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WO2012032654A1 - 部品内蔵基板 - Google Patents

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WO2012032654A1
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pad
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insulating base
components
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PCT/JP2010/065626
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French (fr)
Inventor
戸田光昭
清水良一
長谷川琢哉
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Meiko Electronics Co Ltd
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Meiko Electronics Co Ltd
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Priority to PCT/JP2010/065626 priority patent/WO2012032654A1/ja
Priority to TW100129324A priority patent/TWI539870B/zh
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    • H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4602—Manufacturing multilayer circuits characterized by a special circuit board as base or central core whereon additional circuit layers are built or additional circuit boards are laminated
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111—Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • H—ELECTRICITY
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    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/182—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with components mounted in the printed circuit board, e.g. insert mounted components [IMC]
    • H05K1/185—Components encapsulated in the insulating substrate of the printed circuit or incorporated in internal layers of a multilayer circuit
    • H05K1/188—Components encapsulated in the insulating substrate of the printed circuit or incorporated in internal layers of a multilayer circuit manufactured by mounting on or attaching to a structure having a conductive layer, e.g. a metal foil, such that the terminals of the component are connected to or adjacent to the conductive layer before embedding, and by using the conductive layer, which is patterned after embedding, at least partially for connecting the component
    • H—ELECTRICITY
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    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/03—Metal processing
    • H05K2203/0338—Transferring metal or conductive material other than a circuit pattern, e.g. bump, solder, printed component

Definitions

  • the present invention relates to a component built-in substrate in which an electrical component or an electronic component is embedded in an insulating base material.
  • a component-embedded substrate is disclosed in Patent Document 1.
  • the component-embedded substrate described in Patent Document 1 includes an insulating base, a conductor circuit formed on both sides, and an electronic component.
  • This electronic component is a built-in component that is embedded in an insulating base material and has a terminal portion connected to a connection terminal portion provided on the substrate side and connected to a conductor circuit.
  • Patent Document 1 describes an example in which a connection terminal portion for connecting to a connection terminal of the component-embedded substrate is formed using a solder resist layer.
  • the solder resist layer is formed by exposure, development, ultraviolet curing or thermal curing after screen printing. For this reason, if a solder resist layer is formed between adjacent built-in components, it is difficult to reduce the interval between the built-in components. That is, it is difficult to increase the density of components with respect to the substrate surface. Further, when the substrate is manufactured by the transfer method as in Patent Document 1, it is difficult to increase the density of the wiring because the conductor pattern is designed larger than the connection portion with the electronic component.
  • the present invention takes the above-described conventional technology into consideration, and can be arranged with a small interval between built-in components. Therefore, it is possible to increase the density of components (improving the mounting density of components) and to further improve the wiring.
  • An object of the present invention is to provide a component-embedded substrate capable of increasing the density.
  • a resin-made insulating base material formed in a plate shape, a plurality of electronic or electrical components embedded in the insulating base material, and the parts include a bonding material.
  • a plate-like conductive pad that is mounted on one surface, the one surface and the peripheral side surface are covered with the insulating base, and the other surface of the conductive pad is within the outer edge of the other surface.
  • the component-embedded substrate is provided with a conductor pattern formed on the substrate.
  • the conductor pattern is formed by exposing a part of the other surface.
  • the component is provided with a plurality of connection terminals, and the conductive pads are electrically connected to the connection terminals via the bonding material, and the respective conductive elements connected to the connection terminals are connected.
  • a pad unit is formed by a pad, and only the insulating base material is interposed between adjacent pad units.
  • the connection terminals are provided at both end portions of the component, and the pad unit is arranged so that the conductive pads face each other as a pad pair.
  • a spacer is provided between the conductive pads forming the pad pair to maintain a distance between the component and the surface of the insulating base.
  • the bonding material is solder
  • the spacer is a solder resist.
  • the component-embedded substrate of the present invention includes an insulating base, a plurality of components, a conductive pad, and a conductive pattern, and the conductive pattern is within the outer edge of the pattern forming surface that is the other surface of the conductive pad, that is, equivalent to the outer edge. Alternatively, it is formed in a range smaller than the outer edge. Therefore, the conductor pattern is not formed beyond the outer edge of the conductive pad, and the interval between the components is determined by the size of the conductive pad. Thereby, since the space
  • a pad pair is formed by conductive pads respectively connected to the connection terminals of the component, and only the insulating base material is interposed between the pad pairs. Therefore, since the conventional solder resist layer is not formed, the space
  • a pad pair is formed in the case of a two-terminal component such as a resistor or a capacitor. In the case of a multi-terminal component (transistor, IC, LSI, etc.) with more connection terminals, it is connected to each connection terminal.
  • a pad unit is formed with a conductive pad. The effect is the same in the case of the pad unit.
  • the spacer is preferably a solder resist.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a component built-in substrate according to the present invention.
  • FIG. 2 is an AA view of FIG. 1. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this invention. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this invention. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this invention. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this invention. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this invention. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this invention. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this invention. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this invention. It is the schematic which shows in order the manufacturing method of the component built-in board which concerns on this
  • a component-embedded substrate 1 includes a plate-shaped insulating base 2.
  • This insulating substrate 2 is made of resin, for example, a prepreg.
  • An electronic or electrical component 3 is embedded in the insulating base 2.
  • a plurality of the components 3 are embedded in the insulating base material 2.
  • a plate-like conductive pad 4 is embedded in the insulating base 2. Specifically, one surface (component mounting surface 4 a) and the peripheral side surface of the conductive pad 4 are covered with the insulating base material 2, and the other surface is formed flush with the surface of the insulating base material 2. That is, the other surface (pattern forming surface 4 b described later) of the conductive pad 4 is exposed from the insulating substrate 2.
  • the conductive pad is, for example, a gold plating pad.
  • the component 3 described above is mounted on one surface (component mounting surface 4a) of the conductive pad 4.
  • the conductive pads 4 are respectively arranged corresponding to the connection terminals 5 provided at both ends of the component 3 and are electrically connected via the bonding material 6.
  • the bonding material 6 for example, solder or a conductive adhesive is used.
  • a pad pair 8 is formed by each conductive pad 4 (a set of two conductive pads 4 connected to each connection terminal 5) on which the same component 3 is mounted.
  • a two-terminal component such as a resistor or a capacitor is taken as an example.
  • the pad pair 8 is a pad unit.
  • the pad unit is composed of three or more conductive pads 4.
  • a conductor pattern 7 is formed on the other surface (pattern forming surface 4b) of the conductive pad 4.
  • the conductor pattern 7 is formed within the outer edge of the pattern forming surface 4b.
  • the conductor pattern 7 is formed inside the outer edge of the pattern forming surface 4b.
  • the conductor pattern 7 is not formed so as to protrude from the conductive pad 4, the distance between the conductive pads 4 (actually the pad pair 8) can be narrowed. Thereby, the mounting density with respect to the product board
  • the conductor pattern 7 is formed in a range smaller than the outer edge of the other surface (pattern forming surface 4b), that is, a part of the other surface is exposed, the component is surely obtained. 3 can be improved.
  • the wiring portion 9 connected to the conductor pattern 7 is provided between the components 3, the interval between the component 3 and the wiring portion 9 can be reduced, and the mounting density of the components 3 is also reduced. Can be improved.
  • the position where the wiring portion 9 is provided can be as close to the conductive pad 4 as possible, the wiring density can be increased.
  • a spacer 10 is provided between the conductive pads 4 forming the pad pair 8, that is, below the component 3 (in the drawing, the spacer 10 is described only for some components 3).
  • the spacer 10 is for maintaining a distance between the component 3 and the surface of the insulating base 2. By providing this spacer 10, the sinking of the component 3 can be prevented. This is particularly effective when the bonding material is solder.
  • the spacer 10 is preferably a solder resist. By changing the shape and height of the spacer 10, it is possible to control the installation height of the parts.
  • the conductive layer 12 is formed on the support plate 11.
  • the support plate 11 is, for example, a SUS plate.
  • the conductive layer 2 is a copper thin film made of, for example, copper plating.
  • the above-described conductive pad 4 is placed on the conductive layer 12.
  • the conductive pad 4 is a gold-plated pad
  • the conductive pad 4 is subjected to soft etching on a copper pad, and then has a nickel thickness of 1 ⁇ m to 10 ⁇ m (preferably 5 ⁇ m) and a gold thickness of 0.01 ⁇ m to 1 ⁇ m (preferably 0 ⁇ m). (0.03 ⁇ m) gold plating treatment.
  • the soft etching the surface of the conductive pad 4 is 0 ⁇ m to 1.5 ⁇ m in terms of surface roughness (Rz), and is thus formed flat.
  • Rz surface roughness
  • the surface of the conductive layer 12 is roughened to form a rough surface 12a.
  • This roughening treatment is performed by etching the copper surface with respect to the surface of the conductive layer 2 to form an organic film using a blackening reduction treatment, a bond film treatment, or a CZ treatment.
  • the surface roughness (Rz) is, for example, 0.1 ⁇ m to 10 ⁇ m.
  • the bond film process is a process using a chemical solution manufactured by ATOTECH. This is a treatment for improving the resin adhesion by roughening the copper surface and forming an organometallic film.
  • the CZ process is a process using a chemical solution manufactured by MEC. This is for improving the roughening of the copper surface and the resin adhesion.
  • the bonding material 6 is disposed on the component mounting surface 4 a of the conductive pad 4.
  • the bonding material 6 is an example of solder.
  • the connection terminal 5 of the component 3 and the conductive pad 4 are electrically connected through a bonding material 6.
  • reflow soldering is performed.
  • the component 3 is mounted on the conductive pad 4.
  • the rough surface 12a described above is formed up to a position in contact with the side edge of the conductive pad 4, it is possible to reliably prevent the solder from spreading beyond the conductive pad 4. That is, the rough surface 12a plays a role of preventing the solder from spreading.
  • solder dam it is not necessary to form a solder dam as used conventionally. Since the solder dam is not necessary, the interval between the adjacent pad pairs 8 can be reduced. Thereby, the space
  • the component 3 is embedded in the insulating base 2. Specifically, the component 3 is sandwiched between the conductive layer 12 and the insulating base material 2, and the conductive layer 12 and the insulating base material 2 are pressed against each other. Thereafter, the support plate 11 is removed.
  • the conductor pattern 7 is formed on the pattern forming surface 4 b of the conductive pad 4.
  • the conductive pattern 2 is formed by removing a part of the conductive layer 2.
  • the conductor pattern 7 is formed by etching the conductive layer 12.
  • the conductive pad 4 becomes an etching resist, and the exposure of the bonding material 6 can be prevented.
  • the conductor pattern 7 is formed in a range equivalent to or smaller than the outer edge of the pattern forming surface 4b.
  • the wiring portion 9 may be formed simultaneously with the formation of the conductor pattern 7.
  • the figure shows an example of a single-sided substrate in which the conductor pattern 7 is formed only on one side of the substrate, it is naturally applicable to a double-sided substrate.
  • the present invention can also be applied to a multilayer substrate in which these are combined.
  • Component Embedded Board 1 Component Embedded Board 2 Insulating Base Material 3 Component 4 Conductive Pad 4a Component Mounting Surface (One Surface) 4b Pattern formation surface (the other surface) 5 Connection terminal 6 Bonding material 7 Conductive pattern 8 Pad pair 9 Wiring part 10 Spacer 11 Support plate 12 Conductive layer 12a

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

板形状に形成された樹脂製の絶縁基材（２）と、該絶縁基材（２）内に埋設された複数の電子又は電気的な部品（３）と、該部品（３）が接合材（６）を介して一方の面（４ａ）に実装され、前記一方の面（４ａ）及び周側面が前記絶縁基材（２）に覆われた板状の導電パッド（４）と、該導電パッド（４）の他方の面（４ｂ）に形成され、前記他方の面（４ｂ）の外縁以内に形成されている導体パターン（７）とを備えた。これにより、部品（３）の実装密度を向上させることができる。

Description

部品内蔵基板
　本発明は、電気部品あるいは電子部品を絶縁基材内に埋設させた部品内蔵基板に関するものである。
　部品内蔵基板が特許文献１に開示されている。特許文献１に記載の部品内蔵基板は、絶縁基材と、この両面に形成された導体回路と、電子部品とを備えたものである。この電子部品は、絶縁基材の中に埋設され、その端子部が基板側に設けられた接続端子部と接続して導体回路に接続している内蔵部品である。この部品内蔵基板の接続端子と接続させるための接続端子部が、ソルダレジスト層を用いて形成されている例が特許文献１には記載されている。
　しかしながら、ソルダレジスト層は、スクリーン印刷後に露光、現像、紫外線硬化又は熱硬化で形成されている。このため、隣り合う内蔵部品間にソルダレジスト層が形成されていると、内蔵部品間隔を狭めることが困難である。すなわち、基板表面に対する部品の高密度化を図ることが困難である。また、特許文献１のように転写法で基板を作製する場合、導体パターンは電子部品との接続部より大きく設計されるため、配線の高密度化も図ることが困難である。
特開２０１０－２７９１７号公報
　本発明は、上記従来技術を考慮したものであって、内蔵部品同士の間隔を狭めて配置することができ、したがって部品の高密度化（部品の実装密度の向上）を図り、さらには配線の高密度化も図ることができる部品内蔵基板を提供することを目的とする。
　前記目的を達成するため、本発明では、板形状に形成された樹脂製の絶縁基材と、該絶縁基材内に埋設された複数の電子又は電気的な部品と、該部品が接合材を介して一方の面に実装され、前記一方の面及び周側面が前記絶縁基材に覆われた板状の導電パッドと、該導電パッドの他方の面に形成され、前記他方の面の外縁以内に形成されている導体パターンとを備えたことを特徴とする部品内蔵基板を提供する。
　好ましくは、前記導体パターンは、前記他方の面の一部を露出させて形成されていることを特徴としている。
　また、好ましくは、前記部品には複数の接続端子が設けられ、前記導電パッドは、前記接続端子に対し前記接合材を介して電気的に接続され、各接続端子に接続されたそれぞれの前記導電パッドでパッドユニットが形成され、隣り合う前記パッドユニット間には前記絶縁基材のみが介在していることを特徴としている。
　また、好ましくは、前記接続端子は前記部品の両端部に設けられ、前記パッドユニットはパッド対として前記導電パッドが対向して配設されていることを特徴としている。
　さらに好ましくは、前記パッド対を形成する前記導電パッド間に前記部品と前記絶縁基材の表面との間隔を保持するためのスペーサが設けられていることを特徴としている。
　また、前記接合材は半田であり、前記スペーサはソルダレジストであることを特徴としている。
　本発明の部品内蔵基板は、絶縁基材と、複数の部品と、導電パッドと、導体パターンとを備え、導体パターンは導電パッドの他方の面であるパターン形成面の外縁以内、すなわち外縁と同等又は外縁より小さい範囲に形成される。したがって、導電パッドの外縁を越えて導体パターンが形成されることはなく、各部品間の間隔は導電パッドの大きさで決定される。これにより、導電パッド間の間隔を狭めて配置することができるので、部品の実装密度を向上させることができる。このとき、導体パターンが他方の面（パターン形成面）の外縁より小さい範囲、すなわち他方の面の一部を露出させて形成されていれば、確実に部品の実装密度を向上させることができる。
　また、部品の接続端子にそれぞれ接続された導電パッドでパッド対を形成し、このパッド対間には絶縁基材のみが介在している。したがって、従来のようなソルダレジスト層が形成されていないので、パッド対間の間隔を狭めることができる。このため、部品の実装密度を向上させることができる。なお、パッド対を形成するのは抵抗やコンデンサ等の二端子部品の場合であり、接続端子がさらに多い場合の多端子部品（トランジスタ、ＩＣ、ＬＳＩ等）の場合はそれぞれの接続端子に接続される導電パッドでパッドユニットを形成する。パッドユニットの場合でも、効果は同様である。
　また、パッド対を形成する導電パッド間に部品と絶縁基材の表面との間隔を保持するためのスペーサを設けることで、部品の沈み込みを防止することができる。特に、接合材が半田である場合に有効である。スペーサはソルダレジストを用いることが好ましい。
本発明に係る部品内蔵基板の概略断面図である。 図１のＡ－Ａ視図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に示す概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に示す概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に示す概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に示す概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に示す概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に示す概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に示す概略図である。
　図１に示すように、本発明に係る部品内蔵基板１は、板形状の絶縁基材２を備えている。この絶縁基材２は、樹脂製であり、例えばプリプレグである。この絶縁基材２に電子又は電気的な部品３が埋設されている。この部品３は、絶縁基材２内に複数埋設されている。絶縁基材２内には、さらに板状の導電パッド４が埋設されている。具体的には、導電パッド４の一方の面（部品実装面４ａ）及び周側面が絶縁基材２に覆われ、他方の面は絶縁基材２の表面と面一に形成されている。すなわち、導電パッド４の他方の面（後述するパターン形成面４ｂ）は絶縁基材２から露出している。導電パッドは、例えば金めっきパッドである。
　上述した部品３は、この導電パッド４の一方の面（部品実装面４ａ）に実装されている。具体的には、部品３の両端部にそれぞれ設けられた接続端子５に対応して導電パッド４がそれぞれ配置され、接合材６を介して電気的に接続されている。接合材６は、例えば半田や導電性の接着剤が用いられる。また、同一の部品３を実装しているそれぞれの導電パッド４（それぞれの接続端子５と接続される２個一組の導電パッド４）でパッド対８が形成されている。なお、図の例では抵抗やコンデンサ等の二端子部品を例にしているが、トランジスタやＩＣ、ＬＳＩ等の接続端子がさらに多い多端子部品の場合、パッド対８はパッドユニットとなる。具体的には、パッドユニットは３個以上の導電パッド４で構成される。
　導電パッド４の他方の面（パターン形成面４ｂ）には、導体パターン７が形成されている。ここで、この導体パターン７はパターン形成面４ｂの外縁以内に形成されている。図１及び図２の例では、パターン形成面４ｂの外縁よりも内側に導体パターン７が形成されている。このように、パターン形成面４ｂの外縁と同等又は外縁より小さい範囲に導体パターン７が形成されるので、導電パッド４の外縁を越えて導体パターン７が形成されることはない。このため、各部品３間の間隔、すなわちパッド対８間の間隔は導電パッド４の大きさで決定される。つまり、導体パターン７が導電パッド４からはみ出て形成されていないので、導電パッド４（実際にはパッド対８）間の間隔を狭めて配置することができる。これにより、部品３の製品基板に対する実装密度を向上させることができる。
　このとき、図１や図２のように導体パターン７が他方の面（パターン形成面４ｂ）の外縁より小さい範囲、すなわち他方の面の一部を露出させて形成されていれば、確実に部品３の実装密度を向上させることができる。また、図２で示すように、部品３間に導体パターン７と接続される配線部９を設けても、部品３と配線部９との間隔を狭めることができ、やはり部品３の実装密度を向上させることができる。また、配線部９を設ける位置も可能な限り導電パッド４に近付けることができるので、配線の高密度化も図ることができる。
　一方、隣り合うパッド対８の間には、絶縁基材２のみが介在している。すなわち、隣り合うパッド対８間には、従来のようなソルダレジスト層が形成されていない。このため、パッド対８間の間隔が狭められている。このような構造は、部品３の実装密度の向上に寄与している。また、パッド対８を形成している導電パッド４間、すなわち部品３の下側には、スペーサ１０が設けられている（図では一部の部品３にのみスペーサ１０を記載している）。このスペーサ１０は、部品３と絶縁基材２の表面との間隔を保持するためのものである。このスペーサ１０を設けることで、部品３の沈み込みを防止することができる。特に、接合材が半田である場合に有効である。スペーサ１０は、ソルダレジストを用いることが好ましい。このスペーサ１０の形状や高さを変更することで、部品の設置高さを制御することも可能である。
