WO2008035419A1

WO2008035419A1 - Procédé de spectrométrie de masse

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Description

明細書

質量分析方法

技術分野

[0001] 本発明は質量分析装置による質量分析方法に関し、更に詳しくは、分析対象であるイオンを開裂させて発生した生成イオンを分析することが可能な質量分析装置を用

Vヽた質量分析方法、特に分子の組成や構造を解析する方法に関する。

背景技術

[0002] イオントラップ型質量分析装置などを用いた質量分析にぉ、ては MSZMS分析 ( タンデム分析）という手法が知られている。一般的な MSZMS分析では、まず分析対象物から目的とする特定の質量電荷比 (m/z)を有するイオンを前駆イオン (プリカ一サイオン）として選別し、その選別した前駆イオンを CID (Collusion Induced Dissoci ation:衝突誘起分解）によって開裂させる。その後、開裂によって生成した各種生成イオン (プロダクトイオン)を質量分析することによって、目的とするイオンの質量ゃィ匕学構造にっ、ての情報を取得することができる。

[0003] 近年、こうした装置で分析しょうとする試料はますます分子量が大きくなり、構造 (組成)も複雑になる傾向にある。そのため、試料の性質によっては、一段階の開裂操作だけでは十分に小さな質量までイオンが開裂しない場合がある。そうした場合には、開裂の操作を複数回 (n—1回)繰り返し、最終的に得られた生成イオンを質量分析する MSⁿ分析が行われることも多い（例えば特許文献 1、 2など参照)。なお、上記のような 1回の開裂操作による生成イオンの質量分析は MS²分析であり、また開裂を伴わな、通常の質量分析は MS¹分析と記述することとする。

[0004] こうした MSⁿ分析では、基本的に、前駆イオンの質量力も推定される元素の組み合わせによる組成式と生成イオンの質量力推定される元素の組み合わせとの両方を用いて、分析対象である目的物質の分子構造や組成の候補を絞り込む。しかしながら、或る程度の高い精度で質量を算出することが可能な装置を用いても、目的物質の分子量が大きくなるほど絞り込みが難しくなるために候補が数多く残り、最終的に目的物質の組成や構造を決定することが非常に困難になるという問題がある。また、途中で前駆イオンや生成イオンの組成の候補の数が多いと、目的物質の組成を推定するための解析処理に要する時間が非常に長く掛カることになる。

[0005] 特許文献 1 :特開平 10— 142196号公報

特許文献 2：特開 2001— 249114号公報

発明の開示

発明が解決しょうとする課題

[0006] 前述のように従来の目的物質の分子構造や組成の解析方法は、解析処理に時間を要する割に、得られる結果としては十分な絞り込みがなされておらず、目的物質の構造や組成を推定するのが難しいという問題がある。本発明はこうした課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、特に大きな分子量を持つ目的物質の分子構造や組成の解析を行う際に、そうした解析を容易に且つ高い確度で行うことができる質量分析方法を提供することにある。

課題を解決するための手段

[0007] 上記課題を解決するために成された第 1発明は、目的物質に由来する前駆イオンを n— 1 (nは 2以上の整数)段階に開裂させ、該開裂によって発生した生成イオンを質量分析する MSⁿ分析が可能な質量分析装置を用い、該質量分析装置で収集されるデータに基づいて前記目的物質の分子構造や組成の解析を行う質量分析方法であって、

開裂の過程で発生する各種イオンに関し特定の質量と組成式との対応関係を予備情報として与えておき、

MS^m (mは 2≤m≤nの整数)分析により得られた生成イオンの質量が前記予備情報で与えられている質量に該当するか否かを確認し、

該当する場合に、前記予備情報を利用して前記生成イオンの組成式を確定した上で目的物質の組成を推定することを特徴としている。

[0008] 第 1発明の一態様として、 mが 2、 3、 · ··、 nである MS^m分析のデータを収集した後に、各分析で得られた生成イオンの質量が前記予備情報で与えられて、る質量に該当する力否かを確認するものとすることができる。即ち、まず必要な質量分析の測定を実行して全てのデータを収集し、そのデータに基づヽた解析処理を実行する際に予備情報を利用する。

[0009] また第 1発明の別の態様として、 mを 2、 3、…と順に増加させて MS^m分析を実行する毎に、該分析で得られた生成イオンの質量が前記予備情報で与えられてヽる質量に該当する力否かを確認するものとすることができる。即ち、開裂を伴う質量分析を実行しながら、得られた結果に対し予備情報が利用できるか否かを確認し、その結果に基づいて目的物質の組成の推定が適切に行える場合にはそれ以上の多段階の開裂を伴う質量分析を行わずに測定を終了する。

[0010] 通常、質量の大きなイオンの組成を推定する際には、構成元素の種類やそれら構成元素の最大個数を限定した条件を与えるが、一般的には或る質量に対してそれに近、質量を与える複数の組成式の候補が得られ、場合によってはこの数が多数になる。一方、元の試料の種類や分析目的などによっては、目的物質の構造 (組成)の一部が既知であって、この物質に由来する生成イオンのおおよその質量と糸且成とが分力つている場合がある。例えば、或る化学反応により主生成物を製造する際に同時に生成されてしまう副生成物を調査したい場合に、主生成物と副生成物とは類似した構造を持っために一部が共通であることが分力つており、さらにその共通の部分の構造 (組成)も既知であることがある。こうした場合に、イオンを開裂させる過程でその共通の構造が生成イオン (又は後述する脱離イオン）として観測できる可能性がある

[0011] そこで第 1発明に係る質量分析方法を実現する解析処理装置では、例えばユーザ一が 1つずつ手入力する或、は別の装置で計算されたデータを読み込むと!、つた方法で予備情報を取得すると、これを記憶装置に格納しておく。そして、例えば MS¹分析、 MS²分析、…と順に質量分析を実行する過程で、生成イオンの質量が上記記憶装置に格納してある質量に該当する力否か逐次チェックする。そして、該当する場合にはその質量に対応付けられている組成式を該生成イオンの組成式として確定する。即ち、この場合には、この生成イオンの質量力も複数の組成式の候補を導いてそれら候補力絞り込みを実行するという手順は必要なくなる。

[0012] また、開裂操作で生じる生成イオンの質量のほか、開裂の際に前駆イオン力も脱離する断片 (脱離イオン)の組成が既知である又は高い確度で予め推定できる場合には、この脱離イオンの質量と組成式との対応関係を利用することもできる。即ち、上記課題を解決するために成された第 2発明は、目的物質に由来する前駆イオンを n—l (nは 2以上の整数)段階に開裂させ、該開裂によって発生した生成イオンを質量分析する MSⁿ分析が可能な質量分析装置を用い、該質量分析装置で収集されるデータに基づいて前記目的物質の分子構造や組成の解析を行う質量分析方法であって開裂の過程で発生する脱離する断片に関し特定の質量と組成式との対応関係を予備情報として与えておき、

MS^m (mは 2≤ m≤ nの整数)分析の前駆イオンの質量と該分析により得られた生成イオンの質量との差が前記予備情報で与えられている質量に該当する力否かを確認し、

[0013] また、この第 2発明においても第 1発明と同様に、 1つの態様として、 mが 2、 3、 · ··、 nである MS^m分析のデータを収集した後に、各分析における前駆イオンの質量と該分析により得られた生成イオンの質量との差が前記予備情報で与えられている質量に該当する力否かを確認するようにしてもよいし、或いは別の態様として、 mを 2、 3、 …と順に増加させて MS^m分析を実行する毎に、該分析における前駆イオンの質量と該分析により得られた生成イオンの質量との差が前記予備情報で与えられている質量に該当する力否かを確認するようにしてもょ、。

発明の効果

[0014] 第 1及び第 2発明に係る質量分析方法によれば、既知の予備情報を利用することにより、生成イオン (つまりは次の段階の質量分析の前駆イオン)の絞り込みを省略することができるので、目的物質の分子量が大きいような場合であっても、その物質の組成式の候補数を減らしてより確度の高い情報をユーザーに提供することができる。また、絞り込みのための処理の一部を省略することで、目的物質の糸且成を推定する解析処理に要する時間を従来よりも短縮することができる。

[0015] もちろん、第 1発明と第 2発明とを組み合わせて、つまり生成イオンの質量と組成式との対応関係を表す予備情報と脱離断片の質量と組成式との対応関係を表す予備情報とを併用することにより、生成イオンの絞り込みをより一層容易に且つ正確に行うことが可能となる。

図面の簡単な説明

[0016] [図 1]本発明の一実施形態による質量分析装置の概略構成図。

[図 2]解析処理動作の具体例を示す模式図。

[図 3]本実施形態による質量分析装置を利用した特徴的な解析処理動作の手順の一例を示すフローチャート。

[図 4]別の形態による特徴的な解析処理動作の手順の一例を示すフローチャート。

[図 5]別の実施形態による質量分析装置を利用した特徴的な解析処理動作の手順の一例を示すフローチャート。

符号の説明

[0017] 1···イオン源

2···イオントラップ

21···リング電極

22…エンドキャップ電極

24…イオン捕捉空間

25…入射口

26···出射口

27…電圧発生部

28···ガス供給源

3---TOFMS

31···飛行空間

32…検出器

4…分析制御部

5…データ処理部

6…データベース

61···ライブラリ 62…組成式リスト

7…主制御部

8…入力部

9…表示部

発明を実施するための最良の形態

[0018] 以下、本発明に係る質量分析方法について、図面を参照しながら具体的に説明する。

[0019] 図 1は本発明を実施するための質量分析装置の一実施形態の概略構成図である。

図 1において、図示しない真空室の内部には、イオン源 1、イオントラップ 2、及び飛行時間型質量分析器（以下、 TOFMS (=Time Of Flight Mass Spectrometer)という） 3が配設されている。イオントラップ 2は、 1つのリング電極 21と 2つの互いに対向するエンドキャップ電極 22、 23により構成されている。リング電極 21には電圧発生部 27 より高周波高電圧が印加され、リング電極 21と一対のエンドキャップ電極 22、 23とで囲まれる空間内に形成される四重極電場によってイオン捕捉空間 24を形成し、そこにイオンを捕捉する。一方、エンドキャップ電極 22、 23にはそのときの分析モードに応じて適宜の補助交流電圧が電圧発生部 27より印加される。また、イオントラップ 2 の内部には、イオン捕捉空間 24に捕捉されているイオンの開裂を促進するために、ガス供給源 28から CIDガスが導入され得るようになつている。これらイオン源 1、 TOF MS3、電圧発生部 27、ガス供給源 28等の動作は分析制御部 4により制御される。

[0020] 上記構成の質量分析装置では、イオン源 1にお!/ヽて目的試料をイオンィ匕し、発生したイオンを入射口 25を通してイオントラップ 2内部に導入する。イオントラップ 2では、リング電極 21及びエンドキャップ電極 22、 23により形成される電場によりイオンをィオン捕捉空間 24に一旦捕捉する。その後にガス供給源 28からイオントラップ 2内部に CIDガスを導入し、該ガスの分子にイオンを衝突させることでイオンの開裂を促進する。そして十分に開裂が行われた後に電極 21、 22、 23へ印加する電圧を変更し、イオントラップ 2内部にイオンを排出するような電場を形成してイオンを出射口 26を通して放出させる。イオントラップ 2から出たイオンは TOFMS3の飛行空間 31を飛行し、質量電荷比に応じた飛行時間で以て検出器 32に到達する。検出器 32は順次到達するイオンの量に応じた検出信号を出力する。データ処理部 5はこの検出信号を受け取って、マススペクトルを作成するとともに、このマススペクトルに現れているピークの質量に基づきデータベース 6に保存されているライブラリ 61や後述する組成式リスト 62を参照しながら、目的物質の分子構造や組成を推定する解析処理を実行する

[0021] この質量分析装置において、イオントラップ 2は特定の質量電荷比を有するイオンを保持する一方、不要な質量電荷比を持つイオンは発散させて除去する機能を有している。したがって、上述のようにイオントラップ 2内で CIDによる開裂を行った後に特定の質量電荷比を有する生成イオンのみをイオントラップ 2内に残し、さらにこの生成イオンを前駆イオンとして CID開裂を行う、という開裂操作→ィオンの選別、を繰り返すことにより、多段階の開裂による質量分析、つまり nが 3以上の MSⁿ分析を行うことができる。

[0022] 本実施形態の質量分析装置では、このような MSⁿ分析に伴う解析処理動作に大きな特徴を有している。この点について図 3のフローチャートを参照しつつ、解析処理動作の手順の一例にっ、て説明する。

[0023] 分析者 (ユーザー）は予め目的物質の種類や分析目的などにより目的物質を構成する一部の組成が既知である場合に、そのおおよその質量と対応する組成式とを入力部 8から設定する。ここで設定された情報は質量と組成式とが対応付けられた組成式リスト 62としてデータベース 6に保存される。これが本発明における予備情報に相当する。

[0024] 分析者が入力部 8から分析の開始を指示すると、主制御部 7は分析制御部 4に分祈の開始を指令し、分析制御部 4の制御の下に、まずイオントラップ 2内部での開裂操作を行わな、通常の質量分析 (MS¹分析)を実行して質量分析データを収集する (ステップ Sl)。即ち、イオン源 1で発生したイオンをイオントラップ 2内部にー且捕捉した後、 CIDガスをイオントラップ 2内部に導入することなぐ所定のタイミングでイオンを出射口 26を通して出射させて TOFMS3で質量分析しデータを取得する。データ処理部 5はこの質量データからマススペクトルを作成し、マススペクトル中に現れてヽるピークの中で目的物質に由来する目的イオンのピークを見つけてその質量 Pを算出する (ステップ S 2)。

[0025] 次にデータ処理部 5は、データベース 6を参照して上記目的イオンの質量 Pから所定の解析条件の下で組成式の候補 Xを計算する (ステップ S3)。ここで解析条件とは、例えば目的物質の種類などに応じて選択された構成要素となり得る原子 (元素)の種類やその原子の最大個数、質量分析の質量精度などである。この解析条件によつて或る程度は候補の数を制限することができる。但し、解析条件を厳しくしすぎると実際の組成式が候補力も漏れるおそれがあるため、解析条件は或る程度緩めにしておく必要がある。そのため、特に目的物質の分子量が大きい場合には候補の数が多くなりすぎることが多い。

[0026] 次に分析制御部 4の制御の下に、分析繰り返し回数変数 nを 2に設定して MSⁿ分析を実行してデータを収集する (ステップ S4、 S5)。即ち、上記 MS¹分析時と同じ目的物質をイオン源 1でイオン化してイオントラップ 2内部に導入し、今度はイオントラップ 2の内部で上記目的イオンを前駆イオンとして 1回の開裂操作を実行し、その開裂によって発生した生成イオンを TOFMS3で質量分析する（MS²分析)。これにより、 M S²分析による生成イオンの質量データが得られるから、データ処理部 5ではこのデータに基づ、てマススペクトルを作成し、マススペクトル中に現れて、るピークの中で生成イオンのピークを見つけてその質量 d を算出する (ステップ S6)。

[0027] 生成イオンの質量 d が求まると、この質量 d が上記糸且成式リスト 62に有る力否かを判定する (ステップ S 7)。但し、質量精度等の関係で値が完全には一致しないことがあるから、或る程度の許容範囲を持たせて組成式リスト 62に該当する質量が有るか否かを判定する。もし、組成式リスト 62中に該当する質量がある場合には、その質量に対応する組成式が上記生成イオンの組成式であるとして確定する (ステップ S8) 。これに対し糸且成式リスト 62中に該当する質量がなければ、データベース 6中のライブラリ 61を参照して質量 d カゝら所定の解析条件の下で生成イオンの組成式の候補 Yを計算する (ステップ S9)。ここで解析条件は上記の親イオンに対する処理時と同一とするのが一般的であるが、過去の分析結果に基づく知見など力解析条件を適宜変更してもよい。

[0028] 次に上記の候補 Yの数が所定値以下である力否かを判定し (ステップ S 10)、所定値を超えている場合には後述するステップ S 16へと進む。他方、候補 Yの数が所定値以下である場合、或いはステップ S8により生成イオンの組成式が確定した場合には、これまでの分析の前後で求まった質量の差 f 、つまり n= 2であるときには MS¹分祈と MS²分析との結果である前駆イオンの質量 Pと生成イオンの質量 dとの質量差 f を計算し (ステップ S11)、ライブラリ 61を参照して所定の解析条件の下でその質量差 f に対応した脱離イオンの組成式の候補 Zを計算する (ステップ S 12)。

[0029] その後に所定のアルゴリズムに従って、上記生成イオンの確定した組成式と脱離ィオンの組成式の候補 Zとを利用して、又は、組成式の候補 Υ、 Ζを利用して、元のィォンに対する組成式の候補 Xの絞り込みを行、 (ステップ S13)、候補 Ζの中で唯一又は所定個数以下の候補に絞られた力否かを判定する (ステップ S14)。ここで所定個数とは適宜に決めることができるが、分析者に適切な情報を提供するという意味では多くても数個程度、通常は 2〜3個程度としておくとよい。ステップ S14で適切な絞り込みがなされたと判断されると、その結果を表示部 9の表示画面などを通して出力する（ステップ S 15)。

[0030] ステップ S 14で唯一の又は所定個数以下の候補の絞り込みができな力つたと判定された場合には、分析繰り返し回数変数 nをインクリメントして (ステップ S 16)ステップ S5へと戻る。また、上述したようにステップ S 10で候補 Yの数が所定値を超えていた場合にもステップ S16を介してステップ S5へと戻る。ステップ S5に戻ると、分析制御部 4の制御の下に、上述したようにイオントラップ 2内部での開裂操作の回数を増加し、例えば n= 3であれば 2回の開裂操作を行って、それ結果得られた生成イオンの質量分析を実行する。そして、上述したような手順でそれ以降の処理を遂行する。

[0031] 本実施形態の質量分析装置では、予め組成式リスト 62を適切に設定しておくことにより、絞り込み処理の実行回数が少なくて済むとともに、少ない分析回数で目的ィォンの組成式、つまりは分析対象の目的物質を高い確度で推定することが容易になる

[0032] 上記実施形態による質量分析装置では、分析を進めながら各分析で得られたデータに基づいて組成式の絞り込みを行っていた力予め決まった回数、つまり規定の n (例えば n = 5或いは 6)に対し MS¹分析〜 MSⁿ分析を実行して各分析の質量データを全て収集し、その後に収集したデータに対して解析処理を実行することで目的物質 (又は目的イオン)の組成式を推定するようにしてもょヽ。図 4はこの場合の解析処理の手順を示すフローチャートである。

[0033] まず、所定の条件の下に順番に前駆イオンを設定しながら、 MS¹分析〜 MSⁿ分析を実行して質量データを収集する (ステップ S21)。具体的には例えば、 MS^m分析を実行したときに得られたマススペクトルに複数のピークが現れている場合、その中で強度が最大のものを選択して前駆イオンとする。その後に、解析処理を実行するが、まず前駆イオン (又は各段での生成イオン)の質量を抽出し (ステップ S22)、それらの質量が組成式リスト 62に該当するものがある力否かを判定する (ステップ S23)。もし組成式リスト 62に該当の質量があれば、それに対応した組成式が前駆イオン (又は生成イオン）の組成式であると確定する (ステップ S24)。そして、その組成式が確定したイオン力遡るようにして、つまりは上述のように分析前後の質量の差を考慮して、最終的に目的イオン又は目的物質の組成式を推定する (ステップ S25)。

[0034] 一方、ステップ S23で糸且成式リスト 62に該当する質量がないと判断された場合には、前駆イオン (又は生成イオン)の質量、分析前後の質量差などから順番に組成を推定し、最終的に目的イオン又は目的物質の組成式を推定する (ステップ S26)。そして、差目的物質の組成式の候補力 ^乃至複数求まったならば、これをリストとして表示部 9に表示する（ステップ S27)。

[0035] 上記実施形態では、生成イオンの質量と組成式とを対応付けた組成式リスト 62を作成して!/、た力これにさらに開裂に伴つて脱離する脱離イオンの質量と組成式との関係を加え、この情報も利用することにより生成イオンの絞り込みを一層容易に行うことができる。こうした実施形態における解析処理動作の手順の一例を図 5に示す。この解析処理動作は上記図 3で説明した処理と類似しており、同一処理については同一ステップ番号を付して説明を略す力特徴的な処理としてステップ S31〜S33が追加されている。

[0036] 即ち、ステップ S7において生成イオンの質量に該当するものが糸且成式リスト 62中にない場合に、次に直前に行った分析の前駆イオンの質量と生成イオンの質量との差 Δ ά を算出する (ステップ S31)。この質量差 A d は開裂に伴って前駆イオンから脱離した断片 (ここでは脱離イオンという）の質量であるとみなすことができ、この質量が組成式リスト 62に有るか否かを判定する（ステップ S32)。組成式リスト 62中に該当する質量がある場合には、その質量に対応する脱離イオンの組成式に基づいて生成イオンの組成式を推定し (ステップ S33)、ステップ S 11に進む。これに対し組成式リスト 62中に該当する質量がなければステップ S9に進む。

[0037] 生成イオンそのものの組成式が組成式リスト 62中に見つ力もなくても、脱離した断片の組成式が分かれば、その組成式と前駆イオンの組成式の多数の候補とを利用して生成イオンの組成式を高い確度で推定することができる。したがって、この実施形態の解析処理方法によれば、上述した実施形態による方法に比べて目的物質の組成式の絞り込みが一層容易になる。

[0038] また、図 4に示したように、予め MS¹分析〜 MSⁿ分析を実行して各分析の質量データを全て収集し、その後に収集したデータに対して解析処理を実行することで目的物質の組成式を推定する方法において同様に、前駆イオンの質量と生成イオンの質量との差に対応する既知の組成式を利用することで目的物質の組成式の絞り込みが一層容易になることは言うまでもな、。

[0039] 次に、前述した解析処理の具体例を図 2により説明する。ここでは、目的イオンの質量 Pが P= 171. 066 (u:原子質量単位)であり、該イオンを前駆イオンとして 5回の開裂を行う際のその開裂操作毎に得られた生成イオンの質量がそれぞれ d = 153. 05 6、 d = 125. 021、 d = 97. 027、 d =69. 032、 d =41. 038、であったとする。こ

2 3 4 5

のとき、 MS^m分析における前駆イオンと生成イオンの質量差 f は図 2に示すようになる。

[0040] MS¹分析の結果、つまり目的イオンの質量 Pから、原子の種類及び最大個数が炭素 (C)： 14個、水素 (H)： 30個、酸素 (O)： 10個、窒素 (N)： 10個で且つ質量精度： 0. 02uという解析条件の下で組成式の候補を挙げると、次の表 1に示すようになる。

[表 1]

即ち、組成式の候補 Xが多数出ることになる。質量精度がきわめて高ければ、具体的には例えば上記表 1中の [Diff]が 0. 001であるという条件を設定できれば、唯一の候補 (表 1中の # 1のもの）に絞り込むことができる。し力しながら、実際の質量分析装置では ppm程度のレベルの質量精度し力得られず、上記のように多数の候補が出ることは避けられない。

次に MS²分析の結果、つまり 1回の開裂操作後の生成イオンの質量 dから、上記解析条件の下で組成式の候補を挙げると、次の表 2に示すようになる。

[表 2]

この場合でも目的イオンの質量 Pから計算したものと同程度の数の候補が出てきてしまい、組成式を決定することは困難である。したがって、上記実施形態によれば、さらに MS³分析以上の分析を継続する必要がある。実際上、例えば 5回の開裂操作を行った後の生成イオンの質量 d力同様にして組成式の候補を挙げると次の表 3に

5

示すようになり、候補の数は 2個と大幅に減少する。

[表 3]

これは開裂操作の繰り返しによって生成イオンの質量 dが目的イオンの質量 Pと比

5

ベて格段に小さくなつたためである。

また、質量差がほぼ同一である f 、 f 、 f について脱離イオンの候補を挙げると、表

3 4 5

4に示すようになる。

[表 4]

# Mass Diff. Formula

1 27.995 0.001 CO

2 28.006 0.012 N₂ 但し、一般にイオンの開裂現象においては各種の知見により脱離イオンが Nであ

2 ることは殆ど考えられない。したがって、予めこうした知見に基づく情報を与えておくことにより、 Nという組成式は排除することができ、 COが妥当な結果として求まる。

2

同様に、質量数差 f 、 f

2 1についてそれぞれ脱離イオンの候補を挙げると、表 5、表 6 に示すようになる。

[表 5]

[表 6]

図 3のフローチャートに照らして考えると、ステップ S10中の所定値を例えば 2又は 3 と設定しておくと、 MS⁶分析が実行された後にステップ S10で Yと判定され、質量差〜f が算出されて上記のように脱離イオンの各候補が導出される。図 3

5 中の候補 Yは表 3に示すものであり、候補 Zは表 4、表 5及び表 6に示すものである。これらから想定される元の目的イオン Pの組成式の候補は、

(C H 又は C H N) +CO + CO + CO+ (C H 又は CH N) +H O = C H

3 5 2 3 - -

O 又は C H NO 又は C H N O となり、当初の 27個の候補の中から 3個まで絞り込むことができる。この絞り込みの結果を例えば表示部 9の表示画面上に表示することで、分析者が最終的に組成を決定する重要な情報を提供することができる。

[0045] 一方、既知の情報により、この種の試料力得られる質量 153付近の生成イオンは C H Nであることが断定でき、これが組成式リスト 62に格納されている場合を考える

11 7

と、 MS²分析の結果である生成イオンの質量 dをステップ S7で判定する時点で Yと判断される。つまり、表 2中の # 2の組成式が確定する。すると、目的イオン Pの組成式は必ず C H Nを含むことになるから、表 1に挙げられている多数の組成式候補の

11 7

中で妥当な組成式として C H NOが速やかに抽出されることになる。これにより、 M

11 9

s³分析以降は実行する必要がなくなり、さらに解析処理の時間は短くて済むので解祈のスループットが向上する。もちろん、目的イオンの組成式の候補は 1つに絞られるので、分析者自らが判断を下す必要もなくなる。

[0046] なお、上記実施形態は本発明の一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜に修正、変更、追加などを行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである

Claims

請求の範囲

[1] 目的物質に由来する前駆イオンを n— l (nは 2以上の整数)段階に開裂させ、該開裂によって発生した生成イオンを質量分析する MSⁿ分析が可能な質量分析装置を用い、該質量分析装置で収集されるデータに基づいて前記目的物質の分子構造や組成の解析を行う質量分析方法であって、

該当する場合に、前記予備情報を利用して前記生成イオンの組成式を確定した上で目的物質の組成を推定することを特徴とする質量分析方法。

[2] mが 2、 3、 · ··、 nである MS^m分析のデータを収集した後に、各分析で得られた生成イオンの質量が前記予備情報で与えられている質量に該当するか否かを確認することを特徴とする請求項 1に記載の質量分析方法。

[3] mを 2、 3、…と順に増加させて MS^m分析を実行する毎に、該分析で得られた生成イオンの質量が前記予備情報で与えられている質量に該当するか否かを確認することを特徴とする請求項 1に記載の質量分析方法。

[4] 目的物質に由来する前駆イオンを n— 1 (nは 2以上の整数)段階に開裂させ、該開裂によって発生した生成イオンを質量分析する MSⁿ分析が可能な質量分析装置を用い、該質量分析装置で収集されるデータに基づいて前記目的物質の分子構造や組成の解析を行う質量分析方法であって、

開裂の過程で発生する脱離する断片に関し特定の質量と組成式との対応関係を予備情報として与えておき、

[5] mが 2、 3、 · ··、 nである MS^m分析のデータを収集した後に、各分析における前駆ィオンの質量と該分析により得られた生成イオンの質量との差が前記予備情報で与えられている質量に該当するか否かを確認することを特徴とする請求項 4に記載の質量分析方法。

[6] mを 2、 3、…と順に増加させて MS^m分析を実行する毎に、該分析における前駆ィオンの質量と該分析により得られた生成イオンの質量との差が前記予備情報で与えられている質量に該当するか否かを確認することを特徴とする請求項 4に記載の質量分析方法。