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WO2024262213A1 - 検出装置 - Google Patents

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WO2024262213A1
WO2024262213A1 PCT/JP2024/018365 JP2024018365W WO2024262213A1 WO 2024262213 A1 WO2024262213 A1 WO 2024262213A1 JP 2024018365 W JP2024018365 W JP 2024018365W WO 2024262213 A1 WO2024262213 A1 WO 2024262213A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light source
light
point light
wavelength band
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
PCT/JP2024/018365
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
慎弥 浅倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Display Inc
Original Assignee
Japan Display Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Display Inc filed Critical Japan Display Inc
Publication of WO2024262213A1 publication Critical patent/WO2024262213A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C12BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
    • C12MAPPARATUS FOR ENZYMOLOGY OR MICROBIOLOGY; APPARATUS FOR CULTURING MICROORGANISMS FOR PRODUCING BIOMASS, FOR GROWING CELLS OR FOR OBTAINING FERMENTATION OR METABOLIC PRODUCTS, i.e. BIOREACTORS OR FERMENTERS
    • C12M1/00Apparatus for enzymology or microbiology
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C12BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
    • C12QMEASURING OR TESTING PROCESSES INVOLVING ENZYMES, NUCLEIC ACIDS OR MICROORGANISMS; COMPOSITIONS OR TEST PAPERS THEREFOR; PROCESSES OF PREPARING SUCH COMPOSITIONS; CONDITION-RESPONSIVE CONTROL IN MICROBIOLOGICAL OR ENZYMOLOGICAL PROCESSES
    • C12Q1/00Measuring or testing processes involving enzymes, nucleic acids or microorganisms; Compositions therefor; Processes of preparing such compositions
    • C12Q1/02Measuring or testing processes involving enzymes, nucleic acids or microorganisms; Compositions therefor; Processes of preparing such compositions involving viable microorganisms
    • C12Q1/04Determining presence or kind of microorganism; Use of selective media for testing antibiotics or bacteriocides; Compositions containing a chemical indicator therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/483Physical analysis of biological material

Definitions

  • the present invention relates to a detection device.
  • a single object to be detected may be irradiated with light from different directions from the multiple point light sources, which may result in blurring of the image captured by the optical sensor.
  • the present invention aims to provide a detection device that can improve detection accuracy.
  • the detection device of one aspect of the present invention includes a light source device including a plurality of point light sources arranged in a plane, a translucent mounting substrate arranged to overlap one side of the light source device in a first direction and on which a detected object is mounted, an optical filter arranged to overlap one side of the mounting substrate in the first direction and having a divided region divided into a plurality of regions in a second direction intersecting the first direction, and an optical sensor arranged to overlap one side of the optical filter in the first direction and including a plurality of photodetection elements arranged in a plane, wherein a first point light source of the plurality of point light sources overlaps a first divided region of the plurality of divided regions of the optical filter when viewed from the first direction, and a first emitted light wavelength band of emitted light emitted from the first point light source overlaps with a first transmitted light wavelength band of transmitted light passing through the first divided region.
  • the XYZ coordinate system has the Z direction (first direction) as the up-down direction, the X direction (second direction) as the left-right direction, and the Y direction (second direction) as the front-back direction.
  • the X direction intersects (is perpendicular to) the Y and Z directions
  • the Y direction intersects (is perpendicular to) the X and Z directions
  • the Z direction intersects (is perpendicular to) the X and Y directions.
  • the Z1 side is one side of the first direction
  • the Z2 side is the other side of the first direction.
  • the first direction is the Z direction
  • the second direction is the direction that intersects with the first direction.
  • the second direction is not limited to the X or Y direction, but also includes a direction between the X and Y directions.
  • the detection device 100 has, for example, a generally box-shaped shape.
  • the detection device 100 includes a housing 3 and a holding member 4.
  • the housing 3 has a top plate 31 and side plates 32, 33.
  • the holding member 4 has a plate 41 and a base plate 42.
  • the container 110 is placed on the plate 41.
  • a front holding portion 42c and a rear holding portion 42d are provided at the four corners of the base plate 42.
  • the front holding portion 42c and the rear holding portion 42d are biased upward (Z1 side) by a spring 5.
  • the plate 41 and the container 110 are biased upward (Z1 side) by the spring 5.
  • FIG. 3 is a schematic diagram of the detection device according to the first embodiment.
  • the detection device 100 includes a light source device 7, a container 110, an optical filter 82, an optical sensor 81, and a spring 5.
  • the light source device 7 includes a light source substrate 72 and a plurality of point light sources (light-emitting elements) 71.
  • the point light sources 71 are, for example, light-emitting diodes (LEDs). In this way, the light source device 7 includes a plurality of point light sources 71 arranged in a planar shape.
  • the container 110 includes a mounting substrate 111 and a cover member 112.
  • the container 110 is, for example, a petri dish.
  • the container 110 is translucent.
  • the mounting substrate 111 is disposed on the Z1 side relative to the light source device 7, and is a translucent substrate on which the object to be detected 114 is mounted.
  • the container is arranged upside down compared to a normal container. That is, in a normal container, the mounting substrate is arranged on the lower side and the cover member is arranged on the upper side.
  • the mounting substrate 111 is arranged on the upper side and the cover member 112 is arranged on the lower side, and the optical sensor 81 and the optical filter 82 are provided on the upper side (Z1 side) of the upside-down container 110, and the light source device 7 is provided on the lower side (Z2 side).
  • a culture medium 113 is provided on the lower side of the mounting substrate 111, and a detectable substance 114 is applied on the culture medium 113 (the lower surface of the culture medium 113).
  • the detectable substance 114 is, for example, a microorganism such as bacteria, or a sample containing a microorganism, which forms a colony on the culture medium 113 over time.
  • the detectable substance 114 is not limited to bacteria, and may be other minute objects such as cells.
  • the optical sensor 81 has an array substrate 811 and sensor pixels 812 (photodiodes 813, light detection elements).
  • the optical sensor 81 is arranged overlapping the optical filter 82 on the Z1 side.
  • a plurality of sensor pixels 812 are provided on the Z2 side surface of the array substrate 811.
  • the optical filter 82 is an optical element that transmits the component of the light L irradiated from the point light source 71 that travels in a direction perpendicular to the optical sensor 81 toward the photodiode 813.
  • the optical filter 82 is also called a collimating aperture or a collimator.
  • Light L emitted from the point light source 71 passes through the cover member 112, culture medium 113, mounting substrate 111, and optical filter 82, and is irradiated toward the optical sensor 81.
  • the amount of light irradiated to the photodiode 813 (light detection element) of the optical sensor 81 differs between the area overlapping with the detectable object 114 and the area not overlapping with the detectable object 114. This allows the optical sensor 81 to image the detectable object 114.
  • the detection device 100 is a device that places the detectable object 114 contained in the container 110 between the light source device 7 and the optical sensor 81, and monitors changes in the detectable object 114 by imaging the detectable object 114 with the optical sensor 81.
  • the array substrate 811 is formed using the substrate 21 as a base.
  • Each of the sensor pixels 812 is configured with a photodiode 813, multiple transistors, and various wiring.
  • the array substrate 811 has a detection area AA and a peripheral area GA.
  • the detection area AA is an area in which a plurality of sensor pixels 812 (a plurality of photodiodes 813) are provided.
  • the peripheral area GA is an area between the outer periphery of the detection area AA and the outer edge of the array substrate 811, and is an area in which a plurality of sensor pixels 812 are not provided.
  • the gate line driving circuits 814A, 814B, the signal line driving circuit 815A, and the detection control circuit 816 are provided in the peripheral area GA.
  • Each of the multiple sensor pixels 812 is an optical sensor having a photodiode 813 as a sensor element.
  • Each photodiode 813 outputs an electrical signal according to the light irradiated thereon.
  • the detection control circuit 816 is a circuit that supplies control signals Sa, Sb, and Sc to the gate line driving circuits 814A, 814B and the signal line driving circuit 815A, respectively, and controls their operation.
  • the detection control circuit 816 includes a signal processing circuit that processes the detection signals Vdet from the multiple photodiodes 813.
  • the detection control circuit 816 processes the detection signal Vdet from the multiple photodiodes 813 and outputs a sensor value So based on the detection signal Vdet to the host IC 75. In this way, the detection device 100 detects information related to the object to be detected 114.
  • the light source device 7 has a light source substrate 72, a plurality of point light sources 71 formed on the light source substrate 72, gate line driving circuits 814C and 814D, a signal line driving circuit 815B, and a light emitting element control circuit 74.
  • the multiple point light sources 71 are arranged in a matrix in an area that overlaps with the detection area AA of the light source board 72.
  • the light source board 72 is a drive circuit board that drives each of the multiple light-emitting elements 85 by switching them between on (illuminated state) and off (non-illuminated state).
  • the host IC 75 has a sensor value storage circuit 751, a sensor value calculation circuit 752, a light amount setting circuit 753, and a target value storage circuit 759 as control circuits on the optical sensor 81 side.
  • the sensor value storage circuit 751 stores the sensor value So output from the detection control circuit 816 of the optical sensor 81.
  • the sensor value calculation circuit 752 performs a predetermined calculation process on the sensor value So of the photodiode 813.
  • the light intensity setting circuit 753 compares the sensor value So detected by the multiple photodiodes 813 with a preset target sensor value So-t obtained from the target value memory circuit 759 to set the light intensity for detection of the multiple point light sources 71.
  • the target value memory circuit 759 stores the preset target sensor value So-t.
  • the host IC 75 has a lighting pattern generation circuit 754 and a lighting pattern storage circuit 755 as control circuits on the light source device 7 side.
  • the lighting pattern storage circuit 755 stores information on the light intensity of each of the multiple point light sources 71 in the light intensity setting mode.
  • the host IC 75 further includes an image generation circuit 756.
  • the image generation circuit 756 In the detection mode, the image generation circuit 756 generates an image of the object to be detected 114 based on the sensor values So output from the multiple photodiodes 813.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing the projection area of the light emitted from a point light source.
  • FIG. 6 is a schematic diagram of the detection device according to the first embodiment.
  • FIG. 5 shows the projection area of the light without the optical filter 82 according to this embodiment.
  • FIG. 7 is a schematic diagram of the light source device according to the first embodiment as viewed in a plane.
  • FIG. 8 is a schematic diagram of the optical filter according to the first embodiment as viewed in a plane.
  • a total of 16 point light sources 71 are provided.
  • the 16 point light sources 71 are arranged at equal intervals in the X and Y directions.
  • the distance between adjacent point light sources 71 in the X direction is distance d
  • the distance between adjacent point light sources 71 in the Y direction is also distance d.
  • the light emitted from one point light source 71 spreads radially as it moves upward (toward the Z1 side), so as shown in FIG. 5, the projection area IA of the light projected onto the optical sensor 81 without the optical filter 82 is a circle of radius r centered on the point light source 71.
  • Adjacent projection areas IA in the X direction or Y direction have an overlapping portion P, shown by hatching. This overlapping portion P causes the image of the detected object 114 to become blurred or hazy.
  • FIG. 7 a total of 16 point light sources 71 according to this embodiment are provided.
  • the 16 point light sources 71 are arranged at equal intervals in the X and Y directions. Specifically, four rows are arranged along the X direction, and four columns are arranged along the Y direction.
  • point light source 71-4, point light source 71-3, point light source 71-4, and point light source 71-3 are arranged from the X2 side to the X1 side.
  • point light source 71-1, point light source 71-2, point light source 71-1, and point light source 71-2 are arranged from the X2 side to the X1 side.
  • point light source 71-3, point light source 71-4, point light source 71-3, and point light source 71-4 are arranged from the X2 side to the X1 side.
  • point light source 71-2, point light source 71-1, point light source 71-2, and point light source 71-1 are arranged from the X2 side to the X1 side.
  • point light source 71-4, point light source 71-1, point light source 71-3, and point light source 71-2 are arranged from the Y2 side to the Y1 side.
  • the optical filter 82 is divided into a total of 16 parts in plan view. That is, the optical filter 82 has 16 divided regions divided in the X direction (second direction) and the Y direction (second direction).
  • the divided regions (divided regions 82-1 to 82-4) have a square shape in plan view and are arranged at equal intervals in the X direction and the Y direction.
  • the 16 divided regions are arranged at equal intervals in a lattice pattern in the X direction and the Y direction. Specifically, four rows are arranged along the X direction, and four columns are arranged along the Y direction.
  • divided regions 82-4, 82-3, 82-4, and 82-3 are arranged from the X2 side to the X1 side.
  • divided regions 82-1, 82-2, 82-1, and 82-2 are arranged from the X2 side to the X1 side.
  • divided areas 82-3, 82-4, 82-3, and 82-4 are arranged from the X2 side to the X1 side.
  • divided areas 82-2, 82-1, 82-2, and 82-1 are arranged from the X2 side to the X1 side.
  • each of the multiple divided regions overlaps with each of the multiple point light sources 71 when viewed from the Z direction.
  • the second row of the multiple point light sources 71 includes point light source 71-1 (first point light source), point light source 71-2 (second point light source), point light source 71-1, and point light source 71-2 arranged from the X2 side to the X1 side
  • the second row of the multiple divided regions of the optical filter 82 includes divided region 82-1 (first divided region), divided region 82-2 (second divided region), divided region 82-1, and divided region 82-2 arranged from the X2 side to the X1 side.
  • the point light source 71-1 overlaps with the divided region 82-1 (first divided region), and the point light source 71-2 (second point light source) overlaps with the divided region 82-2 (second divided region).
  • point light source 71-1 first point light source
  • divided region 82-1 first divided region
  • divided region 82-2 second divided region
  • point light source 71-1 overlaps with divided region 82-1
  • point light source 71-2 overlaps with divided region 82-2
  • point light source 71-3 overlaps with divided region 82-3
  • point light source 71-4 overlaps with divided region 82-4.
  • Light L1 emitted from point light source 71-1 is irradiated onto the entire divided region 82-1 and part of divided region 82-2.
  • light L2 emitted from point light source 71-2 is irradiated onto the entire divided region 82-2, part of divided region 82-1, and part of divided region 82-3
  • Light L3 emitted from point light source 71-3 is irradiated onto the entire divided region 82-3, part of divided region 82-2, and part of divided region 82-4.
  • Light L4 emitted from point light source 71-4 is irradiated onto the entire divided region 82-4, part of divided region 82-3, and part of divided region 82-1.
  • the irradiation angle of the light emitted from point light source 71 is angle ⁇ 1
  • 114A is the captured image of the object to be detected.
  • Figure 9 is a schematic diagram showing the wavelength bands of the emitted light and transmitted light.
  • the solid lines show the emitted light 210 from point light source 71-1 (first point light source) and the transmitted light 230 that has passed through division region 82-1 (first division region).
  • the dashed lines show the emitted light 220 from point light source 71-2 (second point light source) and the transmitted light 240 that has passed through division region 82-2 (second division region).
  • the emitted light 210 has a first emitted light wavelength band Lb1
  • the transmitted light 230 has a first transmitted light wavelength band La1.
  • the first emitted light wavelength band Lb1 overlaps with the first transmitted light wavelength band La1.
  • the emitted light 220 has a second emitted light wavelength band Lb2, and the transmitted light 240 has a second transmitted light wavelength band La2.
  • the second emitted light wavelength band Lb2 overlaps with the second transmitted light wavelength band La2.
  • the first emitted light wavelength band Lb1 does not overlap with the second emitted light wavelength band Lb2.
  • the first transmitted light wavelength band La1 does not overlap with the second transmitted light wavelength band La2.
  • the emitted light from the multiple point light sources 71 may have four or more different wavelength bands, and the transmitted light passing through the multiple divided regions of the optical filter 82 may have four or more different wavelength bands.
  • the detection device 100 includes a light source device 7 including a plurality of point light sources 71, a translucent mounting substrate 111 on which a detected object 114 is mounted, an optical filter 82 having a plurality of divided regions, and an optical sensor 81 including a plurality of photodiodes (photodetection elements) 813.
  • the first point light source 71-1 overlaps with the first divided region 82-1 of the optical filter 82 when viewed from the Z direction.
  • the first emitted light wavelength band Lb1 of the emitted light 210 emitted from the first point light source 71-1 overlaps with the first transmitted light wavelength band La1 of the transmitted light 230 that passes through the first divided region 82-1.
  • the first division region 82-1 of the optical filter 82 and the first point light source 71-1 are arranged to overlap in the Z direction, and the first emitted light wavelength band Lb1 and the first transmitted light wavelength band La1 are overlapped. Therefore, the light passing through the first division region 82-1 of the optical filter 82 is limited to the emitted light 210 emitted from the first point light source 71-1, preventing light of multiple wavelength bands from entering a specific region of the optical sensor 81. This makes it possible to reduce blurring of the image captured by the optical sensor 81.
  • the second point light source 71-2 is adjacent to the first point light source 71-1 in the second direction, and the second division region 82-2 of the optical filter 82 is adjacent to the first division region 82-1 in the second direction.
  • the second point light source 71-2 overlaps with the second division region 82-2 when viewed from the Z direction.
  • the second emitted light wavelength band Lb2 of the emitted light 220 emitted from the second point light source 71-2 overlaps with the second transmitted light wavelength band La2 of the transmitted light 240 that passes through the second division region 82-2, the first emitted light wavelength band Lb1 does not overlap with the second emitted light wavelength band Lb2, and the first transmitted light wavelength band La1 does not overlap with the second transmitted light wavelength band La2.
  • this embodiment further suppresses light of multiple wavelength bands from being incident on a specific region of the optical sensor 81. This makes it possible to further reduce blurring of the image captured by the optical sensor 81.
  • the multiple divided regions When viewed from the Z direction, the multiple divided regions are arranged in a grid pattern. This reduces the number of boundaries between adjacent divided regions and reduces blurring of the image captured by the optical sensor 81.
  • the detection device 100A according to the second embodiment differs from the detection device 100 according to the first embodiment in that it includes a side wall 6.
  • the side wall 6 will be described in detail below.
  • the sidewall 6 separates the multiple point light sources 71 from each other.
  • the sidewall 6 is a partition that separates the point light sources adjacent in the X direction and the point light sources adjacent in the Y direction.
  • the sidewall 6 has a lattice shape.
  • the sidewall 6 protrudes toward the Z1 side.
  • the height of the sidewall 6 is higher than that of the point light sources 71.
  • the sidewall 6 has visible light absorption properties that absorb at least a portion of visible light.
  • the irradiation angle of the light emitted from the point light source 71 is angle ⁇ 2.
  • the angle ⁇ 2 is smaller than the angle ⁇ 1 (see Figure 6).
  • the irradiation angle of the light emitted from the point light source 71 is angle ⁇ 2, which is smaller than angle ⁇ 1 (see FIG. 6). That is, the side wall 6 restricts a portion of the light emitted from the point light source 71 toward the Z1 side, reducing the irradiation angle of the light. In addition, because the side wall 6 has visible light absorption properties, the amount of light reflected is smaller than that of a normal louver. As a result, the light irradiated to the divided area of the optical filter 82 can be more concentrated.
  • Light source device 71 Point light source 71-1 Point light source (first point light source) 71-2 Point light source (second point light source) 71-3 Point light source 71-4 Point light source 72
  • Light source substrate 81 Optical sensor 82
  • Optical filter 82-1 Division area (first division area) 82-2 Divided area (second divided area) 82-3 Divided region 82-4 Divided region 100, 100A Detection device 110
  • Container 111 Mounting substrate 114 Object to be detected 210, 220 Emitted light 230, 240 Transmitted light 811
  • Array substrate 812 Sensor pixel 813 Photodiode (light detection element) L light La1 first transmitted light wavelength band La2 second transmitted light wavelength band Lb1 first emitted light wavelength band Lb2 second emitted light wavelength band

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Abstract

検出装置は、複数の点光源を含む光源装置と、被検出体を搭載する透光性の搭載基板と、複数に分割される分割領域を有する光フィルタと、面状に配置された複数の光検出素子を含む光学センサと、を備える。第1点光源は、第1分割領域に重なる。第1点光源から出射する出射光の第1出射光波長帯は、第1分割領域を透過する透過光の第1透過光波長帯とオーバーラップする。

Description

検出装置
 本発明は、検出装置に関する。
 特許文献1には、フォトセンサ(光検出素子)を有する光学センサと、フォトセンサの撮像面の上部に載置された培養容器と、培養容器の上方に配置された点光源と、を含むバイオセンサについて開示されている。特許文献1のバイオセンサでは、点光源から照射された光は、培養容器内の培地および複数の被検出体(微生物)を透過してフォトセンサに入射される。
特開2018-033430号公報
 このような検出装置において、点光源を複数配置した場合には、1つの被検出体に対して、複数の前記点光源からそれぞれ異なる方向の光が照射され、光学センサで撮像される画像にボケが生じる可能性がある。
 本発明は、検出精度を向上させることが可能な検出装置を提供することを目的とする。
 本発明の一態様の検出装置は、面状に配置された複数の点光源を含む光源装置と、前記光源装置に対して第1方向の一方側に重なって配置され、且つ、被検出体を搭載する透光性の搭載基板と、前記搭載基板に対して前記第1方向の一方側に重なって配置され、且つ、前記第1方向に交差する第2方向に複数に分割される分割領域を有する光フィルタと、前記光フィルタに対して前記第1方向の一方側に重なって配置され、且つ、面状に配置された複数の光検出素子を含む光学センサと、を備え、前記複数の点光源のうちの第1点光源は、前記光フィルタの複数の前記分割領域のうちの第1分割領域に対して前記第1方向から見て重なり、前記第1点光源から出射する出射光の第1出射光波長帯は、前記第1分割領域を透過する透過光の第1透過光波長帯とオーバーラップする。
図1は、第1実施形態に係る検出装置を模式的に示す斜視図である。 図2は、図1から天板を取り外した状態を示す斜視図である。 図3は、第1実施形態に係る検出装置の模式図である。 図4は、検出装置の構成例を示すブロック図である。 図5は、点光源から出射される出射光の投影領域を示す模式図である。 図6は、第1実施形態に係る検出装置の模式図である。 図7は、第1実施形態に係る光源装置を平面視した模式図である。 図8は、第1実施形態に係る光フィルタを平面視した模式図である。 図9は、出射光と透過光の波長帯を示す模式図である。 図10は、第2実施形態に係る検出装置の模式図である。 図11は、第2実施形態に係る光フィルタを平面視した模式図である。 図12は、第2実施形態に係る光源装置を平面視した模式図である。
 本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本開示が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、本開示の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本開示の範囲に含有されるものである。
 また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本開示の解釈を限定するものではない。また、本開示と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
 そして、図面におけるXYZ座標は、Z方向(第1方向)が上下方向、X方向(第2方向)が左右方向、および、Y方向(第2方向)が前後方向である。X方向は、Y方向およびZ方向に交差(直交)し、Y方向は、X方向およびZ方向に交差(直交)し、Z方向は、X方向およびY方向に交差(直交)する。Z1側は第1方向の一方側、Z2側は第1方向の他方側である。なお、本実施形態において、第1方向はZ方向であり、第2方向は、第1方向に交差する方向である。即ち、第2方向は、X方向またはY方向に限定されず、X方向とY方向との間の方向も含む。
[第1実施形態]
 まず、第1実施形態について説明する。図1は、第1実施形態に係る検出装置を模式的に示す斜視図である。図2は、図1から天板を取り外した状態を示す斜視図である。
 図1および図2に示すように、検出装置100は、例えば、略箱型形状を有する。検出装置100は、筐体3と保持部材4とを備える。筐体3は、天板31および側板32、33を有する。保持部材4は、プレート41およびベースプレート42を有する。プレート41の上には、容器110が載置される。ベースプレート42における四隅には、前側保持部42cおよび後側保持部42dが設けられる。前側保持部42cおよび後側保持部42dは、バネ5によって上側(Z1側)に付勢される。プレート41には、容器110が載置されるため、プレート41および容器110がバネ5によって上側(Z1側)に付勢される。
 図3は、第1実施形態に係る検出装置の模式図である。図3に示すように、検出装置100は、光源装置7と、容器110と、光フィルタ82と、光学センサ81と、バネ5と、を備える。
 光源装置7は、光源基板72と、複数の点光源(発光素子)71と、を含む。点光源71は、例えば発光ダイオード(LED:Light Emitting Diode)である。このように、光源装置7は、面状に配置された複数の点光源71を含む。
 容器110は、搭載基板111と、カバー部材112と、を備える。容器110は、例えばシャーレである。容器110は、透光性を有する。搭載基板111は、光源装置7に対してZ1側に重なって配置され、且つ、被検出体114を搭載する透光性の基板である。
 本実施形態においては、通常の容器に対して上下が逆に配置される。即ち、通常の容器は、搭載基板が下側でカバー部材が上側に配置される。これに対して、本実施形態に係る容器110は、搭載基板111が上側でカバー部材112が下側に配置されており、当該上下逆転した容器110の上側(Z1側)に光学センサ81および光フィルタ82が設けられ、下側(Z2側)に光源装置7が設けられる。搭載基板111の下側には、培地113が設けられ、培地113上(培地113の下側の面)に被検出体114が塗布される。被検出体114は、例えば細菌等の微生物、又は微生物を含む試料であって、時間の経過に伴って培地113上にコロニーを形成するものである。被検出体114は、細菌に限定されず、細胞等の他の微小対象物であってもよい。
 光学センサ81は、アレイ基板811と、センサ画素812(フォトダイオード813、光検出素子)と、を有する。光学センサ81は、光フィルタ82に対してZ1側に重なって配置される。センサ画素812は、アレイ基板811におけるZ2側の面に複数設けられる。光フィルタ82は、点光源71から照射された光Lのうち、光学センサ81に垂直な方向に進行する成分をフォトダイオード813に向けて透過させる光学素子である。光フィルタ82は、コリメートアパーチャ、あるいは、コリメータとも呼ばれる。
 点光源71から出射された光Lは、カバー部材112、培地113、搭載基板111および光フィルタ82を透過して、光学センサ81に向けて照射される。被検出体114と重なる領域と、被検出体114と重ならない領域とで、光学センサ81のフォトダイオード813(光検出素子)に照射される光量が異なる。これにより、光学センサ81は、被検出体114を撮像できる。このように、検出装置100は、光源装置7と光学センサ81の間に、容器110に収容される被検出体114を配置し、被検出体114を光学センサ81により撮像することで被検出体114の変化をモニタリングする装置である。
 図4は、検出装置の構成例を示すブロック図である。図4に示すように、検出装置100は、光学センサ81及び光源装置7を制御するホストIC75を有する。光学センサ81は、アレイ基板811と、アレイ基板811に形成された複数のセンサ画素812(フォトダイオード813)と、ゲート線駆動回路814A、814Bと、信号線駆動回路16Aと、検出制御回路816と、を有する。
 アレイ基板811は、基板21を基体として形成される。また、複数のセンサ画素812は、それぞれフォトダイオード813、複数のトランジスタ、各種配線を有して構成される。
 アレイ基板811は、検出領域AAと、周辺領域GAとを有する。検出領域AAは、複数のセンサ画素812(複数のフォトダイオード813)が設けられた領域である。周辺領域GAは、検出領域AAの外周と、アレイ基板811の外縁部との間の領域であり、複数のセンサ画素812が設けられない領域である。ゲート線駆動回路814A、814B、信号線駆動回路815A及び検出制御回路816は、周辺領域GAに設けられる。
 複数のセンサ画素812は、それぞれ、センサ素子としてフォトダイオード813を有する光センサである。フォトダイオード813は、それぞれに照射される光に応じた電気信号を出力する。
 検出制御回路816は、ゲート線駆動回路814A、814B及び信号線駆動回路815Aにそれぞれ制御信号Sa、Sb、Scを供給し、これらの動作を制御する回路である。検出制御回路816は、複数のフォトダイオード813からの検出信号Vdetの信号処理を行う信号処理回路を備える。
 検出制御回路816は、複数のフォトダイオード813からの検出信号Vdetの信号処理を行い、検出信号Vdetに基づくセンサ値SoをホストIC75に出力する。これにより、検出装置100は、被検出体114に関する情報を検出する。
 光源装置7は、光源基板72と、光源基板72に形成された複数の点光源71と、ゲート線駆動回路814C、814Dと、信号線駆動回路815Bと、発光素子制御回路74と、を有する。
 複数の点光源71は、光源基板72の検出領域AAと重なる領域にマトリクス状に配列される。光源基板72は、複数の発光素子85ごとにオン(点灯状態)と、オフ(非点灯状態)とを切り替えて駆動する駆動回路基板である。
 発光素子制御回路74は、ゲート線駆動回路814C、814D、信号線駆動回路815Bにそれぞれ制御信号Sd、Se、Sfを供給し、これらの動作を制御する回路である。
 ホストIC75は、光学センサ81側の制御回路として、センサ値記憶回路751と、センサ値演算回路752と、光量設定回路753と、目標値記憶回路759と、を有する。センサ値記憶回路751は、光学センサ81の検出制御回路816から出力されたセンサ値Soを記憶する。センサ値演算回路752は、フォトダイオード813のセンサ値Soについて所定の演算処理を行う。
 光量設定回路753は、光量設定モードにおいて、複数のフォトダイオード813で検出されたセンサ値Soと、目標値記憶回路759から取得したあらかじめ設定された目標センサ値So-tとを比較して、複数の点光源71の検出用の光量を設定する。目標値記憶回路759は、あらかじめ設定された目標センサ値So-tを記憶する。
 ホストIC75は、光源装置7側の制御回路として、点灯パターン生成回路754及び点灯パターン記憶回路755と、を有する。点灯パターン記憶回路755は、光量設定モードでの複数の点光源71の各々の光量の情報を記憶する。
 点灯パターン生成回路754は、点灯パターン記憶回路755の光量の情報の情報に基づいて、各種制御信号を生成する。
 ホストIC75は、さらに画像生成回路756を有する。画像生成回路756は、検出モードにおいて、複数のフォトダイオード813から出力されたセンサ値Soに基づいて、被検出体114の画像を生成する。
 図5は、点光源から出射される出射光の投影領域を示す模式図である。図6は、第1実施形態に係る検出装置の模式図である。図5においては、本実施形態に係る光フィルタ82がない状態の光の投影領域を示す。図7は、第1実施形態に係る光源装置を平面視した模式図である。図8は、第1実施形態に係る光フィルタを平面視した模式図である。
 図5に示すように、本実施形態に係る点光源71は、合計で16個設けられる。16個の点光源71は、X方向およびY方向に等間隔に配置される。これらの16個の点光源71について、X方向に隣接する点光源71同士の距離は、距離dであり、Y方向に隣接する点光源71同士の距離も、距離dである。
 また、図6に示すように、1つの点光源71から出射される出射光は、上側(Z1側)に向かうに従って放射状に広がるため、図5に示すように、光フィルタ82がない状態で光学センサ81に投影される光の投影領域IAは、点光源71を中心とする半径rの円になる。X方向またはY方向で隣接する投影領域IA同士は、ハッチングで示す重複部分Pを有する。この重複部分Pによって、被検出体114を撮像した画像がぼやけたりかすんだりしてしまう。
 ここで、点光源71と光フィルタ82の分割領域について説明する。図7に示すように、本実施形態に係る点光源71は、合計で16個設けられる。16個の点光源71は、X方向およびY方向に等間隔に配置される。具体的には、X方向に沿う行が4行配置され、Y方向に沿う列が4列配置される。行については、例えば、第1行は、X2側からX1側に向けて点光源71-4、点光源71-3、点光源71-4、点光源71-3が並ぶ。第2行は、X2側からX1側に向けて点光源71-1、点光源71-2、点光源71-1、点光源71-2が並ぶ。第3行は、X2側からX1側に向けて点光源71-3、点光源71-4、点光源71-3、点光源71-4が並ぶ。第4行は、X2側からX1側に向けて点光源71-2、点光源71-1、点光源71-2、点光源71-1が並ぶ。なお、列については、例えば、第1列は、Y2側からY1側に向けて点光源71-4、点光源71-1、点光源71-3、点光源71-2が並ぶ。
 また、図8に示すように、本実施形態に係る光フィルタ82は、平面視において合計で16個に分割されている。即ち、光フィルタ82は、X方向(第2方向)およびY方向(第2方向)に分割される16個の分割領域を有する。分割領域(分割領域82-1から82-4)は、平面視で正方形の形状を有し、X方向およびY方向に等間隔に配置される。16個の分割領域は、X方向およびY方向に格子状に等間隔に配置される。具体的には、X方向に沿う行が4行配置され、Y方向に沿う列が4列配置される。例えば、第1行は、X2側からX1側に向けて分割領域82-4、分割領域82-3、分割領域82-4、分割領域82-3が並ぶ。第2行は、X2側からX1側に向けて分割領域82-1、分割領域82-2、分割領域82-1、分割領域82-2が並ぶ。第3行は、X2側からX1側に向けて分割領域82-3、分割領域82-4、分割領域82-3、分割領域82-4が並ぶ。第4行は、X2側からX1側に向けて分割領域82-2、分割領域82-1、分割領域82-2、分割領域82-1が並ぶ。
 なお、本発明では、分割領域は、平面視で正方形に限定されない。よって、分割領域は、例えば、平面視で正三角形の形状にしてもよく、5角形以上の多角形にしてもよい。
 ここで、図7と図8を対比すると明らかなように、複数の分割領域のそれぞれは、複数の点光源71のそれぞれに対してZ方向から見て重なる。例えば、複数の点光源71における第2行は、X2側からX1側に向けて点光源71-1(第1点光源)、点光源71-2(第2点光源)、点光源71-1、点光源71-2が並び、光フィルタ82の複数の分割領域の第2行は、X2側からX1側に向けて分割領域82-1(第1分割領域)、分割領域82-2(第2分割領域)、分割領域82-1、分割領域82-2が並ぶ。従って、Z方向から見て、点光源71-1(第1点光源)が分割領域82-1(第1分割領域)と重なり、点光源71-2(第2点光源)が分割領域82-2(第2分割領域)と重なる。また、点光源71-1(第1点光源)が点光源71-2(第2点光源)に対してX方向で隣り合い、分割領域82-1(第1分割領域)が分割領域82-2(第2分割領域)に対してX方向で隣接する。
 なお、図6においても、Z方向から見て、点光源71-1は分割領域82-1と重なり、点光源71-2は分割領域82-2と重なり、点光源71-3は分割領域82-3と重なり、点光源71-4は分割領域82-4と重なる。また、点光源71-1から出射する光L1は、分割領域82-1の全域と分割領域82-2の一部に照射される。また、同様に、点光源71-2から出射する光L2は、分割領域82-2の全域と分割領域82-1の一部および分割領域82-3の一部に照射される。点光源71-3から出射する光L3は、分割領域82-3の全域と分割領域82-2の一部および分割領域82-4の一部に照射される。点光源71-4から出射する光L4は、分割領域82-4の全域と分割領域82-3の一部および分割領域82-1の一部に照射される。なお、点光源71から出射する光の照射角度は角度θ1であり、114Aは被検出体の撮像イメージである。
 次に、出射光と透過光の波長帯について説明する。図9は、出射光と透過光の波長帯を示す模式図である。図9において、実線は、点光源71-1(第1点光源)からの出射光210および分割領域82-1(第1分割領域)を透過した透過光230を示す。破線は、点光源71-2(第2点光源)からの出射光220および分割領域82-2(第2分割領域)を透過した透過光240を示す。
 また、出射光210は、第1出射光波長帯Lb1を有し、透過光230は、第1透過光波長帯La1を有する。第1出射光波長帯Lb1は、第1透過光波長帯La1とオーバーラップする。出射光220は、第2出射光波長帯Lb2を有し、透過光240は、第2透過光波長帯La2を有する。第2出射光波長帯Lb2は、第2透過光波長帯La2とオーバーラップする。
 また、第1出射光波長帯Lb1は、第2出射光波長帯Lb2とオーバーラップしない。第1透過光波長帯La1は、第2透過光波長帯La2とオーバーラップしない。
 なお、図示しないが、複数の点光源71から出射する出射光は、4以上の異なる波長帯を有し、光フィルタ82の複数の分割領域を透過する透過光は、4以上の異なる波長帯を有するようにしてもよい。
 例えば、出射光の波長帯は、波長帯が460nm以上500nm以下である第1の波長帯と、波長帯が500nm以上570nm以下である第2の波長帯と、波長帯が570nm以上590nm以下である第3の波長帯と、波長帯が610nm以上780nm以下である第4の波長帯と、を有するようにしてもよい。なお、例えば、第1の波長帯は青色に対応し、第2の波長帯は緑色に対応し、第3の波長帯は黄色に対応し、第4の波長帯は赤色に対応する。ただし、黄色は、赤と緑との混色による再現ではない、単一光源である。
 以上説明したように、検出装置100は、複数の点光源71を含む光源装置7と、被検出体114を搭載する透光性の搭載基板111と、複数に分割される分割領域を有する光フィルタ82と、複数のフォトダイオード(光検出素子)813を含む光学センサ81と、を備える。第1点光源71-1は、光フィルタ82の第1分割領域82-1に対してZ方向から見て重なる。第1点光源71-1から出射する出射光210の第1出射光波長帯Lb1は、第1分割領域82-1を透過する透過光230の第1透過光波長帯La1とオーバーラップする。
 前述のように、点光源71を複数配置した場合には、1つの被検出体114に対して、複数の点光源71からそれぞれ異なる方向の光が照射され、光学センサ81で撮像される画像にボケが生じる可能性がある。即ち、光学センサ81のうち特定の領域に対して複数の波長帯の光が入射する。
 これに対して本発明では、光フィルタ82の第1分割領域82-1と第1点光源71-1とをZ方向で重ねて配置し、第1出射光波長帯Lb1と第1透過光波長帯La1とをオーバーラップさせている。従って、光フィルタ82の第1分割領域82-1を透過する光は、第1点光源71-1から出射する出射光210に制限されるため、光学センサ81のうち特定の領域に対して複数の波長帯の光が入射することが抑制される。これにより、光学センサ81で撮像される画像のぼやけを低減することができる。
 第2点光源71-2は、第1点光源71-1に対して、第2方向で隣り合い、光フィルタ82の第2分割領域82-2は、第1分割領域82-1に対して第2方向で隣接する。第2点光源71-2は、第2分割領域82-2に対してZ方向から見て重なる。第2点光源71-2から出射する出射光220の第2出射光波長帯Lb2は、第2分割領域82-2を透過する透過光240の第2透過光波長帯La2とオーバーラップし、第1出射光波長帯Lb1は、第2出射光波長帯Lb2とオーバーラップせず、第1透過光波長帯La1は、第2透過光波長帯La2とオーバーラップしない。
 即ち、光フィルタ82において第2方向で隣接する分割領域を透過する光の波長帯同士は、オーバーラップしない。
 従って、従来のように、光フィルタにおいて第2方向で隣接する分割領域を透過する光の波長帯同士がオーバーラップする態様と比較すると、本実施形態の方が光学センサ81のうち特定の領域に対して複数の波長帯の光が入射することがさらに抑制される。これにより、光学センサ81で撮像される画像のぼやけをさらに低減することができる。
 Z方向から見て、複数の分割領域は、格子状に配置される。これによれば、隣接する分割領域同士の境界部分の数をより少なくして、且つ、光学センサ81で撮像される画像のぼやけを低減することができる。
[第2実施形態]
 次に、第2実施形態について説明する。図10は、第2実施形態に係る検出装置の模式図である。図11は、第2実施形態に係る光フィルタを平面視した模式図である。図12は、第2実施形態に係る光源装置を平面視した模式図である。
 第2実施形態に係る検出装置100Aは、第1実施形態に係る検出装置100に対して、側壁6を備える点が相違する。以下、側壁6について具体的に説明する。
 図10および図12に示すように、側壁6は、複数の点光源71同士の間を区切る。即ち、側壁6は、X方向に隣り合う点光源同士の間およびY方向に隣り合う点光源同士の間を区切る隔壁である。側壁6をZ方向から見ると、格子状である。側壁6は、Z1側に向けて突出する。側壁6の高さは、点光源71よりも高い。側壁6は、可視光の少なくとも一部を吸収する可視光吸収性を有する。ここで、図10に示すように、点光源71から出射する光の照射角度は角度θ2である。角度θ2は、角度θ1(図6参照)よりも小さい。
 以上説明したように、検出装置100Aは、それぞれの点光源71同士の間を区切る側壁6を備える。側壁6は、可視光の少なくとも一部を吸収する可視光吸収性を有する。
 点光源71から出射する光の照射角度は角度θ2であり、角度θ2は、角度θ1(図6参照)よりも小さい。即ち、側壁6によって、点光源71からZ1側に向けて出射する光の一部が制限され、光の照射角度が小さくなる。また、側壁6は可視光吸収性を有するため、通常のルーバーよりも反射する光の量が少ない。以上より、光フィルタ82の分割領域に照射する光をより集中させることができる。
6 側壁
7 光源装置
71 点光源
71-1 点光源(第1点光源)
71-2 点光源(第2点光源)
71-3 点光源
71-4 点光源
72 光源基板
81 光学センサ
82 光フィルタ
82-1 分割領域(第1分割領域)
82-2 分割領域(第2分割領域)
82-3 分割領域
82-4 分割領域
100、100A 検出装置
110 容器
111 搭載基板
114 被検出体
210、220 出射光
230、240 透過光
811 アレイ基板
812 センサ画素
813 フォトダイオード(光検出素子)
L 光
La1 第1透過光波長帯
La2 第2透過光波長帯
Lb1 第1出射光波長帯
Lb2 第2出射光波長帯

Claims (4)

  1.  面状に配置された複数の点光源を含む光源装置と、
     前記光源装置に対して第1方向の一方側に重なって配置され、且つ、被検出体を搭載する透光性の搭載基板と、
     前記搭載基板に対して前記第1方向の一方側に重なって配置され、且つ、前記第1方向に交差する第2方向に複数に分割される分割領域を有する光フィルタと、
     前記光フィルタに対して前記第1方向の一方側に重なって配置され、且つ、面状に配置された複数の光検出素子を含む光学センサと、を備え、
     前記複数の点光源のうちの第1点光源は、前記光フィルタの複数の前記分割領域のうちの第1分割領域に対して前記第1方向から見て重なり、
     前記第1点光源から出射する出射光の第1出射光波長帯は、前記第1分割領域を透過する透過光の第1透過光波長帯とオーバーラップする、
     検出装置。
  2.  前記複数の点光源のうちの第2点光源は、前記第1点光源に対して、前記第2方向で隣り合い、
     前記光フィルタの複数の前記分割領域のうちの第2分割領域は、前記第1分割領域に対して前記第2方向で隣接し、
     前記第2点光源は、前記第2分割領域に対して前記第1方向から見て重なり、
     前記第2点光源から出射する出射光の第2出射光波長帯は、前記第2分割領域を透過する透過光の第2透過光波長帯とオーバーラップし、
     前記第1出射光波長帯は、前記第2出射光波長帯とオーバーラップせず、
     前記第1透過光波長帯は、前記第2透過光波長帯とオーバーラップしない、
     請求項1に記載の検出装置。
  3.  前記光源装置は、前記第1方向に延び且つそれぞれの前記点光源同士の間を区切る側壁を備え、
     前記側壁は、可視光の少なくとも一部を吸収する可視光吸収性を有する、
     請求項2に記載の検出装置。
  4.  前記第1方向から見て、前記複数の前記分割領域は、格子状に配置され、
     前記複数の点光源から出射する出射光は、4以上の異なる波長帯を有し、
     前記光フィルタの複数の前記分割領域を透過する透過光は、4以上の異なる波長帯を有する、
     請求項2または3に記載の検出装置。
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JP2013033008A (ja) * 2011-08-03 2013-02-14 Sony Corp 光学分析装置及び光学分析方法
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WO2020184485A1 (ja) * 2019-03-14 2020-09-17 株式会社 東芝 モニタリング装置、及びモニタリングシステム
WO2021100367A1 (ja) * 2019-11-19 2021-05-27 富士フイルム株式会社 検査装置

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