　本発明に係る部品内蔵基板の製造方法の一例を図３～図９に沿って以下に説明する。
　まず、図３に示すように、支持板１１上に導電層１２を形成する。支持板１１は、例えばＳＵＳ板である。導電層２は、例えば銅めっき等からなる銅薄膜である。次に、図４に示すように、導電層１２上に上述した導電パッド４を載置する。導電パッド４が金めっきパッドである場合、この導電パッド４は、銅製のパッドにソフトエッチングを施し、その後、ニッケル厚１μｍ～１０μｍ（好ましくは５μｍ）、金厚０．０１μｍ～１μｍ（好ましくは０．０３μｍ）の金めっき処理を施して形成される。ソフトエッチングされることにより、導電パッド４の表面は表面粗さ（Ｒｚ）で表わすと０μｍ～１．５μｍとなるので、平坦に形成される。なお、金めっきパッド７の表面を平坦化処理する方法として、マイクロエッチング又は酸洗浄又はプラズマエッチングを用いてもよい。
　そして、図５に示すように、導電層１２の表面に粗面化処理を施し、粗面１２ａを形成する。この粗面化処理は、黒化還元処理やボンドフィルム処理やＣＺ処理を用い、導電層２の表面に対して銅表面をエッチングし、有機皮膜を形成することによって行われる。その表面粗さ（Ｒｚ）は、例えば０．１μｍ～１０μｍである。ここで、ボンドフィルム処理とは、ＡＴＯＴＥＣＨ社製造の薬液による処理のことである。銅表面の粗面化と有機金属皮膜の形成による樹脂密着性を向上させるための処理である。また、ＣＺ処理とは、メック社製造の薬液による処理のことである。銅表面の粗面化及び樹脂密着性を向上させるためのものである。
　そして、図６に示すように、導電パッド４の部品実装面４ａに接合材６を配置する。図では、接合材６が半田の例を示している。そして、図７に示すように、部品３の接続端子５と導電パッド４とを接合材６を介して電気的に接続する。図の例で具体的にいえば、リフローはんだ付けを行う。これにより、部品３が導電パッド４に実装される。このとき、上述した粗面１２ａは導電パッド４の側縁に接する位置まで形成されているので、導電パッド４を超えて半田が広がることを確実に防止できる。すなわち、粗面１２ａが半田の広がりを阻止する役割を果たす。したがって、従来用いていたようなソルダダムを形成する必要がない。ソルダダムが不要となったので、上述した隣り合うパッド対８間の間隔を狭めることができる。これにより、部品３を配置する間隔を狭めることができ、部品３の実装密度を向上させることができる。また、ソルダダムを形成するためのソルダレジスト形成工程が不要となるので、工程の短縮につながり、そのための材料も不要となるのでコストも削減できる。
　そして、図８に示すように、部品３を絶縁基材２内に埋設する。具体的には、導電層１２と絶縁基材２との間に部品３を挟み込み、導電層１２と絶縁基材２とを互いに圧接する。その後、支持板１１を除去する。
　そして、図９に示すように、導電パッド４のパターン形成面４ｂに導体パターン７を形成する。具体的には、導電層２の一部を除去して導体パターン７を形成する。この導体パターン７は、導電層１２にエッチング処理を施されて形成される。このとき、導電パッド４がエッチングレジストとなり、接合材６の露出を防止できる。さらには、実装された部品３の電気的な接続の信頼性が低下することも防止できる。この導体パターン７は、上述したように、パターン形成面４ｂの外縁と同等又はそれより小さい範囲に形成される。導体パターン７を形成すると同時に、配線部９を形成してもよい。このようにして、なお、図では基板の片面側のみに導体パターン７が形成された片面基板の例を示したが、両面基板としても当然適用できる。また、これらを組み合わせた多層基板としても当然適用できる。
１　部品内蔵基板
２　絶縁基材
３　部品
４　導電パッド
４ａ　部品実装面（一方の面）
４ｂ　パターン形成面（他方の面）
５　接続端子
６　接合材
７　導体パターン
８　パッド対
９　配線部
１０　スペーサ
１１　支持板
１２　導電層
１２ａ　粗面

Claims (6)

  1. 　板形状に形成された樹脂製の絶縁基材と、
    　該絶縁基材内に埋設された複数の電子又は電気的な部品と、
    　該部品が接合材を介して一方の面に実装され、前記一方の面及び周側面が前記絶縁基材に覆われた板状の導電パッドと、
    　該導電パッドの他方の面に形成され、前記他方の面の外縁以内に形成されている導体パターンと
    を備えたことを特徴とする部品内蔵基板。
  2. 　前記導体パターンは、前記他方の面の一部を露出させて形成されていることを特徴とする請求項１に記載の部品内蔵基板。
  3. 　前記部品には複数の接続端子が設けられ、
    　前記導電パッドは、前記接続端子に対し前記接合材を介して電気的に接続され、
    　各接続端子に接続されたそれぞれの前記導電パッドでパッドユニットが形成され、
    　隣り合う前記パッドユニット間には前記絶縁基材のみが介在していることを特徴とする請求項１に記載の部品内蔵基板。
  4. 　前記接続端子は前記部品の両端部に設けられ、前記パッドユニットはパッド対として前記導電パッドが対向して配設されていることを特徴とする請求項３に記載の部品内蔵基板。
  5. 　前記パッド対を形成する前記導電パッド間に前記部品と前記絶縁基材の表面との間隔を保持するためのスペーサが設けられていることを特徴とする請求項４に記載の部品内蔵基板。
  6. 　前記接合材は半田であり、前記スペーサはソルダレジストであることを特徴とする請求項５に記載の部品内蔵基板。
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