WO2011138837A1 - 電界放出型光源 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a field emission light source (Field Emission Light: hereinafter referred to as FEL) that can be used for illumination and display.
- FEL Field Emission Light
- FEL uses the light emission of the phosphor excited by electron beam irradiation, that is, cathodoluminescence, like a vacuum fluorescent display and a cathode ray tube, but a filament as an electron emission source. Instead, it is characterized by the use of a field electron-emitting device that emits electrons with a quantum effect.
- Patent Document 1 discloses an electron emission electrode including diamond particles arranged on a substrate surface and a graphene sheet grown in a petal shape on the surface of the diamond particles. Since this electron emission electrode has excellent electron emission characteristics and is easy to manufacture, it is expected to be used as an FEL field electron emission device.
- a phosphor layer in which electrical conductivity is added by a transparent conductive film or the like in a part of a vacuum sealed container formed of a material that is transparent to visible light such as glass is provided.
- the phosphor layer By forming the phosphor layer and irradiating the phosphor layer with electrons from an electron emission source disposed inside the vacuum-sealed container, the phosphor emits light, and this light is taken out through the glass on the phosphor coating surface.
- the FEL having such a structure is referred to as a transmitted light utilization type FEL.
- a phosphor layer is formed on an electrode formed of a metal or the like, and light emission obtained by irradiating the phosphor layer with an electron beam is emitted from a portion other than the phosphor layer of the vacuum sealed container.
- the FEL having such a structure is referred to as an electron-irradiated surface light emission type FEL.
- This electron irradiation surface light emission type FEL is advantageous in that the light emission intensity of the phosphor particles on the electron irradiation surface side is higher than that of the transmitted light use type FEL and can be used without loss in the phosphor layer. It is.
- the luminous efficiency of the phosphor basically decreases as the temperature rises.
- the heat radiation structure is provided on the back surface of the phosphor plate to suppress the temperature rise of the phosphor plate. As a result, it is possible to emit light with higher luminance than the transmitted light utilizing FEL.
- the anode layer is formed so that the wire-type electron-emitting device is substantially equidistant from the anode layer with respect to the inner wall of the vacuum sealed container to which the bowl-shaped phosphor layer is applied.
- a method of mounting in a radial or spiral shape in the direction is disclosed.
- Patent Document 3 since the structure of the electron-emitting device has a complicated shape such as a radial shape or a spiral shape, the moment of inertia around the fixed portion of the electron-emitting device increases, and acceleration is given to the FEL. Sometimes the stress generated in the fixed part is large, causing a problem in the strength of the electrode structure. Further, complication of the shape of the emitter electrode increases the area in which the emitter electrode covers the fluorescent plate, so that there is a problem that the extraction efficiency is reduced.
- the present invention has been made in view of such a current situation, and an object of the present invention is to provide an FEL that can emit light uniformly, is efficient, and has an appropriate intensity.
- a field emission light source provides: It has a container shape, and at least a part of the container-shaped tube wall is made of face glass formed of a material having a high transmittance with respect to visible light.
- a vacuum sealed container in which an anode electrode constituted by a high member is disposed, and a phosphor layer is disposed on the anode electrode surface;
- Each of the substrates is formed of a plurality of substrates each having a linear shape and having an electron-emitting material formed on a substantially half surface of the vacuum-sealed container.
- An emitter electrode having a structure facing the phosphor layer side and parallel to each other, and having the same n-fold rotational symmetry as the number of substrates as viewed from the central axis direction, and a conductive material Formed and supporting the emitter electrode in the vacuum sealed container, and when applying a voltage to the emitter electrode, by relaxing the electric field strength of the surface of the electron emission material near the phosphor layer,
- a power feeding part having a shape capable of uniformizing electron emission from the emitter electrode; It is characterized by providing.
- the power supply section may have a circumscribed circle having a diameter larger than the diameter of the circumscribed circle of the emitter electrode in a cross-sectional view seen from the central axis (that is, the rotational symmetry axis) direction of the emitter electrode.
- the structure on the emitter electrode side of the feeding part or the terminal part may be provided with a shape that increases the electric field concentration of itself and relaxes the electric field of the nearby emitter electrode.
- the shape is such that the diameter of the circumscribed circle is partially in the vicinity of the connecting portion of the emitter electrode at the feeding portion or the end portion when viewed from the central axis direction of the emitter electrode.
- the shape may be larger than the average outer diameter of the part main body.
- the face glass may have a curvature that is convex from the inside of the vacuum-sealed container toward the atmosphere side.
- the glass surface of the face glass may be subjected to a blurring process such as a ground glass process.
- a transparent protective film that suppresses deterioration due to electron beam irradiation may be disposed on the surface of the phosphor layer.
- the protective film may include any material of tin oxide / indium, zinc oxide, or tin oxide having a predetermined electric conductivity.
- FIG. 1 It is a block diagram which shows the principal part of the electron irradiation surface light emission utilization type FEL which concerns on embodiment of this invention. It is a fragmentary sectional view of FIG. It is a figure which shows the side surface of electron irradiation surface light emission utilization type FEL. It is a figure which shows the structure of the principal part of the electron irradiation surface light emission utilization type FEL simplified in order to consider by simulation. It is a figure which shows x dependence of the electric field strength of the wire emitter surface. It is a figure which shows the result of having calculated the theta dependence of the electric field strength of the wire emitter surface.
- FIG. 1 is a configuration diagram showing a main part of an FEL according to an embodiment of the present invention.
- FIG. 2 is a partial cross-sectional view of FIG.
- FIG. 3 is a diagram illustrating a side surface of the FEL.
- the FEL includes a vacuum sealed container 10 that seals the inside to a vacuum, an emitter electrode 11 and a power feeding unit 12 that are disposed in the vacuum sealed container 10, and a fluorescence that is applied to a wall surface in the vacuum sealed container 10.
- a body layer 13 and a transparent protective film 13A formed on the phosphor layer 13 are provided.
- the vacuum-sealed container 10 is formed of glass having a high transmittance with respect to visible light, and includes a face glass 14 that forms a tip portion that emits light, a reflecting portion 15, and an insulator 16.
- the face glass 14 may be planar as shown in FIG. 3A, but as shown in FIG. 3B, the face glass 14 protrudes from the inside of the vacuum sealed container 10 toward the atmosphere side in order to increase its strength. May have a structure. By adopting such a structure, the strength against the compressive stress in the atmosphere is improved, and accordingly, the thickness of the face glass 14 can be reduced, and at the same time, the pressure difference between the inside and outside of the vacuum sealed container 10 is applied to the face glass 14. The distortion which arises can be reduced and the leak in the junction part with the vacuum sealing container 10 which arises by the distortion can be suppressed.
- the face glass 14 is subjected to a blurring process on the surface in order to diffuse the light from the phosphor layer 13.
- the emitter electrode 11 has a configuration in which n (n is an integer of 2 or more) linear wire emitters 11 a are bundled, and the emitter electrode 11 is supported by the power feeding unit 12.
- the reflecting portion 15 constitutes the wall surface of the vacuum sealed container 10 and also serves as an anode electrode, and is a metallic thin film formed on the inner wall surface of the glass vacuum sealed container 10, such as aluminum. It is made of metal and has a cylindrical shape.
- the inner diameter of the reflecting portion 15 is small on the rear end side and large on the front end side.
- the phosphor layer 13 is formed on the inner peripheral surface of the reflecting portion 15 by applying a zinc oxide phosphor (ZnO: Zn).
- a transparent protective film 13A is formed on the surface of the phosphor layer 13 facing the emitter electrode 11.
- the transparent protective film 13A suppresses deterioration of the phosphor layer 13 due to electron beam irradiation, and is made of any material of tin oxide / indium, zinc oxide, or tin oxide that is transparent and has high electrical conductivity. ing. By depositing these materials on the phosphor layer 13 with a thickness of 100 to 200 nm, the electrons emitted from the emitter electrode 11 reach the phosphor layer 13 and the light emitted from the phosphor layer 13 is not blocked. It becomes possible to take out. Further, the deterioration rate of the phosphor in the phosphor layer 13 can be greatly reduced.
- a face glass 14 is bonded and fixed to the tip of the reflecting portion 15 with a low melting point frit glass or the like.
- the rear end of the reflecting portion 15 is sealed with frit glass or the like and fixed to the front end side of the cylindrical insulator 16.
- the insulator 16 is made of alumina.
- a cylindrical power feeding portion 12 made of a conductive metal such as aluminum is disposed at the center of the insulator 16.
- the electric power feeding part 12 penetrates the insulator 16, the front end side protrudes from the front end side of the insulator 16, and comprises the electric current introduction terminal. It should be noted that the same effect can be obtained even if the current introduction terminal is directly introduced into the vacuum sealed container 10 by using frit glass or the like without using the insulator 16.
- the diameter of the power feeding unit 12 is larger than the diameter of the emitter electrode 11, the emitter electrode 11 is attached to the distal end side of the power feeding unit 12, and the central axis of the emitter electrode 11 is coaxial with the central axis of the cylindrical power feeding unit 12. So that it is supported.
- the shape of the end portion on the emitter electrode 11 side of the power feeding unit 12 is provided with a structure that further increases the electric field concentration of itself in order to enhance the effect of relaxing the electric field of the nearby emitter electrode 11.
- the emitter electrode 11 side end of the power feeding part 12 is viewed from the central axis of the mitter electrode 11, its diameter is partially larger than that of the power feeding part 12 body.
- Each of the wire emitters 11a constituting the emitter electrode 11 is formed by arranging diamond particles on the surface of a nickel wire serving as a substrate and growing a petal-like graphene sheet as the electron emission material 17 on the surface of the diamond particles. is there.
- a wire emitter 11a when the electron emission material 17 is formed by a technique such as CVD, it is difficult to provide a uniform electron emission material over the entire surface of the wire emitter 11a.
- the wire emitter 11a is arranged so that the surface on which the electron emission material 17 is formed faces the phosphor layer 13. Further, when the number of wire emitters 11a is n, the section of the wire emitter 11a is arranged so as to have n-fold rotational symmetry when viewed from the central axis direction of the emitter electrode 11.
- the n wire emitters 11 a are arranged n times symmetrically. Since the radius of curvature of the substrate is isotropic, ideally, no orientation occurs in the electric field strength and the resulting electron emission. However, in practice, it is difficult to make the central axes of the vacuum sealed container 10 and the emitter electrode 11 completely coincide with each other, and the deviation of the emitter electrode position biases the electron emission distribution and the resulting light emission in a specific direction. I will let you.
- Such a bias in one direction of light emission not only detracts from the aesthetic appearance of the light emission but also causes a bias in the temperature distribution of the vacuum sealed container 10 to generate thermal stress in the container, and the vacuum sealed container 10 and the face. This may cause leakage at the joint portion of the glass 14.
- n wire emitters 11a are arranged n times symmetrically, a portion where the electric field concentration is strong on the surface of the wire emitter 11a exists at a period of 360 / n °, and therefore the light emission is also 360 / n °.
- the uneven emission of light in one direction caused by the misalignment between the central axes of the vacuum sealed container 10 and the emitter electrode 11 is alleviated.
- the temperature distribution generated in the vacuum sealed container 10 becomes smaller than in the case where the number of the wire emitters 11a is one, and the thermal stress is accordingly reduced. Further, as will be described later, it is also possible to reduce the radial brightness fluctuation width by increasing n.
- An electron emission material 17 is not formed at the tip of the emitter electrode 11 on the side not fixed to the power feeding portion 12, and is made of a cylindrical conductive material having a diameter larger than the circumscribed circle of the emitter electrode 11. It is terminated by the terminating portion 18.
- the termination 18 has an effect of suppressing the electric field concentration generated at the end of the wire emitter 11 a and uniforming the electric field intensity around the emitter electrode 11 in the vicinity of the termination 18.
- the area where electrons can be emitted on the emitter electrode 11 is smaller than that in the case where the terminal portion 18 is provided, and the light emission area is accordingly reduced.
- the termination 18 may be provided with a structure that weakens the surrounding electric field by further increasing its own electric field concentration.
- a structure in which the end of the terminal end 18 on the side connected to the emitter electrode 11 is partially increased in diameter relative to the main body of the terminal end 18 when viewed from the central axis of the emitter electrode 11 is provided. You can also.
- a fixing jig for assembling the wire emitters 11a may be disposed at the center of the emitter electrode 11 (inside the group of wire emitters 11a). Even if such a jig is arranged, there is no electric field strength or only a weak electric field in the central portion surrounded by the conductive wire emitter 11a, and the internal structure has almost no influence on the electric field strength on the electron emission surface. Therefore, there is no change in the electron emission characteristics of the emitter electrode 11.
- This FEL has two systems of current introduction terminals, one current introduction terminal is connected to the power feeding section 12, and the other current introduction terminal is connected to the reflection section 15 via a lead wire.
- a negative voltage of, for example, -8 KV is applied to the current introduction terminal connected to the power feeding unit 12.
- an electric field is applied between the emitter electrode 11 and the reflection portion 15, and electrons are emitted from the electron emission material 17 of the emitter electrode 11 toward the reflection portion 15.
- the emitted electrons strike the phosphor layer 13 and cause the phosphor layer 13 to emit light.
- Most of the light emitted from the phosphor layer 13 is directly transmitted through the face glass 14 and emitted to the outside.
- other light while losing a part of its energy, repeats multiple reflections at the reflecting portion 15 or absorption and emission at the phosphor layer 13 and finally passes through the face glass 14 to the outside. To be emitted.
- FIGS. 4A to 4D are diagrams showing the structure of the main part of the FEL simplified for consideration by simulation.
- the diameter of the insulator 16 is 20 mm, and the length from the rear end to the tip of the cylindrical power supply part 12 penetrating the insulator 16 is 15 mm, of which 5 mm protrudes from the insulator 16.
- the length from the tip of the power supply unit 12 to the tip of the emitter electrode 11 is 35 mm, the angle of the reflection unit 15 with respect to the emitter electrode 11 is 45 °, and the direction cosine with respect to the central axis of the reflection unit 15 is 35 mm. Is made to coincide with the surface formed by the end of the reflecting portion 15.
- the electric field strength on the surface of the wire emitter 11a also changes depending on the shape of the terminal end 18 of the electrode tip, and the influence is easily expected to depend on the number and diameter of the wire emitters 11a.
- the calculation is performed without providing the termination 18 in the emitter electrode 11, and the electric field strength change in the vicinity of the termination affected by the shape of the termination is excluded from the examination.
- FIG. 5 shows a cross section taken along the line AA ′ in FIG.
- a wire emitter 11a having a diameter d is arranged in the power feeding section 12 having a diameter D so as to have n-fold rotational symmetry without any gap, and the surface on which the electron emission material 17 of each wire emitter is formed faces the phosphor layer 13. Is directed to do.
- an intersection of a straight line passing through the central axis C of the emitter electrode 11 and the central axis C ′ of the wire emitter 11a and the surface of the wire emitter is M, and a position on the surface of a certain wire emitter 11a on the AA ′ plane.
- Is N, and an angle ⁇ MC′N formed by the straight line C′M and the straight line C′N is ⁇ .
- a position on a straight line parallel to the central axis of the emitter electrode passing through M on the wire emitter 11 a is represented by a distance x from the surface of the power feeding unit 12.
- FIG. 6 is a diagram showing a result of calculating the ⁇ dependence of the electric field intensity on the surface of the wire emitter 11a by using an electric field simulator Estat manufactured by Field Precision.
- the test was performed assuming that a voltage of ⁇ 8 kV was applied to the unit 15.
- the reason why the relative electric field strength that becomes the threshold value ⁇ th is 0.9 is that, in the typical electron emission material 17, when the electric field strength is 90% or less, the electron emission is 30% or less. This is because it becomes possible to easily distinguish the region as a non-light emitting boundary.
- ⁇ is an angle with respect to the center C ′ of each wire emitter 11 a and there is a deviation from the center position C of the emitter electrode 11, but the deviation compared to the distance between the emitter electrode 11 and the reflecting portion 15. Is sufficiently small, ⁇ th ⁇ 2 ⁇ n can be regarded as the sum of the spread angles of the electron beams of the wire emitter 11a.
- the threshold value ⁇ th monotonously decreases with respect to n, but the increase of n exceeds that, so that the total spread angle of the electron beam monotonously increases with respect to n.
- Increasing the sum of the electron beam divergence angles also decreases the light and dark fluctuations of the radial emission intensity. Therefore, the result of FIG. 7 shows that the radial emission intensity fluctuation is increased by increasing n. It shows that it can be made smaller.
- the reflector 15 is formed on the emitter electrode 11 of the prototype FEL. 3 shows an image obtained by photographing the light emitting surface from the direction of the face glass 14 when a voltage of ⁇ 8 kV is applied.
- the emitter electrode 11 is composed of a plurality of wire emitters 11a, and the deposition surface of the electron emission material 17 of each wire emitter 11a is opposed to the reflecting portion 15. It is possible to emit light with no bias in the light emission direction. Further, by making the configuration of the power supply unit 12 relax the electric field intensity on the emitter electrode 11 in the vicinity thereof, it is possible to prevent a phenomenon in which the light emission intensity differs between the central part and the peripheral part of the reflection part 15. Is possible. Further, the emitter electrode 11 has a simple configuration in which the wire emitters 11a are bundled, has high light extraction efficiency, and the holding strength of the emitter electrode 11 is appropriate by reducing the moment of inertia around the fixed portion. Durability is obtained.
- FIG. 9 is a diagram showing a structure of a main part of an electron irradiation surface emitting utilization type FEL that is simplified for consideration by simulation of the electron irradiation density on the surface on which the phosphor layer 13 is applied.
- the diameter d of the wire emitter 11a is 1 mm
- the number of wire emitters 11a, n is 6,
- the electron emission material 17 having the electron emission characteristics shown in FIG. 10 is formed on the half surface of the phosphor layer 13 side. Yes.
- FIG. 11 shows the change in electron irradiation density in the line segment from the point A on the anode side to A ′. Since the electron emission material 17 emits electrons by a quantum tunnel effect, as shown in FIG. 10, the electron emission density change is non-linear with respect to the change in electric field strength, and the electron emission density is reduced by a slight electric field strength. It changes a lot.
- FIG. 12 is a diagram showing the state of the light emission state of the electron irradiation surface light emission using FEL, and the light emission state of the electron irradiation surface light emission type FEL having the same electrode structure as that shown in FIG. It shows the state seen from the glass side.
- FIG. 13 is a diagram showing a light emission state of the electron irradiation surface light emission utilizing FEL when the face glass 14 is a ground glass. 12 is bonded to the electrode structure similar to that in the case of FIG. 12 described above, the face glass 14 whose surface is slid by virtue of honing is bonded, the inside of the vacuum sealing container 10 is evacuated, and then the sealing is performed.
- the gradient of the emission intensity of the phosphor layer 13 in the ⁇ direction is relaxed by the light diffusion effect of the ground glass, and the light emission is made uniform.
- uniform light emission can be achieved by producing an electron-irradiated surface-emission-type FEL using the technique of this embodiment using a plurality of wire emitters 14.
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Abstract
均一な発光が可能で、効率がよい電界放出型光源を実現する。 エミッタ電極(11)を、直線状の形状をそれぞれ持ち、中心軸方向から見てその表面の略半面に電子放出素材が形成された軸が平行な複数のワイヤエミッタ(11a)より構成し、各ワイヤエミッタ(11a)の電子放出素材が形成された面が蛍光体層(13)側を向き、かつ、軸方向から見てワイヤエミッタ(11a)の数と同じ回転対称性を持つように配置されている。これにより、エミッタ電極(11)の周りに均等に電子を放出できるので蛍光体層において均等な発光が得られる。又、エミッタ電極(11)を支持する給電部(12)を、蛍光体層(13)に近い部分の電子放出素材における電界強度を緩和させるような形状にすることで、エミッタ電極(11)の長手方向の発光が均一化される。
Description
本発明は、照明や表示に使用可能な電界放出型光源(Field Emission Light:以下FELという)に関する。
FELは、真空蛍光ディスプレイ(Vacuum Fluorescent Display)やブラウン管(Cathode Ray Tube)と同じく、電子線照射によって励起された蛍光体の発光、すなわちカソードルミネセンスを利用するものであるが、電子放出源としてフィラメントではなく、量子的な効果で電子放出を行う電界電子放出素子を使用することに特徴がある。
電界電子放出素子を使用すると、ブラウン管のようにフィラメントの加熱を必要とせずに大きな電流を取り出せるため、低消費電力で高輝度な発光を得ることができ、耐久性も高いことが知られている。
特許文献1には、基体表面に配置されたダイヤモンド粒子とダイヤモンド粒子の表面に花弁状に成長したグラフェンシートとを備えた電子放出電極が示されている。この電子放出電極は、優れた電子放出特性を持つと共に製造が容易であるので、FELの電界電子放出素子としての利用が期待されている。
特許文献1には、基体表面に配置されたダイヤモンド粒子とダイヤモンド粒子の表面に花弁状に成長したグラフェンシートとを備えた電子放出電極が示されている。この電子放出電極は、優れた電子放出特性を持つと共に製造が容易であるので、FELの電界電子放出素子としての利用が期待されている。
一般的なFELには、ガラスなどの可視光に対して透過性のある材料で形成された真空封止容器内の一部に、透明導電膜などにより電気導電性を付加された蛍光体層を形成し、その蛍光体層に、真空封止容器内部に配置された電子放出源からの電子を照射することで蛍光体を発光させ、この光を蛍光体塗布面のガラスを通して外部に取り出すことで発光を得る構造のものがある。以下、このような構造のFELを透過光利用型FELと呼ぶ。
また、他のFELとして、蛍光体層を金属などで形成された電極上に形成し、この蛍光体層に電子線照射することで得られる発光を、真空封止容器の蛍光体層以外の部分に設けられた光を取り出すための窓(フェイスガラス)を通して、光を外部に取り出す構造のものがある。以下このような構造をもつFELを電子照射面発光利用型FELと呼ぶ。
この電子照射面発光利用型FELは透過光利用型FELに比べて、発光強度の高い、電子照射面側の蛍光体粒子の発光を、蛍光体層中で損失させることなく利用できる点で、有利である。また、蛍光体は基本的に温度が上がるほど発光効率が減少するが、反射光利用型FELでは蛍光板の背面に放熱構造を設けることで蛍光板の温度上昇が抑えられるため、印加できる電力の上限が向上し、透過光利用型FELに比べ、より高い輝度で発光することが可能となる。
この電子照射面発光利用型FELは透過光利用型FELに比べて、発光強度の高い、電子照射面側の蛍光体粒子の発光を、蛍光体層中で損失させることなく利用できる点で、有利である。また、蛍光体は基本的に温度が上がるほど発光効率が減少するが、反射光利用型FELでは蛍光板の背面に放熱構造を設けることで蛍光板の温度上昇が抑えられるため、印加できる電力の上限が向上し、透過光利用型FELに比べ、より高い輝度で発光することが可能となる。
しかしながら、電子照射面発光利用型FELの場合、特許文献2のように、電子放出素子を蛍光体層の直上に配置すると、フェイスガラスに向かう蛍光体層の光を電子放出素子が遮ることになるため、透過光利用型FELのように面状の電子放出素子を蛍光体層近傍に配置することができない。そのため、電子放出素子と蛍光体層の間隔を均一にすることが難しく、電子放出素子上の電界強度、およびそれによってもたらされる電子放出密度の不均一性が大きくなり、その照射面で得られる蛍光体層の発光が不均一になる問題があった。
このため、特許文献3には、お椀形状の蛍光体層が塗布される真空封止容器の内壁に対して、ワイヤ型の電子放出素子が、アノード層とほぼ等距離となるように、アノード層方向に放射状、あるいはスパイラル状に取り付ける方法が開示されている。
しかしながら、特許文献3の構造では、電子放出素子の構造を放射状或いはスパイラル状などの複雑な形状あることから電子放出素子の固定部を中心とする慣性モーメントが大きくなり、FELに加速度が与えられたときに固定部に生じる応力が大きく、電極構造の強度に問題が生じる。また、エミッタ電極の形状の複雑化は、エミッタ電極が蛍光板を覆う面積を増大させるため、取り出し効率を減少させるという問題もある。
本発明は、このような現状に鑑みてなされたものであり、均一な発光が可能であり、効率がよく、さらに適切な強度を有するFELを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の観点に係る電界放出型光源は、
容器状をなし、容器状の管壁の少なくとも一部が可視光に対して透過率の高い材料で形成されたフェイスガラスで構成され、フェイスガラス以外の容器内部の管壁には、導電性の高い部材によって構成されるアノード電極が配置され、前記アノード電極面上に蛍光体層が配置された真空封止容器と、
