DE2827230C2 - Nichtdispersiver Zweistrahl-Infrarot-Gasanalysator - Google Patents
Nichtdispersiver Zweistrahl-Infrarot-GasanalysatorInfo
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/37—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection
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Description
JO
Die Erfindung bezieht sich auf einen nichtdispersiven Zweistrahl-lnfrarot-Gasanalysator mit einem Doppelschichtempfänger
sowohl im Meß- wie im Vergleichsstrahlengang, mit Mitteln zur bildung eines der
Differenz der absorbierten Energien in der jeweils ersten Schicht jedes Doppelschichtempfängers entsprechenden
ersten elektrischen Signals mit Mitteln zur Bildung eines der Differenz der absorbierten Energien
in der jeweils zweiten Schicht jedes Doppelschichtempfängers entsprechenden zweiten elektrischen Signals,
mit Mitteln zur Kompensation von Störeinflüssen und mit einem Differenzverstärker zur Bildung eines
meßwertproportionalen Differenzsignals aus dem ersten und dem zweiten elektrischen Signal.
Bei einer bekannten Ausführung eines derartigen Gasanalysators (DE-OS 23 32 288) ist die Gasfüllung
des der ersten Schicht entsprechenden Volumens in bezug auf Zusammensetzung und/oder Druck so
gewählt, daß sie ein enges, dem Resonanzgebiet der in dem Meßgas festzustellenden Komponente entsprechendes
Absorptionsgebiet hat, während die Gasfüllung des der zweiten Schicht entsprechenden Empfängervolumens
so gewählt bzw. eingestellt ist, daß sie ein breites das erstgenannten Resonanzgebiet überdeckendes
Absorptionsgebiet hat.
Als Mittel zur Bildung der elektrischen Signale, die
den Differenzen der absorbierten Energien in den ersten bzw. zweiten Schichten der Empfänger cntsprechen,
sind Membrankondensatoren vorgesehen, deren
Ausgangssignale zur Differenzbildung einem Differenzverstärker zugeführt sind.
Gasgemische enthalten häufig Komponenten, deren Absorptionsgebiete eng benachbart sind oder einander
teilweise überlappen. Bei der Infrarot-Gasanalyse hat dies eine sogenannte Quercmpfindlichkeit zur Folge,
d. h„ das Ausgangssignal des Analysator ist dem zu
35 messenden Anteil der Komponente eines Meßgasgemisches
nicht mehr proportional.
Besonders störend ist die Querempfindlichkeit von Wasserdampf, welcher in nahezu allen industriellen
Gasgemischen vorhanden ist und ein breites Absorptionsspektrum aufweist.
Bei dem bekannten Gasanalysator ist zur Kompensation der Wasserdampf-Querempfindlichkeit ein Gasfilter
vorgesehen, welches die Meßkomponente oder ein absorptionsmäßig ihr entsprechendes Gas irr solcher
Konzentration enthält, daß die Wasserdampf-Querempfindlichkeit in einem bestimmen Bereich weitgehend
kompensiert wird.
Zur Einstellung der Gaskonzentration in dem Gasfilter bedarf es mehrerer arbeitsaufwendiger Schritte
und entsprechender Vorrichtungen. Die Einfügung von relativ langen Filterküvetten in die Strahlengänge
bedingt eine große Baulänge des Analysenteils, was hinsichtlich der Forderung nach kompakten Geräteausführungen
ebenfalls von Nachteil ist
Untersuchungen mit einem stickoxydempfindlichen Gasanalysator haben ergeben, daß bei Verwendung
eines Testgasgemisches mit bekanntem NO-Anteil das Ausgangssignal exponentiell mit dem Anstieg des
Wasserdampfgehalts im Testgasgemisch sinkt
Es hat sich weiter ergeben, daß bei einem Testgasgemisch ohne Wasserdampfanteil das die
konstante NO-Komponente des Testgasgemischs abbildende Ausgangssignai linear mit steigender Umgebungstemperatur
fällt
Als weiterer Störfaktor ist somit die in vielen Fällen auftretende Abhängigkeit des Meßsignals von der
Umgebungstemperatur anzusehen.
Es besteht die Aufgabe, den Einfluß der Wasserdampf-Querempfindlichkeit
und der Umgebungstemperatur auf das Meßergebnis mit möglichst einfachen Mitteln und unter Vermeidung der Nachteile der
bekannten Störeffekt-Kompensation weitgehend auszuschließen.
Eine Lösung der Aufgabe wird äci einem Infrarot-Gasanalysator
der eingangs genannten Art darin gesehen, daß zur Kompensation der Störeinflüsse von
Umgebungstemperatur und insbesondere Wasserdampf-Querempfindlichkeit das Ausgangssignal des
Differenzverstärkers über einen Widerstand dem DRAIN-Anschluß eines Feldeffekttransistors zugeführt
ist, dessen SOURCE-Anschluß auf Nullpotential liegt und dessen GATE-Anschluß mit einem, dem zweiten
elektrischen Signal proportionalen Signal beaufschlagt ist und dessen DRAIN-Spannung das kompensierte
Meßsignal ist.
Die Ausgangsspannung eines Feldeffekttransistors ärdert sich exponentiell mit der GATE-Spannung und
linear mit der Umgebungstemperatur.
Die Betriebsparameter des wie angegeben geschalteten Feldeffekttransistors können so eingestellt werden,
daß seine mit positiven Gradienten verlaufenden Kennlinien in bezug auf Temperaturgang und Änderung
der GATE-Spannung die mit negativen Gradienten verlaufenden Störeffekte der Wasserdampfquerempfindlichkeit
und der Umgebungstemperatur weitgehend kompensieren.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Figur
schematisch dargestellt und im folgenden beschrieben.
Bei einem Zweistrahl-Infrarot-Gasanalysator bekannter
Bauart mit einem Meßstrahlengang Im und einem Vergleichsstrahlengang Iv werden die von den
Infrarotstrahlern L 1 und L 2 ausgehenden Strahlungen
abwechselnd von einer mittels des Motors MO angetriebenen rotierenden Blende CH unterbrochen,
treten durch die infrarotdurchlässigen Fenster Fl und F3 in die vom Meßgas, dessen NO-Anteil gemessen
werden soll, durchströmte Meßküvette MK bzw. in die
mit Vergleichsgas gefüllte Vergleichsküvette VK ein, verlassen diese durch die Fenster F2 und F4 und treten
durch die Fenster F5 und Fe in den ersten Detektor D1
ein, dessen gasgefüllte Volumina DU und D12 durch
eine die Elektrode eines ersten Membrankondensators M1 bildende bewegliche Wand voneinander getrennt
sind.
Gleichartig aufgebaut folgt auf den ersten Detektor D1 ein zweiter Detektor D 2 mit gasgefüllten Volumina
D 21 und D 22 und einem zweiten Membrankondensator M 2, wobei die den ersten Detektor Di durch die
Fenster Fl und FS verlassende Meß- bzw. Vergleichsstrahluiig
durch die Fenster F9 und FlO in diesen zweiten Detektor eintritt. Die beiden Detektoren D 1
und D 2 bilden den Doppelschichtempfänger, dessen Wirkungsweise als bekannt vorausgesetzt werden kann.
Die von der unterschiedlichen Strahlung7absorption in den Volumen der Detektoren Dl und DT.
verursachten Druckschwankungen werden von den Membrankondensatoren M1 und M 2 in entsprechende
elektrische Wechselsignale umgesetzt und in den Verstärkern A 1 und A 2 verstärkt Deren Ausgangssignale
Vl, V2 werden über die Widerstände R1 und R 2
den Eingängen eines über den Widerstand R 5 rückgekoppelten Differenzverstärkers A3 zugeführt
Dessen Ausgangssignal V3 ist über einen Widerstand Ä7 dem DRAIN-Anschluß D eines Feldeffekttransistors
FET aufgeschaltet, dessen SOURCE-Ansriiluß S
auf Nullpotential liegt Der GATE-Anschluß G des Feldeffekttransistors FET erhält über den Spannungsteiler
R 3, R 4 ein dem Ausgangssignal V2 des zweiten Detektors D 2 proportionales Steuersignal. Die
DRAIN-Spannung V4des Feldeffekttransistors FET'ist
das querempfindlichkeits- und temperaturkompensierte, dem NO-Anteil des Meßgases proportionale
Meßsignal, welches in dem gegengekoppelten Verstärker A 4 verstärkt wird und als Aus^angssignal V'5 zur
weiteren Verarbeitung zur Verfügung steht
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Nichtdispersiver Zweistrahl-Infrarot-Gasanalysator mit einem Doppelsc&ichtempfänger sowohl im Meß- wie im Vergleichsstrahlengang, mit Mitteln zur Bildung eines der Differenz der absorbierten Energien in der jeweils ersten Schicht jedes, Doppelschichtempfängers entsprechenden ersten elektrischen Signals, mit Mitteln zur Bildung eines der Differenz der absorbierten Energien in der ,0 jeweils zweiten Schicht jedes Doppelschichtempfängers entsprechenden zweiten elektrischen Signals, mit Mitteln zur Kompensation von Störeinflüssen und mit einem Differenzverstärker zur Bildung eines meßwertproportionalen Differenzsignals aus dem ersten und dem zweiten elektrischen Signal, dadurch gekennzeichnet, daß zur Kompensation der Störeinflüsse von Umgebungstemperatur und insbesondere Wasserdampf-Querempfindlichkeit das Ausgangssignai (V3) des Differenzverstärkers (Λ3) über einen Widerstand (R 7) dem DRAIN-Anschluß (D) eines Feldeffekttransistors (FET) zugeführt ist, dessen SOURCE-Anschluß (S) auf Nullpotential liegt und dessen GATE-Anschluß (G) mit einem, dem zweiten elektrischen Signal (V2) proportionalen Signal beaufschlagt ist und dessen DRAIN-Spannung (V4) das kompensierte Meßsignal ist.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7410077A JPS548576A (en) | 1977-06-22 | 1977-06-22 | Infrated ray gas analyzer |
Publications (2)
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|---|---|
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| DE2827230C2 true DE2827230C2 (de) | 1983-08-25 |
Family
ID=13537422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19782827230 Expired DE2827230C2 (de) | 1977-06-22 | 1978-06-21 | Nichtdispersiver Zweistrahl-Infrarot-Gasanalysator |
Country Status (2)
| Country | Link |
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| DE (1) | DE2827230C2 (de) |
Families Citing this family (7)
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| US4467435A (en) * | 1981-10-05 | 1984-08-21 | Beckman Instruments, Inc. | Infrared gas analyzer having detector elements of differing types |
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| US2924713A (en) * | 1956-01-18 | 1960-02-09 | Beckman Instruments Inc | Instruments |
-
1977
- 1977-06-22 JP JP7410077A patent/JPS548576A/ja active Pending
-
1978
- 1978-06-21 DE DE19782827230 patent/DE2827230C2/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| JPS548576A (en) | 1979-01-22 |
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