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WO2024071479A1 - X-ray inspection device having multi-point inspection structure - Google Patents

X-ray inspection device having multi-point inspection structure Download PDF

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Publication number
WO2024071479A1
WO2024071479A1 PCT/KR2022/014699 KR2022014699W WO2024071479A1 WO 2024071479 A1 WO2024071479 A1 WO 2024071479A1 KR 2022014699 W KR2022014699 W KR 2022014699W WO 2024071479 A1 WO2024071479 A1 WO 2024071479A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
inspection
guide rail
ray
pallet
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/KR2022/014699
Other languages
French (fr)
Korean (ko)
Inventor
김형철
이영환
형성복
갈명준
민병석
박세화
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
XAVIS CO LTD
Original Assignee
XAVIS CO LTD
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by XAVIS CO LTD filed Critical XAVIS CO LTD
Priority to PCT/KR2022/014699 priority Critical patent/WO2024071479A1/en
Publication of WO2024071479A1 publication Critical patent/WO2024071479A1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells

Definitions

  • the present invention relates to an X-ray inspection device with a multi-point inspection structure.
  • the X-ray inspection method has the advantage of enabling a sealed internal inspection, unlike optical or other similar inspection methods.
  • X-ray examinations have the disadvantage of having to be performed inside a shielded examination room and in facilities where accurate X-ray images can be obtained.
  • non-destructive testing of parts, materials, or products is possible while precision testing is possible, and as a result, the demand for X-ray inspection is increasing in various tests that require a reduction in defect rates.
  • the X-ray inspection method can be applied to the inspection of various types of batteries, including portable batteries used in portable electronic devices such as smartphones or cameras, or batteries for electric vehicles, and related technologies are known in this field.
  • Patent registration number 10-1133048 discloses a battery inspection device. Additionally, Patent Publication No.
  • 10-2017-0016179 discloses an X-ray inspection device for inspecting cylindrical batteries.
  • the inspection object may have various structures, and the X-ray inspection device needs to have an inspection structure appropriate for the shape or structure of the inspection device. At the same time, it is necessary to have a structure that can improve inspection efficiency.
  • the prior art does not disclose an X-ray inspection device with such an inspection structure.
  • the present invention is intended to solve the problems of the prior art and has the following purposes.
  • the purpose of the present invention is to provide an
  • an X-ray inspection apparatus having a multi-point inspection structure includes a guide rail for transporting an inspection object; An X-ray inspection module consisting of a plurality of X-ray tubes and a plurality of detectors disposed at an inspection position formed on the path of the guide rail; and a pallet that fixes the inspection object and can move along the guide rail.
  • the pallet moves up and down in the process of moving along the guide rail to position the inspection object at the inspection point, and the inspection object that has completed the inspection is moved along the guide rail. It is moved and discharged.
  • the guide rail consists of an inlet guide rail and an outlet guide rail based on the inspection position.
  • it further includes a guide block installed in the path of the guide rail and a drive unit that moves the guide block up and down.
  • the inspection object is a pouch-shaped battery, and the four corners of the battery serve as inspection points.
  • the guide rail further includes at least one foreign matter detection module for inspecting foreign matter disposed at an end of the guide rail.
  • a pallet includes at least one pair of fixing poles and a rotating fixing tab disposed on an upper portion of the fixing poles.
  • the foreign matter detection module is an X-ray tube and a detector.
  • the X-ray inspection device with a multi-point inspection structure according to the present invention is applied to inspection objects that require inspection at multiple different points, allowing multiple inspection points to be inspected simultaneously.
  • the X-ray inspection device according to the present invention is applied to the inspection of pouch-shaped batteries that require inspection of four corners, so that all four corners are inspected simultaneously.
  • the X-ray inspection device according to the present invention can be applied to various inspection objects that require multi-point inspection, and the present invention is not limited thereby.
  • FIG. 1 shows an embodiment of an X-ray inspection device with a multi-point inspection structure according to the present invention.
  • FIGS. 2 to 4 show an example of a process in which an inspection object is inspected in an X-ray inspection device according to the present invention.
  • Figure 5 shows an example of a process in which foreign substances are inspected in an X-ray inspection device according to the present invention.
  • Figures 6 and 7 show an embodiment of the structure in which the inspection object is fixed to the pallet in the X-ray inspection device according to the present invention.
  • FIG. 1 shows an embodiment of an X-ray inspection device with a multi-point inspection structure according to the present invention.
  • an X-ray inspection apparatus having a multi-point inspection structure includes a guide rail 12 for transporting an inspection object (S); An X-ray inspection module consisting of a plurality of X-ray tubes (13a to 13d) and a plurality of detectors (14a to 14d) disposed at an inspection position formed in the path of the guide rail (12); And a pallet (17) that fixes the inspection object (S) and can be moved along the guide rail (12), and the pallet (17) moves up and down in the process of moving along the guide rail to inspect the inspection object (S).
  • the inspection object (S) which is placed at a point and has completed inspection, is moved along the guide rail (12) and discharged.
  • the guide rail 12 may be disposed on the base plate 11, and the guide rail 12 may be formed on the upper surface of the guide plate 11a. Additionally, the base plate 11 may be fixed to the upper part of the frame (F).
  • the frame F may have an overall box shape, and the base plate 11 fixed to the upper surface of the frame F may have an overall flat shape.
  • the base plate 11 may have an overall square plate shape, and a rectangular guide plate 11a may be disposed along the longitudinal direction of the base plate 11.
  • the guidance plate 11a may extend along the movement path of the inspection object S, and a pair of guidance rails 12 for movement of the inspection object S may be disposed on the guidance plate 11a.
  • the guide rail 12 may have a structure extending along the guide plate 11a, and the inspection object S may be moved along the guide rail 12.
  • the inspection device can be connected to the process equipment of the inspection object (S) in an in-line manner, and X-ray inspection can be performed during the manufacturing process of the inspection object (S).
  • An inspection position may be set on the path of the guide rail 12, and an inspection module may be placed at the inspection location.
  • the inspection module may be equipped with a plurality of X-ray tubes (13a to 13d) and a plurality of detectors (14a to 14d).
  • X-ray tubes 13a to 13d and detectors 14a to 14d may be placed on both sides of the guidance path. For example, two 14d) can be arranged.
  • the number of X-ray tubes 13a to 13d may be determined by the shape or structure of the inspection object S, and specifically, the number of inspection points required for one inspection object. For example, if the inspection target (S) is a pouch-shaped battery, the four corners may be inspection points, and two You can. The positions of the inspection target (S) is a pouch-shaped battery, the four corners may be inspection points, and two You can. The positions of the inspection target (S) is a pouch-shaped battery.
  • the inspection object (S) can be moved along the guide rail 12 by the pallet 17, and the pallet 17 may have a structure that can be moved along the guide rail 12.
  • the pallet 17 may have a box shape or a rectangular parallelepiped shape as a whole, and may have a structure in which the lower part can be linearly moved along the guide rail 12 and the upper part can be fixed to the inspection target (S).
  • the inspection object S can be located on a fixed plane formed above the pallet 17. As the pallet 17 moves along the guide rail 12, the inspection object S may be moved to the inspection position.
  • the inspection position may be the middle portion based on the arrangement positions of the four X-ray tubes 13a to 13d, and the four X-ray tubes 13a to 13d may be placed above the guidance path 12.
  • the direction and focus position of each X-ray tube (13a to 13d) may be set based on the inspection point of the inspection object (S).
  • the pallet 17 is moved upward at the inspection position, and thus the inspection point of the inspection object S may be positioned at the focus of each of the X-ray tubes 13a to 13d.
  • the test object (S) is a pouch-shaped battery
  • the four corners can be the test points
  • the four X-ray tubes (13a to 13d) and four detectors (14a to 14d) can be used to X-ray images of corners can be acquired sequentially or simultaneously.
  • the inspection object (S) is separated from the moving plane on which the guide rail 12 is formed, and an inspection image is obtained, preventing interference related to the inspection, and the inspection point is located above the guide rail 12, so a clear X-ray image is obtained.
  • the pallet 17 can be moved along the guide rail 12 to discharge the inspection object S on which the inspection has been completed.
  • the X-ray inspection device further includes a foreign matter detection module for inspecting at least one foreign matter disposed at the end of the guide rail 12.
  • the test object (S) for which the test has been completed can be discharged from the end of the guide rail (12).
  • foreign substances present inside or outside the inspection object (S) may be inspected by the foreign substance detection module.
  • the foreign matter detection module may be a vision inspection means such as a camera, but may be the detection You can. The detection This is explained again below.
  • FIGS. 2 to 4 show an example of a process in which an inspection object is inspected in an X-ray inspection device according to the present invention.
  • the guide rail 12 consists of an inlet guide rail 12a and an outlet guide rail 12b based on the inspection position.
  • the X-ray inspection device further includes a guide block 21 installed in the path of the guide rail 12 and a drive unit 22 that moves the guide block 21 up and down.
  • the frame F may have a structure that can be connected in-line to the manufacturing facility, and the pallet 17 may be located on the guide rail.
  • the guide rail may be composed of an inflow guide rail (12a) located in front of the inspection area and an discharge guide rail (12b) located in the back of the inspection area.
  • the inlet guide rail 12a and the outlet guide rail 12b may be connected by a guide block 21, and the space above the guide block 21 may be an inspection area.
  • the inlet guide rail 12a and the outlet guide rail 12b may have the same or similar structure, and the upper surface of the guide block 21 is the same as the upper surface of the inlet guide rail 12a and the outlet guide rail 12b.
  • a plane can be formed.
  • the pallet 17 on which the inspection object is loaded may be moved along the inflow guide rail 12a and positioned above the guide block 21.
  • the guide block 21 can be moved up and down by a drive unit 22, such as an actuating cylinder.
  • the height at which the guidance block 21 is moved upward may be determined in advance, and an X-ray image may be acquired while it is moved upward.
  • the inspection object (S) is a pouch-shaped battery
  • X-ray images of four corners can be obtained by four X-ray tubes (13a to 13d) and four detectors. After the It becomes.
  • the pallet 17 may be moved along the discharge guide rail 12b, and may be inspected for foreign matter in the process of being moved to the discharge guide block 12b. In order to inspect foreign substances, detection .
  • Figure 5 shows an example of a process in which foreign substances are inspected in an X-ray inspection device according to the present invention.
  • the pallet 17 may be fixed to the upper portion of the inspection object (S), and the inspection object (S) may be in the shape of a square plate.
  • the detection X-ray tubes 15a and 15b may be arranged along the width direction of the guide rail 12 and may be placed below the guide rail 12. X-rays may be emitted to penetrate the inspection object S in an upward direction from the bottom of the guide rail 12.
  • detection detectors 16a and 16b may be placed on the upper side of the guide rail 12 to face the detection X-ray tubes 15a and 15b.
  • Foreign substances that may be present in the inspection object (S) can be detected by this foreign matter detection module.
  • this foreign matter detection module two detection X-ray tubes (15a, 15b) are presented, but depending on the shape or structure of the inspection object (S), the and the present invention is not limited thereby.
  • Figures 6 and 7 show an embodiment of the structure in which the inspection object is fixed to the pallet in the X-ray inspection device according to the present invention.
  • the pallet 17 includes at least one pair of fixing poles 172a, 172b and rotating fixing tabs 174a, 174b, 174c, 174d disposed on upper portions of the fixing poles 172a, 172b.
  • the pallet 17 may have an appropriate shape depending on the shape or structure of the inspection target.
  • the inspection object (S) is a pouch-shaped battery
  • the pallet 17 may have a box shape as a whole and have a structure in which the inspection object (S) can be fixed to the upper portion.
  • the pallet 17 includes a moving board 171 that has an overall square plate shape; and a plurality of fixed poles 172a and 172b formed on the moving substrate 171.
  • a movement guiding means may be formed below the moving substrate 171 to allow the moving substrate 171 to move along the guiding rail.
  • the fixed poles 172a and 172b may extend in a vertical direction from the upper surface of the moving board 171, and a fixed plate 173 supported by the support plate 175 on the upper portion of the fixed poles 172a and 172b. is placed so that the inspection target (S) can be located.
  • rotating fixing tabs 174a and 174b may be coupled to the upper ends of the fixing poles 172a and 172b.
  • the rotation fixing tabs 174a and 174b have an overall T shape and one end can be rotatably coupled to the fixing poles 172a and 172b.
  • the rotation fixing tabs 174a and 174b may be operated by gas pressure, and the rotation fixation tabs 174a and 174b may be rotated around the ends of the T-shaped legs. For example, as shown on the left side of FIG. 6, the rotation fixing tabs 174a and 174b may be separated from the inspection object S in a state in which gas is not injected through the injection port 176. In contrast, when gas is injected through the injection port 176, as shown on the right side of FIG. 6, the rotation fixing tabs 174a and 174b are rotated to apply pressure from the top to the bottom of the inspection object (S), thereby The inspection object (S) may be fixed to the pallet (17). As shown in FIG.
  • the inspection object (S) may have various sizes, and in the case of a large inspection object (S1), four fixing poles (172a to 172d) are disposed above the moving board (171). It can be. Additionally, rotational fixing tabs 174a to 174d may be coupled to each fixing pole 172a to 172d.
  • the fixing poles 172a to 172d or the rotating fixing tabs 174a to 174d may be formed in various numbers, and the present invention is not limited thereto.
  • the present invention can be applied to X-ray inspection of various products, and preferably to battery inspection.

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Abstract

The present invention relates to an X-ray inspection device having a multi-point inspection structure. An X-ray device having a multi-point inspection structure includes: an induction rail (12) for the transfer of an inspection subject (S); an X-ray inspection module including multiple detectors (14a to 14d) and multiple X-ray tubes (13a to 13d) arranged at inspection positions formed on a route of the induction rail (12); a pallet (17) which is movable along the induction rail (12) in a state of fixing the inspection subject (S), wherein the pallet (17) moves up or down to locate the inspection subject (S) at an inspection point in the process of moving along the induction rail, and the inspection subject (S), which has been inspected, is moved along the induction rail (12) and then discharged.

Description

다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치X-ray inspection device with multi-point inspection structure

본 발명은 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an X-ray inspection device with a multi-point inspection structure.

엑스레이에 의한 검사 방법은 광학 수단 또는 이와 유사한 다른 검사 수단과 달리 밀폐된 내부 검사가 가능하다는 장점을 가진다. 그러나 엑스레이 검사는 차폐가 된 검사실 내부에서 이루어지면서 정확한 엑스레이 이미지가 획득될 수 있는 설비에서 이루어져야 한다는 단점을 가진다. 이와 같은 단점에도 불구하고 부품, 소재 또는 제품에 대한 비파괴 검사가 가능하면서 정밀 검사가 가능하고, 이로 인하여 불량률의 감소가 요구되는 다양한 검사에서 엑스레이 검사에 대한 수요가 증가하고 있다. 예를 들어 스마트폰 또는 카메라와 같은 휴대용 전자기기에서 사용되는 휴대용 배터리 또는 전기자동차용 배터리를 비롯하여 다양한 종류의 배터리의 검사에 엑스레이 검사 방법이 적용될 수 있고, 이와 관련된 기술이 이 분야에 공지되어 있다. 특허등록번호 10-1133048은 배터리 검사 장치에 대하여 개시한다. 또한 특허공개번호 10-2017-0016179는 원통 형상의 배터리 검사용 엑스레이 검사 장치에 대하여 개시한다. 검사 대상은 다양한 구조를 가질 수 있고, 엑스레이 검사 장치는 검사 장치의 형상 또는 구조에 따른 그에 적합한 검사 구조를 가질 필요가 있다. 이와 함께 검사 효율이 향상될 수 있는 구조를 가질 필요가 있다. 그러나 선행기술은 이와 같은 검사 구조를 가진 엑스레이 검사 장치에 대하여 개시하지 않는다.The X-ray inspection method has the advantage of enabling a sealed internal inspection, unlike optical or other similar inspection methods. However, X-ray examinations have the disadvantage of having to be performed inside a shielded examination room and in facilities where accurate X-ray images can be obtained. Despite these shortcomings, non-destructive testing of parts, materials, or products is possible while precision testing is possible, and as a result, the demand for X-ray inspection is increasing in various tests that require a reduction in defect rates. For example, the X-ray inspection method can be applied to the inspection of various types of batteries, including portable batteries used in portable electronic devices such as smartphones or cameras, or batteries for electric vehicles, and related technologies are known in this field. Patent registration number 10-1133048 discloses a battery inspection device. Additionally, Patent Publication No. 10-2017-0016179 discloses an X-ray inspection device for inspecting cylindrical batteries. The inspection object may have various structures, and the X-ray inspection device needs to have an inspection structure appropriate for the shape or structure of the inspection device. At the same time, it is necessary to have a structure that can improve inspection efficiency. However, the prior art does not disclose an X-ray inspection device with such an inspection structure.

본 발명은 선행기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로 아래와 같은 목적을 가진다.The present invention is intended to solve the problems of the prior art and has the following purposes.

본 발명의 목적은 다수 지점이 검사되어야 하는 검사 대상의 검사를 위하여 적어도 두 개의 검사 지점이 동시에 검사될 수 있도록 하는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치를 제공하는 것이다.The purpose of the present invention is to provide an

본 발명의 적절한 실시 형태에 따르면, 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치는 검사 대상의 이송을 위한 유도 레일; 유도 레일의 경로에 형성되는 검사 위치에 배치되는 다수 개의 엑스레이 튜브 및 다수 개의 디텍터로 이루어진 엑스레이 검사 모듈; 및 검사 대상을 고정시켜 유도 레일을 따라 이동 가능한 팔레트를 포함하고, 팔레트는 유도 레일을 따라 이동되는 과정에서 상하로 이동되어 검사 대상을 검사 지점에 위치시키고, 검사가 완료된 검사 대상은 유도 레일을 따라 이동되어 배출된다.According to a preferred embodiment of the present invention, an X-ray inspection apparatus having a multi-point inspection structure includes a guide rail for transporting an inspection object; An X-ray inspection module consisting of a plurality of X-ray tubes and a plurality of detectors disposed at an inspection position formed on the path of the guide rail; and a pallet that fixes the inspection object and can move along the guide rail. The pallet moves up and down in the process of moving along the guide rail to position the inspection object at the inspection point, and the inspection object that has completed the inspection is moved along the guide rail. It is moved and discharged.

본 발명의 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 엑스레이 튜브 및 디덱터는 각각 네 개가 된다.According to another suitable embodiment of the present invention, there are four x-ray tubes and four detectors.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 유도 레일은 검사 위치를 기준으로 유입 유도 레일과 배출 유도 레일로 이루어진다.According to another suitable embodiment of the present invention, the guide rail consists of an inlet guide rail and an outlet guide rail based on the inspection position.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 유도 레일의 경로에 설치되는 유도 블록 및 유도 블록을 상하로 이동시키는 구동 유닛을 더 포함한다.According to another suitable embodiment of the present invention, it further includes a guide block installed in the path of the guide rail and a drive unit that moves the guide block up and down.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 검사 대상은 파우치 형상의 배터리가 되고, 배터리의 네 개의 모서리가 검사 지점이 된다.According to another suitable embodiment of the present invention, the inspection object is a pouch-shaped battery, and the four corners of the battery serve as inspection points.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 유도 레일의 끝 부분에 배치되는 적어도 하나의 이물질 검사를 위한 이물질 탐지 모듈을 더 포함한다.According to another suitable embodiment of the present invention, the guide rail further includes at least one foreign matter detection module for inspecting foreign matter disposed at an end of the guide rail.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 팔레트는 적어도 한 쌍의 고정 폴 및 고정 폴의 위쪽 부분에 배치되는 회전 고정 탭을 포함한다.According to another preferred embodiment of the invention, a pallet includes at least one pair of fixing poles and a rotating fixing tab disposed on an upper portion of the fixing poles.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 이물질 탐지 모듈은 엑스레이 튜브 및 디텍터가 된다.According to another suitable embodiment of the present invention, the foreign matter detection module is an X-ray tube and a detector.

