WO2008035552A1 - Appareil de traitement par la chaleur - Google Patents
Appareil de traitement par la chaleur Download PDFInfo
- Publication number
- WO2008035552A1 WO2008035552A1 PCT/JP2007/066847 JP2007066847W WO2008035552A1 WO 2008035552 A1 WO2008035552 A1 WO 2008035552A1 JP 2007066847 W JP2007066847 W JP 2007066847W WO 2008035552 A1 WO2008035552 A1 WO 2008035552A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- heat treatment
- substrate
- treatment apparatus
- condensate
- fluororesin coating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67109—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
Definitions
- the present invention relates to a heat treatment apparatus used in a manufacturing process of a semiconductor or a liquid crystal panel.
- the structure of the heat treatment apparatus is such that a hot plate is arranged in a housing, a substrate to be treated is placed on the hot plate, and the substrate is heat treated by the hot plate (Patent Document 1).
- a lid that forms a purge chamber is provided above the hot plate, and a reflector that faces the hot plate is formed on the back surface of the lid.
- Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 5-326532
- the solvent is only evaporated from the coating film formed on the substrate surface.
- the sublimation component caused by the resin or the like contained in the coating film is sublimated, and the inner surface including the ceiling surface of the housing It precipitates in.
- the deposited sublimate may grow and fall on the substrate during the heat treatment. If the sublimate falls on the substrate in this way, it may cause defects such as pin holes. For this reason, it is necessary to clean the removed sublimate once every few weeks to reduce the risk that the sublimate will fall on the substrate. Production efficiency must be reduced To do.
- a heat treatment apparatus includes a water repellent / oil repellent made of fluororesin or silicon resin on a ceiling surface of a housing or a lower surface of a top plate suspended from the ceiling surface. A film was formed.
- the particle size of the first deposit is extremely small.
- the ceiling surface of the housing or the top plate suspended from the ceiling surface may be inclined toward one side of the housing (the side with the exhaust port). By doing so, the liquid that becomes the precipitate adhering to the ceiling surface or the lower surface of the top plate moves along the inclination and falls to a place off the substrate.
- Fluorine resin coatings include tetrafluorinated styrene resin (PTFE), tetrafluorinated styrene perfluoroalkyloxyalkyl ether copolymer (PFA), tetrafluorinated styrene hexahexafluoropropylene copolymer (FEP). ), Polychlorotrifluoroethylene (PCTFE), black trifluoroethylene.
- ECTFE tetrafluorinated styrene resin
- PFA tetrafluorinated styrene perfluoroalkyloxyalkyl ether copolymer
- FEP tetrafluorinated styrene hexahexafluoropropylene copolymer
- PCTFE Polychlorotrifluoroethylene
- ECTFE tetrafluoride
- ETFE ethylene copolymer
- PVDF polyviriniden
- the problem that precipitates fall on the object to be treated during heat treatment is solved. Moreover, the frequency
- FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a heat treatment apparatus according to the present invention.
- FIG. 3 is a sectional view showing a modification of the heat treatment apparatus.
- FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a heat treatment apparatus according to the present invention.
- Heat treatment equipment A housing 1 is provided, and a hot plate 2 is provided in the housing 1.
- the hot plate 2 has a heating device inside, and heats the mounted substrate (object to be processed) 3.
- the surface of the substrate 3 is coated with a photosensitive composition such as a photoresist composition, an SOG material, and the like.
- the heat treatment apparatus includes elevating pins 4a to 4c penetrating the hot plate 2, and the substrate 3 before the heat treatment is carried by the arm via the shirt 5 and received by the raised pins 4a to 4c. Then, the pins 4a to 4c are lowered and placed on the hot plate. Then, the substrate is heated by a hot plate.
- the housing 1 has first and second side walls la and lb facing each other across the hot plate 2 and a ceiling surface lc.
- the side wall la is provided with a shirter 5, and the side wall lb is provided with a vacuum source.
- a ceiling plate 10 is suspended from the ceiling surface lc of the woozing 1 so that its lower surface approaches the surface of the substrate 3 and opposes it.
- the top plate 10 is inclined so that the shirter 5 side is high and the exhaust port 6 side is low.
- a fluororesin coating 11 is formed on the bottom surface of the top plate 10 as a water / oil repellent coating.
- RU Silicone resin film can be used instead of fluororesin film 11.
- the solvent evaporated from the resist solution or the like applied to the surface of the substrate 3 or sublimated from the resin is aggregated in the fluororesin coating 11 on the lower surface of the top plate 10. Agglomerates are formed on the surface of the fluororesin coating 11 and thus have a fine diameter.
- the fluororesin coating is more slippery, so it moves along an inclination as shown in FIG. Fall down. Since the position where the aggregated droplet falls is outside the substrate 3, it does not cause a decrease in yield.
- FIG. 3 is a cross-sectional view showing another embodiment.
- a top plate is not provided, and instead, a fluororesin film 11 is formed on the ceiling surface lc of the housing 1. .
- the ceiling surface lc is not inclined, but it may be inclined toward the exhaust port 6 in the same manner as in the above embodiment.
- the force for providing the exhaust port on the side wall may be provided on the upper side wall or the lower side wall.
- an exhaust port can be provided in the upper side wall portion facing the top plate.
- the water / oil repellent coating may be black. By doing this, the temperature of the water and oil repellent coating Since the degree is increased, there is an effect of suppressing the sublimate from being cooled and deposited.
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
明 細 書
加熱処理装置
技術分野
[0001] 本発明は半導体や液晶パネルの製造工程等において使用される加熱処理装置に 関する。
背景技術
[0002] 半導体デバイスや液晶パネルの製造工程にお!/、ては、ガラス基板ゃゥエーハなど の被処理基板に対し洗浄、コーティング、露光、乾燥等の各種工程が行われている。 これらの製造プロセスの中間工程において、プリベータやポストベータが必要となり、 この場合、被処理基板を加熱処理装置内で加熱処理してから次段の工程に移行し ている。
[0003] 加熱処理装置の構造は、ハウジング内にホットプレートを配置し、被処理基板をホッ トプレート上に載置し、ホットプレートにより基板を加熱処理するようにしている(特許 文献 1)。この既知の加熱処理装置では、ホットプレートの上方にパージ室を形成す る蓋体が設けられ、この蓋体の裏面にはホットプレートと対向する反射板が形成され ている。
[0004] 特許文献 1 :特開平 5— 326532号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0005] 加熱処理中には、基板表面に形成された塗布膜から溶剤が気化するだけでなぐ 前記塗布膜に含まれる樹脂等に起因する昇華成分が昇華し、ハウジングの天井面を 含む内側表面に析出する。
[0006] ハウジングの天井面に昇華物が析出すると、析出した昇華物が成長し、加熱処理 中に基板上に落下してしまうことがある。このように基板上に昇華物が落下するとピン ホールなどの不良発生の原因となる。このため、数週間に 1回程度、析出した昇華物 を除去する清掃を行ない、昇華物が基板上に落下するリスクを低減する必要があり、 人手が必要になるとともに清掃の間は装置を停止しなければならず生産効率も低下
する。
課題を解決するための手段
[0007] 上記課題を解決するため本発明に係る加熱処理装置は、ハウジングの天井面また は当該天井面から吊り下げられた天板の下面に、フッ素樹脂またはシリコン樹脂から なる撥水 ·撥油被膜を形成するようにした。
撥水 ·撥油被膜を形成することで、第 1に付着する析出物の粒径が極めて小さくなり
、第 2に仮に天井面や天板から落下した場合でも、気流によって排気口に運ばれ、 基板表面に落下する確率が大幅に低減する。
[0008] また、ハウジングの天井面または当該天井面から吊り下げられた天板をハウジング の一方 (排気口がある側)に向けて傾斜させてもよい。このようにすることで、天井面ま たは天板の下面に付着した析出物となる液体は傾斜に沿って移動し、基板から外れ た箇所に落下する。
[0009] フッ素樹脂被膜としては、四フッ化工チレン樹脂(PTFE)、四フッ化工チレンペルフ ノレォロアルコキシビュルエーテル共重合体(PFA)、四フッ化工チレン'六フッ化プロ ピレン共重合体(FEP)、ポリクロ口トリフルォロエチレン(PCTFE)、クロ口トリフルォロ エチレン.エチレン共重合体(ECTFE)、ポリビュルフロライド(PVF)四フッ化工チレ ン.エチレン共重合体(ETFE)、ポリビリニデンフロライド(PVDF)を用いることができ 発明の効果
[0010] 本発明によれば、加熱処理中の被処理体上に析出物が落下する不具合が解消さ れる。また、清掃する回数も低減することができる。
図面の簡単な説明
[0011] [図 1]本発明による加熱処理装置の一例を示す断面図
[図 2]昇華物の動きについて説明した図
[図 3]加熱処理装置の変形例を示す断面図
発明を実施するための最良の形態
[0012] 図 1は本発明による加熱処理装置の一例を示す断面図である。加熱処理装置は、
ハウジング 1を有し、当該ハウジング 1内にホットプレート 2を備えている。ホットプレー ト 2は内部に加熱装置を有し、載置した基板 (被処理体) 3を加熱する。なお、基板 3 表面にはフォトレジスト組成物等の感光性組成物、 SOG材料等が塗布されている。
[0013] また、加熱処理装置はホットプレート 2を貫通する昇降ピン 4a〜4cを備え、加熱処 理前の基板 3が、シャツタ 5を介してアームにより搬入され、上昇したピン 4a〜4cに受 け渡され、該ピン 4a〜4cが下降することによりホットプレートに載置される。そして、ホ ットプレートにて該基板の加熱処理が行われる。
[0014] ハウジング 1はホットプレート 2をはさんで互いに対向する第 1及び第 2の側壁 la及 び lbおよび天井面 lcを有し、側壁 laにはシャツタ 5を設け、側壁 lbには真空源に接 続する排気口 6を設けて!/、る。
[0015] ノ、ウジング 1の天井面 lcからはその下面が基板 3の表面に接近して対抗する天板 1 0が吊り下げられている。この天板 10は前記シャツタ 5の側が高く排気口 6の側が低く なるように全体が傾斜し、更に天板 10の下面には撥水 ·撥油被膜であるフッ素樹脂 被膜 11が形成されてレ、る。フッ素樹脂被膜 11の代わりにシリコン樹脂被膜でもよレ、。
[0016] 以上において、基板 3を加熱すると、基板 3の表面に塗布されたレジスト液などから 溶剤が気化しあるいは樹脂から昇華したものが天板 10の下面のフッ素樹脂被膜 11 で凝集する。凝集物はフッ素樹脂被膜 11の表面に形成されるため微細な径となるが 、更にフッ素樹脂被膜は滑りやすいので、図 2に示すように傾斜に沿って移動し、天 板 10の端部から下方に落下する。凝集液滴が落下する位置は基板 3よりも外側にし ているため、歩留り低下の原因にはならない。
[0017] 図 3は別実施例を示す断面図であり、この実施例にあっては天板を設けておらず、 その代わり、ハウジング 1の天井面 lcにフッ素樹脂被膜 11を形成している。
[0018] 図 3に示した実施例にあっては天井面 lcは傾斜させていないが、前記実施例と同 様に排気口 6に向けて傾斜させてもよい。
[0019] 本発明は上述した実施例だけに限定されず種々の変形や変更が可能である。例え ば、排気口を側壁に設けている力 上側壁部または下側壁部に設けてもよい。特に 天板を設けた場合には、天板と対向する上側壁部に排気口を設けることができる。
[0020] また撥水 ·撥油被膜を黒色としてもよい。このようにすることで撥水 ·撥油被膜の温
度が上がるため、昇華物が冷却されて析出することを抑制する効果がある。
Claims
[1] ハウジング内に被処理体を加熱処理するホットプレートを配置した加熱処理装置に おいて、前記ハウジングの天井面または当該天井面から吊り下げられた天板の下面 にはフッ素樹脂またはシリコン樹脂からなる撥水 ·撥油膜が形成されていることを特徴 とする加熱処理装置。
[2] 請求項 1に記載の加熱処理装置にお!/、て、前記フッ素樹脂被膜が形成された面は ノ、ウジング内の一端に向かって傾斜していることを特徴とする加熱処理装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006256177A JP2008078402A (ja) | 2006-09-21 | 2006-09-21 | 加熱処理装置 |
| JP2006-256177 | 2006-09-21 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2008035552A1 true WO2008035552A1 (fr) | 2008-03-27 |
Family
ID=39200379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2007/066847 Ceased WO2008035552A1 (fr) | 2006-09-21 | 2007-08-30 | Appareil de traitement par la chaleur |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2008078402A (ja) |
| TW (1) | TW200827947A (ja) |
| WO (1) | WO2008035552A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107444776A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-12-08 | 武汉华星光电技术有限公司 | 高温加热设备的承载装置及其清洁方法、高温加热设备 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5734733B2 (ja) * | 2011-05-12 | 2015-06-17 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 熱処理装置の排気構造 |
| JP2012253171A (ja) * | 2011-06-02 | 2012-12-20 | Toppan Printing Co Ltd | プリベーク装置およびプリベーク方法 |
| JP6576652B2 (ja) * | 2015-03-03 | 2019-09-18 | 株式会社三井ハイテック | 熱処理装置 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04147612A (ja) * | 1990-10-11 | 1992-05-21 | Tokyo Electron Ltd | 基板加熱装置 |
| JP2002228375A (ja) * | 2001-01-26 | 2002-08-14 | Tokyo Electron Ltd | 加熱処理装置 |
| JP2004158549A (ja) * | 2002-11-05 | 2004-06-03 | Tokyo Electron Ltd | 基板乾燥装置および基板乾燥方法 |
| JP2005019593A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 熱処理方法および装置 |
| JP2006165500A (ja) * | 2004-06-10 | 2006-06-22 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法及びデバイス製造方法 |
| WO2006080516A1 (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
-
2006
- 2006-09-21 JP JP2006256177A patent/JP2008078402A/ja active Pending
-
2007
- 2007-08-30 WO PCT/JP2007/066847 patent/WO2008035552A1/ja not_active Ceased
- 2007-09-13 TW TW96134304A patent/TW200827947A/zh unknown
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04147612A (ja) * | 1990-10-11 | 1992-05-21 | Tokyo Electron Ltd | 基板加熱装置 |
| JP2002228375A (ja) * | 2001-01-26 | 2002-08-14 | Tokyo Electron Ltd | 加熱処理装置 |
| JP2004158549A (ja) * | 2002-11-05 | 2004-06-03 | Tokyo Electron Ltd | 基板乾燥装置および基板乾燥方法 |
| JP2005019593A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 熱処理方法および装置 |
| JP2006165500A (ja) * | 2004-06-10 | 2006-06-22 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法及びデバイス製造方法 |
| WO2006080516A1 (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107444776A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-12-08 | 武汉华星光电技术有限公司 | 高温加热设备的承载装置及其清洁方法、高温加热设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2008078402A (ja) | 2008-04-03 |
| TW200827947A (en) | 2008-07-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11133210B2 (en) | Dual temperature heater | |
| TWI659465B (zh) | 基板處理裝置及基板處理方法 | |
| US10483134B2 (en) | Substrate treatment device and substrate treatment method | |
| JP4729160B2 (ja) | 端部の堆積を防止する装置 | |
| JP6945314B2 (ja) | 基板処理装置 | |
| TWI864069B (zh) | 邊緣環以及具有其之熱處理設備 | |
| TW200926267A (en) | Apparatus and method for centering a substrate in a process chamber | |
| TW202119524A (zh) | 加熱處理裝置及加熱處理方法 | |
| US10534265B2 (en) | Apparatus for treating substrate and method for cleaning guide plate | |
| JP2022090061A (ja) | 基板処理方法および基板処理装置 | |
| WO2008035552A1 (fr) | Appareil de traitement par la chaleur | |
| US7527694B2 (en) | Substrate gripping apparatus | |
| TWI360159B (ja) | ||
| TWI727183B (zh) | 清潔製程腔室的方法 | |
| CN101090994A (zh) | 掩模保持机构以及成膜装置 | |
| US20110045182A1 (en) | Substrate processing apparatus, trap device, control method for substrate processing apparatus, and control method for trap device | |
| JP2003318091A (ja) | 熱処理装置及び熱処理方法 | |
| KR101009558B1 (ko) | 진공 성막 장치 | |
| JP5773731B2 (ja) | 真空処理装置 | |
| KR100793366B1 (ko) | 유기물 증착장치 및 그 증착방법 | |
| KR100945429B1 (ko) | 대량의 기판 장착 및 탈착 시스템을 이용한 양산형박막증착 장치 | |
| KR20240144267A (ko) | 확산 장벽 층으로 향상된 euv 하부층 효과 | |
| KR102812152B1 (ko) | 기판 열처리 장치 | |
| CN112824558A (zh) | 成膜装置、使用成膜装置的成膜方法及电子器件的制造方法 | |
| JP2007207973A (ja) | 表面処理方法及び表面処理装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 07806324 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 07806324 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |