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WO2009031418A1 - 顕微鏡装置 - Google Patents

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WO2009031418A1
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Yumiko Ouchi
Hisao Osawa
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Abstract

　高速で画像取得できる顕微鏡装置を提供する。可干渉光源と、前記可干渉光源からの光束を複数の光束に分割する光束分割手段３と、瞳共役面近傍に配置され、前記複数の光束のうち２光束を位相変調させる位相変調手段５とを有し、前記２光束を、標本１３面近傍で干渉させることにより干渉縞構造に空間変調した照明光を照射する照明光学系と、前記標本の回折光を結像する結像光学系と、撮像手段２１と、前記撮像手段により前記空間変調の位相を変調する度に撮像された画像を演算処理することにより標本像を生成する画像処理手段２２とを有する顕微鏡装置であって、前記位相変調手段５は、前記照明光に対して透明な平行平板に、領域ごとに通過する際に発生する位相差が異なるように設定された光学部材を光軸を回転軸に回転することにより前記２光束の相互位相差を変化させる。
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011028208A (ja) * 2009-06-22 2011-02-10 Yokogawa Electric Corp 顕微鏡装置
WO2011135819A1 (ja) * 2010-04-26 2011-11-03 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
JP2013076867A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Olympus Corp 超解像観察装置
JP2014508969A (ja) * 2011-03-01 2014-04-10 アプライド プレシジョン インコーポレイテッド 蛍光顕微鏡検査法における照明位相制御のためのシステムおよび方法
JP2014092643A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Nikon Corp 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
WO2014084007A1 (ja) 2012-11-29 2014-06-05 シチズンホールディングス株式会社 光変調素子
JP2014517352A (ja) * 2011-06-09 2014-07-17 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー 高分解能ルミネッセンス顕微鏡法
JP2014222343A (ja) * 2007-09-28 2014-11-27 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーＣａｒｌ Ｚｅｉｓｓ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ Ｇｍｂｈ 照明された試料を光学的に捕捉するための方法および装置
JPWO2013001805A1 (ja) * 2011-06-29 2015-02-23 株式会社ニコン 構造化照明光学系および構造化照明顕微鏡装置
JP2015052673A (ja) * 2013-09-06 2015-03-19 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
WO2015118634A1 (ja) * 2014-02-05 2015-08-13 株式会社ニコン 照明装置、観察装置及び観察方法
CN111221119A (zh) * 2020-03-16 2020-06-02 苏州大学 一种人工微结构构建方法及包含该人工微结构的光学系统
WO2020179036A1 (ja) * 2019-03-06 2020-09-10 株式会社ニコン 顕微鏡
JP2023515509A (ja) * 2020-02-19 2023-04-13 サーモ エレクトロン サイエンティフィック インスツルメンツ エルエルシー 構造化照明のための位相マスク

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8537461B2 (en) 2007-11-26 2013-09-17 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method and configuration for the optical detection of an illuminated specimen
JP5771422B2 (ja) * 2010-06-17 2015-08-26 オリンパス株式会社 顕微鏡
US9767341B2 (en) * 2010-12-14 2017-09-19 The Regents Of The University Of California Method and device for holographic opto-fluidic microscopy
JP5900515B2 (ja) * 2012-01-18 2016-04-06 株式会社ニコン 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法
JP5888416B2 (ja) 2012-07-19 2016-03-22 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
DE102012017920B4 (de) 2012-09-11 2023-11-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikanordnung und Lichtmikroskop
DE102012017922B4 (de) * 2012-09-11 2024-03-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikanordnung und Lichtmikroskop
JP6128822B2 (ja) * 2012-12-05 2017-05-17 オリンパス株式会社 光学装置
JP6168822B2 (ja) * 2013-04-04 2017-07-26 オリンパス株式会社 パターン照射装置
JP6673552B2 (ja) * 2014-08-18 2020-03-25 ナノフォトン株式会社 ラマン分光顕微鏡及びラマン散乱光観察方法
CN104199182B (zh) * 2014-09-26 2017-05-03 江苏大学 一种两步衍射相位成像方法及对应相位恢复方法
CN105158891B (zh) * 2015-05-11 2017-12-08 华中科技大学 一种三通道显微镜接口
JP7290907B2 (ja) * 2016-03-10 2023-06-14 シスメックス株式会社 光学機器および像の形成方法
LU93117B1 (de) * 2016-06-23 2018-01-24 Leica Microsystems Beleuchtungsvorrichtung für ein Mikroskop
NL2020620B1 (en) * 2018-01-16 2019-07-25 Illumina Inc Pattern angle spatial selection structured illumination imaging
CN111338070B (zh) * 2020-03-18 2021-04-23 中国科学技术大学 一种结构光产生装置及结构光照明显微镜

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007043313A1 (ja) * 2005-10-11 2007-04-19 Nikon Corporation 顕微鏡装置及び観察方法
WO2007043382A1 (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 Nikon Corporation 顕微鏡装置及び画像生成方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5671085A (en) * 1995-02-03 1997-09-23 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for three-dimensional microscopy with enhanced depth resolution
JPH11242189A (ja) 1997-12-25 1999-09-07 Olympus Optical Co Ltd 像形成法、像形成装置
JP4899408B2 (ja) 2005-02-25 2012-03-21 株式会社ニコン 顕微鏡装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007043382A1 (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 Nikon Corporation 顕微鏡装置及び画像生成方法
WO2007043313A1 (ja) * 2005-10-11 2007-04-19 Nikon Corporation 顕微鏡装置及び観察方法

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014222343A (ja) * 2007-09-28 2014-11-27 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーＣａｒｌ Ｚｅｉｓｓ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ Ｇｍｂｈ 照明された試料を光学的に捕捉するための方法および装置
JP2011028208A (ja) * 2009-06-22 2011-02-10 Yokogawa Electric Corp 顕微鏡装置
EP3726274A1 (en) * 2010-04-26 2020-10-21 Nikon Corporation Structured illumination microscope apparatus and an image forming apparatus
US10502945B2 (en) 2010-04-26 2019-12-10 Nikon Corporation Structured illumination microscope apparatus and an image forming apparatus
EP2565697A4 (en) * 2010-04-26 2013-11-06 Nikon Corp MICROSCOPE DEVICE WITH STRUCTURAL LIGHTING
US9146391B2 (en) 2010-04-26 2015-09-29 Nikon Corporation Structured illumination microscope apparatus and an image forming apparatus
US10983328B2 (en) 2010-04-26 2021-04-20 Nikon Corporation Structured illumination microscope apparatus and an image forming apparatus
US20120026311A1 (en) * 2010-04-26 2012-02-02 The Regents Of The University Of California Structured illumination microscope apparatus and an image forming apparatus
WO2011135819A1 (ja) * 2010-04-26 2011-11-03 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
JP2014508969A (ja) * 2011-03-01 2014-04-10 アプライド プレシジョン インコーポレイテッド 蛍光顕微鏡検査法における照明位相制御のためのシステムおよび方法
JP2014517352A (ja) * 2011-06-09 2014-07-17 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー 高分解能ルミネッセンス顕微鏡法
JPWO2013001805A1 (ja) * 2011-06-29 2015-02-23 株式会社ニコン 構造化照明光学系および構造化照明顕微鏡装置
US10739574B2 (en) 2011-06-29 2020-08-11 Nikon Corporation Structured illumination optical system and structured illumination microscope device
US10067328B2 (en) 2011-06-29 2018-09-04 Nikon Corporation Structured illumination optical system and structured illumination microscope device
US10095018B2 (en) 2011-06-29 2018-10-09 Nikon Corporation Structured illumination optical system and structured illumination microscope device
JP2013076867A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Olympus Corp 超解像観察装置
US9110283B2 (en) 2011-09-30 2015-08-18 Olympus Corporation Super-resolution observation apparatus that changes process contents according to intensity level of noise in digital image data
JP2014092643A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Nikon Corp 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
WO2014084007A1 (ja) 2012-11-29 2014-06-05 シチズンホールディングス株式会社 光変調素子
US9772484B2 (en) 2012-11-29 2017-09-26 Citizen Watch Co., Ltd. Light modulating device
JP2015052673A (ja) * 2013-09-06 2015-03-19 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
WO2015118634A1 (ja) * 2014-02-05 2015-08-13 株式会社ニコン 照明装置、観察装置及び観察方法
WO2020179036A1 (ja) * 2019-03-06 2020-09-10 株式会社ニコン 顕微鏡
US12196938B2 (en) 2019-03-06 2025-01-14 Nikon Corporation Microscope
JP2023515509A (ja) * 2020-02-19 2023-04-13 サーモ エレクトロン サイエンティフィック インスツルメンツ エルエルシー 構造化照明のための位相マスク
US12345865B2 (en) 2020-02-19 2025-07-01 Thermo Electron Scientific Instruments Llc Phase mask for structured illumination
CN111221119A (zh) * 2020-03-16 2020-06-02 苏州大学 一种人工微结构构建方法及包含该人工微结构的光学系统
CN111221119B (zh) * 2020-03-16 2021-11-30 苏州大学 一种人工微结构构建方法及包含该人工微结构的光学系统

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Publication number Publication date
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