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WO2009136311A3 - Commande de pression de contact pour sonde pour analyse de matériau - Google Patents

Commande de pression de contact pour sonde pour analyse de matériau Download PDF

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WO2009136311A3
WO2009136311A3 PCT/IB2009/051708 IB2009051708W WO2009136311A3 WO 2009136311 A3 WO2009136311 A3 WO 2009136311A3 IB 2009051708 W IB2009051708 W IB 2009051708W WO 2009136311 A3 WO2009136311 A3 WO 2009136311A3
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WO
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probe
contact pressure
grating
contact
pressure control
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PCT/IB2009/051708
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Kiran K. Thumma
Bastiaan W. M. Moeskops
Yan Liu
Golo Von Basum
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Koninklijke Philips NV
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Koninklijke Philips Electronics NV
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Publication date
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Abstract

L'invention porte sur un dispositif pour analyser un matériau à l'aide d'un éclairage et d'une détection optique, lequel dispositif a une sonde (120) conçue pour assurer l'éclairage et recevoir de la lumière pour la détection optique, et ayant un réseau optique (100) en une région de contact de la sonde à utiliser dans la détection d'une pression de contact de la région de contact sur le matériau. Un détecteur détecte la lumière affectée par le réseau, et un dispositif de commande (85) commande une pression de contact de la sonde sur le matériau, selon la pression de contact déterminée. Par l'utilisation d'un réseau, il y a peu ou aucune complexité supplémentaire dans la structure de la sonde, et peu ou aucun ajout dans la surface de contact de la sonde. Par la détermination de la pression de contact et l'adaptation de la position de la sonde, des effets d'interférence lors de l'analyse du matériau, provoqués ou aggravés par le fait que la pression de contact soit trop élevée ou trop faible ou fluctue de façon trop importante, peuvent être réduits ou évités.
PCT/IB2009/051708 2008-05-08 2009-04-27 Commande de pression de contact pour sonde pour analyse de matériau Ceased WO2009136311A2 (fr)

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