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WO2011093024A1 - 反射特性測定装置および反射特性測定システム - Google Patents

反射特性測定装置および反射特性測定システム Download PDF

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WO2011093024A1
WO2011093024A1 PCT/JP2011/000199 JP2011000199W WO2011093024A1 WO 2011093024 A1 WO2011093024 A1 WO 2011093024A1 JP 2011000199 W JP2011000199 W JP 2011000199W WO 2011093024 A1 WO2011093024 A1 WO 2011093024A1
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WO
WIPO (PCT)
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reflection
light
light beam
removal filter
measurement
Prior art date
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Ceased
Application number
PCT/JP2011/000199
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English (en)
French (fr)
Inventor
健二 井村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Opto Inc
Original Assignee
Konica Minolta Opto Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Opto Inc filed Critical Konica Minolta Opto Inc
Priority to JP2011551741A priority Critical patent/JP5794149B2/ja
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    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
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    • H04N1/46Colour picture communication systems
    • H04N1/56Processing of colour picture signals
    • H04N1/60Colour correction or control
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    • H04N1/6033Colour correction or control controlled by characteristics of the picture signal generator or the picture reproducer using test pattern analysis
    • H04N1/6044Colour correction or control controlled by characteristics of the picture signal generator or the picture reproducer using test pattern analysis involving a sensor integrated in the machine or otherwise specifically adapted to read the test pattern

Definitions

  • the present invention relates to a reflection characteristic measuring apparatus, and more particularly to a reflection characteristic measuring apparatus suitably used as a color densitometer for obtaining ink density and color value of a printed material from the measurement result.
  • the present invention relates to a reflection characteristic measurement system including such a reflection characteristic measurement device.
  • print quality is usually managed, for example, defective products are discriminated.
  • the printed material is appropriately removed from the printing machine by the operator, and the reflection characteristics of the test patch of CMYK (cyan, magenta, yellow, black) formed outside the original printing area of the printed material are It is measured by a color densitometer, and the print quality is controlled by this.
  • CMYK cyan, magenta, yellow, black
  • FIG. 8 is a diagram for explaining a method of measuring the printed sample surface.
  • FIG. 8A shows a state immediately after printing
  • FIG. 8B shows a state after sufficient time has passed.
  • the ink density illuminates the sample surface Is with illumination light Il from a direction of 45 degrees with respect to the normal line of the sample surface Is
  • the light receiving system D receives reflected light in the normal direction.
  • ° Measured by 0 ° geometry, or 0 °: 45 ° geometry with these illumination direction and light receiving direction interchanged.
  • the unevenness on the surface Ps of the paper P is filled with the ink layer Ik.
  • the sample surface Is is smooth. Therefore, the reflected light Ss on the surface of the ink layer Ik (the sample surface Is) is specularly reflected in the direction of ⁇ 45 degrees with respect to the normal line, and does not have a component incident on the light receiving system D in the normal direction.
  • the component of the illumination light incident on the ink layer Ik reaches the paper P and is diffused therein, and then a part of the light is diffused and radiated from the surface Ps, and again passes through the ink layer Ik and passes through the surface (the sample surface). Is) is diffused radiation (indicated by broken arrows in the figure). This diffused light is colored by ink, and its normal component Dp enters the light receiving system D.
  • the surface Is of the ink layer Ik is uneven along the surface Ps of the paper P as shown in FIG. For this reason, irregular reflection occurs on the surface of the ink layer Ik (the sample surface Is), and the normal component Ds of irregularly reflected light (indicated by a two-dot chain arrow in the figure) from the surface not colored by the ink is colored. It enters the light receiving system D together with the normal component Dp of the diffused light.
  • the reflected light from the printed surface after drying that is observed has substantially the spectral characteristics of the colored diffused light (indicated by broken line arrows) from the inside of the ink layer Ik and the illumination light Il from the surface of the ink layer Ik.
  • This light is a superposition of the irregular reflection light maintained.
  • the density after drying is lower than the density immediately after printing, and this phenomenon is called dry down or dry back.
  • the polarization directions are orthogonal to each other in the optical paths of the illumination system and the light receiving system so that the density immediately after printing can be compared with the density of the reference sample in the dry state by eliminating the influence of the dry-down.
  • a technique for measuring a density by inserting a polarizing plate as a surface reflection removal filter (for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
  • a polarizing plate as a surface reflection removal filter
  • These technologies utilize such a phenomenon. In this way, regardless of the state of the surface of the ink layer Ik (the sample surface Is), the same density as that immediately after printing can be obtained even in the dry state by eliminating the influence of
  • FIG. 9 is a block diagram showing the structure of a color densitometer 100 that can measure the density (reflection) characteristics while eliminating the influence of such surface reflected light.
  • This color densitometer 100 irradiates a sample 101 of a printed matter with illumination light, measures its spectral reflection characteristics, and obtains ink density and color value. Therefore, the color densitometer 100 includes a 45 ° a: 0 ° geometry (a: annular) illumination light receiving system including a white LED 102, a cylindrical mirror 103, a reflecting mirror 104a, and an objective lens 104. .
  • the radiated light 102a of the white LED 102 is reflected by the cylindrical mirror 103 formed by cutting out a part thereof, and the measurement surface 101s of the sample 101 has an angle of 45 degrees from the normal to the measurement surface.
  • the component 102b in the normal direction of the reflected light from the measurement surface 101s is incident on the spectroscopic device 106 via the reflecting mirror 104a and the objective lens 104.
  • the 45 ° a: 0 ° geometry for measuring the spectral distribution of the reflected light can suppress the influence of the anisotropy of the measurement surface 101s of the sample 101, and is most commonly employed.
  • a surface reflection removal filter 109 is further provided between the cylindrical mirror 103 and the measurement surface 101 s of the sample 101 in order to eliminate the influence of the surface reflected light.
  • the color value to be correlated with the visual evaluation of the printed product after drying needs to be measured in consideration of the surface reflected light as in the visual evaluation.
  • a color densitometer that measures both the density and the color value needs to attach and detach the surface reflection removal filter 109 depending on whether the influence of the surface reflected light is excluded or taken into account. There is. In that case, in order to facilitate attachment / detachment, it is desirable to dispose the surface reflection removal filter 109 at a position close to the measurement opening 100a.
  • the measurement result of the spectroscopic device 106 is input to the calculation control unit 107, and the spectral reflectance coefficient Rse ( ⁇ ) (se: specular excluded) excluding the influence of the surface reflected light and the spectral reflectance coefficient Rsi ( ⁇ ) (si: specular included) Further, the arithmetic control unit 107 converts the spectral reflectance coefficients Rsi ( ⁇ ) and Rse ( ⁇ ) into color values and densities, and communicates with an external device such as a personal computer through the external interface 108. The arithmetic control unit 107 drives the white LED 102 to light through the drive circuit 102d.
  • the present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is a reflection characteristic that is easy to handle and can measure a spectral reflectance coefficient in which a surface reflection light is removed or added in a small configuration. It is to provide a measurement apparatus and a reflection characteristic measurement system including such a reflection characteristic measurement apparatus.
  • the reflection characteristic measuring apparatus and the reflection characteristic measuring system according to the present invention are arranged between the polarizing plate and the polarizing plate and the sample surface, and the sum of the phase change of the transmitted illumination light beam and the phase change of the received light beam is 1. / 2 phase shift plate. For this reason, the reflection characteristic measuring apparatus and the reflection characteristic measuring system having such a configuration are easy to handle and can measure the reflection characteristic with the surface reflection light removed or added with a small configuration.
  • FIG. 10 is a front view showing a configuration example of a surface reflection removal filter suitable for a color densitometer having a 45 ° a: 0 ° geometry shown in FIG. 9.
  • FIG. 1 It is typical sectional drawing for demonstrating the arrangement position of the surface reflection removal filter shown in FIG. It is a figure for demonstrating the incident reflected light of the printing sample surface. It is a block diagram which shows typically the structure of the color densitometer of the prior art which can measure a density
  • FIG. 1 is a block diagram schematically showing the structure of a color densitometer that is an example of a reflection characteristic measuring apparatus according to an embodiment.
  • the color densitometer 10 has a 45 ° a: 0 ° geometry, irradiates the sample 1 of the printed matter with illumination light, measures its spectral reflection characteristics, and obtains ink density and color value.
  • the color densitometer 10 includes a white LED 2, a cylindrical mirror 3, a reflecting mirror 4a, an objective lens 4, a surface reflection removal filter 5, a spectroscopic device 6, an arithmetic control unit 7, An external interface 8 and a measurement aperture 9a are provided, and the white LED 2, the cylindrical mirror 3, the reflecting mirror 4a, the objective lens 4, the surface reflection removing filter 5, the spectroscopic device 6, the arithmetic control unit 7 and the external interface 8 are provided therein. And a housing 9 for housing.
  • the emitted light 2a of the white LED 2 is reflected by a cylindrical mirror 3 formed by cutting out a part thereof, and the measurement surface 1s of the sample 1 is approximately 45 degrees from the surface normal. It is configured to illuminate from all directions.
  • the color densitometer 10 causes the component 2b in the normal direction of the reflected light from the measurement surface 1s to enter the spectroscopic device 6 via the reflecting mirror 4a and the objective lens 4. It is configured to let you. Reflected light including diffuse reflected light from the inside of the ink and paper and surface (scattered) reflected light is incident on the spectroscopic device 6, and the spectral distribution Isi ( ⁇ ) is measured. The measurement result is input to the calculation control unit 7, and the spectral distribution Isi ( ⁇ ) including the surface reflected light is converted into a spectral reflectance coefficient Rsi ( ⁇ ) taking into account the influence of the surface reflected light.
  • a surface reflection removal filter 5 is interposed between the cylindrical mirror 3 and the reflecting mirror 4a and the measurement surface 1s of the sample 1 in order to eliminate the influence of dry back after ink drying.
  • the color densitometer 10 causes the component 2b in the normal direction of the reflected light from the measurement surface 1s to pass through the surface reflection removal filter 5, the reflection mirror 4a, and the objective lens 4. The light is incident on the spectroscopic device 6.
  • the spectroscopic device 6 measures the spectral distribution Ise ( ⁇ ) of the reflected light of the sample 1 from which the surface reflection has been removed, and the arithmetic control unit 7 removes the surface (scattered) reflected light from the inside of the ink and paper.
  • the spectral reflectance coefficient Rse ( ⁇ ) consisting only of the diffusely reflected light is obtained.
  • the arithmetic control unit 7 converts the spectral reflectance coefficients Rsi ( ⁇ ) and Rse ( ⁇ ) into color values and densities, and communicates with an external device such as a personal computer through the external interface 8. Then, the arithmetic control unit 7 drives the white LED 2 to light through the drive circuit 2d.
  • the standard observer's color matching functions x ( ⁇ ), y ( ⁇ ), z ( ⁇ ) defined by the CIE are used for the spectral sensitivity s ( ⁇ ).
  • the standard illuminant D50 defined by the CIE is used as illumination light.
  • the density D is obtained from the reflectance coefficient Rs obtained in the same manner as shown in Equation 4 below with the non-printing surface of the printing paper as the white reference.
  • D ⁇ log (1 / Rs) (4)
  • spectral sensitivities r ( ⁇ ), g ( ⁇ ), b ( ⁇ ), and v ( ⁇ ) defined by ISO 5-33 or the like are used as the spectral sensitivities s ( ⁇ ).
  • Dr, Dg, Db, and Dv are obtained.
  • the standard illuminant A defined by the CIE is used as illumination light.
  • the surface reflection removal filter 5 includes a polarizing plate 5a and a phase shift plate 5b disposed on the measurement surface 1s side of the sample 1 with each other. They are bonded together to form a single unit.
  • the phase shift plate 5b has a phase shift amount of 1 ⁇ 4 wavelength, that is, 90 °. Therefore, the sum of the phase change of the illumination light beam 2a2 transmitted through the phase shift plate 5b and the phase change of the received light beam 2b1 is 1 ⁇ 2 wavelength (180 °). More precisely, if the phase change of x ° is in the illumination system, the phase change is 180-x ° in the light receiving system.
  • the phase is 90 ° in the illumination system and 90 ° in the light receiving system. It becomes a change. Accordingly, the incident light 2b1 from the phase shift plate 5b to the polarizing plate 5a becomes linearly polarized light whose polarization direction is orthogonal to the polarizing plate 5a.
  • the radiated light 2a of the white LED 2 becomes linearly polarized light 2a1 by passing through the polarizing plate 5a, and further passes through the phase shift plate 5b, resulting in a phase difference of 90 °, so that elliptically polarized light 2a2 close to circularly polarized light
  • the measurement surface 1s of the sample 1 is illuminated.
  • the surface reflected light indicated by reference symbol Ds in FIG. 2 is substantially circularly polarized light whose rotational direction is reversed by reflection on the sample surface Is such as ink Ik. And enters the phase shift plate 5b.
  • the polarization direction is incident on the polarizing plate 5a as linearly polarized light orthogonal to the polarizing direction of the polarizing plate 5a, and the surface reflected light Ds is It is blocked by the polarizing plate 5a.
  • the reflected light from the inside of the sample indicated by the reference symbol Dp in FIG. 2 is scattered inside the sample and the polarization is eliminated.
  • the phase shift plate 5b there is a component that coincides with the polarization direction of the polarizing plate 5a, and the component indicated by reference numeral 2b2 in FIG. 1 passes through the polarizing plate 5a.
  • the color densitometer 10 of this embodiment can remove the influence of surface reflected light such as dry back.
  • the surface reflection removal filter 5 including the pair of polarizing plates 5a and the phase shift plate 5b can be inserted in the illumination system and the light receiving system in common, and the measurement opening 9a in the housing 9 of the color densitometer 10 is used. As shown in FIG.
  • the illumination light beam and the received light beam can be disposed at a position B where the light beam and the light beam overlap spatially, and the color densitometer 10, particularly the cylindrical mirror 3 can be downsized. it can. Further, the color densitometer 10 having such a configuration can easily attach and detach the surface reflection removal filter 5 and can increase the allowable amount of deviation in the radial direction, thereby simplifying handling.
  • FIG. 6 is a front view showing a configuration example of the surface reflection removal filter 109 suitable for the 45 ° a: 0 ° geometry.
  • the example shown in FIG. 6 is conceived from Patent Document 1 described above.
  • a polarizing plate PF1 for illumination and a polarizing plate PF2 for light reception whose polarization directions are orthogonal to each other are arranged concentrically around the non-transparent band 109a at the periphery and the center, respectively. It is configured.
  • the polarizing plates PF2 and PF1 In FIG. 7, it is necessary to be at a position higher than the filter position A, and when below the position where the illumination and received light beams overlap, for example at the filter position B, half of the illumination light beam. Blocks nearby. Therefore, it becomes difficult to form the surface reflection removal filter 109 at a position close to the measurement opening 100a, and the attachment / detachment becomes complicated.
  • the surface reflection removal filter 5 of the present embodiment it is possible to arrange the color densitometer 10 at a position close to the measurement opening 9a (for example, the filter position B) in the housing 9 of the color densitometer 10, and the color density.
  • the total 10, especially the cylindrical mirror 3 can be reduced in size (in the conventional surface reflection removal filter 109 shown in FIG. 6 described above, it can be arranged only at a higher filter position A, and the cylindrical mirror 3 is large. ).
  • the color densitometer 10 having such a configuration can easily attach and detach the surface reflection removal filter 5 and can increase the allowable amount of deviation in the radial direction, thereby simplifying handling.
  • the geometric arrangement of the illumination system and the light receiving system may be 45 °: 0 ° geometry or 0 °: 45 ° geometry (45 ° a: 0 ° geometry and 0 °: 45 °) according to various standards relating to printing density. a), the color densitometer 10 having such a configuration can measure the density according to the standard and can also suppress the influence of surface reflection geometrically. .
  • the polarizing plate 5a and the phase shift plate 5b constituting the surface reflection removal filter 5 may be individually separated. However, like the surface reflection removal filter 5 of this embodiment, the polarization plate 5a and the phase shift plate. By stacking and integrally forming 5b, the surface reflection removal filter 5 can be inserted in common in the illumination system and the light receiving system as described above. In particular, as shown in FIG. It becomes possible to arrange at a position where the light beam overlaps spatially. For this reason, by laminating and integrating the polarizing plate 5a and the phase shift plate 5b, the diameter of the surface reflection removal filter 5 can be reduced, and as a result, the color densitometer 10 can be further downsized.
  • the attachment mechanism of the surface reflection removal filter 5 can be simplified, and further, the lamination is realized by bonding each other.
  • the bonding step is not a complicated step of bonding the concentric polarizing plates PF1 and PF2 as shown in FIG. This is a simple operation in which sheets or sheets are bonded together while maintaining a predetermined directional relationship. For this reason, it is possible to reduce the cost of the surface reflection removal filter 5 by cutting out a large number of surface reflection removal filters from a previously bonded plate or sheet, for example, to reduce the cost to about half.
  • a caulking stop or the like by a ring or the like may be used instead of adhesion.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing a color densitometer 10a, which is a specific configuration example of the color densitometer 10 configured as described above.
  • the color densitometer 10a is similar to the color densitometer 10 shown in FIG. 1, and corresponding portions are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
  • This color densitometer 10a is a palm-sized handy type color densitometer.
  • the color densitometer 10a employs the illumination light receiving optical system having the 45 ° a: 0 ° geometry, but the arrangement of the light extraction from the white LED 2 and the spectroscopic device 6 is opposite to that shown in FIG. It has become.
  • the white LED 2 is not provided immediately above the measurement surface 1s of the sample 1, but is provided on the side, and the light 2a emitted in the opposite direction to the measurement surface 1s is transmitted through the concave mirror 2c. Then, the light is guided directly above the measurement surface 1s, is reflected by the flat mirror 2m of 45 degrees, and is radiated in the direction of the measurement surface 1s.
  • the illumination light 2a from the plane mirror 2m is reflected by the toroidal mirror 3a, and illuminates the measurement surface 1s of the sample 1 through the surface reflection removal filter 5 in a conical shape from substantially all directions at an angle of 45 degrees from the surface normal. .
  • the diameter of the measurement opening 9a is about 5 mm, and the diameter of the measurement area of the measurement surface 1s is about 4 mm.
  • the reflected light in the normal direction of the sample surface from the measurement area is converged by the objective lens 4b and enters the incident end of the optical fiber 4c.
  • This optical fiber 4c is wound several times in order to cancel the polarization of the polarization component 2b2 that has entered through the polarizing plate 5a, and is guided from the exit end to the cylindrical spectroscopic unit 6a to obtain a spectral distribution. Is measured.
  • the light emitted from the output end of the optical fiber 4c is applied to the concave diffraction grating, and the obtained spectral components are received by the photodiode array to obtain the spectral distribution.
  • a board 11 on which an integrated circuit or the like that functions as the drive circuit 2d and the arithmetic control unit 7 is mounted is disposed on the spectroscopic unit 6a.
  • the color densitometer 10a is a PC interlocking type interlocking with a personal computer (PC), and an instruction for energization and measurement is performed from the personal computer via a USB cable or the like from the external interface 8 facing the connector to the outside.
  • the measurement result is displayed on the personal computer.
  • a battery, a display device for measurement results, and the like are mounted instead of the external interface 8.
  • the opening member 9b having the measurement opening 9a in the housing 9 is detachable by a screwing type or a fitting type.
  • the opening member 9b is formed in a dish shape having a bottom plate 9c and an outer peripheral side wall 9d, and a measurement opening 9a is formed at the center of the bottom plate 9c.
  • the bottom plate 9c has a mounting portion 9e for the surface reflection removal filter 5, and the spectral reflectance coefficient Rse ( ⁇ ) from which the influence of the surface reflected light is removed by mounting the surface reflection removal filter 5 on the mounting portion 9e. Since the surface reflection removal filter 5 is not mounted, the spectral reflectance coefficient Rsi ( ⁇ ) taking into account the influence of the surface reflected light can be measured.
  • the surface reflection removal filter 5 is sandwiched between the mounting portion 9e and the lower surface of the cylindrical mirror 3a.
  • the surface reflection removal filter 5 is fixed to the mounting portion 9e by adhesion or the like, and an opening member 9b including the surface reflection removal filter 5 and an opening not provided depending on whether the influence of the surface reflection light is removed or taken into account.
  • the member 9b may be replaced, or the surface reflection removing filter 5 is configured to be fitted into the opening member 9b when removing the influence of the surface reflected light and removed when taking into account. May be.
  • the aperture member 9b and the illumination light receiving system can be downsized.
  • the surface reflection removal filter 5 can be provided near the sample surface 1s, the opening member 9b and the surface reflection removal filter 5 mounted thereon can be easily attached and detached.
  • the color densitometer 10a may be configured to include a first opening member 9b1 including a surface reflection removal filter and a second opening member 9b2 including a transparent glass plate.
  • FIG. 5 is a diagram schematically showing a cross section of the first and second opening members.
  • FIG. 5A shows the first opening member 9b1
  • FIG. 5B shows the second opening member 9b2.
  • the first opening member 9b1 includes an opening member 9b similar to the opening member 9b shown in FIG.
  • the surface reflection removal filter 5 is fixed to the mounting portion 9e so as to cover the circular measurement opening 9a.
  • the opening member 9b1 has a protrusion (mounting claw) that engages with the mount of the housing 9, and can be easily removed.
  • the second opening member 9b2 includes the same opening member 9b as the opening member 9b shown in FIG. 4 and a transparent glass plate 50, as shown above. Yes.
  • the transparent glass plate 50 is fixed to the mounting portion 9e so as to cover the circular measurement opening 9a.
  • the transparent glass plate 50 is attached at the same position as the surface reflection removal filter 5 in this way, and the thickness of the transparent glass plate 50 is set so that the optical measurement distances coincide with each other in consideration of the refractive index. ing. This makes it possible to easily perform measurement in the case where there is an influence of surface reflection and in the case where there is no influence of surface reflection, and to prevent entry of dust and foreign matters from the outside.
  • a reflection characteristic measuring apparatus includes an illumination system that illuminates a sample surface from a predetermined direction, a light receiving system that receives a light beam in a predetermined direction of reflected sample surface reflected light, the illumination system, the light receiving system, and the sample
  • the surface reflection removal filter is composed of the polarizing plate and the phase shift plate arranged on the sample surface side, the illumination light that has passed through the polarizing plate and has become linearly polarized light is phase-shifted.
  • the sample is transmitted through the plate and becomes substantially circularly polarized light to illuminate the sample surface.
  • the surface reflected light becomes substantially circular polarized light whose rotation direction is reversed by reflection on the sample surface such as ink, and enters the phase shift plate.
  • phase shift plate With this phase shift plate, the sum of the phase change of the illumination light and the phase change of the received light beam becomes a half wavelength (180 °), that is, the phase difference of x ° in the illumination system and 180-x ° in the light reception system.
  • the phase difference is 90 ° in the illumination system and 90 ° in the light receiving system, so that the polarizing plate is emitted from the phase shift plate as linearly polarized light whose polarization direction is orthogonal. Is blocked by the polarizing plate.
  • the reflection characteristic measuring apparatus having such a configuration can remove the influence of surface reflection light such as dry back, and obtains the spectral reflection characteristic obtained by removing the influence of surface reflection of the sample surface from the characteristic of the received light beam. be able to.
  • a surface reflection removal filter comprising a pair of polarizing plates and a phase shift plate can be inserted in common into the illumination system and the light receiving system, and is located close to the measurement aperture of the reflection characteristic measuring device, particularly the illumination light beam and the light receiving light. It becomes possible to arrange at a position where the luminous flux overlaps spatially. Therefore, the reflection characteristic measuring device can be miniaturized. Further, according to this configuration, it is possible to increase the allowable amount of deviation in the radial direction of the surface reflection removal filter.
  • the surface reflection removal filter is detachable, and enables measurement with the influence of the surface reflected light on the sample surface removed in the mounted state. In other words, it is possible to perform measurement in consideration of the influence of the surface reflected light in the detached state.
  • the surface reflection removal filter is provided at a position close to the measurement aperture as described above. Therefore, even if the reflection characteristic measuring device having such a configuration is detachable, it can be easily attached and detached. And easy to handle.
  • the illumination system and the light receiving system preferably have a 45 °: 0 ° geometry or a 0 °: 45 ° geometry,
  • the total of the phase change at an incident angle of 45 ° and the phase change at an incident angle of 0 ° by the phase shift plate is the 1 ⁇ 2 wavelength.
  • the geometric arrangement of the illumination system and the light receiving system is 45 °: 0 ° geometry or 0 °: 45 ° geometry (45 ° a: 0 ° geometry and 0 °) according to various standards relating to printing density. Therefore, the reflection characteristic measuring apparatus having such a configuration can measure the concentration according to the above-mentioned standard and suppress the influence of surface reflection geometrically. be able to.
  • the surface reflection removal filter is formed by laminating the polarizing plate and the phase shift plate.
  • the surface reflection removal filter can be inserted in common in the illumination system and the light receiving system, and in particular, can be disposed at a position where the illumination light beam and the received light beam overlap spatially. It becomes possible. For this reason, it is possible to reduce the diameter of the surface reflection removing filter by laminating the polarizing plate and the phase shift plate, and as a result, it is possible to further reduce the size of the reflection characteristic measuring apparatus.
  • the surface reflection removal filter is preferably formed by bonding the polarizing plate and the phase shift plate.
  • the reflection characteristic measuring apparatus having such a configuration, when the polarizing plate and the phase shift plate are laminated, it is possible to suppress reflection loss at the interface between them by bonding them together and integrating them.
  • the attachment mechanism of the reflection removal filter can be simplified.
  • the surface reflection removal filter having such a configuration does not require a complicated process of bonding the concentric polarizing plates so that the polarization directions are orthogonal to each other, and the two plates or sheets have a predetermined directional relationship. It can be formed only by maintaining and bonding, and the cost can be reduced.
  • a reflection characteristic measurement apparatus includes a housing having a measurement opening with respect to a sample surface, an illumination system that illuminates the sample surface from a predetermined direction, and a predetermined direction of the illuminated sample surface reflected light And a surface reflection removal filter that is disposed in the vicinity of the measurement aperture and transmits the light flux from the illumination system and the sample-surface reflected light.
  • a polarizing plate, and a phase shift plate disposed between the polarizing plate and the sample surface, and the sum of the phase change of the illumination light beam and the phase change of the received light beam transmitted through the phase shift plate is 1 ⁇ 2 Is the wavelength.
  • the reflection characteristic measuring apparatus having such a configuration can remove the influence of surface reflection light such as dry back, and can obtain the spectral reflection characteristic from which the influence of the surface reflection of the sample surface is removed from the characteristic of the received light beam. it can.
  • the reflection characteristic measuring apparatus having such a configuration needs to separate the luminous fluxes of the illumination system and the light receiving system when measuring the spectral reflection characteristic using a 45 °: 0 ° geometry, a 0 °: 45 ° geometry, or the like. There is no. Therefore, the surface reflection removal filter composed of a pair of polarizing plates and a phase shift plate can be inserted in the illumination system and the light receiving system in common, and is close to the measurement aperture of the reflection characteristic measuring device, particularly the illumination light beam and the light receiving light.
  • the reflection characteristic measuring apparatus can be miniaturized. Further, in such a configuration, it is possible to increase the allowable amount of deviation in the radial direction of the surface reflection removal filter.
  • the measurement opening is configured to be removable from the housing so that the surface reflection removal filter can be detached.
  • the measurement opening is provided with the surface reflection removal filter and is configured to be removable from the housing.
  • the surface reflection removal filter is provided at a position close to the measurement opening, even if the reflection characteristic measuring device having such a configuration is detachable, it can be easily attached and detached, and is easy to handle.
  • a reflection characteristic measurement system includes a reflection characteristic measurement device, a first measurement opening, and a second measurement opening, and the reflection characteristic measurement device includes a measurement region on a sample surface.
  • the first measurement opening is attachable to the housing, and is disposed between the polarizing plate, the polarizing plate and the sample surface, and the phase change and light reception of the transmitted illumination light beam.
  • a phase shift plate whose sum of phase changes of the luminous flux is 1 ⁇ 2 wavelength, and the second measurement aperture can be attached to the casing, and the illumination luminous flux from the illumination system and the sample A transparent protective plate that transmits the received light flux reflected by the surface;
  • the reflection characteristic measurement system having such a configuration can easily perform measurement with and without the influence of surface reflection, and can prevent entry of dust and foreign matters from the outside.
  • a reflection characteristic measuring device and a reflection characteristic measuring system can be provided.

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Abstract

 本発明にかかる反射特性測定装置の一例としての色彩濃度計10は、偏光板5aと、偏光板5aと試料面1sとの間に配置され、透過した照明光束の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長である移相板5bとを備える。このため、このような構成の反射特性測定装置の一例としての色彩濃度計10は、取扱いが簡単で、かつ小型の構成で、表面反射光を除去あるいは加味した反射特性を測定することができる。

Description

反射特性測定装置および反射特性測定システム
 本発明は、反射特性測定装置に関し、特に、その測定結果から、印刷物のインク濃度および色彩値を求める色彩濃度計として好適に用いられる反射特性測定装置に関する。そして、本発明は、このような反射特性測定装置を含む反射特性測定システムに関する。
 印刷物に関し、通常、印刷品質の管理、例えば不良品の判別が行われている。この印刷品質の管理では、作業者によって印刷機から適宜に印刷物が抜取られ、この印刷物の本来の印刷領域における外に形成されたCMYK(シアン、マゼンダ、イエロ、ブラック)のテストパッチにおける反射特性が色彩濃度計によって測定され、これによって印刷品質の管理が行われている。この印刷品質は、インク濃度で管理され、その濃度は、ISO5-4に準じて測定される。
 図8は、印刷試料面の測定方法を説明するための図である。図8(A)は、印刷直後の状態を示し、図8(B)は、充分時間が経過した後を示す。インク濃度は、図8に示すように、試料面Isの法線に対して45度方向からの照明光Ilによって試料面Isを照明し、法線方向の反射光を受光系Dで受光する45°:0°ジオメトリー、または、これら照明方向および受光方向を入れ替えた0°:45°ジオメトリーによって測定される。
 ここで、印刷直後では、図8(A)に示すように、インク層Ikが乾燥していないため、紙Pの表面Psにおける凹凸を、インク層Ikが埋め合わせるので、インク層Ikの表面(前記試料面Is)は、平滑になる。このため、インク層Ikの表面(前記試料面Is)での反射光Ssは、法線に対し-45度方向に正反射され、法線方向の受光系Dに入射する成分を持たない。一方、インク層Ikに入射した照明光の成分は、紙Pに到達し、その内部で拡散された後、一部が表面Psから拡散放射され、再びインク層Ikを通り、表面(前記試料面Is)から拡散放射(図中、破線矢印で示す)される。この拡散光は、インクによって着色されており、その法線成分Dpが受光系Dに入射する。
 これに対して、インク層Ikが乾燥すると、図8(B)に示すように、紙Pの表面Psに沿って、インク層Ikの表面Isにも凹凸が生じる。このため、インク層Ikの表面(前記試料面Is)で乱反射が生じ、インクによって着色されていない表面からの乱反射光(図中、2点鎖線矢印で示す)の法線成分Dsが、着色された拡散光の法線成分Dpとともに受光系Dに入射する。つまり、観察される乾燥後の印刷面からの反射光は、インク層Ikの内部からの着色された拡散光(破線矢印で示す)と、インク層Ik表面からの照明光Ilの分光特性をほぼ維持した乱反射光とを重畳した光である。このため、乾燥後の濃度は、印刷直後の濃度より低くなり、この現象は、ドライダウンあるいはドライバックと呼ばれる。
 したがって、印刷中の濃度変化に迅速に対応して、前記不良品の発生を抑えるためには、印刷直後の濃度を測定する必要があるが、上記ドライダウンのために、印刷直後の濃度と、直接、乾燥状態の基準サンプルの濃度とを比較することができない。
 そこで、上記ドライダウンの影響を排除して、印刷直後の濃度と乾燥状態の基準サンプルの濃度とを比較することができるように、照明系と受光系との光路に、偏光方向が互いに直交する偏光板を、表面反射除去フィルタとして挿入して濃度測定を行う技術がある(例えば、特許文献1や特許文献2等)。紙P内での拡散によって偏光が解消されている着色拡散光の法線成分Dpのおよそ半分は、受光系の偏光板を通過して受光される一方、表面反射光は、照明光の偏光特性が維持されているために、受光系の偏光板でブロック(遮光)される。これら技術は、このような現象を利用したものである。こうして、インク層Ikの表面(前記試料面Is)の状態に拘わらず、表面反射光の影響を排除することによって、乾燥状態でも、印刷直後と同様の濃度を得ることができる。
 図9は、そのような表面反射光の影響を排除して濃度(反射)特性の測定を行うことができる色彩濃度計100の構造を示すブロック図である。この色彩濃度計100は、印刷物の試料101に照明光を照射して、その分光反射特性を測定し、インク濃度および色彩値を求めるものである。そのために、色彩濃度計100は、白色LED102と、円筒面鏡103と、反射鏡104aと、対物レンズ104とを備える45°a:0°ジオメトリー(a:annular)の照明受光系を備えている。この照明受光系では、先ず白色LED102の放射光102aが、一部を切り欠いて形成される円筒面鏡103で反射され、試料101の測定面101sが、その測定面法線からの角度45度で略全方位から照明され、測定面101sからの反射光の法線方向の成分102bは、反射鏡104aおよび対物レンズ104を介して分光装置106に入射される。この反射光の分光分布を測定するこの45°a:0°ジオメトリーは、試料101の測定面101sの異方性の影響を抑えることができ、最も一般的に採用されている。
 そして、この照明受光系には、前記表面反射光の影響を排除するために、円筒面鏡103と試料101の測定面101sとの間に、表面反射除去フィルタ109がさらに設けられている。一方、乾燥後の印刷製品の目視評価に相関するべき色彩値は、目視評価と同様、表面反射光を加味して測定する必要がある。このため、濃度と色彩値との双方を測定する色彩濃度計は、前記表面反射光の影響を排除するかおよび加味するかのいずれの測定目的に応じて、表面反射除去フィルタ109を着脱する必要がある。その場合、着脱を容易にするためには、表面反射除去フィルタ109を測定開口100aに近い位置に配置することが望ましい。
 そして、分光装置106の測定結果は、演算制御部107に入力され、前記表面反射光の影響を排除した分光反射率係数Rse(λ)(se:specular excluded)および加味した分光反射率係数Rsi(λ)(si:specular included)に変換される。さらに、演算制御部107は、それらの分光反射率係数Rsi(λ)やRse(λ)を、色彩値や濃度に変換するとともに、外部インターフェース108を通じて、パーソナルコンピュータ等の外部機器と通信を行う。また、演算制御部107は、駆動回路102dを通じて、白色LED102を点灯駆動する。
米国特許第4961646号公報 特開2001-158083号公報
 本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、取扱いが簡単で、かつ小型の構成で、表面反射光を除去あるいは加味した分光反射率係数を測定可能な反射特性測定装置およびこのような反射特性測定装置を含む反射特性測定システムを提供することである。
 本発明にかかる反射特性測定装置および反射特性測定システムは、偏光板と、前記偏光板と試料面との間に配置され、透過した照明光束の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長である移相板とを備える。このため、このような構成の反射特性測定装置および反射特性測定システムは、取扱いが簡単で、かつ小型の構成で、表面反射光を除去あるいは加味した反射特性を測定することができる。
 上記並びにその他の本発明の目的、特徴及び利点は、以下の詳細な記載と添付図面から明らかになるであろう。
実施形態における反射特性測定装置の一例である色彩濃度計の構造を模式的に示すブロック図である。 図1に示す色彩濃度計における表面反射光阻止の原理を説明するための図である。 図2における表面反射除去フィルタの配置位置を説明するための模式的な断面図である。 図1に示す色彩濃度計の具体的な一構成例を示す断面図である。 第1および第2の開口部材の断面を模式的に示す図である。 図9に示す45°a:0°ジオメトリーの色彩濃度計に適した表面反射除去フィルタの一構成例を示す正面図である。 図6に示す表面反射除去フィルタの配置位置を説明するための模式的な断面図である。 印刷試料面の入反射光を説明するための図である。 図8に示す印刷試料面における表面反射光の影響を排除して濃度(反射)特性の測定を行うことができる従来技術の色彩濃度計の構造を模式的に示すブロック図である。
 以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。
 図1は、実施形態における反射特性測定装置の一例である色彩濃度計の構造を模式的に示すブロック図である。この色彩濃度計10は、45°a:0°ジオメトリーで、印刷物の試料1に照明光を照射して、その分光反射特性を測定し、インク濃度および色彩値を求めるものである。より具体的には、色彩濃度計10は、白色LED2と、円筒面鏡3と、反射鏡4aと、対物レンズ4と、表面反射除去フィルタ5と、分光装置6と、演算制御部7と、外部インターフェース8と、測定開口9aを備え、これら白色LED2、円筒面鏡3、反射鏡4a、対物レンズ4、表面反射除去フィルタ5、分光装置6、演算制御部7および外部インターフェース8をその内部に収容する筐体9とを備えている。この色彩濃度計10は、白色LED2の放射光2aは、一部を切り欠いて形成される円筒面鏡3で反射されて、試料1の測定面1sを面法線からの角度45度で略全方位から照明するように構成されている。
 そして、表面反射除去フィルタ5が無い場合には、色彩濃度計10は、測定面1sからの反射光の法線方向の成分2bは、反射鏡4aおよび対物レンズ4を介して分光装置6に入射させるように構成されている。この分光装置6には、インクおよび紙内部からの拡散反射光と、表面(散乱)反射光とを含んだ反射光が入射され、その分光分布Isi(λ)が測定される。その測定結果は、演算制御部7に入力され、前記表面反射光を含む分光分布Isi(λ)は、表面反射光の影響を加味した分光反射率係数Rsi(λ)に変換される。
 一方、インク乾燥後のドライバックの影響を排除するべく、本実施の形態では、円筒面鏡3および反射鏡4aと試料1の測定面1sとの間には、表面反射除去フィルタ5が介在される。すなわち、表面反射除去フィルタ5が有る場合には、色彩濃度計10は、測定面1sからの反射光の法線方向の成分2bは、表面反射除去フィルタ5、反射鏡4aおよび対物レンズ4を介して分光装置6に入射させるように構成されている。これによって、この分光装置6では、表面反射を除去した試料1の反射光の分光分布Ise(λ)が測定され、演算制御部7では、表面(散乱)反射光を除去したインクおよび紙内部からの拡散反射光のみから成る分光反射率係数Rse(λ)が求められる。
 演算制御部7は、それらの分光反射率係数Rsi(λ)やRse(λ)を、色彩値や濃度に変換するとともに、外部インターフェース8を通じて、パーソナルコンピュータ等の外部機器と通信を行う。そして、演算制御部7は、駆動回路2dを通じて、白色LED2を点灯駆動する。
 濃度および色彩値の算出方法は、以下の通りである。先ず、色彩値の基準となる三刺激値X,Y,Zは、下記、式1に示すように、試料1の分光反射率係数R(λ)と、照明光の分光分布I(λ)と分光感度s(λ)との積和Sによって求められる。
S=∫I(λ)・R(λ)・s(λ)dλ   ・・・(1)
ここで、分光感度s(λ)には、CIEが規定する標準観察者の等色関数x(λ),y(λ),z(λ)が用いられ、各々に対応して積和Sは、三刺激値X,Y,Zに対応する。また、印刷試料の色彩測定には、CIEが規定する標準イルミナントD50を照明光とすることが推奨されている。
 そして、前記色彩値は、下記、式2および式3に示すように、白色基準面での分光反射率係数Rw(λ)について同様に求められた積和Swとの比Rから求められる。
Sw=∫I(λ)・Rw(λ)・s(λ)dλ   ・・・(2)
R=S/Sw   ・・・(3)
 一方、濃度Dは、印刷用紙の非印刷面を白色基準として、下記、式4に示すように、同様に求められた反射率係数Rsから求められる。
D=-log(1/Rs)   ・・・(4)
ここで、分光感度s(λ)にはISO5-33等で規定する分光感度r(λ),g(λ),b(λ),v(λ)が用いられ、各々に対応して、濃度Dr,Dg,Db,Dvが求められる。また、印刷試料の濃度測定には、CIEが規定する標準イルミナントAを照明光とすることが推奨されている。
 上述のように構成される色彩濃度計10において、本実施形態では、表面反射除去フィルタ5は、偏光板5aと、その試料1の測定面1s側に配置した移相板5bとを、相互に貼り合わせて、一体に構成されている。そして、移相板5bは、移相量が1/4波長、すなわち90°に形成されている。したがって、移相板5bを透過した照明光束2a2の位相変化と受光光束2b1の位相変化との合計は、1/2波長(180°)となる。より厳密には、前記照明系ではx°の位相変化とすると、受光系では180-x°の位相変化となり、大まかには前記のように、照明系で90°、受光系で90°の位相変化となる。これによって、移相板5bから偏光板5aへの入射光2b1は、偏光方向が偏光板5aと直交する直線偏光となる。
 したがって、白色LED2の放射光2aは、偏光板5aを透過することで直線偏光2a1となり、さらに移相板5bを透過し、90°の位相差が生じることで、円偏光に近い楕円偏光2a2となって試料1の測定面1sを照明する。その照明光2a2による試料反射光の法線方向の成分2bの内、図2において参照符号Dsで示す表面反射光は、インクIk等の試料表面Isでの反射によって回転方向が反転した略円偏光となって移相板5bに入射する。そして、移相板5bによって、さらに90°の位相差が生じるので、偏光板5aには、偏光方向が偏光板5aの偏光方向と直交する直線偏光となって入射し、表面反射光Dsは、偏光板5aによって阻止される。
 これに対して、前記試料反射光の法線方向の成分2bの内、図2において参照符号Dpで示す試料内部からの反射光は、試料内部で散乱されて、偏光が解消されている。このため、移相板5bを通過しても、偏光板5aの偏光方向と一致する成分があり、図1において参照符号2b2で示す該成分が偏光板5aを透過する。こうして、本実施形態の色彩濃度計10は、ドライバック等の表面反射光の影響を除去することができる。
 このように構成することによって、45°:0°ジオメトリーや0°:45°ジオメトリー等(45°a:0°ジオメトリーおよび0°:45°aジオメトリーも含む)で分光反射特性を測定する場合に、照明系と受光系との光束を区分する必要がない。このため、一対の偏光板5aおよび移相板5bから成る表面反射除去フィルタ5は、前記照明系と受光系とに共通に挿入することができ、色彩濃度計10の筐体9における測定開口9aに近い位置、特に図3で示すように照明光束と受光光束とが空間的に重複する位置Bに配置することが可能になり、色彩濃度計10、特に円筒面鏡3を小型化することができる。また、このような構成の色彩濃度計10は、表面反射除去フィルタ5の着脱を容易に行うことができるとともに、半径方向のズレの許容量も大きくすることができ、取扱いが簡単になる。
 例えば、前述の特許文献1から想到される表面反射除去フィルタの一構成例と比較すると次の通りである。図6は、前記45°a:0°ジオメトリーに適した表面反射除去フィルタ109の一構成例を示す正面図である。この図6に示す例は、前述の特許文献1から想到されるものである。この表面反射除去フィルタ109は、互いに偏光方向が直交する照明用の偏光板PF1と受光用の偏光板PF2とが、それぞれ周辺と中央とに、不透過帯109aを挟んで同心円状に配置されて構成されている。
 そして、図7から明らかなように、不透過帯109aおよび直交する偏光板PF2,PF1が、それぞれ照明および受光光束を遮らないためには、これらの偏光板PF2,PF1は、照明および受光光束が空間的に重複しない、図7で言えばフィルタ位置Aより高い位置にある必要があり、それより下方の、照明および受光光束が重複する位置、例えば前記フィルタ位置Bにあると、照明光束の半分近くを遮ってしまう。したがって、前記表面反射除去フィルタ109を測定開口100aに近い位置に形成することが困難になり、着脱が煩雑になってしまう。
 また、図7から明らかなように、フィルタ位置が高くなるほど、照明光束の径は、大きくなり、それに応じて表面反射除去フィルタ109も円筒面鏡103も大型化してしまう。そして、それに伴って照明受光系、さらには色彩濃度計100全体が大型化してしまう。さらに、照明および受光光束が望まざる方向の偏光板PF2,PF1をそれぞれ透過しないためには、表面反射除去フィルタ109の半径方向についても正確な位置決めが必要になる。例えば、偏光板PF1の内径が5mm、受光光束の径が4mmの場合、許容できる表面反射除去フィルタ109の半径方向のズレは、±0.5mm程度に小さい。
 したがって、本実施形態の表面反射除去フィルタ5を採用することにより、色彩濃度計10の筐体9における測定開口9aに近い位置(例えばフィルタ位置B等)に配置することが可能になり、色彩濃度計10、特に円筒面鏡3を小型化することができる(前述の図6で示す従来の表面反射除去フィルタ109では、より高いフィルタ位置Aにしか配置できず、円筒面鏡3が大型である)。また、このような構成の色彩濃度計10は、表面反射除去フィルタ5の着脱を容易に行うことができるとともに、半径方向のズレの許容量も大きくすることができ、取扱いが簡単になる。
 また、前記照明系および受光系の幾何学的配置が、印刷濃度に関する各種の規格に準じる45°:0°ジオメトリーまたは0°:45°ジオメトリー(45°a:0°ジオメトリーおよび0°:45°aジオメトリーを含むものとする)であることによって、このような構成の色彩濃度計10は、前記規格に準じる濃度を測定することができるとともに、表面反射の影響を幾何学的にも抑制することができる。
 また、表面反射除去フィルタ5を構成する偏光板5aと移相板5bとは、個別に分離されていてもよいが、本実施形態の表面反射除去フィルタ5のように偏光板5aと移相板5bとを積層して一体に構成することによって、上述のように表面反射除去フィルタ5を照明系と受光系とに共通に挿入することができ、特に図3で示すように、照明光束と受光光束とが空間的に重複する位置に配置することが可能になる。このため、偏光板5aと移相板5bとを積層して一体化することで、表面反射除去フィルタ5の小径化が可能となり、この結果、色彩濃度計10をより小型化することができる。また、このように偏光板5aと移相板5bとを積層して一体化することで、表面反射除去フィルタ5の取り付け機構を単純化することができ、さらにその積層を互いの接着で実現することで、それらの界面での反射損失を抑えることもできる。さらにまた、前記接着工程も、個々の表面反射除去フィルタについて、図6で示すような同心の偏光板PF1,PF2を、その偏光方向が直交するように貼り合せるような煩雑な工程ではなく、2枚の板またはシートを、所定の方向関係を維持して貼り合せるだけの簡単な作業である。このため、予め、貼り合わせた板またはシートから、多数の表面反射除去フィルタを切り出すことで表面反射除去フィルタ5を低コスト化、例えばコストを半分程度に削減することができる。
 なお、偏光板5aと移相板5bとを一体化する場合に、接着ではなく、リング等によるかしめ止め等が用いられてもよい。
 図4は、上述のように構成される色彩濃度計10の具体的な一構成例である色彩濃度計10aを示す断面図である。この色彩濃度計10aは、図1に示す色彩濃度計10に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。この色彩濃度計10aは、掌大のハンディタイプの色彩濃度計である。そして、この色彩濃度計10aは、前記45°a:0°ジオメトリーの照明受光光学系を採用しているが、白色LED2と分光装置6への光取出しの配置とが、図1とは反対となっている。より詳しくは、白色LED2は、試料1の測定面1sの直上に設けられておらず、側方に設けられており、測定面1sとは、反対方向に放射された光2aは、凹面鏡2cを介して測定面1sの直上に導かれ、45度の平面鏡2mで反射されて測定面1s方向に放射される。平面鏡2mからの照明光2aは、トロイダル鏡3aで反射され、表面反射除去フィルタ5を介して、試料1の測定面1sを面法線からの角度45度で略全方位から円錐状に照明する。測定開口9aの径は、約5mmであり、測定面1sの測定域の径は、約4mmである。
 一方、前記測定域からの試料面法線方向の反射光は、対物レンズ4bで収束され、光ファイバ4cの入射端に入射する。この光ファイバ4cは、偏光板5aを通過して入射された偏光成分2b2の偏光を解消するために数回巻回されており、出射端から円筒状の分光部6aに導かれて、分光分布が測定される。分光部6aでは、光ファイバ4cの出射端から放射された光は、凹面回折格子に照射され、得られた各分光成分が、フォトダイオードアレイで受光されて分光分布が求められる。分光部6a上には、駆動回路2dおよび演算制御部7として機能する集積回路等を搭載するボード11が配置される。
 この色彩濃度計10aは、パーソナルコンピュータ(PC)と連動するPC連動タイプを示しており、外部にコネクタが臨む外部インターフェース8からUSBケーブル等を介して、パーソナルコンピュータから通電および測定の指示が行われ、また測定結果がパーソナルコンピュータで表示される。パーソナルコンピュータと連動しない単独タイプの場合には、前記外部インターフェース8に代えて、電池および測定結果の表示装置等が搭載される。
 このように構成される色彩濃度計10aにおいて、その筐体9における測定開口9aを有する開口部材9bは、ねじ込み式、或いは嵌め込み式等で、着脱自在となっている。開口部材9bは、底板9cおよびその外周の側壁9dとを有する皿状に形成され、底板9cの中央部に測定開口9aが形成されている。底板9cは、表面反射除去フィルタ5の搭載部9eを有し、この搭載部9eに表面反射除去フィルタ5が搭載されることで前記表面反射光の影響を除去した分光反射率係数Rse(λ)を測定することができ、表面反射除去フィルタ5を搭載しないことで前記表面反射光の影響を加味した分光反射率係数Rsi(λ)を測定することができる。
 表面反射除去フィルタ5は、搭載部9eと円筒面鏡3aの下面との間で挟持される。表面反射除去フィルタ5は、搭載部9eに接着等で固定され、前記表面反射光の影響を除去するか、または加味するかに応じて、表面反射除去フィルタ5を備える開口部材9bと備えない開口部材9bとが交換されてもよく、或いは、表面反射除去フィルタ5は、前記表面反射光の影響を除去する場合には開口部材9bに嵌め込まれ、加味する場合には取外されるように構成されてもよい。
 いずれにしても、前述のように、測定開口9aおよび表面反射除去フィルタ5は、小径であるので、開口部材9bおよび照明受光系を小型化することができる。また、表面反射除去フィルタ5を試料面1s寄りに設けることができるので、開口部材9bおよびそれに搭載される表面反射除去フィルタ5の着脱が容易である。
 また例えば、色彩濃度計10aは、表面反射除去フィルタを備える第1の開口部材9b1および透明ガラス板を備える第2の開口部材9b2を備えて構成されてもよい。
 図5は、第1および第2の開口部材の断面を模式的に示す図である。図5(A)は、第1の開口部材9b1を示し、図5(B)は、第2の開口部材9b2を示す。第1の開口部材9b1は、図5(A)に示すように、図4に示す開口部材9bと同様の開口部材9bと、表面反射除去フィルタ5とを備えている。表面反射除去フィルタ5は、円形の測定開口9aを覆うように、搭載部9eに固定されている。開口部材9b1は、筐体9のマウント部に係合する突起部(マウント爪)を持ち、容易に取り外しができる。一方、第2の開口部材9b2は、図5(B)に示すように、上記と同じ形状をした、図4に示す開口部材9bと同様の開口部材9bと、透明ガラス板50とを備えている。透明ガラス板50は、円形の測定開口9aを覆うように、搭載部9eに固定されている。透明ガラス板50は、このように上記表面反射除去フィルタ5と同じ位置に取り付けられるとともに、屈折率を考慮して、光学的な測定距離が一致するように透明ガラス板50の厚さが設定されている。これにより、表面反射の影響のある場合と、表面反射の影響のない場合との測定を容易に行うことができるとともに、外部からのホコリや異物の侵入を防ぐこともできる。
 本明細書は、上記のように様々な態様の技術を開示しているが、そのうち主な技術を以下に纏める。
 一態様にかかる反射特性測定装置は、所定の方向から試料面を照明する照明系と、照明された試料面反射光の所定方向の光束を受光する受光系と、前記照明系および受光系と試料面との間に配置された表面反射除去フィルタとを備え、前記表面反射除去フィルタは、偏光板と、前記偏光板と試料面との間に配置される移相板とを備え、前記移相板を透過した照明光束の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長である。
 上記構成によれば、表面反射除去フィルタが、偏光板と、その試料面側に配置した移相板とで構成されるので、偏光板を透過して直線偏光になった照明光は、移相板を透過して、略円偏光となって試料面を照明する。その照明光による試料面反射光の内、表面反射光は、インク等の試料表面での反射によって回転方向が反転した略円偏光となって移相板に入射する。この移相板によって、照明光の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長(180°)となる、すなわち前記照明系ではx°、受光系では180-x°の位相差、大まかには照明系で90°、受光系で90°の位相差がつくから、偏光板とは偏光方向が直交する直線偏光となって該移相板から射出されるので、前記表面反射光は、偏光板によって阻止される。一方、前記試料反射光の内、試料内部からの反射光は、該試料内部で散乱されて偏光が解消しており、前記移相板を通過しても偏光板の偏光方向と一致する成分が該偏光板を透過する。したがって、このような構成の反射特性測定装置は、ドライバック等の表面反射光の影響を除去することができ、受光光束の特性から前記試料面の表面反射の影響を除去した分光反射特性を求めることができる。
 したがって、この構成によれば、45°:0°ジオメトリーや0°:45°ジオメトリー等で分光反射特性を測定する場合に、前記照明系と受光系との光束を区分する必要がない。そして、一対の偏光板および移相板から成る表面反射除去フィルタは、前記照明系と受光系とに共通に挿入することができ、反射特性測定装置の測定開口に近い位置、特に照明光束と受光光束とが空間的に重複する位置に配置することが可能となる。したがって、反射特性測定装置の小型化が可能となる。また、この構成によれば、前記表面反射除去フィルタの半径方向のズレの許容量も大きくすることができる。
 また、他の一態様では、上述の反射特性測定装置において、好ましくは、前記表面反射除去フィルタは、着脱自在であり、装着状態で前記試料面の表面反射光の影響を除去した測定を可能にし、離脱状態で前記表面反射光の影響を加味した測定を可能にすることである。
 上記構成によれば、上述のように表面反射除去フィルタが測定開口に近い位置に設けられるので、このような構成の反射特性測定装置は、着脱自在にしても、その着脱を容易に行うことができ、取扱いが簡単である。
 また、他の一態様では、これら上述の反射特性測定装置において、好ましくは、前記照明系および受光系の幾何学的配置は、45°:0°ジオメトリーまたは0°:45°ジオメトリーであって、前記移相板による、入射角45°での位相変化と入射角0°での位相変化との合計は、前記1/2波長である。
 上記構成によれば、前記照明系および受光系の幾何学的配置が、印刷濃度に関する各種の規格に準じる45°:0°ジオメトリーまたは0°:45°ジオメトリー(45°a:0°ジオメトリーおよび0°:45°aジオメトリーを含むものとする)であるので、このような構成の反射特性測定装置は、前記規格に準じる濃度を測定することができるとともに、表面反射の影響を幾何学的にも抑制することができる。
 また、他の一態様では、これら上述の反射特性測定装置において、好ましくは、前記表面反射除去フィルタは、前記偏光板と移相板とを積層して成る。
 上記構成によれば、上述のように表面反射除去フィルタは、照明系と受光系とに共通に挿入することができ、特に照明光束と受光光束とが空間的に重複する位置に配置することが可能になる。このため、前記偏光板と移相板とを積層することによって構成することで、表面反射除去フィルタの小径化が可能となり、この結果、反射特性測定装置のより小型化が可能となる。
 また、他の一態様では、これら上述の反射特性測定装置において、好ましくは、前記表面反射除去フィルタは、前記偏光板と移相板とを貼り合せて成る。
 このような構成の反射特性測定装置は、前記偏光板と移相板とを積層する場合に、互いに接着して一体とすることによって、それらの界面での反射損失を抑えることができるとともに、表面反射除去フィルタの取り付け機構を単純することもできる。また、このような構成の表面反射除去フィルタは、同心の偏光板を偏光方向が直交するように貼り合せるような煩雑な工程が必要ではなく、2枚の板またはシートを、所定の方向関係を維持して貼り合せるだけで形成することができ、低コスト化が可能となる。
 他の一態様にかかる反射特性測定装置は、試料面に対して測定開口部を有する筐体と、所定の方向から前記試料面を照明する照明系と、照明された試料面反射光の所定方向の光束を受光する受光系と、前記測定開口部の近傍に配置され、前記照明系からの光束および前記試料面反射光の光束を透過する表面反射除去フィルタとを備え、前記表面反射除去フィルタは、偏光板と、前記偏光板と試料面との間に配置される移相板とを備え、前記移相板を透過した照明光束の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長である。
 このような構成の反射特性測定装置は、ドライバック等の表面反射光の影響を除去することができ、受光光束の特性から前記試料面の表面反射の影響を除去した分光反射特性を求めることができる。そして、このような構成の反射特性測定装置は、45°:0°ジオメトリーや0°:45°ジオメトリー等で分光反射特性を測定する場合に、前記照明系と受光系との光束を区分する必要がない。したがって、一対の偏光板および移相板から成る表面反射除去フィルタは、前記照明系と受光系とに共通に挿入することができ、反射特性測定装置の測定開口に近い位置、特に照明光束と受光光束とが空間的に重複する位置に配置することが可能となる。このため、このような構成では、反射特性測定装置の小型化が可能となる。また、このような構成では、前記表面反射除去フィルタの半径方向のズレの許容量も大きくすることができる。
 また、他の一態様では、上述の反射特性測定装置において、好ましくは、前記測定開口部は、前記表面反射除去フィルタを脱着可能な状態になるように、前記筐体から取り外し可能に構成される。また、他の一態様では、上述の反射特性測定装置において、好ましくは、前記測定開口部は、前記表面反射除去フィルタが設置されてなり、前記筐体から取り外し可能に構成される。
 表面反射除去フィルタが測定開口に近い位置に設けられるので、このような構成の反射特性測定装置は、着脱自在にしても、その着脱を容易に行うことができ、取扱いが簡単である。
 また、他の一態様にかかる反射特性測定システムは、反射特性測定装置と、第1の測定開口部と、第2の測定開口部とを備え、前記反射特性測定装置は、試料面の測定領域を決定する測定開口部が脱着可能な筐体と、所定の方向から前記測定開口部を介して試料面を照明する照明系と、照明された試料面反射光の所定方向の光束を受光する受光系とを備え、前記第1の測定開口部は、前記筐体に取り付け可能であって、偏光板と、前記偏光板と試料面との間に配置され、透過した照明光束の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長である移相板とを備え、前記第2の測定開口部は、前記筐体に取り付け可能であって、前記照明系からの照明光束と前記試料面で反射した受光光束を透過する透明保護板を有する。
 このような構成の反射特性測定システムは、表面反射の影響のある場合と、それのない場合との測定を容易に行うことができるとともに、外部からのホコリや異物の侵入を防ぐこともできる。
 この出願は、2010年2月1日に出願された日本国特許出願特願2010-20649を基礎とするものであり、その内容は、本願に含まれるものである。
 本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および/または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。
 本発明によれば、反射特性測定装置および反射特性測定システムを提供することができる。

Claims (8)

  1.  反射特性測定装置であって、
     所定の方向から試料面を照明する照明系と、
     照明された試料面反射光の所定方向の光束を受光する受光系と、
     前記照明系および受光系と試料面との間に配置された表面反射除去フィルタとを備え、
     前記表面反射除去フィルタは、
      偏光板と、
      前記偏光板と試料面との間に配置される移相板とを備え、
      前記移相板を透過した照明光束の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長であること
     を特徴とする反射特性測定装置。
  2.  前記表面反射除去フィルタは、着脱自在であり、装着状態で前記試料面の表面反射光の影響を除去した測定を可能にし、離脱状態で前記表面反射光の影響を加味した測定を可能にすること
     を特徴とする請求項1に記載の反射特性測定装置。
  3.  前記照明系および受光系の幾何学的配置は、45°:0°ジオメトリーまたは0°:45°ジオメトリーであって、前記移相板による、入射角45°での位相変化と入射角0°での位相変化との合計は、前記1/2波長であること
     を特徴とする請求項1に記載の反射特性測定装置。
  4.  前記表面反射除去フィルタは、前記偏光板と移相板とを積層して成ること
     を特徴とする請求項1に記載の反射特性測定装置。
  5.  反射特性測定装置であって、
     試料面に対して測定開口部を有する筐体と、
     所定の方向から前記試料面を照明する照明系と、
     照明された試料面反射光の所定方向の光束を受光する受光系と、
     前記測定開口部の近傍に配置され、前記照明系からの光束および前記試料面反射光の光束を透過する表面反射除去フィルタとを備え、
     前記表面反射除去フィルタは、
      偏光板と、
      前記偏光板と試料面との間に配置される移相板とを備え、
      前記移相板を透過した照明光束の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長であること
     を特徴とする反射特性測定装置。
  6.  前記測定開口部は、前記表面反射除去フィルタを脱着可能な状態になるように、前記筐体から取り外し可能に構成されていること
     を特徴とする請求項5に記載の反射特性測定装置。
  7.  前記測定開口部は、前記表面反射除去フィルタが設置されてなり、前記筐体から取り外し可能に構成されていること
     を特徴とする請求項6に記載の反射特性測定装置。
  8.  反射特性測定システムであって、
     反射特性測定装置と、第1の測定開口部と、第2の測定開口部とを備え、
     前記反射特性測定装置は、試料面の測定領域を決定する測定開口部が脱着可能な筐体と、所定の方向から前記測定開口部を介して試料面を照明する照明系と、照明された試料面反射光の所定方向の光束を受光する受光系とを備え、
     前記第1の測定開口部は、前記筐体に取り付け可能であって、偏光板と、前記偏光板と試料面との間に配置され、透過した照明光束の位相変化と受光光束の位相変化との合計が1/2波長である移相板とを備え、
     前記第2の測定開口部は、前記筐体に取り付け可能であって、前記照明系からの照明光束と前記試料面で反射した受光光束を透過する透明保護板を有すること
     を特徴とする反射特性測定システム。
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