前記真空封止容器内にあって、直線状の形状をそれぞれ持ち、その表面の略半面に電子放出素材が形成された複数の基体より構成され、各基体の電子放出素材が形成された面が前記蛍光体層側を向き、かつ互いに平行で、その中心軸方向から見て基体の数、nと同じn回回転対称性を持つように配置された構造を有するエミッタ電極と、導電性材料で形成され、前記真空封止容器内で前記エミッタ電極を支持し、該エミッタ電極に電圧を印加した際に、前記蛍光体層に近い部分の前記電子放出素材表面の電界強度を緩和させることで、エミッタ電極からの電子放出を均一化させることのできる形状を持った給電部とを、
備えることを特徴とする。
容器状をなし、容器状の管壁の少なくとも一部が可視光に対して透過率の高い材料で形成されたフェイスガラスで構成され、フェイスガラス以外の容器内部の管壁には、導電性の高い部材によって構成されるアノード電極が配置され、前記アノード電極面上に蛍光体層が配置された真空封止容器と、
前記真空封止容器内にあって、直線状の形状をそれぞれ持ち、その表面の略半面に電子放出素材が形成された複数の基体より構成され、各基体の電子放出素材が形成された面が前記蛍光体層側を向き、かつ互いに平行で、その中心軸方向から見て基体の数、nと同じn回回転対称性を持つように配置された構造を有するエミッタ電極と、導電性材料で形成され、前記真空封止容器内で前記エミッタ電極を支持し、該エミッタ電極に電圧を印加した際に、前記蛍光体層に近い部分の前記電子放出素材表面の電界強度を緩和させることで、エミッタ電極からの電子放出を均一化させることのできる形状を持った給電部とを、
備えることを特徴とする。
尚、前記給電部は、前記エミッタ電極の中心軸(即ち前記回転対称軸)方向からみた断面図におけるエミッタ電極の外接円の直径よりも、大きい直径となる外接円を持ってもよい。
又、複数の基体からなる前記エミッタ電極の前記給電部の反対側にある端部において、その端部の電界集中によって生じる端部周辺の電子放出素材表面の電界強度の増加を緩和させることで、前記エミッタ電極表面の電子放出を均一化させることのできる形状を持った終端部を備えてもよい。
又、前記給電部或は前記終端部のエミッタ電極側の構造には、それ自身の電界集中を高め、近傍のエミッタ電極の電界を緩和させる形状が設けられていてもよい。
この場合、前記形状は、前記給電部或は前記終端部のエミッタ電極の接続部近傍に、エミッタ電極の中心軸方向からみたときに、部分的にその外接円の直径が該給電部或は終端部本体の平均的な外径に対して大きくなっている形状であってもよい。
この場合、前記形状は、前記給電部或は前記終端部のエミッタ電極の接続部近傍に、エミッタ電極の中心軸方向からみたときに、部分的にその外接円の直径が該給電部或は終端部本体の平均的な外径に対して大きくなっている形状であってもよい。
又、前記フェイスガラスは、前記真空封止容器の内部から大気側に向かって凸となる曲率を持ってもよい。
又、前記フェイスガラスのガラス表面には、摺りガラス加工などのぼかし加工が施されてもよい。
又、前記蛍光体層の表面には、電子線照射による劣化を抑制する透明な保護膜が配置されていてもよい。
この場合、前記保護膜は、所定の電気伝導度をもつ酸化スズ・インジウム、酸化亜鉛、又は酸化スズのいずれかの材料を含んでもよい。
本発明によれば、均一な発光が可能であり、効率がよく、さらに適切な強度を有するFELを実現できる。
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態の電子照射面発光利用型電界放出型光源(Field Emission Light:以下FELという)について説明する。
図1は、本発明の実施形態に係るFELの要部を示す構成図である。図2は、図1の部分断面図である。図3は、FELの側面を示す図である。
図1は、本発明の実施形態に係るFELの要部を示す構成図である。図2は、図1の部分断面図である。図3は、FELの側面を示す図である。
このFELは、内部を真空に封止する真空封止容器10と、真空封止容器10内に配置されたエミッタ電極11及び給電部12と、真空封止容器10内の壁面に塗布された蛍光体層13と、蛍光体層13上に形成された透明保護膜13Aとを備えている。
真空封止容器10は、可視光に対して高い透過率を持つガラスで形成され、光を放出する先端部をなすフェイスガラス14と、反射部15と、絶縁碍子16とを備えている。
フェイスガラス14は、図3(a)のように平面状でもよいが、図3(b)のように、その強度を高めるために、真空封止容器10内部から大気側に向かって凸となる構造を持ってもよい。このような構造をとることで大気の圧縮応力に対する強度が向上し、その分、フェイスガラス14の厚さを薄くすることができると同時に、真空封止容器10内外の差圧によってフェイスガラス14に生じる歪を減少させ、その歪により生じる真空封止容器10との接合部分でのリークを抑制することができる。
フェイスガラス14は蛍光体層13からの光を拡散させるために、表面にぼかし加工が施されている。
フェイスガラス14は蛍光体層13からの光を拡散させるために、表面にぼかし加工が施されている。
エミッタ電極11は、n本(nは、2以上の整数)の直線状のワイヤエミッタ11aを束ねた構成であり、エミッタ電極11が給電部12に支持されている。
反射部15は、真空封止容器10の壁面を構成すると共にアノード電極を兼ねるものであり、ガラス製の真空封止容器10の内壁面に形成された金属性の薄膜であり、例えばアルミニウム等の金属で形成されて筒状をなしている。反射部15の内径は、後端側が小さく先端側が大きくなっている。反射部15の内周面に、酸化亜鉛蛍光体(ZnO:Zn)を塗布することで蛍光体層13が形成されている。
蛍光体層13のエミッタ電極11に対向する面に、透明保護膜13Aが形成されている。透明保護膜13Aは、蛍光体層13の電子線照射による劣化を抑制するもので、透明でかつ高い電気伝導度をもつ酸化スズ・インジウム、酸化亜鉛、又は酸化スズのいずれかの材料で構成されている。これらの材料を100~200nm厚で蛍光体層13上に付着させることで、エミッタ電極11から放出された電子が、蛍光体層13に到達するとともに、蛍光体層13で発光した光を遮蔽なしに取り出すことが可能になる。又、蛍光体層13における蛍光体の劣化速度を大幅に低減できる。反射部15の先端に、フェイスガラス14が低融点フリットガラス等により接着固定されている。
反射部15の後端は、フリットガラス等によりシールされ、円筒状の絶縁碍子16の先端側に固定されている。絶縁碍子16は、アルミナで形成されている。絶縁碍子16の中心部に、導電性を有する金属の例えばアルミニウムで構成された円柱状の給電部12が配置されている。給電部12は、絶縁碍子16を貫通し、先端側が絶縁碍子16の先端側より突出し、電流導入端子を構成している。尚、フリットガラス等を用いて絶縁碍子16を介さず直接、真空封止容器10内へ電流導入端子を導入しても同様の効果が得られる。
給電部12の直径は、エミッタ電極11の直径よりも大きく、給電部12の先端側に、エミッタ電極11が取り付けられ、エミッタ電極11の中心軸が円柱状給電部12の中心軸と共軸になるように、支持されている。
さらに、給電部12のエミッタ電極11側端部の形状は、近傍のエミッタ電極11の電界を緩和させる効果を高めるために、それ自身の電界集中をより高める構造を設けている。給電部12のエミッタ電極11側端部が、ミッタ電極11の中心軸からみたときに、部分的にその直径が給電部12本体に対して大きくしている。
エミッタ電極11を構成する各ワイヤエミッタ11aは、例えば基体となるニッケルのワイヤの表面にダイヤモンド粒子を配置し、ダイヤモンド粒子の表面に電子放出素材17としての花弁状のグラフェンシートを成長させたものである。このようなワイヤエミッタ11aは、電子放出素材17をCVDなどの手法によって形成する場合、ワイヤエミッタ11a表面全体に均一な電子放出材料を設けることは難しい。
例えば、前述の特許文献1に示されているように、DCプラズマCVD法によって電子放出素材17を成膜した場合、基体がプラズマを誘起するための電(磁)界を乱さないように、陰極、陽極のどちらかに接触、あるいはごく近傍に配置され、プラズマに曝される面に反応ガスより生じる堆積物を生じさせる。しかし、直接プラズマに曝露されない電極側の部分にはほとんど堆積物が生じないため、ワイヤエミッタ11aの外周に均等に電子放出素材17が成膜されない。同じように、他の成膜手法(熱CVD、プラズマCVD法、スパッタ法など)をもってしても、堆積される膜の原材料は、基体に対して特定の方向より供給されるため、形成される膜の堆積速度に方向性が存在する。このため、いずれの手法を用いてもワイヤ状の基体の表面を360°均一に電子放出素材17で覆うことは困難である。
そこで、本実施形態のFELでは、ワイヤエミッタ11aの配置は、電子放出素材17が形成されている面が蛍光体層13と対向するように配置している。又、ワイヤエミッタ11aの数がn本であったとき、エミッタ電極11の中心軸方向から見て、ワイヤエミッタ11aの断面の配置がn回の回転対称性を持つように配置している。
仮に、単一の基体の表面に電子放出材料を360°均一に形成出来たとして、それをエミッタ電極11とする場合には、n本のワイヤエミッタ11aをn回対称で配置する場合に対して、基体の曲率半径が等方的であるため、理想的には電界強度およびそれによる電子放出に方位性が生じない。しかし、実際には真空封止容器10とエミッタ電極11の中心軸を完全に一致させることが困難であり、そのエミッタ電極位置のずれが、電子放出分布とそれによる発光を特定の一方向に偏らせることになる。このような発光の一方向への偏りは発光の美観を損ねるだけでなく、真空封止容器10の温度分布に偏りを生じさせることで容器に熱応力を発生させ、真空封止容器10とフェイスガラス14の接合部におけるリーク発生の原因となる。
一方、n本のワイヤエミッタ11aをn回対称で配置する場合では、ワイヤエミッタ11aの表面の電界集中が強い部分が360/n°の周期で存在しているため、発光にも360/n°の周期の明暗が生じるが、その分、真空封止容器10とエミッタ電極11の中心軸のずれによって生じる一方向への発光の偏りは緩和される。このため、発光に放射線状の明暗が生じるが、ワイヤエミッタ11aが一本の場合よりも、本真空封止容器10に生じる温度分布が小さくなり、それに応じて熱応力も小さくなる。また、後述するようにnを増やすことで放射線状の明暗の振れ幅も緩和することも可能である。
一方、n本のワイヤエミッタ11aをn回対称で配置する場合では、ワイヤエミッタ11aの表面の電界集中が強い部分が360/n°の周期で存在しているため、発光にも360/n°の周期の明暗が生じるが、その分、真空封止容器10とエミッタ電極11の中心軸のずれによって生じる一方向への発光の偏りは緩和される。このため、発光に放射線状の明暗が生じるが、ワイヤエミッタ11aが一本の場合よりも、本真空封止容器10に生じる温度分布が小さくなり、それに応じて熱応力も小さくなる。また、後述するようにnを増やすことで放射線状の明暗の振れ幅も緩和することも可能である。
エミッタ電極11の給電部12に固定されない側の先端部には、電子放出素材17が形成されておらず、エミッタ電極11の外接円よりも大きな直径をもつ、円筒形状の導電性材料で構成される終端部18によって終端されている。この終端部18は、ワイヤエミッタ11aの端部に生じる電界集中を抑制し、終端部18の近傍のエミッタ電極11の周囲の電界強度を均一化する作用がある。特に終端部18を用いず、電界強度が強くなる部分には電子放出素材17を形成しない方法をとることもできる。ただし、その場合は、エミッタ電極11上の電子放出可能な面積が、終端部18を設ける場合に比べて小さくなるため、これに応じて発光面積が小さくなる。
終端部18を用いる場合、その電界集中を抑制する効果を高めるために、終端部18に、それ自身の電界集中をより高めることで周囲の電界を弱める構造を設けてもよい。例えば、終端部18のエミッタ電極11に接続される側の端部が、エミッタ電極11の中心軸からみたときに、部分的にその直径が終端部18本体に対して大きくなった構造を設けることもできる。
図2は、n=3の場合にエミッタ電極11をフェイスガラス14の方向から見たときの断面図である。
図2には図示していないが、エミッタ電極11の中心(ワイヤエミッタ11a群の内側)にワイヤエミッタ11aを集合させるための固定用のジグを配置してもよい。そのようなジグを配置しても、導電性のワイヤエミッタ11aで囲まれる中央部には、電界強度がないか微弱にしか存在せず、内部構造が電子放出面上の電界強度にほとんど影響を及ぼさないため、エミッタ電極11の電子放出特性に変化は生じない。
図2には図示していないが、エミッタ電極11の中心(ワイヤエミッタ11a群の内側)にワイヤエミッタ11aを集合させるための固定用のジグを配置してもよい。そのようなジグを配置しても、導電性のワイヤエミッタ11aで囲まれる中央部には、電界強度がないか微弱にしか存在せず、内部構造が電子放出面上の電界強度にほとんど影響を及ぼさないため、エミッタ電極11の電子放出特性に変化は生じない。
このFELは、2系統の電流導入端子を備え、一方の電流導入端子が給電部12に接続され、もう一方の電流導入端子が反射部15にリード線を介して接続されている。
FELを点灯する場合、給電部12に接続される電流導入端子に負の電圧の例えば-8KVを印加する。これにより、エミッタ電極11と反射部15との間に電界がかかり、エミッタ電極11の電子放出素材17から反射部15へ向けて電子が放出される。放出された電子は、蛍光体層13に当たり、蛍光体層13を発光させる。蛍光体層13で発光した光の大部分は、直接フェイスガラス14を透過して外部に放射される。また、それ以外の光は、そのエネルギーの一部を失いながらも反射部15での多重反射、或いは蛍光体層13での吸収、放出を繰り返し、最終的にはフェイスガラス14を透過して外部に放射される。
次に、本実施形態の電子照射面発光利用型FELの特性を評価しつつ、構造を検討する。
図4(a)~(d)は、シミュレーションによる考察を行うために単純化したFELの要部の構造を示す図である。
図4(a)~(d)は、シミュレーションによる考察を行うために単純化したFELの要部の構造を示す図である。
絶縁碍子16の直径を20mm、絶縁碍子16を貫通する円柱形の給電部12の後端から先端までの長さが15mmで、そのうち5mmは絶縁碍子16から突き出している。給電部12の先端からエミッタ電極11の先端までの長さを35mm、反射部15のエミッタ電極11に対する角度を45°、反射部15の中心軸に対する方向余弦を35mmとし、エミッタ電極11の先端部は、反射部15の端部の作る面と一致させている。
また、ワイヤエミッタ11a表面の電界強度は、電極先端部の終端部18の形状によっても変化し、その影響の受け方はワイヤエミッタ11aの数や直径に依存することが容易に予想されるため、以後のシミュレーションによる検討を単純化するために、エミッタ電極11に終端部18を設けずに計算を行い、終端部の形状が影響を及ぼす終端部近傍の電界強度変化については検討から除外する。
図4(b)~(d)は、シミュレーションに使用する、ワイヤエミッタ11aの数nを3,5,8とした場合におけるエミッタ電極11の各々について、エミッタ電極11および給電部12を先端部のほうから見たときの、図4(a)のA-A’の位置での断面を示したものである。直径Dの給電部12に、直径dのワイヤエミッタ11aが隙間無くn回の回転対称性を持つように配置され、各々のワイヤエミッタの電子放出素材17の形成面は、蛍光体層13と対向するように向けられている。
ここで、エミッタ電極11の中心軸Cとワイヤエミッタ11aの中心軸C’を通る直線とワイヤエミッタ表面との交点をMとし、A-A’面上の、あるワイヤエミッタ11aの表面上の位置をNとして、直線C’Mと直線C’Nのなす角∠MC’Nをθとする。また、ワイヤエミッタ11a上でMを通るエミッタ電極の中心軸に平行な直線上の位置を、給電部12の表面からの距離xで表す。
n=3本でd=1.0mmの場合について、エミッタ電極11に反射部18に対して-8kVの電圧を印加したときの、位置xにおける電界強度を、D=3mm,4mm,5mm,6mm,7mmの場合について、Field Precision社製の電界シミュレータEstatを用いて計算し、ワイヤエミッタ11aの表面の電界強度のx依存性として図5に示す。
図5から分かるように基本的な傾向としては、xが小さいほどワイヤエミッタ11aの側面から反射部15までの距離が短くなるため電界強度が強くなる。(ただし、x=30mm付近ではワイヤエミッタ11aの先端部の電界集中効果によって僅かに歪んでいる)
しかし、直径dに対して直径Dが大きくなると、その形状効果により給電部12付近のワイヤエミッタ11aの表面での電界強度を弱く(逆に給電部12の外周端部で電界強度が強く)する効果が強化されるため、直径Dが大きくなるに従って、給電部12付近の電極間距離に由来する電界強度の増加が緩和されている。
しかし、直径dに対して直径Dが大きくなると、その形状効果により給電部12付近のワイヤエミッタ11aの表面での電界強度を弱く(逆に給電部12の外周端部で電界強度が強く)する効果が強化されるため、直径Dが大きくなるに従って、給電部12付近の電極間距離に由来する電界強度の増加が緩和されている。
図6は、ワイヤエミッタ11aの表面の電界強度のθ依存性をField Precision社製の電界シミュレータEstatを用いて計算した結果を示す図である。
計算はワイヤエミッタ11aの直径をd=1mmと固定し、n=3でD=6mm、n=5でD=7mm、n=8でD=10mmとした各々の場合について、エミッタ電極11に反射部15に対して-8kVの電圧が印加されたとして行った。図中の電界強度は、最大の値となるθ=0°のときを1として規格化している。
計算はワイヤエミッタ11aの直径をd=1mmと固定し、n=3でD=6mm、n=5でD=7mm、n=8でD=10mmとした各々の場合について、エミッタ電極11に反射部15に対して-8kVの電圧が印加されたとして行った。図中の電界強度は、最大の値となるθ=0°のときを1として規格化している。
図6をみれば、θが大きくなるに従ってワイヤエミッタ11a上の電界強度が弱くなり、また、その傾向はnが大きくなるに従って強くなっていることが分かる。
これはθが大きくなると、エミッタ電極11における隣り合うワイヤエミッタ11aの作る谷間の形状効果によって、電界強度が弱くためである。また、nが大きい程その傾向が強くなることは、nが大きいほど、その電界強度が最も小さくなるワイヤエミッタ11a同士の接触する(谷底の)位置のθが小さくなるため、電界強度が弱められる効果がより浅いθで働くことになるためである。
これはθが大きくなると、エミッタ電極11における隣り合うワイヤエミッタ11aの作る谷間の形状効果によって、電界強度が弱くためである。また、nが大きい程その傾向が強くなることは、nが大きいほど、その電界強度が最も小さくなるワイヤエミッタ11a同士の接触する(谷底の)位置のθが小さくなるため、電界強度が弱められる効果がより浅いθで働くことになるためである。
さらに対称性から考えて電界変化はθについて遇の対称性をもつと考えられるため、図6のプロットに対して、非線形最小自乗法によりの多項式Fn(θ)=a+bθ2+cθ4(a,b,cは係数)のフィッティングを行い電界強度のθ依存性を関数Fn(θ)として求めた。また、得られた関数Fn(θ)より、ワイヤエミッタ11aからの電子放出の広がり角を表す目安として、電界強度の相対値が0.9となるときのθを閾値θthとして求めた。
ここで、閾値θthとなる相対電界強度を0.9とした理由は、典型的な電子放出素材17では、電界強度が90%以下になると電子放出が30%以下となり、視覚でもそのようになる領域を非発光の境界として容易に区別できるようになるためである。
求められた閾値θthは、n=3のときθth=50.9°、n=5のときθth=36.1°、n=8のときθth=25.4°となった。
求められた閾値θthは、n=3のときθth=50.9°、n=5のときθth=36.1°、n=8のときθth=25.4°となった。
図7は、n=3,5,8における閾値θthついて、θth×2×nの値を計算してプロットした図である。
ここで、θは個々のワイヤエミッタ11aの中心C’とする角度であり、エミッタ電極11の中心位置Cとずれが存在するが、エミッタ電極11と反射部15の間の距離に比べてそのずれは充分に小さいため、θth×2×nは、ワイヤエミッタ11aの電子線の広がり角の総和とみなすことが出来る。
ここで、θは個々のワイヤエミッタ11aの中心C’とする角度であり、エミッタ電極11の中心位置Cとずれが存在するが、エミッタ電極11と反射部15の間の距離に比べてそのずれは充分に小さいため、θth×2×nは、ワイヤエミッタ11aの電子線の広がり角の総和とみなすことが出来る。
図7の結果から閾値θthはnに対して単調減少するが、nの増加がそれを上回るため、電子線の広がり角の総和はnに対して単調増加することが分かる。電子線の広がり角の総和が大きくなることは、放射線状の発光強度の明暗の振れ幅も小さくなることにつながるため、図7の結果はnを大きくすることで放射線状の発光強度の振れを小さくすることが可能であることを示している。
図8は、n=3、d=1,D=5としてシミュレーションと同じ寸法をもつ試作した電子照射面発光利用型FELの発光状態を示す図であり、試作FELのエミッタ電極11に反射部15に対して-8kVの電圧を印加したときの発光面を、フェイスガラス14の方向から撮影した像を示している。
目視によって確認できる電子線の発光領域はワイヤエミッタ11aの数のnと同じ、3つの領域に区別でき、各々の広がり角は97°,98°,100°であった。この結果は、n=3のときの閾値θthの2倍(102°)に近い値であり、シミュレーションの結果が実際の電界強度分布をよく再現していることを示している。
以上のように、本実施形態のFELは、エミッタ電極11を複数のワイヤエミッタ11aで構成し、各ワイヤエミッタ11aの電子放出素材17の堆積面を反射部15に対向させているので、FELに、光の放射方向に偏りのない発光をさせることができる。又、給電部12の構成を、その近傍のエミッタ電極11上の電界強度を緩和する構成にすることにより、反射部15の中心部と周辺部とで発光強度に差異が生じる現象を防ぐことが可能である。又、エミッタ電極11は、ワイヤエミッタ11aを束ねたような単純な構成であり、光の取り出し効率もよく、エミッタ電極11の保持強度も、固定部を中心とする慣性モーメントを小さくすることで適切な耐久性が得られる。
図9は、蛍光体層13が塗布される面の電子照射密度について、シミュレーションによる考察を行うために単純化した電子照射面発光利用型FELの要部の構造を示す図である。
ワイヤエミッタ11aの直径dが1mmでワイヤエミッタ11aの数、nが6本であり、その蛍光体層13面側の半面に図10に示される電子放出特性をもつ電子放出素材17が形成されている。
図9のワイヤエミッタ11aが固定される給電部12のワイヤエミッタ11a側の端部には、その電界緩和効果を増大させるため、直径5mmの円筒形のワイヤエミッタ11a側端部に、直径15mm、厚さ2mmの円盤状構造を設けられている。また、6本のワイヤエミッタ11aのうちの1本について、その中心軸とそれに平行なエミッタ電極の中心軸の両方を含む面と、反射部15の内壁面との交線と、ワイヤエミッタ11aと給電部12の接続部を通るワイヤエミッタ11aの中心軸に対して垂直な面との交点をA、またワイヤエミッタ11aと終端部18との接続部を含むワイヤエミッタ11aの中心軸に対して垂直な面との交点をA’とする。
ワイヤエミッタ11aの直径dが1mmでワイヤエミッタ11aの数、nが6本であり、その蛍光体層13面側の半面に図10に示される電子放出特性をもつ電子放出素材17が形成されている。
図9のワイヤエミッタ11aが固定される給電部12のワイヤエミッタ11a側の端部には、その電界緩和効果を増大させるため、直径5mmの円筒形のワイヤエミッタ11a側端部に、直径15mm、厚さ2mmの円盤状構造を設けられている。また、6本のワイヤエミッタ11aのうちの1本について、その中心軸とそれに平行なエミッタ電極の中心軸の両方を含む面と、反射部15の内壁面との交線と、ワイヤエミッタ11aと給電部12の接続部を通るワイヤエミッタ11aの中心軸に対して垂直な面との交点をA、またワイヤエミッタ11aと終端部18との接続部を含むワイヤエミッタ11aの中心軸に対して垂直な面との交点をA’とする。
この構造において、ワイヤエミッタ11aと反射部15との間に、ワイヤエミッタ11aが負極側となるように-8kVが印加されたときの、電子放出と真空封止容器10内での電子軌道のシミュレーションをField Precision社製の電子放出シミュレーションソフトTriComp6.0を用いて行った。陽極側の地点AからA’までの線分における電子照射密度の変化を図11に示す。
電子放出素材17は量子的なトンネル効果によって電子を放出するため、図10に示されるように、電界強度の変化に対して電子放出密度変化が非線形であり、わずかな電界強度によって電子放出密度が大きく変化する。さらに、ワイヤエミッタ11aの給電部12側では、照射される側の面積がフェイスガラス14側に比べて狭いため、より電子放出密度を抑制する必要がある。図11によれば、図9の構造では、給電部12及び終端部18の端部がもたらす緩和効果によって電界分布が緩和され、且つ電子照射密度の差異は照射面内において30%以内に抑えられていることが分かる。
電子放出素材17は量子的なトンネル効果によって電子を放出するため、図10に示されるように、電界強度の変化に対して電子放出密度変化が非線形であり、わずかな電界強度によって電子放出密度が大きく変化する。さらに、ワイヤエミッタ11aの給電部12側では、照射される側の面積がフェイスガラス14側に比べて狭いため、より電子放出密度を抑制する必要がある。図11によれば、図9の構造では、給電部12及び終端部18の端部がもたらす緩和効果によって電界分布が緩和され、且つ電子照射密度の差異は照射面内において30%以内に抑えられていることが分かる。
図12に、電子照射面発光利用型FELの発光状態の様態を示す図であり、図9で示された電極構造と同じ電極構造を持つ電子照射面発光利用型FELの発光状態の様態をフェイスガラス側からのぞいた状態を示している。
発光は、フェイスガラス14をはずした状態で真空チャンバー内に設置し3×10-5Paまで真空引きを行った後、ワイヤエミッタ11aに反射部15に対して-8kVの電圧を印加することによって発光させている。図9の発光状態から判断してθ方向への電子線照射密度分布に依存性が見られるが、図8のn=3の場合に比べてそれは小さいことが確認できた。また、給電部12側からフェイスガラス14側へむかう方向の発光強度の勾配は僅かにしか見られず、給電部12、終端部18の電界勾配の緩和効果が充分に働いていることが確認できた。
発光は、フェイスガラス14をはずした状態で真空チャンバー内に設置し3×10-5Paまで真空引きを行った後、ワイヤエミッタ11aに反射部15に対して-8kVの電圧を印加することによって発光させている。図9の発光状態から判断してθ方向への電子線照射密度分布に依存性が見られるが、図8のn=3の場合に比べてそれは小さいことが確認できた。また、給電部12側からフェイスガラス14側へむかう方向の発光強度の勾配は僅かにしか見られず、給電部12、終端部18の電界勾配の緩和効果が充分に働いていることが確認できた。
図13は、フェイスガラス14を摺りガラスにした場合の電子照射面発光利用型FELの発光状態を示す図である。
前述の図12の場合と同様の電極構造に、ホーニング加工により表面を摺りガラス化したフェイスガラス14を接合し、真空封止容器10内部を真空引きしてから封止切りを行い、ワイヤエミッタ11aに反射部15に対して-8kVの電圧を印加して発光させると、摺りガラスによる光の拡散効果によってθ方向への蛍光体層13の発光強度の勾配が緩和され、発光が均一化されていることが分かる。
以上のように、複数のワイヤエミッタ14を用いる本実施形態の技術により、電子照射面発光利用型FELを作製することで、均一な発光が可能となることが示された。
前述の図12の場合と同様の電極構造に、ホーニング加工により表面を摺りガラス化したフェイスガラス14を接合し、真空封止容器10内部を真空引きしてから封止切りを行い、ワイヤエミッタ11aに反射部15に対して-8kVの電圧を印加して発光させると、摺りガラスによる光の拡散効果によってθ方向への蛍光体層13の発光強度の勾配が緩和され、発光が均一化されていることが分かる。
以上のように、複数のワイヤエミッタ14を用いる本実施形態の技術により、電子照射面発光利用型FELを作製することで、均一な発光が可能となることが示された。
本出願は、2010年5月6日に出願された、日本国特許出願2010-106798号に基づく。本明細書中に日本国特許出願2010-106798号の明細書、特許請求の範囲、図面全体を参照として取り込むものとする。
10 真空封止容器
11 エミッタ電極
11a ワイヤエミッタ
12 給電部
13 蛍光体層
13a 透明保護膜
14 フェイスガラス
15 反射部
16 絶縁碍子
17 電子放出素材
18 終端部
11 エミッタ電極
11a ワイヤエミッタ
12 給電部
13 蛍光体層
13a 透明保護膜
14 フェイスガラス
15 反射部
16 絶縁碍子
17 電子放出素材
18 終端部
Claims (9)
- 容器状をなし、容器状の管壁の少なくとも一部が可視光に対して透過率の高い材料で形成されたフェイスガラスで構成され、フェイスガラス以外の管壁には、導電性の高い部材によって構成されるアノード電極が配置され、前記アノード電極の容器状の内部を向く面に蛍光体層が配置された真空封止容器と、
前記真空封止容器内にあって、直線状の形状をそれぞれ持ち、中心軸方向から見てその表面の略半面に電子放出素材が形成された軸が平行な複数の基体より構成され、各基体の電子放出素材が形成された面が前記蛍光体層側を向き、かつ、中心軸方向から見て基体の数と同じ回転対称性を持つように配置された構造を有するエミッタ電極と、
導電性材料で形成され、前記真空封止容器内で前記エミッタ電極を支持し、該エミッタ電極に電圧を印加した際に、前記蛍光体層に近い部分の前記電子放出素材における電界強度を緩和させることで、エミッタ電極からの電子放出を均一化させることのできる形状を持った給電部とを、
備えることを特徴とする電界放出型光源。 - 前記給電部は、前記エミッタ電極をフェイスガラス方向からみた断面図において、その外接円が、エミッタ電極の外接円の直径よりも大きい直径を持つことを特徴とする請求項1に記載の電界放出型光源。
- 複数の基体からなる前記エミッタ電極の前記給電部の反対側にある端部に、その端部表面における電界集中を緩和させることで、前記エミッタ電極表面の電子放出を均一化させることのできる形状を持った終端部を備えることを特徴とする請求項1に記載の電界放出型光源。
- 前記給電部或は前記終端部のエミッタ電極側の端部に、それ自身の電界集中を高めることで、近傍のエミッタ電極表面上の電界を緩和させる構造が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の電界放出型光源。
- 前記構造は、前記給電部或は前記終端部のエミッタ電極側の端部において、エミッタ電極の中心軸からみたときに、部分的にその外接円が該給電部或は終端部本体の平均的な外径に対して大きくなっている構造であることを特徴とする請求項4に記載の電界放出型光源。
- 前記フェイスガラスは、前記真空封止容器の内部から大気側に向かって凸となる曲率を持つことを特徴とする請求項1に記載の電界放出型光源。
- 前記フェイスガラスのガラス表面には、ぼかし加工が施されていることを特徴とする請求項1に記載の電界放出型光源。
- 前記蛍光体層の前記容器状の内部を向く面には、電子線照射による劣化を抑制する透明な保護膜が配置されていることを特徴とする請求項1に記載の電界放出型光源。
- 前記保護膜は、所定の電気伝導度をもつ酸化スズ・インジウム、酸化亜鉛、又は酸化スズのいずれかの材料を含んでいることを特徴とする請求項8に記載の電界放出型光源。
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Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006022352A1 (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-02 | Dialight Japan Co., Ltd. | 液晶表示装置用バックライト |
| WO2006073017A1 (ja) * | 2005-01-05 | 2006-07-13 | Dialight Japan Co., Ltd. | プラズマcvdを用いて炭素膜を製造する装置およびその製造方法ならびに炭素膜 |
| JP2006236721A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-09-07 | Harison Toshiba Lighting Corp | 電界放出型光源 |
| JP2009146816A (ja) * | 2007-12-17 | 2009-07-02 | Hitachi Metals Ltd | 冷陰極電子源およびフィールドエミッションランプ |
| JP2009164094A (ja) * | 2007-12-31 | 2009-07-23 | Ind Technol Res Inst | 両面が発光する面光源装置 |
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006022352A1 (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-02 | Dialight Japan Co., Ltd. | 液晶表示装置用バックライト |
| WO2006073017A1 (ja) * | 2005-01-05 | 2006-07-13 | Dialight Japan Co., Ltd. | プラズマcvdを用いて炭素膜を製造する装置およびその製造方法ならびに炭素膜 |
| JP2006236721A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-09-07 | Harison Toshiba Lighting Corp | 電界放出型光源 |
| JP2009146816A (ja) * | 2007-12-17 | 2009-07-02 | Hitachi Metals Ltd | 冷陰極電子源およびフィールドエミッションランプ |
| JP2009164094A (ja) * | 2007-12-31 | 2009-07-23 | Ind Technol Res Inst | 両面が発光する面光源装置 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| KAZUHITO NISHIMURA ET AL.: "Funnel-gata Denkyoku Kozo o Mochiita Denkai Denshi Hoshutsugata Kogen no Kaihatsu", NEW DIAMOND, vol. 26, no. 2, 25 April 2010 (2010-04-25), pages 18 - 23 * |
| MASAHIRO OOKA ET AL.: "Yugen Yosoho ni yoru Denkai Hoshutsugata Kogen no Kozo Kaihatsu", DAI 23 KAI DIAMOND SYMPOSIUM KOEN YOSHISHU, 18 November 2009 (2009-11-18), pages 206 - 207 * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104008952A (zh) * | 2013-02-27 | 2014-08-27 | 海洋王照明科技股份有限公司 | 一种场发射器件 |
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