WO2025127757A1 - Method for manufacturing nano-mesh membrane using ion beam irradiation process, nano-mesh membrane manufactured thereby, mask for lithography using same, optical filter for lithography process using same, patterning device including same, and optical device including same - Google Patents
Method for manufacturing nano-mesh membrane using ion beam irradiation process, nano-mesh membrane manufactured thereby, mask for lithography using same, optical filter for lithography process using same, patterning device including same, and optical device including same Download PDFInfo
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Definitions
- the present application relates to a method for manufacturing a membrane having a nano-mesh structure, and a nano-mesh membrane manufactured thereby, and more specifically, to a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
- next-generation exposure equipment using extreme ultraviolet lithography technology that uses extreme ultraviolet light with a wavelength of 13.5 nm as a light source is being developed. Since the light with a wavelength of 13.5 nm used in extreme ultraviolet lithography technology is absorbed by almost all substances, a reflective mask such as a mirror is used instead of a conventional transmissive mask. If impurities such as dust or foreign substances adhere to this mask, the light is absorbed or reflected by the impurities, damaging the transferred pattern and causing a problem of reduced performance or yield of semiconductor devices or liquid crystal displays.
- the mask for semiconductor lithography is an essential element for semiconductor performance, production efficiency, and technological advancement, and is a key component that greatly affects the success or failure of semiconductor manufacturing.
- the size of semiconductor circuits becomes smaller at the nanometer level, very precise patterns must be formed, and only when the mask is accurate can the patterns of transistors and circuits inside the chip be precisely implemented, and since one mask can repeatedly print patterns on multiple wafers, numerous chips with the same pattern can be mass-produced. Therefore, the higher the quality of the mask, the lower the defect rate and the higher the production efficiency.
- Korean Patent Publication No. 10-2020-0022677 discloses a step of manufacturing an insulator by imprinting having a pattern portion opposite to a mold, a step of surface-modifying an insulating film on which a pattern is formed into a hydrophilic film through plasma treatment, a conductive paste application step of applying conductive paste to a pattern portion formed on the insulator, and a step of filling conductive paste between patterns;
- a film on which a pattern is formed is surface-modified into hydrophilicity through plasma treatment, thereby improving the adhesiveness of a conductive paste.
- a film on which a pattern is formed is surface-modified into hydrophilicity through plasma treatment, thereby improving the adhesiveness of the conductive paste with conductive particles (silver, copper, aluminum, etc.) and a binder (resin, solvent) of the conductive paste, thereby improving the filling rate of the conductive paste in the electrode forming process in a nanometer-scale pattern during the electrode forming process.
- the technical problem that the present application seeks to solve is to provide a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process with a simplified manufacturing process, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
- Another technical problem to be solved by the present application is to provide a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process that is easy to mass-produce, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
- Another technical problem to be solved by the present application is to provide a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process with improved manufacturing yield, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
- Another technical problem that the present application seeks to solve is to provide a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process having a free-standing structure, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
- the present invention provides a method for manufacturing a nano mesh membrane.
- a method for manufacturing a nano-mesh membrane having a plurality of pores formed spaced apart from each other may include a step of preparing a base membrane, a step of forming a functional film on the base membrane, and a step of irradiating the base membrane with the functional film formed thereon with an ion beam, such that the ion beam penetrates the functional film and the base membrane, and a step of manufacturing the nano-mesh membrane having a plurality of pores generated in the process of the ion beam penetrating the functional film and the base membrane.
- the ion beam may include irradiating the functional film of the base membrane.
- the functional film may include one having higher electrical conductivity than the base membrane.
- the functional film may have a thickness thinner than the thickness of the base membrane.
- the ion beam may include at least one of gallium ions, argon ions, neon ions, helium ions, or hydrogen ions.
- the present application provides a nano mesh membrane.
- the nano-mesh membrane may include a base membrane, and a functional film formed of a material having higher conductivity than the base membrane and disposed on the base membrane, wherein a plurality of pores spaced apart from each other are provided penetrating the base membrane and the functional film, and the functional film may be provided on an upper surface of the base membrane, but not provided on sidewalls of the plurality of pores.
- a portion of the base membrane forming a side wall of the plurality of pores and a portion of the functional membrane forming a side wall of the plurality of pores may be coplanar with each other.
- the functional membrane may have a thickness thinner than that of the base membrane.
- the base membrane may include an insulating material.
- the present application provides a method of utilizing a nano mesh membrane.
- a method of manufacturing a nano-mesh membrane includes the steps of preparing the nano-mesh membrane according to the above-described embodiments, and the steps of irradiating light onto the nano-mesh membrane, wherein, in a wavelength band of the light irradiated onto the nano-mesh membrane, light of a target wavelength band may be transmitted through the nano-mesh membrane, and light of a wavelength band different from the target wavelength band may be blocked by the nano-mesh membrane.
- the present application provides a patterning method.
- the method may include the steps of preparing the nano-mesh membrane according to the embodiments described above, irradiating light onto the nano-mesh membrane, and causing a photosensitive membrane to react by the light transmitted through the nano-mesh membrane.
- the present application provides an optical device.
- the optical device may include a light source that generates light, the nano-mesh membrane according to any one of claims 6 to 9, onto which light generated from the light source is irradiated, and an optical system that guides the light transmitted through the nano-mesh membrane to a target.
- the present application provides an EUV lithography apparatus.
- the EUV lithography apparatus may include a light source that generates EUV light, and the nano-mesh membrane according to the above-described embodiments, onto which the EUV light generated from the light source is irradiated.
- a method for manufacturing a nano mesh membrane may include a step of preparing a base membrane, a step of forming a functional film on the base membrane, and a step of irradiating an ion beam onto the base membrane on which the functional film is formed, such that the ion beam penetrates the functional film and the base membrane, and a step of manufacturing the nano mesh membrane having a plurality of pores generated in the process of the ion beam penetrating the functional film and the base membrane.
- a nano-mesh membrane having a plurality of pores that are arranged regularly or irregularly and formed spaced apart from each other can be easily manufactured with a high yield through a simple process.
- the wavelength band of light transmitting through the nano mesh membrane and the wavelength band of light blocked can be controlled.
- light in a wavelength band smaller than the size of the pores can have high transmittance
- light in a wavelength band larger than the size of the pores can have low transmittance.
- FIG. 1 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first embodiment of the present application.
- FIG. 2 is a drawing for explaining a base membrane in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to the first embodiment of the present application.
- FIG. 3 is a drawing for explaining a nano mesh membrane manufactured according to a method for manufacturing a nano mesh membrane according to the first embodiment of the present application.
- FIG. 4 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first modified example of the first embodiment of the present application.
- FIG. 5 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second modified example of the first embodiment of the present application.
- FIG. 6 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a third modified example of the first embodiment of the present application.
- FIG. 7 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application.
- FIG. 8 is a drawing for explaining a base membrane in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application.
- FIG. 9 is a drawing for explaining the ion beam irradiation process in the method for manufacturing a nano mesh membrane according to the second embodiment of the present application.
- FIG. 10 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a first modified example of the second embodiment of the present application.
- FIGS. 11 and 12 are drawings for explaining a nano mesh membrane according to a second modified example of the second embodiment of the present application.
- FIG. 13 is a drawing for explaining the side walls of the pores of the nano mesh membrane according to the second modified example of the second embodiment of the present application.
- FIG. 14 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a third modified example of the second embodiment of the present application.
- FIG. 15 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a fourth modified example of the second embodiment of the present application.
- Figures 16 to 18 are SEM photographs of nano mesh membranes according to experimental examples of the present application.
- first, second, third, etc. have been used in various embodiments of the present specification to describe various components, these components should not be limited by such terms. Thus, what is referred to as a first component in one embodiment may be referred to as a second component in another embodiment.
- penetration and blocking are not interpreted as being limited to 100% penetration and 100% blocking, but are interpreted as having a penetration rate and blocking rate within a range acceptable to those skilled in the art.
- FIG. 1 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first embodiment of the present application
- FIG. 2 is a drawing for explaining a base membrane in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first embodiment of the present application
- FIG. 3 is a drawing for explaining a nano mesh membrane manufactured according to a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first embodiment of the present application.
- a base membrane (110) is prepared (S110).
- the base membrane (110) may have a plurality of first pores (114).
- the base membrane (110) may have a first network structure (112) defining a plurality of the first pores (114).
- the base membrane (110) may have the first network structure (112) of a lattice structure and may have a plurality of the first pores (114) defined by the first network structure (112).
- the shape of the plurality of first pores (114) may be, in a planar view, a square as shown in FIG. 2, or, unlike as shown in FIG. 2, may be formed into a circle, triangle, polygon, etc.
- the plurality of first pores (114) of the base membrane (110) may have the same shape and be arranged spaced apart from each other in a regular or irregular manner. Or, according to another embodiment, the plurality of first pores (114) of the base membrane (110) may have different shapes and be arranged spaced apart from each other in a regular or irregular manner.
- the base membrane (110) may be formed of a material usable in ultra-high vacuum and high temperature.
- the base membrane (110) may be a nickel mesh or a stainless steel mesh.
- the base membrane (110) may be formed of an insulating material (e.g., silicon nitride).
- a nano mesh membrane (120) having second pores (124) of a second size smaller than the first size of the first pore (114) can be manufactured (S120).
- the nano mesh membrane (120) may have pores of a smaller size compared to the base membrane (110), and may have substantially the same number of pores as the base membrane (110).
- the step of reducing the first size of the first pore (114) of the base membrane (110) may include forming a material film (121) on the side wall and upper surface of the first network structure (112) of the base membrane (110).
- the material film (121) is formed on at least a side wall of the first network structure (112) of the base membrane (110), so that the first pore (114) of the first size can be changed into the second pore (124) of the second size. Accordingly, the thickness of the material film (121) can have a thickness smaller than half the size of the first pore (114) so as to fill a part of the first pore (114) rather than all of it.
- the material film (121) may be formed using a vacuum process such as electron beam deposition, thermal deposition, or sputtering to ensure stability in ultra-high vacuum and high temperature.
- the material film (121) may be formed using a vacuum-based deposition process rather than deposition by a chemical method (e.g., solution process), and thus, the material film (121) may have high reliability in ultra-high vacuum and high temperature environments.
- the material film (121) may be formed by a self-assembly process of coating self-assembling molecules on the base membrane (110) and performing a heat treatment.
- the material film (121) may be formed on at least a side wall of the first network structure (112) of the base membrane (110), so that the nano mesh membrane (120) may be formed, and the nano mesh membrane (120) may have a second network structure (122) defining the second pores (124).
- the thickness of the material film (121) can be controlled by a method of controlling process variables in a vacuum deposition process, and the size of the second pores (124) of the nano mesh membrane (120) can be easily controlled by a method of controlling the thickness of the material film (121).
- the material film (121) may be formed of a material that can easily conformally cover the base membrane (110) having the first pores (114).
- the material film (121) may be formed using a vacuum deposition process with excellent coverage, such as an atomic layer deposition process.
- the nano mesh membrane (120) can be used as a mask for a lithography process. Specifically, it can be used as a mask for a lithography process using EUV light, ArF light, electron beam, UV, DUV, X-ray, etc.
- the material film (121) can be formed of a conductive material. Accordingly, electrons can be prevented from accumulating in the nano mesh membrane (120) during the electron beam lithography process, and the lifespan of the nano mesh membrane (120) can be extended.
- an interfacial bonding layer (123) may be formed before forming the first material film (121) on the first network structure (122) of the base membrane (110).
- an interfacial bonding layer (123) may be formed before forming the first material film (121) on the first network structure (122) of the base membrane (110).
- FIG. 4 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first modified example of the first embodiment of the present application.
- an interfacial bonding layer (123) may be formed on the first network structure (122) of the base membrane (110), and the first material film (121) may be formed on the interfacial bonding layer (123).
- the thickness of the interfacial bonding layer (123) may be thinner than the thickness of the material film (121).
- the sum of the thicknesses of the interfacial bonding layer (123) and the material film (121) may have a thickness smaller than half the size of the first pore (114) so as to fill only a part of, but not all, the first pore (114) of the base membrane (110).
- the base membrane (110) may be pretreated.
- FIG. 5 a second modified example of the first embodiment of the present application will be described.
- FIG. 5 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second modified example of the first embodiment of the present application.
- the base membrane (110) may be pretreated (130).
- the material film (121) may be formed by the method described with reference to FIGS. 1 to 3.
- the pretreatment (130) of the base membrane (110) may include at least one of ozone treatment of the surface of the base membrane (110), irradiating the surface of the base membrane (110) with an ion beam (e.g., gallium ion, argon ion, neon ion, helium ion, hydrogen ion), heat treatment of the base membrane (110), or hydrogen treatment (hydrogen radical treatment, hydrogen plasma treatment) of the base membrane (110).
- an ion beam e.g., gallium ion, argon ion, neon ion, helium ion, hydrogen ion
- heat treatment of the base membrane (110) e.g., heat treatment of the base membrane (110)
- hydrogen treatment hydrogen radical treatment, hydrogen plasma treatment
- the base membrane (110) may be irradiated with an ion beam, and then the base membrane (110) may be heat-treated.
- the material film (121) may be easily formed on the side wall of the first network structure (112) of the base membrane (110), and accordingly, by forming the material film (121) on the base membrane (110), the nano-mesh membrane (120) having smaller pores than the base membrane (110) may be easily formed.
- the ion beam when irradiating the base membrane (110) with an ion beam, in order to prevent the ion beam from being concentratedly irradiated to only one area of the base membrane (110) due to the directionality of the ion beam, the ion beam may be irradiated while the base membrane (110) rotates about the normal direction of the upper surface of the base membrane (110) as the rotation axis. As a result, the plus deviation of the ion beam irradiated to each area of the base membrane (110) may be eliminated.
- the ion beam may be irradiated while rotating in a state where the irradiation direction of the ion beam and the normal direction of the upper surface of the base membrane (110) are arranged to intersect each other (or form an acute angle).
- the side wall of the first pore (114) of the base membrane (110) may be in a tilted state.
- FIG. 6 a third modified example of the first embodiment of the present application will be described.
- FIG. 6 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a third modified example of the first embodiment of the present application.
- the nano mesh membrane (120) is manufactured, but the sidewall of the first pore (114) defined by the first network structure (112) of the base membrane (110) (the sidewall of the first network structure (112)) may be in a tilted state.
- the width of the first pore (114) in the region adjacent to the first surface may be wider than the width of the first pore (114) in the region adjacent to the second surface of the base membrane (120) facing the first surface.
- the material film (121) can be easily formed on the inclined sidewall of the first network structure (112).
- the width of the first pore (114) is constant (in other words, when the side wall of the first network structure (112) defining the first pore (114) is not inclined), it may not be easy to form the material film (121) on the side wall of the first network structure (112), and thus, the nano mesh membrane (120) having smaller pores than the base membrane (110) may not be easily manufactured.
- the side wall of the first network structure (112) of the base membrane (110) can be provided in an inclined state, and thus, the material film (121) can be easily formed on the inclined side wall.
- the material film (121) is easily formed on the side wall of the first network structure (112), and thus, the nano mesh membrane (120) can be easily formed.
- the side wall of the first network structure (112) may be formed in an inclined state.
- an area adjacent to the first surface of the base membrane (110) is etched due to the irradiation of the focused ion beam, so that, as described above, the width of the first pore (114) in the area adjacent to the first surface may become wider than the width of the first pore (114) in the area adjacent to the second surface.
- FIG. 7 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application
- FIG. 8 is a drawing for explaining a base membrane in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application
- FIG. 9 is a drawing for explaining an ion beam irradiation process in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application.
- a base membrane (210) is prepared (S210).
- the base membrane (210) may be a substrate or base material in a flat plate shape without pores, as shown in FIG. 8. However, it is not excluded that some pores exist inside the base membrane (210).
- the base membrane (210) may be formed of silicon nitride (ex. Si3N4).
- a nano mesh membrane (220) having a plurality of pores (224) can be manufactured (S220).
- the ion beam (225) may include, for example, gallium ions, ions of an inert gas (helium, argon, or neon), or hydrogen ions. If the intensity of the ion beam (225) is excessively strong, the base membrane (210) may be damaged, and if the intensity of the ion beam (225) is excessively weak, excessive time may be required to manufacture the nano mesh membrane (220), resulting in high costs. According to one embodiment, if the ion beam (225) is a gallium ion beam, the energy of the gallium ion beam may be 5 to 30 KV and the intensity may be 1 pA to 65 nA.
- the ion beam (225) may be a focused ion beam or a wide-area ion beam.
- the nano mesh membrane (220) can be easily manufactured by a simple method of irradiating the base membrane (210) with the ion beam (225).
- the size and arrangement of the pores (224) of the nano mesh membrane (220) can be easily controlled by a simple method of controlling the type, intensity, and energy of the ion beam (225).
- a coating layer may be formed on the nano mesh membrane (220).
- Au, Pt, etc. may be formed as the coating layer, and the coating layer may be formed using a vacuum deposition process such as electron beam deposition, thermal deposition, or sputtering.
- the nano mesh membrane (220) may be utilized as a filter that blocks X-rays, ultraviolet rays, visible light, infrared rays, etc., and transmits EUV light.
- the nano mesh membrane (220) manufactured according to the second embodiment of the present application may be defined as the base membrane (110) according to the first embodiment of the present application described with reference to FIGS. 1 to 3. That is, the material film (121) is formed on the base membrane (110) having the first pores (114) generated by irradiating the ion beam (225), so that the nano mesh membrane (120) having the second pores (124) smaller than the first pores (114) may be formed.
- the nano mesh membrane (220) manufactured according to the modified examples of the second embodiment described below may also be defined as the base membrane (110) according to the first embodiment of the present application described with reference to FIGS. 1 to 3.
- doping ions may be provided within the network structure defining the pores (224) of the nano mesh membrane (220).
- the doping ions may be residual ions used in the irradiation of the ion beam (225).
- the doping ions may include at least one of gallium ions, argon ions, neon ions, helium ions, or hydrogen ions.
- nano mesh membrane (220) was formed by irradiating the ion beam (225).
- the base membrane (220) may have a plurality of concave portions.
- FIG. 10 a first modified example of the second embodiment of the present application will be described.
- FIG. 10 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a first modified example of the second embodiment of the present application.
- the base membrane (210) may include a plurality of concave portions spaced apart from each other.
- the ion beam (225) may be irradiated onto the base membrane (210) to manufacture the nano mesh membrane (220).
- the nano mesh membrane (220) having a plurality of pores (224) generated in the process of the ion beam (225) passing through the plurality of concave portions of the base membrane (210) and the ion beam (225) passing through the plurality of concave portions of the base membrane (210) may be manufactured.
- the base membrane (210) having a plurality of the above-described concave portions can be formed by an imprinting method. That is, when forming pores penetrating the inside by an imprinting method, the base membrane (210) can be damaged due to excessive pressure application.
- the base membrane (210) can have the above-described concave portions, and the ion beam (225) is irradiated onto the base membrane (210) having the above-described concave portions, so that the nano-mesh membrane (220) having the pores (224) penetrating the inside can be easily manufactured.
- a functional film (230) may be formed on the base membrane (220).
- a functional film 230
- FIGS. 11 and 12 a second modified example of the second embodiment of the present application will be described.
- FIG. 11 and FIG. 12 are drawings for explaining a nano mesh membrane according to a second modified example of the second embodiment of the present application
- FIG. 13 is a drawing for explaining a side wall of a pore of a nano mesh membrane according to a second modified example of the second embodiment of the present application.
- the base membrane (210) may be provided as described with reference to FIGS. 7 to 9, and a functional film (230) may be formed on the base membrane (210).
- the functional film (230) may be a conductive metal film.
- the functional film (230) may be formed of a material having higher conductivity than the base membrane (210).
- the functional film (230) may include platinum (Pt).
- the functional film (230) may be formed to conformally cover the base membrane (210) by a sputtering method, and the thickness of the functional film (230) may be 5 to 10 nm.
- the base membrane (210) can be irradiated with the ion beam (225) as described with reference to FIGS. 7 to 9.
- the base membrane (210) is formed of a non-conductive material (e.g., Si3N4), it is not easy to manufacture the nano-mesh membrane (220) by irradiating the ion beam (225). In other words, if ions are accumulated (charging effect) by the ion beam (225) inside the non-conductive base membrane (210), the subsequent focusing and path of the ion beam (225) may be disturbed.
- the functional film (230) having conductivity as described above is formed on the base membrane (210), the phenomenon of ion accumulation can be minimized, and thus, the nano mesh membrane (220) can be easily formed with the ion beam (225).
- the thickness of the functional film (230) may be thinner than the thickness of the base membrane (210), and for example, the thickness of the functional film (230) may be 5 to 10 nm as described above.
- the base membrane (210) is silicon nitride
- the functional film (230) is platinum
- the ion beam (225) contains gallium ions
- a nano mesh membrane (220) having a line width of 100 nm can be manufactured.
- the step of forming the functional film (230) and the step of irradiating the ion beam (225) can be performed repeatedly and alternately. Accordingly, the phenomenon of ions accumulating inside the base membrane (210) due to loss of the functional film (230) during the irradiation process of the ion beam (225) can be minimized.
- the pores (224) formed by the ion beam (225) may be arranged spaced apart from each other and may be provided by penetrating the base membrane (210) and the functional film (230). In addition, as described above, after the functional film (230) is formed on the base membrane (210), the pores (224) are formed by irradiation with the ion beam (225), so that the functional film (230) may not be provided on the side walls of a plurality of the pores (224).
- a portion (210s) of the base membrane (210) forming the side walls of the plurality of pores (224) and a portion (230s) of the functional membrane (230) forming the side walls of the plurality of pores (230) may be coplanar with each other.
- a plurality of pores (230) can be formed by the ion beam (225) that sequentially passes through the functional film (230) and the base membrane (210), and as a result, a part (210s) of the base membrane (210) forming the side walls of the plurality of pores (224) and a part (230s) of the functional film (230) forming the side walls of the plurality of pores (230) can form a coplanar surface with each other.
- the base membrane (220) can rotate during the process in which the ion beam (225) is irradiated onto the base membrane (220).
- the base membrane (220) can rotate during the process in which the ion beam (225) is irradiated onto the base membrane (220).
- FIG. 14 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a third modified example of the second embodiment of the present application.
- the base membrane (210) is provided as described with reference to FIGS. 7 to 9, and the base membrane (210) can rotate during the process of irradiating the ion beam (225) to the base membrane (210).
- the ion beam (225) may be irradiated while the base membrane (210) rotates with the normal direction (240) of the upper surface of the base membrane (210) as the rotation axis.
- the positive deviation of the ion beam (225) irradiated to each area of the base membrane (210) may be eliminated.
- the ion beam (225) may be irradiated while rotating in a state where the irradiation direction of the ion beam (225) and the normal direction (240) of the upper surface of the base membrane (210) are arranged to intersect each other (or form an acute angle).
- a material film may be additionally formed according to the first modified example of the present application described with reference to FIGS. 1 to 3.
- a fourth modified example of the second embodiment according to the embodiment of the present application will be described with reference to FIG. 15.
- FIG. 15 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a fourth modified example of the second embodiment of the present application.
- the functional film (230) is formed on the base membrane (210), and the ion beam (225) is irradiated, so that a plurality of pores (224) can be formed.
- a material film (240) can be formed in the same manner as the method for manufacturing the material film (121) according to the first embodiment of the present application described with reference to FIGS. 1 to 3.
- the material film (240) can cover the side walls of the pores (224), and the material film can cover the upper surface of the functional film (230). Accordingly, the size of the pores (224) can be reduced, and the size of the pores (224) can be controlled by a simple method for controlling the thickness of the material film (240).
- the doping ions injected by the ion beam (225) may be provided within the functional film (230) and/or the base membrane (210), and the doping ions may include, for example, at least one of gallium ions, argon ions, neon ions, helium ions, or hydrogen ions. On the other hand, the doping ions may not be provided within the material film (240) formed after the ion beam (225) is injected.
- the material film (240) is formed by a material and manufacturing process that can be easily thickness-controlled and conformally manufactured to reduce the pore size of the membrane in which the pores (224) are already formed, as described with reference to FIGS. 1 to 3.
- the functional film (230) may be formed of a material having high electrical conductivity compared to the material film (240).
- the functional film (230) having relatively high conductivity and the material film (240) having relatively low conductivity may be sequentially provided on the upper surface of the base membrane (210), and the material film (240) may be provided on the sidewall of the pore (224).
- the material film (121) may be formed of the same conductive material as the functional film (230).
- a conductive material having a relatively thick thickness may be provided on the upper surface of the base membrane (210), and a conductive material having a relatively thin thickness may be provided on the side walls of the pores (224).
- Figures 16 to 18 are SEM photographs of nano mesh membranes according to experimental examples of the present application.
- a silicon nitride membrane having a thickness of 100 nm was prepared as a base membrane. Platinum was deposited as a functional film on the silicon nitride membrane to a thickness of 5 to 10 nm using a sputtering process.
- a gallium ion beam was irradiated at 30 kV to form pores penetrating the silicon nitride membrane on which platinum was formed.
- pores of various shapes can be formed and pores of various sizes can be easily formed.
- the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modified examples can be utilized as an optical filter. More specifically, when light is irradiated to the nano-mesh membrane, and in the wavelength band of the light irradiated to the nano-mesh membrane, light of a target wavelength band can transmit through the nano-mesh membrane, and light of a wavelength band different from the target wavelength band can be blocked by the nano-mesh membrane.
- the light of the target wavelength band can be EUV light
- the light of the other wavelength band can be hard X-ray.
- the thickness of the base membrane and/or the functional film constituting the nano-mesh membrane is too thin, or when the material constituting the base membrane and/or the functional film is not suitable for blocking light of the other wavelength band, by a method of forming a material film suitable for blocking light of the other wavelength band with a sufficient thickness, the light of the other wavelength band can be easily blocked.
- the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modifications can be used in a patterning process. More specifically, the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modifications is prepared, and light (e.g., EUV, ArF, ion beam, electron beam, visible light, UV, soft x-ray (including water window), hard x-ray, etc.) is irradiated onto the nano-mesh membrane, and a light-sensitive film (e.g., photoresist) can react by the light transmitted through the nano-mesh membrane.
- a light-sensitive film e.g., photoresist
- the nano-mesh membrane according to the above-described embodiments and modifications can be used as a mask for a patterning process (lithography process) using an electron beam.
- the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modified examples can be used as a filter (e.g., a pellicle) that filters light. More specifically, the nano-mesh membrane can have remarkably high transmittance for light of a first wavelength band to be transmitted (e.g., EUV) and remarkably low transmittance for light of a second wavelength band to be blocked (e.g., UV, visible light, X-rays, infrared, etc.).
- a first wavelength band to be transmitted e.g., EUV
- a second wavelength band e.g., UV, visible light, X-rays, infrared, etc.
- the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modifications may be included in an optical device.
- light may be irradiated to the nano-mesh membrane by a light source that generates light, and an optical system that guides the light transmitted through the nano-mesh membrane to a target may be included in the optical device.
- the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modifications may include an EUV lithography apparatus.
- EUV light may be provided to the nano-mesh membrane by a light source that generates EUV light.
- the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modified examples can be utilized to manufacture other filters.
- the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modified examples can be manufactured into a filter by patterning a photosensitive film on a material film using a patterning process (e.g., EUV, ArF, electron beam, etc.) as a mask, and etching the material film using the patterned photosensitive pattern of the photosensitive film as a mask.
- a patterning process e.g., EUV, ArF, electron beam, etc.
- nano-mesh membrane manufactured according to the embodiments and modifications described above can be used to perform the role of a filter that performs the physical function of filtering particles.
- Nano mesh membranes according to embodiments of the present invention can be used for various purposes, such as lithography processes, optical filters, particle filters, and masks for filter production.
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Abstract
Description
본 출원은 나노 메쉬 구조의 멤브레인의 제조 방법, 이에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인에 관련된 것으로, 보다 상세하게는, 이온빔 조사 공정을 이용한 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법, 이에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인, 이를 이용한 리소그래피용 마스크, 이를 이용한 리소그래피 공정용 광학 필터, 이를 포함하는 패터닝 장치, 및 이를 포함하는 광학 장치에 관련된 것이다. The present application relates to a method for manufacturing a membrane having a nano-mesh structure, and a nano-mesh membrane manufactured thereby, and more specifically, to a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
반도체 디바이스의 회로 선폭이 급격히 미세화 됨에 따라, 현재 사용되고 있는 193nm 파장대의 광원을 사용하는 액침 ArF 노광 장비로 미세 패턴을 형성하는 데 한계가 있다. 광원 및 노광 장비의 개선이 없이 미세 패턴을 형성하기 위하여 2중 노광 또는 4중 노광 등의 기술을 적용하고 있지만, 이는 대량생산이 중요한 반도체 디바이스 제조에서 공정 횟수의 증가, 공정 가격의 증가, 시간당 처리 매수의 감소 등과 같은 문제점을 야기시킨다.As the circuit line width of semiconductor devices is rapidly miniaturized, there is a limit to forming fine patterns with the immersion ArF exposure equipment using the light source of the 193 nm wavelength currently in use. In order to form fine patterns without improving the light source and exposure equipment, technologies such as double exposure or quadruple exposure are being applied, but this causes problems such as an increase in the number of processes, an increase in process prices, and a decrease in the number of processing units per hour in semiconductor device manufacturing where mass production is important.
이러한 문제점을 해결하기 위해, 13.5nm 파장의 극자외선을 광원으로 사용하는 극자외선 리소그래피 기술을 적용한 차세대 노광 장비가 개발되고 있다. 극자외선 리소그래피 기술에서 사용하는 13.5 nm 파장의 빛은 거의 모든 물질에서 흡수되기 때문에, 기존 투과형 마스크가 아닌 거울과 같은 반사형 마스크가 사용된다. 이 마스크에 먼지 또는 이물질 등 불순물이 부착되어 있으면 이 불순물로 인하여 빛이 흡수되거나 반사되기 때문에 전사한 패턴이 손상되어 반도체 장치 또는 액정 표시판 등의 성능이나 수율의 저하를 초래하게 되는 문제가 발생한다.To solve these problems, next-generation exposure equipment using extreme ultraviolet lithography technology that uses extreme ultraviolet light with a wavelength of 13.5 nm as a light source is being developed. Since the light with a wavelength of 13.5 nm used in extreme ultraviolet lithography technology is absorbed by almost all substances, a reflective mask such as a mirror is used instead of a conventional transmissive mask. If impurities such as dust or foreign substances adhere to this mask, the light is absorbed or reflected by the impurities, damaging the transferred pattern and causing a problem of reduced performance or yield of semiconductor devices or liquid crystal displays.
한편, 반도체 리소그래피용 마스크는 반도체 성능, 생산 효율성, 기술 발전을 위한 필수적인 요소이며, 반도체 제조의 성공 여부에 큰 영향을 미치는 핵심 부품으로, 반도체 회로의 크기가 나노미터 수준으로 작아질수록, 매우 정밀한 패턴을 형성해야 하며, 마스크가 정확해야만 칩 내부의 트랜지스터, 회로 등의 패턴을 정밀하게 구현할 수 있고, 한 장의 마스크로 여러 장의 웨이퍼에 패턴을 반복적으로 인쇄할 수 있으므로, 동일한 패턴의 수많은 칩을 대량 생산할 수 있어 마스크의 품질이 높을수록 불량률이 줄어들고, 생산 효율이 높아진다. Meanwhile, the mask for semiconductor lithography is an essential element for semiconductor performance, production efficiency, and technological advancement, and is a key component that greatly affects the success or failure of semiconductor manufacturing. As the size of semiconductor circuits becomes smaller at the nanometer level, very precise patterns must be formed, and only when the mask is accurate can the patterns of transistors and circuits inside the chip be precisely implemented, and since one mask can repeatedly print patterns on multiple wafers, numerous chips with the same pattern can be mass-produced. Therefore, the higher the quality of the mask, the lower the defect rate and the higher the production efficiency.
반도체 리소그래피용 마스크 및 필터 등으로 활용될 수 있는 나노 메쉬 멤브레인 관련하여, 대한민국 특허공개공보 10-2020-0022677에는, 몰드와 역상의 패턴 부를 갖는 절연체를 제조하는 임프린팅에 의한 절연체 제조 단계, 패턴이 형성된 절연 필름에 플라즈마 처리를 통하여 친수성으로 표면개질을 실시하는 단계, 절연체 상에 형성되는 패턴부에 전도성 페이스트를 도포하는 전도성 페이스트 도포단계, 패턴 사이에 전도성 페이스트 충진 단계; 남은 잔여 페이스트를 제거하는 잔여 페이스트 제거 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 롤투롤 임프린트 공 정에서 표면처리를 통한 나노 메탈메쉬 제조 방법이 개시되어 있으며, 이에 따르면, 롤투롤 나노 임프린트 공정을 통해 메탈 메쉬 제작시에 패턴이 형성된 필름에 플라즈마 처리를 통하여 친 수성으로 표면개질을 실시하여 전도성 페이스트의 접착력을 향상시킬 수 있고, 패턴이 형성된 필름에 플라즈마 처리를 통하여 친수성으로 표면개질을 실시하여 전도성 페이스트의 전도 성 입자(은, 구리, 알루미늄 등) 및 바인더 (레진, 용매)와 접착력을 향상시켜 전극의 형성 과정에서 나노미터 급 패턴에 전극 형성 공정 시 전도성 페이스트 충진율을 향상시킬 수 있다.Regarding a nano mesh membrane that can be utilized as a mask and filter for semiconductor lithography, Korean Patent Publication No. 10-2020-0022677 discloses a step of manufacturing an insulator by imprinting having a pattern portion opposite to a mold, a step of surface-modifying an insulating film on which a pattern is formed into a hydrophilic film through plasma treatment, a conductive paste application step of applying conductive paste to a pattern portion formed on the insulator, and a step of filling conductive paste between patterns; A method for manufacturing a nano metal mesh through surface treatment in a roll-to-roll imprint process, characterized by including a residual paste removing step for removing the remaining residual paste, is disclosed. According to the method, when manufacturing a metal mesh through the roll-to-roll nano imprint process, a film on which a pattern is formed is surface-modified into hydrophilicity through plasma treatment, thereby improving the adhesiveness of a conductive paste. In addition, a film on which a pattern is formed is surface-modified into hydrophilicity through plasma treatment, thereby improving the adhesiveness of the conductive paste with conductive particles (silver, copper, aluminum, etc.) and a binder (resin, solvent) of the conductive paste, thereby improving the filling rate of the conductive paste in the electrode forming process in a nanometer-scale pattern during the electrode forming process.
본 출원이 해결하고자 하는 일 기술적 과제는, 제조 공정이 간소화된 이온빔 조사 공정을 이용한 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법, 이에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인, 이를 이용한 리소그래피용 마스크, 이를 이용한 리소그래피 공정용 광학 필터, 이를 포함하는 패터닝 장치, 및 이를 포함하는 광학 장치를 제공하는 데 있다. The technical problem that the present application seeks to solve is to provide a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process with a simplified manufacturing process, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
본 출원이 해결하고자 하는 다른 기술적 과제는, 대량 생산이 용이한 이온빔 조사 공정을 이용한 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법, 이에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인, 이를 이용한 리소그래피용 마스크, 이를 이용한 리소그래피 공정용 광학 필터, 이를 포함하는 패터닝 장치, 및 이를 포함하는 광학 장치를 제공하는 데 있다. Another technical problem to be solved by the present application is to provide a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process that is easy to mass-produce, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
본 출원이 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 제조 수율이 향상된 이온빔 조사 공정을 이용한 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법, 이에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인, 이를 이용한 리소그래피용 마스크, 이를 이용한 리소그래피 공정용 광학 필터, 이를 포함하는 패터닝 장치, 및 이를 포함하는 광학 장치를 제공하는 데 있다. Another technical problem to be solved by the present application is to provide a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process with improved manufacturing yield, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
본 출원이 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 프리스탠딩(Free standing) 구조를 갖는 이온빔 조사 공정을 이용한 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법, 이에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인, 이를 이용한 리소그래피용 마스크, 이를 이용한 리소그래피 공정용 광학 필터, 이를 포함하는 패터닝 장치, 및 이를 포함하는 광학 장치를 제공하는 데 있다. Another technical problem that the present application seeks to solve is to provide a method for manufacturing a nano-mesh membrane using an ion beam irradiation process having a free-standing structure, a nano-mesh membrane manufactured thereby, a lithography mask using the same, an optical filter for a lithography process using the same, a patterning device including the same, and an optical device including the same.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 상술된 것에 제한되지 않는다. The technical problems to be solved by the present invention are not limited to those described above.
상기 기술적 과제들을 해결하기 위하여, 본 발명은 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 제공한다. In order to solve the above technical problems, the present invention provides a method for manufacturing a nano mesh membrane.
일 실시 예에 따르면, 서로 이격되어 형성된 복수의 기공을 갖는 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에 있어서, 상기 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법은, 베이스 멤브레인을 준비하는 단계, 상기 베이스 멤브레인 상에, 기능성막을 형성하는 단계, 및 상기 기능성막 형성된 상기 베이스 멤브레인에 이온빔을 조사하여, 상기 이온빔이 상기 기능성막 및 상기 베이스 멤브레인을 투과하고, 상기 이온빔이 상기 기능성막 및 상기 베이스 멤브레인을 투과하는 과정에서 생성된 복수의 상기 기공을 갖는 상기 나노 메쉬 멤브레인을 제조하는 단계를 포함할 수 있다. According to one embodiment, a method for manufacturing a nano-mesh membrane having a plurality of pores formed spaced apart from each other may include a step of preparing a base membrane, a step of forming a functional film on the base membrane, and a step of irradiating the base membrane with the functional film formed thereon with an ion beam, such that the ion beam penetrates the functional film and the base membrane, and a step of manufacturing the nano-mesh membrane having a plurality of pores generated in the process of the ion beam penetrating the functional film and the base membrane.
일 실시 예에 따르면, 상기 이온빔은, 상기 베이스 멤브레인의 상기 기능성막으로 조사되는 것을 포함할 수 있다. In one embodiment, the ion beam may include irradiating the functional film of the base membrane.
일 실시 예에 따르면, 상기 기능성막은 상기 베이스 멤브레인보다 높은 전기 전도성을 갖는 것을 포함할 수 있다. According to one embodiment, the functional film may include one having higher electrical conductivity than the base membrane.
일 실시 예에 따르면, 상기 기능성막은 상기 베이스 멤브레인의 두께보다 얇은 두께를 갖는 것을 포함할 수 있다. According to one embodiment, the functional film may have a thickness thinner than the thickness of the base membrane.
일 실시 예에 따르면, 상기 이온빔은 갈륨 이온, 아르곤 이온, 네온 이온, 헬륨 이온, 또는 수소 이온 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the ion beam may include at least one of gallium ions, argon ions, neon ions, helium ions, or hydrogen ions.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원은 나노 메쉬 멤브레인을 제공한다. To solve the above technical problems, the present application provides a nano mesh membrane.
일 실시 예에 따르면, 상기 나노 메쉬 멤브레인은, 베이스 멤브레인, 및 상기 베이스 멤브레인 상에 배치되고, 상기 베이스 멤브레인보다 높은 전도성을 갖는 물질로 형성되는 기능성막을 포함하되, 서로 이격되어 배치된 복수의 기공이 상기 베이스 멤브레인 및 상기 기능성막을 관통하여 제공되고, 상기 기능성막은, 상기 베이스 멤브레인의 상부면 상에 제공되되, 복수의 상기 기공의 측벽 상에는 비 제공되는 것을 포함할 수 있다. According to one embodiment, the nano-mesh membrane may include a base membrane, and a functional film formed of a material having higher conductivity than the base membrane and disposed on the base membrane, wherein a plurality of pores spaced apart from each other are provided penetrating the base membrane and the functional film, and the functional film may be provided on an upper surface of the base membrane, but not provided on sidewalls of the plurality of pores.
일 실시 예에 따르면, 복수의 상기 기공의 측벽을 이루는 상기 베이스 멤브레인의 일부분, 및 복수의 상기 기공의 측벽을 이루는 상기 기능성막의 일부분은 서로 공면(coplanar)을 이루는 것을 포함할 수 있다. According to one embodiment, a portion of the base membrane forming a side wall of the plurality of pores and a portion of the functional membrane forming a side wall of the plurality of pores may be coplanar with each other.
일 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인의 두께보다, 상기 기능성막의 두께가 얇은 것을 포함할 수 있다. According to one embodiment, the functional membrane may have a thickness thinner than that of the base membrane.
일 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인은 절연성 물질을 포함할 수 있다. According to one embodiment, the base membrane may include an insulating material.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원은 나노 메쉬 멤브레인의 이용 방법을 제공한다. To solve the above technical problems, the present application provides a method of utilizing a nano mesh membrane.
일 실시 예에 따르면, 상술된 실시 예들 따른 상기 나노 메쉬 멤브레인을 준비하는 단계, 및 상기 나노 메쉬 멤브레인에 광을 조사하는 단계를 포함하되, 상기 나노 메쉬 멤브레인으로 조사된 광의 파장 대역에서, 목표 파장 대역의 광은 상기 나노 메쉬 멤브레인을 투과하고, 상기 목표 파장 대역과 다른 파장 대역의 광은 상기 나노 메쉬 멤브레인에 의해 차단되는 것을 포함할 수 있다. According to one embodiment, a method of manufacturing a nano-mesh membrane includes the steps of preparing the nano-mesh membrane according to the above-described embodiments, and the steps of irradiating light onto the nano-mesh membrane, wherein, in a wavelength band of the light irradiated onto the nano-mesh membrane, light of a target wavelength band may be transmitted through the nano-mesh membrane, and light of a wavelength band different from the target wavelength band may be blocked by the nano-mesh membrane.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원은 패터닝 방법을 제공한다. To solve the above technical problems, the present application provides a patterning method.
일 실시 예에 따르면, 상술된 실시 예들에 따른 상기 나노 메쉬 멤브레인을 준비하는 단계, 상기 나노 메쉬 멤브레인에 광을 조사하는 단계, 상기 나노 메쉬 멤브레인을 투과한 광에 의해, 광 감응성 막이 반응하는 단계를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the method may include the steps of preparing the nano-mesh membrane according to the embodiments described above, irradiating light onto the nano-mesh membrane, and causing a photosensitive membrane to react by the light transmitted through the nano-mesh membrane.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원은 광학 장치를 제공한다. To solve the above technical problems, the present application provides an optical device.
일 실시 예에 따르면, 상기 광학 장치는, 광을 생성하는 광원, 상기 광원에서 생성된 광이 조사되는, 제6항 내지 제9항 중 어느 한 항에 따른 상기 나노 메쉬 멤브레인, 및 상기 나노 메쉬 멤브레인을 투과한 광을 목표물로 가이드하는 광학계를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the optical device may include a light source that generates light, the nano-mesh membrane according to any one of claims 6 to 9, onto which light generated from the light source is irradiated, and an optical system that guides the light transmitted through the nano-mesh membrane to a target.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원은 EUV 리소그래피 장치를 제공한다. To solve the above technical problems, the present application provides an EUV lithography apparatus.
일 실시 예에 따르면, 상기 EUV 리소그래피 장치는, EUV 광을 생성하는 광원, 및 상기 광원에서 생성된 EUV 광이 조사되는 상술된 실시 예들에 따른 상기 나노 메쉬 멤브레인을 포함할 수 있다. According to one embodiment, the EUV lithography apparatus may include a light source that generates EUV light, and the nano-mesh membrane according to the above-described embodiments, onto which the EUV light generated from the light source is irradiated.
나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법은, 베이스 멤브레인을 준비하는 단계, 상기 베이스 멤브레인 상에, 기능성막을 형성하는 단계, 및 상기 기능성막이 형성된 상기 베이스 멤브레인에 이온빔을 조사하여, 상기 이온빔이 상기 기능성막 및 상기 베이스 멤브레인을 투과하고, 상기 이온빔이 상기 기능성막 및 상기 베이스 멤브레인을 투과하는 과정에서 생성된 복수의 상기 기공을 갖는 상기 나노 메쉬 멤브레인을 제조하는 단계를 포함할 수 있다. A method for manufacturing a nano mesh membrane may include a step of preparing a base membrane, a step of forming a functional film on the base membrane, and a step of irradiating an ion beam onto the base membrane on which the functional film is formed, such that the ion beam penetrates the functional film and the base membrane, and a step of manufacturing the nano mesh membrane having a plurality of pores generated in the process of the ion beam penetrating the functional film and the base membrane.
이에 따라, 규칙적 또는 불규칙적으로 배열되고, 서로 이격되어 형성된 복수의 기공을 갖는 나노 메쉬 멤브레인이 간소한 공정으로 용이하게 높은 수율로 제조될 수 있다. Accordingly, a nano-mesh membrane having a plurality of pores that are arranged regularly or irregularly and formed spaced apart from each other can be easily manufactured with a high yield through a simple process.
상기 나노 메쉬 멤브레인의 복수의 상기 기공의 크기에 따라서 상기 나노 메쉬 멤브레인을 투과하는 광의 파장 대역, 그리고 차단되는 광의 파장 대역이 제어될 수 있다. 구체적으로 예를 들어, 상기 기공의 크기보다 작은 파장 대역의 광은 높은 투과율을 가질 수 있고, 상기 기공의 크기보다 큰 파장 대역의 광은 낮은 투과율을 가질 수 있다. Depending on the sizes of the plurality of pores of the nano mesh membrane, the wavelength band of light transmitting through the nano mesh membrane and the wavelength band of light blocked can be controlled. Specifically, for example, light in a wavelength band smaller than the size of the pores can have high transmittance, and light in a wavelength band larger than the size of the pores can have low transmittance.
도 1은 본 출원의 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다. FIG. 1 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first embodiment of the present application.
도 2는 본 출원의 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에서 베이스 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 2 is a drawing for explaining a base membrane in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to the first embodiment of the present application.
도 3은 본 출원의 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 3 is a drawing for explaining a nano mesh membrane manufactured according to a method for manufacturing a nano mesh membrane according to the first embodiment of the present application.
도 4는 본 출원의 제1 실시 예의 제1 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 4 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first modified example of the first embodiment of the present application.
도 5는 본 출원의 제1 실시 예의 제2 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 5 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second modified example of the first embodiment of the present application.
도 6은 본 출원의 제1 실시 예의 제3 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 6 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a third modified example of the first embodiment of the present application.
도 7은 본 출원의 제2 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다. FIG. 7 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application.
도 8은 본 출원의 제2 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에서 베이스 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 8 is a drawing for explaining a base membrane in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application.
도 9는 본 출원의 제2 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에서 이온빔 조사 과정을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 9 is a drawing for explaining the ion beam irradiation process in the method for manufacturing a nano mesh membrane according to the second embodiment of the present application.
도 10은 본 출원의 제2 실시 예의 제1 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 10 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a first modified example of the second embodiment of the present application.
도 11 및 도 12는 본 출원의 제2 실시 예의 제2 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다.FIGS. 11 and 12 are drawings for explaining a nano mesh membrane according to a second modified example of the second embodiment of the present application.
도 13은 본 출원의 제2 실시 예의 제2 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 기공의 측벽을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 13 is a drawing for explaining the side walls of the pores of the nano mesh membrane according to the second modified example of the second embodiment of the present application.
도 14는 본 출원의 제2 실시 예의 제3 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 14 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a third modified example of the second embodiment of the present application.
도 15는 본 출원의 제2 실시 예의 제4 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 15 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a fourth modified example of the second embodiment of the present application.
도 16 내지 도 18은 본 출원의 실험 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 촬영한 SEM 사진들이다. Figures 16 to 18 are SEM photographs of nano mesh membranes according to experimental examples of the present application.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명할 것이다. 그러나 본 발명의 기술적 사상은 여기서 설명되는 실시 예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화 될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시 예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings. However, the technical idea of the present invention is not limited to the embodiments described herein and may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided so that the disclosed content can be thorough and complete and so that the idea of the present invention can be sufficiently conveyed to those skilled in the art.
본 명세서에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소 상에 있다고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 형성될 수 있거나 또는 그들 사이에 제 3의 구성요소가 개재될 수도 있다는 것을 의미한다. 또한, 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. In this specification, when it is mentioned that a component is on another component, it means that it can be formed directly on the other component, or a third component can be interposed between them. Also, in the drawings, the thickness of films and regions is exaggerated for the effective explanation of the technical contents.
또한, 본 명세서의 다양한 실시 예 들에서 제1, 제2, 제3 등의 용어가 다양한 구성요소들을 기술하기 위해서 사용되었지만, 이들 구성요소들이 이 같은 용어들에 의해서 한정되어서는 안 된다. 따라서, 어느 한 실시 예에 제 1 구성요소로 언급된 것이 다른 실시 예에서는 제 2 구성요소로 언급될 수도 있다. Additionally, although terms such as first, second, third, etc. have been used in various embodiments of the present specification to describe various components, these components should not be limited by such terms. Thus, what is referred to as a first component in one embodiment may be referred to as a second component in another embodiment.
여기에 설명되고 예시되는 각 실시 예는 그것의 상보적인 실시 예도 포함한다. 또한, 본 명세서에서 '및/또는'은 전후에 나열한 구성요소들 중 적어도 하나를 포함하는 의미로 사용되었다.Each embodiment described and illustrated herein also includes its complementary embodiment. Additionally, the term "and/or" is used herein to mean at least one of the elements listed before and after.
명세서에서 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다. 또한, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 구성요소 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 구성요소 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 배제하는 것으로 이해되어서는 안 된다. In the specification, singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. Also, terms such as "comprises" or "has" are intended to specify the presence of a feature, number, step, component, or combination thereof described in the specification, but should not be construed as excluding the possibility of the presence or addition of one or more other features, numbers, steps, components, or combinations thereof.
또한, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다.In addition, when describing the present invention below, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.
본 출원의 명세서에서, 투과 및 차단은, 100% 투과 및 100% 차단하는 것으로 한정되어 해석되지 않고, 당업자가 인정 가능한 범위에서의 투과율 및 차단율을 갖는 것으로 해석된다. In the specification of the present application, penetration and blocking are not interpreted as being limited to 100% penetration and 100% blocking, but are interpreted as having a penetration rate and blocking rate within a range acceptable to those skilled in the art.
도 1은 본 출원의 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이고, 도 2는 본 출원의 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에서 베이스 멤브레인을 설명하기 위한 도면이고, 도 3은 본 출원의 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 1 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first embodiment of the present application, FIG. 2 is a drawing for explaining a base membrane in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first embodiment of the present application, and FIG. 3 is a drawing for explaining a nano mesh membrane manufactured according to a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first embodiment of the present application.
도 1 및 도 2를 참조하면, 베이스 멤브레인(110)이 준비된다(S110). 상기 베이스 멤브레인(110)은 복수의 제1 기공(114)을 가질 수 있다. 상기 베이스 멤브레인(110)은 복수의 상기 제1 기공(114)을 정의하는 제1 네트워크 구조(112)를 가질 수 있다. 다시 말하면, 상기 베이스 멤브레인(110)은 격자 구조의 상기 제1 네트워크 구조(112)를 갖고, 상기 제1 네트워크 구조(112)에 의해 정의되는 복수의 상기 제1 기공(114)을 가질 수 있다. Referring to FIGS. 1 and 2, a base membrane (110) is prepared (S110). The base membrane (110) may have a plurality of first pores (114). The base membrane (110) may have a first network structure (112) defining a plurality of the first pores (114). In other words, the base membrane (110) may have the first network structure (112) of a lattice structure and may have a plurality of the first pores (114) defined by the first network structure (112).
복수의 상기 제1 기공(114)의 형상은, 평면적 관점에서, 도 2에 도시된 바와 같이, 사각형이거나, 또는 도 2에 도시된 바와 달리, 원형, 삼각형, 다각형 등으로 형성될 수 있다. The shape of the plurality of first pores (114) may be, in a planar view, a square as shown in FIG. 2, or, unlike as shown in FIG. 2, may be formed into a circle, triangle, polygon, etc.
일 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(110)의 복수의 상기 제1 기공(114)은 서로 동일한 형상을 갖고, 규칙적 또는 불규칙적으로 서로 이격되어 배열될 수 있다. 또는, 다른 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(110)의 복수의 상기 제1 기공(114)은 서로 다른 형상을 갖고, 규칙적 또는 불규칙적으로 서로 이격되어 배열될 수 있다. According to one embodiment, the plurality of first pores (114) of the base membrane (110) may have the same shape and be arranged spaced apart from each other in a regular or irregular manner. Or, according to another embodiment, the plurality of first pores (114) of the base membrane (110) may have different shapes and be arranged spaced apart from each other in a regular or irregular manner.
상기 베이스 멤브레인(110)은 초고진공 및 고온에서 사용 가능한 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 베이스 멤브레인(110)은 니켈 메쉬 또는 스텐인리스 스틸 메쉬일 수 있다. 또는, 다른 예를 들어, 상기 베이스 멤브레인(110)은 절연성 물질(ex. 실리콘 질화물)로 형성될 수 있다. The base membrane (110) may be formed of a material usable in ultra-high vacuum and high temperature. For example, the base membrane (110) may be a nickel mesh or a stainless steel mesh. Or, as another example, the base membrane (110) may be formed of an insulating material (e.g., silicon nitride).
계속해서 도 1 및 도 3을 참조하면, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 기공(114)의 제1 크기를 감소시켜, 상기 제1 기공(114)의 상기 제1 크기보다 작은 제2 크기의 제2 기공(124)을 갖는 나노 메쉬 멤브레인(120)이 제조될 수 있다(S120). Continuing with reference to FIGS. 1 and 3, by reducing the first size of the first pore (114) of the base membrane (110), a nano mesh membrane (120) having second pores (124) of a second size smaller than the first size of the first pore (114) can be manufactured (S120).
다시 말하면, 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)은 상기 베이스 멤브레인(110)과 비교하여 더 작은 크기의 기공을 가질 수 있고, 상기 베이스 멤브레인(110)과 실질적으로 동일한 개수의 기공을 가질 수 있다. In other words, the nano mesh membrane (120) may have pores of a smaller size compared to the base membrane (110), and may have substantially the same number of pores as the base membrane (110).
상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 기공(114)의 상기 제1 크기를 감소시키는 단계는, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(112)의 측벽, 및 상부면 상에 물질막(121)을 형성하는 것을 포함할 수 있다. The step of reducing the first size of the first pore (114) of the base membrane (110) may include forming a material film (121) on the side wall and upper surface of the first network structure (112) of the base membrane (110).
다시 말하면, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(112)의 적어도 측벽 상에 상기 물질막(121)이 형성되어, 상기 제1 크기의 상기 제1 기공(114)이 상기 제2 크기의 상기 제2 기공(124)으로 변화될 수 있다. 따라서, 상기 물질막(121)의 두께는 상기 제1 기공(114) 전부를 채우지 않고 일부를 채우도록, 상기 제1 기공(114)의 크기의 절반보다 작은 두께를 가질 수 있다. In other words, the material film (121) is formed on at least a side wall of the first network structure (112) of the base membrane (110), so that the first pore (114) of the first size can be changed into the second pore (124) of the second size. Accordingly, the thickness of the material film (121) can have a thickness smaller than half the size of the first pore (114) so as to fill a part of the first pore (114) rather than all of it.
상기 물질막(121)은 초고진공 및 고온에서 안정성을 갖도록, 전자빔 증착, 열 증착, 또는 스퍼터링 등의 진공 공정을 이용하여 형성될 수 있다. 다시 말하면, 화학적 방법(예를 들어 용액 공정)에 의한 증착보다는, 진공 기반의 증착 공정을 이용하여 상기 물질막(121)이 형성될 수 있고, 이로 인해 상기 물질막(121)이 초고진공 환경 및 고온 환경에서 높은 신뢰성을 가질 수 있다. The material film (121) may be formed using a vacuum process such as electron beam deposition, thermal deposition, or sputtering to ensure stability in ultra-high vacuum and high temperature. In other words, the material film (121) may be formed using a vacuum-based deposition process rather than deposition by a chemical method (e.g., solution process), and thus, the material film (121) may have high reliability in ultra-high vacuum and high temperature environments.
또는, 일 실시 예에 따르면, 상기 물질막(121)은 상기 베이스 멤브레인(110)에 자기조립 가능한 분자를 코팅하고, 열처리하는 자기조립 공정으로 형성될 수 있다. Alternatively, according to one embodiment, the material film (121) may be formed by a self-assembly process of coating self-assembling molecules on the base membrane (110) and performing a heat treatment.
상술된 바와 같이, 본 출원의 제1 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(112)의 적어도 측벽 상에 상기 물질막(121)이 형성되어, 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)이 형성될 수 있고, 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)은 상기 제2 기공(124)을 정의하는 제2 네트워크 구조(122)를 가질 수 있다. As described above, according to the first embodiment of the present application, the material film (121) may be formed on at least a side wall of the first network structure (112) of the base membrane (110), so that the nano mesh membrane (120) may be formed, and the nano mesh membrane (120) may have a second network structure (122) defining the second pores (124).
또한, 상기 물질막(121)의 두께는 진공 증착 공정에서의 공정 변수를 제어하는 방법으로 제어될 수 있고, 상기 물질막(121)의 두께를 제어하는 방법으로, 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)의 상기 제2 기공(124)의 크기가 용이하게 제어될 수 있다. In addition, the thickness of the material film (121) can be controlled by a method of controlling process variables in a vacuum deposition process, and the size of the second pores (124) of the nano mesh membrane (120) can be easily controlled by a method of controlling the thickness of the material film (121).
상기 물질막(121)은 상기 제1 기공(114)을 갖는 상기 베이스 멤브레인(110)을 용이하게 콘포말하게 덮을 수 있는 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 물질막(121)은 원자층 증착 공정과 같이 커버리지가 우수한 진공 증착 공정을 이용하여 형성될 수 있다. The material film (121) may be formed of a material that can easily conformally cover the base membrane (110) having the first pores (114). For example, the material film (121) may be formed using a vacuum deposition process with excellent coverage, such as an atomic layer deposition process.
일 실시 예에 따르면, 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)은 리소그래피 공정의 마스크로 사용될 수 있다. 구체적으로, EUV 광, ArF 광, 전자빔, UV, DUV, X선 등을 이용한 리소그래피 공정의 마스크로 사용될 수 있다. According to one embodiment, the nano mesh membrane (120) can be used as a mask for a lithography process. Specifically, it can be used as a mask for a lithography process using EUV light, ArF light, electron beam, UV, DUV, X-ray, etc.
상기 나노 메쉬 멤브레인(120)이 전자빔 리소그래피 공정의 마스크로 사용되는 경우, 상기 물질막(121)은 전도성 물질로 형성될 수 있다. 따라서, 전자빔 리소그래피 공정 동안 전자가 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)에 축적되는 것이 방지될 수 있고, 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)의 수명이 연장될 수 있다. When the above nano mesh membrane (120) is used as a mask for an electron beam lithography process, the material film (121) can be formed of a conductive material. Accordingly, electrons can be prevented from accumulating in the nano mesh membrane (120) during the electron beam lithography process, and the lifespan of the nano mesh membrane (120) can be extended.
제1 실시 예의 제1 변형 예에 따르면, 상술된 본 출원의 제1 실시 예에서, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(122) 상에 상기 제1 물질막(121)을 형성하기 전, 계면 접합층(123)이 형성될 수 있다. 이하, 도 4를 참조하여, 본 출원의 제1 실시 예의 제1 변형 예가 설명된다. According to a first modified example of the first embodiment, in the first embodiment of the present application described above, an interfacial bonding layer (123) may be formed before forming the first material film (121) on the first network structure (122) of the base membrane (110). Hereinafter, with reference to FIG. 4, a first modified example of the first embodiment of the present application will be described.
도 4는 본 출원의 제1 실시 예의 제1 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 4 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a first modified example of the first embodiment of the present application.
도 4를 참조하면, 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인(120)의 제조 방법에서, 상기 제1 물질막(121)을 형성하기 전, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(122) 상에 계면 접합층(123)이 형성되고, 상기 계면 접합층(123) 상에 상기 제1 물질막(121)이 형성될 수 있다. Referring to FIG. 4, in the method for manufacturing a nano mesh membrane (120) according to the first embodiment described with reference to FIGS. 1 to 3, before forming the first material film (121), an interfacial bonding layer (123) may be formed on the first network structure (122) of the base membrane (110), and the first material film (121) may be formed on the interfacial bonding layer (123).
상기 계면 접합층(123)으로 인해, 상기 제1 물질막(121)이 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(122)의 측벽 상에 용이하게 그리고 콘포말하게 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 계면 접합층(123)은 실리콘, 지르코늄, 백금 등을 포함할 수 있다. Due to the interfacial bonding layer (123), the first material film (121) can be easily and conformally formed on the side wall of the first network structure (122) of the base membrane (110). For example, the interfacial bonding layer (123) can include silicon, zirconium, platinum, or the like.
일 실시 예에 따르면, 상기 계면 접합층(123)의 두께는 상기 물질막(121)의 두께보다 얇을 수 있다. 또한, 상기 계면 접합층(123) 및 상기 물질막(121)의 두께의 합은 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 기공(114) 전부를 채우지 않고 일부를 채우도록, 상기 제1 기공(114)의 크기의 절반보다 작은 두께를 가질 수 있다. According to one embodiment, the thickness of the interfacial bonding layer (123) may be thinner than the thickness of the material film (121). In addition, the sum of the thicknesses of the interfacial bonding layer (123) and the material film (121) may have a thickness smaller than half the size of the first pore (114) so as to fill only a part of, but not all, the first pore (114) of the base membrane (110).
제1 실시 예의 제2 변형 예에 따르면, 상술된 본 출원의 제1 실시 예에서, 상기 베이스 멤브레인(110)이 전처리될 수 있다. 이하, 도 5를 참조하여, 본 출원의 제1 실시 예의 제2 변형 예가 설명된다.According to a second modified example of the first embodiment, in the first embodiment of the present application described above, the base membrane (110) may be pretreated. Hereinafter, with reference to FIG. 5, a second modified example of the first embodiment of the present application will be described.
도 5는 본 출원의 제1 실시 예의 제2 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 5 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second modified example of the first embodiment of the present application.
도 5를 참조하면, 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인(120)의 제조 방법에서, 상기 물질막(121)을 형성하기 전, 상기 베이스 멤브레인(110)이 전처리(130)될 수 있다. 상기 베이스 멤브레인(110)이 상기 전처리(130)된 후, 상기 물질막(121)이 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 방법으로 형성될 수 있다. Referring to FIG. 5, in the method for manufacturing a nano mesh membrane (120) according to the first embodiment described with reference to FIGS. 1 to 3, before forming the material film (121), the base membrane (110) may be pretreated (130). After the base membrane (110) is pretreated (130), the material film (121) may be formed by the method described with reference to FIGS. 1 to 3.
상기 베이스 멤브레인(110)을 상기 전처리(130)하는 것은, 상기 베이스 멤브레인(110)의 표면을 오존 처리하거나, 또는 상기 베이스 멤브레인(110)의 표면에 이온빔(예를 들어, 갈륨 이온, 아르곤 이온, 네온 이온, 헬륨 이온, 수소 이온)을 조사하거나, 상기 베이스 멤브레인(110)을 열처리하거나, 또는 상기 베이스 멤브레인(110)을 수소 처리(수소 라디칼 처리, 수소 플라즈마 처리)하는 것 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. The pretreatment (130) of the base membrane (110) may include at least one of ozone treatment of the surface of the base membrane (110), irradiating the surface of the base membrane (110) with an ion beam (e.g., gallium ion, argon ion, neon ion, helium ion, hydrogen ion), heat treatment of the base membrane (110), or hydrogen treatment (hydrogen radical treatment, hydrogen plasma treatment) of the base membrane (110).
일 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(110)에 이온빔을 조사하고, 이후 상기 베이스 멤브레인(110)이 열처리될 수 있다. 이로 인해, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(112)의 측벽 상에 상기 물질막(121)이 용이하게 형성될 수 있고, 이에 따라, 상기 베이스 멤브레인(110) 상에 상기 물질막(121)을 형성하는 방법으로, 상기 베이스 멤브레인(110)보다 작은 기공을 갖는 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)이 용이하게 형성될 수 있다. According to one embodiment, the base membrane (110) may be irradiated with an ion beam, and then the base membrane (110) may be heat-treated. As a result, the material film (121) may be easily formed on the side wall of the first network structure (112) of the base membrane (110), and accordingly, by forming the material film (121) on the base membrane (110), the nano-mesh membrane (120) having smaller pores than the base membrane (110) may be easily formed.
또한, 일 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(110)에 이온빔을 조사하는 경우, 이온빔의 방향성에 의해 상기 베이스 멤브레인(110)의 일 영역에만 집중적으로 이온빔이 조사되는 것을 방지하기 위해, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상부면의 법선 방향을 회전축으로 상기 베이스 멤브레인(110)이 회전하면서 이온빔이 조사될 수 있다. 이로 인해, 상기 베이스 멤브레인(110)의 영역 별 조사되는 이온빔의 플러스의 편차가 해소될 수 있다. 또한, 일 실시 예에 따르면, 이온빔의 조사 방향과 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 상부면의 법선 방향은 서로 교차하도록(또는 예각을 이루도록) 배치된 상태에서 회전하면서 이온빔이 조사될 수 있다. In addition, according to one embodiment, when irradiating the base membrane (110) with an ion beam, in order to prevent the ion beam from being concentratedly irradiated to only one area of the base membrane (110) due to the directionality of the ion beam, the ion beam may be irradiated while the base membrane (110) rotates about the normal direction of the upper surface of the base membrane (110) as the rotation axis. As a result, the plus deviation of the ion beam irradiated to each area of the base membrane (110) may be eliminated. In addition, according to one embodiment, the ion beam may be irradiated while rotating in a state where the irradiation direction of the ion beam and the normal direction of the upper surface of the base membrane (110) are arranged to intersect each other (or form an acute angle).
제1 실시 예의 제3 변형 예에 따르면, 상술된 본 출원의 제1 실시 예에서, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 기공(114)의 측벽이 기울어진 상태일 수 있다. 이하, 도 6을 참조하여, 본 출원의 제1 실시 예의 제3 변형 예가 설명된다.According to a third modified example of the first embodiment, in the first embodiment of the present application described above, the side wall of the first pore (114) of the base membrane (110) may be in a tilted state. Hereinafter, with reference to FIG. 6, a third modified example of the first embodiment of the present application will be described.
도 6은 본 출원의 제1 실시 예의 제3 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 6 is a drawing for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a third modified example of the first embodiment of the present application.
도 6을 참조하면, 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 제1 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인(120)의 제조 방법에 따라서, 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)이 제조되되, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(112)에 의해 정의되는 상기 제1 기공(114)의 측벽(상기 제1 네트워크 구조(112)의 측벽)이 기울어진 상태일 수 있다.Referring to FIG. 6, according to the method for manufacturing a nano mesh membrane (120) according to the first embodiment described with reference to FIGS. 1 to 3, the nano mesh membrane (120) is manufactured, but the sidewall of the first pore (114) defined by the first network structure (112) of the base membrane (110) (the sidewall of the first network structure (112)) may be in a tilted state.
보다 구체적으로, 상기 베이스 멤브레인(110)의 제1 면 상에 상기 제1 물질막(121)이 형성되는 경우, 상기 제1 면에 인접한 영역의 상기 제1 기공(114)의 폭이, 상기 제1 면에 대향하는 상기 베이스 멤브레인(120)의 제2 면에 인접한 영역의 상기 제1 기공(114)의 폭보다, 넓을 수 있다. 이로 인해, 상기 물질막(121)이 상기 제1 네트워크 구조(112)의 기울어진 측벽 상에 용이하게 형성될 수 있다. More specifically, when the first material film (121) is formed on the first surface of the base membrane (110), the width of the first pore (114) in the region adjacent to the first surface may be wider than the width of the first pore (114) in the region adjacent to the second surface of the base membrane (120) facing the first surface. As a result, the material film (121) can be easily formed on the inclined sidewall of the first network structure (112).
반면, 상술된 본 발명의 제1 실시 예의 제3 변형 예와 달리, 상기 제1 기공(114)의 폭이 일정한 경우(다시 말하면, 상기 제1 기공(114)을 정의하는 상기 제1 네트워크 구조(112)의 측벽이 기울어지지 않은 경우), 상기 제1 네트워크 구조(112)의 측벽 상에 상기 물질막(121)을 형성하기 용이하지 않을 수 있고, 이로 인해, 상기 베이스 멤브레인(110)보다 작은 기공을 갖는 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)이 용이하게 제조되지 않을 수 있다.On the other hand, unlike the third modified example of the first embodiment of the present invention described above, when the width of the first pore (114) is constant (in other words, when the side wall of the first network structure (112) defining the first pore (114) is not inclined), it may not be easy to form the material film (121) on the side wall of the first network structure (112), and thus, the nano mesh membrane (120) having smaller pores than the base membrane (110) may not be easily manufactured.
하지만, 상술된 바와 같이, 본 출원의 제1 실시 예의 제3 변형 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 네트워크 구조(112)의 측벽은 기울어진 상태로 제공될 수 있고, 이로 인해, 상기 물질막(121)이 기울어진 측벽 상에 용이하게 형성될 수 있다. 결론적으로, 상기 물질막(121)이 상기 제1 네트워크 구조(112)의 측벽 상에 용이하게 형성되어, 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)이 용이하게 형성될 수 있다. However, as described above, according to the third modified example of the first embodiment of the present application, the side wall of the first network structure (112) of the base membrane (110) can be provided in an inclined state, and thus, the material film (121) can be easily formed on the inclined side wall. In conclusion, the material film (121) is easily formed on the side wall of the first network structure (112), and thus, the nano mesh membrane (120) can be easily formed.
한편, 일 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 면으로 이온빔을 조사하는 방법으로, 상기 제1 네트워크 구조(112)의 측벽이 기울어진 상태로 형성될 수 있다. 다시 말하면, 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 면으로 집속된 이온빔을 조사하는 경우, 집속된 이온빔의 조사로 인해 상기 베이스 멤브레인(110)의 상기 제1 면에 인접한 영역이 식각되어, 상술된 바와 같이, 상기 제1 면에 인접한 영역의 상기 제1 기공(114)의 폭이, 상기 제2 면에 인접한 영역의 상기 제1 기공(114)의 폭보다, 더 넓어질 수 있다. Meanwhile, according to one embodiment, by irradiating the first surface of the base membrane (110) with an ion beam, the side wall of the first network structure (112) may be formed in an inclined state. In other words, when the first surface of the base membrane (110) is irradiated with an ion beam focused on it, an area adjacent to the first surface of the base membrane (110) is etched due to the irradiation of the focused ion beam, so that, as described above, the width of the first pore (114) in the area adjacent to the first surface may become wider than the width of the first pore (114) in the area adjacent to the second surface.
이하, 본 출원의 제2 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법이 설명된다. Hereinafter, a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application is described.
도 7은 본 출원의 제2 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이고, 도 8은 본 출원의 제2 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에서 베이스 멤브레인을 설명하기 위한 도면이고, 도 9는 본 출원의 제2 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 제조 방법에서 이온빔 조사 과정을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 7 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application, FIG. 8 is a drawing for explaining a base membrane in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application, and FIG. 9 is a drawing for explaining an ion beam irradiation process in a method for manufacturing a nano mesh membrane according to a second embodiment of the present application.
도 7 및 도 8을 참조하면, 베이스 멤브레인(210)이 준비된다(S210). 상기 베이스 멤브레인(210)은 도 8에 도시된 바와 같이 기공이 없는 평판 형태의 기판 또는 기재일 수 있다. 다만, 상기 베이스 멤브레인(210)의 내부에 일부 기공이 존재하는 것을 배제하는 것은 아니다. Referring to FIGS. 7 and 8, a base membrane (210) is prepared (S210). The base membrane (210) may be a substrate or base material in a flat plate shape without pores, as shown in FIG. 8. However, it is not excluded that some pores exist inside the base membrane (210).
예를 들어, 상기 베이스 멤브레인(210)은 실리콘 질화물(ex. Si3N4)로 형성될 수 있다. For example, the base membrane (210) may be formed of silicon nitride (ex. Si3N4).
도 7 및 도 9를 참조하면, 상기 베이스 멤브레인(210)에 이온빔(225)을 조사하여, 상기 이온빔(225)이 상기 베이스 멤브레인(210)을 투과하고, 상기 이온빔(225)이 상기 베이스 멤브레인(210)을 투과하는 과정에서 복수의 기공(224)을 갖는 나노 메쉬 멤브레인(220)이 제조될 수 있다(S220). Referring to FIG. 7 and FIG. 9, by irradiating the base membrane (210) with an ion beam (225), the ion beam (225) penetrates the base membrane (210), and in the process of the ion beam (225) penetrating the base membrane (210), a nano mesh membrane (220) having a plurality of pores (224) can be manufactured (S220).
상기 이온빔(225)은, 예를 들어, 갈륨 이온, 불활성 기체의 이온(헬륨, 아르곤 또는 네온), 또는 수소 이온을 포함할 수 있다. 상기 이온빔(225)의 세기가 과도하게 강한 경우 상기 베이스 멤브레인(210)이 손상될 수 있고, 상기 이온빔(225)의 세기가 과도하게 약한 경우 상기 나노 메쉬 멤브레인(220) 제작에 과도한 시간이 소요되어 고비용이 발생할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 이온빔(225)이 갈륨 이온빔인 경우 갈륨 이온빔의 에너지는 5~30KV이고 1pA~65nA의 세기를 가질 수 있다. The ion beam (225) may include, for example, gallium ions, ions of an inert gas (helium, argon, or neon), or hydrogen ions. If the intensity of the ion beam (225) is excessively strong, the base membrane (210) may be damaged, and if the intensity of the ion beam (225) is excessively weak, excessive time may be required to manufacture the nano mesh membrane (220), resulting in high costs. According to one embodiment, if the ion beam (225) is a gallium ion beam, the energy of the gallium ion beam may be 5 to 30 KV and the intensity may be 1 pA to 65 nA.
또한, 일 실시 예에 따르면, 상기 이온빔(225)은 집속 이온빔 또는 광역 이온빔일 수 있다. Additionally, according to one embodiment, the ion beam (225) may be a focused ion beam or a wide-area ion beam.
본 출원의 실시 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(210)에 상기 이온빔(225)을 조사하는 간소한 방법으로 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 용이하게 제조될 수 있다. 또한, 상기 이온빔(225)의 종류, 세기, 에너지를 제어하는 간소한 방법으로, 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)의 상기 기공(224)의 크기, 및 배열이 용이하게 제어될 수 있다. According to an embodiment of the present application, the nano mesh membrane (220) can be easily manufactured by a simple method of irradiating the base membrane (210) with the ion beam (225). In addition, the size and arrangement of the pores (224) of the nano mesh membrane (220) can be easily controlled by a simple method of controlling the type, intensity, and energy of the ion beam (225).
일 실시 예에 따르면, 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 형성된 이후, 상기 나노 메쉬 멤브레인(220) 상에 코팅층이 형성될 수 있다. 예를 들어, Au, Pt 등이 상기 코팅층으로 형성될 수 있으며, 전자빔 증착, 열증착, 스퍼터링 등의 진공 증착 공정을 이용하여 상기 코팅층이 형성될 수 있다. 이로 인해, 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)은 X선, 자외선, 가시광선, 적외선 등을 차단하고, EUV 광을 투과시키는 필터로 활용될 수 있다. According to one embodiment, after the nano mesh membrane (220) is formed, a coating layer may be formed on the nano mesh membrane (220). For example, Au, Pt, etc. may be formed as the coating layer, and the coating layer may be formed using a vacuum deposition process such as electron beam deposition, thermal deposition, or sputtering. Accordingly, the nano mesh membrane (220) may be utilized as a filter that blocks X-rays, ultraviolet rays, visible light, infrared rays, etc., and transmits EUV light.
또한, 일 실시 예에 따르면, 본 출원의 제2 실시 예에 따라 제조된 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)은 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 본 출원의 제1 실시 예에 따른 베이스 멤브레인(110)으로 정의될 수 있다. 즉, 상기 이온빔(225)을 조사하여 생성된 제1 기공(114)을 갖는 상기 베이스 멤브레인(110) 상에 상기 물질막(121)이 형성되어, 상기 제1 기공(114)보다 작은 상기 제2 기공(124)을 갖는 상기 나노 메쉬 멤브레인(120)이 형성될 수 있다. 후술되는 제2 실시 예의 변형 예들에 따라 제조된 상기 나노 메쉬 멤브레인(220) 역시 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 본 출원의 제1 실시 예에 따른 베이스 멤브레인(110)으로 정의될 수 있다.In addition, according to one embodiment, the nano mesh membrane (220) manufactured according to the second embodiment of the present application may be defined as the base membrane (110) according to the first embodiment of the present application described with reference to FIGS. 1 to 3. That is, the material film (121) is formed on the base membrane (110) having the first pores (114) generated by irradiating the ion beam (225), so that the nano mesh membrane (120) having the second pores (124) smaller than the first pores (114) may be formed. The nano mesh membrane (220) manufactured according to the modified examples of the second embodiment described below may also be defined as the base membrane (110) according to the first embodiment of the present application described with reference to FIGS. 1 to 3.
상술된 바와 같이, 상기 이온빔(225)을 조사하여, 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 제조되는 경우, 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)의 상기 기공(224)을 정의하는 네트워크 구조 내부에 도핑 이온이 제공될 수 있다. 상기 도핑 이온은 상기 이온빔(225)의 조사에 사용되었던 이온이 잔존된 것일 수 있다. 다시 말하면, 예를 들어, 상기 도핑 이온은 갈륨 이온, 아르곤 이온, 네온 이온, 헬륨 이온, 또는 수소 이온 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. As described above, when the nano mesh membrane (220) is manufactured by irradiating the ion beam (225), doping ions may be provided within the network structure defining the pores (224) of the nano mesh membrane (220). The doping ions may be residual ions used in the irradiation of the ion beam (225). In other words, for example, the doping ions may include at least one of gallium ions, argon ions, neon ions, helium ions, or hydrogen ions.
상기 나노 메쉬 멤브레인(220)의 제1 면으로 상기 상기 이온빔(225)이 조사되는 경우, 일 실시 예에 따르면, 상기 제1 면에 인접한 제1 영역에서 상기 도핑 이온의 농도는, 상기 제1 면에 대향하는 제2 면에 인접한 제2 영역에서 상기 도핑 이온의 농도보다 높을 수 있다. When the ion beam (225) is irradiated to the first surface of the nano mesh membrane (220), according to one embodiment, the concentration of the doping ion in the first region adjacent to the first surface may be higher than the concentration of the doping ion in the second region adjacent to the second surface opposite to the first surface.
상기 도핑 이온의 존재 및/또는 농도 프로파일에 따라서, 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 상기 이온빔(225)을 조사하여 형성된 것이라는 사실이, 역추적될 수 있다. Depending on the presence and/or concentration profile of the doping ions, it can be traced back to the fact that the nano mesh membrane (220) was formed by irradiating the ion beam (225).
제2 실시 예의 제1 변형 예에 따르면, 상술된 본 출원의 제2 실시 예에서, 상기 베이스 멤브레인(220)은 복수의 오목부를 가질 수 있다. 이하, 도 10을 참조하여, 본 출원의 제2 실시 예의 제1 변형 예가 설명된다. According to a first modified example of the second embodiment, in the second embodiment of the present application described above, the base membrane (220) may have a plurality of concave portions. Hereinafter, with reference to FIG. 10, a first modified example of the second embodiment of the present application will be described.
도 10은 본 출원의 제2 실시 예의 제1 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 10 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a first modified example of the second embodiment of the present application.
도 10을 참조하면, 상기 베이스 멤브레인(210)은 서로 이격된 복수의 오목부를 포함할 수 있다. 도 7 내지 도 9를 참조하여 설명된 것과 같이, 상기 이온빔(225)이 상기 베이스 멤브레인(210)으로 조사되어, 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 제조될 수 있다. 다시 말하면, 상기 이온빔(225)이 상기 베이스 멤브레인(210)의 복수의 상기 오목부를 투과하고, 상기 이온빔(225)이 상기 베이스 멤브레인(210)의 복수의 상기 오목부를 투과하는 과정에서 생성된 복수의 상기 기공(224)을 갖는 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 제조될 수 있다. Referring to FIG. 10, the base membrane (210) may include a plurality of concave portions spaced apart from each other. As described with reference to FIGS. 7 to 9, the ion beam (225) may be irradiated onto the base membrane (210) to manufacture the nano mesh membrane (220). In other words, the nano mesh membrane (220) having a plurality of pores (224) generated in the process of the ion beam (225) passing through the plurality of concave portions of the base membrane (210) and the ion beam (225) passing through the plurality of concave portions of the base membrane (210) may be manufactured.
예를 들어, 복수의 상기 오목부를 갖는 상기 베이스 멤브레인(210)은 임프린팅 방법을 형성될 수 있다. 즉, 임프린팅 방법으로 내부를 관통하는 기공을 형성하는 경우 과도한 압력 인가로 인해 상기 베이스 멤브레인(210)이 손상될 수 있다. 반면, 상술된 바와 같이 본 출원의 제2 실시 예의 제1 변형 예에 따르면, 상기 베이스 멤브레인(210)이 상기 오목부를 가질 수 있고, 상기 오목부를 갖는 상기 베이스 멤브레인(210)에 상기 이온빔(225)이 조사되어, 내부를 관통하는 상기 기공(224)을 갖는 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 용이하게 제조될 수 있다. For example, the base membrane (210) having a plurality of the above-described concave portions can be formed by an imprinting method. That is, when forming pores penetrating the inside by an imprinting method, the base membrane (210) can be damaged due to excessive pressure application. On the other hand, according to the first modified example of the second embodiment of the present application as described above, the base membrane (210) can have the above-described concave portions, and the ion beam (225) is irradiated onto the base membrane (210) having the above-described concave portions, so that the nano-mesh membrane (220) having the pores (224) penetrating the inside can be easily manufactured.
제2 실시 예의 제2 변형 예에 따르면, 상술된 본 출원의 제2 실시 예에서, 상기 베이스 멤브레인(220) 상에 기능성막(230)이 형성될 수 있다. 이하, 도 11 및 도 12를 참조하여, 본 출원의 제2 실시 예의 제2 변형 예가 설명된다. According to a second modified example of the second embodiment, in the second embodiment of the present application described above, a functional film (230) may be formed on the base membrane (220). Hereinafter, with reference to FIGS. 11 and 12, a second modified example of the second embodiment of the present application will be described.
도 11 및 도 12는 본 출원의 제2 실시 예의 제2 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이고, 도 13은 본 출원의 제2 실시 예의 제2 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 기공의 측벽을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 11 and FIG. 12 are drawings for explaining a nano mesh membrane according to a second modified example of the second embodiment of the present application, and FIG. 13 is a drawing for explaining a side wall of a pore of a nano mesh membrane according to a second modified example of the second embodiment of the present application.
도 11 내지 도 13을 참조하면, 도 7 내지 도 9를 참조하여 설명된 바와 같이 상기 베이스 멤브레인(210)이 제공될 수 있고, 상기 베이스 멤브레인(210) 상에 기능성막(230)이 형성될 수 있다. Referring to FIGS. 11 to 13, the base membrane (210) may be provided as described with reference to FIGS. 7 to 9, and a functional film (230) may be formed on the base membrane (210).
상기 기능성막(230)은 도전성을 갖는 금속막일 수 있다. 또한, 상기 기능성막(230)은 상기 베이스 멤브레인(210)보다 높은 전도성을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 기능성막(230)은 백금(Pt)를 포함할 수 있다. 상기 기능성막(230)은 스퍼터링 방법으로 상기 베이스 멤브레인(210)을 콘포말하게 덮도록 형성될 수 있고, 상기 기능성막(230)의 두께는 5~10nm일 수 있다. The functional film (230) may be a conductive metal film. In addition, the functional film (230) may be formed of a material having higher conductivity than the base membrane (210). For example, the functional film (230) may include platinum (Pt). The functional film (230) may be formed to conformally cover the base membrane (210) by a sputtering method, and the thickness of the functional film (230) may be 5 to 10 nm.
상기 기능성막(230)이 형성된 이후, 도 7 내지 도 9를 참조하여 설명된 것과 같이, 상기 베이스 멤브레인(210)을 상기 이온빔(225)이 조사될 수 있다. 상기 베이스 멤브레인(210)이 비전도성 물질로 형성된 경우(예를 들어, Si3N4), 상기 이온빔(225)을 조사하여 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)을 제조하는 것이 용이하지 않다. 다시 말하면, 비전도성의 상기 베이스 멤브레인(210)의 내부에 상기 이온빔(225)에 의해 이온이 쌓이면서(charging effect) 후속되는 상기 이온빔(225)의 집속 및 경로가 방해될 수 있다. 하지만, 상술된 바와 같이 전도성을 갖는 상기 기능성막(230)이 상기 베이스 멤브레인(210) 상에 형성된 경우, 상기 이온이 쌓이는 현상이 최소화될 수 있고, 이로 인해, 상기 이온빔(225)으로 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 용이하게 형성될 수 있다. After the functional film (230) is formed, the base membrane (210) can be irradiated with the ion beam (225) as described with reference to FIGS. 7 to 9. If the base membrane (210) is formed of a non-conductive material (e.g., Si3N4), it is not easy to manufacture the nano-mesh membrane (220) by irradiating the ion beam (225). In other words, if ions are accumulated (charging effect) by the ion beam (225) inside the non-conductive base membrane (210), the subsequent focusing and path of the ion beam (225) may be disturbed. However, when the functional film (230) having conductivity as described above is formed on the base membrane (210), the phenomenon of ion accumulation can be minimized, and thus, the nano mesh membrane (220) can be easily formed with the ion beam (225).
상기 기능성막(230)의 두께가 과도하게 얇은 경우, 상기 이온빔(225)에 의해 차징이 발생하고, 상기 기능성막(230)의 두께가 과도하게 두꺼운 경우 상기 이온빔(225)으로 상기 기공(224)이 용이하게 형성되지 않을 수 있다. 이에 따라, 상기 기능성막(230)의 두께는 상기 베이스 멤브레인(210)의 두께보다 얇을 수 있고, 예를 들어, 상기 기능성막(230)의 두께는 상술된 바와 같이 5~10nm일 수 있다.If the thickness of the functional film (230) is excessively thin, charging occurs by the ion beam (225), and if the thickness of the functional film (230) is excessively thick, the pores (224) may not be easily formed by the ion beam (225). Accordingly, the thickness of the functional film (230) may be thinner than the thickness of the base membrane (210), and for example, the thickness of the functional film (230) may be 5 to 10 nm as described above.
예를 들어, 상기 베이스 멤브레인(210)이 실리콘 질화물이고, 상기 기능성막(230)이 백금이고, 상기 이온빔(225)이 갈륨 이온을 포함하는 경우, 100nm 선폭을 갖는 상기 나노 메쉬 멤브레인(220)이 제조될 수 있다. For example, when the base membrane (210) is silicon nitride, the functional film (230) is platinum, and the ion beam (225) contains gallium ions, a nano mesh membrane (220) having a line width of 100 nm can be manufactured.
일 실시 예에 따르면, 상기 기능성막(230)을 형성하는 단계, 및 상기 이온빔(225)을 조사하는 단계는 반복적으로 그리고 교대로 수행될 수 있다. 이에 따라, 상기 이온빔(225)의 조사 과정에서 상기 기능성막(230)의 손실로 인해 이온이 상기 베이스 멤브레인(210) 내부에 축적되는 현상이 최소화될 수 있다. According to one embodiment, the step of forming the functional film (230) and the step of irradiating the ion beam (225) can be performed repeatedly and alternately. Accordingly, the phenomenon of ions accumulating inside the base membrane (210) due to loss of the functional film (230) during the irradiation process of the ion beam (225) can be minimized.
상기 이온빔(225)에 의해 형성된 상기 기공(224)은 서로 이격되어 배치되고, 상기 베이스 멤브레인(210) 및 상기 기능성막(230)을 관통하여 제공될 수 있다. 또한, 상술된 바와 같이, 상기 기능성막(230)이 상기 베이스 멤브레인(210) 상에 형성된 후, 상기 이온빔(225) 조사로 상기 기공(224)이 형성되어, 상기 기능성막(230)은 복수의 상기 기공(224)의 측벽 상에는 제공되지 않을 수 있다.The pores (224) formed by the ion beam (225) may be arranged spaced apart from each other and may be provided by penetrating the base membrane (210) and the functional film (230). In addition, as described above, after the functional film (230) is formed on the base membrane (210), the pores (224) are formed by irradiation with the ion beam (225), so that the functional film (230) may not be provided on the side walls of a plurality of the pores (224).
또한, 도 13에 도시된 것과 같이, 복수의 상기 기공(224)의 측벽을 이루는 상기 베이스 멤브레인(210)의 일부분(210s), 및 복수의 상기 기공(230)의 측벽을 이루는 상기 기능성막(230)의 일부분(230s)는 서로 공면(coplanar)을 이룰 수 있다. 다시 말하면, 상기 베이스 멤브레인(210) 상에 상기 기능성막(230)이 형성된 이후, 상기 기능성막(230) 및 상기 베이스 멤브레인(210)을 차례로 추과하는 상기 이온빔(225)에 의해 복수의 상기 기공(230)이 형성될 수 있고, 이로 인해, 복수의 상기 기공(224)의 측벽을 이루는 상기 베이스 멤브레인(210)의 일부분(210s), 및 복수의 상기 기공(230)의 측벽을 이루는 상기 기능성막(230)의 일부분(230s)는 서로 공면을 이룰 수 있다.In addition, as illustrated in FIG. 13, a portion (210s) of the base membrane (210) forming the side walls of the plurality of pores (224) and a portion (230s) of the functional membrane (230) forming the side walls of the plurality of pores (230) may be coplanar with each other. In other words, after the functional film (230) is formed on the base membrane (210), a plurality of pores (230) can be formed by the ion beam (225) that sequentially passes through the functional film (230) and the base membrane (210), and as a result, a part (210s) of the base membrane (210) forming the side walls of the plurality of pores (224) and a part (230s) of the functional film (230) forming the side walls of the plurality of pores (230) can form a coplanar surface with each other.
제2 실시 예의 제3 변형 예에 따르면, 상술된 본 출원의 제3 실시 예에서, 상기 베이스 멤브레인(220)으로 상기 이온빔(225)이 조사되는 과정에서 상기 베이스 멤브레인(220)이 회전할 수 있다. 이하, 도 14를 참조하여, 본 출원의 제2 실시 예의 제3 변형 예가 설명된다. According to a third modified example of the second embodiment, in the third embodiment of the present application described above, the base membrane (220) can rotate during the process in which the ion beam (225) is irradiated onto the base membrane (220). Hereinafter, with reference to FIG. 14, a third modified example of the second embodiment of the present application will be described.
도 14는 본 출원의 제2 실시 예의 제3 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 14 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a third modified example of the second embodiment of the present application.
도 14를 참조하면, 도 7 내지 도 9를 참조하여 설명된 바와 같이 상기 베이스 멤브레인(210)이 제공되고, 상기 베이스 멤브레인(210)으로 상기 이온빔(225)이 조사되는 과정에서 상기 베이스 멤브레인(210)이 회전할 수 있다. Referring to FIG. 14, the base membrane (210) is provided as described with reference to FIGS. 7 to 9, and the base membrane (210) can rotate during the process of irradiating the ion beam (225) to the base membrane (210).
구체적으로, 상기 베이스 멤브레인(210)의 상부면의 법선 방향(240)을 회전축으로 상기 베이스 멤브레인(210)이 회전하면서 상기 이온빔(225)이 조사될 수 있다. 이로 인해, 상기 베이스 멤브레인(210)의 영역 별 조사되는 상기 이온빔(225)의 플러스의 편차가 해소될 수 있다. 또한, 일 실시 예에 따르면, 상기 이온빔(225)의 조사 방향과 상기 베이스 멤브레인(210)의 상기 상부면의 상기 법선 방향(240)은 서로 교차하도록(또는 예각을 이루도록) 배치된 상태에서 회전하면서 상기 이온빔(225)이 조사될 수 있다.Specifically, the ion beam (225) may be irradiated while the base membrane (210) rotates with the normal direction (240) of the upper surface of the base membrane (210) as the rotation axis. As a result, the positive deviation of the ion beam (225) irradiated to each area of the base membrane (210) may be eliminated. In addition, according to one embodiment, the ion beam (225) may be irradiated while rotating in a state where the irradiation direction of the ion beam (225) and the normal direction (240) of the upper surface of the base membrane (210) are arranged to intersect each other (or form an acute angle).
제2 실시 예의 제4 변형 예에 따르면, 도 11 내지 도 13을 참조하여 설명된 본 출원의 제2 실시 예의 제2 변형 예에 따라서 상기 기능성막(230)이 형성되어 기공(224)이 형성된 이후, 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 본 출원의 제1 실시 예에 따라서 물질막이 추가적으로 형성될 수 있다. 이하, 도 15를 참조하여, 본 출원의 실시 예에 따른 제2 실시 예의 제4 변형 예가 설명된다. According to a fourth modified example of the second embodiment, after the functional film (230) is formed and pores (224) are formed according to the second modified example of the second embodiment of the present application described with reference to FIGS. 11 to 13, a material film may be additionally formed according to the first modified example of the present application described with reference to FIGS. 1 to 3. Hereinafter, a fourth modified example of the second embodiment according to the embodiment of the present application will be described with reference to FIG. 15.
도 15는 본 출원의 제2 실시 예의 제4 변형 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 15 is a drawing for explaining a nano mesh membrane according to a fourth modified example of the second embodiment of the present application.
도 15를 참조하면, 도 11 내지 도 13을 참조하여 설명된 본 출원의 제2 실시 예의 제2 변형 예에 따라서 상기 베이스 멤브레인(210) 상에 상기 기능성막(230)이 형성되고, 상기 이온빔(225)이 조사되어, 복수의 상기 기공(224)이 형성될 수 있다. Referring to FIG. 15, according to a second modified example of the second embodiment of the present application described with reference to FIGS. 11 to 13, the functional film (230) is formed on the base membrane (210), and the ion beam (225) is irradiated, so that a plurality of pores (224) can be formed.
이후, 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 본 출원의 제1 실시 예에 따른 상기 물질막(121)의 제조 방법과 동일하게, 물질막(240)이 형성될 수 있다. 상기 물질막(240)은 상기 기공(224)의 측벽을 덮을 수 있고, 상기 물질막은 기능성막(230)의 상부면을 덮을 수 있다. 이에 따라, 상기 기공(224)의 크기가 감소될 수 있고, 상기 물질막(240)의 두께를 제어하는 간소한 방법으로 상기 기공(224)의 사이즈가 제어될 수 있다. Thereafter, a material film (240) can be formed in the same manner as the method for manufacturing the material film (121) according to the first embodiment of the present application described with reference to FIGS. 1 to 3. The material film (240) can cover the side walls of the pores (224), and the material film can cover the upper surface of the functional film (230). Accordingly, the size of the pores (224) can be reduced, and the size of the pores (224) can be controlled by a simple method for controlling the thickness of the material film (240).
상기 기능성막(230) 및/또는 상기 베이스 멤브레인(210) 내에는, 상기 이온빔(225)에 의해 주입된, 상기 도핑 이온이 제공될 수 있고, 상기 도핑 이온은 예를 들어 갈륨 이온, 아르곤 이온, 네온 이온, 헬륨 이온, 또는 수소 이온 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 반면, 상기 이온빔(225) 주입 이후에 형성되는 상기 물질막(240) 내에는 상기 도핑 이온이 제공되지 않을 수 있다. The doping ions injected by the ion beam (225) may be provided within the functional film (230) and/or the base membrane (210), and the doping ions may include, for example, at least one of gallium ions, argon ions, neon ions, helium ions, or hydrogen ions. On the other hand, the doping ions may not be provided within the material film (240) formed after the ion beam (225) is injected.
또한, 상기 물질막(240)은 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 것과 같이, 이미 상기 기공(224)이 형성된 멤브레인의 기공 사이즈를 축소하기 위한 것으로, 용이하게 두께 조절이 가능하고, 콘포말하게 제조될 수 있는 물질 및 제조공정으로 형성될 수 있다. In addition, the material film (240) is formed by a material and manufacturing process that can be easily thickness-controlled and conformally manufactured to reduce the pore size of the membrane in which the pores (224) are already formed, as described with reference to FIGS. 1 to 3.
또한, 일 실시 예에 따르면, 상술된 바와 같이 상기 이온빔(225)에 의해 이온이 쌓이는 것을 방지하기 위해, 상기 기능성막(230)은, 상기 물질막(240)과 비교하여 높은 전기 전도성을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 베이스 멤브레인(210)의 상부면 상에는 상대적으로 높은 전도성을 갖는 상기 기능성막(230) 및 상대적으로 낮은 전도성을 갖는 상기 물질막(240)이 차례로 제공되고, 상기 기공(224)의 측벽 상에는 상기 물질막(240)이 제공될 수 있다. In addition, according to one embodiment, in order to prevent ions from being accumulated by the ion beam (225) as described above, the functional film (230) may be formed of a material having high electrical conductivity compared to the material film (240). In this case, the functional film (230) having relatively high conductivity and the material film (240) having relatively low conductivity may be sequentially provided on the upper surface of the base membrane (210), and the material film (240) may be provided on the sidewall of the pore (224).
또는, 다른 실시 예에 따르면, 상기 물질막(121)은 상기 기능성막(230)과 동일한 전도성 물질로 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 베이스 멤브레인(210)의 상부면 상에는 상대적으로 두꺼운 두께의 전도성 물질이 제공되고, 상기 기공(224)의 측벽 상에는 상대적으로 얇은 두께의 전도성 물질이 제공될 수 있다. Alternatively, according to another embodiment, the material film (121) may be formed of the same conductive material as the functional film (230). In this case, a conductive material having a relatively thick thickness may be provided on the upper surface of the base membrane (210), and a conductive material having a relatively thin thickness may be provided on the side walls of the pores (224).
이하, 본 출원의 구체적인 실험 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인의 특성 평가 결과가 설명된다. Below, the results of evaluating the characteristics of a nano mesh membrane according to a specific experimental example of the present application are described.
도 16 내지 도 18은 본 출원의 실험 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 촬영한 SEM 사진들이다.Figures 16 to 18 are SEM photographs of nano mesh membranes according to experimental examples of the present application.
도 16 내지 도 18을 참조하면, 베이스 멤브레인으로 100nm 두께의 실리콘 질화물 멤브레인을 준비하였다. 상기 실리콘 질화물 멤브레인 상에 기능성막으로 백금을 스퍼터링 공정으로 5~10nm 증착하였다. Referring to FIGS. 16 to 18, a silicon nitride membrane having a thickness of 100 nm was prepared as a base membrane. Platinum was deposited as a functional film on the silicon nitride membrane to a thickness of 5 to 10 nm using a sputtering process.
이후, 갈륨 이온빔을 30kV 조건으로 조사하여, 백금이 형성된 실리콘 질화물 멤브레인을 관통하는 기공을 형성하였다. Afterwards, a gallium ion beam was irradiated at 30 kV to form pores penetrating the silicon nitride membrane on which platinum was formed.
상기 갈륨 이온빔의 포커스 사이즈를 제어하여, 상대적으로 좁은 폭을 갖고 나란히 연장하는 그루브 형태의 기공, 그리고 상대적으로 넓은 폭을 갖는 십자가 형상의 기공을 형성하였다. By controlling the focus size of the gallium ion beam, groove-shaped pores extending in parallel with a relatively narrow width and cross-shaped pores with a relatively wide width were formed.
도 16 내지 도 18에 도시된 바와 같이, 다양한 형상의 기공이 형성될 수 있으며, 다양한 사이즈의 기공을 용이하게 형성될 수 있음을 확인할 수 있다. As shown in FIGS. 16 to 18, it can be confirmed that pores of various shapes can be formed and pores of various sizes can be easily formed.
상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인은 광학 필터로 활용될 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 나노 메쉬 멤브레인으로 광이 조사되고, 상기 나노 메쉬 멤브레인으로 조사된 광의 파장 대역에서, 목표 파장 대역의 광은 상기 나노 메쉬 멤브레인을 투과하고, 상기 목표 파장 대역과 다른 파장 대역의 광은 상기 나노 메쉬 멤브레인에 의해 차단될 수 있다. 예를 들어, 상기 목표 파장 대역의 광은 EUV 광이고, 상기 다른 파장 대역의 광은 hard X선일 수 있다. 상기 나노 메쉬 멤브레인을 구성하는 상기 베이스 멤브레인 및/또는 상기 기능성막의 두께가 너무 얇은 경우, 또는 상기 베이스 멤브레인 및/또는 상기 기능성막을 구성하는 물질이 상기 다른 파장 대역의 광의 차단에 적합하지 않은 경우, 상기 다른 파장 대역의 광의 차단에 적합한 상기 물질막을 충분한 두께로 형성하는 방법으로, 상기 다른 파장 대역의 광이 용이하게 차단될 수 있다. The nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modified examples can be utilized as an optical filter. More specifically, when light is irradiated to the nano-mesh membrane, and in the wavelength band of the light irradiated to the nano-mesh membrane, light of a target wavelength band can transmit through the nano-mesh membrane, and light of a wavelength band different from the target wavelength band can be blocked by the nano-mesh membrane. For example, the light of the target wavelength band can be EUV light, and the light of the other wavelength band can be hard X-ray. When the thickness of the base membrane and/or the functional film constituting the nano-mesh membrane is too thin, or when the material constituting the base membrane and/or the functional film is not suitable for blocking light of the other wavelength band, by a method of forming a material film suitable for blocking light of the other wavelength band with a sufficient thickness, the light of the other wavelength band can be easily blocked.
또한, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인은 패터닝 공정에 사용될 수 있다. 보다 구제적으로, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인이 준비되고, 상기 나노 메쉬 멤브레인으로 광(예를 들어, EUV, ArF, 이온빔, 전자빔, 가시광선, UV, soft x-ray (water window 포함), hard x-ray 등)을 조사하고, 상기 나노 메쉬 멤브레인을 투과한 광에 의해 광 감응성 막(예를 들어, 포토레지스트)이 반응할 수 있다. 특히, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따른 나노 메쉬 멤브레인은 전자빔을 이용한 패터닝 공정(리소그래피 공정)의 마스크로 사용될 수 있다. In addition, the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modifications can be used in a patterning process. More specifically, the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modifications is prepared, and light (e.g., EUV, ArF, ion beam, electron beam, visible light, UV, soft x-ray (including water window), hard x-ray, etc.) is irradiated onto the nano-mesh membrane, and a light-sensitive film (e.g., photoresist) can react by the light transmitted through the nano-mesh membrane. In particular, the nano-mesh membrane according to the above-described embodiments and modifications can be used as a mask for a patterning process (lithography process) using an electron beam.
또한, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인은 광을 필터링하는 필터(예를 들어, 펠리클)로 사용될 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 나노 메쉬 멤브레인은 투과시키고자 하는 제1 파장 대역의 광(예를 들어, EUV)에 대해서 현저하게 높은 투과도를 갖고, 차단하고자 하는 제2 파장 대역의 광(예를 들어, UV, 가시광, X선, 적외선 등)에 대해서 현저하게 낮은 투과도를 가질 수 있다. In addition, the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modified examples can be used as a filter (e.g., a pellicle) that filters light. More specifically, the nano-mesh membrane can have remarkably high transmittance for light of a first wavelength band to be transmitted (e.g., EUV) and remarkably low transmittance for light of a second wavelength band to be blocked (e.g., UV, visible light, X-rays, infrared, etc.).
또한, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인은 광학 장치에 포함될 수 있다. 이 경우, 광을 생성하는 광원에 의해 광이 상기 나노 메쉬 멤브레인으로 조사되고, 상기 나노 메쉬 멤브레인을 투과한 광을 목표물로 가이드하는 광학계가 상기 광학 장치에 포함될 수 있다. In addition, the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modifications may be included in an optical device. In this case, light may be irradiated to the nano-mesh membrane by a light source that generates light, and an optical system that guides the light transmitted through the nano-mesh membrane to a target may be included in the optical device.
또한, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인은 EUV 리소그래피 장치를 포함될 수 있다. 이 경우, EUV광을 생성하는 광원에 의해 EUV 광이 상기 나노 메쉬 멤브레인으로 제공될 수 있다. Additionally, the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modifications may include an EUV lithography apparatus. In this case, EUV light may be provided to the nano-mesh membrane by a light source that generates EUV light.
또한, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인은 다른 필터를 제조하는데 활용될 수 있다. 예를 들어, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따른 나노 메쉬 멤브레인을 마스크로 이용한 패터닝 공정(ex. EUV, ArF, 전자빔 등)으로 물질막 상의 광 감응성 막을 패터닝하고, 상기 광 감응성 막 패터닝된 광 감응성 패턴을 마스크로 사용하여 상기 물질막을 식각하는 방법으로 상기 물질막을 필터로 제조할 수 있다. In addition, the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modified examples can be utilized to manufacture other filters. For example, the nano-mesh membrane manufactured according to the above-described embodiments and modified examples can be manufactured into a filter by patterning a photosensitive film on a material film using a patterning process (e.g., EUV, ArF, electron beam, etc.) as a mask, and etching the material film using the patterned photosensitive pattern of the photosensitive film as a mask.
또한, 상술된 실시 예들 및 변형 예들에 따라 제조된 나노 메쉬 멤브레인은 입자를 필터링하는 물리적 기능을 수행하는 필터의 역할을 수행하는데 사용될 수 있다. Additionally, the nano-mesh membrane manufactured according to the embodiments and modifications described above can be used to perform the role of a filter that performs the physical function of filtering particles.
이상, 본 발명을 바람직한 실시 예를 사용하여 상세히 설명하였으나, 본 발명의 범위는 특정 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의하여 해석되어야 할 것이다. 또한, 이 기술분야에서 통상의 지식을 습득한 자라면, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않으면서도 많은 수정과 변형이 가능함을 이해하여야 할 것이다.Above, although the present invention has been described in detail using preferred embodiments, the scope of the present invention is not limited to specific embodiments, and should be interpreted by the appended claims. In addition, those who have acquired common knowledge in this technical field should understand that many modifications and variations are possible without departing from the scope of the present invention.
본 출원의 실시 예에 따른 나노 메쉬 멤브레인은 리소그래피 공정, 광학 필터, 입자 필터, 필터 생성을 위한 마스크 등 다양한 용도로 사용될 수 있다. Nano mesh membranes according to embodiments of the present invention can be used for various purposes, such as lithography processes, optical filters, particle filters, and masks for filter production.
Claims (13)
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 24904322 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |