DE19829953A1 - Laser-Scanning-Mikroskop - Google Patents
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- 238000011835 investigation Methods 0.000 title 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
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Description
In Fig. 1 sind schematisch eine Mikroskopeinheit M und ein Scankopf S
dargestellt, die eine gemeinsame optische Schnittstelle über eine
Zwischenabbildung aufweisen und ein LSM bilden.
Der Scankopf S kann sowohl an den Phototubus eines aufrechten Mikroskopes
sowie auch an einen seitlichen Ausgang eines inversen Mikroskopes angesetzt
werden.
Es ist ein zwischen Auflichtscan und Durchlichtscan mittels eines schwenkbaren
Spiegels 14 umschaltbarer mikroskopischer Strahlengang dargestellt,
mit Lichtquelle 1, Beleuchtungsoptik 2, Strahlteiler 3, Objektiv 4, Probentisch 5,
Kondensor 6, Lichtquelle 7, Empfängeranordnung 8, einer ersten Tubuslinse 9,
einem Beobachtungsstrahlengang mit einer zweiten Tubuslinse 10 und einem
Okular 11 sowie einem Strahlteiler zur Einkopplung des Scanstrahls dargestellt.
Ein Lasermodul 13.1, 13.2 nimmt die Laser auf und ist über Monomode-
Lichtleitfasern 14.1, 14.2 mit der Lasereinkoppeleinheit des Scankopfes S
verbunden.
Auch die Mischung der Strahlung verschiedener Laser am Fasereingang ist
möglich
und kann anhand der schematisch dargestellten, auswechselbaren und
schaltbaren Teilerspiegel 39 im Modul 13.2 erfolgen.
Die Einkopplung der Lichtleitfasern 14.1, 14.2 erfolgt mittels einer verschieblichen
Kollimationsoptik sowie Strahlumlenkelementen 17.1, 17.2.
Mittels eines teildurchlässigen Spiegels 18 wird ein Überwachungsstrahlengang in
Richtung einer Monitordiode 19, der, vorteilhaft auf einem nicht dargestellten
drehbaren Filterrad Linienfilter 21 sowie Neutralfilter 20 vorgeordnet sind,
ausgeblendet.
Die eigentliche Scaneinheit besteht aus Scanningobjektiv 22, X/Y-Scanner 23,
Hauptstrahlteiler 24 und einer gemeinsamen Abbildungsoptik 25 für
Detektionskanäle 26.1-26.4.
Ein Umlenkprisma 27 hinter der Abbildungsoptik 25 spiegelt die vom Objekt 5
kommende Strahlung in Richtung dichroitischer Strahleiler 28 im konvergenten
Strahlengang der Abbildungsoptik 25, denen in Richtung und senkrecht zur
optischen Achse verstellbare und in ihrem Durchmesser veränderbare Pinholes 29,
individuell für jeden Detektionskanal sowie Emissionsfilter 30 und
geeignete Empfängerelemente 31 (PMT) nachgeordnet sind.
Eine Ansteuereinheit/Rechnereinheit 34 ist vorgesehen, die unter anderem mit
dem Tisch 5 und den Scannern 23 verbunden ist und sie ansteuert.
In Fig. 2a sind seitenverkehrt die Strahlumlenkelemente 17.2 und 17.1 sowie der
Hauptstrahlenteiler 24 dargestellt, der dichroitisch ausgebildet ist und zur
Trennung des Beleuchtungsstrahlenganges bl vom Detektionsstrahlengang dl
dient.
Vorteilhaft ist der Strahlteiler 17.1 als dichroitischer Strahlteiler bezüglich seiner
Reflektivität so ausgebildet, daß er einen Transmissionsbereich im UV-Bereich
und einen Transmissionsbereich im IR-Bereich, wie in Fig. 2b als Abhängigkeit
der Reflexion von der eingestrahlten Wellenlänge dargestellt, aufweist.
Hierdurch kann am Eingang E1 ein Wechsel von einem Laser im IR-Bereich zu
einem Laser im UV-Bereich erfolgen oder ein Laser in mehreren Betriebsarten
betrieben werden, was den Einsatzbereich des Laser-Scanning-Mikroskopes
erweitert, ohne daß ein zusätzlicher lichtschwächender Strahlteiler vorgesehen
sein muß oder ein Austausch eines Strahlteilers erfolgen muß.
Am Eingang E2 wird hier ein Laser im sichtbaren Bereich über einen Spiegel 17.1
eingekoppelt.
In Fig. 3 weist der Spiegel 17.2, der wiederum als dichroitischer Spiegel
ausgebildet ist, ein Reflexionsband im sichtbaren Bereich auf und ist im UV-
Bereich und im IR-Bereich durchlässig ausgebildet.
Das ermöglicht hier am Eingang E1 den Austausch zwischen dem UV-Bereich
und dem IR-Bereich.
In Fig. 4 sind beide Strahlteiler 17.1 und 17.2 dichroitisch ausgebildet, wobei
Strahlteiler 17.1 im sichtbaren Bereich reflektiert und Strahlteiler 17.2 im UV-
Bereich.
Teiler 17.1 und 17.2 sind für den IR-Bereich durchlässig, 17.2 auch für den
sichtbaren Bereich.
Auf diese Weise können sowohl ein IR-Laser über Eingang E3 sowie ein Laser
im sichtbaren Bereich und ein Laser im UV-Bereich über E2 und E1 eingekoppelt
werden und die verschiedenen Betriebsarten ohne Auswechslung von Lasern oder
Strahlteilern mit den damit verbundenen Justierproblemen kann entfallen.
Claims (4)
1. Laser- Scanning-Mikroskop mit rasterförmiger Beleuchtung,
unter unterschiedlichen Wellenlängen, vorzugsweise mittels über Lichtleitfaser
eingekoppelter Laserstrahlung,
wobei die Einkopplung der Beleuchtung über mindestens einen dichroitischen
Strahlteiler erfolgt, der in mindestens einem Wellenlängenbereich reflektiert und
in mindestens einem zweiten Wellenlängenbereich transmittiert.
2. Laser-Scanning-Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der dichroitische Strahlteiler im UV- und IR-Bereich reflektierend und im
sichtbaren Bereich transmittierend ausgebildet ist.
3. Laser-Scanning-Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der dichroitische Strahlteiler im sichtbaren Bereich reflektierend und im IR-
und UV-Bereich transmittierend ausgebildet ist.
4. Laser-Scanning-Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
ein erster dichroitischer Strahlteiler im sichtbaren Bereich reflektierend und im UV-
und IR-Bereich transmittierend
und ein zweiter dichroitischer Strahlteiler im UV-Bereich reflektierend und im
sichtbaren-und IR-Bereich transmittierend ausgebildet ist.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19829953.2A DE19829953B4 (de) | 1998-07-04 | 1998-07-04 | Laser-Scanning-Mikroskop |
| US09/217,747 US6278555B1 (en) | 1998-07-04 | 1998-12-21 | Laser scanning microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19829953.2A DE19829953B4 (de) | 1998-07-04 | 1998-07-04 | Laser-Scanning-Mikroskop |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19829953A1 true DE19829953A1 (de) | 2000-01-05 |
| DE19829953B4 DE19829953B4 (de) | 2016-09-29 |
Family
ID=7872993
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19829953.2A Expired - Lifetime DE19829953B4 (de) | 1998-07-04 | 1998-07-04 | Laser-Scanning-Mikroskop |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6278555B1 (de) |
| DE (1) | DE19829953B4 (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004010202A1 (de) * | 2002-07-19 | 2004-01-29 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Optische vorrichtung zum vereinigen von lichtstrahlen |
| DE10350918B3 (de) * | 2003-10-31 | 2005-04-14 | Evotec Technologies Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Transmission eines Objekts |
| DE102009006729B4 (de) | 2009-01-29 | 2021-12-23 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20050111089A1 (en) * | 1994-07-15 | 2005-05-26 | Baer Stephen C. | Superresolving microscopy apparatus |
| JP4521155B2 (ja) * | 2002-11-27 | 2010-08-11 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡画像処理装置 |
| US20040200844A1 (en) * | 2003-04-11 | 2004-10-14 | David Watzke | Dual chamber salad container |
| JP2005030831A (ja) * | 2003-07-09 | 2005-02-03 | Aisin Seiki Co Ltd | セルソータ用光照射装置 |
| EP3225966B1 (de) * | 2016-03-31 | 2020-04-22 | Konica Minolta Laboratory U.S.A., Inc. | Laser scanning leak detection und visualisierung vorrichtung |
| WO2018089839A1 (en) | 2016-11-10 | 2018-05-17 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Rapid high-resolution imaging methods for large samples |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1986002730A1 (en) * | 1984-10-22 | 1986-05-09 | Hightech Network Sci Ab | A fluorescence imaging system |
| DE4221063A1 (de) * | 1992-06-26 | 1994-01-05 | Thomas Dr Heiden | Optisches System für Auflicht-Fluoreszenz-Mikroskopie |
| DE4330347A1 (de) * | 1993-09-08 | 1995-03-16 | Leica Lasertechnik | Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens zweier Spektralbereiche eines Lichtstrahls |
| DE29609959U1 (de) * | 1996-06-05 | 1996-10-10 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Strahlteiler für ein konfokales Scanningmikroskop |
| US5798867A (en) * | 1997-02-04 | 1998-08-25 | Miyachi Technos Corporation | Laser beam-splitting apparatus |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1163797A (en) * | 1982-01-14 | 1984-03-20 | Queen's University At Kingston | Laser interferometer |
| DE4025136A1 (de) * | 1990-08-08 | 1992-02-13 | Grundig Emv | Projektionsgeraet fuer die grossbildprojektion |
| US5535052A (en) * | 1992-07-24 | 1996-07-09 | Carl-Zeiss-Stiftung | Laser microscope |
| JP3343276B2 (ja) * | 1993-04-15 | 2002-11-11 | 興和株式会社 | レーザー走査型光学顕微鏡 |
| US5952668A (en) * | 1994-07-15 | 1999-09-14 | Baer; Stephen C. | Resolution in microscopy and microlithography |
| US5874726A (en) * | 1995-10-10 | 1999-02-23 | Iowa State University Research Foundation | Probe-type near-field confocal having feedback for adjusting probe distance |
| DE19622359B4 (de) * | 1996-06-04 | 2007-11-22 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Vorrichtung zur Einkopplung der Strahlung von Kurzpulslasern in einem mikroskopischen Strahlengang |
| US6167173A (en) * | 1997-01-27 | 2000-12-26 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Laser scanning microscope |
| US5910963A (en) * | 1997-04-08 | 1999-06-08 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Laser resonator design with improved signal-to-noise level (S/N) at the output of a single-mode fiber-coupled multi-wavelength laser providing illumination for a laser scanning microscope |
| US5936728A (en) * | 1998-04-14 | 1999-08-10 | Noran Instruments, Inc. | Flash photolysis method and apparatus |
-
1998
- 1998-07-04 DE DE19829953.2A patent/DE19829953B4/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-21 US US09/217,747 patent/US6278555B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1986002730A1 (en) * | 1984-10-22 | 1986-05-09 | Hightech Network Sci Ab | A fluorescence imaging system |
| DE4221063A1 (de) * | 1992-06-26 | 1994-01-05 | Thomas Dr Heiden | Optisches System für Auflicht-Fluoreszenz-Mikroskopie |
| DE4330347A1 (de) * | 1993-09-08 | 1995-03-16 | Leica Lasertechnik | Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens zweier Spektralbereiche eines Lichtstrahls |
| DE29609959U1 (de) * | 1996-06-05 | 1996-10-10 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Strahlteiler für ein konfokales Scanningmikroskop |
| US5798867A (en) * | 1997-02-04 | 1998-08-25 | Miyachi Technos Corporation | Laser beam-splitting apparatus |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004010202A1 (de) * | 2002-07-19 | 2004-01-29 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Optische vorrichtung zum vereinigen von lichtstrahlen |
| DE10233074B4 (de) * | 2002-07-19 | 2005-05-19 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Optische Vorrichtung zum Vereinigen von Lichtstrahlen und Scanmikroskop |
| US7428104B2 (en) | 2002-07-19 | 2008-09-23 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optical device for the combination of light beams |
| DE10350918B3 (de) * | 2003-10-31 | 2005-04-14 | Evotec Technologies Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Transmission eines Objekts |
| DE102009006729B4 (de) | 2009-01-29 | 2021-12-23 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19829953B4 (de) | 2016-09-29 |
| US6278555B1 (en) | 2001-08-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| R081 | Change of applicant/patentee |
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|
| R016 | Response to examination communication | ||
| R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
| R020 | Patent grant now final | ||
| R071 | Expiry of right |