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WO2007135265A1 - Procédé et dispositif d'imagerie à courant de foucault pour la détection et la caractérisation de défauts enfouis dans des structures complexes - Google Patents

Procédé et dispositif d'imagerie à courant de foucault pour la détection et la caractérisation de défauts enfouis dans des structures complexes Download PDF

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WO2007135265A1
WO2007135265A1 PCT/FR2007/000791 FR2007000791W WO2007135265A1 WO 2007135265 A1 WO2007135265 A1 WO 2007135265A1 FR 2007000791 W FR2007000791 W FR 2007000791W WO 2007135265 A1 WO2007135265 A1 WO 2007135265A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
magnetic field
eddy current
current imaging
imaging method
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/FR2007/000791
Other languages
English (en)
Inventor
Pierre-Yves Joubert
Yohan Le Diraison
Jean Pinassaud
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Original Assignee
Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
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Filing date
Publication date
Application filed by Centre National de la Recherche Scientifique CNRS filed Critical Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Priority to CA2651718A priority Critical patent/CA2651718C/fr
Priority to EP07731432A priority patent/EP2024738A1/fr
Priority to US12/300,514 priority patent/US8159216B2/en
Publication of WO2007135265A1 publication Critical patent/WO2007135265A1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents

Definitions

  • An eddy current imaging method and device for the detection and characterization of defects embedded in complex structures An eddy current imaging method and device for the detection and characterization of defects embedded in complex structures.
  • the present invention relates to a method and an eddy current imaging device for the detection and characterization of defects buried in complex structures, particularly in the aeronautical and nuclear fields.
  • Early detection and fine characterization of defects, for example cracks, in structures such as aeronautics are a major issue for the safety and maintenance of aircraft.
  • the eddy current detection using electromagnetic sensors is made difficult because of the complexity of the structure which generates parasitic signals preventing easy reading of the images, the low penetration of eddy currents due to the skin effect, the low spatial resolution of commonly used sensors, and the small possibilities of measurement configuration that conventional sensors allow.
  • crack detection in riveted joints is done locally using point eddy current sensors or using 4 or 5-element structures that operate differentially over a limited observation area of the order of magnitude. 10 mm in diameter. With these devices, defects are sought at the foot of the rivets, at a second plate for example a riveted assembly of aircraft sheets, about 1.6 mm deep.
  • the objective problem is the weak performance offered by the currently used imaging methods, for the detection and fine localization of defects deeply buried in a complex structure.
  • An object of the invention is to propose an imaging method making it possible to determine the position and the dimensions of defects deeply buried in a complex structure, for example more than 1.5 mm deep in a riveted assembly of metal sheets. plane.
  • the invention relates to an eddy current imaging method for the detection and characterization of defects buried in a complex structure comprising the steps of:
  • the generating step comprises generating a set of at least two field waveforms exciter magnet in the target material, each distinct waveform being determined by a narrow-band frequency spectrum and an orientation angle in the target material
  • the measuring step comprises measuring a set of configurations of the resulting magnetic field , in the form of a set of images, each image being associated with a magnitude and a waveform of the exciter magnetic field, and in that it comprises a step of processing all the images by combination, to detect a fault and determine its location and type.
  • the method comprises one or more of the following characteristics taken in isolation or in any technically possible combination:
  • each waveform is orientable according to a viewing angle determined by the location and geometry of a defect
  • the frequency band of each waveform is chosen according to a desired depth of observation in the target material
  • the set of waveforms of the exciter magnetic field is a time-division multiplex of the waveforms;
  • the set of waveforms of the exciter magnetic field is a frequency multiplex of the waveforms;
  • the waveforms have about the same energy
  • each waveform is a sinusoid of different frequency
  • an image of the resulting complex magnetic field is a plurality of values of a real or imaginary spatial component of the resulting magnetic field, picked up near several points of the inspection zone;
  • the step of processing the raw images comprises: a learning step consisting in constructing a projection operator adapted to the detection of predetermined defects type from raw images acquired in an acquisition step on a structural standard known device comprising calibrated fault types according to a chosen measurement configuration, - a projection step of applying the projection operator determined in the previous step to the raw images acquired in the acquisition step on a test sample on which we are looking for defects according to the same predetermined configuration used in the previous step to obtain usable useful images;
  • the step of constructing the projection operator comprises the steps of: choosing a row from a crossing line of the structure and buried defects of the standard,
  • the step of applying the projection operator comprises the steps of:
  • the method further comprises the step of:
  • the filtering of the useful images is a filtering of the type belonging to the family consisting of Wiener integration, deconvolution and filtering methods; the method further comprises the step of:
  • the classification and fault diagnosis step is a process of the family of the methods consisting of the threshold decision, maximum likelihood decision and neural network decision methods;
  • the eddy current imaging method further comprises a step of constructing a database on the basis of a set of standards;
  • the excitation magnetic field generation means are capable of generating a set of at least two excitatory magnetic field waveforms in the target material, each distinct waveform being determined by a band frequency spectrum narrow and an orientation angle in the target material,
  • the measurement means are able to measure a set of configurations of the resulting magnetic field, in the form of a set of images, each image being associated with a magnitude and a waveform of the exciter magnetic field, and the image processing means are able to process all the images by combination in order to detect a defect and to determine its location and its type.
  • the device comprises one or more of the following characteristics taken separately or in any technically possible combination:
  • the measuring means comprise a network of type sensors belonging to the assembly consisting of coils, micro-coils, Hall effect probes, GMRs (magneto-resistance with a giant effect) and GMIs (magneto-impedance) giant effect); and
  • the measuring means comprise a linear magneto-optical imager consisting of an optical device, a linear magneto-optical garnet and photo-detector means.
  • FIG. 1 is a general view of an embodiment of the eddy current imaging device according to the invention
  • FIG. 2 is a flowchart of one embodiment of the imaging method according to the invention.
  • FIG. 3 is a thickness section of a test sample comprising a riveted structure with defects
  • FIG. 4 is a section through the thickness of a standard of a riveted structure with a number of calibrated defects;
  • FIG. 5 is a flowchart of an embodiment of the imaging treatment method according to FIG. 'invention,
  • FIG. 6 is a view of the set of raw images obtained during the measurement carried out on the calibrated standard with the imaging device of FIG. 1;
  • FIG. 7 is a view of all the raw images; obtained on the test sample during measurements with the imaging device of Figure 1, 7
  • FIG. 8 is a view of all the image components obtained after the processing step of FIG. 5, and
  • FIG. 9 is a flowchart of a variant of the processing method of FIG. 5 in which a database of several calibrated standards is constituted and used.
  • FIG. 1 diagrammatically represents an embodiment of an eddy current imaging device 2 according to the invention.
  • the imaging device 2 is disposed on the surface of a target material 4 and comprises an eddy current inductor 6, powered by a generator 8 of alternating currents, a field measuring device 10, here a magneto-optical imager operating over a wide area (12) of inspection and synchronized with the inductor 6 by a dedicated digital synchronization and control board.
  • the eddy current imaging device 2 also comprises a computer 14 for controlling the different imaging and image processing tasks.
  • the inductor 6 comprises a magnetic circuit consisting of a first and a second magnetic poles 15, 16 for circulating a uniform field H exc oriented along an axis parallel to the surface of the target material 4, the axis y being a component of a reference trihedron (x, y, z) with the axis z defining the normal to the surface of the inspection zone (12) of the target material.
  • the inductor 6 circulates the uniform field H exc from one pole to the other thanks to the presence of a first and a second excitation coil 18, 20 traversed by alternating currents I delivered by a generator 8 .
  • the excitation windings 18, 20 are powered by alternating currents I of sinusoidal waveforms and of adjustable frequency in a wide range (for example 10 Hz, 10 MHz), provided by the current generator 8, consisting of a DC power source 24, a DC inverter 26 and a cycloconverter 28.
  • the current generator 8 is connected to the windings 18, 20 via two branches of a first power cable 32 connected to the side of the magnetic pole 15 and two branches of a second power cable 34 connected to the side of the second magnetic pole 16. 7,000791
  • the frequency-adjustable alternating current generator 8 is provided with an input 35 for supplying the frequency setpoint of the waveform of the current signal.
  • a second inductor not shown here, oriented perpendicular to the first inductor can be added.
  • the measuring device 10 of the magnetic field is here of linear magneto-optical type. It comprises an optical device 36, a magneto-optical material 38 and photo-detector means 40.
  • the optical device 36 comprises a light source 42, a polarizer 44 and an analyzer 46.
  • the polarizer 44 and the analyzer 46 are conventional and known to those skilled in the art.
  • the light source 42 is constituted by a matrix of light-emitting diodes.
  • the optically active material here a linear magneto-optic garnet, is interposed between the polarizer 44 and the analyzer 46 on the optical path and disposed near the surface of the inspection zone of the target material 4.
  • the polarizer assembly 44, magneto-optical garnet 38, analyzer 46, constitutes a magneto-optical light modulator.
  • the photo-detector means 40 are here an analog CCD camera associated with a video acquisition card.
  • the measuring device 10 is a network of type sensors belonging to the assembly consisting of coils, micro-coils, Hall probes, GMRs (magneto-resistance with a giant effect) and GMIs ( magneto-impedance with giant effect), and other types of magnetic sensors.
  • the computer 14 comprises an interface 50, for example of the USB type, for receiving the video data provided by the acquisition card into a video input 51.
  • the computer 14 also comprises a visual display 52, here a liquid crystal screen, a processor 54 for image processing and coordination of imaging tasks, the processor 54 being coupled to a database 56 in the form of memories of the type classic.
  • a visual display 52 here a liquid crystal screen
  • a processor 54 for image processing and coordination of imaging tasks, the processor 54 being coupled to a database 56 in the form of memories of the type classic.
  • the computer 14 also has an output 58 for controlling the dedicated digital synchronization and control board.
  • two waveforms 62, 64 of sinusoidal currents are produced by the current generator 8, each waveform 62, 64 having an associated frequency f 1, f 2 and form a time multiplex 60 of two sinusoids of different frequency. and almost equal energy.
  • f1 is equal to 100 Hz while f2 is equal to 700 Hz.
  • waveforms are sinusoids so as to each have a narrow band spectrum.
  • the number of waveforms is between 3 and 25.
  • the two current waveforms are emitted simultaneously and form a frequency multiplex with two sinusoids of distinct frequency.
  • FIG. 2 represents an embodiment of the imaging method used and in accordance with the invention.
  • the imaging method 70 comprises a set of successively executed steps.
  • a first step 72 the imaging device 2 is positioned near the zone 12 of the target material 4 containing a sample to be tested.
  • the alternating current generator 8 generates the first sinusoidal current waveform 62 at a frequency f1 of 100 Hz, which makes it possible to generate the excitation field H exc at the level of the inductor 6 oriented along the y-axis of Figure 1.
  • a current ply referenced JF in FIG. 1 is locally induced uniformly and oriented along the x-axis in FIG. 1 in a wide zone (12) of inspection, here greater than 75 mm in diameter.
  • the JF currents when they encounter a buried structure of electromagnetic impedance distinct from that of the homogeneous plate material deviate their trajectory and their distribution, creating a disturbance magnetic field modulating the resulting magnetic field, here oriented along the z axis , as illustrated in Figure 1 which shows a circular rivet structure.
  • each waveform is orientable and can be adapted to an optimal angle of view of the tested structure.
  • a step 76 the measurement of the resulting complex magnetic field at the surface of the inspection area (12) is performed.
  • B z (x, y) is measured. This measurement must be obtained with a sufficient Shannon spatial sampling step in both x and y directions and can be obtained in module or in phase, or in part real or imaginary.
  • the alternating current generator 8 generates a second sinusoidal waveform of current at the frequency f2 of 700 hertz for generating the excitation field H ⁇ ⁇ C -
  • the field resulting complex B z (x, y) is then measured.
  • the set of raw images obtained for the different frequencies is representative of phenomena appearing at depths different f1 and f2 (skin effect) and is therefore different views of the same situation.
  • a frequency band of each waveform is selected according to a desired depth of observation in the target material (4).
  • the set of digitized data, forming the four raw images Image 1, Image 2, Image 3, Image 4 is stored in the computer 14, then processed in a step 90 for processing the raw images.
  • the complex field components are digitized with an amplitude of at least 2 bits, ie a dimension vector. greater than or equal to 2.
  • the amplitude of a measured complex magnetic field component B z (x, y) is coded on 12 bits.
  • the measurement of the complex field is done in the context of a synchronous detection successively given to the different excitation frequencies of the inductor 6 and coordinated by means of the dedicated digital synchronization card 13 and ordered.
  • each measurement is given to one of the frequency components constituting the alternating excitation signal supplying the inductor 6 (this corresponds to the case of frequency multiplexing).
  • the processing 90 of the raw images will be described here in detail based on raw images of a test sample, and based on the characterization of a standard whose structure and defects are known a priori.
  • FIG. 3 represents an example of a test sample 100 comprising a riveted structure composed of three plates or plates 102, 104, 106 of aluminum alloy (conductivity of 20 MS / m, relative permeability equal to
  • the number of rivets shown here is 10 and the rivets 108 are numbered # 1 to # 10 from left to right in FIG.
  • a first and second cracks 114, 116 of type 2, respectively 7 mm and 12 mm long for 100 ⁇ m of opening are placed on the third plate 106 and buried at 6 mm at the rivets numbered respectively # 8 and # 9.
  • Figure 4 shows in section the structure of a standard 120, having a set of five rivets 128 spaced respectively 25 mm numbered from # 1 to # 5 from left to right in the figure, and assigned two types of defect.
  • the structure 120 is composed of a stack of three metal plates 3 mm thick with a first plate 122, a second and third plates 124 and 126.
  • the three plates are made of aluminum and have a conductivity of 20 MS / m and a relative permeability equal to 1.
  • a first crack 130 of 12 mm length said type 1 is buried in the second plate 124 at the foot of the rivet # 3 and a second crack 132 of length 12 mm said type 2 is buried at the bottom of the rivet # 4 in the third plate 126.
  • Figure 5 depicts the method of processing images completely.
  • a first step 142 the etalon 120 as described in FIG. 4 is manufactured and has characteristics identical to the structure to be controlled, that is to say a stack of three alloy plates. riveted by rivets regularly spaced 25 mm.
  • step 144 calibrated defects are placed, of the same type as those to be detected on the structure of FIG. 3 and described in FIG.
  • a learning step 146 follows, in which one builds according to the construction step 152 a projection operator, adapted to the implementation evidence of the desired defects of type 1 and 2, from the raw images 150 acquired according to the acquisition step 148 on the standard 120 with riveted joints including the calibrated defects, known a priori.
  • the set of raw images 150 of the standard is described schematically in FIG.
  • step 154 the sample 100 of riveted seals to be tested is positioned.
  • step 156 according to the application step 162, the projection operator determined in step 152 is applied to the raw images 160 acquired according to the acquisition step 158 under the same experimental conditions as the Step 148.
  • this step 156 which is a deconvolution step, a new series of raw images is output of 162, some of which contain information on the defects to be detected.
  • a filtering 166 is performed making it possible to better visualize the fault information provided at the output of step 162 in the form of a set of components 170 as well as a diagnostic step 172 for taking a decision. on the classification of detected faults.
  • the diagnostic results are displayed.
  • the measurement channels are chosen in sufficient number to place the three interesting sources of perturbations of the resulting field: rivets
  • the second frequency f2 makes it possible to see the type 1 defect together with the rivet
  • the first frequency f1 makes it possible to see the type 2 defect with the rivet.
  • the convolution operator here projection, is constructed from the set 150 of four raw standard images schematically described in Figure 6.
  • the first raw image 176 is an image of the real part of the complex result field at the frequency of 100 Hz while the second raw image 178 is the imaginary part of the complex result field at the frequency of 100 Hz.
  • the third raw image 180 is the real part of the measured field when the induction has an excitation frequency of 700 Hz while the fourth raw image 182 is the imaginary part of the field for an excitation frequency at 700 Hz.
  • first raw image 176 On the first raw image 176 are represented the positions of two rivets 184, 188 near which are the defects namely the rivet # 3 and the rivet # 4, the first 184 being assigned a crack 186 type 1 and the fourth rivet 188 being affected by a crack 190 of type 2.
  • These defect structures are not visible clearly on the rough images generally. They are given here as a reference, on the basis of a priori knowledge, to allow the construction of the projection operator.
  • M ⁇ 7 (O denotes the transpose of the matrix of the reference measure of line rank i, M ref (i).
  • the four eigenvectors of this variance-covariance matrix are then determined in a 4 ⁇ 4 projection matrix V pr0 j.
  • V pr0 j By projection of IVU f (O on each projection vector according to the operation V P ro j .M re f (i), a new matrix is obtained whose four lines or components respectively correspond to the most important physical sources of disturbance. contained in the four lines of M rf (i)
  • M rf (i) Here, only three sources are relevant: rivets, crack in sheet 2, crack in sheet 3. Knowing the position a priori of the reference cracks on standard 120 used to build V pr0j , it is allowed to identify which components correspond to the eigenvectors.
  • the eigenvalues correspond to the energies emitted by the different types of defect. If we choose to order the components in the order: component 1-sharet, component 2-crack sheet 2, component 3-crack sheet 3, component 4-nothing, the learning is completed.
  • the acquisition step 158 consists of making measurements on the test sample 100 under the same experimental conditions of the step 148 for the standard 120.
  • the set of raw images 160 comprises a first raw image 192 of the tested sample 100 when the exciter field H eX c is at a frequency of 100 Hz and the real part of the magnetic field according to the component z is measured.
  • the second raw image 194 represents the imaginary part of the same complex field for an exciter field at a frequency f1 of 100 Hz.
  • the third raw image 196 represents the real part of the magnetic field measured for an excitation frequency f2 of 700 Hz.
  • fourth image 198 finally represents the imaginary part of the magnetic field measured for an excitation field of frequency f2 of 700 Hertz.
  • the application operation is repeated for all lines of rank i of each image (from rank 1 to rank 350 in this example).
  • step 166 the filtering of the data obtained is performed after the deconvolution operation 162, that is to say the projection of the measurement matrix. This filtering 166 is performed in order to bring out this deconvolution in a more usable form for the direct realization or to implement one of the diagnostic methods of step 172.
  • the filtering 166 may be a deconvolution, a Wiener filter or well adapted filtering.
  • an integration is performed consisting of the sum of the accumulated samples from left to right of the image, line by line.
  • the set 170 of the four usable useful images or components is obtained.
  • the set 170 usable useful images or components is shown in Figure 8 which corresponds to actual measurements.
  • These usable useful images obtained after filtering 166 represent a first component 202 on which the rivets alone are visible, a second component 204 on which are visible the cracks of the second plate or type 1 defects, a third component 206 in which buried cracks appear. at the level of the third plate or type 2 defects, a fourth component 208 showing a priori no particular structure.
  • the diagnostic aid step 172 uses a thresholding, maximum likelihood or neural network type technique. Thus, an automatic decision on the classification or location of defects can be made more easily.
  • the example described below has only one calibration standard serving as a reference base. 007/000791
  • a step 212 set between 146 and 162, of forming a multi-standard database having different calibrated defects, constructs a set of relevant projectors associated with the corresponding measurement conditions.
  • step 212 The data obtained from these additional test configurations and stored in step 212 makes it possible to enrich the measurement system performed in step 162 on the test sample and the reference signature database that can be used for the test. performing the diagnostic assistance step 172.

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Abstract

Ce procédé d'imagerie à courant de Foucault comprend les étapes consistant à : - positionner (72) à proximité d'une zone large d'inspection un dispositif de mesure de champ magnétique de surface, - générer (74, 92) un champ magnétique excitateur global sur la zone d'inspection observation, - mesurer (76, 84) en surface un champ magnétique résultant, sous la forme d'images. - traiter (90) les images. L'étape de génération (74, 82) consiste à générer un ensemble d'au moins deux formes d'onde de champ magnétique excitateur; l'étape de mesure (76, 86) consiste à mesure un ensemble de configurations de champ magnétique résultant sous la forme d'images; l'étape de traitement (90) des images par combinaison permet de détecter les défauts et de déterminer leur emplacement et leur type.

Description

Procédé et dispositif d'imagerie à courant de Foucault pour la détection et la caractérisation de défauts enfouis dans des structures complexes.
La présente invention concerne un procédé et un dispositif d'imagerie à courant de Foucault pour la détection et la caractérisation de défauts enfouis dans des structures complexes, notamment dans les domaines aéronautique et nucléaire. La détection précoce et la caractérisation fine de défauts, par exemples des fissures, dans les structures par exemple aéronautiques sont un enjeu majeur pour la sécurité et l'entretien des aéronefs.
La détection par courant de Foucault utilisant des capteurs électromagnétiques est rendue difficile du fait de la complexité de la structure qui génère des signaux parasites empêchant une lecture aisée des images, de la faible pénétration des courants de Foucault à cause de l'effet de peau, de la faible résolution spatiale des capteurs couramment utilisés, et des faibles possibilités de configuration de mesure que permettent les capteurs conventionnels. Classiquement, la détection des fissures dans les joints rivetés se fait localement à l'aide de capteurs à courant de Foucault ponctuels ou utilisant des structures à 4 ou 5 éléments qui opèrent de façon différentielle sur une zone d'observation limitée de l'ordre de 10 mm de diamètre. Avec ces dispositifs, les défauts sont recherchés au pied des rivets, au niveau d'une deuxième plaque par exemple d'un assemblage riveté de tôles d'avion, à environ 1 ,6 mm de profondeur.
La faiblesse des dimensions de capteurs ou leur nombre réduit ne permet pas d'explorer profondément la structure et ne permet pas non plus de caractériser avec précision la position dans les plaques et les dimensions du défaut car la résolution spatiale des signaux à détecter est beaucoup trop grande. C'est pourquoi des imageurs à courant de Foucault ont été développés qui offrent une zone d'observation plus grande, d'environ 76 mm, et une résolution spatiale élevée.
Ces imageurs de type magnéto-optique sont décrits en particulier dans les documents US 5 053 704 et FR 2 856 791. 91
2
Cependant, les procédés de traitement d'images existant actuellement, utilisés par les imageurs optiques récemment développés sont inefficaces pour détecter finement des défauts enfouis profondément au-delà de
1 ,5 mm, du fait du caractère binaire des images et/ou du grand nombre de motifs de perturbations du signal qui rendent l'interprétation des images peu fiable.
Le problème objectif est la faiblesse de performance offerte par les procédés d'imagerie actuellement utilisés, pour la détection et la localisation fine de défauts profondément enfouis dans une structure complexe.
Un but de l'invention est de proposer un procédé d'imagerie permettant de déterminer la position et les dimensions de défauts enfouis profondément dans une structure complexe, par exemple à plus de 1 ,5 mm de profondeur dans un assemblage riveté de tôles d'avion.
A cet effet, l'invention concerne un procédé d'imagerie à courant de Foucault pour la détection et la caractérisation de défauts enfouis dans une structure complexe comprenant les étapes consistant à :
- positionner, à proximité d'un matériau cible, d'une zone de face, d'inspection sensiblement plane, de moyens de mesure de champ magnétique de surface,
- générer dans le matériau cible un champ magnétique excitateur global sur la totalité de la zone,
- mesurer en surface de la zone d'inspection un champ magnétique résultant, engendré par le matériau cible, sous la forme d'une image, une image étant constituée d'une pluralité de valeurs contenues dans un intervalle d'au moins trois valeurs, chaque valeur étant associée à une grandeur du champ magnétique résultant, capté à proximité de plusieurs points de la zone d'inspection, caractérisé en ce que l'étape de génération consiste à générer un ensemble d'au moins deux formes d'ondes de champ magnétique excitateur dans le matériau cible, chaque forme d'onde distincte étant déterminée par un spectre de fréquence à bande étroite et un angle d'orientation dans le matériau cible, l'étape de mesure consiste à mesurer un ensemble de configurations du champ magnétique résultant, sous la forme d'un ensemble d'images, chaque image étant associée à une grandeur et à une forme d'onde du champ magnétique excitateur, et en ce qu'il comprend une étape de traitement de l'ensemble des images par combinaison, pour détecter un défaut et déterminer son emplacement et son type.
Selon des modes particuliers de réalisation, le procédé comprend l'une ou plusieurs des caractéristiques suivantes prise(s) isolément ou selon toutes les combinaisons techniquement possibles :
- chaque forme d'onde est orientable selon un angle de vue déterminé par l'emplacement et la géométrie d'un défaut ;
- la bande de fréquence de chaque forme d'onde est choisie en fonction d'une profondeur d'observation souhaitée dans le matériau cible ;
- l'ensemble des formes d'ondes du champ magnétique excitateur est un multiplex temporel des formes d'ondes ; - l'ensemble des formes d'ondes du champ magnétique excitateur est un multiplex fréquentiel des formes d'ondes ;
- les formes d'ondes ont environ la même énergie ;
- chaque forme d'onde est une sinusoïde de fréquence différente ;
- le nombre de formes d'ondes est inférieur à 25 ; - une image du champ magnétique complexe résultant est une pluralité de valeurs d'une composante spatiale réelle ou imaginaire du champ magnétique résultant, capté à proximité de plusieurs points de la zone d'inspection ;
- l'étape de traitement des images brutes comprend : - une étape d'apprentissage consistant à construire un opérateur de projection adapté à la détection de type défauts prédéterminés à partir d'images brutes acquises dans une étape d'acquisition sur un étalon de structure connue comprenant des types de défaut calibrés selon une configuration de mesure choisie, - une étape de projection consistant à appliquer l'opérateur de projection déterminé dans l'étape précédente sur les images brutes acquises dans l'étape d'acquisition sur un échantillon de test sur lequel on recherche des défauts selon la même configuration prédéterminée utilisée dans l'étape précédente pour obtenir des images utiles exploitables ;
- l'étape de construction de l'opérateur de projection comprend les étapes consistant à : - choisir un rang d'une ligne de traversée de la structure et des défauts enfouis de l'étalon,
- extraire la ligne de rang choisi de chaque image brute pour former une matrice de mesure de référence de l'étalon,
- former la matrice de variance-covariance de la matrice de référence, - déterminer une base de vecteurs propres de la matrice de variance- covariance,
- ordonner les vecteurs propres selon un rangement des propres associées,
- former la matrice du projecteur à l'aide de la base ordonnée des vecteurs propres,
- l'étape d'application de l'opérateur de projection comprend les étapes consistant à :
- pour chaque rang i de ligne, former une matrice de mesure de rang i comme ensemble des lignes de rang i de chaque image brute ; - pour chaque rang i, former le produit de l'opérateur de projection et de la matrice de mesure de rang i ;
- former pour chaque composante de vecteur propre du projecteur la composante d'image correspondante en assemblant les lignes d'une même composante associés aux produits de rang i ; - le procédé comprend en outre l'étape consistant à :
- filtrer les images obtenues en sortie de l'étape de projection ;
- le filtrage des images utiles est un filtrage du type appartenant à la famille constituée des procédés d'intégration, de déconvolution et de filtrage de Wiener ; - le procédé comprend en outre l'étape consistant à :
- classer et diagnostiquer une existence, un emplacement et un type de défaut dans la structure ; - l'étape de classification et de diagnostic des défauts est un procédé du type de la famille des procédés constitué par les procédés de décision par seuils, de décision par maximum de vraisemblance et décision par réseau neuronal ; - le procédé d'imagerie à courant de Foucault comprend en outre une étape de construction d'une base de données sur la base d'un ensemble d'étalons ;
L'invention a également pour objet un dispositif d'imagerie à courant de Foucault destiné à la détection et la caractérisation de défauts enfouis dans une structure complexe comprenant :
- des moyens de positionnement, à proximité d'une zone d'inspection,
- des moyens de génération d'un champ magnétique excitateur global sur la totalité de la zone d'inspection,
- des moyens de mesure en surface d'un champ magnétique résultant, engendré par le matériau cible en surface de zone d'inspection, sous la forme d'une image, une image étant constituée d'une pluralité de valeurs contenues dans un intervalle d'au moins trois valeurs, chaque valeur étant associée à une grandeur du champ magnétique de perturbation, capté à proximité de plusieurs points de la zone d'inspection, - des moyens commandes et de coordination du dispositif d'induction et de l'imageur,
- des moyens de traitement d'image, et
- les moyens de génération de champ magnétique d'excitation sont aptes à générer un ensemble d'au moins deux formes d'ondes de champ magnétique excitateur dans le matériau cible, chaque forme d'onde distincte étant déterminée par un spectre de fréquence à bande étroite et un angle d'orientation dans le matériau cible,
- les moyens de mesure sont aptes à mesurer un ensemble de configurations du champ magnétique résultant, sous la forme d'un ensemble d'images, chaque image étant associée à une grandeur et à une forme d'onde du champ magnétique excitateur, et - les moyens de traitement d'image sont aptes à traiter l'ensemble des images par combinaison afin de détecter un défaut et d'en déterminer son emplacement et son type.
Selon des modes particuliers de réalisation, le dispositif comprend l'une ou plusieurs des caractéristiques suivantes prise(s) isolément ou selon toutes les combinaisons techniquement possibles :
- les moyens de mesure comprennent un réseau de capteurs de type appartenant à l'ensemble constitué par des bobines, des micro-bobines, des sondes à effet Hall, des GMR (magnéto-résistance à effet géant) et des GMl (magnéto-impédance à effet géant) ; et
- les moyens de mesure comprennent un imageur magnéto-optique linéaire constitué d'un dispositif optique, d'un grenat magnéto-optique linéaire et des moyens photo-détecteurs.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description d'un mode de réalisation qui va suivre donnée uniquement à tire d'exemple et faite en référence aux dessins sur lesquels :
- la figure 1 est une vue générale d'une forme de réalisation du dispositif d'imagerie à courant de Foucault selon l'invention,
- la figure 2 est un organigramme d'un mode de réalisation du procédé d'imagerie selon l'invention,
- la figure 3 est une coupe en épaisseur d'un échantillon de test comportant une structure rivetée avec des défauts,
- la figure 4 est une coupe selon l'épaisseur d'un étalon d'une structure rivetée avec un certain nombre de défauts calibrés, - la figure 5 est un organigramme d'un mode de réalisation du procédé de traitement d'imagerie selon l'invention,
- la figure 6 est une vue de l'ensemble des images brutes obtenues lors de la mesure effectuée sur l'étalon calibré avec le dispositif d'imagerie de la figure 1 , - la figure 7 est une vue de l'ensemble des images brutes obtenues sur l'échantillon de test lors de mesures effectuées avec le dispositif d'imagerie de la figure 1 , 7
- la figure 8 est une vue de l'ensemble des composantes d'image obtenues après l'étape de traitement de la figure 5, et
- la figure 9 est un organigramme d'une variante du procédé de traitement de la figure 5 dans laquelle est constituée et utilisée une base de données de plusieurs étalons calibrés.
La figure 1 représente schématiquement une forme de réalisation d'un dispositif d'imagerie 2 à courant de Foucault conforme à l'invention. Le dispositif d'imagerie 2 est disposé à la surface d'un matériau cible 4 et comprend un inducteur 6 à courant de Foucault, alimenté par un générateur 8 de courants alternatifs, un dispositif de mesure de champ 10, ici un imageur magnéto-optique, opérant sur une large zone (12) d'inspection et synchronisé avec l'inducteur 6 par une carte dédiée de synchronisation 13 numérique et de commande.
Le dispositif d'imagerie 2 à courant de Foucault comprend également un calculateur 14 de contrôle des différentes tâches d'imagerie et de traitement des images.
L'inducteur 6 comprend un circuit magnétique constitué d'un premier et d'un deuxième pôles magnétiques 15, 16 permettant de faire circuler un champ uniforme Hexc orienté selon un axe parallèle à la surface du matériau cible 4, l'axe y étant une composante d'un trièdre de référence (x,y,z) avec l'axe z définissant la normale à la surface de la zone (12) d'inspection du matériau cible. L'inducteur 6 fait circuler le champ uniforme Hexc d'un pôle à l'autre grâce à la présence d'un premier et d'un deuxième bobinage d'excitation 18, 20 parcourus par des courants alternatifs I délivrés par e générateur 8.
Les bobinages d'excitation 18, 20 sont alimentés par des courants alternatifs I de formes d'onde sinusoïdales et de fréquence ajustable dans une large gamme (par exemple 10 Hz, 10 MHz), fournis par le générateur de courants 8, constitué d'une source d'alimentation à courant continu 24, d'un onduleur 26 de conversion de courant continu en courant alternatif et d'un cyclo-convertisseur 28. Le générateur de courant 8 est relié aux bobinages 18, 20 par l'intermédiaire de deux branches d'un premier câble 32 d'alimentation raccordé sur le côté du pôle magnétique 15 et de deux branches d'un deuxième câble 34 d'alimentation raccordé sur le côté du deuxième pôle magnétique 16. 7 000791
Le générateur de courants alternatifs 8, ajustable en fréquence est pourvu d'une entrée 35 de fourniture de la consigne en fréquence de la forme d'onde du signal de courant.
En variante, un deuxième inducteur, non représenté ici, orienté perpendiculairement au premier inducteur peut être ajouté.
Le dispositif de mesure 10 du champ magnétique est ici de type magnéto-optique linéaire. Il comprend un dispositif optique 36, un matériau magnéto-optique 38 et des moyens photo-détecteurs 40.
Le dispositif optique 36 comporte une source lumineuse 42, un polariseur 44 et un analyseur 46. Le polariseur 44 et l'analyseur 46 sont classiques et connus de l'homme du métier. La source lumineuse 42 est ici constituée d'une matrice de diodes électroluminescentes.
Le matériau optiquement actif, ici un grenat magnéto-optique linéaire, est intercalé entre le polariseur 44 et l'analyseur 46 sur le chemin optique et disposé à proximité de la surface de la zone d'inspection du matériau cible 4.
L'ensemble polariseur 44, grenat magnéto-optique 38, analyseur 46, constitue un modulateur de lumière magnéto-optique.
Les moyens photo-détecteurs 40 sont ici une caméra CCD analogique associée à une carte d'acquisition vidéo. En variante, le dispositif de mesure 10 est un réseau de capteurs de type appartenant à l'ensemble constitué par des bobines, des micro-bobines, des sondes à effet Hall, des GMR (magnéto-résistance à effet géant) et des GMI (magnéto-impédance à effet géant), et d'autres types de capteurs magnétiques.
Le calculateur 14 comprend une interface 50, par exemple de type USB, de réception des données vidéo fournies par la carte d'acquisition en une entrée vidéo 51.
Le calculateur 14 comprend également un afficheur visuel 52, ici un écran à cristaux liquides, un processeur 54 de traitement des images et de coordination des tâches d'imagerie, le processeur 54 étant couplé à une base de données 56 sous forme de mémoires de type classique.
Le calculateur 14 dispose en outre d'une sortie 58 destinée au pilotage de la carte dédiée de synchronisation 13 numérique et de commande. 9
Ici, deux formes d'ondes 62, 64 de courants sinusoïdales sont produites par le générateur de courants 8, chaque forme d'onde 62, 64 ayant une fréquence associée f 1 , f2 et forment un multiplex temporel 60 de deux sinusoïdes de fréquence différente et d'énergie pratiquement égale. Ici f1 est égale à 100 Hz tandis que f2 est égale à 700 Hz.
En variante formes d'ondes sont des sinusoïdes de sorte à présenter chacune un spectre de bande étroite.
En variante, le nombre de formes d'onde est compris entre 3 et 25.
En variante, les deux formes d'onde de courant sont émises simultanément et forme un multiplex fréquentiel à deux sinusoïdes de fréquence distincte.
La figure 2 représente un mode de réalisation du procédé d'imagerie utilisée et conforme à l'invention. Le procédé d'imagerie 70 comprend un ensemble d'étapes exécutées de manière successive. Dans une première étape 72, le dispositif d'imagerie 2 est positionné à proximité de la zone 12 du matériau cible 4 contenant un échantillon à tester. A l'étape suivante 74, le générateur de courants alternatifs 8 génère la première forme d'onde 62 de courant sinusoïdale à une fréquence f1 de 100 Hz, ce qui permet de générer le champ d'excitation Hexc au niveau de l'inducteur 6 orienté selon l'axe y de la figure 1.
Ainsi, une nappe de courants référencée JF sur la figure 1 est induite localement uniformément et orientée selon l'axe x sur la figure 1 dans une large zone (12) d'inspection, ici supérieure à 75 mm de diamètre. Les courants JF lorsqu'ils rencontrent une structure enfouie d'impédance électromagnétique distincte de celle du matériau homogène de plaque dévient leur trajectoire et leur répartition, créant alors un champ magnétique de perturbation venant moduler le champ magnétique résultant, ici orienté selon l'axe z, comme cela est illustrée sur la figure 1 où est représentée une structure de rivet circulaire.
Il est à noter que, dans le cas d'une structure linéaire orientée selon l'axe y, il est judicieux d'orienter l'inducteur parallèle à l'axe y comme sur la figure 1. 91
10
En variante, dans le cas où l'on dispose d'un deuxième inducteur, il est possible de générer un deuxième champ d'excitation qui combiné au premier permet d'obtenir un angle d'injection de champ d'excitation.
Ainsi, chaque forme d'onde est orientable et peut être adapté à un angle de vue optimal de la structure testée.
Ensuite dans une étape 76, la mesure du champ magnétique complexe résultant à la surface de la zone (12) d'inspection est réalisée.
Ici, seule la composante dans l'axe z du champ magnétique complexe
Bz(x,y) est mesurée. Cette mesure doit être obtenue avec un pas d'échantillonnage spatial suffisant au sens de Shannon dans les deux directions x et y et peut être obtenue en module ou en phase, ou encore en partie réelle ou imaginaire.
En variante, une autre composante de champ complexe est mesuré, par exemple Bx(x,y) ou By(x,y). Dans l'étape suivante 78, la partie réelle du champ magnétique échantillonnée est extraite et forme ainsi une première image brute notée Image 1 avec Image 1 = [ai (i, j)].
Ensuite, la partie imaginaire du même champ Bz(x,y) échantillonné est extraite dans l'étape 80 pour former une deuxième image brute notée Image 2 avec Image 2 = [a2 (i, j)].
Dans une étape suivante 82, le générateur de courants alternatifs 8 génère une deuxième forme d'onde sinusoïdale de courant à la fréquence f2 de 700 hertz permettant de générer le champ d'excitation HΘχC- A l'étape 84, le champ complexe résultant Bz(x,y) est alors mesuré. Dans l'étape ultérieure 86, de ce champ B2 (x,y) est extraite la partie réelle numérisée pour former une troisième image brute notée Image 3 avec Image 3 = [a3 (i, j)].
Dans une étape suivante 88, la partie imaginaire du champ Bz(x,y) échantillonné est extraite pour former une quatrième image brute notée Image 4 avec Image 4 = [a4 (i, j)].
L'ensemble des images brutes obtenues pour les différentes fréquences est représentatif de phénomènes apparaissant à des profondeurs différentes f1 et f2 (effet de peau) et constitue donc des vues différentes d'une même situation.
Ainsi, une bande de fréquence de chaque forme d'onde est choisie en fonction d'une profondeur d'observation souhaitée dans le matériau cible (4). L'ensemble des données numérisées, formant les quatre images brutes Image 1 , Image 2, Image 3, Image 4, est mémorisé dans le calculateur 14, puis traité dans une étape 90 de traitement des images brutes.
Après le traitement 90 des images brutes, des composantes d'images utiles exploitables sont obtenues, permettant la détection et la caractérisation des défauts enfouis et donc le diagnostic final réalisé à l'étape 92.
Il est à remarquer que si l'échantillonnage selon les axes x et y doit satisfaire la condition de Shannon, les composantes de champ complexe sont numérisées selon une amplitude d'au moins 2 bits, c'est-à-dire un vecteur de dimension supérieur ou égal à 2. Ici, on supposera que l'amplitude d'une composante de champ magnétique complexe mesurée Bz(x,y) est codée sur 12 bits.
Il est également à remarquer qu'ici, la mesure du champ complexe se fait dans le cadre d'une détection synchrone successivement accordée aux différentes fréquences d'excitation de l'inducteur 6 et coordonnée grâce à la carte dédiée de synchronisation 13 numérique et de commande.
En variante, dans le cas d'une détection synchrone multiple et simultanée, chaque mesure est accordée à l'une des composantes fréquentielles constituant le signal alternatif d'excitation alimentant l'inducteur 6 (cela correspond au cas du multiplexage fréquentiel). Le traitement 90 des images brutes va être décrit ici en détail en s'appuyant sur des images brutes d'un échantillon de test, et en se fondant sur la caractérisation d'un étalon dont la structure et les défauts sont connus a priori.
La figure 3 représente un exemple d'échantillon de test 100 comprenant une structure rivetée composée de trois plaques ou tôles 102, 104, 106 d'alliage aluminium (conductivité de 20 MS/m, perméabilité relative égale à
1) de 3 mm d'épaisseur, chacune comportant des rivets 108 de 4 mm de diamètre, espacés régulièrement de 25 mm, sains et fissurés en profondeur. Le 00791
12 nombre de rivets représentés ici est de 10 et les rivets 108 sont numérotés de #1 à #10 de gauche à droite sur la figure 3.
Une première et deuxième fissures 110, 112 dites de type 1, s'étendant respectivement sur 7 et 12 mm de longueur pour 100 μm d'ouverture, sont placées chacune sur la deuxième plaque 104 et sont enfouies à 3 mm au niveau des rivets numérotés respectivement #3 et #4.
Une première et deuxième fissures 114, 116 dites de type 2, s'étendant respectivement sur 7 mm et 12 mm de longueur pour 100 μm d'ouverture sont placées sur la troisième plaque 106 et enfouies à 6 mm au niveau des rivets numérotés respectivement #8 et #9.
La figure 4 représente en coupe la structure d'un étalon 120, comportant un ensemble de cinq rivets 128 espacés respectivement de 25 mm numérotés de #1 à #5 de gauche à droite sur la figure, et affectés de deux types de défaut. La structure 120 est composée d'un empilement de trois plaques métalliques de 3 mm d'épaisseur avec une première plaque 122, une deuxième et troisième plaques 124 et 126. Comme pour l'échantillon de test 100, les trois plaques sont en aluminium et présentent une conductivité de 20 MS/m et une perméabilité relative égale à 1. Une première fissure 130 de 12 mm de longueur dite de type 1 est enfouie dans la deuxième plaque 124 au pied du rivet #3 et une deuxième fissure 132 de longueur de 12 mm dite de type 2 est enfouie au pied du rivet #4 dans la troisième plaque 126.
La figure 5 décrit le procédé de traitement 90 des images de manière complète.
Tout d'abord, dans une première étape 142, l'étalon 120 tel que décrit sur la figure 4 est fabriqué et présente des caractéristiques identiques à la structure à contrôler, c'est-à-dire un empilement de trois plaques d'alliage riveté par des rivets espacés régulièrement de 25 mm. Dans l'étape 144 qui suit, des défauts calibrés sont placés, du même type que ceux à détecter sur la structure de la figure 3 et décrits dans la figure 4.
Ensuite, une étape d'apprentissage 146 suit, dans laquelle on construit selon l'étape de construction 152 un opérateur de projection, adapté à la mise en évidence des défauts recherchés de type 1 et 2, à partir des images brutes 150 acquises selon l'étape d'acquisition 148 sur l'étalon 120 à joints rivetés comprenant les défauts calibrés, connus a priori.
L'ensemble des images brutes 150 de l'étalon est décrit de manière schématique sur a figure 6.
Le nombre et le choix des fréquences d'analyse vont influencer la pertinence de l'opérateur de projection déterminé.
Ensuite, dans l'étape 154, l'échantillon 100 de joints rivetés à tester est positionné. Dans l'étape suivante 156, on applique selon l'étape d'application 162 l'opérateur de projection déterminé à l'étape 152 sur les images brutes 160 acquises selon l'étape d'acquisition 158 dans les mêmes conditions expérimentales que l'étape 148. Dans cette étape 156 qui est une étape de déconvolution, une nouvelle série d'images brutes est fournie en sortie de 162 dont certaines contiennent des informations sur les défauts à détecter.
Dans l'étape suivante 164, un filtrage 166 est effectué permettant de mieux visualiser les informations de défaut fournies en sortie de l'étape 162 sous la forme d'un ensemble de composantes 170 ainsi qu'une étape de diagnostic 172 pour prendre une décision sur la classification des défauts détectés. L'ensemble des images brutes 160 et l'ensemble des composantes
170 sont décrits respectivement sur les figures 7 et 8 et correspondent à des mesures réelles.
Dans l'étape finale 174, les résultats de diagnostic sont affichés.
Au cours de l'étape d'apprentissage 146, dans la première étape d'acquisition 148, les voies de mesure sont choisies en nombre suffisant pour placer les trois sources intéressantes de perturbations du champ résultant : rivets
(structure), fissures sur la tôle 2 (défauts type 1), fissures sur la tôle 3 (défauts type 2). Ici, il faut au moins deux fréquences qui permettent de constituer quatre voies de mesure, parties réelles et imaginaires étant comprises chacune comme une voie de mesure.
Dans l'exemple d'étalon 120 ici fourni et décrit sur la figure 3, on a pris f1 = 100 Hz pour une profondeur d'observation de 11 mm et f2 = 700 hertz pour une profondeur de pénétration du rayonnement électro-magnétique à 4,3 mm. Ainsi, la deuxième fréquence f2 permet de voir le défaut de type 1 ensemble avec le rivet, tandis que la première fréquence f1 permet de voir le défaut de type 2 avec le rivet. On obtient ainsi quatre images brutes 150 d'étalon 120 qui vont servir à définir l'opérateur de convolution. Dans l'étape 152, l'opérateur de convolution, ici de projection, est construit à partir de l'ensemble 150 de quatre images brutes d'étalon décrites schématiquement sur la figure 6.
La première image brute 176 est une image de la partie réelle du champ résultant complexe à la fréquence de 100 Hz tandis que la deuxième image brute 178 est la partie imaginaire du champ résultant complexe à la fréquence de 100 Hz.
La troisième image brute 180 est la partie réelle du champ mesuré lorsque l'induction a une fréquence d'excitation de 700 Hz tandis que la quatrième image brute 182 est la partie imaginaire du champ pour une fréquence d'excitation à 700 Hz.
Sur la première image brute 176 sont représentées les positions de deux rivets 184, 188 près desquels se trouvent les défauts à savoir le rivet #3 et le rivet #4, le premier 184 étant affecté d'une fissure 186 de type 1 et le quatrième rivet 188 étant affecté d'une fissure 190 de type 2. Ces structures de défauts ne sont pas visibles nettement sur les images brutes de manière générale. Elles sont données ici à titre de repérage, sur la base d'une connaissance a priori, pour permettre la construction de l'opérateur de projection.
Lors de la construction 152 de l'opérateur de projection ou convolution, on prend quatre lignes de même position dans les quatre voies de mesure 176, 178, 180, 182, par exemple la ligne de rang i, noté istmc ,qui passe au droit des rivets et des défauts. Ces quatre lignes forment la matrice de mesure de référence Mref(i).
On calcule la matrice de variance-covariance Mref(i). Mr τ ef (ï) où
M^7(O désigne la transposée de la matrice de la mesure de référence de rang de ligne i, Mref (i).
On détermine ensuite les quatre vecteurs propres de cette matrice de variance - covariance dans une matrice de projection Vpr0j de dimension 4 x 4. Par projection de IVUf(O sur chaque vecteur de projection selon l'opération VProj.Mref(i), on obtient une nouvelle matrice dont les quatre lignes ou composantes correspondent respectivement à des sources physiques de perturbation les plus importantes contenues dans les quatre lignes de Mrθf(i). Ici, seules trois sources sont pertinentes : rivets, fissure dans tôle 2, fissure dans tôle 3. Connaissant la position a priori des fissures de référence sur l'étalon 120 ayant servi à construire Vpr0j, il est permis d'identifier à quelles composantes correspondant les vecteurs propres.
A l'inverse, on est ainsi capable d'identifier quel vecteur propre permet de visualiser quelle source. On peut alors ordonner les vecteurs propres dans Vproj par une permutation de telle sorte que l'on sache à l'avance dans quelle composante 1 à 4 vont apparaître les trois sources intéressantes.
De manière générale, les valeurs propres correspondent aux énergies émises par les différents types de défaut. Si on choisit d'ordonner les composantes selon l'ordre : composante 1 -rivet, composante 2-fissure tôle 2, composante 3-fissure tôle 3, composante 4-rien, l'apprentissage est terminé.
Au cours de l'étape de projection 156, l'étape d'acquisition 158 consiste à faire des mesures sur l'échantillon de test 100 dans les mêmes conditions expérimentales de l'étape 148 pour l'étalon 120. On obtient alors les quatre voies de mesure ou ensemble 160 d'images brutes telles que décrites sur la figure 7.
L'ensemble des images brutes 160 comprend une première image brute 192 de l'échantillon testé 100 lorsque le champ excitateur HeXc est à une fréquence de 100 Hz et la partie réelle du champ magnétique selon la composante z est mesurée. La deuxième image brute 194 représente la partie imaginaire du même champ complexe pour un champ excitateur a une fréquence f1 de 100 Hz. La troisième image brute 196 représente la partie réelle du champ magnétique mesurée pour une fréquence d'excitation f2 de 700 Hz. La quatrième image brute 198 enfin représente la partie imaginaire du champ magnétique mesuré pour un champ d'excitation de fréquence f2 de 700 Hertz.
A partir de ces quatre images brutes192, 194, 196, 198, l'application de l'opération de projection 163 selon l'opérateur de projection Vpr0J est effectuée. 007/000791
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Les quatre lignes de rang 1 sur les quatre images brutes 192, 194,
196, 198 qui forment la matrice de mesure M(1) se voient appliquer l'opérateur de projection soit Mpr0j .Mτ(1). Une nouvelle matrice est obtenue dont les quatre lignes sont les composantes qui vont constituer les quatre lignes de rang 1 des quatre images résultats.
L'opération d'application est répétée pour toutes les lignes de rang i de chaque image (du rang 1 au rang 350 dans cet exemple).
Les quatre images résultats sont ainsi obtenues suivant lesquelles sont classées les deux types de défaut recherchés et les rivets. Dans l'étape 166, le filtrage des données obtenues est effectué après l'opération de déconvolution 162, c'est-à-dire la projection de la matrice de mesure. Ce filtrage 166 est effectué afin de faire ressortir cette déconvolution sous une forme plus exploitable pour la réalisation directe ou bien pour mettre en œuvre une des méthodes de diagnostic de l'étape 172. Le filtrage 166 peut être une déconvolution, un filtrage de Wiener ou bien un filtrage adapté.
Ici, on effectue une intégration consistant en la somme des échantillons cumulés de gauche à droite de l'image, ligne par ligne. Ainsi l'ensemble 170 des quatre images utiles exploitables ou composantes est obtenu. L'ensemble 170 des images utiles exploitables ou composantes est représenté sur la figure 8 qui correspond à des mesures réelles. Ces images utiles exploitables obtenues après filtrage 166 représentent une première composante 202 sur laquelle sont visibles les rivets seuls, une deuxième composante 204 sur laquelle sont visibles les fissures de la deuxième plaque ou défauts de type 1 , une troisième composante 206 où apparaissent des fissures enfouies au niveau de la troisième plaque ou défauts de type 2, une quatrième composante 208 ne faisant apparaître a priori aucune structure particulière.
L'étape 172 d'aide au diagnostic utilise une technique de type seuillage, maximum de vraisemblance ou bien de type réseau de neurones. Ainsi, une décision automatique sur la classification ou la localisation des défauts peut être prise plus facilement. L'exemple décrit ci-dessous ne comporte qu'un seul étalon de calibration servant de base de référence. 007/000791
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Toutefois, dans une variante décrite sur la figure 9, il est possible d'étendre le même type de mesure à des étalons de même structure de rivets mais présentant des défauts de type différent et/ou d'emplacement différent et de choisir alors des configurations adaptées à ces étalons supplémentaires ou complémentaires.
On reconnaît en effet sur cette figure 9, les étapes 142, 14, 146, 162, 164, 166 et 172 décrites sur la figure 5.
Une étape 212, placée entre 146 et 162, de formation d'une base de données à plusieurs étalons présentant des défauts calibrés différents, construit un ensemble de projecteurs pertinents associés aux conditions de mesures correspondantes.
Les données obtenues à partir de ces configurations de tests supplémentaires et stockées à l'étape 212 permettent d'enrichir le système de mesures effectuées à l'étape 162 sur l'échantillon de test et la base de signatures de référence pouvant servir à l'exécution de l'étape d'aide au diagnostic 172.
Ainsi, il est possible d'adapter le système d'imagerie à des structures particulières et de rendre efficace la recherche automatique de certains types de défaut caractéristiques, particulièrement recherchés.

Claims

R2007/00079118 REVENDICATIONS
1. Procédé d'imagerie à courant de Foucault pour la détection et la caractérisation de défauts enfouis dans une structure complexe comprenant les étapes consistant à : - positionner (72), à proximité d'un matériau cible (4), d'une zone (12) de face, d'inspection sensiblement plane, de moyens de mesure (36) de champ magnétique de surface,
- générer (74, 82) dans le matériau cible (4) un champ magnétique excitateur global sur la totalité de la zone (12), - mesurer (76, 84) en surface de la zone (12) d'inspection un champ magnétique résultant, engendré par le matériau cible (4), sous la forme d'une image, une image (192, 194, 196, 198) étant constituée d'une pluralité de valeurs contenues dans un intervalle d'au moins trois valeurs, chaque valeur étant associée à une grandeur du champ magnétique résultant, capté à proximité de plusieurs points de la zone (12) d'inspection, caractérisé en ce que l'étape de génération (74, 82) consiste à générer un ensemble (60) d'au moins deux formes d'ondes (62, 64) de champ magnétique excitateur dans le matériau cible (4), chaque forme d'onde distincte (62, 64) étant déterminée par un spectre de fréquence à bande étroite et un angle d'orientation dans le matériau cible, l'étape de mesure (76, 86) consiste à mesurer un ensemble de configurations du champ magnétique résultant, sous la forme d'un ensemble
(160) d'images (192, 194, 196, 198), chaque image (192, 194, 196 , 198) étant associée à une grandeur et à une forme d'onde (62, 64) du champ magnétique excitateur, et en ce qu'il comprend une étape de traitement (90) de l'ensemble (160) des images par combinaison, pour détecter un défaut et déterminer son emplacement et son type.
2. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon la revendication 1 , caractérisé en ce que chaque forme d'onde (62, 64) est orientable selon un angle de vue déterminé par l'emplacement et la géométrie d'un défaut. 007/000791
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3. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une des revendications 1 à 2, caractérisé en ce que la bande de fréquence de chaque forme d'onde est choisie en fonction d'une profondeur d'observation souhaitée dans le matériau cible (4).
4. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que l'ensemble (60) des formes d'ondes (62, 64) du champ magnétique excitateur est un multiplex temporel des formes d'ondes (62, 64).
5. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que l'ensemble des formes d'ondes (62,
64) du champ magnétique excitateur est un multiplex fréquentiel des formes d'ondes (62, 64).
6. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que les formes d'ondes (62, 64) ont environ la même énergie.
7. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une quelconques des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que chaque forme d'onde (62, 64) est une sinusoïde de fréquence différente (f1 , f2).
8. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une quelconques des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que le nombre de formes d'ondes (62, 62) est inférieure à 25.
9. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une quelconques des revendications 1 à 8, caractérisé en ce qu'une image du champ magnétique complexe résultant est une pluralité de valeurs d'une composante spatiale réelle ou imaginaire du champ magnétique résultant, capté à proximité de plusieurs points de la zone (12) d'inspection.
10. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, caractérisé en ce que l'étape de traitement des images brutes comprend : - une étape d'apprentissage (146) consistant à construire (152) un opérateur de projection adapté à la détection de type défauts prédéterminés à partir d'images brutes (150) acquises dans une étape d'acquisition (148) sur un étalon (120) de structure connue comprenant des types de défaut calibrés selon une configuration de mesure choisie,
- une étape de projection (156) consistant à appliquer (162) l'opérateur de projection déterminé dans l'étape (146) précédente sur les images brutes (160) acquises dans l'étape d'acquisition (158) sur un échantillon de test (100) sur lequel on recherche des défauts selon la même configuration prédéterminée utilisée dans l'étape (148) précédente pour obtenir des images utiles exploitables (170).
11. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon la revendication 10, caractérisé en ce que l'étape de construction (152) de l'opérateur de projection comprend les étapes consistant à :
- choisir un rang d'une ligne de traversée de la structure et des défauts enfouis de l'étalon (120),
- extraire la ligne de rang choisi de chaque image brute pour former une matrice de mesure de référence de l'étalon 120,
- former la matrice de variance-covariance de la matrice de référence,
- déterminer une base de vecteurs propres de la matrice de variance- covariance,
- ordonner les vecteurs propres selon un rangement des propres associées,
- former la matrice du projecteur à l'aide de la base ordonnée des vecteurs propres,
12. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une des revendication 10 à 11 , caractérisé en ce que l'étape d'application de l'opérateur de projection comprend les étapes consistant à :
- pour chaque rang i de ligne, former une matrice de mesure de rang i comme ensemble des lignes de rang i de chaque image brute 192, 194, 196, 198,
- pour chaque rang i, former le produit de l'opérateur de projection et de la matrice de mesure de rang i,
- former pour chaque composante de vecteur propre du projecteur la composante d'image correspondante en assemblant les lignes d'une même composante associés aux produits de rang i.
13. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon la revendication selon l'une des revendications quelconque 10 à 12, caractérisé en ce qu'il comprend en outre l'étape consistant à : - filtrer (166) les images obtenues en sortie de l'étape de projection 156.
14. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon la revendication 13, caractérisé en ce que le filtrage (166) des images utiles est un filtrage du type appartenant à la famille constituée des procédés d'intégration, de déconvolution et de filtrage de Wiener.
15. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une des revendications 10 à 14, caractérisé en ce qu'il comprend en outre l'étape consistant à :
- classer et diagnostiquer une existence, un emplacement et un type de défaut dans la structure.
16. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon la revendication 18 caractérisé en ce que l'étape de classification et de diagnostic des défauts est un procédé du type de la famille des procédés constitué par les procédés de décision par seuils, de décision par maximum de vraisemblance et décision par réseau neuronal.
17. Procédé d'imagerie à courant de Foucault selon l'une des revendications 10 à 16, caractérisé en ce qu'il comprend en outre une étape de construction 212 d'un base de donnée sur la base d'un ensemble d'étalons
18. Dispositif d'imagerie à courant de Foucault (2) destiné à la détection et la caractérisation de défauts enfouis dans une structure complexe comprenant :
- des moyens de positionnement, à proximité d'une zone (12) d'inspection,
- des moyens de génération (8) d'un champ magnétique excitateur global sur la totalité de la zone (12) d'inspection,
- des moyens de mesure (6) en surface d'un champ magnétique résultant, engendré par le matériau cible (4) en surface de zone (12) d'inspection, sous la forme d'une image, une image étant constituée d'une pluralité de valeurs contenues dans un intervalle d'au moins trois valeurs, chaque valeur étant 00791
22 associée à une grandeur du champ magnétique de perturbation, capté à proximité de plusieurs points de la zone d'inspection,
- des moyens (13,14) de commandes et de coordination du dispositif d'induction et de l'imageur, - des moyens de traitement d'image (14), caractérisé en ce que les moyens de génération (8) de champ magnétique d'excitation sont aptes à générer un ensemble (60) d'au moins deux formes d'ondes (62, 64) de champ magnétique excitateur dans le matériau cible (4), chaque forme d'onde (62, 64) distincte étant déterminée par un spectre de fréquence à bande étroite et un angle d'orientation dans le matériau cible, les moyens de mesure (6) sont aptes à mesurer un ensemble de configurations du champ magnétique résultant, sous la forme d'un ensemble (160) d'images (192, 194, 196, 196), chaque image étant associée à une grandeur et à une forme d'onde du champ magnétique excitateur, et les moyens de traitement d'image (14) sont aptes à traiter l'ensemble des images par combinaison afin de détecter un défaut et d'en déterminer son emplacement et son type.
19. Dispositif d'imagerie à courant de Foucault (2) selon la revendication 18, caractérisé en ce que les moyens de mesure comprennent un réseau de capteurs de type appartenant à l'ensemble constitué par des bobines, des microbobines, des sondes à effet Hall, des GMR (magnéto-résistance à effet géant) et des GMI (magnéto-impédance à effet géant).
20. Dispositif d'imagerie à courant de Foucault (2) selon la revendication 18, caractérisé en ce que les moyens de mesure (10) comprennent un imageur magnéto-optique linéaire constitué d'un dispositif optique (36), d'un grenat magnéto-optique linéaire (38) et des moyens photo-détecteurs (40).
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2955666A1 (fr) * 2010-01-26 2011-07-29 Centre Nat Rech Scient Procede d'estimation de defauts dans un objet et dispositif de mise en oeuvre

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8493064B2 (en) 2010-08-24 2013-07-23 United Western Technologies Corporation Apparatus, system, and method for maintaining normalcy of a sensor with respect to a structure
US8513943B2 (en) 2010-08-24 2013-08-20 United Western Technologies Corporation Apparatus, system, and method for scanning a surface
WO2012049538A1 (fr) * 2010-10-12 2012-04-19 Indian Institute Of Technology Kanpur Systèmes et procédés pour la capture d'images des caractéristiques d'un échantillon et pour l'identification de régions endommagées dans l'échantillon
US10373301B2 (en) * 2013-09-25 2019-08-06 Sikorsky Aircraft Corporation Structural hot spot and critical location monitoring system and method
EP3245474A4 (fr) 2015-01-13 2018-07-04 Sikorsky Aircraft Corporation Contrôle d'intégrité structurale utilisant des modèles physiques
FR3062916B1 (fr) * 2017-02-10 2019-04-05 Areva Np Ensemble d'inspection de tubes avec une sonde a courants de foucault et procede associe
CN107589174A (zh) * 2017-10-19 2018-01-16 广东工业大学 一种焊缝缺陷检测系统
CN111562305B (zh) * 2019-02-14 2024-01-26 爱科维申科技（天津）有限公司 基于电磁层析成像技术的汽车减震器活塞缺陷检测方法
CN111948278A (zh) * 2020-08-17 2020-11-17 广东工业大学 一种点焊缺陷磁光成像无损检测方法及系统
CN113514500B (zh) * 2021-05-26 2022-06-14 天津理工大学 汽车车身铆接质量自动在线检测系统及检测方法
CN116309580B (zh) * 2023-05-19 2023-08-15 克拉玛依市百事达技术开发有限公司 基于磁应力的油气管道腐蚀检测方法
CN118465054B (zh) * 2024-05-29 2024-11-08 浙江智泓科技有限公司 一种基于涡流无损金属探伤的在线检测方法及系统
CN119125301B (zh) * 2024-11-12 2025-01-17 深圳仕上电子科技股份有限公司 金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4755752A (en) * 1983-07-05 1988-07-05 Gerald L. Fitzpatrick Flaw imaging in ferrous and nonferrous materials using magneto-optic visualization
US5053704A (en) * 1990-01-11 1991-10-01 Pri Instrumentation, Inc. Flow imager for conductive materials
US5610517A (en) * 1995-06-07 1997-03-11 Vanderbilt University Method and apparatus for detecting flaws below the surface of an electrically conductive object
WO2002025266A1 (fr) * 2000-09-21 2002-03-28 Los Alamos National Laboratory Magnetometre a squid avec induction de champs a des frequences multiples
US20030164700A1 (en) * 2001-03-19 2003-09-04 Jentek Sensors, Inc. High resolution hidden damage imaging
FR2856791A1 (fr) * 2003-06-27 2004-12-31 Centre Nat Rech Scient Procede et dispositif d'imagerie magneto-optique

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4476434A (en) * 1982-01-25 1984-10-09 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Non-destructive testing method and apparatus utilizing phase multiplication holography
US5485084A (en) * 1993-05-10 1996-01-16 The Boeing Company Apparatus and method for detecting structural cracks using a movable detector

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4755752A (en) * 1983-07-05 1988-07-05 Gerald L. Fitzpatrick Flaw imaging in ferrous and nonferrous materials using magneto-optic visualization
US5053704A (en) * 1990-01-11 1991-10-01 Pri Instrumentation, Inc. Flow imager for conductive materials
US5610517A (en) * 1995-06-07 1997-03-11 Vanderbilt University Method and apparatus for detecting flaws below the surface of an electrically conductive object
WO2002025266A1 (fr) * 2000-09-21 2002-03-28 Los Alamos National Laboratory Magnetometre a squid avec induction de champs a des frequences multiples
US20030164700A1 (en) * 2001-03-19 2003-09-04 Jentek Sensors, Inc. High resolution hidden damage imaging
FR2856791A1 (fr) * 2003-06-27 2004-12-31 Centre Nat Rech Scient Procede et dispositif d'imagerie magneto-optique

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PINASSAUD J ET AL: "Quantitative magneto-optic imager for nondestructive evaluation", PROCEEDINGS OF THE SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING SPIE-INT. SOC. OPT. ENG USA, vol. 5768, no. 1, 2005, pages 196 - 203, XP002413519, ISSN: 0277-786X *
SOTOSHI YAMADA ET AL: "DEFECT IMAGES BY PLANAR ECT PROBE OF MEANDER-MESH COILS", IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, IEEE SERVICE CENTER, NEW YORK, NY, US, vol. 32, no. 5, September 1996 (1996-09-01), pages 4956 - 4958, XP011031060, ISSN: 0018-9464 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2955666A1 (fr) * 2010-01-26 2011-07-29 Centre Nat Rech Scient Procede d'estimation de defauts dans un objet et dispositif de mise en oeuvre
WO2011091932A1 (fr) 2010-01-26 2011-08-04 Centre National De La Recherche Scientifique (Cnrs) Procede d'estimation de defauts dans un objet et dispositif de mise en oeuvre
US8818075B2 (en) 2010-01-26 2014-08-26 Centre National De La Recherche Scientifique (Cnrs) Method for estimating defects in an object and device for implementing same

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