WO2018180950A1 - 光源装置および投光装置 - Google Patents
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Definitions
- the present disclosure relates to a light source device and a light projecting device, and more particularly to a display field such as a projection display device or a vehicle illumination that uses light emitted by irradiating a phosphor element with light emitted from a semiconductor light emitting element.
- the present invention relates to a light source device used in an illumination field such as medical illumination, and a light projecting device using the light source device.
- FIG. 27 is a diagram showing a configuration of a conventional light source device 1100 disclosed in Patent Document 1.
- FIG. 27 is a diagram showing a configuration of a conventional light source device 1100 disclosed in Patent Document 1.
- light emitted from the laser element (laser chip) 1111 of the laser light source 1110 is incident from the incident surface of the optical rod 1120 and propagates through the optical rod 1120 while being subjected to multiple reflections.
- the light intensity distribution is averaged and becomes light having a uniform light intensity distribution. Since the light emitted from the optical rod 1120 is emitted as diverging light, it is condensed by the lens 1130 and then irradiated to the light emitting unit 1140.
- the optical rod 1120 is used to make the light intensity distribution of the light irradiated to the light emitting unit 1140 uniform.
- FIG. 28 is a diagram showing a configuration of a conventional light source device 1200 disclosed in Patent Document 2. As shown in FIG.
- the light emitted from the laser light source 1210 is converted into parallel light by the collimator lens 1220 and is incident on the hologram element 1230.
- the hologram element 1230 is formed so that the light intensity distribution of the excitation light on the phosphor 1240 is uniform. In this way, in the light source device 1200, the hologram element 1230 makes the light intensity distribution of the excitation light irradiated to the phosphor 1240 uniform.
- an optical rod is used to obtain a uniform light intensity distribution.
- the optical rod obtains a uniform light intensity distribution by increasing the number of multiple reflections, it is necessary to increase the length of the optical rod to some extent.
- the emitted light from the optical rod becomes divergent light, it is necessary to irradiate the phosphor after condensing the lens once, and the distance from the light emitting element to the phosphor becomes long.
- it is going to obtain uniform light intensity distribution using an optical rod, there exists a problem that it cannot miniaturize as a light source device.
- a hologram element is used to obtain a uniform light intensity distribution.
- the hologram element is an element using a light diffraction phenomenon, it is generally said that the efficiency is lower than that of a lens or the like. Also, the efficiency may be significantly reduced due to individual differences in the emission wavelength of the laser element, changes in the emission wavelength due to temperature, or the wavefront state of light incident on the hologram element (for example, diverging light or focused light). There is a problem that excitation light cannot be efficiently guided from the light to the phosphor.
- single-mode laser elements and multi-mode laser elements as laser elements.
- An object of the present invention is to provide a light source device and a light projecting device that are easy to design the light intensity distribution.
- one aspect of a light source device includes a laser element and a plurality of lens areas divided into a plurality of areas, and the light emitted from the laser element by the plurality of lens areas.
- Each of the focal points of the plurality of lens regions is from the light emitting surface of the phosphor element.
- each light from the plurality of lens regions is a phosphor element. It overlaps with the light emitting surface.
- the light of the laser element incident on the optical element propagates to the phosphor element as a plurality of excitation lights that are focused on the focal point by the plurality of lens regions. Since the focal points of the plurality of lens regions are present in front of or behind the phosphor element and are different from each other, they can overlap each other on the light emitting surface of the phosphor element.
- the light of the laser element incident on the light has an overlapped light intensity distribution. That is, the light is averaged and converted into light having a uniform light intensity distribution. Further, since the light incident on the lens provided with astigmatism is converted into excitation light having the most narrowed positions in two orthogonal directions provided with astigmatism, 2 on the light emitting surface of the phosphor element.
- the beam width in the direction can be set individually. Therefore, light emitted from the laser element can be efficiently converted into excitation light having a uniform light intensity distribution and a desired beam width, and a small light source device can be realized.
- the plurality of lens regions are divided into a first axis direction and a second axis direction orthogonal to the first axis, and the light emitted from the laser element is the first axis.
- the second axis, the one with the narrower radiation angle is incident on the plurality of lens regions so as to correspond to the second axis, the position where the light in the first axis direction is most focused corresponds to the first focal line, The position where the light in the biaxial direction can be reduced most preferably corresponds to the second focal line.
- the beam width D1 in the first axis direction and the second The beam width D2 in the axial direction is preferably D1 ⁇ D2.
- This configuration expands the design range of a beam shape having a uniform light intensity distribution while having an elongated beam shape.
- the division width in the first axis direction may be larger than the division width in the second axis direction.
- the phosphor element is disposed so as to be inclined with respect to the first axis, and astigmatism is given to each of the plurality of lens regions.
- the second focal lines of the plurality of lens regions may be present in the vicinity of the light emitting surface of the phosphor element.
- This configuration can prevent the beam width from extending in the tilt direction of the phosphor element even when the phosphor element is tilted with respect to the optical axis of the optical element. Thereby, the range of the design which makes the beam width of two directions equal is expanded.
- the planar view shape of the optical element may be a rectangular shape.
- This configuration makes it possible to increase the number of optical elements that can be removed when manufacturing optical elements from a wafer. Thereby, the mass productivity of the optical element and the light source device including the optical element is improved.
- the plurality of lens regions may be formed of a Fresnel lens, and a step may be formed in a peripheral portion in contact with the plurality of lens regions.
- the optical element includes a glass substrate and a dielectric film formed on the glass substrate, and the plurality of lens regions are formed on the dielectric film. Good.
- This configuration makes it possible to produce an optical element having a flat surface with little surface roughness while suppressing costs. Therefore, a high-quality light source device can be realized at low cost.
- an absorption film that absorbs ambient light of light emitted from the laser element may be formed in the periphery of the plurality of lens regions.
- the optical element includes a convex lens that converts a divergence angle of light emitted from the laser element, and the transmitted light of the convex lens is configured to be incident on a plurality of lens regions. It is good to be.
- the emitted light of the laser light can be efficiently condensed on the phosphor element and converted into excitation light, so that a highly efficient light source device can be realized.
- the convex lens is preferably a Fresnel lens, and a step is preferably formed in the peripheral portion in contact with the convex lens.
- This configuration makes it possible to reduce the thickness of the optical element, thereby realizing a small light source device.
- an opening film for shielding the ambient light of the light emitted from the laser element is formed in the peripheral part of the plurality of lens regions.
- each of the plurality of lens regions may be partly or entirely rectangular or hexagonal.
- This configuration can minimize the area that does not act as a lens area, and thus can be converted into excitation light more efficiently.
- the division width in the first axis direction of the plurality of lens regions is W1
- the stripe width of the laser element corresponding to the direction of the narrow emission angle is W
- the focal length on the side where the emitted light is captured is F1
- the distance along the optical axis of the excitation light from the plurality of lenses formed on the optical element to the light emitting surface of the phosphor element is F2
- the phosphor element of the excitation light is In the light intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element formed by the excitation light when the incident angle to the light emitting surface is ⁇
- the light intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element is at least partly parallel to the first axis and at least partly parallel to the second axis. It is good that it is a quadrangular frustum shape consisting of two bases.
- This configuration facilitates the design of the light intensity distribution of the excitation light that is made uniform on the light emitting surface of the phosphor element.
- an optical element having a laser element having a plurality of emitters and a plurality of lens areas, and changing an intensity distribution of light emitted from the laser element by the plurality of lens areas.
- a phosphor element that emits light whose intensity distribution has been changed by the optical element as excitation light, and each focal point of the plurality of lens regions exists in front of or behind the light emitting surface of the phosphor element,
- astigmatism is given to each of the plurality of lens regions, and the excitation light forms a minimum circle of confusion near the focus, and the phosphor element is sandwiched between the minimum circle of confusion.
- the second focal line is formed on the side and the first focal line is formed on the other side, and the light from the plurality of lens regions corresponding to each of the plurality of emitters overlaps with the light emitting surface of the phosphor element.
- Each light La may partially overlap with the light emitting surface of at least the phosphor elements.
- the plurality of lens regions are divided into a first axis direction and a second axis direction orthogonal to the first axis, and the light emitted from the laser element is the first axis.
- the second axis which has a narrower radiation angle, is incident on the plurality of lens regions so as to correspond to the second axis, the position where the light in the first axis direction can be focused corresponds to the first focal line, and the second axis
- the position where the light in the axial direction can be narrowed may correspond to the second focal line.
- the phosphor element is disposed so as to be inclined with respect to the first axis, and the second focal lines of the plurality of lens regions are phosphor elements. It may be present in the vicinity of the light emitting surface.
- the beam width extends in the inclination direction of the phosphor element. Can be suppressed. Thereby, the range of the design which makes the beam width of two directions equal is expanded.
- one aspect of the light projecting device according to the present disclosure includes the light source device described above.
- This configuration makes it possible to realize a small floodlight device.
- the light emitted from the laser element can be efficiently converted into uniform excitation light, the light intensity distribution of the excitation light can be easily designed, and a compact light source device can be realized.
- FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of the light source device according to the first embodiment of the present disclosure.
- FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the semiconductor light emitting device in the light source device according to the first embodiment of the present disclosure.
- FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of an optical element in the light source device according to the first embodiment of the present disclosure.
- FIG. 4 is a diagram for describing the function of the optical element in the light source device according to Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 5A is a diagram illustrating a change in intensity distribution in the first axis direction of light passing through the optical element in the light source device according to Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of the light source device according to the first embodiment of the present disclosure.
- FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the semiconductor light emitting device in the light source device according to the first embodiment of the present disclosure.
- FIG. 3 is a diagram
- FIG. 5B is a diagram illustrating a change in intensity distribution in the second axis direction of light passing through the optical element in the light source device according to Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 6A is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Modification 1 of Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 6B is a cross-sectional view illustrating a configuration of an optical element used in the light source device according to Modification 1 of Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 7 is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Modification 2 of Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of the light source device according to the second embodiment of the present disclosure.
- FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration of an optical element in the light source device according to the second embodiment of the present disclosure.
- FIG. 10 is a diagram for describing the function of the optical element in the light source device according to the second embodiment of the present disclosure.
- FIG. 11 is a diagram illustrating a design example of the light intensity distribution of the excitation light on the light emitting surface of the phosphor element in the light source device according to the second embodiment of the present disclosure.
- FIG. 12 is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Modification 1 of Embodiment 2 of the present disclosure.
- FIG. 13 is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Modification 2 of Embodiment 2 of the present disclosure.
- FIG. 14 is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to the third embodiment of the present disclosure.
- FIG. 15 is a diagram illustrating an optical path of the optical element in the light source device according to Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 16 is a diagram illustrating a configuration of a phosphor element in the light source device according to the third embodiment of the present disclosure.
- FIG. 17A is a diagram illustrating a luminance distribution in the phosphor element of the radiated light emitted from the phosphor element of the light source device according to Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 17B is a diagram illustrating the emission angle dependence of scattered light and fluorescence light intensity emitted from the phosphor element of the light source device according to Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 17C is a diagram illustrating the emission angle dependency of the chromaticity x of the radiated light composed of the scattered light and the fluorescence emitted from the phosphor element of the light source device according to Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 18 is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Modification 1 of Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 19 is a diagram illustrating a configuration of an optical element in a light source device according to Modification 1 of Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 20 is a diagram illustrating a configuration of an optical element in a light source device according to Modification 2 of Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 21A is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Modification 3 of Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 21B is a diagram illustrating a configuration of an optical element in a light source device according to Modification 3 of Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 22A is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Embodiment 4 of the present disclosure.
- FIG. 22B is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Embodiment 4 of the present disclosure.
- FIG. 21A is a diagram illustrating a configuration of a light source device according to Embodiment 4 of the present disclosure.
- FIG. 23 is a diagram illustrating a configuration of the semiconductor light emitting device in the light source device according to the fourth embodiment of the present disclosure.
- FIG. 24 is a diagram illustrating a design example of the light intensity distribution of the excitation light on the light emitting surface of the phosphor element in the light source device according to the third embodiment of the present disclosure.
- FIG. 25 is a diagram illustrating a configuration of a light projecting device according to the fifth embodiment of the present disclosure.
- FIG. 26 is a diagram illustrating a configuration of a light projecting device according to the sixth embodiment of the present disclosure.
- FIG. 27 is a diagram showing a configuration of a conventional light source device.
- FIG. 28 is a diagram showing a configuration of another conventional light source device.
- the coordinate axis 95 as the first axis, the coordinate axis 96 as the second axis, and the coordinate axis 97 as the third axis represent the three axes of the three-dimensional orthogonal coordinate system.
- the coordinate axis 95 'as the first axis, the coordinate axis 96' as the second axis, and the coordinate axis 97 'as the third axis also represent the three axes of the three-dimensional orthogonal coordinate system.
- FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of the light source device 1 according to the first embodiment of the present disclosure.
- the light source device 1 includes a semiconductor light emitting device 10 and an optical element 20.
- the light source device 1 shapes the distribution of light emitted from the semiconductor light emitting device 10 with the optical element 20 and irradiates the shaped light on the phosphor element 30 that is the object to be irradiated.
- light source device 1 further includes phosphor element 30.
- the phosphor element 30 is fixed at a predetermined position in the light source device 1.
- each component of the light source device 1 will be described in detail.
- FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the semiconductor light emitting device 10 used in the light source device 1.
- the semiconductor light emitting device 10 is a packaged light emitting device, and includes a semiconductor light emitting element 11 having an optical waveguide 11a having a stripe width (ridge width) W, and a metal cap ( Can) 12.
- the semiconductor light emitting element 11 is disposed in the cap 12. Specifically, the semiconductor light emitting element 11 is mounted on a post 15 disposed on a disk-shaped base 14 via a submount 16. In the present embodiment, the semiconductor light emitting element 11 is arranged such that the direction of the stripe width W of the optical waveguide 11 a is the direction of the coordinate axis 96. That is, the semiconductor light emitting element 11 is arranged so that the longitudinal direction (stripe direction) of the optical waveguide 11 a is the direction of the coordinate axis 97.
- the window glass 13 is attached to the cap 12 so that the emitted light 51 from the semiconductor light emitting element 11 can be transmitted.
- Window glass 13 is an example of a translucent member that transmits outgoing light 51 emitted from semiconductor light emitting element 11, and is a plate glass in the present embodiment.
- the semiconductor light emitting device 10 is further provided with lead pins 17 for supplying power to the semiconductor light emitting element 11 from the outside.
- the semiconductor light emitting element 11 is a laser element (for example, a GaN-based laser element) made of, for example, a nitride semiconductor, and emits laser light having a peak wavelength between, for example, wavelengths 380 nm to 490 nm as emitted light 51.
- a laser element for example, a GaN-based laser element
- the radiation angle of the outgoing light 51 emitted from the semiconductor light emitting element 11 is different in two orthogonal directions. Specifically, in the outgoing light 51, the radiation angle in the coordinate axis 96 direction is narrower than the radiation angle in the coordinate axis 95 direction. That is, the direction of the stripe width W coincides with the direction in which the radiation angle is narrow.
- a lens 120 is disposed in front of the semiconductor light emitting device 10 in the vicinity of the window glass 13.
- the lens 120 has a function of converting the emitted light 51 emitted from the semiconductor light emitting device 10 (semiconductor light emitting element 11) into substantially parallel light.
- the lens 120 is a collimator lens, for example.
- the optical element 20 is disposed between the semiconductor light emitting device 10 and the phosphor element 30. Specifically, the optical element 20 is disposed between the lens 120 and the phosphor element 30. Therefore, substantially parallel light from the lens 120 enters the optical element 20.
- the optical element 20 has a plurality of lens regions 21 having a function of changing the intensity distribution of the outgoing light 51 emitted from the semiconductor light emitting element 11. Details of the plurality of lens regions 21 will be described later.
- the outgoing light 51 emitted from the semiconductor light emitting element 11 changes its light intensity distribution by passing through the optical element 20, and becomes light that has changed into focused light and enters the phosphor element 30 as excitation light 54.
- the phosphor element 30 is excited by the excitation light 54 to emit fluorescence.
- the phosphor element 30 has a phosphor as a wavelength conversion material that converts the wavelength of incident light.
- the phosphor element 30 includes a support member 31 and a phosphor layer 32 including a phosphor formed on the surface of the support member 31.
- the support member 31 may be a transparent substrate having a high thermal conductivity.
- a material of the support member 31 for example, Al 2 O 3 is used.
- the support member 31 is a transparent sapphire substrate.
- a dichroic mirror that transmits the excitation light 54 and reflects the light generated by the phosphor layer 32 may be formed on the surface of the support member 31 on which the phosphor layer 32 is formed.
- the dichroic mirror is a multilayer film composed of a plurality of dielectric layers having different refractive indexes, for example.
- the phosphor layer 32 for example, a layer configured by dispersing phosphors (phosphor particles) in an organic or inorganic transparent binder (binder) such as silicone or glass can be used.
- the phosphor emits fluorescence using incident light as excitation light.
- the phosphor is made of, for example, a cerium activated yttrium aluminum garnet (YAG: Ce 3+ ) phosphor material, but is not limited thereto.
- a part of the light (excitation light 54) incident on the phosphor element 30 is absorbed by the phosphor element 30, converted into wavelength by the phosphor, and diffused radially, and the other part is phosphor element.
- the scattered light 92 is reflected and diffused on the surface or inside 30 to be diffused (scattered) radially. Then, the synthesized light synthesized by the fluorescence 93 and the scattered light 92 is emitted from the phosphor element 30 as the emitted light 91.
- a phosphor material for example, a yellow phosphor material
- absorbs light having a wavelength of 420 nm to 480 nm (for example, blue light) and emits fluorescence having a wavelength of 500 to 630 nm is used as the phosphor material of the phosphor.
- the white light synthesized by the fluorescence 93 and the scattered light 92 can be emitted from the phosphor element 30 as the emitted light 91.
- the phosphor element 30 is disposed substantially parallel to the optical element 20, and the radiated light 91 from the phosphor element 30 is radiated forward along the incident direction of the excitation light 54.
- the optical function part 22 of the optical element 20 is formed on the side from which the excitation light 54 is emitted, that is, on the phosphor element 30 side.
- FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of the optical element 20 in the light source device 1 according to Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 3A is a plan view of the optical element 20 and shows the optical element 20 when viewed from the exit side of the excitation light 54 in FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 3A
- FIG. 3C is a cross-sectional view taken along line CC in FIG. 3A.
- the cross section taken along line BB in FIG. 3A is the same as the cross section taken along line BB in FIG.
- the optical element 20 includes, as the optical function unit 22, a plurality of lens regions 21 (21a, 21b, 21c, 21d, 21e, 21f, divided into a plurality of regions). 21g, ).
- Each of the plurality of lens regions 21 is an individual divided region (unit region) in the optical function unit 22.
- the plurality of lens regions 21 are divided into a coordinate axis 95 (first axis) direction and a coordinate axis 96 (second axis) direction.
- the optical element 20 changes the light intensity distribution of the emitted light 51 emitted from the semiconductor light emitting element 11 by the plurality of lens regions 21 (optical function unit 22).
- the plurality of lens regions 21 are lens portions each having a condensing function. That is, each of the plurality of lens regions 21 has a function of individually focusing the light incident on the optical element 20 by each lens region 21.
- the planar view shape of each lens region 21 has a width W1 that is the width in the direction of the coordinate axis 95 (first direction) and a width W2 that is the width in the direction of the coordinate axis 96 (second direction). It is a rectangle.
- the width W1 and the width W2 are the same, but may be different. That is, the width W1 and the width W2 may be W1> W2 or W1 ⁇ W2.
- the optical element 20 has a plurality of lens regions 21 that are all rectangular, but the present invention is not limited to this, and the plurality of lens regions 21 may have a shape other than a rectangle. Good.
- FIG. 4 is a diagram for describing a function of the optical element 20 in the light source device 1 according to the first embodiment of the present disclosure.
- the condensing state of the excitation light 54 emitted from each of the plurality of lens regions 21 is shown.
- the light emitting surface 33 indicates the light emitting surface of the phosphor element 30 in FIG. 1, and is equal to the surface on which the excitation light 54 is incident, that is, the boundary surface between the support member 31 and the phosphor layer 32. Define a face.
- the light incident on the lens region 21d is converted into excitation light 54d that is condensed so as to form a focal point 55d behind the light emitting surface 33. Further, the light incident on the lens region 21e is converted into excitation light 54e that is condensed so as to form a focal point 55e behind the light emitting surface 33.
- the focal point 55d of the excitation light 54d and the focal point 55e of the excitation light 54e are different from each other in position.
- the lens region 21a is provided with astigmatism in addition to the condensing function of condensing behind the light emitting surface 33.
- the astigmatism of the lens region 21a is given corresponding to the direction of the coordinate axis 95 as the first axis and the direction of the coordinate axis 96 as the second axis.
- the incident light 52 (see FIG. 1) incident on the lens region 21a forms a minimum circle of confusion 56a behind the light emitting surface 33 due to astigmatism applied to the lens region 21a, and moves the minimum circle of confusion 56a back and forth. It is converted into excitation light 54a that is condensed so as to form a first focal line 57a and a second focal line 58a.
- the position of the minimum circle of confusion 56a of the excitation light 54a is different from the positions of the focal point 55d of the excitation light 54d and the focal point 55e of the excitation light 54e.
- a first focal line 57a is formed farther from the light emitting surface 33 across the minimum circle of confusion 56a, and a second focal line 58a is formed closer to the light emitting surface 33.
- the positions of the minimum circle of confusion 56a, the focal point 55d, and the focal point 55e are set so that the excitation light 54a, the excitation light 54d, and the excitation light 54e overlap each other on the light emitting surface 33.
- region 21 (21c, 21b, 21g, 21f, 7) also concentrates on a mutually different focus on the back of the light emission surface 33 separately. Converted to light. Further, each of the excitation light overlaps with the light emitting surface 33.
- the light incident on the plurality of lens regions 21 becomes excitation light condensed by each of the plurality of lens regions 21 and overlaps on the light emitting surface 33, thereby forming an excitation light spot 59 on the light emitting surface 33. Is done.
- the position where the excitation light 54a in the direction of the coordinate axis 95 (first axis) is most focused is the first focal line 57a.
- the position where the excitation light 54a in the direction of the coordinate axis 96 (second axis) is most focused corresponds to the second focal line 58a. That is, by providing astigmatism, it is possible to convert the light incident on the lens region 21a into excitation light 54a in which the most narrowed position is different in the orthogonal biaxial direction.
- the beam width in the direction of the coordinate axis 95 (first axis) in the excitation light spot 59 is D1 and the beam width in the direction of the coordinate axis 96 (second axis). Is set to D2, the focal point and astigmatism of the lens region 21a are set.
- the light incident on the other lens regions 21 (21b, 21c, 21d, 21e, 21f, 21g,...)
- Other than the lens region 21a has a coordinate axis 95 (first axis) formed on the light emitting surface 33.
- the beam is focused on each focal position (55d, 55e,%) So that the beam width in the direction is smaller than D1 and the beam width in the direction of the coordinate axis 96 (second axis) is smaller than D2. It is converted into excitation light (54d, 54e,). Each of these excitation lights overlaps in the excitation light spot 59 on the light emitting surface 33.
- FIGS. 5A and 5B are diagrams illustrating changes in the intensity distribution of light passing through the optical element 20 in the light source device 1 according to Embodiment 1 of the present disclosure.
- 5A shows a change in the intensity distribution in the first axis direction
- FIG. 5B shows a change in the intensity distribution in the second axis direction.
- FIG. 5A shows a light intensity distribution (52a, 52b, 52c, 52d, 52e) in the direction of the coordinate axis 95 (first axis) among the incident light 52 incident on the plurality of lens regions 21.
- FIG. 5A (b) shows a case where the light intensity distribution by the optical element 20 (optical function unit 22) shown in FIG. 5A is determined by the lens region 21 (21a, 21b, 21c, 21d, 21e).
- the light intensity distribution (excitation light distribution) in the direction of the coordinate axis 95 (first axis) of the excitation light spot 59 formed on the light emitting surface 33 is shown.
- the incident light 52a is converted into excitation light by the condensing point and the lens region 21a provided with astigmatism.
- a light intensity distribution (excitation light distribution) having a beam width D1 is formed on the light emitting surface 33.
- the incident light (52b, 52c, 52d, 52e) other than the incident light 52a has a beam width formed on the light emitting surface 33 smaller than D1. It is converted into excitation light by lens regions (21b, 21c, 21d, 21e) in which individual focal positions are set so as to have a beam width (D1 ′), and a light intensity distribution (with a beam width D1 ′) on the light emitting surface 33 ( Excitation light distribution) is formed. That is, the other incident light (52b, 52c, 52d, 52e) overlaps inside the beam width D1.
- FIG. 5A shows the light intensity distribution (52a, 52f, 52g) in the direction of the coordinate axis 96 (second axis) among the incident light 52 incident on the plurality of lens regions 21.
- FIG. 5B shows a case where the light intensity distribution by the optical element 20 (optical function unit 22) shown in FIG. 5B is determined by the lens region 21 (21a, 21b, 21c, 21d, 21e). 2 shows the light intensity distribution (excitation light distribution) in the direction of the coordinate axis 96 (second axis) of the excitation light spot 59 formed on the light emitting surface 33.
- the incident light 52a is converted into excitation light by the condensing point and the lens region 21a provided with astigmatism.
- a light intensity distribution (excitation light distribution) having a beam width D 2 is formed on the light emitting surface 33.
- the incident light (52f, 52g) other than the incident light 52a has a beam width (D2) formed on the light emitting surface 33 smaller than D2.
- D2 beam width
- ') Is converted into excitation light by the lens regions (21f, 21g) in which individual focal positions are set so as to form a light intensity distribution (excitation light distribution) having a beam width D2' on the light emitting surface 33.
- the other incident light (52f, 52g) overlaps inside the beam width D2.
- the incident light 52 is converted into a plurality of excitation lights by each of the plurality of lens regions 21 of the optical element 20 (the optical function unit 22), and overlaps with each other on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30. Since the light of the overlapping portion on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30 is averaged, the light intensity distribution as the entire excitation light 54 is made uniform. A light intensity distribution having a beam width D1 and a beam width D2 is formed on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30 in two orthogonal directions. In FIGS. 5A and 5B, the description has been limited to only two orthogonal axes, but actually, since the excitation light from other lens regions that are not on two axes is also designed to overlap, The effect of intensity averaging is greater.
- the semiconductor light emitting element 11 is arranged so that the direction of the stripe width W of the optical waveguide 11a is the direction of the coordinate axis 96, but the direction of the stripe width W of the optical waveguide 11a is the coordinate axis 95. The same effect can be obtained even if they are arranged in such a direction.
- the phosphor element 30 is disposed substantially parallel to the optical element 20, but the present invention is not limited to this, and the phosphor element 30 may be inclined around the coordinate axis 95 or the coordinate axis 96. good.
- the beam width extending in the tilt direction can be set to a predetermined beam width by the focal point and astigmatism given to the lens region 21a.
- the focal point and astigmatism are given to one lens region 21a, but the focal point and astigmatism are also given to the other lens regions, and the beam widths of all the excitation lights are D1 and You may comprise so that the excitation light of each lens area
- the direction of the first axis is single mode. Since the direction of the second axis (coordinate axis 96) orthogonal to the first axis corresponds to the multimode, the direction of the first axis is more easily narrowed than the direction of the second axis, and the plurality of lenses of the optical element 20 Due to the astigmatism given to the region 21, it is possible to easily design the beam width D1 in the first axis direction to be smaller than the beam width D2 in the second axis direction. Thereby, the design range of the beam shape having a uniform light intensity distribution while having an elongated beam shape is expanded.
- the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 can be efficiently converted into the excitation light 54 having a uniform light intensity distribution. Therefore, it is possible to reduce the decrease in the luminous efficiency of the phosphor element 30 due to the heat generated by the excitation light 54. Moreover, since the excitation light 54 having a uniform light intensity distribution having a desired beam width can be formed without using an optical rod or the like, a small light source device can be realized.
- FIG. 6A is a cross-sectional view illustrating a configuration of a light source device 1A according to Modification 1 of Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 6B is a cross-sectional view showing a configuration of an optical element 20A in the light source device 1A.
- the light source device 1A in the present modification has almost the same configuration as that of the light source device 1 in the first embodiment, and therefore, in the present modification, description will be made centering on differences from the light source device 1 in the first embodiment. To do.
- the light source device 1 ⁇ / b> A in the present modification has a holder 80.
- the holder 80 holds the semiconductor light emitting element 11 and the phosphor element 30.
- the outgoing optical axis of the outgoing light 51 from the semiconductor light emitting element 11 coincides with the optical axis of the optical element 20A.
- the intensity distribution of the excitation light 54 is set at a predetermined position on the light emitting surface of the phosphor element 30.
- the optical element 20A has a lens shape having a flat part in the periphery, and a plurality of lens regions 21 (21a, 21b) are formed on the surface constituting the optical function part 22 of the optical element 20A. , 21c, 21d, 21e,... Further, a convex lens having a spherical shape or an aspherical shape is formed on the surface opposite to the surface constituting the optical function portion 22 of the optical element 20A. That is, the optical element 20A in the present modification is an example in which the lens 120 in the first embodiment and the optical function unit 22 of the optical element 20 are integrated, and the divergence angle of the emitted light from the semiconductor light emitting element 11 is set. A convex lens to be converted is included, and the transmitted light of the convex lens is configured to enter the plurality of lens regions 21.
- the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 is efficiently converted into light having a uniform light intensity distribution, similarly to the light source device 1 in the first embodiment. Therefore, it is possible to reduce the decrease in the luminous efficiency of the phosphor element 30 due to the heat generated by the excitation light 54.
- the excitation light 54 having a uniform light intensity distribution having a desired beam width can be formed without using an optical rod or the like, so that a small light source device can be realized.
- the light source device since the distance from the semiconductor light emitting device 10 to the phosphor element 30 can be shortened compared to the light source device 1 in the first embodiment, the light source device can be further miniaturized.
- the optical element 20A can be manufactured by integral molding using a mold or the like in the same manner as a normal glass lens molding method.
- An antireflection film made of a dielectric multilayer film is preferably formed on both surfaces of the optical element 20A.
- FIG. 7 is a diagram illustrating a configuration of the light source device 1B according to the second modification of the first embodiment of the present disclosure.
- the light source device 1B in the present modification has almost the same configuration as the light source device 1A in the first modification of the first embodiment. Therefore, hereinafter, in this modification, the light source device in the first modification of the first embodiment will be described. The description will focus on the differences from 1A.
- the configuration of the optical element 20A is the same as that of the optical element 20A in Modification 1 of Embodiment 1.
- the present modification is different from Modification 1 in that the optical element 20A is provided at the position of the window glass 13 of the cap 12 of the semiconductor light emitting device 10 shown in FIG. 6A. is there.
- the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 is efficiently converted into light having a uniform light intensity distribution, as in the light source device 1A in the first modification. Therefore, it is possible to reduce a decrease in luminous efficiency of the phosphor element 30 due to heat generated by the excitation light 54.
- the excitation light 54 having a uniform light intensity distribution having a desired beam width can be formed without using an optical rod or the like, so that a small light source device can be realized.
- the optical element 20A is provided instead of the window glass 13, the transmission loss in the window glass 13 can be reduced. Thereby, the emitted light 51 from the semiconductor light emitting element 11 can be more efficiently converted into excitation light.
- FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of the light source device 2 according to Embodiment 2 of the present disclosure.
- the light source device 2 in the present embodiment is different from the light source device 1 in the first embodiment shown in FIG. 1 in that the phosphor element 30 is such that the light emitting surface of the phosphor element 30 is the optical axis of the excitation light 54 (traveling direction). ) To be inclined from a plane having a normal line. Specifically, the phosphor element 30 is disposed such that the light emitting surface is inclined with respect to the central optical axis of the optical element 20. Therefore, the excitation light 54 enters the phosphor element 30 with a predetermined incident angle.
- the phosphor element 30 is inclined with the coordinate axis 95 (first axis) as the rotation axis. Specifically, when the phosphor element 30 is rotated with the coordinate axis 95 as the rotation axis, the normal line 98 of the light emitting surface of the phosphor element 30 is opposite to the direction in which the excitation light 54 travels (coordinate axis 97). An angle ⁇ is formed. That is, the excitation light 54 is incident on the phosphor element 30 at an incident angle ⁇ . The phosphor element 30 emits fluorescence by being excited with the light whose intensity distribution has been changed by the optical element 20 as the excitation light 54.
- the phosphor element 30 includes a support member 31 and a phosphor layer 32 formed on the support member 31.
- the phosphor material contained in the phosphor layer 32 is the same as in the first embodiment.
- the support member 31 may be made of a material having high thermal conductivity.
- the support member 31 may be a polycrystalline substrate made of a ceramic material such as AlN or diamond, a crystal substrate made of Si or SiC, or Al or Cu. A metal substrate such as can be used.
- Ag or an Ag alloy may be formed on the surface of the support member 31 on which the phosphor layer 32 is formed, or a plurality of dielectrics having different refractive indexes. Even if a dielectric reflection film is formed in which a body material (for example, a material such as SiO 2 , TiO 2 , Al 2 O 3 , Ta 2 O 3 , Nb 2 O 5 ) is formed in multiple layers by sputtering or vapor deposition. Good. Alternatively, a composite reflective film in which Ag or an Ag alloy is formed on the support member 31 and a dielectric film is formed in multiple layers may be formed.
- the semiconductor light emitting device 10 in the present embodiment is the same as the semiconductor light emitting device 10 (FIG. 2) used in the first embodiment.
- the semiconductor light emitting element 11 disposed in the semiconductor light emitting device 10 is disposed such that the direction of the stripe width W of the optical waveguide 11 a is the direction of the coordinate axis 96. That is, the semiconductor light emitting element 11 is arranged so that the longitudinal direction (stripe direction) of the optical waveguide 11 a is the direction of the coordinate axis 97.
- the semiconductor light emitting element 11 is a laser element (multimode laser) that outputs multimode laser light.
- the light emitted from the laser element has different emission angles in two orthogonal directions as described above.
- the light spot formed on the condensing surface is well squeezed for light in a direction with a large radiant angle, but not for light in a direction with a small radiant angle.
- the optical magnification of a single lens is ⁇ , the light in the stripe width direction cannot be reduced to ( ⁇ ⁇ W) or less, and the light in the direction with a large emission angle is It will be squeezed too much.
- the beam width of the excitation light on the light emitting surface of the phosphor element extends in the direction of inclination of the phosphor element. For this reason, when laser light is incident on the light emitting surface of the phosphor element from an oblique direction, it becomes more difficult to freely design the beam width of the laser light serving as excitation light.
- the optical element 20 is disposed between the semiconductor light emitting device 10 and the phosphor element 30.
- a lens 120 is disposed between the semiconductor light emitting device 10 and the optical element 20. The function of the lens 120 is the same as that of the first embodiment.
- the optical functional unit 22 of the optical element 20 in the present embodiment has a plurality of lens regions 21 as in the optical element 20 in the first embodiment.
- the optical function unit 22 is formed on the phosphor element 30 side.
- the optical function unit 22 is a surface opposite to the surface on the phosphor element 30 side. That is, it is formed on the surface on the semiconductor light emitting device 10 side.
- FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration of the optical element 20 in the light source device 2 according to Embodiment 2 of the present disclosure.
- FIG. 9A is a plan view of the optical element 20 and shows the optical element 20 when viewed from the side where the semiconductor light emitting device 10 is disposed.
- FIG. 9B is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. Note that the cross section taken along line BB in FIG. 9A corresponds to the cross section taken along line BB in FIG.
- the optical element 20 includes, as the optical function unit 22, a plurality of lens regions 21 (21 a, 21 b, 21 c, and so on) that are divided in two directions of a coordinate axis 95 and a coordinate axis 96. 21d, 21e, ).
- Each of the plurality of lens regions 21 is an individual divided region (unit region) in the optical function unit 22.
- the optical element 20 changes the light intensity distribution of the emitted light 51 emitted from the semiconductor light emitting element 11 by the plurality of lens regions 21 (optical function unit 22).
- the plurality of lens regions 21 are lens portions each having a condensing function. That is, each of the plurality of lens regions 21 has a function of individually focusing the light incident on the optical element 20 by each lens region 21.
- Each shape of the plurality of lens regions 21 is a hexagon having a width W1 which is a width in the direction of the coordinate axis 95 and a width W2 which is a width in the direction of the coordinate axis 96. Note that the width W1 and the width W2 may be the same or different.
- the surface of the optical element 20 on which the optical function portion 22 is formed (that is, the surface on which the incident light 52 is incident) and the surface opposite to the surface on which the optical function portion 22 of the optical element 20 is formed (that is, the excitation light 54).
- An antireflection film is preferably formed on the surface from which the light is emitted.
- the antireflection film is formed in multiple layers by sputtering or vapor deposition of a plurality of dielectric materials having different refractive indexes (for example, materials such as SiO 2 , TiO 2 , Al 2 O 3 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 ).
- a dielectric reflecting film is used.
- FIG. 10 is a diagram for describing a function of the optical element 20 in the light source device 2 according to Embodiment 2 of the present disclosure.
- the condensing state of the excitation light 54 emitted from each of the plurality of lens regions 21 is shown.
- the light emitting surface 33 indicates the light emitting surface of the phosphor element 30 in FIG. 8, and is defined as the surface on which the excitation light 54 is incident, that is, the surface from which the fluorescence of the phosphor layer 32 is emitted.
- the lens regions 21 a, 21 d, and 21 e are provided with astigmatism in addition to the light condensing function that condenses the light emitting surface 33.
- the astigmatism of the lens regions 21a, 21d, and 21e is given corresponding to the direction of the coordinate axis 95 (first axis) and the direction of the coordinate axis 96 (second axis).
- Incident light 52 (see FIG. 8) incident on the lens regions 21a, 21d, and 21e forms minimum circles of confusion 56a, 56d, and 56e behind the light emitting surface 33 due to astigmatism applied to these lens regions.
- the excitation light is condensed so as to form the first focal lines 57a, 57d, and 57e and the second focal lines 58a, 58d, and 58e sandwiching the minimum circles of confusion (56a, 56d, and 56e) in the front and rear directions. 54a, 54d, and 54e.
- the positions of the minimum circles of confusion 56a, 56d, and 56e corresponding to the excitation lights 54a, 54d, and 54e are different from each other.
- first focal lines 57 a, 57 d, 57 e are formed farther from the light emitting surface 33
- second focal lines 58 a, 58 d, 58 e are formed closer to the light emitting surface 33.
- the excitation light 54a, the excitation light 54d, and the excitation light 54e partially or entirely overlap each other on the light emitting surface 33.
- the first focal lines 57a, 57d, and 57e correspond to the positions where the direction of the coordinate axis 95 (first axis) is most narrowed in the incident light 52 incident on the lens regions 21a, 21d, and 21e.
- the focal lines 58a, 58d, and 58e correspond to positions where the direction of the coordinate axis 96 (second axis) can be reduced most.
- the lens regions 21 (21b, 21c,%) Other than the lens regions 21a, 21d, and 21e are provided with astigmatism in addition to the light collecting function. Also for the incident light 52 incident on each of the lens regions 21 (21b, 21c,...), Light is emitted by forming minimum circles of confusion 56b, 56c,.
- the first focal lines 57b, 57c,... Are formed on the side far from the surface 33, and converted to the excitation light 54 that forms the second focal lines 58b, 58c,.
- each of the excitation lights 54 overlaps with the light emitting surface 33.
- the light incident on the plurality of lens regions 21 becomes excitation light collected by each of the plurality of lens regions 21 and overlaps on the light emitting surface 33.
- an excitation light spot 59 having a beam width D1 in the direction of the coordinate axis 95 and a beam width D2 in the direction of the coordinate axis 97 '(third axis) is formed on the light emitting surface 33.
- the positions of the second focal lines 58a, 58d, 58e formed by the converted excitation light 54 are the light emitting surface 33 of the phosphor element 30, or Astigmatism is given so as to be formed in the vicinity of the pole.
- the excitation light 54 in the direction in which the laser beam emission angle is narrow (that is, the stripe width direction of the semiconductor light emitting device 11) is most narrowed down on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30, and the laser beam emission angle is wide.
- the excitation light 54 in the direction is most narrowed at a position far from the light emitting surface 33 of the phosphor element 30.
- FIG. 11 is a diagram illustrating a design example of the light intensity distribution of the excitation light 54 on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30 in the light source device 2 according to Embodiment 2 of the present disclosure.
- the light intensity distribution of the excitation light 54 on the light emitting surface of the phosphor element 30 is shown by a plane intensity distribution display (upper figure) and a three-dimensional intensity distribution display (lower figure).
- the beam width of the excitation light 54 is defined as the width of a cross section sliced at an intensity of 13.5% (1 / e 2 ) with respect to the peak intensity of the light intensity distribution.
- the wavelength ⁇ of the laser element is 450 nm
- the stripe width W is 0.03 mm
- the incident angle ⁇ of the excitation light 54 to the phosphor element 30 is 70 °
- the phosphor element 30 emits light.
- F1 is the focal length of the lens 120
- F2 is the optical path length from the optical function unit 22 of the optical element 20 to the light emitting surface of the phosphor element 30 along the optical axis of the excitation light 54.
- the beam width D (width in the direction of the coordinate axis 97 ′) when excitation light in the stripe direction is most focused on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30 can be obtained by the following equation.
- FIG. 11A shows the intensity distribution of the excitation light 54 on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30 when no astigmatism is given to the plurality of lens regions 21 of the optical element 20.
- the excitation light spot 59 on the fluorescent screen 33 has a large intensity distribution with a large D2 and a small D1. The area to be converted is small.
- FIG. 11B and FIG. 11C show the excitation light 54 on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30 when astigmatism is given to the plurality of lens regions 21 of the optical element 20. The intensity distribution is shown.
- FIG. 11B the positions of the second focal lines 58a, 58d, and 58e of the excitation light 54 are set on the light emitting surface 33 of the phosphor element 30, and the first focal line 57a of the excitation light 54 is shown.
- 57d, and 57e are intensity distributions when the positions are adjusted.
- the area to be uniformized is sufficiently large.
- the positions of the second focal lines 58 a, 58 d, 58 e of the excitation light 54 are set slightly away from the light emitting surface 33 of the phosphor element 30, and the first of the excitation light 54
- the intensity distribution when the positions of the focal lines 57a, 57d, and 57e are adjusted is shown.
- the maximum beam width of the intensity distribution of the excitation light that can be designed by the light source device 2 according to the present embodiment can be considered as a range in which the first focal line of the excitation light 54 can be given. It is smaller than the division width W1 of the plurality of 20 lens regions 21. In this design example, the beam width is smaller than 1.2 mm.
- the design method for the intensity distribution of the excitation light 54 of the light source device 2 in the present embodiment may be designed so as to satisfy D ⁇ D2 ⁇ W1 and D ⁇ D1 ⁇ W1.
- the individual shapes of the plurality of lens regions 21 of the optical element 20 are hexagons, but as shown in FIGS. 11B and 11C,
- the intensity distribution of the excitation light 54 does not depend on the individual shape of the lens region 21, and is a quadrangular frustum composed of two substantially parallel bases forming the beam width D1 and two substantially parallel bases forming the beam width D2. Distribution.
- the design value is an example of a design example in the present embodiment, and is not limited thereto.
- the stripe width W of the semiconductor light emitting element 11 may be reduced.
- the beam width of the intensity distribution can be reduced.
- the stripe width W of the semiconductor light emitting element 11 can be, for example, 0.001 mm to 0.1 mm, and more preferably 0.01 mm to 0.06 mm.
- the incident angle ⁇ to the phosphor element 30 is, for example, 0 ° to 85 °.
- the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 can be efficiently converted into the excitation light 54 having a uniform light intensity distribution, and the intensity distribution of the excitation light 54 can be reduced.
- a compact light source device that can be easily designed can be realized.
- FIG. 12 is a diagram illustrating a configuration of a light source device 2A according to the first modification of the second embodiment of the present disclosure. Note that the light source device 2A in the present modification has almost the same configuration as the light source device 2 in the second embodiment, and therefore, in the present modification, description will be made centering on differences from the light source device 2 in the second embodiment. To do.
- the semiconductor light emitting element 11 is arranged so that the stripe width direction of the optical waveguide 11a is perpendicular to the coordinate axis 95 ′.
- the outgoing light 51 is emitted in the direction of the coordinate axis 99.
- the mirror 130 that reflects the emitted light 51 emitted from the semiconductor light emitting device 10 (semiconductor light emitting element 11) is used.
- the mirror 130 is configured to reflect the incident light 52 of the semiconductor light emitting device 10 and to go in the direction of the phosphor element 30.
- the mirror 130 is disposed such that the normal line of the mirror 130 is inclined by an angle ⁇ with respect to the optical axis (coordinate axis 99) of the outgoing light 51 with the coordinate axis 95 'as the rotation axis.
- the configuration of the optical element 20 is the same as that of the second embodiment.
- the optical element 20 is disposed between the mirror 130 and the phosphor element 30 so that the incident light 52 is incident substantially perpendicular to the main surface of the optical element 20.
- the incident light 52 incident on the optical element 20 is condensed by the plurality of lens regions 21 (21a, 21b, 21c, 21d, 21e) of the optical element 20 as in the second embodiment (see FIG. 10).
- Excitation light 54 (54a, 54b, 54c, 54d, 54e) is applied to the phosphor element 30.
- each of the excitation light 54 forms a minimum circle of confusion 56a, 56b, 56c, 56d, 56e, First and second focal lines 57a, 57b, 57c, 57d, and 57e and second focal lines 58a, 58b, 58c, 58d, and 58e are formed on the front and rear sides. All are overlapping.
- the position where the incident light in the direction of the coordinate axis 97 'can be most focused is the second focal line.
- the second focal lines 58a, 58b, 58c, 58d, and 58e are set substantially on the light emitting surface of the phosphor element 30, and each second of the excitation light 54
- These focal lines 58a, 58b, 58c, 58d, and 58e partially or entirely overlap each other.
- the incident light 52 incident on the optical element 20 is incident in the direction of the coordinate axis 95 ′ with the larger emission angle of the emitted light 51 from the semiconductor light emitting element 11, and in the direction of the coordinate axis 97 ′ from the semiconductor light emitting element 11.
- the smaller emission angle of the emitted light 51 that is, multimode light in the direction of the stripe width W is incident.
- the phosphor element 30 is arranged so that the normal direction of the light emitting surface of the phosphor element 30 substantially coincides with the coordinate axis 99 of the light source device 2.
- the phosphor element 30 may be inclined and disposed as in the second embodiment.
- the coordinate axis 99 with the normal direction of the light emitting surface substantially coincides.
- the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 can be efficiently converted into the excitation light 54 having a uniform light intensity distribution and the excitation light, as in the second embodiment.
- the design of the intensity distribution of 54 is easy.
- the distance between the semiconductor light emitting device 10 and the phosphor element 30 can be shortened as compared with the second embodiment, so that a smaller light source device can be realized.
- FIG. 13 is a diagram illustrating a configuration of a light source device 2B according to Modification 2 of the embodiment of the present disclosure.
- the light source device 2B in the present modification has almost the same configuration as the light source device 2A in the first modification of the second embodiment. Therefore, hereinafter, in this modification, the light source device in the second modification of the second embodiment will be described. The description will focus on the differences from 2A.
- the optical element 20 ⁇ / b> A has the same configuration as the optical element 20 ⁇ / b> A in Modification 1 (FIG. 6A) of the first embodiment. It is arranged between.
- the emitted light 51 from the semiconductor light emitting element 11 is converted into the excitation light 54 by the optical element 20, reflected by the mirror 130, and incident on the phosphor element 30.
- a predetermined light intensity distribution is formed on the light emitting surface of the phosphor element 30.
- the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 is efficiently converted into the excitation light 54 having a uniform light intensity distribution, as in Modification 1 of the second embodiment.
- the light source device can be further miniaturized and the number of members can be reduced, so that the light source can be easily adjusted.
- a device can be realized.
- FIG. 14 is a diagram illustrating a configuration of the light source device 3 according to Embodiment 3 of the present disclosure.
- FIG. 15 is a diagram showing a configuration of the optical element 20B in the light source device 3.
- FIG. 16 is a diagram showing a configuration of the phosphor element 30 mounted on the light source device 3.
- the semiconductor light emitting element 11 is arranged so that the direction of the stripe width of the optical waveguide 11a is perpendicular to the coordinate axis 95 ′. Outgoing light 51 is emitted in the direction of the coordinate axis 99.
- the configuration of the optical element 20B is different from the configuration of the optical element 20 of the first and second embodiments.
- the optical element 20 in the first and second embodiments is a transmissive type
- the optical element 20B in the present embodiment is a reflective type.
- the optical element 20B in the present embodiment has a plurality of lens regions 21 having different focal points and at least one astigmatism, like the optical elements 20 in the first and second embodiments.
- the reflective optical element 20B in the present embodiment such a plurality of lens regions 21 are formed on the reflective surface of the optical element 20B.
- the optical element 20B is arranged such that the normal line of the optical element 20B is inclined by an angle ⁇ with respect to the optical axis (coordinate axis 99) of the emitted light 51 of the semiconductor light emitting device 10 with the coordinate axis 95 ′ as the rotation axis. .
- Incident light 52 incident on the optical element 20B is reflected and condensed by a plurality of lens regions 21 (21a, 21b, 21c, 21d, 21e) into excitation light 54 (54a, 54b, 54c, 54d, 54e). After being converted, the phosphor element 30 is irradiated.
- Astigmatism is given to each of the plurality of lens regions 21 in the optical element 20B.
- the incident light 52 incident on each of the plurality of lens regions 21 forms minimum circles of confusion 56 a, 56 b, 56 c, 56 d, 56 e due to astigmatism given to each lens region 21, and the minimum circle of confusion 56 a,
- Light is condensed so as to form first focal lines 57a, 57b, 57c, 57d, 57e and second focal lines 58a, 58b, 58c, 58d, 58e sandwiching each of 56b, 56c, 56d, and 56e.
- Excitation light 54 (54a, 54b, 54c, 54d, 54e) is converted.
- Excitation light 54 a, 54 b, 54 c, 54 d, 54 e partially or entirely overlap each other on the light emitting surface of the phosphor element 30.
- the position where the incident light in the direction of the coordinate axis 97 ′ is most focused is the second focal line.
- the second focal line is substantially on the light emitting surface of the phosphor element 30. Is set.
- Each second focal line of the excitation light 54 partially or entirely overlaps each other.
- the incident light 52 incident on the optical element 20B is incident in the direction of the coordinate axis 95 ′ in which the emission angle of the outgoing light 51 from the semiconductor light emitting element 11 is larger, and in the direction of the coordinate axis 97 ′ in which the emission angle is smaller ( That is, multimode light in the direction of the stripe width W is incident.
- optical element 20B and the phosphor element 30 used in the light source device 3 in the present embodiment will be described below.
- the optical element 20B is configured by forming a plurality of lens regions 21 on one surface of a transparent substrate such as white plate glass, BK7, quartz glass, or sapphire substrate, for example.
- an antireflection film 23 is formed on the light incident surface of the optical element 20B.
- a reflective film 24 is formed on the plurality of lens regions 21 formed on the opposite surface.
- the antireflection film 23 and the reflection film 24 are made of, for example, a plurality of dielectric materials having different refractive indexes.
- the antireflection film 23 and the reflection film 24 are formed by stacking a plurality of layers by sputtering or vapor deposition of materials such as SiO 2 , TiO 2 , Ta 2 O 5 , and Nb 2 O 5 .
- the reflective film 24 may be made of a metal having a high light reflectance, such as Ag, Cu, Au, Al, or an alloy thereof.
- the phosphor element 30 includes a support member 31 and a phosphor layer 32 formed on the support member 31.
- the support member 31 is a substrate such as a silicon substrate made of silicon or a ceramic substrate made of aluminum nitride, for example.
- An optical film 31 a that reflects visible light is formed on the surface of the support member 31.
- the optical film 31a is a single layer or a multilayer film, and in the present embodiment, the optical film 31a includes two layers of a first optical film 31a1 and a second optical film 31a2.
- the first optical film 31a1 is a reflective film made of a metal film such as Ag, an Ag alloy, or Al.
- the second optical film 31a2 is a protective film that protects the first optical film 31a1, and suppresses, for example, the oxidation of the first optical film 31a1.
- the second optical film 31a2 is made of, for example, a dielectric material such as SiO 2 , ZnO, ZrO 2 , Nb 2 O 5 , Al 2 O 3 , TiO 2 , SiN, or AlN. is there.
- the phosphor layer 32 includes a plurality of phosphor particles 131 (first particles) and a binder 132 for fixing the plurality of phosphor particles 131.
- phosphor particles 131 for example, (Y x Gd 1-x ) 3 (Al y Ga 1-y ) 5 O 12 : Ce (0.5 ⁇ x ⁇ 1, 0...) Having an average particle diameter of 1 ⁇ m to 30 ⁇ m. 5 ⁇ y ⁇ 1) can be used.
- the binder 132 for example, a transparent material mainly containing silsesquioxane such as polymethylsilsesquioxane can be used.
- the phosphor layer 32 is further mixed with a plurality of fillers 133 (second particles) such as Al 2 O 3 fine particles having an average particle diameter of 0.1 to 10 ⁇ m and a thermal conductivity of 30 W / (m ⁇ K). May be.
- the filler 133 may be mixed with the phosphor particles 131 at a ratio of 10 vol% or more and 90 vol% or less.
- silsesquioxane having a refractive index of 1.5 and Al 2 O 3 having a refractive index of 1.8 having a large refractive index difference are used as the filler 133. With this configuration, the light scattering property inside the phosphor layer 32 can be improved, and the thermal conductivity of the phosphor layer 32 can be increased.
- voids 134M and 134B are preferably formed inside the phosphor layer 32.
- the void 134M is a void formed near the center of the phosphor layer 32 in the thickness direction
- the void 134B is a void formed near the interface between the optical film 31a and the phosphor layer 32. is there.
- the voids 134M and 134B formed inside the phosphor layer 32 are configured such that the closer to the optical film 31a, the higher the density. With this configuration, the excitation light that has entered the interior can be more efficiently scattered and extracted from the light source device 3. Further, since the void 134B is in contact with the second optical film 31a2 that is a dielectric, the formation of the void 134B can effectively scatter excitation light and fluorescence while reducing energy loss due to the metal surface. .
- the voids 134M and 134B as described above are formed by using a phosphor paste in which phosphor particles 131 made of YAG: Ce and a binder 132 made of polysilsesquioxane are mixed. It can form easily by using and comprising a wavelength conversion member.
- the phosphor particles 131 and the second particles are formed on the support member 31 using a phosphor paste obtained by mixing polysilsesquioxane in a binder 132 in which an organic solvent is dissolved.
- the organic solvent in the paste is vaporized by performing high-temperature annealing at about °C.
- the voids 134M and 134B can be easily formed.
- high density voids 134M and 134B can be easily formed in the vicinity of the optical film 31a.
- the phosphor element 30 configured as described above is arranged in the light source device 1C so that the normal direction of the light emitting surface of the phosphor element 30 substantially coincides with the coordinate axis 99 of the light source device 1C. Is done. Further, in the present embodiment, the phosphor element 30 may be inclined and disposed as in the second embodiment, but by arranging the phosphor element 30 as in the present embodiment, the reference surface is provided. On the other hand, the emitted light 91 can be emitted in the vertical direction. For this reason, it is better to arrange
- the incident angle of the incident light 52 incident on the optical element 20B can be adjusted by the rotation angle ⁇ of the optical element 20B.
- the rotation angle ⁇ may be smaller than 45 degrees, and more preferably set between 30 degrees and 40 degrees.
- FIGS. 17A to 17C show characteristic data of the emitted light 91 emitted from the phosphor element 30 (light emitting unit) of the light source device 3.
- FIG. 17A shows the luminance distribution of the emitted light 91 in the phosphor element 30.
- FIG. 17B shows the emission angle dependence of the light intensity of the scattered light 92 and the fluorescence 93 emitted from the phosphor element 30.
- the direction in which the emission angle is 0 degree represents the normal direction on the light emitting surface of the phosphor element 30, and the light intensity is normalized to 0 degree.
- FIG. 17C shows the emission angle dependence of the chromaticity x of the radiated light 91 composed of the scattered light 92 and the fluorescence 93.
- the light source device 3 places the semiconductor light emitting device 10, the lens 120, the optical element 20B, and the phosphor element 30 in predetermined positions in addition to the configuration shown in FIG.
- a holder (not shown) is provided to be fixed to.
- the holder has a function of holding the lens 120, the optical element 20B, and the phosphor element 30, and also has a function of radiating heat generated in the semiconductor light emitting device 10 and the phosphor element 30 to the outside.
- the semiconductor light emitting element 11 a laser element that emits blue laser light having a peak wavelength of 445 nm and an optical output of 3 W was used.
- the phosphor element 30 As the phosphor element 30, the phosphor element 30 having the structure shown in FIG. 16 was used.
- the phosphor layer 32 of the phosphor element 30 has a thickness of 30 ⁇ m
- the phosphor particles 131 are YAG phosphors having an average particle diameter of 6 ⁇ m
- the filler 133 is alumina particles having an average particle diameter of 3 ⁇ m.
- the excitation light 54 obtained by shaping the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 by the optical element 20B is irradiated to the excitation area 150 (excitation range) which is an area of about 0.5 mm square.
- the excitation light 54 is scattered and absorbed on the surface or inside of the phosphor layer 32.
- a part of the excitation light 54 is emitted from the phosphor layer 32 as scattered light 92 that is scattered blue laser light, and the other part of the excitation light 54 becomes fluorescence 93 that is yellow light. And emitted from the phosphor layer 32.
- the excitation light 54, the scattered light 92, and the fluorescence 93 are scattered in the lateral direction, that is, while propagating through the inside of the phosphor layer 32, so that the region is wider than the excitation region 150. Is emitted from the light emitting region 151 (light emitting range).
- the phosphor layer 32 is configured so that the refractive index difference between the binder 132 and the phosphor particles 131 and the refractive index difference between the binder 132 and the filler 133 are increased. Can be easily scattered, and light can be prevented from propagating inside the phosphor layer 32. As a result, the emitted light 91 can be emitted from the light emitting region 151 that is slightly wider than the excitation region 150. In the present embodiment, since the voids 134B and 134M are further formed in the phosphor layer 32, light scattering is enhanced. As a result, the size of the excitation region 150 and the size of the light emitting region 151 can be made closer.
- a light emitting region of 200 cd / mm 2 or more has a width of about 0.5 mm, and a light emitting region substantially equivalent to excitation light is realized.
- luminance of the peak vicinity is 800 cd / mm ⁇ 2 > or more, and the uniform area
- FIG. 17B shows the emission angle dependence of the scattered light 92 and the fluorescence 93 in the direction orthogonal to the incident direction of the excitation light 54 (the direction indicated by the coordinate axis 95 ′ in FIG. 14).
- the scattered light 92 is sufficiently scattered and emitted.
- a distribution in which the light intensity is larger than the Lambertian distribution represented by cos ⁇ can be realized in a region having a large angle.
- the angular distribution of the chromaticity of the radiated light 91 composed of the scattered light 92 and the fluorescence 93 can be set so that the chromaticity x decreases as the emission angle increases. That is, a distribution in which the emission angle of the emitted light is large and the correlated color temperature is high can be realized.
- a light projection device that can increase the correlated color temperature of all luminous fluxes while the color temperature at an angle near 0 degrees, that is, the color temperature at the irradiation center is high in luminosity. realizable.
- the excitation lights emitted from each of the plurality of lens regions 21 have different focal points and are given astigmatism, and the phosphor element 30. Are set to overlap on the light emitting surface. Thereby, the light intensity distribution as the whole excitation light 54 radiate
- the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 can be efficiently converted into the excitation light 54 having a uniform light intensity distribution.
- the light intensity inside the phosphor layer 32 of the phosphor element 30 is large, and thus the light intensity of the excitation light 54 converted by the optical element 20B.
- a light source device having a light emission intensity distribution corresponding to the distribution can be realized. Therefore, a light source device that emits radiated light having a uniform light intensity distribution in the phosphor element 30 can be realized.
- the light emitted from the semiconductor light emitting element 11 is reflected by the optical element 20B to form the excitation light 54.
- the light source device can be further miniaturized.
- polymethylsilsesquioxane is used as the binder 132 of the phosphor layer 32 in the phosphor element 30, but this is not restrictive.
- the binder 132 is made of a material mainly composed of an inorganic material such as SiO 2 , Al 2 O 3 , ZnO, Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 , TiO 2 , AlN, BN, BaO,
- the phosphor element 30 having higher reliability can be realized.
- the filler 133 (second particle) included in the phosphor layer 32 is not limited to Al 2 O 3 , and fine particles such as SiO 2 and TiO 2 may be selected.
- the filler 133 by using fine particles of boron nitride or diamond having high thermal conductivity as the filler 133, the light scattering property of the phosphor layer 32 is enhanced and the heat generated in the phosphor particles 131 is efficiently supplied to the support member 31. Heat can be transferred.
- FIG. 18 is a diagram illustrating a configuration and an arrangement of the optical element 20C in the light source device according to the first modification of the third embodiment of the present disclosure.
- FIG. 19 is a diagram showing a configuration of the optical element 20C.
- FIG. 19A is a plan view of the optical element 20C, which includes the coordinate axis 95 ′ and the coordinate axis 97 ′ orthogonal to each other, and shows the optical element 20C when viewed from the side where the plurality of lens regions 21 are formed.
- FIG. 19B is a cross-sectional view taken along line BB in FIG.
- the optical element 20C arranged as shown in FIG. 18 is used in place of the optical element 20B in the light source device 3 in the third embodiment shown in FIG. 14 and FIG. .
- the optical function unit 22 is configured by a Fresnel lens mirror.
- the step 26 at the dividing boundary in the plurality of lens regions 21 is very small with respect to the step at the dividing boundary of the dividing region of the optical element 20B (FIG. 15) of the third embodiment.
- the optical element 20C has a level difference of the lens mirror formed into Fresnel.
- the incident light 52 emitted from the semiconductor light emitting device and incident on the optical element 20C is incident on the plurality of lens regions 21 obliquely. Later, it is reflected obliquely and converted to excitation light 54.
- the step at the dividing boundary of the plurality of lens regions 21 is large, the step may become a barrier and light that is not converted into excitation light may be generated.
- Fresnelization is performed. By doing so, the height of the step can be lowered to the height of the Fresnelized lens (mirror), so that the incident light 52 can be efficiently converted into the excitation light 54.
- the height of the step can be selected by an integral multiple of the wavelength because the optical path length difference is designed to be an integral multiple of the wavelength.
- the height of the step is preferably 10 ⁇ m or less, more preferably 3 ⁇ m or less.
- the incident light 52 can be efficiently converted into the excitation light 54 even when the optical element 20C is inclined. it can.
- the planar view shape of the optical element 20C is a rectangle as a whole.
- the optical element 20C has a rectangular shape in which the direction of the coordinate axis 95 'is long and the direction of the coordinate axis 97' is short.
- each of the plurality of lens regions 21 is also rectangular, the direction of the coordinate axis 95 'is long, and the direction of the coordinate axis 97' is short.
- This is related to the arrangement direction of the semiconductor light emitting element 11 of the semiconductor light emitting device 10 in the third embodiment shown in FIG. 14 and is due to the radiation angle characteristic of the incident light 52 from the semiconductor light emitting element 11. That is, since the radiation angle of the incident light 52 from the semiconductor light emitting element 11 is large in the direction of the coordinate axis 95 ′ and small in the direction of the coordinate axis 97 ′, the outer shape of the plurality of lens regions 21 is made rectangular. The effect that the incident light 52 can be efficiently converted into the excitation light 54 can be obtained while reducing the size of the element 20C.
- the outer size of the optical element 20C is preferably (width in the short direction) / (width in the longitudinal direction) of 0.7 or less.
- the outer shape of the plurality of lens regions 21 is not limited to a rectangle, but may be any shape that can efficiently capture the incident light 52 according to the radiation angle characteristic of the incident light 52 from the semiconductor light emitting element 11.
- the outer shape of the plurality of lens regions 21 may be an elliptical shape having a major axis and a minor axis.
- the plurality of lens regions 21 are Fresnel lens mirrors, and each of the plurality of lens regions 21 is a hexagon having a width W1 in the direction of the coordinate axis 95 'and a width W2 in the direction of the coordinate axis 96'. In this modification, W1> W2.
- the incident light 52 incident on the optical element 20 ⁇ / b> C is more divided and converted into excitation light 54, and the phosphor element 30 emits light.
- the phosphor element 30 emits light.
- the number of division boundaries increases as the number of divisions increases, the proportion that is not converted to excitation light 54 at the division boundaries increases. Efficiency may be reduced.
- the width W1 that is the first divided width is larger than the desired beam width in the intensity distribution of the excitation light 54. Must be big.
- the preferable division width ratio (W2 / W1) is preferably 0.3 or more and 0.6 or less, and more preferably 0.4 or more and 0.5 or less.
- the incident light 52 can be efficiently converted into the excitation light 54, and the number of the excitation light 54 overlapping on the light emitting surface of the phosphor element 30 can be sufficiently secured and uniformized.
- the obtained intensity distribution is obtained, and the design of the beam width of the intensity distribution of the excitation light 54 on the light emitting surface of the phosphor element 30 is facilitated.
- each of the plurality of lens regions 21 of the present modification is a hexagon, it is not limited to this and may be a quadrangle. Even when each lens region 21 is a quadrangle, it is preferable to satisfy the above-described ratio of the division widths.
- the optical element 20C is mainly manufactured by the following steps (1) to (9).
- the glass material of the wafer substrate is selected in consideration of optical characteristics and etching properties. Specifically, it is desirable that the etching amount per hour of the glass is not much different from the etching amount per hour of the resist, and the ratio of the etching amount of the glass material to the etching amount of the resist per hour is 0.7 or more. Good. Further, since the size of the wafer substrate affects the number of optical elements 20C manufactured from one wafer substrate, it should be as large as possible, and should be ⁇ 3 inches or more.
- the gray tone mask in the step (2) is irradiated with light in the gray tone mask in the step (4), the light transmitted through the gray tone mask exposes the resist, and developed in the step (5).
- a resist residual film shape is obtained later, and in step (6), after the resist residual film shape is transferred to the wafer substrate by etching, the transmittance is adjusted to the shape of the plurality of lens regions 21 designed. Is configured to change in multiple stages. That is, in the plurality of lens regions 21, the point where the height is low, that is, the point where the amount of etching is large, the resist residual film amount is small and the transmittance of the gray tone mask is high. The point where the etching rate is high, that is, the amount of etching is small, the residual resist film amount is large, and the transmittance of the gray tone mask is low.
- the above is a case where a positive resist is used, and when a negative resist is used, the transmittance is opposite to the above, and the amount of etching is large because the transmittance of the gray tone mask is high. Lower.
- the transmissivity of the gray tone mask is set so that the size in the in-plane direction of the gray tone mask is larger than the actual size of the plurality of lens regions 21, specifically, 5 times or 10 times larger. Is given. This is because the stepper apparatus provided with the 1/5 reduction optical system or the 1/10 reduction optical system is used in the step (4). Depending on the wavelength of the light source, a stepper device such as g-line or i-line is used. By transferring with the reduction optical system, the transmittance information can be transferred with higher accuracy, so that a plurality of lens regions can be formed with higher accuracy.
- a large number of optical elements can be arranged in the wafer substrate.
- a large number of optical elements can be formed simultaneously.
- the gray-tone mask may be prepared once when the optical element 20C is manufactured, and can be used continuously.
- a step 26 that is shallower than the plurality of lens regions 21 is formed in a peripheral portion that contacts the plurality of lens regions 21 of the optical element 20 ⁇ / b> C. Since the step 26 exists even when the resist is exposed, the development is performed uniformly over the entire resist region which becomes the plurality of lens regions 21 in order to smoothly flow the developing solution through the step 26 in the development process. As a result, a resist shape that becomes a plurality of lens regions 21 can be formed with high accuracy.
- the width of the step 26 is preferably 0.05 mm to 0.2 mm, but is not limited thereto. Further, the step 26 may have an inclination or may have multiple stages.
- the developed resist shape is transferred to the glass substrate by dry etching.
- the surface roughness of the plurality of lens regions 21 after dry etching is important from the viewpoint of efficiently converting incident light 52 (emitted light 51) into excitation light 54.
- the surface roughness can be expressed by root mean square roughness (Rq), preferably Rq ⁇ 20 nm (rms), and more preferably Rq ⁇ 10 nm (rms).
- the surface roughness after dry etching may be caused by additives or impurities contained in the glass material, and it is preferable to use quartz glass or sapphire glass with few additives and impurities as the glass material.
- Step (7) and step (8) are steps for forming an optical film for efficiently converting the incident light 52 incident on the optical element 20C into the excitation light 54.
- the optical film is formed by using a sputtering apparatus or a vapor deposition apparatus, and a plurality of dielectric materials having different refractive indexes (for example, SiO 2 , TiO 2 , Al 2 O 3 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5, etc.) ) Alternately in multiple layers.
- the antireflection film 23 and the reflection film 24 are formed.
- a metal material having high reflectivity for example, a material such as Au, Ag, Cu, Al, or an alloy material of Ag may be formed.
- step (7) and the step (8) may be reversed, and it is more preferable if there is an apparatus capable of forming films on both sides simultaneously.
- the step (9) is a step of cutting a plurality of lens regions 21 formed on the wafer substrate into a predetermined size, and the optical element 20C is obtained by cutting with a dicer device or the like.
- the optical element 20C manufactured by the above steps has high mass productivity and high shape accuracy, the incident light 52 can be efficiently converted into the excitation light 54, and a smaller light source device can be realized.
- the step (8) is a step of forming an antireflection film on the other surface.
- FIG. 20 is a diagram illustrating a configuration of the optical element 20D in the light source device according to the second modification of the third embodiment of the present disclosure. Since the optical element 20D used in the light source device in the present modification has almost the same configuration as the optical element 20C used in the first modification of the third embodiment, hereinafter, in this modification, a modification of the third embodiment will be described. The difference from the optical element 20C in FIG.
- the optical element 20D in the present modification example includes a glass substrate 20a and a dielectric film 20b formed on the glass substrate 20a.
- the plurality of lens regions 21 of the optical element 20D are formed on the dielectric film 20b.
- a step 26 is formed around the plurality of lens regions 21, and an absorption film 25 is patterned on at least the step 26 in the periphery of the plurality of lens regions 21 and the surface of the dielectric film 20b. Is formed.
- a glass material with few additives and impurities may be used in order to reduce the surface roughness after etching.
- a small amount of glass material is expensive compared to general glass materials such as white plate glass and BK7.
- the dielectric film 20b does not contain impurities, so that the surface roughness equivalent to that of a glass substrate containing no additives or impurities can be obtained.
- the glass substrate 20a can use a general glass material, for example, cheap glass substrates, such as white plate glass and BK7.
- the dielectric film 20b SiO 2 is optimal, but other dielectric materials may be used.
- the optical element 20D in the present modification can be manufactured by depositing a dielectric film on the wafer substrate in step (1) in the manufacturing method of the optical element 20C described in Modification 1 of Embodiment 3 above. .
- the subsequent steps are the same as steps (2) to (9) described in the optical element 20C in the first modification of the third embodiment.
- reducing the size of the optical element 20D can increase the quantity (the number of optical elements) of the optical element 20D that can be taken from the wafer substrate, which is effective in reducing the manufacturing cost. Further, reducing the size of the optical element 20D allows the semiconductor light emitting device 10 to be close to the phosphor element 30 while ensuring the radiation angle of the radiation 91 from the phosphor element 30, so that the size of the light source device can be reduced. Also effective. However, if the size of the optical element 20D is reduced and the size of the plurality of lens regions 21 is reduced, the ambient light of the incident light 52 that is emitted from the semiconductor light emitting element 11 and incident on the optical element 20D (particularly, the emission angle). There is a possibility that the incident light 52 in a wide direction is incident on the outside of the plurality of lens regions 21 and is emitted in an optical path different from the original optical path of the excitation light. is there.
- incident light 52 is emitted from the semiconductor light emitting element 11 and incident on the optical element 20D on at least the steps 26 and the surface of the dielectric film 20b in the periphery of the plurality of lens regions 21.
- the absorption film 25 that absorbs the ambient light in a predetermined pattern, the incident light 52 that protrudes from the plurality of lens regions 21 is absorbed by the absorption film 25, so that it is not emitted from the optical element 20D. Can be.
- the peripheral light of the incident light 52 is converted into the excitation light 54, the peripheral light that hardly contributes to the efficiency can be blocked inside the optical element 20D, and the conversion efficiency into the excitation light 54 can be improved.
- the size of the optical element 20D can be reduced while ensuring.
- the absorption film 25 may overlap a part of the plurality of lens regions 21.
- the absorption film 25 can be formed by depositing SiO 2 , Si, Ti or the like in multiple layers using a sputtering apparatus.
- the absorption film 25 can be patterned by forming a resist pattern in a portion where the absorption film 25 is not necessary, forming the absorption film 25 on the resist pattern, and then removing the resist portion.
- the patterned absorption film 25 can be formed by forming the absorption film 25 only on the opening using a metal mask having an opening in a region where the absorption film 25 is required.
- the step of forming the absorption film 25 can be performed, for example, before step (8) in the manufacturing method described in the first modification of the third embodiment.
- the absorption film 25 can be applied not only to the present modification but also to Modification 1 of Embodiment 3.
- the present modification is an application example to the third embodiment, but is not limited thereto, and can be applied to the optical elements 20, 20A, and 20B in the first and second embodiments.
- the step (8) is a step of forming an antireflection film on the other surface.
- FIG. 21A is a diagram illustrating a configuration of a light source device 1E according to Modification 3 of Embodiment 1 of the present disclosure.
- FIG. 21B is a diagram showing a configuration of the optical element 20E in the light source device 1E, where (a) is a plan view when viewed from the light emitting side (phosphor element 30 side), and (b) is (a). ) And (c) are cross-sectional views taken along line BB, and (c) is a plan view when viewed from the light incident side (semiconductor light emitting element 11 side).
- the light source device 1E in the present modification is obtained by replacing the optical element 20A of the modification 1 (FIGS. 6A and 6B) of the first embodiment with the optical element 20E. Since the other configuration is the same as that of the first modification of the first embodiment, the configuration of the optical element 20E will be mainly described below.
- An optical element 20E shown in FIG. 21A and FIG. 21B is a Fresnel lens in which a plurality of lens regions 21 formed on the surface of the optical element 20A of the optical element 20A in the optical element 20A shown in FIG. 6A and FIG.
- the convex lens having the spherical shape or the aspherical shape provided on the surface opposite to the optical function portion 22 is also formed to be a Fresnel lens. That is, Fresnel lenses are formed on both the light incident surface side and the light emission side of the optical element 20E.
- the Fresnel lens of the optical element 20E can be formed by the same method as that described in the first modification of the third embodiment and the second modification of the third embodiment.
- a step 26 is formed in the peripheral portion in contact with the plurality of lens regions 21 on the light emitting side and the peripheral portion in contact with the convex lens on the light incident side.
- an antireflection film 23 is formed on the surface of the plurality of lens regions 21 and the convex lens. That is, the antireflection film 23 is formed on both the light emitting side and the light incident side of the optical element 20E.
- an opening limiting film 27 is formed on the surface (the light emission side surface) of the optical element 20E having the optical function part 22.
- the opening limiting film 27 has the same action as the absorption film 25 in the second modification of the third embodiment.
- the aperture limiting film 27 may be formed of a light absorbing film, or may be formed of a light reflecting film made of a metal film such as Ti or Cr.
- the optical element 20E configured in this manner has high shape accuracy, the incident light 52 can be efficiently converted into the excitation light 54. Moreover, since mass productivity is also high and the size of the optical element 20E can be reduced, a smaller light source device 1E can be realized.
- the optical element 20E is disposed so that the convex lens is positioned on the light incident side (semiconductor light emitting element 11).
- the present invention is not limited to this.
- the optical element 20E may be arranged so that the convex lens is positioned on the light emitting side (phosphor element 30 side).
- the aperture limiting film 27 is formed on the light emitting side surface, but the present invention is not limited thereto, and may be formed on the light incident side surface, and the light emitting side surface and the light incident side. You may form on both surfaces of this side.
- the optical element 20E in the present modification can be replaced with the light source device 1B according to the second modification of the first embodiment (FIG. 7) and the optical element 20A in the second modification of the second embodiment (FIG. 13). .
- 22A and 22B are diagrams illustrating a configuration of the light source device 4 according to Embodiment 4 of the present disclosure.
- 22A is a plan view including a coordinate axis 96 (second axis) and a coordinate axis 97 that is the traveling direction of the excitation light
- FIG. 22B is a coordinate axis 95 (first axis) and the coordinate axis 97 that is the traveling direction of the excitation light.
- FIG. FIG. 23 is a diagram showing a configuration of the semiconductor light emitting device 10 ⁇ / b> A in the light source device 4.
- FIG. 24 is a diagram showing a design example of the light intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element 30 of the light source device 4.
- the semiconductor light emitting device 10 used in the light source device 4 includes a first optical waveguide 11a1 having a stripe width Wa and a second optical waveguide 11a2 having a stripe width Wb.
- the semiconductor light emitting device 11A having the two waveguides (ridge portions) is formed.
- the first optical waveguide 11a1 and the second optical waveguide 11a2 are formed so that the distance between the centers is P.
- the phosphor element 30 used in the light source device 4 is the same as the phosphor element 30 used in the first embodiment.
- the optical element 20 used in the light source device 4 has the same configuration as that of the optical element 20 used in the second embodiment, but the plurality of lens regions 21 has a condensing position of the converted excitation light 54. They are set differently in front of the phosphor element 30, and astigmatism is given to the plurality of lens regions 21.
- the outgoing light 51a from the first optical waveguide 11a1 forms a minimum circle of confusion (not shown) in front of the light emitting surface of the phosphor element 30 by the optical element 20, and
- the first focal line 57aa is formed on the side farther from the light emitting surface of the phosphor element 30, and the second focal line 58aa is formed on the side closer to the light emitting surface of the phosphor element 30, and converted into excitation light 54aa.
- the light 51b emitted from the second optical waveguide 11a2 forms a minimum circle of confusion (not shown) in front of the phosphor element 30 by the optical element 20, and the fluorescence.
- the first focal line 57ab is formed on the side farther from the light emitting surface of the body element 30, and the second focal line 58ab is formed on the side closer to the light emitting surface of the phosphor element 30, and converted into excitation light 54ab.
- the outgoing light 51a from the first optical waveguide 11a1 has different focal points in front of the light emitting surface of the phosphor element 30, and the phosphor
- a first focal line is formed on the side far from the light emitting surface of the element 30, and converted into excitation light 54 that forms a second focal line on the side close to the light emitting surface of the phosphor element 30, and converted by the lens region 21a. It overlaps with the excitation light 54aa on the light emitting surface of the phosphor element 30.
- the emitted light 51b from the second optical waveguide 11a2 also has different focal points in front of the light emitting surface of the phosphor element 30,
- the first focal line is formed on the side far from the light emitting surface of the phosphor element 30 and converted into the excitation light 54 that forms the second focal line on the side near the light emitting surface of the phosphor element 30. It overlaps with the light emitting surface of the phosphor element 30 together with the converted excitation light 54ab.
- the excitation light 51a emitted from the first optical waveguide 11a1 is incident on the optical element 20 and converted, and the excitation light 51b emitted from the second optical waveguide 11a2 is incident on the optical element 20 and converted.
- the excitation light 51a emitted from the first optical waveguide 11a1 is incident on the optical element 20 and converted, and the excitation light 51b emitted from the second optical waveguide 11a2 is incident on the optical element 20 and converted.
- the beam width D1 of the excitation light on the light emitting surface of the phosphor element 30 is larger than the width W1 that is the division width in the first direction of the plurality of lens regions 21 of the optical element 20.
- the beam width D2 of the excitation light on the light emitting surface of the phosphor element 30 is larger than W2 which is the division width in the second direction of the plurality of lens regions 21 of the optical element 20.
- FIG. 24 (a) to 24 (c) are views seen from the radiant light side, and the light intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element 30 is represented by a plane intensity distribution display (upper figure) and 3 This is shown in the dimensional intensity distribution display (below).
- FIG. 24A shows the light intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element 30 of the excitation light obtained by converting the outgoing light 51a from the first optical waveguide 11a1 by the optical element 20.
- FIG. 24B shows the light intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element 30 of the excitation light obtained by converting the outgoing light 51b from the second optical waveguide 11a2 by the optical element 20.
- FIG. 24C shows the light intensity on the light emitting surface of the phosphor element 30 of the excitation light in which both the outgoing light 51a of the first optical waveguide 11a1 and the outgoing light 51b of the second optical waveguide 11a2 are converted by the optical element 20. Distribution is shown.
- the light intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element 30 for the excitation light emitted from the first optical waveguide 11a1 and converted by the optical element 20 is expressed by the beam width D1a (coordinate axis 95). ) And a beam width D2a (coordinate axis 96), which are made uniform.
- the light intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element 30 for the excitation light emitted from each of the second optical waveguides 11a2 and converted by the optical element 20 is expressed as beam It has a width D1b (coordinate axis 95) and a beam width D2b (coordinate axis 96), which are made uniform.
- a part of the excitation light emitted from each of the first optical waveguide 11 a 1 and the second optical waveguide 11 a 2 and converted by the optical element 20 is emitted from the phosphor element 30. It is designed to overlap, and as a whole, it has a width D1 (coordinate axis 95) and a width D2 (coordinate axis 96), and has a uniform light intensity distribution.
- the beam width D1 is approximately equal to the beam width D1a and the beam width D1b
- the beam width D2 is approximately equal to or slightly smaller than the sum of the beam width D2a and the beam width D2b, and is uniformized as a whole.
- the design can be made with the intensity distribution of one excitation light beam having a substantially equal beam width D1 and beam width D2.
- the light source device 4 even when the semiconductor light emitting element 11A having a plurality of emitters is used, the light emitted from the semiconductor light emitting element 11A is efficiently made uniform into one uniform light intensity distribution. Therefore, a small light source device can be realized.
- each of the plurality of lens regions 21 of the optical element 20 (divided shape) has a hexagonal shape, and thus is converted on the light emitting surface of the phosphor element 30 of the converted excitation light. Is also hexagonal, but if the shape of the plurality of lens regions 21 is a quadrangle, a quadrangle intensity distribution can be obtained.
- the focal position of each of the plurality of lens regions 21 of the optical element 20 is set in front of the phosphor element 30 so that the divided width of the plurality of lens regions 21 is larger. It can be designed with a large beam width. Thereby, the intensity distribution of excitation light can be designed in a wider range.
- the semiconductor light emitting element 11A having two optical waveguides is used.
- the present invention is not limited thereto, and the semiconductor light emitting element 11 having three or more optical waveguides may be used.
- it is designed so that a part of the intensity distribution on the light emitting surface of the phosphor element 30 of each excitation light emitted from two adjacent optical waveguides and converted by the optical element 20 overlaps each other. Thus, it can be converted into excitation light having a uniform light intensity distribution, and a small light source device can be realized.
- the phosphor elements 30 are arranged in the same manner as in the first embodiment, but even if arranged as in the second and third embodiments, a light source device having the same effect can be realized.
- the beam width since the excitation light is obliquely incident on the phosphor element 30, the beam width may be different at each incident position, but the stripe width Wa of the first optical waveguide 11a1 and the second optical waveguide in the semiconductor light emitting element 11A.
- the stripe width Wb of 11a2 may be different.
- the optical elements 20B and 20C of the first and second modifications of the third embodiment may be used.
- the light emission position in the phosphor element 30 can be varied.
- a light source device that can vary light distribution in a light projecting device combined with a reflector, a projection lens, or the like can be realized. For example, when the light source device 4 is used as a lamp for a vehicle headlamp, the light source device 4 can be used as a high beam when two are turned on and a low beam when one is turned on.
- FIG. 25 is a diagram illustrating a configuration of the light projecting device 5 according to the fifth embodiment of the present disclosure.
- the light projecting device 5 is, for example, a lamp for a vehicle headlamp, and includes the light source device 1 and the projection lens 160 in the first embodiment.
- the projection lens 160 is a lens for projecting forward by changing the radiation angle of the radiation 91 from the light source device 1.
- the projection lens 160 uses two combination lenses.
- the present invention is not limited to this, and the projection lens 160 may be composed of a single lens or a plurality of lenses.
- the projection lens 160 may be a compound lens in which four lenses are combined.
- the light projecting device 5 in the present embodiment uses the light source device 1 in the first embodiment, a small light projecting device can be realized.
- the light source device 1 in Embodiment 1 was used, it is not restricted to this.
- the light source device in the second to fourth embodiments may be used as the light source device of the light projecting device in the present embodiment.
- FIG. 26 is a diagram illustrating a configuration of the light projecting device 6 according to the sixth embodiment of the present disclosure.
- the light projecting device 6 includes the light source device 3 and the reflector 170 in the third embodiment.
- the reflector 170 is a reflecting member for projecting forward by changing the radiation angle of the radiation 91 from the light source device 3.
- the light projecting device 6 in the present embodiment uses the light source device 3 in the third embodiment, a small light projecting device can be realized.
- the light source device 3 in Embodiment 3 was used, it is not restricted to this.
- the light source device instead of irradiating the phosphor element, it can also be used as a processing light source for irradiating the processing surface of the processing object and performing soldering, annealing, welding, or the like.
- an infrared laser element or the like can be used as the semiconductor light emitting element instead of the visible light laser element.
- the present disclosure can be widely used as various optical devices such as a light source device having a semiconductor light emitting element and a phosphor element and a light projecting apparatus using the light source device.
- the light source device of the present disclosure can be used not only as a light source for illumination but also as a light source for other uses such as a processing light source.
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Abstract
光源装置(1)は、半導体発光素子(11)と、複数のレンズ領域(21)を有し、複数のレンズ領域(21)によって半導体発光素子(11)から出射される光の強度分布を変化させる光学素子(20)と、光学素子(20)により強度分布が変化された光を励起光(54)として発光する蛍光体素子(30)とを備え、複数のレンズ領域(21)の各々の焦点は、蛍光体素子(30)の発光面よりも前方または後方に存在し、かつ、お互いに異なっており、複数のレンズ領域(21)のうち、少なくとも1つには、非点収差が与えられており、非点収差が与えられたレンズ領域(21a)からの励起光(54a)は、焦点近傍に最小錯乱円(56a)を形成し、最小錯乱円(56a)を挟んで前後の第1の焦線(57a)と第2の焦線(58a)を形成し、複数のレンズ領域(21)からの各光は、蛍光体素子(30)の発光面(33)で重なっている。
Description
本開示は、光源装置および投光装置に関し、特に、半導体発光素子から出射した光を蛍光体素子に照射することで放射される光を利用する、投写表示装置などのディスプレイ分野または車両用照明や医療用照明などの照明分野に用いられる光源装置、およびこの光源装置を用いた投光装置に関する。
従来、レーザ素子等の半導体発光素子から出射された光を蛍光体素子に照射することで蛍光体素子から放射される光を利用する光源装置が知られている。このような光源装置においては、蛍光体素子に照射する光(励起光)の光強度分布を改善し、励起光による発熱の影響によって蛍光体素子の変換効率が低下することを低減するために、蛍光体素子に照射する光の光強度分布を均一化する試みがなされている(例えば特許文献1、2)。
図27は、特許文献1に開示された従来の光源装置1100の構成を示す図である。
図27に示す光源装置1100では、レーザ光源1110のレーザ素子(レーザチップ)1111から出射された光は、光学ロッド1120の入射面から入射し、光学ロッド1120内を多重反射しながら伝播する。これにより、レーザ素子1110から出射した光は、光学ロッド1120の出射面1121に到達する時には、光強度分布が平均化されて均一な光強度分布を持つ光となる。光学ロッド1120から出射する光は、発散光として出射されるために、レンズ1130で集光させてから発光部1140に照射される。このように、光源装置1100では、光学ロッド1120を用いることによって発光部1140に照射される光の光強度分布を均一化している。
図28は、特許文献2に開示された従来の光源装置1200の構成を示す図である。
図28に示す光源装置1200では、レーザ光源1210から放射された光は、コリメータレンズ1220によって平行光に変換され、ホログラム素子1230に入射される。ホログラム素子1230は、蛍光体1240上における励起光の光強度分布が均一になるように形成されている。このように、光源装置1200では、ホログラム素子1230によって、蛍光体1240に照射される励起光の光強度分布を均一化している。
特許文献1に開示された光源装置では、均一な光強度分布を得るために光学ロッドを用いている。しかしながら、光学ロッドは、多重反射回数を多くすることで均一な光強度分布を得るものであるため、光学ロッドの長さをある程度長くする必要がある。また、光学ロッドからの出射光は発散光となるので、一度レンズで集光してから蛍光体に照射する必要があり、発光素子から蛍光体までの距離が長くなってしまう。このように、光学ロッドを用いて均一な光強度分布を得ようとすると、光源装置として小型化することができないという問題がある。
また、特許文献2に開示された光源装置では、均一な光強度分布を得るためにホログラム素子を用いている。しかしながら、ホログラム素子は、光の回折現象を用いた素子であるので、レンズ等と比べると一般的に効率が低いと言われている。また、レーザ素子の発光波長の個体差、温度による発光波長変化、または、ホログラム素子に入射する光の波面状態(例えば発散光や集束光)等によって、著しく効率が低下する場合もあり、レーザ素子から蛍光体までに励起光を効率良く導くことができないという問題がある。しかも、レーザ素子にはシングルモードレーザ素子とマルチモードレーザ素子とがあるが、照明用光源としてレーザ素子を用いる場合には、1W以上の発光出力を有するものが必要であり、マルチモードレーザ素子を用いるのが一般的である。しかしながら、マルチモードレーザ素子は、マルチモード方向には幾つかの出射波面が重なり合っているために、一定の入射波面を想定して設計されるホログラム素子を用いる場合には、十分な効率が得られないことが予想される。このように、ホログラム素子を用いて均一な光強度分布を得ようとすると、レーザ素子の光を効率良く均一な光強度分布に変換することができないという問題がある。
本開示は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、半導体発光素子(レーザ素子)から出射する光を効率良く均一な光強度分布を有する光に変換することができ、励起光の光強度分布の設計が容易で、かつ、小型の光源装置および投光装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本開示に係る光源装置の一態様は、レーザ素子と、複数の領域に分割された複数のレンズ領域を有し、複数のレンズ領域によってレーザ素子から出射される光の強度分布を変化させる光学素子と、光学素子により強度分布が変化された光を励起光として発光する蛍光体素子とを備え、複数のレンズ領域の各々の焦点は、蛍光体素子の発光面よりも前方または後方に存在し、かつ、お互いに異なっており、複数のレンズ領域のうち、少なくとも1つには、非点収差が与えられており、非点収差が与えられたレンズ領域からの励起光は、焦点近傍に最小錯乱円を形成し、前記最小錯乱円を挟んで前後に第1の焦線と第2の焦線を形成し、複数のレンズ領域からの各光は、蛍光体素子の発光面で重なっている。
この構成により、光学素子に入射したレーザ素子の光は、複数のレンズ領域によって各光が焦点に集光する複数の励起光となって蛍光体素子へ伝播する。複数のレンズ領域の各々の焦点は、蛍光体素子の前方または後方に存在し、かつ、お互いに異なっているので、蛍光体素子の発光面でお互いに重なり合うことができ、複数のレンズ領域の各々に入射するレーザ素子の光は、重なり合った光強度分布となる。つまり、平均化されて均一な光強度分布を持つ光に変換される。また、非点収差が与えられたレンズに入射した光は、非点収差が与えられた直交する2方向において最も絞れる位置が異なる励起光に変換されるので、蛍光体素子の発光面での2方向のビーム幅を個々に設定できる。したがって、レーザ素子から出射する光を、均一な光強度分布を有するとともに所望のビーム幅を持つ励起光に効率良く変換することができ、かつ、小型の光源装置を実現できる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、複数のレンズ領域は、第1軸方向と第1軸に直交する第2軸方向とに分割され、レーザ素子から出射する光は、第1軸および第2軸のうち、放射角の狭い方が第2軸に対応するように複数のレンズ領域に入射し、第1軸方向の光が最も絞れる位置が第1の焦線に対応し、第2軸方向の光が最も絞れる位置が第2の焦線に対応するとよい。
この構成により、レーザ素子の放射角の狭い方向の光は蛍光体素子の発光面に近い位置で絞れ、放射角の広い方向の光は蛍光体素子の発光面から遠い位置で絞れるので、蛍光体素子の発光面での励起光のビーム幅をより自由に設定できる。これにより、2方向のビーム幅が等しくする設計範囲も拡大する。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、複数のレンズ領域からの励起光が形成する蛍光体素子の発光面での光強度分布において、前記第1軸方向のビーム幅D1と前記第2軸方向のビーム幅D2は、D1≦D2であるとよい。
この構成により、細長いビーム形状を有しつつも均一化された光強度分布を有するビーム形状の設計範囲が拡大する。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、第1軸方向の分割幅が第2軸方向の分割幅よりも大きいとよい。
この構成により、レーザ素子から出射する光を効率よく励起光に変換することができるとともに、蛍光体素子の発光面で重なる励起光の数を十分に確保することができる。これにより、均一化された光強度分布を得ることができ、蛍光体素子の発光面の励起光の光強度分布のビーム幅の設計が容易になる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、蛍光体素子は、第1軸を中心に傾斜するように配置されており、複数のレンズ領域の各々には、非点収差が与えられており、複数のレンズ領域の第2の焦線は、蛍光体素子の発光面の近傍に存在するとよい。
この構成により、光学素子の光軸に対して蛍光体素子が傾斜して配置されている場合でも、蛍光体素子の傾斜方向にビーム幅が延びることを抑制することができる。これにより、2方向のビーム幅を等しくする設計の範囲が拡大する。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、光学素子の平面視形状は、矩形状であるとよい。
この構成により、ウエハから光学素子を作製する場合に、光学素子の取れ数を多くすることができる。これにより、光学素子及び光学素子を備える光源装置の量産性が向上する。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、複数のレンズ領域は、フレネルレンズからなり、複数のレンズ領域に接する周辺部には段差が形成されているとよい。
この構成により、フォトリソグラフィ及びエッチングによって光学素子を作製する場合に、段差を通して現像液等をスムーズに流すことができる。これにより、複数のレンズ領域となるレジスト領域全体に渡って均一に現像が行われるので、レジスト形状を精度良く形成することができる。したがって、複数のレンズ領域を高精度に作製することができるので、高精度に作製された光学素子を備える光源装置を実現できる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、光学素子は、ガラス基板と、ガラス基板に成膜された誘電体膜とを有し、複数のレンズ領域は、誘電体膜に形成されているとよい。
この構成により、コストを抑えつつ、表面粗さの少ない平坦な表面を有する光学素子を作製することができる。したがって、低コストで高品質の光源装置を実現できる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、複数のレンズ領域の周辺部には、レーザ素子から出射される光の周辺光を吸収する吸収膜が形成されているとよい。
この構成により、効率にはほとんど寄与しない周辺光を光学素子の内部で遮断することができるので、励起光への変換効率を確保しつつ光学素子のサイズを縮小することができる。これにより、高効率かつ小型の光源装置を実現できる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、光学素子は、レーザ素子からの出射光の発散角を変換する凸レンズを含み、凸レンズの透過光が複数のレンズ領域に入射するように構成されているとよい。
この構成により、レーザ光の出射光を効率良く蛍光体素子に集光して励起光に変換することができるので、高効率の光源装置を実現できる。
この場合、凸レンズは、フレネルレンズからなり、凸レンズに接する周辺部には段差が形成されているとよい。
この構成により、光学素子を薄型化できるので、小型の光源装置を実現できる。
この場合、さらに、複数のレンズ領域の周辺部には、レーザ素子から出射される光の周辺光を遮光する開口膜が形成されているとよい。
この構成により、効率にはほとんど寄与しない周辺光を光学素子の内部で遮断することができるので、励起光への変換効率を確保しつつ光学素子のサイズを縮小することができる。これにより、高効率かる小型の光源装置を実現できる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、複数のレンズ領域の各々は、一部もしくは全部が四角形または六角形であるとよい。
この構成により、レンズ領域として作用しない領域を極小化できるので、より効率良く励起光に変換できる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、複数のレンズ領域の第1軸方向の分割幅をW1とし、放射角の狭い方向に対応するレーザ素子のストライプ幅をWとし、レーザ素子からの放射光を取り込む側の焦点距離をF1とし、光学素子に形成された複数のレンズから蛍光体素子の発光面までの励起光の光軸に沿った距離をF2とし、励起光の蛍光体素子の発光面への入射角をθとしたときに、励起光が形成する蛍光体素子の発光面での光強度分布において、第1軸方向のビーム幅D1と第2軸方向のビーム幅D2は、D=W×(F2/F1)/cos(θ)、かつ、D<D1<W1、D<D2<W1の関係式を満たすとよい。
この構成により、レーザ素子にマルチモードレーザを使用し、光学素子の光軸に対して蛍光体素子が傾斜している場合にも、直交する2軸方向のビーム幅を等しくする設計が容易になる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、蛍光体素子の発光面での光強度分布は、少なくとも一部が第1軸に平行な2つの底辺と、少なくとも一部が第2軸に平行な2つの底辺とからなる四角錐台状であるとよい。
この構成により、蛍光体素子の発光面において均一化された励起光の光強度分布の設計が容易になる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、複数のエミッタを有するレーザ素子と、複数のレンズ領域を有し、複数のレンズ領域によってレーザ素子から出射される光の強度分布を変化させる光学素子と、光学素子により強度分布が変化された光を励起光として発光する蛍光体素子とを備え、複数のレンズ領域の各々の焦点は、蛍光体素子の発光面よりも前方または後方に存在し、かつ、お互いに異なっており、複数のレンズ領域の各々には、非点収差が与えられており、励起光は、焦点近傍に最小錯乱円を形成し、最小錯乱円を挟んで、蛍光体素子側に第2の焦線を、他方に第1の焦線を形成し、複数のエミッタのうち、各エミッタに対応する複数のレンズ領域からの各光は、蛍光体素子の発光面で重なっており、隣り合うエミッタからの各光は、少なくとも蛍光体素子の発光面で一部が重なっているとよい。
この構成により、複数のエミッタを有するレーザ素子を用いることで高出力化が可能になり、レーザ素子から出射する光を効率よく1つの均一な励起光に変換でき、かつ、小型の光源装置を実現できる。
また、本開示に係る光源装置の一態様において、複数のレンズ領域は、第1軸方向と第1軸に直交する第2軸方向とに分割され、レーザ素子から出射する光は、第1軸および第2軸のうち、放射角の狭い方が第2軸に対応するように複数のレンズ領域に入射し、第1軸方向の光が絞れる位置が第1の焦線に対応し、第2軸方向の光が絞れる位置が前記第2の焦線に対応するとよい。
この構成により、複数のエミッタを有するレーザ素子を用いた場合でも、放射角の狭い方向の光は蛍光体素子の発光面に近い位置で絞れ、放射角の広い方向の光は蛍光体素子の発光面から遠い位置で絞れるので、蛍光体素子の発光面での励起光のビーム幅をより自由に設定できる。これにより、2方向のビーム幅が等しくする設計範囲も拡大する。
また、本開示に係る光源装置の1態様において、前記蛍光体素子は、前記第1軸を中心に傾斜するように配置されており、複数のレンズ領域の第2の焦線は、蛍光体素子の発光面の近傍に存在するとよい。
この構成により、複数のエミッタを有するレーザ素子を用いて、光学素子の光軸に対して蛍光体素子が傾斜して配置されている場合でも、蛍光体素子の傾斜方向にビーム幅が延びることを抑制できる。これにより、2方向のビーム幅を等しくする設計の範囲が拡大する。
また、本開示に係る投光装置の一態様は、上記のいずれかに記載の光源装置を備える。
この構成により、小型の投光装置を実現できる。
レーザ素子から出射する光を効率よく均一な励起光に変換でき、励起光の光強度分布の設計が容易で、かつ、小型の光源装置等を実現できる。
本開示の実施の形態について、以下に図面を用いて説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本開示の好ましい一具体例を示すものである。したがって、以下の実施の形態で示される、数値、構成要素、構成要素の配置位置および接続形態、並びに、工程(ステップ)および工程の順序等は、一例であって本開示を限定する主旨ではない。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、本開示の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。
なお、本明細書および図面において、第1軸である座標軸95、第2軸である座標軸96および第3軸である座標軸97は、三次元直交座標系の三軸を表している。同様に、第1軸である座標軸95’、第2軸である座標軸96’および第3軸である座標軸97’も、三次元直交座標系の三軸を表している。
(実施の形態1)
以下、本開示の実施の形態1における光源装置について図面を参照しながら説明する。
以下、本開示の実施の形態1における光源装置について図面を参照しながら説明する。
(構成)
本開示の実施の形態1に係る光源装置1の構成を図1に示す。図1は、本開示の実施の形態1に係る光源装置1の構成を示す図である。
本開示の実施の形態1に係る光源装置1の構成を図1に示す。図1は、本開示の実施の形態1に係る光源装置1の構成を示す図である。
図1に示すように、光源装置1は、半導体発光装置10と、光学素子20とを備える。光源装置1は、半導体発光装置10から出射された光の分布を光学素子20で成形し、照射対象物である蛍光体素子30に成形された光を照射する。本実施の形態においては、光源装置1は、さらに蛍光体素子30を備える。蛍光体素子30は、光源装置1内の所定の位置に固定されている。以下、光源装置1の各構成部材について、詳細に説明する。
まず、光源装置1に用いられる半導体発光装置10の構成について図2を用いて説明する。図2は、光源装置1に用いられている半導体発光装置10の構成を示す図である。
図2に示すように、半導体発光装置10は、パッケージ化された発光装置であり、ストライプ幅(リッジ幅)Wの光導波路11aを有する半導体発光素子11と、パッケージを構成する金属製のキャップ(缶)12とを備える。
半導体発光素子11は、キャップ12内に配置されている。具体的には、半導体発光素子11は、円盤状のベース14上に配置されたポスト15にサブマウント16を介して実装されている。本実施の形態において、半導体発光素子11は、光導波路11aのストライプ幅Wの方向が座標軸96の方向となるように配置されている。つまり、半導体発光素子11は、光導波路11aの長手方向(ストライプ方向)が座標軸97の方向となるように配置されている。
キャップ12には、半導体発光素子11からの出射光51が透過できるように窓ガラス13が取り付けられている。窓ガラス13は、半導体発光素子11から出射する出射光51を透過する透光部材の一例であり、本実施の形態では、板ガラスである。なお、半導体発光装置10には、さらに、外部から半導体発光素子11に電力を供給するためのリードピン17が設けられている。
半導体発光素子11は、例えば窒化物半導体からなるレーザ素子(例えばGaN系レーザ素子)であり、例えば波長380nmから490nmの間にピーク波長を有するレーザ光を出射光51として放射する。
半導体発光素子11から出射する出射光51の放射角は、直交する2軸方向で異なっている。具体的には、出射光51では、座標軸95方向の放射角よりも座標軸96方向の放射角が狭くなっている。すなわち、ストライプ幅Wの方向と放射角が狭い方向とが一致している。
また、半導体発光装置10の前方には、窓ガラス13に近接してレンズ120が配置されている。レンズ120は、半導体発光装置10(半導体発光素子11)から放射される出射光51を略平行光に変換する機能を有する。レンズ120は、例えば、コリメータレンズである。
光学素子20は、半導体発光装置10と蛍光体素子30との間に配置される。具体的には、光学素子20は、レンズ120と蛍光体素子30との間に配置される。したがって、光学素子20には、レンズ120からの略平行光が入射する。
光学素子20は、半導体発光素子11から出射する出射光51の強度分布を変化させる機能を有する複数のレンズ領域21有する。複数のレンズ領域21の詳細については後述する。
半導体発光素子11から出射した出射光51は、光学素子20を透過することによって光強度分布が変化し、かつ集束光へと変化した光となって励起光54として蛍光体素子30に入射する。
蛍光体素子30は、励起光54によって励起されて蛍光を発する。蛍光体素子30は、入射する光の波長を変換する波長変換材として蛍光体を有する。例えば、蛍光体素子30は、支持部材31と、支持部材31の表面に形成された、蛍光体を含む蛍光体層32とを有する。
支持部材31は、例えば、熱伝導率が高く、透明な基板であるとよい。支持部材31の材料としては、例えばAl2O3などが用いられる。一例として、支持部材31は、透明なサファイア基板である。
また、支持部材31における蛍光体層32が形成される面には、励起光54を透過し、かつ、蛍光体層32で生成された光を反射するダイクロイックミラーが形成されているとよい。ダイクロイックミラーは、例えば、屈折率が異なる複数の誘電体層からなる多層膜である。このようにダイクロイックミラーを形成することで、励起光54を効率よく蛍光体層32に導くことができるとともに、蛍光体層32で生成された光が入射側へ透過することを抑制できる。なお、ダイクロイックミラーが形成されている場合、蛍光体層32は、ダイクロイックミラーの上に形成される。
蛍光体層32としては、例えば蛍光体(蛍光体粒子)をシリコーンやガラス等の有機または無機の透明結合剤(バインダ)中に分散することで層状に構成されたものを用いることができる。蛍光体は、入射する光を励起光として蛍光発光する。蛍光体は、例えばセリウム賦活のイットリウム・アルミニウム・ガーネット(YAG:Ce3+)系の蛍光体材料によって構成されるが、これに限るものではない。
蛍光体素子30に入射した光(励起光54)は、その一部が蛍光体素子30において吸収されて蛍光体で波長変換されて放射状に拡散する蛍光93となり、他の一部が蛍光体素子30の表面または内部で反射拡散して放射状に拡散(散乱)する散乱光92となる。そして、蛍光93と散乱光92とで合成された合成光が放射光91として蛍光体素子30から放射する。この場合、蛍光体の蛍光体材料として、波長が420nmから480nmの光(例えば青色光)を吸収して波長500nmから630nmの蛍光を放射する蛍光体材料(例えば黄色蛍光体材料)を用いることで、蛍光93と散乱光92とで合成された白色光を放射光91として蛍光体素子30から放射させることができる。本実施の形態1では、蛍光体素子30は、光学素子20とほぼ平行に配置されており、蛍光体素子30からの放射光91は励起光54の入射方向に沿って前方に放射される。
次に、本開示の実施の形態1における光学素子20の光機能部22の構成および機能について、図1を参照しながら、図3、図4、図5Aおよび図5Bを用いて詳細に説明する。図1において、光学素子20の光機能部22は、励起光54が出射される側、すなわち、蛍光体素子30側に形成されている。
まず、光学素子20の構成について、図3を用いて説明する。図3は、本開示の実施の形態1に係る光源装置1における光学素子20の構成を示す図である。図3(a)は、光学素子20の平面図であり、図1における励起光54の出射側から見たときの光学素子20を示している。図3(b)は、図3(a)のB-B線における断面図であり、図3(c)は、図3(a)のC-C線における断面図である。なお、図3(a)のB-B線で切断した断面は、図1のB-B線で切断した断面と同じである。
図3(a)~(c)に示すように、光学素子20は、光機能部22として、複数の領域に分割された複数のレンズ領域21(21a、21b、21c、21d、21e、21f、21g、・・・)を有する。複数のレンズ領域21の各々は、光機能部22における個々の分割領域(単位領域)である。本実施の形態において、複数のレンズ領域21は、座標軸95(第1軸)の方向と座標軸96(第2軸)の方向とに分割されている。光学素子20は、この複数のレンズ領域21(光機能部22)によって半導体発光素子11から出射する出射光51の光強度分布を変化させている。
複数のレンズ領域21は、それぞれが集光機能を有するレンズ部である。つまり、複数のレンズ領域21の各々は、光学素子20に入射する光を各レンズ領域21によって個々に集束させる機能を有する。
本実施の形態において、各レンズ領域21の平面視形状は、座標軸95(第1方向)の方向の幅である幅W1と座標軸96(第2方向)の方向の幅である幅W2とを持つ四角形である。本実施の形態において、幅W1と幅W2は、同じであるが、異なっていてもよい。つまり、幅W1と幅W2は、W1>W2またはW1<W2となっていてもよい。
なお、本実施の形態において、光学素子20は、複数のレンズ領域21の全部を四角形としたが、これに限るものではなく、複数のレンズ領域21は、四角形以外の他の形状であってもよい。
次に、光学素子20における複数のレンズ領域21(光機能部22)の機能について、図4を用いて説明する。図4は、本開示の実施の形態1に係る光源装置1における光学素子20の機能を説明するための図である。図4では、複数のレンズ領域21の各々から出射される励起光54の集光状態を示している。
なお、図4においては、複数のレンズ領域21の個々の領域のみを図示しており(レンズ形状は図示せず)、複数のレンズ領域21のうち、レンズ領域21a、21d、21eの各々からの励起光54a、54d、54eの集光状態のみを図示している。また、図4において、発光面33は、図1における蛍光体素子30の発光面を示しており、励起光54が入射する側の面、すなわち支持部材31および蛍光体層32の境界面と等しい面であると定義する。
図4に示すように、レンズ領域21dに入射した光は、発光面33の後方に焦点55dを形成するように集光する励起光54dに変換される。また、レンズ領域21eに入射した光は、発光面33の後方に焦点55eを形成するように集光する励起光54eに変換される。励起光54dの焦点55dと励起光54eの焦点55eとは、お互いに位置が異なっている。
本実施の形態において、レンズ領域21aは、発光面33の後方に集光する集光機能に加えて非点収差が与えられている。レンズ領域21aの非点収差は、第1軸である座標軸95の方向および第2軸である座標軸96の方向に対応して与えられている。レンズ領域21aに入射した入射光52(図1参照)は、レンズ領域21aに与えられた非点収差によって、発光面33の後方に最小錯乱円56aを形成するとともに、最小錯乱円56aを前後に挟む第1の焦線57aおよび第2の焦線58aを形成するように集光する励起光54aに変換される。このとき、励起光54aの最小錯乱円56aの位置は、励起光54dの焦点55dおよび励起光54eの焦点55eの位置と異なっている。また、最小錯乱円56aを挟んで、発光面33から遠い方に、第1の焦線57aが形成され、発光面33に近い方に、第2の焦線58aが形成される。
そして、励起光54a、励起光54dおよび励起光54eは、発光面33でお互いに重なるように、最小錯乱円56a、焦点55dおよび焦点55eの位置が設定されている。
なお、図示していないが、他のレンズ領域21(21c、21b、21g、21f、・・・)に入射した光も、発光面33の後方において、個々にお互いに異なる焦点に集光する励起光に変換される。また、励起光の各々が発光面33で重なっている。
このように、複数のレンズ領域21に入射した光が、複数のレンズ領域21の各々によって集光された励起光となって発光面33で重なることで、発光面33に励起光スポット59が形成される。
このとき、焦点と非点収差が与えられたレンズ領域21aから出射される励起光54aにおいて、座標軸95(第1軸)の方向の励起光54aが最も絞れる位置は、第1の焦線57aに対応し、座標軸96(第2軸)の方向の励起光54aが最も絞れる位置は、第2の焦線58aに対応している。すなわち、非点収差を与えることにより、レンズ領域21aに入射した光を、最も絞れる位置が直交2軸方向において異なる励起光54aに変換することができる。発光面33に励起光スポット59を形成する励起光54aについては、励起光スポット59において、座標軸95(第1軸)の方向のビーム幅がD1で座標軸96(第2軸)の方向のビーム幅がD2となるように、レンズ領域21aの焦点と非点収差とが設定されている。
また、レンズ領域21a以外の他のレンズ領域21(21b、21c、21d、21e、21f、21g、・・・)に入射する光は、発光面33に形成される座標軸95(第1軸)の方向のビーム幅がD1よりも小さく、かつ、座標軸96(第2軸)の方向のビーム幅がD2よりも小さくなるように、個々の焦点位置(55d、55e、・・・)に集光する励起光(54d、54e、・・・)に変換される。これらの励起光の各々は、発光面33の励起光スポット59内で重なっている。
次に、光学素子20のレンズ領域21(光機能部22)を通過する入射光52の強度分布が変化する様子を、図5Aおよび図5Bを用いて説明する。図5Aおよび図5Bは、本開示の実施の形態1に係る光源装置1における光学素子20を通過する光の強度分布の変化を示す図である。なお、図5Aは、第1軸方向の強度分布の変化を示しており、図5Bは、第2軸方向の強度分布の変化を示している。
図5Aの(a)は、複数のレンズ領域21に入射した入射光52のうち、座標軸95(第1軸)の方向の光強度分布(52a、52b、52c、52d、52e)を示している。すなわち、図5Aの(a)は、図3の(b)に示される光学素子20のB-B線断面の入射光に相当する光強度分布である。図5Aの(a)に示すように、複数のレンズ領域21(21a、21b、21c、21d、21e)では、入射光52が複数のレンズ領域21ごとに分離している。
図5Aの(b)は、図5Aの(a)に示される光学素子20(光機能部22)による光強度分布が、レンズ領域21(21a、21b、21c、21d、21e)によって、励起光に変換され、発光面33に形成される励起光スポット59の座標軸95(第1軸)の方向の光強度分布(励起光分布)を示している。
座標軸95(第1軸)の方向では、図5Aの(b)に示される光強度分布のうち、入射光52aは、集光点と非点収差が与えられたレンズ領域21aによって励起光に変換されて、発光面33にビーム幅D1の光強度分布(励起光分布)を形成している。
また、図5Aの(b)に示される光強度分布のうち、入射光52a以外の他の入射光(52b、52c、52d、52e)は、発光面33に形成するビーム幅がD1よりも小さいビーム幅(D1’)となるように個々の焦点位置が設定されたレンズ領域(21b、21c、21d、21e)によって励起光に変換されて、発光面33にビーム幅D1’の光強度分布(励起光分布)を形成している。つまり、他の入射光(52b、52c、52d、52e)は、ビーム幅D1の内側で重なっている。
図5Bの(a)は、複数のレンズ領域21に入射した入射光52のうち、座標軸96(第2軸)の方向の光強度分布(52a、52f、52g)を示している。すなわち、図5Bの(a)は、図3に示される光学素子20のC-C断面の入射光に相当する光強度分布である。図5Bの(a)に示すように、複数のレンズ領域21(21a、21f、21g)では、入射光52が複数のレンズ領域21ごとに分離して表示している。なお、図5Bの(a)の光強度分布が図5Aの(a)の光強度分布と異なるのは、前述のように、半導体発光素子11からの放射角特性によるものである。
図5Bの(b)は、図5Bの(a)に示される光学素子20(光機能部22)による光強度分布が、レンズ領域21(21a、21b、21c、21d、21e)によって、励起光に変換され、発光面33に形成される励起光スポット59の座標軸96(第2軸)の方向の光強度分布(励起光分布)を示している。
座標軸96(第2軸)の方向では、図5Bの(b)に示される光強度分布のうち、入射光52aは、集光点と非点収差が与えられたレンズ領域21aによって励起光に変換されて、発光面33にビーム幅D2の光強度分布(励起光分布)を形成する。
また、図5Bの(b)に示される光強度分布のうち、入射光52a以外の他の入射光(52f、52g)は、発光面33に形成するビーム幅がD2よりも小さいビーム幅(D2’)になるように個々の焦点位置が設定されたレンズ領域(21f、21g)によって励起光に変換されて、発光面33にビーム幅D2’の光強度分布(励起光分布)を形成している。つまり、他の入射光(52f、52g)は、ビーム幅D2の内側で重なっている。
このように、入射光52は、光学素子20(光機能部22)の複数のレンズ領域21の各々によって複数の励起光に変換されて、蛍光体素子30の発光面33で互いに重なり合う。蛍光体素子30の発光面33で重なりあった部分の光は平均化されるので、励起光54全体としての光強度分布は均一化される。そして、蛍光体素子30の発光面33には、直交する2軸方向にビーム幅D1とビーム幅D2を有する光強度分布が形成される。なお、図5Aおよび図5Bでは、直交する2軸方向のみに限定して説明したが、実際には、2軸上にない他のレンズ領域からの励起光も重なるように設計されるので、光強度の平均化の効果はより大きくなる。
また、本実施の形態において、半導体発光素子11は、光導波路11aのストライプ幅Wの方向が座標軸96の方向となるように配置されているが、光導波路11aのストライプ幅Wの方向が座標軸95の方向となるように配置しても同様の効果が得られる。
また、本実施の形態において、蛍光体素子30は、光学素子20とほぼ平行に配置されているが、これに限らず、蛍光体素子30は、座標軸95または座標軸96回りに傾斜していても良い。このとき、傾斜方向に延びるビーム幅は、レンズ領域21aに与える焦点と非点収差によって所定のビーム幅にすることができる。
また、本実施の形態では、1つのレンズ領域21aに焦点と非点収差を与えていたが、他のレンズ領域にも焦点と非点収差を与えて、全ての励起光のビーム幅がD1およびビーム幅D2となるように各レンズ領域の励起光が重なるように構成されていてもよい。このようにすれば、ビーム幅D1およびビーム幅D2のより広い範囲で均一化された励起光54の光強度分布が得られる。
さらに、半導体発光素子11にマルチモードレーザを用い、半導体発光素子11からの出射光の放射角の大きい方向を第1軸(座標軸95)の方向にした場合、第1軸の方向はシングルモードに相当し、第1軸に直交する第2軸(座標軸96)の方向はマルチモードに相当するので、第1軸の方向が第2軸の方向よりも絞られやすく、光学素子20の複数のレンズ領域21に与える非点収差によって、第2軸の方向のビーム幅D2よりも第1軸の方向のビーム幅D1を小さくする設計を容易に行うことができる。これにより、細長いビーム形状を有しつつも均一化された光強度分布を有するビーム形状の設計範囲が拡大する。
以上、本実施の形態における光源装置1によれば、半導体発光素子11から出射する光を効率良く均一な光強度分布を有する励起光54に変換することができる。したがって、励起光54による発熱によって蛍光体素子30の発光効率が低下することを低減できる。また、光学ロッド等を用いることなく所望のビーム幅を持つ均一な光強度分布を有する励起光54を形成できるので、小型の光源装置を実現できる。
(実施の形態1の変形例1)
続いて、本開示の実施の形態1の変形例1に係る光源装置1Aについて、図6Aおよび図6Bを用いて説明する。図6Aは、本開示の実施の形態1の変形例1に係る光源装置1Aの構成を示す断面図である。図6Bは、同光源装置1Aにおける光学素子20Aの構成を示す断面図である。なお、本変形例における光源装置1Aは、上記実施の形態1における光源装置1とほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態1における光源装置1と異なる点を中心に説明する。
続いて、本開示の実施の形態1の変形例1に係る光源装置1Aについて、図6Aおよび図6Bを用いて説明する。図6Aは、本開示の実施の形態1の変形例1に係る光源装置1Aの構成を示す断面図である。図6Bは、同光源装置1Aにおける光学素子20Aの構成を示す断面図である。なお、本変形例における光源装置1Aは、上記実施の形態1における光源装置1とほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態1における光源装置1と異なる点を中心に説明する。
図6Aに示すように、本変形例における光源装置1Aは、ホルダ80を有している。ホルダ80には、半導体発光素子11と蛍光体素子30とが保持されている。半導体発光素子11および蛍光体素子30がホルダ80の所定の位置に設置された時に、半導体発光素子11からの出射光51の出射光軸と光学素子20Aの光軸とが一致するようになっているとともに、蛍光体素子30の発光面の所定の位置に励起光54の強度分布が形成されるように設定されている。
光学素子20Aは、図6Bに示すように、周辺に平坦部を持つレンズ形状を有しており、光学素子20Aの光機能部22を構成する面には、複数のレンズ領域21(21a、21b、21c、21d、21e、・・・)が形成されている。また、光学素子20Aの光機能部22を構成する面とは反対の面には、球面形状または非球面形状を有する凸レンズが形成されている。すなわち、本変形例における光学素子20Aは、上記実施の形態1におけるレンズ120と光学素子20の光機能部22とが一体化されたものであり、半導体発光素子11からの出射光の発散角を変換する凸レンズを含み、凸レンズの透過光が複数のレンズ領域21に入射するように構成されている。
このように構成された本変形例における光源装置1Aでも、上記実施の形態1における光源装置1と同様に、半導体発光素子11から出射する光を効率良く均一な光強度分布を有する光に変換することができるので、励起光54による発熱によって蛍光体素子30の発光効率が低下することを低減できる。
また、本変形例における光源装置1Aでも、光学ロッド等を用いることなく所望のビーム幅を持つ均一な光強度分布を有する励起光54を形成できるので、小型の光源装置を実現できる。特に、本変形例では、上記実施の形態1における光源装置1よりも、半導体発光装置10から蛍光体素子30までの距離を短くできるので、光源装置の更なる小型化が可能になる。
また、上記実施の形態1における光源装置1に対して部材の削減もできるので、調整が容易になるとともに、より安価な光源装置1Aを提供できる。なお、光学素子20Aは、通常のガラスレンズ成型法と同様に金型等による一体成型によって作製することができる。なお、光学素子20Aの両面には、誘電体多層膜からなる反射防止膜が形成されているとよい。
(実施の形態1の変形例2)
続いて、本開示の実施の形態の変形例2に係る光源装置1Bについて、図7を用いて説明する。図7は、本開示の実施の形態1の変形例2に係る光源装置1Bの構成を示す図である。なお、本変形例における光源装置1Bは、上記実施の形態1の変形例1における光源装置1Aとほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態1の変形例1における光源装置1Aと異なる点を中心に説明する。
続いて、本開示の実施の形態の変形例2に係る光源装置1Bについて、図7を用いて説明する。図7は、本開示の実施の形態1の変形例2に係る光源装置1Bの構成を示す図である。なお、本変形例における光源装置1Bは、上記実施の形態1の変形例1における光源装置1Aとほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態1の変形例1における光源装置1Aと異なる点を中心に説明する。
本変形例において、光学素子20Aの構成は、実施の形態1の変形例1における光学素子20Aと同様である。図7に示すように、本変形例が上記変形例1と異なる点は、光学素子20Aが、図6Aに示される半導体発光装置10のキャップ12の窓ガラス13の位置に設けられている点である。
このように構成された本変形例における光源装置1Bでも、上記変形例1における光源装置1Aと同様に、半導体発光素子11から出射する光を効率良く均一な光強度分布を有する光に変換することができるので、励起光54による発熱によって蛍光体素子30の発光効率が低下することを低減できる。
また、本変形例における光源装置1Aでも、光学ロッド等を用いることなく所望のビーム幅を持つ均一な光強度分布を有する励起光54を形成できるので、小型の光源装置を実現できる。
さらに、本変形例では、窓ガラス13に代えて光学素子20Aが設けられているので、窓ガラス13での透過ロスを低減することができる。これにより、半導体発光素子11からの出射光51をより効率良く励起光に変換することができる。
(実施の形態2)
次に、本開示の実施の形態2に係る光源装置2について、図8を用いて説明する。図8は、本開示の実施の形態2に係る光源装置2の構成を示す図である。
次に、本開示の実施の形態2に係る光源装置2について、図8を用いて説明する。図8は、本開示の実施の形態2に係る光源装置2の構成を示す図である。
本実施の形態における光源装置2が、図1に示す実施の形態1における光源装置1と異なる点は、蛍光体素子30が、蛍光体素子30の発光面が励起光54の光軸(進行方向)を法線とする面から傾斜するように配置されていることである。具体的には、蛍光体素子30は、発光面が光学素子20の中心光軸に対して傾斜するように配置されている。したがって、励起光54は、所定の入射角を持って蛍光体素子30に入射する。
本実施の形態において、蛍光体素子30は、座標軸95(第1軸)を回転軸として傾斜している。具体的には、蛍光体素子30は、座標軸95を回転軸として回転させたときに、蛍光体素子30の発光面の法線98が、励起光54の進行方向(座標軸97)の反対方向と角度θをなしている。すなわち、励起光54は、蛍光体素子30に入射角θで入射する。蛍光体素子30は、光学素子20により強度分布が変化された光を励起光54として励起されて蛍光を発する。
蛍光体素子30は、支持部材31と、支持部材31に形成された蛍光体層32とによって構成されている。蛍光体層32に含まれる蛍光体の材料は、実施の形態1と同じである。支持部材31は、熱伝導性の高い材料によって構成されているとよく、支持部材31としては、AlNまたはダイヤモンドなどのセラミック材料からなる多結晶基板、SiまたはSiCなどからなる結晶基板、AlまたはCuなどの金属基板等を用いることができる。
さらに、支持部材31の蛍光体層32が形成される面には、AgまたはAg合金(たとえば、AgとCuまたはPtとの合金)が形成されていてもよいし、屈折率の異なる複数の誘電体材料(たとえば、SiO2、TiO2、Al2O3、Ta2O3、Nb2O5などの材料)をスパッタまたは蒸着によって多層に成膜した誘電体反射膜、が形成されていてもよいし。あるいは、支持部材31にAgまたはAg合金を形成し、さらに誘電体膜を多層に形成した複合反射膜が形成されていてもよい。これにより、支持部材31の蛍光体層32が形成された面に到達した励起光54および蛍光体層32で発光した光を効率良く反射して、蛍光体層32から法線98の方向に出射される放射光91(散乱光92、蛍光93)に変換することができる。
本実施の形態における半導体発光装置10は、実施の形態1に用いられた半導体発光装置10(図2)と同じである。半導体発光装置10内に配置された半導体発光素子11は、光導波路11aのストライプ幅Wの方向が座標軸96の方向となるように配置されている。つまり、半導体発光素子11は、光導波路11aの長手方向(ストライプ方向)が座標軸97の方向となるように配置されている。そして、半導体発光素子11は、マルチモードのレーザ光を出力するレーザ素子(マルチモードレーザ)である。
ここで、レーザ素子を収差のない単レンズで集光した場合の課題について説明する。レーザ素子からの出射光は、前述のように直交する2軸方向で放射角が異なっている。このような放射光分布を持つ光を単レンズで集光すると、集光面に形成される光スポットは、放射角の大きい方向の光は良く絞れ、放射角が小さい方向の光は絞れないという現象がある。また、ストライプ幅Wを持つマルチモードレーザの場合には、単レンズの光学倍率をβとすると、ストライプ幅方向の光は、(β×W)以下に絞れず、放射角の大きい方向の光は絞れ過ぎてしまう。このため、マルチモードレーザのレーザ光を励起光として蛍光体素子に入射させる場合には、蛍光体素子の発光面の励起光の光強度分布のビーム幅を自由に設計することができないという課題がある。
さらに、励起光の光軸に対して蛍光体素子を傾けて配置した場合、蛍光体素子の発光面における励起光のビーム幅が、蛍光体素子の傾斜の方向に延びてしまう。このため、蛍光体素子の発光面に対してレーザ光を斜め方向から入射させる場合、励起光となるレーザ光のビーム幅の自由な設計がより困難になる。
本実施の形態では、このような課題をも解決できる光学素子20の構成および設計方法を提供する。以下、本実施の形態における光学素子20について、図8を参照しながら、図9および図10を用いて説明する。
図8に示すように、光学素子20は、半導体発光装置10と蛍光体素子30の間に配置されている。なお、半導体発光装置10と光学素子20の間には、レンズ120が配置されている。レンズ120の機能は実施の形態1と同じである。
本実施の形態における光学素子20の光機能部22は、実施の形態1における光学素子20と同様に、複数のレンズ領域21を有している。ただし、実施の形態1では、光機能部22が蛍光体素子30側に形成されていたが、本実施の形態では、光機能部22は、蛍光体素子30側の面とは反対側の面、すなわち半導体発光装置10側の面に形成されている。このように構成することにより、光学素子20から蛍光体素子30までの距離を小さくできるので、更に光源装置2の小型化が可能になる。
次に、本実施の形態における光学素子20の構成について、図9を用いて説明する。図9は、本開示の実施の形態2に係る光源装置2における光学素子20の構成を示す図である。図9(a)は、光学素子20の平面図であり、半導体発光装置10が配置された側から見たときの光学素子20を示している。図9(b)は、図9(a)のB-B線における断面図である。なお、図9(a)のB-B線で切断した断面は、図8のB-B線で切断した断面に相当する。
図9の(a)および(b)に示すように、光学素子20は、光機能部22として、座標軸95および座標軸96の2方向に分割された複数のレンズ領域21(21a、21b、21c、21d、21e、・・・)を有する。複数のレンズ領域21の各々は、光機能部22における個々の分割領域(単位領域)である。光学素子20は、実施の形態1と同様に、複数のレンズ領域21(光機能部22)によって半導体発光素子11から出射する出射光51の光強度分布を変化させている。
また、複数のレンズ領域21は、実施の形態1と同様に、それぞれが集光機能を有するレンズ部である。つまり、複数のレンズ領域21の各々は、光学素子20に入射する光を各レンズ領域21によって個々の集束させる機能を有する。
複数のレンズ領域21の各々の形状は、座標軸95の方向の幅である幅W1と座標軸96の方向に幅である幅W2を持つ六角形である。なお、幅W1と幅W2とは、同じであってもよいし、異なっていてもよい。
光学素子20の光機能部22が形成された面(すなわち入射光52が入射する面)、および、光学素子20の光機能部22が形成された面とは反対側の面(すなわち励起光54が出射する面)には、反射防止膜が形成されているとよい。反射防止膜は、屈折率の異なる複数の誘電体材料(たとえば、SiO2、TiO2、Al2O3、Ta2O5、Nb2O5などの材料)をスパッタまたは蒸着によって多層に成膜した誘電体反射膜が用いられる。光学素子20に反射防止膜を形成することで、入射光52を効率良く励起光54に変換することができる。
次に、本実施の形態の光学素子20の複数のレンズ領域21(光機能部22)の機能について、図10を用いて説明する。図10は、本開示の実施の形態2に係る光源装置2における光学素子20の機能を説明するための図である。図10では、複数のレンズ領域21の各々から出射される励起光54の集光状態を示している。
なお、図10においては、複数のレンズ領域21の個々の領域のみを図示しており(レンズ形状および複数のレンズ領域21に対向する面は図示せず)、複数のレンズ領域21のうち、レンズ領域21a、21d、21eの各々からの励起光54a、54d、54eの集光状態のみを図示している。また、図10において、発光面33は、図8における蛍光体素子30の発光面を示しており、励起光54が入射する面、すなわち蛍光体層32の蛍光が出射する面であると定義する。
図10に示すように、レンズ領域21a、21d、21eは、発光面33の後方に集光する集光機能に加えて非点収差が与えられている。レンズ領域21a、21d、21eの非点収差は、座標軸95(第1軸)の方向および座標軸96(第2軸)の方向に対応して与えられている。レンズ領域21a、21d、21eに入射した入射光52(図8参照)は、これらのレンズ領域に与えられた非点収差によって、発光面33の後方に、最小錯乱円56a、56d、56eを形成するとともに、各々の最小錯乱円(56a、56d、56e)を前後に挟む第1の焦線57a、57d、57eおよび第2の焦線58a、58d、58eを形成するように集光する励起光54a、54d、54eに変換される。このとき、励起光54a、54d、54eの各々に対応する各最小錯乱円56a、56d、56eの位置は互いに異なっている。また、発光面33から遠い方に、第1の焦線57a、57d、57eが形成され、発光面33に近い方に、第2の焦線58a、58d、58eが形成される。
そして、励起光54a、励起光54dおよび励起光54eは、発光面33でお互いに一部もしくは全部が重なっている。また、第1の焦線57a、57d、57eは、レンズ領域21a、21d、21eに入射する入射光52のうち、座標軸95(第1軸)の方向が最も絞れる位置に対応し、第2の焦線58a、58d、58eは、座標軸96(第2軸)の方向が最も絞れる位置に対応している。
なお、図示していないが、レンズ領域21a、21d、21e以外の他のレンズ領域21(21b、21c、・・・)にも集光機能に加えて非点収差が与えられており、他のレンズ領域21(21b、21c、・・・)の各々に入射した入射光52についても、発光面33の後方において、お互いに異なる位置に最小錯乱円56b、56c、・・・を形成し、発光面33から遠い側に第1の焦線57b、57c、・・・を形成し、発光面33に近い側に第2の焦線58b、58c、・・・を形成する励起光54に変換される。また、励起光54の各々が発光面33で重なっている。
このように、複数のレンズ領域21に入射した光は、複数のレンズ領域21の各々によって集光された励起光となって発光面33で重なる。これにより、発光面33には、座標軸95の方向のビーム幅がD1で、座標軸97’(第3の軸)の方向のビーム幅がD2となる励起光スポット59が形成される。
本実施の形態における光学素子20(光機能部22)では、変換された励起光54が形成する第2の焦線58a、58d、58eの位置が、蛍光体素子30の発光面33、もしくは、極近傍に形成されるように非点収差が与えられている。
このような構成により、レーザ光の放射角の狭い方向(つまり半導体発光素子11のストライプ幅方向)の励起光54は、蛍光体素子30の発光面33で最も絞れ、レーザ光の放射角の広い方向の励起光54は、蛍光体素子30の発光面33から遠い位置で最も絞れる。これにより、蛍光体素子30の発光面33での励起光の光強度分布において、座標軸97’の方向のビーム幅D2を最小化することができ、かつ座標軸95の方向のビーム幅D1がビーム幅D2とほぼ等しくなるように設計することができる。
次に、本実施の形態に係る光源装置2において、蛍光体素子30の発光面33での励起光54の光強度分布の設計例について、図11を用いて説明する。図11は、本開示の実施の形態2に係る光源装置2における蛍光体素子30の発光面33での励起光54の光強度分布の設計例を示す図である。なお、図11では、蛍光体素子30の発光面での励起光54の光強度分布を、平面強度分布表示(上図)と3次元強度分布表示(下図)とで示している。
ここで、励起光54(レーザ光)のビーム幅は、光強度分布のピーク強度に対して13.5%(1/e2)になる強度でスライスした断面の幅と定義する。
また、本実施の形態における設計例では、レーザ素子の波長λ=450nm、ストライプ幅W=0.03mm、蛍光体素子30への励起光54の入射角θ=70°、蛍光体素子30の発光面33に集光した場合の光学倍率β=4.5としている。なお、光学倍率は、図8におけるF1およびF2を用いて、β=F2/F1で求めることができる。本実施の形態において、F1はレンズ120の焦点距離であり、F2は励起光54の光軸に沿った光学素子20の光機能部22から蛍光体素子30の発光面までの光路長である。また、図9に示される光学素子20の複数のレンズ領域21の分割幅はW1=1.2mmとしている。
蛍光体素子30の発光面33上において、ストライプ方向の励起光が最も絞れた場合のビーム幅D(座標軸97’の方向の幅)は、以下の式で求めることができる。
D=W×β/COS(θ)=W×(F2/F1)/COS(θ)
この式に、上記設計例の各設計値を入力すると、D=0.39mmとなる。
図11(a)は、光学素子20の複数のレンズ領域21に非点収差を与えなかった場合の蛍光体素子30の発光面33での励起光54の強度分布を示している。複数のレンズ領域21に非点収差を与えなかった場合、図11(a)に示すように、蛍光面33における励起光スポット59は、D2が大きく、D1が小さい強度分布になっており、均一化される面積も小さい。
これに対して、図11(b)および図11(c)は、光学素子20の複数のレンズ領域21に非点収差を与えた場合の蛍光体素子30の発光面33での励起光54の強度分布を示している。
図11(b)は、さらに、励起光54の第2の焦線58a、58d、58eの位置が蛍光体素子30の発光面33に設定され、かつ、励起光54の第1の焦線57a、57d、57eの位置が調整された場合の強度分布を示している。この場合、図11(b)に示すように、D1=D2=0.40mmとなり、上記設計値Dにほぼ近い値になる。また、図11(a)と比較すると、均一化される面積も十分に大きくなっている。
図11(c)は、励起光54の第2の焦線58a、58d、58eの位置が蛍光体素子30の発光面33よりも僅かに離れた位置に設定され、励起光54の第1の焦線57a、57d、57eの位置が調整された場合の強度分布を示している。この場合、図11(c)に示すように、D1=D2=0.50mmとなり、図11(b)とは異なるビーム幅を持ち、かつ、均一化された光強度分布を有する励起光54を得ることができる。
このように、本実施の形態に係る光源装置2において、設計できる励起光の強度分布の最小ビーム幅は、D=W×β/COS(θ)=W×(F2/F1)/COS(θ)で与えられる。一方で、本実施の形態に係る光源装置2で設計できる励起光の強度分布の最大ビーム幅は、励起光54の第1の焦線を与えることができる範囲と考えることができるので、光学素子20の複数のレンズ領域21の分割幅W1よりも小さい。なお、本設計例では、ビーム幅は、1.2mmより小さい。
したがって、本実施の形態における光源装置2の励起光54の強度分布の設計方法としては、D<D2<W1、かつ、D<D1<W1、を満足するように設計すればよい。
この範囲内では、ビーム幅D1とビーム幅D2とがほぼ等しい励起光54の強度分布を自由に設計することができる。
また、本実施の形態に係る光源装置2において、光学素子20の複数のレンズ領域21の個々の形状は六角形であったが、図11(b)および図11(c)に示すように、励起光54の強度分布は、レンズ領域21の個々の形状には依存せず、ビーム幅D1をなすほぼ平行な2つの底辺とビーム幅D2をなすほぼ平行な2つの底辺とからなる四角錐台状の分布となる。
このような励起光54の強度分布にすることで、蛍光体素子30の発光面33において均一化される範囲が広い設計を容易に行うことができる。
また、本実施の形態に係る光源装置2において、上記設計値は、本実施の形態における設計例の一例を示すものであり、これに限るものではない。
例えば、蛍光体素子30の発光面33における励起光54の強度分布のビーム幅をより小さくしたい場合には、半導体発光素子11のストライプ幅Wを小さくすればよい。あるいは、光学倍率β(=F2/F1)を小さくしたり、励起光54の蛍光体素子30への入射角θを小さくしたりすることで、蛍光体素子30の発光面33における励起光54の強度分布のビーム幅を小さくすることができる。半導体発光素子11のストライプ幅Wは、例えば、0.001mm~0.1mmとすることができ、より好ましくは、0.01mm~0.06mmである。また、蛍光体素子30への入射角θは、例えば0°~85°である。
以上、本実施の形態における光源装置2によれば、半導体発光素子11から出射する光を効率よく均一な光強度分布を有する励起光54に変換することができるとともに、励起光54の強度分布の設計が容易な小型の光源装置を実現できる。
(実施の形態2の変形例1)
続いて、本開示の実施の形態2の変形例1に係る光源装置2Aについて、図12を用いて説明する。図12は、本開示の実施の形態2の変形例1に係る光源装置2Aの構成を示す図である。なお、本変形例における光源装置2Aは、上記実施の形態2における光源装置2とほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態2における光源装置2と異なる点を中心に説明する。
続いて、本開示の実施の形態2の変形例1に係る光源装置2Aについて、図12を用いて説明する。図12は、本開示の実施の形態2の変形例1に係る光源装置2Aの構成を示す図である。なお、本変形例における光源装置2Aは、上記実施の形態2における光源装置2とほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態2における光源装置2と異なる点を中心に説明する。
図12に示すように、本変形例における光源装置2Aでは、光導波路11aのストライプ幅の方向が座標軸95’と直交する方向となるように半導体発光素子11が配置されており、半導体発光素子11からは座標軸99の方向に出射光51が出射する。
また、本変形例における光源装置2Aでは、半導体発光装置10(半導体発光素子11)から出射する出射光51を反射するミラー130が用いられている。ミラー130は、半導体発光装置10の入射光52を反射して蛍光体素子30の方向へ向かうように構成されている。具体的には、ミラー130は、ミラー130の法線が出射光51の光軸(座標軸99)に対して座標軸95’を回転軸として角度θだけ傾くように配置されている。
光学素子20の構成は、実施の形態2と同じである。光学素子20は、入射光52が光学素子20の主面に対してほぼ垂直に入射するようにミラー130と蛍光体素子30との間に配置されている。
光学素子20に入射した入射光52は、上記実施の形態2(図10参照)と同様に、光学素子20の複数のレンズ領域21(21a、21b、21c、21d、21e)で集光されて励起光54(54a、54b、54c、54d、54e)となって蛍光体素子30に照射される。また、本変形例でも、複数のレンズ領域21の個々には、非点収差が与えられており、励起光54の各々は、最小錯乱円56a、56b、56c、56d、56eを形成し、その前後には、第1の焦線57a、57b、57c、57d、57eと第2の焦線58a、58b、58c、58d、58eを形成し、蛍光体素子30の発光面でお互いに一部もしくは全部が重なっている。
複数のレンズ領域21において、座標軸97’の方向の入射光を最も絞れる位置が第2の焦線である。図12に示すように、本変形例において、第2の焦線58a、58b、58c、58d、58eは、ほぼ蛍光体素子30の発光面に設定されており、励起光54の各々の第2の焦線58a、58b、58c、58d、58eは、お互いに一部もしくは全部が重なっている。
光学素子20に入射する入射光52は、座標軸95’の方向には半導体発光素子11からの出射光51の放射角の大きい方が入射し、座標軸97’の方向には半導体発光素子11からの出射光51の放射角の小さい方(すなわちストライプ幅Wの方向のマルチモード光)が入射している。
また、本変形例における光源装置2Aにおいて、蛍光体素子30は、蛍光体素子30の発光面の法線方向が、光源装置2の座標軸99とほぼ一致するように配置されている。なお、本変形例でも上記実施の形態2のように蛍光体素子30を傾斜させて配置してもよいが、本変形例のように、発光面の法線方向との座標軸99とをほぼ一致させて蛍光体素子30を配置することで、基準面に対して垂直方向に放射光91を放射させることができる。このため、光源装置として構成する観点からは、本変形例のように蛍光体素子30を配置する方がよい。
以上、本変形例における光源装置2Aでも、実施の形態2と同様に、半導体発光素子11から出射する光を効率よく均一な光強度分布を有する励起光54に変換することができるとともに、励起光54の強度分布の設計が容易な小型の光源装置を実現できる。
また、本変形例の構成することにより、実施の形態2と比べて、半導体発光装置10と蛍光体素子30との距離を短くできるので、より小型の光源装置が実現できる。
(実施の形態2の変形例2)
続いて、本開示の実施の形態2の変形例2に係る光源装置2Bについて、図13を用いて説明する。図13は、本開示の実施の形態の変形例2に係る光源装置2Bの構成を示す図である。なお、本変形例における光源装置2Bは、上記実施の形態2の変形例1における光源装置2Aとほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態2の変形例2における光源装置2Aと異なる点を中心に説明する。
続いて、本開示の実施の形態2の変形例2に係る光源装置2Bについて、図13を用いて説明する。図13は、本開示の実施の形態の変形例2に係る光源装置2Bの構成を示す図である。なお、本変形例における光源装置2Bは、上記実施の形態2の変形例1における光源装置2Aとほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態2の変形例2における光源装置2Aと異なる点を中心に説明する。
図13に示すように、本変形例における光源装置2Bにおいて、光学素子20Aは、実施の形態1の変形例1(図6A)における光学素子20Aと同じ構成であり、半導体発光装置10とミラー130との間に配置されている。
本変形例における光源装置2Bでは、半導体発光素子11からの出射光51は、光学素子20によって励起光54に変換され、ミラー130で反射されて蛍光体素子30に入射する。これにより、蛍光体素子30の発光面には所定の光強度分布が形成される。
このように、本変形例における光源装置2Bでも、実施の形態2の変形例1と同様に、半導体発光素子11から出射する光を効率よく均一な光強度分布を有する励起光54に変換することができるとともに、励起光54の強度分布の設計が容易な小型の光源装置を実現できる。
さらに、本変形例では、半導体発光装置10から蛍光体素子30までの距離をさらに短くできるので光源装置の更なる小型化が可能になるとともに、部材を削減することができるので調整が容易な光源装置を実現できる。
(実施の形態3)
次に、本開示の実施の形態3に係る光源装置3の構成について、図14~図16を用いて説明する。図14は、本開示の実施の形態3に係る光源装置3の構成を示す図である。図15は、同光源装置3における光学素子20Bの構成を示す図である。図16は、同光源装置3に搭載される蛍光体素子30の構成を示す図である。
次に、本開示の実施の形態3に係る光源装置3の構成について、図14~図16を用いて説明する。図14は、本開示の実施の形態3に係る光源装置3の構成を示す図である。図15は、同光源装置3における光学素子20Bの構成を示す図である。図16は、同光源装置3に搭載される蛍光体素子30の構成を示す図である。
図14に示すように、本実施の形態において、半導体発光素子11は、光導波路11aのストライプ幅の方向が座標軸95’と直交する方向となるように配置されており、半導体発光素子11からは座標軸99の方向に出射光51が出射する。
また、本実施の形態では、光学素子20Bの構成が実施の形態1、2の光学素子20の構成と異なっている。具体的には、実施の形態1、2における光学素子20は、透過型であったのに対して、本実施の形態における光学素子20Bは、反射型である。
また、本実施の形態における光学素子20Bは、実施の形態1、2における光学素子20と同様に、互いに異なる焦点を持ち、少なくとも一つに非点収差が与えられた複数のレンズ領域21を有しているが、本実施の形態における反射型の光学素子20Bでは、そのような複数のレンズ領域21は、光学素子20Bの反射面に形成されている。
また、光学素子20Bは、光学素子20Bの法線が、半導体発光装置10の出射光51の光軸(座標軸99)に対して座標軸95’を回転軸として角度θだけ傾くように配置されている。
光学素子20Bに入射した入射光52は、複数のレンズ領域21(21a、21b、21c、21d、21e)で反射し且つ集光されて励起光54(54a、54b、54c、54d、54e)に変換されて蛍光体素子30に照射される。
光学素子20Bにおける複数のレンズ領域21の各々には、非点収差が与えられている。複数のレンズ領域21の各々に入射した入射光52は、各レンズ領域21に与えられた非点収差によって、最小錯乱円56a、56b、56c、56d、56eを形成するとともに、最小錯乱円56a、56b、56c、56d、56eの各々を前後に挟む第1の焦線57a、57b、57c、57d、57eおよび第2の焦線58a、58b、58c、58d、58eを形成するように集光する励起光54(54a、54b、54c、54d、54e)に変換される。
励起光54a、54b、54c、54d、54eは、蛍光体素子30の発光面でお互いに一部もしくは全部が重なっている。複数のレンズ領域21において、座標軸97’の方向の入射光が最も絞れる位置が第2の焦線であり、本実施の形態では、第2の焦線は、ほぼ蛍光体素子30の発光面に設定されている。励起光54の各々の第2の焦線は、お互いに一部もしくは全部が重なっている。
光学素子20Bに入射する入射光52は、座標軸95’の方向には半導体発光素子11からの出射光51の放射角の大きい方が入射し、座標軸97’の方向には放射角の小さい方(すなわちストライプ幅Wの方向のマルチモード光)が入射している。
このように配置することにより、蛍光体素子30の傾きとマルチモードの影響とで絞ることに限界がある方向のビーム幅を最小化することができ、直交する2軸方向のビーム幅をこれに等しく設定することができる。これにより、縦横のビーム幅がほぼ等しく、かつ均一化された光強度分布が得られる。
ここで、本実施の形態における光源装置3に用いられる光学素子20Bおよび蛍光体素子30のより好ましい形態について、以下説明する。
まず、図15を用いて光学素子20Bの好ましい形態について詳細に説明する。光学素子20Bは、例えば、白板ガラス、BK7、石英ガラスまたはサファイア基板などの透明基板の一方の面に、複数のレンズ領域21を形成することで構成される。
図15に示すように、光学素子20Bに入射する入射光52を効率よく励起光54に変換するために、光学素子20Bの光入射面には反射防止膜23が形成され、光入射面とは反対側の面に形成された複数のレンズ領域21には反射膜24が形成されている。
反射防止膜23および反射膜24は、例えば屈折率の異なる複数の誘電体材料によって構成される。例えば、反射防止膜23および反射膜24は、SiO2、TiO2、Ta2O5、Nb2O5などの材料を、スパッタまたは蒸着によって複数層を積層することで成膜される。また、反射膜24は、光反射率の高い金属、例えばAg、Cu、Au、Alあるいはこれらの合金などによって構成されてもよい。
次に、図16を用いて蛍光体素子30の好ましい形態について詳細に説明する。
蛍光体素子30は、支持部材31と、支持部材31の上に形成された蛍光体層32とを有する。
支持部材31は、例えばシリコンからなるシリコン基板または窒化アルミニウムなどからなるセラミック基板などの基板である。支持部材31の表面には、可視光を反射する光学膜31aが形成される。
光学膜31aは、単層または多層の膜であり、本実施の形態では、第1光学膜31a1と第2光学膜31a2との2層で構成される。第1光学膜31a1は、例えば、Ag、Ag合金、Alなどの金属膜で構成される反射膜である。第2光学膜31a2は、第1光学膜31a1を保護する保護膜であり、例えば、第1光学膜31a1が酸化することを抑制する。第2光学膜31a2は、例えば、SiO2、ZnO、ZrO2、Nb2O5、Al2O3、TiO2、SiN、AlNなどの誘電体材料からなり、これらの単層膜または複数膜である。
蛍光体層32は、複数の蛍光体粒子131(第1粒子)と、複数の蛍光体粒子131を固定するためのバインダ132とを有する。蛍光体粒子131としては、例えば、平均粒子径が1μm~30μmの(YxGd1-x)3(AlyGa1-y)5O12:Ce(0.5≦x≦1、0.5≦y≦1)を用いることができる。また、バインダ132としては、例えば、ポリメチルシルセスキオキサンなどのシルセスキオキサンを主に含む透明材料を用いることができる。
蛍光体層32には、さらに、複数のフィラー133(第2粒子)として、平均粒子径が0.1~10μmで熱伝導率30W/(m・K)のAl2O3の微粒子などが混合されていてもよい。このとき、フィラー133は、蛍光体粒子131に対して、10vol%以上、90vol%以下の比率で混合するとよい。本実施の形態では、フィラー133として、屈折率1.5のシルセスキオキサンと屈折率差が大きい屈折率1.8のAl2O3を用いている。この構成により、蛍光体層32の内部での光散乱性を向上できるとともに、蛍光体層32の熱伝導率を高くすることができる。
さらに、蛍光体層32の内部に、ボイド134M、134Bが形成されているとよい。本実施の形態において、ボイド134Mは、蛍光体層32の厚み方向の中央付近に形成された空隙であり、ボイド134Bは、光学膜31aと蛍光体層32との界面付近に形成された空隙である。
蛍光体層32の内部に形成されたボイド134M、134Bは、光学膜31aに近いほど密度が高くなるように構成される。この構成により、内部に侵入した励起光をより効率よく散乱させて、光源装置3から取り出すことができる。また、ボイド134Bは、誘電体である第2光学膜31a2と接するため、ボイド134Bを形成することで、金属表面によるエネルギーロスを低減しつつ、効果的に励起光および蛍光を散乱させることができる。
上記のようなボイド134M、134Bの配置は、実施の形態1で説明したように、YAG:Ceからなる蛍光体粒子131と、ポリシルセスキオキサンからなるバインダ132とを混合した蛍光体ペーストを用いて波長変換部材を構成することで容易に形成できる。具体的には、蛍光体粒子131と第2粒子とを、ポリシルセスキオキサンを有機溶剤に溶かしたバインダ132に混合した蛍光体ペーストを用いて支持部材31上に成膜し、その後、200℃程度の高温アニールを行うことで、ペースト中の有機溶剤を気化させる。ことのき、波長変換部材の支持部材に近い部分から気化した有機溶剤は保持されやすいため、ボイド134M、134Bを容易に形成することがきる。このような製造方法により、容易に光学膜31aの近傍に高い密度のボイド134M、134Bを形成することができる。
本実施の形態において、上記のように構成された蛍光体素子30は、光源装置1Cにおいて、蛍光体素子30の発光面の法線方向が、光源装置1Cの座標軸99とほぼ一致するように配置される。また、本実施の形態でも、実施の形態2のように蛍光体素子30を傾斜させて配置してもよいが、本実施の形態のように蛍光体素子30を配置することで、基準面に対して垂直方向に放射光91を放射させることができる。このため、光源装置として構成する観点からは、本実施の形態のように蛍光体素子30を配置する方がよい。
なお、光学素子20Bに入射する入射光52の入射角は、光学素子20Bの回転角θによって調整することができる。蛍光体素子30から放射光91をより多く取り出すためには、回転角θは、45度よりも小さい角度であるとよく、30度から40度の間に設定することがより好ましい。
次に、本実施の形態における光源装置3の効果について、図17A~図17Cを用いて説明する。図17A~図17Cは、光源装置3の蛍光体素子30(発光部)から放射される放射光91の特性データを示している。具体的には、図17Aは、放射光91の蛍光体素子30における輝度分布を示している。図17Bは、蛍光体素子30から出射される散乱光92および蛍光93の光強度の出射角依存性を示している。このとき、出射角が0度の方向は、蛍光体素子30の発光面における法線方向を表し、光強度を0度で規格化している。また、図17Cは、散乱光92と蛍光93とで構成される放射光91の色度xの出射角依存性を示している。
図17A~図17Cに示される特性データを測定する際、光源装置3は、図14に示される構成に加えて、半導体発光装置10、レンズ120、光学素子20B、蛍光体素子30を所定の位置に固定するホルダ(不図示)を備えている。このホルダは、レンズ120、光学素子20Bおよび蛍光体素子30を保持する機能を有するとともに、半導体発光装置10および蛍光体素子30で発生する熱を外部へ放熱する機能も有する。
また、半導体発光素子11としては、ピーク波長445nmで光出力が3Wの青色レーザ光を出射するレーザ素子を用いた。蛍光体素子30としては、図16に示される構造の蛍光体素子30を用いた。なお、蛍光体素子30の蛍光体層32は厚さ30μmとし、蛍光体粒子131としては平均粒子径6μmのYAG蛍光体を用い、フィラー133としては平均粒子径3μmのアルミナ粒子を用いた。
図16に示すように、半導体発光素子11から出射した光が光学素子20Bによって成形された励起光54は、約0.5mm四方の領域である励起領域150(励起範囲)に照射される。そして、励起光54は、蛍光体層32の表面もしくは内部で、散乱、吸収される。そして、励起光54の一部は、散乱された青色レーザ光である散乱光92となって蛍光体層32から放射され、励起光54の他の一部は、黄色光である蛍光93となって蛍光体層32から放射される。このとき、蛍光体層32の内部で、励起光54、散乱光92および蛍光93は、横方向に、つまり蛍光体層32の内部を伝播しながら散乱されるため、励起領域150よりも広い領域である発光領域151(発光範囲)から放射されることになる。
このとき、本実施の形態のように、バインダ132と蛍光体粒子131の屈折率差、および、バインダ132とフィラー133の屈折率差が大きくなるように蛍光体層32を構成することで、光が散乱しやすくなり、蛍光体層32の内部で光が伝播することを抑制することができる。この結果、励起領域150よりも微小に広い発光領域151から放射光91を放射させることができる。本実施の形態においては、さらに蛍光体層32にボイド134B、134Mが形成されているので、光の散乱が増強する。この結果、さらに励起領域150の大きさと発光領域151の大きさとを近づけることができる。
図17Aに示すように、蛍光体素子30における輝度分布については、200cd/mm2以上の発光領域が、幅0.5mm程度となっており、ほぼ励起光と同等の発光領域を実現している。そして、ピーク付近の輝度は800cd/mm2以上であり、かつ、トップが平坦な均一な領域が実現できている。
また、図17Bでは、励起光54が入射方向に対して直交する方向(図14においては座標軸95’で示す方向)における散乱光92と蛍光93との出射角依存性を示している。図17Bに示すように、本実施の形態における蛍光体素子30を用いることで、散乱光92が十分散乱されて放射されていることが分かる。特に、蛍光体素子30の内部で十分散乱されているため、角度が大きい領域で、cosθで表されるlambertian分布よりも光強度が大きくなるような分布が実現できている。このような分布により、散乱光92と蛍光93とで構成される放射光91の色度の角度分布を、出射角度が大きくなるにつれて色度xが低くなるように設定できる。つまり、放射光の出射角度が大きく相関色温度が高くなるような分布を実現できる。このような分布の光源を用いることで、角度が0度付近、つまり照射中心の色温度は視感度の高い色度としながらも、全光束の相関色温度を高くすることができる投光装置を実現できる。
以上、本実施の形態における光源装置3によれば、複数のレンズ領域21の各々から出射する各励起光は、互いに異なる焦点を有するとともに非点収差が与えられており、かつ、蛍光体素子30の発光面で重なるように設定されている。これにより、光学素子20Bから出射する励起光54全体としての光強度分布は均一化される。
したがって、本実施の形態における光源装置3でも、半導体発光素子11から出射する光を効率よく均一な光強度分布を有する励起光54に変換することができる。
さらに、本実施の形態における光源装置3においては、蛍光体素子30の蛍光体層32の内部での光の散乱が大きい構成となっているため、光学素子20Bで変換した励起光54の光強度分布に対応した発光強度分布を有する光源装置を実現することができる。したがって、蛍光体素子30において均一な光強度分布を有する放射光を放射する光源装置を実現することができる。
さらに、本実施の形態では、半導体発光素子11から出射する光を光学素子20Bで反射させて励起光54を形成している。これにより、半導体発光装置10と蛍光体素子30との距離をさらに短くすることができるので、光源装置のさらなる小型化が可能になる。
なお、本実施の形態において、蛍光体素子30における蛍光体層32のバインダ132としてポリメチルシルセスキオキサンを用いたが、この限りではない。例えば、バインダ132としては、SiO2、Al2O3、ZnO、Ta2O5、Nb2O5、TiO2、AlN、BN、BaOなどの無機物を主に構成する材料で構成することで、より高い信頼性を有する蛍光体素子30を実現することができる。また、蛍光体層32に含まれるフィラー133(第2粒子)は、Al2O3に限らず、SiO2、TiO2などの微粒子を選択してもよい。特に、フィラー133として、熱伝導率の高い、窒化ホウ素またはダイヤモンドの微粒子を用いることで、蛍光体層32の光散乱性を強めるとともに、蛍光体粒子131で発生する熱を効率よく支持部材31に伝熱させることができる。
(実施の形態3の変形例1)
続いて、本開示の実施の形態3の変形例1に係る光源装置について、図18および図19を用いて説明する。図18は、本開示の実施の形態3の変形例1に係る光源装置における光学素子20Cの構成と配置を示す図である。図19は、同光学素子20Cの構成を示す図である。図19(a)は、光学素子20Cの平面図であり、互いに直交する座標軸95’と座標軸97’とを含み、複数のレンズ領域21が形成された側から見たときの光学素子20Cを示している。図19(b)は、図19(a)のB-B線における断面図である。
続いて、本開示の実施の形態3の変形例1に係る光源装置について、図18および図19を用いて説明する。図18は、本開示の実施の形態3の変形例1に係る光源装置における光学素子20Cの構成と配置を示す図である。図19は、同光学素子20Cの構成を示す図である。図19(a)は、光学素子20Cの平面図であり、互いに直交する座標軸95’と座標軸97’とを含み、複数のレンズ領域21が形成された側から見たときの光学素子20Cを示している。図19(b)は、図19(a)のB-B線における断面図である。
本変形例における光源装置では、図14および図15に示される実施の形態3における光源装置3において、光学素子20Bに代えて、図18に示されるように配置された光学素子20Cを用いている。
図18および図19に示すように、本変形例における光学素子20Cでは、光機能部22がフレネル化されたレンズミラーで構成されている。これにより、複数のレンズ領域21における分割境界の段差26は、実施の形態3の光学素子20B(図15)の分割領域の分割境界の段差に対して非常に小さくなっている。すなわち、光学素子20Cでは、フレネル化されたレンズミラーの段差程度になっている。
本変形例のように、光学素子20Cを傾斜させて配置した場合、半導体発光装置から出射した出射光51して光学素子20Cに入射する入射光52は、複数のレンズ領域21に斜めに入射した後に斜めに反射して励起光54に変換される。このとき、複数のレンズ領域21の分割境界の段差が大きい場合には、段差が障壁になって励起光に変換されない光が発生してしまう場合があるが、本変形例にように、フレネル化することにより段差の高さをフレネル化されたレンズ(ミラー)の高さ程度にまで低くすることができるので、入射光52を効率良く励起光54に変換することができる。
また、本変形例のように、光機能部22をフレネル化する場合、光路長差が波長の整数倍になるように設計するので、波長の整数倍で段差の高さを選択することができる。例えば、段差の高さは、10μm以下であるとよく、より好ましくは3μm以下である。
このように、フレネル化した光機能部22を有する光学素子20Cを用いることで、光学素子20Cを傾斜させて配置した場合であっても、入射光52を効率良く励起光54に変換することができる。
ここで、図19を用いて、光学素子20Cのより詳細な構成とその製造方法について説明する。
図19(a)に示すように、光学素子20Cの平面視形状は、全体として長方形である。具体的には、光学素子20Cは、座標軸95’の方向が長く、座標軸97’の方向が短い矩形状である。光学素子20Cの平面視形状を矩形状にすることで、ウエハから光学素子20Cを作製する際にウエハにおける光学素子20Cの取れ数を多くすることができる。つまり、量産性に優れている。
また、複数のレンズ領域21の各々の外形も長方形であり、座標軸95’の方向が長く、座標軸97’の方向が短くなっている。これは、図14に示される実施の形態3において、半導体発光装置10の半導体発光素子11の配置方向と関係しており、半導体発光素子11からの入射光52の放射角特性によるものである。すなわち、半導体発光素子11からの入射光52の放射角は、座標軸95’の方向が大きく、座標軸97’の方向が小さいことから、複数のレンズ領域21の外形形状を長方形にすることで、光学素子20Cのサイズを小さくしながらも、入射光52を効率良く励起光54に変換できるという効果が得られる。
本変形例において、光学素子20Cの外形サイズは、(短手方向の幅)/(長手方向の幅)が0.7以下であるとよい。この構成により、蛍光体素子30からの放射光91の放射角度を確保しつつも、半導体発光装置10と蛍光体素子30との距離を短くできるので、より小型の光源装置が実現できる。
なお、複数のレンズ領域21の外形は、長方形に限らず、半導体発光素子11からの入射光52の放射角特性に応じて、入射光52を効率よく取り込める形状であればよい。例えば、複数のレンズ領域21の外形は、長軸と短軸を有する長楕円形状であってもよい。
次に、複数のレンズ領域21の詳細について説明する。複数のレンズ領域21は、フレネルレンズミラーになっており、複数のレンズ領域21の各々は、座標軸95’の方向の幅がW1で、座標軸96’の方向の幅がW2の六角形である。また、本変形例において、W1>W2となっている。
蛍光体素子30の発光面での強度分布をより均一化するとの観点からは、光学素子20Cに入射する入射光52をより多く分割して励起光54に変換して、蛍光体素子30の発光面でより多くの励起光54が重なるように設計することが有効ではあるが、分割数の増加に伴って分割の境界が多くなりすぎると、分割の境界で励起光54に変換されない割合が増えて効率が低下する場合がある。また、蛍光体素子30の発光面での励起光54の強度分布のビーム幅を設計するとの観点からは、第1分割幅である幅W1は励起光54の強度分布において所望のビーム幅よりも大きくなければならない。また、第2分割幅である幅W2の方向(座標軸97’の方向)の入射光52(出射光51)の放射角が狭いという制約条件などがあり、W1>W2にすることが好ましい。そして、好ましい分割幅の比(W2/W1)は、0.3以上0.6以下がよく、0.4以上0.5以下であることがより好ましい。
このような分割幅の比にすることで、入射光52を効率よく励起光54に変換することができ、蛍光体素子30の発光面で重なる励起光54の数も十分に確保できて均一化された強度分布が得られ、蛍光体素子30の発光面の励起光54の強度分布のビーム幅の設計も容易になる。
なお、本変形例の複数のレンズ領域21の各々の形状(分割形状)は、六角形としたが、これに限らず、四角形でもよい。各レンズ領域21を四角形とする場合も、上記の分割幅の比の条件を満足するとよい。
次に、光学素子20Cの製造方法について説明する。
光学素子20Cは、主に、以下に示す工程(1)~(9)によって製造される。
工程(1):所定のガラス材料のウエハ基板を準備する工程
工程(2):複数のレンズ領域の情報を含むグレートーンマスクを準備する工程
工程(3):ウエハ基板に感光材料であるレジストを所定の厚みに塗布し熱処理をする工程
工程(4):グレートーンマスクの情報をレジストに露光する工程
工程(5):露光されたレジストを現像液により現像する工程
工程(6):エッチングによりレジスト形状をウエハ基板に転写する工程
工程(7):ウエハ基板の片面に反射防止膜23を形成する工程
工程(8):ウエハ基板の片面に反射膜24を形成する工程
工程(9):ウエハ基板から所定のサイズに切り出す工程
工程(2):複数のレンズ領域の情報を含むグレートーンマスクを準備する工程
工程(3):ウエハ基板に感光材料であるレジストを所定の厚みに塗布し熱処理をする工程
工程(4):グレートーンマスクの情報をレジストに露光する工程
工程(5):露光されたレジストを現像液により現像する工程
工程(6):エッチングによりレジスト形状をウエハ基板に転写する工程
工程(7):ウエハ基板の片面に反射防止膜23を形成する工程
工程(8):ウエハ基板の片面に反射膜24を形成する工程
工程(9):ウエハ基板から所定のサイズに切り出す工程
上記工程(1)において、ウエハ基板のガラス材料は、光学特性およびエッチング性を考慮して選択される。具体的には、ガラスの時間当たりのエッチング量は、レジストの時間当たりのエッチング量と余り変わらないことが望ましく、時間当たりのレジストのエッチング量に対するガラス材料のエッチング量の比は0.7以上がよい。また、ウエハ基板のサイズは、1枚のウエハ基板から製造される光学素子20Cの数量に影響するので、できるだけ大きい方がよく、φ3インチ以上のサイズであるとよい。
上記工程(2)におけるグレートーンマスクは、上記工程(4)において、グレートーンマスクに光を照射し、グレートーンマスクを透過した光がレジストを露光し、上記工程(5)において、現像された後にレジストの残膜形状が得られ、上記工程(6)において、エッチングによりレジストの残膜形状がウエハ基板に転写された後に、設計された複数のレンズ領域21の形状になるように、透過率が多段階に変化するように構成されている。すなわち、複数のレンズ領域21において、高さが低い点、すなわちエッチングされる量が多い点は、レジストの残膜量が小さく、グレートーンマスクの透過率が高くなっており、逆に、高さが高い点、すなわちエッチングされる量が少ない点は、レジストの残膜量が大きく、グレートーンマスクの透過率が低くなっている。
なお、上記は、ポジ型レジストを使用した場合であり、ネガ型レジストを使用する場合には、透過率は上記と逆になり、エッチングされる量が多い点は、グレートーンマスクの透過率が低くなる。
また、グレートーンマスクの面内方向のサイズは、実際の複数のレンズ領域21のサイズよりも大きく、具体的には、5倍または10倍の大きさになるように、グレートーンマスクの透過率が与えられている。これは、上記工程(4)において、1/5縮小光学系または1/10縮小光学系を備えたステッパ装置を使用するためである。光源の波長によってg線やi線などのステッパ装置が使用される。縮小光学系で転写されることにより、透過率の情報をより精度よく転写することができるので、複数のレンズ領域を精度よく形成することができる。
また、レジストを塗布したウエハ基板上に、光学素子が所定の配置になるようにウエハ基板を移動しながら露光するので、ウエハ基板内に多数の光学素子を配置することができ、上記工程(5)~(8)において、多数の光学素子を同時に形成することができる。
なお、グレートーンマスクは、光学素子20Cを製造する際に、1回準備すればよく、連続して使用することができる。
上記工程(5)において、露光されたレジストを現像する場合、露光された部分に新しい現像液が送り込まれて、レジストを含む古い現像液がスムーズに排出され、露光された部分が均一に現像されることが重要である。図19(b)において、光学素子20Cの複数のレンズ領域21に接する周辺部には、複数のレンズ領域21よりも浅い段差26が形成されている。レジストが露光された状態でもこの段差26は存在するので、現像の過程において、この段差26を通して現像液をスムーズに流すために、複数のレンズ領域21になるレジスト領域全体に渡って均一に現像が行われ、複数のレンズ領域21になるレジスト形状を精度良く形成することができる。なお、段差26の幅は0.05mm~0.2mmであることが好ましいが、これに限らない。また、段差26には、傾斜があってもよく、多段階になっていてもよい。
上記工程(6)において、現像されたレジスト形状は、ドライエッチングによってガラス基板に転写される。ドライエッチングされた後の複数のレンズ領域21の表面粗さは、入射光52(出射光51)を効率よく励起光54に変換する観点で重要である。表面粗さは、二乗平均粗さ(Rq)で表すことができ、Rq<20nm(rms)であることが好ましく、Rq<10nm(rms)であることがより好ましい。ドライエッチング後の表面粗さは、ガラス材料に含まれる添加物または不純物によって生じる場合があり、ガラス材料として添加物や不純物の少ない石英ガラスやサファイヤガラスなどを用いるのが好ましい。
上記工程(7)および工程(8)は、光学素子20Cに入射する入射光52を効率よく励起光54に変換するための光学膜を形成する工程である。光学膜の形成は、スパッタ装置や蒸着装置が用いられ、屈折率の異なる複数の誘電体材料(たとえば、SiO2、TiO2、Al2O3、Ta2O5、Nb2O5などの材料)を交互に多層に成膜して形成される。この工程において、反射防止膜23と反射膜24とが形成される。反射膜24の形成においては、反射率の高い金属材料(たとえば、Au、Ag、Cu、Alなどの材料やAgの合金材料)を成膜してもよい。
また、工程(7)と工程(8)との順番は逆でもよく、両面同時に成膜できる装置があればなおよい。
上記工程(9)は、ウエハ基板に形成された多数の複数のレンズ領域21を所定のサイズに切り出す工程であり、ダイサー装置などによって切断することで、光学素子20Cが得られる。
以上の工程によって製造される光学素子20Cは、量産性が高く、形状精度が高いので、入射光52を効率よく励起光54に変換することができ、より小型の光源装置を実現できる。
なお、本変形例は、実施の形態3についての適用例であるが、これに限らず、実施の形態1、2における光学素子20、20A、20Bにも適用することができる。この場合、上記工程(8)は、他方の面に反射防止膜を形成する工程になる。
(実施の形態3の変形例2)
続いて、本開示の実施の形態3の変形例2に係る光源装置について、図20を用いて説明する。図20は、本開示の実施の形態3の変形例2に係る光源装置における光学素子20Dの構成を示す図である。本変形例における光源装置で用いられる光学素子20Dは、実施の形態3の変形例1で用いられる光学素子20Cとほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態3の変形例1における光学素子20Cと異なる点を中心に説明する。
続いて、本開示の実施の形態3の変形例2に係る光源装置について、図20を用いて説明する。図20は、本開示の実施の形態3の変形例2に係る光源装置における光学素子20Dの構成を示す図である。本変形例における光源装置で用いられる光学素子20Dは、実施の形態3の変形例1で用いられる光学素子20Cとほとんど同じ構成であるため、以下、本変形例では、実施の形態3の変形例1における光学素子20Cと異なる点を中心に説明する。
図20に示すように、本変形例における光学素子20Dは、ガラス基板20aとガラス基板20aに成膜された誘電体膜20bとからなる。本変形例において、光学素子20Dの複数のレンズ領域21は、誘電体膜20bに形成されている。
また、複数のレンズ領域21の周辺には段差26が形成されており、更に複数のレンズ領域21の周辺部の少なくとも段差26と誘電体膜20bの表面には、吸収膜25がパターン化されて形成されている。
図19に示される実施の形態3の変形例1における光学素子20Cでは、エッチング後の表面粗さを小さくするために、添加物や不純物の少ないガラス材料を用いるとよいが、添加物や不純物の少ないガラス材料は、一般的なガラス材料、例えば白板ガラスやBK7などに対して高価である。
そこで、本変形例における光学素子20Dのように構成することで、誘電体膜20bは不純物を含まないので、添加物や不純物を含まないガラス基板と同等の表面粗さが得られる。そして、ガラス基板20aは、一般的なガラス材料、例えば白板ガラスやBK7などの安価なガラス基板を用いることができる。なお、誘電体膜20bとしては、SiO2が最適であるが、他の誘電体材料であっても構わない。
本変形例における光学素子20Dは、上記実施の形態3の変形例1で説明した光学素子20Cの製造方法において、工程(1)でウエハ基板に誘電体膜を蒸着することで製造することができる。なお、その後は、上記実施の形態3の変形例1における光学素子20Cで説明した工程(2)~(9)と同じである。
ここで、光学素子20Dのサイズを小さくすることは、ウエハ基板から取れる光学素子20Dの数量(取れ数)を増やすことができるので、製造コストの低減に効果がある。また、光学素子20Dのサイズを小さくすることは、蛍光体素子30からの放射光91の放射角度を確保しつつ、半導体発光装置10を蛍光体素子30に近づけることができるので、光源装置の小型化にも効果がある。しかしながら、光学素子20Dのサイズを小さくしていって複数のレンズ領域21のサイズが小さくなると、半導体発光素子11から出射して光学素子20Dに入射する入射光52の周辺光(特に、放射角の広い方向の入射光52で、光学素子20Dの長手方向に入射する光)が複数のレンズ領域21の外側に入射してしまい、本来の励起光の光路とは異なる光路で出射してしまうおそれがある。
これに対して、本変形例のように、複数のレンズ領域21の周辺部の少なくとも段差26と誘電体膜20bの表面に、半導体発光素子11から出射して光学素子20Dに入射する入射光52の周辺光を吸収する吸収膜25を所定のパターンで形成することにより、複数のレンズ領域21からはみ出して入射した入射光52は、吸収膜25で吸収されるため、光学素子20Dから出射されないようにすることができる。これにより、入射光52の周辺部の光で励起光54に変換されたとしても効率にはほとんど寄与しない周辺光を光学素子20Dの内部で遮断することができ、励起光54への変換効率を確保しつつ光学素子20Dのサイズを縮小することが可能になる。なお、吸収膜25は、複数のレンズ領域21の一部に重なっていてもよい。
また、吸収膜25は、SiO2、Si、Tiなどをスパッタ装置によって多層に成膜することで形成することができる。この場合、吸収膜25のパターン化は、吸収膜25が必要でない部分にレジストパターンを形成し、その上から吸収膜25を成膜した後、レジスト部分を除去することで形成することができる。あるいは、吸収膜25が必要な領域に開口をもつメタルマスクを用いて、開口部のみに吸収膜25を成膜することで、パターン化された吸収膜25を形成することができる。吸収膜25を形成する工程は、実施の形態3の変形例1で説明した製造方法において、例えば工程(8)の前に行うことができる。
なお、吸収膜25は、本変形例に限らず、実施の形態3の変形例1にも適用することができる。また、本変形例は、実施の形態3への適用例であるが、これに限らず、実施の形態1、2における光学素子20、20A、20Bに適用することもできる。この場合、上記工程(8)は、他方の面に反射防止膜を形成する工程になる。
続いて、本開示の実施の形態1の変形例3に係る光源装置1Eについて、図21Aおよび図21Bを用いて説明する。図21Aは、本開示の実施の形態1の変形例3に係る光源装置1Eの構成を示す図である。図21Bは、同光源装置1Eにおける光学素子20Eの構成を示す図であり、(a)は、光出射側(蛍光体素子30側)から見たときの平面図、(b)は、(a)および(c)のB-B線における断面図、(c)は、光入射側(半導体発光素子11側)から見たときの平面図である。
本変形例における光源装置1Eは、実施の形態1の変形例1(図6A、図6B)の光学素子20Aを光学素子20Eに置き換えたものである。それ以外の構成は、実施の形態1の変形例1と同じであるので、以下、光学素子20Eの構成を中心に説明する。
図21Aおよび図21Bに示される光学素子20Eは、図6Aおよび図6Bに示される光学素子20Aにおいて、光学素子20Aの光機能部22を構成する面に形成された複数のレンズ領域21をフレネルレンズとなるようにフレネル化するとともに、光機能部22とは反対の面に設けられた球面形状または非球面形状を有する凸レンズもフレネルレンズとなるように形成したものである。つまり、光学素子20Eの光入射面側も光出射側もフレネルレンズが形成されている。光学素子20Eのフレネルレンズは、実施の形態3の変形例1および実施の形態3の変形例2で説明した方法と同様の方法で形成することができる。
図21Bに示すように、光学素子20Eにおいても、光出射側の複数のレンズ領域21に接する周辺部および光入射側の凸レンズに接する周辺部には、段差26が形成されている。
また、複数のレンズ領域21および凸レンズの表面には、反射防止膜23が形成されている。つまり、光学素子20Eの光出射側及び光入射側には、いずれも反射防止膜23が形成されている。
さらに、図21Bの(a)に示すように、光学素子20Eの光機能部22を有する面(光出射側の面)には、開口制限膜27が形成されている。開口制限膜27は、実施の形態3の変形例2における吸収膜25と同じ作用を有する。開口制限膜27は、光吸収膜で形成されていてもよいし、TiまたはCrなどの金属膜等からなる光反射膜で形成されていてもよい。
このように構成された光学素子20Eは、形状精度が高いので入射光52を効率良く励起光54に変換することができる。また、量産性も高く、光学素子20Eのサイズを小さくすることができるので、より小型の光源装置1Eを実現できる。
なお、本変形例における光源装置1Eでは、凸レンズが光入射側(半導体発光素子11)に位置するように光学素子20Eが配置されていたが、これに限らない。具体的には、凸レンズが光出射側(蛍光体素子30側)に位置するように光学素子20Eが配置されていてもよい。また、本変形例において、開口制限膜27は、光出射側の面に形成したが、これに限らず、光入射側の面に形成してもよいし、光出射側の面及び光入射側の面の両面に形成してもよい。また、本変形例における光学素子20Eは、実施の形態1の変形例2に係る光源装置1B(図7)および実施の形態2の変形例2(図13)における光学素子20Aと置き換えることもできる。
(実施の形態4)
次に、本開示の実施の形態4に係る光源装置4について、図22A、図22B、図23および図24を用いて説明する。
次に、本開示の実施の形態4に係る光源装置4について、図22A、図22B、図23および図24を用いて説明する。
図22Aおよび図22Bは、本開示の実施の形態4に係る光源装置4の構成を示す図である。図22Aは、座標軸96(第2軸)と励起光の進行方向である座標軸97とを含む平面図であり、図22Bは、座標軸95(第1軸)と励起光の進行方向である座標軸97とを含む平面図である。また、図23は、同光源装置4における半導体発光装置10Aの構成を示す図である。図24は、同光源装置4の蛍光体素子30の発光面での光強度分布の設計例を示す図である。
本実施の形態に係る光源装置4に用いられる半導体発光装置10は、図22A、図22Bおよび図23に示すように、ストライプ幅Waの第1光導波路11a1とストライプ幅Wbの第2光導波路11a2の2つの導波路(リッジ部)が形成された半導体発光素子11Aを有する。第1光導波路11a1と第2光導波路11a2は、中心間の距離がPになるように形成されている。
半導体発光素子11Aのストライプ幅Wa、Wbは、例えば、0.001mm~0.1mmであり、0.01mm~0.06mmであることがより好ましい。また、第1光導波路11a1と第2光導波路11a2の中心間の距離Pは、P=(Wa+Wb)/2+Sと定義したときに、Sは、5μm~300μmであるとよく、10μm~50μmであることがより好ましい。
なお、図22Aおよび図22Bにおいては、複数のレンズ領域21のうちレンズ領域21aに入射する第1光導波路11a1からの出射光51aおよび第2光導波路11a2からの出射光51bについてのみ図示している。
図22Aおよび図22Bにおいて、光源装置4に用いられる蛍光体素子30は、実施の形態1で用いられている蛍光体素子30と同じである。
また、光源装置4に用いられる光学素子20は、実施の形態2で用いられている光学素子20と同じ構成であるが、複数のレンズ領域21は、変換された励起光54の集光位置が蛍光体素子30の前方で各々異なるように設定されており、更に複数のレンズ領域21には非点収差が与えられている。
レンズ領域21aに入射する光のうち、第1光導波路11a1からの出射光51aは、光学素子20によって、蛍光体素子30の発光面の前方に最小錯乱円(図示せず)を形成するとともに、蛍光体素子30の発光面から遠い側に第1の焦線57aaを形成し、かつ、蛍光体素子30の発光面に近い側に第2の焦線58aaを形成する励起光54aaに変換される。
また、レンズ領域21aに入射する光のうち、第2光導波路11a2からの出射光51bは、光学素子20によって、蛍光体素子30の前方に最小錯乱円(図示せず)を形成するとともに、蛍光体素子30の発光面から遠い側に第1の焦線57abを形成し、かつ、蛍光体素子30の発光面に近い側に第2の焦線58abを形成する励起光54abに変換される。
光学素子20のレンズ領域21a以外のレンズ領域に入射する光のうち、第1光導波路11a1からの出射光51aについては、蛍光体素子30の発光面の前方にお互いに異なる焦点をもち、蛍光体素子30の発光面から遠い側に第1の焦線を形成し、蛍光体素子30の発光面に近い側に第2の焦線を形成する励起光54に変換され、レンズ領域21aで変換された励起光54aaとともに蛍光体素子30の発光面で重なっている。
また、光学素子20のレンズ領域21a以外のレンズ領域に入射する光のうち、第2光導波路11a2からの出射光51bについても、蛍光体素子30の発光面の前方にお互いに異なる焦点をもち、蛍光体素子30の発光面から遠い側に第1の焦線を形成し、蛍光体素子30の発光面に近い側に第2の焦線を形成する励起光54に変換され、レンズ領域21aで変換された励起光54abとともに蛍光体素子30の発光面で重なっている。
更に、第1光導波路11a1からの出射光51aが光学素子20に入射して変換された励起光と第2光導波路11a2からの出射光51bが光学素子20に入射して変換された励起光とは、蛍光体素子30の発光面で少なくとも一部が重なっている。
また、励起光の蛍光体素子30の発光面でのビーム幅D1は、光学素子20の複数のレンズ領域21の第1方向の分割幅である幅W1よりも大きい。同様に、励起光の蛍光体素子30の発光面でのビーム幅D2は、光学素子20の複数のレンズ領域21の第2方向の分割幅であるW2よりも大きい。
このように設計された光源装置4において、蛍光体素子30の発光面での光強度分布の設計例を、図24を用いて説明する。なお、図24の(a)~(c)は、いずれも放射光側から見た図であり、蛍光体素子30の発光面での光強度分布を、平面強度分布表示(上図)と3次元強度分布表示(下図)で示している。
図24(a)は、第1光導波路11a1からの出射光51aが光学素子20で変換された励起光の蛍光体素子30の発光面での光強度分布を示している。図24(b)は、第2光導波路11a2からの出射光51bが光学素子20で変換された励起光の蛍光体素子30の発光面での光強度分布を示している。図24(c)は、第1光導波路11a1の出射光51aおよび第2光導波路11a2の出射光51bの両方が光学素子20で変換された励起光の蛍光体素子30の発光面での光強度分布を示している。
図24(a)に示すように、第1光導波路11a1から出射されて光学素子20で変換された励起光についての蛍光体素子30の発光面での光強度分布は、ビーム幅D1a(座標軸95)とビーム幅D2a(座標軸96)を持ち、各々均一化されている。
同様に、図24(b)に示すように、第2光導波路11a2の各々から出射されて光学素子20で変換された励起光についての蛍光体素子30の発光面での光強度分布は、ビーム幅D1b(座標軸95)とビーム幅D2b(座標軸96)を持ち、各々均一化されている。
また、図24(c)に示すように、第1光導波路11a1および第2光導波路11a2の各々から出射されて光学素子20で変換された励起光は蛍光体素子30の発光面で一部が重なるように設計されており、全体として、幅D1(座標軸95)と幅D2(座標軸96)を持ち、均一化された1つの光強度分布になっている。ここで、ビーム幅D1は、ビーム幅D1aとビーム幅D1bとにほぼ等しく、また、ビーム幅D2は、ビーム幅D2aとビーム幅D2bの和にほぼ等しいか僅かに小さく、全体的に均一化されてビーム幅D1とビーム幅D2とがほぼ等しい1つの励起光の強度分布で設計できる。
以上のように、本実施の形態の光源装置4では、複数のエミッタをもつ半導体発光素子11Aを用いたとしても、半導体発光素子11Aから出射する光を効率良く1つの均一化された光強度分布を有する励起光54に変換することができ、小型の光源装置が実現できる。
なお、本実施の形態における設計例では、光学素子20の複数のレンズ領域21の各々の形状(分割形状)は、六角形であるため、変換された励起光の蛍光体素子30の発光面での強度分布も六角形になっているが、複数のレンズ領域21の形状を四角形にすれば、四角形の強度分布を得ることができる。
また、本実施の形態における光源装置4において、光学素子20の複数のレンズ領域21の各々の焦点位置を蛍光体素子30よりも前方に設定することにより、複数のレンズ領域21の分割幅よりも大きなビーム幅に設計することができる。これにより、励起光の強度分布をより広い範囲で設計できる。
また、本実施の形態における光源装置4では、2つの光導波路をもつ半導体発光素子11Aを用いていたが、これに限らず、3つ以上の光導波路を持つ半導体発光素子11を用いてもよい。この場合にも、隣り合う2つの光導波路から出射されて光学素子20で変換された各々の励起光の蛍光体素子30の発光面での強度分布の一部がお互いに重なるように設計することで、均一化された1つの光強度分布を有する励起光に変換することができ、小型の光源装置が実現できる。
また、本実施の形態において、蛍光体素子30は、実施の形態1と同様の配置にしたが、実施の形態2、3のように配置しても同様の効果を奏する光源装置が実現できる。この場合、励起光は蛍光体素子30に斜めに入射するので、各々の入射位置でビーム幅が異なる場合があるが、半導体発光素子11Aにおける第1光導波路11a1のストライプ幅Waと第2光導波路11a2のストライプ幅Wbとを異ならせるとよい。
また、本実施の形態において、光学素子20に代えて、実施の形態3の変形例1、2の光学素子20B、20Cを用いてもよい。
また、本実施の形態における光源装置4において、半導体発光素子11Aの2つの光導波路の点灯と消灯とを個々に制御できるようにすれば、蛍光体素子30での発光位置を可変できるようになり、リフレクタや投射レンズなどと組み合わせた投光装置において、配光を可変できる光源装置も実現できる。例えば、車両前照灯用の灯具として光源装置4を用いる場合、2つ点灯時にはハイビームになり、1つ点灯時にはロービームになるような使い方もできる。
(実施の形態5)
次に、本開示の実施の形態5に係る投光装置5について、図25を用いて説明する。図25は、本開示の実施の形態5に係る投光装置5の構成を示す図である。
次に、本開示の実施の形態5に係る投光装置5について、図25を用いて説明する。図25は、本開示の実施の形態5に係る投光装置5の構成を示す図である。
図25に示すように、投光装置5は、例えば、車両前照灯用の灯具であり、実施の形態1における光源装置1と、投射レンズ160とを備える。投射レンズ160は、光源装置1からの放射光91の放射角を変えて前方に投射するためのレンズである。本実施の形態において、投射レンズ160は2枚の組合せレンズを用いているが、これに限るものではなく、単一のレンズで構成しても良いし、複数のレンズで構成しても良い。例えば、投射レンズ160は、4枚のレンズを組み合わせた複合レンズであっても良い。
本実施の形態における投光装置5では、実施の形態1における光源装置1を用いているので、小型の投光装置を実現することができる。
なお、本実施の形態における投光装置5では、実施の形態1における光源装置1を用いたが、これに限るものではない。例えば、本実施の形態における投光装置の光源装置として、実施の形態2~4における光源装置を用いてもよい。
(実施の形態6)
次に、本開示の実施の形態6に係る投光装置6について、図26を用いて説明する。図26は、本開示の実施の形態6に係る投光装置6の構成を示す図である。
次に、本開示の実施の形態6に係る投光装置6について、図26を用いて説明する。図26は、本開示の実施の形態6に係る投光装置6の構成を示す図である。
図26に示すように、投光装置6は、実施の形態3における光源装置3と、リフレクタ170とを備える。リフレクタ170は、光源装置3からの放射光91の放射角を変えて前方に投射するための反射部材である。
本実施の形態における投光装置6では、実施の形態3における光源装置3を用いるので、小型の投光装置を実現できる。
なお、本実施の形態における投光装置6では、実施の形態3における光源装置3を用いたが、これに限るものではない。例えば、本実施の形態における投光装置の光源装置として、実施の形態1、2、4、5における光源装置を用いてもよい。
(その他の変形例)
以上、本開示に係る光源装置および投光装置について、実施の形態および変形例に基づいて説明したが、本開示は、上記の実施の形態および変形例に限定されるものではない。
以上、本開示に係る光源装置および投光装置について、実施の形態および変形例に基づいて説明したが、本開示は、上記の実施の形態および変形例に限定されるものではない。
例えば、本開示に係る光源装置において、蛍光体素子に照射する代わりに、加工対象物の加工面に照射し、半田付け、アニール処理、溶接などを行う加工用光源として利用することもできる。この場合、半導体発光素子として、可視光レーザ素子ではなく、赤外レーザ素子等を用いることもできる。
その他、各実施の形態および変形例に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態や、本開示の趣旨を逸脱しない範囲で各実施の形態および変形例における構成要素および機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本開示に含まれる。
本開示は、半導体発光素子と蛍光体素子とを有する光源装置およびにこれを用いた投光装置等、種々の光デバイスとして広く利用することができる。また、本開示の光源装置は、照明用光源だけではなく、加工用光源等のその他の用途の光源として利用することも可能である。
1、1A、1B、1C、1E、2、2A、2B、3、4 光源装置
5、6 投光装置
10、10A 半導体発光装置
11、11A 半導体発光素子(レーザ素子)
11a 光導波路
11a1 第1光導波路
11a2 第2光導波路
12 キャップ
13 窓ガラス
14 ベース
15 ポスト
16 サブマウント
17 リードピン
20、20A、20B、20C、20D、20E 光学素子
20a ガラス基板
20b 誘電体膜
21、21a、21b、21c、21d、21e、21f、21g レンズ領域
22 光機能部
23 反射防止膜
24 反射膜
25 吸収膜
26 段差
27 開口制限膜
30 蛍光体素子
31 支持部材
31a 光学膜
31a1 第1光学膜
31a2 第2光学膜
32 蛍光体層
33 発光面
51、51a、51b 出射光
52、52a、52b、52c、52d、52e、52f、52g 入射光
54、54a、54b、54c、54d、54e、54aa、54ab 励起光
55、55d、55e 焦点
56a、56b、56c、56d、56e 最小錯乱円
57a、57b、57c、57d、57e、57aa、57ab 第1の焦線
58a、58b、58c、58d、58e、58aa、58ab 第2の焦線
80 ホルダ
91 放射光
92 散乱光
93 蛍光
95、95’、96、96’、97、97’、99 座標軸
98 法線
120 レンズ
131 蛍光体粒子
132 バインダ
133 フィラー
134B、134M ボイド
150 励起領域
151 発光領域
160 投射レンズ
170 リフレクタ
5、6 投光装置
10、10A 半導体発光装置
11、11A 半導体発光素子(レーザ素子)
11a 光導波路
11a1 第1光導波路
11a2 第2光導波路
12 キャップ
13 窓ガラス
14 ベース
15 ポスト
16 サブマウント
17 リードピン
20、20A、20B、20C、20D、20E 光学素子
20a ガラス基板
20b 誘電体膜
21、21a、21b、21c、21d、21e、21f、21g レンズ領域
22 光機能部
23 反射防止膜
24 反射膜
25 吸収膜
26 段差
27 開口制限膜
30 蛍光体素子
31 支持部材
31a 光学膜
31a1 第1光学膜
31a2 第2光学膜
32 蛍光体層
33 発光面
51、51a、51b 出射光
52、52a、52b、52c、52d、52e、52f、52g 入射光
54、54a、54b、54c、54d、54e、54aa、54ab 励起光
55、55d、55e 焦点
56a、56b、56c、56d、56e 最小錯乱円
57a、57b、57c、57d、57e、57aa、57ab 第1の焦線
58a、58b、58c、58d、58e、58aa、58ab 第2の焦線
80 ホルダ
91 放射光
92 散乱光
93 蛍光
95、95’、96、96’、97、97’、99 座標軸
98 法線
120 レンズ
131 蛍光体粒子
132 バインダ
133 フィラー
134B、134M ボイド
150 励起領域
151 発光領域
160 投射レンズ
170 リフレクタ
Claims (19)
- レーザ素子と、
複数の領域に分割された複数のレンズ領域を有し、前記複数のレンズ領域によって前記レーザ素子から出射される光の強度分布を変化させる光学素子と、
前記光学素子により強度分布が変化された光を励起光として発光する蛍光体素子とを備え、
前記複数のレンズ領域の各々の焦点は、前記蛍光体素子の発光面よりも前方または後方に存在し、かつ、お互いに異なっており、
前記複数のレンズ領域のうち、少なくとも1つには、非点収差が与えられており、
前記非点収差が与えられたレンズ領域からの前記励起光は、前記焦点近傍に最小錯乱円を形成し、前記最小錯乱円を挟んで前後に第1の焦線と第2の焦線を形成し、
前記複数のレンズ領域からの各光は、前記蛍光体素子の発光面で重なっている
光源装置。 - 前記複数のレンズ領域は、第1軸方向と前記第1軸に直交する第2軸方向とに分割され、
前記レーザ素子から出射する光は、前記第1軸および前記第2軸のうち、放射角の狭い方が前記第2軸に対応するように前記複数のレンズ領域に入射し、
前記第1軸方向の光が最も絞れる位置が前記第1の焦線に対応し、前記第2軸方向の光が最も絞れる位置が前記第2の焦線に対応する
請求項1に記載の光源装置。 - 前記複数のレンズ領域には、非点収差が与えられており、
前記複数のレンズ領域からの励起光が形成する蛍光体素子の発光面での光強度分布において、前記第1軸方向のビーム幅D1と前記第2軸方向のビーム幅D2は、D1≦D2である
請求項2に記載の光源装置。 - 前記第1軸方向の分割幅が前記第2軸方向の分割幅よりも大きい
請求項2又は3に記載の光源装置。 - 前記蛍光体素子は、前記第1軸を中心に傾斜するように配置されており、
前記複数のレンズ領域の各々に、非点収差が与えられており、
前記複数のレンズ領域の前記第2の焦線は、前記蛍光体素子の発光面の近傍に存在する
請求項1~4のいずれか1項に記載の光源装置。 - 前記光学素子の平面視形状は、矩形状である、
請求項1~5のいずれか1項記載の光源装置。 - 前記複数のレンズ領域は、フレネルレンズからなり、
前記複数のレンズ領域に接する周辺部には段差が形成されている
請求項1~6のいずれか1項に記載の光源装置。 - 前記光学素子は、ガラス基板と、前記ガラス基板に成膜された誘電体膜とを有し、
前記複数のレンズ領域は、前記誘電体膜に形成されている
請求項1~7のいずれか1項に記載の光源装置。 - 前記複数のレンズ領域の周辺部には、前記レーザ素子から出射される光の周辺光を吸収する吸収膜が形成されている
請求項7又は8に記載の光源装置。 - 前記光学素子は、前記レーザ素子からの出射光の発散角を変換する凸レンズを含み、前記凸レンズの透過光が前記複数のレンズ領域に入射するように構成されている
請求項1~8のいずれか1項に記載の光源装置。 - 前記凸レンズは、フレネルレンズからなり、
前記凸レンズに接する周辺部には段差が形成されている
請求項10に記載の光源装置。 - 前記複数のレンズ領域の周辺部には、前記レーザ素子から出射される光の周辺光を遮光する開口膜が形成されている
請求項10又は11に記載の光源装置。 - 前記複数のレンズ領域の各々は、一部もしくは全部が四角形または六角形である
請求項1~12のいずれか1項に記載の光源装置。 - 前記複数のレンズ領域の前記第1軸方向の分割幅をW1とし、
前記放射角の狭い方向に対応する前記レーザ素子のストライプ幅をWとし、
前記レーザ素子からの放射光を取り込む側の焦点距離をF1とし、
前記光学素子に形成された前記複数のレンズ領域から前記蛍光体素子の発光面までの前記励起光の光軸に沿った距離をF2とし、
前記励起光の前記蛍光体素子の発光面への入射角をθとしたときに、
前記励起光が形成する前記蛍光体素子の発光面での光強度分布において、
前記第1軸方向のビーム幅D1と前記第2軸方向のビーム幅D2は、
D=W×(F2/F1)/cos(θ)、かつ、D<D1<W1、D<D2<W1
の関係式を満足する
請求項5に記載の光源装置。 - 前記蛍光体素子の発光面での光強度分布は、少なくとも一部が前記第1軸に平行な2つの底辺と、少なくとも一部が前記第2軸に平行な2つの底辺とからなる四角錐台状である
請求項14に記載の光源装置。 - 複数のエミッタを有するレーザ素子と、
複数のレンズ領域を有し、前記複数のレンズ領域によって前記レーザ素子から出射される光の強度分布を変化させる光学素子と、
前記光学素子により強度分布が変化された光を励起光として発光する蛍光体素子とを備え、
前記複数のレンズ領域の各々の焦点は、前記蛍光体素子の発光面よりも前方または後方に存在し、かつ、お互いに異なっており、
前記複数のレンズ領域の各々に、非点収差が与えられており、
前記励起光は、前記焦点近傍に最小錯乱円を形成し、前記最小錯乱円を挟んで、前記蛍光体素子側に第2の焦線を、他方に第1の焦線を形成し、
前記複数のエミッタのうち、各エミッタに対応する前記複数のレンズ領域からの各光は、前記蛍光体素子の発光面で重なっており、隣り合うエミッタからの各光は、少なくとも前記蛍光体素子の発光面で一部が重なっている
光源装置。 - 前記複数のレンズ領域は、第1軸方向と前記第1軸に直交する第2軸方向とに分割され、
前記レーザ素子から出射する光は、前記第1軸および前記第2軸のうち、放射角の狭い方が前記第2軸に対応するように前記複数のレンズ領域に入射し、
前記第1軸方向の光が絞れる位置が前記第1の焦線に対応し、前記第2軸方向の光が絞れる位置が前記第2の焦線に対応する
請求項16に記載の光源装置。 - 前記蛍光体素子は、前記第1軸を中心に傾斜するように配置されており、
前記複数のレンズ領域の前記第2の焦線は、前記蛍光体素子の発光面の近傍に存在する
請求項17に記載の光源装置。 - 請求項1~18のいずれか1項に記載の光源装置を備える
投光装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201880017595.8A CN110418917B (zh) | 2017-03-28 | 2018-03-23 | 光源装置以及投光装置 |
| JP2019509691A JP7016062B2 (ja) | 2017-03-28 | 2018-03-23 | 光源装置および投光装置 |
| US16/576,192 US11035986B2 (en) | 2017-03-28 | 2019-09-19 | Light source device and projector |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017063271 | 2017-03-28 | ||
| JP2017-063271 | 2017-03-28 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| US16/576,192 Continuation US11035986B2 (en) | 2017-03-28 | 2019-09-19 | Light source device and projector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2018180950A1 true WO2018180950A1 (ja) | 2018-10-04 |
Family
ID=63676019
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2018/011596 Ceased WO2018180950A1 (ja) | 2017-03-28 | 2018-03-23 | 光源装置および投光装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11035986B2 (ja) |
| JP (1) | JP7016062B2 (ja) |
| CN (1) | CN110418917B (ja) |
| WO (1) | WO2018180950A1 (ja) |
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2018
- 2018-03-23 WO PCT/JP2018/011596 patent/WO2018180950A1/ja not_active Ceased
- 2018-03-23 JP JP2019509691A patent/JP7016062B2/ja active Active
- 2018-03-23 CN CN201880017595.8A patent/CN110418917B/zh active Active
-
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN110418917B (zh) | 2020-08-21 |
| US11035986B2 (en) | 2021-06-15 |
| CN110418917A (zh) | 2019-11-05 |
| JPWO2018180950A1 (ja) | 2020-02-06 |
| JP7016062B2 (ja) | 2022-02-04 |
| US20200012019A1 (en) | 2020-01-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 18775333 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
| ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2019509691 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |
|
| NENP | Non-entry into the national phase |
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| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 18775333 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |