[go: up one dir, main page]

WO2008091730A8 - Système et procédé de réduction du bruit dans des détecteurs à détection capacitive - Google Patents

Système et procédé de réduction du bruit dans des détecteurs à détection capacitive Download PDF

Info

Publication number
WO2008091730A8
WO2008091730A8 PCT/US2008/050480 US2008050480W WO2008091730A8 WO 2008091730 A8 WO2008091730 A8 WO 2008091730A8 US 2008050480 W US2008050480 W US 2008050480W WO 2008091730 A8 WO2008091730 A8 WO 2008091730A8
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
signal
component
output
reducing noise
sensors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/US2008/050480
Other languages
English (en)
Other versions
WO2008091730A1 (fr
Inventor
Dejan Mijuskovic
Liviu Chiaburu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NXP USA Inc
Original Assignee
Freescale Semiconductor Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Freescale Semiconductor Inc filed Critical Freescale Semiconductor Inc
Priority to JP2009547341A priority Critical patent/JP2010517042A/ja
Priority to EP08727411A priority patent/EP2108217A4/fr
Publication of WO2008091730A1 publication Critical patent/WO2008091730A1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Publication of WO2008091730A8 publication Critical patent/WO2008091730A8/fr
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/26Modifications of amplifiers to reduce influence of noise generated by amplifying elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)

Abstract

L'invention concerne un appareil et un procédé permettant de réduire le bruit dans un détecteur capacitif (200). Ledit appareil comporte un étage de gain (210) muni d'une sortie. L'étage de gain est conçu pour produire un premier signal incluant une composante de bruit et un second signal incluant une composante de sortie voulue; la composante de bruit et l'étage d'échantillonnage-filtré (205) possèdent une entrée couplée à la sortie d'étage de gain; l'étage d'échantillonnage-filtré est conçu pour échantillonner le premier signal, mémoriser le premier signal et soustraire le premier signal du second signal pour produire un signal de sortie voulu. Le procédé comporte les étapes consistant à produire un premier signal muni d'une première composante de bruit de l'étage de gain (710); mémoriser le premier signal (725); produire un second signal comportant une composante de sortie voulue et la première composante de bruit (730); et soustraire le premier signal du second signal pour produire un premier signal de sortie incluant la composante de sortie voulue (750).
PCT/US2008/050480 2007-01-26 2008-01-08 Système et procédé de réduction du bruit dans des détecteurs à détection capacitive Ceased WO2008091730A1 (fr)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009547341A JP2010517042A (ja) 2007-01-26 2008-01-08 容量型ピックアップを有するセンサの雑音を低減するシステム及び方法
EP08727411A EP2108217A4 (fr) 2007-01-26 2008-01-08 Système et procédé de réduction du bruit dans des détecteurs à détection capacitive

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/627,633 2007-01-26
US11/627,633 US7583088B2 (en) 2007-01-26 2007-01-26 System and method for reducing noise in sensors with capacitive pickup

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2008091730A1 WO2008091730A1 (fr) 2008-07-31
WO2008091730A8 true WO2008091730A8 (fr) 2009-10-01

Family

ID=39644833

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/US2008/050480 Ceased WO2008091730A1 (fr) 2007-01-26 2008-01-08 Système et procédé de réduction du bruit dans des détecteurs à détection capacitive

Country Status (5)

Country Link
US (2) US7583088B2 (fr)
EP (1) EP2108217A4 (fr)
JP (1) JP2010517042A (fr)
TW (1) TWI421505B (fr)
WO (1) WO2008091730A1 (fr)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090058473A1 (en) * 2007-09-05 2009-03-05 International Business Machines Corporation Active pre-emphasis for passive rc networks
EP2180599B1 (fr) * 2008-10-24 2014-12-17 Advanced Silicon SA Lecture d'imagerie par rayon et système
US8497731B1 (en) 2012-05-07 2013-07-30 Freescale Semiconductor, Inc. Low pass filter circuit
WO2014023994A1 (fr) 2012-08-08 2014-02-13 Freescale Semiconductor, Inc. Échantillonneur-bloqueur, dispositif de détection capacitif et procédé d'utilisation d'un échantillonneur-bloqueur
EP2733468B1 (fr) 2012-11-19 2014-11-05 SICK STEGMANN GmbH Codeur de position capacitif
US8610443B1 (en) * 2013-03-12 2013-12-17 Cypress Semiconductor Corp. Attenuator circuit of a capacitance-sensing circuit
CN103954846A (zh) * 2014-05-10 2014-07-30 张新安 一种宽量程数字电容表
CN104049145A (zh) * 2014-06-28 2014-09-17 张新安 一种数字电阻电容表
US9710118B2 (en) 2014-09-04 2017-07-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor device and semiconductor system for producing noise differences between points of time
US10263608B2 (en) 2015-04-07 2019-04-16 Nxp Usa, Inc. Filtered sampling circuit and a method of controlling a filtered sampling circuit
CN107070411B (zh) * 2017-01-04 2023-02-24 深圳市紫光同创电子有限公司 一种单位增益采样电路和提高采样精度的方法
EP3404422B1 (fr) 2017-05-19 2019-11-13 NXP USA, Inc. Système comprenant un transducteur capacitif et un circuit d'excitation pour un tel transducteur et procédé pour mesurer accélération avec un tel système
US20230408564A1 (en) * 2022-06-08 2023-12-21 Invensense, Inc. Low noise readout interface for capacitive sensors with negative capacitance
US12287940B2 (en) * 2023-03-20 2025-04-29 Cirque Corporation Noise measurements with a capacitance sensor

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2561040B2 (ja) * 1994-11-28 1996-12-04 日本電気株式会社 容量型センサの容量変化検出回路およびその検出方法
JP2972552B2 (ja) * 1995-05-26 1999-11-08 日本電気株式会社 容量型センサ用検出回路および検出方法
JP3125675B2 (ja) * 1996-03-29 2001-01-22 三菱電機株式会社 容量型センサインターフェース回路
JP3262013B2 (ja) * 1997-02-24 2002-03-04 三菱電機株式会社 容量型センサインターフェース回路
US5986497A (en) * 1997-05-16 1999-11-16 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Interface circuit for capacitive sensor
JP4272267B2 (ja) 1997-07-04 2009-06-03 東京エレクトロン株式会社 静電容量型センサ回路
US5864456A (en) * 1997-12-23 1999-01-26 Square D Company Clock line over-current protector and industrial control system employing same
TW418323B (en) * 1998-02-19 2001-01-11 Sumitomo Metal Ind Capacitance detection system and method
JP3264884B2 (ja) * 1998-05-11 2002-03-11 三菱電機株式会社 容量検出回路
US6879817B1 (en) * 1999-04-16 2005-04-12 Parkervision, Inc. DC offset, re-radiation, and I/Q solutions using universal frequency translation technology
US6366099B1 (en) * 1999-12-21 2002-04-02 Conrad Technologies, Inc. Differential capacitance sampler
TW546480B (en) * 2000-03-07 2003-08-11 Sumitomo Metal Ind Circuit, apparatus and method for inspecting impedance
US6750659B2 (en) * 2001-06-28 2004-06-15 Texas Intruments Incorporated Inherently stable electrostatic actuator technique which allows for full gap deflection of the actuator
JP2004279261A (ja) * 2003-03-17 2004-10-07 Denso Corp 物理量検出装置
EP1759404A1 (fr) 2004-06-16 2007-03-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. Procede de fabrication d'une couche semi-conductrice contrainte, procede de fabrication d'un dispositif semi-conducteur et substrat semi-conducteur convenant pour l'utilisation dans un tel procede
JP4604087B2 (ja) * 2004-06-18 2010-12-22 フィンガープリント カーズ アーベー 指紋センサ素子
JP4984665B2 (ja) 2005-06-22 2012-07-25 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置およびその製造方法
TWI270254B (en) * 2005-09-16 2007-01-01 Univ Nat Chiao Tung Reprogrammable switched-capacitor input circuit for receiving digital test stimulus signal in analog test
EP2177880A1 (fr) * 2008-10-16 2010-04-21 Dialog Imaging Systems GmbH Mesure de la distance à l'aide d'un capteur capacitif

Also Published As

Publication number Publication date
TWI421505B (zh) 2014-01-01
US7948244B2 (en) 2011-05-24
US20090278551A1 (en) 2009-11-12
TW200842371A (en) 2008-11-01
EP2108217A4 (fr) 2011-03-16
EP2108217A1 (fr) 2009-10-14
US20080180165A1 (en) 2008-07-31
US7583088B2 (en) 2009-09-01
JP2010517042A (ja) 2010-05-20
WO2008091730A1 (fr) 2008-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2008091730A8 (fr) Système et procédé de réduction du bruit dans des détecteurs à détection capacitive
WO2006130802A3 (fr) Appareil, methode et systeme pour effectuer une imagerie de domaine de frequence optique a resolution de phase
WO2010033362A3 (fr) Dispositif d’aide auditive à retroaction mécanique réduite
WO2010077913A3 (fr) Procédé et appareil de réduction de bruits dans des films vidéo
WO2006023032A3 (fr) Systeme et procede utilisant des detecteurs a controle croise
EP2194728A3 (fr) Système de reproduction de musique, procédé et programme de traitement d'informations
WO2008130895A3 (fr) Procédé et appareil pour assurer une amplification de signal dynamique à étapes multiples dans un dispositif médical
WO2007131011A3 (fr) Appareil et procédé de coordination d'unités de commande permettant de commander une machine à papier ou une autre machine
EP1970902A3 (fr) Appareil et procédé de traitement de signal
WO2009140024A3 (fr) Rétroaction concernant un mouvement dans un système de divertissement électronique
EP1596174A3 (fr) Capteur de force, système de détection de force et programme de détection de force
WO2007109506A3 (fr) Suppression des décalages pour des circuits à données échantillonnées
WO2009028023A1 (fr) Appareil d'annulation d'écho, système d'annulation d'écho, procédé d'annulation d'écho, et programme informatique
WO2001051889A8 (fr) Appareil et procédé de réduction du bruit d'intensité relative électronique dans des capteurs à fibres optiques
DK1858003T3 (da) Måleboks til en höreindretning og en tilsvarende målemetode
WO2010071310A3 (fr) Procede et appareil pour renforcer la performance de l'amplificateur de puissance doherty
WO2007144808A3 (fr) Procédé d'application d'une fréquence d'horloge à un processeur
WO2007092848A3 (fr) Systèmes et procédés liés à un oscillateur
WO2008110444A3 (fr) Circuit amplificateur et procédé d'amplification d'un signal
EP2364036A3 (fr) Dispositif à entrée vocale, son procédé de fabrication et système de traitement des informations
WO2007075484A3 (fr) Capteur de pression comprenant une fiche technique électronique
WO2007137039A3 (fr) Procédé et système pour fournir un signal linéaire provenant d'un transducteur de débit massique
WO2007053831A3 (fr) Filtre de corrélation et d'entropie optimal non linéaire
EP2226984A3 (fr) Procédé et appareil de compensation de distorsion
TW200702980A (en) Error-correcting apparatus including multiple error-correcting modules functioning in parallel and related method

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 08727411

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2009547341

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2008727411

Country of ref document: EP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE