle 1 aufgeladen wird, 6 bezeichnet einen Bipolartransistor mit isoliertem Gate (IGBT), welcher einen Typ einer isolierte Gate-Halbleitervorrichtung dar­ stellt, 7 bezeichnet eine Blitzlichtentladungsröhre, 100 be­ zeichnet die Gate-Treiberschaltung mit demselben Aufbau wie in Fig. 9 zum Ein- und Aus-Treiben des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6, und 200 bezeichnet eine Triggerschaltung. Der Bipolartransistor mit isoliertem Gate 6 und die Blitzlich­ tentladungsröhre 7 sind in Serie miteinander verbunden, und dieser serienverbundene Körper ist parallel mit dem Haupkon­ densator 2 verbunden. Die Triggerschaltung 200 weist einen Triggerumformer 8, einen Triggerkondensator 9 und einen Lade­ widerstand 10 auf. An die Triggerschaltung 200 wird Triggerim­ pulsenergie entsprechend der Variation einer Kollektorspannung des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 angelegt.
Unter Bezugnahme auf das Kurvendiagramm gemäß Fig. 13 wird im folgenden die Betriebsweise der Schaltung erläutert. Der Steuereingang V1 ist niedrig. Eine Spannung von etwa 30V wird an die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG angelegt, und eine Spannung von etwa 300V wird an die Hochspannungs-Leistungs­ quelle 1 angelegt. Die Gatespannung vG des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 wird bei etwa Massepegel gehalten, da der Schalttransistor 101 aus, und der Schalttransistor 102 ein ist. Sowohl die Kollektorspannung des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6, als auch der Triggerkondensators 9 wird auf etwa 300 V durch den Ladewiderstand 100 in der Triggerschal­ tung 200 aufgeladen.
Wenn in einem derartigen Zustand der Steuereingang V1 auf einen hohen Pegel geschaltet wird, wird der Schalttransistor 101 eingeschaltet, und der Schalttransistor 102 wird ausge­ schaltet. Dementsprechend wird die Gateeingangskapazität Ciss durch die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG über den Schalttransistor 101 und den Gatewiderstand 110 aufgeladen, wodurch die Gatespannung vG des Bipolartransistors mit iso­ liertem Gate 6 angehoben wird. Wenn die Gatespannung vG bis zu einem Wert angehoben wird, durch den der Bipolartransistor mit isoliertem Gate 6 genügend eingeschaltet werden kann, fällt die Kollektorspannung des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 schnell ab, und der aufgeladene Triggerkondensator 6 wird über eine Primärwindung des Triggerumformers 8 an den Kollektor des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 entla­ den, wodurch ein Hochspannungsimpuls von einigen KV bei einer Sekundärwindung des Triggerumformers 8 erzeugt werden. Auf diese Weise wird das Gate der Blitzlichtentladungsröhre 7 ge­ triggert, und die Blitzlichtentladungsröhre 7 leitet. Der auf­ geladene Hauptkondensator 2 wird über die Blitzlichtentla­ dungsröhre 7 und den Bipolartransistor mit isoliertem Gate 6 entladen, und die Blitzlichtentladung beginnt.
Wenn daran anschließend die für die Fotografie usw. benötigte Blitzlichtmenge erhalten worden ist und dann der Steuereingang V1 erneut auf den niedrigen Pegel geschaltet wird, wird der Schalttransistor 101 ausgeschaltet, und der Schalttransistor 102 wird eingeschaltet. Dementsprechend wird die Gateeingangs­ kapazität Ciss des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6, welche aufgeladen worden ist, über den Gatewiderstand 110 und den Schalttransistor 102 entladen. Wenn die Gatespannung vG des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 verringert wird und niedriger ist als die Spannung, aufgrund derer der Bipo­ lartransistor mit isoliertem Gate 6 den EIN-Zustand halten kann, beginnt ein Abfall eines Kollektorstromes ic. Daran an­ schließend verringert sich der Kollektorstrom ic des Bipo­ lartransistors mit isoliertem Gate 6 mit dem Abfall der Gate­ spannung vG, und schließlich wird der Bipolartransistor mit isoliertem Gate 6 ausgeschaltet. Dadurch ist die Blitzlicht­ emission der Blitzlichtentladungsröhre 4 beendet. Die ge­ wünschte Lichtmenge, welche für die Fotografie usw. benötigt wird, kann somit durch Steuern der leitenden Periode erhalten werden. Für die Blitzlichtsteuerung durch den Bipolartransi­ stor mit isoliertem Gate ist es notwendig, einen großen Strom mit einem Spitzenwert von 100 bis 200 A in einer praktikablen Blitzlichtentladungsröhre zu verarbeiten. Für die Belange einer ökonomischen Vorrichtung muß die Gatespannung beträcht­ lich höher sein als bei anderen Anwendungen.
Da bei der in Fig. 9 gezeigten Gate-Treiberschaltung 100 die Gateeingangskapazität Ciss des Leistungs-MOSFET 3 durch den Gatewiderstand 110 aufgeladen und entladen wird, variiert die Ausgangsspannung der Schaltung lediglich exponentiell zwischen Masse und VGG. Für einen Hochgeschwindigkeitsbetrieb des Lei­ stungs-MOSFET 3 muß der Widerstandswert des Gatewiderstandes 110 klein sein. Dementsprechend wächst der Spitzenwert (IGP1 ≒ IGP2 = VGG/R) des Stromes, der über die Schalttransistoren 101 und 102 fließt, stark an. Als Ergebnis müssen Schalttransisto­ ren 101 und 102 mit großen Stromkapazitäten verwendet werden, und die Schaltung ist schwierig zu integrieren. Zusätzlich steigen die Schaltverluste der Schalttransistoren 101 und 102 an, und ein Anstieg der Treiberverluste ist leicht möglich.
Wenn ein Strom zum Aufladen und Entladen der Gateeingangskapa­ zität Ciss des Leistungs-MOSFET 3 fließt, erzeugt der Gatewi­ derstand 110 einen Leistungsverlust Pd, der sich durch Glei­ chung (3) ergibt.
Pd = f×Ciss×VGG 2 (3)
Wenn beispielsweise f = 1 MHz, Ciss = 10 nF und VGG = 10 V be­ trägt, wird Pd = 1 W erhalten, was einen Wert darstellt, der als Treiberverluste nicht mehr vernachlässigt werden kann.
Auf der anderen Seite wird bei der in Fig. 12 gezeigten Blitz­ lichtsteuerung eine hohe Spannung (etwa 30 V bei den bisheri­ gen Vorrichtungen) für die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG benötigt, welche ein ausreichendes Treiben des Bipolartran­ sistor mit isoliertem Gate 6 in den EIN-Zustand ermöglicht. Im allgemeinen weist eine Blitzlichtvorrichtung für eine Kamera eine Leistungsquelle von 3 bis 6 Volt in Form einer Batterie, und eine Hochspannungsleistungsquelle von etwa 300 V, welche erhalten wird durch Anheben der Spannung der 3 bis 6 V Lei­ stungsquelle mittels des DC-DC-Wandlers, als Leistungsquellen auf. Jedoch weist die Vorrichtung keine Leistungsquelle von etwa 30 V auf, welche geeignet ist zum Treiben des Gate des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6. Eine derartige Lei­ stungsquelle muß als separate Schaltung vorgesehen werden. Viele derzeitige AF-Kameras enthalten 12 V Leistungsquellen für den Antrieb der CCD. In derartigen Fällen ist es möglich, einen Strom von etwa 130 A durch direktes Treiben des Bipolar­ transistors mit isoliertem Gate 6 aufgrund der 12 V Leistungs­ quelle zu steuern, falls der Bipolartransistor mit isoliertem Gate mit einer geringen Gate-Treiberspannung verwendet wird.
Bisher wurde die getrennte Leistungsquelle VGG von etwa 30 V durch Herstellen eines Abgriffes von einer Ausgangswindung des DC-DC-Wandlers zum Erzeugen einer Hochspannungs-Leistungs­ quelle zum Gleichrichten und Glätten der Spannung des Abgrif­ fes, oder durch Teilen der 300 V Spannung der Hochspannungs- Leistungsquelle unter Verwendung eines Schaltelementes wie beispielsweise eines Transistors mit hoher Durchbruchsspannung zum Erzeugen einer zeitweisen Leistungsquelle vorgesehen.
Die in Fig. 14 gezeigte Leistungsschaltung entspricht der letztgenannten Leistungsschaltung, welche mit einer 3 bis 6 V Leistungsquelle 301 bestehend aus einer Batterie, einem DC-DC- Wandler 300 aufweisend einen Transistor 302 und einen Stufen­ wandler 303, einer Glättungsschaltung für eine Hochspannungs- Leistungsquelle VCM mit einer Diode 304 und dem Hauptkondensa­ tor 2, und einer Glättungsschaltung für die Gate-Treiber-Lei­ stungsquelle VGG mit einer Diode 305 und einem Kondensator 306 ausgestattet ist. Bei einer Blitzlichtvorrichtung, bei der VGG gleichzeitig erzeugt wird, während der DC-DC-Wandler 300 in Betrieb ist, und bei der der Betrieb des DC-DC-Wandlers 300 beendet wird, wenn die Hochspannungs-Leistungsquelle VCM die spezifizierte Ausgangsspannung erreicht (was ein gängiges Ver­ fahren zur Verringerung des Batterieverbrauchs darstellt), endet das Aufladen der Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG ent­ sprechend dem Oszillationsstop des DC-DC-Wandlers 300, wobei der Verbrauch des Stromes der Gate-Treiberschaltung 100 und der Leckstrom des Kondensators 306 die Ausgangsspannung des Kondensators 306 verringert. Bei solchen Anwendungen, bei denen insbesondere ein großer Strom wie beispielsweise bei der Blitzlichtsteuerung verwendet wird, muß, da ein Kurzschluß der Gatespannung des Bipolartransistors mit isoliertem Gate fatal wäre und eine Zerstörung der Elemente verursachen würde, der Abfall in der Ausgangsspannung auf ein Minimum gesteuert wer­ den. Daher ist es notwendig, die Kapazität des Kondensators 306 ausreichend zu vergrößern, oder den verbrauchten Strom der Gate-Treiberschaltung 100 ausreichend zu verringern. Bei­ spielsweise beträgt die benötigte Kapazität des Kondensators 306 gleich 120 µF, wenn die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG bei 33 V bis 28 V für eine Minute gehalten wird, wenn der ver­ brauchte Strom der Gate-Treiberschaltung 100 gleich 10 µA be­ trägt. Ein Kondensator mit einer derartigen Kapazität und einer Durchbruchsspannung von ca. 50 V ist beträchtlich groß und kostenintensiv, so daß die wirtschaftlichen Nachteile der Blitzlichtsteuerung, für welche die Notwendigkeit geringer Kosten besteht, zu groß sind.
Die in Fig. 15 dargestellte Leistungsschaltung entspricht der erstgenannten. Bei dieser Leistungsschaltung werden Transisto­ ren 406 und 402 aufgrund eines Emissions-Startsignales von einer Kamera eingeschaltet, und dadurch wird ein Kondensator 400, der über einen Widerstand 401 durch die Hochspannungs­ Leistungsquelle VCM aufgeladen wurde, über den Hochspannungs- Transistor 402 und einen Widerstand 403 auf eine konstante Spannungsdiode 404 entladen. Ein Kondensator 405 wird mit die­ ser Spannung aufgeladen, welche für die Gate-Treiber-Lei­ stungsquelle VGG verwendet wird. Bei dieser Leistungsschaltung kann der Transistor 101 und die Logikschaltung 103 gemäß Fig. 12 weggelassen sein. Dieser Typ von Leistungsschaltung benö­ tigt einen Transistor mit hoher Durchbruchsspannung von mehr als 300 V und eine große Anzahl von Komponenten, so daß die wirtschaftlichen Nachteile der Blitzlichtsteuerung, für die geringe Kosten erheblich gewünscht sind, ebenfalls zu groß sind.
Falls ein Bipolartransistor mit isoliertem Gate mit der gerin­ gen Gate-Treiberspannung entwickelt wird und als der Bipolar­ transistor mit isoliertem Gate 6 gemäß Fig. 12 verwendet wird, fällt der untere Grenzwert VGG(OFF) der Gatespannung vG (be­ ziehungsweise eine Gate-Emitter-Schwellenspannung VGE(th)) zum Halten des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 in den AUS-Zustand herunter auf etwa ein Drittel im Vergleich zu dem Fall, bei dem der normale Bipolartransistor mit isoliertem Gate verwendet wird. Daher muß die Gatespannung vG geringer sein als die Schwellenspannung für den Ausschalt-Antrieb. Da jedoch die Gatespannung vG bei der in Fig. 12 gezeigten Span­ nung einen exponentiellen Abfall zeigt, wird das Aus-Treiben des Gates mit der Verringerung der Gatespannung vG verlang­ samt. Wenn das AUS-Treiben des Gates zu langsam ist, wird das Ausschalten des Bipolartransistors mit isoliertem Gate 6 eben­ falls verlangsamt, und die Menge an Blitzlicht wächst größer an als erwartet, wodurch die Möglichkeit der Überbelichtung bei der Fotografie besteht, insbesondere bei der Aufnahme naher Gegenstände.
Dementsprechend liegt der vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Gate-Treiberschaltung zur Verfügung zu stellen, welche das Schalten einer isolierte Gate-Halbleitervorrichtung bei hoher Geschwindigkeit mit geringeren Leistungsverlusten ermöglicht.
Der vorliegenden Erfindung liegt ferner die Aufgabe zugrunde, eine Blitzlichtsteuerung mit geringer Größe und niedrigen Kosten zur Verfügung zu stellen.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt erfindungsgemäß durch die im Anspruch 1 und 8 angegebenen Merkmale.
Eine Gate-Treiberschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung zum EIN- und AUS-Treiben einer isolierte Gate-Halbleitervor­ richtung weist auf: einen ersten und einen zweiten Leistungs­ anschluß, erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter, welche in Serie zwischen dem ersten und dem zweiten Leistungsanschluß verbunden sind, ein Induktanzelement, wel­ ches zwischen einem Verbindungspunkt der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der iso­ lierte Gate-Halbleitervorrichtung verbunden ist, und eine Steuerschaltung zum EIN- und AUS-Treiben der isolierte Gate- Halbleitervorrichtung durch EIN- und AUS-Steuern der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter, wobei das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche aus­ reicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zusanmenhang mit einer Gateeingangskapazität der isolierte Gate-Halbleitervor­ richtung.
Des weiteren ist gemäß der vorliegenden Erfindung eine Blitz­ lichtsteuerung vorgesehen, welche eine derartige Gate-Treiber­ schaltung verwendet. Gemäß der Erfindung weist eine Blitz­ lichtsteuerung auf: einen ersten und einen zweiten Hochspan­ nungsleistungsanschluß, eine isolierte Gate-Halbleitervorrich­ tung, welche durch eine Gate-Treiberschaltung EIN- und AUS- treibbar ist, eine Blitzlichtentladungsröhre, welche in Serie mit der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung zwischen dem er­ sten und dem zweiten Hochspannungs-Leistunganschluß verbunden ist, einen Kondensator zur Speicherung von Blitzlichtenergie, welcher parallel zu einem serienverbundenen Körper bestehend aus der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung und der Blitz­ lichtentladungsröhre verbunden ist, und eine Triggerschaltung zum Triggern der Blitzlichtentladungsröhre zum Starten der Blitzlichtentladung, wobei die Gatesteuerschaltung aufweist: einen ersten und einen zweiten Leistungsanschluß, erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter, welche in Serie zwischen dem ersten und dem zweiten Leistungsanschluß verbunden sind, ein Induktanzelement, welches zwischen einem Verbindungspunkt der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der isolierte Gate-Halblei­ tervorrichtung verbunden ist, und eine Steuerschaltung zum EIN- und AUS-Treiben der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung durch EIN- und AUS-Steuern der ersten und zweiten in Rück­ wärtsrichtung sperrenden Schalter, wobei das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche ausreicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zusammenhang mit einer Gate­ eingangskapazität der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung.
Bei der Gate-Treiberschaltung für die isolierte Gate-Halblei­ tervorrichtung entsprechend der vorliegenden Erfindung wird anstelle eines Widerstandes das Induktanzelement als ein Ele­ ment zum Begrenzen der Gateladung und des Entladungsstromes verwendet. Die LC-Resonanz wird durch die Induktivität des Induktanzelementes und die Gateeingangskapazität der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung induziert. Die ersten und zweiten Schalter zum Schalten des Gate-Treiberstromes sind mit in Rückwärtsrichtung sperrenden Eigenschaften vorgesehen. Danach kann während der Steuerung der Stromspitzenwerte der ersten und zweiten Schalter bei niedrigen Pegeln ein Hochgeschwindig­ keitsschalten der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung er­ reicht werden. Im Ergebnis kann eine Gate-Treiberschaltung er­ halten werden, welche ein Schalten bei hoher Geschwindigkeit und geringeren Leistungsverlusten ermöglicht.
Bei der Blitzlichtsteuerung entsprechend der vorliegenden Er­ findung wird die in eine Blitzlichthauptschaltung eingesetzte isolierte Gate-Halbleitervorrichtung aufgrund der Verwendung der Gate-Treiberschaltung mit den obig erwähnten aus­ gezeichneten Eigenschaften EIN- und AUS-getrieben. Daher kann eine Blitzlichtsteuerung mit einer kleinen Größe und geringen Kosten erhalten werden, bei der keine großdimensionierten Teile mit hohen Durchbruchsspannungen benötigt werden.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Weitere Einzelheiten, Aspekte und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung un­ ter Bezugnahme auf die Zeichnung.
Es zeigt:
Fig. 1 ein Schaltungsdiagramm eines bevorzugten Ausfüh­ rungsbeispieles einer Gate-Treiberschaltung ent­ sprechend der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs­ weise der in Fig. 1 gezeigten Gate-Treiberschal­ tung;
Fig. 3 ein Schaltungsdiagramm eines weiteren bevorzugten Ausführungsbeispieles der Gate-Treiberschaltung entsprechend der vorliegenden Erfindung;
Fig. 4 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs­ weise der in Fig. 3 gezeigten Gate-Treiberschal­ tung;
Fig. 5 ein Schaltungsdiagramm eines bevorzugten Ausfüh­ rungsbeispieles einer Blitzlichtsteuerung entspre­ chend der vorliegenden Erfindung;
Fig. 6 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs­ weise der in Fig. 5 gezeigten Steuerung;
Fig. 7 ein Schaltungsdiagramm eines weiteren bevorzugten Ausführungsbeispieles der Blitzlichtsteuerung ent­ sprechend der vorliegenden Erfindung;
Fig. 8 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs­ weise der in Fig. 7 gezeigten Steuerung;
Fig. 9 ein Schaltungsdiagramm einer Gate-Treiberschaltung;
Fig. 10 ein Kurvendiagranm zur Erläuterung der Betriebs­ weise der in Fig. 9 gezeigten Schaltung;
Fig. 11 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung von idealen Resonanz- und Nichtresonanz-Treiberkurvenformen eines Gatestromes und einer Gatespannung;
Fig. 12 ein Schaltungsdiagramm einer Blitzlichtsteuerung;
Fig. 13 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der Betriebs­ weise der in Fig. 12 gezeigten Steuerung;
Fig. 14 und 15 Schaltungsdiagramme von Gate-Treiber-Leistungs­ quellen in der Blitzlichtsteuerung;
Fig. 16 ein Kurvendiagramm zur Erläuterung der resonanten und nichtresonanten Treiberkurvenformen des Gatestromes und der Gatespannung beim Ein- und Aus­ schalten im Zusammenhang einer tatsächlichen äqui­ valenten Serienwiderstandes; und
Fig. 17 ein Schaltungsdiagramm eines weiteren bevorzugten Ausführungsbeispieles der Gate-Treiberschaltung entsprechend der vorliegenden Erfindung.
Fig. 1 zeigt ein Schaltungsdiagramm eines bevorzugten Ausfüh­ rungsbeispieles einer Gate-Treiberschaltung für eine isolierte Gate-Halbleitervorrichtung entsprechend der vorliegenden Er­ findung, und Fig. 2 zeigt ein Kurvendiagramm zur Erläuterung von Kurvenformen bei der Betriebsweise der in Fig. 1 darge­ stellten Schaltung. Bei der Gate-Treiberschaltung 100 gemäß Fig. 1 wird anstelle des Gatewiderstandes 110 ein Induktanz­ element 108 verwendet. Dioden 105 und 106 sind jeweils in Serie mit den Schalttransistoren 101 und 102 verbunden. Ein erster in Rückwärtsrichtung sperrender Schalter setzt sich aus dem Schalttransistor 101 und der Diode 105, und ein zweiter in Rückwärtsrichtung sperrender Schalter setzt sich aus dem Schalttransistor 102 und der Diode 106 zusammen. Der Rest ist ähnlich im Aufbau wie bei der in Fig. 9 dargestellten Gate- Treiberschaltung.
Unter Bezugnahme auf das in Fig. 2 dargestellte Kurvendiagramm wird im folgenden die Betriebsweise der in Fig. 1 dargestell­ ten Schaltung erläutert. Wenn sich ein Steuereingang V1 auf einen hohen Pegel bei dem anfänglichen Zustand, bei dem eine Gatespannung vG eines Leistungs-MOSFETs 3 gleich Null beträgt, ändert, wird der Schalttransistor 101 eingeschaltet und der Schalttransistor 102 ausgeschaltet. Dementsprechend wird eine Eingangskapazität Ciss des MOSFET 3 durch eine Gate-Treiber- Leistungsquelle VGG über den Schalttransistor 101, die Diode 105 und das Induktanzelement 108 aufgeladen. Dabei ergibt sich eine schwingende Kurvenform, falls eine Induktivität L der folgenden Beziehung genügt:
wobei der äquivalente Serienwiderstand RS die Summe eines in­ ternen Serienwiderstandes der Gate-Treiberschaltung 100 und eines äquivalenten Eingangswiderstandes des Leistungs-MOSFET 3 darstellt. Falls L ausreichend vergrößert wird, kann ein halb­ sinusförmig ausgebildeter Gatestrom iG erhalten werden. Wenn beispielsweise Ciss = 10 nF und RS = 5 Ω ist, ist L » 83 nH ausreichend. Aufgrund dieses Resonanzphänomens kann die Gate­ spannung vG des MOSFET 3 bis zu einem höheren Wert als die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG aufgeladen werden. Insbeson­ dere gilt, daß je größer der Wert auf der linken Seite in dem Ausdruck (4) (bzw. Q) ist, desto größer ist ein Ladungswert VGH1 der Gatespannung vG bei einem anfänglichen Zyklus, so daß sich dieser (VGG-VF)×2 annähert, wobei VF einen Vorwärts­ spannungsabfall der Diode 105 darstellt.
Wenn der Steuereingang V1 auf einen niedrigen Pegel bei diesem Zustand geschaltet wird, wird der Schalttransistor 101 ausge­ schaltet, und der Schalttransistor 102 wird eingeschaltet. Dementsprechend wird die aufgeladene Gateeingangskapazität Ciss des MOSFET 3 über das Induktanzelement 108, die Diode 106 und den Schalttransistor 102 entladen. Dabei kann der Gate­ strom iG wie oben erwähnt die Gestalt einer Sinuswelle haben. Da die Variation einer Spannung v2 durch (V2H1-VF) bei diesem Zyklus ausgedrückt wird, ist eine Spannungsamplitude größer als (VGG-VF) der anfänglichen Resonanz. Als Ergebnis wird die Gatespannung vG des Leistungs-MOSFET 3 auf eine negative Span­ nung (VGL1) aufgeladen. Auf ähnliche Weise ist der absolute Wert eines Gatestromspitzenwertes IGP2 bei diesem Zyklus größer als derjenige eines Gatestromspitzenwertes IGP1 bei dem anfänglichen Zyklus.
Wenn des weiteren der Steuereingang V1 auf den hohen Pegel ge­ schaltet wird, werden die Schalttransistoren 101 und 102 je­ weils invertiert werden, und die Gatespannung vG des MOSFET 3 wird erneut auf die positive Polarität aufgeladen aufgrund der durch die Leistungsquelle von (VGG-VF-V2L) erzeugten Resonanz zum Erreichen von VGH2, welcher höher ist als die Ladungsspan­ nung VGH1 bei dem anfänglichen Zyklus.
Durch die Wiederholung derartiger Schaltvorgänge wächst die Gatespannung vG des Leistungs-MOSFET 3 aufeinanderfolgend zu größeren Werten hin für jeden Zyklus. Falls jedoch ein ge­ eigneter Parallelwiderstand zwischen dem Gate und der Source des Leistungs-MOSFET 3 vorgesehen ist, kann die Gatespannung vG auf eine geeignete Spannung gesteuert werden.
Wie es in Fig. 3 gezeigt ist, kann zusätzlich eine Diode 107, deren Anode und Kathode jeweils mit dem Gate des Leistungs- MOSFET 3 und der Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG verbunden sind, vorgesehen sein zur Regenerierung der Gatespannung vG, welche die Ausgangsspannung der Gate-Treiberschaltung 100 an die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG darstellt. In Fig. 4 ist ein Beispiel von Kurvenformen für die bei diesem Fall auftre­ tenden Vorgänge darstellt. Somit kann eine übermäßige Aufla­ dung der Gatespannung vG verhindert werden, und ein mittlerer Versorgungsstrom von der Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG kann im wesentlichen um die Hälfte, verglichen mit dem Fall gemäß Fig. 1, verringert werden.
Die Gate-Treiberschaltung entsprechend der vorliegenden Erfin­ dung wird im wesentlichen auf dieselbe Weise wie oben be­ schrieben betrieben. Im folgenden wird die Schaltgeschwin­ digkeit der zu treibenden isolierte Gate-Halbleitervorrichtung untersucht. Ähnlich wie bei dem Fall der in Fig. 9 gezeigten Gate-Treiberschaltung ist die Anstiegszeit tr und die Abfall­ zeit tf bezüglich dem Schalten des Leistungs-MOSFET 3 als Zeitperiode definiert, die jeweils benötigt werden für den An­ stieg und den Abfall der Gatespannung vG zwischen VGS(OFF) und VGS(ON). Falls eine Standardisierung durchgeführt wird, so daß der Spitzenwert des Gatestromes iG im Falle der Aufladung der Gateeingangskapazität Ciss mit der exponentiellen (nicht reso­ nanten) Kurvenform gleich ist mit derjenigen im Falle des Auf­ ladens der Gateeingangskapazität Ciss mit der halbsinusför­ migen (resonanten) Kurvenform entsprechend der vorliegenden Erfindung, sind die Kurvenformen des Gatestromes iG in Fig. 11(a) gezeigt. Dies bedeutet, daß im Falle der Gleichheit der Spitzenwerte die Impulsweite des halbsinusförmigen Stromes π/2 mal so groß sein muß wie die Zeitkonstante τ des expo­ nentiellen Stromes. Die Anstiegskurven der Gatespannung vG, welche mit deraratigen Strömen aufgeladen wird, sind in Fig. 11(b) gezeigt, falls eine Standardisierung dahingehend durch­ geführt wird, daß der Spitzenwert im Falle des nichtresonanten Antriebs (wie beim eingangs beschriebenen Fall) gleich ist mit demjenigen im Falle des resonanten Antriebes (gemäß der vor­ liegenden Erfindung). Falls VG(OFF) gleich 20% der Aufla­ dungsendspannung, und VG(ON) gleich 80% hiervon beträgt, be­ trägt die Anstiegszeit tr des Leistungs-MOSFET 3 wie folgt:
beim resonanten Antreiben tr1 = 0,644 τ
beim nichtresonanten Antreiben tr2 = 1,386 τ.
Dementsprechend ist tr1/tr2 = 0,465 τ, und es wurde gefunden, daß das Schalten bei der halbsinusförmigen Aufladung entspre­ chend der vorliegenden Erfindung im wesentlichen doppelt so schnell durchgeführt werden kann als bei der exponentiellen Aufladung der eingangs beschriebenen Weise.
Die Kurvenformen gemäß Fig. 11 sind unter Berücksichtigung der idealen sinusförmigen Aufladung berechnet. Bei einer prakti­ scheren Betrachtung zeigt Fig. 16 ein Beispiel von Kurvenfor­ men, welche für den Fall berechnet wurden, bei dem ein äquiva­ lenter Serienwiderstand RS vorhanden ist, der die Summe des internen Serienwiderstandes der Gate-Treiberschaltung 100 und des äquivalenten Eingangswiderstandes des Leistungs-MOSFET 3 darstellt. Fig. 16 zeigt die Kurvenformen bei den Schaltvor­ gängen beim Ein- und Ausschalten, da der zweite Zyklus den Fall darstellt, bei dem die Simulation aufgrund der Verwendung einer Resonanztreiberschaltung mit der regenerativen Diode 107 gemäß Fig. 3 mit den Konstanten VGG = 10 V, L = 0,5 µH, Ciss = 10 nF und RS = 5 Ω durchgeführt wurde. Die Kurvenformen des resonanten Antriebs sind durch schwarze Punkte gezeichnet. Entsprechend diesen Ergebnissen beträgt der Spitzenwert des Gatestromes iG aufgrund des Resonanzantriebes gleich 1,03 A. Im Hinblick auf die bisherige Lösung sind zum Vergleich die Ergebnisse derselben Berechnung mit den Konstanten VGG = 10 V, Ciss = 10 nF und RS = 10 Ω bei der nichtresonanten Treiber­ schaltung gemäß Fig. 9 in Fig. 16 ebenfalls dargestellt. Die Kurvenformen des nichtresonanten Antriebes sind mit hellen Punkten dargestellt. Die Transfereigenschaften des MOSFET VGS(OFF) = 2 V und VGS(ON) = 8 V, sind ebenfalls auf die Er­ gebnisse angewendet, wobei die Anstiegszeit tr und die Ab­ fallzeit tf wie folgt sind:
Beim resonanten Antreiben tr = 65 ns
tf = 70 ns
Beim nichtresonanten Antreiben tr = 140 ns
tf = 140 ns.
Es wurde gefunden, daß der Schaltvorgang des resonanten An­ treibens entsprechend der vorliegenden Erfindung zweimal so schnell ist wie bei dem bisherigen nichtresonanten Antreiben unter denselben Gatestrombedingungen, auch falls der äquiva­ lente Serienwiderstand RS als näher zur Praxis liegend berück­ sichtigt ist.
Normalerweise ist die für das Induktanzelement 108 benötigte Induktivität klein, nämlich einige hunderte von Nanohenries, so daß eine Spule mit Luftkern und eine Ferrit-Perle anwendbar sind, und somit die Packungsfläche klein gehalten ist.
Bei der Gate-Treiberschaltung für die isolierte Gate-Halblei­ tervorrichtung entsprechend der vorliegenden Erfindung ist das obig beschriebene Induktanzelement als ein Stromrestriktions­ element verwendet, und es werden, wie erwähnt, Treiberschalter vom in Rückwärtsrichtung sperrenden Typ verwendet, wodurch die Resonanz durch die Gatekapazität der isolierte Gate-Halblei­ tervorrichtung und der Induktivität des Induktanzelementes bei dem Ein- und Ausschalten erzeugt wird. Daher können die fol­ genden praktikablen Effekte erhalten werden:
  • 1) Im Falle der Verwendung von Treiberschaltern mit den­ selben Stromdaten kann die Schaltgeschwindigkeit mit der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung im wesent­ lichen um das Doppelte im Vergleich zur bisherigen Lö­ sung schneller sein.
  • 2) Die vorliegende Erfindung ist äußerst geeignet zum Aus­ schalten der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung mit insbesondere geringer VGS(OFF) bei einer hohen Ge­ schwindigkeit, da die Gatesperrspannung automatisch er­ zeugt wird.
  • 3) Da der Strom nicht durch den Widerstand, sondern durch das Induktanzelement begrenzt wird, wird der elektri­ sche Leistungsverbrauch in diesen Teil verringert.
  • 4) Da die Anstiegsrate des in die Treiberschalter fließen­ den Stromes durch die Induktivität des Induktanzelemen­ tes beschränkt wird, können die aufgrund der Anstiegs­ geschwindigkeit beim Einschalten der Treiberschalter verursachten Schaltverluste verringert werden. In Kom­ bination mit dem obigen Effekt (1) wird die Hochfre­ quenzanpassung durch die integrierte Schaltung erleich­ tert.
Die vorliegende Erfindung wurde soweit auf der Grundlage der bevorzugten Ausführungsbeispiele gemäß den Fig. 1 und 3 be­ schrieben. Es sind jedoch verschiedene Modifikationen möglich, wie sie im folgenden beschrieben werden.
  • 1) Die übermäßige Aufladung der Gatespannung kann auch dann verhindert werden, falls die regenerative Diode 107 gemäß Fig. 3 parallel zwischen dem Gate und der Source des Leistungs-MOSFET 3 verbunden ist, wie es in Fig. 17 gezeigt ist. Jedoch kann in diesem Fall der Ga­ tesperrspannungs-Effekt nicht ausreichend erhalten wer­ den.
  • 2) Eine in Rückwärtsrichtung sperrende Durchbruchsspannung von etwa 2 bis 3 V der jeweiligen in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter, welche aus der Konbination des Schalttransistors 101 und der Diode 105 und der Kombi­ nation des Schalttransistors 102 und der Diode 106 zu­ sammengesetzt sind, kaum manchmal ausreichen in dem Fall, bei dem Q der Resonanzschaltung klein ist oder die regenerative Diode 107 verwendet ist. Wenn bipolare Transistoren als Schalttransistoren innerhalb der in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter verwendet werden, wie es in den Fig. 1 und 3 gezeigt ist, brauchen die in Rückwärtsrichtung sperrenden Dioden 105 und 106 in einigen Fällen nicht teilweise vorgesehen zu sein, falls die benötigte in Rückwärtsrichtung sperrende Durchbruchsspannung wesentlich geringer ist als die Durchbruchsspannung des Basis-Emitter-Übergangs der bi­ polaren Transistoren.
Fig. 5 zeigt in einem Schaltungsdiagramm ein bevorzugtes Aus­ führungsbeispiel einer Blitzlichtsteuerung entsprechend der vorliegenden Erfindung, und Fig. 6 zeigt als Kurvendiagramm die entsprechende Betriebsweise. Bei der Blitzlichtsteuerung gemäß Fig. 5 weist eine Gate-Treiberschaltung 100 für das Ein- und Aus-Treiben eines bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6, welcher einen Typ der isolierte Gate-Halbleitervor­ richtung darstellt, denselben Aufbau wie bei der in Fig. 1 dargestellten Gate-Treiberschaltung 100 auf, außer daß ein Gate-Spannungs-Entladungswiderstand 109 zwischen Gate und Emitter des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 ver­ bunden ist. Die restlichen Bestandteile sind ähnlich im Aufbau wie bei der in Fig. 12 dargestellten Blitzlichtsteuerung.
Unter Bezugnahme auf das Kurvendiagramm gemäß Fig. 6 wird im folgenden die Betriebsweise der in Fig. 5 dargestellten Blitz­ lichtsteuerung erläutert. Falls die Induktivität L des Induk­ tanzelementes 108 die folgende Beziehung erfüllt:
ist der Gatestrom iG des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 oszillatorisch, wenn die Schalttransistoren 101 oder 102 ein-/ausgeschaltet werden, wobei der äquivalente Serienwi­ derstand RS die Summe des internen Serienwiderstandes der Gate-Treiberschaltung 100 und des äquivalenten Eingangswider­ standes des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 ist, und Ciss die Gate-Eingangskapaziät des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 darstellt. Der Gatestrom iG zeigt den halbsinusförmigen Kurvenverlauf entsprechend der in Rückwärtsrichtung sperrenden Eigenschaften der jeweiligen Schalter, welche zusammengesetzt sind aus der Kombination des Transistors 101 und der Diode 105, und der Kombination des Transistors 102 und der Diode 106. Wenn dementsprechend bei­ spielsweise die Induktivität L ausreichend groß ist, kann die Gate-Spannung vG beim Ein-Treiben des bipolaren Transistoren mit isoliertem Gate 6 zu etwa dem Doppelten der Gate-Treiber- Leistungsquelle VGG durch die LC-Resonanz gesteppt werden, wie oben beschrieben wurde (V2H ≒ 2×VGG). Folglich beträgt der für die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG benötigte Spannungs­ wert lediglich etwa die Hälfte von dem Wert VGE(ON), welcher für das Ein-Treiben des bipolaren Transistoren mit isoliertem Gate 6 benötigt wird.
Wie oben erwähnt wurde, wurde ein bipolarer Transistor mit isoliertem Gate entwickelt, der eine Steuerung eines Spitzen­ stromes von etwa 130 A mit einer Gate-Spannung von etwa 10 V ermöglicht. Falls ein solcher als der bipolare Transistor mit isoliertem Gate 6 verwendet ist, ist die Blitzlichtsteuerung möglich durch direktes Verwenden einer 6 V Batterie als die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG in der Schaltung gemäß Fig. 5.
Wie oben dargestellt wurde, wird die LC-Resonanz ebenso beim Aus-Treiben des bipolaren Transistoren mit isoliertem Gate 6 verwendet, wobei das Gate des bipolaren Transistoren mit iso­ liertem Gate 6 negativ vorgespannt ist (V2L ≒ -V2H). Dadurch kann auch im Falle des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate mit geringem VGE(th), bei dem die Gate-Treiberspannung verringert ist, bei einer hohen Geschwindigkeit ausgeschaltet werden, da die Gate-Spannung vG rapide in der Umgebung des Schwellenwertes variiert.
Bei der Schaltung gemäß Fig. 5 wird die negativ aufgeladene Gate-Eingangskapazität Ciss des bipolaren Transistors mit iso­ liertem Gate 6 durch den Entladungswiderstand 106 entladen. Falls das nächste Ein-Treiben durchgeführt wird, wenn die Ent­ ladung beendet ist, kann die obige Betriebsweise wiederholt werden. Falls jedoch das nächste Ein-Treiben durchgeführt wird, bevor die negative Entladung beendet ist, steigt die po­ sitive Gate-Treiberspannung manchmal bis zu einem Maximum von 4×VGG an, so daß gewisse Sorgfalt unternommen werden muß, um die positive Gate-Treiberspannung unterhalb des Gate-Durch­ bruchs-Spannungskennwertes des bipolaren Transistors mit iso­ liertem Gate 6 zu halten. Falls es nicht unbedingt notwendig ist, eine große Gatesperrspannung anzulegen, können stabile Wiederholungsvorgänge durch paralleles Verbinden der Diode zwi­ schen dem Gate und dem Emitter des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 (beziehungsweise Verbinden der Kathode mit dem Gate und der Anode mit dem Emitter) erzielt werden.
Fig. 7 zeigt in einem Schaltungsdiagramm ein weiteres bevor­ zugtes Ausführungsbeispiel der Blitzlichtsteuerung entspre­ chend der vorliegenden Erfindung, und Fig. 8 zeigt in einem Kurvendiagramm die entsprechenden Kurvenformen beim Betrieb desselben. Bei der Blitzlichtsteuerung gemäß Fig. 7 ist die Gate-Treiberschaltung 100 zum EIN- und AUS-Treiben des bipola­ ren Transistors mit isoliertem Gate 3 dieselbe wie bei Fig. 5. Der Unterschied zu Fig. 5 liegt im Aufbau jedoch darin, daß ein Thyristorschalter 11 separat als Vorrichtung zum Liefern von Triggerenergie für die Triggerschaltung 200 einer Blitzlichtentladungsröhre 4 verwendet ist, wobei ein Emissions-Startsignal von einer Kamera oder dergleichen an den Thyrsitorschalter 11 geliefert wird. Das Emissions-Stopsignal wird durch Anlegen eines negativen Pegels an den Steuereingang V1 der Gate-Treiberschaltung 100 geliefert.
Unter Bezugnahme auf das Kurvendiagramm gemäß Fig. 8 wird die Betriebsweise der in Fig. 7 dargestellten Schaltung im folgen­ den erläutert. Bei einer Haltebedingung, wenn das Emissions- Startsignal TRIG möglicherweise von der Kamera ausgegeben wird, wird die Gate-Spannung vG hochgehalten, so daß der bipo­ lare Transistor mit isoliertem Gate 6 ständig einen vorbe­ stimmten Blitzlichtentladungsröhrenstrom passieren kann. Wenn der Steuereingang V1 der Gate-Treiberschaltung 100 zwischen den niedrigen und hohen Pegeln geschaltet wird, steigt die Spannung mit hohem Pegel des Gates des bipolaren Transistoren mit isoliertem Gate 6 durch die LC-Resonanz beim Schalten mit dem Anstieg der Anzahl von Schaltvorgängen an, wie es oben be­ schrieben wurde. Falls der Steuereingang V1 hochgehalten wird, wenn die Gate-Spannung niedriger ist als der Gate-Durch­ bruchsspannungs-Kennwert des bipolaren Transistors mit iso­ liertem Gate 6 und einen ausreichenden Wert erreicht, wird die Gate-Spannung vG des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 bei einem Wert gehalten, der größer ist als die Gate-Span­ nung VGE(ON), welche für die Leitung des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 für eine Zeitdauer durch die Gate-Ein­ gangskapazität Ciss benötigt wird. Diese Spannung kann durch eine Spannungssteuerschaltung 111 überwacht werden und inner­ halb eines benötigten Gate-Spannungs-Bereiches gesteuert wer­ den. Die Spannungssteuerschaltung 111 kann einfach zusam­ mengesetzt sein, beispielsweise aus einem Spannungskomparator und einer Oszillatorschaltung.
Falls das Emissions-Startsignal TRIG von der Kamera empfangen wurde, während die Gate-Spannung vG innerhalb des vorbestimm­ ten Spannungsbereiches liegt, wird das Gate des Thyristor­ schalters 11 zum Triggern durch die Spannungssteuerschaltung 111 getriggert, und dadurch kann die Blitzlichtentladung durch die Blitzlichtentladungsröhre 7 starten. Um die Blitzlichtent­ ladung durch die Blitzlichtentladungsröhre 7 zu beenden, nach­ dem eine leitende Zeit tw verstrichen ist und eine gewünschte Lichtmenge erhalten worden ist, sollte der Steuereingang V1 lediglich auf den niedrigen Pegel geschaltet werden. Nach einigen ms, nachdem die Blitzlichtentladung beendet ist, wurde Gas in der Blitzlichtentladungsröhre 7 ionisiert, so daß leicht Fehlbeleuchtungen auftreten können. Daher muß die Gate- Spannung vG des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 mit einer AUS-Periode tOFF mit geeigneter Dauer vorgesehen sein.
Falls das Emissions-Startsignal TRIG übertragen wird, während die Gate-Spannung vG des bipolaren Transistors mit isoliertem Gate 6 gering ist aufgrund seines Pumpenbetriebes, sollte der Triggerimpuls an den Thyristorschalter zum Triggern 11 ange­ legt werden, nachdem der Pumpvorgang beendet ist. Diese Zeit­ verzögerung kann leicht unterhalb von Zehntel von Mikrosekun­ den gesteuert werden, so daß es keinen Einfluß auf den Foto­ grafiervorgang gibt.
Die Schaltung gemäß Fig. 7 weist den Vorteil auf, daß die Batteriespannung für die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG be­ liebig gewählt werden kann, da die Gate-Spannung vG in gewis­ sen Grenzen beliebig für die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG verstärkt werden kann.
Im Zusammenhang mit der Geschwindigkeit des Gate-Treiber- Schaltvorganges wird im folgenden ein Vergleich zwischen der bisher verwendeten Blitzlichtsteuerung gemäß Fig. 12 und der Blitzlichtsteuerung vom Resonanzgate-Treibertyp entsprechend der vorliegenden Erfindung gemäß den Fig. 5 und 7 durchge­ führt. Wie es unter Bezugnahme auf Fig. 11 oben dargestellt wurde, falls die Zeitperioden tr und tf betrachtet werden, wenn die Gate-Spannung vG des bipolaren Transistors mit iso­ liertem Gate 6 zwischen 20% und 80% der gesamten Amplitude variiert, wurde gefunden, daß die Blitzlichtsteuerung vom Re­ sonanzgate-Treibertyp entsprechend der vorliegenden Erfindung etwa doppelt so schnell wie die bisher verwendete Blitzlicht­ steuerung treibbar ist. Andererseits kann bei derselben Schaltgeschwindigkeit die Induktivität des Induktanzelement 108 zur Begrenzung des Stromes vergrößert werden, und der Spitzenwert des Schaltstromes kann um die Hälfte verringert werden. Dementsprechend kann der Stromnennwert der aus den Schalttransistoren 101 und 102 und den Dioden 105 und 106 zu­ sammengesetzten Treiberschalter verringert werden, wodurch die Wirtschaftlichkeit verbessert wird.
Die oben erläuterten bevorzugten Ausführungsbeispiele betref­ fen den Fall des EIN- und AUS-Treibens des bipolaren Tran­ sistors mit isoliertem Gate für ein Stroboskop unter Verwen­ dung der Gate-Treiberschaltung vom Resonanztreibertyp entspre­ chend der vorliegenden Erfindung. Jedoch kann derselbe Effekt im Falle des EIN- und AUS-Treibens des Leistungs-MOSFET und dergleichen mit derselben isolierte Gate-Struktur wie bei dem bipolaren Transistor mit isoliertem Gate erhalten werden. Bei den Anwendungen, bei denen der Anstieg der Gate-Spannung vG oberhalb der Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG bedeutungslos ist, kann die Gate-Spannung vG durch die Diode 107 auf die Gate-Treiber-Leistungsquelle VGG regeneriert werden, wie es in Fig. 3 dargestellt ist. Somit kann insbesondere bei den Anwen­ dungen von Hochfrequenz DC-DC-Wandlern und dergleichen der verbrauchte Strom der Gate-Treiberschaltung 100 von einem An­ stieg verhindert werden.
Die Blitzlichtsteuerung gemäß der vorliegenden Erfindung, in welcher die in die Blitzlichthauptschaltung eingesetzte iso­ lierte Gate-Halbleitervorrichtung aufgrund der Verwendung des Induktanzelement resonant-treibbar ist, weist verschiedene praktische Effekte auf, welche im folgenden beschrieben wer­ den.
  • 1) Da die Gate-Treiberspannung nach oben gesteppt werden kann, können Batterien als die Gate-Treiber-Leistungs­ quelle VGG verwendet werden. Somit kann eine Miniaturi­ sierung und eine Kostenreduktion der Schaltung erreicht werden.
  • 2) Da die Gatesperrspannung beim AUS-Treiben angelegt wird, wird ein Hochgeschwindigkeits-Ausschalten auch bei der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung mit einem geringen Schwellenwert erreicht.
  • 3) Die Schaltstromkenndaten können verringert werden, wo­ durch die Kosten der Gate-Treiberschaltung reduziert werden.

Claims (16)

1. Gate-Treiberschaltung zum EIN- und AUS-Treiben einer Halbleitervorrichtung mit isoliertem Gate, welche auf­ weist:
einen ersten und einen zweiten Leistungsanschluß;
erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schal­ ter, welche in Serie zwischen dem ersten und dem zwei­ ten Leistungsanschluß verbunden sind;
ein Induktanzelement, welches zwischen einem Verbin­ dungspunkt der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der isolierte Gate- Halbleitervorrichtung verbunden ist; und
eine Steuerschaltung zum Ein- und Aus-Treiben der iso­ lierte Gate-Halbleitervorrichtung durch EIN- und AUS- Steuern der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter,
wobei das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche ausreicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zu­ sammenhang mit einer Gate-Eingangskapazität der iso­ lierte Gate-Halbleitervorrichtung.
2. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen ersten Transistor mit einer mit dem ersten Leistungsan­ schluß verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem Ver­ bindungspunkt verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbunden Steuerelektrode, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen zweiten Transistor mit einer mit dem Verbindungs­ punkt verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem zwei­ ten Leistungsanschluß verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuer­ elektrode aufweist.
3. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine erste Diode mit einer mit der zweiten Elektrode des ersten Transistors verbundenen ersten Elektrode, und einer mit dem Verbindungspunkt verbun­ denen zweiten Elektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine zweite Diode mit einer mit dem Verbin­ dungspunkt verbundenen ersten Elektrode und einer mit der ersten Elektrode des zweiten Transistors verbun­ denen zweiten Elektrode aufweist.
4. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß
die ersten Elektroden des ersten und zweiten Tran­ sistors Kollektoren darstellen,
die zweiten Elektroden des ersten und zweiten Tran­ sistors Emitter darstellen,
die ersten Elektroden der ersten und zweiten Dioden An­ oden darstellen, und
die zweiten Elektroden der ersten und zweiten Diode Kathoden darstellen.
5. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Steuerschaltung eine mit der Steuerelektrode des ersten Transistors verbundene erste Logikschaltung, und eine mit der Steuerelektrode des zweiten Transistors verbundene zweite Logikschaltung zum komplementären Ein- und Ausschalten des ersten und des zweiten Tran­ sistors aufweist.
6. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 1, gekenn­ zeichnet durch
eine regenerative Diode mit einer Anode, die mit dem Gate der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung verbunden ist, und einer Kathode, die mit dem ersten Lei­ stungsanschluß verbunden ist, wobei
der erste Leistungsanschluß eine hohe Leistungsquellen­ spannung liefert.
7. Gate-Treiberschaltung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso­ lierte Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Kathode und einer mit dem zweiten Leistungsanschluß verbundenen Anode, wobei
der zweite Leistungsanschluß eine geringe Leistungs­ quellenspannung liefert.
8. Blitzlichtsteuerung, welche eine Gate-Treiberschaltung gemäß Anspruch 1 verwendet, welche aufweist:
einen ersten und einen zweiten Hochspannungs-Leistungs­ anschluß;
eine durch eine Gate-Treiberschaltung ein- und aus­ treibbare isolierte Gate-Halbleitervorrichtung;
eine Blitzlichtentladungsröhre, welche in Serie mit der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung zwischen dem ersten und dem zweiten Hochspannungsleistungsanschluß verbunden ist;
einen Kondensator zum Speichern von Blitzlichtenergie, der parallel verbunden ist mit einem serienverbundenen Körper, der zusammengesetzt ist aus der isolierte Gate- Halbleitervorrichtung und der Blitzlichtentla­ dungsröhre; und
eine Triggerschaltung zum Triggern der Blitzlichtentla­ dungsröhre zum Starten der Blitzlichtentladung,
wobei die Gate-Treiberschaltung aufweist:
einen ersten und einen zweiten Leistungsanschluß;
erste und zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schal­ ter, welche in Serie verbunden sind zwischen dem ersten und dem zweiten Leistungsanschluß;
ein Induktanzelement, welches verbunden ist zwischen einem Verbindungspunkt der ersten und zweiten in Rück­ wärtsrichtung sperrenden Schalter und einem Gate der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung;
eine Steuerschaltung zum EIN- und AUS-Treiben der iso­ lierte Gate-Halbleitervorrichtung durch Ein- und Aus- Steuern der ersten und zweiten in Rückwärtsrichtung sperrenden Schalter,
wobei das Induktanzelement eine Induktivität aufweist, welche ausreicht zum Erzeugen einer LC-Resonanz im Zu­ sammenhang mit einer Gate-Eingangskapazität der iso­ lierte Gate-Halbleitervorrichtung.
9. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 8, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Triggerschaltung aufweist:
einen zwischen dem ersten und dem zweiten Hochspan­ nungs-Leistungsanschluß verbundenen Triggerkondensator,
eine Schaltvorrichtung, welche als Reaktion auf ein ex­ tern vorgesehenes Emissions-Startsignal eingeschalten wird, und
einen Triggerumformer mit einer in einer Schleife mit dem Triggerkondensator und der Schaltvorrichtung ver­ bundenen primären Spule, und einer mit der Blitzlicht­ entladungsröhre verbundenen sekundären Spule,
wobei die Blitzlichtsteuerung ferner eine Vorrichtung zum Aufrechterhalten einer Gate-Spannung der isolierte Gate-Halbleitervorrichtung bei einem derartigen Pegel aufweist, daß die isolierte Gate-Halbleitervorrichtung vor dem Vorsehen des Emissions-Startsignales einge­ schalten werden kann.
10. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 9, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Schaltvorrichtung einen Thyristorschalter aufweist.
11. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 8, dadurch gekenn­ zeichnet, daß
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen ersten Transistor mit einer mit dem ersten Leistungsan­ schluß verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem Ver­ bindungspunkt verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuerelektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter einen zweiten Transistor mit einer mit dem Verbindungs­ punkt verbundenen ersten Elektrode, einer mit dem zwei­ ten Leistungsanschluß verbundenen zweiten Elektrode, und einer mit der Steuerschaltung verbundenen Steuer­ elektrode aufweist.
12. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 11, dadurch gekenn­ zeichnet, daß
der erste in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine erste Diode mit einer mit der zweiten Elektrode des ersten Transistors verbundenen ersten Elektrode, und einer mit dem Verbindungspunkt verbun­ denen zweiten Elektrode aufweist, und
der zweite in Rückwärtsrichtung sperrende Schalter des weiteren eine zweite Diode mit einer mit dem Verbin­ dungspunkt verbundenen ersten Elektrode, und einer mit der ersten Elektrode des zweiten Transistors verbun­ denen zweiten Elektrode aufweist.
13. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 12, dadurch gekenn­ zeichnet, daß
die ersten Elektroden des ersten und des zweiten Tran­ sistors Kollektoren darstellen,
die zweiten Elektroden des ersten und des zweiten Tran­ sistors Emitter darstellen,
die ersten Elektroden der ersten und zweiten Diode An­ oden darstellen, und
die zweiten Elektroden der ersten und zweiten Diode Kathoden darstellen.
14. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 11, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Steuerschaltung eine mit der Steuerelektrode des ersten Transistor verbundene erste Logikschaltung und eine mit der Steuerelektrode des zweiten Transistors verbundene zweite Logikschaltung aufweist zum komple­ mentären Ein- und Ausschalten des ersten und des zwei­ ten Transistors.
15. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso­ lierten Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Anode, und einer mit dem ersten Leistungsanschluß verbundenen Kathode, wobei
der erste Leistungsanschluß eine hohe Leistungsquellen­ spannung liefert.
16. Blitzlichtsteuerung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch
eine regenerative Diode mit einer mit dem Gate der iso­ lierte Gate-Halbleitervorrichtung verbundenen Kathode, und einer mit dem zweiten Leistungsanschluß verbundenen Anode, wobei der zweite Leistungsanschluß eine geringe Leistungs­ quellenspannung liefert.
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