WO2025125090A1 - Method for crosstalk modelling in a multi-mirror array having movable individual mirrors - Google Patents
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- G03F7/70516—Calibration of components of the microlithographic apparatus, e.g. light sources, addressable masks or detectors
Definitions
- the invention relates to a method for crosstalk modeling in a multi-mirror arrangement with movable individual mirrors.
- the invention further relates to a method for positioning the individual mirrors of a multi-mirror arrangement with movable individual mirrors.
- the invention relates to a facet mirror module for an illumination optics system of a projection exposure system, an illumination optics system with a corresponding facet mirror module, and an illumination system, an optical system, and a projection exposure system with such an illumination optics system.
- the invention relates to a method for producing a micro- or nanostructured component.
- Projection exposure systems for microlithography can have multi-mirror grids with a multitude of movable individual mirrors.
- Crosstalk phenomena can occur during the positioning of the individual mirrors, where controlling a specific mirror affects the positioning of other mirrors.
- US 2022/0227621 A1 discloses a multi-mirror arrangement with improved crosstalk behavior.
- US 2022/0066196 A1 describes a method for modeling the crosstalk behavior. Due to the large number of individual mirrors, such a method can be very complex. Furthermore, applying a corresponding model to new mirror settings can be difficult.
- a core of the invention is to use one or more control patterns for positioning at least a subset of the individual mirrors of a multi-mirror arrangement to To record interactions between the individual mirrors and to train a neural network with the recorded data.
- the neural network can be used, in particular, to predict a relationship between a control pattern and the resulting actual positions of the individual mirrors.
- the control pattern(s) can serve as predictors of a training data set for the neural network.
- the coefficients of the determined coefficient matrix which serve to quantify crosstalk behavior, can serve as targets of the training data set.
- the multi-mirror arrangement it may be possible to train a neural network from a relatively small number of control patterns and the corresponding interactions between the individual mirrors, by means of which neural network a prediction of a relationship between an essentially arbitrary control pattern and the resulting actual positions of the individual mirrors is possible.
- This can be advantageously exploited in particular if the multi-mirror arrangement has certain symmetries, in particular translation invariance.
- Edge effects can be particularly taken into account here.
- the significance of edge effects increasingly decreases.
- the individual mirrors of the multi-mirror arrangement can, in particular, be micromirrors, but this is not to be understood as a limitation.
- the micromirrors can, in particular, be formed by microelectromechanical systems (MEMS) or micro-optoelectromechanical systems (MOEMS).
- MEMS microelectromechanical systems
- MOEMS micro-optoelectromechanical systems
- these can be mirrors for radiation in the DUV or EUV range.
- the individual mirrors of the multi-mirror array are arranged in a regular pattern, particularly one that is translationally invariant. This can be advantageously used when training a convolution kernel of a convolutional neural network (CNN).
- CNN convolutional neural network
- it may be provided to determine the deviation of the actual positions of the individual mirrors from their target positions.
- the coefficient matrix can reflect the geometry or topology of the arrangement of the individual mirrors in the multi-mirror array.
- the coefficient matrix can have as many elements as a particular mirror has nearest neighbors.
- a coefficient matrix can also be provided that has as many entries as a particular mirror has next-nearest neighbors and/or even more distant mirrors.
- the coefficient matrix can also be represented one-dimensionally, i.e. as a coefficient vector.
- it may be provided to determine several coefficient matrices corresponding to the interactions in different directions.
- it may be provided to determine one or more coefficient matrices for each of the degrees of freedom of displacement of the individual mirrors.
- the entries of the coefficient matrix can also be vector functions.
- one, two, three, or more coefficient matrices can be determined for a specific individual mirror.
- interactions between the control of neighboring individual mirrors in the same displacement directions and interactions between the control of an individual mirror for positioning in a first direction and the deflection of another, particularly neighboring, individual mirror in a different direction, particularly perpendicular to it, can be taken into account.
- the neural network can be integrated into the control device. It can also be part of an external computing device.
- the control device preferably has a memory in which the neural network can be stored for adapting the control device.
- one or more individual mirrors in particular those which are not adjacent and/or not next but one adjacent, can be permanently controlled and/or one or more individual mirrors, in particular each adjacent to a fixedly controlled individual mirror, can be variably controlled, in particular with a variable actuation signal.
- a fixed control is understood, in particular, to mean control with a predetermined, constant actuation signal. It can be identical for all control patterns, in particular using a . However, this is not absolutely necessary. It can also be different for different control patterns.
- the fixed control can also be zero, meaning that the corresponding individual mirror is not deflected.
- variable control can be discrete or continuous. Using the variable control, it is possible to determine functions for the interactions. This increases the flexibility for predicting interactions, especially for predicting say of mirror positions resulting from a specific control pattern.
- the first coefficient of the series expansion may suffice.
- higher-order coefficients can be considered, particularly in additional coefficient matrices.
- two or more control signals can be provided for one and the same control pattern. This can apply separately to each displacement degree of freedom.
- a plurality M of different control patterns can be used to determine the coefficient matrices, wherein the number M of control patterns used is smaller than the number N of individual mirrors in the multi-mirror arrangement.
- M : N ⁇ 0.1, in particular M : N ⁇ 0.01, in particular M : N ⁇ 0.001, can apply.
- the number M of control patterns used to train the neural network can be, in particular, at most 10 5 , in particular at most 3 * 10 4 , in particular at most 10 4 , in particular at most 5000, in particular at most 3000, in particular at most 2000, in particular at most 1000.
- One of the advantages of the present invention is that the effort for determining the crosstalk behavior can be significantly reduced.
- the number N of individual mirrors can be more than 100,000, in particular more than 200,000, in particular more than 300,000, in particular more than 500,000. It is in particular less than 10 7 , in particular less than 10 6 .
- the individual mirrors activated by the control patterns can be distributed across substantially all subregions of the multi-mirror arrangement.
- the smallest convex envelope of the controlled individual mirrors can be at least 80%, in particular at least 90%, in particular at least 95%, of the total area of the smallest convex envelope of all individual mirrors in the multi-mirror arrangement.
- the largest gap may, in particular, be a maximum of ten individual mirrors, in particular a maximum of five individual mirrors, in particular a maximum of three individual mirrors. These values may each refer to the maximum or minimum diameter of a convex envelope of the gap.
- the total number of individual mirrors activated by the control patterns can be evenly distributed across the multi-mirror array. It can also be unevenly distributed across the multi-mirror array.
- the distribution of the activated individual mirrors can be modeled on a field or pupil facet mirror, depending on how they are used. Groups of adjacent individual mirrors can, in particular, each model a facet or a pupil facet mirror.
- the activated individual mirrors can be selected specifically or determined quasi-randomly.
- the entirety of the control patterns can comprise control patterns with different numbers of activated individual mirrors.
- the number of controlled individual mirrors can, in particular, be varied from 1 to N.
- the maximum number of controlled individual mirrors can, in particular, be at most N:2, in particular at most N:3, in particular at most N:5, in particular at most N:10.
- each pattern area for example, 100000/600 individual mirrors can be controlled together to simulate 600 individual pupil facet mirrors.
- the controlled individual mirrors can, in particular, be arranged as thinly distributed as possible. In particular, their arrangement can be selected such that their average spacing is greater than a lower limit.
- the lower limit can, in particular, be at least 50%, in particular at least 70%, in particular at least 90% of the maximum possible average spacing.
- the regressor can, in particular, be a multinomial regression.
- a favorable, fast embodiment of such a multinomial regressor is a random forest (tree) regressor.
- a gradient boost regressor can also be used.
- a neural network configured as a regressor, in particular a multilayer perceptron, can also be used as the regressor. Details of such regressors are known to those skilled in the art.
- the regressor can be trained using the training data set, i.e., with predefined control patterns. it is possible to calculate the coefficient matrix for quantifying the crosstalk for a given driving pattern in a single calculation run.
- the expected positioning errors in particular the expected angular position errors, can then be determined by matrix multiplication of the control matrix with the coefficient matrix.
- the neural network for predicting the deviations of the actual positions from the target positions of the individual mirrors resulting from crosstalk effects is, in particular, a neural network that was trained according to the preceding description, in particular according to claim 1. It is, in particular, a neural network in which control patterns served as predictors for training, and the coefficients of the determined coefficient matrix served as targets.
- the individual mirrors of the multi-mirror arrangement can in particular be the individual mirrors of the facet mirror module described below.
- the predicted deviations, especially positioning errors, especially angular position errors can be obtained by matrix multiplication of a control matrix with the coefficient matrix.
- the coefficient matrix can be calculated using a regressor, as described above. A single calculation run may be sufficient for this.
- a further object of the invention is to improve a facet mirror module for an illumination optics of a projection exposure system.
- This can be, in particular, a DUV projection exposure system or an EUV
- a facet mirror module with a multi-mirror arrangement with displaceable individual mirrors and a control device for controlling the positioning of the individual mirrors, wherein the control device has a computing unit with a neural network for predicting the deviations of the actual positions of the individual mirrors from the target positions when controlling them with a given control pattern.
- the given control pattern can be essentially any control pattern. In particular, it can be a control pattern that was not used to train the neural network.
- the neural network may in particular comprise at least one convolutional layer, in particular as a first layer.
- the facet mirror module can also have a measuring system for detecting the actual positions of the individual mirrors.
- the measuring system for detecting the positions of the individual mirrors can, in particular, be connected to the control device in a signal-transmitting manner. This allows for feedback control of the positions of the individual mirrors. This can improve the precision and/or stability of the individual mirrors' positioning.
- the neural network can be integrated into the facet mirror module, in particular into the multi-mirror arrangement.
- the neural network can be programmed into an application-specific integrated circuit (ASIC).
- ASIC application-specific integrated circuit
- a further object of the invention is to improve a method for producing a micro- or nanostructured component, in particular a memory chip. This problem is solved by providing a projection exposure system with a facet mirror module as described above. The advantages are evident from those already described.
- Fig. 1 schematically shows a projection exposure system for microlithography
- Fig. 2A to 2D schematically show different control patterns for determining coefficient matrices for modeling crosstalk behavior of a multi-mirror arrangement
- Fig. 3 shows a schematic representation to explain the structure of the training data set.
- a projection exposure system 1 is first described by way of example with reference to Figure 1. This description is not to be understood as restrictive.
- the invention leads to advantages, in particular, regardless of the precise details of the projection exposure system 1.
- the invention is not limited to a projection exposure system, in particular not to an illumination optics system for a projection exposure system, in particular not to a facet mirror for such an illumination optics system.
- a facet mirror represents a concrete example of a component (a device) in which the advantages according to the invention come into play.
- Fig. 1 shows a schematic meridional section of a projection exposure system 1 for microlithography.
- An illumination system 2 of the projection exposure system 1 has, in addition to a radiation source 3, an illumination optics 4 for exposing an object field 5 in an object plane 6.
- the object field 5 can be rectangular or arc-shaped with an x/y aspect ratio of, for example, 13/1.
- an object A reflective reticle (not shown in Fig. 1) arranged in the object field 5 carries a structure to be projected using the projection exposure system 1 for producing micro- or nanostructured semiconductor components.
- Projection optics 7 serve to image the object field 5 into an image field 8 in an image plane 9.
- the structure on the reticle is imaged onto a light-sensitive layer of a wafer arranged in the region of the image field 8 in the image plane 9, which wafer is not shown in the drawing.
- the reticle which is held by a reticle holder (not shown), and the wafer, which is held by a wafer holder (not shown), are scanned synchronously in the y-direction during operation of the projection exposure system 1.
- the reticle can also be scanned in the opposite direction relative to the wafer.
- the reticle is imaged onto a region of a light-sensitive layer on the wafer for the lithographic production of a micro- or nanostructured component, in particular a semiconductor component, for example, a microchip.
- the reticle and the wafer are moved in a temporally synchronized manner in the y-direction, continuously in scanner mode or stepwise in stepper mode.
- Radiation source 3 is an EUV radiation source with an emitted useful radiation in the range between 5 nm and 30 nm. It can be a plasma source, for example, a GDPP (Gas Discharge Produced Plasma) or an LPP (Laser Produced Plasma) source. Other EUV radiation sources, such as those based on a synchrotron or a free electron laser (FEL), are also possible.
- a plasma source for example, a GDPP (Gas Discharge Produced Plasma) or an LPP (Laser Produced Plasma) source.
- Other EUV radiation sources such as those based on a synchrotron or a free electron laser (FEL), are also possible.
- the radiation generated by the radiation source 3 is hereinafter also referred to as useful radiation 10, illumination light or imaging light.
- the useful radiation 10 is reflected by a pupil facet mirror 14 having a plurality of pupil facets 14a.
- the pupil facet mirror 14 lies either in the entrance pupil plane of the illumination optics 7 or in a plane optically conjugate thereto.
- the field facet mirror 13 and the pupil facet mirror 14 are constructed from a plurality of individual mirrors, which are described in more detail below.
- the division of the field facet mirror 13 into individual mirrors can be such that each of the field facets 13a, which individually illuminate the entire object field 5, is represented by exactly one of the individual mirrors.
- the useful radiation 10 strikes the two facet mirrors 13, 14 at an angle of incidence, measured normal to the mirror surface, that is less than or equal to 25°.
- the two facet mirrors 13, 14 are therefore exposed to the useful radiation 10 in the range of normal incidence operation. Exposure under grazing incidence is also possible.
- the pupil facet mirror 14 is arranged in a plane of the illumination optics 4, which represents a pupil plane of the projection optics 7 or is optically conjugate to a pupil plane of the projection optics 7. With the aid of the pupil facet mirror 14 and an imaging optical assembly in the form of a transmission optics 15 with mirrors 16, 17, and 18, designated in the order of the beam path for the useful radiation 10.
- the field facets of the field facet mirror 13 are imaged superimposed onto the object field 5.
- the last mirror 18 of the transmission optics 15 is a grazing incidence mirror.
- the transmission optics 15, together with the pupil facet mirror 14, are also referred to as the follow-up optics for transferring the useful radiation 10 from the field facet mirror 13 to the object field 5.
- the illumination light 10 is guided from the radiation source 3 to the object field 5 via a plurality of illumination channels. Each of these illumination channels is assigned a field facet 13a of the field facet mirror 13 and a pupil facet 14a of the pupil facet mirror 14 arranged downstream of this field facet.
- the individual mirrors of the field facet mirror 13 and the pupil facet mirror 14 can be tilted by actuators, allowing a change in the assignment of the pupil facets 14a to the field facets 13a and, accordingly, a modified configuration of the illumination channels. This results in different illumination settings that differ in the distribution of the illumination angles of the illumination light 10 across the object field 5.
- the field facet mirror 13 can be designed in the form of a multi- or micro-mirror array (MMA).
- the multi- or micro-mirror array (MMA) serves below as a concrete example of a multi-mirror arrangement 31.
- the MMA can be designed, in particular, as a microelectromechanical system (MEMS). It can have a plurality of individual mirrors 32 arranged in a matrix-like array in rows and columns. The individual mirrors 32 can be designed to be tiltable by actuators. In total, the field facet mirror 13 can have over 100,000 individual mirrors 32.
- MEMS microelectromechanical system
- the selection of the individual mirrors 32* can be carried out according to a predetermined plan or randomly, in particular quasi-randomly.
- control patterns 34 i.e. the selection of the individual mirrors 32* for defining the control vectors, are advantageously selected in such a way that controlled individual mirrors 32* are present distributed over all sub-areas across the data set.
- the entire training data set 33 is shown as an example in Figure 3.
- control patterns 34 can vary depending on the number S_i of the individual mirrors 32* controlled.
- a smaller number of samples is sufficient to train a neural network or a random forest regressor.
- the number of samples for training the neural network can, in particular, be in the range from 1,000 to 100,000. It can, in particular, be a maximum of 50,000, in particular a maximum of 30,000, in particular a maximum of 20,000, in particular a maximum of 10,000, in particular a maximum of 5,000, in particular a maximum of 3,000.
- the M control patterns 34 can preferably be distributed as evenly as possible over the surface of the multi-mirror arrangement 31.
- the different The control patterns 34 can, in particular, comprise different numbers of controlled mirrors 32*. They can, in particular, comprise at least 10, in particular at least 20, in particular at least 30, in particular at least 50, in particular at least 100 different numbers of controlled individual mirrors 32*.
- the ratio of the number of controlled individual mirrors 32* to the total number of individual mirrors 32 is also referred to as the fill level.
- the fill levels of any control pattern 34 can, in particular, be in the range from 10% to 60%.
- the numbers of controlled individual mirrors 32* can be uniformly randomly distributed.
- the controlled individual mirrors 32* are preferably distributed as evenly as possible across the multi-mirror arrangement 31.
- non-uniform distributions can also be selected. It can be particularly advantageous to distribute the centroids of the distributions of the individual mirrors 32* according to a distribution of the individual mirrors 32 used for specific lighting settings that typically occurs in practice.
- the centroids can, for example, also have a Gaussian distribution.
- a further training data set 33 may be used to determine the coefficients for modeling the crosstalk behavior in a second direction, which is in particular perpendicular to the first direction, for example, a y-direction, which is perpendicular to the scanning direction.
- the regressor can be trained using the training data set 33 or the training data sets 33. After training, the coefficient matrix for quantifying the crosstalk behavior can be calculated for a given control pattern 34 in a single calculation run.
- an additional regressor is selected for training each of the higher orders.
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Abstract
Description
Verfahren zur Übersprechmodellierung bei einer Vielspiegel-Anordnung mit verlagerbaren Einzelspiegeln Method for crosstalk modeling in a multi-mirror arrangement with movable individual mirrors
Die vorliegende Patentanmeldung nimmt die Priorität der deutschen Patentanmeldung DE 10 2023 212 444.0 in Anspruch, deren Inhalt durch Bezugnahme hierin aufgenommen wird. This patent application claims priority from German patent application DE 10 2023 212 444.0, the contents of which are incorporated herein by reference.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Übersprechmodellierung bei einer Vielspiegel- Anordnung mit verlagerbaren Einzelspiegeln. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur Positionierung der Einzelspiegel einer Vielspiegel- Anordnung mit verlagerbaren Einzelspiegeln. Weiter betrifft die Erfindung ein Facettenspiegel-Modul für eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage, eine Beleuchtungsoptik mit einem entsprechenden Facettenspiegelmodul und ein Beleuchtungssystem, ein optisches System und eine Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen Beleuchtungsoptik. Schließlich betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Herstellung eines mikro- oder nanostrukturierten Bauelements. The invention relates to a method for crosstalk modeling in a multi-mirror arrangement with movable individual mirrors. The invention further relates to a method for positioning the individual mirrors of a multi-mirror arrangement with movable individual mirrors. Furthermore, the invention relates to a facet mirror module for an illumination optics system of a projection exposure system, an illumination optics system with a corresponding facet mirror module, and an illumination system, an optical system, and a projection exposure system with such an illumination optics system. Finally, the invention relates to a method for producing a micro- or nanostructured component.
Projektionsbelichtungsanlagen für die Mikrolithographie können Vielfachspiegelraster aufweisen mit einer Vielzahl von verlagerbar Einzelspiegeln. Bei der Positionierung der Einzelspiegel kann es hierbei zu Übersprech-Phänomenen kommen, bei welchen die Ansteuerung eines bestimmten Spiegels zu einem Effekt auf die Positionierung anderer Spiegel führt. Aus der US 2022/0227621 Al ist eine Vielspiegel-Anordnung mit einem verbesserten Übersprech- Verhalten bekannt. Aus der US 2022/0066196 Al ist ein Verfahren bekannt, das Übersprech-Verhalten zu modellieren. Aufgrund der großen Anzahl der Einzelspiegel kann ein derartiges Verfahren sehr aufwendig sein. Außerdem kann die Anwendung eines entsprechenden Modells auf neue Spiegelsettings schwierig sein. Projection exposure systems for microlithography can have multi-mirror grids with a multitude of movable individual mirrors. Crosstalk phenomena can occur during the positioning of the individual mirrors, where controlling a specific mirror affects the positioning of other mirrors. US 2022/0227621 A1 discloses a multi-mirror arrangement with improved crosstalk behavior. US 2022/0066196 A1 describes a method for modeling the crosstalk behavior. Due to the large number of individual mirrors, such a method can be very complex. Furthermore, applying a corresponding model to new mirror settings can be difficult.
Es ist daher eine Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zur Übersprechmodellierung bei einer Vielspiegel- Anordnung mit verlagerbaren Einzelspiegeln zu verbessern. It is therefore an object of the invention to improve a method for crosstalk modeling in a multi-mirror arrangement with displaceable individual mirrors.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst. This problem is solved by the features of claim 1.
Ein Kern der Erfindung besteht darin, bei einem oder mehreren Ansteuer-Mustern zur Positionierung zumindest einer Teilmenge der Einzelspiegel einer Vielspiegel- Anordnung die Wechselwirkungen zwischen den Einzelspiegeln zu erfassen und mit den erfassten Daten ein neuronales Netz zu trainieren. Das neuronale Netz kann insbesondere zur Vorhersage eines Zusammenhangs zwischen einem Ansteuer-Muster und den sich daraus ergebenden Ist- Positionen der Einzelspiegel dienen. A core of the invention is to use one or more control patterns for positioning at least a subset of the individual mirrors of a multi-mirror arrangement to To record interactions between the individual mirrors and to train a neural network with the recorded data. The neural network can be used, in particular, to predict a relationship between a control pattern and the resulting actual positions of the individual mirrors.
Das oder die Ansteuer-Muster können als Prädiktoren eines Trainingsdatensatzes für das neuronale Netz dienen. Die Koeffizienten der ermittelten Koeffizientenmatrix, welche zur Quantifizierung eines Übersprechverhaltens dienen, können als Targets des Trainingsdatensatzes dienen. The control pattern(s) can serve as predictors of a training data set for the neural network. The coefficients of the determined coefficient matrix, which serve to quantify crosstalk behavior, can serve as targets of the training data set.
Erfindungsgemäß wurde erkannt, dass es aufgrund der konstruktiven Details der Vielspiegel- Anordnung möglich sein kann, aus einer relativ geringen Anzahl von Ansteuer-Mustern und den entsprechenden Wechselwirkungen zwischen den Einzelspiegeln ein neuronales Netz anzutrainieren, mittels welchem eine Vorhersage eines Zusammenhangs zwischen einem im Wesentlichen beliebigen Ansteuer-Muster und den sich daraus ergebenden Ist-Positionen der Einzelspiegel möglich ist. Vorteilhaft kann hierbei insbesondere ausgenutzt werden, wenn die Vielspiegel- Anordnung bestimmte Symmetrien, insbesondere eine Translationsinvarianz, aufweist. Randeffekte können hierbei besonders berücksichtigt werden. Insbesondere bei einer Vielspiegel- Anordnung mit einer sehr großen Anzahl von Einzelspiegeln, beispielsweise mit mehr als 100000 Einzelspiegeln, insbesondere mehr als 300000 Einzelspiegeln, insbesondere mehr als 500000 Einzelspiegeln, nimmt die Bedeutung von Randeffekten zunehmend ab. According to the invention, it was recognized that, due to the structural details of the multi-mirror arrangement, it may be possible to train a neural network from a relatively small number of control patterns and the corresponding interactions between the individual mirrors, by means of which neural network a prediction of a relationship between an essentially arbitrary control pattern and the resulting actual positions of the individual mirrors is possible. This can be advantageously exploited in particular if the multi-mirror arrangement has certain symmetries, in particular translation invariance. Edge effects can be particularly taken into account here. In particular in a multi-mirror arrangement with a very large number of individual mirrors, for example with more than 100,000 individual mirrors, in particular more than 300,000 individual mirrors, in particular more than 500,000 individual mirrors, the significance of edge effects increasingly decreases.
Bei den Einzelspiegeln der Vielspiegel- Anordnung kann es sich insbesondere um Mikrospiegel handeln, jedoch ist dies nicht einschränkend zu verstehen. Die Mikrospiegel können insbesondere durch mikroelektromechanische Systeme (MEMS) beziehungsweise mikroopto- elektromechanische Systeme (MOEMS) gebildet sein. Für Details sei exemplarisch auf die US 2014/0055767 Al verwiesen. The individual mirrors of the multi-mirror arrangement can, in particular, be micromirrors, but this is not to be understood as a limitation. The micromirrors can, in particular, be formed by microelectromechanical systems (MEMS) or micro-optoelectromechanical systems (MOEMS). For details, please refer to US 2014/0055767 A1.
Es kann sich insbesondere um Spiegel für Strahlung im DUV-Bereich oder im EUV-Bereich handeln. Dies ist nicht einschränkend zu verstehen. Vorzugsweise sind die Einzelspiegel der Vielspiegel- Anordnung nach einem regelmäßigen Muster, insbesondere translationsinvariant, angeordnet. Dies kann beim Antrainieren eines Faltungskerns eines faltenden neuronalen Netzwerks (CNN, Convolutionable Neural Network) vorteilhaft genutzt werden. In particular, these can be mirrors for radiation in the DUV or EUV range. This is not intended to be limiting. Preferably, the individual mirrors of the multi-mirror array are arranged in a regular pattern, particularly one that is translationally invariant. This can be advantageously used when training a convolution kernel of a convolutional neural network (CNN).
Es kann insbesondere vorgesehen sein, die Abweichung der Ist-Positionen der Einzelspiegel von deren Soll-Positionen zu bestimmen. In particular, it may be provided to determine the deviation of the actual positions of the individual mirrors from their target positions.
Die Koeffizientenmatrix kann als Einträge (Koeffizienten)Werte oder Funktionen, aufweisen, welche den Einfluss der Ansteuerung benachbarter Spiegel auf einen bestimmten Einzelspiegel charakterisieren. Diese Werte können beispielsweise als Kippwinkel (Veränderung) je Ansteuersignalwert (Millirad/Volt) ausgedrückt werden. The coefficient matrix can contain as entries (coefficient) values or functions that characterize the influence of the control of neighboring mirrors on a specific individual mirror. These values can be expressed, for example, as a tilt angle (change) per control signal value (millirad/volt).
Die Koeffizientenmatrix kann die Geometrie beziehungsweise Topologie der Anordnung der Einzelspiegel der Vielspiegel- Anordnung widerspiegeln. Beispielsweise kann die Koeffizientenmatrix so viele Elemente aufweisen, wie ein bestimmter Spiegel nächste Nachbarn hat. Im Falle der Berücksichtigung von Wechselwirkungen höherer Ordnung kann auch eine Koeffizientenmatrix vorgesehen sein, welche so viele Einträge hat wie ein bestimmter Spiegel übernächste Nachbarn und/oder noch weiter entfernte Spiegel. The coefficient matrix can reflect the geometry or topology of the arrangement of the individual mirrors in the multi-mirror array. For example, the coefficient matrix can have as many elements as a particular mirror has nearest neighbors. When considering higher-order interactions, a coefficient matrix can also be provided that has as many entries as a particular mirror has next-nearest neighbors and/or even more distant mirrors.
Die Koeffizientenmatrix kann auch eindimensional, das heißt als Koeffizientenvektor, dargestellt werden. The coefficient matrix can also be represented one-dimensionally, i.e. as a coefficient vector.
Weiter kann vorgesehen sein, mehrere Koeffizientenmatrizen zu ermitteln, welche den Wechselwirkungen in unterschiedlichen Richtungen entsprechen. Es kann insbesondere vorgesehen sein, zu jedem der Verlagerungsfreiheitsgrade der Einzelspiegel eine oder mehrere Koeffizientenmatrizen zu ermitteln. Furthermore, it may be provided to determine several coefficient matrices corresponding to the interactions in different directions. In particular, it may be provided to determine one or more coefficient matrices for each of the degrees of freedom of displacement of the individual mirrors.
Außerdem ist es möglich, die Wechselwirkungen der Ansteuerung bestimmter Einzelspiegel in einer ersten Richtung auf die Verlagerungsposition anderer, insbesondere benachbarter, Einzelspiegel in anderen, insbesondere einer senkrecht zur ersten Richtung orientierten zweiten Richtung, zu ermitteln. Prinzipiell können die Einträge der Koeffizientenmatrix auch Vektor-Funktionen sein. In addition, it is possible to determine the interactions of the control of certain individual mirrors in a first direction on the displacement position of other, in particular adjacent, individual mirrors in other directions, in particular a second direction oriented perpendicular to the first direction. In principle, the entries of the coefficient matrix can also be vector functions.
Im Falle von Einzelspiegeln mit zwei Kippfreiheitsgraden können für einen bestimmten Einzelspiegel jeweils eine, zwei, drei oder mehr Koeffizientenmatrizen ermittelt werden. Hierbei können insbesondere Wechselwirkungen der Ansteuerung benachbarter Einzelspiegel in dieselben Verlagerungsrichtungen und Wechselwirkungen zwischen der Ansteuerung eines Einzelspiegels zur Positionierung in einer ersten Richtung auf die Auslenkung eines anderen, insbesondere benachbarten Einzelspiegels in einer von verschiedenen, insbesondere hierzu senkrechten Richtung, berücksichtigt werden. In the case of individual mirrors with two degrees of freedom of tilt, one, two, three, or more coefficient matrices can be determined for a specific individual mirror. In particular, interactions between the control of neighboring individual mirrors in the same displacement directions and interactions between the control of an individual mirror for positioning in a first direction and the deflection of another, particularly neighboring, individual mirror in a different direction, particularly perpendicular to it, can be taken into account.
Das neuronale Netz kann in die Steuereinrichtung integriert sein. Es kann auch Bestandteil einer externen Recheneinrichtung sein. In diesem Fall weist die Steuereinrichtung vorzugsweise einen Speicher auf, in welchem das neuronale Netz zur Anpassung der Steuereinrichtung gespeichert werden kann. The neural network can be integrated into the control device. It can also be part of an external computing device. In this case, the control device preferably has a memory in which the neural network can be stored for adapting the control device.
Gemäß einem Aspekt können zur Ermittlung der Koeffizientenmatrix ein oder mehrere, insbesondere nicht benachbarte, und/oder nicht übernächst benachbarte, Einzelspiegel fest angesteuert und/oder ein oder mehrere, insbesondere jeweils zu einem fest angesteuerten Einzelspiegel benachbarte Einzelspiegel, variabel, insbesondere mit variablem Aktuierungssignal, angesteuert werden. According to one aspect, in order to determine the coefficient matrix, one or more individual mirrors, in particular those which are not adjacent and/or not next but one adjacent, can be permanently controlled and/or one or more individual mirrors, in particular each adjacent to a fixedly controlled individual mirror, can be variably controlled, in particular with a variable actuation signal.
Unter einer festen Ansteuerung sei insbesondere die Ansteuerung mit einem vorgegebenen, konstanten Aktuations-Signal verstanden. Sie kann insbesondere mittels für sämtliche An- steuer-Muster identisch sein. Dies ist jedoch nicht zwingend nötig. Sie kann auch für unterschiedliche Ansteuer-Muster unterschiedlich sein. Die feste Ansteuerung kann auch null sein, das heißt, dass der entsprechende Einzelspiegel nicht ausgelenkt wird. A fixed control is understood, in particular, to mean control with a predetermined, constant actuation signal. It can be identical for all control patterns, in particular using a . However, this is not absolutely necessary. It can also be different for different control patterns. The fixed control can also be zero, meaning that the corresponding individual mirror is not deflected.
Die variable Ansteuerung kann diskret oder kontinuierlich sein. Mit Hilfe der variablen Ansteuerung ist es möglich, Funktionen für die Wechselwirkungen zu bestimmen. Hierdurch wird die Flexibilität für die Vorhersage von Wechselwirkungen, insbesondere für die Vorher- sage von sich bei einem bestimmten Ansteuer-Muster ergebenden Spiegelpositionen, verbessert. The variable control can be discrete or continuous. Using the variable control, it is possible to determine functions for the interactions. This increases the flexibility for predicting interactions, especially for predicting say of mirror positions resulting from a specific control pattern.
Zur Bestimmung der Koeffizienten der Koeffizientenmatrix kann insbesondere eine Reihenentwicklung einer Funktion, welche den Einfluss der variablen Ansteuerung eines Einzelspiegels auf die Positionierung eines anderen, insbesondere eines benachbarten Einzelspiegels beschreibt, genutzt werden. To determine the coefficients of the coefficient matrix, a series expansion of a function that describes the influence of the variable control of an individual mirror on the positioning of another, in particular a neighboring, individual mirror can be used.
Im Falle einer als linear angenommenen Wechselwirkung kann hierbei der erste Koeffizient der Reihenentwicklung genügen. Zur Berücksichtigung nicht-linearer Wechselwirkungen können Koeffizienten höherer Ordnungen berücksichtigt werden, insbesondere in zusätzlichen Koeffizientenmatrizen. In the case of an interaction assumed to be linear, the first coefficient of the series expansion may suffice. To account for non-linear interactions, higher-order coefficients can be considered, particularly in additional coefficient matrices.
Zur Ermittlung von Koeffizientenmatrizen zweiter und/oder höherer Ordnung(en) können zwei oder mehr Ansteuersignale, insbesondere unterschiedlich starke Aktuierungssignale, bei ein- und demselben Ansteuer-Muster vorgesehen sein. Dies kann für jeden Verlagerungs- Freiheitsgrad separat gelten. To determine second- and/or higher-order coefficient matrices, two or more control signals, particularly actuation signals of different strengths, can be provided for one and the same control pattern. This can apply separately to each displacement degree of freedom.
Gemäß einem weiteren Aspekt kann eine Mehrzahl M an unterschiedlichen Ansteuer-Mustem verwendet werden, um die Koeffizienten-Matrizen zu ermitteln, wobei die Anzahl M der verwendeten Ansteuer-Muster kleiner ist als die Anzahl N der Einzelspiegel der Vielspiegel- Anordnung. Es kann insbesondere gelten M : N < 0,1, insbesondere M : N < 0,01, insbesondere M : N < 0,001. According to a further aspect, a plurality M of different control patterns can be used to determine the coefficient matrices, wherein the number M of control patterns used is smaller than the number N of individual mirrors in the multi-mirror arrangement. In particular, M : N < 0.1, in particular M : N < 0.01, in particular M : N < 0.001, can apply.
Die Anzahl M der zum Antrainieren des neuronalen Netzes verwendeten Ansteuer-Muster kann insbesondere höchstens 105, insbesondere höchstens 3 * 104, insbesondere höchstens 104, insbesondere höchstens 5000, insbesondere höchstens 3000, insbesondere höchstens 2000, insbesondere höchstens 1000 betragen. Es gehört zu den Vorteilen der vorliegenden Erfindung, dass der Aufwand für die Ermittlung des Übersprech-Verhaltens erheblich reduziert werden kann. Die Anzahl N der Einzelspiegel kann mehr als 100000, insbesondere mehr als 200000, insbesondere mehr als 300000, insbesondere mehr als 500000 betragen. Sie ist insbesondere kleiner als 107, insbesondere kleiner als 106. The number M of control patterns used to train the neural network can be, in particular, at most 10 5 , in particular at most 3 * 10 4 , in particular at most 10 4 , in particular at most 5000, in particular at most 3000, in particular at most 2000, in particular at most 1000. One of the advantages of the present invention is that the effort for determining the crosstalk behavior can be significantly reduced. The number N of individual mirrors can be more than 100,000, in particular more than 200,000, in particular more than 300,000, in particular more than 500,000. It is in particular less than 10 7 , in particular less than 10 6 .
Insbesondere bei einer relativ geringen Anzahl an Ansteuer-Mustern zum Training des neuronalen Netzwerks kann es vorteilhaft sein, diese gezielt auszuwählen. Especially when there is a relatively small number of control patterns for training the neural network, it can be advantageous to select them specifically.
Vorzugsweise können die mit den Ansteuer-Mustern aktivierten Einzelspiegel über im Wesentlichen sämtliche Teilbereiche der Vielspiegel- Anordnung verteilt sein. Es ist beispielsweise möglich, dass die kleinste konvexe Einhüllende der angesteuerten Einzelspiegel mindestens 80 %, insbesondere mindestens 90 %, insbesondere mindestens 95 %, der Gesamtfläche der kleinsten konvexen Einhüllenden sämtlicher Einzelspiegel der Vielspiegel- Anordnung beträgt. Preferably, the individual mirrors activated by the control patterns can be distributed across substantially all subregions of the multi-mirror arrangement. For example, it is possible for the smallest convex envelope of the controlled individual mirrors to be at least 80%, in particular at least 90%, in particular at least 95%, of the total area of the smallest convex envelope of all individual mirrors in the multi-mirror arrangement.
Es kann vorteilhaft sein, wenn die Gesamtheit der in den Ansteuer-Mustem aktivierten Einzelspiegel keine großen Lücken aufweist. Die größte Lücke kann insbesondere höchstens zehn Einzelspiegel, insbesondere höchstens fünf Einzelspiegel, insbesondere höchstens drei Einzelspiegel betragen. Diese Werte können sich jeweils auf den maximalen oder den minimalen Durchmesser einer konvexen Einhüllenden der Lücke beziehen. It may be advantageous if the entire set of individual mirrors activated in the control pattern does not have large gaps. The largest gap may, in particular, be a maximum of ten individual mirrors, in particular a maximum of five individual mirrors, in particular a maximum of three individual mirrors. These values may each refer to the maximum or minimum diameter of a convex envelope of the gap.
Die Gesamtheit der mittels der Ansteuer-Muster aktivierten Einzelspiegel kann gleichmäßig über die Vielspiegel- Anordnung verteilt sein. Sie kann auch ungleichmäßig über die Vielspiegel-Anordnung verteilt sein. The total number of individual mirrors activated by the control patterns can be evenly distributed across the multi-mirror array. It can also be unevenly distributed across the multi-mirror array.
Die Verteilung der aktivierten Einzelspiegel kann einem Feld- oder einem Pupillenfacettenspiegel nachgebildet sein, so wie jene eingesetzt werden. Gruppen benachbarter Einzelspiegel können insbesondere jeweils eine Facette oder einen Pupillenfacetteneinzelspiegel nachbilden. The distribution of the activated individual mirrors can be modeled on a field or pupil facet mirror, depending on how they are used. Groups of adjacent individual mirrors can, in particular, each model a facet or a pupil facet mirror.
In einem Ansteuer-Muster können die aktivierten Einzelspiegel gezielt gewählt oder quasizufällig bestimmt werden. Gemäß einem weiteren Aspekt kann die Gesamtheit der Ansteuer-Muster Ansteuer-Muster mit unterschiedlichen Anzahlen an aktivierten Einzelspiegeln umfassen. Die Anzahl der angesteuerten Einzelspiegel kann insbesondere von 1 bis N variiert werden. Die maximale Anzahl der angesteuerten Einzelspiegel kann insbesondere höchstens N:2, insbesondere höchstens N:3, insbesondere höchstens N:5, insbesondere höchstens N:10 betragen. In a control pattern, the activated individual mirrors can be selected specifically or determined quasi-randomly. According to a further aspect, the entirety of the control patterns can comprise control patterns with different numbers of activated individual mirrors. The number of controlled individual mirrors can, in particular, be varied from 1 to N. The maximum number of controlled individual mirrors can, in particular, be at most N:2, in particular at most N:3, in particular at most N:5, in particular at most N:10.
In jedem Musterbereich können beispielsweise 100000/600 Einzelspiegel gemeinsam angesteuert werden, um 600 Pupillenfacetteneinzelspiegel nachzubilden. In each pattern area, for example, 100000/600 individual mirrors can be controlled together to simulate 600 individual pupil facet mirrors.
Gemäß einem weiteren Aspekt kann zur Ermittlung einer Koeffizientenmatrix, insbesondere eines Koeffizientenvektors, aus einem vorgegebenen Ansteuer-Muster, insbesondere einem beliebigen Ansteuer-Muster, ein Regressor bestimmt werden. Es kann sich insbesondere um einen Zufalls-Regressor (random regressor) handeln. According to a further aspect, a regressor can be determined to determine a coefficient matrix, in particular a coefficient vector, from a predetermined control pattern, in particular any control pattern. This can, in particular, be a random regressor.
Die angesteuerten Einzelspiegel können insbesondere möglichst dünn verteilt angeordnet sein. Es kann insbesondere vorgesehen sein, ihre Anordnung derart zu wählen, dass ihr mittlerer Abstand größer als eine untere Grenze ist. Die untere Grenze kann insbesondere mindestens 50 %, insbesondere mindestens 70 %, insbesondere mindestens 90 % des maximal möglichen mittleren Abstands betragen. The controlled individual mirrors can, in particular, be arranged as thinly distributed as possible. In particular, their arrangement can be selected such that their average spacing is greater than a lower limit. The lower limit can, in particular, be at least 50%, in particular at least 70%, in particular at least 90% of the maximum possible average spacing.
Dies ist vorteilhaft, um auf Basis eines Trainingsdatensatzes begrenzten Umfangs auf Koeffizientenmatrizen bei beliebigen Ansteuer-Mustem schließen zu können. This is advantageous in order to be able to infer coefficient matrices for arbitrary control patterns based on a training data set of limited size.
Bei dem Regressor kann es sich insbesondere um einen multinomialen Regress zur handeln. Eine günstige, schnelle Ausführungsform für solch einen multinomialen Regressor ist ein Randon Forest (Tree) Regressor. Alternativ kann auch ein Gradient Boost Regressor Verwendung finden. Als Regressor kann auch ein als Regressor ausgestaltetes neuronales Netz, insbesondere ein Multilayer Perceptron, Verwendung finden. Details derartiger Regressoren sind dem Fachmann bekannt. The regressor can, in particular, be a multinomial regression. A favorable, fast embodiment of such a multinomial regressor is a random forest (tree) regressor. Alternatively, a gradient boost regressor can also be used. A neural network configured as a regressor, in particular a multilayer perceptron, can also be used as the regressor. Details of such regressors are known to those skilled in the art.
Unabhängig von der gewählten Ausführungsform kann der Regressor mithilfe des Trainingsdatensatzes, das heißt mit vorgegebenen Ansteuer-Mustern, antrainiert werden. Anschließend ist es möglich, die Koeffizientenmatrix für die Quantifizierung des Übersprechens für ein gegebenes Ansteuer-Muster in einem einzigen Rechendurchlauf zu berechnen. Regardless of the chosen embodiment, the regressor can be trained using the training data set, i.e., with predefined control patterns. it is possible to calculate the coefficient matrix for quantifying the crosstalk for a given driving pattern in a single calculation run.
Die zu erwartenden Positionierungsfehler, insbesondere die zu erwartenden Winkelstellungsfehler, können dann durch Matrixmultiplikation der Ansteuermatrix mit der Koeffizientenmatrix ermittelt werden. The expected positioning errors, in particular the expected angular position errors, can then be determined by matrix multiplication of the control matrix with the coefficient matrix.
Diese Fehler können zur Korrektur der Ansteuersignale verwendet werden. These errors can be used to correct the control signals.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein Verfahren zur Positionierung der Einzelspiegel einer Vielspiegel- Anordnung mit verlagerbaren Einzelspiegeln zu verbessern. Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit folgenden Schritten gelöst: A further object of the invention is to improve a method for positioning the individual mirrors of a multi-mirror arrangement with movable individual mirrors. This object is achieved by a method comprising the following steps:
Vorgabe eines Soll- Ansteuer-Musters zur Positionierung zumindest einer Teilmenge der Einzelspiegel der Vielspiegel- Anordnung in Soll-Positionen, Specification of a target control pattern for positioning at least a subset of the individual mirrors of the multi-mirror arrangement in target positions,
Vorhersage der sich aufgrund von Übersprech-Effekten ergebenden Abweichungen der Ist-Positionen von den Soll-Positionen der Einzelspiegel mithilfe eines neuronalen Netzwerks, Prediction of the deviations of the actual positions from the target positions of the individual mirrors due to crosstalk effects using a neural network,
Anpassung des Soll- Ansteuer-Musters in Abhängigkeit von den vorhergesagten Abweichungen, Adjustment of the target control pattern depending on the predicted deviations,
Positionieren der Einzelspiegel durch Ansteuem derselben mit dem angepassten Ansteuer-Muster. Positioning the individual mirrors by controlling them with the adapted control pattern.
Bei dem neuronalen Netzwerk zur Vorhersage der sich aufgrund von Übersprech-Effekten ergebenden Abweichungen der Ist-Positionen von den Soll-Positionen der Einzelspiegel handelt es sich insbesondere um ein neuronales Netzwerk, welches gemäß der vorhergehenden Beschreibung, insbesondere gemäß Anspruch 1, trainiert wurde. Es handelt sich insbesondere um ein neuronales Netz, bei welchem zum Training als Prädiktoren Ansteuer-Muster und als Targets die Koeffizienten der ermittelten Koeffizientenmatrix dienten. The neural network for predicting the deviations of the actual positions from the target positions of the individual mirrors resulting from crosstalk effects is, in particular, a neural network that was trained according to the preceding description, in particular according to claim 1. It is, in particular, a neural network in which control patterns served as predictors for training, and the coefficients of the determined coefficient matrix served as targets.
Bei den Einzelspiegeln der Vielspiegel- Anordnung kann es sich insbesondere um die Einzelspiegel des nachfolgend noch beschriebenen Facettenspiegel-Moduls handeln. Die vorhergesagten Abweichungen, insbesondere die Positionierungsfehler, insbesondere Winkelstellungsfehler, können sich durch Matrixmultiplikation einer Ansteuermatrix mit der Koeffizientenmatrix ergeben. Die Koeffizientenmatrix kann, wie vorhergehend beschrieben, mit Hilfe eines Regressors berechnet werden. Hierfür kann insbesondere ein einziger Rechendurchlauf ausreichend sein. The individual mirrors of the multi-mirror arrangement can in particular be the individual mirrors of the facet mirror module described below. The predicted deviations, especially positioning errors, especially angular position errors, can be obtained by matrix multiplication of a control matrix with the coefficient matrix. The coefficient matrix can be calculated using a regressor, as described above. A single calculation run may be sufficient for this.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein Facettenspiegel-Modul für eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage zu verbessern. Hierbei kann es sich insbesondere um eine DUV-Projektionsbelichtungsanlage oder eine EUV-A further object of the invention is to improve a facet mirror module for an illumination optics of a projection exposure system. This can be, in particular, a DUV projection exposure system or an EUV
Proj ektionsbelichtungsanlage handeln. Projection exposure system.
Diese Aufgabe wird durch ein Facettenspiegel -Modul mit einer Vielspiegel- Anordnung mit verlagerbaren Einzelspiegeln und einer Steuereinrichtung zur Steuerung der Positionierung der Einzelspiegel gelöst, wobei die Steuereinrichtung eine Recheneinheit aufweist mit einem neuronalen Netz zur Vorhersage der Abweichungen der Ist-Positionen der Einzelspiegel von den Soll-Positionen bei Ansteuern derselben mit einem gegebenen Ansteuer-Muster. This object is achieved by a facet mirror module with a multi-mirror arrangement with displaceable individual mirrors and a control device for controlling the positioning of the individual mirrors, wherein the control device has a computing unit with a neural network for predicting the deviations of the actual positions of the individual mirrors from the target positions when controlling them with a given control pattern.
Mit Hilfe einer derartigen Steuereinrichtung kann insbesondere eine Abweichung der Ist- Positionen der Einzelspiegel von den vorgegebenen Soll-Positionen, insbesondere aufgrund eines Übersprechens, verringert werden. Anders ausgedrückt kann hierdurch die Präzision der Positionierung der Einzelspiegel verbessert werden. With the help of such a control device, deviations between the actual positions of the individual mirrors and the specified target positions, particularly due to crosstalk, can be reduced. In other words, the precision of the positioning of the individual mirrors can be improved.
Bei dem gegebenen Ansteuer-Muster kann es sich um ein im Wesentlichen beliebiges An- steuer-Muster handeln. Es kann sich insbesondere um ein Ansteuer-Muster handeln, welches nicht zum Training des neuronalen Netzes verwendet wurde. The given control pattern can be essentially any control pattern. In particular, it can be a control pattern that was not used to train the neural network.
Das neuronale Netz kann insbesondere mindestens eine Faltungsschicht umfassen, insbesondere als erste Schicht. The neural network may in particular comprise at least one convolutional layer, in particular as a first layer.
Das Facettenspiegel -Modul kann außerdem ein Messsystem zur Erfassung der Ist-Positionen der Einzelspiegel aufweisen. Das Messsystem zur Erfassung der Positionen der Einzelspiegel kann insbesondere in signalübertragender Weise mit der Steuereinrichtung verbunden sein. Dies ermöglicht es, die Positionen der Einzelspiegel rückgekoppelt zu regeln. Hierdurch kann die Präzision und/oder Stabilität der Positionierung der Einzelspiegel verbessert werden. The facet mirror module can also have a measuring system for detecting the actual positions of the individual mirrors. The measuring system for detecting the positions of the individual mirrors can, in particular, be connected to the control device in a signal-transmitting manner. This allows for feedback control of the positions of the individual mirrors. This can improve the precision and/or stability of the individual mirrors' positioning.
Gemäß einem Aspekt kann das neuronale Netz in das Facettenspiegel -Modul, insbesondere in die Vielspiegel-Anordnung, integriert sein. According to one aspect, the neural network can be integrated into the facet mirror module, in particular into the multi-mirror arrangement.
Das neuronale Netz kann insbesondere in einen anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreis (ASIC, Application Specific Integrated Circuit) einprogrammiert sein. In particular, the neural network can be programmed into an application-specific integrated circuit (ASIC).
Das neuronale Netz kann auch auf einem separaten Datenträger, insbesondere einem separaten Speichermedium, programmiert sein. Es kann insbesondere Bestandteil eines Computerprogrammprodukts sein. Hierdurch wird die Flexibilität des Facettenspiegel-Moduls, insbesondere der Steuereinrichtung desselben, verbessert. Das neuronale Netz kann insbesondere austauschbar sein. The neural network can also be programmed on a separate data carrier, in particular a separate storage medium. It can, in particular, be part of a computer program product. This improves the flexibility of the facet mirror module, in particular of its control device. The neural network can, in particular, be replaceable.
Die Vielspiegel-Anordnung des Facettenspiegel -Moduls kann insbesondere als Feldfacettenspiegel, als Pupillenfacettenspiegel oder als spekulativer Reflektor dienen. The multi-mirror arrangement of the facet mirror module can serve in particular as a field facet mirror, as a pupil facet mirror or as a speculative reflector.
Alternative Anwendungen in optischen Systemen mit strukturierter Beleuchtung sind ebenso möglich. Alternative applications in optical systems with structured illumination are also possible.
Weitere Aufgaben der Erfindung bestehen darin, eine Beleuchtungsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage, ein Beleuchtungssystem für eine Projektionsbelichtungsanlage, ein optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage und eine Projektionsbelichtungsanlage zu verbessern. Further objects of the invention are to improve an illumination optics for a projection exposure apparatus, an illumination system for a projection exposure apparatus, an optical system for a projection exposure apparatus and a projection exposure apparatus.
Diese Aufgaben werden durch entsprechende Optiken beziehungsweise Systeme mit einem Facettenspiegel -Modul gemäß der vorhergehenden Beschreibung gelöst. Die Vorteile ergeben sich aus denen des Facettenspiegel-Moduls. These tasks are solved by appropriate optics or systems with a facet mirror module as described above. The advantages arise from those of the facet mirror module.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein Verfahren zur Herstellung eines mikro- oder nanostrukturierten Bauelements, insbesondere eines Speicherchips, zu verbessern. Diese Aufgabe wird durch Bereitstellung einer Projektionsbelichtungsanlage mit einem Facettenspiegel-Modul gemäß der vorhergehenden Beschreibung gelöst. Die Vorteile ergeben sich aus den bereits beschriebenen. A further object of the invention is to improve a method for producing a micro- or nanostructured component, in particular a memory chip. This problem is solved by providing a projection exposure system with a facet mirror module as described above. The advantages are evident from those already described.
Weitere Details und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der Figuren. Es zeigen: Further details and advantages of the invention will become apparent from the description of exemplary embodiments based on the figures. They show:
Fig. 1 schematisch eine Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie, Fig. 1 schematically shows a projection exposure system for microlithography,
Fig. 2A bis 2D schematisch unterschiedliche Ansteuer-Muster zur Bestimmung von Koeffizientenmatrizen zur Modellierung eines Übersprech-Verhaltens einer Vielspiegel- Anordnung, Fig. 2A to 2D schematically show different control patterns for determining coefficient matrices for modeling crosstalk behavior of a multi-mirror arrangement,
Fig. 3 schematisch eine Darstellung zur Erläuterung des Aufbaus des Trainingsdatensatzes. Fig. 3 shows a schematic representation to explain the structure of the training data set.
Im Folgenden wird zunächst exemplarisch der prinzipielle Aufbau einer Projektionsbelichtungsanlage 1 anhand der Figur 1 beschrieben. Diese Beschreibung ist nicht einschränkend zu verstehen. Die Erfindung führt insbesondere unabhängig von den genauen Details der Projektionsbelichtungsanlage 1 zu Vorteilen. Die Erfindung ist insbesondere nicht auf eine Projektionsbelichtungsanlage, insbesondere nicht auf eine Beleuchtungsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage, insbesondere nicht auf einen Facettenspiegel für eine derartige Beleuchtungsoptik, beschränkt. Ein Facettenspiegel stellt jedoch ein konkretes Beispiel eines Bauelements (einer Vorrichtung) dar, bei welchem die erfindungsgemäßen Vorteile zum Tragen kommen. In the following, the basic structure of a projection exposure system 1 is first described by way of example with reference to Figure 1. This description is not to be understood as restrictive. The invention leads to advantages, in particular, regardless of the precise details of the projection exposure system 1. The invention is not limited to a projection exposure system, in particular not to an illumination optics system for a projection exposure system, in particular not to a facet mirror for such an illumination optics system. However, a facet mirror represents a concrete example of a component (a device) in which the advantages according to the invention come into play.
Fig. 1 zeigt schematisch in einem Meridionalschnitt eine Projektionsbelichtungsanlage 1 für die Mikrolithografie. Ein Beleuchtungssystem 2 der Projektionsbelichtungsanlage 1 hat neben einer Strahlungsquelle 3 eine Beleuchtungsoptik 4 zur Belichtung eines Objektfeldes 5 in einer Objektebene 6. Das Objektfeld 5 kann rechteckig oder bogenförmig mit einem x/y- Aspektverhältnis von beispielsweise 13/1 gestaltet sein. Belichtet wird hierbei ein im Objekt- feld 5 angeordnetes und in der Fig. 1 nicht dargestelltes reflektierendes Retikel, das eine mit der Projektionsbelichtungsanlage 1 zur Herstellung mikro- beziehungsweise nanostrukturierter Halbleiter-Bauelemente zu projizierende Struktur trägt. Eine Projektionsoptik 7 dient zur Abbildung des Objektfeldes 5 in ein Bildfeld 8 in einer Bildebene 9. Abgebildet wird die Struktur auf dem Retikel auf eine lichtempfindliche Schicht eines im Bereich des Bildfeldes 8 in der Bildebene 9 angeordneten Wafers, der in der Zeichnung nicht dargestellt ist. Fig. 1 shows a schematic meridional section of a projection exposure system 1 for microlithography. An illumination system 2 of the projection exposure system 1 has, in addition to a radiation source 3, an illumination optics 4 for exposing an object field 5 in an object plane 6. The object field 5 can be rectangular or arc-shaped with an x/y aspect ratio of, for example, 13/1. In this case, an object A reflective reticle (not shown in Fig. 1) arranged in the object field 5 carries a structure to be projected using the projection exposure system 1 for producing micro- or nanostructured semiconductor components. Projection optics 7 serve to image the object field 5 into an image field 8 in an image plane 9. The structure on the reticle is imaged onto a light-sensitive layer of a wafer arranged in the region of the image field 8 in the image plane 9, which wafer is not shown in the drawing.
Das Retikel, das von einem nicht dargestellten Retikelhalter gehalten ist, und der Wafer, der von einem nicht dargestellten Waferhalter gehalten ist, werden beim Betrieb der Projektionsbelichtungsanlage 1 synchron in der y-Richtung gescannt. Abhängig vom Abbildungsmaßstab der Projektionsoptik 7 kann auch ein gegenläufiges Scannen des Retikels relativ zum Wafer stattfinden. The reticle, which is held by a reticle holder (not shown), and the wafer, which is held by a wafer holder (not shown), are scanned synchronously in the y-direction during operation of the projection exposure system 1. Depending on the image scale of the projection optics 7, the reticle can also be scanned in the opposite direction relative to the wafer.
Mit Hilfe der Projektionsbelichtungsanlage 1 wird wenigstens ein Teil des Retikels auf einen Bereich einer lichtempfindlichen Schicht auf dem Wafer zur lithographischen Herstellung eines mikro- beziehungsweise nanostrukturierten Bauelements, insbesondere eines Halbleiterbauelements, zum Beispiel eines Mikrochips abgebildet. Je nach Ausführung der Projektionsbelichtungsanlage 1 als Scanner oder als Stepper werden das Retikel und der Wafer zeitlich synchronisiert in der y-Richtung kontinuierlich im Scannerbetrieb oder schrittweise im Stepperbetrieb verfahren. With the aid of the projection exposure system 1, at least a portion of the reticle is imaged onto a region of a light-sensitive layer on the wafer for the lithographic production of a micro- or nanostructured component, in particular a semiconductor component, for example, a microchip. Depending on the design of the projection exposure system 1 as a scanner or as a stepper, the reticle and the wafer are moved in a temporally synchronized manner in the y-direction, continuously in scanner mode or stepwise in stepper mode.
Bei der Strahlungsquelle 3 handelt es sich um eine EUV-Strahlungsquelle mit einer emittierten Nutzstrahlung im Bereich zwischen 5 nm und 30 nm. Es kann sich dabei um eine Plasmaquelle, beispielsweise um eine GDPP-Quelle (Plasmaerzeugung durch Gasentladung, Gas Discharge Produced Plasma), oder um eine LPP-Quelle (Plasmaerzeugung durch Laser, Laser Produced Plasma) handeln. Auch andere EUV-Strahlungsquellen, beispielsweise solche, die auf einem Synchrotron oder auf einem Free Electron Laser (Freie Elektronenlaser, FEL) basieren, sind möglich. Radiation source 3 is an EUV radiation source with an emitted useful radiation in the range between 5 nm and 30 nm. It can be a plasma source, for example, a GDPP (Gas Discharge Produced Plasma) or an LPP (Laser Produced Plasma) source. Other EUV radiation sources, such as those based on a synchrotron or a free electron laser (FEL), are also possible.
Es kann sich auch um eine DUV-Strahlungsquelle, insbesondere mit einer emittierten Nutzstrahlung einer Wellenlänge von 193 nm, handeln. Die von der Strahlungsquelle 3 erzeugte Strahlung wird nachfolgend auch als Nutzstrahlung 10, Beleuchtungslicht oder als Abbildungslicht bezeichnet. It can also be a DUV radiation source, in particular with emitted useful radiation at a wavelength of 193 nm. The radiation generated by the radiation source 3 is hereinafter also referred to as useful radiation 10, illumination light or imaging light.
Nutzstrahlung 10, die von der Strahlungsquelle 3 ausgeht, wird von einem Kollektor 11 gebündelt. Ein entsprechender Kollektor ist beispielsweise aus der EP 1 225 481 A bekannt. Nach dem Kollektor 11 propagiert die Nutzstrahlung 10 durch eine Zwischenfokusebene 12, bevor sie auf einen Feldfacettenspiegel 13 mit einer Vielzahl von Feldfacetten 13a trifft. Der Feldfacettenspiegel 13 ist in einer Ebene der Beleuchtungsoptik 4 angeordnet, die zur Objektebene 6 optisch konjugiert ist. Useful radiation 10 emanating from the radiation source 3 is focused by a collector 11. A corresponding collector is known, for example, from EP 1 225 481 A. After the collector 11, the useful radiation 10 propagates through an intermediate focal plane 12 before impinging on a field facet mirror 13 having a plurality of field facets 13a. The field facet mirror 13 is arranged in a plane of the illumination optics 4 that is optically conjugate to the object plane 6.
Nach dem Feldfacettenspiegel 13 wird die Nutzstrahlung 10 von einem Pupillenfacettenspiegel 14 mit einer Vielzahl von Pupillenfacetten 14a reflektiert. Der Pupillenfacettenspiegel 14 liegt entweder in der Eintrittspupillenebene der Beleuchtungsoptik 7 oder in einer hierzu optisch konjugierten Ebene. Der Feldfacettenspiegel 13 und der Pupillenfacettenspiegel 14 sind aus einer Vielzahl von Einzelspiegeln aufgebaut, die nachfolgend noch näher beschrieben werden. Dabei kann die Unterteilung des Feldfacettenspiegels 13 in Einzelspiegel derart sein, dass jede der Feldfacetten 13a, die für sich das gesamte Objektfeld 5 ausleuchten, durch genau einen der Einzelspiegel repräsentiert wird. Alternativ ist es möglich, zumindest einige oder alle der Feldfacetten 13a durch eine Mehrzahl derartiger Einzelspiegel aufzubauen. Entsprechendes gilt für die Ausgestaltung der den Feldfacetten 13a jeweils zugeordneten Pupillenfacetten 14a des Pupillenfacettenspiegels 14, die jeweils durch einen einzigen Einzelspiegel oder durch eine Mehrzahl derartiger Einzelspiegel gebildet sein können. After the field facet mirror 13, the useful radiation 10 is reflected by a pupil facet mirror 14 having a plurality of pupil facets 14a. The pupil facet mirror 14 lies either in the entrance pupil plane of the illumination optics 7 or in a plane optically conjugate thereto. The field facet mirror 13 and the pupil facet mirror 14 are constructed from a plurality of individual mirrors, which are described in more detail below. The division of the field facet mirror 13 into individual mirrors can be such that each of the field facets 13a, which individually illuminate the entire object field 5, is represented by exactly one of the individual mirrors. Alternatively, it is possible to construct at least some or all of the field facets 13a from a plurality of such individual mirrors. The same applies to the design of the pupil facets 14a of the pupil facet mirror 14, which are respectively assigned to the field facets 13a and which can each be formed by a single individual mirror or by a plurality of such individual mirrors.
Die Nutzstrahlung 10 trifft auf die beiden Facettenspiegel 13, 14 unter einem Einfallswinkel, gemessen normal zur Spiegelfläche, auf, der kleiner oder gleich 25° ist. Die beiden Facettenspiegel 13, 14 werden also im Bereich eines normal incidence-Betriebs mit der Nutzstrahlung 10 beaufschlagt. Auch eine Beaufschlagung unter streifendem Einfall (grazing incidence) ist möglich. Der Pupillenfacettenspiegel 14 ist in einer Ebene der Beleuchtungsoptik 4 angeordnet, die eine Pupillenebene der Projektionsoptik 7 darstellt beziehungsweise zu einer Pupillenebene der Projektionsoptik 7 optisch konjugiert ist. Mithilfe des Pupillenfacettenspiegels 14 und einer abbildenden optischen Baugruppe in Form einer Übertragungsoptik 15 mit in der Reihenfolge des Strahlengangs für die Nutzstrahlung 10 bezeichneten Spiegeln 16, 17 und 18 werden die Feldfacetten des Feldfacettenspiegels 13 einander überlagernd in das Objektfeld 5 abgebildet. Der letzte Spiegel 18 der Übertragungsoptik 15 ist ein Spiegel für streifenden Einfall („Grazing incidence Spiegel“). Die Übertragungsoptik 15 wird zusammen mit dem Pupillenfacettenspiegel 14 auch als Folgeoptik zur Überführung der Nutzstrahlung 10 vom Feldfacettenspiegel 13 hin zum Objektfeld 5 bezeichnet. Das Beleuchtungslicht 10 wird von der Strahlungsquelle 3 hin zum Objektfeld 5 über eine Mehrzahl von Ausleuchtungskanälen geführt. Jedem dieser Ausleuchtungskanäle ist eine Feldfacette 13a des Feldfacettenspiegels 13 und eine dieser nachgeordnete Pupillenfacette 14a des Pupillenfacettenspiegels 14 zugeordnet. Die Einzelspiegel des Feldfacettenspiegels 13 und des Pupillenfacettenspiegels 14 können aktuatorisch verkippbar sein, sodass ein Wechsel der Zuordnung der Pupillenfacetten 14a zu den Feldfacetten 13a und entsprechend eine geänderte Konfiguration der Ausleuchtungskanäle erreicht werden kann. Es resultieren unterschiedliche Beleuchtungssettings, die sich in der Verteilung der Beleuchtungswinkel des Beleuchtungslichts 10 über das Objektfeld 5 unterscheiden. The useful radiation 10 strikes the two facet mirrors 13, 14 at an angle of incidence, measured normal to the mirror surface, that is less than or equal to 25°. The two facet mirrors 13, 14 are therefore exposed to the useful radiation 10 in the range of normal incidence operation. Exposure under grazing incidence is also possible. The pupil facet mirror 14 is arranged in a plane of the illumination optics 4, which represents a pupil plane of the projection optics 7 or is optically conjugate to a pupil plane of the projection optics 7. With the aid of the pupil facet mirror 14 and an imaging optical assembly in the form of a transmission optics 15 with mirrors 16, 17, and 18, designated in the order of the beam path for the useful radiation 10. The field facets of the field facet mirror 13 are imaged superimposed onto the object field 5. The last mirror 18 of the transmission optics 15 is a grazing incidence mirror. The transmission optics 15, together with the pupil facet mirror 14, are also referred to as the follow-up optics for transferring the useful radiation 10 from the field facet mirror 13 to the object field 5. The illumination light 10 is guided from the radiation source 3 to the object field 5 via a plurality of illumination channels. Each of these illumination channels is assigned a field facet 13a of the field facet mirror 13 and a pupil facet 14a of the pupil facet mirror 14 arranged downstream of this field facet. The individual mirrors of the field facet mirror 13 and the pupil facet mirror 14 can be tilted by actuators, allowing a change in the assignment of the pupil facets 14a to the field facets 13a and, accordingly, a modified configuration of the illumination channels. This results in different illumination settings that differ in the distribution of the illumination angles of the illumination light 10 across the object field 5.
Der Feldfacettenspiegel 13 kann in Form eines Multi- beziehungsweise Mikrospiegel-Arrays (MMA) ausgebildet sein. Das Multi- beziehungsweise Mikrospiegel- Array (MMA) dient im Folgenden als konkretes Beispiel für eine Vielspiegel- Anordnung 31. Das MMA kann insbesondere als mikroelektromechanisches System (MEMS) ausgebildet sein. Er kann eine Vielzahl von matrixartig zeilen- und spaltenweise in einem Array angeordneten Einzelspiegeln 32 aufweisen. Die Einzelspiegel 32 können aktuatorisch verkippbar ausgebildet sein. Insgesamt kann der Feldfacettenspiegel 13 über 100000 Einzelspiegel 32 aufweisen. Für Details des MMA sei exemplarisch auf die DE 10 2011 006 100 Al verwiesen. The field facet mirror 13 can be designed in the form of a multi- or micro-mirror array (MMA). The multi- or micro-mirror array (MMA) serves below as a concrete example of a multi-mirror arrangement 31. The MMA can be designed, in particular, as a microelectromechanical system (MEMS). It can have a plurality of individual mirrors 32 arranged in a matrix-like array in rows and columns. The individual mirrors 32 can be designed to be tiltable by actuators. In total, the field facet mirror 13 can have over 100,000 individual mirrors 32. For details of the MMA, reference is made to DE 10 2011 006 100 A1.
Zur Detektion der Positionierung, insbesondere des Kippwinkels, der Einzelspiegel 32 können Sensoren verwendet werden, welche elektrische oder elektromagnetische Felder erzeugen. Beispielsweise können als Sensoren Wirbelstromsensoren oder kapazitive Sensoren dienen. Sensors that generate electrical or electromagnetic fields can be used to detect the positioning, in particular the tilt angle, of the individual mirrors 32. Eddy current sensors or capacitive sensors can be used as sensors, for example.
Die Felder unterschiedlicher Sensoren können sich gegenseitig beeinflussen. Insbesondere können die Felder direkt benachbarter Spiegel zu einem unerwünschten Crosstalk, insbesondere zu einer Verursachung eines Kippwinkelfehlers führen. Beim Einsatz der Projektionsbelichtungsanlage 1 werden das Retikel 24 und der Wafer 25, der eine für das Beleuchtungslicht 10 lichtempfindliche Beschichtung trägt, bereitgestellt. Anschließend wird zumindest ein Abschnitt des Retikels 24 mit Hilfe der Projektionsbelichtungsanlage 1 auf den Wafer 25 projiziert. Bei der Projektion des Retikels 24 auf den Wafer 25 kann der Retikelhalter und/oder der Waferhalter in Richtung parallel zur Objektebene 6 bzw. parallel zur Bildebene 9 verlagert werden. Die Verlagerung des Retikels 24 und des Wafers 25 kann vorzugsweise synchron zueinander erfolgen. Schließlich wird die mit dem Beleuchtungslicht 10 belichtete lichtempfindliche Schicht auf dem Wafer 25 entwickelt. Auf diese Weise wird ein mikro- beziehungsweise nanostrukturiertes Bauelement, insbesondere ein Halbleiterchip, hergestellt. The fields of different sensors can influence each other. In particular, the fields of directly adjacent mirrors can lead to undesirable crosstalk, particularly causing a tilt angle error. When using the projection exposure system 1, the reticle 24 and the wafer 25, which bears a coating light-sensitive to the illumination light 10, are provided. Subsequently, at least a portion of the reticle 24 is projected onto the wafer 25 using the projection exposure system 1. During the projection of the reticle 24 onto the wafer 25, the reticle holder and/or the wafer holder can be displaced in a direction parallel to the object plane 6 or parallel to the image plane 9. The displacement of the reticle 24 and the wafer 25 can preferably occur synchronously with one another. Finally, the light-sensitive layer exposed to the illumination light 10 is developed on the wafer 25. In this way, a micro- or nanostructured component, in particular a semiconductor chip, is produced.
Bei einer Vielspiegelanordnung kann es zu unerwünschten Übersprech-Phänomenen (cross talk) bei der Ansteuerung der Einzelspiegel 32 kommen. Es kann insbesondere passieren, dass die Ansteuerung eines bestimmten Einzelspiegels 32 eine unerwünschte Auswirkung auf die Positionierung anderer, insbesondere benachbarter, Einzelspiegel 32 hat. Lösungsansätze, wie derartige, unerwünschte Wechselwirkungen reduziert werden können, sind beispielsweise aus der US 2022/0227621 Al und der US 2022/0066196 Al bekannt. Insbesondere die aus der US 2022/0066196 Al bekannten Lösungen sind aufwendig, insbesondere zeitaufwendig, und ermöglichen nur begrenzte Vorhersagen für die Effekte bei neuartigen Settings. In a multi-mirror arrangement, undesirable crosstalk phenomena can occur when controlling the individual mirrors 32. In particular, it can happen that the control of a specific individual mirror 32 has an undesirable effect on the positioning of other, particularly neighboring, individual mirrors 32. Approaches to reducing such undesirable interactions are known, for example, from US 2022/0227621 A1 and US 2022/0066196 A1. In particular, the solutions known from US 2022/0066196 A1 are complex, particularly time-consuming, and allow only limited predictions of the effects in novel settings.
Im Folgenden wird unter Bezugnahme auf die Figuren 2A bis 2D und Figur 3 ein Verfahren zur Übersprechmodellierung bei einer Vielspiegel- Anordnung 31 mit verlagerbaren Einzelspiegeln 32 beschrieben. In the following, a method for crosstalk modeling in a multi-mirror arrangement 31 with displaceable individual mirrors 32 is described with reference to Figures 2A to 2D and Figure 3.
Wie in den Figuren exemplarisch dargestellt ist, kann die Vielspiegel- Anordnung 31 gleichförmig ausgeführt sein. Sie kann insbesondere als gleichförmiges Spiegelraster ausgebildet sein. Sie kann insbesondere in einer, zwei oder mehreren Richtungen eine Translationsinvarianz aufweisen. Insbesondere die Anordnung der Einzelspiegel 32 kann der Struktur eines quadratischen, dreieckigen oder hexagonalen Gitters entsprechen. Die geometrischen Flächenschwerpunkte der Reflexionsflächen der Einzelspiegel 32 können insbesondere auf den Gitterpunkten eines derartigen Gitters liegen. Insbesondere bei einer Vielspiegel- Anordnung 31 mit einer sehr großen Anzahl an Einzelspiegeln 32 können Randeffekte für eine große Anzahl der Einzelspiegel 32 vernachlässigt werden. Der Einfluss der Ansteuerung eines benachbarten Einzelspiegels 32 auf einen vorgegebenen Einzelspiegel 32* kann insbesondere als klein angenommen werden. As shown by way of example in the figures, the multi-mirror arrangement 31 can be uniformly configured. In particular, it can be designed as a uniform mirror grid. It can exhibit translation invariance in one, two, or more directions. In particular, the arrangement of the individual mirrors 32 can correspond to the structure of a square, triangular, or hexagonal grid. The geometric centroids of the reflection surfaces of the individual mirrors 32 can, in particular, lie at the grid points of such a grid. In particular, in a multi-mirror arrangement 31 with a very large number of individual mirrors 32, edge effects for a large number of individual mirrors 32 can be neglected. The influence of the control of a neighboring individual mirror 32 on a given individual mirror 32* can be assumed to be small.
Die Wechselwirkungen bei der Ansteuerung benachbarter Einzelspiegel 32 können in einer Wechselwirkungsmatrix oder einem Wechselwirkungsvektor zusammengefasst werden. Die Wechselwirkungsmatrix beziehungsweise der Wechselwirkungsvektor können als translationsinvariant angenommen werden. The interactions during the control of neighboring individual mirrors 32 can be summarized in an interaction matrix or an interaction vector. The interaction matrix or the interaction vector can be assumed to be translation-invariant.
Zur Ermittlung der Wechselwirkungsmatrix beziehungsweise des Wechselwirkungsvektors kann ein bestimmter Einzelspiegel 32* ausgewählt werden und bestimmt werden, wie sich seine Positionierung bei Ansteuerung einer Auswahl der verbleibenden Einzelspiegel 32 ändert. Hierbei kann die Auswahl einen oder mehrere der Einzelspiegel 32 umfassen. Diese können gleichzeitig oder hintereinander angesteuert werden. Sie können insbesondere variabel, das heißt mit unterschiedlich starken Aktuierungssignalen, angesteuert werden. Zur Ansteuerung, das heißt Aktuierung, der Einzelspiegel 32 dient eine Steuereinrichtung 35. Die Steuereinrichtung 35 kann in signalübertragender Weise mit dem Feldfacettenspiegel 13 und/oder dem Pupillenfacettenspiegel 14 verbunden sein. To determine the interaction matrix or the interaction vector, a specific individual mirror 32* can be selected, and it can be determined how its positioning changes when a selection of the remaining individual mirrors 32 is controlled. The selection can comprise one or more of the individual mirrors 32. These can be controlled simultaneously or sequentially. In particular, they can be controlled variably, i.e., with actuation signals of varying strengths. A control device 35 is used to control, i.e., actuate, the individual mirrors 32. The control device 35 can be connected to the field facet mirror 13 and/or the pupil facet mirror 14 in a signal-transmitting manner.
Es ist insbesondere möglich, in einem ersten Teil eines Trainingsdatensatzes, jeweils einen bestimmten Einzelspiegel 32* fest anzusteuern, und andere Einzelspiegel 32v, insbesondere dessen benachbarte Einzelspiegel 32v, einzeln oder in Gruppen von mehreren gleichzeitig variabel anzusteuern und die Änderung der Position des ausgewählten Einzelspiegels 32* mit einem externen Messsystem zu verfolgen. Die Auswirkungen der Ansteuerung der anderen, insbesondere der benachbarten Einzelspiegel 32v, können in eine Target-Matrix eingetragen werden. Dabei ist es insbesondere möglich, die Koeffizienten einer Reihenentwicklung einer Wechselwirkungsfunktion in die Target-Matrix einzutragen. Sofern lediglich lineare Wechselwirkungen betrachtet werden sollen, kann es genügen, lediglich den ersten Koeffizienten der Reihenentwicklung in die Target-Matrix einzutragen. Im nichtlinearen Fall können auch weitere Koeffizienten der Reihenentwicklung berücksichtigt werden. Zusätzlich zu den nächst-benachbarten Einzelspiegeln 32v können auch übernächste Nachbarn oder prinzipiell beliebige weitere Einzelspiegel 32v angesteuert werden. Dies kann auf einfache Weise bei der Dimension der Wechselwirkungsmatrix beziehungsweise des Wechselwirkungsvektors berücksichtigt werden. In particular, it is possible, in a first part of a training data set, to permanently control a specific individual mirror 32* and to variably control other individual mirrors 32v, in particular its neighboring individual mirrors 32v, individually or in groups of several at the same time, and to track the change in the position of the selected individual mirror 32* using an external measuring system. The effects of controlling the other, in particular the neighboring individual mirrors 32v, can be entered into a target matrix. In this case, it is particularly possible to enter the coefficients of a series expansion of an interaction function into the target matrix. If only linear interactions are to be considered, it may be sufficient to enter only the first coefficient of the series expansion into the target matrix. In the non-linear case, further coefficients of the series expansion can also be taken into account. In addition to the nearest neighboring individual mirrors 32v, the next-nearest neighbors or, in principle, any other individual mirrors 32v can also be controlled. This can be easily accounted for in the dimension of the interaction matrix or the interaction vector.
In den Figuren 2A und 2B ist exemplarisch dargestellt, wie ein einzelner bestimmter Einzelspiegel 32* ausgewählt wird und die zugehörige Koeffizientenmatrix durch Messung der Wechselwirkung erhalten wird. Hierbei entspricht jede Zeile einer Observation, welche auch als Sample bezeichnet wird. Figures 2A and 2B illustrate how a specific individual mirror 32* is selected and the corresponding coefficient matrix is obtained by measuring the interaction. Each row corresponds to an observation, also referred to as a sample.
In einem weiteren Teil des Trainingsdatensatzes (siehe Figuren 2C und 2D) werden jeweils mehrere Einzelspiegel 32* ausgewählt und die Wechselwirkungskoeffizienten für diese Auswahl ermittelt. In another part of the training data set (see Figures 2C and 2D), several individual mirrors 32* are selected and the interaction coefficients for this selection are determined.
Hierbei können die ausgewählten Einzelspiegel 32* fest angesteuert werden. Die übrigen Einzelspiegel 32v, insbesondere benachbarte Einzelspiegel 32v, können wiederum variabel angesteuert werden. The selected individual mirrors 32* can be controlled permanently. The remaining individual mirrors 32v, especially adjacent individual mirrors 32v, can in turn be controlled variably.
Höhere Koeffizienten der Reihenentwicklung zur Berücksichtigung nichtlinearer Phänomene können auch in zusätzliche Koeffizientenmatrizen beziehungsweise Koeffizientenvektoren gespeichert werden. Higher coefficients of the series expansion to account for nonlinear phenomena can also be stored in additional coefficient matrices or coefficient vectors.
Der Trainingsdatensatz kann sodann genutzt werden, um ein neuronales Netz, insbesondere einen Faltungskern eines konvolutiven neuronalen Netzes (CNN, convolutional neural net) an zu trainieren. Das derart trainierte CNN kann zur Vorhersage von Abweichungen von Spiegelsettings von ihren Sollwerten genutzt werden. The training dataset can then be used to train a neural network, specifically a convolution kernel of a convolutional neural network (CNN). The CNN trained in this way can be used to predict deviations of mirror settings from their target values.
Die Auswahl der Einzelspiegel 32* wird als Ansteuer-Muster 34 bezeichnet. The selection of the individual mirrors 32* is referred to as control pattern 34.
Die Ansteuer-Muster 34 (in den Figuren 2A bis 2D links dargestellt) dienen als Prädiktoren, die Koeffizientenmatrizen als Targets. Durch die Ausgestaltung des Trainingsdatensatzes 33 wird wegen der Translationsinvarianz um jeden angesteuerten Einzelspiegel 32* herum eine ähnliche Koeffizientenmatrix als Target erhalten. Randeffekte werden beim Training mitberücksichtigt. The control patterns 34 (shown on the left in Figures 2A to 2D) serve as predictors, the coefficient matrices as targets. Due to the translation invariance of the training data set 33, a similar coefficient matrix is obtained as a target around each controlled individual mirror 32*. Edge effects are also taken into account during training.
Aufgrund einer Wiederkehr ähnlicher Muster im Targetdatensatz ist es auf einfache Weise möglich, den Faltungskern eines CNN anzutrainieren. Dieser so antrainierte Faltungskem führt zu einem gut angepassten neuronalen Netz und zu guten Vorhersagen der Koeffizientenmatrix für neu vorgegebene Ansteuer-Muster. Anders ausgedrückt: Durch eine vielfache Vorgabe eines ähnlichen, aber verschobenen Koeffizientenmusters im Trainingsdatensatz 33 gelingt es gut, ein lokales rezeptives Feld eines CNN anzutrainieren. Due to the recurrence of similar patterns in the target dataset, it is easy to train the convolution kernel of a CNN. This trained convolution kernel results in a well-adapted neural network and good predictions of the coefficient matrix for newly specified control patterns. In other words: By repeatedly specifying a similar, but shifted, coefficient pattern in the training dataset, 33 it is possible to successfully train a local receptive field of a CNN.
Bei der Durchführung der Kalibriermessungen, das heißt beim Training des neuronalen Netzes, braucht nicht jeder der Einzelspiegel 32 angesteuert zu werden. Es genügt, eine Auswahl der Einzelspiegel 32 anzusteuern und die entsprechenden Koeffizientenmatrizen zu bestimmen. When performing the calibration measurements, i.e., when training the neural network, it is not necessary to control each of the individual mirrors 32. It is sufficient to control a selection of the individual mirrors 32 and determine the corresponding coefficient matrices.
Grundsätzlich sollte die Menge der angesteuerten Einzelspiegel 32* umso dichter sein, je näher man sich dem Rand der Vielspiegel- Anordnung 31 nähert. In principle, the number of controlled individual mirrors 32* should be denser the closer one gets to the edge of the multi-mirror arrangement 31.
Die genaue Architektur des neuronalen Netzwerks ist relativ flexibel. The exact architecture of the neural network is relatively flexible.
Vorzugsweise umfasst das neuronale Netz als erste Schicht eine Faltungsschicht. Preferably, the neural network comprises a convolutional layer as the first layer.
Die vorhergehend beschriebene Lösung führt zu folgenden Vorteilen: The solution described above leads to the following advantages:
Aufgrund der Reihenentwicklung, insbesondere der Taylor-Reihenentwicklung, der eine Wechselwirkung beschreibenden Funktion können Nichtlinearitäten auf einfache Weise berücksichtigt werden. Due to the series expansion, in particular the Taylor series expansion, of the function describing an interaction, nonlinearities can be easily taken into account.
Kalibriermessungen sind nur an einem Bruchteil der Gesamtzahl der Einzelspiegel 32 nötig. Hierdurch kann die Kalibriermesszeit erheblich verkürzt werden. Das einmal antrainierte neuronale Netz kann die Koeffizientenmatrix oder die Koeffizientenmatrizen für neuartig vorgegebene Ansteuer-Muster in einem einzigen Vorwärtspropagationsschritt ermitteln. Calibration measurements are only required on a fraction of the total number of individual mirrors (32). This can significantly shorten the calibration measurement time. Once trained, the neural network can determine the coefficient matrix or coefficient matrices for newly specified control patterns in a single forward propagation step.
Durch eine geschickt gewählte Verringerung der Neuronen in den Schichten des neuronalen Netzes lässt sich eine verhältnismäßig glatte Vorhersagefunktion erzeugen, insbesondere lassen sich Überschwinger vermeiden. By carefully reducing the number of neurons in the layers of the neural network, a relatively smooth prediction function can be generated, and in particular, overshoots can be avoided.
Die beschriebene Aufgabe kann als Regressionsaufgabe aufgefasst werden. Man kann diese durch einen sogenannten Random Forest Regressor bei demselben Trainingsdatensatz lösen. The described task can be considered a regression problem. It can be solved using a so-called random forest regressor on the same training dataset.
Das Vielfachspiegelraster, das heißt die Vielspiegel- Anordnung 31, kann insbesondere für einen Feldfacettenspiegel 13 oder für einen Pupillenfacettenspiegel 14 genutzt werden. The multiple mirror grid, i.e. the multi-mirror arrangement 31, can be used in particular for a field facet mirror 13 or for a pupil facet mirror 14.
Das antrainierte neuronale Netz kann in den anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreis (ASIC, Application Specific Integrated Circuit) einprogrammiert sein. Es kann insbesondere ein fest verbauter Bestandteil eines der Facettenspiegelmodule oder der Steuereinrichtung 35 sein. Es kann auch in eine hiervon separate Einrichtung, insbesondere eine externe Recheneinheit, integriert sein. The trained neural network can be programmed into the application-specific integrated circuit (ASIC). It can, in particular, be a permanently installed component of one of the facet mirror modules or the control device 35. It can also be integrated into a separate device, in particular an external computing unit.
Im Folgenden werden weitere Details und Varianten der erfindungsgemäßen Übersprechmodellierung beschrieben. Further details and variants of the crosstalk modeling according to the invention are described below.
Für ein gewähltes Ansteuer-Muster 34, das heißt eine Auswahl bestimmter Einzelspiegel 32*, werden mithilfe wenigstens einer Messanordnung die das Übersprechen quantifizierenden Koeffizienten an sämtlichen anderen Einzelspiegeln 32 oder einer Teilmenge derselben, insbesondere der um den oder die angesteuerten Einzelspiegel 32* herum angeordneten, also benachbart liegenden Einzelspiegel 32, gemessen. Die zur Bestimmung der Wechselwirkungskoeffizienten insbesondere variabel angesteuerten Einzelspiegel 32v sind in den Figuren exemplarisch hervorgehoben und mit 32v bezeichnet. Dort wo kein Übersprechen erwartet wird, kann auf eine Messung verzichtet werden. Die entsprechenden Koeffizienten können auf Null gesetzt werden. For a selected control pattern 34, i.e., a selection of specific individual mirrors 32*, the coefficients quantifying the crosstalk are measured at all other individual mirrors 32 or a subset thereof, in particular the individual mirrors 32 arranged around the controlled individual mirror(s) 32*, i.e., adjacent to it, using at least one measuring arrangement. The individual mirrors 32v, which are variably controlled in particular to determine the interaction coefficients, are highlighted in the figures as examples and designated 32v. Where no crosstalk is expected, a measurement can be omitted. The corresponding coefficients can be set to zero.
Als Koeffizient kann insbesondere der Quotient aus Spiegelkippwinkel in einer bestimmten Richtung und dem zugehörigen Ansteuersignalwert gewählt werden. Die Koeffizienten können insbesondere die Einheit Rad/Volt haben. In particular, the coefficient can be the quotient of the mirror tilt angle in a specific direction and the corresponding control signal value. The coefficients can, in particular, be in the unit rad/volt.
Für unterschiedliche Richtungen können unterschiedliche Koeffizientenmatrizen ermittelt werden. Alternativ hierzu ist es möglich, als Einträge der Koeffizientenmatrizen selbst Vektoren oder Matrizen zu verwenden. Different coefficient matrices can be determined for different directions. Alternatively, it is possible to use vectors or matrices as entries in the coefficient matrices themselves.
Hierbei kann berücksichtigt werden, ob eine Verkippung der Einzelspiegel in eine bestimmte Richtung, beispielsweise die x-Richtung, zu einem Übersprechen in einer hierzu linear unabhängigen Richtung, beispielsweise in y-Richtung, führt oder nicht. Here, it can be taken into account whether a tilt of the individual mirrors in a certain direction, for example the x-direction, leads to crosstalk in a linearly independent direction, for example in the y-direction, or not.
Die Auswahl der Einzelspiegel 32* kann nach einem vorgegebenen Plan oder zufällig, insbesondere quasi-zufällig, erfolgen. The selection of the individual mirrors 32* can be carried out according to a predetermined plan or randomly, in particular quasi-randomly.
Ein exemplarischer Aufbau eines Trainingsdatensatzes mit M Samples ist in der nachfolgenden Tabelle zusammengefasst. Die Ansteuer-Muster 34, das heißt die Auswahl der Einzelspiegel 32* zur Definition der Ansteuervektoren, werden vorteilhafter Weise derart gewählt, dass über den Datensatz hinweg über alle Teilbereiche verteilt angesteuerte Einzelspiegel 32* vorliegen. An exemplary structure of a training dataset with M samples is summarized in the following table. The control patterns 34, i.e. the selection of the individual mirrors 32* for defining the control vectors, are advantageously selected in such a way that controlled individual mirrors 32* are present distributed over all sub-areas across the data set.
Die Zahl S i (i = 1..M) der angesteuerten Einzelspiegel 32* kann von 1 bis zur Gesamtzahl N der Einzel spiegel 32 der Vielspiegel- Anordnung 31 variieren. The number S i (i = 1..M) of the controlled individual mirrors 32* can vary from 1 to the total number N of the individual mirrors 32 of the multi-mirror arrangement 31.
Die Gesamtheit des Trainingsdatensatzes 33 ist exemplarisch in der Figur 3 dargestellt. The entire training data set 33 is shown as an example in Figure 3.
Die Anzahl der Ansteuer-Muster 34 kann über die Anzahl S_i der hierbei angesteuerten Einzelspiegel 32* variieren. The number of control patterns 34 can vary depending on the number S_i of the individual mirrors 32* controlled.
Bei binärer Ansteuerung der Einzelspiegel 32 und einer Gesamtzahl N derselben sind prinzipiell 2N Ansteuer-Muster 34 denkbar. With binary control of the individual mirrors 32 and a total number N of them, 2 N control patterns 34 are in principle conceivable.
Bei Anwendungen von Vielspiegel- Anordnungen 31 für eine Beleuchtungsoptik 4 einer Projektionsbelichtungsanlage 1, insbesondere als Bestandteil eines Facettenspiegels kann die Vielspiegel- Anordnung 31 über 1000, insbesondere über 10000, insbesondere über 100000 Einzelspiegel 32 aufweisen. Berücksichtigt man lediglich die nächst angrenzenden Nachbarspiegel bei der Übersprechkalibrierung, wäre die Anzahl der Ansteuer-Muster 34 bei einer derartig großen Anzahl an Einzel spiegeln 32 immer noch sehr groß. Die benötigte Messzeit wäre sehr lang. Ein gesamter Messablauf würde mehrere Stunden, wenn nicht sogar mehrere Tage erfordern. Es würde zu einem erheblichen Produktionsausfall führen. When using multi-mirror arrangements 31 for an illumination optics 4 of a projection exposure system 1, particularly as a component of a facet mirror, the multi-mirror arrangement 31 can have more than 1,000, particularly more than 10,000, and particularly more than 100,000 individual mirrors 32. If only the nearest adjacent mirrors are considered during crosstalk calibration, the number of control patterns 34 would still be very large for such a large number of individual mirrors 32. The required measurement time would be very long. An entire measurement sequence would require several hours, if not several days. This would result in significant production downtime.
Zum Antrainieren eines neuronalen Netzes oder eines Random Forrest Regressors genügt eine geringere Anzahl an Samples. Die Anzahl an Samples zum Antrainieren des neuronalen Netzes kann insbesondere im Bereich von 1000 bis 100000 liegen. Sie kann insbesondere höchstens 50000, insbesondere höchstens 30000, insbesondere höchstens 20000, insbesondere höchstens 10000, insbesondere höchstens 5000, insbesondere höchstens 3000, betragen. A smaller number of samples is sufficient to train a neural network or a random forest regressor. The number of samples for training the neural network can, in particular, be in the range from 1,000 to 100,000. It can, in particular, be a maximum of 50,000, in particular a maximum of 30,000, in particular a maximum of 20,000, in particular a maximum of 10,000, in particular a maximum of 5,000, in particular a maximum of 3,000.
Für eine wirksame Kalibrierung können die M Ansteuer-Muster 34 vorzugsweise möglichst gleichmäßig über die Fläche der Vielspiegel- Anordnung 31 verteilt werden. Die unterschied- liehen Ansteuer-Muster 34 können insbesondere unterschiedliche Anzahlen angesteuerter Spiegel 32* umfassen. Sie können insbesondere mindestens 10, insbesondere mindestens 20, insbesondere mindestens 30, insbesondere mindestens 50, insbesondere mindestens 100 unterschiedliche Anzahlen angesteuerter Einzelspiegel 32* umfassen. Das Verhältnis der Anzahl an angesteuerten Einzelspiegel 32* zur Gesamtzahl der Einzelspiegel 32 wird auch als Füllgrad bezeichnet. Die Füllgrade jeglichen Ansteuer-Muster 34 können insbesondere im Bereich von 10 % bis 60 % liegen. For effective calibration, the M control patterns 34 can preferably be distributed as evenly as possible over the surface of the multi-mirror arrangement 31. The different The control patterns 34 can, in particular, comprise different numbers of controlled mirrors 32*. They can, in particular, comprise at least 10, in particular at least 20, in particular at least 30, in particular at least 50, in particular at least 100 different numbers of controlled individual mirrors 32*. The ratio of the number of controlled individual mirrors 32* to the total number of individual mirrors 32 is also referred to as the fill level. The fill levels of any control pattern 34 can, in particular, be in the range from 10% to 60%.
Gemäß einem möglichen Trainingsdatensatzdesign können die Anzahlen der angesteuerten Einzelspiegel 32* gleichmäßig zufällig verteilt sein. Bei einer gewählten Anzahl S_i angesteuerte Einzelspiegel 32* (1 < S_i < N) sind die angesteuerten Einzelspiegel 32* vorzugsweise möglichst gleichmäßig über die Vielspiegel- Anordnung 31 verteilt. Gemäß einer Variante können auch nicht-gleichmäßige Verteilungen gewählt werden. Es kann insbesondere vorteilhaft sein, die Schwerpunkte der Verteilungen der Einzelspiegel 32* gemäß einer typischerweise in der Praxis auftretenden Verteilung der für bestimmte Beleuchtungssettings genutzten Einzelspiegel 32 zu verteilen. Die Schwerpunkte können beispielsweise auch eine Gaußverteilung aufweisen. According to a possible training data set design, the numbers of controlled individual mirrors 32* can be uniformly randomly distributed. For a selected number S_i of controlled individual mirrors 32* (1 < S_i < N), the controlled individual mirrors 32* are preferably distributed as evenly as possible across the multi-mirror arrangement 31. According to a variant, non-uniform distributions can also be selected. It can be particularly advantageous to distribute the centroids of the distributions of the individual mirrors 32* according to a distribution of the individual mirrors 32 used for specific lighting settings that typically occurs in practice. The centroids can, for example, also have a Gaussian distribution.
Es kann vorgesehen sein, jeweils einen separaten Trainingsdatensatz 33 zur Bestimmung des Übersprechverhaltens der Einzelspiegel 32 in eine erste Richtung, beispielsweise eine x- Richtung, welche parallel zu einer Scan-Richtung orientiert sein kann, vorzusehen. Ein weiterer Trainingsdatensatz 33 kann zur Ermittlung der Koeffizienten zur Modellierung des Übersprechverhaltens in einer zweiten Richtung, welche insbesondere senkrecht zur ersten Richtung ist, beispielsweise eine y-Richtung, welche senkrecht zur Scan-Richtung ist, dienen. It may be provided to provide a separate training data set 33 for determining the crosstalk behavior of the individual mirrors 32 in a first direction, for example, an x-direction, which may be oriented parallel to a scanning direction. A further training data set 33 may be used to determine the coefficients for modeling the crosstalk behavior in a second direction, which is in particular perpendicular to the first direction, for example, a y-direction, which is perpendicular to the scanning direction.
Um auf Basis des Trainingsdatensatzes 33 oder der Trainingsdatensätze 33, welche einen begrenzten Umfang aufweisen, auf die Koeffizientenmatrix für beliebige Ansteuer-Muster 34 schließen zu können, kann es vorgesehen sein, einen Regressor zu etablieren. Dieser soll von einem beliebig vorgegebenen Ansteuer-Muster 34 auf den Koeffizientenvektor oder die Koeffizientenmatrix schließen, vorzugsweise auf sämtliche Elemente derselben. Bei dem Regressor kann es sich um einen multinominalen Regressor handeln. Es kann sich insbesondere um einem Random Forest Tree Regressor handeln. Alternativ hierzu kann auch ein Gradient Boost Regressor Verwendung finden. Als Regressor kann auch ein als Regressor ausgestaltetes neuronales Netz, insbesondere ein Multilayer Perceptron, Verwendung finden. In order to be able to infer the coefficient matrix for any control pattern 34 based on the training data set 33 or the training data sets 33, which have a limited scope, it can be provided to establish a regressor. This should infer the coefficient vector or the coefficient matrix from any given control pattern 34, preferably all elements thereof. The regressor can be a multinomial regressor. In particular, it can be a random forest tree regressor. Alternatively, a gradient Boost Regressor can be used. A neural network designed as a regressor, in particular a multilayer perceptron, can also be used as a regressor.
Unabhängig von der gewählten Ausführungsform kann der Regressor mithilfe des Trainingsdatensatzes 33 oder der Trainingsdatensätze 33 antrainiert werden. Nach dem Training kann für ein vorgegebenes Ansteuer-Muster 34 die Koeffizientenmatrix zur Quantifizierung des Übersprechverhaltens in einem einzigen Rechendurchlauf berechnet werden. Regardless of the selected embodiment, the regressor can be trained using the training data set 33 or the training data sets 33. After training, the coefficient matrix for quantifying the crosstalk behavior can be calculated for a given control pattern 34 in a single calculation run.
Die zu erwartenden Positionierungsfehler, insbesondere die zu erwartenden Winkelstellungsfehler, der Einzelspiegel 32 ergeben sich dann durch Matrixmultiplikation der Ansteuermatrix mit der Koeffizientenmatrix. Diese Fehler können im weiteren Verlauf berücksichtigt werden. Sie können insbesondere zur Korrektur der Ansteuersignale Verwendung finden. The expected positioning errors, in particular the expected angular position errors, of the individual mirrors 32 are then determined by matrix multiplication of the control matrix by the coefficient matrix. These errors can be taken into account in the further process. They can be used, in particular, to correct the control signals.
Wie bereits erwähnt, kann zur Berücksichtigung von Nichtlinearitäten zusätzlich zur Koeffizientenmatrix noch eine weitere Koeffizientenmatrix zweiter Ordnung oder weitere Koeffizientenmatrizen höherer Ordnung messtechnisch erfasst werden. Hierzu kann vorgesehen sein, wenigstens zwei oder mehr Ansteuersignale bei ein und demselben Ansteuer-Muster zu verwenden. Aus den gemessenen Winkel Stellungen können die Koeffizientenmatrizen erster und zweiter sowie gegebenenfalls höherer Ordnungen berechnet werden. Hierbei können wiederum separate Matrizen für unterschiedliche Richtungen vorgesehen sein. As already mentioned, to account for nonlinearities, a second-order coefficient matrix or higher-order coefficient matrices can be measured in addition to the coefficient matrix. For this purpose, at least two or more control signals can be used with one and the same control pattern. The first- and second-order coefficient matrices, as well as higher-order ones if necessary, can be calculated from the measured angular positions. Separate matrices can be provided for different directions.
Zusätzlich zur Koeffizientenmatrix erster Ordnung wird für die höheren Ordnungen zum Training jeweils ein weiterer Regressor gewählt. In addition to the first-order coefficient matrix, an additional regressor is selected for training each of the higher orders.
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