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WO2008021885A3 - Calibrage de dispositifs symétriques et partiellement symétriques - Google Patents

Calibrage de dispositifs symétriques et partiellement symétriques Download PDF

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WO2008021885A3
WO2008021885A3 PCT/US2007/075485 US2007075485W WO2008021885A3 WO 2008021885 A3 WO2008021885 A3 WO 2008021885A3 US 2007075485 W US2007075485 W US 2007075485W WO 2008021885 A3 WO2008021885 A3 WO 2008021885A3
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WO
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symmetric
parameters
fixture
fixtures
calibration
Prior art date
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Ceased
Application number
PCT/US2007/075485
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WO2008021885A2 (fr
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Laudie Doubrava
Kan Tan
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Tektronix Inc
Original Assignee
Tektronix Inc
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005—Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response

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Abstract

Systèmes et procédés pour calibrer un dispositif comprenant la mesure d'une pluralité de paramètres du dispositif; le fenêtrage temporel d'au moins l'un des paramètres mesurés; et le calcul de paramètres pour une première section du dispositif et une deuxième section du dispositif en réponse aux paramètres mesurés et au paramètre fenêtré dans le temps.
PCT/US2007/075485 2006-08-08 2007-08-08 Calibrage de dispositifs symétriques et partiellement symétriques Ceased WO2008021885A2 (fr)

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US83648906P 2006-08-08 2006-08-08
US60/836,489 2006-08-08
US91687207P 2007-05-09 2007-05-09
US60/916,872 2007-05-09

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