WO2016039564A1 - Apparatus and method for detecting defects in triplex bonding in lng carrier - Google Patents
Apparatus and method for detecting defects in triplex bonding in lng carrier Download PDFInfo
- Publication number
- WO2016039564A1 WO2016039564A1 PCT/KR2015/009514 KR2015009514W WO2016039564A1 WO 2016039564 A1 WO2016039564 A1 WO 2016039564A1 KR 2015009514 W KR2015009514 W KR 2015009514W WO 2016039564 A1 WO2016039564 A1 WO 2016039564A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- image
- triplex
- inspection object
- defect
- lng carrier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/60—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/20—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
Definitions
- the present invention relates to an apparatus and method for detecting defects in triplex bonds of LNG carriers, and more particularly, to triplex bonds of LNG carriers, which can automatically detect the presence, type, area, and size of defects occurring in triplex bonds of LNG carriers.
- a defect detection apparatus and method is provided.
- the LNG tank storage tank stores LNG at low temperature of -162 °C, so it is designed as a primary barrier, insulation and secondary barrier structure to minimize heat transfer.
- the primary barrier which is in direct contact with the liquefied natural gas, is a membrane wall made of stainless steel to withstand cryogenic shrinkage and impact from sloshing.
- insulation made of polyurethane, plywood, etc. to block heat transfer.
- the heat insulating material is composed of a primary heat insulating material provided on the outside of the primary barrier and a secondary heat insulating material provided on the outside of the primary heat insulating material.
- the secondary barrier is provided to complement the function of the primary barrier on the secondary insulation between the primary insulation, a triplex (triplex) is usually used.
- the triplex is basically a glass fiber sheet bonded to both sides of an aluminum sheet, and its rigidity differs depending on the thickness of the aluminum sheet and the resin used.
- the triplex used as the secondary barrier is made by bonding two triplexes of different rigidity, for example, rigid triplex and flexible triplex, using an adhesive.
- the inspection hole detects the whole quantity of a triplex adhesive part manually by the inspection hole in order to detect the defect of a triplex adhesive part.
- the present invention has been made to solve at least some of the problems of the prior art as described above, in one aspect, the LNG carrier that can automatically accurately detect defects such as bubbles, uncured and de-bonding of the triplex adhesive portion of the LNG carrier It is an object of the present invention to provide a triplex adhesive defect detection apparatus and method.
- the present invention provides a heating unit for generating heat waves propagating in the thickness direction of the inspection object by applying heat to the surface of the inspection object; A thermal imaging camera for photographing an object heated by the heating unit to generate a thermal image; And a controller configured to receive and process the thermal image to calculate information on defects occurring in the inspection object.
- the present invention is a heating step of generating heat waves propagating in the thickness direction of the inspection object by applying heat to the surface of the inspection object through a halogen lamp; Generating a thermal image by measuring radiant heat generated from the surface of the inspection object heated in the heating step; And image processing and signal processing the thermal image to image defects occurring in the inspection object.
- FIG. 1 is a schematic view showing the configuration of a defect detection apparatus according to an embodiment of the present invention.
- FIG. 2 is a flow chart of a defect detection method according to an embodiment of the present invention.
- 3 is a flowchart of image processing an amplitude image among characteristic images.
- FIG. 4 is a flowchart of image processing a phase image among characteristic images.
- FIG. 5 is a photograph showing a thermal image, a background image, and a corrected thermal image captured by a thermal imaging camera.
- FIG. 6 is a photograph showing an image processing process of an amplitude image.
- FIG. 7 is a photograph showing an image processing process of a phase image.
- the defect detecting apparatus 100 may include a heating unit 110, a thermal imaging camera 120, and a controller 130.
- the defect detection apparatus 100 may be configured as an independent device that can measure the inspection target area while moving the main body along the rail installed in the triplex adhesive portion of the LNG carrier, LNG It may be mounted on a robot that manufactures a triplex of lines and may be configured to detect defects at the same time as the triplex is manufactured.
- the heating unit 110 may generate heat waves propagated in the thickness direction of the inspection object 1 by applying heat to the surface of the inspection object 1, that is, the triplex adhesive portion of the LNG carrier.
- the heat wave generated by the heating unit 110 is propagated in a different form in the healthy part and the defective part of the inspection object 1, the amplitude and phase of the radiation wave generated on the surface of the inspection object 1 are different. do.
- the heating unit 110 may include a halogen lamp 111, a waveform generator 112, a signal amplifier 113, and a dimmer 114.
- the halogen lamp 111 is a heat source for irradiating light to one surface of the inspection object 1 and may generate a heat wave having a single frequency propagated in the thickness direction of the inspection object 1.
- the halogen lamp 111 is a high output halogen lamp 111 capable of emitting high thermal energy that can properly transmit heat waves even in the triplex adhesive portion. It is preferred to be configured.
- the waveform generator 112 may generate a waveform of a voltage signal applied to the halogen lamp 111.
- the waveform generator 112 may generate a voltage signal in the form of a square wave.
- the maximum value of the output of the halogen lamp 111 is longer than in the case of using the sine wave type voltage signal, and thus heats the test object 1 with high power. It has the advantage of being suitable for heating low performance triplex bonds.
- the waveform generator 112 may be controlled by the control unit 130 to be described later.
- the signal amplifier 113 amplifies the output voltage output according to the voltage signal generated by the waveform generator 112 to the operating voltage of the halogen lamp 111.
- the signal amplifier 113 is not particularly limited, and various types of known signal amplifiers 113 may be employed.
- the dimmer 114 may adjust the amount of light of the halogem lamp according to the voltage signal amplified by the signal amplifier 113.
- the dimmer 114 is not particularly limited, and various types of known dimmers 114 may be employed.
- the thermal imaging camera 120 may generate a thermal image by photographing the inspection object 1 heated by the heating unit 110.
- the thermal imaging camera 120 may be arranged to photograph one surface of the inspection object 1 in the same direction as the halogen lamp 111 with respect to the inspection object 1.
- the thermal imaging camera 120 may be synchronized with the heating unit 110 to photograph the inspection object 1 at regular intervals according to the period of the voltage signal generated by the waveform generator 112.
- the heating unit 110 applies heat modulated by a step function to the inspection object 1 according to a square wave-shaped voltage signal, and the thermal image
- the camera 120 photographs the inspection object 1 according to the signal generated by the step function, and extracts the phase change between the phase of the heat source wavelength and the phase of the measurement wavelength, thereby using the phase locking surface of the inspection object 1. It has the advantage of being able to detect minute changes in.
- the controller 130 may receive the thermal image generated by the thermal imaging camera 120 and process the received thermal image to calculate information of a defect occurring in the inspection object 1.
- the controller 130 may calculate the type, size, and generation area of the defect occurring in the inspection object 1.
- control unit 130 may calculate so that the user can know what defects among bubbles, uncured, and debonding occurred in the inspection object (1).
- the control unit 130 has a generation time of the voltage signal generated by the waveform generator 112 at 0, 1/2.
- Thermal image at the period and one cycle It can be configured to calculate the amplitude (A) and phase ( ⁇ ) of the heat wave generated in the inspection object (1) through a total of three thermal images.
- the amplitude A of the heat wave can be obtained by the following Equation 1 by using the temperature R at a specific period T of the heat wave as a variable.
- phase ⁇ of the heat wave can be obtained by the following Equation 2 using the temperature R at a specific period T of the heat wave as a variable.
- the controller 130 may calculate the phase ⁇ and the amplitude A of the thermal wave in the thermal image, and calculate defect information based on the calculated phase ⁇ and the amplitude A of the thermal wave.
- the defect detecting apparatus 100 can accurately detect various kinds of defects by analyzing not only the phase ⁇ of the heat wave generated in the inspection object 1 but also the amplitude A. Has an advantage.
- the amplitude of the heat wave generated in the inspection object 1 is a measure of the degree to which the inspection object 1 is heated.
- the controller 130 may image the information of the defect occurred in the inspection object 1 through the image processing and the signal processing algorithm to output the image so that the user can know.
- the controller 130 may generate a corrected thermal image by extracting a background image from the thermal image generated by the thermal camera 120.
- the controller 130 may generate the characteristic image from the amplitude and phase of the heat wave based on the corrected thermal image.
- the characteristic image may include a phase image and an amplitude image.
- controller 130 may convert the generated characteristic image into a black and white image having a value between 0 and 1.
- controller 130 may generate a binary image by expanding the histogram of the obtained black and white image.
- the controller 130 may extract the amplitude image of the thermal wave from the thermal image, and calculate the position and size of the bubble defects generated in the inspection object 1 based on the extracted amplitude image.
- the controller 130 may detect bubble defects through the amplitude image.
- controller 130 may calculate the size of the actual bubble defect by substituting the size of the bubble defect shown in the black and white image finally obtained by image processing the amplitude image as described above into a preset correlation function.
- the correlation function is a function of using x as the size of the detected bubble defect and y as the estimated size of the actual bubble defect, and are generally represented as a nonlinear function.
- the estimated size of the actual bubble defect is data on the defect size obtained through the X-ray inspection or the actual measurement of the inspection object (1) where the defect occurred.
- the correlation function is used to determine various sizes of bubble defects detected by the defect detection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention, and actual bubble defects detected by the X-ray inspection or actual measurement of the specimen. Can be obtained by comparing various sizes.
- the controller 130 may calculate the size of the actual bubble defect by substituting the size of the bubble defect on the binary image obtained through the image processing into the x value of the correlation function.
- the controller 130 may extract the phase image of the heat wave from the thermal image, and calculate the position and size of the uncured defect generated in the inspection object 1 based on the extracted phase image.
- the controller 130 may detect an uncured defect through the phase image.
- the defect detection apparatus 100 has the advantage of automatically calculating the type, size and generation area of defects by moving the triplex adhesive part of the LNG carrier, and providing the image to the user. have.
- FIG. 2 is a flowchart of a defect detection method according to an embodiment of the present invention
- FIG. 3 is a flowchart of image processing an amplitude image among characteristic images
- FIG. 4 is a flowchart of image processing a phase image among characteristic images.
- step S200 heat is applied to the surface of the inspection object 1 through the halogen lamp 111 to generate heat waves propagating in the thickness direction of the inspection object 1 (step S200).
- the halogen lamp 111 may be operated by applying a voltage through the following process.
- a voltage signal applied to the halogen lamp 111 through the waveform generator 112 may be generated in the form of a square wave.
- the voltage signal generated through the signal amplifier 113 may be amplified to the operating voltage of the halogen lamp 111.
- the amount of light of the halogen lamp 111 may be adjusted according to the voltage signal amplified by the dimmer 114.
- radiant heat generated on the surface of the heated inspection object 1 may be measured by the thermal imaging camera 120 to generate a thermal image (a of FIG. 5) (step S210).
- the radiant heat measurement operation of the inspection object 1 is synchronized with the period of the voltage signal, so that the thermal image may be generated according to the period of the voltage signal.
- the defect detection method according to the exemplary embodiment of the present invention may generate a thermal image when the generation time of the voltage signal is 0, 1/2, and 1 cycle.
- the characteristic image to be described later is generated as an amplitude image and a phase image when the generation time of the voltage signal is 0, 1/2 cycle and 1 cycle.
- a characteristic image may be generated by calculating amplitude and phase based on the thermal image (step S220).
- an amplitude image (a of FIG. 6) and a phase image (a of FIG. 7) may be obtained as the characteristic image.
- the amplitude image (a of FIG. 6) and the phase image (a of FIG. 7) of the characteristic image are compensated for by the nonuniform heating effect, thereby improving the amplitude image (b of FIG. 6) and the improved phase image (b of FIG. 7). Can be generated (step S230).
- the improved thermal image (c of FIG. 5) may be obtained by extracting a background image (b of FIG. 5) by spatially low frequency filtering the thermal image (a of FIG. 5).
- the spatial domain low frequency filtering technique is a technique for integrating a mask while moving the entire image area, and obtains a background image (b) of FIG. 5 at a speed about 40 times faster than a conventional polynomial combining technique.
- the non-uniform heating effect is to compensate for the non-uniform heating of the test metabolism by the halogen lamp 111, the non-uniform heating effect can be compensated for by using an image filter.
- the characteristic image is a phase image (a in FIG. 7)
- the improved phase image (b in FIG. 7)
- all the positive phase values are converted to 0 to adjust an image in which the defect portion is emphasized (FIG. 7). C) may be generated.
- the negative phase has a negative phase. Therefore, when all of the positive phase values, which are healthy regions, are converted to zero, the defective portion is emphasized.
- the improved characteristic image generated through the above process may be converted into a black and white image (c in FIG. 6 and d in FIG. 7) by normalizing the value of each pixel to 0 to 1 (step S240). .
- step S250 the histogram of the black and white image is analyzed to generate a binary image (d of FIG. 6 and f of FIG. 7) (step S250).
- the defect detection method may image the amplitude image and the phase image of the characteristic image by different techniques.
- the contrast amplification image may be generated by increasing the contrast of the black and white image (c of FIG. 6) (step S241).
- the contrast amplified image (d of FIG. 6) may more clearly represent signal changes caused by bubble defects.
- the contrast amplified image (d of FIG. 6) is treated as a defective part larger than the first threshold value by using a preset first threshold value, and the healthy part smaller than the first threshold value is treated as 0 for binary value.
- An image may be generated (step S250).
- the binary image may be morphologically processed to generate an image from which noise has been removed (FIG. 6E) (step S260).
- various known image processing techniques may be used as the morphological operation processing technique.
- the size of the defective portion of the noise-free binary image (e) of FIG. 6 is measured (f of FIG. 6), and the size of the actual bubble defect is calculated by substituting the measured value of the defective portion into the correlation function. It may be (step S270).
- the generated black and white image (d of FIG. 7) is subjected to morphological calculation to smooth the outline of the uncured defect part, thereby reducing the noise.
- E) of FIG. 7 may be generated (step S242).
- the morphological operation may be used as the expansion operation and the erosion operation, but is not limited thereto.
- the morphological operation image (e of FIG. 7) is treated as a defective part larger than the second threshold value by using a preset second threshold value, and the healthy part smaller than the second threshold value is treated as 0 and binary.
- An image (f of FIG. 7) may be generated (step S250).
- the user can identify the uncured defect area through the binary image of the phase image (f of FIG. 7).
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 LNG선의 트리플렉스 접착부 결함 감지 장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 LNG선의 트리플렉스 접착부에 발생한 결함의 유무, 종류, 발생영역 및 크기를 자동으로 감지할 수 있는 LNG선의 트리플렉스 접착부 결함 감지 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for detecting defects in triplex bonds of LNG carriers, and more particularly, to triplex bonds of LNG carriers, which can automatically detect the presence, type, area, and size of defects occurring in triplex bonds of LNG carriers. A defect detection apparatus and method.
LNG선의 저장탱크는 -162℃의 극저온 상태의 액화천연가스(LNG)를 저장하기 때문에 1차 방벽, 단열재 및 2차 방벽 구조로 설계되어 열전달을 최소화한다.The LNG tank storage tank stores LNG at low temperature of -162 ℃, so it is designed as a primary barrier, insulation and secondary barrier structure to minimize heat transfer.
액화천연가스와 직접 접촉하는 1차 방벽은 스테인리스강으로 제작된 멤브레인 벽으로 만들어 극저온에 의한 수축응력과 슬로싱에 의한 충격에 견디도록 되어 있다.The primary barrier, which is in direct contact with the liquefied natural gas, is a membrane wall made of stainless steel to withstand cryogenic shrinkage and impact from sloshing.
1차 방벽과 외벽 사이에는 열전달을 차단하기 위해 폴리우레탄, 플라이우드(plywood) 등으로 구성된 단열재를 채운다.Between the primary and outer walls is filled with insulation made of polyurethane, plywood, etc. to block heat transfer.
단열재는 1차 방벽의 외측에 마련되는 1차 단열재와 1차 단열재 외측에 마련되는 2차 단열재로 구성된다.The heat insulating material is composed of a primary heat insulating material provided on the outside of the primary barrier and a secondary heat insulating material provided on the outside of the primary heat insulating material.
이때, 상기 2차 방벽은 1차 단열재 사이의 2차 단열재 상에 1차 방벽의 기능을 보완하기 위해 마련되는데, 통상 트리플렉스(triplex)가 사용된다.At this time, the secondary barrier is provided to complement the function of the primary barrier on the secondary insulation between the primary insulation, a triplex (triplex) is usually used.
트리플렉스는 기본적으로 알루미늄시트 양면에 유리섬유시트가 접착되어 만들어진 형태로서, 알루미늄시트의 두께나 사용되는 수지에 따라 강성이 상이하다.The triplex is basically a glass fiber sheet bonded to both sides of an aluminum sheet, and its rigidity differs depending on the thickness of the aluminum sheet and the resin used.
2차 방벽으로 사용되는 트리플렉스는 강성이 상이한 2개의 트리플렉스 예를 들면, 리지드 트리플렉스(rigid triplex)와 플렉서블 트리플렉스(flexible triplex)를 접착제를 사용하여 접착함으로써 이루어진다.The triplex used as the secondary barrier is made by bonding two triplexes of different rigidity, for example, rigid triplex and flexible triplex, using an adhesive.
한편, 트리플렉스 접착부 시공 중에는 기포, 미경화, 디본딩 등 결함이 발생할 수 있으며, 시공자는 트리플렉스 접착부의 결함을 검사하여 보수해야 한다.In the meantime, defects such as bubbles, uncured, and debonding may occur during the construction of the triplex adhesive part, and the contractor should inspect and repair the defects of the triplex adhesive part.
그러나, 종래에는 트리플렉스 접착부의 결함을 감지하기 위해, 트리플렉스 접착부의 전량을 검사공이 수작업으로 검출하고 있다.However, conventionally, the inspection hole detects the whole quantity of a triplex adhesive part manually by the inspection hole in order to detect the defect of a triplex adhesive part.
따라서, 검사 기간이 길며, 정확한 검사가 어렵다는 문제가 있다.Therefore, there is a problem that the inspection period is long and accurate inspection is difficult.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점 중 적어도 일부를 해결하고자 안출된 것으로, 일 측면으로서, LNG선의 트리플렉스 접착부의 기포, 미경화 및 디본딩 등의 결함을 자동으로 정확하게 검출할 수 있는 LNG선의 트리플렉스 접착부 결함 감지 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve at least some of the problems of the prior art as described above, in one aspect, the LNG carrier that can automatically accurately detect defects such as bubbles, uncured and de-bonding of the triplex adhesive portion of the LNG carrier It is an object of the present invention to provide a triplex adhesive defect detection apparatus and method.
상기한 목적 중 적어도 일부를 달성하기 위한 일 측면으로서, 본 발명은 검사대상물의 표면에 열을 가하여 검사대상물의 두께방향으로 전파되는 열파를 생성시키는 가열부; 상기 가열부에 의해 가열된 검사대상물을 촬영하여 열 이미지를 생성하는 열화상 카메라; 및 상기 열 이미지를 전송받아 처리하여 검사대상물에 발생한 결함의 정보를 산출하는 제어부;를 포함하는 LNG선의 트리플렉스 접착부 결함 감지 장치를 제공한다.As one aspect for achieving at least some of the above objects, the present invention provides a heating unit for generating heat waves propagating in the thickness direction of the inspection object by applying heat to the surface of the inspection object; A thermal imaging camera for photographing an object heated by the heating unit to generate a thermal image; And a controller configured to receive and process the thermal image to calculate information on defects occurring in the inspection object.
또한, 본 발명은 다른 일 측면으로서, 할로겐 램프를 통해 검사대상물의 표면에 열을 가하여 검사대상물의 두께방향으로 전파되는 열파를 생성시키는 가열 단계; 상기 가열 단계에서 가열된 검사대상물의 표면에서 발생하는 복사열을 계측하여 열 이미지를 생성하는 단계; 및 상기 열 이미지를 영상처리 및 신호처리하여 검사대상물에 발생한 결함을 이미지화하는 단계;를 포함하는 LNG선의 트리플렉스 접착부 결함 감지 방법을 제공한다.In another aspect, the present invention is a heating step of generating heat waves propagating in the thickness direction of the inspection object by applying heat to the surface of the inspection object through a halogen lamp; Generating a thermal image by measuring radiant heat generated from the surface of the inspection object heated in the heating step; And image processing and signal processing the thermal image to image defects occurring in the inspection object.
이러한 구성을 갖는 본 발명의 일 실시예에 의하면, LNG선의 트리플렉스 접착부에 발생한 결함의 종류, 크기 및 발생영역을 자동으로 감지하여 감지한 결과를 사용자에게 제공할 수 있다는 효과를 얻을 수 있다.According to one embodiment of the present invention having such a configuration, it is possible to obtain the effect that can automatically detect the type, size and generation area of the defects generated in the triplex adhesive portion of the LNG carrier to provide the user with the detection result.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 장치의 구성을 나타내는 개략도.1 is a schematic view showing the configuration of a defect detection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 방법의 순서도.2 is a flow chart of a defect detection method according to an embodiment of the present invention.
도 3은 특성 이미지 중에서 진폭 이미지를 영상처리하는 순서도.3 is a flowchart of image processing an amplitude image among characteristic images.
도 4는 특성 이미지 중에서 위상 이미지를 영상처리하는 순서도.4 is a flowchart of image processing a phase image among characteristic images.
도 5는 열화상 카메라에서 촬영된 열 이미지, 배경 이미지 및 보정된 열 이미지를 나타내는 사진.5 is a photograph showing a thermal image, a background image, and a corrected thermal image captured by a thermal imaging camera.
도 6은 진폭 이미지의 영상처리과정을 나타내는 사진.6 is a photograph showing an image processing process of an amplitude image.
도 7은 위상 이미지의 영상처리과정을 나타내는 사진.7 is a photograph showing an image processing process of a phase image.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 또한, 본 명세서에서 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. Also, the singular forms in this specification include plural forms unless the context clearly indicates otherwise.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
먼저, 도 1을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 장치에 대해서 살펴본다. First, a defect detection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 장치(100)는 가열부(110), 열화상 카메라(120) 및 제어부(130)를 포함할 수 있다.As illustrated in FIG. 1, the
참고로, 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 장치(100)는 LNG선의 트리플렉스 접착부에 설치되는 레일을 따라 본체가 이동하면서 검사대상영역을 계측할 수 있는 독립된 장치로 구성될 수도 있고, LNG선의 트리플렉스를 제작하는 로봇에 탑재되어 트리플렉스의 제작과 동시에 결함을 감지할 수 있도록 구성될 수도 있다.For reference, the
상기 가열부(110)는 검사대상물(1) 즉, LNG선의 트리플렉스 접착부의 표면에 열을 가하여 검사대상물(1)의 두께방향으로 전파되는 열파를 생성시킬 수 있다. The
여기서, 가열부(110)에 의해 생성되는 열파는 검사대상물(1)의 건전 부분과 결함 부분에서 다른 형태로 전파되게 되므로, 검사대상물(1) 표면에서 발생되는 복사파의 진폭 및 위상이 달라지게 된다. Here, since the heat wave generated by the
일 실시예에서, 가열부(110)는 할로겐 램프(111), 파형 생성기(112), 신호 증폭기(113) 및 조광기(114)를 포함할 수 있다.In an embodiment, the
상기 할로겐 램프(111)는 검사대상물(1)의 일면에 빛을 조사하는 열원으로서, 검사대상물(1)의 두께방향으로 전파되는 단일 주파수를 갖는 열파를 생성할 수 있다.The
일반적으로 LNG선의 트리플렉스 접착부는 재료의 열적 특성상 열 투과성이 낮으므로, 상기 할로겐 램프(111)는 트리플렉스 접착부 내에도 열파를 적절하게 투과시킬 수 있는 높은 열에너지를 방출 가능한 고출력 할로겐 램프(111)로 구성되는 것이 바람직하다.In general, since the triplex adhesive portion of the LNG carrier has low heat permeability due to the thermal properties of the material, the
상기 파형 생성기(112)는 할로겐 램프(111)에 인가되는 전압 신호의 파형을 생성할 수 있다. The
일 실시예에서, 파형 생성기(112)는 구형파(square wave) 형태의 전압 신호를 생성할 수 있다. In one embodiment, the
구형파 형태의 전압 신호를 사용하는 경우는 사인파(sine wave) 형태의 전압 신호를 사용하는 경우보다 할로겐 램프(111)의 출력의 최대값이 길고 순간적으로 고출력으로 검사대상물(1)을 가열하게 되므로 열전달성능이 낮은 트리플렉스 접착부를 가열하기 적합하다는 장점이 있다.In the case of using the square wave voltage signal, the maximum value of the output of the
한편, 일 실시예에서, 이러한 파형 생성기(112)는 후술할 제어부(130)에 의해 작동이 제어될 수 있다.On the other hand, in one embodiment, the
상기 신호 증폭기(113)는 파형 생성기(112)에서 생성된 전압 신호에 따라 출력되는 출력전압을 할로겐 램프(111)의 동작전압까지 증폭시킨다. 이러한 신호 증폭기(113)는 특별히 한정되지 않으며, 공지된 다양한 형태의 신호 증폭기(113)가 채용될 수 있다.The
상기 조광기(114)는 신호 증폭기(113)에서 증폭된 전압 신호에 따라 할로겜 램프의 광량을 조절할 수 있다. 이러한 조광기(114)는 특별히 한정되지 않으며, 공지된 다양한 형태의 조광기(114)가 채용될 수 있다.The
한편, 상기 열화상 카메라(120)는 가열부(110)에 의해 가열된 검사대상물(1)을 촬영하여 열 이미지를 생성할 수 있다.Meanwhile, the
열화상 카메라(120)는 도 1에 도시된 바와 같이 검사대상물(1)에 대해 할로겐 램프(111)와 같은 방향 즉, 검사대상물(1)의 일면을 촬영할 수 있도록 배치될 수 있다.As shown in FIG. 1, the
일 실시예에서, 열화상 카메라(120)는 파형 생성기(112)에서 생성된 전압 신호의 주기에 따라 검사대상물(1)을 일정한 주기로 촬영하도록 가열부(110)와 동기화될 수 있다.In one embodiment, the
이와 같이 열화상 카메라(120)와 가열부(110)가 동기화되는 경우는, 가열부(110)가 구형파 형태의 전압 신호에 따라 검사대상물(1)에 계단함수로 변조된 열을 가하고, 열화상 카메라(120)가 상기 계단함수로 생성된 신호에 따라 검사대상물(1)을 촬영하여, 열원 파장의 위상과 측정 파장의 위상 간의 위상변화를 추출함으로써, 위상잠금을 사용하여 검사대상물(1) 표면의 미세한 변화를 감지할 수 있다는 장점이 있다.When the
상기 제어부(130)는 열화상 카메라(120)에서 촬영하여 생성한 열 이미지를 전송받아 처리하여 검사대상물(1)에 발생한 결함의 정보를 산출할 수 있다. The
일 실시예에서, 제어부(130)는 검사대상물(1)에 발생한 결함의 종류, 크기 및 발생영역을 산출할 수 있다. In an exemplary embodiment, the
일반적으로 LNG선의 트리플렉스 접착부에는 기포, 미경화 및 디본딩(debonding) 등의 결함이 발생할 수 있다. 따라서, 상기 제어부(130)는 검사대상물(1)에 발생한 결함이 기포, 미경화 및 디본딩 중 어떤 결함인지 사용자가 알 수 있도록 산출할 수 있다. In general, defects such as bubbles, uncured and debonding may occur in the triplex adhesive portion of the LNG carrier. Therefore, the
또한, 가열부(110)는 전술한 바와 같이 구형파 형태로 검사대상물(1)에 열을 가하므로, 제어부(130)는 파형 생성기(112)에서 발생시킨 전압 신호의 발생 시간이 0, 1/2주기 및 1주기일 때의 열 이미지 총 3장의 열 이미지를 통해 검사대상물(1)에서 발생하는 열파의 진폭(A) 및 위상(Φ)을 계산하도록 구성될 수 있다.In addition, since the
여기서, 열파의 진폭(A)은 열파의 특정 주기(T)에서의 온도(R)를 변수로 하여, 하기 [수학식 1]로 구해질 수 있다.Here, the amplitude A of the heat wave can be obtained by the following Equation 1 by using the temperature R at a specific period T of the heat wave as a variable.
[수학식 1][Equation 1]
또한, 열파의 위상(Φ)은 열파의 특정 주기(T)에서의 온도(R)를 변수로 하여,하기 [수학식 2]로 구해질 수 있다.In addition, the phase Φ of the heat wave can be obtained by the following Equation 2 using the temperature R at a specific period T of the heat wave as a variable.
[수학식 2][Equation 2]
여기서, 제어부(130)는 열 이미지에서 열파의 위상(Φ) 및 진폭(A)을 산출하여, 산출된 열파의 위상(Φ) 및 진폭(A)을 기초로 결함의 정보를 산출할 수 있다.Here, the
참고로, LNG선의 트리플렉스 접착부의 결함을 열파의 위상(Φ)만을 통해 감지하는 경우에는, 특정 주기(T)에서 결함이 감지되지 않는 문제가 있다. 이는, 결함 중에 진폭(A)에 민감한 결함이 있고, 위상(Φ)에 민감한 결함이 있기 때문이다.For reference, when detecting a defect of the triplex adhesive portion of the LNG carrier only through the phase Φ of the hot wave, there is a problem that the defect is not detected at a specific period T. This is because there is a defect sensitive to the amplitude A among the defects, and a defect sensitive to the phase?.
따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 장치(100)는 검사대상물(1)에서 발생하는 열파의 위상(Φ)뿐만 아니라 진폭(A)도 분석하여 다양한 종류의 결함을 정확하게 감지할 수 있다는 장점을 가진다.Therefore, the
여기서, 검사대상물(1)에서 발생하는 열파의 진폭은 검사대상물(1)이 가열된 정도를 나타내는 척도이다.Here, the amplitude of the heat wave generated in the inspection object 1 is a measure of the degree to which the inspection object 1 is heated.
한편, 제어부(130)는 열 이미지를 영상처리 및 신호처리 알고리즘을 통해 검사대상물(1)에 발생한 결함의 정보를 이미지화하여 사용자가 알 수 있도록 출력할 수 있다.On the other hand, the
이하, 제어부(130)의 열 이미지에 대한 영상처리 및 신호처리를 통한 결함 정보 산출 동작에 대해서 설명한다.Hereinafter, an operation of calculating defect information through image processing and signal processing on the thermal image of the
먼저, 제어부(130)는 열화상 카메라(120)가 생성한 열 이미지에서 배경 이미지를 추출하여 보정된 열 이미지를 생성할 수 있다.First, the
그리고, 제어부(130)는 보정된 열 이미지를 기초로 열파의 진폭 및 위상으로부터 특성 이미지를 생성할 수 있다.The
여기서, 상기 특성 이미지는 위상 이미지와 진폭 이미지를 포함할 수 있다.Here, the characteristic image may include a phase image and an amplitude image.
또한, 제어부(130)는 생성된 특성 이미지를 0에서 1사이의 값을 가지는 흑백 이미지로 변환할 수 있다. In addition, the
마지막으로, 제어부(130)는 획득된 흑백 이미지의 히스토그램을 확장을 통해 이진 이미지를 생성할 수 있다.Finally, the
한편, 일 실시예에서, 제어부(130)는 열 이미지로부터 열파의 진폭 이미지를 추출하고, 추출된 진폭 이미지를 기초로 검사대상물(1)에 발생한 기포 결함의 위치 및 크기를 산출할 수 있다. Meanwhile, in one embodiment, the
즉, 제어부(130)는 진폭 이미지를 통해 기포 결함을 감지할 수 있다.That is, the
그리고, 제어부(130)는 진폭 이미지를 전술한 바와 같이 영상처리하여 최종적으로 얻어진 흑백 이지미에 나타난 기포 결함의 크기를 미리 설정된 상관함수에 대입하여 실제 기포 결함의 크기를 산출할 수 있다. In addition, the
여기서, 상관함수는 x 값을 감지된 기포 결함의 크기, y 값을 실제 기포 결함의 추정 크기로 하는 함수로서, 일반적으로 비선형 함수로 나타난다.Here, the correlation function is a function of using x as the size of the detected bubble defect and y as the estimated size of the actual bubble defect, and are generally represented as a nonlinear function.
여기서, 상기 실제 기포 결함의 추정 크기는 결함이 발생한 검사대상물(1)을 X-Ray 검사 또는 실제 측정을 통해 얻어진 결함 크기에 관한 데이터이다.Here, the estimated size of the actual bubble defect is data on the defect size obtained through the X-ray inspection or the actual measurement of the inspection object (1) where the defect occurred.
따라서, 상관함수는 시편을 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 장치(100)를 통해 감지한 기포 결함의 다양한 크기들과, 시편을 X-Ray 검사 또는 실제 측정을 통해 감지한 실제 기포 결함의 다양한 크기들을 비교하여 구해질 수 있다.Therefore, the correlation function is used to determine various sizes of bubble defects detected by the
이러한 데이터를 바탕으로, 제어부(130)는 영상처리를 통해 얻어진 이진 이미지 상의 기포 결함의 크기를 상관함수의 x 값에 대입하여 실제 기포 결함의 크기를 산출할 수 있다.Based on this data, the
한편, 일 실시예에서, 제어부(130)는 열 이미지로부터 열파의 위상 이미지를 추출하고, 추출된 위상 이미지를 기초로 검사대상물(1)에 발생한 미경화 결함의 위치 및 크기를 산출할 수 있다.Meanwhile, in one embodiment, the
즉, 제어부(130)는 위상 이미지를 통해서는 미경화 결함을 감지할 수 있다.That is, the
이와 같은 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 장치(100)는 LNG선의 트리플렉스 접착부를 이동하며 자동으로 결함의 종류, 크기 및 발생영역을 산출하고, 이를 이미지화하여 사용자에게 제공할 수 있다는 장점이 있다.The
다음으로, 도 2 내지 도 4를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 방법에 대해서 살펴본다. Next, a defect detection method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 4.
여기서, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 방법의 순서도이며, 도 3은 특성 이미지 중에서 진폭 이미지를 영상처리하는 순서도이고, 도 4는 특성 이미지 중에서 위상 이미지를 영상처리하는 순서도이다.2 is a flowchart of a defect detection method according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a flowchart of image processing an amplitude image among characteristic images, and FIG. 4 is a flowchart of image processing a phase image among characteristic images.
도 2에 도시된 바와 같이, 먼저, 할로겐 램프(111)를 통해 검사대상물(1)의 표면에 열이 가해져 검사대상물(1)의 두께방향으로 전파되는 열파가 생성될 수 있다(단계 S200).As shown in FIG. 2, first, heat is applied to the surface of the inspection object 1 through the
일 실시예에서, 할로겐 램프(111)는 다음과 같은 과정을 거쳐 전압을 인가받아서 작동될 수 있다.In one embodiment, the
먼저, 파형 생성기(112)를 통해 할로겐 램프(111)에 인가되는 전압 신호가 구형파 형태로 생성될 수 있다. First, a voltage signal applied to the
이후, 신호 증폭기(113)를 통해 생성된 전압 신호가 할로겐 램프(111)의 동작전압까지 증폭될 수 있다.Thereafter, the voltage signal generated through the
마지막으로, 조광기(114)를 통해 증폭된 전압 신호에 따라 할로겐 램프(111)의 광량이 조절될 수 있다.Finally, the amount of light of the
한편, 가열된 검사대상물(1)의 표면에서 발생하는 복사열이 열화상 카메라(120)를 통해 계측되어 열 이미지(도 5의 a)가 생성될 수 있다(단계 S210).Meanwhile, radiant heat generated on the surface of the heated inspection object 1 may be measured by the
이때, 전압 신호의 주기에 검사대상물(1)의 복사열 계측 동작이 동기화되어, 상기 열 이미지는 전압 신호의 주기에 따라 생성될 수 있다. At this time, the radiant heat measurement operation of the inspection object 1 is synchronized with the period of the voltage signal, so that the thermal image may be generated according to the period of the voltage signal.
본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 방법은 전압 신호의 발생 시간이 0, 1/2주기 및 1주기일 때의 열 이미지를 생성할 수 있다.The defect detection method according to the exemplary embodiment of the present invention may generate a thermal image when the generation time of the voltage signal is 0, 1/2, and 1 cycle.
따라서, 후술할 특성 이미지는 전압 신호의 발생 시간이 0, 1/2주기 및 1주기일 때의 진폭 이미지 및 위상 이미지로 생성되게 된다.Therefore, the characteristic image to be described later is generated as an amplitude image and a phase image when the generation time of the voltage signal is 0, 1/2 cycle and 1 cycle.
또한, 열 이미지가 생성되면, 열 이미지를 기초로 진폭 및 위상을 계산하여 특성 이미지가 생성될 수 있다(단계 S220).In addition, when a thermal image is generated, a characteristic image may be generated by calculating amplitude and phase based on the thermal image (step S220).
여기서, 상기 특성 이미지로는 진폭 이미지(도 6의 a)와 위상 이미지(도 7의 a)가 구해질 수 있다.Here, an amplitude image (a of FIG. 6) and a phase image (a of FIG. 7) may be obtained as the characteristic image.
이후, 특성 이미지의 진폭 이미지(도 6의 a)와 위상 이미지(도 7의 a)에 불균일 가열 효과를 보상하여 개선된 진폭 이미지(도 6의 b)와 개선된 위상 이미지(도 7의 b)가 생성될 수 있다(단계 S230).Thereafter, the amplitude image (a of FIG. 6) and the phase image (a of FIG. 7) of the characteristic image are compensated for by the nonuniform heating effect, thereby improving the amplitude image (b of FIG. 6) and the improved phase image (b of FIG. 7). Can be generated (step S230).
일 실시예에서, 개선된 열 이미지(도 5의 c)는 열 이미지(도 5의 a)를 공간영역 저주파 필터링하여 배경 이미지(도 5의 b)를 추출함으로써 얻어질 수 있다. 여기서, 상기 공간영역 저주파 필터링 기법은 마스크를 전체 이미지 면적에 걸쳐 이동시키면서 적분 연산하는 기법으로서, 기존의 다항식 결합 기법에 비해 약 40배 정도 빠른 속도로 배경 이미지(도 5의 b)를 획득할 수 있다는 장점이 있다.In one embodiment, the improved thermal image (c of FIG. 5) may be obtained by extracting a background image (b of FIG. 5) by spatially low frequency filtering the thermal image (a of FIG. 5). Here, the spatial domain low frequency filtering technique is a technique for integrating a mask while moving the entire image area, and obtains a background image (b) of FIG. 5 at a speed about 40 times faster than a conventional polynomial combining technique. There is an advantage.
여기서, 불균일 가열 효과는 할로겐 램프(111)에 의해 검사대사물이 불균일하게 가열된 것을 보정하기 위한 것으로서, 이미지 필터를 사용하여 불균일 가열 효과가 보상될 수 있다.Here, the non-uniform heating effect is to compensate for the non-uniform heating of the test metabolism by the
한편, 특성 이미지가 위상 이미지(도 7의 a)인 경우에는, 개선된 위상 이미지(도 7의 b)에서 양(+)의 위상 값을 모두 0으로 변환시켜 결함 부분이 강조된 조정 이미지(도 7의 c)가 생성될 수 있다.On the other hand, if the characteristic image is a phase image (a in FIG. 7), in the improved phase image (b in FIG. 7), all the positive phase values are converted to 0 to adjust an image in which the defect portion is emphasized (FIG. 7). C) may be generated.
미경화 결함의 경우는 음의 위상을 가지므로, 건전 영역인 양(+)의 위상 값을 모두 0으로 변환시키는 경우, 결함 부분이 강조되게 된다.In the case of the uncured defect, the negative phase has a negative phase. Therefore, when all of the positive phase values, which are healthy regions, are converted to zero, the defective portion is emphasized.
그리고, 상기 과정을 통해 생성된 개선된 특성 이미지는 각 픽셀(pixel)이 가지는 값이 0 내지 1로 정규화되어 흑백 이미지(도 6의 c 및 도 7의 d)로 변환될 수 있다(단계 S240).In addition, the improved characteristic image generated through the above process may be converted into a black and white image (c in FIG. 6 and d in FIG. 7) by normalizing the value of each pixel to 0 to 1 (step S240). .
이후, 흑백 이미지의 히스토그램을 분석하여 이진 이미지(도 6의 d 및 도 7의 f가 생성될 수 있다(단계 S250).Thereafter, the histogram of the black and white image is analyzed to generate a binary image (d of FIG. 6 and f of FIG. 7) (step S250).
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 감지 방법은 특성 이미지 중에서 진폭 이미지와 위상 이미지를 서로 다른 기법으로 영상처리할 수 있다.On the other hand, the defect detection method according to an embodiment of the present invention may image the amplitude image and the phase image of the characteristic image by different techniques.
먼저, 도 3을 참조하여, 진폭 이미지의 경우에 대해서 설명한다.First, the case of an amplitude image is demonstrated with reference to FIG.
진폭 이미지의 흑백 이미지(도 6의 c)가 생성된 후, 흑백 이미지(도 6의 c)의 명암대비를 높여 대비 증폭 이미지(도 6의 d)가 생성될 수 있다(단계 S241).After the black and white image (c of FIG. 6) of the amplitude image is generated, the contrast amplification image (d of FIG. 6) may be generated by increasing the contrast of the black and white image (c of FIG. 6) (step S241).
대비 증폭 이미지(도 6의 d)는 기포 결함에 의한 신호변화를 보다 명확하게 나타낼 수 있다.The contrast amplified image (d of FIG. 6) may more clearly represent signal changes caused by bubble defects.
이후, 대비 증폭 이미지(도 6의 d)를 미리 설정된 제1 임계값을 이용하여, 제1 임계값보다 큰 결함 부분은 1로 처리하고, 제1 임계값보다 작은 건전 부분은 0으로 처리하여 이진 이미지가 생성될 수 있다(단계 S250).Subsequently, the contrast amplified image (d of FIG. 6) is treated as a defective part larger than the first threshold value by using a preset first threshold value, and the healthy part smaller than the first threshold value is treated as 0 for binary value. An image may be generated (step S250).
그리고, 이진 이미지를 형태학적 연산 처리하여, 노이즈가 제거된 이미지(도 6의 e)가 생성될 수 있다(단계 S260).The binary image may be morphologically processed to generate an image from which noise has been removed (FIG. 6E) (step S260).
여기서, 상기 형태학적 연산 처리 기법으로는 공지된 다양한 형태의 영상처리 기법이 사용될 수 있다.Here, various known image processing techniques may be used as the morphological operation processing technique.
이후, 노이즈가 제거된 이진 이미지(도 6의 e)의 결함 부분의 크기를 측정(도 6의 f)하고, 측정한 결함 부분의 크기값을 상기 상관함수에 대입하여 실제 기포 결함의 크기가 산출될 수 있다(단계 S270).Subsequently, the size of the defective portion of the noise-free binary image (e) of FIG. 6 is measured (f of FIG. 6), and the size of the actual bubble defect is calculated by substituting the measured value of the defective portion into the correlation function. It may be (step S270).
다음으로, 도 4를 참조하여, 위상 이미지의 경우에 대해서 설명한다.Next, with reference to FIG. 4, the case of a phase image is demonstrated.
위상 이미지의 흑백 이미지(도 7의 d)가 생성된 후, 생성된 흑백 이미지(도 7의 d)를 형태학적 연산 처리하여 미경화 결함 부분의 외곽선을 부드럽게 만들어 노이즈가 감소된 형태학적 연산 이미지(도 7의 e)가 생성될 수 있다(단계 S242).After the black and white image of the phase image (d of FIG. 7) is generated, the generated black and white image (d of FIG. 7) is subjected to morphological calculation to smooth the outline of the uncured defect part, thereby reducing the noise. E) of FIG. 7 may be generated (step S242).
여기서, 상기 형태학적 연산은 팽창 연산과 침식 연산이 사용될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Here, the morphological operation may be used as the expansion operation and the erosion operation, but is not limited thereto.
그리고, 형태학적 연산 이미지(도 7의 e)를 미리 설정된 제2 임계값을 이용하여 제2 임계값보다 큰 결함 부분은 1로 처리하고, 제2 임계값보다 작은 건전 부분은 0으로 처리하여 이진 이미지(도 7의 f)가 생성될 수 있다(단계 S250).In addition, the morphological operation image (e of FIG. 7) is treated as a defective part larger than the second threshold value by using a preset second threshold value, and the healthy part smaller than the second threshold value is treated as 0 and binary. An image (f of FIG. 7) may be generated (step S250).
사용자는 위상 이미지의 이진 이미지(도 7의 f)를 통해 미경화 결함 영역을 파악할 수 있게 된다.The user can identify the uncured defect area through the binary image of the phase image (f of FIG. 7).
본 발명은 특정한 실시예에 관하여 도시하고 설명하였지만, 당업계에서 통상의 지식을 가진 자라면 이하의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 밝혀두고자 한다.While the invention has been shown and described with respect to particular embodiments, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. I want to make it clear.
Claims (24)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020140121175A KR20160031630A (en) | 2014-09-12 | 2014-09-12 | Apparatus and method for detecting defect in triplex adhesive layer of lng carrier ship |
| KR10-2014-0121175 | 2014-09-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2016039564A1 true WO2016039564A1 (en) | 2016-03-17 |
Family
ID=55459272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/KR2015/009514 Ceased WO2016039564A1 (en) | 2014-09-12 | 2015-09-10 | Apparatus and method for detecting defects in triplex bonding in lng carrier |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20160031630A (en) |
| WO (1) | WO2016039564A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114104188A (en) * | 2021-12-01 | 2022-03-01 | 中国船舶工业集团公司第七0八研究所 | Liquefied gas ship deck structure |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107389728A (en) * | 2017-07-28 | 2017-11-24 | 西安交通大学 | A kind of thermal conductivity of thin diamond films measurement apparatus and measuring method |
| CN108109932B (en) * | 2017-12-15 | 2020-08-25 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | Method for detecting bonding force of wafer |
| KR102073243B1 (en) * | 2018-04-25 | 2020-02-04 | 한국조선해양 주식회사 | Examining apparatus and method for triplex bonding layer |
| KR102434974B1 (en) * | 2020-06-17 | 2022-08-23 | 현대중공업 주식회사 | an testing apparatus and testing method for liquefied gas tank |
| KR102764750B1 (en) * | 2024-08-29 | 2025-02-07 | 국립공주대학교 산학협력단 | Micro-Crack Detection System for Hydrogen Vehicle Ejectors |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000221139A (en) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Yamatake Corp | Defect detection device |
| JP2005077272A (en) * | 2003-09-01 | 2005-03-24 | Olympus Corp | Method for inspecting defect |
| JP2005291743A (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Takahide Sakagami | Defect detecting method and device for concrete reinforced by reinforcement plate |
| US20110058154A1 (en) * | 2009-02-03 | 2011-03-10 | Yukio Akashi | Method of infrared inspection for structure, test specimen for infrared inspection and heat conductive member |
| KR20120054518A (en) * | 2010-11-19 | 2012-05-30 | 주식회사 고영테크놀러지 | Method for inspecting substrate |
-
2014
- 2014-09-12 KR KR1020140121175A patent/KR20160031630A/en not_active Ceased
-
2015
- 2015-09-10 WO PCT/KR2015/009514 patent/WO2016039564A1/en not_active Ceased
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000221139A (en) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Yamatake Corp | Defect detection device |
| JP2005077272A (en) * | 2003-09-01 | 2005-03-24 | Olympus Corp | Method for inspecting defect |
| JP2005291743A (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Takahide Sakagami | Defect detecting method and device for concrete reinforced by reinforcement plate |
| US20110058154A1 (en) * | 2009-02-03 | 2011-03-10 | Yukio Akashi | Method of infrared inspection for structure, test specimen for infrared inspection and heat conductive member |
| KR20120054518A (en) * | 2010-11-19 | 2012-05-30 | 주식회사 고영테크놀러지 | Method for inspecting substrate |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114104188A (en) * | 2021-12-01 | 2022-03-01 | 中国船舶工业集团公司第七0八研究所 | Liquefied gas ship deck structure |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20160031630A (en) | 2016-03-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO2016039564A1 (en) | Apparatus and method for detecting defects in triplex bonding in lng carrier | |
| WO2014163375A1 (en) | Method for inspecting for foreign substance on substrate | |
| WO2014204179A1 (en) | Method for verifying bad pattern in time series sensing data and apparatus thereof | |
| CN104267063A (en) | Low-value insulator detection method based on infrared thermography | |
| DE60041661D1 (en) | METHOD AND SYSTEM FOR REFERENCE-FREE THERMOGRAPHIC DETECTION OF SUB-SURFACE DEFECTS USING COMPRESSED IMAGE DATA | |
| CN106802215A (en) | A kind of device for detecting water leakage of water pipe and detection method | |
| CN102955113A (en) | Method for measuring thermal reliability of GaN-based device | |
| JP2011237383A (en) | Defect detection method and defect detection system for materials | |
| CN106770320A (en) | A kind of detection hidden equipment split of silicon chip and its silicon chip is hidden splits detection method | |
| JP3795001B2 (en) | Internal defect detection device for tunnel lining | |
| WO2010008134A2 (en) | Image processing method | |
| CN112881786A (en) | Electric leakage detection method, device and system | |
| WO2019199019A1 (en) | Terahertz wave-based defect measurement apparatus and method | |
| WO2009119983A2 (en) | Fpd substrate and semiconductor wafer inspection system using duplicate images | |
| Sripragash et al. | Non-uniformity correction and sound zone detection in pulse thermographic nondestructive evaluation | |
| EP1216946A3 (en) | System and method for detecting debonding rubber coated rolls | |
| WO2011065755A2 (en) | System and method for a non-destructive test using compressed heat | |
| JP2001050921A (en) | Method and device for automatically detecting internal defect of object | |
| JP2008204775A (en) | Charged particle beam equipment | |
| WO2018048200A1 (en) | Segregation analysis apparatus and method | |
| JPH0694660A (en) | Surface defect inspection method and device | |
| TWI426263B (en) | Defect measuring apparatus and method thereof | |
| JP4023295B2 (en) | Surface inspection method and surface inspection apparatus | |
| KR102156421B1 (en) | Equipment inspecting system | |
| WO2021125828A1 (en) | Device and method for testing surface material of steel plate |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 15840241 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
| 32PN | Ep: public notification in the ep bulletin as address of the adressee cannot be established |
Free format text: NOTING OF LOSS OF RIGHTS PURSUANT TO RULE 112(1) EPC (EPO FORM 1205A DATED 29/06/2017) |
|
| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 15840241 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |