WO2014109493A1 - Jig for fixing socket board for testing memory package - Google Patents
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- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
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Definitions
- the present invention relates to a socket board fixing jig for testing a memory package, and more particularly, a handler pusher for selectively simultaneously lifting and lowering a plurality of pressure pieces which are projected downward downward on the lower surface of the elevating panel according to the rotation of the elevating lever is provided.
- a handler pusher for selectively simultaneously lifting and lowering a plurality of pressure pieces which are projected downward downward on the lower surface of the elevating panel according to the rotation of the elevating lever is provided.
- BGA Ball Grid Array
- SMD Surface Mount Devices
- PGA pin
- QFP lead
- Such BGA is classified into Flexible BGA (Main PI material), C-BGA (Ceramic), and P-BGA (Plastic, BT) according to materials.
- the BGA packaging technology can reduce the size of a chip to about 50% of the size of a conventional chip, thereby reducing the mounting area of components when mounted on a board (such as a main board or a graphics card).
- this BGA packaging technology has the advantage that the terminal is not exposed to the outside of the chip is also strong against noise.
- the race to develop faster and better computers focuses on the development of CPUs that can process more data at higher speeds, and higher density, higher capacity, and faster memory chips, accelerating development competition.
- the memory chip developed through such technology development is being developed as a BGA type memory chip in order to reduce the mounting area of components and to secure reliability by reducing noise.
- the conventional technique for testing the defective rate of the high-density, high-capacity, high-speed BGA type memory chip (hereinafter referred to collectively referred to as "memory package” all memory chips, including BGA type memory chip))
- the socket board is fixed to the socket board through the socket board fixing jig, and then the electrical contact is confirmed through the electrical contact between the socket mounted on the socket board and the memory package.
- a method of testing a defective rate of a memory package to be tested is provided.
- the method of pressurizing the memory package is to install a manual handler pusher on the upper side of the package insertion groove of the upper fixing jig constituting the socket board fixing jig and pressurize the memory package and the automatic type according to the horizontal direction of the left and right and vertical movement of the upper and lower sides.
- the handler pusher pushes the memory package into the socket.
- the socket board fixing jig for testing a memory package in particular, for a memory package test using a passive handler pusher is configured to include an upper fixing jig and a lower fixing jig, and a package formed on the upper fixing jig. It is a device for testing the failure rate of the memory package by pressing the memory package through the mounting groove.
- the conventional socket board fixing jig for testing a memory package is particularly configured to further include a handler pusher rotatably installed in the upper fixing jig to be selectively inserted into the package seating groove to selectively pressurize the memory package. .
- the handler pusher is provided with a pressing piece for protruding downward on one side to seat and press the memory package selectively inserted into the package seating groove.
- one end of the handler pusher is rotatably connected to the upper fixing jig by a hinge connection structure, and the pressing piece is protruded and installed on the side bottom face opposite to the hinge.
- the memory package is seated in the package seating groove in accordance with the rotation of the handler pusher, the one end of which is pivotally connected to the hinge fixing structure on the upper fixing jig.
- the failure rate of the memory package can be tested by allowing the memory package to be seated and pressed by the pressing piece of the handler pusher.
- the above-described conventional socket board fixing jig for testing a memory package has a single pressing piece on a side bottom surface facing the hinge of the handler pusher, and in particular, the handler pusher corresponds to the memory seating groove formed on the upper fixing jig. It is installed on the upper fixing jig in a hinge structure so that each can be rotated.
- the conventional socket board fixing jig for testing a memory package is provided with a handler pusher having a single pressing piece corresponding to the memory seating groove.
- each handler pusher In order to test a plurality of memory packages, each handler pusher must be manually operated. Rotation and fixation work is required.
- the present invention is arranged on the upper fixing jig by a handler pusher for selectively elevating a plurality of pressure pieces which are projected downward downwardly on the lower surface of the elevating panel in accordance with the rotation of the elevating lever.
- An object of the present invention is to provide a socket board fixing jig for testing a memory package that allows a plurality of memory packages to be seated and pressed at a time on a package seating groove of a substrate pressing member.
- the technology according to the present invention is provided with a handler pusher for selectively elevating a plurality of pressing pieces downwardly projecting fixed on the lower surface of the elevating panel at the same time in accordance with the rotation of the elevating lever is arranged on a plurality of substrate pressing member on the upper fixing jig It is possible to significantly increase the work efficiency for the test of the failure of the memory package by pressing the mounting of the plurality of memory packages at the same time by pressing a plurality of memory packages at once in the package seating groove of the.
- the socket board fixing jig for testing a memory package includes an upper fixing jig and a lower fixing jig to fix a socket board on which a socket is mounted between the upper fixing jig and the lower fixing jig,
- the defective rate of the memory package is tested by selectively seating and pressing the memory package on the package seating groove of the substrate pressing member fixedly installed in a plurality of package inserting grooves formed on the upper fixing jig corresponding to the contacted memory package test substrate.
- the socket board fixing jig for testing a memory package one side is connected to the hinge structure so as to be rotatable on the upper side of the upper fixing jig so that the bottom surface is in contact with the upper surface of the upper fixing jig by rotation is provided on the other side Rotation is always performed by the elastic force
- a plurality of pressing pieces provided downward downward is selectively lowered on the package seating groove of the substrate pressing member selectively And a handler pusher for seating and pressing the memory package.
- the handler pusher is fixed to the plurality of pressing pieces protruding downwards and fixed upward downwards a plurality of upwardly projecting along the periphery of the upper surface, but the upper surface is inclined upward from one side and the horizontal surface extending a predetermined length from one end of the inclined surface
- An elevating panel having an elevating guide and a roller, which is in close contact with the upper surface of the elevating guide of the elevating panel, is rotatably installed to protrude downwardly, and a link bar protrudes on one side of the flat plate on the bottom surface of the end of the link bar.
- Link protrusions are formed to protrude downward and reciprocate in the horizontal direction by the link structure, the roller is guided on the lifting guide upper surface of the lifting panel to selectively lift the lifting panel and the link protrusion of the reciprocating panel on one side Grooves are formed A shaft hole for rotation is formed at one side of the link groove, and the other side is rotated and returned by a predetermined angle with respect to the shaft hole to move the reciprocating panel back and forth in a horizontal direction so that the elevating panel is selectively elevated.
- the elevating panel is installed from the lower side so as to be elevated, and the inner and the reciprocating panel is interposed between the elevating panel, the shaft hole of the elevating lever on the other side
- the rotating shaft inserted into the pusher housing includes a pusher housing protruding downward.
- the elevating guide of the elevating panel is seated and fixed on the horizontal plane in the process of moving from the inclined surface of the elevating guide to the horizontal plane by the rotation of the elevating lever in the state in which the roller of the reciprocating panel is in close contact, the It is preferable that the recessed groove in which the roller is seated on a horizontal surface is formed to be recessed downward to correspond to the roller.
- the upper part of the socket may be prevented from being overheated by heat generated during electrical connection between the socket mounted on the socket board and the substrate pressing member and the memory package fixed between the upper fixing jig and the lower fixing jig. It is preferable that a cooling fan is further installed on the other side of the fixing jig.
- the other side of the upper fixing jig so as to measure the electrical connection state of the memory package which is in close contact with the socket mounted on the socket board fixed between the upper fixing jig and the lower fixing jig. It is preferable that a digital voltmeter is further installed at the top.
- the buffer pusher is elastically contacted with each other to be fixed to maintain the state in which the handler pusher is in close contact with the fixing hook. It is preferable that the buffer member is further provided with an elastic to protrude downward.
- the hook of the upper fixing jig so that the handler pusher is rotated so that the bottom surface is in close contact with the upper surface of the upper fixing jig so that the handler pusher can be firmly contacted with each other through the fixing hook.
- One side of the fixing groove is preferably provided with a second cushioning member which has an elasticity from the upper surface and protrudes upward at a predetermined height.
- the effect of the socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention is as follows.
- the substrate pressing member which is arranged on the upper fixing jig by a plurality of handler pushers for selectively simultaneously elevating a plurality of pressing pieces downwardly projected on the lower surface of the elevating panel according to the rotation of the elevating lever.
- the mounting pressing of the plurality of memory packages may be simultaneously performed by allowing the pressing of the plurality of memory packages at once.
- a handler pusher for selectively elevating a plurality of pressing pieces protruding downward downward fixed on the lower surface of the elevating panel according to the rotation of the elevating lever.
- FIG. 1 is an exploded perspective view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
- Figure 2 is a combined perspective view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
- FIG 3 is a cross-sectional view taken along the line A-A of Figure 2, showing a coupling cross-sectional view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
- Figure 4 is an exploded perspective view showing a handler pusher which is a main part of a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
- Figure 5 is a bottom perspective perspective view showing the configuration seen from the bottom of FIG.
- Figure 6 is a side view showing the operating state of the operation state showing the operating state of the elevating panel is guided and lifted by the guide panel in the handler pusher which is the main portion of the socket board fixing jig for testing the memory package according to the present invention.
- Figure 7 is a plan view showing the operating state of the main portion of the operation state in which the lifting panel is guided and lifted by the guide panel in the handler pusher which is the main part of the socket board fixing jig for testing the memory package according to the present invention.
- cooling fan 160 digital voltmeter
- roller 346 roller shaft
- buffer member 387 restraint groove
- socket board 410 socket
- FIG. 1 is an exploded perspective view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention
- FIG. 2 is a combined perspective view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention
- FIG. 4 is an exploded perspective view showing a handler pusher which is a main portion of a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention
- FIG. 5 is a bottom detached perspective view showing a configuration viewed from the bottom of FIG. 4.
- Figure 6 is a side view showing the main state of the operation state showing the operating state of the elevating panel is guided by the guide panel in the pusher of the handle of the socket board fixing jig for testing the memory package according to the present invention
- Figure 7 is according to the present invention This is a plan view of the main part of the operation state showing the operating state where the elevating panel is guided by the guide panel in the handler pusher, which is a recess of the socket board fixing jig for testing the memory package.
- the socket board fixing jig 1 for testing a memory package includes an upper fixing jig 100 and a lower fixing jig 200, and the upper fixing jig (
- the socket board 400 having the socket 410 mounted therebetween is fixed between the 100 and the lower fixing jig 200, but the upper portion corresponds to the memory package test substrate 600 having a lower surface contacting the upper surface of the socket 410.
- the memory package 500 may be selectively seated and pressed on the package seating groove 121 of the substrate pressing member 120 fixedly installed in a plurality of package inserting grooves 110 formed on the fixing jig 100. 500) is a device for testing the defective rate.
- the socket board fixing jig 1 for testing the memory package is particularly connected to a hinge structure so that one side is rotatable on the upper side of the upper fixing jig 100 so that the bottom surface thereof is rotated with the upper surface of the upper fixing jig 100.
- After the locking is fixed to the plurality of pressing pieces 330 which are provided with a downward protrusion selectively descends to selectively press the memory package 500 on the package seating groove 121 of the substrate pressing member 120.
- It further comprises a handler pusher (300).
- the handler pusher 300 is classified into a lifting panel 320, a reciprocating panel 340, a lifting lever 360, and a pusher housing 380.
- the elevating panel 320 is fixed to the plurality of pressing pieces 330 downwardly projecting downward upwardly fixed to the upper surface along the circumference so as to selectively descend, the inclined surface 322 and the upper surface is inclined upward from one side and the It is preferable that the inclined surface 322 is made of a configuration having a lifting guide 321 consisting of a horizontal surface 323 extending flat from a certain length.
- the pressing piece 330 protruding downwardly to the elevating panel 320 as described above is fixed to the bottom surface of the elevating panel 320 to protrude downward, and to be elastically cushioned.
- the pressing piece 330 when the pressing piece 330 is in close contact with the bottom surface to pressurize the memory package 500, the pressing piece 330 has a buffering force at the time of close pressing to stably prevent the damage of the memory package 500. 500) to pressurize.
- the pressing piece 300 is elastically guided in the vertical direction by the guide shaft 325 protruding downward on the bottom of the elevating panel 320, the installation groove (not shown) recessed downward from the upper surface in the corner portion
- An elastic member 326 is internally installed on and fixed to the bottom surface of the elevating panel 320.
- the pressing piece 300 is formed along the circumference of the upper end of the engaging groove (unsigned) so that the engaging groove (unsigned) is fixed by the head of the coupling bolt (unsigned) of the elevating panel 320 It is preferred to be bonded to the bottom.
- the pressing piece 300 is fixed to be guided in the vertical direction with elasticity by the guide shaft 325 protruding downward on the bottom surface of the elevating panel 320 by the elastic member 326.
- the reciprocating panel 340 is rotatably installed so that the roller 345 in close contact with the upper surface of the elevating guide 321 of the elevating panel 320 protrudes downward, the link bar 341 on one side on the plate ) Is protruded so that the link protrusion 342 protrudes downward on the bottom surface of the end of the link bar 341.
- the reciprocating panel 340 is reciprocated in the horizontal direction by a link structure so that the roller 345 is guided to the upper surface of the elevating guide 321 of the elevating panel 320 to selectively select the elevating panel 320. It can be lifted.
- the roller 345 is provided in plurality in correspondence with the lifting guide 321, and the roller 345 is fixed to the roller shaft 346 on the reciprocating panel 340. It is preferably installed by the bolt 347 but protrudes downward from the bottom of the reciprocating panel 340 so as to be rotatably installed.
- the lifting lever 360 is formed with a link groove 362 is inserted into the link projection 342 of the reciprocating panel 340 on one side, the shaft hole 363 for rotation on one side of the link groove 362 The other side is rotated and returned by a predetermined angle based on the shaft hole 363 so as to reciprocate the reciprocating panel 340 in a horizontal direction to selectively lift the elevating panel 320.
- the pusher housing 380 is connected to the hinge structure so that one side is rotatable on the upper side of the upper fixing jig 100, and the inner lifting panel 320 from the lower side is built up to be able to lift and lower the lifting panel 320 and It is preferable that the reciprocating panel 340 is interposed therebetween.
- the pusher housing 380 of the handler pusher 300 is always rotated and returned by the elastic force to the other side the fixed hook (135) is selectively caught on the hook fixing groove 130 of the upper fixing jig (100) 310 is provided.
- the fixing hook 310 is fixedly installed in the hinge structure on the other side of the pusher housing 380 to be always rotated, return by the elastic force, the upper one side of the pusher housing 380 in the central side of the other side
- the elastic member 311 is fixed to maintain the vertical state at all times.
- the fixing hook 310 when the upper surface of the fixing hook 310 is pressed and then released, the fixing hook 310 may be returned to its original state, that is, by an elastic force in a vertical state.
- the hook can be selectively made on the hook fixing groove 130 of the upper fixing jig (100).
- the pusher housing 380 is preferably a rotating shaft 383 is inserted into the shaft hole 363 of the lifting lever 360 on the other bottom surface protruding downward, and thus the lifting lever (3) on the rotating shaft 383
- the shaft hole 363 of the 360 is inserted and fixed so that one end of the elevating lever 360 is rotatably connected, and thus the other end of the elevating lever 360 may be rotated based on one end thereof.
- the lifting lever 360 is rotated to the other side of the pusher housing 380 by the coupling piece 382 is tightly coupled to the lower end of the rotary shaft 383 after the shaft hole 363 is inserted into the rotary shaft 383. It is installed to be possible.
- the pusher housing 380 is a guide portion 329 formed to be recessed upwardly by chamfering the corner portion of the elevating panel 320 after the reciprocating panel 340, the elevating panel 320 is sequentially inserted from the lower side.
- the fixing piece 381 is in close contact with each other, so that the reciprocating panel 340 and the elevating panel 320 are installed by the fixing piece 381.
- the lifting lever 360 installed to be rotatable on the other side of the pusher housing 380 is rotated and returned with respect to a predetermined angle with the rotation shaft 383 as an axis.
- a constraining groove 387 is formed at one of the other corners of the other side of the pusher housing 380 to be recessed upwardly from the bottom to form a first constraining surface 388 which is one sidewall of the constraining groove 387.
- the first locking surface 368 protruding from one side of the elevating lever 360 is selectively blocked by rotation, and the elevating surface is lifted on the second restraining surface 389 which is the other side wall of the restraining groove 387.
- the second locking surface 369 recessed in the 'V' shape on the other side of the lever 360 is selectively tightly blocked by rotation.
- the lifting lever 360 may be prevented from being rotated any further by rotating and returning only one predetermined angle to the one side and the other side with the rotation shaft 383 as the axis.
- the elevating guide 321 of the elevating panel 320 is the inclined surface of the elevating guide 321 by the rotation of the elevating lever 360 in a state in which the roller 345 of the reciprocating panel 340 is in close contact
- the roller 345 In order to be seated and fixed on the horizontal surface 323 in the process of moving from the 322 to the horizontal surface 323, the seating groove 324 on which the roller 345 is seated on the horizontal surface 323 is the roller ( Corresponding to the 345 may be formed to be recessed downwardly round.
- the socket board fixing jig 1 for testing a memory package according to the present invention as described above is mounted on the socket board 400 fixed between the upper fixing jig 100 and the lower fixing jig 200. Cooling fan 150 on the other side of the upper fixing jig 100 to prevent overheating of the device due to heat generated during electrical connection between the socket 410, the substrate pressing member 120, and the memory package 500. ) Can be installed further.
- the memory package is in close contact with the socket 410 and the substrate pressing member 120 mounted on the socket board 400 fixed between the upper fixing jig 100 and the lower fixing jig 200.
- a digital voltage meter 160 is further installed on the other side of the upper fixing jig 100.
- cooling fan 150 and the digital voltmeter 160 are installed, it is possible to quickly check whether the memory package 500 is a test object is defective, and at the same time, overheating of the device may be performed through the cooling fan 150. It is possible to stably prevent the test of the memory package 500 to be executed continuously.
- the socket board fixing jig 1 for testing a memory package according to the present invention as described above is mutually resilient when the handler pusher 300 is rotated so that the bottom surface is in close contact with the upper surface of the upper fixing jig 100.
- a cushioning member 385 is provided on the other bottom surface of the handler pusher 300 to protrude downward and elastically so as to be buffered to be in contact with the fixing hook 310 to be maintained in close contact.
- a second buffer member 140 may be further provided on one side of the hook fixing groove 130 of the upper fixing jig 100 to protrude upward at a predetermined height with elasticity from an upper surface thereof. As the 140 is further provided with the shock absorbing member 385, a more stable shock absorbing effect can be achieved.
- the socket board 400 having the socket 410 mounted on the upper surface is fixed between the upper fixing jig 100 and the lower fixing jig 200, and at this time, the upper surface of the socket 410 has a substrate for testing a memory package ( The substrate 600 for testing the memory package is disposed to contact the bottom surface of the memory package 600.
- the upper side of the upper fixing jig 100, the handler pusher 300, one side of which is connected by a hinge structure, does not cover the upper portion of the upper fixing jig 100, that is, the upper fixing jig in a vertical state.
- a plurality of memory packages 500 are seated on the package seating recess 121 of the substrate pressing member 120 arranged in a plurality of package inserting recesses 110 of 100.
- the other side of the handler pusher 300 is rotated based on one side connected to the hinge structure of the handler pusher 300 so that the bottom surface of the handler pusher 300 is in close contact with the upper surface of the upper fixing jig 100.
- the fixing hook 310 provided on the other side of the handler pusher 300 is hooked to the hook fixing groove 130 of the upper fixing jig 100, the bottom surface of the handler pusher 300 is the upper fixing jig ( Maintain close contact with the upper surface of 100).
- the lifting lever 360 rotatably installed on the other side of the handler pusher 300 is rotated in one direction, and the first locking surface 368 of the lifting lever 360 is configured to rotate the handler pusher 300.
- the lifting lever 360 is rotated in one direction until it stops by being stopped by the first restraining surface 388 of the restraining groove 387 recessed upwardly at the other edge portion.
- the lifting lever 360 when the lifting lever 360 is rotated in one direction until it stops by being stopped by the first restraining surface 388 of the restraint groove 387, the reciprocating panel 340 is moved by the lifting lever 360.
- the lifting panel 320 is lowered by the roller 345 and the lifting guide 321 while moving in one direction.
- the pressing piece 330 which is installed downwardly protruding from the lifting panel 320 is lowered by a certain height, and the package seating groove is lowered by the lowering of the pressing piece 330.
- the plurality of memory packages 500 seated on the 121 may be pressed downward.
- the plurality of memory packages 500 seated on the package seating groove 121 as described above may be simultaneously pressed downward, and when the pressing process is completed, the upper fixing jig 100 may be lifted.
- the defective rate test of the plurality of memory packages 500 is performed through the digital voltmeter 160 installed in the plurality of memory packages 500.
- a failure rate test for a plurality of memory packages 500 using the socket board fixing jig 1 for a memory package test according to the present invention can be performed at the same time.
- defect rate can be simultaneously tested for a plurality of memory packages by repeatedly removing the memory package 500 that has been tested by performing the above-described process and repeatedly performing the above-described process.
- the socket board fixing jig 1 for testing a memory package according to the present invention as described above rotates the lifting lever 360 to the pressing pieces 330 which are fixed downwardly and protruded to the lower surface of the lifting panel 320.
- the plurality of memory packages 500 on the package seating groove 121 of the substrate pressing member 120 are arranged on the upper fixing jig 100 by being provided with the handler pusher 300 to selectively lift at the same time. ) To be seated and pressed at a time, the seating pressurization of the plurality of memory packages 500 may be simultaneously performed.
- an upper fixing jig is provided with a handler pusher 300 for selectively simultaneously elevating the pressing piece 330 which is fixed downwardly to the lower surface of the elevating panel 320 in accordance with the rotation of the elevating lever 360.
- the mounting pressurization of the plurality of memory packages 500 is simultaneously performed by allowing the plurality of memory packages 500 to be seated and pressed at a time on the package seating grooves 121 of the substrate pressing member 120 arranged in plural on the substrate 100. As a result, the work efficiency for the failure test of the memory package 500 may be significantly increased.
- the plurality of memory packages 500 are seated and pressed at a time on the package seating groove 121 so that pressing and pressing of the plurality of memory packages 500 are simultaneously performed to test the plurality of memory packages 500.
- the time taken to perform may be reduced, and the reliability of the performance of the memory package 500 may be improved.
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Abstract
Description
본 발명은 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 승강패널의 하면에 다수 개로 하향 돌출 고정되는 가압편을 승강레버의 회전에 따라 선택적으로 동시에 승강시키는 핸들러 푸셔가 구비됨으로써 상부 고정지그 상에 다수 개로 배열되는 패키지 안착홈 상에 다수 개의 메모리 패키지를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지의 안착 가압이 동시에 이루어질 수 있으며, 이를 통하여 메모리 패키지의 불량 여부 테스트에 대한 작업 효율을 현저히 증대시킬 수 있도록 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그에 관한 것이다.The present invention relates to a socket board fixing jig for testing a memory package, and more particularly, a handler pusher for selectively simultaneously lifting and lowering a plurality of pressure pieces which are projected downward downward on the lower surface of the elevating panel according to the rotation of the elevating lever is provided. By pressing a plurality of memory packages at once in a package seating groove arranged in a plurality on the fixing jig can be pressurized mounting of a plurality of memory packages at the same time, thereby significantly improving the work efficiency for the test whether the memory package is defective The present invention relates to a socket board fixing jig for testing a memory package so as to be increased.
일반적으로 BGA라 함은 Ball Grid Array의 약어를 말하는 것으로, SMD(Surface Mount Devices : 표면실장소자)의 일종인데, 패키징(Packaging) 실장시 Pin(PGA)이나 Lead(QFP)면 대신 Ball을 사용하는 패키징 기술이다.In general, BGA is an abbreviation of Ball Grid Array. It is a type of SMD (Surface Mount Devices), which uses a ball instead of a pin (PGA) or lead (QFP) surface when packaging. Packaging technology.
이러한 BGA는 재료에 따른 Flexible BGA(Main PI 재료), C-BGA(Ceramic), P-BGA(Plastic, BT)로 구분된다.Such BGA is classified into Flexible BGA (Main PI material), C-BGA (Ceramic), and P-BGA (Plastic, BT) according to materials.
전술한 바와 같은 BGA 패키징 기술은 기존의 칩보다 약 50% 정도의 크기로 칩의 크기를 줄일 수 있어 보드(메인보드나 그래픽 카드 등) 상에 실장시 부품의 실장 면적을 줄일 수 있다는 장점이 있다. 또한, 이러한 BGA 패키징 기술은 단자가 칩의 외부로 노출되어 있지 않기 때문에 노이즈에도 강하다는 장점이 있다.As described above, the BGA packaging technology can reduce the size of a chip to about 50% of the size of a conventional chip, thereby reducing the mounting area of components when mounted on a board (such as a main board or a graphics card). . In addition, this BGA packaging technology has the advantage that the terminal is not exposed to the outside of the chip is also strong against noise.
한편, 퍼스널 컴퓨터는 중앙처리장치(CPU)의 발전에 따라 그 성능이 비약적으로 향상되고 있으며, 더 빠르고 성능이 우수한 컴퓨터를 개발하기 위한 경쟁은 끊임없이 이어지고 있어 슈퍼컴퓨터, 병렬처리 컴퓨터, RISC(Reduced Instruction Set Computer) 개발 등이 이루어지고 있다. 물론, 지금도 컴퓨터의 성능을 향상시키기 위한 노력은 계속되고 있다.On the other hand, the performance of personal computers is rapidly improving due to the development of central processing unit (CPU), and the competition for developing faster and better computers is continuing. As a result, supercomputers, parallel processing computers, and RISC (Reduced Instruction) Set Computer) is being developed. Of course, efforts are still being made to improve the performance of computers.
전술한 바와 같이 더 빠르고 성능이 우수한 컴퓨터를 개발하기 위한 경쟁은 더 많은 데이터를 고속으로 처리할 수 있는 CPU와 고집적·고용량·고속도화된 메모리 칩의 개발에 초점이 맞추어져 그 개발 경쟁이 가속화되고 있다. 특히, 이러한 기술개발을 통해 개발된 메모리 칩 등은 부품의 실장 면적을 줄이고 노이즈의 감소를 통한 신뢰도의 확보를 위해 BGA 타입의 메모리 칩으로 개발되고 있다.As mentioned above, the race to develop faster and better computers focuses on the development of CPUs that can process more data at higher speeds, and higher density, higher capacity, and faster memory chips, accelerating development competition. have. In particular, the memory chip developed through such technology development is being developed as a BGA type memory chip in order to reduce the mounting area of components and to secure reliability by reducing noise.
한편, 전술한 바와 같이 고집적·고용량·고속도화된 BGA 타입의 메모리 칩(이하, BGA 타입의 메모리 칩을 포함한 모든 메모리 칩을 통칭하여 "메모리 패키지"라 한다)의 불량률을 테스트하기 위한 종래의 기술로는 메모리 패키지의 불량률 테스트하는 방법으로 소켓이 실장된 소켓보드를 소켓보드 고정지그를 통해 고정시킨 다음 소켓 보드에 실장된 소켓과 메모리 패키지의 전기적인 접촉을 통해 전기적인 접속여부를 확인할 수 있도록 함으로써 테스트할 대상물인 메모리 패키지의 불량률을 테스트하는 방법이 제공되고 있다.On the other hand, the conventional technique for testing the defective rate of the high-density, high-capacity, high-speed BGA type memory chip (hereinafter referred to collectively referred to as "memory package" all memory chips, including BGA type memory chip)) As a method of testing the defect rate of the memory package, the socket board is fixed to the socket board through the socket board fixing jig, and then the electrical contact is confirmed through the electrical contact between the socket mounted on the socket board and the memory package. A method of testing a defective rate of a memory package to be tested is provided.
전술한 바와 같은 메모리 패키지의 불량률 테스트시 소켓보드 고정지그에 고정된 상태로 패키지 투입홈을 통해 투입되어 소켓의 상부로 위치되는 메모리 패키지를 가압하여 전기적인 접속여부를 확인하는 과정에서 소켓의 상부 측으로 메모리 패키지를 가압하는 방식으로는 소켓보드 고정지그를 구성하는 상부 고정지그의 패키지 투입홈 상부 측으로 수동형 핸들러 푸셔를 설치하여 메모리 패키지를 가압하는 방식과 좌우의 수평방향과 상하의 수직방향 이동에 따른 자동형 핸들러 푸셔를 통해 메모리 패키지를 소켓으로 가압하는 방식이 있다.When the defect rate test of the memory package as described above is pressed into the socket board fixing jig and pressed through the package insertion groove to press the memory package located in the upper portion of the socket to the upper side of the socket in the process of confirming the electrical connection The method of pressurizing the memory package is to install a manual handler pusher on the upper side of the package insertion groove of the upper fixing jig constituting the socket board fixing jig and pressurize the memory package and the automatic type according to the horizontal direction of the left and right and vertical movement of the upper and lower sides. The handler pusher pushes the memory package into the socket.
전술한 바와 같은 방식 중에서, 특히 수동형 핸들러 푸셔를 이용한 메모리 패키지 테스트를 위한 종래의 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그는 상부 고정지그와 하부 고정지그를 포함하여 구성되며, 상기 상부 고정지그 상에 형성된 패키지 안착홈을 통해 메모리 패키지를 안착 가압시켜 상기 메모리 패키지의 불량률을 테스트하는 장치이다.Among the above-described methods, the socket board fixing jig for testing a memory package, in particular, for a memory package test using a passive handler pusher is configured to include an upper fixing jig and a lower fixing jig, and a package formed on the upper fixing jig. It is a device for testing the failure rate of the memory package by pressing the memory package through the mounting groove.
이러한 종래의 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그는 특히, 상기 상부 고정지그에 회전가능하도록 설치되어 상기 패키지 안착홈에 선택적으로 삽입되어 상기 메모리 패키지를 선택적으로 안착 가압시키는 핸들러 푸셔를 더 포함하여 구성된다.The conventional socket board fixing jig for testing a memory package is particularly configured to further include a handler pusher rotatably installed in the upper fixing jig to be selectively inserted into the package seating groove to selectively pressurize the memory package. .
여기서, 상기 핸들러 푸셔는 일측에 하향 돌출되어 상기 패키지 안착홈에 선택적으로 삽입되는 상기 메모리 패키지를 안착 가압시키는 가압편이 구비된다.Here, the handler pusher is provided with a pressing piece for protruding downward on one side to seat and press the memory package selectively inserted into the package seating groove.
다시 말하면, 상기 핸들러 푸셔는 일단부가 힌지 연결구조로 상기 상부 고정지그 상에 회동가능하게 연결되며, 힌지와 대향되는 측 저면에는 상기 가압편이 돌출 설치되는 구성으로 이루어진다.In other words, one end of the handler pusher is rotatably connected to the upper fixing jig by a hinge connection structure, and the pressing piece is protruded and installed on the side bottom face opposite to the hinge.
그러므로, 종래의 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그는 상기 상부 고정지그 상에 일단부가 힌지 연결구조로 회동가능하도록 연결되는 상기 핸들러 푸셔의 회전에 따라, 상기 패키지 안착홈에 상기 메모리 패키지를 안착시켜 상기 메모리 패키지를 상기 핸들러 푸셔의 가압편에 의해 안착 가압되도록 하여 상기 메모리 패키지의 불량률을 테스트할 수 있는 것이다.Therefore, according to the conventional socket board fixing jig for testing a memory package, the memory package is seated in the package seating groove in accordance with the rotation of the handler pusher, the one end of which is pivotally connected to the hinge fixing structure on the upper fixing jig. The failure rate of the memory package can be tested by allowing the memory package to be seated and pressed by the pressing piece of the handler pusher.
전술한 종래의 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그는 상기 핸들러 푸셔의 힌지와 대향되는 측 저면에 단일의 가압편을 가지는 것으로, 특히 이러한 핸들러 푸셔는 상기 상부 고정지그 상에 형성된 상기 메모리 안착홈과 대응되어 각각 회동가능하도록 힌지구조로 상기 상부 고정지그 상에 설치되는 것이다.The above-described conventional socket board fixing jig for testing a memory package has a single pressing piece on a side bottom surface facing the hinge of the handler pusher, and in particular, the handler pusher corresponds to the memory seating groove formed on the upper fixing jig. It is installed on the upper fixing jig in a hinge structure so that each can be rotated.
즉, 종래의 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그는 메모리 안착홈과 대응되어 단일의 가압편을 가지는 핸들러 푸셔가 각기 구비되는 것으로, 다수 개의 메모리 패키지를 테스트하기 위해서는 각각의 핸들러 푸셔를 작업자가 수동으로 회전시켜 고정하는 작업이 요구된다.That is, the conventional socket board fixing jig for testing a memory package is provided with a handler pusher having a single pressing piece corresponding to the memory seating groove. In order to test a plurality of memory packages, each handler pusher must be manually operated. Rotation and fixation work is required.
따라서, 불량 여부를 테스트할 대상인 메모리 패키지를 다수 개의 패키지 안착홈 상에 다수 개로 동시에 고정하여 테스트할 수 없다는 문제가 있다.Therefore, there is a problem in that a plurality of memory packages to be tested for defects may not be fixed and tested simultaneously on a plurality of package seating grooves.
아울러, 메모리 패키지에 대하여 다수 개를 동시에 고정하여 테스트할 수 없으므로, 메모리 패키지를 소수의 개수로만 반복적으로 테스트하여야 하며, 이에 따라 메모리 패키지의 불량 여부 테스트에 대한 작업 효율이 저하되는 문제가 있다.In addition, since a plurality of memory packages cannot be fixed and tested at the same time, only a small number of memory packages should be repeatedly tested, and thus there is a problem in that work efficiency for a bad test of a memory package is degraded.
그러므로, 상부 고정지그 상에 다수 개로 배열되는 패키지 안착홈 상에 메모리 패키지를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지의 안착 가압이 동시에 이루어질 수 있으며, 이를 통하여 메모리 패키지의 불량 여부 테스트에 대한 작업 효율을 현저히 증대시킬 수 있도록 한 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그에 대한 연구 및 개발이 요구되는 실정이다.Therefore, by pressing the memory package on the package seating groove arranged in a plurality on the upper fixing jig at a time can be pressurized mounting of a plurality of memory packages at the same time, thereby improving the work efficiency of the test whether the memory package defective There is a need for research and development on a socket board fixing jig for testing a memory package that can be significantly increased.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 승강패널의 하면에 다수 개로 하향 돌출 고정되는 가압편을 승강레버의 회전에 따라 선택적으로 동시에 승강시키는 핸들러 푸셔가 구비됨으로써 상부 고정지그 상에 다수 개로 배열되는 기판 가압부재의 패키지 안착홈 상에 다수 개의 메모리 패키지를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지의 안착 가압이 동시에 이루어질 수 있도록 한 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the above problems, the present invention is arranged on the upper fixing jig by a handler pusher for selectively elevating a plurality of pressure pieces which are projected downward downwardly on the lower surface of the elevating panel in accordance with the rotation of the elevating lever. An object of the present invention is to provide a socket board fixing jig for testing a memory package that allows a plurality of memory packages to be seated and pressed at a time on a package seating groove of a substrate pressing member.
아울러, 본 발명에 따른 기술은 승강패널의 하면에 다수 개로 하향 돌출 고정되는 가압편을 승강레버의 회전에 따라 선택적으로 동시에 승강시키는 핸들러 푸셔가 구비되어 상부 고정지그 상에 다수 개로 배열되는 기판 가압부재의 패키지 안착홈 상에 다수 개의 메모리 패키지를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지의 안착 가압이 동시에 이루어짐으로써 메모리 패키지의 불량 여부 테스트에 대한 작업 효율을 현저히 증대시킬 수 있도록 함에 있다.In addition, the technology according to the present invention is provided with a handler pusher for selectively elevating a plurality of pressing pieces downwardly projecting fixed on the lower surface of the elevating panel at the same time in accordance with the rotation of the elevating lever is arranged on a plurality of substrate pressing member on the upper fixing jig It is possible to significantly increase the work efficiency for the test of the failure of the memory package by pressing the mounting of the plurality of memory packages at the same time by pressing a plurality of memory packages at once in the package seating groove of the.
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 다음과 같다. 즉, 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그는 상부 고정지그와 하부 고정지그로 구성되어 상기 상부 고정지그와 하부 고정지그 사이에 소켓이 실장된 소켓보드를 고정시키되 상기 소켓 상면에 하면이 접촉되는 메모리 패키지 테스트용 기판에 대응하여 상기 상부 고정지그 상에 다수 개로 형성된 패키지 투입홈에 고정설치되는 기판 가압부재의 패키지 안착홈 상에 선택적으로 메모리 패키지를 안착 가압시켜 상기 메모리 패키지의 불량률을 테스트하는 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그에 있어서, 일측이 상기 상부 고정지그의 상측에 회전가능하도록 힌지 구조로 연결되어 회전에 의해 저면이 상기 상부 고정지그의 상면과 밀착된 상태가 유지되도록 타측에 구비된 탄성력에 의해 상시 회전, 복귀하여 걸림이 이루어질 수 있는 고정후크를 통하여 타측이 상기 상부 고정지그의 일측에 형성된 후크 고정홈 상에 걸림 고정된 후, 하향 돌출 구비되는 다수 개의 가압편이 선택적으로 하강하여 상기 기판 가압부재의 패키지 안착홈 상에 선택적으로 상기 메모리 패키지를 안착 가압시키는 핸들러 푸셔를 더 포함하는 구성으로 이루어진다.The present invention for achieving the above object is as follows. That is, the socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention includes an upper fixing jig and a lower fixing jig to fix a socket board on which a socket is mounted between the upper fixing jig and the lower fixing jig, The defective rate of the memory package is tested by selectively seating and pressing the memory package on the package seating groove of the substrate pressing member fixedly installed in a plurality of package inserting grooves formed on the upper fixing jig corresponding to the contacted memory package test substrate. In the socket board fixing jig for testing a memory package, one side is connected to the hinge structure so as to be rotatable on the upper side of the upper fixing jig so that the bottom surface is in contact with the upper surface of the upper fixing jig by rotation is provided on the other side Rotation is always performed by the elastic force After the other side is fixed to the hook fixing groove formed on one side of the upper fixing jig through the fixing hook, a plurality of pressing pieces provided downward downward is selectively lowered on the package seating groove of the substrate pressing member selectively And a handler pusher for seating and pressing the memory package.
여기서, 상기 핸들러 푸셔는 상기 다수 개의 가압편이 하향 돌출 고정되어 선택적으로 하강하도록 상면에 둘레를 따라 다수 개로 상향 돌출고정되되 상면이 일측으로부터 상향 경사지게 형성된 경사면과 상기 경사면 일단으로부터 일정길이 평평하게 연장되는 수평면으로 이루어진 승강가이드를 가지는 승강패널과, 상기 승강패널의 승강가이드의 상면에 밀착되는 롤러가 하향 일정길이 돌출되도록 회전가능하게 설치되며, 평판 상으로 일측에 링크 바가 돌출되어 상기 링크 바의 단부 저면에 링크돌기가 하향 돌출 형성되어 링크 구조에 의해 수평방향으로 왕복 이동하여 상기 롤러가 상기 승강패널의 승강가이드 상면에 안내되어 상기 승강패널을 선택적으로 승강시키는 왕복패널과, 일측에 상기 왕복패널의 링크돌기가 삽입되는 링크 홈이 형성되며 상기 링크 홈 일측에 회전을 위한 축공이 형성되어, 상기 축공을 기준으로 타측이 일정각도 회전, 복귀하여 상기 왕복패널을 수평방향으로 왕복 이동시켜 상기 승강패널을 선택적으로 승강되도록 하는 승강레버 및 일측이 상기 상부 고정지그의 상측에 회전가능하도록 힌지 구조로 연결되고, 하측으로부터 상기 승강패널이 승강가능하도록 내설되되 상기 승강패널과의 사이에 상기 왕복패널이 개재되어 내설되며, 타측에 상기 승강레버의 축공에 삽입되는 회전축이 하향 돌출 형성되는 푸셔 하우징을 포함하여 이루어짐이 바람직하다.Here, the handler pusher is fixed to the plurality of pressing pieces protruding downwards and fixed upward downwards a plurality of upwardly projecting along the periphery of the upper surface, but the upper surface is inclined upward from one side and the horizontal surface extending a predetermined length from one end of the inclined surface An elevating panel having an elevating guide and a roller, which is in close contact with the upper surface of the elevating guide of the elevating panel, is rotatably installed to protrude downwardly, and a link bar protrudes on one side of the flat plate on the bottom surface of the end of the link bar. Link protrusions are formed to protrude downward and reciprocate in the horizontal direction by the link structure, the roller is guided on the lifting guide upper surface of the lifting panel to selectively lift the lifting panel and the link protrusion of the reciprocating panel on one side Grooves are formed A shaft hole for rotation is formed at one side of the link groove, and the other side is rotated and returned by a predetermined angle with respect to the shaft hole to move the reciprocating panel back and forth in a horizontal direction so that the elevating panel is selectively elevated. It is connected to the hinge structure so as to be rotatable on the upper side of the upper fixing jig, the elevating panel is installed from the lower side so as to be elevated, and the inner and the reciprocating panel is interposed between the elevating panel, the shaft hole of the elevating lever on the other side Preferably, the rotating shaft inserted into the pusher housing includes a pusher housing protruding downward.
이때, 상기 승강패널의 승강가이드는 상기 왕복패널의 롤러가 밀착된 상태에서 상기 승강레버의 회전에 의해 상기 승강가이드의 경사면으로부터 상기 수평면으로 이동되는 과정에서 상기 수평면 상에 안착 고정될 수 있도록, 상기 수평면 상에 상기 롤러가 안착되는 안착홈이 상기 롤러와 대응되어 라운드지게 하향 함몰 형성됨이 양호하다.In this case, the elevating guide of the elevating panel is seated and fixed on the horizontal plane in the process of moving from the inclined surface of the elevating guide to the horizontal plane by the rotation of the elevating lever in the state in which the roller of the reciprocating panel is in close contact, the It is preferable that the recessed groove in which the roller is seated on a horizontal surface is formed to be recessed downward to correspond to the roller.
또한, 상기 상부 고정지그와 하부 고정지그 사이에 고정되는 상기 소켓보드에 실장된 상기 소켓과 상기 기판 가압부재 및 상기 메모리 패키지의 전기적 접속시 발생하는 열에 의한 기기의 과열이 방지될 수 있도록, 상기 상부 고정지그 타측 상부에 냉각팬이 더 설치됨이 바람직하다.In addition, the upper part of the socket may be prevented from being overheated by heat generated during electrical connection between the socket mounted on the socket board and the substrate pressing member and the memory package fixed between the upper fixing jig and the lower fixing jig. It is preferable that a cooling fan is further installed on the other side of the fixing jig.
더욱이, 상기 상부 고정지그와 하부 고정지그 사이에 고정되는 상기 소켓보드에 실장된 상기 소켓과 상기 기판 가압부재가 개재되어 밀착되는 상기 메모리 패키지의 전기적 접속상태를 계측할 수 있도록, 상기 상부 고정지그 타측 상부에 디지털 전압계가 더 설치됨이 양호하다.Further, the other side of the upper fixing jig so as to measure the electrical connection state of the memory package which is in close contact with the socket mounted on the socket board fixed between the upper fixing jig and the lower fixing jig. It is preferable that a digital voltmeter is further installed at the top.
또한, 상기 핸들러 푸셔가 회전하여 저면이 상기 상부 고정지그의 상면과 밀착될 때 탄성에 의해 상호 완충 접촉되어 상기 고정후크를 통하여 밀착된 상태가 유지되도록 고정될 수 있도록, 상기 핸들러 푸셔의 타측 저면 상에 탄성을 가지고 하향 돌출되는 완충부재가 더 구비됨이 바람직하다.In addition, when the handler pusher is rotated so that the bottom surface is in close contact with the upper surface of the upper fixing jig, the buffer pusher is elastically contacted with each other to be fixed to maintain the state in which the handler pusher is in close contact with the fixing hook. It is preferable that the buffer member is further provided with an elastic to protrude downward.
아울러, 상기 핸들러 푸셔가 회전하여 저면이 상기 상부 고정지그의 상면과 밀착될 때 탄성에 의해 상호 완충 접촉되어 상기 고정후크를 통하여 밀착된 상태가 유지되도록 고정될 수 있도록, 상기 상부 고정지그의 상기 후크 고정홈 일측에 상면으로부터 탄성을 가지고 상향 일정높이 돌출되는 제2 완충부재가 더 구비됨이 양호하다.In addition, the hook of the upper fixing jig so that the handler pusher is rotated so that the bottom surface is in close contact with the upper surface of the upper fixing jig so that the handler pusher can be firmly contacted with each other through the fixing hook. One side of the fixing groove is preferably provided with a second cushioning member which has an elasticity from the upper surface and protrudes upward at a predetermined height.
본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그의 효과를 설명하면 다음과 같다.The effect of the socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention is as follows.
첫째, 승강패널의 하면에 다수 개로 하향 돌출 고정되는 가압편을 승강레버의 회전에 따라 선택적으로 동시에 승강시키는 핸들러 푸셔가 구비됨으로써 상부 고정지그 상에 다수 개로 배열되는 기판 가압부재의 패키지 안착홈 상에 다수 개의 메모리 패키지를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지의 안착 가압이 동시에 이루어질 수 있다.First, on the package seating groove of the substrate pressing member, which is arranged on the upper fixing jig by a plurality of handler pushers for selectively simultaneously elevating a plurality of pressing pieces downwardly projected on the lower surface of the elevating panel according to the rotation of the elevating lever. The mounting pressing of the plurality of memory packages may be simultaneously performed by allowing the pressing of the plurality of memory packages at once.
둘째, 승강패널의 하면에 다수 개로 하향 돌출 고정되는 가압편을 승강레버의 회전에 따라 선택적으로 동시에 승강시키는 핸들러 푸셔가 구비되어 상부 고정지그 상에 다수 개로 배열되는 기판 가압부재의 패키지 안착홈 상에 다수 개의 메모리 패키지를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지의 안착 가압이 동시에 이루어짐으로써 메모리 패키지의 불량 여부 테스트에 대한 작업 효율을 현저히 증대시킬 수 있다.Second, on the package seating groove of the substrate pressing member arranged in a plurality on the upper fixing jig is provided with a handler pusher for selectively elevating a plurality of pressing pieces protruding downward downward fixed on the lower surface of the elevating panel according to the rotation of the elevating lever. By allowing a plurality of memory packages to be seated and pressed at a time, the seating pressurization of the plurality of memory packages may be simultaneously performed, thereby significantly increasing the work efficiency for testing whether the memory package is defective.
도 1은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그를 나타낸 분리 사시구성도.1 is an exploded perspective view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
도 2는 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그를 나타낸 결합 사시구성도.Figure 2 is a combined perspective view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
도 3은 도 2의 A-A선 단면도로서, 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그를 나타낸 결합 단면구성도.3 is a cross-sectional view taken along the line A-A of Figure 2, showing a coupling cross-sectional view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
도 4는 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그의 요부인 핸들러 푸셔를 나타낸 분리 사시구성도.Figure 4 is an exploded perspective view showing a handler pusher which is a main part of a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
도 5는 도 4의 저면에서 바라본 구성을 나타낸 저면 분리 사시구성도.Figure 5 is a bottom perspective perspective view showing the configuration seen from the bottom of FIG.
도 6은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그의 요부인 핸들러 푸셔에서 승강패널이 가이드패널에 안내되어 승강하는 작동상태를 나타낸 작동상태 요부 측면구성도.Figure 6 is a side view showing the operating state of the operation state showing the operating state of the elevating panel is guided and lifted by the guide panel in the handler pusher which is the main portion of the socket board fixing jig for testing the memory package according to the present invention.
도 7은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그의 요부인 핸들러 푸셔에서 승강패널이 가이드패널에 안내되어 승강하는 작동상태를 나타낸 작동상태 요부 평면구성도.Figure 7 is a plan view showing the operating state of the main portion of the operation state in which the lifting panel is guided and lifted by the guide panel in the handler pusher which is the main part of the socket board fixing jig for testing the memory package according to the present invention.
[부호의 설명][Description of the code]
1: 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그1: Socket board fixing jig for memory package test
100: 상부 고정지그 110: 패키지 투입홈100: upper fixing jig 110: package insertion groove
120: 기판 가압부재 121: 패키지 안착홈120: substrate pressing member 121: package seating groove
130: 후크 고정홈 140: 제2 완충부재130: hook fixing groove 140: second buffer member
150: 냉각팬 160: 디지털 전압계150: cooling fan 160: digital voltmeter
200: 하부 고정지그 300: 핸들러 푸셔200: lower fixing jig 300: handler pusher
310: 고정후크 311: 탄성부재310: fixed hook 311: elastic member
320: 승강패널 321: 승강가이드320: elevating panel 321: elevating guide
322: 경사면 323: 수평면322: sloped surface 323: horizontal surface
324: 안착홈 325: 가이드 축324: seating groove 325: guide shaft
326: 탄성부재 329: 가이드부326: elastic member 329: guide portion
330: 가압편 340: 왕복패널330: pressure piece 340: reciprocating panel
341: 링크 바 342: 링크돌기341: link bar 342: link projection
345: 롤러 346: 롤러 축345: roller 346: roller shaft
347: 고정볼트 360: 승강레버347: fixed bolt 360: lifting lever
362: 링크 홈 363: 축공362: link groove 363: shaft
368: 제1 걸림면 369: 제2 걸림면368: first engagement surface 369: second engagement surface
380: 푸셔 하우징 381: 고정편380: pusher housing 381: fixing piece
382: 결합편 383: 회전축382: coupling piece 383: rotation axis
385: 완충부재 387: 구속홈385: buffer member 387: restraint groove
388: 제1 구속면 389: 제2 구속면388: first constraint surface 389: second constraint surface
400: 소켓보드 410: 소켓400: socket board 410: socket
500: 메모리 패키지 600: 메모리 패키지 테스트용 기판500: memory package 600: memory package test substrate
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그를 나타낸 분리 사시구성도이고, 도 2는 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그를 나타낸 결합 사시구성도이며, 도 3은 도 2의 A-A선 단면도로서, 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그를 나타낸 결합 단면구성도이다.1 is an exploded perspective view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention, and FIG. 2 is a combined perspective view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention, and FIG. A cross-sectional view taken along line AA of FIG. 2, showing a combined cross-sectional view showing a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention.
도 4는 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그의 요부인 핸들러 푸셔를 나타낸 분리 사시구성도이고, 도 5는 도 4의 저면에서 바라본 구성을 나타낸 저면 분리 사시구성도이다.4 is an exploded perspective view showing a handler pusher which is a main portion of a socket board fixing jig for testing a memory package according to the present invention, and FIG. 5 is a bottom detached perspective view showing a configuration viewed from the bottom of FIG. 4.
도 6은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그의 요부인 핸들러 푸셔에서 승강패널이 가이드패널에 안내되어 승강하는 작동상태를 나타낸 작동상태 요부 측면구성도이며, 도 7은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그의 요부인 핸들러 푸셔에서 승강패널이 가이드패널에 안내되어 승강하는 작동상태를 나타낸 작동상태 요부 평면구성도이다.Figure 6 is a side view showing the main state of the operation state showing the operating state of the elevating panel is guided by the guide panel in the pusher of the handle of the socket board fixing jig for testing the memory package according to the present invention, Figure 7 is according to the present invention This is a plan view of the main part of the operation state showing the operating state where the elevating panel is guided by the guide panel in the handler pusher, which is a recess of the socket board fixing jig for testing the memory package.
도 1 내지 7에서 보는 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그(1)는 상부 고정지그(100)와 하부 고정지그(200)로 구성되어 상기 상부 고정지그(100)와 하부 고정지그(200) 사이에 소켓(410)이 실장된 소켓보드(400)를 고정시키되 상기 소켓(410) 상면에 하면이 접촉되는 메모리 패키지 테스트용 기판(600)에 대응하여 상기 상부 고정지그(100) 상에 다수 개로 형성된 패키지 투입홈(110)에 고정설치되는 기판 가압부재(120)의 패키지 안착홈(121) 상에 선택적으로 메모리 패키지(500)를 안착 가압시켜 상기 메모리 패키지(500)의 불량률을 테스트하는 장치이다.1 to 7, the socket
이러한 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그(1)는 특히, 일측이 상기 상부 고정지그(100)의 상측에 회전가능하도록 힌지 구조로 연결되어 회전에 의해 저면이 상기 상부 고정지그(100)의 상면과 밀착된 상태가 유지되도록 타측에 구비된 탄성력에 의해 상시 회전, 복귀하여 걸림이 이루어질 수 있는 고정후크(310)를 통하여 타측이 상기 상부 고정지그(100)의 일측에 형성된 후크 고정홈(130) 상에 걸림 고정된 후, 하향 돌출 구비되는 다수 개의 가압편(330)이 선택적으로 하강하여 상기 기판 가압부재(120)의 패키지 안착홈(121) 상에 선택적으로 상기 메모리 패키지(500)를 안착 가압시키는 핸들러 푸셔(300)를 더 포함하여 이루어진다.The socket
여기서, 상기 핸들러 푸셔(300)는 크게 분류하자면 승강패널(320), 왕복패널(340), 승강레버(360) 및 푸셔 하우징(380)으로 구성된다.In this case, the
이때, 상기 승강패널(320)은 상기 다수 개의 가압편(330)이 하향 돌출 고정되어 선택적으로 하강하도록 상면에 둘레를 따라 다수 개로 상향 돌출고정되되 상면이 일측으로부터 상향 경사지게 형성된 경사면(322)과 상기 경사면(322) 일단으로부터 일정길이 평평하게 연장되는 수평면(323)으로 이루어진 승강가이드(321)를 가지는 구성으로 이루어짐이 바람직하다.At this time, the elevating
상기와 같은 승강패널(320)에 하향 돌출 고정되는 상기 가압편(330)은 특히, 상기 승강패널(320)의 저면에 하향 돌출 고정되되 탄성을 가지고 완충이 이루어질 수 있도록 고정된다.The
즉, 상기 가압편(330)은 저면에 밀착되어 상기 메모리 패키지(500)를 가압시킬 때, 상기 메모리 패키지(500)의 손상을 방지할 수 있도록 밀착 가압시에 완충력을 가지고 안정적으로 상기 메모리 패키지(500)를 가압시키는 것이다.That is, when the
이러한 상기 가압편(300)은 상기 승강패널(320)의 저면에 하향 돌출된 가이드 축(325)에 의해 탄성을 가지고 수직방향으로 안내되며, 모서리부에 상면으로부터 하향 함몰된 설치홈(미부호) 상에 탄성부재(326)가 내설되어 상기 승강패널(320)의 저면에 결합고정된다.The
이때, 상기 가압편(300)은 상단부 둘레를 따라 걸림홈부(미부호) 형성되어 상기 걸림홈부(미부호)가 결합볼트(미부호)의 머리부에 의해 걸림 고정되어 상기 승강패널(320)의 저면에 결합됨이 바람직하다.At this time, the
다시 말하면, 상기 가압편(300)은 상기 탄성부재(326)에 의해 상기 승강패널(320)의 저면에 하향 돌출된 가이드 축(325)에 의해 탄성을 가지고 수직방향으로 안내되도록 결합 고정되는 것이다.In other words, the
그리고 상기 왕복패널(340)은 상기 승강패널(320)의 승강가이드(321)의 상면에 밀착되는 롤러(345)가 하향 일정길이 돌출되도록 회전가능하게 설치되며, 평판 상으로 일측에 링크 바(341)가 돌출되어 상기 링크 바(341)의 단부 저면에 링크돌기(342)가 하향 돌출 형성됨이 바람직하다.And the
따라서, 상기 왕복패널(340)은 링크 구조에 의해 수평방향으로 왕복 이동하여 상기 롤러(345)가 상기 승강패널(320)의 승강가이드(321) 상면에 안내되어 상기 승강패널(320)을 선택적으로 승강시킬 수 있는 것이다.Therefore, the
상기와 같은 왕복패널(340)에서 상기 롤러(345)는 상기 승강가이드(321)와 대응되어 다수 개로 구비되며, 이러한 롤러(345)는 상기 왕복패널(340) 상에 롤러 축(346)과 고정볼트(347)에 의해 설치되되 상기 왕복패널(340)의 저면으로부터 하향 일정길이 돌출되어 회전가능하게 설치됨이 바람직하다.In the
한편, 상기 승강레버(360)는 일측에 상기 왕복패널(340)의 링크돌기(342)가 삽입되는 링크 홈(362)이 형성되며, 상기 링크 홈(362) 일측에 회전을 위한 축공(363)이 형성되어 상기 축공(363)을 기준으로 타측이 일정각도 회전, 복귀하여 상기 왕복패널(340)을 수평방향으로 왕복 이동시켜 상기 승강패널(320)을 선택적으로 승강되도록 한다.On the other hand, the lifting
그리고 상기 푸셔 하우징(380)은 일측이 상기 상부 고정지그(100)의 상측에 회전가능하도록 힌지 구조로 연결되고, 하측으로부터 상기 승강패널(320)이 승강가능하도록 내설되되 상기 승강패널(320)과의 사이에 상기 왕복패널(340)이 개재되어 내설됨이 바람직하다.And the
여기서, 상기 핸들러 푸셔(300)의 푸셔 하우징(380)은 타측에 탄성력에 의해 상시 회전, 복귀하여 상기 상부 고정지그(100)의 후크 고정홈(130) 상에 선택적으로 걸림이 이루어지는 상기 고정후크(310)가 구비된다.Here, the
이때, 상기 고정후크(310)는 탄성력에 의해 상시 회전, 복귀할 수 있도록 상기 푸셔 하우징(380)의 타측에 힌지 구조로 고정설치되되, 상부 일측 면이 상기 푸셔 하우징(380)의 타측 측면 중앙부에 탄성부재(311)에 의해 상시 수직 상태가 유지되도록 고정설치된다.At this time, the fixing
따라서, 상기 고정후크(310)의 상부 타측 면을 가압한 후 놓게 되면, 상기 고정후크(310)는 원 상태, 즉 수직 상태로 탄성력에 의해 복귀될 수 있으며, 이를 통하여 상기 고정후크(310)를 상기 상부 고정지그(100)의 후크 고정홈(130) 상에 선택적으로 걸림이 이루어지도록 할 수 있게 된다.Accordingly, when the upper surface of the fixing
한편, 상기 푸셔 하우징(380)은 타측 저면에 상기 승강레버(360)의 축공(363)에 삽입되는 회전축(383)이 하향 돌출 형성됨이 바람직하며, 이에 따라 상기 회전축(383)에 상기 승강레버(360)의 상기 축공(363)이 삽입 고정되어 상기 승강레버(360)의 일단부가 회전가능하게 연결되며, 이에 따라 상기 승강레버(360)가 일단부를 기준으로 타단부의 회전이 이루어질 수 있다.On the other hand, the
이때, 상기 승강레버(360)는 상기 축공(363)이 상기 회전축(383)에 삽입된 후에 상기 회전축(383) 하단에 결합편(382)이 밀착 결합되어 상기 푸셔 하우징(380)의 타측에 회전가능하도록 설치된다.In this case, the lifting
또한, 상기 푸셔 하우징(380)은 하측으로부터 상기 왕복패널(340), 승강패널(320)이 순차적으로 밀착 삽입된 후에 상기 승강패널(320)의 모서리부분에 모따기로 상향 함몰 형성된 가이드부(329)에 각각 고정편(381)이 밀착되어 상기 고정편(381)에 의해 상기 왕복패널(340)과 상기 승강패널(320)이 내설됨이 바람직하다.In addition, the
그리고 상술한 푸셔 하우징(380)의 타측에 회전가능하도록 설치되는 상기 승강레버(360)는 상기 회전축(383)을 축으로 하여 일정각도에 대하여 회전 및 복귀된다.In addition, the lifting
구체적으로, 상기 푸셔 하우징(380)의 타측 모서리 중 어느 하나의 모서리 부분에 저면으로부터 상향 함몰 형성되는 구속홈(387)이 형성되어 상기 구속홈(387)의 일 측벽인 제1 구속면(388)에 상기 승강레버(360)의 일 측면에 돌출된 제1 걸림면(368)이 회전에 의해 선택적으로 밀착 저지되고, 상기 구속홈(387)의 타 측벽인 제2 구속면(389)에 상기 승강레버(360)의 타 측면에 'V'자 형상으로 함몰되어 구비된 제2 걸림면(369)이 회전에 의해 선택적으로 밀착 저지된다.In detail, a constraining
따라서, 승강레버(360)는 상기 회전축(383)을 축으로 하여 일측 및 타측으로 각각 일정각도로만 회전 및 복귀하여 더 이상 회전되지 않도록 저지될 수 있는 것이다.Accordingly, the lifting
더욱이, 상기 승강패널(320)의 승강가이드(321)는 상기 왕복패널(340)의 롤러(345)가 밀착된 상태에서 상기 승강레버(360)의 회전에 의해 상기 승강가이드(321)의 경사면(322)으로부터 상기 수평면(323)으로 이동되는 과정에서 상기 수평면(323) 상에 안착 고정될 수 있도록, 상기 수평면(323) 상에 상기 롤러(345)가 안착되는 안착홈(324)이 상기 롤러(345)와 대응되어 라운드지게 하향 함몰 형성될 수 있다.Further, the elevating
한편, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그(1)는 상기 상부 고정지그(100)와 하부 고정지그(200) 사이에 고정되는 상기 소켓보드(400)에 실장된 상기 소켓(410)과 상기 기판 가압부재(120) 및 상기 메모리 패키지(500)의 전기적 접속시 발생하는 열에 의한 기기의 과열이 방지될 수 있도록, 상기 상부 고정지그(100) 타측 상부에 냉각팬(150)이 더 설치될 수 있다.Meanwhile, the socket
또한, 상기 상부 고정지그(100)와 하부 고정지그(200) 사이에 고정되는 상기 소켓보드(400)에 실장된 상기 소켓(410)과 상기 기판 가압부재(120)가 개재되어 밀착되는 상기 메모리 패키지(500)의 전기적 접속상태를 계측할 수 있도록, 상기 상부 고정지그(100) 타측 상부에 디지털 전압계(Digital voltage meter; 160)가 더 설치됨이 바람직하다.In addition, the memory package is in close contact with the
상기와 같이, 상기 냉각팬(150) 및 디지털 전압계(160)가 설치됨으로써 테스트 대상인 상기 메모리 패키지(500)의 불량 여부를 신속하게 확인할 수 있으며, 동시에 상기 냉각팬(150)을 통하여 기기의 과열을 안정적으로 방지하여 연속적인 상기 메모리 패키지(500)의 테스트를 실행할 수 있게 된다.As described above, since the cooling
더욱이, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그(1)는 상기 핸들러 푸셔(300)가 회전하여 저면이 상기 상부 고정지그(100)의 상면과 밀착될 때 탄성에 의해 상호 완충 접촉되어 상기 고정후크(310)를 통하여 밀착된 상태가 유지되도록 고정될 수 있도록, 상기 핸들러 푸셔(300)의 타측 저면 상에 탄성을 가지고 하향 돌출되는 완충부재(385)가 더 구비됨이 바람직하다.Furthermore, the socket
아울러, 상기 상부 고정지그(100)의 상기 후크 고정홈(130) 일측에 상면으로부터 탄성을 가지고 상향 일정높이 돌출되는 제2 완충부재(140)가 더 구비될 수도 있으며, 상기와 같은 제2 완충부재(140)가 상기 완충부재(385)와 함께 더 구비됨에 따라 더욱 안정적인 완충작용이 이루어질 수 있다.In addition, a
전술한 바와 같은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그(1)를 통한 메모리 패키지(500)의 테스트를 위한 사용상태를 설명하면 다음과 같다.Referring to the state of use for the test of the
먼저, 상면에 소켓(410)이 실장된 소켓보드(400)를 상부 고정지그(100)와 하부 고정지그(200) 사이에 고정시키며, 이때 상기 소켓(410)의 상면에는 메모리 패키지 테스트용 기판(600)의 하면이 접촉되도록 상기 메모리 패키지 테스트용 기판(600)을 배치한다.First, the
그리고 나서, 상기 상부 고정지그(100)의 상측에 일측이 힌지 구조로 연결된 핸들러 푸셔(300)를 상기 상부 고정지그(100)의 상부를 덮지 않은 상태로, 즉 수직으로 세운 상태에서 상기 상부 고정지그(100)의 패키지 투입홈(110)에 다수 개로 배열되는 상기 기판 가압부재(120)의 패키지 안착홈(121) 상에 다수 개의 메모리 패키지(500)를 안착시킨다.Then, the upper side of the
이후, 상기 핸들러 푸셔(300)의 힌지 구조로 연결된 일측을 기준으로 타측을 회전시켜 상기 핸들러 푸셔(300)의 저면이 상기 상부 고정지그(100)의 상면에 밀착되도록 한다.Thereafter, the other side of the
그리고 나서, 상기 핸들러 푸셔(300)의 타측에 구비된 고정후크(310)가 상기 상부 고정지그(100)의 후크 고정홈(130)에 걸려 상기 핸들러 푸셔(300)의 저면이 상기 상부 고정지그(100)의 상면과 밀착된 상태를 유지하도록 한다.Then, the fixing
이후, 상기 핸들러 푸셔(300)의 타측에 회전 가능하게 설치된 승강레버(360)를 일 방향으로 회전시키며, 상세히 상기 승강레버(360)의 제1 걸림면(368)이 상기 핸들러 푸셔(300)의 타측 모서리 부분에 상향 함몰 형성된 구속홈(387)의 제1 구속면(388)에 저지되어 멈출 때까지 상기 승강레버(360)를 일 방향으로 회전시킨다.Subsequently, the lifting
상기와 같이, 상기 승강레버(360)를 상기 구속홈(387)의 제1 구속면(388)에 저지되어 멈출 때까지 일 방향으로 회전시키면, 상기 승강레버(360)에 의해 왕복 패널(340)이 일 방향으로 이동하면서 롤러(345)와 승강가이드(321)에 의해 승강패널(320)이 하강한다.As described above, when the lifting
즉, 상기 승강패널(320)이 하강하게 되면, 상기 승강패널(320)에 하향 돌출 설치되는 가압편(330)이 일정높이 하강하게 되며, 이러한 가압편(330)의 하강에 의해 상기 패키지 안착홈(121) 상에 안착된 다수 개로 안착된 상기 메모리 패키지(500)를 하향 가압시킬 수 있게 된다.That is, when the
다시 말하면, 상기와 같은 상기 패키지 안착홈(121) 상에 안착된 다수 개로 안착된 상기 메모리 패키지(500)를 동시에 하향 가압할 수 있으며, 이러한 가압 과정이 완료되면, 상기 상부 고정지그(100) 상에 설치된 디지털 전압계(160)를 통하여 상기 다수 개의 메모리 패키지(500)에 대한 불량률 테스트가 이루어진다.In other words, the plurality of
전술한 바와 같은 과정을 통하여, 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그(1)를 이용한 다수 개의 메모리 패키지(500)에 대한 불량률 테스트가 동시에 이루어질 수 있는 것이다.Through the above-described process, a failure rate test for a plurality of
아울러, 전술한 과정의 역순으로 진행하여 테스트 처리된 상기 메모리 패키지(500)를 분리하고, 전술한 과정을 반복적으로 수행하여 다수 개의 메모리 패키지에 대하여 동시에 불량률을 테스트할 수 있음을 알 수 있을 것이다.In addition, it will be understood that the defect rate can be simultaneously tested for a plurality of memory packages by repeatedly removing the
전술한 바와 같은 본 발명에 따른 메모리 패키지 테스트용 소켓보드 고정지그(1)는 상기 승강패널(320)의 하면에 다수 개로 하향 돌출 고정되는 상기 가압편(330)을 상기 승강레버(360)의 회전에 따라 선택적으로 동시에 승강시키는 상기 핸들러 푸셔(300)가 구비됨으로써 상기 상부 고정지그(100) 상에 다수 개로 배열되는 기판 가압부재(120)의 패키지 안착홈(121) 상에 다수 개의 메모리 패키지(500)를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지(500)의 안착 가압이 동시에 이루어질 수 있다.The socket
더욱이, 상기 승강패널(320)의 하면에 다수 개로 하향 돌출 고정되는 상기 가압편(330)을 상기 승강레버(360)의 회전에 따라 선택적으로 동시에 승강시키는 핸들러 푸셔(300)가 구비되어 상부 고정지그(100) 상에 다수 개로 배열되는 기판 가압부재(120)의 패키지 안착홈(121) 상에 다수 개의 메모리 패키지(500)를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지(500)의 안착 가압이 동시에 이루어짐으로써 메모리 패키지(500)의 불량 여부 테스트에 대한 작업 효율을 현저히 증대시킬 수 있다.Further, an upper fixing jig is provided with a
다시 말하면, 상기 패키지 안착홈(121) 상에 다수 개의 메모리 패키지(500)를 단번에 안착 가압되도록 하여 다수 개의 메모리 패키지(500)의 안착 가압이 동시에 이루어짐으로써 다수 개의 메모리 패키지(500)에 대한 테스트를 수행하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있고, 메모리 패키지(500)가 갖는 성능에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 것이다.In other words, the plurality of
이상에서 본 발명의 구체적인 실시예를 상세히 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 본 발명은 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형의 실시가 가능하며, 이러한 변형은 본 발명의 범위에 포함된다.Although specific embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited thereto, and the present invention can be variously modified by those skilled in the art to which the present invention pertains. Is included in the scope of the present invention.
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