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WO2015044035A8 - Microscope optique confocal et procédé d'analyse d'un échantillon au moyen d'un microscope optique confocal - Google Patents

Microscope optique confocal et procédé d'analyse d'un échantillon au moyen d'un microscope optique confocal Download PDF

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WO2015044035A8
WO2015044035A8 PCT/EP2014/069953 EP2014069953W WO2015044035A8 WO 2015044035 A8 WO2015044035 A8 WO 2015044035A8 EP 2014069953 W EP2014069953 W EP 2014069953W WO 2015044035 A8 WO2015044035 A8 WO 2015044035A8
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WO
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sample
light
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optical imaging
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PCT/EP2014/069953
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Peter Westphal
Alexander Gaiduk
Helmut Lippert
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Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Microscopy GmbH
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Publication date
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Abstract

L'invention concerne un microscope optique comprenant une source lumineuse qui émet une lumière d'éclairage en direction d'un échantillon, un dispositif de détection qui enregistre des images de l'échantillon et un moyen de reproduction optique qui concentre la lumière d'éclairage sous la forme d'un motif de taches lumineuses sur un niveau de hauteur de l'échantillon et qui dirige la lumière provenant de l'échantillon vers le dispositif de détection. La source lumineuse et le moyen de reproduction optique sont conçus pour, pendant un temps d'intégration de la caméra du dispositif de détection, éclairer avec le motif de taches lumineuses plusieurs zones latérales de l'échantillon espacées les unes des autres. Le microscope optique selon l'invention est caractérisé en ce que la source lumineuse, le moyen de reproduction optique et le dispositif de détection sont conçus pour permettre la prise de vue d'au moins deux images de l'échantillon pour lesquelles le motif de taches lumineuses est concentré sur différents niveaux de hauteur et/ou pour lesquelles différents niveaux de hauteur sont reproduits sur le dispositif de détection, la source lumineuse, le moyen de reproduction optique et le dispositif de détection étant agencés dans l'espace de manière identique pour chaque prise de vue des différentes images de l'échantillon. Des zones latérales respectivement identiques de l'échantillon sont alors éclairées dans les deux ou plus de deux images de l'échantillon. En outre, des moyens d'évaluation électroniques sont conçus pour calculer des informations de hauteur de l'échantillon à l'aide des deux ou plus de deux images de l'échantillon. L'invention concerne par ailleurs un procédé associé permettant d'analyser un échantillon au moyen d'un microscope optique.
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