본 발명에 따른 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치는 서로 다른 다수 지점의 검사가 필요한 검사 대상에 적용되어 다수 개의 검사 지점에 동시에 검사가 되도록 한다. 예를 들어 본 발명에 따른 엑스레이 검사 장치는 네 개의 모서리의 검사가 필요한 파우치 형상의 배터리 검사에 적용되어 네 개의 모서리가 동시에 검사가 되도록 한다. 본 발명에 따른 엑스레이 검사 장치는 다점 검사가 필요한 다양한 검사 대상에 적용될 수 있고 이에 의하여 본 발명은 제한되지 않는다.The X-ray inspection device with a multi-point inspection structure according to the present invention is applied to inspection objects that require inspection at multiple different points, allowing multiple inspection points to be inspected simultaneously. For example, the X-ray inspection device according to the present invention is applied to the inspection of pouch-shaped batteries that require inspection of four corners, so that all four corners are inspected simultaneously. The X-ray inspection device according to the present invention can be applied to various inspection objects that require multi-point inspection, and the present invention is not limited thereby.

도 1은 본 발명에 따른 본 발명에 따른 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치의 실시 예를 도시한 것이다.1 shows an embodiment of an X-ray inspection device with a multi-point inspection structure according to the present invention.

도 2 내지 4는 본 발명에 따른 엑스레이 검사 장치에서 검사 대상이 검사되는 과정의 실시 예를 도시한 것이다.2 to 4 show an example of a process in which an inspection object is inspected in an X-ray inspection device according to the present invention.

도 5는 본 발명에 따른 엑스레이 검사 장치에서 이물질이 검사되는 과정의 실시 예를 도시한 것이다.Figure 5 shows an example of a process in which foreign substances are inspected in an X-ray inspection device according to the present invention.

도 6 및 7은 본 발명에 따른 엑스레이 검사 장치에서 검사 대상에 팔레트에 고정되는 구조의 실시 예를 도시한 것이다.Figures 6 and 7 show an embodiment of the structure in which the inspection object is fixed to the pallet in the X-ray inspection device according to the present invention.

아래에서 본 발명은 첨부된 도면에 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되지만 실시 예는 본 발명의 명확한 이해를 위한 것으로 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 아래의 설명에서 서로 다른 도면에서 동일한 도면 부호를 가지는 구성요소는 유사한 기능을 가지므로 발명의 이해를 위하여 필요하지 않는다면 반복하여 설명이 되지 않으며 공지의 구성요소는 간략하게 설명이 되거나 생략이 되지만 본 발명의 실시 예에서 제외되는 것으로 이해되지 않아야 한다.Below, the present invention will be described in detail with reference to the embodiments shown in the attached drawings, but the examples are for a clear understanding of the present invention and the present invention is not limited thereto. In the description below, components having the same reference numerals in different drawings have similar functions, so unless necessary for understanding the invention, the description will not be repeated, and well-known components will be briefly described or omitted, but the present invention It should not be understood as being excluded from the embodiments.

도 1은 본 발명에 따른 본 발명에 따른 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치의 실시 예를 도시한 것이다.1 shows an embodiment of an X-ray inspection device with a multi-point inspection structure according to the present invention.

도 1을 참조하면, 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치는 검사 대상(S)의 이송을 위한 유도 레일(12); 유도 레일(12)의 경로에 형성되는 검사 위치에 배치되는 다수 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 다수 개의 디텍터(14a 내지 14d)로 이루어진 엑스레이 검사 모듈; 및 검사 대상(S)을 고정시켜 유도 레일(12)을 따라 이동 가능한 팔레트(17)를 포함하고, 팔레트(17)는 유도 레일을 따라 이동되는 과정에서 상하로 이동되어 검사 대상(S)을 검사 지점에 위치시키고, 검사가 완료된 검사 대상(S)은 유도 레일(12)을 따라 이동되어 배출된다.Referring to FIG. 1, an X-ray inspection apparatus having a multi-point inspection structure includes a guide rail 12 for transporting an inspection object (S); An X-ray inspection module consisting of a plurality of X-ray tubes (13a to 13d) and a plurality of detectors (14a to 14d) disposed at an inspection position formed in the path of the guide rail (12); And a pallet (17) that fixes the inspection object (S) and can be moved along the guide rail (12), and the pallet (17) moves up and down in the process of moving along the guide rail to inspect the inspection object (S). The inspection object (S), which is placed at a point and has completed inspection, is moved along the guide rail (12) and discharged.

유도 레일(12)이 베이스 판(11)에 유도 판(11a)이 배치될 수 있고, 유도 판(11a)의 위쪽 면에 유도 레일(12)이 형성될 수 있다. 또한 베이스 판(11)은 프레임(F)의 위쪽에 고정될 수 있다. 프레임(F)은 전체적으로 박스 형상이 될 수 있고, 프레임(F)의 위쪽 면에 고정되는 베이스 판(11)은 전체적으로 평면 형상이 될 수 있다. 베이스 판(11)은 전체적으로 사각 판 형상이 될 수 있고, 베이스 판(11)의 길이 방향을 따라 직사각 판 형상의 유도 판(11a)이 배치될 수 있다. 유도 판(11a)은 검사 대상(S)의 이동 경로를 따라 연장될 수 있고, 검사 대상(S)의 이동을 위한 한 쌍의 유도 레일(12)이 유도 판(11a)에 배치될 수 있다. 유도 레일(12)은 유도 판(11a)을 따라 연장되는 구조를 가질 수 있고, 검사 대상(S)은 유도 레일(12)을 따라 이동될 수 있다. 이와 같은 검사 장치의 구조에 의하여 검사 장치가 인-라인 방식으로 검사 대상(S)의 공정 설비와 연결될 수 있고, 검사 대상(S)의 제조 과정에서 엑스레이 검사가 진행될 수 있다. 유도 레일(12)의 경로 상에 검사 위치가 설정될 수 있고, 검사 위치에 검사 모듈이 배치될 수 있다. 검사 모듈은 다수 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 다수 개의 디텍터(14a 내지 14d)가 배치될 수 있다. 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 디텍터(14a 내지 14d)는 유도 경로의 양쪽에 배치될 수 있다. 예를 들어 유도 레일(12)의 양쪽에 각각 두 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 두 개의 디텍터(14a 내지 14d)가 배치되어 전체적으로 네 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 네 개의 디텍터(14a 내지 14d)가 배치될 수 있다. 엑스레이 튜브(13a 내지 13d)의 개수는 검사 대상(S)의 형상 또는 구조에 의하여 결정될 수 있고, 구체적으로 하나의 검사 대상에서 필요한 검사 지점의 개수에 의하여 결정될 수 있다. 예를 들어 검사 대상(S)이 파우치 형상의 배터리가 되는 경우 네 개의 모서리 부분이 검사 지점이 될 수 있고, 두 개의 엑스레이 튜브(13a. 13b) 또는 네 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d)가 배치될 수 있다. 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 디텍터(14a 내지 14d)의 위치는 검사 대상(S)에 따라 다양하게 설정될 수 있고 이에 의하여 본 발명은 제한되지 않는다.The guide rail 12 may be disposed on the base plate 11, and the guide rail 12 may be formed on the upper surface of the guide plate 11a. Additionally, the base plate 11 may be fixed to the upper part of the frame (F). The frame F may have an overall box shape, and the base plate 11 fixed to the upper surface of the frame F may have an overall flat shape. The base plate 11 may have an overall square plate shape, and a rectangular guide plate 11a may be disposed along the longitudinal direction of the base plate 11. The guidance plate 11a may extend along the movement path of the inspection object S, and a pair of guidance rails 12 for movement of the inspection object S may be disposed on the guidance plate 11a. The guide rail 12 may have a structure extending along the guide plate 11a, and the inspection object S may be moved along the guide rail 12. Due to this structure of the inspection device, the inspection device can be connected to the process equipment of the inspection object (S) in an in-line manner, and X-ray inspection can be performed during the manufacturing process of the inspection object (S). An inspection position may be set on the path of the guide rail 12, and an inspection module may be placed at the inspection location. The inspection module may be equipped with a plurality of X-ray tubes (13a to 13d) and a plurality of detectors (14a to 14d). X-ray tubes 13a to 13d and detectors 14a to 14d may be placed on both sides of the guidance path. For example, two 14d) can be arranged. The number of X-ray tubes 13a to 13d may be determined by the shape or structure of the inspection object S, and specifically, the number of inspection points required for one inspection object. For example, if the inspection target (S) is a pouch-shaped battery, the four corners may be inspection points, and two You can. The positions of the

검사 대상(S)은 팔레트(17)에 의하여 유도 레일(12)을 따라 이동될 수 있고, 팔레트(17)는 유도 레일(12)을 따라 이동될 수 있는 구조를 가질 수 있다. 구체적으로 팔레트(17)는 전체적으로 박스 형상 또는 직육면체 형상이 되면서 아래쪽 부분은 유도 레일(12)을 따라 선형 이동이 가능하면서 위쪽 부분이 검사 대상(S)이 고정될 수 있는 구조를 가질 수 있다. 팔레트(17)가 유도 레일(12)에 위치하면 검사 대상(S)이 팔레트(17)의 위쪽에 형성된 고정 평면에 위치할 수 있다. 팔레트(17)가 유도 레일(12)을 따라 이동되면서 이와 함께 검사 대상(S)이 검사 위치로 이동될 수 있다. 검사 위치는 네 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d)의 배치 위치를 기준으로 중간 부분이 될 수 있고, 네 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d)는 유도 경로(12)의 위쪽에 배치될 수 있다. 검사 대상(S)의 검사 지점에 기초하여 각각의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d)의 방향 및 초점 위치가 설정될 수 있다. 검사 위치에서 팔레트(17)가 위쪽으로 이동되고, 이에 따라 검사 대상(S)의 검사 지점이 각각의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d)가 초점에 위치할 수 있다. 예를 들어 검사 대상(S)이 파우치 형상의 배터리가 되는 경우 네 개의 모서리 부분이 검사 지점이 될 수 있고, 네 개의 엑스레이 튜브(13a내지 13d) 및 네 개의 디텍터(14a 내지 14d)에 의하여 네 개의 모서리에 대한 엑스레이 영상이 순차적으로 또는 동시에 획득될 수 있다. 이와 같이 검사 대상(S)이 유도 레일(12)이 형성된 이동 평면으로부터 분리되어 검사 이미지가 획득되어 검사와 관련된 간섭이 방지되면서 검사 지점이 유도 레일(12)의 위쪽에 위치하여 명확한 엑스레이 이미지가 획득되도록 한다. 이와 같이 다수 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 디텍터(14a 내지 14d)에 의하여 엑스레이 검사 이미지가 획득되면, 팔레트(17)가 아래쪽으로 이동되면서 검사 대상(S)이 아래쪽으로 이동될 수 있다. 이후 팔레트(17)가 유도 레일(12)을 따라 이동되어 검사가 완료된 검사 대상(S)을 배출시킬 수 있다.The inspection object (S) can be moved along the guide rail 12 by the pallet 17, and the pallet 17 may have a structure that can be moved along the guide rail 12. Specifically, the pallet 17 may have a box shape or a rectangular parallelepiped shape as a whole, and may have a structure in which the lower part can be linearly moved along the guide rail 12 and the upper part can be fixed to the inspection target (S). When the pallet 17 is located on the guide rail 12, the inspection object S can be located on a fixed plane formed above the pallet 17. As the pallet 17 moves along the guide rail 12, the inspection object S may be moved to the inspection position. The inspection position may be the middle portion based on the arrangement positions of the four X-ray tubes 13a to 13d, and the four X-ray tubes 13a to 13d may be placed above the guidance path 12. The direction and focus position of each X-ray tube (13a to 13d) may be set based on the inspection point of the inspection object (S). The pallet 17 is moved upward at the inspection position, and thus the inspection point of the inspection object S may be positioned at the focus of each of the X-ray tubes 13a to 13d. For example, if the test object (S) is a pouch-shaped battery, the four corners can be the test points, and the four X-ray tubes (13a to 13d) and four detectors (14a to 14d) can be used to X-ray images of corners can be acquired sequentially or simultaneously. In this way, the inspection object (S) is separated from the moving plane on which the guide rail 12 is formed, and an inspection image is obtained, preventing interference related to the inspection, and the inspection point is located above the guide rail 12, so a clear X-ray image is obtained. Make it possible. In this way, when an X-ray inspection image is acquired by the plurality of Afterwards, the pallet 17 can be moved along the guide rail 12 to discharge the inspection object S on which the inspection has been completed.

본 발명의 하나의 실시 예에 따르면, 엑스레이 검사 장치는 유도 레일(12)의 끝 부분에 배치되는 적어도 하나의 이물질 검사를 위한 이물질 탐지 모듈을 더 포함한다. 검사가 완료된 검사 대상(S)은 유도 레일(12)의 끝 부분에서 배출될 수 있다. 검사 대상(S)이 배출되기 전 검사 대상(S)의 내부 또는 외부에 존재하는 이물질이 이물질 탐지 모듈에 의하여 검사될 수 있다. 이물질 탐지 모듈은 예를 들어 카메라와 같은 비전 검사 수단이 될 수 있지만 내부 또는 외부에 존재하는 이물질의 검사를 위하여 이물질 탐지 모듈의 탐지 엑스레이 튜브(15a, 15b) 및 탐지 디텍터(16a, 16b)가 될 수 있다. 탐지 엑스레이 튜브(15a, 15b)는 베이스 판(11)의 아래쪽에 배치될 수 있고, 탐지 디텍터(16a, 16b)에 탐지 엑스레이 튜브(15a, 15b)와 마주보는 위치에 배치될 수 있다. 이에 대하여 아래에서 다시 설명된다.According to one embodiment of the present invention, the X-ray inspection device further includes a foreign matter detection module for inspecting at least one foreign matter disposed at the end of the guide rail 12. The test object (S) for which the test has been completed can be discharged from the end of the guide rail (12). Before the inspection object (S) is discharged, foreign substances present inside or outside the inspection object (S) may be inspected by the foreign substance detection module. The foreign matter detection module may be a vision inspection means such as a camera, but may be the detection You can. The detection This is explained again below.

도 2 내지 4는 본 발명에 따른 엑스레이 검사 장치에서 검사 대상이 검사되는 과정의 실시 예를 도시한 것이다.2 to 4 show an example of a process in which an inspection object is inspected in an X-ray inspection device according to the present invention.

도 2 내지 4를 참조하면, 유도 레일(12)은 검사 위치를 기준으로 유입 유도 레일(12a)과 배출 유도 레일(12b)로 이루어진다. 또한 엑스레이 검사 장치는 유도 레일(12)의 경로에 설치되는 유도 블록(21) 및 유도 블록(21)을 상하로 이동시키는 구동 유닛(22)을 더 포함한다.Referring to Figures 2 to 4, the guide rail 12 consists of an inlet guide rail 12a and an outlet guide rail 12b based on the inspection position. In addition, the X-ray inspection device further includes a guide block 21 installed in the path of the guide rail 12 and a drive unit 22 that moves the guide block 21 up and down.

프레임(F)은 제조 설비에 인-라인(in-line)으로 연결될 수 있는 구조를 가질 수 있고, 유도 레일에 팔레트(17)가 위치할 수 있다. 유도 레일은 검사 영역의 앞쪽에 위치하는 유입 유도 레일(12a)과 검사 영역의 뒤쪽에 위치하는 배출 유도 레일(12b)로 이루어질 수 있다. 유입 유도 레일(12a)과 배출 유도 레일(12b)은 유도 블록(21)에 의하여 연결될 수 있고, 유도 블록(21)의 위쪽 공간이 검사 영역이 될 수 있다. 유입 유도 레일(12a)과 배출 유도 레일(12b)은 동일 또는 유사한 구조를 가질 수 있고, 유도 블록(21)의 위쪽 면은 유입 유도 레일(12a) 및 배출 유도 레일(12b)의 위쪽 면과 동일한 평면을 형성할 수 있다. 검사 대상이 적재된 팔레트(17)가 유입 유도 레일(12a)을 따라 이동되어 유도 블록(21)의 위쪽에 위치할 수 있다. 도 3에 도시된 것처럼, 유도 블록(21)은 작동 실린더와 같은 구동 유닛(22)에 의하여 상하로 이동될 수 있다. 유도 블록(21)의 위쪽 방향으로 이동되는 높이는 미리 결정될 수 있고, 위쪽 방향으로 이동된 상태에서 엑스레이 이미지가 획득될 수 있다. 구체적으로 검사 대상(S)이 파우치 형상의 배터리가 되는 경우 네 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 네 개의 디텍터에 의하여 네 개의 모서리에 대한 엑스레이 이미지가 획득될 수 있다. 엑스레이 이미지가 획득된 이후 구동 유닛(22)의 작동에 의하여 유도 블록(21)이 아래쪽으로 이동될 수 있고, 도4에 도시된 것처럼 팔레트(17)는 배출 유도 레일(12b)을 따라 이동 가능한 상태가 된다. 팔레트(17)는 배출 유도 레일(12b)을 따라 이동될 수 있고, 배출 유도 블록(12b)으로 이동되는 과정에서 이물질 검사가 될 수 있다. 이물질 검사를 위하여 배출 유도 레일(12b)에 탐지 엑스레이 튜브(15a, 15b) 및 탐지 디텍터(16a, 16b)가 설치될 수 있고, 이에 의하여 검사 대상(S)에 존재할 수 있는 이물질이 검사될 수 있다.The frame F may have a structure that can be connected in-line to the manufacturing facility, and the pallet 17 may be located on the guide rail. The guide rail may be composed of an inflow guide rail (12a) located in front of the inspection area and an discharge guide rail (12b) located in the back of the inspection area. The inlet guide rail 12a and the outlet guide rail 12b may be connected by a guide block 21, and the space above the guide block 21 may be an inspection area. The inlet guide rail 12a and the outlet guide rail 12b may have the same or similar structure, and the upper surface of the guide block 21 is the same as the upper surface of the inlet guide rail 12a and the outlet guide rail 12b. A plane can be formed. The pallet 17 on which the inspection object is loaded may be moved along the inflow guide rail 12a and positioned above the guide block 21. As shown in Figure 3, the guide block 21 can be moved up and down by a drive unit 22, such as an actuating cylinder. The height at which the guidance block 21 is moved upward may be determined in advance, and an X-ray image may be acquired while it is moved upward. Specifically, when the inspection object (S) is a pouch-shaped battery, X-ray images of four corners can be obtained by four X-ray tubes (13a to 13d) and four detectors. After the It becomes. The pallet 17 may be moved along the discharge guide rail 12b, and may be inspected for foreign matter in the process of being moved to the discharge guide block 12b. In order to inspect foreign substances, detection .

도 5는 본 발명에 따른 엑스레이 검사 장치에서 이물질이 검사되는 과정의 실시 예를 도시한 것이다.Figure 5 shows an example of a process in which foreign substances are inspected in an X-ray inspection device according to the present invention.

도 5를 참조하면, 팔레트(17)는 검사 대상(S)을 위쪽 부분에 고정될 수 있고, 검사 대상(S)은 사각 판 형상이 될 수 있다. 팔레트(17)가 유도 레일(12)의 정해진 위치에 도달하면 탐지 엑스레이 튜브(15a, 15b) 및 탐지 디텍터(16a, 16b)에 의하여 이물질이 탐지될 수 있다. 구체적으로 두 개의 탐지 엑스레이 튜브(15a, 15b)가 유도 레일(12)의 폭 방향을 따라 배치될 수 있고, 유도 레일(12)의 아래쪽에 배치될 수 있다. 유도 레일(12)의 아래쪽으로부터 위쪽 방향으로 검사 대상(S)을 투과하도록 엑스레이가 방출될 수 있다. 그리고 유도 레일(12)의 위쪽에 탐지 엑스레이 튜브(15a, 15b)와 마주보도록 탐지 디텍터(16a, 16b)가 배치될 수 있다. 이와 같은 이물질 탐지 모듈에 의하여 검사 대상(S)에 존재할 수 있는 이물질이 탐지될 수 있다. 제시된 실시 예에서 두 개의 탐지 엑스레이 튜브(15a, 15b)가 제시되어 있지만 검사 대상(S)의 형상 또는 구조에 따라 엑스레이 튜브(15a, 15b) 및 디텍터(16a, 16b)는 적절한 개수로 설치될 수 있고 이에 의하여 본 발명은 제한되지 않는다.Referring to Figure 5, the pallet 17 may be fixed to the upper portion of the inspection object (S), and the inspection object (S) may be in the shape of a square plate. When the pallet 17 reaches a predetermined position on the guide rail 12, foreign substances can be detected by the detection X-ray tubes 15a and 15b and the detection detectors 16a and 16b. Specifically, two detection X-ray tubes 15a and 15b may be arranged along the width direction of the guide rail 12 and may be placed below the guide rail 12. X-rays may be emitted to penetrate the inspection object S in an upward direction from the bottom of the guide rail 12. Additionally, detection detectors 16a and 16b may be placed on the upper side of the guide rail 12 to face the detection X-ray tubes 15a and 15b. Foreign substances that may be present in the inspection object (S) can be detected by this foreign matter detection module. In the presented embodiment, two detection X-ray tubes (15a, 15b) are presented, but depending on the shape or structure of the inspection object (S), the and the present invention is not limited thereby.

도 6 및 7은 본 발명에 따른 엑스레이 검사 장치에서 검사 대상에 팔레트에 고정되는 구조의 실시 예를 도시한 것이다.Figures 6 and 7 show an embodiment of the structure in which the inspection object is fixed to the pallet in the X-ray inspection device according to the present invention.

도 6 및 7을 참조하면, 팔레트(17)는 적어도 한 쌍의 고정 폴(172a, 172b) 및 고정 폴(172a, 172b)의 위쪽 부분에 배치되는 회전 고정 탭(174a, 174b, 174c, 174d)을 포함한다. 팔레트(17)는 검사 대상의 형상 또는 구조에 따라 적절한 형상을 가질 수 있다. 검사 대상(S)이 파우치 형상의 배터리가 되는 경우 팔레트(17)는 전체적으로 박스 형상이 되면서 위쪽 부분에 검사 대상(S)이 고정될 수 있는 구조가 될 수 있다. 팔레트(17)는 전체적으로 사각 판 형상이 되는 이동 기판(171); 및 이동 기판(171)에 형성된 다수 개의 고정 폴(172a, 172b)을 포함한다. 이동 기판(171)의 아래쪽에 유도 레일을 따라 이동되도록 하는 이동 유도 수단이 형성될 수 있다. 고정 폴(172a, 172b)은 이동 기판(171)의 위쪽 면으로부터 수직 방향으로 연장될 수 있고, 고정 폴(172a, 172b)의 위쪽 부분에 받침 플레이트(175)에 의하여 받쳐지는 고정 플레이트(173)가 배치되어 검사 대상(S)이 위치될 수 있다. 또한 고정 폴(172a, 172b)의 위쪽 끝 부분에 회전 고정 탭(174a, 174b)이 결합될 수 있다. 회전 고정 탭(174a, 174b)은 전체적으로 T 형상이 되면서 한쪽 끝이 고정 폴(172a, 172b)에 회전 가능하도록 결합될 수 있다. 회전 고정 탭(174a, 174b)은 기체 압력에 의하여 작동될 수 있고, 회전 고정 탭(174a, 174b)은 T 형상의 다리 끝 부분을 중심으로 회전될 수 있다. 예를 들어 도 6의 좌측에 도시된 것처럼, 주입구(176)를 통하여 기체가 주입되지 않은 상태에서 회전 고정 탭(174a, 174b)은 검사 대상(S)으로부터 분리될 수 있다. 이에 비하여 기체가 주입구(176)를 통하여 주입되면 도 6의 우측에 도시된 것처럼, 회전 고정 탭(174a, 174b)이 회전되어 검사 대상(S)의 위쪽에서 아래쪽으로 압력을 가할 수 있고, 이에 의하여 검사 대상(S)이 팔레트(17)에 고정될 수 있다. 도 7에 도시된 것처럼, 검사 대상(S)은 다양한 크기를 가질 수 있고, 크기가 큰 대형 검사 대상(S1)의 경우 네 개의 고정 폴(172a 내지 172d)이 이동 기판(171)의 위쪽에 배치될 수 있다. 그리고 각각의 고정 폴(172a 내지 172d)에 회전 고정 탭(174a 내지 174d)이 결합될 수 있다. 고정 폴(172a 내지 172d) 또는 회전 고정 탭(174a 내지 174d)은 다양한 개수로 형성될 수 있고 이에 의하여 본 발명은 제한되지 않는다.Referring to FIGS. 6 and 7, the pallet 17 includes at least one pair of fixing poles 172a, 172b and rotating fixing tabs 174a, 174b, 174c, 174d disposed on upper portions of the fixing poles 172a, 172b. Includes. The pallet 17 may have an appropriate shape depending on the shape or structure of the inspection target. When the inspection object (S) is a pouch-shaped battery, the pallet 17 may have a box shape as a whole and have a structure in which the inspection object (S) can be fixed to the upper portion. The pallet 17 includes a moving board 171 that has an overall square plate shape; and a plurality of fixed poles 172a and 172b formed on the moving substrate 171. A movement guiding means may be formed below the moving substrate 171 to allow the moving substrate 171 to move along the guiding rail. The fixed poles 172a and 172b may extend in a vertical direction from the upper surface of the moving board 171, and a fixed plate 173 supported by the support plate 175 on the upper portion of the fixed poles 172a and 172b. is placed so that the inspection target (S) can be located. Additionally, rotating fixing tabs 174a and 174b may be coupled to the upper ends of the fixing poles 172a and 172b. The rotation fixing tabs 174a and 174b have an overall T shape and one end can be rotatably coupled to the fixing poles 172a and 172b. The rotation fixing tabs 174a and 174b may be operated by gas pressure, and the rotation fixation tabs 174a and 174b may be rotated around the ends of the T-shaped legs. For example, as shown on the left side of FIG. 6, the rotation fixing tabs 174a and 174b may be separated from the inspection object S in a state in which gas is not injected through the injection port 176. In contrast, when gas is injected through the injection port 176, as shown on the right side of FIG. 6, the rotation fixing tabs 174a and 174b are rotated to apply pressure from the top to the bottom of the inspection object (S), thereby The inspection object (S) may be fixed to the pallet (17). As shown in FIG. 7, the inspection object (S) may have various sizes, and in the case of a large inspection object (S1), four fixing poles (172a to 172d) are disposed above the moving board (171). It can be. Additionally, rotational fixing tabs 174a to 174d may be coupled to each fixing pole 172a to 172d. The fixing poles 172a to 172d or the rotating fixing tabs 174a to 174d may be formed in various numbers, and the present invention is not limited thereto.

위에서 본 발명은 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되었지만 이 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 제시된 실시 예를 참조하여 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변형 및 수정 발명을 만들 수 있을 것이다. 본 발명은 이와 같은 변형 및 수정 발명에 의하여 제한되지 않으며 다만 아래에 첨부된 청구범위에 의하여 제한된다.Although the present invention has been described in detail above with reference to the presented embodiments, those skilled in the art will be able to make various variations and modifications without departing from the technical spirit of the present invention by referring to the presented embodiments. . The present invention is not limited by such variations and modifications, but is limited by the claims appended below.

본 발명은 다양한 제품의 엑스레이 검사에 적용될 수 있고, 바람직하게 배터리 검사에 적용될 수 있다. The present invention can be applied to X-ray inspection of various products, and preferably to battery inspection.

Claims (8)

검사 대상(S)의 이송을 위한 유도 레일(12);Guide rail (12) for transport of the inspection object (S); 유도 레일(12)의 경로에 형성되는 검사 위치에 배치되는 다수 개의 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 다수 개의 디텍터(14a 내지 14d)로 이루어진 엑스레이 검사 모듈; 및An X-ray inspection module consisting of a plurality of X-ray tubes (13a to 13d) and a plurality of detectors (14a to 14d) disposed at an inspection position formed in the path of the guide rail (12); and 검사 대상(S)을 고정시켜 유도 레일(12)을 따라 이동 가능한 팔레트(17)를 포함하고,It includes a pallet (17) that can be moved along the guide rail (12) by fixing the inspection object (S), 팔레트(17)는 유도 레일을 따라 이동되는 과정에서 상하로 이동되어 검사 대상(S)을 검사 지점에 위치시키고, 검사가 완료된 검사 대상(S)은 유도 레일(12)을 따라 이동되어 배출되는 것을 특징으로 하는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치.The pallet 17 moves up and down in the process of moving along the guide rail to position the inspection object (S) at the inspection point, and the inspection object (S) that has completed the inspection is moved along the guide rail 12 and discharged. An X-ray inspection device with a multi-point inspection structure. 청구항 1에 있어서, 엑스레이 튜브(13a 내지 13d) 및 디덱터(14a 내지 14d)는 각각 네 개가 되는 것을 특징으로 하는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치.The X-ray inspection apparatus of claim 1, wherein there are four x-ray tubes (13a to 13d) and four detectors (14a to 14d). 청구항 1에 있어서, 유도 레일(12)은 검사 위치를 기준으로 유입 유도 레일(12a)과 배출 유도 레일(12b)로 이루어지는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치.The method according to claim 1, wherein the guide rail (12) is an X-ray inspection device with a multi-point inspection structure consisting of an inlet guide rail (12a) and an outlet guide rail (12b) based on the inspection position. 청구항 1에 있어서, 유도 레일(12)의 경로에 설치되는 유도 블록(21) 및 유도 블록(21)을 상하로 이동시키는 구동 유닛(22)을 더 포함하는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치.The X-ray inspection apparatus of claim 1, further comprising a guide block (21) installed in the path of the guide rail (12) and a drive unit (22) that moves the guide block (21) up and down. 청구항 1에 있어서, 검사 대상(S)은 파우치 형상의 배터리가 되고, 배터리의 네 개의 모서리가 검사 지점이 되는 것을 특징으로 하는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치.The X-ray inspection device according to claim 1, wherein the inspection object (S) is a pouch-shaped battery, and four corners of the battery serve as inspection points. 청구항 1에 있어서, 유도 레일(12)의 끝 부분에 배치되는 적어도 하나의 이물질 검사를 위한 이물질 탐지 모듈을 더 포함하는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치.The X-ray inspection apparatus according to claim 1, further comprising a foreign matter detection module for inspecting at least one foreign matter disposed at an end of the guide rail (12). 청구항 1에 있어서, 팔레트(17)는 적어도 한 쌍의 고정 폴(172a, 172b) 및 고정 폴(172a, 172b)의 위쪽 부분에 배치되는 회전 고정 탭(174a, 174b, 174c, 174d)을 포함하는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치.The method according to claim 1, wherein the pallet (17) includes at least a pair of fixing poles (172a, 172b) and rotating fixing tabs (174a, 174b, 174c, 174d) disposed on upper portions of the fixing poles (172a, 172b). X-ray inspection device with multi-point inspection structure. 청구항 1에 있어서, 이물질 탐지 모듈은 엑스레이 튜브(15a, 15b) 및 디텍터(16a, 16b)가 되는 것을 특징으로 하는 다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치.The X-ray inspection device according to claim 1, wherein the foreign matter detection module includes an X-ray tube (15a, 15b) and a detector (16a, 16b).
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